一、WBJS8000G高壓變頻介(jie)質損耗測試儀概述

介損測量是絕緣試驗中很基本的(de)(de)方(fang)法，可(ke)以有效地發現電(dian)(dian)器(qi)(qi)設備絕緣的(de)(de)整體(ti)受潮劣化變質，以及(ji)局(ju)部缺陷等(deng)。在電(dian)(dian)工制造、電(dian)(dian)氣設備安(an)裝、交接和預防(fang)性試驗中都廣泛應用。變壓器(qi)(qi)、互感器(qi)(qi)、電(dian)(dian)抗器(qi)(qi)、電(dian)(dian)容器(qi)(qi)以及(ji)套管、避雷器(qi)(qi)等(deng)介損的(de)(de)測量是衡(heng)量其(qi)絕緣性能(neng)的(de)(de)*基本方(fang)法。LYJS9000F變頻介(jie)質損耗(hao)測試儀突破了傳統的電橋測量方式，采用變頻電源技術，利用單片(pian)機、和(he)現代(dai)化電子技術進(jin)行自(zi)動頻率變換、模/數轉(zhuan)換和數據運算；達(da)到抗干擾能力強、測試(shi)速度(du)快、精(jing)度(du)高(gao)、全自動數字化(hua)、操作簡便；電源采(cai)用大(da)功率(lv)開關(guan)電源，輸出45Hz和55Hz純正弦波，自動加壓，可提(ti)供(gong)*高10千伏的電壓；自(zi)動濾除50Hz干擾，適(shi)用于變電站等(deng)電磁干擾大的現場測試。廣泛適(shi)用于電力行業中(zhong)變壓(ya)器(qi)(qi)(qi)(qi)、互感器(qi)(qi)(qi)(qi)、套管、電容器(qi)(qi)(qi)(qi)、避雷器(qi)(qi)(qi)(qi)等(deng)設備的介損測量。

二、WBJS8000G高(gao)壓變頻介質損耗測試儀**措(cuo)施(shi)

1、使(shi)用本儀器前一定要認真閱讀本手冊。

2、儀器的(de)操作者(zhe)應(ying)具備一般電氣設備或儀器的(de)使(shi)用常(chang)識。

3、本儀器戶內外均可使(shi)用(yong)，但應避開雨淋、腐蝕氣體、塵埃過濃(nong)、高溫、陽光直(zhi)射等場所使(shi)用(yong)。

儀表應(ying)避免劇烈振動。

5、對儀(yi)器的(de)維修、護(hu)理和(he)調(diao)整應由專業人員(yuan)進行。

6、在任何(he)接線(xian)之前必須(xu)用接地電纜把儀器接地端(duan)子(zi)與(yu)大地可靠連接起來。

7、由于測(ce)試(shi)設備產生高(gao)(gao)電(dian)壓(ya)(ya)，所(suo)以測(ce)試(shi)人員(yuan)必須完(wan)全嚴格遵守(shou)**操作規程，防止他人接(jie)觸高(gao)(gao)壓(ya)(ya)部(bu)件(jian)和電(dian)路。直接(jie)從(cong)事(shi)測(ce)試(shi)的人員(yuan)必須完(wan)全了解高(gao)(gao)壓(ya)(ya)測(ce)試(shi)線路，及儀(yi)器操作要點。非從(cong)事(shi)測(ce)試(shi)人員(yuan)必須遠離(li)高(gao)(gao)壓(ya)(ya)測(ce)試(shi)區(qu)，測(ce)試(shi)區(qu)必須用柵欄或(huo)繩索(suo)、警(jing)視(shi)牌等(deng)清楚表示出(chu)來。

8、儀(yi)(yi)器(qi)的(de)調整維(wei)(wei)修和維(wei)(wei)護，必須(xu)(xu)在不加(jia)電(dian)情況下進行，如(ru)果(guo)必須(xu)(xu)加(jia)電(dian)，則操作者必須(xu)(xu)非(fei)常熟悉本儀(yi)(yi)器(qi)高壓危(wei)險(xian)部件(jian)。

