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助磁快速直流電阻測試儀

如果您對(dui)該產(chan)品(pin)感(gan)興趣(qu)的話,可以
產品名稱: 助磁快速直流電(dian)阻測試儀
產品型號: WBBZ3340Z
產品展商: 其它(ta)品牌(pai)
產品文檔: 無相(xiang)關(guan)文(wen)檔
產品簡介

WBBZ3340Z助磁快速直流電阻測試儀顯示、打印變壓器的高中低壓繞組的全部測試數據,并自動計算出三相不平衡度,還可以打印折算到額定溫度下的阻值。三相測試時先測試A0的數據,再三相同時測試,解決了三相同時測試中性點引出線電阻不能測試的問題,測試數據更接近單相測試值。助磁快速直流電阻測試儀內部可以長久存儲測試數據200條(可擴展),還可以使用優盤存儲數據方便用戶導入電腦處理。

詳細介紹


一(yi)、WBBZ3340Z助磁(ci)快速直流電阻測試儀主要(yao)特點(dian)

一次將高(gao)、低壓(ya)電流電位測試(shi)(shi)線全(quan)部接到變壓(ya)器上,測試(shi)(shi)過程中不(bu)用再(zai)倒(dao)測試(shi)(shi)線;

對于星型接法的繞組測(ce)試,儀器可以采取三相同時測(ce)試的方式測(ce)試A0B0C0相的電阻,節省測試(shi)時間;

三相五柱(zhu)低壓內部(bu)角接的(de)變(bian)壓器低壓測試(shi)時,儀器內部(bu)采用(yong)自動(dong)助磁的(de)方法(fa),比直(zhi)接用(yong)大電流測試(shi)速度快(kuai);

顯(xian)示、打印變(bian)壓器(qi)的高中低(di)壓繞組(zu)的全部測試數(shu)據,并自動計算出(chu)三(san)相不平衡度(du),還可以打印折算到額定溫(wen)度(du)下的阻值;

三相測(ce)試時(shi)先(xian)測(ce)試A0的(de)數據,再三相同時測(ce)(ce)試(shi)(shi),解決了三相同時測(ce)(ce)試(shi)(shi)中性點引出線電阻不能測(ce)(ce)試(shi)(shi)的(de)問題,測(ce)(ce)試(shi)(shi)數據更接(jie)近單(dan)相測(ce)(ce)試(shi)(shi)值;

具有(you)完善的反(fan)電勢保(bao)護功能;

儀(yi)器內部可以長(chang)久存儲測試數據200條(可擴展),還可以使用優(you)盤存儲數據方便用戶導入電(dian)腦(nao)處理;

儀器具有適用溫(wen)度(du)寬,精度(du)高,防震,抗干擾,攜(xie)帶方便等特點(dian)。

二、WBBZ3340Z助磁快速直流電阻測試(shi)儀主(zhu)要技術指標(biao)及使用條件

1、技(ji)術指(zhi)標

1)測試電(dian)流:

三(san)相測試:5A5A   1A1A  二檔

分(fen)相測試:10A5A1A      三檔

2)測試范圍(wei):

10A  1.000mΩ ~1Ω     5A+5A      10mΩ ~1Ω

5A   10.00mΩ ~4Ω    1A+1A      100mΩ ~5Ω

1A   100.0mΩ ~20Ω    

3)*高分辨率:0.1uΩ

4)準確度(du): ±(讀數×0.2%+2字)

5)外型尺寸(cun):430mm×320mm×230mm

6)重量: 12kg

2、使用條(tiao)件

1)環境溫度: -10   50   環境(jing)濕度: ≤ 85RH

2)工(gong)作電源: AC220V ± 10%

3)電源頻率(lv): (50±1Hz

三、WBBZ3340Z助(zhu)磁快速直(zhi)流電阻測試儀面板功能(neng)介紹

面板示意(yi)圖(圖一)

液 晶 屏(ping):顯示(shi)實時時鐘,操(cao)作菜單、測試數(shu)據以(yi)及(ji)簡易操(cao)作說明

按鍵:采(cai)用“↑”、“↓”、“←”、“→”、“確認”、“返回”六鍵控制儀(yi)器所有(you)功能操(cao)作(另:配(pei)有(you)“復(fu)位”鍵,即(ji)在任(ren)何時候任(ren)何界面,可(ke)按此鍵使儀(yi)器恢(hui)復(fu)到開機上電狀(zhuang)態(tai))

