**章 WBXC-1000內阻分析(xi)儀(yi)簡介

1. 說明

本手冊為WBXC-1000蓄電池(chi)內阻測試儀的(de)使用(yong)(yong)指南，請在操作使用(yong)(yong)測試儀前仔細閱讀本(ben)手(shou)冊。

2. WBXC-1000內阻分析儀主機部(bu)件(jian)

2. 1  USB接(jie)口：用來通過U盤上(shang)傳測(ce)試數據和下載參數；

2. 2  測試接(jie)口：連接(jie)測試夾具；

2. 3  充電(dian)接(jie)口：連接(jie)充電(dian)器；

2. 4  LCD：320*240彩色TFT液晶屏；

2. 5  鍵盤：共7個(ge)按鍵。定義如表一(yi)。

3. WBXC-1000內阻分析儀主要(yao)功能特(te)點

可對蓄電池電壓、內阻、容量進行測試；

可(ke)以作為電壓表使用(yong),測試電池(chi)電壓；

可對不(bu)同電(dian)(dian)壓等(deng)級的(de)蓄電(dian)(dian)池進(jin)行自動(dong)切換；

可對蓄(xu)電池進行容量(liang)測算(suan)；

測試數據同步存(cun)儲；

對判別(bie)結果進行聲(sheng)音提示；

電池充電狀(zhuang)態指示；

本機電(dian)池(chi)電(dian)壓實時顯示(shi)；

無(wu)操作自動(dong)待機(ji)；

測試數據記錄(lu)存儲(chu)；

通過u盤和分析(xi)軟(ruan)件系統進行數據交換。

4. WBXC-1000內阻分析儀技(ji)術(shu)指(zhi)標

**章 WBXC-1000內阻分析儀內阻(zu)測試(shi)說明  

電(dian)(dian)池內(nei)(nei)部阻(zu)(zu)抗，也稱為內(nei)(nei)阻(zu)(zu)，是一(yi)項(xiang)影響電(dian)(dian)池性能的關鍵指標。測(ce)試電(dian)(dian)池內(nei)(nei)阻(zu)(zu)以判斷電(dian)(dian)池供電(dian)(dian)能力已(yi)經是業內(nei)(nei)的共識。影響電(dian)(dian)池內(nei)(nei)阻(zu)(zu)的因素(su)有：電(dian)(dian)池尺寸、工(gong)作時間、結構、狀況、溫度和充電(dian)(dian)狀態。

對于一(yi)個充(chong)滿電(dian)(dian)(dian)的電(dian)(dian)(dian)池(chi)，當電(dian)(dian)(dian)池(chi)放電(dian)(dian)(dian)時，其內阻(zu)逐步緩慢增(zeng)(zeng)大(da)；當電(dian)(dian)(dian)池(chi)放電(dian)(dian)(dian)達到一(yi)定(ding)程度后，內阻(zu)的變化量才急速增(zeng)(zeng)大(da)；當電(dian)(dian)(dian)池(chi)放完(wan)電(dian)(dian)(dian)后，其電(dian)(dian)(dian)阻(zu)比完(wan)全(quan)充(chong)電(dian)(dian)(dian)狀態時大(da)2~5倍。

電池溫度也影響內阻的測(ce)量，但只在冰(bing)點以下才比較明顯。在32℉以下，溫度對內阻的影(ying)響很大，在-20℉時的(de)(de)內阻(zu)是原來(lai)的(de)(de)兩倍。這就是為何在冬(dong)季電池的(de)(de)能量要小(xiao)很多。

電(dian)(dian)池(chi)的(de)使(shi)用時(shi)(shi)間(jian)也會(hui)影響其內(nei)阻(zu)。電(dian)(dian)池(chi)使(shi)用時(shi)(shi)間(jian)越長，隨(sui)著鹽化增(zeng)加內(nei)阻(zu)越大(da)。內(nei)阻(zu)增(zeng)加的(de)多(duo)少與電(dian)(dian)池(chi)的(de)使(shi)用和(he)維護(hu)方法有(you)關(guan)。電(dian)(dian)池(chi)的(de)整體狀況（例如機(ji)械(xie)裝置(zhi)失效(xiao)(xiao)）也會(hui)影響電(dian)(dian)池(chi)的(de)內(nei)阻(zu)。某些失效(xiao)(xiao)模(mo)式會(hui)使(shi)電(dian)(dian)池(chi)內(nei)阻(zu)增(zeng)加。

