一、WBJS8000G抗干擾(rao)雙變頻介質(zhi)損(sun)耗(hao)測試儀概(gai)述

介(jie)損測量是絕緣(yuan)試驗中很基(ji)本的方法(fa)，可以(yi)有效(xiao)地發(fa)現電(dian)器(qi)設(she)備絕緣(yuan)的整(zheng)體受潮劣化(hua)變質，以(yi)及局(ju)部缺陷等(deng)(deng)。在(zai)電(dian)工制造、電(dian)氣設(she)備安裝、交接和預防性(xing)試驗中都廣泛應用(yong)。變壓器(qi)、互感器(qi)、電(dian)抗器(qi)、電(dian)容器(qi)以(yi)及套管、避雷器(qi)等(deng)(deng)介(jie)損的測量是衡量其絕緣(yuan)性(xing)能的*基(ji)本方法(fa)。LYJS9000F變(bian)(bian)(bian)頻(pin)(pin)介質損耗(hao)測(ce)試(shi)儀突破了傳統的電橋(qiao)測(ce)量方式(shi)，采用變(bian)(bian)(bian)頻(pin)(pin)電源(yuan)技術(shu)，利用單片機、和現代(dai)化(hua)電子技術(shu)進行自(zi)動頻(pin)(pin)率變(bian)(bian)(bian)換、模/數轉換和(he)數據運(yun)算；達到(dao)抗干擾能力強、測試(shi)速度(du)快、精(jing)度(du)高、全自動數字化、操作簡(jian)便；電(dian)源采用大功率開關電(dian)源，輸(shu)出45Hz和55Hz純正(zheng)弦波，自動(dong)加(jia)壓，可提(ti)供*高10千(qian)伏的電壓；自動濾(lv)除50Hz干(gan)擾，適(shi)用于(yu)變(bian)電(dian)站等電(dian)磁干(gan)擾大的(de)現場測試。廣泛適(shi)用于(yu)電(dian)力行業中變(bian)壓器、互感器、套管、電(dian)容(rong)器、避雷器等設備的(de)介損測量。

二、WBJS8000G抗干擾雙變頻(pin)介質損耗測試(shi)儀(yi)**措施

1、使用本儀器前一(yi)定要認真閱讀本手冊。

2、儀(yi)器(qi)的操作(zuo)者應(ying)具備(bei)一般電(dian)氣設備(bei)或儀(yi)器(qi)的使(shi)用常識。

3、本儀器戶內外均可使用(yong)，但應避開雨淋、腐蝕氣體、塵埃過濃、高溫、陽(yang)光直射(she)等(deng)場所使用(yong)。

儀表應避免劇(ju)烈(lie)振動。

5、對儀器的維修、護理(li)和調整應由專業人員進行。

6、在任何接(jie)線之前必須用接(jie)地(di)電纜(lan)把(ba)儀(yi)器(qi)接(jie)地(di)端子與大地(di)可(ke)靠連接(jie)起來。

7、由于測(ce)試設備產生高(gao)(gao)電(dian)壓，所以測(ce)試人(ren)(ren)(ren)員(yuan)(yuan)必(bi)須(xu)完全嚴格遵守**操作規程(cheng)，防止他人(ren)(ren)(ren)接(jie)觸高(gao)(gao)壓部件和電(dian)路。直接(jie)從事(shi)測(ce)試的人(ren)(ren)(ren)員(yuan)(yuan)必(bi)須(xu)完全了解高(gao)(gao)壓測(ce)試線路，及儀器操作要點。非從事(shi)測(ce)試人(ren)(ren)(ren)員(yuan)(yuan)必(bi)須(xu)遠(yuan)離高(gao)(gao)壓測(ce)試區，測(ce)試區必(bi)須(xu)用柵欄或(huo)繩索、警視牌(pai)等(deng)清楚表示出來(lai)。

8、儀器的調(diao)整維修和維護，必須在不加(jia)電情(qing)況下(xia)進行，如果必須加(jia)電，則操作(zuo)者必須非常熟悉本儀器高壓(ya)危險部件。

