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帶助磁功能直流電阻測試儀

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產品名稱: 帶助磁功能直流電阻測試儀

產品型號: WBBZ3340Z

產品展商: 其(qi)它品牌

產品文檔: 無相關文檔

產品簡介

WBBZ3340Z帶助磁功能直流電阻測試儀顯示、打印變壓器的高中低壓繞組的全部測試數據，并自動計算出三相不平衡度，還可以打印折算到額定溫度下的阻值。三相測試時先測試A0的數據，再三相同時測試，解決了三相同時測試中性點引出線電阻不能測試的問題，測試數據更接近單相測試值。帶助磁功能直流電阻測試儀內部可以長久存儲測試數據200條（可擴展），還可以使用優盤存儲數據方便用戶導入電腦處理。

詳細介紹

一、WBBZ3340Z帶助磁功能直(zhi)流電(dian)阻測(ce)試儀(yi)主要(yao)特點

一(yi)次將(jiang)高、低壓(ya)電(dian)流電(dian)位測(ce)試線(xian)(xian)全部接到變壓(ya)器(qi)上，測(ce)試過程中(zhong)不(bu)用再倒測(ce)試線(xian)(xian)；

對于(yu)星型接法的(de)繞組測試，儀(yi)器可以采取三相同(tong)時測試的(de)方式測試A0、B0、C0相的電阻，節(jie)省測試時間；

三相五柱低(di)壓(ya)內部角接(jie)的(de)變壓(ya)器(qi)低(di)壓(ya)測試時，儀器(qi)內部采用自動助磁的(de)方(fang)法(fa)，比直接(jie)用大電流測試速(su)度快；

顯示、打印(yin)變(bian)壓(ya)器(qi)的高中(zhong)低(di)壓(ya)繞組的全部(bu)測試數據，并自動計算出三(san)相不平衡度(du)，還可以打印(yin)折算到額定溫(wen)度(du)下的阻值；

三相測試時(shi)先測試A0的數據(ju)，再三相(xiang)同時測(ce)試(shi)，解決了三相(xiang)同時測(ce)試(shi)中(zhong)性點引出線電阻不能測(ce)試(shi)的問(wen)題，測(ce)試(shi)數據(ju)更(geng)接近單相(xiang)測(ce)試(shi)值(zhi)；

具有完善的反電勢保護功能(neng)；

儀(yi)器(qi)內部可以長(chang)久存儲測(ce)試數據200條(tiao)（可(ke)擴展），還可(ke)以(yi)使用優盤存儲數據方便(bian)用戶導入電(dian)腦處理；

儀器具(ju)有(you)適用溫度(du)寬，精(jing)度(du)高，防震，抗干擾，攜(xie)帶(dai)方便(bian)等特點。

二、WBBZ3340Z帶助磁功能直(zhi)流(liu)電阻測試儀主(zhu)要技(ji)術指標及使用條件

1、技術指(zhi)標(biao)

1）測試電流：

三(san)相測試(shi)：5A＋5A 1A＋1A 二檔

分(fen)相測(ce)試：10A，5A，1A 三檔

2）測(ce)試范圍：

10A： 1.000mΩ ~1Ω 5A+5A   10mΩ ~1Ω

5A： 10.00mΩ ~4Ω 1A+1A 100mΩ ~5Ω

1A： 100.0mΩ ~20Ω

3）*高分辨率：0.1uΩ

4）準確度： ±（讀數×0.2%+2字）

5）外(wai)型尺寸：430mm×320mm×230mm

6）重量： 12kg

2、使用條件

1）環境溫度：－10℃ ～ 50℃ 環境濕度： ≤ 85％RH

2）工(gong)作(zuo)電源： AC220V ± 10%

3）電源頻(pin)率(lv)：（50±1）Hz

三、WBBZ3340Z帶助磁(ci)功能(neng)直流(liu)電阻測(ce)試儀面板功(gong)能介紹

面(mian)板(ban)示意圖（圖一）

液(ye) 晶(jing) 屏：顯示實時時鐘，操作菜單、測試數據(ju)以及(ji)簡(jian)易操作說明

按鍵：采用(yong)“↑”、“↓”、“←”、“→”、“確認”、“返回(hui)”六鍵控制儀器(qi)所有功能操(cao)作（另：配有“復位”鍵，即在任何時候(hou)任何界面，可按此鍵使儀器(qi)恢復到開機(ji)上電狀態(tai)）

基本功(gong)能：“←”、“→”鍵移(yi)動光標(biao)（測(ce)試過程中可修(xiu)改分接位），“↑”、“↓”鍵修(xiu)改數值(zhi)，“確(que)認”鍵執行所選操作，“返回”鍵回到(dao)上(shang)一頁。

