一、WBJS8000G變頻介質損耗測量儀(yi)概述(shu)

介損測量是(shi)絕緣(yuan)試驗中很基(ji)本(ben)的(de)方(fang)法，可以有(you)效地發現(xian)電(dian)(dian)器(qi)設備絕緣(yuan)的(de)整體(ti)受潮劣化變(bian)質，以及(ji)局部缺(que)陷等(deng)。在電(dian)(dian)工(gong)制造(zao)、電(dian)(dian)氣設備安(an)裝、交接(jie)和預(yu)防性試驗中都廣(guang)泛應用(yong)。變(bian)壓器(qi)、互感器(qi)、電(dian)(dian)抗(kang)器(qi)、電(dian)(dian)容器(qi)以及(ji)套管、避雷器(qi)等(deng)介損的(de)測量是(shi)衡量其絕緣(yuan)性能的(de)*基(ji)本(ben)方(fang)法。LYJS9000F變(bian)頻介質損耗測試儀(yi)突破了(le)傳統的電橋(qiao)測量(liang)方(fang)式，采(cai)用變(bian)頻電源(yuan)技術，利(li)用單片(pian)機(ji)、和(he)現(xian)代(dai)化電子技術進(jin)行(xing)自動頻率(lv)變(bian)換、模/數轉換和數據運算；達到抗干(gan)擾能力(li)強、測試速(su)度快、精度高、全自動數字(zi)化、操作簡便；電源采用大功率(lv)開關電源，輸出45Hz和55Hz純(chun)正弦波，自動加壓，可提供*高10千伏的(de)電壓(ya)；自動濾除50Hz干擾(rao)(rao)，適(shi)用(yong)于變電(dian)(dian)站等(deng)電(dian)(dian)磁干擾(rao)(rao)大的現場(chang)測試。廣(guang)泛適(shi)用(yong)于電(dian)(dian)力行業中變壓器、互感器、套管、電(dian)(dian)容器、避(bi)雷器等(deng)設備的介(jie)損測量。

二、WBJS8000G變頻介(jie)質損(sun)耗測量儀**措施

1、使用本儀器前(qian)一定要認真閱讀本手(shou)冊。

2、儀器的(de)(de)操作(zuo)者應具備一(yi)般電氣設備或儀器的(de)(de)使用(yong)常識。

3、本儀器戶內外均可(ke)使用(yong)，但應避(bi)開雨淋、腐蝕(shi)氣體、塵埃(ai)過濃、高溫、陽光直射等場所(suo)使用(yong)。

儀表應避免劇烈振動。

5、對儀(yi)器的維修、護理和調整應由專業人員進行。

6、在(zai)任(ren)何接(jie)線之前必須用接(jie)地電纜把儀器(qi)接(jie)地端子與大地可靠連接(jie)起來。

7、由于測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)設備產生高(gao)電(dian)壓，所以測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)人員(yuan)必(bi)(bi)須(xu)完全嚴格遵守(shou)**操(cao)作規程，防止他人接(jie)觸高(gao)壓部件和電(dian)路。直接(jie)從事測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)的人員(yuan)必(bi)(bi)須(xu)完全了解高(gao)壓測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)線路，及儀器操(cao)作要點(dian)。非從事測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)人員(yuan)必(bi)(bi)須(xu)遠離高(gao)壓測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)區(qu)，測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)區(qu)必(bi)(bi)須(xu)用柵(zha)欄或繩(sheng)索、警視牌(pai)等清楚表示出來。

8、儀(yi)器的調整維修和(he)維護(hu)，必須在不加(jia)電(dian)情況下進行(xing)，如果(guo)必須加(jia)電(dian)，則操作者必須非常熟悉本儀(yi)器高壓危險(xian)部件。

9、保險(xian)管損(sun)壞時，必(bi)須確保更(geng)換同樣的保險(xian)，禁止更(geng)換不同型號保險(xian)或將保險(xian)直接(jie)短(duan)路使用(yong)。