9、保(bao)(bao)(bao)(bao)險管損(sun)壞(huai)時(shi)，必須(xu)確保(bao)(bao)(bao)(bao)更(geng)換同(tong)(tong)樣(yang)的(de)保(bao)(bao)(bao)(bao)險，禁止更(geng)換不同(tong)(tong)型號保(bao)(bao)(bao)(bao)險或將保(bao)(bao)(bao)(bao)險直接短(duan)路使用。

儀器出(chu)現(xian)故障時(shi)，關閉電源開(kai)關，等待一分(fen)鐘之后(hou)再(zai)檢查(cha)。

三、WBJS8000G抗(kang)干擾雙變(bian)頻介質(zhi)損耗(hao)測試儀可測試參(can)數

儀器可測(ce)量(liang)下列(lie)參數(shu)并(bing)數(shu)字顯示：

被測(ce)試品的電容量值CX，以pF或nF為單位，1nF=1000pF。

被測試品(pin)的介質損耗值tgδ，以(yi)%顯(xian)示(shi)。

四、WBJS8000G抗干擾雙變頻介質損耗測試儀(yi)性(xing)能特(te)點

1、儀器(qi)采用復數電流法，測量(liang)電容、介質損耗及其它參數。測試結(jie)果精度高，便(bian)于實現自(zi)動化測量(liang)。

2、儀器采(cai)用了變(bian)頻(pin)技術來(lai)消除現場50Hz工頻(pin)干(gan)擾，即(ji)使在強電磁干(gan)擾的環境下也(ye)能測得可(ke)靠的數據(ju)。

3、儀器(qi)采用(yong)大(da)屏幕液晶顯示(shi)器(qi)，測試(shi)過程(cheng)通過漢字(zi)菜單提示(shi)既(ji)直觀又便(bian)于操作。

4、儀器(qi)(qi)操作簡便(bian)，測(ce)量過程(cheng)由微處理器(qi)(qi)控制(zhi)，只要選擇好合適的測(ce)量方式，數(shu)據的測(ce)量就可(ke)在微處理器(qi)(qi)控制(zhi)下自(zi)動完(wan)成(cheng)。

5、一體(ti)化機型，內附(fu)標準電容和高壓(ya)電源，便(bian)于現場測(ce)試，減少現場接線。

6、儀器測量(liang)準確(que)度高，可滿足油(you)介(jie)(jie)損測量(liang)要求(qiu)，因此只(zhi)需配備(bei)標準油(you)杯(bei)，和專用測試線即可實(shi)現油(you)介(jie)(jie)損測量(liang)。

7、設CVT測(ce)試功能，可(ke)實(shi)現CVT的(de)自(zi)激法測試，無(wu)需外置(zhi)附件，只(zhi)需一(yi)次測量(liang)，C1,C2的(de)電(dian)容和介損全部測出。

8、反接線測試采用(yong)ivddv技(ji)術(shu),消除了以往反接線數據不穩(wen)定的現象。

9、具有反接線低壓屏(ping)蔽功能(neng)，在220kV CVT 母線接地情況下，對C11 可進(jin)行不拆線(xian)10kV 反接(jie)線介(jie)損測量

10、具有(you)測量高電壓介損功能(neng)，能(neng)夠使(shi)用高壓變壓器或串聯(lian)諧振進行超過10kV電(dian)壓的介損試驗。

12、接(jie)地保(bao)護功能，當儀器(qi)不接(jie)地線(xian)或(huo)接(jie)地**時，儀器(qi)不進入(ru)正常程序，不輸出高壓。過流保(bao)護功能，在試(shi)品短路或(huo)擊穿時儀器(qi)不受損壞。

13、觸電保(bao)護(hu)功能，當儀器操作人(ren)員(yuan)不(bu)小心觸電時候，儀器會立即(ji)切斷高壓(ya)，保(bao)障試(shi)驗(yan)人(ren)員(yuan)的**.

