**章 WBTCD-9308智能(neng)型(xing)局放(fang)儀(yi)局放理(li)論概述

在開始我(wo)們(men)的實驗以前(qian)，我(wo)們(men)首先(xian)應該對局(ju)部(bu)放(fang)(fang)電(dian)有(you)個初步(bu)的了(le)解，為(wei)什(shen)么(me)要測(ce)(ce)量(liang)(liang)局(ju)部(bu)放(fang)(fang)電(dian)？局(ju)部(bu)放(fang)(fang)電(dian)有(you)什(shen)么(me)危(wei)害？怎樣(yang)準確測(ce)(ce)量(liang)(liang)局(ju)部(bu)放(fang)(fang)電(dian)？有(you)了(le)上述理(li)論基礎可以幫助我(wo)們(men)理(li)解測(ce)(ce)量(liang)(liang)過程中的正確操作。

一、局部(bu)放(fang)電的定義及產生原因

在電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)場作用下(xia)，絕緣(yuan)系統中只有(you)部(bu)(bu)分(fen)區域(yu)發生(sheng)放(fang)(fang)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)，但尚未擊穿，（即在施加電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)壓的(de)導(dao)體之間沒(mei)有(you)擊穿）。這種(zhong)現象(xiang)稱(cheng)之為(wei)局(ju)部(bu)(bu)放(fang)(fang)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)。局(ju)部(bu)(bu)放(fang)(fang)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)可能發生(sheng)在導(dao)體邊上，也可能發生(sheng)在絕緣(yuan)體的(de)表面上和(he)內(nei)部(bu)(bu)，發生(sheng)在表面的(de)稱(cheng)為(wei)表面局(ju)部(bu)(bu)放(fang)(fang)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)。發生(sheng)在內(nei)部(bu)(bu)的(de)稱(cheng)為(wei)內(nei)部(bu)(bu)局(ju)部(bu)(bu)放(fang)(fang)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)。而對于被氣(qi)體包圍的(de)導(dao)體附近發生(sheng)的(de)局(ju)部(bu)(bu)放(fang)(fang)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)，稱(cheng)之為(wei)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)暈。由(you)此 總結(jie)一下(xia)局(ju)部(bu)(bu)放(fang)(fang)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)的(de)定義，指(zhi)部(bu)(bu)分(fen)的(de)橋接(jie)導(dao)體間絕緣(yuan)的(de)一種(zhong)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)氣(qi)放(fang)(fang)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)，局(ju)部(bu)(bu)放(fang)(fang)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)產生(sheng)原因主要有(you)以(yi)下(xia)幾種(zhong)：

電(dian)場不均勻。

電介質不均勻(yun)。

制造過程的氣泡或雜(za)質。*經常發(fa)(fa)生(sheng)(sheng)放電的原因(yin)是(shi)絕緣體內部(bu)或表(biao)面存在氣泡；其次是(shi)有些設備的運行(xing)過程中會發(fa)(fa)生(sheng)(sheng)熱脹(zhang)冷(leng)縮,不(bu)同材(cai)料特(te)別是(shi)導(dao)體與介質(zhi)的膨脹系數不(bu)同，也會逐漸出現裂縫(feng)；再有一些是(shi)在運行過程中(zhong)有機高分子的老化，分解(jie)出各種揮發物，在高場強的作(zuo)用下，電荷(he)不(bu)斷地由導(dao)體進(jin)入介質(zhi)中(zhong)， 在注(zhu)入點上就會使介質(zhi)氣化。

二 、WBTCD-9308智能型局放儀局(ju)部(bu)放電的(de)模擬電路及(ji)放電過程簡介

介質內(nei)部(bu)含有氣泡(pao)，在交流(liu)電(dian)壓下產生的內(nei)部(bu)放電(dian)特性可由圖1—1的模擬(ni)電路(a b c等值電路)予以表(biao)示；其中Cc是模擬介(jie)質中產生(sheng)放電間(jian)隙(如氣泡)的電容；Cb代表與Cc串聯部分(fen)介質的合成電容；Ca表示(shi)其余部分介質的電容。

I——介質有缺陷(氣泡)的部份(fen)(虛(xu)線(xian)表示)

II——介質無(wu)缺陷部份

圖1—1  表示具有(you)內部(bu)放電(dian)的模擬(ni)電(dian)路(lu)

圖1—1中以并聯有(you)—對火花間隙的電容Cc來模(mo)擬產生局部(bu)放(fang)電的(de)內部(bu)氣(qi)泡。圖1—2表示了(le)在交流電(dian)壓(ya)下局部放電(dian)的發生過程。

U(t)一一外施交流電壓(ya)

Uc(t)一(yi)一(yi)氣(qi)(qi)泡不擊穿時在氣(qi)(qi)泡上的電壓(ya)

Uc’(t)一(yi)一(yi)有局部放電(dian)時氣泡上的實際電(dian)壓(ya)

Vc一一氣泡的擊穿電壓

Y r一(yi)一(yi)氣泡(pao)的殘余電(dian)壓   

Us—局部放電(dian)起始電(dian)壓(ya)(瞬時值)

Ur一(yi)一(yi)與氣(qi)泡殘余電壓(ya)v r對應(ying)的外施電壓

Ir一(yi)(yi)一(yi)(yi)氣泡中(zhong)的(de)放電電流

電(dian)極間總電(dian)容Cx=Ca＋(Cb×Cc)/(Cb＋Cc)=Ca電(dian)極間施加交流電(dian)壓 u(t)時，氣泡電(dian)容Cc上對應的電壓為(wei)Uc(t)。如(ru)圖2—1所示(shi)，此時的Uc(t)所代表(biao)的是氣(qi)泡理想狀態下的電(dian)壓(ya)（既氣(qi)泡不發生擊(ji)穿）。

