一、WBJS8000G變頻介質損耗測(ce)試系(xi)統概述

介損測量是絕(jue)緣(yuan)試(shi)驗(yan)中很基(ji)本(ben)的方(fang)法(fa)，可以(yi)有效地發現(xian)電(dian)器(qi)(qi)設備(bei)絕(jue)緣(yuan)的整體受潮劣化變質，以(yi)及局(ju)部缺(que)陷等(deng)。在電(dian)工制造、電(dian)氣設備(bei)安裝、交接(jie)和預(yu)防性(xing)試(shi)驗(yan)中都廣泛應用。變壓器(qi)(qi)、互感器(qi)(qi)、電(dian)抗器(qi)(qi)、電(dian)容器(qi)(qi)以(yi)及套管、避雷器(qi)(qi)等(deng)介損的測量是衡量其絕(jue)緣(yuan)性(xing)能(neng)的*基(ji)本(ben)方(fang)法(fa)。LYJS9000F變(bian)頻(pin)介質損耗測(ce)試儀突破了(le)傳統的電(dian)(dian)橋測(ce)量方(fang)式，采(cai)用(yong)變(bian)頻(pin)電(dian)(dian)源技術，利(li)用(yong)單(dan)片機、和現(xian)代化電(dian)(dian)子技術進(jin)行自動頻(pin)率變(bian)換(huan)、模/數轉換和數據(ju)運算；達到(dao)抗干擾能(neng)力強、測試速(su)度快、精度高、全自(zi)動數字化、操作簡便(bian)；電源采用大功率開關電源，輸出45Hz和55Hz純正(zheng)弦波，自動加壓(ya)，可(ke)提(ti)供*高(gao)10千伏的電壓；自(zi)動濾除50Hz干(gan)擾，適用于變(bian)電(dian)站等電(dian)磁干(gan)擾大的現場測試。廣泛(fan)適用于電(dian)力行業中變(bian)壓器(qi)、互感(gan)器(qi)、套管(guan)、電(dian)容器(qi)、避(bi)雷器(qi)等設(she)備的介損測量(liang)。

二、WBJS8000G變頻介質損耗測試(shi)系統(tong)**措施

1、使用本儀器前一(yi)定(ding)要認真閱(yue)讀本手(shou)冊。

2、儀器的操(cao)作(zuo)者應具備(bei)一般電(dian)氣(qi)設備(bei)或(huo)儀器的使用常識。

3、本儀器戶內外(wai)均可使用，但應避(bi)開雨淋、腐蝕(shi)氣體、塵埃過(guo)濃、高溫、陽光直射(she)等場所使用。

儀(yi)表應避(bi)免劇烈振動。

5、對儀(yi)器的維修(xiu)、護理和調整應由(you)專業人員(yuan)進行。

6、在任(ren)何接線(xian)之前必須(xu)用接地(di)電纜把儀器接地(di)端子(zi)與(yu)大地(di)可(ke)靠連(lian)接起來。

7、由(you)于測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)設(she)備產(chan)生高(gao)電(dian)壓，所以測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)人(ren)員(yuan)必須(xu)(xu)完全嚴格遵守**操作規程，防止他(ta)人(ren)接(jie)觸(chu)高(gao)壓部(bu)件和電(dian)路(lu)。直接(jie)從(cong)事(shi)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)的人(ren)員(yuan)必須(xu)(xu)完全了(le)解(jie)高(gao)壓測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)線(xian)路(lu)，及儀(yi)器操作要點(dian)。非從(cong)事(shi)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)人(ren)員(yuan)必須(xu)(xu)遠離高(gao)壓測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)區，測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)區必須(xu)(xu)用柵欄或繩(sheng)索、警視牌等清楚表(biao)示(shi)出來(lai)。

8、儀器的調(diao)整維(wei)修(xiu)和維(wei)護(hu)，必須在不加電情況下進行，如果必須加電，則操作者必須非常熟悉本(ben)儀器高壓(ya)危險部件。

