**章(zhang) WBTCD-9308智能局部放電檢測(ce)儀局放理論(lun)概述

在開始我們(men)的(de)實驗以(yi)前，我們(men)首先(xian)應該對局(ju)(ju)部(bu)放電(dian)有(you)(you)個初(chu)步(bu)的(de)了解，為(wei)什(shen)么要測量(liang)局(ju)(ju)部(bu)放電(dian)？局(ju)(ju)部(bu)放電(dian)有(you)(you)什(shen)么危(wei)害？怎(zen)樣準確測量(liang)局(ju)(ju)部(bu)放電(dian)？有(you)(you)了上(shang)述理論基(ji)礎可以(yi)幫助我們(men)理解測量(liang)過程中(zhong)的(de)正確操作。

一、局部放電的定義及產(chan)生原(yuan)因

在(zai)電(dian)(dian)場作(zuo)用(yong)下，絕(jue)緣(yuan)系統(tong)中只有部(bu)(bu)(bu)(bu)分(fen)區域發(fa)生(sheng)放(fang)電(dian)(dian)，但尚未擊穿，（即在(zai)施加電(dian)(dian)壓的(de)導體(ti)(ti)(ti)之(zhi)間沒(mei)有擊穿）。這種現象(xiang)稱(cheng)(cheng)之(zhi)為局(ju)部(bu)(bu)(bu)(bu)放(fang)電(dian)(dian)。局(ju)部(bu)(bu)(bu)(bu)放(fang)電(dian)(dian)可(ke)能發(fa)生(sheng)在(zai)導體(ti)(ti)(ti)邊(bian)上(shang)，也可(ke)能發(fa)生(sheng)在(zai)絕(jue)緣(yuan)體(ti)(ti)(ti)的(de)表面(mian)上(shang)和內部(bu)(bu)(bu)(bu)，發(fa)生(sheng)在(zai)表面(mian)的(de)稱(cheng)(cheng)為表面(mian)局(ju)部(bu)(bu)(bu)(bu)放(fang)電(dian)(dian)。發(fa)生(sheng)在(zai)內部(bu)(bu)(bu)(bu)的(de)稱(cheng)(cheng)為內部(bu)(bu)(bu)(bu)局(ju)部(bu)(bu)(bu)(bu)放(fang)電(dian)(dian)。而(er)對于被氣(qi)體(ti)(ti)(ti)包圍(wei)的(de)導體(ti)(ti)(ti)附近(jin)發(fa)生(sheng)的(de)局(ju)部(bu)(bu)(bu)(bu)放(fang)電(dian)(dian)，稱(cheng)(cheng)之(zhi)為電(dian)(dian)暈。由此 總結一下局(ju)部(bu)(bu)(bu)(bu)放(fang)電(dian)(dian)的(de)定義，指部(bu)(bu)(bu)(bu)分(fen)的(de)橋(qiao)接(jie)導體(ti)(ti)(ti)間絕(jue)緣(yuan)的(de)一種電(dian)(dian)氣(qi)放(fang)電(dian)(dian)，局(ju)部(bu)(bu)(bu)(bu)放(fang)電(dian)(dian)產生(sheng)原因主要有以(yi)下幾種：

電(dian)場不均勻。

電介質不均勻。

制造過(guo)程(cheng)的氣泡(pao)或(huo)雜質。*經常(chang)發(fa)生放電的原因是絕緣體內部或(huo)表(biao)面存在氣泡(pao)；其次是有(you)些設(she)備(bei)的運行(xing)過(guo)程(cheng)中會發(fa)生熱(re)脹冷縮(suo),不同(tong)材料特(te)別是導體與介質的(de)(de)(de)膨脹系(xi)數不同(tong)，也會(hui)逐漸出(chu)現裂(lie)縫；再有(you)一些是在運行過程中(zhong)有(you)機高分子的(de)(de)(de)老化(hua)，分解出(chu)各種揮發物，在高場強的(de)(de)(de)作用下，電(dian)荷不斷(duan)地由導體進(jin)入介質中(zhong)， 在注入點上就會(hui)使介質氣化(hua)。

二 、WBTCD-9308智能局(ju)部放電檢(jian)測儀(yi)局(ju)部放電(dian)的模擬(ni)電(dian)路及(ji)放電(dian)過程簡(jian)介

介質內部含有(you)氣泡，在(zai)交流電壓下產生的內部放電特性(xing)可由圖1—1的模擬電(dian)路(a b c等值電路(lu))予以表示；其中(zhong)Cc是模擬介質中產生放電間隙(如氣泡)的電容(rong)；Cb代表與Cc串(chuan)聯部分介質的(de)合成電容；Ca表(biao)示其余部分(fen)介質的(de)電(dian)容。

I——介(jie)質有缺陷(氣(qi)泡)的部份(虛線表示)

II——介(jie)質無缺(que)陷部份(fen)

圖1—1  表示(shi)具有內部放電的模擬電路(lu)

圖1—1中以(yi)并聯有—對火花(hua)間隙的(de)電容(rong)Cc來模擬產生局部放電的(de)內(nei)部氣泡(pao)。圖1—2表示了在(zai)交流電壓下局(ju)部放電的發生過程(cheng)。

U(t)一(yi)一(yi)外施交流(liu)電壓

Uc(t)一一氣泡不擊(ji)穿時(shi)在(zai)氣泡上的(de)電壓(ya)

Uc’(t)一一有局部放(fang)電時氣泡上的實際電壓

Vc一一氣泡(pao)的擊穿電壓

Y r一一氣泡的殘余電壓   

Us—局部放電起(qi)始電壓(瞬時值)

Ur一一與氣泡殘余電壓v r對應的外(wai)施電壓

Ir一一氣泡中的放(fang)電(dian)電(dian)流

電(dian)極間總電(dian)容Cx=Ca＋(Cb×Cc)/(Cb＋Cc)=Ca電(dian)(dian)極間施加交流電(dian)(dian)壓 u(t)時，氣泡電容Cc上對應的電壓為Uc(t)。如圖(tu)2—1所示，此時的Uc(t)所(suo)代表的(de)是(shi)氣泡(pao)理想狀(zhuang)態下(xia)的(de)電壓（既氣泡(pao)不發生(sheng)擊(ji)穿(chuan)）。

