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帶助磁三通道直流電阻測試儀

如果您對該產品感興趣的話,可以
產品名稱: 帶助磁三通道直(zhi)流(liu)電阻測試儀
產品型號: WBBZ3340Z
產品展商: 其它品(pin)牌
產品文檔: 無相(xiang)關文(wen)檔(dang)
產品簡介

WBBZ3340Z帶助磁三通道直流電阻測試儀顯示、打印變壓器的高中低壓繞組的全部測試數據,并自動計算出三相不平衡度,還可以打印折算到額定溫度下的阻值。三相測試時先測試A0的數據,再三相同時測試,解決了三相同時測試中性點引出線電阻不能測試的問題,測試數據更接近單相測試值。帶助磁三通道直流電阻測試儀內部可以長久存儲測試數據200條(可擴展),還可以使用優盤存儲數據方便用戶導入電腦處理。

詳細介紹


一、WBBZ3340Z帶(dai)助(zhu)磁三通道直流電阻測試儀(yi)主(zhu)要特(te)點

一次(ci)將(jiang)高(gao)、低壓電(dian)流電(dian)位(wei)測試(shi)線全部接到變壓器(qi)上,測試(shi)過程中不(bu)用再倒測試(shi)線;

對(dui)于星型接法(fa)的繞組測試,儀器可以(yi)采(cai)取(qu)三(san)相(xiang)同時測試的方式測試A0B0C0相(xiang)的電(dian)阻,節省測試時間;

三相五柱低(di)壓內部角接的變壓器低(di)壓測試時(shi),儀器內部采用自動(dong)助磁的方(fang)法,比(bi)直接用大電流(liu)測試速度快;

顯示、打印變壓器的高中低壓繞(rao)組的全部(bu)測試數據,并(bing)自動計算出三相不平(ping)衡度,還可以打印折算到額定溫度下的阻值;

三相測(ce)試時先測(ce)試A0的(de)數據(ju)(ju),再三(san)相同(tong)時(shi)(shi)測(ce)試(shi),解決了三(san)相同(tong)時(shi)(shi)測(ce)試(shi)中(zhong)性點引(yin)出線(xian)電阻不能(neng)測(ce)試(shi)的(de)問(wen)題,測(ce)試(shi)數據(ju)(ju)更接近單相測(ce)試(shi)值;

具有(you)完善的反電勢保護功能(neng);

儀器(qi)內部可以長久存(cun)儲測試數據(ju)200條(可擴展),還可以使用優盤存(cun)儲數(shu)據方便用戶(hu)導入電腦處理;

儀器具有適(shi)用(yong)溫度寬,精度高,防(fang)震,抗干擾,攜(xie)帶(dai)方便等特點(dian)。

二、WBBZ3340Z帶助磁三通道直(zhi)流電阻(zu)測試儀主要技術(shu)指標及使(shi)用條件

1、技術(shu)指標(biao)

1)測(ce)試電流(liu):

三相測試:5A5A   1A1A  二(er)檔

分相測試:10A5A1A      三(san)檔

2)測試(shi)范圍:

10A  1.000mΩ ~1Ω     5A+5A      10mΩ ~1Ω

5A   10.00mΩ ~4Ω    1A+1A      100mΩ ~5Ω

1A   100.0mΩ ~20Ω    

3)*高(gao)分辨率:0.1uΩ

4)準確度: ±(讀數×0.2%+2字)

5)外型(xing)尺寸:430mm×320mm×230mm

6)重(zhong)量: 12kg

2、使用(yong)條件

1)環境(jing)溫(wen)度: -10   50   環(huan)境濕度: ≤ 85RH

2)工作電源: AC220V ± 10%

3)電源頻(pin)率(lv): (50±1Hz

三、WBBZ3340Z帶助磁三通道直流(liu)電(dian)阻測試儀面(mian)板(ban)功能(neng)介(jie)紹

面板示意圖(tu)(圖(tu)一)

液 晶(jing) 屏:顯(xian)示實時時鐘,操作菜單、測(ce)試數據以及簡易操作說明

按(an)鍵:采用“↑”、“↓”、“←”、“→”、“確認”、“返回(hui)”六鍵控制(zhi)儀器所有(you)功能操作(另:配有(you)“復位(wei)”鍵,即在任(ren)何(he)(he)時(shi)候任(ren)何(he)(he)界面,可按(an)此鍵使儀器恢復到開機(ji)上(shang)電狀態)

