**章(zhang) WBXC-1000蓄電池內(nei)阻測試裝(zhuang)置(zhi)簡介

1. 說明(ming)

本手冊為WBXC-1000蓄電池內阻測試儀(yi)的使用(yong)指(zhi)南，請在操作使用(yong)測試儀(yi)前仔細閱讀(du)本手冊。

2. WBXC-1000蓄電池內阻測試裝(zhuang)置主機部件

2. 1  USB接口：用來通(tong)過U盤(pan)上傳測(ce)試數(shu)據和下載(zai)參數(shu)；

2. 2  測試(shi)接(jie)口：連接(jie)測試(shi)夾(jia)具(ju)；

2. 3  充電接口：連接充電器(qi)；

2. 4  LCD：320*240彩色TFT液晶屏；

2. 5  鍵盤：共(gong)7個(ge)按(an)鍵。定義如表一。

3. WBXC-1000蓄電(dian)池(chi)內(nei)阻(zu)測試裝(zhuang)置主要功能特(te)點

可對蓄電池電壓(ya)、內(nei)阻(zu)、容量進行測試；

可以作為電壓表使用(yong),測試(shi)電池電壓；

可對不同電(dian)(dian)壓等級的蓄(xu)電(dian)(dian)池進行自(zi)動切換；

可(ke)對蓄電池進行容量測算；

測(ce)試數據同步(bu)存儲；

對判別(bie)結果進行聲音提示；

電池充電狀態指示；

本機電(dian)池電(dian)壓實時顯示；

無操作自動待機；

測試(shi)數據記錄存儲；

通過u盤和分析軟件(jian)系統進行數(shu)據交換。

4. WBXC-1000蓄電池內阻(zu)測試裝(zhuang)置技術指標

**章 WBXC-1000蓄(xu)電池內阻測試(shi)裝置內阻測試說明  

電(dian)(dian)池(chi)內(nei)(nei)部(bu)阻(zu)抗(kang)，也稱為內(nei)(nei)阻(zu)，是(shi)一項影響(xiang)電(dian)(dian)池(chi)性能的關鍵指標。測試電(dian)(dian)池(chi)內(nei)(nei)阻(zu)以判斷電(dian)(dian)池(chi)供電(dian)(dian)能力已經是(shi)業內(nei)(nei)的共(gong)識(shi)。影響(xiang)電(dian)(dian)池(chi)內(nei)(nei)阻(zu)的因素有：電(dian)(dian)池(chi)尺寸、工作時間、結構、狀(zhuang)況、溫(wen)度和充電(dian)(dian)狀(zhuang)態。

對(dui)于一(yi)個充(chong)(chong)滿(man)電(dian)(dian)的電(dian)(dian)池(chi)(chi)(chi)，當電(dian)(dian)池(chi)(chi)(chi)放電(dian)(dian)時，其內阻逐步緩慢(man)增大；當電(dian)(dian)池(chi)(chi)(chi)放電(dian)(dian)達到(dao)一(yi)定(ding)程度(du)后，內阻的變化量才(cai)急速增大；當電(dian)(dian)池(chi)(chi)(chi)放完電(dian)(dian)后，其電(dian)(dian)阻比(bi)完全充(chong)(chong)電(dian)(dian)狀態時大2~5倍。

電池溫度也影響內(nei)阻的測量，但只(zhi)在冰點(dian)以下才比較明顯(xian)。在32℉以(yi)下(xia)，溫(wen)度對內阻的影(ying)響很(hen)大(da)，在-20℉時的(de)(de)(de)內阻是原來的(de)(de)(de)兩倍。這就是為何在冬季電(dian)池的(de)(de)(de)能量要小(xiao)很多。

電(dian)池(chi)(chi)的使(shi)用時間也會(hui)影(ying)響其內(nei)(nei)阻。電(dian)池(chi)(chi)使(shi)用時間越(yue)長，隨(sui)著鹽化增加內(nei)(nei)阻越(yue)大。內(nei)(nei)阻增加的多少與電(dian)池(chi)(chi)的使(shi)用和維護方法(fa)有關。電(dian)池(chi)(chi)的整體狀況（例如機械裝置失(shi)效）也會(hui)影(ying)響電(dian)池(chi)(chi)的內(nei)(nei)阻。某些(xie)失(shi)效模式會(hui)使(shi)電(dian)池(chi)(chi)內(nei)(nei)阻增加。

