一(yi)、WBBZ3340Z助(zhu)磁(ci)三通道直流電阻儀主要特點

一(yi)次將高、低壓電流電位(wei)測(ce)試線全部接到變(bian)壓器上(shang)，測(ce)試過程中不用再倒(dao)測(ce)試線；

對于星(xing)型接(jie)法的繞組測(ce)(ce)試，儀器可以采取三相同時測(ce)(ce)試的方(fang)式測(ce)(ce)試A0、B0、C0相(xiang)的電阻，節省測試(shi)時間；

三相五柱低壓(ya)(ya)內(nei)部(bu)角接(jie)的(de)變壓(ya)(ya)器(qi)低壓(ya)(ya)測(ce)試時，儀(yi)器(qi)內(nei)部(bu)采用自動助磁的(de)方(fang)法，比直接(jie)用大電流測(ce)試速度快；

顯示、打印(yin)變壓器的(de)高中低(di)壓繞組的(de)全部測試數據，并(bing)自動計算出(chu)三相不平衡度，還(huan)可(ke)以(yi)打印(yin)折算到額定溫(wen)度下的(de)阻值；

三相測試時先測試A0的數(shu)據(ju)，再三相(xiang)同(tong)時測(ce)試(shi)，解決了三相(xiang)同(tong)時測(ce)試(shi)中性點引出線電阻(zu)不能測(ce)試(shi)的問題(ti)，測(ce)試(shi)數(shu)據(ju)更(geng)接近單(dan)相(xiang)測(ce)試(shi)值(zhi)；

具有(you)完善的反電(dian)勢保護功能；

儀器內部可(ke)以(yi)長久存(cun)儲測(ce)試(shi)數據200條（可擴(kuo)展），還可以使用優(you)盤存儲數(shu)據方便用戶導入電(dian)腦處理(li)；

儀器(qi)具有適用溫度(du)寬，精度(du)高，防震，抗干擾，攜帶(dai)方便等特點。

二、WBBZ3340Z助(zhu)磁三(san)通(tong)道直(zhi)流(liu)電阻(zu)儀主(zhu)要(yao)技術指(zhi)標及使用(yong)條件

1、技術指標

1）測試電(dian)流：

三相測試：5A＋5A   1A＋1A  二檔

分相測試：10A，5A，1A      三檔

2）測(ce)試范圍：

10A：  1.000mΩ ~1Ω     5A+5A      10mΩ ~1Ω

5A：   10.00mΩ ~4Ω    1A+1A      100mΩ ~5Ω

1A：   100.0mΩ ~20Ω    

3）*高(gao)分(fen)辨率(lv)：0.1uΩ

4）準確(que)度： ±（讀(du)數×0.2%+2字）

5）外型尺(chi)寸：430mm×320mm×230mm

6）重量(liang)： 12kg

2、使用條(tiao)件

1）環境溫度： －10℃  ～ 50℃   環境濕度： ≤ 85％RH

2）工作(zuo)電源： AC220V ± 10%

3）電(dian)源頻率： （50±1）Hz

三(san)、WBBZ3340Z助(zhu)磁三通(tong)道直流電阻儀(yi)面板功能介紹

面板示(shi)意圖(tu)（圖(tu)一）

液 晶 屏：顯(xian)示(shi)實(shi)時(shi)時(shi)鐘，操(cao)作(zuo)菜單、測試(shi)數據(ju)以及簡易操(cao)作(zuo)說明

按(an)鍵(jian)：采用“↑”、“↓”、“←”、“→”、“確認(ren)”、“返(fan)回”六鍵(jian)控制儀器(qi)所有(you)功能操作（另：配有(you)“復(fu)位”鍵(jian)，即在任(ren)何時候任(ren)何界面，可按(an)此鍵(jian)使儀器(qi)恢復(fu)到開機上電狀態）

基本功能：“←”、“→”鍵移(yi)動光標（測(ce)試過程中可(ke)修改分接位(wei)），“↑”、“↓”鍵修改數值，“確認(ren)”鍵執行所(suo)選(xuan)操(cao)作，“返(fan)回”鍵回到上一頁(ye)。

電源開關： AC220V電(dian)源開關

接地端子：

接線(xian)端(duan)子（高壓）：接被測(ce)變壓器的高壓側(ce)或(huo)中(zhong)壓側(ce)