儀器出現(xian)故障時，關閉電(dian)源開關，等待一分鐘之(zhi)后再檢(jian)查。

三、WBJS8000G變頻介質損耗(hao)測量儀可測(ce)試參(can)數

儀器可測量下列參(can)數并數字顯示：

被測試品的電容量值(zhi)CX，以pF或nF為單位，1nF=1000pF。

被測試(shi)品的介質損耗值tgδ，以(yi)%顯示。

四、WBJS8000G變頻介質損耗測量儀性(xing)能特點

1、儀器(qi)采用(yong)復數電流法，測量(liang)電容(rong)、介質損耗及其它參數。測試結果精度高，便(bian)于實現自動化測量(liang)。

2、儀器采用了變頻技(ji)術來消除現場50Hz工頻干(gan)擾，即使在強(qiang)電磁干(gan)擾的(de)環境(jing)下也(ye)能測得可靠的(de)數據。

3、儀器采用(yong)大屏幕液晶顯(xian)示器，測試過程(cheng)通過漢(han)字(zi)菜單提示既直(zhi)觀又(you)便于操作(zuo)。

4、儀器操作簡便，測量(liang)過程由微處理器控制，只要(yao)選擇好合(he)適的測量(liang)方式，數據的測量(liang)就可(ke)在微處理器控制下自動完成。

5、一體化機(ji)型(xing)，內附標(biao)準電容和(he)高壓電源，便于現(xian)(xian)場(chang)測試，減(jian)少現(xian)(xian)場(chang)接線。

6、儀器測量(liang)準(zhun)確度高，可滿足油(you)(you)介損測量(liang)要求(qiu)，因此只需配備標(biao)準(zhun)油(you)(you)杯，和(he)專用測試線即可實現(xian)油(you)(you)介損測量(liang)。

7、設(she)CVT測試功能，可實(shi)現(xian)CVT的自激(ji)法測試，無(wu)需(xu)(xu)外置(zhi)附(fu)件，只需(xu)(xu)一次測量，C1,C2的電容和介(jie)損全部測出。

8、反接線(xian)測試采用ivddv技術,消除了以往反接線數據不穩定的(de)現象。

9、具有反(fan)接線低壓屏蔽功能，在220kV CVT 母(mu)線(xian)接地情況下(xia)，對(dui)C11 可(ke)進行不(bu)拆線10kV 反接線(xian)介損測量

10、具有測(ce)量高(gao)電壓介損功能，能夠使用(yong)高(gao)壓變壓器或(huo)串(chuan)聯諧振(zhen)進行超過10kV電壓的介損試驗。

12、接(jie)(jie)地(di)保(bao)護功能，當儀(yi)(yi)器不(bu)(bu)接(jie)(jie)地(di)線或接(jie)(jie)地(di)**時(shi)，儀(yi)(yi)器不(bu)(bu)進(jin)入正常(chang)程序(xu)，不(bu)(bu)輸出(chu)高壓。過流保(bao)護功能，在試品短(duan)路或擊穿時(shi)儀(yi)(yi)器不(bu)(bu)受損壞。

13、觸電(dian)(dian)保(bao)護功(gong)能，當儀器(qi)操作(zuo)人(ren)員不(bu)小心觸電(dian)(dian)時候，儀器(qi)會(hui)立(li)即切斷高壓，保(bao)障試驗(yan)人(ren)員的**.

五、WBJS8000G變頻介質(zhi)損耗測量儀技術指標(biao)

準確度：

Cx: ±（讀數×1%+1pF）

tgδ:  ±（讀數×1%+0.00040）

抗干擾指標：  變頻抗干擾，在200%干擾下仍能達到上述準確度(du)

