一、WBJS8000G變頻介(jie)質損耗測量裝置概述

介(jie)(jie)損(sun)測量(liang)是絕(jue)緣試驗中很基(ji)本的方(fang)法，可以(yi)有效地發現電器(qi)(qi)設備(bei)絕(jue)緣的整體受潮劣化(hua)變質，以(yi)及局部缺陷等。在電工制造(zao)、電氣(qi)設備(bei)安裝、交接和(he)預(yu)防性(xing)(xing)試驗中都廣泛應用。變壓器(qi)(qi)、互感器(qi)(qi)、電抗器(qi)(qi)、電容器(qi)(qi)以(yi)及套(tao)管(guan)、避雷器(qi)(qi)等介(jie)(jie)損(sun)的測量(liang)是衡量(liang)其(qi)絕(jue)緣性(xing)(xing)能的*基(ji)本方(fang)法。LYJS9000F變頻介(jie)質(zhi)損耗測(ce)試儀突破了傳統的電(dian)橋測(ce)量(liang)方式(shi)，采(cai)用變頻電(dian)源技術，利用單片機、和現代化電(dian)子技術進行(xing)自動頻率變換、模/數(shu)(shu)轉換和數(shu)(shu)據運算；達(da)到(dao)抗干(gan)擾能力強、測(ce)試(shi)速(su)度快、精度高、全自動(dong)數(shu)(shu)字化(hua)、操作簡便；電(dian)源(yuan)采用大功率開關電(dian)源(yuan)，輸出(chu)45Hz和55Hz純正弦波(bo)，自(zi)動加(jia)壓，可提供*高10千伏的電壓(ya)；自動濾除50Hz干(gan)擾，適(shi)用于變電站等電磁干(gan)擾大(da)的現場測(ce)試(shi)。廣泛適(shi)用于電力行業中變壓器、互感器、套(tao)管、電容器、避雷器等設備的介損測(ce)量。

二、WBJS8000G變頻介質損耗測量裝置**措(cuo)施

1、使用本儀器前一(yi)定要(yao)認真閱讀本手(shou)冊。

2、儀器的(de)操作(zuo)者應具(ju)備(bei)(bei)一般電氣設備(bei)(bei)或儀器的(de)使(shi)用常識。

3、本儀器(qi)戶內外均可使(shi)用(yong)，但應(ying)避開雨淋、腐蝕(shi)氣體、塵埃(ai)過(guo)濃、高(gao)溫、陽光(guang)直(zhi)射等場(chang)所使(shi)用(yong)。

儀表應避(bi)免劇烈振動。

5、對(dui)儀(yi)器的維修(xiu)、護理(li)和(he)調整(zheng)應(ying)由專業人員進行。

6、在(zai)任何(he)接線之前(qian)必須用接地電(dian)纜(lan)把(ba)儀器接地端子與大(da)地可靠(kao)連接起(qi)來。

7、由于(yu)測(ce)(ce)試(shi)(shi)設備產生(sheng)高(gao)電壓，所以(yi)測(ce)(ce)試(shi)(shi)人員(yuan)(yuan)必(bi)(bi)須(xu)(xu)完全(quan)嚴格遵守(shou)**操作規(gui)程，防止他人接觸高(gao)壓部件(jian)和電路。直接從事測(ce)(ce)試(shi)(shi)的人員(yuan)(yuan)必(bi)(bi)須(xu)(xu)完全(quan)了解高(gao)壓測(ce)(ce)試(shi)(shi)線路，及儀器(qi)操作要點。非從事測(ce)(ce)試(shi)(shi)人員(yuan)(yuan)必(bi)(bi)須(xu)(xu)遠(yuan)離高(gao)壓測(ce)(ce)試(shi)(shi)區，測(ce)(ce)試(shi)(shi)區必(bi)(bi)須(xu)(xu)用(yong)柵欄或繩索(suo)、警(jing)視牌(pai)等(deng)清楚表示出(chu)來。