基本功能:“←”、“→”鍵(jian)移動光標(測試過程中可修(xiu)改分接位),“↑”、“↓”鍵(jian)修(xiu)改數值(zhi),“確認”鍵執行所(suo)選操作,“返回”鍵回到(dao)上一頁。

電源開(kai)關: AC220V電源(yuan)開關

接地端子:

接(jie)線端子(高壓):接(jie)被測變壓器的高壓側或中壓側

接線(xian)端子(低壓):接被測變壓器(qi)的低壓

打印機:打印測(ce)試數據

USB:優盤接口

RS232:廠家升級用

四、WBBZ3340Z助磁快速直(zhi)流電阻測試儀接線

1、用電(dian)源線把儀器與外(wai)部AC 220 電源連接,用(yong)接地線將(jiang)接地端(duan)子(zi)與(yu)大地連接。

2、兩繞組變(bian)壓(ya)器測試(shi)時依(yi)次將高(gao)壓(ya)測試(shi)線(較長(chang)的)的四個測試(shi)鉗(黃綠(lv)紅黑(hei))分別接到高(gao)壓(ya)側的ABCO套管上,如(ru)果(guo)只有ABC三(san)個(ge)套(tao)管,可(ke)以(yi)將(jiang)黑色測(ce)試(shi)(shi)鉗懸空;測(ce)試(shi)(shi)線(xian)另一端與儀(yi)器的接線(xian)端子對應連接。將(jiang)低(di)壓測(ce)試(shi)(shi)線(xian)(較(jiao)短的)的三(san)個(ge)測(ce)試(shi)(shi)鉗(黃綠紅)分別接到(dao)低(di)壓側的abc、套(tao)管(guan)上,測試線(xian)另一(yi)端與儀(yi)器的接線(xian)端子對應連接。

注:整個(ge)測試過程不用(yong)倒線(xian)。

3、三(san)繞組(zu)變(bian)壓(ya)(ya)器可(ke)以將高(gao)低壓(ya)(ya)繞組(zu)測(ce)試完(wan)后,將高(gao)壓(ya)(ya)測(ce)試線(較長的)的四(si)個測(ce)試鉗倒(dao)接到(dao)中壓(ya)(ya)側(ce)測(ce)試即可(ke)。

4、單(dan)(dan)相(xiang)(xiang)變壓器(qi)使用(yong)將(jiang)高壓測(ce)試(shi)線(xian)(較(jiao)長的(de))中黃色和綠(lv)色的(de)測(ce)試(shi)鉗接(jie)到(dao)單(dan)(dan)相(xiang)(xiang)變壓器(qi)的(de)高壓側,低(di)壓測(ce)試(shi)線(xian)(較(jiao)短的(de))中黃色和綠(lv)色的(de)測(ce)試(shi)鉗接(jie)到(dao)單(dan)(dan)相(xiang)(xiang)變壓器(qi)的(de)低(di)壓側,測(ce)試(shi)線(xian)另一端(duan)與儀器(qi)的(de)接(jie)線(xian)端(duan)子(zi)對應連接(jie)。

5、儀(yi)器配(pei)套的專用測試線(xian)已經將(jiang)電(dian)流、電(dian)壓線(xian)設計到(dao)同一(yi)鉗口上(shang),接線(xian)簡(jian)單方(fang)便。

五、WBBZ3340Z助磁快速(su)直流電(dian)阻(zu)測試儀使用(yong)說明(ming)

1、儀器開機顯示畫(hua)面(如圖二)

系統初始化完畢(bi)后,儀器(qi)自動(dong)進入主菜單界(jie)面

2、主菜單(dan)(如圖三)

 

在此界面下,“←”、“→”、“↑”、“↓”均可(ke)移動光標(biao),棕色變大(da)菜單為(wei)選中(zhong)狀態,按(an)“確認”鍵進入所選菜單。

3、直阻測試菜單(dan)(如圖(tu)四(si))