五、WBJS8000G抗干(gan)擾雙變頻介質損耗測(ce)試儀技術指標

準確度：

Cx: ±（讀(du)數×1%+1pF）

tgδ:  ±（讀數×1%+0.00040）

抗干擾指(zhi)標(biao)：  變頻抗干擾(rao)，在200%干擾下仍(reng)能達到上述(shu)準確(que)度

電容量(liang)范圍：  內(nei)施高壓：    3pF～60000pF/10kV    60pF～1μF/0.5kV

外施高(gao)壓：    3pF～1.5μF/10kV         60pF～30μF/0.5kV

分辨(bian)率：      *高0.001pF，4位有效(xiao)數字

tgδ范圍(wei)：     不限，分辨率0.001%，電容、電感、電阻三種試品自(zi)動(dong)識別。

試驗電流(liu)范圍(wei)：10μA～1A

內施(shi)高(gao)壓：    設定電壓范(fan)圍：0.5～10kV

*大輸(shu)出電流：200mA

升降壓(ya)方式：連續(xu)平滑調節

試(shi)驗頻率： 45、50、55、60、65Hz單(dan)頻

45/55Hz、55/65Hz、47.5/52.5Hz自動(dong)雙變頻(pin)

頻率精(jing)度：±0.01Hz

外施高(gao)壓：正接(jie)線時*大(da)試驗電(dian)流1A，工頻(pin)或變頻(pin)40-70Hz

反接線時*大試驗電流10kV/1A，工頻(pin)或變頻(pin)40-70Hz

CVT自激法(fa)低壓輸出：輸出電壓3～50V，輸(shu)出電流3～30A

CVT變比測量：

變(bian)比測量精度：±讀數×1%     變比測量范圍：10～99999

相位測量精(jing)度：±0.1°   ;        相(xiang)位測(ce)量范(fan)圍：0～359.9°

測量時(shi)間(jian)：    約40s，與測量方(fang)式有關

輸(shu)入(ru)電源：    180V～270VAC，50Hz±1%，市電(dian)或(huo)發電(dian)機供電(dian)

計算機接(jie)口：  標(biao)準RS232接口

打印機：         煒煌A7熱敏微型打印機

環境溫度：    -10℃～50℃

相對濕度：    <90%

外(wai)形(xing)尺(chi)寸：460×360×350mm

儀器重量：28kg

六、測(ce)量方式及原理

按被測(ce)(ce)試品(pin)是否接地分兩種測(ce)(ce)量(liang)方(fang)(fang)式(shi)(shi)，即正接線(xian)測(ce)(ce)量(liang)方(fang)(fang)式(shi)(shi)和反接線(xian)測(ce)(ce)量(liang)方(fang)(fang)式(shi)(shi)。兩種測(ce)(ce)量(liang)方(fang)(fang)式(shi)(shi)的(de)原(yuan)理(li)如(ru)圖一所示：

在高壓(ya)電(dian)(dian)(dian)源的10kV側(ce)，高壓(ya)分(fen)(fen)兩路(lu)(lu)，一路(lu)(lu)給機(ji)內標準電(dian)(dian)(dian)容(rong)CN，此(ci)電(dian)(dian)(dian)容(rong)介(jie)(jie)損(sun)非常小，可以認(ren)為(wei)介(jie)(jie)損(sun)為(wei)零，即(ji)為(wei)純容(rong)性(xing)電(dian)(dian)(dian)流，此(ci)電(dian)(dian)(dian)流ICN 可做為(wei)容(rong)性(xing)電(dian)(dian)(dian)流基準。在Cx試品一側(ce)，試品電(dian)(dian)(dian)流Icx通過(guo)采(cai)樣電(dian)(dian)(dian)阻R采(cai)入(ru)機(ji)內，此(ci)Icx可分(fen)(fen)解成水(shui)平(ping)分(fen)(fen)量(liang)(liang)和垂直分(fen)(fen)量(liang)(liang)見圖(tu)二(er)所(suo)示，通過(guo)計(ji)算水(shui)平(ping)分(fen)(fen)量(liang)(liang)與垂直分(fen)(fen)量(liang)(liang)的比值即(ji)可得到tgδ值。