8、儀(yi)器的調整維修和維護，必(bi)須在不加電情(qing)況下進行，如果(guo)必(bi)須加電，則操作者必(bi)須非(fei)常熟(shu)悉本儀(yi)器高壓危(wei)險部件。

9、保險(xian)管(guan)損壞(huai)時，必須確保更換(huan)同樣的保險(xian)，禁止更換(huan)不同型號(hao)保險(xian)或將保險(xian)直接短路使用。

儀器出現故障(zhang)時(shi)，關閉電源開關，等(deng)待一分(fen)鐘(zhong)之后再(zai)檢查(cha)。

三(san)、WBJS8000G變頻介質損耗測量裝置可(ke)測試參數

儀器可(ke)測量(liang)下列參(can)數并數字顯示(shi)：

被測試品的電(dian)容(rong)量值CX，以pF或nF為單位，1nF=1000pF。

被測試品的(de)介質損耗值tgδ，以%顯示(shi)。

四(si)、WBJS8000G變(bian)頻介質損耗測量裝置性(xing)能特(te)點(dian)

1、儀器采用復數電(dian)流法，測(ce)量電(dian)容、介質損耗(hao)及其它參(can)數。測(ce)試結果精度高，便于實現自動(dong)化測(ce)量。

2、儀器采用(yong)了變頻技術來消除現場50Hz工頻干(gan)擾，即使在(zai)強電磁干(gan)擾的(de)環境下也(ye)能測得(de)可靠的(de)數(shu)據。

3、儀器(qi)采(cai)用大屏幕液晶顯示(shi)器(qi)，測試(shi)過(guo)程通過(guo)漢字菜單提(ti)示(shi)既(ji)直觀又(you)便于(yu)操作。

4、儀器操(cao)作(zuo)簡便，測(ce)量過程由微(wei)處(chu)理器控制，只要選擇好合適(shi)的(de)測(ce)量方式，數據(ju)的(de)測(ce)量就可在(zai)微(wei)處(chu)理器控制下自(zi)動完成。

5、一體化(hua)機型，內附標(biao)準(zhun)電(dian)容和高(gao)壓(ya)電(dian)源，便(bian)于現(xian)(xian)場(chang)測試，減少現(xian)(xian)場(chang)接線。

6、儀器測(ce)(ce)量(liang)準確度高，可滿(man)足油(you)介損(sun)測(ce)(ce)量(liang)要求，因此(ci)只(zhi)需配備標準油(you)杯(bei)，和專用(yong)測(ce)(ce)試線即可實現油(you)介損(sun)測(ce)(ce)量(liang)。

7、設CVT測試(shi)功能，可實(shi)現(xian)CVT的自激法測(ce)試，無需外置附件，只需一次測(ce)量，C1,C2的電(dian)容(rong)和介損全部測出。

8、反接線測試采用ivddv技術,消除了以往反接線數據(ju)不(bu)穩定的現(xian)象(xiang)。

9、具有反(fan)接線低壓屏蔽功(gong)能，在220kV CVT 母線接地情況下，對C11 可進行(xing)不(bu)拆線(xian)10kV 反接線介(jie)損(sun)測量

10、具有測量高電(dian)壓介損(sun)功能(neng)，能(neng)夠使(shi)用高壓變壓器或串聯諧(xie)振(zhen)進行超過(guo)10kV電壓的介(jie)損試驗。

12、接地保護(hu)功能，當儀器(qi)不(bu)接地線或(huo)接地**時(shi)，儀器(qi)不(bu)進(jin)入正常(chang)程序，不(bu)輸出高壓(ya)。過流(liu)保護(hu)功能，在(zai)試品短路或(huo)擊穿時(shi)儀器(qi)不(bu)受損壞(huai)。

13、觸電保(bao)護功能，當儀器(qi)操(cao)作(zuo)人員不小(xiao)心觸電時候，儀器(qi)會立即(ji)切斷高壓，保(bao)障(zhang)試驗人員的(de)**.

