一、WBJS8000G變頻介(jie)質損耗儀概述(shu)

介(jie)損測(ce)量(liang)是絕(jue)緣(yuan)(yuan)試驗中很基本的方(fang)法，可(ke)以有效地(di)發現電(dian)器設備(bei)絕(jue)緣(yuan)(yuan)的整體受潮(chao)劣(lie)化變質，以及(ji)(ji)局部缺陷等。在電(dian)工制造、電(dian)氣設備(bei)安裝、交接和(he)預防性試驗中都廣(guang)泛應用。變壓(ya)器、互感器、電(dian)抗器、電(dian)容器以及(ji)(ji)套(tao)管(guan)、避雷器等介(jie)損的測(ce)量(liang)是衡量(liang)其絕(jue)緣(yuan)(yuan)性能的*基本方(fang)法。LYJS9000F變頻介質損耗測試儀突破(po)了傳統的電(dian)橋測量方式，采用(yong)變頻電(dian)源(yuan)技術(shu)，利(li)用(yong)單(dan)片機、和現代(dai)化電(dian)子(zi)技術(shu)進行自動頻率變換、模/數轉(zhuan)換和(he)數據運算；達到抗干擾能力強、測(ce)試速度快、精(jing)度高、全自(zi)動數字化、操(cao)作簡便(bian)；電源采用大功率開關電源，輸(shu)出45Hz和55Hz純正弦波，自動(dong)加壓，可提供(gong)*高10千(qian)伏的電壓；自動濾(lv)除50Hz干(gan)(gan)擾，適用于(yu)變電(dian)站等電(dian)磁干(gan)(gan)擾大的(de)現(xian)場測試。廣泛適用于(yu)電(dian)力行業中(zhong)變壓器、互感(gan)器、套管、電(dian)容器、避雷器等設備的(de)介損測量(liang)。

二、WBJS8000G變頻介(jie)質損(sun)耗儀**措施(shi)

1、使(shi)用本儀器前(qian)一定要認真閱讀本手(shou)冊。

2、儀(yi)器(qi)的操(cao)作者應具備(bei)一般電氣設(she)備(bei)或儀(yi)器(qi)的使用常識。

3、本(ben)儀器(qi)戶內外均可(ke)使用，但應(ying)避開雨淋、腐蝕氣體、塵埃過濃、高溫、陽(yang)光(guang)直射等(deng)場所使用。

儀表應(ying)避免劇(ju)烈振動(dong)。

5、對(dui)儀器的維修、護理(li)和調整應(ying)由專業人員進行。

6、在任何接線之前必須(xu)用接地電纜把儀器接地端子與大地可靠連(lian)接起來。

7、由于測(ce)(ce)(ce)試(shi)設備產生(sheng)高電壓，所以(yi)測(ce)(ce)(ce)試(shi)人員必須(xu)完全嚴格遵守(shou)**操作(zuo)規程(cheng)，防(fang)止他人接觸高壓部件(jian)和(he)電路。直接從(cong)事測(ce)(ce)(ce)試(shi)的人員必須(xu)完全了解高壓測(ce)(ce)(ce)試(shi)線路，及儀器(qi)操作(zuo)要點。非從(cong)事測(ce)(ce)(ce)試(shi)人員必須(xu)遠離高壓測(ce)(ce)(ce)試(shi)區(qu)，測(ce)(ce)(ce)試(shi)區(qu)必須(xu)用柵欄或繩索、警視(shi)牌等(deng)清楚表示出來。

8、儀器(qi)的調整維修(xiu)和維護，必(bi)須在(zai)不加(jia)電(dian)情況下(xia)進行，如(ru)果必(bi)須加(jia)電(dian)，則操作者必(bi)須非常熟悉本儀器(qi)高壓危險部件。

9、保(bao)險(xian)管損壞時，必須(xu)確保(bao)更換(huan)同樣的保(bao)險(xian)，禁止更換(huan)不同型號保(bao)險(xian)或將保(bao)險(xian)直接(jie)短路使用。