接(jie)線端子（低壓）：接(jie)被(bei)測變壓器的低壓

打印機：打印測試(shi)數據(ju)

USB：優盤接口

RS232：廠(chang)家升(sheng)級用(yong)

四(si)、WBBZ3340Z助(zhu)磁三通道(dao)直(zhi)流電(dian)阻儀接線

1、用電(dian)源線把(ba)儀器與外部AC 220 電源連接，用接地線將接地端子與大地連接。

2、兩繞組變(bian)壓(ya)器測(ce)試(shi)時依次將(jiang)高(gao)(gao)壓(ya)測(ce)試(shi)線(xian)（較長(chang)的）的四(si)個測(ce)試(shi)鉗（黃綠紅黑）分別接到高(gao)(gao)壓(ya)側的A、B、C、O套管上，如(ru)果只有A、B、C三(san)個套管(guan)，可以將(jiang)黑色測試(shi)(shi)鉗(qian)懸(xuan)空；測試(shi)(shi)線(xian)另一端與(yu)儀器的(de)接(jie)線(xian)端子對應連(lian)接(jie)。將(jiang)低(di)壓測試(shi)(shi)線(xian)（較短的(de)）的(de)三(san)個測試(shi)(shi)鉗(qian)（黃(huang)綠紅）分別接(jie)到低(di)壓側的(de)a、b、c、套管上，測試線另(ling)一端(duan)與儀器的接線端(duan)子對應連接。

注(zhu)：整個測試過程不用倒線(xian)。

3、三繞(rao)組變壓(ya)器可(ke)(ke)以將(jiang)高低壓(ya)繞(rao)組測(ce)(ce)試完(wan)后，將(jiang)高壓(ya)測(ce)(ce)試線（較(jiao)長(chang)的）的四個測(ce)(ce)試鉗倒接到中壓(ya)側測(ce)(ce)試即可(ke)(ke)。

4、單(dan)相變(bian)壓器(qi)使用將高(gao)壓測(ce)(ce)試線(xian)（較長的(de)(de)）中黃(huang)色和(he)綠色的(de)(de)測(ce)(ce)試鉗(qian)接到單(dan)相變(bian)壓器(qi)的(de)(de)高(gao)壓側，低(di)壓測(ce)(ce)試線(xian)（較短的(de)(de)）中黃(huang)色和(he)綠色的(de)(de)測(ce)(ce)試鉗(qian)接到單(dan)相變(bian)壓器(qi)的(de)(de)低(di)壓側，測(ce)(ce)試線(xian)另一端與儀器(qi)的(de)(de)接線(xian)端子對應連接。

5、儀器配套(tao)的(de)專用測試線(xian)已經將電(dian)流、電(dian)壓線(xian)設計到(dao)同一鉗口(kou)上(shang)，接線(xian)簡單方便。

五、WBBZ3340Z助(zhu)磁三通道直流(liu)電阻儀使用說明

1、儀器開(kai)機顯示畫(hua)面（如圖(tu)二）

系統初始化完畢后(hou)，儀器自(zi)動進入主菜(cai)單界面

2、主菜單（如(ru)圖三）

在此界面下，“←”、“→”、“↑”、“↓”均(jun)可移動光標，棕色變大菜單為選中狀(zhuang)態，按“確(que)認”鍵(jian)進入所選菜單。

3、直阻測(ce)試菜單(dan)（如圖四）

3.1參數設置(zhi)界面

用 “←”、“→”移(yi)(yi)動光標（光標可循環移(yi)(yi)動，以便用戶快(kuai)速選擇），“↑”、“↓”鍵(jian)修改參數，按(an)“確認(ren)”鍵(jian)保存(cun)當前參數并進(jin)入下一界面(mian)，按(an)“返回(hui)”鍵(jian)將返回(hui)上一界面(mian)。

3.2、三相變壓器測(ce)試

如在(zai)圖(tu)四中“變壓器相數(shu)”設置為(wei)3，儀器(qi)將進(jin)行三(san)相變(bian)壓器(qi)的測量。

測量高壓(ya)(ya)或(huo)中壓(ya)(ya)繞組(zu)時儀器將顯(xian)示(shi)圖五界面，測量低(di)壓(ya)(ya)繞組(zu)時將顯(xian)示(shi)圖六(liu)界面，供用戶選擇測試方案(an)。