電(dian)源開關： AC220V電源開(kai)關

接地(di)端子：

接線端子（高壓(ya)）：接被測變壓(ya)器(qi)的高壓(ya)側或中壓(ya)側

接線端子（低壓）：接被測變壓器的(de)低壓

打印(yin)機：打印(yin)測試(shi)數(shu)據

USB：優盤接口(kou)

RS232：廠家升級用

四、WBBZ3340Z帶助磁功(gong)能直流電(dian)阻(zu)測(ce)試儀接線

1、用電源線把儀器與外部AC 220 電源連(lian)接(jie)，用接(jie)地線將接(jie)地端(duan)子與大地連(lian)接(jie)。

2、兩繞組變壓(ya)器測試時依(yi)次將(jiang)高壓(ya)測試線（較長的）的四個測試鉗（黃綠紅黑）分別接到高壓(ya)側(ce)的A、B、C、O套管上，如果只有A、B、C三個套管(guan)，可以將(jiang)黑色測(ce)試鉗懸(xuan)空；測(ce)試線(xian)另一端與儀(yi)器的接(jie)線(xian)端子對應連接(jie)。將(jiang)低(di)壓(ya)測(ce)試線(xian)（較短(duan)的）的三個測(ce)試鉗（黃綠紅）分別接(jie)到低(di)壓(ya)側的a、b、c、套(tao)管(guan)上，測(ce)試線(xian)另一(yi)端與儀(yi)器的接線(xian)端子對應連接。

注(zhu)：整個測(ce)試過(guo)程不用倒線。

3、三繞組變壓器可以(yi)將(jiang)高低壓繞組測(ce)試(shi)(shi)(shi)完后(hou)，將(jiang)高壓測(ce)試(shi)(shi)(shi)線（較長的）的四個(ge)測(ce)試(shi)(shi)(shi)鉗倒接到中壓側測(ce)試(shi)(shi)(shi)即可。

4、單(dan)相(xiang)變壓(ya)器使用將高(gao)壓(ya)測(ce)試線(xian)（較(jiao)長(chang)的(de)）中黃(huang)色(se)和綠色(se)的(de)測(ce)試鉗接(jie)到(dao)單(dan)相(xiang)變壓(ya)器的(de)高(gao)壓(ya)側，低(di)壓(ya)測(ce)試線(xian)（較(jiao)短的(de)）中黃(huang)色(se)和綠色(se)的(de)測(ce)試鉗接(jie)到(dao)單(dan)相(xiang)變壓(ya)器的(de)低(di)壓(ya)側，測(ce)試線(xian)另(ling)一(yi)端與儀(yi)器的(de)接(jie)線(xian)端子(zi)對應連接(jie)。

5、儀(yi)器配套的專用測(ce)試線(xian)(xian)已經將(jiang)電流、電壓(ya)線(xian)(xian)設(she)計到同一(yi)鉗口上，接(jie)線(xian)(xian)簡單方便。

五、WBBZ3340Z帶助磁功能直流電阻測(ce)試儀使用說明

1、儀器開機顯示畫面（如(ru)圖二）

系統初始化完畢(bi)后(hou)，儀器自動進入主菜單界面

2、主菜單（如圖三）

在此(ci)界面下(xia)，“←”、“→”、“↑”、“↓”均可(ke)移動(dong)光標，棕色變(bian)大菜(cai)(cai)單(dan)為選中狀態，按“確認”鍵進入(ru)所選菜(cai)(cai)單(dan)。

3、直阻測試(shi)菜(cai)單（如圖四(si)）

3.1參數設置(zhi)界(jie)面

用 “←”、“→”移動(dong)光標(biao)（光標(biao)可(ke)循環(huan)移動(dong)，以便(bian)用戶快(kuai)速選(xuan)擇），“↑”、“↓”鍵(jian)(jian)修(xiu)改(gai)參數，按“確認”鍵(jian)(jian)保(bao)存當前參數并(bing)進入(ru)下一界(jie)面，按“返回”鍵(jian)(jian)將返回上(shang)一界(jie)面。

3.2、三相變壓(ya)器測試

如在圖四中“變(bian)壓器相數”設置為3，儀器將進行三相變壓器的測量。

測(ce)量(liang)(liang)高(gao)壓或中壓繞組(zu)時(shi)儀器將(jiang)顯示圖五界面，測(ce)量(liang)(liang)低壓繞組(zu)時(shi)將(jiang)顯示圖六界面，供用(yong)戶選擇(ze)測(ce)試方案。