Uc(t)=U(t)×Cb/Cc＋Cb

外施電壓U(t)上升時，氣泡(pao)上電壓Uc(t)也(ye)上升，當U(t)上(shang)升到Us時，氣泡上(shang)電壓(ya)Uc達到氣泡擊穿電壓,氣(qi)泡(pao)擊(ji)穿(chuan)，產(chan)生(sheng)大(da)量的(de)(de)正、負(fu)離子，在電場作(zuo)用下各自(zi)遷移到氣(qi)泡(pao)上下壁，形成空間電菏，建立反電場，削弱了氣(qi)泡(pao)內的(de)(de)總電場強度，使放電熄(xi)滅(mie)，氣(qi)泡(pao)又恢復絕緣(yuan)性能。這樣(yang)的(de)(de)一次放電持續時間是極短暫的(de)(de)，對一般的(de)(de)空氣(qi)氣(qi)泡(pao)來說，大(da)約只(zhi)有幾個毫(hao)微秒(10的(de)負8次方(fang)到10的負(fu)9次方(fang)秒(miao))。所(suo)以(yi)電壓Uc(t)幾乎瞬(shun)間地從Vc降到(dao)Vr，Vr是殘余(yu)電壓(ya)(ya)；而氣泡上電壓(ya)(ya)Uc‘(t)將隨(sui)U(t)的增大而繼續(xu)由Vr升(sheng)高到Vc時，氣泡再—次擊(ji)穿，發生(sheng)又—次局部放電，但此(ci)時相應(ying)的(de)外施電壓比Us小，為(Us-Ur)，這是因為氣泡(pao)上有殘余電壓(ya)Vr的(de)內電場作用的(de)結果。Vr是(shi)與氣泡(pao)殘余電壓Yr相應的外施電壓(ya)，如此(ci)反復(fu)上述過程，即外施電壓(ya)每(mei)增(zeng)加(jia)(Us-Ur)，就產生一(yi)次局部(bu)放電．直到(dao)前—次放電熄滅后(hou)，Uc’(t)上升到峰值時共增量(liang)不(bu)足以達Vc(相(xiang)當于(yu)外施電壓的(de)增(zeng)量Δ比(Us-Ur)小)為止(zhi)。

此后，隨著外施電壓U(t)經過峰(feng)值Um后減小，外(wai)施電(dian)壓(ya)在氣(qi)泡中建立反方向(xiang)電(dian)場(chang)，由于氣(qi)泡中殘存的內電(dian)場(chang)電(dian)壓(ya)方向(xiang)與外(wai)電(dian)場(chang)方向(xiang)相(xiang)反，故外(wai)施電(dian)壓(ya)須經(Us+Ur))的(de)電壓變化(hua)，才能使氣泡上的(de)電壓達(da)到擊穿(chuan)電壓Vc，(假定正、負方向擊穿電壓Vc相等)，產生一次(ci)局部放(fang)(fang)電。放(fang)(fang)電很快(kuai)熄滅，氣泡中電壓瞬時(shi)降(jiang)到(dao)殘余電壓Vr(也假定正、負方向相同)。外施(shi)電壓繼續下降，當(dang)再下降(Us-Ur)時，氣泡電壓(ya)就(jiu)又達到Vc從而又產生一(yi)次局部放電。如此重復上(shang)述過程，直到(dao)外施電壓升(sheng)到(dao)反向(xiang)蜂值一(yi)Um的增(zeng)量Δ不足以達到(Us-Ur)為止(zhi)。外施電壓經過一Um峰值后，氣泡上(shang)的(de)外(wai)電場方向又變為(wei)正(zheng)方向，與氣泡殘余電壓方向相反，故外(wai)施電壓又須上(shang)升(Us+Ur)產生第—次放電，熄滅后，每經過(guo)Us—Ur的電壓上升(sheng)就產生一次(ci)放電，重復前面所介紹的過程。如圖1—2所示(shi)。

由以(yi)上局部放(fang)電(dian)過程分(fen)析，同時根(gen)據局部放(fang)電(dian)的(de)特點（同種試品(pin)，同樣的(de)環境(jing)下(xia)，電(dian)壓越(yue)高局部放(fang)電(dian)量(liang)越(yue)大）可以(yi)知道：一(yi)般情況(kuang)下(xia)，同一(yi)試品(pin)在一(yi)、三(san)(san)象限的(de)局部放(fang)電(dian)量(liang)大于二、四象限的(de)局部放(fang)電(dian)量(liang)。那(nei)是(shi)(shi)因(yin)為(wei)它們(men)是(shi)(shi)電(dian)壓的(de)上升沿(yan)。（第三(san)(san)象限是(shi)(shi)電(dian)壓負的(de)上升沿(yan)）。這(zhe)就是(shi)(shi)我們(men)測量(liang)中為(wei)什(shen)么(me)把時間窗刻(ke)意擺(bai)在一(yi)、三(san)(san)象限的(de)原因(yin)。

三、WBTCD-9308智能(neng)局(ju)部放電檢測儀局部放電的測(ce)量(liang)原理：

四、WBTCD-9308智(zhi)能局部放(fang)電檢測儀局部放電的表征參數

局部放電是(shi)比(bi)較復雜(za)的物理現象，必須通(tong)過多種表征參數才能**的描繪其(qi)狀態，同時(shi)局部放電對絕緣(yuan)破壞(huai)的機(ji)理也(ye)是(shi)很復雜(za)的，也(ye)需要通(tong)過不同的參數來評定它對絕緣(yuan)的損害，目前我們只關心兩個基本參數。

視在(zai)放電電荷(he)——在絕(jue)緣(yuan)體中(zhong)發生局部放(fang)電(dian)時，絕(jue)緣(yuan)體上施加電(dian)壓的(de)兩端出現的(de)脈動電(dian)荷稱之為(wei)視在放(fang)電(dian)電(dian)荷，單(dan)位用皮庫（pc）表示，通常以穩定(ding)出現(xian)的*大視在放(fang)電(dian)電(dian)荷作為該(gai)試(shi)品的放(fang)電(dian)量。