由于不同廠家在生產(chan)電(dian)池(chi)時，工藝、配方的(de)不同，造成同樣容(rong)量(liang)的(de)電(dian)池(chi)內阻有所差異，對電(dian)池(chi)好壞的(de)判斷不應完(wan)全拘泥于電(dian)池(chi)內阻的(de)**值(zhi)，還應參考電(dian)池(chi)內阻的(de)變化趨勢(shi)。當電(dian)池(chi)內阻超過初始(shi)內阻的(de)1.25倍時(shi)，電池就已(yi)經不(bu)能通過測試，當電池內(nei)阻變化到初始內(nei)阻的2倍后，電池結(jie)構容量就(jiu)不足(zu)80%。

本內(nei)阻儀(yi)的(de)采用(yong)瞬間(jian)放電(dian)(dian)法對(dui)(dui)電(dian)(dian)池(chi)進(jin)行內(nei)阻測量。對(dui)(dui)蓄(xu)電(dian)(dian)池(chi)的(de)實際工作情況進(jin)行分(fen)析研究可(ke)以(yi)發(fa)現，蓄(xu)電(dian)(dian)池(chi)的(de)端口對(dui)(dui)外電(dian)(dian)路(lu)呈(cheng)現阻抗特性。在實際的(de)使用(yong)中，蓄(xu)電(dian)(dian)池(chi)的(de)電(dian)(dian)極(ji)，連接線(xian)等構成的(de)電(dian)(dian)感(gan)，由(you)于(yu)使用(yong)頻(pin)率低，引線(xian)短(duan)，電(dian)(dian)感(gan)很微(wei)弱(ruo)，一(yi)般在分(fen)析和研究中不予(yu)考(kao)慮。

一般我們都將蓄電(dian)池的電(dian)阻(zu)分(fen)為金屬電(dian)阻(zu)，也即是歐(ou)姆電(dian)阻(zu)；電(dian)化學(xue)電(dian)阻(zu)，包括電(dian)化學(xue)反(fan)應(ying)電(dian)阻(zu)和粒(li)子濃差(cha)極化電(dian)阻(zu)。關(guan)于(yu)容抗(kang)部分(fen)，法拉(la)第電(dian)容因為其(qi)恒壓特性，可(ke)以將其(qi)等(deng)(deng)效(xiao)為一個(ge)電(dian)壓源。另外，將其(qi)他容抗(kang)都等(deng)(deng)效(xiao)變化為多個(ge)電(dian)容并聯形式，則(ze)電(dian)池的等(deng)(deng)效(xiao)模型可(ke)以簡(jian)化如圖1所示(shi)。

Rm為(wei)金屬電(dian)(dian)阻，這部分(fen)的(de)(de)(de)電(dian)(dian)阻只是(shi)隨(sui)著(zhu)(zhu)金屬的(de)(de)(de)腐蝕、蠕變、硫化等(deng)因素(su)而(er)緩慢地變化著(zhu)(zhu)。電(dian)(dian)化學電(dian)(dian)阻Re則是(shi)隨(sui)著(zhu)(zhu)容(rong)量的(de)(de)(de)狀態(tai)而(er)時(shi)刻發生著(zhu)(zhu)變化的(de)(de)(de)，但(dan)是(shi)這部分(fen)的(de)(de)(de)變化又為(wei)并聯著(zhu)(zhu)的(de)(de)(de)電(dian)(dian)容(rong)的(de)(de)(de)容(rong)抗變化所掩蓋著(zhu)(zhu)。在(zai)交流(liu)(liu)情況下，由于電(dian)(dian)容(rong) C 比較大，大部分(fen)電(dian)(dian)流(liu)(liu)流(liu)(liu)經電(dian)(dian)容(rong)，而(er) Re上(shang)(shang)分(fen)流(liu)(liu)較少，此(ci)時(shi)檢測到的(de)(de)(de)實際上(shang)(shang)是(shi)由Rm和C串聯的(de)(de)(de)阻抗，而(er) Re被忽(hu)略(lve)了。為(wei)了避開(kai)C的(de)(de)(de)分(fen)流(liu)(liu)，直接由電(dian)(dian)池產生一個瞬(shun)(shun)時(shi)的(de)(de)(de)大放(fang)電(dian)(dian)電(dian)(dian)流(liu)(liu)，然后測出電(dian)(dian)池極(ji)柱(zhu)上(shang)(shang)電(dian)(dian)壓的(de)(de)(de)瞬(shun)(shun)間(jian)變化，如圖2所示，通過負載(zai)接通時(shi)的(de)(de)(de)瞬(shun)(shun)間(jian)電(dian)(dian)壓降和斷開(kai)負載(zai)時(shi)的(de)(de)(de)瞬(shun)(shun)間(jian)電(dian)(dian)壓恢復可(ke)以推導出相應的(de)(de)(de)內阻。