3.2.1測試方案選擇

兩(liang)界面(mian)中(zhong)，用(yong) “↑”“↓”“←”、“→”移動(dong)光標（光標可循環移動(dong)，以便用(yong)戶快速選擇），棕色(se)底(di)色(se)菜單為選中(zhong)狀態，按(an)“確認(ren)”鍵(jian)進入測量界面(mian)，如按(an)返(fan)回(hui)鍵(jian)將返(fan)回(hui)上(shang)一界面(mian)。

兩界(jie)面(mian)(mian)中，用 “↑”“↓”“←”、“→”移(yi)動光標（光標可循環移(yi)動，以便用戶快(kuai)速選擇），棕色(se)(se)底色(se)(se)菜單為選中狀態(tai)，按(an)(an)“確認(ren)”鍵(jian)進入測量(liang)界(jie)面(mian)(mian)，如按(an)(an)返回鍵(jian)將返回上一界(jie)面(mian)(mian)。

3.2.2 測試過程

1）高、中壓單相測試

如在圖五中選擇(ze)“單相測試(shi)……”，儀器將進入(ru)圖七(qi)界面

用(yong) “←”、“→”移動(dong)(dong)光(guang)標（光(guang)標可循環(huan)移動(dong)(dong)，以便用(yong)戶(hu)快(kuai)速選擇），“↑”、“↓”鍵(jian)修改參(can)數（分接位與測(ce)試電流為可修改項），按“確(que)認”鍵(jian)即可開始測(ce)試儀器將進(jin)入圖八～圖十界面，如按返回鍵(jian)將返回上一界面。

充電完成后，界面底部提示進(jin)入**狀(zhuang)態(tai)(tai)“2、測試中”，**狀(zhuang)態(tai)(tai)后將進(jin)入第(di)三(san)狀(zhuang)態(tai)(tai)“3、實時測(ce)量”如圖十

“←”、“→”鍵可修改分接(jie)位置，用(yong)“↑”、“↓”移動光標（光標可循(xun)環(huan)移動，以便用(yong)戶快(kuai)速選擇），按(an)確認(ren)鍵執行所選操作。等測試(shi)數據穩(wen)定后，按(an)“打印(yin)(yin)”則屏(ping)幕顯示的(de)測量值及先前(qian)設置的(de)參數將一同打印(yin)(yin)，如按(an)保存，屏(ping)幕將彈(dan)出保存窗口提示選擇存儲器(qi)（如圖十一）

用(yong)“↑”、“↓”移動光(guang)標，按(an)(an)確認鍵保存，保存任務完成后(hou)儀器(qi)自動回到測(ce)試(shi)界面，也可不保存，按(an)(an)返回鍵即可回到測(ce)試(shi)界面。

如(ru)(ru)果(guo)是有(you)載調壓繞(rao)組(zu)(zu)，可(ke)以調到(dao)下一分(fen)(fen)接(jie)位，屏幕數(shu)(shu)據(ju)自動跟蹤測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)，“←”、“→”改變屏幕的分(fen)(fen)接(jie)位置，測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)數(shu)(shu)據(ju)穩定后，按(an)“保存(cun)”數(shu)(shu)據(ju)就可(ke)以保存(cun)到(dao)設(she)置的分(fen)(fen)接(jie)位置了。如(ru)(ru)果(guo)對屏幕顯示數(shu)(shu)據(ju)有(you)疑(yi)問，可(ke)以按(an)“重復(fu)測(ce)(ce)(ce)”，儀(yi)器(qi)將重新測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)電(dian)流電(dian)壓信號(hao)，計算阻值。一組(zu)(zu)數(shu)(shu)據(ju)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)完畢后，按(an)“停止測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)”，屏幕提示“正在放電(dian)”，并顯示放電(dian)電(dian)流。放電(dian)結束后，屏幕重新回(hui)到(dao)圖七開(kai)始測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)界(jie)面，可(ke)以更改測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)電(dian)流或分(fen)(fen)接(jie)位置（測(ce)(ce)(ce)量低壓繞(rao)組(zu)(zu)時也可(ke)修改測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)相）繼續測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)或返(fan)回(hui)上一界(jie)面選擇其它項目進行測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)。

2）高、中壓三(san)相測試(shi)

如在圖五中選擇(ze)“三相測試……”，儀器將進入(ru)圖十二界面

用(yong) “←”、“→”移動(dong)光標（光標可(ke)循環移動(dong)，以便(bian)用(yong)戶快(kuai)速選擇），“↑”、“↓”鍵(jian)修(xiu)改(gai)參(can)數（分(fen)接位與(yu)測(ce)試(shi)(shi)電流為可(ke)修(xiu)改(gai)項），按(an)“確(que)認”鍵(jian)即可(ke)開始測(ce)試(shi)(shi)，如按(an)返回鍵(jian)將返回上(shang)一界面。