基本(ben)功能:“←”、“→”鍵移動光標(測試過程中可修改分接位),“↑”、“↓”鍵修改(gai)數值,“確認”鍵執行(xing)所選操作,“返(fan)回”鍵回到上(shang)一頁。

電源開關: AC220V電源(yuan)開(kai)關

接地(di)端子:

接線端子(高(gao)(gao)壓):接被測變壓器的高(gao)(gao)壓側(ce)或中壓側(ce)

接(jie)線端(duan)子(低(di)壓(ya)):接(jie)被測變壓(ya)器的低(di)壓(ya)

打印機:打印測試數據

USB:優盤接口

RS232:廠家升級用

四、WBBZ3340Z帶助(zhu)磁(ci)三(san)通道直流電阻測試(shi)儀接(jie)線(xian)

1、用(yong)電源(yuan)線把儀(yi)器與外(wai)部AC 220 電(dian)源連接,用接地(di)線將接地(di)端子與大地(di)連接。

2、兩繞組變壓器(qi)測(ce)(ce)(ce)試時依次將高壓測(ce)(ce)(ce)試線(較長(chang)的(de))的(de)四(si)個測(ce)(ce)(ce)試鉗(黃綠紅黑)分別接(jie)到高壓側的(de)ABCO套管上,如果(guo)只有ABC三個(ge)套(tao)管(guan),可以將(jiang)黑色測(ce)試(shi)鉗懸空;測(ce)試(shi)線(xian)另一端(duan)(duan)與儀(yi)器的(de)接(jie)線(xian)端(duan)(duan)子對應連接(jie)。將(jiang)低(di)(di)壓(ya)測(ce)試(shi)線(xian)(較短的(de))的(de)三個(ge)測(ce)試(shi)鉗(黃(huang)綠紅)分別接(jie)到低(di)(di)壓(ya)側的(de)abc、套管上(shang),測試線(xian)另一端與儀(yi)器的接線(xian)端子對應連接。

注:整個(ge)測(ce)試過程(cheng)不用倒線。

3、三繞組變(bian)壓(ya)器可以將高(gao)低壓(ya)繞組測試完(wan)后,將高(gao)壓(ya)測試線(xian)(較(jiao)長的)的四個測試鉗倒接到中壓(ya)側測試即(ji)可。

4、單(dan)相(xiang)(xiang)變(bian)壓(ya)器使(shi)用將高壓(ya)測(ce)(ce)試(shi)線(xian)(較(jiao)長的(de))中黃色(se)和綠(lv)色(se)的(de)測(ce)(ce)試(shi)鉗接到單(dan)相(xiang)(xiang)變(bian)壓(ya)器的(de)高壓(ya)側,低(di)壓(ya)測(ce)(ce)試(shi)線(xian)(較(jiao)短的(de))中黃色(se)和綠(lv)色(se)的(de)測(ce)(ce)試(shi)鉗接到單(dan)相(xiang)(xiang)變(bian)壓(ya)器的(de)低(di)壓(ya)側,測(ce)(ce)試(shi)線(xian)另(ling)一(yi)端與儀器的(de)接線(xian)端子對應連接。

5、儀器配套的專用測(ce)試(shi)線(xian)已經將(jiang)電(dian)(dian)流、電(dian)(dian)壓線(xian)設計到(dao)同一鉗口(kou)上(shang),接線(xian)簡單方便。

五、WBBZ3340Z帶助磁三通道直流電阻(zu)測試(shi)儀使用(yong)說明

1、儀(yi)器開機顯示(shi)畫面(如圖二(er))

系(xi)統初始化完畢(bi)后,儀器自(zi)動(dong)進入主菜(cai)單界面(mian)

2、主菜單(如圖三)

 

在此界面下,“←”、“→”、“↑”、“↓”均可移動(dong)光標,棕色變大菜單(dan)為(wei)選(xuan)中狀態,按“確認(ren)”鍵進(jin)入(ru)所選(xuan)菜單(dan)。

3、直阻測試菜單(如圖四)

3.1參數設置界面

用 “←”、“→”移(yi)(yi)動光(guang)(guang)標(光(guang)(guang)標可循環移(yi)(yi)動,以便用戶快速選擇),“↑”、“↓”鍵修改參(can)數,按“確認”鍵保存當前參(can)數并進入下(xia)一界面(mian),按“返(fan)回(hui)(hui)”鍵將返(fan)回(hui)(hui)上一界面(mian)。

