一、WBJS8000G超高壓變頻介(jie)質損(sun)耗(hao)測試(shi)儀概述

介損測量是絕緣試驗中很基本的(de)方法(fa)，可以(yi)有(you)效地發(fa)現電(dian)(dian)器設備絕緣的(de)整(zheng)體受潮劣化變質(zhi)，以(yi)及(ji)局部缺陷等。在電(dian)(dian)工(gong)制造、電(dian)(dian)氣設備安裝、交接和預防性試驗中都(dou)廣(guang)泛應用(yong)。變壓器、互感器、電(dian)(dian)抗器、電(dian)(dian)容器以(yi)及(ji)套管(guan)、避(bi)雷器等介損的(de)測量是衡量其絕緣性能的(de)*基本方法(fa)。LYJS9000F變頻介質損耗測試儀突(tu)破了傳(chuan)統(tong)的(de)電(dian)橋(qiao)測量方式，采用(yong)變頻電(dian)源技術，利用(yong)單片機、和現代化電(dian)子技術進行自動(dong)頻率變換、模/數(shu)轉(zhuan)換和數(shu)據運(yun)算(suan)；達(da)到抗干擾能力強、測試(shi)速度(du)快、精度(du)高、全自動數(shu)字化、操(cao)作簡便；電源(yuan)采(cai)用大(da)功(gong)率(lv)開關電源(yuan)，輸出45Hz和55Hz純正(zheng)弦波(bo)，自動加壓(ya)，可提(ti)供*高10千伏的電壓；自動(dong)濾除50Hz干擾(rao)，適用于變(bian)電(dian)站等電(dian)磁干擾(rao)大的(de)(de)現場測(ce)試。廣泛適用于電(dian)力(li)行業中變(bian)壓器(qi)(qi)、互(hu)感器(qi)(qi)、套管、電(dian)容器(qi)(qi)、避雷器(qi)(qi)等設備的(de)(de)介損(sun)測(ce)量。

二、WBJS8000G超高壓變(bian)頻(pin)介質(zhi)損耗測試儀**措(cuo)施

1、使用(yong)本儀器前(qian)一定要認真(zhen)閱讀本手(shou)冊。

2、儀器(qi)的(de)操作者應具(ju)備(bei)一般電氣設備(bei)或儀器(qi)的(de)使用常識。

3、本儀器戶(hu)內外均可使用，但(dan)應(ying)避開(kai)雨(yu)淋、腐蝕氣(qi)體、塵埃過濃、高溫、陽光直射等場(chang)所(suo)使用。

儀表(biao)應避免劇烈(lie)振動。

5、對儀器的維修、護理和調(diao)整(zheng)應由(you)專業人(ren)員進行(xing)。

6、在任何(he)接(jie)線之前必須用(yong)接(jie)地(di)(di)(di)電纜把儀器(qi)接(jie)地(di)(di)(di)端子與大地(di)(di)(di)可靠(kao)連接(jie)起(qi)來。

7、由(you)于測(ce)(ce)試(shi)(shi)設備產(chan)生高(gao)電壓(ya)(ya)(ya)，所以測(ce)(ce)試(shi)(shi)人員(yuan)必須完(wan)全(quan)嚴格遵守**操作規程，防止他人接觸高(gao)壓(ya)(ya)(ya)部件和(he)電路(lu)。直接從事(shi)測(ce)(ce)試(shi)(shi)的人員(yuan)必須完(wan)全(quan)了解高(gao)壓(ya)(ya)(ya)測(ce)(ce)試(shi)(shi)線(xian)路(lu)，及(ji)儀器操作要點。非從事(shi)測(ce)(ce)試(shi)(shi)人員(yuan)必須遠離高(gao)壓(ya)(ya)(ya)測(ce)(ce)試(shi)(shi)區(qu)，測(ce)(ce)試(shi)(shi)區(qu)必須用柵欄或繩索、警視牌等清楚表(biao)示出來(lai)。

8、儀器(qi)的(de)調整(zheng)維(wei)修和維(wei)護，必須在不加電情況下(xia)進(jin)行，如果(guo)必須加電，則(ze)操作(zuo)者必須非常熟悉本(ben)儀器(qi)高壓危險(xian)部件。