儀器出現故(gu)障時，關閉電源開關，等待一分鐘之(zhi)后再檢查。

三(san)、WBJS8000G變(bian)頻介質損(sun)耗儀可測試參數

儀器可測量(liang)下(xia)列參(can)數并數字顯示(shi)：

被測試品的電容量值(zhi)CX，以pF或nF為單位，1nF=1000pF。

被測試品(pin)的介質損耗值tgδ，以%顯示(shi)。

四、WBJS8000G變頻介(jie)質損耗儀性能特點

1、儀(yi)器(qi)采用復數(shu)電(dian)流法(fa)，測(ce)(ce)量(liang)電(dian)容(rong)、介(jie)質損耗(hao)及其它參數(shu)。測(ce)(ce)試(shi)結果精度高，便于實現自動(dong)化測(ce)(ce)量(liang)。

2、儀器采用了變頻技術來消除現場50Hz工頻干擾，即使在強(qiang)電磁(ci)干擾的(de)環境下也能(neng)測得可(ke)靠的(de)數據(ju)。

3、儀器采(cai)用(yong)大屏幕液(ye)晶顯示器，測試過程通(tong)過漢字菜(cai)單(dan)提(ti)示既直觀(guan)又便于(yu)操(cao)作。

4、儀器操作簡便，測(ce)量過程由微(wei)處理器控制(zhi)，只要(yao)選擇(ze)好合適(shi)的測(ce)量方(fang)式，數據(ju)的測(ce)量就可在微(wei)處理器控制(zhi)下自動完(wan)成。

5、一(yi)體(ti)化(hua)機型，內附標(biao)準電容和高壓(ya)電源(yuan)，便于現(xian)場(chang)測(ce)試，減(jian)少(shao)現(xian)場(chang)接線(xian)。

6、儀器測(ce)量(liang)準確(que)度(du)高，可滿(man)足油(you)介損(sun)測(ce)量(liang)要求，因此只需(xu)配備標準油(you)杯(bei)，和專用(yong)測(ce)試線(xian)即可實現油(you)介損(sun)測(ce)量(liang)。

7、設CVT測(ce)試(shi)功能，可實現(xian)CVT的自激法測試，無需(xu)外(wai)置附件，只需(xu)一次測量，C1,C2的(de)電容和介(jie)損(sun)全部測出。

8、反接線測試(shi)采用ivddv技術,消除(chu)了以往反接線數據不(bu)穩定的現(xian)象。

9、具(ju)有反接線低壓屏蔽功能(neng)，在220kV CVT 母線接地情(qing)況下(xia)，對C11 可進(jin)行不拆線10kV 反接線介損測量

10、具有測量高電(dian)壓介損功(gong)能，能夠使用高壓變壓器或串聯諧振進行超過10kV電壓(ya)的介損(sun)試(shi)驗。

12、接(jie)地保護功能(neng)，當儀(yi)器(qi)不(bu)接(jie)地線或接(jie)地**時，儀(yi)器(qi)不(bu)進入(ru)正常程序，不(bu)輸出高壓。過(guo)流保護功能(neng)，在試品短路(lu)或擊穿(chuan)時儀(yi)器(qi)不(bu)受(shou)損壞。

13、觸電(dian)(dian)保(bao)護功能(neng)，當(dang)儀(yi)器(qi)操作人員不(bu)小心觸電(dian)(dian)時候，儀(yi)器(qi)會立即切斷高壓，保(bao)障(zhang)試驗人員的**.