由于(yu)(yu)不(bu)(bu)(bu)同(tong)廠家(jia)在生產電(dian)池時，工(gong)藝、配方的(de)不(bu)(bu)(bu)同(tong)，造成同(tong)樣容量的(de)電(dian)池內(nei)阻(zu)有(you)所差異，對(dui)電(dian)池好壞的(de)判斷不(bu)(bu)(bu)應完全(quan)拘泥于(yu)(yu)電(dian)池內(nei)阻(zu)的(de)**值，還(huan)應參考電(dian)池內(nei)阻(zu)的(de)變化趨勢(shi)。當電(dian)池內(nei)阻(zu)超過初(chu)始內(nei)阻(zu)的(de)1.25倍時，電(dian)(dian)池(chi)就已經(jing)不能通過測試(shi)，當電(dian)(dian)池(chi)內阻變化到初始(shi)內阻的2倍后，電(dian)池結構容(rong)量就不足80%。

本(ben)內阻(zu)儀的采用(yong)瞬間放電法對電池進(jin)(jin)行內阻(zu)測量(liang)。對蓄(xu)電池的實際工作情(qing)況進(jin)(jin)行分(fen)析(xi)研究可以發現，蓄(xu)電池的端口(kou)對外電路呈現阻(zu)抗特性。在(zai)實際的使用(yong)中(zhong)，蓄(xu)電池的電極，連接線等構(gou)成的電感，由(you)于使用(yong)頻率低，引(yin)線短，電感很微弱，一般在(zai)分(fen)析(xi)和研究中(zhong)不予考慮。

一般我們(men)都將蓄電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)池(chi)的(de)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)阻分為金屬電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)阻，也(ye)即(ji)是歐姆電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)阻；電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)化(hua)學電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)阻，包括電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)化(hua)學反應電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)阻和粒子濃(nong)差極化(hua)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)阻。關于容(rong)(rong)抗部(bu)分，法拉(la)第電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)容(rong)(rong)因為其恒壓特(te)性(xing)，可以將其等效(xiao)為一個電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)壓源。另外，將其他容(rong)(rong)抗都等效(xiao)變化(hua)為多個電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)容(rong)(rong)并聯(lian)形式，則(ze)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)池(chi)的(de)等效(xiao)模型可以簡化(hua)如(ru)圖(tu)1所示(shi)。

Rm為(wei)金屬(shu)電(dian)(dian)阻，這部分(fen)的(de)(de)(de)(de)電(dian)(dian)阻只(zhi)是(shi)隨著金屬(shu)的(de)(de)(de)(de)腐蝕(shi)、蠕變、硫化(hua)(hua)等(deng)因素而(er)緩慢地變化(hua)(hua)著。電(dian)(dian)化(hua)(hua)學(xue)電(dian)(dian)阻Re則是(shi)隨著容(rong)量的(de)(de)(de)(de)狀(zhuang)態而(er)時刻發生著變化(hua)(hua)的(de)(de)(de)(de)，但是(shi)這部分(fen)的(de)(de)(de)(de)變化(hua)(hua)又為(wei)并聯著的(de)(de)(de)(de)電(dian)(dian)容(rong)的(de)(de)(de)(de)容(rong)抗(kang)變化(hua)(hua)所掩(yan)蓋著。在(zai)交(jiao)流(liu)(liu)情(qing)況下，由于電(dian)(dian)容(rong) C 比較大，大部分(fen)電(dian)(dian)流(liu)(liu)流(liu)(liu)經電(dian)(dian)容(rong)，而(er) Re上(shang)(shang)分(fen)流(liu)(liu)較少，此(ci)時檢測(ce)到的(de)(de)(de)(de)實際上(shang)(shang)是(shi)由Rm和(he)(he)C串聯的(de)(de)(de)(de)阻抗(kang)，而(er) Re被忽(hu)略(lve)了。為(wei)了避開C的(de)(de)(de)(de)分(fen)流(liu)(liu)，直接由電(dian)(dian)池(chi)產生一個(ge)瞬時的(de)(de)(de)(de)大放(fang)電(dian)(dian)電(dian)(dian)流(liu)(liu)，然(ran)后測(ce)出電(dian)(dian)池(chi)極(ji)柱(zhu)上(shang)(shang)電(dian)(dian)壓的(de)(de)(de)(de)瞬間(jian)(jian)變化(hua)(hua)，如圖2所示，通過負載接通時的(de)(de)(de)(de)瞬間(jian)(jian)電(dian)(dian)壓降和(he)(he)斷(duan)開負載時的(de)(de)(de)(de)瞬間(jian)(jian)電(dian)(dian)壓恢復可(ke)以(yi)推導(dao)出相應的(de)(de)(de)(de)內阻。