五、WBJS8000G變頻介質損耗測量裝置技術指標

準確度：

Cx: ±（讀數×1%+1pF）

tgδ:  ±（讀數×1%+0.00040）

抗干(gan)擾指標：  變頻抗干擾(rao)，在200%干擾下仍能達到(dao)上(shang)述準確度

電容量范圍：  內施高壓：    3pF～60000pF/10kV    60pF～1μF/0.5kV

外施高壓：    3pF～1.5μF/10kV        ; 60pF～30μF/0.5kV

分辨(bian)率：      *高0.001pF，4位(wei)有效數字

tgδ范圍：     不限，分辨率0.001%，電容、電感(gan)、電阻三種試(shi)品自動識別。

試驗(yan)電流(liu)范圍：10μA～1A

內施(shi)高(gao)壓：    設定電(dian)壓范圍：0.5～10kV

*大輸出電流：200mA

升降壓方式：連續平滑調節

試(shi)驗頻率： 45、50、55、60、65Hz單頻

45/55Hz、55/65Hz、47.5/52.5Hz自動雙變頻

頻率(lv)精度：±0.01Hz

外施(shi)高壓(ya)：正接線時*大試驗電流1A，工頻或變(bian)頻40-70Hz

反接線時*大試驗電流10kV/1A，工頻(pin)或變頻(pin)40-70Hz

CVT自激(ji)法低壓輸(shu)出(chu)(chu)：輸(shu)出(chu)(chu)電壓3～50V，輸出電流3～30A

CVT變比(bi)測量：

變比測量精度：±讀數×1%     變比測量范(fan)圍：10～99999

相位測量精度：±0.1°           相位測(ce)量范圍：0～359.9°

測量時(shi)間：    約40s，與測量方(fang)式有關

輸入電源(yuan)：    180V～270VAC，50Hz±1%，市電或發(fa)電機供電

計算機接口：  標準RS232接口

打印(yin)機：         煒煌(huang)A7熱敏微型打印機

環(huan)境(jing)溫(wen)度：    -10℃～50℃

相(xiang)對濕度：    <90%

外形(xing)尺寸：460×360×350mm

儀器(qi)重量：28kg

六(liu)、測量方式及原理(li)

按(an)被測(ce)試(shi)品是(shi)否接(jie)(jie)地分兩(liang)種測(ce)量(liang)方式，即正接(jie)(jie)線測(ce)量(liang)方式和反接(jie)(jie)線測(ce)量(liang)方式。兩(liang)種測(ce)量(liang)方式的原理如圖一所示：

在高(gao)壓(ya)電(dian)源的10kV側，高(gao)壓(ya)分(fen)兩路，一路給機(ji)內(nei)標準電(dian)容CN，此(ci)電(dian)容介損(sun)非常小(xiao)，可以認(ren)為介損(sun)為零，即為純容性(xing)電(dian)流，此(ci)電(dian)流ICN 可做(zuo)為容性(xing)電(dian)流基準。在Cx試品一側，試品電(dian)流Icx通(tong)過采樣(yang)電(dian)阻R采入機(ji)內(nei)，此(ci)Icx可分(fen)解成水(shui)平(ping)分(fen)量和垂直分(fen)量見圖二所示，通(tong)過計算(suan)水(shui)平(ping)分(fen)量與垂直分(fen)量的比值(zhi)即可得到tgδ值(zhi)。

在圖一(yi)（a）中Cx為非接地試(shi)品，試(shi)品電(dian)流(liu)(liu)Icx從試(shi)品末端(duan)進入采樣(yang)電(dian)阻R，得(de)(de)到全電(dian)流(liu)(liu)值，在圖一(yi)（b）中Cx為接地試(shi)品，機(ji)內Cx端(duan)直(zhi)接接地，電(dian)流(liu)(liu)Icx從試(shi)品高壓端(duan)到機(ji)內采樣(yang)電(dian)阻取得(de)(de)全電(dian)流(liu)(liu)值。