Uc(t)=U(t)×Cb/Cc＋Cb

外施電(dian)壓U(t)上升時，氣(qi)泡上電壓Uc(t)也(ye)上(shang)升，當(dang)U(t)上升(sheng)到Us時，氣(qi)泡(pao)上電壓(ya)Uc達到氣泡擊穿電壓,氣(qi)(qi)泡(pao)(pao)擊穿，產(chan)生大量(liang)的正、負離子，在電(dian)(dian)場作用下各自遷移到(dao)氣(qi)(qi)泡(pao)(pao)上下壁(bi)，形成空(kong)間(jian)電(dian)(dian)菏，建(jian)立反(fan)電(dian)(dian)場，削弱了氣(qi)(qi)泡(pao)(pao)內(nei)的總電(dian)(dian)場強度，使放(fang)電(dian)(dian)熄滅，氣(qi)(qi)泡(pao)(pao)又(you)恢復(fu)絕緣性能。這樣的一(yi)次放(fang)電(dian)(dian)持續時間(jian)是極短(duan)暫(zan)的，對一(yi)般的空(kong)氣(qi)(qi)氣(qi)(qi)泡(pao)(pao)來說，大約只有幾(ji)個毫微(wei)秒(10的負8次方到10的負9次方秒(miao))。所以電壓Uc(t)幾乎瞬間(jian)地從Vc降到Vr，Vr是殘余(yu)電(dian)壓；而(er)氣泡上電(dian)壓Uc‘(t)將隨U(t)的(de)增大而繼續由Vr升高到Vc時，氣(qi)泡再—次(ci)擊穿(chuan)，發(fa)生又—次局部放電(dian)(dian)，但此時(shi)相應(ying)的外施電(dian)(dian)壓比Us小，為(wei)(Us-Ur)，這(zhe)是因為氣泡上(shang)有殘余電(dian)壓Vr的(de)內(nei)電場作用的(de)結果。Vr是(shi)與氣泡殘(can)余電壓Yr相應的外施(shi)電壓，如此(ci)反復上述過(guo)程，即外施(shi)電壓每增加(jia)(Us-Ur)，就(jiu)產(chan)生一次局(ju)部放電．直到前—次放(fang)電熄滅(mie)后，Uc’(t)上升到峰值時共增量不足(zu)以達Vc(相當(dang)于外施電壓(ya)的(de)增量(liang)Δ比(Us-Ur)小)為(wei)止。

此后，隨著外施電壓U(t)經過峰(feng)值Um后減(jian)小，外施電(dian)(dian)壓(ya)(ya)在氣泡(pao)中建立(li)反方向電(dian)(dian)場(chang)，由于氣泡(pao)中殘存的內電(dian)(dian)場(chang)電(dian)(dian)壓(ya)(ya)方向與外電(dian)(dian)場(chang)方向相反，故外施電(dian)(dian)壓(ya)(ya)須經(Us+Ur))的電(dian)(dian)壓變化，才能使氣泡上(shang)的電(dian)(dian)壓達(da)到擊穿(chuan)電(dian)(dian)壓Vc，(假定正、負方向擊穿電(dian)壓(ya)Vc相等)，產生一次局部放(fang)電(dian)。放(fang)電(dian)很快熄滅，氣泡中電(dian)壓(ya)瞬時降到(dao)殘余電(dian)壓(ya)Vr(也假定(ding)正、負方向相同)。外施電壓繼續下降(jiang)(jiang)，當(dang)再下降(jiang)(jiang)(Us-Ur)時(shi)，氣泡電壓就又達到Vc從而又產生一次(ci)局部放電(dian)。如此重復(fu)上(shang)述(shu)過(guo)程，直到外施(shi)電(dian)壓升到反(fan)向(xiang)蜂值(zhi)一Um的增量Δ不足(zu)以達到(Us-Ur)為止。外施電壓經過一Um峰值后，氣(qi)泡上的外(wai)電場方向又變為正(zheng)方向，與氣(qi)泡殘余電壓(ya)方向相反，故(gu)外(wai)施電壓(ya)又須上升(Us+Ur)產生第—次放(fang)電，熄(xi)滅(mie)后，每(mei)經(jing)過Us—Ur的電壓(ya)上升就產生一次放電，重復前面所介(jie)紹的過程(cheng)。如(ru)圖(tu)1—2所(suo)示。

由(you)以(yi)上局(ju)(ju)(ju)部放(fang)(fang)電(dian)(dian)過程分(fen)析，同(tong)時根據局(ju)(ju)(ju)部放(fang)(fang)電(dian)(dian)的(de)特點(dian)（同(tong)種試品，同(tong)樣(yang)的(de)環境下，電(dian)(dian)壓(ya)越高局(ju)(ju)(ju)部放(fang)(fang)電(dian)(dian)量(liang)越大）可以(yi)知(zhi)道：一(yi)般情況下，同(tong)一(yi)試品在(zai)一(yi)、三象(xiang)限的(de)局(ju)(ju)(ju)部放(fang)(fang)電(dian)(dian)量(liang)大于二、四象(xiang)限的(de)局(ju)(ju)(ju)部放(fang)(fang)電(dian)(dian)量(liang)。那(nei)是因為(wei)它們是電(dian)(dian)壓(ya)的(de)上升(sheng)沿。（第(di)三象(xiang)限是電(dian)(dian)壓(ya)負(fu)的(de)上升(sheng)沿）。這就是我們測量(liang)中(zhong)為(wei)什(shen)么把時間窗刻(ke)意(yi)擺在(zai)一(yi)、三象(xiang)限的(de)原(yuan)因。

三(san)、WBTCD-9308智能型局放儀(yi)局部放電的測量原理：

四、WBTCD-9308智能(neng)型局放儀(yi)局部放電的表征參數

局部(bu)放電(dian)是比較復(fu)雜的物理(li)現象(xiang)，必須通過多種表征參(can)數才能**的描繪(hui)其狀態，同(tong)時(shi)局部(bu)放電(dian)對絕(jue)緣(yuan)破壞的機理(li)也是很(hen)復(fu)雜的，也需(xu)要(yao)通過不同(tong)的參(can)數來評定它對絕(jue)緣(yuan)的損(sun)害(hai)，目前我們只關(guan)心兩個基本(ben)參(can)數。

視在放(fang)電電荷——在絕緣體中(zhong)發(fa)生局部(bu)放電時，絕緣體上施加(jia)電壓的(de)兩(liang)端出(chu)現的(de)脈動(dong)電荷稱之為視在放電電荷，單位用皮(pi)庫（pc）表示(shi)，通常(chang)以穩定出現的(de)*大視(shi)在放電(dian)電(dian)荷(he)作為該試品的(de)放電(dian)量。