五(wu)、WBJS8000G變頻介質(zhi)損耗儀技術指標

準確度(du)：

Cx: ±（讀數(shu)×1%+1pF）

tgδ:  ±（讀數×1%+0.00040）

抗(kang)干擾指標：  變頻抗干擾，在200%干擾下仍能達到(dao)上(shang)述(shu)準確(que)度(du)

電容量范圍：  內施高(gao)壓：    3pF～60000pF/10kV    60pF～1μF/0.5kV

外施高壓：    3pF～1.5μF/10kV         60pF～30μF/0.5kV

分辨率(lv)：      *高0.001pF，4位(wei)有效數字

tgδ范圍：     不限，分辨率(lv)0.001%，電容、電感、電阻三種(zhong)試品自動識別。

試驗電流范圍：10μA～1A

內施高壓：    設定電壓范圍：0.5～10kV

*大輸出(chu)電(dian)流(liu)：200mA

升降壓方式：連續平滑調節(jie)

試驗頻率： 45、50、55、60、65Hz單頻(pin)

45/55Hz、55/65Hz、47.5/52.5Hz自動雙變(bian)頻

頻率精度(du)：±0.01Hz

外施高壓：正接(jie)線時*大(da)試驗電(dian)流1A，工頻或變頻40-70Hz

反接線時*大試驗電流10kV/1A，工頻或變頻40-70Hz

CVT自激法低壓(ya)輸(shu)出(chu)：輸(shu)出(chu)電壓(ya)3～50V，輸出(chu)電流3～30A

CVT變(bian)比測量：

變比(bi)測量精度(du)：±讀數(shu)×1%     變比測量范圍：10～99999

相位測(ce)量精度(du)：±0.1°           相(xiang)位(wei)測(ce)量(liang)范圍：0～359.9°

測量時(shi)間：    約40s，與測量方式有關

輸入電源：    180V～270VAC，50Hz±1%，市電或(huo)發電機供電

計算機接口：  標準(zhun)RS232接口

打印機：         煒煌A7熱敏(min)微型(xing)打印機

環境溫度：    -10℃～50℃

相(xiang)對濕度：    <90%

外形尺(chi)寸：460×360×350mm

儀器重量：28kg

六、測(ce)量方式(shi)及原理

按(an)被(bei)測試品是否接地(di)分兩種(zhong)測量方式，即(ji)正接線測量方式和反接線測量方式。兩種(zhong)測量方式的原理如圖一所示：

在高壓電源的10kV側，高壓分(fen)兩路(lu)，一路(lu)給機(ji)內(nei)標準電容CN，此電容介損非常小，可(ke)以(yi)認為介損為零，即(ji)為純容性電流(liu)，此電流(liu)ICN 可(ke)做為容性電流(liu)基準。在Cx試品一側，試品電流(liu)Icx通過采樣(yang)電阻R采入機(ji)內(nei)，此Icx可(ke)分(fen)解成水(shui)平(ping)分(fen)量和垂(chui)直分(fen)量見圖(tu)二所示，通過計算水(shui)平(ping)分(fen)量與垂(chui)直分(fen)量的比值(zhi)即(ji)可(ke)得到tgδ值(zhi)。

在(zai)(zai)圖(tu)一（a）中Cx為(wei)非接(jie)(jie)地試(shi)品(pin)，試(shi)品(pin)電流(liu)Icx從試(shi)品(pin)末端(duan)進入(ru)采(cai)樣(yang)(yang)電阻R，得(de)到全電流(liu)值，在(zai)(zai)圖(tu)一（b）中Cx為(wei)接(jie)(jie)地試(shi)品(pin)，機內Cx端(duan)直接(jie)(jie)接(jie)(jie)地，電流(liu)Icx從試(shi)品(pin)高壓(ya)端(duan)到機內采(cai)樣(yang)(yang)電阻取得(de)全電流(liu)值。

七、常見設備的接線方法(fa)