七、常見設備(bei)的接線方法

1．儀器引出(chu)端(duan)子(zi)說明：

HV ——  儀器的測(ce)量引線(xian)高壓端（帶危險電壓） 。

CX ——  正接(jie)線時試品電(dian)流輸入端。

——  儀器的接地(di)端，使用(yong)時與大地(di)可靠(kao)相(xiang)接

2.參考接線

2.1正接(jie)線、內(nei)標準電容、內(nei)高壓（常規正接(jie)線）：

2.2反接線(xian)、內標準(zhun)電容、內高壓（常規反接線(xian)）

2.3正接(jie)線、外標準電容、內高(gao)壓(ya)：

2.4反接線、外標(biao)準電容、內高(gao)壓：

2.5正接線、內標準(zhun)電容(rong)、外(wai)高壓：

2.6反接(jie)線、內(nei)標準電容、外高壓(ya)：

2.7正接線、外(wai)標準電容、外(wai)高壓（高電壓介(jie)損）：

2.8反接線、外(wai)標準(zhun)電容、外(wai)高壓：

2.9  CVT自激法測量：

CVT自激法可按下圖接(jie)線(xian)。如果(guo)C1是單節(jie)電(dian)容，母線(xian)不能(neng)接(jie)地(di)；如果(guo)C1是多(duo)節(jie)電(dian)容，母線(xian)可接(jie)地(di)，C11和(he)C12可用常規正反接(jie)線(xian)測(ce)量，C13和(he)C2用自激法測(ce)量。

CVT自激法測量中，儀器先測量C1，然后自動倒線測量C2，并自動校準分壓(ya)影(ying)響(xiang)。

應(ying)注意(yi)，高(gao)壓(ya)(ya)線(xian)應(ying)懸(xuan)空不能(neng)接(jie)觸地(di)面，否則(ze)其對地(di)附加介損(sun)會引起誤差，可(ke)用細電纜連(lian)接(jie)高(gao)壓(ya)(ya)插座(zuo)與(yu)CVT試品并吊起(qi)。強(qiang)烈建議使用高(gao)(gao)壓插座使用的高(gao)(gao)壓線用黑色Cx線(xian)。

2.10 CVT變(bian)比測試

儀器高壓線的芯(xin)線紅(hong)夾子接CVT的(de)上(shang)端，母(mu)線拆(chai)地。CVT下端接(jie)(jie)地，低壓線(xian)紅黑夾子接(jie)(jie)二次繞組，注意:如果測(ce)試角度接近180度，應將紅黑(hei)夾子顛倒。

3.附加(jia)功能

3.1光標在 電壓：10kV上面時(shi)候，按“確認”鍵在儀(yi)器屏幕(mu)的左下角會出現圖標(biao)(biao)，代(dai)(dai)表測(ce)試結束自動打(da)印(yin)。如果(guo)再按確認(ren)鍵，圖標(biao)(biao)消失，代(dai)(dai)表測(ce)試結束必須手(shou)動才能(neng)打(da)印(yin)。

3.2光標在 反接 上面時(shi)候，在反接線(xian)，內(nei)Cn，內Un，情況下(xia)，按確認(ren)鍵在儀器屏幕右(you)下(xia)角會出(chu)現圖(tu)標(biao)，代(dai)表(biao)(biao)反(fan)接線(xian)低壓屏蔽(bi)測試。如果(guo)再按(an)確認(ren)鍵，圖(tu)標(biao)消(xiao)失，代(dai)表(biao)(biao)取消(xiao)反(fan)接線(xian)低壓屏蔽(bi)。

反(fan)接(jie)線低壓屏蔽功(gong)能，一次接(jie)線可同時測(ce)出C1和C2的電容量(liang)和介損

在(zai)反接線、內(nei)標(biao)準和內(nei)高壓方式，光標(biao)移到“反接(jie)”處，按“確(que)認(ren)”右下(xia)角顯(xian)示(shi)“M”。