電容量范圍(wei)：  內施高壓：    3pF～60000pF/10kV    60pF～1μF/0.5kV

外施高壓：    3pF～1.5μF/10kV         60pF～30μF/0.5kV

分辨率(lv)：      *高0.001pF，4位有效數(shu)字

tgδ范圍：     不限(xian)，分辨率(lv)0.001%，電容、電感、電阻三種試品自動識別。

試驗電流(liu)范圍：10μA～1A

內(nei)施高(gao)壓：    設定電壓范圍：0.5～10kV

*大輸出電流：200mA

升降壓方式：連續平滑(hua)調(diao)節

試驗頻率： 45、50、55、60、65Hz單頻

45/55Hz、55/65Hz、47.5/52.5Hz自動雙(shuang)變頻

頻率精度：±0.01Hz

外(wai)施(shi)高壓：正接線(xian)時*大試驗電流1A，工(gong)頻(pin)或變頻(pin)40-70Hz

反接線(xian)時*大(da)試驗電流10kV/1A，工頻(pin)(pin)或變(bian)頻(pin)(pin)40-70Hz

CVT自激法低壓輸出：輸出電(dian)壓3～50V，輸出(chu)電流3～30A

CVT變比測(ce)量(liang)：

變比測量精度：±讀數×1%     變(bian)比測(ce)量范圍：10～99999

相位(wei)測(ce)量(liang)精度：±0.1°           相位測量范圍：0～359.9°

測量時間：    約(yue)40s，與測量方式有關

輸入電源：    180V～270VAC，50Hz±1%，市(shi)電(dian)或發電(dian)機供電(dian)

計算機(ji)接口：  標準RS232接口

打印(yin)機：         煒(wei)煌A7熱敏微型打印機

環境溫度：    -10℃～50℃

相對濕度(du)：    <90%

外形尺寸(cun)：460×360×350mm

儀器重量(liang)：28kg

六(liu)、測量方(fang)式(shi)及原理

按被(bei)測試品是(shi)否接(jie)地分兩種(zhong)測量(liang)(liang)(liang)方(fang)式(shi)，即正接(jie)線測量(liang)(liang)(liang)方(fang)式(shi)和反接(jie)線測量(liang)(liang)(liang)方(fang)式(shi)。兩種(zhong)測量(liang)(liang)(liang)方(fang)式(shi)的原理如(ru)圖一所示：

在高(gao)(gao)壓電(dian)(dian)源的10kV側，高(gao)(gao)壓分(fen)兩路，一路給機內標(biao)準(zhun)電(dian)(dian)容CN，此(ci)(ci)電(dian)(dian)容介(jie)損非(fei)常小，可(ke)(ke)以(yi)認為(wei)介(jie)損為(wei)零(ling)，即為(wei)純容性電(dian)(dian)流(liu)(liu)(liu)，此(ci)(ci)電(dian)(dian)流(liu)(liu)(liu)ICN 可(ke)(ke)做為(wei)容性電(dian)(dian)流(liu)(liu)(liu)基準(zhun)。在Cx試品一側，試品電(dian)(dian)流(liu)(liu)(liu)Icx通過采(cai)樣電(dian)(dian)阻(zu)R采(cai)入機內，此(ci)(ci)Icx可(ke)(ke)分(fen)解成水平(ping)(ping)分(fen)量(liang)和垂(chui)直分(fen)量(liang)見圖二(er)所(suo)示，通過計(ji)算水平(ping)(ping)分(fen)量(liang)與垂(chui)直分(fen)量(liang)的比值即可(ke)(ke)得到tgδ值。

在圖一(yi)（a）中(zhong)Cx為非接(jie)(jie)地試(shi)品(pin)，試(shi)品(pin)電(dian)(dian)流(liu)Icx從(cong)試(shi)品(pin)末端(duan)(duan)進入采樣(yang)電(dian)(dian)阻R，得到(dao)全(quan)(quan)電(dian)(dian)流(liu)值，在圖一(yi)（b）中(zhong)Cx為接(jie)(jie)地試(shi)品(pin)，機(ji)(ji)內(nei)(nei)Cx端(duan)(duan)直接(jie)(jie)接(jie)(jie)地，電(dian)(dian)流(liu)Icx從(cong)試(shi)品(pin)高壓端(duan)(duan)到(dao)機(ji)(ji)內(nei)(nei)采樣(yang)電(dian)(dian)阻取得全(quan)(quan)電(dian)(dian)流(liu)值。