1．儀器引(yin)出端子說明：

HV ——  儀器的測量引(yin)線高壓端（帶危(wei)險電壓） 。

CX ——  正接線時試品電流輸入(ru)端。

——  儀器的接地端(duan)，使用時與(yu)大地可靠相接

2.參考接線

2.1正接(jie)線、內標準電容、內高壓（常規正接(jie)線）：

2.2反接線(xian)、內標準電容、內高(gao)壓（常(chang)規反接線(xian)）

2.3正接(jie)線、外標準電(dian)容、內(nei)高(gao)壓：

2.4反接線、外標準電容、內(nei)高壓：

2.5正接(jie)線、內(nei)標準(zhun)電容(rong)、外高壓：

2.6反(fan)接線、內標(biao)準電容、外高壓：

2.7正接線、外標準電容、外高(gao)壓(ya)（高(gao)電壓(ya)介損）：

2.8反(fan)接線、外(wai)(wai)標準電(dian)容、外(wai)(wai)高壓：

2.9  CVT自激法測(ce)量：

CVT自激法可按(an)下(xia)圖接線(xian)(xian)。如(ru)果C1是(shi)單節電容，母線(xian)(xian)不能接地(di)；如(ru)果C1是(shi)多節電容，母線(xian)(xian)可接地(di)，C11和(he)C12可用常規正反接線(xian)(xian)測量，C13和(he)C2用自激法測量。

CVT自(zi)激法(fa)測量(liang)中，儀器先測量(liang)C1，然(ran)后(hou)自(zi)動(dong)倒(dao)線(xian)測量(liang)C2，并自(zi)動(dong)校準分壓(ya)影(ying)響。

應注意，高壓(ya)(ya)線應懸空不(bu)能接觸地(di)面，否則其對地(di)附(fu)加介損(sun)會引起(qi)誤差，可(ke)用細電纜連接高壓(ya)(ya)插(cha)座與(yu)CVT試品(pin)并吊(diao)起。強烈建議使用高(gao)壓插座使用的高(gao)壓線用黑色(se)Cx線(xian)。

2.10 CVT變比測試

儀器高壓線的芯(xin)線紅夾子(zi)接(jie)CVT的上端，母(mu)線(xian)拆(chai)地。CVT下端接地(di)，低壓線紅(hong)黑(hei)夾子接二次繞組，注意(yi):如果測試角度接近180度(du)，應將紅黑夾子(zi)顛倒。

3.附加(jia)功能(neng)

3.1光(guang)標(biao)在 電壓：10kV上面(mian)時(shi)候，按(an)“確認”鍵(jian)在儀器屏幕的左下角會出(chu)現(xian)圖標，代(dai)表測試(shi)結束自動打(da)印(yin)。如果再按確認鍵(jian)，圖標消(xiao)失，代(dai)表測試(shi)結束必須手動才能打(da)印(yin)。

3.2光標在 反(fan)接 上(shang)面時候(hou)，在反(fan)接線，內Cn，內(nei)Un，情況下，按確認(ren)鍵在儀器屏(ping)幕右下角會出現圖標，代表反接線低壓(ya)屏蔽測試。如果(guo)再按確(que)認鍵(jian)，圖標消失，代表取(qu)消反接線低壓(ya)屏蔽。

反接(jie)線低壓(ya)屏蔽功能(neng)，一(yi)次接(jie)線可同時測出C1和C2的電容量和介損

在反(fan)接線、內(nei)標(biao)(biao)準和內(nei)高(gao)壓方式(shi)，光(guang)標(biao)(biao)移到“反接”處(chu)，按“確認”右下(xia)角顯示“M”。

打開反(fan)接(jie)線(xian)(xian)(xian)(xian)低壓(ya)屏蔽，可在上(shang)端(duan)(duan)電(dian)容(rong)C1不拆母線(xian)(xian)(xian)(xian)的情況下，對其進行不拆線(xian)(xian)(xian)(xian)10kV反(fan)接(jie)線(xian)(xian)(xian)(xian)介(jie)損(sun)測量(liang)。如下圖所示：母線(xian)(xian)(xian)(xian)掛地線(xian)(xian)(xian)(xian)，C1上(shang)端(duan)(duan)不拆線(xian)(xian)(xian)(xian)，C1下端(duan)(duan)接(jie)高壓(ya)線(xian)(xian)(xian)(xian)芯線(xian)(xian)(xian)(xian)，C2末端(duan)(duan)接(jie)Cx芯線(xian)(xian)(xian)(xian)。儀器采(cai)用反(fan)接(jie)線(xian)(xian)(xian)(xian)/10kV/M測量(liang)方式，可同時(shi)測出(chu)C11和下端(duan)(duan)屏蔽部分的電(dian)容(rong)量(liang)和介(jie)損(sun)值。

