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AI6000D變頻介質損耗測試儀

如果(guo)您(nin)對(dui)該(gai)產品感興趣的話(hua),可以
產品名稱: AI6000D變頻介(jie)質損(sun)耗(hao)測(ce)試(shi)儀
產品型號: WBJS8000G
產品展商: 其它品牌
產品文檔: 無相關文(wen)檔
產品簡介

WBJS8000GAI6000D變頻介質損耗測試儀電源采用大功率開關電源,輸出45Hz和55Hz純正弦波,自動加壓,可提供*高10千伏的電壓;自動濾除50Hz干擾,適用于變電站等電磁干擾大的現場測試。AI6000D變頻介質損耗測試儀廣泛適用于電力行業中變壓器、互感器、套管、電容器、避雷器等設備的介損測量。

詳細介紹


一(yi)、WBJS8000GAI6000D變頻介質損耗測試(shi)儀概述

介(jie)損(sun)測量是(shi)絕(jue)緣(yuan)(yuan)試驗(yan)中(zhong)很基(ji)本的(de)方法(fa),可以有效地發現電器(qi)(qi)設備(bei)絕(jue)緣(yuan)(yuan)的(de)整體受潮劣化變質(zhi),以及局部缺(que)陷等。在電工制(zhi)造、電氣(qi)設備(bei)安裝、交(jiao)接(jie)和預防性試驗(yan)中(zhong)都廣泛(fan)應用。變壓器(qi)(qi)、互感器(qi)(qi)、電抗器(qi)(qi)、電容器(qi)(qi)以及套管、避雷(lei)器(qi)(qi)等介(jie)損(sun)的(de)測量是(shi)衡量其絕(jue)緣(yuan)(yuan)性能的(de)*基(ji)本方法(fa)。LYJS9000F變(bian)頻(pin)介質損耗測試儀突破了傳統的電橋測量方式,采用(yong)(yong)變(bian)頻(pin)電源(yuan)技術(shu),利用(yong)(yong)單片機、和現(xian)代化(hua)電子(zi)技術(shu)進(jin)行自動頻(pin)率(lv)變(bian)換、模(mo)/數轉換和數據運算;達到抗干擾能(neng)力強、測試(shi)速度快、精度高、全自動數字化、操作簡便;電源采用(yong)大功率開關(guan)電源,輸出45Hz55Hz純正(zheng)弦波(bo),自動加(jia)壓(ya),可提供(gong)*高10千伏(fu)的電壓;自動濾(lv)除50Hz干(gan)擾,適用于(yu)變(bian)電(dian)(dian)站等電(dian)(dian)磁干(gan)擾大的(de)現場測試。廣泛適用于(yu)電(dian)(dian)力(li)行業(ye)中變(bian)壓(ya)器(qi)、互感器(qi)、套管、電(dian)(dian)容器(qi)、避雷器(qi)等設備的(de)介損測量。

二、WBJS8000GAI6000D變頻介質損耗測(ce)試儀**措施(shi)

1、使(shi)用(yong)本儀器前一(yi)定要認(ren)真閱讀本手冊。

2、儀(yi)器(qi)的(de)操作者應(ying)具備一(yi)般(ban)電氣設備或(huo)儀(yi)器(qi)的(de)使用常識(shi)。

3、本儀器戶內外均可使用,但(dan)應(ying)避開雨(yu)淋、腐蝕氣體、塵埃(ai)過濃(nong)、高溫、陽光直射(she)等場所使用。

儀表(biao)應避(bi)免劇烈振動。

5、對(dui)儀器的(de)維(wei)修、護理和調整應由專業人員進行。

6、在任(ren)何(he)接(jie)線(xian)之前必須用(yong)接(jie)地(di)(di)電纜把儀器(qi)接(jie)地(di)(di)端(duan)子與(yu)大地(di)(di)可靠連(lian)接(jie)起(qi)來(lai)。