打開反接(jie)線低壓屏蔽，可(ke)在上(shang)端電容C1不拆母線的情(qing)況(kuang)下，對其進行不拆線10kV反接(jie)線介損測(ce)量(liang)。如下圖所示：母線掛地線，C1上(shang)端不拆線，C1下端接(jie)高壓線芯(xin)線，C2末端接(jie)Cx芯(xin)線。儀器采用(yong)反接(jie)線/10kV/M測(ce)量(liang)方(fang)式(shi)，可(ke)同時(shi)測(ce)出C11和下端屏蔽部分的電容量(liang)和介損值。

3.3光標在 正接 上面(mian)時候，按(an)確認鍵則測試打印機(ji)，換紙。

3.4光標在 啟動 上面時候，按(an)減小鍵則代(dai)表(biao)取出存儲的數據(ju)。

3.5測試完畢(bi)，如果按(an)減(jian)小鍵，則代(dai)表存儲(chu)測試的數(shu)據

八(ba)、功能簡介

儀器(qi)面板見(jian)圖九所示：

打(da)印機(ji)——打(da)印測量(liang)數據。

顯(xian)示器(qi)——128×64點陣(zhen)液晶顯示(shi)器(qi)，顯示(shi)菜(cai)單和各種(zhong)提示(shi)信息(xi)及測量結果。

  鍵——選(xuan)擇菜(cai)單項(xiang)，被選(xuan)中(zhong)項(xiang)反白(bai)字體(ti)顯(xian)示(shi)。

▲  鍵——修改菜單內(nei)容，采(cai)用循環滾動方式。

▼ 鍵——修改菜單內容(rong)，采用循環滾動(dong)方式。

確認鍵——在“測(ce)試”選項(xiang)上按此鍵進入測(ce)試狀態(tai)。

電源(yuan)開關(guan)——整機(ji)電源(yuan)的開啟和關(guan)閉。

電(dian)源座——交流220V±10%，50±1Hz電源(yuan)輸入(ru)口，帶保險倉(cang)。

9．自激(ji)法電流輸出(chu)端(duan)——測(ce)量CVT的專用端子(zi)。

10．地——為接地線接線端子。

11．CX插座(zuo)——是試(shi)品(pin)信(xin)號的(de)測量(liang)輸入(ru)端，正接(jie)線時(shi)由專用低壓(ya)電纜連接(jie)，此(ci)電纜單層屏蔽帶特(te)制(zhi)鱷魚(yu)夾(jia)，長8m，接(jie)試品低端(duan)。反接(jie)線時此端(duan)空置。

12．CN插座——是外標(biao)準電(dian)容信號(hao)的測量(liang)輸入端，使用內標(biao)準時此端空置。

13．HV插座——高(gao)壓(ya)引出端子(zi)，由(you)高(gao)壓(ya)電纜(lan)連接，接試品高(gao)壓(ya)端。輸出10kv高(gao)壓。

14．RS-232接(jie)口(kou)，用來連接(jie)電腦(nao)，上(shang)傳數據(ju)。

九、儀器操作步驟

1．測(ce)量前準備：

1）用接地(di)線一端接儀器的接地(di)柱，另一端接可靠的大(da)地(di)，保(bao)證(zheng)儀器外(wai)殼處(chu)在地(di)電(dian)位上。

2）正(zheng)接線(xian)時：將高(gao)壓(ya)電纜插(cha)頭插(cha)入后門HV插(cha)座中，將(jiang)另一端(duan)的紅色大(da)鉗(qian)(qian)子(zi)夾到被測試品的**引(yin)線上，黑色小鉗(qian)(qian)子(zi)懸空或夾在紅色大(da)鉗(qian)(qian)子(zi)上。將(jiang)CX低壓電纜插入CX插座中，另一端(duan)的(de)紅色夾(jia)子夾(jia)試品的(de)低端(duan)，黑色夾(jia)子懸空或接屏蔽裝置。

3）反接線時(shi)：將高壓電纜插(cha)頭插(cha)入后門(men)HV插座中，將(jiang)另(ling)一端的紅(hong)(hong)色(se)大鉗(qian)子夾到被測試品的**引線上，紅(hong)(hong)色(se)小鉗(qian)子懸空或接屏蔽裝置。Cx插(cha)座不用。