9、保(bao)(bao)險(xian)(xian)管(guan)損壞時，必須確(que)保(bao)(bao)更換(huan)(huan)同(tong)樣的保(bao)(bao)險(xian)(xian)，禁止更換(huan)(huan)不同(tong)型號保(bao)(bao)險(xian)(xian)或將保(bao)(bao)險(xian)(xian)直(zhi)接短路使(shi)用。

儀器出現故障(zhang)時，關閉電源開關，等待一分鐘之(zhi)后再檢(jian)查。

三、WBJS8000G高壓變頻介質(zhi)損耗測試儀可測試(shi)參數(shu)

儀器可測量下(xia)列(lie)參數并(bing)數字(zi)顯示：

被測試品的電容量值CX，以pF或(huo)nF為單(dan)位，1nF=1000pF。

被測(ce)試品的介質損耗值(zhi)tgδ，以%顯示。

四、WBJS8000G高(gao)壓(ya)變頻介質(zhi)損耗測(ce)試儀性能(neng)特點

1、儀器采(cai)用復數(shu)電(dian)流法，測(ce)量電(dian)容、介質損耗及其它參數(shu)。測(ce)試結果精度高，便于實現(xian)自動化測(ce)量。

2、儀器采用了(le)變頻技術來消除(chu)現場50Hz工頻干擾，即使在(zai)強(qiang)電磁(ci)干擾的(de)環(huan)境下也能測得可(ke)靠的(de)數據。

3、儀(yi)器采用大屏幕液晶(jing)顯示器，測試(shi)過(guo)程通過(guo)漢字(zi)菜單提示既直觀又(you)便于操(cao)作。

4、儀器(qi)操作簡便，測(ce)量(liang)過(guo)程由(you)微(wei)處(chu)理器(qi)控制，只要選擇(ze)好合適的測(ce)量(liang)方式，數據的測(ce)量(liang)就(jiu)可在微(wei)處(chu)理器(qi)控制下自動完(wan)成(cheng)。

5、一體化機型，內附標(biao)準電(dian)容和(he)高壓電(dian)源(yuan)，便于(yu)現(xian)場(chang)測試(shi)，減少(shao)現(xian)場(chang)接線。

6、儀器測量準確度(du)高，可滿足油介(jie)損測量要求，因此(ci)只需(xu)配備(bei)標(biao)準油杯，和專用測試(shi)線(xian)即可實現(xian)油介(jie)損測量。

7、設CVT測(ce)試功能，可(ke)實現CVT的自激(ji)法測(ce)(ce)試，無需外置附件(jian)，只需一次測(ce)(ce)量(liang)，C1,C2的(de)電容(rong)和介損全部測出。

8、反(fan)接線(xian)測(ce)試采(cai)用ivddv技術,消除了以往反接(jie)線數據不穩定的現象。

9、具有反接線低壓屏(ping)蔽(bi)功能(neng)，在(zai)220kV CVT 母線接地(di)情(qing)況下，對C11 可進(jin)行不(bu)拆(chai)線10kV 反接線介損測量

10、具有測量高(gao)電壓(ya)(ya)介(jie)損功能，能夠(gou)使用高(gao)壓(ya)(ya)變壓(ya)(ya)器或(huo)串聯諧(xie)振進行超過(guo)10kV電壓的介損試驗。

12、接(jie)地(di)保(bao)護(hu)功(gong)能(neng)，當儀器(qi)不接(jie)地(di)線或(huo)接(jie)地(di)**時，儀器(qi)不進入正常(chang)程(cheng)序，不輸出(chu)高壓(ya)。過流(liu)保(bao)護(hu)功(gong)能(neng)，在試品短路或(huo)擊(ji)穿時儀器(qi)不受損壞(huai)。

13、觸(chu)電保(bao)護功能，當儀器操作人員不小心(xin)觸(chu)電時候，儀器會立(li)即切(qie)斷高壓，保(bao)障試驗人員的(de)**.