三相測試過(guo)程，儀(yi)器將(jiang)先對AO相加電，測量(liang)出(chu)AO相電(dian)阻值(zhi)，屏幕顯示如圖十三

儀器自動判斷(duan)阻(zu)值(zhi)穩定后（也可(ke)(ke)手動判斷(duan)，點擊“繼續下一步”即(ji)可(ke)(ke)放電(dian)，放電(dian)完成后切換到(dao)三(san)相(xiang)充(chong)電(dian)），開始放電(dian)，放電(dian)完成后自動切換到(dao)三(san)相(xiang)充(chong)電(dian)電(dian)流(liu)，待電(dian)流(liu)穩定后自動計算(suan)三(san)相(xiang)阻(zu)值(zhi)（帶(dai)中性點）如（圖十四～圖十五）。

充電完成后，界面底部提示進(jin)入**狀態“2、測試中”，**狀(zhuang)態完成后將進(jin)入(ru)實(shi)時測量狀(zhuang)態如圖十五(wu)

“←”、“→”鍵可修(xiu)改分(fen)接位置，用“↑”、“↓”移(yi)動(dong)(dong)光標（光標可循環移(yi)動(dong)(dong)，以(yi)便用戶(hu)快速(su)選(xuan)擇(ze)），按(an)確認鍵執(zhi)行所選(xuan)操作。等(deng)測試數據穩(wen)定后，按(an)“打印”則屏幕顯(xian)示的測量值及(ji)先(xian)前(qian)設置的參(can)數將一(yi)同打印，如按(an)保(bao)存(cun)，屏幕將彈出保(bao)存(cun)窗口提示選(xuan)擇(ze)存(cun)儲器（請參(can)照單(dan)相測試保(bao)存(cun)方法）。

如(ru)果是有載(zai)調(diao)壓(ya)繞組(zu)，可(ke)以(yi)調(diao)到(dao)下(xia)(xia)一(yi)分(fen)接(jie)位，屏(ping)幕數(shu)(shu)據(ju)(ju)自動(dong)跟蹤(zong)測(ce)(ce)試(shi)，“←”、“→”改(gai)變屏(ping)幕的(de)分(fen)接(jie)位置，測(ce)(ce)試(shi)數(shu)(shu)據(ju)(ju)穩(wen)(wen)定后(hou)，按“保(bao)存”將數(shu)(shu)據(ju)(ju)保(bao)存到(dao)顯(xian)(xian)示(shi)分(fen)接(jie)位置的(de)值(zhi)。調(diao)整有載(zai)分(fen)接(jie)開關，調(diao)到(dao)下(xia)(xia)一(yi)個分(fen)接(jie)，儀(yi)器(qi)跟蹤(zong)測(ce)(ce)試(shi)阻值(zhi)并顯(xian)(xian)示(shi)出來。也可(ke)以(yi)按“重復測(ce)(ce)”重新采集電(dian)壓(ya)電(dian)流信號，進行計算。按“←”、“→”鍵調(diao)整儀(yi)器(qi)顯(xian)(xian)示(shi)的(de)分(fen)接(jie)位置，等數(shu)(shu)據(ju)(ju)穩(wen)(wen)定后(hou)，按“保(bao)存”將數(shu)(shu)據(ju)(ju)保(bao)存到(dao)顯(xian)(xian)示(shi)分(fen)接(jie)位置的(de)值(zhi)。一(yi)直測(ce)(ce)完所有分(fen)接(jie)，然后(hou)選(xuan)擇(ze)“停止測(ce)(ce)試(shi)”按鈕，按“確認”鍵開始放電(dian)，等放電(dian)結束，儀(yi)器(qi)回到(dao)圖十二(er)測(ce)(ce)試(shi)界面，可(ke)以(yi)更改(gai)測(ce)(ce)試(shi)電(dian)流繼(ji)續測(ce)(ce)試(shi)或返回上(shang)一(yi)界面選(xuan)擇(ze)其它項目(mu)進行測(ce)(ce)試(shi)。

3）低壓繞組測試

如在圖六(liu)中選擇“四點法測試”儀器(qi)將進入(ru)圖十六(liu)界面

用 “←”、“→”移(yi)動(dong)光標(biao)(biao)（光標(biao)(biao)可(ke)循環移(yi)動(dong)，以便用戶快速(su)選(xuan)擇），“↑”、“↓”鍵(jian)修(xiu)改(gai)(gai)參數（分(fen)接(jie)位(wei)、測試電流與測試相為可(ke)修(xiu)改(gai)(gai)項(xiang)），按“確認”鍵(jian)即可(ke)開(kai)始測試，如按返(fan)(fan)回(hui)鍵(jian)將返(fan)(fan)回(hui)上(shang)一界(jie)面。

