一、WBJS8000G計量(liang)專用變頻介(jie)質(zhi)損耗(hao)測試儀概述

介損測量(liang)是絕(jue)緣(yuan)試(shi)驗中很基本(ben)的方法(fa)，可以(yi)(yi)有效(xiao)地發現(xian)電(dian)器設(she)備絕(jue)緣(yuan)的整體受潮劣化變(bian)質，以(yi)(yi)及局部缺陷等。在(zai)電(dian)工制造、電(dian)氣設(she)備安裝(zhuang)、交(jiao)接和預(yu)防性試(shi)驗中都廣泛應用(yong)。變(bian)壓器、互感(gan)器、電(dian)抗器、電(dian)容器以(yi)(yi)及套管、避雷器等介損的測量(liang)是衡量(liang)其絕(jue)緣(yuan)性能的*基本(ben)方法(fa)。LYJS9000F變(bian)頻(pin)介質損耗測試儀突破了傳統的電(dian)橋測量(liang)方式，采用變(bian)頻(pin)電(dian)源技術，利用單(dan)片機、和現(xian)代化電(dian)子技術進(jin)行自動頻(pin)率變(bian)換、模/數(shu)轉換和(he)數(shu)據運算；達到抗干(gan)擾能(neng)力強(qiang)、測試(shi)速(su)度(du)快、精度(du)高、全自動數(shu)字化、操作簡便；電源采用大(da)功(gong)率開關電源，輸出45Hz和(he)55Hz純正弦(xian)波，自動加(jia)壓，可提供*高10千(qian)伏的電(dian)壓；自動濾除50Hz干擾，適(shi)用于變電站等(deng)電磁干擾大的現場測試。廣泛適(shi)用于電力行業(ye)中(zhong)變壓器(qi)、互感(gan)器(qi)、套管、電容器(qi)、避雷器(qi)等(deng)設(she)備的介損(sun)測量。

二、WBJS8000G計量專(zhuan)用(yong)變頻介質(zhi)損耗(hao)測(ce)試儀**措施(shi)

1、使用本(ben)儀器前一定要認真閱讀本(ben)手冊。

2、儀器(qi)的操(cao)作(zuo)者應具(ju)備(bei)一般電(dian)氣(qi)設(she)備(bei)或(huo)儀器(qi)的使(shi)用常識。

3、本儀器戶(hu)內(nei)外均可使用，但應避開雨淋(lin)、腐蝕(shi)氣體(ti)、塵埃(ai)過濃、高溫、陽(yang)光直(zhi)射等場所使用。

儀(yi)表應避免劇(ju)烈振動。

5、對儀器的維修(xiu)、護(hu)理(li)和調整(zheng)應由專業(ye)人員進行。

6、在任何接線之(zhi)前必(bi)須用接地(di)電纜把儀器接地(di)端子(zi)與大地(di)可靠(kao)連接起來。

7、由于測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)設備產生高(gao)電壓(ya)(ya)，所以測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)人員必(bi)須(xu)完全(quan)(quan)嚴(yan)格遵守**操作規程，防(fang)止他(ta)人接(jie)觸高(gao)壓(ya)(ya)部件和電路。直接(jie)從事(shi)(shi)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)的人員必(bi)須(xu)完全(quan)(quan)了解高(gao)壓(ya)(ya)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)線路，及儀器操作要點(dian)。非從事(shi)(shi)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)人員必(bi)須(xu)遠離高(gao)壓(ya)(ya)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)區，測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)區必(bi)須(xu)用柵欄或繩索、警視(shi)牌等清(qing)楚表示出來。

8、儀器(qi)的(de)調整維修(xiu)和維護，必(bi)(bi)(bi)須在(zai)不加電情況(kuang)下進(jin)行，如果(guo)必(bi)(bi)(bi)須加電，則(ze)操(cao)作者必(bi)(bi)(bi)須非(fei)常熟悉本儀器(qi)高壓危險部件。