9、保險(xian)管損壞時(shi)，必(bi)須確保更換(huan)同樣的保險(xian)，禁止更換(huan)不同型(xing)號保險(xian)或將保險(xian)直(zhi)接短路使用。

儀器(qi)出現(xian)故障時，關閉電源開(kai)關，等待一分鐘之后再檢查(cha)。

三(san)、WBJS8000G變頻介(jie)質(zhi)損耗測試系統可(ke)測試參數(shu)

儀(yi)器可(ke)測量(liang)下(xia)列參(can)數(shu)并數(shu)字(zi)顯示：

被測試品的電容量值(zhi)CX，以(yi)pF或nF為單位，1nF=1000pF。

被(bei)測試品的介質(zhi)損耗值tgδ，以%顯(xian)示。

四、WBJS8000G變頻介質損(sun)耗測試系統性能(neng)特點

1、儀器采用復數(shu)電流法(fa)，測(ce)量電容、介(jie)質損(sun)耗及其它參(can)數(shu)。測(ce)試(shi)結果精(jing)度高，便于實(shi)現自動(dong)化測(ce)量。

2、儀器采用了(le)變頻技術來消除現場50Hz工頻干擾，即(ji)使(shi)在強電磁干擾的環境下也能測得可靠的數據。

3、儀器采用大屏幕液晶顯示器，測試過程通過漢字(zi)菜單提示既直(zhi)觀又便于操作。

4、儀器操作簡便，測(ce)量過(guo)程由(you)微(wei)處理器控(kong)制(zhi)，只(zhi)要選(xuan)擇好合(he)適的測(ce)量方(fang)式，數據的測(ce)量就可在微(wei)處理器控(kong)制(zhi)下自動完成。

5、一體化機型，內附標準(zhun)電容和高壓(ya)電源，便于(yu)現場測(ce)試，減少現場接線。

6、儀器(qi)測量準確度高，可滿足油(you)介損(sun)測量要求，因(yin)此只(zhi)需配備標準油(you)杯，和(he)專用(yong)測試線即可實現油(you)介損(sun)測量。

7、設CVT測試功能，可實現(xian)CVT的自激(ji)法測(ce)試，無需(xu)外置附件，只(zhi)需(xu)一次測(ce)量，C1,C2的(de)電容(rong)和介損全(quan)部測出。

8、反接線測(ce)試采用ivddv技術,消(xiao)除了以往反接線(xian)數據不(bu)穩定的現象(xiang)。

9、具有反(fan)接(jie)線低壓(ya)屏蔽(bi)功(gong)能，在220kV CVT 母線(xian)接地情(qing)況下，對(dui)C11 可(ke)進行不拆線10kV 反接線介(jie)損(sun)測量

10、具有測量高電壓(ya)介損功能，能夠使用(yong)高壓(ya)變壓(ya)器或串聯諧振進行超(chao)過10kV電壓的介(jie)損試(shi)驗。

12、接地保(bao)護(hu)功(gong)能，當(dang)儀(yi)(yi)器(qi)不接地線或(huo)接地**時(shi)，儀(yi)(yi)器(qi)不進入正常(chang)程序，不輸出(chu)高(gao)壓(ya)。過流(liu)保(bao)護(hu)功(gong)能，在試(shi)品短路或(huo)擊穿時(shi)儀(yi)(yi)器(qi)不受損壞。

13、觸(chu)電保護功能，當儀器(qi)操作人(ren)員不小(xiao)心觸(chu)電時(shi)候，儀器(qi)會立即切斷高(gao)壓，保障(zhang)試驗人(ren)員的**.