7、由于測試(shi)(shi)設備產生高電壓(ya),所以測試(shi)(shi)人(ren)員(yuan)必須(xu)(xu)完全嚴格遵守**操(cao)作規(gui)程,防止(zhi)他人(ren)接觸高壓(ya)部件和電路。直接從事(shi)測試(shi)(shi)的(de)人(ren)員(yuan)必須(xu)(xu)完全了解高壓(ya)測試(shi)(shi)線路,及儀器操(cao)作要點。非從事(shi)測試(shi)(shi)人(ren)員(yuan)必須(xu)(xu)遠離高壓(ya)測試(shi)(shi)區,測試(shi)(shi)區必須(xu)(xu)用(yong)柵欄或繩索、警視牌等清楚(chu)表示出(chu)來(lai)。

8、儀(yi)器的調整維修和維護,必須在不(bu)加(jia)電(dian)情況下進行,如果必須加(jia)電(dian),則操作者必須非(fei)常熟(shu)悉本儀(yi)器高壓危險部件。

9、保險(xian)管損(sun)壞時,必須(xu)確保更(geng)換同樣(yang)的保險(xian),禁止更(geng)換不同型號保險(xian)或將(jiang)保險(xian)直接短路使用。

儀(yi)器出現故障時,關閉電源(yuan)開關,等(deng)待(dai)一分鐘之后(hou)再檢查。

三、WBJS8000GAI6000D變頻介質損耗測試儀可測試參數

儀(yi)器(qi)可測量(liang)下列參數并數字顯示:

被測試品的電容量值CX,以(yi)pFnF為單位,1nF=1000pF

被測試品的介(jie)質損耗值tgδ,以%顯示。

四、WBJS8000GAI6000D變頻介質損耗(hao)測試儀性(xing)能特點(dian)

1、儀器采用(yong)復(fu)數電(dian)流法,測(ce)量(liang)(liang)電(dian)容、介(jie)質損耗及其它參數。測(ce)試結果精度高(gao),便于實(shi)現自動(dong)化測(ce)量(liang)(liang)。

2、儀器采用了變頻技術來消除現場50Hz工(gong)頻干(gan)擾,即使在(zai)強電磁(ci)干(gan)擾的(de)環境下(xia)也能測得可(ke)靠的(de)數據。

3、儀器采用(yong)大屏(ping)幕液晶顯示器,測試(shi)過(guo)程(cheng)通(tong)過(guo)漢字菜單(dan)提示既直觀(guan)又便于操作。

4、儀器操作簡便(bian),測(ce)量過程由微處理器控制,只要選(xuan)擇好合適的測(ce)量方式,數據的測(ce)量就可在(zai)微處理器控制下自(zi)動完成。

5、一體(ti)化機(ji)型,內附標準電容和高壓電源,便于現場(chang)測試,減少現場(chang)接線(xian)。

6、儀器測量準確度高,可(ke)滿足油(you)介損(sun)測量要(yao)求(qiu),因(yin)此只需配備標準油(you)杯(bei),和(he)專用(yong)測試線即可(ke)實(shi)現油(you)介損(sun)測量。

7、設CVT測試功(gong)能,可實現CVT的(de)自(zi)激法測試(shi),無需外置附件,只(zhi)需一次測量,C1,C2的(de)電容和介(jie)損(sun)全部測(ce)出。

8、反接線測試采用ivddv技術,消除了(le)以往反接線數據不穩定的現(xian)象。

9、具有反(fan)接線低壓屏蔽功能,在220kV CVT 母線接地情況下,對C11 可(ke)進行不(bu)拆線10kV 反接線介損測量

10、具有(you)測量高電壓介損功能(neng),能(neng)夠使(shi)用高壓變壓器或串聯諧(xie)振進行超過10kV電壓(ya)的介損試驗。

12、接(jie)地保(bao)護(hu)功能(neng),當(dang)儀(yi)器不(bu)接(jie)地線或接(jie)地**時(shi),儀(yi)器不(bu)進入正常程序,不(bu)輸出高壓(ya)。過流保(bao)護(hu)功能(neng),在試(shi)品短路或擊穿(chuan)時(shi)儀(yi)器不(bu)受損(sun)壞。

13、觸電保護功能,當儀器(qi)操作(zuo)人員不(bu)小心(xin)觸電時(shi)候,儀器(qi)會(hui)立即切斷(duan)高壓,保障試驗人員的**.