3.3光標在 正接 上(shang)面時候，按確認鍵則測(ce)試打印機，換紙。

3.4光標在 啟動 上面時候，按減小鍵則代表(biao)取出存儲的數據(ju)。

3.5測試(shi)完畢，如果按減小鍵，則代表存儲測試(shi)的(de)數據

八(ba)、功能簡介

儀(yi)器面板見圖(tu)九(jiu)所(suo)示：

打(da)印機——打(da)印測量數據。

顯示器——128×64點陣(zhen)液晶顯示器，顯示菜(cai)單(dan)和(he)各種提示信息及測(ce)量結果。

  鍵——選擇(ze)菜單項，被(bei)選中項反白(bai)字(zi)體(ti)顯示(shi)。

▲  鍵——修改(gai)菜單內容，采用循環滾動方式。

▼ 鍵(jian)——修改菜單內容，采用(yong)循(xun)環(huan)滾動方式。

確(que)認鍵(jian)——在“測試(shi)”選項上(shang)按此鍵(jian)進入測試(shi)狀(zhuang)態。

電源開(kai)關(guan)——整(zheng)機電源的(de)開(kai)啟和(he)關(guan)閉。

電源座——交流220V±10%，50±1Hz電源輸(shu)入口，帶保險(xian)倉。

9．自激法電(dian)流(liu)輸出端(duan)——測(ce)量CVT的專(zhuan)用端子。

10．地——為(wei)接地線接線端子。

11．CX插座——是(shi)試品(pin)信號的(de)測量輸入端，正(zheng)接線(xian)時由專(zhuan)用低壓(ya)電(dian)纜(lan)(lan)連接，此電(dian)纜(lan)(lan)單層屏蔽帶特制(zhi)鱷魚夾(jia)，長8m，接試(shi)品低端(duan)。反接線時此(ci)端(duan)空置(zhi)。

12．CN插座——是外標準(zhun)電容(rong)信號的測量輸入端，使用內(nei)標準(zhun)時(shi)此(ci)端空(kong)置(zhi)。

13．HV插座——高壓引(yin)出端子(zi)，由高壓電(dian)纜連接，接試品高壓端。輸出10kv高壓(ya)。

14．RS-232接口(kou)，用來連(lian)接電(dian)腦，上傳數據。

九(jiu)、儀(yi)器操作步驟

1．測(ce)量(liang)前準備：

1）用(yong)接(jie)地線(xian)一端接(jie)儀(yi)器(qi)的接(jie)地柱，另(ling)一端接(jie)可靠的大地，保(bao)證儀(yi)器(qi)外(wai)殼處在地電(dian)位上(shang)。

2）正接線(xian)時：將高(gao)壓電纜插(cha)頭插(cha)入(ru)后門HV插座中(zhong)，將另(ling)一端(duan)的(de)紅色(se)大鉗(qian)子(zi)夾(jia)到被測試品的(de)**引線上，黑(hei)色(se)小鉗(qian)子(zi)懸空或夾(jia)在紅色(se)大鉗(qian)子(zi)上。將CX低壓電纜插入CX插座(zuo)中，另一端的紅(hong)色(se)夾子(zi)夾試(shi)品(pin)的低端，黑色(se)夾子(zi)懸空或接(jie)屏蔽裝置。

3）反接(jie)線時：將高壓電(dian)纜插(cha)頭插(cha)入(ru)后門HV插座中，將另一(yi)端的紅色大鉗(qian)子夾(jia)到被測試品的**引(yin)線上，紅色小(xiao)鉗(qian)子懸(xuan)空或接屏蔽(bi)裝(zhuang)置。Cx插座不(bu)用(yong)。

2．打(da)開電源開關，儀器進行自檢(jian)，若自檢(jian)良好，液晶(jing)屏顯(xian)示中文主菜單如

圖十所示。

3．菜單選(xuan)擇：

按鍵(jian)可移動光標(biao)至各菜單項(xiang)，并循(xun)環指示(shi)(shi)。被選(xuan)中項(xiang)反白字體顯示(shi)(shi)。選(xuan)擇鍵(jian)的流程見圖十一所示(shi)(shi)。