9、保險(xian)(xian)(xian)管損壞(huai)時，必須確保更換同(tong)樣的保險(xian)(xian)(xian)，禁止更換不同(tong)型(xing)號保險(xian)(xian)(xian)或(huo)將保險(xian)(xian)(xian)直(zhi)接短路使用。

儀器出(chu)現故(gu)障時，關閉電源(yuan)開關，等待一分鐘之后再檢查。

三(san)、WBJS8000G計量專用變頻介質損耗測試儀可測(ce)試參數

儀(yi)器(qi)可測量下(xia)列參數并數字顯示：

被測試品(pin)的電容量值CX，以(yi)pF或nF為單位，1nF=1000pF。

被測試品的介質損耗值tgδ，以%顯示。

四、WBJS8000G計(ji)量專用變頻介質損耗測(ce)試儀性能特點

1、儀器采(cai)用(yong)復(fu)數電流法(fa)，測量電容、介質損耗(hao)及其它參數。測試結果精度(du)高，便于實現自動化(hua)測量。

2、儀(yi)器采用了變頻(pin)技術來消除現場50Hz工頻干擾，即使在(zai)強電磁干擾的(de)環境下也(ye)能(neng)測得可靠的(de)數(shu)據(ju)。

3、儀器采(cai)用大屏幕液晶顯示器，測(ce)試(shi)過程通過漢字菜單(dan)提示既直觀又便于操作(zuo)。

4、儀器操作簡便，測(ce)量(liang)過程由微處理器控制，只要選擇好合適的測(ce)量(liang)方式(shi)，數(shu)據的測(ce)量(liang)就可(ke)在微處理器控制下(xia)自(zi)動完成。

5、一體化機型，內(nei)附標準電(dian)容(rong)和高壓(ya)電(dian)源，便于(yu)現場測試，減(jian)少現場接線。

6、儀器測量準(zhun)確度高，可滿(man)足油(you)介損測量要求，因此只需配備標(biao)準(zhun)油(you)杯，和(he)專用測試線即可實(shi)現油(you)介損測量。

7、設CVT測試功能，可實現(xian)CVT的(de)自激法(fa)測試，無需外置附件，只需一次測量(liang)，C1,C2的電容和介損全部(bu)測出。

8、反接線(xian)測試采用ivddv技術,消除了以往反接線(xian)數據不(bu)穩(wen)定的(de)現(xian)象。

9、具有反接線低(di)壓屏蔽功能(neng)，在(zai)220kV CVT 母(mu)線接(jie)地情況(kuang)下，對C11 可進行(xing)不拆線(xian)10kV 反接(jie)線介損(sun)測量

10、具(ju)有測量高電壓(ya)介損(sun)功能(neng)，能(neng)夠使用高壓(ya)變壓(ya)器或(huo)串聯諧(xie)振進(jin)行超過10kV電壓的介(jie)損(sun)試驗。

12、接(jie)地保護(hu)功能(neng)，當(dang)儀(yi)器(qi)不(bu)接(jie)地線或接(jie)地**時(shi)，儀(yi)器(qi)不(bu)進入正常程序，不(bu)輸出高壓(ya)。過流保護(hu)功能(neng)，在試品短路(lu)或擊穿時(shi)儀(yi)器(qi)不(bu)受(shou)損壞。

13、觸電保護功能，當(dang)儀器(qi)操(cao)作人員不(bu)小心觸電時候(hou)，儀器(qi)會立即(ji)切斷高壓(ya)，保障試驗人員的**.