2．打開電(dian)源開關，儀器進行自(zi)檢，若自(zi)檢良好，液(ye)晶屏顯(xian)示中文(wen)主菜(cai)單如(ru)

圖十所示。

3．菜(cai)單選(xuan)擇：

按鍵可移動光標至各菜單項(xiang)，并循環指示(shi)。被選中項(xiang)反(fan)白字體顯示(shi)。選擇鍵的流程見圖十一所示(shi)。

在光(guang)標當前所示項目，按▼ ▲鍵(jian)鍵(jian)可進行(xing)該項菜單的(de)變(bian)更，并(bing)循環指示，流程(cheng)見(jian)圖十二所示。

將(jiang)菜單變更至與(yu)測(ce)試要求相(xiang)對應后即(ji)可(ke)按選擇(ze)鍵進(jin)行下(xia)個項目的(de)選擇(ze)。

4、 頻(pin)率：光標在頻(pin)率上，按↑↓鍵(jian)選擇定頻(pin)和變(bian)頻(pin)：

光標在定(ding)頻上：按住“啟停”鍵1s以上切換到全頻率選擇，按↑↓鍵循環顯示45Hz / 47.5Hz / 50Hz / 52.5Hz / 55Hz / 60Hz / 65Hz

工頻50Hz測量，此設置(zhi)不能抗干擾，在(zai)試(shi)驗室內測量或校驗時選用50Hz，“45/47.5/55/52.5/60/65Hz”：為單頻率測量，研究不同頻率下介損的(de)變化(hua)時選(xuan)用。

光標在變頻(pin)上：按住“啟停”鍵1s以上切(qie)換到全(quan)頻(pin)率選擇，按↑↓鍵循(xun)環(huan)顯示5-Hz / 6-Hz / 4-Hz”：

“5-Hz”：為45/55Hz自動變頻，適合50Hz電網工頻(pin)干擾下測量。

“6-Hz”：為55/65Hz自動變頻，適(shi)合60Hz電網工(gong)頻(pin)干擾(rao)下測量(liang)。

“4-Hz”：為47.5/52.5Hz自動變頻，適合50Hz電網工(gong)頻干擾下測(ce)量。

5、測試：當光標在 測試 項目上時(shi)，按確認鍵大約(yue)3秒鐘開始測(ce)試(shi)。測(ce)試(shi)過程(cheng)中顯示(shi)的(de)(de)畫面如圖(tu)十三（正接線(xian)，變頻）所(suo)示(shi)，當下面的(de)(de)進程(cheng)到100%時候(hou)測試完畢，然后顯示(shi)測量(liang)結果(guo)見(jian)圖十四所示(shi)，此時光標指示(shi)打(da)印機圖標，按確認(ren)鍵打(da)印報告。測量(liang)結果(guo)的(de)意義如(ru)下(xia)：

tgδ： 試品的(de)損耗因數tgδ值

CX： 測量的(de)電容值

V：施加電(dian)壓(ya)值

I：試品流(liu)過的電(dian)流(liu)

F1,F2 : 試驗頻率(lv)

打印結束后，關閉電源開關，測試(shi)完畢。

十、現(xian)場試(shi)驗(yan)注意事項(xiang)

如果使用中出現測(ce)試數據(ju)明顯(xian)不合理，請從以下方面查找(zhao)原因：

1、搭(da)鉤接(jie)觸**

現場測量使用搭鉤連(lian)接試(shi)品時，搭鉤務必(bi)與試(shi)品接觸(chu)良好，否則接觸(chu)點放電會引(yin)起數據嚴重波動(dong)！尤其是引(yin)流(liu)線氧化層太厚，或風吹線擺(bai)動(dong)，易造成(cheng)接觸(chu)**。