3.2、三相變(bian)壓(ya)器測試(shi)

如在圖(tu)四中“變壓器相數”設置為3,儀器將進行三相(xiang)變壓器的(de)測量。

測量高壓(ya)或中壓(ya)繞組(zu)時(shi)儀器將顯(xian)示圖五界面,測量低(di)壓(ya)繞組(zu)時(shi)將顯(xian)示圖六界面,供用(yong)戶選擇測試方案。

3.2.1測試(shi)方案(an)選擇

兩界(jie)(jie)面中(zhong),用(yong) “↑”“↓”“←”、“→”移(yi)動(dong)光標(光標可循環(huan)移(yi)動(dong),以便用(yong)戶快速選(xuan)擇),棕色底色菜單為選(xuan)中(zhong)狀態,按“確認(ren)”鍵進入測量(liang)界(jie)(jie)面,如(ru)按返回(hui)鍵將返回(hui)上一界(jie)(jie)面。

 

兩界面(mian)(mian)中(zhong),用 “↑”“↓”“←”、“→”移動光標(biao)(biao)(光標(biao)(biao)可(ke)循環移動,以便用戶(hu)快(kuai)速選擇),棕(zong)色底色菜(cai)單(dan)為(wei)選中(zhong)狀(zhuang)態,按“確認(ren)”鍵進入測(ce)量界面(mian)(mian),如按返回鍵將返回上(shang)一(yi)界面(mian)(mian)。

3.2.2 測試過程

1) 高(gao)、中壓單相測(ce)試

如在圖(tu)五中(zhong)選(xuan)擇“單相測試……”,儀器(qi)將進入(ru)圖(tu)七界面

用 “←”、“→”移(yi)動(dong)光標(biao)(光標(biao)可循環移(yi)動(dong),以便用戶快速選擇),“↑”、“↓”鍵修(xiu)改參(can)數(分接位與測試電流為可修(xiu)改項),按(an)(an)“確(que)認”鍵即可開始測試儀器(qi)將(jiang)進(jin)入圖(tu)八~圖(tu)十界(jie)面,如按(an)(an)返回鍵將(jiang)返回上一界(jie)面。

充電完(wan)成后,界面底部提(ti)示進入**狀態(tai)(tai)“2、測試中”,**狀態(tai)(tai)后將進入第三狀態(tai)(tai)“3、實時(shi)測(ce)量”如圖十

“←”、“→”鍵(jian)可修改分接(jie)位置(zhi),用(yong)“↑”、“↓”移動光(guang)(guang)標(光(guang)(guang)標可循環移動,以便用(yong)戶快速選擇),按(an)確認(ren)鍵(jian)執(zhi)行所選操作(zuo)。等測試數(shu)據穩定后,按(an)“打(da)印”則屏幕顯(xian)示(shi)的(de)測量值及先前設置(zhi)的(de)參數(shu)將一(yi)同打(da)印,如按(an)保(bao)存,屏幕將彈出保(bao)存窗口提(ti)示(shi)選擇存儲(chu)器(如圖十一(yi))

用(yong)“↑”、“↓”移動(dong)光(guang)標,按確(que)認鍵保存,保存任務完成后(hou)儀器自(zi)動(dong)回到(dao)測試(shi)界面,也(ye)可不保存,按返回鍵即(ji)可回到(dao)測試(shi)界面。

如果是有載調(diao)壓繞組(zu),可(ke)(ke)以(yi)(yi)調(diao)到(dao)下一分(fen)接(jie)位,屏(ping)(ping)幕數(shu)(shu)據自(zi)動跟蹤(zong)測(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi),“←”、“→”改(gai)(gai)變屏(ping)(ping)幕的分(fen)接(jie)位置,測(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)數(shu)(shu)據穩定后(hou),按(an)“保(bao)存”數(shu)(shu)據就可(ke)(ke)以(yi)(yi)保(bao)存到(dao)設置的分(fen)接(jie)位置了。如果對屏(ping)(ping)幕顯(xian)示(shi)(shi)數(shu)(shu)據有疑問(wen),可(ke)(ke)以(yi)(yi)按(an)“重復測(ce)”,儀器將重新測(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)電(dian)(dian)流(liu)電(dian)(dian)壓信號,計(ji)算(suan)阻(zu)值(zhi)。一組(zu)數(shu)(shu)據測(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)完畢后(hou),按(an)“停止(zhi)測(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)”,屏(ping)(ping)幕提示(shi)(shi)“正在放(fang)(fang)電(dian)(dian)”,并(bing)顯(xian)示(shi)(shi)放(fang)(fang)電(dian)(dian)電(dian)(dian)流(liu)。放(fang)(fang)電(dian)(dian)結束后(hou),屏(ping)(ping)幕重新回(hui)到(dao)圖七開(kai)始測(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)界面,可(ke)(ke)以(yi)(yi)更改(gai)(gai)測(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)電(dian)(dian)流(liu)或(huo)分(fen)接(jie)位置(測(ce)量(liang)低(di)壓繞組(zu)時(shi)也可(ke)(ke)修改(gai)(gai)測(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)相)繼(ji)續測(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)或(huo)返回(hui)上一界面選擇其它項目進(jin)行測(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)。