在(zai)瞬間直流情況下，蓄電池的(de)等效模(mo)型(xing)可(ke)以認為是一個電壓源和內(nei)阻串聯(lian) (戴維(wei)南等效模(mo)型(xing) )所構成，如圖(tu)3所示(shi)。

ΔU=RinternalI從而有Rinternal=ΔU/I

從理論上說(shuo)，在這里ΔU 有兩個(ge)，一(yi)個(ge)是(shi)給試驗(yan)電(dian)路加上(shang)負(fu)載(zai)的(de)瞬間，電(dian)池(chi)電(dian)壓跌(die)落(luo)值，另(ling)外(wai)一(yi)個(ge)就是(shi)斷開負(fu)載(zai)的(de)瞬間，電(dian)池(chi)電(dian)壓的(de)恢復值。但(dan)是(shi)，由于(yu)實驗(yan)過(guo)程中，在合閘瞬間，電(dian)壓和電(dian)流都容(rong)易引入很(hen)大(da)(da)的(de)沖擊(ji)，導(dao)致較大(da)(da)的(de)誤差，所(suo)以這里統(tong)一(yi)采用電(dian)壓的(de)恢復值，而此時電(dian)流也基本(ben)上(shang)達(da)到(dao)了穩態。

本(ben)內(nei)阻儀(yi)可(ke)以(yi)測量(liang)電(dian)壓、內(nei)阻，估算出電(dian)池(chi)剩余容量(liang)。

第(di)三章 使(shi)用方法                                            

1. 準備(bei)

將測試線(xian)和內阻儀通(tong)過插頭連接起來(lai)。

本機電池應(ying)該充(chong)滿電。

2. 目視檢(jian)查

使(shi)用測試儀測試前應對被(bei)測電池(chi)進(jin)行如下檢(jian)查：

待測電(dian)池(chi)盒是否破裂。

待測(ce)電池(chi)單(dan)元(yuan)蓋是(shi)否破裂(lie)。

待測電(dian)池(chi)盒與電(dian)池(chi)單(dan)元蓋的(de)密封情況(kuang)。

待測電池接(jie)頭或接(jie)線(xian)柱是(shi)否被腐(fu)蝕。

待測電池壓板(ban)是否過松(song)或過緊而使電池內部破裂。

待測電池上部污垢或導電酸。

電纜或導線磨損、斷裂或損壞。

待測電池接頭被腐蝕(shi)或過松。

3. 注意事項

使(shi)用本內阻儀進(jin)行測(ce)試(shi)時，應觀(guan)察(cha)所有設備制造商的注意事項(xiang)和(he)警(jing)告(gao)。

測試前應(ying)仔(zi)細(xi)檢查所(suo)有測試引線的(de)連接。

確認測試夾牢靠連接(jie)在電(dian)池的接(jie)線柱上。

確認正極和(he)負(fu)極正確連接在電池的(de)接線柱(zhu)上。

如果極(ji)性(xing)接反或(huo)未連接，電(dian)壓將(jiang)顯示為(wei)零。

電(dian)(dian)(dian)池夾必(bi)須與電(dian)(dian)(dian)池連(lian)接(jie)牢(lao)固(gu)。否則將(jiang)出現錯誤診斷。對于接(jie)線柱在側(ce)面(mian)的(de)(de)電(dian)(dian)(dian)池，將(jiang)測試夾夾在圓形電(dian)(dian)(dian)纜(lan)的(de)(de)接(jie)線端，而不(bu)是(shi)方形電(dian)(dian)(dian)纜(lan)的(de)(de)接(jie)線端。為了(le)確保連(lian)接(jie)牢(lao)固(gu)，必(bi)要(yao)時可拆(chai)下電(dian)(dian)(dian)池夾螺(luo)栓(shuan)，并用一個(ge)側(ce)面(mian)轉(zhuan)接(jie)接(jie)頭代替(ti)。安裝前檢查接(jie)線柱間隙(xi)是(shi)否足(zu)夠。