2、接地(di)接觸**

接地**會引(yin)起儀器保護或數(shu)據嚴重波動。應刮凈接地點上(shang)的油漆和(he)銹蝕，務(wu)必保證0電阻接地！

3、直接(jie)測量CVT或末端屏蔽法測(ce)量電磁式PT

直(zhi)接測量(liang)CVT的(de)下節耦合電容會(hui)出(chu)現負(fu)介損，應改用自(zi)激法。

用末端屏蔽(bi)法(fa)測量電磁式(shi)PT時，由于受潮引起(qi)“T形網絡干擾”出現(xian)負介(jie)損，吹(chui)干(gan)下面三裙(qun)瓷(ci)套和接線端(duan)子盤即可。也可改用常規法或(huo)末端(duan)加(jia)壓(ya)法測量。

4、空氣濕度過大

空氣濕度大使(shi)介損測量值異常增(zeng)大（或(huo)減小甚(shen)至(zhi)為負(fu)）且不穩定，必要時可加屏蔽(bi)環。因人為加屏蔽(bi)環改變了試品電(dian)場(chang)分(fen)布，此法有爭議，可參照(zhao)有關規(gui)程。

5、發(fa)電機供電

發電機供電時(shi)輸(shu)入頻率不穩定，可采用(yong)定頻50Hz模式工作。

6、測試(shi)線(xian)

由(you)于長期使用，易造成測(ce)試(shi)線(xian)隱性斷路，或芯線(xian)和屏蔽短路，或插頭接(jie)觸**，用戶應經常(chang)維護測(ce)試(shi)線(xian)；

測(ce)試標準電(dian)容試品時，應使用全屏蔽插頭連接，以消(xiao)除附(fu)加(jia)雜散電(dian)容影響，否則不能反映出儀器精度；

自(zi)激法測量CVT時(shi)，非專(zhuan)用(yong)的高壓線(xian)應吊起(qi)懸空，否則對地(di)附加雜散(san)電容和介損會引起(qi)測量誤差(cha)。

7、工作模式選(xuan)擇(ze)

接好線后請(qing)選擇正確(que)的測量(liang)工(gong)作(zuo)模式（正、反和CVT），不可選錯。特別是干擾環境(jing)下應選用變頻(pin)抗干擾模(mo)式。

8、試驗方法影響(xiang)

由于(yu)介損測(ce)量受(shou)試(shi)驗(yan)方法影(ying)響較大，應區(qu)分是試(shi)驗(yan)方法誤(wu)差還是儀器誤(wu)差。出現問題時可首先(xian)檢(jian)查(cha)接線，然后檢(jian)查(cha)是否(fou)為儀器故(gu)障。

9、儀器(qi)故障(zhang)

用萬用表測量一下測試線是否(fou)斷(duan)路，或芯(xin)線和(he)屏(ping)蔽是否(fou)短(duan)路；輸入電源220V過高或過低；接地是否良(liang)好(hao)。

用正、反接線測一下(xia)標準電容器(qi)(qi)或已知(zhi)容量和介損的電容試(shi)品，如果結(jie)果正確，即(ji)可判斷儀器(qi)(qi)沒有問(wen)題；

拔下所有測(ce)試(shi)導線，進行(xing)空試(shi)升壓(ya)，若不能正常工作，儀器可能有故障。

啟動(dong)CVT測量(liang)(liang)后測量(liang)(liang)低壓輸出(chu)，應(ying)出(chu)現2～5V電壓，否則儀(yi)器(qi)有(you)故障。

十一、 儀器檢(jian)定(ding)

1、用標準(zhun)損耗器檢定(ding)

用帶(dai)插(cha)頭(tou)的屏蔽電(dian)纜(lan)連接標(biao)準損(sun)耗(hao)器。如果(guo)不(bu)能保證標(biao)準損(sun)耗(hao)器的精(jing)度，應使用比(bi)對法檢定，建(jian)議用2801電橋(qiao)或(huo)其它精(jing)密(mi)電橋(qiao)作比對標準。儀器應(ying)選(xuan)用“內(nei)標準”和“RC串聯(lian)試品”，可選擇工頻 50Hz或定頻50Hz頻率模式。