五(wu)、WBJS8000G高壓變頻介質損(sun)耗測試儀(yi)技術指標

準確度：

Cx: ±（讀數×1%+1pF）

tgδ:  ±（讀數×1%+0.00040）

抗(kang)干(gan)擾指標：  變頻抗(kang)干擾，在200%干擾下仍(reng)能達到上述(shu)準確度

電容量范圍：  內施高(gao)壓(ya)：    3pF～60000pF/10kV    60pF～1μF/0.5kV

外施(shi)高壓：    3pF～1.5μF/10kV         60pF～30μF/0.5kV

分辨(bian)率(lv)：      *高0.001pF，4位(wei)有效(xiao)數(shu)字

tgδ范圍：     不限，分辨率0.001%，電容、電感(gan)、電阻(zu)三種試品自動識別(bie)。

試(shi)驗電(dian)流(liu)范圍：10μA～1A

內(nei)施高壓：    設(she)定電壓范圍(wei)：0.5～10kV

*大(da)輸出電流：200mA

升降壓方式：連續平滑(hua)調節

試驗(yan)頻率： 45、50、55、60、65Hz單頻

45/55Hz、55/65Hz、47.5/52.5Hz自動雙(shuang)變頻(pin)

頻率精度：±0.01Hz

外(wai)施高壓：正接線時(shi)*大試驗電流1A，工頻(pin)或變(bian)頻(pin)40-70Hz

反接線時(shi)*大試驗電(dian)流10kV/1A，工頻(pin)或變頻(pin)40-70Hz

CVT自(zi)激法低(di)壓輸(shu)出：輸(shu)出電壓3～50V，輸出電流3～30A

CVT變比(bi)測量(liang)：

變比(bi)測量精度：±讀數×1%     變比測(ce)量范圍：10～99999

相位(wei)測量精度：±0.1°    ;       相位測量范圍(wei)：0～359.9°

測量時間：    約40s，與測(ce)量方式有關

輸(shu)入電源：    180V～270VAC，50Hz±1%，市電或發電機(ji)供電

計算機接口：  標準RS232接口

打印機(ji)：         煒煌A7熱敏微(wei)型打印機

環(huan)境(jing)溫度(du)：    -10℃～50℃

相對(dui)濕度：    <90%

外形尺寸：460×360×350mm

儀器(qi)重(zhong)量：28kg

六、測量方式及原理

按被測(ce)(ce)試(shi)品是否接(jie)地分兩(liang)種測(ce)(ce)量(liang)方式，即(ji)正接(jie)線測(ce)(ce)量(liang)方式和反接(jie)線測(ce)(ce)量(liang)方式。兩(liang)種測(ce)(ce)量(liang)方式的(de)原(yuan)理如圖一所示：

在高(gao)(gao)壓(ya)(ya)電源的10kV側(ce)，高(gao)(gao)壓(ya)(ya)分(fen)(fen)(fen)(fen)兩路(lu)，一路(lu)給機(ji)內標準(zhun)電容(rong)(rong)(rong)CN，此(ci)(ci)電容(rong)(rong)(rong)介損非常小，可以認為介損為零，即(ji)為純(chun)容(rong)(rong)(rong)性電流(liu)，此(ci)(ci)電流(liu)ICN 可做為容(rong)(rong)(rong)性電流(liu)基準(zhun)。在Cx試品(pin)一側(ce)，試品(pin)電流(liu)Icx通(tong)過(guo)(guo)采樣電阻(zu)R采入機(ji)內，此(ci)(ci)Icx可分(fen)(fen)(fen)(fen)解成水平(ping)分(fen)(fen)(fen)(fen)量(liang)(liang)和垂(chui)直(zhi)分(fen)(fen)(fen)(fen)量(liang)(liang)見圖二(er)所示(shi)，通(tong)過(guo)(guo)計算水平(ping)分(fen)(fen)(fen)(fen)量(liang)(liang)與垂(chui)直(zhi)分(fen)(fen)(fen)(fen)量(liang)(liang)的比值(zhi)即(ji)可得到tgδ值(zhi)。