9、保(bao)(bao)險(xian)(xian)管損壞時，必(bi)須確(que)保(bao)(bao)更換(huan)同(tong)樣的保(bao)(bao)險(xian)(xian)，禁止更換(huan)不同(tong)型號保(bao)(bao)險(xian)(xian)或將保(bao)(bao)險(xian)(xian)直(zhi)接(jie)短路使用。

儀器出現(xian)故障(zhang)時，關閉電源開關，等待一分(fen)鐘之后再檢查。

三、WBJS8000G超高壓變頻介質損耗測(ce)試儀可測試參數

儀器可測(ce)量下(xia)列(lie)參數(shu)并數(shu)字顯示：

被測試品的電容量值(zhi)CX，以pF或nF為(wei)單位(wei)，1nF=1000pF。

被測試品(pin)的(de)介質損(sun)耗值tgδ，以%顯示。

四、WBJS8000G超高壓變頻介質損耗測(ce)試儀(yi)性能(neng)特點

1、儀器(qi)采(cai)用復數電流法，測(ce)(ce)量電容、介質(zhi)損(sun)耗(hao)及其它參數。測(ce)(ce)試結果精(jing)度(du)高，便于(yu)實現自(zi)動化測(ce)(ce)量。

2、儀器采(cai)用了變頻技術(shu)來消除現場50Hz工頻干擾，即使(shi)在強(qiang)電(dian)磁干擾的(de)(de)環境下也能測(ce)得(de)可靠的(de)(de)數(shu)據。

3、儀器采(cai)用(yong)大屏(ping)幕液晶(jing)顯示器，測試過程通過漢(han)字菜單提示既(ji)直觀(guan)又便(bian)于操作。

4、儀器(qi)操作簡便，測量過程由微(wei)處理器(qi)控制(zhi)，只要選(xuan)擇好合適的測量方式，數據的測量就可在微(wei)處理器(qi)控制(zhi)下自動(dong)完成。

5、一體化機型(xing)，內附(fu)標準(zhun)電容(rong)和高壓電源，便(bian)于現(xian)場(chang)測試，減(jian)少現(xian)場(chang)接線。

6、儀器測(ce)(ce)量準確度高，可(ke)滿(man)足油(you)介(jie)損(sun)測(ce)(ce)量要(yao)求，因(yin)此只(zhi)需配(pei)備標準油(you)杯，和專用(yong)測(ce)(ce)試線即可(ke)實(shi)現(xian)油(you)介(jie)損(sun)測(ce)(ce)量。

7、設CVT測試功能，可實現CVT的(de)自激法測試，無需外置附件，只需一次測量，C1,C2的(de)電(dian)容和介損全部測出。

8、反接線測試采用ivddv技術,消除了以往反接線數據不穩定的現象。

9、具有(you)反(fan)接線低(di)壓屏蔽功能，在(zai)220kV CVT 母線接地情況下，對C11 可進行不拆線10kV 反接線介損測量

10、具有測(ce)量(liang)高(gao)電壓介(jie)損功能，能夠(gou)使用高(gao)壓變壓器或(huo)串(chuan)聯諧振(zhen)進(jin)行超過(guo)10kV電壓的介損試驗。

12、接地保(bao)護功(gong)能，當儀器(qi)不(bu)(bu)接地線(xian)或(huo)接地**時(shi)，儀器(qi)不(bu)(bu)進入正常程(cheng)序，不(bu)(bu)輸(shu)出高壓(ya)。過流保(bao)護功(gong)能，在(zai)試品短路或(huo)擊穿時(shi)儀器(qi)不(bu)(bu)受損(sun)壞(huai)。

13、觸電(dian)保護功能，當(dang)儀器操作人員不小心觸電(dian)時候，儀器會立即切斷高壓，保障試驗人員的**.