放(fang)電重復率——在測量(liang)時間內(nei)每秒中出現的放電次(ci)(ci)數的平均值稱為(wei)放電重復率，單(dan)位為(wei)次(ci)(ci)/秒，放電重(zhong)復率越(yue)高，對絕緣的損(sun)害(hai)越(yue)大(da)。

**章(zhang)  局放測試的試驗系統接(jie)線。

在了(le)解了(le)局部放(fang)電(dian)的(de)基本(ben)(ben)理(li)論之后(hou)，在本(ben)(ben)章我(wo)們(men)的(de)重點轉(zhuan)向(xiang)實際操作，我(wo)們(men)先介(jie)(jie)紹局部放(fang)電(dian)測試(shi)中常(chang)用(yong)的(de)三種(zhong)接法，隨后(hou)我(wo)們(men)再介(jie)(jie)紹整個系(xi)統(tong)的(de)接線(xian)電(dian)路，*后(hou)我(wo)們(men)再分(fen)別介(jie)(jie)紹幾(ji)種(zhong)典型的(de)試(shi)品的(de)試(shi)驗線(xian)路。

一、局放(fang)電測(ce)試(shi)電路(lu)的三種基本(ben)接法及優缺點。

（1）   標準試驗電(dian)路，又稱并聯法。適(shi)合于必(bi)須接(jie)地(di)的(de)試品(pin)。其(qi)缺點是高壓引(yin)線對地雜散電容并聯在 CX上，會降低測試靈敏度。

（2）接(jie)法的(de)串聯(lian)法，其要求試品低壓端(duan)對地浮置。其優點是(shi)(shi)變壓(ya)器入口電容(rong)、高(gao)壓(ya)線對地雜(za)散(san)電容(rong)與(yu)耦(ou)合(he)電容(rong)CK并聯(lian)，有(you)利于提(ti)高(gao)試驗靈敏度。缺點是(shi)(shi)試樣損壞(huai)時會損壞(huai)輸入單元。

（3）平衡法(fa)試驗電路：要求(qiu)兩個試品相接近，至少電容量為同一數量級其優點是(shi)(shi)外干擾(rao)強烈的(de)情(qing)況下，可取(qu)得較(jiao)好抑制(zhi)干擾(rao)的(de)效(xiao)果(guo)，并可消除變壓器(qi)雜散電容的(de)影(ying)響(xiang)，而且可做大電容試驗。缺點是(shi)(shi)須要兩個相似的(de)試品，且當(dang)產生(sheng)放(fang)電時(shi)，需設法(fa)判(pan)別是(shi)(shi)哪個試品放(fang)電。

值得提(ti)出(chu)的(de)(de)是：由于現(xian)(xian)場(chang)試(shi)驗條件的(de)(de)限(xian)制（找到兩個相似的(de)(de)試(shi)品(pin)且(qie)要(yao)保證一(yi)個試(shi)品(pin)無放電(dian)不(bu)太容(rong)易），所以(yi)在現(xian)(xian)場(chang)平衡法比(bi)較難實現(xian)(xian)，另外，由于(yu)采用串聯(lian)法(fa)時，如果試品擊穿，將會對(dui)設備(bei)(bei)造(zao)成比較大(da)的(de)(de)損(sun)害，所以出于(yu)對(dui)設備(bei)(bei)保(bao)護(hu)的(de)(de)想(xiang)法(fa)，在現(xian)場試驗時一般(ban)采用并聯(lian)法(fa)。

二、WBTCD-9308智能(neng)型局放儀采用并聯法的整個系統(tong)的接線原理圖。

該(gai)系(xi)(xi)(xi)統采用脈(mo)沖電流法檢測(ce)(ce)(ce)高壓(ya)試(shi)(shi)(shi)品的(de)局(ju)(ju)部(bu)放電量(liang)，由控制臺控制調壓(ya)器(qi)和(he)(he)變(bian)壓(ya)器(qi)在試(shi)(shi)(shi)品的(de)高壓(ya)端產生測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)局(ju)(ju)放所(suo)需(xu)的(de)預加(jia)電壓(ya)和(he)(he)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)電壓(ya)，通(tong)過無局(ju)(ju)放藕合電容器(qi)和(he)(he)檢測(ce)(ce)(ce)阻抗(kang)將局(ju)(ju)部(bu)放電信(xin)號取出并(bing)(bing)送(song)至(zhi)局(ju)(ju)部(bu)放電檢測(ce)(ce)(ce)儀顯示并(bing)(bing)判斷和(he)(he)測(ce)(ce)(ce)量(liang)。系(xi)(xi)(xi)統中(zhong)的(de)高壓(ya)電阻為了(le)防止在測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)過程(cheng)中(zhong)試(shi)(shi)(shi)品擊穿而(er)損壞其他設備，兩個電源濾波器(qi)是將電源的(de)干擾和(he)(he)整個測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)系(xi)(xi)(xi)統分(fen)開，降低整個測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)系(xi)(xi)(xi)統的(de)背景干擾。

根據上述原理圖可(ke)以看(kan)出，局(ju)部放電(dian)測(ce)試(shi)(shi)的靈(ling)敏度(du)和準確度(du)和整個(ge)系(xi)統密(mi)切相關，要想順利(li)和準確的進行局(ju)部放電(dian)測(ce)試(shi)(shi)，就必須將整個(ge)系(xi)統考濾周到，包括系(xi)統的參數(shu)選取和連接方式。另(ling)外，在(zai)現場試(shi)(shi)驗時，由于是驗證性(xing)試(shi)(shi)驗，高壓(ya)限(xian)流(liu)電(dian)阻(zu)可(ke)以省掉。

三(san)、幾種典(dian)型試品的接(jie)線原理圖。

（1）電流互感器的局放測試接線原(yuan)理(li)圖

（2）電(dian)壓互感(gan)器(qi)的局放測(ce)試接線原理(li)圖

A．工頻加壓方式接線原理圖(tu)