五、WBJS8000G計量(liang)專用(yong)變頻介質損耗測試儀技術指(zhi)標

準確(que)度(du)：

Cx: ±（讀數×1%+1pF）

tgδ:  ±（讀(du)數×1%+0.00040）

抗干擾指(zhi)標：  變(bian)頻抗干擾，在200%干擾下仍能達到上述準確度

電容量范(fan)圍(wei)：  內(nei)施高壓：    3pF～60000pF/10kV    60pF～1μF/0.5kV

外施高壓：    3pF～1.5μF/10kV         60pF～30μF/0.5kV

分辨(bian)率：      *高0.001pF，4位有效數字

tgδ范圍：     不限(xian)，分(fen)辨率0.001%，電容、電感、電阻(zu)三種試品自(zi)動識別(bie)。

試驗電(dian)流范(fan)圍：10μA～1A

內(nei)施(shi)高壓：    設定電壓范圍：0.5～10kV

*大輸出電流：200mA

升(sheng)降(jiang)壓方式：連續平滑調節(jie)

試驗頻率： 45、50、55、60、65Hz單頻

45/55Hz、55/65Hz、47.5/52.5Hz自動雙變頻

頻率(lv)精度(du)：±0.01Hz

外施高壓(ya)：正接線時(shi)*大試驗電流1A，工頻或變頻40-70Hz

反(fan)接線(xian)時*大試(shi)驗電流10kV/1A，工頻(pin)或變(bian)頻(pin)40-70Hz

CVT自激法低壓(ya)輸出(chu)：輸出(chu)電壓(ya)3～50V，輸出電(dian)流3～30A

CVT變比測量：

變比測量精(jing)度：±讀數×1%     變比測量范圍：10～99999

相位(wei)測量精度：±0.1°           相位測量范圍：0～359.9°

測量時間：    約40s，與測量(liang)方式有關

輸入電(dian)源：    180V～270VAC，50Hz±1%，市電或發電機(ji)供電

計算機接口(kou)：  標準RS232接口

打(da)印機：         煒煌A7熱(re)敏微型(xing)打印機

環境溫度：    -10℃～50℃

相對(dui)濕度：    <90%

外形尺寸：460×360×350mm

儀器重量：28kg

六(liu)、測量方式及(ji)原理

按被測(ce)試(shi)品是否接(jie)(jie)地分兩種(zhong)測(ce)量(liang)方式，即正(zheng)接(jie)(jie)線測(ce)量(liang)方式和反接(jie)(jie)線測(ce)量(liang)方式。兩種(zhong)測(ce)量(liang)方式的原理如(ru)圖(tu)一所示：

在高壓(ya)電(dian)源的(de)10kV側，高壓(ya)分兩路，一路給機內標準電(dian)容(rong)(rong)CN，此電(dian)容(rong)(rong)介損非常小，可(ke)以認為(wei)(wei)介損為(wei)(wei)零，即為(wei)(wei)純(chun)容(rong)(rong)性(xing)電(dian)流，此電(dian)流ICN 可(ke)做(zuo)為(wei)(wei)容(rong)(rong)性(xing)電(dian)流基準。在Cx試品一側，試品電(dian)流Icx通過采樣電(dian)阻R采入機內，此Icx可(ke)分解成水(shui)(shui)平(ping)分量和垂(chui)(chui)直分量見圖二(er)所示，通過計(ji)算水(shui)(shui)平(ping)分量與垂(chui)(chui)直分量的(de)比值即可(ke)得(de)到tgδ值。

在(zai)圖一（a）中(zhong)Cx為(wei)非接地(di)試(shi)品，試(shi)品電流(liu)(liu)Icx從試(shi)品末(mo)端(duan)進入采樣電阻(zu)R，得(de)到全電流(liu)(liu)值，在(zai)圖一（b）中(zhong)Cx為(wei)接地(di)試(shi)品，機(ji)內Cx端(duan)直(zhi)接接地(di)，電流(liu)(liu)Icx從試(shi)品高壓端(duan)到機(ji)內采樣電阻(zu)取(qu)得(de)全電流(liu)(liu)值。

七、常(chang)見設備的接線方法(fa)