低壓(ya)繞(rao)組(zu)具(ju)體測試(shi)、打印和(he)保存過(guo)程(cheng)請參照高、中壓(ya)單相(xiang)測試(shi)過(guo)程(cheng)。

3.3 單(dan)相(xiang)變壓(ya)器測(ce)試

按(an)單相(xiang)變壓器接(jie)線(xian)(xian)方法(fa)接(jie)好線(xian)(xian)后(hou)，在測試參(can)數(shu)設置界面(mian)（圖四）中將(jiang)“變壓器相(xiang)數(shu)”設置為1，儀器將進(jin)行單相變壓(ya)器的測量，進(jin)入圖十七界面。

用(yong) “←”、“→”移動光標（光標可循環移動，以(yi)便用(yong)戶快速選擇），“↑”、“↓”鍵(jian)修改(gai)參數（分接位與測試(shi)電流為可修改(gai)項），按“確認”鍵(jian)即可開始測試(shi)，如(ru)按返回鍵(jian)將返回上(shang)一界面。

具體(ti)測試(shi)、打印和保存過(guo)程(cheng)請參照高、中壓(ya)單相測試(shi)過(guo)程(cheng)。

4、溫升試驗菜單

如用戶選擇溫升(sheng)試驗菜單，請參照(zhao)第3項中(zhong)直阻測(ce)試過程，則(ze)圖四(si)～圖十七左下角(jiao)任務(wu)欄將(jiang)顯示“溫升試驗”字樣，并且儀器測(ce)出阻值后將(jiang)每隔(ge)30秒(miao)鐘自動打印一次當前(qian)數據。

5、數(shu)據(ju)存取菜(cai)單

在主菜單界面(mian)選(xuan)擇數(shu)據存(cun)取進入數(shu)據存(cun)取界面(mian)，如圖十八(ba)

用(yong)“↑”、“↓”移動(dong)光標(biao)（光標(biao)可循環移動(dong)，以便用(yong)戶(hu)快速選(xuan)擇），確認鍵執行所選(xuan)操(cao)作，用(yong)“←”、“→”可改(gai)變折(zhe)算溫度值(zhi)（折(zhe)算值(zhi)根(gen)據溫度值(zhi)改(gai)變），然后按“打印”或(huo)“轉存(cun)”按鈕(niu)可打印或(huo)轉存(cun)至(zhi)U盤當(dang)前(qian)記(ji)錄并自(zi)動(dong)按當(dang)前(qian)設定折(zhe)算溫度算出折(zhe)算值(zhi)。

特別(bie)說明：

本儀器在進入數據存取界面(mian)時(shi)，自動讀取存儲(chu)器中*新一(yi)條(tiao)(tiao)記(ji)錄(lu)，用戶可以按(an)“上一(yi)條(tiao)(tiao)”按(an)鈕(niu)查詢過去(qu)記(ji)錄(lu)，打(da)(da)印(yin)時(shi)將彈出(chu)窗(chuang)口供用戶選擇(ze)單條(tiao)(tiao)打(da)(da)印(yin)或多(duo)條(tiao)(tiao)打(da)(da)印(yin)，單條(tiao)(tiao)打(da)(da)印(yin)即打(da)(da)印(yin)當(dang)前(qian)顯示記(ji)錄(lu)，多(duo)條(tiao)(tiao)打(da)(da)印(yin)即從當(dang)前(qian)記(ji)錄(lu)開始向前(qian)打(da)(da)印(yin)n條記(ji)錄(lu)，通(tong)過“←”、“→”可設(she)定打印起始(shi)記(ji)錄(lu)號(hao)，結束記(ji)錄(lu)號(hao)即(ji)為當前顯示(shi)記(ji)錄(lu)號(hao)。

6、高壓消(xiao)磁菜單

在主菜單界面選擇高(gao)壓(ya)消磁(ci)進入高(gao)壓(ya)消磁(ci)界面，如圖十九

用 “←”、“→”移動光(guang)標（光(guang)標可(ke)(ke)循(xun)環移動，以便用戶(hu)快(kuai)速選(xuan)擇），“↑”、“↓”鍵修改參(can)數(shu)（消磁相(xiang)為可(ke)(ke)修改項），按“確認”鍵即可(ke)(ke)開始消磁（圖二十、圖二十一），如按返回鍵將返回上(shang)一界面。