為了防(fang)止電(dian)(dian)壓(ya)互感(gan)(gan)(gan)(gan)器(qi)(qi)在工頻(pin)電(dian)(dian)壓(ya)下產生大(da)的(de)勵(li)磁電(dian)(dian)流而損壞，高(gao)壓(ya)電(dian)(dian)壓(ya)互感(gan)(gan)(gan)(gan)器(qi)(qi)一(yi)般采取自激勵(li)的(de)加壓(ya)方式。在電(dian)(dian)壓(ya)互感(gan)(gan)(gan)(gan)器(qi)(qi)的(de)低壓(ya)側加一(yi)倍頻(pin)電(dian)(dian)源，在電(dian)(dian)壓(ya)互感(gan)(gan)(gan)(gan)器(qi)(qi)的(de)高(gao)壓(ya)端(duan)感(gan)(gan)(gan)(gan)應出(chu)高(gao)壓(ya)來進行局(ju)部(bu)放電(dian)(dian)實(shi)(shi)驗。這就是通常所說的(de)三倍頻(pin)實(shi)(shi)驗。其接線原理圖如(ru)下：

(3)高壓電容(rong)器.絕緣(yuan)子(zi)的(de)局放測試(shi)接線原理圖

(4) 發電機的(de)局放測試接(jie)線原理(li)圖

（5）變壓(ya)器的局部放(fang)電測試(shi)接線原理圖

我們僅(jin)僅(jin)是(shi)在(zai)原(yuan)理性的(de)總結了幾種(zhong)(zhong)(zhong)典(dian)型試(shi)品的(de)接(jie)線原(yuan)理圖，至(zhi)于各種(zhong)(zhong)(zhong)試(shi)品的(de)加(jia)壓(ya)方式和加(jia)壓(ya)值(zhi)的(de)多少，我們在(zai)做試(shi)驗的(de)時侯要嚴格(ge)遵(zun)守(shou)每種(zhong)(zhong)(zhong)試(shi)品的(de)出廠檢驗標準或交接(jie)檢驗標準。

第三章  概述

WBTCD-9308智能(neng)局(ju)部(bu)放(fang)電(dian)(dian)檢測儀(yi)(yi)是我公司*新(xin)推向市(shi)場的(de)新(xin)一(yi)代數字智能(neng)儀(yi)(yi)器，該儀(yi)(yi)器在原有(you)產品WBJF-2010、JF-2020局(ju)放(fang)儀(yi)(yi)的(de)基(ji)礎上采(cai)用嵌入式ARM系(xi)統作為中(zhong)(zhong)央處(chu)理單元，控(kong)制12位分辨率(lv)的(de)高速模(mo)數轉換芯片進行數據(ju)采(cai)集，將采(cai)集到(dao)的(de)數據(ju)存放(fang)在雙(shuang)端口RAM中(zhong)(zhong)。實(shi)現從模(mo)擬到(dao)數字的(de)跨越。使用26萬色高分辨率(lv)TFT-LCD數字液晶(jing)顯(xian)示模(mo)組(zu)實(shi)時(shi)顯(xian)示放(fang)電(dian)(dian)脈(mo)沖波形，配備VGA接口，可外接顯(xian)示器。與傳統的(de)模(mo)擬式示波管顯(xian)示局(ju)部(bu)放(fang)電(dian)(dian)檢測儀(yi)(yi)相比(bi)有(you)以(yi)下特點：

1.彩色顯示(shi)器，雙色顯示(shi)波形(xing)，更(geng)清晰直(zhi)觀(guan)；

2.可鎖(suo)定(ding)波(bo)形，更(geng)方(fang)便仔細查(cha)看放電波(bo)形細節；

3.自動測量并顯(xian)示(shi)試驗(yan)電源時基(ji)頻率，無需手動切換；

4.配備VGA接(jie)口，可外接(jie)大尺(chi)寸顯示器(qi)；

5.與示(shi)波(bo)管相比(bi)壽命更長。

6.具有波(bo)形鎖定(ding)、打印試驗報告功能

本儀器檢測靈(ling)敏度(du)高，試樣(yang)電(dian)容(rong)覆蓋范(fan)圍(wei)大(da)，適(shi)用試品范(fan)圍(wei)廣，輸入單元（檢測阻抗）配備(bei)齊全，頻(pin)帶(dai)組合(he)多(duo)（九種）。儀器經適(shi)當定標后能直讀放(fang)電(dian)脈沖(chong)的放(fang)電(dian)量。

本儀器是電(dian)力部門、制造廠家(jia)和科(ke)研單位等廣泛使(shi)用的局部放電(dian)測試儀器。

第四章  主要技術指標：

1．可測(ce)試品的電容(rong)范圍： 6PF—250uF。

2．檢測靈敏(min)度（見表一）：

表(biao)一

（1）低(di)端：10KHZ、20KHZ、40KHZ任選(xuan)。

（2）**：80KHZ、200KHZ、300KHZ任選。

4、放大(da)器增益(yi)調節(jie)：

粗調六檔(dang)，檔(dang)間增益20±1dB；細(xi)調范圍≥20dB。每(mei)檔(dang)之間數(shu)據(ju)為(wei)10倍關(guan)系：如第(di)(di)三檔(dang)檢(jian)測(ce)數(shu)據(ju)為(wei)98，則(ze)**檔(dang)顯示數(shu)據(ju)為(wei)9.8，如在第(di)(di)三檔(dang)檢(jian)測(ce)數(shu)據(ju)超過120，則(ze)應調至**檔(dang)來檢(jian)測(ce)數(shu)據(ju)，所得(de)數(shu)據(ju)應乘以(yi)10才為(wei)實際測(ce)量值。

5、時間(jian)窗：

（1）窗寬：可調范圍15°-175°；

（2）窗(chuang)位(wei)置：每一窗(chuang)可旋轉0°- 180°；

（3）兩個時間窗(chuang)可分別開或同時開。

6、放電(dian)量表：

0-100誤差<±3％（以滿(man)度(du)計）。

7、橢(tuo)圓時(shi)基：

（1）頻率：50HZ、或外部電源同步（任意(yi)頻率）

（2）橢圓旋轉：以30°為一檔，可作360°旋轉。

（3）顯(xian)示方式：橢圓—直線。

8、試(shi)驗電壓(ya)表：

精度(du)：優(you)于±3％（以滿度(du)計）。

9、體(ti)積： 320×480×190（寬(kuan)×深×高）mm³。

10、重量：約15Kg。

三、系(xi)統工作原理：

本機(ji)的局(ju)部放電測(ce)試原理是高(gao)頻(pin)脈沖電流測(ce)量法(fa)（ERA法(fa)）。

試品Ca在試驗電(dian)(dian)壓(ya)下產生(sheng)局部放(fang)電(dian)(dian)時，放(fang)電(dian)(dian)脈(mo)沖(chong)(chong)信號(hao)經藕(ou)合電(dian)(dian)容Ca送入輸(shu)入單元，由輸(shu)入單元拾取到(dao)脈(mo)沖(chong)(chong)信號(hao)，經低(di)噪(zao)聲前(qian)置放(fang)大(da)器(qi)放(fang)大(da)，濾波放(fang)大(da)器(qi)選擇(ze)所(suo)需頻帶(dai)及主放(fang)大(da)器(qi)放(fang)大(da)（達(da)到(dao)所(suo)需幅(fu)值與產生(sheng)零標(biao)志(zhi)脈(mo)沖(chong)(chong)）后，在示波屏(ping)的橢圓掃描基線(xian)上產生(sheng)可見(jian)的放(fang)電(dian)(dian)脈(mo)沖(chong)(chong)，同時也送至脈(mo)沖(chong)(chong)峰(feng)值表顯示其峰(feng)值。