五、WBJS8000G變頻介質(zhi)損耗測試(shi)系統技術指(zhi)標

準確度：

Cx: ±（讀(du)數×1%+1pF）

tgδ:  ±（讀數×1%+0.00040）

抗干擾指標：  變(bian)頻(pin)抗干擾，在200%干擾下仍能達到上述(shu)準(zhun)確度

電容量(liang)范圍：  內(nei)施高(gao)壓：    3pF～60000pF/10kV    60pF～1μF/0.5kV

外施(shi)高壓：    3pF～1.5μF/10kV         60pF～30μF/0.5kV

分辨率：      *高(gao)0.001pF，4位有(you)效數字

tgδ范圍：     不限，分辨率(lv)0.001%，電容、電感、電阻三種試品自動識別。

試驗電流范(fan)圍(wei)：10μA～1A

內(nei)施高壓：    設定電壓范圍：0.5～10kV

*大輸出電流(liu)：200mA

升降壓方式：連續平滑調(diao)節

試驗頻率： 45、50、55、60、65Hz單頻

45/55Hz、55/65Hz、47.5/52.5Hz自動雙變(bian)頻(pin)

頻率精度：±0.01Hz

外施高壓：正接(jie)線時*大(da)試驗電流(liu)1A，工頻或變頻40-70Hz

反接線(xian)時(shi)*大試驗電流10kV/1A，工頻或變(bian)頻40-70Hz

CVT自激法低(di)壓輸出：輸出電壓3～50V，輸出電(dian)流3～30A

CVT變比測量：

變比測量精度：±讀數×1%     變比(bi)測量(liang)范圍(wei)：10～99999

相(xiang)位測量精(jing)度：±0.1°           相位測量范圍(wei)：0～359.9°

測量時間：    約40s，與測(ce)量(liang)方式(shi)有關

輸入電源：    180V～270VAC，50Hz±1%，市電或發(fa)電機供電

計(ji)算機接口：  標(biao)準(zhun)RS232接口(kou)

打印機：  ;       煒煌A7熱敏微型打印機

環(huan)境溫(wen)度：    -10℃～50℃

相對濕度：    <90%

外形(xing)尺(chi)寸：460×360×350mm

儀器重(zhong)量(liang)：28kg

六、測量(liang)方式及原理

按被測試品是否接地分兩種(zhong)測量(liang)(liang)方(fang)式，即正接線(xian)測量(liang)(liang)方(fang)式和(he)反(fan)接線(xian)測量(liang)(liang)方(fang)式。兩種(zhong)測量(liang)(liang)方(fang)式的原理如(ru)圖一(yi)所(suo)示(shi)：

在高壓電源的10kV側，高壓分兩路，一路給(gei)機內標準電容CN，此(ci)電容介(jie)(jie)損非常(chang)小，可(ke)(ke)以認(ren)為介(jie)(jie)損為零，即為純容性(xing)電流(liu)(liu)(liu)，此(ci)電流(liu)(liu)(liu)ICN 可(ke)(ke)做(zuo)為容性(xing)電流(liu)(liu)(liu)基準。在Cx試(shi)品(pin)一側，試(shi)品(pin)電流(liu)(liu)(liu)Icx通(tong)過(guo)采樣電阻R采入機內，此(ci)Icx可(ke)(ke)分解成水(shui)平分量(liang)和垂直分量(liang)見圖二所(suo)示(shi)，通(tong)過(guo)計算水(shui)平分量(liang)與(yu)垂直分量(liang)的比值(zhi)即可(ke)(ke)得到tgδ值(zhi)。

在圖一（a）中(zhong)Cx為(wei)(wei)非接(jie)地試品(pin)(pin)(pin)，試品(pin)(pin)(pin)電(dian)流Icx從試品(pin)(pin)(pin)末端進入采(cai)樣(yang)電(dian)阻R，得到(dao)全電(dian)流值(zhi)，在圖一（b）中(zhong)Cx為(wei)(wei)接(jie)地試品(pin)(pin)(pin)，機內(nei)Cx端直接(jie)接(jie)地，電(dian)流Icx從試品(pin)(pin)(pin)高(gao)壓端到(dao)機內(nei)采(cai)樣(yang)電(dian)阻取得全電(dian)流值(zhi)。