放電(dian)重復率——在測量(liang)時間內每秒中出現的(de)放(fang)電次數(shu)的(de)平均值稱為放(fang)電重復率，單(dan)位為次/秒，放(fang)電重復率越高，對絕緣的損害越大。

**章  局放測試(shi)的(de)試(shi)驗系統(tong)接線。

在(zai)了解了局部(bu)放電(dian)的(de)(de)基本理論(lun)之后(hou)，在(zai)本章我們的(de)(de)重(zhong)點轉向實際操作，我們先(xian)介紹局部(bu)放電(dian)測試中常(chang)用的(de)(de)三種(zhong)接法，隨后(hou)我們再(zai)(zai)介紹整個系統(tong)的(de)(de)接線電(dian)路(lu)，*后(hou)我們再(zai)(zai)分(fen)別介紹幾種(zhong)典(dian)型的(de)(de)試品(pin)的(de)(de)試驗(yan)線路(lu)。

一、局放電(dian)測(ce)試電(dian)路(lu)的三種基本接法及優缺點。

（1）   標準試驗電(dian)路，又(you)稱并聯法。適合于必須接地的試品。其缺點(dian)是高壓引線對地雜散電容并(bing)聯在 CX上，會降低測試靈敏度。

（2）接法的(de)串聯法，其要求試品低壓端對地(di)浮置。其優點(dian)是變壓(ya)器入口電(dian)容(rong)、高壓(ya)線對地雜散(san)電(dian)容(rong)與耦(ou)合電(dian)容(rong)CK并聯(lian)，有利于提高試驗靈敏(min)度(du)。缺點(dian)是試樣損(sun)壞時會(hui)損(sun)壞輸入單(dan)元。

（3）平衡(heng)法試(shi)(shi)驗(yan)電(dian)路：要(yao)求兩(liang)個(ge)試(shi)(shi)品(pin)相接近，至少電(dian)容量為同一數量級其優點(dian)是外干擾強烈的情況下，可(ke)取得較好抑制干擾的效果，并可(ke)消(xiao)除變(bian)壓(ya)器(qi)雜(za)散電(dian)容的影(ying)響，而(er)且(qie)可(ke)做大電(dian)容試(shi)(shi)驗(yan)。缺點(dian)是須要(yao)兩(liang)個(ge)相似的試(shi)(shi)品(pin)，且(qie)當產生放電(dian)時，需(xu)設(she)法判別是哪個(ge)試(shi)(shi)品(pin)放電(dian)。

值得提(ti)出的是：由于現場(chang)試(shi)驗條(tiao)件的限制（找到兩個相似的試(shi)品且要(yao)保證一個試(shi)品無放電不太容(rong)易），所以(yi)在現場(chang)平衡法比(bi)較難實現，另外，由于(yu)采用(yong)串聯法(fa)時，如(ru)果(guo)試品擊穿，將會對設備造(zao)成比較(jiao)大的損害，所以出于(yu)對設備保護(hu)的想法(fa)，在(zai)現場試驗(yan)時一般采用(yong)并聯法(fa)。

二、WBTCD-9308智能局部放電檢測儀采用并聯法的(de)整個系統(tong)的(de)接線原(yuan)理圖。

該系統(tong)(tong)采用脈沖電(dian)(dian)(dian)(dian)流(liu)法檢測(ce)高壓(ya)試(shi)(shi)(shi)(shi)品的局(ju)(ju)部放電(dian)(dian)(dian)(dian)量，由(you)控制(zhi)臺控制(zhi)調(diao)壓(ya)器(qi)和(he)(he)變壓(ya)器(qi)在試(shi)(shi)(shi)(shi)品的高壓(ya)端產生測(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)局(ju)(ju)放所需的預加電(dian)(dian)(dian)(dian)壓(ya)和(he)(he)測(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)電(dian)(dian)(dian)(dian)壓(ya)，通過無局(ju)(ju)放藕合電(dian)(dian)(dian)(dian)容器(qi)和(he)(he)檢測(ce)阻抗(kang)將(jiang)局(ju)(ju)部放電(dian)(dian)(dian)(dian)信號取出并(bing)送至局(ju)(ju)部放電(dian)(dian)(dian)(dian)檢測(ce)儀顯(xian)示并(bing)判斷和(he)(he)測(ce)量。系統(tong)(tong)中(zhong)的高壓(ya)電(dian)(dian)(dian)(dian)阻為了防止在測(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)過程中(zhong)試(shi)(shi)(shi)(shi)品擊穿而(er)損壞其(qi)他設備，兩個(ge)電(dian)(dian)(dian)(dian)源濾波器(qi)是將(jiang)電(dian)(dian)(dian)(dian)源的干擾和(he)(he)整個(ge)測(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)系統(tong)(tong)分開(kai)，降低整個(ge)測(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)系統(tong)(tong)的背景干擾。

根據上述原理圖可以(yi)看出，局部(bu)放(fang)電測(ce)試(shi)(shi)的靈(ling)敏度(du)和(he)準確(que)度(du)和(he)整個系統(tong)(tong)密切相關，要想順利(li)和(he)準確(que)的進行局部(bu)放(fang)電測(ce)試(shi)(shi)，就必須將整個系統(tong)(tong)考濾周到，包括系統(tong)(tong)的參數選取和(he)連接方式。另外，在現場試(shi)(shi)驗(yan)時，由于是驗(yan)證(zheng)性(xing)試(shi)(shi)驗(yan)，高壓(ya)限流電阻可以(yi)省掉。

三、幾種(zhong)典型試品的接線原(yuan)理圖(tu)。

（1）電流互感器的局放測試(shi)接線原理圖(tu)

（2）電(dian)壓互(hu)感(gan)器(qi)的局放測試接(jie)線原(yuan)理圖

A．工頻加壓(ya)方(fang)式接線(xian)原理圖(tu)