3.1參(can)數(shu)設置(zhi)界面

用 “←”、“→”移(yi)動光標(biao)(光標(biao)可循環移(yi)動,以便用戶(hu)快速選擇),“↑”、“↓”鍵修改參數,按“確認”鍵保存當前參數并進入下一界面(mian),按“返回”鍵將返回上一界面(mian)。

3.2、三相變壓器測試

如在(zai)圖四中(zhong)“變壓器相數”設(she)置為3,儀(yi)器將(jiang)進(jin)行三相變壓器的測量。

測量高(gao)壓或中壓繞組(zu)時儀器將顯示圖(tu)五界(jie)面(mian)(mian),測量低壓繞組(zu)時將顯示圖(tu)六界(jie)面(mian)(mian),供用戶(hu)選擇測試方案。

3.2.1測(ce)試方案選擇

兩(liang)界(jie)面(mian)中,用 “↑”“↓”“←”、“→”移動光(guang)標(光(guang)標可(ke)循環(huan)移動,以便用戶快速選擇),棕色(se)底色(se)菜單為選中狀態,按“確(que)認”鍵進入(ru)測量界(jie)面(mian),如按返(fan)回鍵將返(fan)回上一界(jie)面(mian)。

 

兩界(jie)面中(zhong),用(yong) “↑”“↓”“←”、“→”移(yi)動光標(光標可循(xun)環移(yi)動,以便(bian)用(yong)戶快速選(xuan)擇),棕色底(di)色菜單(dan)為選(xuan)中(zhong)狀態,按“確認”鍵(jian)進(jin)入測(ce)量界(jie)面,如按返回(hui)鍵(jian)將返回(hui)上一(yi)界(jie)面。

3.2.2 測試過程

1) 高、中壓單相測試(shi)

如在圖五中選擇“單相(xiang)測試……”,儀器將進入圖七(qi)界面

用 “←”、“→”移(yi)動光標(光標可(ke)循環(huan)移(yi)動,以便(bian)用戶快速選擇(ze)),“↑”、“↓”鍵修改(gai)參(can)數(分接位(wei)與測(ce)試電(dian)流為可(ke)修改(gai)項),按“確認”鍵即可(ke)開始測(ce)試儀器將進入圖八~圖十界(jie)面,如按返(fan)回鍵將返(fan)回上(shang)一界(jie)面。

充電完成后,界(jie)面底(di)部(bu)提示進(jin)入**狀態(tai)“2、測試中”,**狀態(tai)后將進(jin)入第三狀態(tai)“3、實時(shi)測(ce)量(liang)”如圖十(shi)

“←”、“→”鍵(jian)可修改分接位(wei)置,用“↑”、“↓”移動光(guang)標(光(guang)標可循環移動,以(yi)便用戶快速選(xuan)擇),按確認鍵(jian)執行所選(xuan)操作。等(deng)測(ce)(ce)試數據穩(wen)定(ding)后(hou),按“打印”則屏幕(mu)顯示的(de)測(ce)(ce)量(liang)值及先(xian)前(qian)設置的(de)參數將一(yi)(yi)同打印,如按保(bao)存,屏幕(mu)將彈出保(bao)存窗口提示選(xuan)擇存儲器(如圖十(shi)一(yi)(yi))

用“↑”、“↓”移動光標,按確(que)認鍵(jian)保存,保存任務完(wan)成(cheng)后儀(yi)器自動回到測試界面(mian),也可不保存,按返回鍵(jian)即(ji)可回到測試界面(mian)。

如果(guo)是有載調(diao)壓繞組,可以調(diao)到(dao)下一分(fen)接位(wei),屏幕(mu)數(shu)據自(zi)動跟蹤測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi),“←”、“→”改變屏幕(mu)的分(fen)接位(wei)置(zhi),測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)數(shu)據穩定后(hou),按“保(bao)存”數(shu)據就可以保(bao)存到(dao)設置(zhi)的分(fen)接位(wei)置(zhi)了。如果(guo)對屏幕(mu)顯(xian)示(shi)數(shu)據有疑問,可以按“重復測(ce)(ce)”,儀器(qi)將重新測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)電(dian)(dian)流電(dian)(dian)壓信號,計算(suan)阻值。一組數(shu)據測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)完畢后(hou),按“停止測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)”,屏幕(mu)提示(shi)“正在放(fang)電(dian)(dian)”,并顯(xian)示(shi)放(fang)電(dian)(dian)電(dian)(dian)流。放(fang)電(dian)(dian)結束后(hou),屏幕(mu)重新回到(dao)圖七開始測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)界(jie)面(mian),可以更(geng)改測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)電(dian)(dian)流或(huo)分(fen)接位(wei)置(zhi)(測(ce)(ce)量(liang)低壓繞組時也可修改測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)相)繼續(xu)測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)或(huo)返回上一界(jie)面(mian)選擇其它項目進行測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)。