五、WBJS8000GAI6000D變頻介質(zhi)損耗測試(shi)儀(yi)技術(shu)指(zhi)標

準確度:

Cx: ±(讀數×1%+1pF

tgδ:  ±(讀(du)數×1%+0.00040

抗干擾指標:  變頻抗干擾(rao),在200%干(gan)擾下(xia)仍能達到(dao)上述準確度

電容量范圍:  內施高壓(ya):    3pF60000pF/10kV    60pF1μF/0.5kV

外施高壓:    3pF1.5μF/10kV         60pF30μF/0.5kV

分辨率:      *高0.001pF4位有(you)效數字

tgδ范圍(wei):     不限,分(fen)辨率0.001%,電容(rong)、電感、電阻三種試品自動識別。

試驗電流(liu)范圍:10μA1A

內施(shi)高壓:    設定電壓范圍:0.510kV

*大輸出(chu)電流:200mA

升(sheng)降壓(ya)方式:連續平滑調(diao)節

試驗頻率(lv): 4550556065Hz單(dan)頻

45/55Hz55/65Hz47.5/52.5Hz自動(dong)雙變頻

頻率(lv)精度:±0.01Hz

外施高壓:正(zheng)接線時*大(da)試(shi)驗電流1A,工(gong)頻或變頻40-70Hz

反接(jie)線時(shi)*大(da)試驗電流10kV/1A,工(gong)頻(pin)或(huo)變頻(pin)40-70Hz

CVT自激法低壓(ya)輸出(chu):輸出(chu)電壓(ya)350V,輸出電流330A

CVT變比測量:

變比測(ce)量精度(du):±讀數×1%     變比測(ce)量范圍:1099999

相(xiang)位測量(liang)精度:±0.1°           相(xiang)位測量范圍:0359.9°

測(ce)量時(shi)間(jian):    40s,與測(ce)量方式有關

輸入電源:    180V270VAC50Hz±1%,市電(dian)或發電(dian)機供電(dian)

計(ji)算機(ji)接口:  標準(zhun)RS232接口

打印(yin)機(ji):         煒煌A7熱敏微型打(da)印機(ji)

環境溫度(du):    -10℃~50

相對濕度:    <90%

外(wai)形尺寸:460×360×350mm

儀器(qi)重(zhong)量:28kg

六、測量方式(shi)及原理

按被測(ce)(ce)試品是否接地分兩(liang)種測(ce)(ce)量(liang)(liang)方式(shi),即(ji)正接線測(ce)(ce)量(liang)(liang)方式(shi)和反接線測(ce)(ce)量(liang)(liang)方式(shi)。兩(liang)種測(ce)(ce)量(liang)(liang)方式(shi)的原理如圖一所示:

在高壓(ya)電源的(de)10kV側,高壓(ya)分(fen)兩路,一(yi)路給(gei)機(ji)內標準電容CN,此(ci)電容介(jie)損(sun)(sun)非常小,可(ke)以認(ren)為(wei)介(jie)損(sun)(sun)為(wei)零(ling),即(ji)為(wei)純容性(xing)電流,此(ci)電流ICN 可(ke)做為(wei)容性(xing)電流基準。在Cx試品一(yi)側,試品電流Icx通過采樣電阻R采入(ru)機(ji)內,此(ci)Icx可(ke)分(fen)解成水平(ping)分(fen)量(liang)和(he)垂(chui)直分(fen)量(liang)見圖二所示(shi),通過計算水平(ping)分(fen)量(liang)與垂(chui)直分(fen)量(liang)的(de)比值即(ji)可(ke)得到tgδ值。

在圖(tu)一(a)中Cx為非接(jie)地試品(pin)(pin),試品(pin)(pin)電(dian)流(liu)Icx從試品(pin)(pin)末端進入采樣(yang)電(dian)阻R,得到(dao)全電(dian)流(liu)值(zhi),在圖(tu)一(b)中Cx為接(jie)地試品(pin)(pin),機(ji)內Cx端直接(jie)接(jie)地,電(dian)流(liu)Icx從試品(pin)(pin)高壓(ya)端到(dao)機(ji)內采樣(yang)電(dian)阻取(qu)得全電(dian)流(liu)值(zhi)。