在圖一(yi)（a）中(zhong)(zhong)Cx為非接(jie)(jie)地試(shi)品(pin)，試(shi)品(pin)電流(liu)Icx從試(shi)品(pin)末端進(jin)入采樣(yang)電阻R，得(de)到(dao)全(quan)電流(liu)值，在圖一(yi)（b）中(zhong)(zhong)Cx為接(jie)(jie)地試(shi)品(pin)，機內Cx端直(zhi)接(jie)(jie)接(jie)(jie)地，電流(liu)Icx從試(shi)品(pin)高(gao)壓(ya)端到(dao)機內采樣(yang)電阻取得(de)全(quan)電流(liu)值。

七、常見設備的接(jie)線方(fang)法

1．儀(yi)器引出端(duan)子說明：

HV ——  儀器的測量引(yin)線高壓(ya)(ya)端（帶危險電壓(ya)(ya)） 。

CX ——  正接線時試品電流輸入端。

——  儀器的接地(di)端，使用(yong)時(shi)與大地(di)可(ke)靠相接

2.參(can)考(kao)接線(xian)

2.1正接線(xian)、內標準電(dian)容、內高壓（常規正接線(xian)）：

2.2反(fan)(fan)接(jie)線、內(nei)標準電容、內(nei)高壓(ya)（常(chang)規反(fan)(fan)接(jie)線）

2.3正接線(xian)、外標(biao)準電(dian)容、內高壓：

2.4反接線、外標(biao)準電容、內高壓：

2.5正接線、內標準電容、外高(gao)壓：

2.6反(fan)接線、內(nei)標準電容、外高壓：

2.7正接線(xian)、外標準電容、外高壓(ya)（高電壓(ya)介損(sun)）：

2.8反(fan)接線(xian)、外標準電容(rong)、外高壓：

2.9  CVT自(zi)激(ji)法測量：

CVT自激(ji)法可(ke)按下圖接線(xian)。如果C1是單節電容(rong)(rong)，母(mu)線(xian)不(bu)能接地；如果C1是多節電容(rong)(rong)，母(mu)線(xian)可(ke)接地，C11和C12可(ke)用常規正反(fan)接線(xian)測(ce)量，C13和C2用自激(ji)法測(ce)量。

CVT自(zi)激法測量中，儀器先測量C1，然后自(zi)動倒線測量C2，并自(zi)動校(xiao)準分壓影響(xiang)。

應(ying)注意，高(gao)壓線(xian)應(ying)懸空不能(neng)接(jie)觸(chu)地面，否則其對(dui)地附加介損(sun)會引起誤差，可用細電纜連接(jie)高(gao)壓插座(zuo)與CVT試品并吊(diao)起。強(qiang)烈(lie)建議使用(yong)高壓插座使用(yong)的高壓線用(yong)黑色Cx線。

2.10 CVT變比測試(shi)

儀器高壓線的芯線紅夾子(zi)接CVT的上端，母線拆地。CVT下端接地，低壓線紅黑夾(jia)子接二次繞組，注意:如果測試角度接近180度，應將紅黑夾(jia)子顛倒。

3.附加功能(neng)

3.1光標在 電壓：10kV上面時候，按“確認”鍵在(zai)儀(yi)器屏(ping)幕的(de)左下角會(hui)出(chu)現圖標(biao)，代表(biao)測試(shi)結(jie)束自動(dong)打印。如(ru)果再按確認鍵(jian)，圖標(biao)消(xiao)失，代表(biao)測試(shi)結(jie)束必須手動(dong)才能打印。

3.2光標在 反接 上(shang)面時候，在反接線，內Cn，內Un，情況下(xia)(xia)，按確認鍵在儀(yi)器(qi)屏幕右(you)下(xia)(xia)角會出(chu)現圖標，代表反接(jie)線(xian)低壓屏(ping)蔽測試。如果再(zai)按確認鍵，圖標消失，代表取消反接(jie)線(xian)低壓屏(ping)蔽。