時(shi)間窗單(dan)元(yuan)控制試(shi)驗(yan)電壓(ya)每一周(zhou)期內(nei)脈沖(chong)峰(feng)值的工作時(shi)間，并在(zai)這段時(shi)間內(nei)將示波(bo)屏的相應顯示區加亮，用它可以排除固(gu)定(ding)相位的干擾。

試(shi)驗電(dian)(dian)壓(ya)(ya)(ya)表經電(dian)(dian)容分壓(ya)(ya)(ya)器產生試(shi)驗電(dian)(dian)壓(ya)(ya)(ya)過(guo)零(ling)標(biao)志(zhi)訊號，在示波屏上(shang)顯示零(ling)標(biao)脈沖，橢圓(yuan)時基(ji)上(shang)兩個零(ling)標(biao)脈沖，通(tong)過(guo)時間窗(chuang)的寬(kuan)窄調節(jie)可確定試(shi)驗電(dian)(dian)壓(ya)(ya)(ya)的相位，試(shi)驗電(dian)(dian)壓(ya)(ya)(ya)大小(xiao)由數(shu)字電(dian)(dian)壓(ya)(ya)(ya)表指(zhi)示。

整個(ge)系統(tong)的(de)工作(zuo)原理可(ke)參看方框(kuang)圖(tu)（圖(tu)一）。

四(si)、結構說明

本儀(yi)器(qi)為標準機箱結構(gou)，儀(yi)器(qi)分前面板及(ji)后面板兩部分，各調節元件的位置(zhi)及(ji)位置(zhi)和功能見下圖說明。

1、4：長按改變門窗的位置

2、3：長按改變門窗(chuang)的寬(kuan)度

5：時鐘設(she)置按鈕

6：按9號鍵鎖定后再按此鍵，即可打印試(shi)驗(yan)報告

7：分壓比(bi)設置按鈕

8：門(men)開關，重復按可選擇左(zuo)右門(men)

9：波形鎖定按鍵

10：橢圓旋轉按鈕

11：顯示方(fang)式按鈕(niu)

12：取消按(an)鈕

A、B、C通(tong)道(dao)選擇(ze)旋鈕與后面板A、B、C測(ce)量(liang)通(tong)道(dao)相對應

備注： 如需數據(ju)導出，步驟如下(xia)：

（1）在(zai)電腦(nao)上安裝好RS232通用(yong)串口線驅動(dong)。（驅動(dong)盤里有安裝介紹）及局放試驗(yan)報告編輯器(qi)軟(ruan)件。

（2）將串(chuan)口(kou)線和局放儀(yi)后面的數據接(jie)口(kou)連接(jie)好。   

（3）將需要保(bao)存的波形鎖定然后點擊 局(ju)放試驗報告編輯器

（4）點擊(ji)Start鍵生成鎖定后(hou)的(de)數據，然后(hou)點擊(ji)測試報告如下圖所(suo)示(shi)：

（5）點擊(ji)測試報告(gao)后則會出(chu)現(xian)局放試驗報告(gao)編輯(ji)器(qi)可以根據需要填寫上(shang)面的內容。

（6）填(tian)寫好表格后(hou)點擊(ji)生(sheng)成報(bao)告數(shu)據會以Word文檔的(de)形式出現，再將數(shu)據保存至電腦，如(ru)下圖(tu)所示：

第五章(zhang)  操作說(shuo)明

1、試驗準備：將(jiang)機器后面板的三個(ge)開關(guan)都置于“關(guan)”的狀態

（1）檢(jian)查試驗(yan)(yan)場地(di)(di)的接(jie)地(di)(di)情況，將本儀器后部的接(jie)地(di)(di)螺(luo)栓用粗銅(tong)線（*好用編制銅(tong)帶）與(yu)試驗(yan)(yan)場地(di)(di)的接(jie)地(di)(di)妥善相接(jie)，輸入(ru)單元(yuan)的接(jie)地(di)(di)短路片(pian)也要妥善接(jie)地(di)(di)。

（2）根椐試品電容(rong)Ca，藕合電容(rong)Ck的大小，選取合適序號的輸(shu)入(ru)單元(yuan)（表一(yi)），表一(yi)中調諧電容(rong)量(liang)是(shi)指從(cong)輸(shu)入(ru)單元(yuan)初級繞(rao)組兩端看到的電容(rong)（按(an)Cx和Ck的串聯值(zhi)粗略估算(suan)）。

輸(shu)入單元應盡量靠近被測試(shi)品(pin)，輸(shu)入單元插(cha)座經8米長電纜與后面板上輸(shu)入插(cha)座相接。

（3）試(shi)品接入(ru)輸入(ru)單元的(de)方(fang)法主要有以下幾種：

圖中：Ca——試品  &nbsp; Ck——藕合電容    Z——阻(zu)塞阻(zu)抗  R3、C3、R4、C4——橋(qiao)式接法中平(ping)衡調(diao)節阻(zu)抗。

（4）在(zai)高壓(ya)(ya)端接(jie)上電(dian)壓(ya)(ya)表(biao)電(dian)阻或(huo)電(dian)容(rong)分壓(ya)(ya)器(qi)，其輸出經測量電(dian)纜接(jie)到后面板試(shi)驗電(dian)壓(ya)(ya)輸入插座(zuo)30。