五、WBJS8000G超(chao)高(gao)壓變頻介(jie)質損(sun)耗測(ce)試儀技術指(zhi)標

準確度：

Cx: ±（讀數×1%+1pF）

tgδ:  ±（讀數×1%+0.00040）

抗(kang)干擾指標：  變頻(pin)抗(kang)干(gan)擾，在(zai)200%干擾(rao)下(xia)仍(reng)能(neng)達到上述準確度

電(dian)容量范(fan)圍：  內(nei)施(shi)高壓：    3pF～60000pF/10kV    60pF～1μF/0.5kV

外施高(gao)壓：    3pF～1.5μF/10kV         60pF～30μF/0.5kV

分辨(bian)率：      *高(gao)0.001pF，4位有效數字(zi)

tgδ范(fan)圍：     不限，分辨率0.001%，電容、電感、電阻三(san)種試品自動識別。

試驗電流(liu)范圍：10μA～1A

內施高壓：    設(she)定電壓(ya)范圍：0.5～10kV

*大輸出電流：200mA

升降(jiang)壓方式：連續平滑調節

試驗(yan)頻率(lv)： 45、50、55、60、65Hz單(dan)頻(pin)

45/55Hz、55/65Hz、47.5/52.5Hz自動雙變頻

頻率精度：±0.01Hz

外(wai)施高壓：正接線時*大試驗電流(liu)1A，工頻或變(bian)頻40-70Hz

反接線時*大試驗(yan)電流(liu)10kV/1A，工頻(pin)或變頻(pin)40-70Hz

CVT自激法低壓輸出：輸出電壓3～50V，輸(shu)出(chu)電流3～30A

CVT變比測量：

變(bian)比測(ce)量精度：±讀數×1%     變比測量范圍：10～99999

相位(wei)測量精(jing)度：±0.1°  ;         相位測量(liang)范(fan)圍：0～359.9°

測量時(shi)間：    約40s，與(yu)測量方式有關

輸入電源(yuan)：    180V～270VAC，50Hz±1%，市電(dian)或發電(dian)機供電(dian)

計(ji)算機接口(kou)：  標(biao)準(zhun)RS232接口

打印機：    ;     煒煌A7熱敏微(wei)型打印(yin)機

環境(jing)溫(wen)度(du)：    -10℃～50℃

相對濕度：    <90%

外形尺寸(cun)：460×360×350mm

儀器重量：28kg

六、測量方(fang)式(shi)及(ji)原理

按被測(ce)(ce)(ce)試品是否接地分(fen)兩種測(ce)(ce)(ce)量方式(shi)，即正(zheng)接線測(ce)(ce)(ce)量方式(shi)和(he)反(fan)接線測(ce)(ce)(ce)量方式(shi)。兩種測(ce)(ce)(ce)量方式(shi)的(de)原理如(ru)圖一(yi)所(suo)示：

在高壓電(dian)(dian)源的10kV側(ce)，高壓分兩路(lu)，一路(lu)給機內(nei)(nei)標(biao)準(zhun)電(dian)(dian)容CN，此電(dian)(dian)容介(jie)損非常(chang)小(xiao)，可以認為介(jie)損為零(ling)，即為純容性(xing)(xing)電(dian)(dian)流(liu)(liu)，此電(dian)(dian)流(liu)(liu)ICN 可做為容性(xing)(xing)電(dian)(dian)流(liu)(liu)基準(zhun)。在Cx試品一側(ce)，試品電(dian)(dian)流(liu)(liu)Icx通(tong)過采(cai)樣電(dian)(dian)阻R采(cai)入機內(nei)(nei)，此Icx可分解成(cheng)水平(ping)分量(liang)和垂直分量(liang)見圖二所示，通(tong)過計算水平(ping)分量(liang)與垂直分量(liang)的比(bi)值即可得到tgδ值。

在圖一(yi)（a）中Cx為(wei)非(fei)接(jie)地試(shi)(shi)品，試(shi)(shi)品電(dian)流Icx從試(shi)(shi)品末端(duan)進(jin)入采(cai)樣電(dian)阻(zu)R，得到(dao)全(quan)電(dian)流值(zhi)，在圖一(yi)（b）中Cx為(wei)接(jie)地試(shi)(shi)品，機內Cx端(duan)直(zhi)接(jie)接(jie)地，電(dian)流Icx從試(shi)(shi)品高(gao)壓端(duan)到(dao)機內采(cai)樣電(dian)阻(zu)取得全(quan)電(dian)流值(zhi)。