反(fan)接線(xian)低壓屏蔽(bi)功(gong)能，一次接線(xian)可同時測出C1和C2的電容量和介損

在反接線(xian)、內標準和內高壓(ya)方式，光標移到(dao)“反接”處，按“確認”右(you)下角顯(xian)示“M”。

打開反(fan)(fan)接(jie)線(xian)(xian)低(di)壓(ya)屏蔽(bi)，可(ke)在上端(duan)電(dian)(dian)容C1不拆母線(xian)(xian)的(de)情況下(xia)，對(dui)其進行不拆線(xian)(xian)10kV反(fan)(fan)接(jie)線(xian)(xian)介損(sun)測量(liang)。如(ru)下(xia)圖所示：母線(xian)(xian)掛地(di)線(xian)(xian)，C1上端(duan)不拆線(xian)(xian)，C1下(xia)端(duan)接(jie)高壓(ya)線(xian)(xian)芯線(xian)(xian)，C2末端(duan)接(jie)Cx芯線(xian)(xian)。儀器采用反(fan)(fan)接(jie)線(xian)(xian)/10kV/M測量(liang)方(fang)式，可(ke)同時測出C11和下(xia)端(duan)屏蔽(bi)部分的(de)電(dian)(dian)容量(liang)和介損(sun)值。

3.3光標在 正(zheng)接 上面時候，按確認鍵則測試(shi)打(da)印機，換(huan)紙。

3.4光標(biao)在 啟動 上面時候(hou)，按減小鍵則代表取出存儲的數據。

3.5測(ce)(ce)試(shi)完畢，如果按減小(xiao)鍵，則代表存儲測(ce)(ce)試(shi)的數據

八、功能簡介

儀器(qi)面(mian)板見(jian)圖九所示：

打(da)印機——打(da)印測量數據(ju)。

顯示器——128×64點陣液晶顯示器，顯示菜單(dan)和各(ge)種提示信息及測量結果。

  鍵——選擇(ze)菜單項(xiang)，被選中(zhong)項(xiang)反白字體顯示。

▲  鍵——修改菜單內容，采用循環(huan)滾(gun)動方(fang)式。

▼ 鍵——修(xiu)改菜單內容，采用(yong)循環(huan)滾動(dong)方式。

確(que)認鍵(jian)——在“測試”選項上按(an)此鍵(jian)進入測試狀態。

電源(yuan)開關——整機電源(yuan)的開啟和(he)關閉(bi)。

電源座——交(jiao)流(liu)220V±10%，50±1Hz電源輸入(ru)口，帶保險倉。

9．自激法電流輸出端——測量CVT的(de)專用(yong)端子。

10．地——為(wei)接(jie)地線接(jie)線端子。

11．CX插(cha)座(zuo)——是試品信號的測量輸入端，正接線時由(you)專(zhuan)用(yong)低壓電(dian)纜連接，此電(dian)纜單(dan)層屏蔽帶特制(zhi)鱷魚夾，長8m，接試品(pin)低端(duan)。反(fan)接線(xian)時此端(duan)空置。

12．CN插座——是外(wai)標準(zhun)電容信號(hao)的測量(liang)輸入端，使(shi)用內標準(zhun)時此端空(kong)置。

13．HV插座——高(gao)壓引出端(duan)子，由(you)高(gao)壓電(dian)纜連(lian)接，接試品高(gao)壓端(duan)。輸出10kv高壓。

14．RS-232接(jie)口，用來連接(jie)電腦，上(shang)傳數(shu)據。

九、儀器操(cao)作(zuo)步驟(zou)

1．測量前準備：

1）用接(jie)地線一端(duan)(duan)接(jie)儀(yi)器的接(jie)地柱(zhu)，另一端(duan)(duan)接(jie)可靠的大地，保證儀(yi)器外殼處在地電位上(shang)。

2）正接線時：將高壓電纜插頭插入(ru)后門HV插座中，將另一端的紅色大鉗(qian)子夾到(dao)被測試(shi)品的**引線(xian)上(shang)，黑色小鉗(qian)子懸空或夾在紅色大鉗(qian)子上(shang)。將CX低壓電纜插入(ru)CX插座中，另一端(duan)的(de)紅色夾子夾試品的(de)低端(duan)，黑色夾子懸(xuan)空或接屏蔽裝置。