1．儀器(qi)引(yin)出端(duan)子(zi)說明：

HV ——  儀(yi)器的測量引線高壓端（帶危險電壓） 。

CX ——  正接線時(shi)試(shi)品(pin)電流輸入端。

——  儀器的(de)接(jie)地端(duan)，使用時(shi)與大(da)地可靠相接(jie)

2.參考接線

2.1正接線、內(nei)標準電容、內(nei)高壓（常規正接線）：

2.2反接(jie)線、內標(biao)準電容、內高(gao)壓（常規(gui)反接(jie)線）

2.3正(zheng)接線、外(wai)標準(zhun)電容、內(nei)高壓：

2.4反接線、外標準電容、內高壓(ya)：

2.5正接線、內(nei)標(biao)準電容、外高壓：

2.6反接線、內標準電(dian)容、外高壓：

2.7正接線、外標準電(dian)容、外高壓(ya)（高電(dian)壓(ya)介(jie)損）：

2.8反接線、外(wai)標準電容、外(wai)高壓：

2.9  CVT自(zi)激法(fa)測(ce)量：

CVT自(zi)激(ji)法可按下圖接(jie)(jie)線(xian)。如果C1是(shi)單節(jie)電容，母線(xian)不能接(jie)(jie)地；如果C1是(shi)多節(jie)電容，母線(xian)可接(jie)(jie)地，C11和(he)C12可用常規正(zheng)反接(jie)(jie)線(xian)測量，C13和(he)C2用自(zi)激(ji)法測量。

CVT自(zi)激(ji)法測(ce)量中，儀器先(xian)測(ce)量C1，然后自(zi)動倒線測(ce)量C2，并(bing)自(zi)動校準(zhun)分壓影響。

應注意，高(gao)壓(ya)線應懸(xuan)空不能(neng)接(jie)觸(chu)地面(mian)，否則其對地附加介損會引起誤差，可用細電纜連(lian)接(jie)高(gao)壓(ya)插座(zuo)與CVT試品并吊起。強烈(lie)建議(yi)使用(yong)高壓插座使用(yong)的(de)高壓線用(yong)黑(hei)色(se)Cx線。

2.10 CVT變比測(ce)試(shi)

儀器高壓線的芯線紅夾子接CVT的上端，母線(xian)拆(chai)地。CVT下端接(jie)地，低(di)壓線紅黑夾子(zi)接(jie)二次繞(rao)組，注意:如果測(ce)試角度(du)接(jie)近180度，應將紅黑夾子顛倒。

3.附加功能

3.1光標在(zai) 電壓：10kV上面時候，按“確認(ren)”鍵在(zai)儀(yi)器屏幕(mu)的左下角(jiao)會出現圖標(biao)(biao)，代(dai)表測(ce)試結束(shu)(shu)自動(dong)打(da)印。如果再按確認鍵，圖標(biao)(biao)消失，代(dai)表測(ce)試結束(shu)(shu)必須(xu)手(shou)動(dong)才能打(da)印。

3.2光(guang)標在 反接 上面時(shi)候，在反接線，內Cn，內Un，情況下，按確認鍵(jian)在儀(yi)器屏幕右下角會出現圖標，代表(biao)反接(jie)(jie)線低(di)壓屏(ping)蔽(bi)測(ce)試。如果再按確認(ren)鍵，圖標消(xiao)失，代表(biao)取消(xiao)反接(jie)(jie)線低(di)壓屏(ping)蔽(bi)。