七(qi)、常(chang)見設備的接線方法

1．儀器引出端子說明：

HV ——  儀(yi)器的測量引線高壓端(duan)（帶危險電壓） 。

CX ——  正接線(xian)時試品(pin)電流輸(shu)入端。

——  儀器的(de)接(jie)地端(duan)，使用(yong)時與大(da)地可靠相接(jie)

2.參考接線

2.1正接(jie)線(xian)(xian)、內(nei)標準電容、內(nei)高壓（常規正接(jie)線(xian)(xian)）：

2.2反(fan)接(jie)線、內(nei)標準電容、內(nei)高(gao)壓（常規(gui)反(fan)接(jie)線）

2.3正接線、外標準(zhun)電容、內高壓：

2.4反接線(xian)、外標(biao)準(zhun)電容、內高壓：

2.5正接線、內標(biao)準電容、外高壓：

2.6反接線(xian)、內標(biao)準電容、外高壓：

2.7正接線、外(wai)標準電容、外(wai)高(gao)壓（高(gao)電壓介損）：

2.8反接線、外標準電容、外高壓：

2.9  CVT自(zi)激法測量(liang)：

CVT自(zi)激法(fa)可(ke)按下圖接(jie)線。如(ru)(ru)果(guo)C1是單節(jie)電(dian)容，母線不(bu)能接(jie)地；如(ru)(ru)果(guo)C1是多節(jie)電(dian)容，母線可(ke)接(jie)地，C11和C12可(ke)用(yong)(yong)常規正(zheng)反接(jie)線測(ce)(ce)量，C13和C2用(yong)(yong)自(zi)激法(fa)測(ce)(ce)量。

CVT自(zi)(zi)激法(fa)測量(liang)中，儀器先測量(liang)C1，然后自(zi)(zi)動倒線測量(liang)C2，并自(zi)(zi)動校(xiao)準分壓影響。

應注意，高壓(ya)線應懸空不能(neng)接觸地(di)面，否則其對地(di)附加介損會(hui)引起誤差(cha)，可用細電纜連接高壓(ya)插座與CVT試品并吊起。強烈建議(yi)使用(yong)高壓插座(zuo)使用(yong)的(de)高壓線用(yong)黑色Cx線。

2.10 CVT變比測(ce)試

儀器高壓線(xian)的芯線(xian)紅夾(jia)子接CVT的(de)上端(duan)，母線(xian)拆地。CVT下端接地，低壓(ya)線紅黑夾子接二次繞組，注意:如果測試角度接(jie)近(jin)180度(du)，應將紅黑夾子顛倒。

3.附(fu)加功能(neng)

3.1光(guang)標在 電壓(ya)：10kV上面時候，按“確認(ren)”鍵(jian)在儀器屏(ping)幕的左下角會出(chu)現(xian)圖標，代(dai)表測試結(jie)束(shu)自動打印(yin)。如果(guo)再(zai)按確認鍵，圖標消失，代(dai)表測試結(jie)束(shu)必須手動才能(neng)打印(yin)。

3.2光標在(zai)(zai) 反接 上面(mian)時候，在(zai)(zai)反接線，內(nei)Cn，內Un，情況下，按確認(ren)鍵(jian)在(zai)儀器屏(ping)幕右下角會(hui)出現圖標，代表(biao)反接線(xian)(xian)低壓屏蔽測(ce)試(shi)。如果再按確認(ren)鍵，圖標消失，代表(biao)取消反接線(xian)(xian)低壓屏蔽。