七、常見(jian)設備(bei)的(de)接線(xian)方法

1．儀器引出端子說明：

HV ——  儀器的測量引線(xian)高壓端（帶危(wei)險電壓） 。

CX ——  正接線(xian)時試品電(dian)流輸(shu)入端(duan)。

——  儀(yi)器的接地(di)端，使用時與大地(di)可靠相接

2.參考接線

2.1正接線(xian)、內標(biao)準電容(rong)、內高壓（常規正接線(xian)）：

2.2反接線、內標(biao)準電容、內高壓（常規反接線）

2.3正接線、外標準電容、內高壓(ya)：

2.4反接線、外標準(zhun)電容(rong)、內高(gao)壓：

2.5正接線、內(nei)標(biao)準(zhun)電容、外(wai)高壓：

2.6反接(jie)線、內標準(zhun)電容、外(wai)高壓：

2.7正接線(xian)、外標準電(dian)容(rong)、外高壓（高電(dian)壓介損）：

2.8反接線、外標準電容、外高壓(ya)：

2.9  CVT自激(ji)法測量：

CVT自激(ji)法可按下圖(tu)接線(xian)(xian)。如果C1是單節(jie)電容，母(mu)線(xian)(xian)不能(neng)接地；如果C1是多節(jie)電容，母(mu)線(xian)(xian)可接地，C11和C12可用(yong)(yong)常規正(zheng)反接線(xian)(xian)測(ce)量，C13和C2用(yong)(yong)自激(ji)法測(ce)量。

CVT自(zi)(zi)激法測量(liang)中(zhong)，儀器(qi)先測量(liang)C1，然(ran)后自(zi)(zi)動倒線測量(liang)C2，并(bing)自(zi)(zi)動校準分壓(ya)影(ying)響。

應(ying)注(zhu)意，高(gao)壓(ya)線應(ying)懸空不能(neng)接(jie)觸地面，否(fou)則其對地附加介(jie)損會引起誤差，可用細電纜連接(jie)高(gao)壓(ya)插(cha)座與CVT試品并吊(diao)起。強(qiang)烈建議(yi)使用高(gao)壓插座使用的(de)高(gao)壓線用黑色Cx線。

2.10 CVT變(bian)比(bi)測試

儀器高壓線的(de)芯線紅夾子接(jie)CVT的上端(duan)，母線拆地(di)。CVT下端接(jie)地，低(di)壓線紅黑夾子接(jie)二次繞(rao)組(zu)，注意:如果測(ce)試角度接近180度，應將紅黑(hei)夾子(zi)顛倒。

3.附(fu)加功能

3.1光標在(zai) 電壓：10kV上面時候，按“確認”鍵在儀器屏幕的左下(xia)角會(hui)出現(xian)圖(tu)標(biao)，代(dai)表(biao)測試結束自動打(da)印。如果再按(an)確認鍵(jian)，圖(tu)標(biao)消失，代(dai)表(biao)測試結束必須手動才能打(da)印。

3.2光標(biao)在 反接 上面時候(hou)，在反接線，內(nei)Cn，內Un，情況下(xia)，按確認鍵(jian)在儀器屏幕右下(xia)角會出(chu)現圖標(biao)，代表(biao)反(fan)接線低壓屏蔽測(ce)試。如(ru)果再(zai)按確認鍵(jian)，圖標(biao)消失(shi)，代表(biao)取消反(fan)接線低壓屏蔽。