3）反接線時：將(jiang)高壓電纜插頭(tou)插入后門(men)HV插座中，將(jiang)另一端的(de)紅色大鉗(qian)(qian)子(zi)夾到被測試品的(de)**引線上，紅色小鉗(qian)(qian)子(zi)懸空(kong)或接屏蔽裝(zhuang)置。Cx插座不用(yong)。

2．打開電(dian)源(yuan)開關，儀器進(jin)行(xing)自檢，若(ruo)自檢良好，液(ye)晶屏顯示中文主菜單如

圖十所示。

3．菜單選(xuan)擇(ze)：

按鍵(jian)(jian)可移動光標至各菜單(dan)項(xiang)，并循環指示。被選中項(xiang)反(fan)白字(zi)體顯示。選擇(ze)鍵(jian)(jian)的流程見(jian)圖十(shi)一所(suo)示。

在(zai)光標當前所示項目(mu)，按▼ ▲鍵鍵可進行該項菜單(dan)的(de)變更，并循環指(zhi)示，流(liu)程(cheng)見圖十二所示。

將菜(cai)單變更(geng)至與測試要求(qiu)相(xiang)對應后即可按選擇(ze)鍵進行下個項目(mu)的選擇(ze)。

4、 頻率：光(guang)標(biao)在頻率上(shang)，按↑↓鍵選擇定頻和變(bian)頻：

光標在定頻上：按(an)住“啟停(ting)”鍵1s以上(shang)切換到全頻率選擇，按↑↓鍵循環顯(xian)示45Hz / 47.5Hz / 50Hz / 52.5Hz / 55Hz / 60Hz / 65Hz

工頻50Hz測量(liang)，此設置不能抗(kang)干擾，在(zai)試驗室(shi)內測量(liang)或(huo)校驗時選用(yong)50Hz，“45/47.5/55/52.5/60/65Hz”：為單頻(pin)率測量，研究不同頻(pin)率下(xia)介(jie)損的變化(hua)時選用。

光標在變頻(pin)上：按住“啟(qi)停(ting)”鍵1s以上切(qie)換(huan)到全頻率選擇，按↑↓鍵循環(huan)顯示5-Hz / 6-Hz / 4-Hz”：

“5-Hz”：為45/55Hz自動變(bian)頻(pin)，適(shi)合50Hz電(dian)網工頻干擾下(xia)測量。

“6-Hz”：為55/65Hz自動變(bian)頻，適合60Hz電(dian)網(wang)工頻干擾(rao)下測量。

“4-Hz”：為47.5/52.5Hz自動變頻(pin)，適合(he)50Hz電網工頻干擾下(xia)測量(liang)。

5、測試(shi)(shi)：當光標在(zai) 測試(shi)(shi) 項目上(shang)時，按確認鍵大約3秒鐘開始(shi)測(ce)試。測(ce)試過程(cheng)(cheng)中(zhong)顯示(shi)的(de)畫面如圖十三（正接線，變頻）所示(shi)，當下面的(de)進程(cheng)(cheng)到(dao)100%時候測試完畢，然后顯示(shi)測量結果見圖(tu)十四所示(shi)，此時光標指示(shi)打(da)(da)印(yin)機圖(tu)標，按確認鍵打(da)(da)印(yin)報(bao)告。測量結果的意(yi)義如下：

tgδ： 試品的損(sun)耗(hao)因數tgδ值

CX： 測量的電容(rong)值

V：施加電壓值(zhi)

I：試品(pin)流過的電流

F1,F2 : 試驗頻率

打印結束后，關(guan)閉電(dian)源開關(guan)，測試完畢。

十、現場試驗(yan)注意(yi)事項

如果使用中出現(xian)測試數據明顯(xian)不合理(li)，請從以下方面查找原因：

1、搭鉤接觸(chu)**

現場測量使用搭鉤連接試品(pin)時，搭鉤務(wu)必(bi)與(yu)試品(pin)接觸(chu)良好，否則(ze)接觸(chu)點放電會引起數據嚴重波動(dong)(dong)！尤其是(shi)引流線氧化層太厚，或風吹(chui)線擺動(dong)(dong)，易造(zao)成接觸(chu)**。