七、常見設備的接線方(fang)法

1．儀器引出端子(zi)說(shuo)明：

HV ——  儀器的(de)測量引線高壓(ya)端(duan)（帶危險(xian)電(dian)壓(ya)） 。

CX ——  正(zheng)接線(xian)時(shi)試品電流輸入端。

——  儀(yi)器(qi)的接地端，使用時(shi)與大(da)地可靠相接

2.參考接線

2.1正(zheng)接線、內標(biao)準電容、內高(gao)壓（常規正(zheng)接線）：

2.2反(fan)接線(xian)、內標準(zhun)電容、內高壓（常規(gui)反(fan)接線(xian)）

2.3正接線、外標準電容(rong)、內高壓：

2.4反接線、外標(biao)準電容、內高壓：

2.5正接線、內標準(zhun)電容、外(wai)高壓：

2.6反接(jie)線(xian)、內(nei)標準電容(rong)、外高壓：

2.7正接線、外(wai)標準電(dian)(dian)容、外(wai)高(gao)壓（高(gao)電(dian)(dian)壓介(jie)損）：

2.8反接(jie)線(xian)、外標準電(dian)容、外高壓(ya)：

2.9  CVT自激法(fa)測量：

CVT自(zi)激(ji)(ji)法可按(an)下圖接線。如果(guo)C1是單節電容(rong)，母(mu)(mu)線不能接地；如果(guo)C1是多節電容(rong)，母(mu)(mu)線可接地，C11和(he)C12可用常規正反接線測(ce)量，C13和(he)C2用自(zi)激(ji)(ji)法測(ce)量。

CVT自(zi)激法(fa)測量(liang)中(zhong)，儀器先測量(liang)C1，然(ran)后自(zi)動倒線測量(liang)C2，并自(zi)動校準分壓影響。

應注(zhu)意，高壓(ya)(ya)線應懸空不能接觸地(di)面，否則其對地(di)附加介(jie)損(sun)會引起誤(wu)差，可用細(xi)電纜連接高壓(ya)(ya)插座與CVT試(shi)品(pin)并吊起。強烈建議使(shi)用(yong)高壓插座使(shi)用(yong)的(de)高壓線用(yong)黑色Cx線。

2.10 CVT變比測試

儀(yi)器高壓線(xian)的(de)芯線(xian)紅夾(jia)子接(jie)CVT的上端，母線(xian)拆地(di)。CVT下端(duan)接地，低壓線紅黑(hei)夾子接二次繞組，注意:如果測試角度接近180度，應將紅(hong)黑夾子顛倒。

3.附(fu)加功能

3.1光標在(zai) 電壓：10kV上面時候(hou)，按“確認”鍵在儀器屏(ping)幕的左下角(jiao)會出(chu)現圖(tu)標(biao)，代(dai)表(biao)測試(shi)結束自動(dong)打印。如果再(zai)按確認鍵，圖(tu)標(biao)消失，代(dai)表(biao)測試(shi)結束必須(xu)手動(dong)才能(neng)打印。

3.2光(guang)標在(zai) 反(fan)接(jie) 上面時(shi)候，在(zai)反(fan)接(jie)線，內Cn，內(nei)Un，情況(kuang)下(xia)，按確(que)認鍵(jian)在儀器屏(ping)幕(mu)右下(xia)角會出現圖標(biao)，代(dai)表反接線低壓(ya)屏蔽(bi)測試。如果再按確認鍵，圖標(biao)消(xiao)失，代(dai)表取消(xiao)反接線低壓(ya)屏蔽(bi)。

反接(jie)線低壓(ya)屏蔽功能，一次接(jie)線可(ke)同(tong)時測出C1和C2的電容量和介損

在反接線、內標準和(he)內高壓方(fang)式(shi)，光標移到“反接”處，按(an)“確認(ren)”右下角顯示“M”。

打開(kai)反(fan)接(jie)(jie)線(xian)低壓(ya)屏(ping)蔽，可在上端電(dian)容C1不拆母(mu)線(xian)的情況下(xia)，對其進行不拆線(xian)10kV反(fan)接(jie)(jie)線(xian)介(jie)損(sun)測(ce)量(liang)。如下(xia)圖所示(shi)：母(mu)線(xian)掛地線(xian)，C1上端不拆線(xian)，C1下(xia)端接(jie)(jie)高壓(ya)線(xian)芯線(xian)，C2末端接(jie)(jie)Cx芯線(xian)。儀器采(cai)用反(fan)接(jie)(jie)線(xian)/10kV/M測(ce)量(liang)方(fang)式，可同(tong)時測(ce)出C11和下(xia)端屏(ping)蔽部分(fen)的電(dian)容量(liang)和介(jie)損(sun)值(zhi)。