七、常見設備(bei)的接線方法

1.儀器引出端(duan)子說明:

HV ——  儀(yi)器的測量引線高壓(ya)端(帶(dai)危險(xian)電(dian)壓(ya)) 。

CX ——  正(zheng)接線時試品電流輸入端。

——  儀器的接地端(duan),使用時與大地可(ke)靠相接

2.參考接線

2.1正(zheng)接線(xian)、內標準電容、內高壓(常規正(zheng)接線(xian)):

2.2反接線(xian)、內標準電容、內高壓(常(chang)規(gui)反接線(xian))

2.3正(zheng)接(jie)線(xian)、外標(biao)準(zhun)電容、內高壓:

2.4反(fan)接線、外標準電容、內高壓:

2.5正接(jie)線、內(nei)標準電容、外高(gao)壓:

2.6反(fan)接線、內標準電容、外高壓(ya):

2.7正接線、外標準電容、外高壓(高電壓介損):

2.8反(fan)接線、外標準電容、外高壓:

2.9  CVT自激法(fa)測量:

CVT自激法可(ke)按下圖接線。如果(guo)C1是單節電容,母(mu)線不能(neng)接地;如果(guo)C1是多節電容,母(mu)線可(ke)接地,C11和(he)(he)C12可(ke)用常規正反接線測量(liang),C13和(he)(he)C2用自激法測量(liang)。

CVT自(zi)激(ji)法測(ce)量中(zhong),儀(yi)器先測(ce)量C1,然后自(zi)動倒線測(ce)量C2,并自(zi)動校準分壓影響。

應注(zhu)意(yi),高(gao)壓(ya)線應懸空(kong)不(bu)能接(jie)觸地面,否則其對地附加(jia)介損會引起誤差(cha),可(ke)用細電(dian)纜連接(jie)高(gao)壓(ya)插座與CVT試品并吊(diao)起。強烈建議使用高(gao)壓插座使用的(de)高(gao)壓線用黑色Cx線。

2.10 CVT變(bian)比測試

儀器高(gao)壓線的(de)芯線紅夾子接CVT的(de)上端(duan),母(mu)線拆(chai)地。CVT下端接地(di),低壓線紅黑夾子(zi)接二次繞組,注意:如果測試角度(du)接近180度,應(ying)將紅黑(hei)夾子顛(dian)倒。

3.附加功(gong)能

3.1光標在 電(dian)壓:10kV上面時候,按“確認”鍵在(zai)儀器屏幕的左下角(jiao)會出(chu)現圖標(biao),代(dai)表測試結束自動打印。如果再按確認鍵,圖標(biao)消失,代(dai)表測試結束必須手動才能打印。

3.2光標(biao)在 反(fan)接 上面時候(hou),在反(fan)接線(xian),內Cn,內Un,情況下,按確(que)認(ren)鍵在儀(yi)器屏幕右下角會(hui)出現圖標,代(dai)表反接線(xian)低壓屏(ping)蔽(bi)測試。如果(guo)再按確(que)認鍵,圖標消失,代(dai)表取消反接線(xian)低壓屏(ping)蔽(bi)。

反(fan)接線低壓(ya)屏蔽功能,一次接線可同時(shi)測出C1C2的電容量(liang)和介損

在(zai)反(fan)接線、內標(biao)(biao)準和內高壓(ya)方式(shi),光標(biao)(biao)移到反接處,按確認右下角顯(xian)示“M”