反(fan)接(jie)線低(di)壓屏蔽功(gong)能，一次接(jie)線可同時(shi)測出C1和C2的電(dian)容量和介(jie)損

在反接線、內標(biao)準和內高壓(ya)方式(shi)，光標(biao)移到“反接”處，按“確認”右下(xia)角顯示“M”。

打(da)開反接(jie)線(xian)(xian)(xian)低壓(ya)屏蔽(bi)，可(ke)在(zai)上端電(dian)容(rong)C1不(bu)拆母(mu)線(xian)(xian)(xian)的情況(kuang)下，對(dui)其進行不(bu)拆線(xian)(xian)(xian)10kV反接(jie)線(xian)(xian)(xian)介(jie)(jie)損測量。如下圖所示：母(mu)線(xian)(xian)(xian)掛地線(xian)(xian)(xian)，C1上端不(bu)拆線(xian)(xian)(xian)，C1下端接(jie)高壓(ya)線(xian)(xian)(xian)芯線(xian)(xian)(xian)，C2末端接(jie)Cx芯線(xian)(xian)(xian)。儀器采(cai)用反接(jie)線(xian)(xian)(xian)/10kV/M測量方式(shi)，可(ke)同(tong)時測出C11和下端屏蔽(bi)部分(fen)的電(dian)容(rong)量和介(jie)(jie)損值。

3.3光(guang)標(biao)在(zai) 正接(jie) 上(shang)面時候(hou)，按確認鍵則測試打印機，換紙。

3.4光標在(zai) 啟動(dong) 上面時候，按減小鍵則(ze)代表取出存儲的數(shu)據(ju)。

3.5測試完畢，如果按減小鍵，則代表存儲測試的數據(ju)

八、功能簡介

儀(yi)器(qi)面板見圖(tu)九所(suo)示：

打印機——打印測(ce)量數據。

顯示器——128×64點陣液晶顯示器(qi)，顯示菜單(dan)和各種提示信息及(ji)測量結果。

  鍵(jian)——選(xuan)(xuan)擇菜單項，被選(xuan)(xuan)中項反白字(zi)體顯示(shi)。

▲  鍵——修改菜單(dan)內容，采用循環滾動方式(shi)。

▼ 鍵——修改菜(cai)單內容(rong)，采用循環(huan)滾動方式。

確認鍵——在“測(ce)試”選項上按此鍵進入(ru)測(ce)試狀態。

電源(yuan)開關——整機(ji)電源(yuan)的開啟和關閉。

電源(yuan)座——交流220V±10%，50±1Hz電(dian)源輸入口(kou)，帶保(bao)險倉。

9．自激法電流輸出端——測量(liang)CVT的專用端子(zi)。

10．地(di)——為接地(di)線(xian)接線(xian)端(duan)子。

11．CX插座——是試品信號的(de)測量輸(shu)入端，正接(jie)線時由(you)專用低壓電(dian)纜連(lian)接(jie)，此(ci)電(dian)纜單層屏蔽(bi)帶特制鱷魚夾，長(chang)8m，接試(shi)品(pin)低(di)端。反接線時此端空置。

12．CN插(cha)座(zuo)——是外(wai)標準電容信(xin)號的測量輸入端，使用內標準時此端空(kong)置(zhi)。

13．HV插座——高壓(ya)引出(chu)端(duan)子，由高壓(ya)電纜連接，接試(shi)品高壓(ya)端(duan)。輸出(chu)10kv高壓。

14．RS-232接口，用來連接電腦(nao)，上傳數據。

九、儀器操作步驟(zou)

1．測量前準(zhun)備：

1）用(yong)接(jie)地(di)線一端接(jie)儀器(qi)的接(jie)地(di)柱，另一端接(jie)可靠的大(da)地(di)，保證儀器(qi)外殼處在(zai)地(di)電位上(shang)。

2）正接線(xian)時：將高壓電纜(lan)插頭插入后門HV插座中，將(jiang)另一端(duan)的紅(hong)色(se)大(da)鉗子夾到被測試品(pin)的**引線上，黑(hei)色(se)小鉗子懸空或夾在紅(hong)色(se)大(da)鉗子上。將(jiang)CX低壓電纜(lan)插入CX插座(zuo)中，另一端(duan)的紅(hong)色(se)夾子夾試品的低端(duan)，黑色(se)夾子懸空(kong)或(huo)接屏蔽裝置。