3.3光標在(zai) 正接 上面(mian)時(shi)候(hou)，按(an)確認鍵(jian)則測試打印機，換紙(zhi)。

3.4光標在(zai) 啟動 上面時候，按減小鍵則代表取出存儲的數(shu)據。

3.5測試(shi)完畢，如果(guo)按(an)減小鍵，則代表存儲(chu)測試(shi)的(de)數據

八、功(gong)能簡介

儀器面板(ban)見圖九所(suo)示：

打(da)印(yin)機(ji)——打(da)印(yin)測量數據。

顯(xian)示器(qi)——128×64點陣液晶顯示器，顯示菜單和各(ge)種提示信息(xi)及測量結果。

  鍵——選(xuan)擇菜單(dan)項(xiang)，被選(xuan)中項(xiang)反白字體顯示。

▲  鍵——修(xiu)改菜單(dan)內容，采用循環滾動方(fang)式。

▼ 鍵——修改菜單內容(rong)，采用循環滾動方式(shi)。

確認鍵——在“測(ce)試(shi)”選(xuan)項(xiang)上按(an)此(ci)鍵進(jin)入測(ce)試(shi)狀態。

電源(yuan)開(kai)關——整機電源(yuan)的(de)開(kai)啟和關閉。

電源座——交流(liu)220V±10%，50±1Hz電源輸入口(kou)，帶保(bao)險倉。

9．自激法電流輸出端——測量CVT的專用端子。

10．地——為接(jie)地線接(jie)線端(duan)子。

11．CX插座(zuo)——是(shi)試(shi)品信號(hao)的測量輸入端(duan)，正接線時由專用低壓電(dian)纜連接，此電(dian)纜單層屏(ping)蔽帶特制(zhi)鱷魚夾，長(chang)8m，接(jie)試品低端。反接(jie)線時此(ci)端空置。

12．CN插(cha)座——是外標(biao)準(zhun)電(dian)容信號的測量輸入端，使(shi)用內標(biao)準(zhun)時此端空置。

13．HV插座——高(gao)壓引出(chu)端子，由高(gao)壓電纜連接(jie)，接(jie)試(shi)品高(gao)壓端。輸出(chu)10kv高壓(ya)。

14．RS-232接(jie)口，用(yong)來連接(jie)電腦，上傳(chuan)數據。

九、儀器操作步驟

1．測量前準備(bei)：

1）用接地(di)(di)線一端接儀(yi)器的接地(di)(di)柱，另一端接可靠的大(da)地(di)(di)，保證儀(yi)器外(wai)殼處(chu)在地(di)(di)電位上(shang)。

2）正接線時：將高壓電纜插頭插入后門HV插(cha)座(zuo)中，將另一端的紅(hong)色大(da)鉗子夾(jia)到被(bei)測試品的**引線上(shang)，黑色小鉗子懸空或夾(jia)在紅(hong)色大(da)鉗子上(shang)。將CX低壓電纜插入CX插座中，另一端(duan)的紅(hong)色(se)夾子夾試(shi)品(pin)的低端(duan)，黑(hei)色(se)夾子懸(xuan)空或接(jie)屏蔽裝置(zhi)。

3）反接線時：將高(gao)壓電纜插(cha)頭插(cha)入后門HV插座中，將另一端(duan)的紅(hong)色大鉗子夾到被測試品的**引線上，紅(hong)色小鉗子懸空或(huo)接屏蔽裝(zhuang)置。Cx插座不用。