在圖(tu)一（a）中Cx為非(fei)接(jie)(jie)地(di)試(shi)(shi)品(pin)，試(shi)(shi)品(pin)電(dian)流(liu)(liu)(liu)(liu)Icx從(cong)試(shi)(shi)品(pin)末端進入采(cai)樣電(dian)阻(zu)R，得到(dao)全(quan)電(dian)流(liu)(liu)(liu)(liu)值(zhi)，在圖(tu)一（b）中Cx為接(jie)(jie)地(di)試(shi)(shi)品(pin)，機(ji)內(nei)Cx端直接(jie)(jie)接(jie)(jie)地(di)，電(dian)流(liu)(liu)(liu)(liu)Icx從(cong)試(shi)(shi)品(pin)高壓(ya)端到(dao)機(ji)內(nei)采(cai)樣電(dian)阻(zu)取得全(quan)電(dian)流(liu)(liu)(liu)(liu)值(zhi)。

七(qi)、常(chang)見設備的(de)接線(xian)方法

1．儀器引出端子說明(ming)：

HV ——  儀器的測量引線高(gao)壓端（帶危險電(dian)壓） 。

CX ——  正(zheng)接線時試品電流輸入端。

——  儀器(qi)的接(jie)地(di)端，使用時與大(da)地(di)可靠相接(jie)

2.參考接線(xian)

2.1正接線、內標準電容、內高壓(ya)（常(chang)規正接線）：

2.2反接線(xian)、內(nei)標準電容、內(nei)高壓（常規反接線(xian)）

2.3正接線、外標準電容(rong)、內高壓(ya)：

2.4反接(jie)線、外(wai)標準電容、內高壓(ya)：

2.5正接線、內標準(zhun)電容、外高壓：

2.6反接(jie)線(xian)、內(nei)標(biao)準(zhun)電容、外高壓：

2.7正接線、外標準電(dian)(dian)容、外高壓(ya)（高電(dian)(dian)壓(ya)介(jie)損）：

2.8反接線、外標(biao)準電容(rong)、外高(gao)壓：

2.9  CVT自激(ji)法測量：

CVT自(zi)激(ji)法(fa)可(ke)按(an)下圖接線(xian)(xian)。如果C1是(shi)單節(jie)電容，母線(xian)(xian)不能接地；如果C1是(shi)多節(jie)電容，母線(xian)(xian)可(ke)接地，C11和(he)C12可(ke)用常規正(zheng)反接線(xian)(xian)測(ce)量(liang)(liang)，C13和(he)C2用自(zi)激(ji)法(fa)測(ce)量(liang)(liang)。

CVT自(zi)激法測量(liang)(liang)(liang)中，儀(yi)器先(xian)測量(liang)(liang)(liang)C1，然(ran)后自(zi)動(dong)倒線測量(liang)(liang)(liang)C2，并自(zi)動(dong)校(xiao)準分壓(ya)影響(xiang)。

應注意(yi)，高壓線應懸(xuan)空(kong)不能接觸地(di)面，否則其對(dui)地(di)附加(jia)介損會引起(qi)誤差，可用細(xi)電纜(lan)連接高壓插(cha)座與CVT試品(pin)并吊起(qi)。強烈建議使(shi)用(yong)高壓(ya)插座使(shi)用(yong)的(de)高壓(ya)線用(yong)黑色Cx線。

2.10 CVT變(bian)比(bi)測(ce)試

儀器高壓線的芯線紅夾子(zi)接(jie)CVT的上端，母線拆地。CVT下端接(jie)地，低壓線紅黑夾(jia)子接(jie)二次繞(rao)組，注意:如果測試(shi)角(jiao)度接(jie)近180度，應(ying)將紅黑夾子顛倒(dao)。

3.附加功(gong)能

3.1光標在 電壓：10kV上面時(shi)候，按“確認”鍵(jian)在(zai)儀器屏幕(mu)的左下角會出現圖(tu)標，代表測(ce)試結(jie)(jie)束(shu)自動打(da)印。如(ru)果再按確認鍵，圖(tu)標消(xiao)失，代表測(ce)試結(jie)(jie)束(shu)必(bi)須手動才能打(da)印。

3.2光標在(zai) 反接(jie) 上面(mian)時候，在(zai)反接(jie)線(xian)，內(nei)Cn，內Un，情況(kuang)下，按確認鍵在儀(yi)器(qi)屏(ping)幕(mu)右(you)下角會出現(xian)圖(tu)標(biao)，代(dai)表反接線(xian)低壓(ya)屏蔽(bi)測試。如果再按(an)確認鍵，圖(tu)標(biao)消失，代(dai)表取消反接線(xian)低壓(ya)屏蔽(bi)。