3）反接線時：將高壓電(dian)纜插頭(tou)插入后門(men)HV插座(zuo)中(zhong)，將另一端(duan)的紅色(se)(se)大鉗子夾到被測試(shi)品(pin)的**引線上，紅色(se)(se)小(xiao)鉗子懸空或接(jie)屏蔽裝(zhuang)置。Cx插座(zuo)不用(yong)。

2．打(da)開(kai)電(dian)源開(kai)關(guan)，儀器(qi)進行自(zi)檢，若自(zi)檢良好(hao)，液(ye)晶(jing)屏顯示中(zhong)文主菜單如

圖十(shi)所示。

3．菜(cai)單選擇：

按鍵可移動光標至各菜單項，并(bing)循環指示。被(bei)選中項反白字體顯示。選擇鍵的流(liu)程見(jian)圖十一(yi)所示。

在光標當前所示項(xiang)目，按(an)▼ ▲鍵鍵可進行該(gai)項(xiang)菜(cai)單的變(bian)更，并循環指示，流程(cheng)見圖十二所示。

將菜單變(bian)更(geng)至與測試要求相對(dui)應后即可按選(xuan)擇鍵進(jin)行下個(ge)項目的(de)選(xuan)擇。

4、 頻率(lv)(lv)：光標在(zai)頻率(lv)(lv)上，按↑↓鍵選擇定頻和變頻：

光標在定(ding)頻上：按(an)住(zhu)“啟(qi)停(ting)”鍵1s以上切換到全頻(pin)率選(xuan)擇，按(an)↑↓鍵(jian)循環(huan)顯示45Hz / 47.5Hz / 50Hz / 52.5Hz / 55Hz / 60Hz / 65Hz

工(gong)頻50Hz測(ce)量，此設(she)置(zhi)不能抗干擾，在試驗(yan)室(shi)內測(ce)量或(huo)校(xiao)驗(yan)時選(xuan)用50Hz，“45/47.5/55/52.5/60/65Hz”：為單頻率測量，研(yan)究不同頻率下介損的變化時選用。

光標(biao)在變頻上：按住“啟停”鍵(jian)1s以上切換到全(quan)頻率選(xuan)擇，按(an)↑↓鍵循環顯示5-Hz / 6-Hz / 4-Hz”：

“5-Hz”：為(wei)45/55Hz自動變頻(pin)，適合50Hz電網工頻干擾下(xia)測(ce)量。

“6-Hz”：為55/65Hz自(zi)動變頻(pin)，適合(he)60Hz電網工(gong)頻干擾下(xia)測量。

“4-Hz”：為(wei)47.5/52.5Hz自動變頻(pin)，適合50Hz電網工頻干擾(rao)下測量。

5、測試(shi)(shi)：當(dang)光標在 測試(shi)(shi) 項目上(shang)時，按確認鍵大約3秒鐘開始測(ce)試(shi)。測(ce)試(shi)過程中顯(xian)示的(de)畫面如(ru)圖十三（正接線，變頻）所(suo)示，當下面的(de)進程到100%時(shi)候測試(shi)完畢，然(ran)后顯示測量結果(guo)見(jian)圖十四所示，此時(shi)光標(biao)指示打印(yin)機圖標(biao)，按確認鍵打印(yin)報告(gao)。測量結果(guo)的(de)意義如下：

tgδ： 試品的損耗因數tgδ值

CX： 測量(liang)的電(dian)容值(zhi)

V：施(shi)加電壓(ya)值

I：試品流(liu)過的電流(liu)

F1,F2 : 試驗(yan)頻率

打印結束后(hou)，關閉電(dian)源(yuan)開關，測試(shi)完畢。

十、現場試驗注(zhu)意事(shi)項(xiang)

如果使用中(zhong)出現測試數據(ju)明顯不(bu)合理，請從(cong)以(yi)下方面查找原因：

1、搭鉤接觸**

現(xian)場測量使用搭(da)鉤(gou)連接(jie)試品時，搭(da)鉤(gou)務必與試品接(jie)觸(chu)(chu)良好，否則接(jie)觸(chu)(chu)點(dian)放電(dian)會引起數據嚴重(zhong)波動！尤其是(shi)引流線(xian)氧化層太(tai)厚，或風吹線(xian)擺動，易(yi)造成接(jie)觸(chu)(chu)**。