2．打(da)開(kai)(kai)電源開(kai)(kai)關，儀器進行(xing)自檢，若自檢良好，液晶屏顯示(shi)中文主菜單如

圖十所示(shi)。

3．菜單選擇(ze)：

按(an)鍵可(ke)移(yi)動光(guang)標至各(ge)菜單項(xiang)，并循環指示(shi)(shi)。被選中項(xiang)反白字體顯示(shi)(shi)。選擇(ze)鍵的流(liu)程見圖(tu)十一所示(shi)(shi)。

在光標當前所示(shi)(shi)項(xiang)目，按▼ ▲鍵(jian)鍵(jian)可進行該項(xiang)菜單的(de)變更，并循環指示(shi)(shi)，流程見圖(tu)十二(er)所示(shi)(shi)。

將菜單變更至與(yu)測試要求相對應后即可按(an)選擇鍵進行下(xia)個項目(mu)的選擇。

4、 頻(pin)率(lv)：光標在頻(pin)率(lv)上，按↑↓鍵選擇定頻(pin)和變頻(pin)：

光標在定頻上：按住“啟停”鍵1s以上切換到全頻率選擇，按↑↓鍵循(xun)環(huan)顯(xian)示45Hz / 47.5Hz / 50Hz / 52.5Hz / 55Hz / 60Hz / 65Hz

工頻50Hz測量(liang)，此設置不能(neng)抗干擾，在試驗(yan)室(shi)內測量(liang)或校驗(yan)時選用50Hz，“45/47.5/55/52.5/60/65Hz”：為單頻率(lv)測量，研究(jiu)不同頻率(lv)下介損(sun)的變化時選用。

光(guang)標(biao)在變頻上(shang)：按住“啟停”鍵(jian)1s以上(shang)切(qie)換(huan)到全頻率(lv)選擇，按↑↓鍵循環(huan)顯(xian)示5-Hz / 6-Hz / 4-Hz”：

“5-Hz”：為45/55Hz自動變頻，適(shi)合50Hz電網工頻干擾下測量。

“6-Hz”：為55/65Hz自動變頻，適合60Hz電網工(gong)頻干擾下測量。

“4-Hz”：為(wei)47.5/52.5Hz自動(dong)變(bian)頻，適合50Hz電網工頻干擾下測(ce)量。

5、測試：當光標在 測試 項目上時，按確認鍵大約3秒鐘開(kai)始測試(shi)。測試(shi)過程中顯示(shi)的畫(hua)面如圖十(shi)三（正接(jie)線，變頻(pin)）所示(shi)，當(dang)下面的進程到(dao)100%時候測試完畢，然后顯示(shi)測量(liang)(liang)結(jie)果見(jian)圖(tu)十(shi)四(si)所示(shi)，此時光標(biao)指示(shi)打印機(ji)圖(tu)標(biao)，按確(que)認(ren)鍵打印報告(gao)。測量(liang)(liang)結(jie)果的意義如(ru)下：

tgδ： 試品的損耗因數tgδ值

CX： 測(ce)量的電容值

V：施(shi)加電壓值

I：試品流(liu)過的電流(liu)

F1,F2 : 試(shi)驗頻率

打印結束后，關閉電(dian)源開關，測試完畢。

十、現(xian)場試驗注意(yi)事(shi)項

如(ru)果使用中出現測試數據明顯不(bu)合理(li)，請從以下方面查找原因：

1、搭鉤(gou)接觸**

現場測(ce)量(liang)使用搭(da)鉤連接(jie)(jie)試品時，搭(da)鉤務必與(yu)試品接(jie)(jie)觸(chu)良好(hao)，否則(ze)接(jie)(jie)觸(chu)點(dian)放電會引(yin)起數據(ju)嚴重波動！尤(you)其是引(yin)流線(xian)氧(yang)化層(ceng)太(tai)厚(hou)，或風吹線(xian)擺動，易造成接(jie)(jie)觸(chu)**。