為了防止電(dian)(dian)(dian)壓(ya)(ya)互(hu)感(gan)(gan)器在(zai)工頻(pin)電(dian)(dian)(dian)壓(ya)(ya)下(xia)(xia)產生大的(de)勵磁(ci)電(dian)(dian)(dian)流(liu)而(er)損壞，高壓(ya)(ya)電(dian)(dian)(dian)壓(ya)(ya)互(hu)感(gan)(gan)器一般采取自(zi)激勵的(de)加壓(ya)(ya)方(fang)式。在(zai)電(dian)(dian)(dian)壓(ya)(ya)互(hu)感(gan)(gan)器的(de)低壓(ya)(ya)側加一倍頻(pin)電(dian)(dian)(dian)源，在(zai)電(dian)(dian)(dian)壓(ya)(ya)互(hu)感(gan)(gan)器的(de)高壓(ya)(ya)端感(gan)(gan)應(ying)出高壓(ya)(ya)來進行局(ju)部放電(dian)(dian)(dian)實驗。這就是通常所說(shuo)的(de)三倍頻(pin)實驗。其接(jie)線原理圖如下(xia)(xia)：

(3)高壓電容器(qi).絕緣子(zi)的(de)局放測試接線原理圖

(4) 發電機的(de)局放測試(shi)接(jie)線原理(li)圖

（5）變(bian)壓器(qi)的(de)局部放電測(ce)試(shi)接線原(yuan)理圖

我(wo)(wo)們僅(jin)僅(jin)是在(zai)原理性的(de)(de)總結了(le)幾種(zhong)典(dian)型試品的(de)(de)接線(xian)原理圖(tu)，至于各種(zhong)試品的(de)(de)加(jia)壓方(fang)式和(he)加(jia)壓值的(de)(de)多少(shao)，我(wo)(wo)們在(zai)做試驗(yan)的(de)(de)時侯要嚴格遵守(shou)每(mei)種(zhong)試品的(de)(de)出廠檢(jian)驗(yan)標準或交接檢(jian)驗(yan)標準。

第三章  概述

WBTCD-9308智能局部放(fang)(fang)(fang)(fang)電檢(jian)(jian)測(ce)儀是我(wo)公(gong)司*新推向(xiang)市(shi)場的(de)新一代數(shu)(shu)(shu)(shu)字智能儀器，該儀器在(zai)原有(you)產品(pin)WBJF-2010、JF-2020局放(fang)(fang)(fang)(fang)儀的(de)基礎上采(cai)用嵌(qian)入式(shi)ARM系統(tong)作(zuo)為中央處理單元，控制12位(wei)分辨(bian)率的(de)高速模數(shu)(shu)(shu)(shu)轉(zhuan)換芯片進行(xing)數(shu)(shu)(shu)(shu)據采(cai)集，將采(cai)集到的(de)數(shu)(shu)(shu)(shu)據存放(fang)(fang)(fang)(fang)在(zai)雙端口RAM中。實現從模擬到數(shu)(shu)(shu)(shu)字的(de)跨越。使用26萬色高分辨(bian)率TFT-LCD數(shu)(shu)(shu)(shu)字液晶顯(xian)示(shi)模組實時顯(xian)示(shi)放(fang)(fang)(fang)(fang)電脈(mo)沖波形，配備VGA接(jie)口，可外(wai)接(jie)顯(xian)示(shi)器。與傳統(tong)的(de)模擬式(shi)示(shi)波管顯(xian)示(shi)局部放(fang)(fang)(fang)(fang)電檢(jian)(jian)測(ce)儀相(xiang)比有(you)以下特點：

1.彩色顯示(shi)器(qi)，雙色顯示(shi)波形，更清晰直觀；

2.可鎖定波形，更方便(bian)仔細(xi)查(cha)看放電波形細(xi)節；

3.自動(dong)測量并顯示試驗電源時基(ji)頻率，無(wu)需手動(dong)切換(huan)；

4.配備VGA接口，可外接大尺寸顯示器；

5.與示(shi)波管相比壽命更長(chang)。

6.具有波形(xing)鎖定(ding)、打印試(shi)驗報告功能(neng)

本儀器(qi)檢測(ce)靈敏度高(gao)，試樣電容覆蓋范(fan)(fan)圍大，適用試品范(fan)(fan)圍廣，輸入單元（檢測(ce)阻抗）配備齊全，頻(pin)帶組合多(duo)（九種(zhong)）。儀器(qi)經適當(dang)定標后能直讀放(fang)電脈沖的放(fang)電量。

本儀器是(shi)電力部門(men)、制造廠家和科研單位等廣泛使用的(de)局(ju)部放電測試儀器。

第四章  主要(yao)技(ji)術指(zhi)標：

1．可測試品的電容(rong)范圍： 6PF—250uF。

2．檢測靈敏度（見表一）：

表一(yi)

（1）低端：10KHZ、20KHZ、40KHZ任選。

（2）**：80KHZ、200KHZ、300KHZ任選。

4、放大(da)器增(zeng)益調(diao)節：

粗(cu)調(diao)六檔(dang)，檔(dang)間增益20±1dB；細(xi)調(diao)范圍≥20dB。每檔(dang)之間數(shu)據為(wei)(wei)10倍關系：如第三檔(dang)檢測(ce)數(shu)據為(wei)(wei)98，則**檔(dang)顯示(shi)數(shu)據為(wei)(wei)9.8，如在第三檔(dang)檢測(ce)數(shu)據超過120，則應調(diao)至**檔(dang)來檢測(ce)數(shu)據，所(suo)得數(shu)據應乘以10才為(wei)(wei)實(shi)際測(ce)量值。