在光(guang)標(biao)當前所(suo)示(shi)項(xiang)目，按▼ ▲鍵(jian)鍵(jian)可進行(xing)該項(xiang)菜(cai)單的變(bian)更，并(bing)循環指示(shi)，流程(cheng)見圖十二所(suo)示(shi)。

將菜單變更至(zhi)與測試要求相對應后即可按選擇鍵(jian)進行下個(ge)項(xiang)目(mu)的選擇。

4、 頻(pin)率：光標(biao)在頻(pin)率上(shang)，按(an)↑↓鍵選(xuan)擇定頻(pin)和(he)變頻(pin)：

光標在定頻上：按住“啟停”鍵1s以上(shang)切換到全頻率選擇，按↑↓鍵循(xun)環(huan)顯示(shi)45Hz / 47.5Hz / 50Hz / 52.5Hz / 55Hz / 60Hz / 65Hz

工頻50Hz測量，此設(she)置不能抗干擾，在試驗室內測量或校驗時選用(yong)50Hz，“45/47.5/55/52.5/60/65Hz”：為(wei)單頻率測量，研究(jiu)不同(tong)頻率下(xia)介(jie)損的變化時選用。

光標在(zai)變頻上：按住“啟停(ting)”鍵1s以上切換(huan)到全(quan)頻率選擇，按↑↓鍵循環顯(xian)示5-Hz / 6-Hz / 4-Hz”：

“5-Hz”：為(wei)45/55Hz自動變頻，適合50Hz電網工頻干擾下測量。

“6-Hz”：為55/65Hz自動變頻，適合60Hz電網工頻干擾下(xia)測量(liang)。

“4-Hz”：為47.5/52.5Hz自動變頻，適合50Hz電網工頻干擾(rao)下測量(liang)。

5、測試：當光標在 測試 項(xiang)目上時，按(an)確(que)認鍵大(da)約3秒鐘開始測試(shi)。測試(shi)過程中(zhong)顯示(shi)的畫(hua)面(mian)如圖(tu)十三（正接(jie)線，變(bian)頻）所示(shi)，當下(xia)面(mian)的進(jin)程到(dao)100%時候測(ce)試完畢，然后顯示測(ce)量(liang)結(jie)果(guo)(guo)見(jian)圖十四所示，此時光(guang)標(biao)指示打(da)印(yin)(yin)機(ji)圖標(biao)，按確認鍵打(da)印(yin)(yin)報告(gao)。測(ce)量(liang)結(jie)果(guo)(guo)的意義(yi)如下：

tgδ： 試(shi)品的損耗因數tgδ值

CX： 測量(liang)的電(dian)容值

V：施加(jia)電(dian)壓(ya)值(zhi)

I：試品流過的(de)電流

F1,F2 : 試驗頻率

打印結(jie)束(shu)后，關(guan)閉電源開關(guan)，測試(shi)完畢。

十、現場試驗注意(yi)事(shi)項

如果使用中(zhong)出現測試數據(ju)明顯不合(he)理，請(qing)從以(yi)下方面(mian)查找(zhao)原因(yin)：

1、搭鉤接觸**

現場測量(liang)使(shi)用搭(da)鉤連接(jie)(jie)試品時，搭(da)鉤務必與試品接(jie)(jie)觸(chu)良好，否則接(jie)(jie)觸(chu)點放電會引起數據嚴重波動(dong)！尤其是(shi)引流線氧(yang)化層太厚，或(huo)風吹線擺(bai)動(dong)，易造成接(jie)(jie)觸(chu)**。

2、接(jie)地接(jie)觸**

接(jie)地**會引(yin)起儀器保護或(huo)數(shu)據嚴重波動。應(ying)刮凈接(jie)地點上的油漆和銹蝕，務(wu)必保證0電阻接(jie)地！