2、用(yong)QSJ3檢定(ding)：使用(yong)帶插頭的屏蔽電纜連(lian)接QSJ3，選擇“正接(jie)/ 外Cn / 外Un式測(ce)量，電(dian)流比為Cx∶Cn，Cn可(ke)置入適當(dang)值。

3、抗干(gan)擾能力(li)

設(she)置一個回路向(xiang)儀(yi)器注入定量的干擾電流。

注意：

1）應(ying)考慮(lv)到該(gai)回路(lu)可能成為試品(pin)的一部分。

2）儀器啟(qi)動后會使220V供(gong)電(dian)電(dian)路帶有測量(liang)頻率(lv)分量(liang)，如(ru)果(guo)該(gai)頻率(lv)分量(liang)又通過干擾(rao)電(dian)流進入儀器(qi)，則(ze)無法(fa)檢驗(yan)儀器(qi)的(de)抗干擾(rao)能力。

3）不(bu)建議用(yong)臨近高壓(ya)導(dao)體施加干擾，因為這樣很(hen)容(rong)易產生近距離**放電，這種放電電阻是非線性的，容(rong)易產生同頻干擾。

十二、變頻測量討(tao)論(lun)

1、變頻測量

干(gan)擾十分嚴重時，變頻測量(liang)能(neng)得到準確可靠的結果(guo)。例如用55Hz測(ce)量時(shi)，測(ce)量系統只允許55Hz信(xin)號(hao)通過(guo)，50Hz干擾信(xin)號被有效(xiao)抑制(zhi)，原因在于(yu)測(ce)量系統很容易區別不同(tong)頻率，由下述簡單計算(suan)可以說明選頻測(ce)量的效(xiao)果：

兩個頻率相(xiang)差(cha)1倍的(de)正(zheng)弦波疊(die)加到一起，高頻(pin)的(de)是干(gan)擾，幅度為低頻(pin)的(de)10倍：

這剛好是(shi)低頻部分(fen)的相位和幅度，干擾被(bei)抑制。實(shi)際波形的測量點(dian)多達數(shu)萬(wan)，計(ji)算量很大(da)，結(jie)果反映了波形的整體(ti)特征。

2、頻率和(he)介損的關系

介損有RC串(chuan)聯(lian)和并聯(lian)兩種理想(xiang)模(mo)型(xing)：串(chuan)聯(lian)模(mo)型(xing)tgδ=2πfRC，并聯模(mo)型(xing)tgδ=1/(2πfRC)，tgδ分別隨頻率f成(cheng)正比和反比。如圖(tu)所示，f對完全正比和完全反比兩種模型影(ying)響較(jiao)大。但(dan)實際電容器是多種模型交織的混合模型，此時f的影響就小(xiao)。

3、自動(dong)變頻(pin)與50Hz等效

儀器(qi)采用自動變(bian)頻在(zai)干擾頻率50Hz兩側（45Hz和55Hz）各測一(yi)個(ge)點，然(ran)后(hou)推(tui)算50Hz頻率(lv)下(xia)數據(ju)。除(chu)多個元件電路的(de)(de)(de)(de)(de)低(di)頻諧振外，單(dan)個試(shi)品(pin)中的(de)(de)(de)(de)(de)介(jie)質不(bu)可能在(zai)低(di)頻引(yin)起能量(liang)吸(xi)收(shou)峰，工頻附近介(jie)損總是隨頻率(lv)單(dan)調變化的(de)(de)(de)(de)(de)。因此(ci)這種測量(liang)方法不(bu)會帶來明顯誤差(cha)。實際上，平均前的(de)(de)(de)(de)(de)兩個介(jie)損值已十分接近，即使(shi)不(bu)平均也完全有參考價值。目前，變頻介(jie)損儀已成(cheng)為(wei)介(jie)損測量(liang)的(de)(de)(de)(de)(de)常規儀器，其優異的(de)(de)(de)(de)(de)抗干擾(rao)能力(li)和準確度已經(jing)得到認可。

十(shi)三、儀器的裝箱清單