2)高、中壓(ya)三相測試

如在圖五中(zhong)選擇(ze)“三相(xiang)測試……”,儀器將進入圖十二界面

用 “←”、“→”移動(dong)(dong)光標(biao)(光標(biao)可循環(huan)移動(dong)(dong),以便用戶快速選擇),“↑”、“↓”鍵修(xiu)改(gai)參數(分接位與測試(shi)電流為可修(xiu)改(gai)項),按“確認”鍵即可開(kai)始測試(shi),如按返回鍵將返回上一界面。

三相測試過程,儀(yi)器將先對AO相加電,測(ce)量出AO相電(dian)阻值,屏(ping)幕顯示(shi)如圖十三

儀器(qi)自(zi)動(dong)判斷阻(zu)(zu)值穩定后(hou)(也可手(shou)動(dong)判斷,點擊“繼續(xu)下一步”即可放(fang)電,放(fang)電完成(cheng)(cheng)后(hou)切換(huan)到三相(xiang)充電),開始放(fang)電,放(fang)電完成(cheng)(cheng)后(hou)自(zi)動(dong)切換(huan)到三相(xiang)充電電流,待電流穩定后(hou)自(zi)動(dong)計算三相(xiang)阻(zu)(zu)值(帶中(zhong)性點)如(ru)(圖(tu)十(shi)四~圖(tu)十(shi)五)。

 

充電(dian)完成(cheng)后,界面(mian)底(di)部提示(shi)進(jin)入**狀態“2、測試(shi)中”,**狀態(tai)完成后將進入實時測量(liang)狀態(tai)如圖十五

“←”、“→”鍵(jian)可(ke)修改分接位置,用“↑”、“↓”移動光標(光標可(ke)循環移動,以便用戶快(kuai)速選(xuan)擇),按(an)確認鍵(jian)執行所選(xuan)操作。等測試數(shu)據穩定后,按(an)“打印”則屏(ping)幕顯(xian)示的(de)測量值及先前設置的(de)參數(shu)將一(yi)同(tong)打印,如按(an)保存(cun),屏(ping)幕將彈出(chu)保存(cun)窗口提示選(xuan)擇存(cun)儲(chu)器(請參照(zhao)單相(xiang)測試保存(cun)方(fang)法)。

如(ru)果是有(you)載調(diao)壓繞組,可以調(diao)到下一(yi)分(fen)(fen)接位,屏幕數據(ju)自動(dong)跟(gen)蹤(zong)測(ce)(ce)(ce)試(shi),“←”、“→”改變屏幕的(de)分(fen)(fen)接位置,測(ce)(ce)(ce)試(shi)數據(ju)穩(wen)定后(hou),按“保存(cun)”將數據(ju)保存(cun)到顯(xian)(xian)示(shi)(shi)(shi)分(fen)(fen)接位置的(de)值(zhi)。調(diao)整有(you)載分(fen)(fen)接開(kai)(kai)關,調(diao)到下一(yi)個分(fen)(fen)接,儀(yi)器跟(gen)蹤(zong)測(ce)(ce)(ce)試(shi)阻值(zhi)并顯(xian)(xian)示(shi)(shi)(shi)出來。也(ye)可以按“重復測(ce)(ce)(ce)”重新(xin)采集電壓電流信號,進(jin)(jin)行計(ji)算。按“←”、“→”鍵調(diao)整儀(yi)器顯(xian)(xian)示(shi)(shi)(shi)的(de)分(fen)(fen)接位置,等數據(ju)穩(wen)定后(hou),按“保存(cun)”將數據(ju)保存(cun)到顯(xian)(xian)示(shi)(shi)(shi)分(fen)(fen)接位置的(de)值(zhi)。一(yi)直測(ce)(ce)(ce)完所有(you)分(fen)(fen)接,然后(hou)選(xuan)擇(ze)“停止測(ce)(ce)(ce)試(shi)”按鈕,按“確認(ren)”鍵開(kai)(kai)始放(fang)電,等放(fang)電結束,儀(yi)器回到圖十二測(ce)(ce)(ce)試(shi)界面(mian),可以更(geng)改測(ce)(ce)(ce)試(shi)電流繼續(xu)測(ce)(ce)(ce)試(shi)或返回上一(yi)界面(mian)選(xuan)擇(ze)其它項目進(jin)(jin)行測(ce)(ce)(ce)試(shi)。