反接(jie)線低壓屏蔽功能，一次接(jie)線可同時測出(chu)C1和C2的(de)電容(rong)量(liang)和介損

在反接線(xian)、內標(biao)準和(he)內高(gao)壓方式，光標(biao)移到“反接”處，按“確認”右下(xia)角顯示“M”。

打開(kai)反(fan)接(jie)線低壓屏(ping)蔽，可在(zai)上(shang)端(duan)電容C1不(bu)拆(chai)(chai)母線的情況下，對(dui)其進行不(bu)拆(chai)(chai)線10kV反(fan)接(jie)線介損測量(liang)。如(ru)下圖所示：母線掛地線，C1上(shang)端(duan)不(bu)拆(chai)(chai)線，C1下端(duan)接(jie)高壓線芯線，C2末(mo)端(duan)接(jie)Cx芯線。儀器(qi)采用反(fan)接(jie)線/10kV/M測量(liang)方式，可同(tong)時(shi)測出C11和下端(duan)屏(ping)蔽部分的電容量(liang)和介損值(zhi)。

3.3光標在 正接(jie) 上面(mian)時候(hou)，按確認鍵則測試打印機，換紙(zhi)。

3.4光標在(zai) 啟動 上面時候，按減小(xiao)鍵則代表取出存儲的(de)數(shu)據(ju)。

3.5測試完畢，如果按減小鍵，則(ze)代表(biao)存儲(chu)測試的數(shu)據(ju)

八、功(gong)能簡介

儀器面板見圖九(jiu)所示：

打印(yin)機(ji)——打印(yin)測量數據(ju)。

顯示(shi)器——128×64點(dian)陣液晶(jing)顯示(shi)(shi)器，顯示(shi)(shi)菜單(dan)和各種提示(shi)(shi)信息及測量結果。

  鍵——選擇(ze)菜單項，被選中(zhong)項反白字體顯(xian)示(shi)。

▲  鍵——修改菜(cai)單(dan)內(nei)容，采用循環滾動方式(shi)。

▼ 鍵——修改菜單內(nei)容(rong)，采用循環滾動方式(shi)。

確(que)認鍵(jian)——在“測試”選項(xiang)上按此鍵(jian)進入(ru)測試狀態。

電源開(kai)關(guan)——整機電源的開(kai)啟和關(guan)閉(bi)。

電源(yuan)座——交流220V±10%，50±1Hz電(dian)源輸(shu)入口，帶(dai)保險倉(cang)。

9．自激法電流輸出(chu)端——測量CVT的(de)專用端子。

10．地——為(wei)接(jie)地線(xian)(xian)接(jie)線(xian)(xian)端子。

11．CX插(cha)座(zuo)——是(shi)試品信號的測量輸入端(duan)，正(zheng)接線時由(you)專(zhuan)用低壓電纜(lan)連接，此電纜(lan)單層屏蔽帶特(te)制鱷魚夾，長8m，接試品低端。反接線(xian)時此端空置。

12．CN插(cha)座——是外標(biao)準電(dian)容信號的測量輸入端，使(shi)用(yong)內標(biao)準時此(ci)端空(kong)置。

13．HV插座——高(gao)壓引(yin)出端子，由高(gao)壓電纜連(lian)接，接試品高(gao)壓端。輸(shu)出10kv高壓。

14．RS-232接口，用來連接電(dian)腦，上傳(chuan)數據。

九、儀器操作步驟

1．測量(liang)前準(zhun)備：

1）用接地(di)線一端接儀器(qi)的接地(di)柱，另一端接可靠(kao)的大地(di)，保證儀器(qi)外(wai)殼處在(zai)地(di)電位上。

2）正接線時：將高(gao)壓電纜插頭插入后門HV插座中(zhong)，將另一端(duan)的紅色(se)大鉗子(zi)夾到(dao)被測試品的**引線(xian)上(shang)，黑色(se)小(xiao)鉗子(zi)懸空或夾在(zai)紅色(se)大鉗子(zi)上(shang)。將CX低壓電纜插入CX插(cha)座中，另(ling)一端的紅色夾(jia)(jia)子(zi)夾(jia)(jia)試品的低端，黑色夾(jia)(jia)子(zi)懸空或接(jie)屏蔽裝置。