3.2.1測試方案選擇

兩界(jie)面中，用 “↑”“↓”“←”、“→”移動光(guang)(guang)標(biao)（光(guang)(guang)標(biao)可循(xun)環移動，以便用戶快速選擇），棕色底色菜單為選中狀態，按“確認”鍵(jian)(jian)進(jin)入測(ce)量界(jie)面，如按返回(hui)鍵(jian)(jian)將返回(hui)上一(yi)界(jie)面。

兩界(jie)面(mian)中，用 “↑”“↓”“←”、“→”移動光標（光標可循環移動，以便(bian)用戶(hu)快速選擇），棕色(se)底色(se)菜單為選中狀態，按(an)“確認”鍵進入測量界(jie)面(mian)，如(ru)按(an)返(fan)回(hui)(hui)鍵將返(fan)回(hui)(hui)上一界(jie)面(mian)。

3.2.2 測試過程

1） 高、中壓單相測(ce)試

如(ru)在圖五中選擇“單相測試……”，儀器將進入圖七界面

用 “←”、“→”移(yi)動光標（光標可循環移(yi)動，以便用戶快速選擇），“↑”、“↓”鍵修改(gai)參數（分接位與(yu)測(ce)試電流為(wei)可修改(gai)項），按(an)(an)“確認”鍵即(ji)可開始測(ce)試儀器將(jiang)進入(ru)圖八～圖十界面(mian)，如按(an)(an)返回鍵將(jiang)返回上(shang)一界面(mian)。

充電完成后，界面底(di)部提示進(jin)入**狀(zhuang)態(tai)“2、測試(shi)中(zhong)”，**狀(zhuang)態(tai)后將進(jin)入第三狀(zhuang)態(tai)“3、實時(shi)測量”如圖十

“←”、“→”鍵可修改分接位置，用“↑”、“↓”移動光標（光標可循環移動，以便用戶快(kuai)速選擇），按確認鍵執行所(suo)選操(cao)作。等測試數(shu)(shu)據穩(wen)定(ding)后，按“打印”則屏(ping)幕顯(xian)示的測量值(zhi)及(ji)先前設置的參數(shu)(shu)將(jiang)一同打印，如按保存(cun)(cun)，屏(ping)幕將(jiang)彈出保存(cun)(cun)窗口提示選擇存(cun)(cun)儲器（如圖十一）

用“↑”、“↓”移動光標，按確認鍵(jian)保(bao)存(cun)，保(bao)存(cun)任務完成后儀器自動回(hui)(hui)到測(ce)試界(jie)面，也可不保(bao)存(cun)，按返回(hui)(hui)鍵(jian)即可回(hui)(hui)到測(ce)試界(jie)面。

如果是有載調(diao)壓(ya)繞組(zu)(zu)(zu)，可(ke)以(yi)調(diao)到(dao)下一(yi)分(fen)接位，屏(ping)(ping)幕數(shu)據(ju)(ju)自動跟蹤測(ce)(ce)試(shi)(shi)，“←”、“→”改變(bian)屏(ping)(ping)幕的(de)分(fen)接位置(zhi)，測(ce)(ce)試(shi)(shi)數(shu)據(ju)(ju)穩定后，按“保存”數(shu)據(ju)(ju)就(jiu)可(ke)以(yi)保存到(dao)設(she)置(zhi)的(de)分(fen)接位置(zhi)了。如果對(dui)屏(ping)(ping)幕顯(xian)示數(shu)據(ju)(ju)有疑問，可(ke)以(yi)按“重(zhong)(zhong)復測(ce)(ce)”，儀器將重(zhong)(zhong)新(xin)測(ce)(ce)試(shi)(shi)電(dian)(dian)流電(dian)(dian)壓(ya)信號，計算阻值。一(yi)組(zu)(zu)(zu)數(shu)據(ju)(ju)測(ce)(ce)試(shi)(shi)完畢后，按“停止測(ce)(ce)試(shi)(shi)”，屏(ping)(ping)幕提示“正在(zai)放電(dian)(dian)”，并顯(xian)示放電(dian)(dian)電(dian)(dian)流。放電(dian)(dian)結束(shu)后，屏(ping)(ping)幕重(zhong)(zhong)新(xin)回(hui)到(dao)圖七開始(shi)測(ce)(ce)試(shi)(shi)界(jie)面，可(ke)以(yi)更改測(ce)(ce)試(shi)(shi)電(dian)(dian)流或分(fen)接位置(zhi)（測(ce)(ce)量(liang)低壓(ya)繞組(zu)(zu)(zu)時(shi)也可(ke)修改測(ce)(ce)試(shi)(shi)相(xiang)）繼續測(ce)(ce)試(shi)(shi)或返回(hui)上(shang)一(yi)界(jie)面選擇其它項目進行測(ce)(ce)試(shi)(shi)。