打開反(fan)接(jie)(jie)線(xian)(xian)(xian)低壓(ya)屏(ping)蔽,可(ke)在(zai)上端(duan)電容C1不拆(chai)母線(xian)(xian)(xian)的情(qing)況下(xia),對其進行不拆(chai)線(xian)(xian)(xian)10kV反(fan)接(jie)(jie)線(xian)(xian)(xian)介(jie)損(sun)測量。如下(xia)圖所示:母線(xian)(xian)(xian)掛地(di)線(xian)(xian)(xian),C1上端(duan)不拆(chai)線(xian)(xian)(xian),C1下(xia)端(duan)接(jie)(jie)高(gao)壓(ya)線(xian)(xian)(xian)芯(xin)(xin)線(xian)(xian)(xian),C2末端(duan)接(jie)(jie)Cx芯(xin)(xin)線(xian)(xian)(xian)。儀器采用反(fan)接(jie)(jie)線(xian)(xian)(xian)/10kV/M測量方式(shi),可(ke)同時(shi)測出C11和下(xia)端(duan)屏(ping)蔽部分的電容量和介(jie)損(sun)值(zhi)。

3.3光標在 正接 上面時候,按確認(ren)鍵則測(ce)試打印機,換(huan)紙。

3.4光標在 啟動(dong) 上面時候,按減小鍵則代表取出存儲(chu)的數據。

3.5測試完畢,如果按減(jian)小(xiao)鍵,則(ze)代(dai)表存儲測試的數據

八、功能(neng)簡介

儀器面(mian)板(ban)見(jian)圖九所示:

打(da)印機——打(da)印測量數(shu)據。

顯示器——128×64點(dian)陣液(ye)晶顯示器,顯示菜單和各種提示信息及測量結果。

  鍵——選(xuan)擇菜(cai)單項,被選(xuan)中項反白字體顯(xian)示(shi)。

  鍵——修改菜單(dan)內容,采用循(xun)環滾(gun)動(dong)方式(shi)。

▼ 鍵——修改菜單內容,采用循環滾動方式。

確認鍵(jian)——在“測試”選項上按此鍵(jian)進(jin)入測試狀態。

電源(yuan)開關——整機電源(yuan)的開啟(qi)和關閉。

電源座——交流(liu)220V±10%50±1Hz電源輸入口,帶保險倉(cang)。

9.自激法電流輸出(chu)端——測(ce)量CVT的專用端子。

10.地(di)——為接(jie)地(di)線接(jie)線端子(zi)。

11CX插座——是試品信(xin)號(hao)的測量(liang)輸入端(duan),正(zheng)接線時由專用低壓電(dian)纜(lan)連接,此電(dian)纜(lan)單層(ceng)屏蔽帶特制鱷魚夾,長8m,接試(shi)品低端。反接線時此端空置。

12CN插座——是(shi)外標(biao)準電容信號(hao)的測量輸(shu)入(ru)端,使(shi)用內標(biao)準時此(ci)端空置。

13HV插座——高(gao)壓引出端子(zi),由高(gao)壓電纜連(lian)接,接試品高(gao)壓端。輸出10kv高(gao)壓。

14RS-232接口(kou),用來(lai)連接電腦,上傳(chuan)數據。

九、儀(yi)器(qi)操作步驟

1.測量(liang)前準備:

1)用(yong)接地(di)線一端接儀器的接地(di)柱,另一端接可靠的大地(di),保證儀器外殼處(chu)在地(di)電位(wei)上。

2)正接(jie)線(xian)時:將高壓電(dian)纜插(cha)頭插(cha)入后門HV插座(zuo)中,將另一端的紅色大(da)鉗子(zi)夾到被(bei)測試品的**引線上,黑色小鉗子(zi)懸空或夾在紅色大(da)鉗子(zi)上。將CX低壓電纜插入CX插座(zuo)中(zhong),另一端的紅(hong)色(se)夾子(zi)(zi)夾試品的低端,黑(hei)色(se)夾子(zi)(zi)懸空或接屏(ping)蔽(bi)裝置。

3)反接線時(shi):將(jiang)高壓(ya)電纜插頭插入后門(men)HV插座(zuo)中,將另(ling)一端的紅色大(da)鉗子(zi)(zi)夾(jia)到被(bei)測試品的**引線上,紅色小鉗子(zi)(zi)懸空或接屏蔽裝置(zhi)。Cx插座不用。