3）反接(jie)線時：將高(gao)壓電纜插頭(tou)插入后門HV插座中，將另一端的(de)紅(hong)色大鉗(qian)子夾到被測試品的(de)**引線上，紅(hong)色小鉗(qian)子懸空或接屏蔽裝置。Cx插座不(bu)用。

2．打開電源開關，儀器(qi)進行自(zi)檢(jian)(jian)，若自(zi)檢(jian)(jian)良好，液(ye)晶屏顯示中文主菜(cai)單如

圖十所(suo)示(shi)。

3．菜單選擇：

按鍵可移動(dong)光標至各(ge)菜單項，并循環指示。被選中項反白(bai)字體(ti)顯(xian)示。選擇鍵的流程(cheng)見圖十一所示。

在(zai)光標當前所示(shi)項目，按▼ ▲鍵鍵可進行該項菜單(dan)的變更，并循環指(zhi)示(shi)，流程見圖十二(er)所示(shi)。

將菜單變更至與測試要求相對應后即可按選擇鍵進(jin)行(xing)下個項目的選擇。

4、 頻(pin)率：光標在頻(pin)率上(shang)，按↑↓鍵選擇定頻(pin)和(he)變頻(pin)：

光標(biao)在(zai)定(ding)頻(pin)上：按住“啟停”鍵1s以上切(qie)換到全頻率選擇，按↑↓鍵循環顯示45Hz / 47.5Hz / 50Hz / 52.5Hz / 55Hz / 60Hz / 65Hz

工頻50Hz測量，此設置不能抗(kang)干擾，在試(shi)驗室(shi)內測量或校驗時選用50Hz，“45/47.5/55/52.5/60/65Hz”：為單頻(pin)率測量，研究不同(tong)頻(pin)率下介損的變化時選用(yong)。

光標在變頻(pin)上：按(an)住“啟停”鍵1s以上切換(huan)到全頻(pin)率(lv)選(xuan)擇，按↑↓鍵循環顯示(shi)5-Hz / 6-Hz / 4-Hz”：

“5-Hz”：為45/55Hz自動變頻，適合50Hz電網工(gong)頻干擾(rao)下(xia)測量。

“6-Hz”：為55/65Hz自(zi)動變頻，適合60Hz電網工頻干擾下(xia)測量。

“4-Hz”：為47.5/52.5Hz自(zi)動變頻，適合50Hz電(dian)網工(gong)頻干擾下(xia)測量。

5、測試：當光標(biao)在 測試 項目上(shang)時，按確(que)認鍵大(da)約3秒鐘開始測試。測試過程中顯示(shi)的(de)畫面(mian)如圖十三（正接(jie)線，變(bian)頻）所示(shi)，當下面(mian)的(de)進程到100%時候測(ce)(ce)試完畢，然(ran)后顯(xian)示測(ce)(ce)量結果(guo)見圖十四所示，此時光標指示打印機(ji)圖標，按確認鍵打印報告。測(ce)(ce)量結果(guo)的意義如下：

tgδ： 試品的損(sun)耗因數tgδ值

CX： 測(ce)量(liang)的電容值

V：施(shi)加電(dian)壓值

I：試品流過的電(dian)流

F1,F2 : 試驗頻率(lv)

打印結束后，關(guan)閉電源開(kai)關(guan)，測試完畢。

十、現場試驗注意事項

如果(guo)使用中出(chu)現測試(shi)數據明(ming)顯(xian)不合理，請從以下(xia)方面查找(zhao)原因：

1、搭鉤接觸**

現場測量使用搭鉤連接試(shi)品(pin)時，搭鉤務必與(yu)試(shi)品(pin)接觸(chu)良好，否則接觸(chu)點放電(dian)會引(yin)起數據嚴(yan)重波動！尤其是引(yin)流(liu)線(xian)氧化層太(tai)厚，或風吹線(xian)擺動，易造成接觸(chu)**。