在(zai)瞬間直流情況下，蓄(xu)電池的等(deng)(deng)效模型(xing)可(ke)以認為(wei)是一個電壓源和內阻串聯(lian) (戴維南等(deng)(deng)效模型(xing) )所構(gou)成，如(ru)圖3所示。

ΔU=RinternalI從而有Rinternal=ΔU/I

從理(li)論上說，在這里ΔU 有兩個(ge)，一(yi)個(ge)是(shi)(shi)給(gei)試驗電(dian)路加(jia)上負載的(de)瞬(shun)間，電(dian)池電(dian)壓(ya)跌落值(zhi)，另(ling)外(wai)一(yi)個(ge)就是(shi)(shi)斷開負載的(de)瞬(shun)間，電(dian)池電(dian)壓(ya)的(de)恢復(fu)值(zhi)。但是(shi)(shi)，由于實驗過程(cheng)中，在合閘瞬(shun)間，電(dian)壓(ya)和(he)電(dian)流都(dou)容易引(yin)入很(hen)大的(de)沖擊，導致較大的(de)誤差，所以(yi)這里統一(yi)采用電(dian)壓(ya)的(de)恢復(fu)值(zhi)，而此時電(dian)流也基本上達到了(le)穩態。

本(ben)內阻(zu)儀可(ke)以測量電(dian)壓(ya)、內阻(zu)，估算(suan)出電(dian)池剩余容量。

第三(san)章 使用方法                                            

1. 準備

將測試線和內阻儀(yi)通(tong)過插頭連接起來。

本(ben)機電池應該充滿(man)電。

2. 目(mu)視(shi)檢查

使用測試儀測試前應對被(bei)測電池進行如(ru)下檢查：

待(dai)測電池盒(he)是(shi)否(fou)破裂。

待(dai)測電池單元蓋是否破裂(lie)。

待(dai)測電池盒(he)與(yu)電池單元蓋的(de)密(mi)封情(qing)況。

待測電池接(jie)頭或接(jie)線柱是否(fou)被腐蝕(shi)。

待測電(dian)池壓板是否過(guo)松(song)或過(guo)緊而使電(dian)池內部破裂。

待測電(dian)池上部(bu)污垢或導(dao)電(dian)酸(suan)。

電纜(lan)或導線磨(mo)損(sun)、斷裂或損(sun)壞。

待測電池接(jie)頭被腐(fu)蝕或(huo)過松。

3. 注(zhu)意事項

使用本(ben)內(nei)阻儀進行(xing)測試時，應(ying)觀(guan)察所有設備制造商的注意事(shi)項(xiang)和警告。

測試前(qian)應仔細檢查所有測試引線的連接(jie)。

確認測試夾(jia)牢靠連接在電(dian)池(chi)的接線柱上(shang)。

確認(ren)正(zheng)極和負極正(zheng)確連接(jie)在電池的接(jie)線柱上。

如(ru)果極(ji)性接反或未連接，電壓(ya)將顯(xian)示(shi)為零。

電池夾必(bi)須與(yu)電池連(lian)接(jie)(jie)牢(lao)固(gu)。否則將出現錯誤(wu)診斷。對于接(jie)(jie)線柱(zhu)在側(ce)面的(de)(de)電池，將測試夾夾在圓形電纜(lan)的(de)(de)接(jie)(jie)線端，而不是(shi)方形電纜(lan)的(de)(de)接(jie)(jie)線端。為了確保連(lian)接(jie)(jie)牢(lao)固(gu)，必(bi)要時可拆下(xia)電池夾螺(luo)栓(shuan)，并用一個側(ce)面轉(zhuan)接(jie)(jie)接(jie)(jie)頭代替。安裝前檢(jian)查接(jie)(jie)線柱(zhu)間隙是(shi)否足夠。

4. 電池(chi)測(ce)試

按(an)下鍵1秒鐘,即可打(da)開(kai)測試(shi)(shi)儀電(dian)源。自動進(jin)入【電(dian)池(chi)測試(shi)(shi)】界面。