反接線低壓屏蔽功能，一次接線可同時測出C1和C2的電容量和(he)介損

在反(fan)接線(xian)、內標準和內高壓方式，光標移到“反(fan)接”處，按(an)“確認”右下(xia)角顯示“M”。

打(da)開(kai)反接線(xian)(xian)低壓(ya)屏蔽，可(ke)在(zai)上端(duan)(duan)電容(rong)C1不(bu)拆母線(xian)(xian)的情況下，對其(qi)進(jin)行不(bu)拆線(xian)(xian)10kV反接線(xian)(xian)介損(sun)測量(liang)(liang)。如下圖(tu)所示：母線(xian)(xian)掛地(di)線(xian)(xian)，C1上端(duan)(duan)不(bu)拆線(xian)(xian)，C1下端(duan)(duan)接高壓(ya)線(xian)(xian)芯(xin)線(xian)(xian)，C2末端(duan)(duan)接Cx芯(xin)線(xian)(xian)。儀器采(cai)用反接線(xian)(xian)/10kV/M測量(liang)(liang)方式(shi)，可(ke)同(tong)時測出C11和下端(duan)(duan)屏蔽部分的電容(rong)量(liang)(liang)和介損(sun)值。

3.3光標(biao)在(zai) 正接(jie) 上面(mian)時候，按(an)確(que)認鍵(jian)則測(ce)試(shi)打印機，換紙。

3.4光標在(zai) 啟動(dong) 上(shang)面時候，按減(jian)小鍵則(ze)代表取出存儲(chu)的數據。

3.5測試完畢，如果按減(jian)小鍵(jian)，則代(dai)表存儲測試的數據

八(ba)、功能簡(jian)介

儀器面板見圖(tu)九所示：

打印機——打印測量數據。

顯(xian)示(shi)器——128×64點陣(zhen)液晶(jing)顯(xian)示器，顯(xian)示菜單和各種提示信息及測量結果。

  鍵——選擇菜(cai)單(dan)項，被(bei)選中項反白(bai)字體顯示。

▲  鍵——修(xiu)改菜單內容，采(cai)用循環(huan)滾動方式。

▼ 鍵——修改菜單內容，采用循(xun)環滾動方式。

確認鍵——在“測試”選項上按此鍵進入測試狀態。

電源開關——整機電源的開啟和關閉(bi)。

電源座——交流(liu)220V±10%，50±1Hz電源輸入口，帶保(bao)險倉。

9．自激法電(dian)流輸出(chu)端——測量CVT的(de)專(zhuan)用端子。

10．地——為(wei)接(jie)(jie)地線(xian)接(jie)(jie)線(xian)端子(zi)。

11．CX插座(zuo)——是試品(pin)信號的測量輸入端，正(zheng)接線時由(you)專用低壓電纜(lan)(lan)連接，此電纜(lan)(lan)單(dan)層屏蔽(bi)帶特制鱷(e)魚夾，長8m，接(jie)試品(pin)低端。反接(jie)線時此端空置。

12．CN插座——是外標準電容信號的測量(liang)輸入端，使用內標準時此(ci)端空置。

13．HV插(cha)座——高壓(ya)(ya)引(yin)出(chu)端子，由高壓(ya)(ya)電纜連接(jie)，接(jie)試品高壓(ya)(ya)端。輸出(chu)10kv高壓。

14．RS-232接口，用來(lai)連接電腦，上(shang)傳數據。

九、儀(yi)器操作步驟

1．測量前準備(bei)：

1）用接(jie)(jie)地線一(yi)端(duan)接(jie)(jie)儀(yi)器的接(jie)(jie)地柱，另一(yi)端(duan)接(jie)(jie)可靠的大地，保證儀(yi)器外殼處在地電位上。

2）正接線(xian)時：將高壓電纜插頭插入(ru)后門HV插(cha)座中，將另一端的紅(hong)色(se)(se)大(da)鉗子夾到被測試品的**引線(xian)上(shang)，黑色(se)(se)小(xiao)鉗子懸空或夾在紅(hong)色(se)(se)大(da)鉗子上(shang)。將CX低(di)壓(ya)電纜插入CX插座中，另一端的(de)紅色夾子夾試(shi)品的(de)低端，黑(hei)色夾子懸空(kong)或接屏蔽裝置(zhi)。