2）高(gao)、中(zhong)壓三相(xiang)測試

如(ru)在圖五中選擇(ze)“三相(xiang)測(ce)試(shi)……”，儀器(qi)將進入(ru)圖十二(er)界面

用(yong) “←”、“→”移(yi)動光標（光標可循環移(yi)動，以便用(yong)戶快速(su)選擇），“↑”、“↓”鍵(jian)修改參(can)數（分接位與測(ce)試(shi)電流為可修改項），按“確(que)認”鍵(jian)即(ji)可開始測(ce)試(shi)，如(ru)按返回(hui)鍵(jian)將返回(hui)上一界面。

三相測試過程，儀器(qi)將先(xian)對AO相(xiang)加電，測量(liang)出AO相電阻值，屏幕顯示如(ru)圖十三

儀(yi)器(qi)自(zi)動(dong)判斷阻值(zhi)(zhi)穩(wen)定后（也可手動(dong)判斷，點擊“繼續下一步”即可放(fang)電(dian)，放(fang)電(dian)完成后切換到(dao)三(san)(san)相充(chong)電(dian)），開始放(fang)電(dian)，放(fang)電(dian)完成后自(zi)動(dong)切換到(dao)三(san)(san)相充(chong)電(dian)電(dian)流，待電(dian)流穩(wen)定后自(zi)動(dong)計算三(san)(san)相阻值(zhi)(zhi)（帶中性點）如（圖(tu)(tu)十四～圖(tu)(tu)十五(wu)）。

充電完成后，界(jie)面底部提示進(jin)入(ru)**狀態“2、測試(shi)中”，**狀態完(wan)成后將進(jin)入實時測量狀態如圖十五

“←”、“→”鍵可修改(gai)分接位(wei)置，用“↑”、“↓”移(yi)動(dong)光標（光標可循環移(yi)動(dong)，以便用戶快速選(xuan)(xuan)擇），按確認(ren)鍵執(zhi)行所選(xuan)(xuan)操作。等測試數(shu)據穩定后，按“打(da)印”則屏幕顯示(shi)(shi)的測量值及先前設置的參(can)數(shu)將一同打(da)印，如按保存(cun)，屏幕將彈出(chu)保存(cun)窗口提示(shi)(shi)選(xuan)(xuan)擇存(cun)儲器（請參(can)照(zhao)單相測試保存(cun)方法）。

如果(guo)是有(you)載(zai)調壓繞(rao)組(zu)，可(ke)以調到(dao)下(xia)一分(fen)(fen)接(jie)(jie)位，屏(ping)幕數據(ju)(ju)(ju)自動跟蹤測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)，“←”、“→”改變屏(ping)幕的分(fen)(fen)接(jie)(jie)位置(zhi)，測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)數據(ju)(ju)(ju)穩定(ding)后，按(an)“保(bao)(bao)存(cun)”將(jiang)數據(ju)(ju)(ju)保(bao)(bao)存(cun)到(dao)顯(xian)(xian)示分(fen)(fen)接(jie)(jie)位置(zhi)的值。調整(zheng)有(you)載(zai)分(fen)(fen)接(jie)(jie)開關(guan)，調到(dao)下(xia)一個分(fen)(fen)接(jie)(jie)，儀器跟蹤測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)阻(zu)值并顯(xian)(xian)示出來。也可(ke)以按(an)“重復測(ce)(ce)(ce)”重新采集電(dian)(dian)壓電(dian)(dian)流(liu)信號，進(jin)行計算。按(an)“←”、“→”鍵調整(zheng)儀器顯(xian)(xian)示的分(fen)(fen)接(jie)(jie)位置(zhi)，等數據(ju)(ju)(ju)穩定(ding)后，按(an)“保(bao)(bao)存(cun)”將(jiang)數據(ju)(ju)(ju)保(bao)(bao)存(cun)到(dao)顯(xian)(xian)示分(fen)(fen)接(jie)(jie)位置(zhi)的值。一直測(ce)(ce)(ce)完(wan)所有(you)分(fen)(fen)接(jie)(jie)，然后選(xuan)擇“停止測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)”按(an)鈕，按(an)“確認”鍵開始放(fang)電(dian)(dian)，等放(fang)電(dian)(dian)結束，儀器回到(dao)圖十二(er)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)界面，可(ke)以更改測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)電(dian)(dian)流(liu)繼續測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)或返回上一界面選(xuan)擇其它(ta)項目進(jin)行測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)。