2.打開(kai)電源開(kai)關(guan),儀器進行自檢(jian)(jian),若自檢(jian)(jian)良好,液晶屏顯(xian)示中文主菜單如

圖十所示。

3.菜單選擇:

鍵(jian)可移動(dong)光標至各(ge)菜單項(xiang),并循環指示(shi)。被選中(zhong)項(xiang)反白字體顯示(shi)。選擇(ze)鍵(jian)的(de)流程見圖十一所(suo)示(shi)。

在光標當前(qian)所示(shi)項目,按(an)▼ ▲鍵(jian)鍵(jian)可進行該項菜單(dan)的變更,并(bing)循環指示(shi),流(liu)程見圖(tu)十(shi)二所示(shi)。

將菜單(dan)變更至與測試要(yao)求相對應后即(ji)可按(an)選(xuan)擇鍵進行下個項目的選(xuan)擇。

4、 頻率(lv):光標在頻率(lv)上(shang),按(an)↑↓鍵選(xuan)擇定頻和變頻:

光(guang)標在定頻上:按住(zhu)“啟(qi)停”鍵1s以上(shang)切換到全頻(pin)率選擇,按↑↓鍵循環顯示(shi)45Hz / 47.5Hz / 50Hz / 52.5Hz / 55Hz / 60Hz / 65Hz

工頻50Hz測量,此設置不能抗干(gan)擾,在試驗室內測量或校驗時選用(yong)50Hz,“45/47.5/55/52.5/60/65Hz”:為單頻(pin)(pin)率(lv)測量,研究不(bu)同頻(pin)(pin)率(lv)下介損的變化時選用(yong)。

光標在變(bian)頻上:按住“啟停”鍵1s以上切換到全頻率選擇,按↑↓鍵(jian)循(xun)環顯示5-Hz / 6-Hz / 4-Hz”:

5-Hz”:為(wei)45/55Hz自動變頻,適合50Hz電網(wang)工頻干擾下測量(liang)。

6-Hz”:為(wei)55/65Hz自動變(bian)頻(pin),適(shi)合60Hz電網工頻干擾(rao)下測量(liang)。

4-Hz”:為47.5/52.5Hz自動變頻,適(shi)合(he)50Hz電網工頻(pin)干擾下測量。

5、測試:當(dang)光標(biao)在 測試 項目上時(shi),按確認鍵大約3秒(miao)鐘開始測試(shi)(shi)。測試(shi)(shi)過程中顯示的(de)畫面(mian)如圖十三(正接線,變頻)所示,當(dang)下面(mian)的(de)進程到100%時(shi)候(hou)測試(shi)完畢(bi),然(ran)后顯示測量(liang)結(jie)果(guo)見圖十四所示,此時(shi)光標指示打印(yin)機圖標,按(an)確認鍵打印(yin)報(bao)告。測量(liang)結(jie)果(guo)的意義如下:

tgδ: 試品的損耗因數tgδ值

CX: 測量的電容(rong)值

V:施加電(dian)壓(ya)值

I:試品流過的(de)電流

F1,F2 : 試驗頻率

打印結束(shu)后,關閉(bi)電源開關,測試(shi)完畢。

十、現場試驗注意事項(xiang)

如果(guo)使(shi)用中出現測(ce)試(shi)數據明顯不(bu)合理,請從以下方面查(cha)找原因:

1、搭鉤接觸**

現場測(ce)量使用(yong)搭鉤連接(jie)(jie)試品(pin)時,搭鉤務必與(yu)試品(pin)接(jie)(jie)觸良好,否(fou)則(ze)接(jie)(jie)觸點放電(dian)會引(yin)起數據嚴重(zhong)波動(dong)!尤(you)其是引(yin)流線氧化層太厚,或(huo)風吹(chui)線擺動(dong),易造成接(jie)(jie)觸**。

2、接(jie)地接(jie)觸**

接地**會引起儀(yi)器保(bao)護或數據嚴重(zhong)波動(dong)。應(ying)刮凈接地點上的油漆(qi)和銹蝕(shi),務必保(bao)證0電(dian)阻接地!