2、接地接觸**

接(jie)地(di)**會引(yin)起儀器(qi)保(bao)護或數據嚴(yan)重波動。應刮(gua)凈接(jie)地(di)點上(shang)的油漆和銹蝕(shi)，務必保(bao)證0電阻(zu)接(jie)地！

3、直接測量CVT或末(mo)端屏蔽法測量電(dian)磁式PT

直(zhi)接測(ce)量(liang)CVT的下(xia)節耦合電容(rong)會出(chu)現負介損，應改用自激法。

用(yong)末(mo)端屏蔽法測量(liang)電磁式(shi)PT時(shi)，由于受潮引(yin)起(qi)“T形(xing)網絡干擾(rao)”出現負(fu)介損，吹干下面(mian)三裙瓷套和接線端子盤即(ji)可。也可改用常規法(fa)或末(mo)端加壓(ya)法(fa)測量。

4、空(kong)氣濕度過(guo)大

空氣濕(shi)度大使介損(sun)測量值(zhi)異常(chang)增大（或減小甚至(zhi)為負）且不(bu)穩定(ding)，必要(yao)時可加屏蔽(bi)環。因人(ren)為加屏蔽(bi)環改(gai)變了試品電場(chang)分布，此法有爭議(yi)，可參照(zhao)有關規程。

5、發電機供(gong)電

發電機供電時輸入頻率不穩定(ding)，可采用定(ding)頻50Hz模(mo)式(shi)工(gong)作。

6、測試線

由于長期使用，易造(zao)成測(ce)試線隱性斷路(lu)，或(huo)芯線和屏(ping)蔽短(duan)路(lu)，或(huo)插(cha)頭(tou)接觸**，用戶應經常維護測(ce)試線；

測試標準電容試品時(shi)，應使用全屏蔽(bi)插頭連接，以消除附加雜散(san)電容影響，否則不(bu)能反映(ying)出(chu)儀器(qi)精度；

自激法(fa)測量CVT時，非專用的高(gao)壓線應吊起(qi)懸(xuan)空，否則對地附加雜散電(dian)容和介損會引(yin)起(qi)測(ce)量誤差。

7、工作模式選擇

接好線后請選擇正確的測量工作模式（正、反和CVT），不可選(xuan)錯。特別是(shi)干(gan)(gan)擾環境下應(ying)選(xuan)用(yong)變頻抗干(gan)(gan)擾模式。

8、試驗方(fang)法影響(xiang)

由(you)于介損測(ce)量受試驗方(fang)法影響較大，應區分是(shi)(shi)試驗方(fang)法誤差還是(shi)(shi)儀(yi)器(qi)誤差。出現問題時可首先(xian)檢查接(jie)線，然(ran)后檢查是(shi)(shi)否為儀(yi)器(qi)故障(zhang)。

9、儀(yi)器故障(zhang)

用萬用表測量一下測試線(xian)是否斷路，或芯線(xian)和屏蔽是否短路；輸入電(dian)源220V過(guo)高或過(guo)低；接(jie)地(di)是否良(liang)好(hao)。

用(yong)正(zheng)、反接線測一下標(biao)準電容器或(huo)已知(zhi)容量和介(jie)損的電容試品(pin)，如果結果正(zheng)確(que)，即可(ke)判斷儀器沒有(you)問題；

拔(ba)下所有測試導線，進(jin)行空試升壓(ya)，若不能正常工作(zuo)，儀器可能有故(gu)障。

啟(qi)動(dong)CVT測量(liang)后測量(liang)低壓輸(shu)出，應(ying)出現2～5V電壓(ya)，否(fou)則儀器有故障。

十(shi)一、 儀器檢定

1、用標(biao)準損(sun)耗器檢定

用(yong)帶(dai)插頭的屏蔽電纜連(lian)接標(biao)準(zhun)損耗(hao)器(qi)。如果不能保證標(biao)準(zhun)損耗(hao)器(qi)的精(jing)度，應使用(yong)比(bi)對(dui)法檢定，建(jian)議用(yong)2801電橋(qiao)或其它精密電橋(qiao)作比對標準(zhun)。儀器(qi)應(ying)選用(yong)“內標準”和“RC串聯(lian)試品”，可選擇工頻 50Hz或定頻50Hz頻率模式。