（5）在(zai)未加試驗電壓的情況下，將JF-2006校(xiao)正脈沖發生器的輸出接(jie)試品兩端。

2、使用步驟

（1）開機準備：將(jiang)時基顯(xian)示(shi)方式置于“橢圓”。

（2）放電量的校正：按圖接好線后，在未加(jia)試驗(yan)電壓之前(qian)用LJF-2006校正脈沖發生(sheng)器予以(yi)校正。

注意：方波測量(liang)盒應盡(jin)量(liang)靠近試品的(de)高壓端。紅端子引線接高壓端。

然后調(diao)(diao)節(jie)放大(da)器(qi)增益調(diao)(diao)節(jie)，使該注入(ru)脈(mo)沖高度適當(dang)（示波屏上高度2cm以下(xia)），使數(shu)字(zi)表讀數(shu)值(zhi)與(yu)注入(ru)的已知電量相符。調(diao)(diao)定后放大(da)器(qi)細(xi)調(diao)(diao)旋鈕的位置不(bu)能再改變，需保持與(yu)校正時相同。

校正(zheng)完成后必須(xu)去掉校正(zheng)方(fang)波(bo)發(fa)生(sheng)器與試(shi)驗(yan)回(hui)路的連接。

（3）測試操作(zuo)：

第六(liu)章  抗干擾措施和局部(bu)放電圖譜(pu)簡介

對于局部放(fang)電實驗我們(men)*怕的就(jiu)是干擾，下面簡單介(jie)紹(shao)一(yi)下實驗中可能遇(yu)到(dao)的干擾以及抗干擾的方法：

測量的(de)干擾(rao)分(fen)類

干擾有來自(zi)(zi)電網的(de)和來自(zi)(zi)空間的(de)。按表現形式分又(you)分為固定的(de)和移動的(de)。主(zhu)要的(de)干擾源有以下一些(xie)：

①懸浮電(dian)位(wei)物體放電(dian)，通過對地雜散電(dian)容耦合

②外部(bu)**電暈

③可控硅元件(jian)在鄰(lin)近運行

④繼電器(qi)(qi)，接(jie)觸(chu)器(qi)(qi)，輝光管等物品

⑤接觸**

⑥無線電干擾

⑦熒光燈(deng)干擾(rao)

⑧電動機干擾(rao)

⑨中(zhong)高頻工(gong)業(ye)設備

（二）抗干(gan)擾(rao)方法

采用帶(dai)調壓(ya)(ya)器(qi)，隔(ge)離變壓(ya)(ya)器(qi)和濾波器(qi)的控制電源

設置屏(ping)蔽室，可只屏(ping)蔽試驗回路(lu)部分

可靠(kao)的(de)單(dan)點(dian)接地，將試驗回路系統(tong)設計成單(dan)點(dian)接地結構，接地電阻要(yao)小，接地點(dian)要(yao)與(yu)一般試驗室的(de)地網及電力網中線分開。

采(cai)用高壓濾波(bo)器

用(yong)平衡法(fa)或橋式試驗(yan)電路

利用時間窗(chuang)，使固定(ding)相位干擾處于亮窗(chuang)之外

采用(yong)(yong)較窄頻(pin)(pin)帶(dai)，或用(yong)(yong)頻(pin)(pin)帶(dai)躲開干擾大(da)的(de)頻(pin)(pin)率范圍(wei)

在(zai)高(gao)(gao)壓(ya)端加裝高(gao)(gao)壓(ya)屏蔽罩或半導體橡膠帽(mao)以防電暈干擾

試驗電路遠(yuan)離周圍物體，尤其(qi)是懸浮的金屬固體！

（三）初(chu)做實驗(yan)者(zhe)對波形辨認還是有(you)一定困難的，下面就簡單介紹一     放電類型(xing)和干擾(rao)的(de)初步辯認：

1． 典型的(de)內部氣泡放(fang)電的(de)波形特點：(圖(tu) 5—01)

A．放電(dian)主(zhu)要(yao)顯示在試驗電(dian)壓由零升到(dao)峰值的兩個橢圓象限內。

B．在(zai)起始電壓(ya)Ui時，放電(dian)通常發生在峰(feng)值附近，試驗電(dian)壓超過Ui時，放電向(xiang)零相位延伸(shen)。

C．兩個相(xiang)反半周上放(fang)電(dian)次數和幅(fu)值大(da)(da)致相(xiang)同（*大(da)(da)相(xiang)差至3：1）。

D．放電波形可辯。

E．q與試驗電壓關系不(bu)大，但(dan)放電重復率n隨試驗電壓上(shang)升(sheng)而加大(da)。

F．局部放電(dian)起(qi)始電(dian)壓Ui和熄(xi)滅電壓Ue基本相等(deng)。

G．放電量q與時間(jian)關系不大。

H．如(ru)果放電量隨試驗電壓上(shang)升而增大，并(bing)且放電波形(xing)變(bian)得(de)模糊(hu)不可(ke)分辨，則往往是(shi)介質(zhi)內含有多(duo)種大小氣泡，或是(shi)介質(zhi)表面放電。如(ru)果除(chu)了上(shang)述情況(kuang)，而且放電幅(fu)值隨加(jia)壓時間而迅速增長（可(ke)達100倍或(huo)更多），則往(wang)(wang)往(wang)(wang)是絕緣液體中的(de)氣泡放(fang)電，典型例子是油(you)浸紙電容器的(de)放(fang)電。

2． 金屬與介質(zhi)間氣(qi)泡的放電波形(xing)特點(dian)：               

正半周有(you)許多幅值小(xiao)的(de)放(fang)電，負半周有(you)很少(shao)幅值大的(de)放(fang)電。幅值相差可達10﹕1，其他同上(shang)。

典型例子(zi)：絕緣(yuan)與導體粘附**的聚乙烯電(dian)纜的放(fang)電(dian)。q與試(shi)驗(yan)電(dian)壓關系不(bu)大。（圖 5—02）

如果隨試驗(yan)電壓升高，放電幅值也增(zeng)大，而(er)且放電波形變得模糊，則往(wang)往(wang)是含有不同大小多個氣(qi)泡，或是外(wai)露的金屬與介質表面之間出現(xian)的表面放電。（圖 5—03）