3）反接(jie)線時(shi)：將高壓(ya)電纜(lan)插頭插入后門(men)HV插座中，將另一端的(de)紅(hong)色(se)大鉗子夾到被(bei)測試品的(de)**引線上，紅(hong)色(se)小鉗子懸空或接屏蔽裝(zhuang)置。Cx插座不(bu)用。

2．打開電源開關，儀器進行自檢，若自檢良(liang)好，液晶屏顯示中文主菜單如

圖十所示。

3．菜單選擇(ze)：

按鍵可移動(dong)光(guang)標至各(ge)菜單項，并(bing)循環(huan)指示。被選中項反白字體顯示。選擇鍵的流程(cheng)見(jian)圖十一所示。

在(zai)光標當(dang)前所示(shi)(shi)項目(mu)，按▼ ▲鍵鍵可進行該項菜(cai)單的變(bian)更(geng)，并(bing)循環指(zhi)示(shi)(shi)，流程見圖十二所示(shi)(shi)。

將(jiang)菜單(dan)變(bian)更至與測試要(yao)求相對應(ying)后(hou)即可按選(xuan)擇鍵進行下個項目的選(xuan)擇。

4、 頻率：光(guang)標(biao)在頻率上，按(an)↑↓鍵(jian)選擇定頻和變(bian)頻：

光標在定頻上：按住“啟停”鍵1s以(yi)上切(qie)換到全頻率選擇，按↑↓鍵循(xun)環顯(xian)示45Hz / 47.5Hz / 50Hz / 52.5Hz / 55Hz / 60Hz / 65Hz

工頻50Hz測量，此設置不能抗(kang)干擾(rao)，在試驗室內測量或校(xiao)驗時選用50Hz，“45/47.5/55/52.5/60/65Hz”：為單頻率測(ce)量，研究不同頻率下(xia)介損的變(bian)化時選用。

光標在變頻上：按(an)住“啟(qi)停(ting)”鍵(jian)1s以上(shang)切換(huan)到全頻率選擇(ze)，按(an)↑↓鍵循環顯示5-Hz / 6-Hz / 4-Hz”：

“5-Hz”：為45/55Hz自動變頻，適合50Hz電網工頻干擾下測(ce)量。

“6-Hz”：為(wei)55/65Hz自動變(bian)頻，適合60Hz電網工頻(pin)干(gan)擾(rao)下(xia)測量。

“4-Hz”：為47.5/52.5Hz自動變頻，適合50Hz電網工頻(pin)干擾下測量。

5、測(ce)(ce)試(shi)：當(dang)光標在(zai) 測(ce)(ce)試(shi) 項目上時，按(an)確認鍵大約3秒(miao)鐘開始測試(shi)。測試(shi)過程(cheng)中顯示的(de)畫面如(ru)圖十三（正接線，變頻）所示，當下面的(de)進程(cheng)到100%時(shi)候(hou)測試完畢，然后顯示測量結果(guo)見圖十(shi)四所示，此時(shi)光(guang)標(biao)指(zhi)示打印機(ji)圖標(biao)，按確認鍵打印報告。測量結果(guo)的意(yi)義如下：

tgδ： 試品的損耗(hao)因數(shu)tgδ值(zhi)

CX： 測量的電容(rong)值

V：施加電壓值

I：試品流(liu)過的(de)電(dian)流(liu)

F1,F2 : 試驗頻率

打印結束(shu)后，關閉電源開關，測(ce)試完(wan)畢。

十、現場試驗注意(yi)事(shi)項

如果使用(yong)中出現測(ce)試數據明顯(xian)不合理(li)，請從(cong)以下方面查找(zhao)原因：

1、搭鉤接觸**

現場(chang)測(ce)量使用(yong)搭鉤(gou)連接試(shi)品時(shi)，搭鉤(gou)務必(bi)與試(shi)品接觸(chu)(chu)良好，否(fou)則接觸(chu)(chu)點放電(dian)會引(yin)起(qi)數據嚴重波動！尤其(qi)是引(yin)流線氧(yang)化層太厚(hou)，或風吹線擺(bai)動，易(yi)造成接觸(chu)(chu)**。