在【電(dian)(dian)池(chi)(chi)測(ce)(ce)(ce)試】界面下，按Enter鍵進行(xing)(xing)電(dian)(dian)池(chi)(chi)測(ce)(ce)(ce)試，按左(zuo)右鍵進行(xing)(xing)菜(cai)(cai)單(dan)(dan)切換，序(xu)(xu)號(hao)表示(shi)(shi)當(dang)前(qian)保(bao)存的(de)(de)序(xu)(xu)號(hao)值(zhi)(zhi)(zhi)；右上(shang)角的(de)(de)圖標顯示(shi)(shi)內部(bu)鋰電(dian)(dian)池(chi)(chi)電(dian)(dian)量(liang)；電(dian)(dian)壓(ya)顯示(shi)(shi)被測(ce)(ce)(ce)電(dian)(dian)池(chi)(chi)電(dian)(dian)壓(ya)值(zhi)(zhi)(zhi)；內阻(zu)為被測(ce)(ce)(ce)電(dian)(dian)池(chi)(chi)內阻(zu)數(shu)(shu)值(zhi)(zhi)(zhi)（單(dan)(dan)位(wei)mΩ）；容量(liang)為被測(ce)(ce)(ce)電(dian)(dian)池(chi)(chi)剩余容量(liang)百分(fen)比；溫度是當(dang)前(qian)環境溫度；型號(hao)為所(suo)測(ce)(ce)(ce)電(dian)(dian)池(chi)(chi)安時數(shu)(shu)，通過(guo)上(shang)下鍵選擇(ze)，當(dang)“型號(hao)”變為“基值(zhi)(zhi)(zhi)”時，此(ci)時表示(shi)(shi)根(gen)據電(dian)(dian)池(chi)(chi)的(de)(de)基值(zhi)(zhi)(zhi)（蓄電(dian)(dian)池(chi)(chi)滿容量(liang)內阻(zu)值(zhi)(zhi)(zhi)）進行(xing)(xing)測(ce)(ce)(ce)量(liang)，用(yong)戶可在“系(xi)統設置”菜(cai)(cai)單(dan)(dan)中(zhong)的(de)(de)“基值(zhi)(zhi)(zhi)設定(ding)”設定(ding)電(dian)(dian)池(chi)(chi)的(de)(de)基值(zhi)(zhi)(zhi)。

說明：鍵即為(wei)電源開(kai)關鍵,電源關閉時按下(xia)(xia)可(ke)打(da)開(kai)電源,電源關閉狀態下(xia)(xia)按鍵可(ke)打(da)開(kai)電源,每次(ci)按下(xia)(xia)時間需(xu)持續(xu)1秒以上方為(wei)有效。

5. 歷(li)史記錄(lu)

在【電(dian)池(chi)測試】界面下按←、→ 鍵進(jin)入【歷史記錄】界面。

歷(li)史記錄顯(xian)示從(cong)*新保存值(zhi)開始排列，按↑↓鍵進行翻頁(ye)操作

6. 系統(tong)設(she)置

在【電池測(ce)試】或者【歷(li)史(shi)記錄】界(jie)面下(xia)按←、→ 鍵進入(ru)【參(can)數系統】界(jie)面，按Enter鍵清楚所有保存的(de)數據(ju)！

其中，【基(ji)值(zhi)(zhi)(zhi)設(she)定】設(she)定蓄(xu)電池(chi)滿容量內(nei)(nei)阻值(zhi)(zhi)(zhi)，例(li)如(ru)某品(pin)牌2V 300Ah蓄(xu)電池(chi)滿容量內(nei)(nei)阻值(zhi)(zhi)(zhi)為650微歐，該值(zhi)(zhi)(zhi)由蓄(xu)電池(chi)廠家提供；【時(shi)間設(she)置(zhi)(zhi)(zhi)】設(she)置(zhi)(zhi)(zhi)系統日(ri)期和時(shi)間；【數(shu)(shu)據(ju)處理(li)】數(shu)(shu)據(ju)保(bao)存(cun)至U盤及本機數(shu)(shu)據(ju)**，寫(xie)入(ru)U盤時(shi)保(bao)存(cun)為NZY_V20.TXT文件；【出廠設(she)置(zhi)(zhi)(zhi)】由廠家設(she)置(zhi)(zhi)(zhi)，客戶(hu)一(yi)般不需要進行設(she)置(zhi)(zhi)(zhi)。

7. 提示音說(shuo)明(ming)

開機是蜂鳴器發(fa)出短(duan)促的(de)“嘟”聲。

在【電池測試】界面下按Enter鍵(jian)進行電池測試(shi)，測試(shi)開始與(yu)結束時蜂(feng)鳴器(qi)發(fa)出短(duan)促(cu)的(de)“嘟”聲(sheng)。

當(dang)內部(bu)溫度(du)高于一定值時內阻(zu)儀需(xu)要進行散熱冷卻，蜂鳴器發出連(lian)續的“嘟-嘟(du)”聲(sheng)，此(ci)時電池測試被禁用，等待冷卻以(yi)后蜂鳴(ming)器發出短促的“嘟(du)”聲(sheng)，此(ci)時可繼續進行電池測試。