2、用QSJ3檢(jian)定：使用帶插頭的屏蔽電纜連接QSJ3，選擇“正接/ 外(wai)Cn / 外(wai)Un式測量，電流比為Cx∶Cn，Cn可(ke)置入(ru)適(shi)當值。

3、抗(kang)干(gan)擾(rao)能力

設置一個回路向儀器(qi)注入定量的干擾(rao)電流。

注意：

1）應考慮到(dao)該回(hui)路可能(neng)成(cheng)為試(shi)品的一部分(fen)。

2）儀器啟動后會使(shi)220V供電(dian)(dian)(dian)電(dian)(dian)(dian)路帶(dai)有測量頻(pin)率分量，如果該頻(pin)率分量又(you)通過干擾(rao)(rao)電(dian)(dian)(dian)流進入儀器，則無(wu)法檢驗儀器的抗干擾(rao)(rao)能力。

3）不建(jian)議用臨近(jin)高(gao)壓導體施加干擾，因為這(zhe)樣(yang)很容易產(chan)生(sheng)近(jin)距離**放電，這(zhe)種放電電阻是非線性的，容易產(chan)生(sheng)同頻干擾。

十二、變頻(pin)測量討(tao)論(lun)

1、變(bian)頻測量

干擾十(shi)分嚴重時，變頻測量能得(de)到準確(que)可靠的(de)結(jie)果(guo)。例如(ru)用55Hz測量(liang)時，測量(liang)系統只(zhi)允許55Hz信(xin)號(hao)通過，50Hz干(gan)擾信號被有效抑制，原因在于測量系(xi)統很容易區別(bie)不同頻率，由下述(shu)簡單計算(suan)可(ke)以說(shuo)明選頻測量的效果：

兩個(ge)頻率相差(cha)1倍的正弦(xian)波疊加(jia)到一起，高頻(pin)的是干擾，幅度為低頻(pin)的10倍(bei)：

這剛好(hao)是低(di)頻部分的相位和幅度，干擾被抑(yi)制(zhi)。實際波形的測量(liang)點多達數萬，計算量(liang)很(hen)大，結果反映(ying)了波形的整體特征(zheng)。

2、頻率和介損的關系

介損有(you)RC串聯和并聯兩種理想(xiang)模型：串聯模型tgδ=2πfRC，并聯模型tgδ=1/(2πfRC)，tgδ分別隨頻(pin)率f成正比和(he)反比。如圖所示，f對完全正(zheng)比和完全反比兩種模(mo)型影響(xiang)較大(da)。但(dan)實(shi)際電容(rong)器(qi)是多種模(mo)型交(jiao)織的混合模(mo)型，此時f的影(ying)響就小。

3、自動(dong)變頻與50Hz等效

儀(yi)器(qi)采用自動變頻在干擾頻率50Hz兩側(ce)（45Hz和55Hz）各(ge)測一個點，然(ran)后推算50Hz頻(pin)(pin)率(lv)下(xia)數據。除多個(ge)元(yuan)件電路的低(di)頻(pin)(pin)諧振外，單個(ge)試(shi)品中的介(jie)(jie)質不可能在低(di)頻(pin)(pin)引起能量(liang)吸(xi)收峰(feng)，工(gong)頻(pin)(pin)附近介(jie)(jie)損(sun)(sun)總是(shi)隨(sui)頻(pin)(pin)率(lv)單調變(bian)化的。因(yin)此(ci)這(zhe)種測(ce)量(liang)方法不會帶(dai)來明顯誤差。實(shi)際上，平均(jun)前的兩個(ge)介(jie)(jie)損(sun)(sun)值已(yi)十(shi)分接近，即使(shi)不平均(jun)也完全有參考價值。目前，變(bian)頻(pin)(pin)介(jie)(jie)損(sun)(sun)儀已(yi)成為介(jie)(jie)損(sun)(sun)測(ce)量(liang)的常規(gui)儀器，其優異的抗干擾能力和準確度已(yi)經得到認(ren)可。

十三、儀器的裝箱清(qing)單(dan)