反接線低壓屏蔽功(gong)能，一次接線可同時測出C1和C2的電(dian)容(rong)量和介損

在(zai)反接線(xian)、內標準和內高壓方式，光標移(yi)到“反接(jie)”處，按“確認”右下角顯示“M”。

打開反接線(xian)(xian)低(di)壓(ya)屏蔽，可在上端(duan)電容(rong)C1不(bu)拆(chai)母(mu)線(xian)(xian)的情況下(xia)，對其進行(xing)不(bu)拆(chai)線(xian)(xian)10kV反接線(xian)(xian)介損測量(liang)。如下(xia)圖所(suo)示：母(mu)線(xian)(xian)掛地線(xian)(xian)，C1上端(duan)不(bu)拆(chai)線(xian)(xian)，C1下(xia)端(duan)接高壓(ya)線(xian)(xian)芯線(xian)(xian)，C2末端(duan)接Cx芯線(xian)(xian)。儀器采用反接線(xian)(xian)/10kV/M測量(liang)方式，可同時(shi)測出C11和下(xia)端(duan)屏蔽部分的電容(rong)量(liang)和介損值。

3.3光標在 正(zheng)接 上面時候，按確認鍵則(ze)測試打印機，換紙。

3.4光標(biao)在 啟動 上面時(shi)候，按減小鍵(jian)則代(dai)表取出存(cun)儲的(de)數據。

3.5測試(shi)完畢，如果按減小(xiao)鍵，則代(dai)表存儲測試(shi)的數據

八、功能簡介

儀(yi)器(qi)面板(ban)見圖九所示：

打(da)印機——打(da)印測量(liang)數據。

顯示器——128×64點(dian)陣液(ye)晶顯示器(qi)，顯示菜(cai)單和各種提示信息及測量(liang)結果。

  鍵(jian)——選(xuan)擇菜單項，被選(xuan)中(zhong)項反白字體(ti)顯示。

▲  鍵——修(xiu)改菜單內(nei)容(rong)，采用循環滾動方式。

▼ 鍵——修(xiu)改菜(cai)單內(nei)容，采用循環滾(gun)動方式。

確(que)認鍵——在(zai)“測試”選項上(shang)按此鍵進(jin)入測試狀態。

電源(yuan)開關——整機電源(yuan)的開啟和關閉。

電(dian)源座(zuo)——交流(liu)220V±10%，50±1Hz電源輸入口，帶保險倉。

9．自(zi)激法電(dian)流輸出(chu)端——測量CVT的(de)專(zhuan)用端子。

10．地(di)——為接(jie)地(di)線接(jie)線端子。

11．CX插座(zuo)——是試(shi)品信號的測量輸入端，正接線時由專(zhuan)用低(di)壓電纜連接，此(ci)電纜單(dan)層(ceng)屏蔽帶特制(zhi)鱷魚夾，長8m，接試(shi)品低端(duan)。反接線時此端(duan)空置。

12．CN插座——是(shi)外(wai)標(biao)準電(dian)容信號的測量輸入端，使用(yong)內標(biao)準時此(ci)端空置(zhi)。

13．HV插座——高壓引出(chu)端子(zi)，由高壓電(dian)纜連接(jie)，接(jie)試(shi)品(pin)高壓端。輸(shu)出(chu)10kv高壓。

14．RS-232接(jie)口，用來連接(jie)電腦，上傳數據(ju)。

九(jiu)、儀器操作步驟

1．測量前準備(bei)：

1）用接(jie)(jie)地(di)線一端接(jie)(jie)儀(yi)器的接(jie)(jie)地(di)柱，另一端接(jie)(jie)可靠的大地(di)，保證儀(yi)器外(wai)殼處在地(di)電(dian)位上。