2)高、中壓三相測試

如在(zai)圖五中選(xuan)擇“三相測試……”,儀器將進(jin)入圖十二界面

用 “←”、“→”移動光(guang)標(光(guang)標可循環移動,以便用戶快(kuai)速選擇),“↑”、“↓”鍵(jian)修改參數(shu)(分接(jie)位與測試電(dian)流為(wei)可修改項),按“確認”鍵(jian)即可開(kai)始測試,如按返回鍵(jian)將返回上(shang)一界面。

三相測試(shi)過程,儀(yi)器(qi)將(jiang)先對AO相加電(dian),測(ce)量(liang)出AO相電阻值,屏幕顯示(shi)如圖(tu)十三

儀器(qi)自動判(pan)斷(duan)阻值穩定(ding)后(hou)(也可手(shou)動判(pan)斷(duan),點擊“繼(ji)續下一步”即可放(fang)電(dian),放(fang)電(dian)完成后(hou)切換到(dao)(dao)三(san)相(xiang)充電(dian)),開始放(fang)電(dian),放(fang)電(dian)完成后(hou)自動切換到(dao)(dao)三(san)相(xiang)充電(dian)電(dian)流,待電(dian)流穩定(ding)后(hou)自動計算三(san)相(xiang)阻值(帶中性點)如(圖十四~圖十五)。

 

充(chong)電(dian)完(wan)成(cheng)后(hou),界面底部提示進入**狀態“2、測(ce)(ce)試中”,**狀態完成后(hou)將進入實時測(ce)(ce)量(liang)狀態如(ru)圖十五

“←”、“→”鍵可(ke)修(xiu)改分(fen)接(jie)位置(zhi)(zhi),用(yong)“↑”、“↓”移動光標(biao)(光標(biao)可(ke)循環(huan)移動,以便用(yong)戶快速選(xuan)擇(ze)),按(an)確認鍵執行所(suo)選(xuan)操(cao)作。等測試(shi)數據(ju)穩定后,按(an)“打(da)印”則屏幕顯示的測量(liang)值及先前(qian)設(she)置(zhi)(zhi)的參數將(jiang)一同打(da)印,如按(an)保存,屏幕將(jiang)彈出(chu)保存窗口(kou)提示選(xuan)擇(ze)存儲器(qi)(請參照單相測試(shi)保存方(fang)法)。

如(ru)果(guo)是有(you)載調(diao)壓繞組,可(ke)以調(diao)到(dao)(dao)下(xia)一(yi)分(fen)(fen)接(jie)(jie)位(wei)(wei),屏幕數(shu)(shu)據(ju)自動跟蹤測(ce)(ce)試,“←”、“→”改(gai)變屏幕的(de)分(fen)(fen)接(jie)(jie)位(wei)(wei)置(zhi)(zhi)(zhi),測(ce)(ce)試數(shu)(shu)據(ju)穩定后(hou),按(an)“保(bao)存”將數(shu)(shu)據(ju)保(bao)存到(dao)(dao)顯示(shi)分(fen)(fen)接(jie)(jie)位(wei)(wei)置(zhi)(zhi)(zhi)的(de)值(zhi)。調(diao)整(zheng)有(you)載分(fen)(fen)接(jie)(jie)開關,調(diao)到(dao)(dao)下(xia)一(yi)個分(fen)(fen)接(jie)(jie),儀器(qi)跟蹤測(ce)(ce)試阻值(zhi)并(bing)顯示(shi)出來。也(ye)可(ke)以按(an)“重(zhong)復測(ce)(ce)”重(zhong)新采集電(dian)壓電(dian)流信號(hao),進行計(ji)算(suan)。按(an)“←”、“→”鍵調(diao)整(zheng)儀器(qi)顯示(shi)的(de)分(fen)(fen)接(jie)(jie)位(wei)(wei)置(zhi)(zhi)(zhi),等數(shu)(shu)據(ju)穩定后(hou),按(an)“保(bao)存”將數(shu)(shu)據(ju)保(bao)存到(dao)(dao)顯示(shi)分(fen)(fen)接(jie)(jie)位(wei)(wei)置(zhi)(zhi)(zhi)的(de)值(zhi)。一(yi)直測(ce)(ce)完所有(you)分(fen)(fen)接(jie)(jie),然后(hou)選擇“停止測(ce)(ce)試”按(an)鈕,按(an)“確認”鍵開始放(fang)電(dian),等放(fang)電(dian)結(jie)束(shu),儀器(qi)回到(dao)(dao)圖十二測(ce)(ce)試界(jie)面(mian),可(ke)以更改(gai)測(ce)(ce)試電(dian)流繼續測(ce)(ce)試或(huo)返回上一(yi)界(jie)面(mian)選擇其(qi)它項(xiang)目進行測(ce)(ce)試。