3）低壓繞(rao)組(zu)測(ce)試

如在圖六中選(xuan)擇“四點法測試”儀器將進入圖十六界面

用(yong) “←”、“→”移動光(guang)標（光(guang)標可(ke)循環移動，以便用(yong)戶快速選(xuan)擇），“↑”、“↓”鍵修(xiu)改參數(shu)（分接位、測(ce)(ce)試電流與(yu)測(ce)(ce)試相為可(ke)修(xiu)改項(xiang)），按(an)“確認(ren)”鍵即可(ke)開始測(ce)(ce)試，如按(an)返(fan)(fan)回鍵將(jiang)返(fan)(fan)回上一(yi)界面。

低壓繞組具(ju)體測(ce)試(shi)(shi)、打印和保存(cun)過程請參照高、中壓單相測(ce)試(shi)(shi)過程。

3.3 單相變壓器測試

按單相(xiang)變壓器(qi)接(jie)線方法(fa)接(jie)好線后，在測試參數(shu)設置(zhi)界面（圖四）中將“變壓器(qi)相(xiang)數(shu)”設置(zhi)為1，儀器(qi)將(jiang)進行單相變壓器(qi)的測量，進入圖(tu)十七界面。

用 “←”、“→”移動光標（光標可(ke)循環移動，以便用戶快速選擇(ze)），“↑”、“↓”鍵(jian)修改參數（分接位與(yu)測試電流為可(ke)修改項(xiang)），按(an)“確認”鍵(jian)即可(ke)開始測試，如按(an)返(fan)回(hui)鍵(jian)將返(fan)回(hui)上一界面(mian)。

具體測試、打(da)印和保(bao)存過程請參(can)照高、中(zhong)壓單(dan)相測試過程。

4、溫升試驗菜(cai)單

如用戶(hu)選擇溫升試驗(yan)菜單，請參照第3項中直阻測試(shi)過程，則圖四(si)～圖十七左下角任務欄將(jiang)(jiang)顯示“溫升試(shi)驗(yan)”字樣(yang)，并且儀器測出(chu)阻值后(hou)將(jiang)(jiang)每(mei)隔30秒鐘(zhong)自(zi)動(dong)打印一次(ci)當前數據。

5、數據(ju)存(cun)取菜單(dan)

在主菜單界(jie)面選擇數(shu)據存取(qu)進入數(shu)據存取(qu)界(jie)面，如(ru)圖十八

用(yong)“↑”、“↓”移動(dong)(dong)光(guang)標（光(guang)標可(ke)循環移動(dong)(dong)，以(yi)便用(yong)戶(hu)快速選擇），確認(ren)鍵執行所選操(cao)作(zuo)，用(yong)“←”、“→”可(ke)改(gai)變(bian)折算(suan)(suan)溫度(du)值（折算(suan)(suan)值根據溫度(du)值改(gai)變(bian)），然(ran)后按“打印(yin)”或“轉存”按鈕可(ke)打印(yin)或轉存至U盤(pan)當前記(ji)錄并自(zi)動(dong)(dong)按當前設定折算(suan)(suan)溫度(du)算(suan)(suan)出(chu)折算(suan)(suan)值。