2）正(zheng)接(jie)線時：將高(gao)壓電纜插(cha)頭插(cha)入后門HV插座中(zhong)，將另一(yi)端的(de)紅(hong)色大(da)鉗(qian)(qian)子夾(jia)到被測試品的(de)**引線上，黑色小鉗(qian)(qian)子懸空或夾(jia)在紅(hong)色大(da)鉗(qian)(qian)子上。將CX低壓電(dian)纜插入CX插座中，另一端的紅色(se)夾(jia)子夾(jia)試品(pin)的低端，黑色(se)夾(jia)子懸空或接屏蔽裝置(zhi)。

3）反接線時：將高壓電纜插頭插入后門HV插座中，將(jiang)另一(yi)端的紅色(se)大鉗(qian)子(zi)夾到被測試品的**引(yin)線上，紅色(se)小(xiao)鉗(qian)子(zi)懸空或接屏蔽裝(zhuang)置(zhi)。Cx插(cha)座(zuo)不用。

2．打(da)開(kai)電源開(kai)關，儀器(qi)進行(xing)自檢，若自檢良好(hao)，液晶屏顯示(shi)中文(wen)主菜單如

圖十所示。

3．菜(cai)單選擇(ze)：

按(an)鍵可移(yi)動光標至各菜單項，并循環指(zhi)示。被(bei)選中項反白(bai)字體顯示。選擇鍵的流程見(jian)圖十一所示。

在光標當前所示項目，按▼ ▲鍵鍵可進行該項菜單的變更，并(bing)循環(huan)指示，流(liu)程見圖十二(er)所示。

將菜單變更至與測(ce)試要求相對應后即(ji)可按選(xuan)擇鍵進行(xing)下個項目的選(xuan)擇。

4、 頻(pin)(pin)率(lv)：光(guang)標(biao)在頻(pin)(pin)率(lv)上，按↑↓鍵(jian)選擇定頻(pin)(pin)和變頻(pin)(pin)：

光標在定(ding)頻上：按住“啟(qi)停”鍵1s以(yi)上切換到全頻率選擇(ze)，按(an)↑↓鍵循環顯(xian)示(shi)45Hz / 47.5Hz / 50Hz / 52.5Hz / 55Hz / 60Hz / 65Hz

工頻50Hz測量(liang)，此設置不能抗干擾，在試(shi)驗室內(nei)測量(liang)或(huo)校驗時選用50Hz，“45/47.5/55/52.5/60/65Hz”：為單頻率(lv)測量，研(yan)究不同(tong)頻率(lv)下介損的變(bian)化時選用。

光標在變(bian)頻上(shang)：按住“啟停”鍵1s以上切換到全(quan)頻率選擇，按↑↓鍵循環顯示5-Hz / 6-Hz / 4-Hz”：

“5-Hz”：為45/55Hz自動變頻，適合(he)50Hz電網工頻(pin)干擾下(xia)測量。

“6-Hz”：為55/65Hz自動(dong)變頻，適合60Hz電網工頻干擾下測量。

“4-Hz”：為47.5/52.5Hz自(zi)動變頻(pin)，適合50Hz電(dian)網工頻干擾下測量。

5、測試：當光標在 測試 項(xiang)目上時(shi)，按確認(ren)鍵(jian)大約3秒鐘開始測試。測試過(guo)程(cheng)中顯(xian)示的(de)畫面如圖十三(san)（正接(jie)線，變頻）所示，當下面的(de)進程(cheng)到100%時候(hou)測試完畢，然(ran)后顯示測量結果見(jian)圖(tu)十四(si)所(suo)示，此時光標(biao)指示打(da)印機圖(tu)標(biao)，按確認鍵打(da)印報告。測量結果的意(yi)義如下：

tgδ： 試品的(de)損耗(hao)因數tgδ值

CX： 測量(liang)的(de)電容(rong)值

V：施(shi)加電壓值

I：試品流過的電(dian)流

F1,F2 : 試驗頻率

打印結(jie)束(shu)后，關(guan)閉電源(yuan)開關(guan)，測試完畢。

十(shi)、現場試驗注意事項

如果使(shi)用(yong)中出現測試數據明顯不合理(li)，請從(cong)以下(xia)方面(mian)查找原(yuan)因：

1、搭鉤接觸**

現場測量(liang)使用搭鉤連(lian)接試(shi)品時，搭鉤務必與試(shi)品接觸(chu)良好，否則接觸(chu)點放電會引(yin)起數據(ju)嚴(yan)重波(bo)動！尤其是引(yin)流線氧化層太厚，或風(feng)吹(chui)線擺動，易(yi)造(zao)成(cheng)接觸(chu)**。