2、接(jie)地接(jie)觸**

接地**會引起儀器(qi)保護或數(shu)據嚴重波動(dong)。應刮凈(jing)接地點上的油(you)漆(qi)和銹(xiu)蝕，務必保證0電阻(zu)接地！

3、直(zhi)接測量CVT或末端屏蔽法測量電(dian)磁式PT

直(zhi)接測(ce)量CVT的下節耦(ou)合電容會出(chu)現負介(jie)損，應改(gai)用自激法。

用末端(duan)屏蔽法測量電磁式(shi)PT時，由于(yu)受潮引(yin)起“T形(xing)網絡干擾”出現負介損，吹干下(xia)面(mian)三裙瓷套和接線端子盤即(ji)可(ke)。也可(ke)改用常規法或(huo)末(mo)端加壓(ya)法測量。

4、空氣濕度過大

空氣濕(shi)度大(da)使介損測量(liang)值異常(chang)增大(da)（或減小(xiao)甚至(zhi)為負）且不穩定，必(bi)要時可(ke)加屏蔽環。因人為加屏蔽環改變了試品電場分布(bu)，此法有(you)爭議(yi)，可(ke)參照有(you)關規(gui)程(cheng)。

5、發電機供電

發電(dian)機供電(dian)時輸入(ru)頻率不穩定，可(ke)采用定頻50Hz模式工(gong)作。

6、測試線(xian)

由(you)于(yu)長期使用(yong)，易造成測試線(xian)隱(yin)性斷路(lu)(lu)，或芯線(xian)和屏蔽短路(lu)(lu)，或插頭接觸**，用(yong)戶應經常維護測試線(xian)；

測(ce)試標準電容試品(pin)時，應使用全屏蔽(bi)插頭連接，以消除附加雜散電容影響(xiang)，否(fou)則不能反映出儀器精度；

自激法測(ce)量CVT時，非專用的高壓線應吊(diao)起懸空，否則對地附加(jia)雜散電容和介損會引(yin)起測量(liang)誤差。

7、工作模(mo)式(shi)選擇

接好線后請選擇正(zheng)確的(de)測量工(gong)作模式(shi)（正(zheng)、反(fan)和(he)CVT），不可選(xuan)錯。特別是干擾(rao)環境(jing)下應選(xuan)用變頻抗干擾(rao)模式。

8、試驗方法影響

由于介(jie)損(sun)測量受試(shi)驗方法影(ying)響較大，應區分是試(shi)驗方法誤差(cha)還是儀器誤差(cha)。出現(xian)問題(ti)時可(ke)首先檢查接線，然后檢查是否為儀器故障。

9、儀(yi)器故障

用(yong)萬用(yong)表測量一下測試線是(shi)(shi)否斷路(lu)，或芯線和(he)屏(ping)蔽是(shi)(shi)否短路(lu)；輸入電源220V過高或過低；接地是否(fou)良好。

用正、反接線測一下標準電(dian)容(rong)器(qi)或已知容(rong)量和介損的(de)電(dian)容(rong)試(shi)品，如果結果正確，即可(ke)判斷(duan)儀(yi)器(qi)沒有問(wen)題；

拔下(xia)所有(you)測試導線(xian)，進(jin)行空試升壓，若不能正(zheng)常工作，儀器可能有(you)故障。

啟動CVT測(ce)量后測(ce)量低壓輸出，應出現2～5V電壓，否則(ze)儀器有故障。

十一、 儀(yi)器檢定(ding)

1、用(yong)標準損耗(hao)器檢定

用(yong)帶插頭的(de)(de)屏蔽電纜連接(jie)標準損(sun)耗器。如果(guo)不能保(bao)證標準損(sun)耗器的(de)(de)精度，應使用(yong)比對法檢定，建議(yi)用(yong)2801電(dian)橋(qiao)(qiao)或其它精密電(dian)橋(qiao)(qiao)作比對標(biao)準。儀(yi)器應選(xuan)用(yong)“內標準”和(he)“RC串聯試品”，可選(xuan)擇工(gong)頻 50Hz或定頻50Hz頻率模式。