5、時(shi)間窗：

（1）窗(chuang)寬：可調范圍15°-175°；

（2）窗位置：每(mei)一窗可旋轉0°- 180°；

（3）兩個時間窗可分(fen)別開(kai)或同(tong)時開(kai)。

6、放電量表(biao)：

0-100誤差<±3％（以(yi)滿(man)度計）。

7、橢(tuo)圓時基(ji)：

（1）頻(pin)率：50HZ、或外部(bu)電源(yuan)同步（任意(yi)頻(pin)率）

（2）橢圓旋轉(zhuan)：以30°為(wei)一檔(dang)，可作360°旋轉(zhuan)。

（3）顯示(shi)方式：橢圓—直線。

8、試驗(yan)電壓(ya)表：

精(jing)度(du)：優于±3％（以滿(man)度(du)計）。

9、體積： 320×480×190（寬(kuan)×深×高(gao)）mm³。

10、重量：約(yue)15Kg。

三、系統(tong)工作(zuo)原理：

本機的局部(bu)放電測試原理是高頻脈沖電流(liu)測量(liang)法(fa)（ERA法(fa)）。

試品Ca在試驗(yan)電(dian)(dian)壓下產(chan)(chan)生局部放(fang)電(dian)(dian)時，放(fang)電(dian)(dian)脈沖信(xin)號經(jing)藕合電(dian)(dian)容Ca送(song)入輸入單元，由輸入單元拾取到(dao)(dao)脈沖信(xin)號，經(jing)低噪聲前(qian)置(zhi)放(fang)大(da)器(qi)放(fang)大(da)，濾(lv)波放(fang)大(da)器(qi)選(xuan)擇(ze)所需(xu)(xu)頻帶及主放(fang)大(da)器(qi)放(fang)大(da)（達到(dao)(dao)所需(xu)(xu)幅(fu)值(zhi)(zhi)與產(chan)(chan)生零標(biao)志脈沖）后(hou)，在示波屏的橢(tuo)圓掃描基線上產(chan)(chan)生可見的放(fang)電(dian)(dian)脈沖，同時也(ye)送(song)至脈沖峰值(zhi)(zhi)表顯示其峰值(zhi)(zhi)。

時間窗單元控(kong)制(zhi)試驗電壓每一周期內脈沖峰(feng)值的工(gong)作時間，并在(zai)這段時間內將(jiang)示波屏的相應顯示區(qu)加亮，用它可以(yi)排(pai)除固定相位的干擾。

試(shi)驗(yan)電(dian)壓表經電(dian)容分壓器產生(sheng)試(shi)驗(yan)電(dian)壓過零(ling)標(biao)志訊號，在示(shi)波屏上顯示(shi)零(ling)標(biao)脈沖(chong)，橢圓時基上兩個零(ling)標(biao)脈沖(chong)，通過時間窗的寬(kuan)窄調(diao)節可確定試(shi)驗(yan)電(dian)壓的相(xiang)位，試(shi)驗(yan)電(dian)壓大(da)小由數字(zi)電(dian)壓表指示(shi)。

整個系統的工作原(yuan)理可參看方(fang)框圖（圖一）。

四、結(jie)構說明

本(ben)儀器(qi)為標準機箱結構，儀器(qi)分前面(mian)板及(ji)后面(mian)板兩部分，各調節元件的位置及(ji)位置和功能見(jian)下圖說明(ming)。

1、4：長按改變(bian)門窗的位置

2、3：長按改(gai)變門窗的寬度

5：時(shi)鐘設(she)置(zhi)按(an)鈕

6：按9號(hao)鍵鎖定后再按此鍵，即可打印試驗報(bao)告

7：分(fen)壓比設置按鈕(niu)

8：門(men)開關，重復按(an)可選(xuan)擇左右門(men)

9：波(bo)形鎖定按鍵

10：橢圓旋轉按鈕(niu)

11：顯示(shi)方(fang)式按鈕(niu)

12：取消按鈕(niu)

A、B、C通(tong)道選擇旋鈕與后面板A、B、C測量通(tong)道相對應

備注： 如需(xu)數據導出，步驟如下：

（1）在電腦上安裝(zhuang)好RS232通(tong)用串口線驅(qu)動(dong)。（驅(qu)動(dong)盤里(li)有安裝(zhuang)介紹(shao)）及(ji)局放試驗報告編輯器軟件。

（2）將串口線和局放(fang)儀后面的數據接(jie)口連接(jie)好。   

（3）將需要(yao)保存的波(bo)形鎖定然后點擊 局(ju)放試驗報告(gao)編輯器

（4）點擊(ji)Start鍵生成鎖定(ding)后的數據(ju)，然后點擊(ji)測試報告如下圖所示(shi)：

（5）點(dian)擊測試報告(gao)后則會出現局放試驗報告(gao)編輯器可以根據需要填寫上面(mian)的內容。

（6）填(tian)寫好表(biao)格后點擊生(sheng)成報告數(shu)據(ju)會以Word文檔的形(xing)式(shi)出現，再將數(shu)據(ju)保存至電腦，如下圖(tu)所示：

第五章  操作說明(ming)

1、試驗準備：將機(ji)器后面(mian)板的三(san)個開關都置(zhi)于“關”的狀態

（1）檢(jian)查試驗場地的接(jie)(jie)地情況，將本(ben)儀器后部(bu)的接(jie)(jie)地螺栓用粗銅(tong)線(xian)（*好用編制銅(tong)帶）與試驗場地的接(jie)(jie)地妥善相接(jie)(jie)，輸入單(dan)元的接(jie)(jie)地短路片也(ye)要妥善接(jie)(jie)地。

（2）根椐(ju)試品電容Ca，藕合電容Ck的(de)(de)大小，選取(qu)合適序號的(de)(de)輸入單元(yuan)（表一），表一中調諧電容量是指從輸入單元(yuan)初級繞組(zu)兩端看到(dao)的(de)(de)電容（按Cx和(he)Ck的(de)(de)串聯值粗略估算(suan)）。

輸入(ru)單(dan)元應(ying)盡量靠近被測試品，輸入(ru)單(dan)元插(cha)座經8米長電纜與(yu)后(hou)面(mian)板上輸入(ru)插(cha)座相接。

（3）試(shi)品接入輸入單元的方法主(zhu)要(yao)有以下(xia)幾種(zhong)：

圖中(zhong)：Ca——試品(pin)    Ck——藕合電(dian)容    Z——阻(zu)塞阻(zu)抗  R3、C3、R4、C4——橋式(shi)接法中(zhong)平(ping)衡調節阻(zu)抗。