2、接地接觸(chu)**

接(jie)地**會引(yin)起儀器(qi)保(bao)護或(huo)數據嚴重波動。應(ying)刮凈接(jie)地點(dian)上的油漆和銹蝕，務(wu)必保(bao)證0電阻接地！

3、直(zhi)接(jie)測量(liang)CVT或(huo)末端屏蔽法測量電磁式PT

直(zhi)接測量CVT的下節耦合(he)電容會(hui)出現負介損(sun)，應改用自激法(fa)。

用末端屏蔽法(fa)測量電磁式(shi)PT時，由于受潮引起“T形網絡干(gan)擾(rao)”出現(xian)負介損，吹干下面三裙(qun)瓷套和接線(xian)端(duan)子盤即可。也可改用常規法或末端(duan)加壓法測(ce)量。

4、空(kong)氣濕度過大

空(kong)氣濕度(du)大使介損測量值異常(chang)增大（或減小甚至為(wei)負）且(qie)不穩定(ding)，必(bi)要(yao)時可加屏蔽環。因人(ren)為(wei)加屏蔽環改變了試品(pin)電場分布(bu)，此(ci)法有爭議，可參照有關規程。

5、發電機供電

發電機供(gong)電時輸入頻率不穩(wen)定，可采用定頻50Hz模式(shi)工作。

6、測試(shi)線

由于(yu)長期使用，易(yi)造(zao)成測(ce)試(shi)線(xian)隱性斷路，或芯線(xian)和屏蔽短路，或插頭接觸**，用戶應經常維護測(ce)試(shi)線(xian)；

測試(shi)標準電容試(shi)品時，應使(shi)用(yong)全屏蔽插頭連接，以消除附(fu)加(jia)雜散(san)電容影響，否則不能反映出儀器(qi)精度；

自(zi)激法測量CVT時，非專用(yong)的(de)高壓線(xian)應吊(diao)起(qi)(qi)懸(xuan)空，否(fou)則對(dui)地附加雜散電容和介損會引起(qi)(qi)測量誤差。

7、工(gong)作(zuo)模(mo)式選擇

接好線(xian)后請(qing)選擇正確(que)的測量工作模式（正、反(fan)和(he)CVT），不可(ke)選(xuan)錯。特別是干擾(rao)環境(jing)下應選(xuan)用變頻抗(kang)干擾(rao)模(mo)式。

8、試驗(yan)方(fang)法影響

由于介損測量受試驗(yan)方法影響較大，應區分是(shi)試驗(yan)方法誤差還(huan)是(shi)儀器誤差。出現(xian)問(wen)題(ti)時可(ke)首先檢查(cha)接線，然(ran)后檢查(cha)是(shi)否為儀器故障。

9、儀器故障(zhang)

用(yong)萬用(yong)表測(ce)量一下測(ce)試線(xian)是否斷路(lu)，或芯線(xian)和屏蔽(bi)是否短路(lu)；輸入電源220V過高或過低；接地是否(fou)良好。

用正、反接線測(ce)一下標(biao)準電(dian)容器(qi)或已知(zhi)容量和介損的電(dian)容試(shi)品，如果結(jie)果正確，即可判斷儀器(qi)沒有(you)問題；

拔下所(suo)有測試導線，進行(xing)空試升壓，若不(bu)能正常工作，儀器可能有故障。

啟(qi)動CVT測量后(hou)測量低壓輸出，應出現2～5V電壓，否(fou)則儀(yi)器有(you)故障(zhang)。

十一、 儀器檢定(ding)

1、用(yong)標準(zhun)損耗(hao)器檢定

用(yong)(yong)帶(dai)插頭的屏蔽電(dian)纜連接(jie)標準損耗器。如果不能保證標準損耗器的精度，應(ying)使用(yong)(yong)比(bi)對(dui)法(fa)檢(jian)定，建議用(yong)(yong)2801電橋或(huo)其它精密電橋作(zuo)比對標準。儀器應選用“內標準(zhun)”和(he)“RC串(chuan)聯試品”，可選擇工頻 50Hz或定頻50Hz頻率模式。