2、接地(di)接觸(chu)**

接(jie)地**會引起儀(yi)器保護或(huo)數據嚴重(zhong)波動。應(ying)刮凈接(jie)地點上的(de)油漆和(he)銹蝕，務必保證0電阻接地！

3、直接(jie)測量CVT或末端(duan)屏蔽(bi)法測量(liang)電磁式(shi)PT

直(zhi)接測量CVT的下節耦合(he)電(dian)容會出(chu)現負介損(sun)，應改用自激法。

用末端屏蔽法(fa)測量電磁式(shi)PT時，由于受(shou)潮引起“T形網(wang)絡干擾”出現(xian)負介損，吹干下面(mian)三裙瓷套和接(jie)線端子盤即(ji)可。也可改用常規法(fa)或(huo)末端加壓法(fa)測量。

4、空氣濕(shi)度過大

空(kong)氣(qi)濕(shi)度大使介損測量值(zhi)異常(chang)增大（或減小(xiao)甚至為(wei)負）且不穩定(ding)，必要時可加屏(ping)蔽(bi)環。因(yin)人為(wei)加屏(ping)蔽(bi)環改變了試(shi)品電場分(fen)布，此法有(you)(you)爭議，可參照有(you)(you)關(guan)規程。

5、發(fa)電機(ji)供電

發電機供電時輸入頻率不穩定，可(ke)采用定頻50Hz模式工作。

6、測試線(xian)

由于長期使(shi)用(yong)，易(yi)造成(cheng)測試(shi)(shi)線(xian)(xian)隱性斷路，或芯線(xian)(xian)和屏蔽短路，或插(cha)頭接觸**，用(yong)戶應經常(chang)維護測試(shi)(shi)線(xian)(xian)；

測(ce)試標準電容試品(pin)時，應使用全屏蔽插頭連接，以消除附(fu)加(jia)雜散(san)電容影(ying)響(xiang)，否則(ze)不能(neng)反(fan)映(ying)出儀器精度；

自(zi)激法測(ce)量CVT時，非專(zhuan)用的高壓線應(ying)吊起懸空(kong)，否則對(dui)地附加雜散電容和(he)介(jie)損會(hui)引起測量(liang)誤差。

7、工(gong)作模式選擇

接好線后請選擇正(zheng)確的測(ce)量(liang)工作(zuo)模式（正(zheng)、反和CVT），不(bu)可選錯。特別是干(gan)擾環(huan)境下(xia)應選用變(bian)頻(pin)抗干(gan)擾模式。

8、試驗(yan)方法影響(xiang)

由于介損測量受(shou)試驗(yan)方法(fa)影響較大，應區分是(shi)試驗(yan)方法(fa)誤(wu)差還是(shi)儀器誤(wu)差。出現問題時可首先(xian)檢查接線，然后(hou)檢查是(shi)否為儀器故障。

9、儀器故障

用(yong)萬用(yong)表(biao)測(ce)量一(yi)下測(ce)試線是(shi)否斷(duan)路，或(huo)芯(xin)線和屏蔽是(shi)否短路；輸(shu)入電源220V過高(gao)或過低；接地是否良好。

用(yong)正、反接線(xian)測一下標準電容器或已(yi)知(zhi)容量和介損的電容試(shi)品，如(ru)果結果正確，即可判(pan)斷儀器沒有問題；

拔下所有測(ce)試(shi)導線，進行空(kong)試(shi)升壓，若不能正常工作(zuo)，儀器可(ke)能有故障。

啟(qi)動CVT測(ce)量后測(ce)量低壓輸出，應出現2～5V電(dian)壓，否則(ze)儀器有(you)故(gu)障。

十一(yi)、 儀(yi)器檢定

1、用標準損(sun)耗器(qi)檢定

用帶(dai)插頭的屏蔽電纜連接標準損耗(hao)器。如(ru)果不能保證標準損耗(hao)器的精度，應(ying)使用比對法檢定(ding)，建議用2801電橋(qiao)或其它精密電橋(qiao)作比(bi)對標準。儀器應選(xuan)用“內標(biao)準”和“RC串聯試品”，可(ke)選擇工頻(pin) 50Hz或定頻50Hz頻(pin)率模式。