2、接地(di)接觸**

接(jie)地(di)**會引起儀器保(bao)護或數據(ju)嚴重波動。應刮凈接(jie)地(di)點上的油漆和銹蝕(shi)，務必保(bao)證0電阻(zu)接(jie)地！

3、直接測量CVT或末(mo)端屏蔽法測(ce)量電(dian)磁式PT

直接測(ce)量CVT的下(xia)節耦合電容會出(chu)現(xian)負介損(sun)，應改用自激法。

用(yong)末端屏蔽法測(ce)量電磁(ci)式PT時，由于受潮引起“T形網絡干擾(rao)”出現負(fu)介損(sun)，吹干下面三裙(qun)瓷(ci)套和接(jie)線端(duan)(duan)子盤(pan)即可(ke)。也可(ke)改用常規法或末端(duan)(duan)加壓法測量。

4、空(kong)氣濕度過大

空氣(qi)濕度(du)大(da)(da)使介損測量值異常增大(da)(da)（或減小甚至為(wei)負）且不穩定，必(bi)要(yao)時可(ke)加(jia)屏蔽(bi)環(huan)。因(yin)人為(wei)加(jia)屏蔽(bi)環(huan)改變了試品電場分(fen)布，此(ci)法有(you)爭議，可(ke)參照(zhao)有(you)關規程。

5、發電機供電

發(fa)電機(ji)供電時輸入頻(pin)(pin)率不穩定(ding)，可采(cai)用定(ding)頻(pin)(pin)50Hz模式工作。

6、測試線

由于長期(qi)使用(yong)，易造成測試線隱性斷路(lu)，或芯線和(he)屏蔽短(duan)路(lu)，或插(cha)頭接觸(chu)**，用(yong)戶應(ying)經常維護測試線；

測(ce)試標準電(dian)容試品時，應使用全(quan)屏蔽(bi)插(cha)頭連(lian)接，以消除附加雜散(san)電(dian)容影(ying)響，否則不(bu)能反映(ying)出儀器精度；

自激(ji)法測量(liang)CVT時(shi)，非(fei)專用的(de)高壓線應(ying)吊起(qi)懸(xuan)空，否則對地附加雜散電容和介損會引起(qi)測量(liang)誤差。

7、工作模式選擇

接好線后請選擇正確的測量工(gong)作模式（正、反和CVT），不可選錯。特別是干擾環境下應選用變頻(pin)抗干擾模式。

8、試(shi)驗方法(fa)影響

由于介(jie)損(sun)測量受試驗方法影響(xiang)較大，應區分(fen)是試驗方法誤差還是儀(yi)器(qi)誤差。出現問題(ti)時可(ke)首先檢(jian)(jian)查(cha)(cha)接線，然后(hou)檢(jian)(jian)查(cha)(cha)是否為(wei)儀(yi)器(qi)故(gu)障。

9、儀(yi)器故障(zhang)

用(yong)萬用(yong)表測量一下測試線(xian)是(shi)否斷(duan)路，或芯線(xian)和屏蔽是(shi)否短路；輸入電源220V過(guo)高或過(guo)低(di)；接地是否良(liang)好。

用正、反接線測一下標準電(dian)容器或已知容量和介損的電(dian)容試品，如果結果正確，即可(ke)判斷儀(yi)器沒有問(wen)題(ti)；

拔(ba)下(xia)所(suo)有測試(shi)導線，進(jin)行空(kong)試(shi)升壓，若不能正常工(gong)作，儀器可能有故障。

啟(qi)動CVT測量后測量低壓輸出(chu)(chu)，應出(chu)(chu)現2～5V電壓，否則儀(yi)器(qi)有(you)故障。

十(shi)一、 儀(yi)器檢定

1、用標準損耗(hao)器檢(jian)定

用帶插頭的屏蔽電纜連接標準損(sun)耗器。如果不(bu)能保證標準損(sun)耗器的精度(du)，應使用比對法檢定，建議(yi)用2801電橋或其(qi)它精密電橋作比(bi)對標準(zhun)。儀器(qi)應(ying)選用(yong)“內標準”和“RC串聯(lian)試品”，可選擇工頻(pin) 50Hz或(huo)定頻50Hz頻率模式。