2、用(yong)QSJ3檢定(ding)：使用帶插頭的屏蔽(bi)電纜連接QSJ3，選擇“正(zheng)接/ 外Cn / 外Un式測量，電流比為(wei)Cx∶Cn，Cn可置入適當值(zhi)。

3、抗干擾能力

設(she)置一個(ge)回路向儀器注(zhu)入定量的(de)干擾電流。

注意(yi)：

1）應考慮到該(gai)回路可能成(cheng)為(wei)試品的一(yi)部分。

2）儀器啟(qi)動后會使220V供電電路帶有(you)測(ce)量頻率分量，如果該頻率分量又(you)通過干(gan)擾電流進入儀器，則無法檢(jian)驗儀器的抗干(gan)擾能力。

3）不(bu)建議用臨近(jin)高壓導體施加干擾，因為這樣很容易(yi)產(chan)生近(jin)距離**放電，這種(zhong)放電電阻(zu)是非線性(xing)的(de)，容易(yi)產(chan)生同頻干擾。

十二、變頻測(ce)量討論

1、變頻測量(liang)

干(gan)擾十分嚴重(zhong)時(shi)，變頻(pin)測量能得到準(zhun)確可靠(kao)的結果。例如用55Hz測(ce)量時，測(ce)量系統只允許55Hz信號通過(guo)，50Hz干擾信號(hao)被有效(xiao)抑(yi)制，原因在于測(ce)量系統很容易(yi)區(qu)別不同頻率，由下述簡(jian)單計(ji)算可(ke)以說(shuo)明選頻測(ce)量的效(xiao)果：

兩(liang)個頻率相差1倍的(de)正弦(xian)波疊加到一起，高頻的(de)是(shi)干擾，幅度為(wei)低頻的(de)10倍：

這(zhe)剛好是(shi)低頻部分的相位和幅度，干擾(rao)被抑制。實際波形的測量點多達(da)數萬(wan)，計算量很大，結果反映了波形的整(zheng)體特征。

2、頻率和介損的(de)關系

介損(sun)有RC串聯(lian)(lian)和并聯(lian)(lian)兩種(zhong)理想模(mo)型：串聯(lian)(lian)模(mo)型tgδ=2πfRC，并聯(lian)模型tgδ=1/(2πfRC)，tgδ分別隨頻(pin)率(lv)f成正比(bi)和反比(bi)。如圖所(suo)示，f對完(wan)全正(zheng)比和完(wan)全反比兩種(zhong)模型影響(xiang)較(jiao)大(da)。但實際電容器是(shi)多種(zhong)模型交織的(de)混合(he)模型，此時f的影響就小。

3、自動變頻與50Hz等(deng)效

儀器(qi)采(cai)用自(zi)動變頻(pin)在干擾頻(pin)率50Hz兩側（45Hz和(he)55Hz）各(ge)測一個點，然(ran)后推算50Hz頻(pin)(pin)率下數據。除多個(ge)元件電(dian)路的(de)(de)低(di)(di)頻(pin)(pin)諧振(zhen)外，單個(ge)試品中的(de)(de)介(jie)質(zhi)不可(ke)能(neng)在低(di)(di)頻(pin)(pin)引起能(neng)量(liang)吸收峰(feng)，工頻(pin)(pin)附(fu)近(jin)介(jie)損總(zong)是隨頻(pin)(pin)率單調變化的(de)(de)。因此這種(zhong)測量(liang)方法不會帶來明顯誤(wu)差。實際上，平均(jun)前(qian)的(de)(de)兩個(ge)介(jie)損值已(yi)十分接近(jin)，即使(shi)不平均(jun)也完全(quan)有參考價(jia)值。目前(qian)，變頻(pin)(pin)介(jie)損儀已(yi)成為(wei)介(jie)損測量(liang)的(de)(de)常規儀器(qi)，其(qi)優異的(de)(de)抗干擾(rao)能(neng)力和準確(que)度已(yi)經得到(dao)認可(ke)。

十三、儀器的裝箱清單