（4）在高壓(ya)(ya)(ya)端接上電(dian)壓(ya)(ya)(ya)表電(dian)阻(zu)或電(dian)容分壓(ya)(ya)(ya)器，其輸(shu)(shu)出經測量電(dian)纜接到后面板試驗電(dian)壓(ya)(ya)(ya)輸(shu)(shu)入插座(zuo)30。

（5）在未(wei)加試(shi)驗電壓的(de)情況(kuang)下，將(jiang)JF-2006校正脈沖(chong)發生(sheng)器的(de)輸出接試(shi)品兩端。

2、使(shi)用步驟

（1）開(kai)機準(zhun)備：將時基顯示(shi)方式置(zhi)于“橢圓”。

（2）放(fang)電(dian)量的校正：按圖接好(hao)線后，在(zai)未加試驗電(dian)壓之前用LJF-2006校正脈沖發生(sheng)器予(yu)以校正。

注意：方(fang)波(bo)測(ce)量盒應盡(jin)量靠近(jin)試品的高(gao)(gao)壓端。紅端子(zi)引(yin)線(xian)接高(gao)(gao)壓端。

然后(hou)調節放(fang)大(da)器增益調節，使該注(zhu)入(ru)(ru)脈沖(chong)高(gao)度(du)適(shi)當（示波(bo)屏(ping)上高(gao)度(du)2cm以下），使數字表讀數值與注(zhu)入(ru)(ru)的已(yi)知電量(liang)相符。調定后(hou)放(fang)大(da)器細調旋鈕的位(wei)置不能再改變，需保持與校正(zheng)時相同。

校正完成后必須去掉校正方波發生(sheng)器與試驗(yan)回路的(de)連接。

（3）測試操作：

第六(liu)章  抗干擾(rao)措施和局部放(fang)電(dian)圖(tu)譜簡(jian)介(jie)

對于局(ju)部放(fang)電(dian)實驗我們*怕的(de)就(jiu)是干擾(rao)，下面(mian)簡(jian)單介紹一下實驗中可能(neng)遇(yu)到的(de)干擾(rao)以及抗干擾(rao)的(de)方法：

測(ce)量(liang)的干擾分類(lei)

干擾(rao)有來自電(dian)網的(de)(de)和(he)來自空(kong)間的(de)(de)。按表現形式分又(you)分為固(gu)定的(de)(de)和(he)移動的(de)(de)。主要的(de)(de)干擾(rao)源有以下一些：

①懸浮電(dian)(dian)位物體放電(dian)(dian)，通過對(dui)地雜(za)散電(dian)(dian)容耦(ou)合(he)

②外部(bu)**電(dian)暈

③可控硅元件在鄰近運行

④繼電器，接觸(chu)器，輝光(guang)管等物品

⑤接觸**

⑥無線電干擾

⑦熒光燈干擾

⑧電動機(ji)干(gan)擾

⑨中(zhong)高頻工業設備(bei)

（二）抗干(gan)擾(rao)方(fang)法

采用帶調壓器(qi)，隔離變壓器(qi)和濾波器(qi)的(de)控制電源

設(she)置屏蔽室，可只(zhi)屏蔽試驗回路部(bu)分

可(ke)靠的單點接地(di)，將試(shi)驗回路系統設(she)計成單點接地(di)結構，接地(di)電阻要(yao)小，接地(di)點要(yao)與一(yi)般試(shi)驗室的地(di)網(wang)及電力網(wang)中(zhong)線(xian)分開(kai)。

采用(yong)高壓濾波器(qi)

用平衡法或橋式試驗電路

利用時(shi)間窗，使(shi)固定相位干擾處于亮窗之外

采(cai)用較窄頻(pin)帶，或用頻(pin)帶躲(duo)開干擾大的頻(pin)率范圍

在(zai)高壓端加裝高壓屏蔽罩或半導體橡膠帽以防電暈(yun)干擾

試驗電(dian)路(lu)遠離周圍(wei)物體，尤其是(shi)懸浮(fu)的金屬固體！

（三）初做實(shi)驗者對波(bo)形辨認還(huan)是(shi)有一定困難的，下面(mian)就簡單介紹一     放電類型和干(gan)擾的初步(bu)辯認：

1． 典型的內部氣泡放電的波形特點：(圖(tu) 5—01)

A．放電(dian)主要顯示(shi)在(zai)試驗電(dian)壓由零升到峰值(zhi)的兩個橢圓(yuan)象限內。

B．在起始電壓Ui時，放電通常發生在峰值附近，試驗電壓超過Ui時(shi)，放電向零(ling)相(xiang)位延伸。

C．兩個(ge)相(xiang)反半周上放電次數和幅值大(da)致相(xiang)同(tong)（*大(da)相(xiang)差(cha)至3：1）。

D．放電波(bo)形可辯(bian)。

E．q與(yu)試驗電壓關系不大，但(dan)放(fang)電重復率n隨(sui)試(shi)驗電壓上升而加大。

F．局部放電起始(shi)電壓Ui和熄滅電壓Ue基本(ben)相等。

G．放電量q與時間關(guan)系不(bu)大。

H．如果放電(dian)量隨(sui)試驗電(dian)壓上升而(er)增大(da)，并且放電(dian)波形(xing)變得模糊不可分辨，則往往是介質內含(han)有多(duo)種大(da)小氣泡，或是介質表(biao)面放電(dian)。如果除了上述情(qing)況(kuang)，而(er)且放電(dian)幅值隨(sui)加壓時間而(er)迅速增長（可達100倍或(huo)更多），則往(wang)往(wang)是(shi)絕緣液體中(zhong)的(de)(de)氣泡放(fang)電，典型例子是(shi)油(you)浸紙(zhi)電容器的(de)(de)放(fang)電。

2． 金屬與介(jie)質間氣泡的放電波形特(te)點：               

正半周有許多(duo)幅值(zhi)小的放電，負半周有很少幅值(zhi)大的放電。幅值(zhi)相差可達10﹕1，其他同上。

典型例子：絕緣與(yu)導體粘附**的(de)聚(ju)乙烯電纜的(de)放(fang)電。q與(yu)試驗電壓關系不大。（圖 5—02）

如果(guo)隨試驗電壓升高，放電幅值也增(zeng)大(da)，而且放電波形變得模糊，則往(wang)往(wang)是含(han)有不同大(da)小多個氣泡，或(huo)是外露的金屬與介質表(biao)面之間出(chu)現的表(biao)面放電。（圖 5—03）