2、用QSJ3檢(jian)定：使用帶插(cha)頭的屏蔽電纜連接QSJ3，選擇“正接/ 外Cn / 外Un式測量，電流(liu)比為Cx∶Cn，Cn可置入適當(dang)值(zhi)。

3、抗(kang)干擾能(neng)力(li)

設置一個(ge)回路向(xiang)儀器注(zhu)入定量的干擾電流。

注意(yi)：

1）應考慮到(dao)該回路可能成為(wei)試品(pin)的一部分(fen)。

2）儀器啟動后會使220V供電(dian)(dian)電(dian)(dian)路帶有測量(liang)頻(pin)率分量(liang)，如果該頻(pin)率分量(liang)又通(tong)過干擾電(dian)(dian)流進入(ru)儀器，則(ze)無法檢驗儀器的抗干擾能(neng)力。

3）不建議用臨近高壓導體(ti)施加干擾，因為這(zhe)樣(yang)很容易(yi)(yi)產生近距離**放(fang)電(dian)，這(zhe)種放(fang)電(dian)電(dian)阻是非線性的，容易(yi)(yi)產生同頻干擾。

十二(er)、變頻(pin)測(ce)量(liang)討論

1、變頻測量

干(gan)擾十分(fen)嚴重時(shi)，變頻測量(liang)能得(de)到準確可靠的結果。例如用55Hz測(ce)量時，測(ce)量系統只允許(xu)55Hz信號通(tong)過，50Hz干擾信(xin)號被有效抑制，原因(yin)在于測(ce)量系統(tong)很容(rong)易區別(bie)不同頻率，由(you)下述簡單計算(suan)可(ke)以說明選(xuan)頻測(ce)量的效果：

兩個頻率相(xiang)差1倍的(de)正弦波疊加到一起，高(gao)頻的(de)是干(gan)擾，幅度為低頻的(de)10倍：

這(zhe)剛(gang)好是(shi)低頻部分(fen)的相位和幅度(du)，干擾(rao)被(bei)抑制。實(shi)際(ji)波(bo)形的測量(liang)點多達數萬，計算量(liang)很大，結果反映了波(bo)形的整體特征(zheng)。

2、頻率和介損(sun)的(de)關系

介損有RC串聯(lian)和(he)并聯(lian)兩種(zhong)理想模型：串聯(lian)模型tgδ=2πfRC，并聯模型tgδ=1/(2πfRC)，tgδ分(fen)別(bie)隨頻率f成正(zheng)比和反比。如圖所示(shi)，f對完(wan)全正比和完(wan)全反(fan)比兩種模(mo)型影響較大。但實際電容器是(shi)多種模(mo)型交織(zhi)的(de)混合(he)模(mo)型，此時f的影響就小。

3、自動變頻(pin)與50Hz等效

儀器采用(yong)自動(dong)變頻在干擾頻率50Hz兩側（45Hz和55Hz）各測一個點(dian)，然后推算(suan)50Hz頻(pin)率下(xia)數(shu)據(ju)。除(chu)多個元件電路的低頻(pin)諧振外，單個試品中的介(jie)質不(bu)可能在低頻(pin)引起(qi)能量(liang)吸收峰(feng)，工頻(pin)附近(jin)介(jie)損(sun)總是隨頻(pin)率單調變化的。因此這種測量(liang)方法不(bu)會帶來明顯誤(wu)差。實際(ji)上，平(ping)均(jun)(jun)前的兩個介(jie)損(sun)值已十分(fen)接近(jin)，即使不(bu)平(ping)均(jun)(jun)也完全有(you)參考價值。目前，變頻(pin)介(jie)損(sun)儀已成為介(jie)損(sun)測量(liang)的常(chang)規儀器，其優(you)異的抗干(gan)擾能力和準確度已經(jing)得到認可。

十三、儀器的裝箱清單