3、直接(jie)測量(liang)CVT或末端(duan)屏蔽法測量電磁式PT

直接測(ce)量(liang)CVT的(de)下節耦合電容會出現負介損(sun),應(ying)改用自激法。

用(yong)末(mo)端屏蔽法(fa)測量電磁(ci)式(shi)PT時,由于受(shou)潮(chao)引起“T形網絡干擾出現(xian)負介損,吹干下(xia)面(mian)三裙瓷套和接線端子盤即可。也可改(gai)用常(chang)規法或(huo)末(mo)端加壓法測量(liang)。

4、空氣濕(shi)度過大(da)

空(kong)氣濕(shi)度(du)大使(shi)介損測量值(zhi)異常增(zeng)大(或減小甚至(zhi)為負)且不穩定(ding),必要(yao)時可加(jia)屏蔽環。因人(ren)為加(jia)屏蔽環改(gai)變了試品電(dian)場分布,此法有(you)爭議,可參照有(you)關規程。

5、發(fa)電(dian)機供電(dian)

發電機供電時輸入(ru)頻(pin)率不穩定(ding),可采用定(ding)頻(pin)50Hz模式工作。

6、測試線

由于長期使(shi)用(yong),易造成測試線(xian)隱性斷(duan)路,或(huo)芯(xin)線(xian)和屏蔽短路,或(huo)插頭接觸**,用(yong)戶應經常維護(hu)測試線(xian);

測試標準電容(rong)試品時(shi),應(ying)使用全屏蔽插頭連接(jie),以消除附加雜散電容(rong)影(ying)響(xiang),否則不能反映出儀(yi)器(qi)精度;

自激法測量CVT時,非專用的高壓線應吊起懸空,否則對地附加雜散電容和介(jie)損會引起測(ce)量誤差(cha)。

7、工(gong)作模(mo)式(shi)選擇(ze)

接好線(xian)后請選擇(ze)正(zheng)(zheng)確的測量(liang)工作模式(正(zheng)(zheng)、反(fan)和CVT),不可選錯。特(te)別是干擾環境下(xia)應(ying)選用(yong)變頻(pin)抗(kang)干擾模式。

8、試驗方(fang)法影(ying)響(xiang)

由于(yu)介損(sun)測量受(shou)試驗方法影響較大,應(ying)區分是(shi)(shi)試驗方法誤差還(huan)是(shi)(shi)儀器誤差。出現(xian)問(wen)題時可首先(xian)檢查(cha)接線(xian),然后檢查(cha)是(shi)(shi)否為儀器故(gu)障。

9、儀(yi)器故(gu)障

用(yong)萬用(yong)表測量(liang)一(yi)下測試線是(shi)否斷(duan)路,或芯線和屏蔽(bi)是(shi)否短(duan)路;輸入電源220V過高或過低;接地是(shi)否良好。

用正、反接線測一下標準(zhun)電(dian)(dian)容器或已知容量(liang)和介損的電(dian)(dian)容試品,如果結果正確(que),即可判斷儀器沒(mei)有問題;

拔下所有(you)測試導線,進行空(kong)試升(sheng)壓(ya),若不能(neng)正常(chang)工作,儀(yi)器(qi)可能(neng)有(you)故障。

啟動CVT測量后測量低壓(ya)輸(shu)出,應出現(xian)25V電(dian)壓,否則儀器(qi)有故障。

十一、 儀器檢定

1、用(yong)標準損(sun)耗(hao)器檢定

用(yong)帶插頭(tou)的屏蔽電纜(lan)連接標(biao)準損(sun)耗器(qi)。如果不能保證標(biao)準損(sun)耗器(qi)的精(jing)度,應(ying)使用(yong)比對法檢定,建議用(yong)2801電橋(qiao)或其它精密(mi)電橋(qiao)作(zuo)比對標準。儀器應選用內標準“RC串聯(lian)試品,可選(xuan)擇工(gong)頻 50Hz或定頻(pin)50Hz頻率模式。

2、用QSJ3檢定:使用帶(dai)插頭(tou)的(de)屏(ping)蔽(bi)電纜連接QSJ3,選擇(ze)正(zheng)接Cn / Un式測量,電流比(bi)為CxCnCn可置入適當值。