（四）下面介紹一(yi)些(xie)主(zhu)要視為干擾或非正常(chang)放(fang)電的情況：

（1）懸浮電位物(wu)體放電波(bo)形特(te)點：

在電(dian)(dian)壓峰值(zhi)(zhi)前的正負半周兩個象限里(li)出(chu)現幅(fu)值(zhi)(zhi)。脈沖數和(he)位置均相(xiang)(xiang)同(tong)，成(cheng)對出(chu)現。放電(dian)(dian)可(ke)移動，但它們間的相(xiang)(xiang)互間隔不(bu)變，電(dian)(dian)壓升(sheng)高時，根數增加，間隔縮小，但幅(fu)值(zhi)(zhi)不(bu)變。有時電(dian)(dian)壓升(sheng)到一定值(zhi)(zhi)時會消(xiao)失，但降至此值(zhi)(zhi)又重新(xin)出(chu)現。

原因：金(jin)屬間(jian)的間(jian)隙產(chan)生的放電，間(jian)隙可能是地(di)面上兩(liang)個獨(du)立的金(jin)屬體間(jian)（通(tong)過雜散(san)電容耦合(he)）也可能在樣品內，例如屏蔽松散(san)。

（2）外部**電(dian)暈(yun)放電(dian)波形特(te)點：

起(qi)始放電(dian)僅出現在(zai)試驗電(dian)壓的(de)一個半周上，并對稱(cheng)地分(fen)布在(zai)峰值(zhi)兩側(ce)。試驗電(dian)壓升高(gao)時，放電(dian)脈沖(chong)數急(ji)劇增加，但幅值(zhi)不變，并向兩側(ce)伸(shen)展。

原因(yin)：空(kong)氣中高(gao)壓**或(huo)邊緣放電(dian)。如果(guo)放電(dian)出現在(zai)(zai)負半周，表示**處于(yu)高(gao)壓，如果(guo)放電(dian)出現在(zai)(zai)正(zheng)半周則(ze)**處于(yu)地電(dian)位。

（3）液體介質中的**電暈放電波形特(te)點：

放電(dian)(dian)出現(xian)在(zai)兩個半周上，對稱地分布在(zai)峰值(zhi)兩側。每一(yi)(yi)組(zu)(zu)(zu)放電(dian)(dian)均為等(deng)間隔，但一(yi)(yi)組(zu)(zu)(zu)幅值(zhi)較大的(de)放電(dian)(dian)先出現(xian)，隨試驗電(dian)(dian)壓升(sheng)高而幅值(zhi)增大，不一(yi)(yi)定等(deng)幅值(zhi)；一(yi)(yi)組(zu)(zu)(zu)幅值(zhi)小(xiao)的(de)放電(dian)(dian)幅值(zhi)相等(deng)，并且不隨電(dian)(dian)壓變化(hua)。

原因：絕緣液體(ti)中**或(huo)邊緣放電。如(ru)一組(zu)大的放電出現在(zai)正半周，則**處于高(gao)壓(ya)；如(ru)出現在(zai)負半周，則**地電位。

（4）接觸**的干(gan)擾(rao)圖形。

波(bo)形特點(dian)：對稱地分布在實驗電壓零點(dian)兩側，幅(fu)值(zhi)大致不變，但在實驗電壓峰值(zhi)附近下降為零。波(bo)形粗(cu)糙(cao)不清晰(xi)，低電壓下即出現。電壓升高時，幅(fu)值(zhi)緩慢增加，有(you)時在電壓達到一定值(zhi)后會完全消失。

原因：實驗回路中金(jin)(jin)屬與金(jin)(jin)屬**接觸的連接點；塑料電纜屏蔽層半導體粒子的**接觸；電容器鋁箔(bo)的插(cha)接片(pian)等（可將電容(rong)器充電然后短路來(lai)消除(chu)）。               

（5）可控硅(gui)元(yuan)件的干(gan)擾圖形。

波形(xing)特點：位置固定(ding)，每只(zhi)元(yuan)件(jian)產(chan)生一個獨立(li)訊號(hao)。電(dian)路接通，電(dian)磁耦合(he)效應增強時訊號(hao)幅值增加，試驗調壓時，該脈沖訊號(hao)會發生高頻波形(xing)展寬，從(cong)而占位增加。

原(yuan)因：鄰近有可控硅元件在運(yun)行。

（6）繼電(dian)器、接觸器、輝光管(guan)等動作的(de)干擾。

波形特點：分布不規則或間斷出現，同(tong)試驗(yan)電壓無關。

原因：熱繼電(dian)器、接觸器和各種火花(hua)試驗器及有(you)火花(hua)放電(dian)的記錄器動作時(shi)產生。

（7）熒光燈的干擾圖(tu)形。

波(bo)形特(te)點：欄柵狀，幅值大致相同(tong)的(de)脈沖(chong)，伴有正(zheng)負半(ban)波(bo)對稱出現的(de)兩簇脈沖(chong)組。

原(yuan)因：熒光(guang)燈照(zhao)明                                                                                     

（8）無線電干擾的干擾圖形。

波(bo)形特點：幅值有調制的(de)高(gao)頻正弦波(bo)，同試驗(yan)電壓無(wu)關。

原因：無線電(dian)話(hua)(hua)、廣播話(hua)(hua)筒、載波通(tong)訊(xun)等。

（9）電動(dong)機(ji)干(gan)擾(rao)的(de)干(gan)擾(rao)圖(tu)形（圖(tu)5—12）

波形特點：放電波形沿橢圓(yuan)基線均(jun)勻分布，每個單個訊號呈(cheng)“山(shan)”字形。

原(yuan)因：帶(dai)換向器的電(dian)(dian)動機，如電(dian)(dian)扇、電(dian)(dian)吹風運轉時的干擾。

（10）中高頻工(gong)業設備的干擾圖(tu)形。

波(bo)形特點：連續(xu)發(fa)生，僅出(chu)現在電源波(bo)形的半周(zhou)內。

原因(yin)：感應加熱(re)裝置和頻率(lv)接(jie)近檢(jian)測頻率(lv)的超聲(sheng)波發生器等(deng)。

（11）鐵芯磁飽和諧波的干擾(rao)圖形（圖5—14）

波形特點(dian)：較低頻率的諧波振蕩，出現在(zai)兩個半周上，幅值隨試驗電壓(ya)升高(gao)而增大(da)，不加電壓(ya)時消失(shi)，有重現性(xing)。