4. 電池測試

按下鍵1秒鐘,即可打開測(ce)試儀電(dian)源。自動進入【電(dian)池測(ce)試】界(jie)面。

在(zai)【電(dian)(dian)(dian)池(chi)測(ce)(ce)(ce)試(shi)】界面(mian)下，按Enter鍵進(jin)行電(dian)(dian)(dian)池(chi)測(ce)(ce)(ce)試(shi)，按左右(you)(you)鍵進(jin)行菜(cai)單(dan)切換，序號(hao)表(biao)示(shi)(shi)當前保存的(de)序號(hao)值；右(you)(you)上角(jiao)的(de)圖標顯示(shi)(shi)內(nei)部鋰電(dian)(dian)(dian)池(chi)電(dian)(dian)(dian)量；電(dian)(dian)(dian)壓顯示(shi)(shi)被(bei)測(ce)(ce)(ce)電(dian)(dian)(dian)池(chi)電(dian)(dian)(dian)壓值；內(nei)阻為(wei)(wei)被(bei)測(ce)(ce)(ce)電(dian)(dian)(dian)池(chi)內(nei)阻數(shu)值（單(dan)位mΩ）；容量為(wei)(wei)被(bei)測(ce)(ce)(ce)電(dian)(dian)(dian)池(chi)剩余容量百分比；溫(wen)度是當前環境溫(wen)度；型號(hao)為(wei)(wei)所測(ce)(ce)(ce)電(dian)(dian)(dian)池(chi)安時(shi)數(shu)，通過上下鍵選擇，當“型號(hao)”變為(wei)(wei)“基值”時(shi)，此時(shi)表(biao)示(shi)(shi)根據電(dian)(dian)(dian)池(chi)的(de)基值（蓄(xu)電(dian)(dian)(dian)池(chi)滿容量內(nei)阻值）進(jin)行測(ce)(ce)(ce)量，用戶可在(zai)“系(xi)統(tong)設(she)置(zhi)”菜(cai)單(dan)中的(de)“基值設(she)定”設(she)定電(dian)(dian)(dian)池(chi)的(de)基值。

說明：鍵即為(wei)電(dian)(dian)源開關鍵,電(dian)(dian)源關閉(bi)時按(an)(an)下可打(da)開電(dian)(dian)源,電(dian)(dian)源關閉(bi)狀態下按(an)(an)鍵可打(da)開電(dian)(dian)源,每次按(an)(an)下時間需持(chi)續1秒以(yi)上(shang)方(fang)為(wei)有(you)效。

5. 歷(li)史(shi)記(ji)錄

在【電池測(ce)試(shi)】界面下按←、→ 鍵進入(ru)【歷史記錄】界面。

歷(li)史記(ji)錄(lu)顯示從*新保(bao)存值開始排列，按↑↓鍵進行翻頁操作

6. 系統設(she)置

在【電池測試】或者(zhe)【歷史記錄】界面(mian)下按←、→ 鍵進(jin)入【參數系統】界面(mian)，按Enter鍵(jian)清(qing)楚所(suo)有保存的(de)數(shu)據！

其中(zhong)，【基值設定(ding)】設定(ding)蓄(xu)電池(chi)滿容量內阻值，例如(ru)某品(pin)牌(pai)2V 300Ah蓄(xu)電池(chi)滿容量內阻值為(wei)(wei)650微歐，該值由(you)蓄(xu)電池(chi)廠(chang)家(jia)提供(gong)；【時(shi)間設置(zhi)(zhi)(zhi)】設置(zhi)(zhi)(zhi)系統日(ri)期(qi)和(he)時(shi)間；【數據處理】數據保存至U盤及本機數據**，寫入U盤時(shi)保存為(wei)(wei)NZY_V20.TXT文件(jian)；【出廠(chang)設置(zhi)(zhi)(zhi)】由(you)廠(chang)家(jia)設置(zhi)(zhi)(zhi)，客戶(hu)一般不需要進行設置(zhi)(zhi)(zhi)。

7. 提示音(yin)說明

開機是蜂鳴器(qi)發出短促的(de)“嘟”聲。

在(zai)【電池測試】界面下按(an)Enter鍵(jian)進行電池測試(shi)，測試(shi)開始與結束時蜂鳴器(qi)發出短促的(de)“嘟”聲。

當內部溫度高于一定值時(shi)內阻(zu)儀需要進行(xing)散熱冷卻，蜂鳴(ming)器發出連(lian)續(xu)的(de)“嘟-嘟(du)”聲(sheng)，此時(shi)電(dian)(dian)池測試被禁用，等(deng)待冷卻以后蜂(feng)鳴器(qi)發出短(duan)促(cu)的“嘟(du)”聲(sheng)，此時(shi)可繼續(xu)進行電(dian)(dian)池測試。