特(te)別說明：

本(ben)儀器(qi)在進入數據存(cun)取界面時(shi)，自動讀取存(cun)儲器(qi)中*新一條(tiao)(tiao)記(ji)錄(lu)，用(yong)戶可以按(an)“上(shang)一條(tiao)(tiao)”按(an)鈕查詢(xun)過去(qu)記(ji)錄(lu)，打(da)印(yin)時(shi)將彈出(chu)窗(chuang)口供用(yong)戶選擇單(dan)條(tiao)(tiao)打(da)印(yin)或(huo)多(duo)條(tiao)(tiao)打(da)印(yin)，單(dan)條(tiao)(tiao)打(da)印(yin)即打(da)印(yin)當前顯(xian)示(shi)記(ji)錄(lu)，多(duo)條(tiao)(tiao)打(da)印(yin)即從當前記(ji)錄(lu)開始(shi)向前打(da)印(yin)n條記錄(lu)，通(tong)過“←”、“→”可設定打(da)印起始記錄(lu)號，結束記錄(lu)號即為當前顯示記錄(lu)號。

6、高壓消(xiao)磁菜(cai)單

在主菜單界面選(xuan)擇(ze)高壓消磁(ci)進入高壓消磁(ci)界面，如圖十九

用(yong) “←”、“→”移(yi)動光(guang)(guang)標（光(guang)(guang)標可(ke)循(xun)環移(yi)動，以便用(yong)戶快速選擇），“↑”、“↓”鍵修(xiu)改(gai)參數（消磁相(xiang)為可(ke)修(xiu)改(gai)項(xiang)），按(an)“確認”鍵即可(ke)開(kai)始(shi)消磁（圖二十、圖二十一），如按(an)返(fan)回(hui)(hui)鍵將返(fan)回(hui)(hui)上一界面。

當消磁進(jin)(jin)度(du)達到100%后，界面提示“消磁完成”并伴有蜂鳴(ming)器鳴(ming)叫，告知用戶(hu)消磁過程已完成，可進(jin)(jin)行(xing)下一項(xiang)任務。

7、時鐘設置

用 “←”、“→”移動(dong)光(guang)標（光(guang)標可循環移動(dong)，以便用戶快(kuai)速(su)選擇(ze)），“↑”、“↓”鍵可修改數(shu)值，按(an)(an)確認鍵設(she)定(ding)時鐘，按(an)(an)返回(hui)鍵時鐘保(bao)持原來值，并(bing)返回(hui)主(zhu)菜單。

8、廠(chang)家設置

此菜單為廠家(jia)維護時后臺操作界(jie)面，需輸入密碼方可進入，用戶勿(wu)進，以防系統出錯。

六、操作注意事(shi)項(xiang)

儀器有反(fan)電動(dong)勢保護(hu)功能，但在使(shi)用過程中(zhong)仍需按以下逐(zhu)條操作，以確保試驗人員及儀器的**。

1、在(zai)無載調壓繞組(zu)，不(bu)允許在(zai)測試過程中或未(wei)放完電時切(qie)換無載分接開關；

2、在測試(shi)過程(cheng)中不允(yun)許拆除測試(shi)線(xian)。

3、在高壓(ya)端(duan)子(zi)測試過程中，變壓(ya)器中壓(ya)和(he)低壓(ya)端(duan)必須開路。

七、售后服務

1、凡購本公(gong)司(si)產品隨(sui)機(ji)攜(xie)帶產品保(bao)修(xiu)單(dan)，訂購產品交(jiao)貨時，請(qing)當場檢驗并填好保(bao)修(xiu)單(dan)。

2、自購機(ji)之(zhi)日起，憑保修(xiu)(xiu)單保修(xiu)(xiu)壹年，終(zhong)身維護。在保修(xiu)(xiu)期內，維修(xiu)(xiu)不收維修(xiu)(xiu)費(fei)；保修(xiu)(xiu)期外，維修(xiu)(xiu)調試收取適當(dang)費(fei)用。

3、屬下列情況之一者不(bu)予保修：

1）用戶對(dui)儀器(qi)(qi)有(you)自行(xing)拆卸(xie)或對(dui)儀器(qi)(qi)工藝結構有(you)人為改(gai)變(bian)。

2）因用(yong)戶保管或使(shi)用(yong)不當造成(cheng)儀器的嚴重損壞。

3）屬于用戶(hu)其它原因(yin)造成的損壞。