3)低壓繞組(zu)測試(shi)

如在圖六中選擇“四(si)點(dian)法測試”儀(yi)器將(jiang)進入圖十六界面(mian)

用 “←”、“→”移動(dong)光標(biao)(光標(biao)可(ke)循環移動(dong),以便用戶快速選擇),“↑”、“↓”鍵(jian)修改(gai)(gai)參數(分接位、測(ce)試(shi)(shi)電流與測(ce)試(shi)(shi)相為可(ke)修改(gai)(gai)項),按(an)“確認”鍵(jian)即可(ke)開始測(ce)試(shi)(shi),如按(an)返回鍵(jian)將返回上一界面(mian)。

低壓繞(rao)組(zu)具體測試(shi)、打印和(he)保存過程(cheng)(cheng)請參照高、中(zhong)壓單相測試(shi)過程(cheng)(cheng)。

3.3 單相變壓器(qi)測試(shi)

按單相(xiang)變(bian)(bian)壓(ya)(ya)器接線方法接好線后(hou),在測試參(can)數設置界(jie)面(mian)(圖四)中將“變(bian)(bian)壓(ya)(ya)器相(xiang)數”設置為1,儀器(qi)將進行單(dan)相(xiang)變壓器(qi)的測(ce)量,進入圖(tu)十(shi)七界面。

用 “←”、“→”移動光(guang)標(biao)(光(guang)標(biao)可循環移動,以便用戶(hu)快速(su)選(xuan)擇),“↑”、“↓”鍵(jian)修改參數(分(fen)接位與測(ce)試(shi)電流為可修改項),按(an)“確認”鍵(jian)即可開始(shi)測(ce)試(shi),如按(an)返(fan)回鍵(jian)將返(fan)回上(shang)一界面。

具體測試、打印(yin)和保(bao)存過(guo)程請參照高、中壓單相(xiang)測試過(guo)程。

4、溫升試驗菜(cai)單

如用戶選擇溫升試驗菜單,請(qing)參照第3項中直(zhi)阻(zu)測試(shi)過(guo)程,則圖(tu)四~圖(tu)十(shi)七左下角任(ren)務欄將顯(xian)示(shi)“溫升試(shi)驗”字樣,并且儀器(qi)測出阻(zu)值后(hou)將每隔30秒鐘(zhong)自動打(da)印一次當前(qian)數據。

5、數據存取(qu)菜(cai)單

在(zai)主菜單界面選擇數據存取進(jin)入數據存取界面,如圖(tu)十八

用(yong)“↑”、“↓”移動(dong)(dong)光(guang)標(光(guang)標可(ke)循環(huan)移動(dong)(dong),以便用(yong)戶快速選擇),確(que)認鍵執行(xing)所選操作,用(yong)“←”、“→”可(ke)改變(bian)折(zhe)算溫(wen)(wen)度(du)值(zhi)(折(zhe)算值(zhi)根據溫(wen)(wen)度(du)值(zhi)改變(bian)),然后(hou)按(an)“打印(yin)”或“轉(zhuan)存(cun)”按(an)鈕可(ke)打印(yin)或轉(zhuan)存(cun)至U盤當前記錄并自(zi)動(dong)(dong)按(an)當前設(she)定折(zhe)算溫(wen)(wen)度(du)算出(chu)折(zhe)算值(zhi)。