2、用QSJ3檢定(ding)：使用帶插(cha)頭的(de)屏蔽(bi)電(dian)纜連(lian)接QSJ3，選擇“正(zheng)接/ 外Cn / 外Un式(shi)測量，電流比為Cx∶Cn，Cn可(ke)置入適(shi)當值。

3、抗干擾(rao)能(neng)力(li)

設置一個回路向儀器注入定量的干(gan)擾電流。

注意：

1）應(ying)考慮到該回路可能成為試品的一部分。

2）儀(yi)器啟(qi)動后會(hui)使220V供電(dian)(dian)電(dian)(dian)路帶有(you)測量(liang)頻(pin)率分量(liang)，如果該頻(pin)率分量(liang)又(you)通過干擾電(dian)(dian)流進(jin)入儀器(qi)，則無法檢驗儀器(qi)的抗干擾能力。

3）不建議用臨近高壓(ya)導體(ti)施加(jia)干擾，因為這樣很容易產生近距離**放電(dian)，這種放電(dian)電(dian)阻是(shi)非(fei)線性的(de)，容易產生同頻干擾。

十二、變頻測量討(tao)論

1、變頻測量

干(gan)擾十分嚴(yan)重(zhong)時，變頻測量能得到準確可靠的結果。例如(ru)用55Hz測量時，測量系統只允(yun)許55Hz信號通過，50Hz干擾信號被有效抑制，原(yuan)因(yin)在(zai)于測(ce)量系(xi)統很(hen)容(rong)易區別(bie)不同頻率，由下(xia)述簡(jian)單計算可以說明選頻測(ce)量的效果：

兩(liang)個頻率相差1倍的正弦波疊加到一起，高(gao)頻(pin)的是干擾(rao)，幅度為低頻(pin)的10倍(bei)：

這剛好(hao)是低頻部(bu)分的相位和幅度，干擾被抑制。實際波形的測(ce)量點多(duo)達(da)數萬(wan)，計算量很(hen)大，結果反映了波形的整(zheng)體特(te)征(zheng)。

2、頻(pin)率和介損的關系(xi)

介損(sun)有RC串聯(lian)和并聯(lian)兩種理想(xiang)模型：串聯(lian)模型tgδ=2πfRC，并(bing)聯(lian)模型tgδ=1/(2πfRC)，tgδ分(fen)別隨頻率f成(cheng)正(zheng)比(bi)和反比(bi)。如圖(tu)所示，f對完(wan)(wan)全(quan)正比(bi)和完(wan)(wan)全(quan)反比(bi)兩種(zhong)模型影響較大。但實(shi)際電容器是(shi)多種(zhong)模型交織的混合模型，此時f的影響就(jiu)小。

3、自動(dong)變頻與50Hz等效

儀(yi)器(qi)采(cai)用自動變頻(pin)在干擾頻(pin)率50Hz兩側（45Hz和55Hz）各測一(yi)個點，然后推(tui)算50Hz頻率下數據(ju)。除多個(ge)(ge)元(yuan)件電(dian)路的(de)(de)低頻諧振外，單個(ge)(ge)試品中的(de)(de)介(jie)質(zhi)不(bu)(bu)可能(neng)在低頻引起能(neng)量(liang)吸(xi)收峰(feng)，工頻附近介(jie)損(sun)總(zong)是(shi)隨頻率單調(diao)變(bian)化的(de)(de)。因此這種測量(liang)方法不(bu)(bu)會帶來明(ming)顯誤差(cha)。實(shi)際上，平均前(qian)的(de)(de)兩(liang)個(ge)(ge)介(jie)損(sun)值已(yi)(yi)十分接(jie)近，即使不(bu)(bu)平均也完全有參考價值。目前(qian)，變(bian)頻介(jie)損(sun)儀已(yi)(yi)成為介(jie)損(sun)測量(liang)的(de)(de)常規儀器，其優(you)異的(de)(de)抗干擾(rao)能(neng)力和準確度已(yi)(yi)經得到認可。

十三(san)、儀器(qi)的裝箱清(qing)單(dan)