（四）下面介紹一些主要視為(wei)干擾或非正常放電的情況：

（1）懸浮(fu)電位物體放電波(bo)形特點：

在電壓峰值前的(de)正負半(ban)周兩個象限里出現幅值。脈沖數和位(wei)置均相同，成對出現。放電可移動，但它們(men)間的(de)相互間隔(ge)不變，電壓升高時(shi)，根(gen)數增加(jia)，間隔(ge)縮小，但幅值不變。有時(shi)電壓升到一(yi)定(ding)值時(shi)會消失，但降至此值又重新(xin)出現。

原因(yin)：金屬間(jian)的間(jian)隙產生的放電，間(jian)隙可(ke)能是地(di)面(mian)上兩個獨立的金屬體間(jian)（通(tong)過雜散電容耦(ou)合(he)）也可(ke)能在樣品(pin)內，例如屏蔽松散。

（2）外部(bu)**電暈放電波形特點：

起(qi)始放(fang)電僅(jin)出現在(zai)試驗電壓(ya)的(de)一個半(ban)周上(shang)，并(bing)對稱地分布(bu)在(zai)峰(feng)值(zhi)(zhi)兩側(ce)。試驗電壓(ya)升高(gao)時，放(fang)電脈沖(chong)數急劇增(zeng)加，但幅(fu)值(zhi)(zhi)不(bu)變(bian)，并(bing)向兩側(ce)伸(shen)展。

原(yuan)因：空(kong)氣中(zhong)高壓(ya)**或邊(bian)緣放電(dian)。如果(guo)放電(dian)出現在負半(ban)周，表(biao)示(shi)**處于高壓(ya)，如果(guo)放電(dian)出現在正(zheng)半(ban)周則**處于地(di)電(dian)位。

（3）液體介質(zhi)中的**電暈放(fang)電波形特(te)點：

放(fang)電(dian)出現在兩個半周上，對(dui)稱地分布在峰(feng)值(zhi)兩側(ce)。每一組放(fang)電(dian)均為等(deng)間隔，但一組幅(fu)值(zhi)較大的(de)放(fang)電(dian)先出現，隨試驗電(dian)壓(ya)升高(gao)而幅(fu)值(zhi)增(zeng)大，不一定(ding)等(deng)幅(fu)值(zhi)；一組幅(fu)值(zhi)小的(de)放(fang)電(dian)幅(fu)值(zhi)相等(deng)，并且不隨電(dian)壓(ya)變化。

原因：絕緣液體中**或邊緣放電(dian)。如一(yi)組大(da)的(de)放電(dian)出(chu)現在(zai)正半周，則**處于(yu)高(gao)壓(ya)；如出(chu)現在(zai)負半周，則**地(di)電(dian)位(wei)。

（4）接(jie)觸**的干擾圖形。

波(bo)形(xing)特點：對稱地分布在(zai)實驗(yan)(yan)電(dian)壓零點兩側(ce)，幅值大致不變(bian)，但在(zai)實驗(yan)(yan)電(dian)壓峰值附近(jin)下降(jiang)為零。波(bo)形(xing)粗糙不清(qing)晰(xi)，低(di)電(dian)壓下即出現。電(dian)壓升高(gao)時，幅值緩慢增(zeng)加，有時在(zai)電(dian)壓達到一(yi)定值后會完(wan)全(quan)消失(shi)。

原因：實驗(yan)回路中金(jin)屬與金(jin)屬**接(jie)(jie)(jie)觸的連接(jie)(jie)(jie)點；塑料電纜(lan)屏(ping)蔽層半(ban)導體粒(li)子的**接(jie)(jie)(jie)觸；電容器鋁箔(bo)的插(cha)接(jie)(jie)(jie)片等（可將電容器充電然后(hou)短路來消(xiao)除(chu)）。      &nbsp;        

（5）可(ke)控硅元件的干擾圖形。

波(bo)形特點：位(wei)置固定，每只(zhi)元件產生一個獨立(li)訊號。電路(lu)接(jie)通，電磁(ci)耦(ou)合效應增(zeng)強時(shi)訊號幅值增(zeng)加，試驗(yan)調壓時(shi)，該脈沖訊號會發生高頻波(bo)形展寬(kuan)，從而占位(wei)增(zeng)加。

原因：鄰近有可控硅元件在運(yun)行。

（6）繼電器(qi)、接觸器(qi)、輝光管等動作的干(gan)擾。

波形(xing)特(te)點：分(fen)布(bu)不規則或間斷出現，同(tong)試驗電壓無關。

原因：熱繼(ji)電器(qi)、接觸(chu)器(qi)和(he)各種火花(hua)試驗器(qi)及有火花(hua)放電的記錄(lu)器(qi)動(dong)作(zuo)時產生(sheng)。

（7）熒(ying)光燈的干擾圖形。

波形特點：欄(lan)柵(zha)狀(zhuang)，幅值大(da)致相同(tong)的脈沖，伴有正(zheng)負半(ban)波對稱(cheng)出(chu)現(xian)的兩簇脈沖組。

原因：熒光燈照明(ming)                                                                                  &nbsp; &nbsp;

（8）無(wu)線電干擾(rao)的干擾(rao)圖形(xing)。

波形特點：幅值有調制(zhi)的高頻(pin)正弦波，同試驗(yan)電(dian)壓無關(guan)。

原因：無線電話、廣(guang)播話筒、載波(bo)通(tong)訊(xun)等。

（9）電動機(ji)干擾的干擾圖形(xing)（圖5—12）

波形(xing)特點：放電波形(xing)沿橢圓基線均勻分布(bu)，每個單個訊號(hao)呈“山(shan)”字形(xing)。

原因(yin)：帶換向器的電(dian)動(dong)機，如電(dian)扇、電(dian)吹風運轉時(shi)的干擾。

（10）中高頻工業設備的干擾圖形(xing)。

波(bo)形(xing)特點(dian)：連續發生，僅出(chu)現在電源波(bo)形(xing)的半周內。

原因：感應加熱裝置和頻率接近檢測頻率的超聲波發生器等。

（11）鐵芯磁飽(bao)和諧波的干(gan)擾圖(tu)(tu)形（圖(tu)(tu)5—14）

波(bo)形特點(dian)：較低(di)頻率的諧波(bo)振(zhen)蕩，出(chu)現(xian)在兩(liang)個半(ban)周上，幅值隨試驗電壓(ya)(ya)升高而增(zeng)大，不(bu)加電壓(ya)(ya)時消失，有重現(xian)性。