3)低壓繞組測試

如在圖六中選擇“四點法測試(shi)”儀器(qi)將進入圖十(shi)六界面

用 “←”、“→”移動光標(光標可(ke)(ke)循環(huan)移動,以便用戶快速選擇),“↑”、“↓”鍵(jian)修(xiu)(xiu)改參(can)數(shu)(分接位、測試(shi)電流與(yu)測試(shi)相為可(ke)(ke)修(xiu)(xiu)改項(xiang)),按(an)“確認”鍵(jian)即可(ke)(ke)開(kai)始(shi)測試(shi),如按(an)返回(hui)鍵(jian)將返回(hui)上一界面。

低壓(ya)繞組具(ju)體(ti)測(ce)試(shi)、打印和保存過(guo)程(cheng)請參照高、中壓(ya)單相測(ce)試(shi)過(guo)程(cheng)。

3.3 單相變壓器測(ce)試

按單相(xiang)變(bian)壓(ya)器接(jie)線方法接(jie)好線后,在測試參數(shu)設置(zhi)界(jie)面(圖四)中將“變(bian)壓(ya)器相(xiang)數(shu)”設置(zhi)為1,儀(yi)器(qi)將進行單(dan)相變壓(ya)器(qi)的(de)測量,進入圖十(shi)七界面(mian)。

用 “←”、“→”移動光標(biao)(光標(biao)可(ke)循環移動,以便用戶快速(su)選(xuan)擇),“↑”、“↓”鍵(jian)修改(gai)參(can)數(分接位與(yu)測試(shi)電流(liu)為可(ke)修改(gai)項),按(an)“確(que)認(ren)”鍵(jian)即可(ke)開(kai)始測試(shi),如按(an)返回(hui)鍵(jian)將返回(hui)上一界面(mian)。

具體(ti)測試、打印(yin)和(he)保存(cun)過(guo)(guo)程請參照(zhao)高、中壓單相(xiang)測試過(guo)(guo)程。

4、溫升試驗菜(cai)單

如(ru)用戶選擇溫升試驗菜(cai)單,請參照第3項(xiang)中直阻(zu)測試(shi)過程,則圖(tu)四~圖(tu)十(shi)七左下角任(ren)務欄將顯示“溫升(sheng)試(shi)驗”字樣,并(bing)且儀器測出阻(zu)值后將每(mei)隔30秒鐘自動(dong)打印一(yi)次當前數據(ju)。

5、數據存取菜單(dan)

在主菜單界面(mian)(mian)選(xuan)擇數據(ju)(ju)存(cun)取(qu)進入數據(ju)(ju)存(cun)取(qu)界面(mian)(mian),如圖十八

用“↑”、“↓”移動光(guang)標(biao)(光(guang)標(biao)可(ke)循環移動,以便用戶(hu)快速選擇),確認鍵執(zhi)行所選操作(zuo),用“←”、“→”可(ke)改(gai)變折算溫(wen)度值(zhi)(折算值(zhi)根據溫(wen)度值(zhi)改(gai)變),然后按(an)“打印”或(huo)“轉存(cun)”按(an)鈕可(ke)打印或(huo)轉存(cun)至U盤(pan)當前記錄并(bing)自動按(an)當前設定折算溫(wen)度算出折算值(zhi)。

特別說明:

本儀器在進入數據(ju)存(cun)取界面時,自(zi)動讀(du)取存(cun)儲器中(zhong)*新(xin)一(yi)條記(ji)錄,用(yong)戶可以按(an)(an)“上一(yi)條”按(an)(an)鈕查詢過去記(ji)錄,打(da)印(yin)(yin)時將彈出(chu)窗口供用(yong)戶選擇(ze)單條打(da)印(yin)(yin)或多(duo)條打(da)印(yin)(yin),單條打(da)印(yin)(yin)即打(da)印(yin)(yin)當前顯示記(ji)錄,多(duo)條打(da)印(yin)(yin)即從當前記(ji)錄開始(shi)向(xiang)前打(da)印(yin)(yin)n條(tiao)記錄,通過“←”、“→”可設定打(da)印(yin)起始記錄號(hao)(hao),結束記錄號(hao)(hao)即為當(dang)前(qian)顯示記錄號(hao)(hao)。

6、高壓消磁(ci)菜單(dan)

在主菜單界面選擇高壓消(xiao)磁進入高壓消(xiao)磁界面,如圖十九

用(yong) “←”、“→”移動光標(光標可(ke)循(xun)環(huan)移動,以便用(yong)戶快(kuai)速(su)選擇(ze)),“↑”、“↓”鍵修改(gai)參數(消磁相為(wei)可(ke)修改(gai)項),按“確認(ren)”鍵即可(ke)開始消磁(圖(tu)二十(shi)、圖(tu)二十(shi)一(yi)),如按返(fan)回鍵將返(fan)回上一(yi)界面。

當消磁進度達到(dao)100%后(hou),界面提示(shi)“消磁完(wan)成(cheng)”并伴(ban)有蜂鳴(ming)器鳴(ming)叫,告知用戶(hu)消磁過程(cheng)已完(wan)成(cheng),可進行下(xia)一(yi)項任務。

7、時鐘(zhong)設置

用 “←”、“→”移動光標(光標可(ke)循環移動,以便用戶(hu)快速選擇(ze)),“↑”、“↓”鍵(jian)可(ke)修(xiu)改數值,按確認鍵(jian)設定時鐘,按返(fan)回(hui)鍵(jian)時鐘保持原來(lai)值,并返(fan)回(hui)主菜單。

8、廠家設(she)置

此菜單為(wei)廠家維護時后臺操作(zuo)界面(mian),需輸入(ru)密(mi)碼方可進入(ru),用戶勿進,以防系統出錯。

 

六(liu)、操作注意事項

儀器(qi)(qi)有反電動勢保護功能,但在使用(yong)過(guo)程(cheng)中仍需按以下逐條(tiao)操作,以確保試驗人員(yuan)及(ji)儀器(qi)(qi)的**。

1、在無(wu)載調(diao)壓繞組(zu),不允許在測試過程中或未放(fang)完電時切換無(wu)載分接開關(guan);

2、在測試過程中(zhong)不(bu)允許拆(chai)除測試線(xian)。

3、在高壓(ya)端(duan)子測(ce)試過程中(zhong),變(bian)壓(ya)器(qi)中(zhong)壓(ya)和低(di)壓(ya)端(duan)必須(xu)開路。

七(qi)、售后服務

1、凡購(gou)本公司產(chan)品(pin)隨(sui)機攜帶(dai)產(chan)品(pin)保修單,訂(ding)購(gou)產(chan)品(pin)交貨時,請當場(chang)檢驗(yan)并填好保修單。

2、自購機之(zhi)日起,憑保(bao)(bao)修單保(bao)(bao)修壹(yi)年,終(zhong)身維(wei)(wei)護。在保(bao)(bao)修期(qi)內,維(wei)(wei)修不(bu)收維(wei)(wei)修費(fei);保(bao)(bao)修期(qi)外,維(wei)(wei)修調試收取適當(dang)費(fei)用(yong)。

3、屬下列(lie)情況之一(yi)者(zhe)不(bu)予保修:

1)用(yong)戶對(dui)(dui)儀(yi)器有自行拆卸或對(dui)(dui)儀(yi)器工藝結構有人為改變。

2)因用(yong)戶保管(guan)或使用(yong)不當造成(cheng)儀器的嚴(yan)重損壞。

3)屬于用戶其它(ta)原因造(zao)成的損壞。

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