特(te)別說明(ming):

本儀器(qi)在進入數據(ju)存(cun)(cun)取界面(mian)時,自動(dong)讀取存(cun)(cun)儲器(qi)中(zhong)*新一(yi)條記錄(lu),用戶可以(yi)按(an)“上一(yi)條”按(an)鈕查詢過去記錄(lu),打(da)(da)(da)印(yin)時將彈(dan)出窗口供用戶選擇(ze)單(dan)條打(da)(da)(da)印(yin)或多(duo)條打(da)(da)(da)印(yin),單(dan)條打(da)(da)(da)印(yin)即打(da)(da)(da)印(yin)當前(qian)顯示記錄(lu),多(duo)條打(da)(da)(da)印(yin)即從當前(qian)記錄(lu)開始向前(qian)打(da)(da)(da)印(yin)n條記(ji)錄,通過“←”、“→”可設定(ding)打印起始記(ji)錄號,結束記(ji)錄號即為當(dang)前顯示(shi)記(ji)錄號。

6、高壓消磁菜單

在主菜單界面選擇高壓消磁進入高壓消磁界面,如圖十九

用 “←”、“→”移動光(guang)標(biao)(光(guang)標(biao)可(ke)循環(huan)移動,以便(bian)用戶(hu)快速選擇),“↑”、“↓”鍵修(xiu)改參數(消(xiao)磁相為(wei)可(ke)修(xiu)改項),按“確認”鍵即可(ke)開始消(xiao)磁(圖(tu)(tu)二(er)十(shi)、圖(tu)(tu)二(er)十(shi)一),如按返回鍵將返回上一界面(mian)。

當消(xiao)(xiao)磁(ci)進度達到100%后,界面(mian)提示“消(xiao)(xiao)磁(ci)完成”并伴有蜂(feng)鳴(ming)器(qi)鳴(ming)叫,告知用戶消(xiao)(xiao)磁(ci)過(guo)程(cheng)已(yi)完成,可進行下一項(xiang)任(ren)務。

7、時鐘(zhong)設(she)置

用 “←”、“→”移(yi)動(dong)光(guang)標(光(guang)標可(ke)循環移(yi)動(dong),以便用戶快速選(xuan)擇),“↑”、“↓”鍵(jian)可(ke)修改數值,按確認鍵(jian)設(she)定時鐘,按返回(hui)(hui)鍵(jian)時鐘保持(chi)原(yuan)來值,并(bing)返回(hui)(hui)主菜單。

8、廠家設置

此菜(cai)單(dan)為廠(chang)家維護時后臺操作界(jie)面,需(xu)輸入(ru)密(mi)碼方可進入(ru),用戶勿(wu)進,以防系(xi)統出錯。

 

六、操(cao)作注意事項

儀(yi)器(qi)(qi)有反電動勢保護功(gong)能,但(dan)在使(shi)用(yong)過程中仍需按以下逐條(tiao)操(cao)作,以確(que)保試驗(yan)人員及儀(yi)器(qi)(qi)的(de)**。

1、在(zai)無載(zai)調壓繞組,不(bu)允許在(zai)測(ce)試(shi)過程(cheng)中或(huo)未放完電時切(qie)換無載(zai)分(fen)接開關;

2、在測試過程中不允許拆除測試線。

3、在高壓(ya)端(duan)子測試過程中,變壓(ya)器(qi)中壓(ya)和低壓(ya)端(duan)必須(xu)開路。

七、售后服(fu)務

1、凡購本公司產(chan)品(pin)隨機攜帶產(chan)品(pin)保(bao)修單,訂購產(chan)品(pin)交貨(huo)時,請當(dang)場檢驗并填好保(bao)修單。

2、自購(gou)機之日(ri)起,憑保修(xiu)單保修(xiu)壹年,終(zhong)身維(wei)護。在(zai)保修(xiu)期內,維(wei)修(xiu)不收維(wei)修(xiu)費(fei);保修(xiu)期外,維(wei)修(xiu)調試收取適(shi)當費(fei)用(yong)。

3、屬(shu)下列情況之一者(zhe)不(bu)予保(bao)修:

1)用(yong)戶對儀器有自行拆卸或(huo)對儀器工藝結(jie)構有人為改變(bian)。

2)因用(yong)戶保管或使用(yong)不當(dang)造(zao)成儀(yi)器的(de)嚴重損壞。

3)屬于用(yong)戶其它原因造成的損壞。

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