原因(yin)：試(shi)驗系(xi)統各(ge)種鐵芯設備（試(shi)驗變壓器(qi)、濾波電抗器(qi)、隔離變壓器(qi)等）磁飽和(he)產生的諧振。                                 

（12）電極在電場方向(xiang)機械移動的干(gan)擾圖形(xing)。

波(bo)形(xing)特點(dian)：僅(jin)在(zai)試驗電(dian)壓(ya)的(de)半(ban)周（正或負(fu)）上(shang)出現的(de)與峰(feng)(feng)值(zhi)對(dui)(dui)稱的(de)兩(liang)(liang)個放電(dian)響應，幅值(zhi)相等，而脈(mo)沖(chong)方向相反，起(qi)始電(dian)壓(ya)時兩(liang)(liang)個脈(mo)沖(chong)在(zai)峰(feng)(feng)值(zhi)處靠得很(hen)近，電(dian)壓(ya)升高時逐漸分開，并可(ke)能產生新的(de)脈(mo)沖(chong)訊號對(dui)(dui)。

原因：電(dian)極的部分（尤其(qi)是金屬箔電(dian)極）在電(dian)場作用下運(yun)動。                       &nbsp;  ;

（14）漏(lou)電痕(hen)跡和樹(shu)枝放電

波(bo)形(xing)特點：放(fang)電訊(xun)號(hao)波(bo)形(xing)與(yu)一般典(dian)型圖(tu)象均不符合，波(bo)形(xing)不規(gui)則不確定。

原因：玷污了的絕緣(yuan)上(shang)漏電(dian)或(huo)絕緣(yuan)局部(bu)過熱而致的碳(tan)化(hua)痕跡或(huo)樹枝通道。

在(zai)放電(dian)(dian)(dian)測試(shi)(shi)中(zhong)必須保證測試(shi)(shi)回(hui)路中(zhong)其它元(yuan)件（試(shi)(shi)驗變壓(ya)器(qi)、阻(zu)塞(sai)線圈、耦合電(dian)(dian)(dian)容器(qi)、電(dian)(dian)(dian)壓(ya)表(biao)電(dian)(dian)(dian)阻(zu)等）均不放電(dian)(dian)(dian)，常用(yong)的(de)辦法是用(yong)與試(shi)(shi)品電(dian)(dian)(dian)容數量級相同(tong)的(de)無放電(dian)(dian)(dian)電(dian)(dian)(dian)容或絕緣結構取(qu)代試(shi)(shi)品試(shi)(shi)驗，看(kan)看(kan)有無放電(dian)(dian)(dian)。

了(le)解了(le)各種(zhong)放電(dian)類型的(de)波(bo)形特(te)征，來源以及識別干擾后就(jiu)可按具(ju)體情況采(cai)取措施排除干擾和正確地進行放電(dian)測(ce)量了(le)。

第七章(zhang)     局(ju)部放電測試(shi)當(dang)中應(ying)該注(zhu)意的問題

實驗前，試品的絕(jue)緣(yuan)表(biao)面（尤(you)其是高壓端）應作清潔化(hua)處理

2、   各連接(jie)點(dian)應接(jie)觸良好，尤其是高(gao)壓端不要留(liu)下尖(jian)銳的接(jie)點(dian)，高(gao)壓導線應盡可能粗(cu)以防電(dian)暈，可用蛇皮管。

輸入單元要盡量靠近試品，而(er)且接地(di)要可靠，接地(di)線*好用(yong)編織銅帶。主機也須接地，以保證**。

試(shi)驗回(hui)路盡(jin)可能緊湊。即高壓連線盡(jin)可能短，試(shi)驗回(hui)路所圍面 積盡可能小。

在進行(xing)110KV及以上(shang)等級(ji)的(de)(de)局放試驗(yan)時，試品周圍的(de)(de)懸浮金屬物(wu)體應妥善(shan)接地。

考慮(lv)到油(you)浸式試品局部放(fang)電(dian)存在(zai)滯(zhi)后效應，因(yin)此在(zai)局放(fang)試驗前幾小時，不(bu)要對(dui)試(shi)品施加超過局部放(fang)電試(shi)驗(yan)電壓(ya)(ya)的高電壓(ya)(ya)。

第八章  附(fu)件

1、專用測(ce)量電纜線6米       ;  2根

2、電源線(xian)    &nbsp;   &nbsp;            1根

3、1.0A保險絲       &nbsp;         4根

4、使用說(shuo)明(ming)書        &nbsp;        1份

WBJF-2020校正脈沖發生器使用(yong)說明(ming)

用(yong)途與適用(yong)范圍：

WBJF-2020校正(zheng)(zheng)脈沖發(fa)生器(qi)是一個小型(xing)的(de)(de)廉價的(de)(de)電(dian)(dian)池供電(dian)(dian)的(de)(de)局部(bu)放電(dian)(dian)校正(zheng)(zheng)器(qi)，它適(shi)用于需要(yao)攜(xie)帶(dai)和使用靈活(huo)的(de)(de)場合。

主要(yao)規格及技(ji)術(shu)參數(shu)：

輸出電荷量：5PC  50PC  100PC  500PC

上升(sheng)時間：<100ns

衰減時間：>100us

極(ji)性(xing)：正、負極(ji)性(xing)

重復頻率：1KHz

頻率變(bian)化(hua)：>±100Hz

尺寸：160×120×50mm

重量：0.5Kg

電池：6F22  9V

操作與作用：

首先打開WBJF-2020校(xiao)正(zheng)脈沖發生器后蓋板，裝入電池(chi)，蓋好蓋板。將(jiang)輸(shu)出紅黑兩個(ge)端子接(jie)(jie)上(shang)導(dao)線(xian)，紅端子上(shang)的導(dao)線(xian)盡量且靠近試品(pin)的高壓端，黑端導(dao)線(xian)接(jie)(jie)試品(pin)和(he)低壓端，將(jiang)校(xiao)正(zheng)電量開關置于合適的位置，即可校(xiao)正(zheng)，頻(pin)率可在(zai)1KHz附近調節，面板上電(dian)壓表(biao)指示機內(nei)電(dian)源的(de)情況(kuang)，一般指示8V以上(shang)才能保(bao)證工作，低(di)于8V則需調換電池。

校(xiao)正(zheng)后切(qie)記將校(xiao)正(zheng)脈(mo)沖(chong)發生器取(qu)下(xia)！