原因：試驗系(xi)統各種鐵(tie)芯設備（試驗變壓器、濾波電抗器、隔離變壓器等(deng)）磁飽和(he)產生的諧(xie)振。    &nbsp;                            

（12）電極在電場方向機械移動的干擾圖形(xing)。

波形特點：僅在(zai)試驗電壓的半周（正或(huo)負）上出現的與峰值(zhi)對稱的兩(liang)個放電響應，幅值(zhi)相(xiang)(xiang)等，而脈沖(chong)方向相(xiang)(xiang)反(fan)，起始電壓時兩(liang)個脈沖(chong)在(zai)峰值(zhi)處靠得很(hen)近，電壓升高時逐漸分開，并(bing)可能產(chan)生新的脈沖(chong)訊號對。

原因：電(dian)(dian)極的部分（尤其是金屬箔電(dian)(dian)極）在電(dian)(dian)場作用(yong)下運(yun)動。      &nbsp;                   

（14）漏電(dian)痕(hen)跡和樹枝(zhi)放(fang)電(dian)

波(bo)形(xing)特點：放電(dian)訊(xun)號波(bo)形(xing)與(yu)一般典型圖象(xiang)均(jun)不符合，波(bo)形(xing)不規則不確定。

原因(yin)：玷(dian)污了的(de)絕緣(yuan)上漏電或絕緣(yuan)局部(bu)過熱(re)而致的(de)碳化(hua)痕跡或樹枝通道。

在放(fang)電(dian)(dian)測試(shi)(shi)(shi)中必須保(bao)證測試(shi)(shi)(shi)回(hui)路中其它元件（試(shi)(shi)(shi)驗變(bian)壓器、阻塞線圈、耦合電(dian)(dian)容器、電(dian)(dian)壓表電(dian)(dian)阻等）均不放(fang)電(dian)(dian)，常用(yong)的辦法是用(yong)與試(shi)(shi)(shi)品電(dian)(dian)容數量級相(xiang)同的無放(fang)電(dian)(dian)電(dian)(dian)容或絕緣結(jie)構取代試(shi)(shi)(shi)品試(shi)(shi)(shi)驗，看看有無放(fang)電(dian)(dian)。

了解了各種(zhong)放電(dian)(dian)類型的波形特征，來源以及識別干擾(rao)后(hou)就可按(an)具體情況采取措(cuo)施排除干擾(rao)和正確地進行(xing)放電(dian)(dian)測量了。

第七章(zhang)     局部放電(dian)測試當(dang)中(zhong)應該注意(yi)的問題(ti)

實(shi)驗前，試品的絕緣表面(mian)（尤(you)其是高壓(ya)端）應(ying)作清(qing)潔化處理

2、   各(ge)連接點(dian)應接觸良好，尤其是高壓端不要留(liu)下尖銳的(de)接點(dian)，高壓導線應盡可(ke)能粗以防電暈，可(ke)用蛇皮管。

輸入單元要(yao)盡量靠近試品，而且接地(di)要(yao)可靠，接地(di)線*好用編(bian)織銅帶。主機(ji)也須接(jie)地，以保證**。

試(shi)驗回路盡可能(neng)緊湊(cou)。即高壓連線盡可能(neng)短，試(shi)驗回路所圍面 積盡(jin)可能小。

在(zai)進行(xing)110KV及以上等級的(de)局放(fang)試驗時，試品(pin)周圍的(de)懸浮金屬物體應(ying)妥善接地。

考慮到油浸式試品局部放(fang)電存在滯后(hou)效應，因此在局放(fang)試驗前幾小時，不要(yao)對試(shi)品施加(jia)超(chao)過局部放電試(shi)驗電壓的(de)高(gao)電壓。

第八章  附件

1、專用測量(liang)電纜(lan)線6米(mi) ;        2根

2、電源線(xian)     &nbsp;               1根(gen)

3、1.0A保險絲(si)             &nbsp;   4根

4、使用說明書         ;        1份

WBJF-2020校正脈沖發生器使用說明(ming)

用途與適用范圍：

WBJF-2020校(xiao)正(zheng)脈沖發生器是一(yi)個小型(xing)的廉價(jia)的電池供電的局部(bu)放電校(xiao)正(zheng)器，它適用于需要(yao)攜帶(dai)和使用靈活的場合。

主要規格及技術參數：

輸出(chu)電荷量：5PC  50PC  100PC  500PC

上升時間：<100ns

衰減(jian)時間：>100us

極(ji)性：正(zheng)、負極(ji)性

重復頻率：1KHz

頻率變化：>±100Hz

尺寸：160×120×50mm

重量(liang)：0.5Kg

電池：6F22  9V

操作(zuo)與作(zuo)用：

首先打開(kai)WBJF-2020校(xiao)正脈沖(chong)發生器后蓋板，裝入電池，蓋好蓋板。將輸(shu)出紅黑兩個端(duan)子接上導(dao)線(xian)，紅端(duan)子上的導(dao)線(xian)盡量且靠近試品的高壓端(duan)，黑端(duan)導(dao)線(xian)接試品和低壓端(duan)，將校(xiao)正電量開關置(zhi)(zhi)于合適的位置(zhi)(zhi)，即可校(xiao)正，頻率可在1KHz附(fu)近調節，面板上電壓表指示(shi)機內電源的情況(kuang)，一(yi)般指示(shi)8V以上才(cai)能保(bao)證(zheng)工作，低于8V則需調換電池(chi)。

校正(zheng)后切記將校正(zheng)脈沖發(fa)生器取下！