2、用QSJ3檢定：使用(yong)帶插(cha)頭的屏蔽電(dian)纜連接QSJ3，選擇“正接/ 外Cn / 外(wai)Un式測量，電(dian)流比為Cx∶Cn，Cn可置入(ru)適當(dang)值。

3、抗干擾能力

設置一個回路向儀器注入(ru)定量的干擾電流。

注意(yi)：

1）應考慮到(dao)該回路可能(neng)成(cheng)為(wei)試品的一部分。

2）儀(yi)器(qi)啟(qi)動后會(hui)使(shi)220V供電(dian)電(dian)路(lu)帶有測量頻率分(fen)量，如(ru)果該頻率分(fen)量又通過干(gan)擾(rao)(rao)電(dian)流進入儀(yi)器，則無法(fa)檢驗儀(yi)器的抗干(gan)擾(rao)(rao)能力。

3）不建(jian)議用臨近高壓導體施加干擾，因為這樣很容易(yi)產生近距離**放(fang)(fang)電，這種(zhong)放(fang)(fang)電電阻是非線(xian)性的，容易(yi)產生同頻干擾。

十(shi)二(er)、變(bian)頻測量討論

1、變頻測(ce)量

干(gan)擾十(shi)分嚴(yan)重時，變頻測量能得(de)到準確可靠的結果。例如用55Hz測量時，測量系統只允許55Hz信號通過，50Hz干擾信號被有效抑制，原(yuan)因在于測量(liang)系統很容易區(qu)別(bie)不同頻率(lv)，由下述簡單計(ji)算可以說(shuo)明選頻測量(liang)的效果：

兩個頻率相差1倍的(de)正弦(xian)波疊加到一(yi)起，高(gao)頻的(de)是干(gan)擾，幅(fu)度為低頻的(de)10倍：

這剛好(hao)是低頻部分的(de)相(xiang)位(wei)和幅度，干(gan)擾被抑制。實際(ji)波形的(de)測量(liang)點多達數萬，計(ji)算量(liang)很大(da)，結(jie)果反映了(le)波形的(de)整體特征。

2、頻(pin)率和(he)介損的關系

介損有RC串聯和并聯兩種理想模型：串聯模型tgδ=2πfRC，并聯模型tgδ=1/(2πfRC)，tgδ分別(bie)隨頻率f成正比(bi)和反比(bi)。如圖所示，f對完全正比和完全反比兩種模型(xing)影響較大。但實際電容(rong)器是多種模型(xing)交織(zhi)的混(hun)合模型(xing)，此時f的(de)影(ying)響就小。

3、自動變頻與50Hz等效

儀器采用自(zi)動(dong)變頻在(zai)干擾頻率50Hz兩(liang)側(ce)（45Hz和55Hz）各測(ce)一個點(dian)，然后推算50Hz頻率下數據。除(chu)多個元件電(dian)路(lu)的低頻諧振(zhen)外，單個試品中的介(jie)質不可(ke)(ke)能在低頻引(yin)起能量吸收峰，工頻附近介(jie)損總是(shi)隨頻率單調變(bian)化的。因(yin)此這種測(ce)量方(fang)法不會帶(dai)來明顯誤差(cha)。實際上，平(ping)均(jun)前的兩(liang)個介(jie)損值已十分接近，即(ji)使不平(ping)均(jun)也(ye)完全(quan)有參考價值。目前，變(bian)頻介(jie)損儀已成為介(jie)損測(ce)量的常規(gui)儀器，其優異的抗干擾能力和(he)準確(que)度已經得到認可(ke)(ke)。

十三、儀器(qi)的(de)裝箱(xiang)清單