2、接地接觸**

接(jie)(jie)地**會引起儀器保(bao)護或數據嚴重(zhong)波動。應刮(gua)凈接(jie)(jie)地點上(shang)的油漆和銹蝕，務必保(bao)證0電阻接地！

3、直接測量CVT或末端(duan)屏蔽法測量電(dian)磁式PT

直接(jie)測量(liang)CVT的(de)下節耦合電容(rong)會(hui)出現負介損，應改用自激法。

用末端屏蔽法測量電磁式PT時(shi)，由于受潮引起“T形網絡干擾”出現(xian)負(fu)介損，吹干下面三裙(qun)瓷套(tao)和接線端子盤即可。也可改用常(chang)規(gui)法(fa)或末(mo)端加壓法(fa)測量。

4、空氣濕度過大(da)

空氣濕(shi)度大(da)使介損測量值異常(chang)增大(da)（或減小甚(shen)至為負）且不穩定，必要時可加屏(ping)蔽環。因人為加屏(ping)蔽環改變了試(shi)品電場分(fen)布(bu)，此法(fa)有(you)爭議，可參照有(you)關(guan)規程(cheng)。

5、發電機供電

發電機供(gong)電時輸入頻率不穩(wen)定，可采(cai)用定頻50Hz模式(shi)工(gong)作。

6、測試線

由于(yu)長期使(shi)用，易造成測試(shi)線(xian)隱性斷路，或芯線(xian)和屏蔽短路，或插頭接觸**，用戶(hu)應經常維護測試(shi)線(xian)；

測(ce)試標準電容(rong)試品(pin)時，應使(shi)用(yong)全屏蔽(bi)插(cha)頭連(lian)接，以消除(chu)附加雜散電容(rong)影響，否則不能反映出(chu)儀器精度；

自激法(fa)測量(liang)CVT時，非專(zhuan)用的高壓線應(ying)吊起懸空，否則對(dui)地附加雜散電容和介損會引起測(ce)量誤差。

7、工作(zuo)模式選擇(ze)

接好(hao)線后請選擇正確的測量工作(zuo)模式（正、反和CVT），不可選(xuan)錯。特別是干擾環境下應選(xuan)用變頻抗干擾模式。

8、試驗方法影響(xiang)

由(you)于介損測量受(shou)試驗(yan)方法影響較大(da)，應區分是試驗(yan)方法誤差還是儀器誤差。出現問題時可首先(xian)檢查(cha)接線，然后(hou)檢查(cha)是否為儀器故障(zhang)。

9、儀器故障

用萬用表(biao)測量一下測試(shi)線是否(fou)斷路，或芯(xin)線和屏蔽(bi)是否(fou)短路；輸入電源220V過高(gao)或(huo)過低；接地是否良好。

用正、反(fan)接(jie)線測一下標準電容器或已知容量和介損的電容試品，如果(guo)結(jie)果(guo)正確，即可(ke)判斷儀器沒有問題；

拔下所(suo)有測試導線(xian)，進(jin)行(xing)空試升壓，若不能正常(chang)工作(zuo)，儀器可能有故障。

啟動CVT測量(liang)后測量(liang)低壓(ya)輸出，應出現2～5V電壓，否(fou)則儀器有故障。

十一(yi)、 儀器(qi)檢(jian)定

1、用標準損(sun)耗器檢定

用帶(dai)插頭的屏(ping)蔽電纜連接標準損耗器。如果不能保(bao)證標準損耗器的精度，應使用比對法(fa)檢定，建議用2801電(dian)橋或其它精密電(dian)橋作比對標準。儀器應選用“內標準”和“RC串聯試(shi)品”，可選擇工頻 50Hz或定頻50Hz頻(pin)率模式。

2、用QSJ3檢定：使(shi)用帶插頭的屏(ping)蔽電纜連(lian)接QSJ3，選擇“正(zheng)接/ 外(wai)Cn / 外Un式測(ce)量，電流比(bi)為(wei)Cx∶Cn，Cn可置入適當值。