3、抗干(gan)擾能力

設置一個回路向(xiang)儀器注(zhu)入定量的干(gan)擾電流。

注意:

1)應(ying)考(kao)慮(lv)到該回路(lu)可能成(cheng)為試品(pin)的(de)一部分(fen)。

2)儀(yi)器啟動(dong)后會使220V供電電路帶有測量頻率(lv)分量,如果(guo)該頻率(lv)分量又通過干(gan)擾電流(liu)進入儀器,則無法檢驗儀器的抗(kang)干(gan)擾能力。

3)不建議用臨近(jin)(jin)高壓導體施加干(gan)(gan)擾(rao)(rao),因為(wei)這樣(yang)很容(rong)易(yi)產生(sheng)近(jin)(jin)距離**放電,這種放電電阻(zu)是非線性的(de),容(rong)易(yi)產生(sheng)同頻干(gan)(gan)擾(rao)(rao)。


十(shi)二、變頻測量討論

1、變頻測量

干擾十分嚴重時,變(bian)頻測量能得(de)到準確可靠的結(jie)果。例如(ru)用55Hz測量時,測量系統只(zhi)允許55Hz信號通過(guo),50Hz干擾(rao)信號被有效(xiao)抑制,原(yuan)因在于(yu)測量系統很容易區別不(bu)同頻率,由下述簡單計算可以(yi)說明(ming)選頻測量的效(xiao)果:

兩個頻率相(xiang)差1倍的正弦波疊(die)加(jia)到一起,高頻的是干擾,幅度(du)為低頻的10倍:

這(zhe)剛(gang)好(hao)是低頻部分(fen)的(de)相位(wei)和幅度,干擾被抑制(zhi)。實際波形的(de)測(ce)量點多(duo)達數萬,計算量很大,結果反映了波形的(de)整體特(te)征。

2、頻率和介損的關系

介損有RC串(chuan)(chuan)聯(lian)和(he)并聯(lian)兩種(zhong)理想(xiang)模型(xing)(xing):串(chuan)(chuan)聯(lian)模型(xing)(xing)tgδ=2πfRC,并聯模型tgδ=1/(2πfRC)tgδ分別(bie)隨(sui)頻(pin)率f成正比和反比。如圖所示(shi),f對完(wan)全正(zheng)比(bi)和(he)完(wan)全反比(bi)兩種模型影(ying)響較大。但實際(ji)電容器是多種模型交織的混合模型,此時f的影(ying)響就小。

3、自動(dong)變頻(pin)與50Hz等效

儀(yi)器采(cai)用自動變頻在(zai)干擾頻率50Hz兩側(45Hz55Hz)各測一個點,然后推算50Hz頻率下(xia)數(shu)據。除多個元件電路的低頻諧振外,單個試品中(zhong)的介(jie)質不(bu)可(ke)能(neng)(neng)在低頻引(yin)起能(neng)(neng)量(liang)吸收峰,工頻附近介(jie)損總是(shi)隨頻率單調變(bian)化的。因此這種測量(liang)方法不(bu)會帶來明顯誤差。實際上(shang),平均前(qian)的兩個介(jie)損值(zhi)已(yi)(yi)十(shi)分接近,即使不(bu)平均也完全有參(can)考(kao)價值(zhi)。目前(qian),變(bian)頻介(jie)損儀(yi)已(yi)(yi)成為介(jie)損測量(liang)的常規儀(yi)器,其優異的抗干(gan)擾(rao)能(neng)(neng)力和準確度(du)已(yi)(yi)經得(de)到認可(ke)。


十三、儀器的(de)裝箱清單

1.主機

一(yi)臺

2.高壓(ya)電(dian)纜

一條

3.低壓電纜

兩條

4.電源(yuan)線

一條(tiao)

5.地線

一條(tiao)

6CVT

一條

7.5A保(bao)險管(guan)(內(nei)置)

兩只

8.打印紙(zhi)

一(yi)卷

9.說明書

一(yi)本

10.出廠試驗報告(gao)

一份

11.合格證

一張

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