3、抗干擾(rao)能力

設置一個回路向儀器注(zhu)入定量的干(gan)擾電(dian)流。

注意：

1）應考慮到該回(hui)路(lu)可能成為試(shi)品的一部分(fen)。

2）儀器(qi)啟動(dong)后(hou)會使220V供電(dian)電(dian)路帶有(you)測量(liang)頻(pin)率分量(liang)，如果(guo)該頻(pin)率分量(liang)又通(tong)過干(gan)(gan)擾電(dian)流(liu)進入儀器，則無(wu)法檢驗儀器的抗干(gan)(gan)擾能(neng)力。

3）不建議用(yong)臨近高(gao)壓導體施加(jia)干擾，因為(wei)這(zhe)樣很容易(yi)(yi)產(chan)(chan)生(sheng)近距(ju)離**放(fang)電，這(zhe)種放(fang)電電阻是非線性的(de)，容易(yi)(yi)產(chan)(chan)生(sheng)同頻干擾。

十二、變頻(pin)測量討(tao)論

1、變頻測量

干擾十分(fen)嚴重時，變頻(pin)測量能得到準(zhun)確可靠的結果。例如用55Hz測量時，測量系統(tong)只允許55Hz信號通(tong)過，50Hz干擾(rao)信號被有效抑制，原因在于測(ce)量系(xi)統(tong)很容易區(qu)別不同頻率，由下述簡單(dan)計算可(ke)以說(shuo)明(ming)選頻測(ce)量的效果：

兩個頻率相差1倍的(de)正弦(xian)波疊加到一起，高(gao)頻的(de)是干擾，幅度為低頻的(de)10倍：

這剛好是低頻部分的相(xiang)位和幅度，干(gan)擾被(bei)抑制。實(shi)際波形的測量(liang)點多達數萬，計算(suan)量(liang)很(hen)大，結果反映了(le)波形的整體特征(zheng)。

2、頻率(lv)和介損的關系(xi)

介損(sun)有RC串(chuan)聯(lian)和并聯(lian)兩種(zhong)理想(xiang)模型(xing)：串(chuan)聯(lian)模型(xing)tgδ=2πfRC，并聯模(mo)型tgδ=1/(2πfRC)，tgδ分別(bie)隨頻率f成(cheng)正比(bi)和反比(bi)。如圖所示(shi)，f對完全正(zheng)比(bi)和完全反比(bi)兩種(zhong)模(mo)型(xing)影響較大。但(dan)實際電容器是多種(zhong)模(mo)型(xing)交織的混合模(mo)型(xing)，此時f的影(ying)響(xiang)就小。

3、自動變頻與50Hz等效

儀(yi)器采用自動變頻(pin)在干擾頻(pin)率(lv)50Hz兩側（45Hz和55Hz）各測一個點，然后推算50Hz頻(pin)率(lv)下數據(ju)。除多個元(yuan)件電(dian)路的低(di)頻(pin)諧振外(wai)，單(dan)個試品(pin)中的介質不(bu)可(ke)能(neng)(neng)在低(di)頻(pin)引起能(neng)(neng)量(liang)(liang)吸收峰，工頻(pin)附近(jin)介損(sun)總是隨頻(pin)率(lv)單(dan)調變化的。因此(ci)這種測(ce)量(liang)(liang)方法不(bu)會帶(dai)來(lai)明顯誤差。實際上(shang)，平(ping)均前的兩個介損(sun)值(zhi)已十(shi)分接近(jin)，即使不(bu)平(ping)均也完全(quan)有參(can)考價值(zhi)。目前，變頻(pin)介損(sun)儀已成為介損(sun)測(ce)量(liang)(liang)的常規儀器(qi)，其優異的抗干(gan)擾能(neng)(neng)力和準確度已經(jing)得到認可(ke)。

十(shi)三(san)、儀器的裝(zhuang)箱(xiang)清(qing)單(dan)