3、直(zhi)接(jie)測量CVT或末端屏(ping)蔽(bi)法測量電(dian)磁式PT

直(zhi)接測量CVT的下節耦合電容會(hui)出現負介損，應改用自激(ji)法(fa)。

用末端屏蔽法測(ce)量電磁式PT時，由(you)于受潮引起“T形網絡干擾(rao)”出現(xian)負介損，吹干下(xia)面三裙瓷套(tao)和接線端子盤即可。也(ye)可改用常規(gui)法或(huo)末(mo)端加壓(ya)法測(ce)量(liang)。

4、空氣濕度過大

空氣濕(shi)度(du)大使介損測量值(zhi)異常增大（或減小(xiao)甚至為(wei)負）且不(bu)穩(wen)定，必要時可(ke)加屏(ping)蔽環(huan)(huan)。因人為(wei)加屏(ping)蔽環(huan)(huan)改變了試品電場分布，此法有(you)爭議，可(ke)參照(zhao)有(you)關規程。

5、發(fa)電(dian)機供電(dian)

發電(dian)機供電(dian)時輸入頻率不(bu)穩定(ding)，可采用定(ding)頻50Hz模式工作(zuo)。

6、測(ce)試線(xian)

由于長期(qi)使用，易(yi)造(zao)成測(ce)試線隱性(xing)斷路(lu)，或芯線和屏蔽短(duan)路(lu)，或插(cha)頭接觸**，用戶應經常(chang)維護測(ce)試線；

測試標準(zhun)電容試品時，應使用全屏蔽插(cha)頭連接，以消除(chu)附加雜(za)散電容影響，否則不能反(fan)映出儀器精度；

自(zi)激(ji)法測量CVT時，非專(zhuan)用的高壓線應吊起懸空，否(fou)則(ze)對(dui)地附加雜散電容和介損會(hui)引起測(ce)量(liang)誤差。

7、工作模式(shi)選擇

接好線(xian)后請選擇正(zheng)確(que)的測量工作(zuo)模式（正(zheng)、反和CVT），不可選(xuan)錯。特(te)別是干(gan)擾環境(jing)下應選(xuan)用變頻抗干(gan)擾模式(shi)。

8、試(shi)驗(yan)方法(fa)影響

由(you)于介損測量(liang)受試驗方法影(ying)響較大，應區分是試驗方法誤差(cha)還是儀器(qi)誤差(cha)。出現(xian)問題(ti)時(shi)可首先檢(jian)查(cha)接線，然后檢(jian)查(cha)是否為儀器(qi)故(gu)障。

9、儀(yi)器故障(zhang)

用萬(wan)用表(biao)測(ce)量一下(xia)測(ce)試線是否斷路，或芯(xin)線和屏蔽是否短路；輸入電源220V過高或過低(di)；接地是否良(liang)好。

用正(zheng)、反接線測一下(xia)標(biao)準電容(rong)器或(huo)已知(zhi)容(rong)量和(he)介損的電容(rong)試品，如果結果正(zheng)確，即可判(pan)斷(duan)儀器沒有(you)問題(ti)；

拔下所(suo)有(you)測試(shi)導線，進(jin)行空試(shi)升壓，若不(bu)能正(zheng)常工作，儀器可能有(you)故障。

啟動CVT測量(liang)后測量(liang)低壓輸出，應(ying)出現2～5V電壓，否則儀器有故障。

十一、 儀器(qi)檢定

1、用標準損耗(hao)器檢定

用(yong)帶插頭的屏蔽(bi)電纜連接標(biao)準(zhun)損耗器。如果不(bu)能(neng)保證標(biao)準(zhun)損耗器的精度，應(ying)使用(yong)比對(dui)法(fa)檢定(ding)，建(jian)議用(yong)2801電橋或其它精密電橋作(zuo)比對標(biao)準。儀器應選用“內標準”和“RC串聯試品(pin)”，可選(xuan)擇(ze)工(gong)頻 50Hz或定頻(pin)50Hz頻率模式。

2、用QSJ3檢定：使(shi)用(yong)帶插頭的屏蔽電纜連接QSJ3，選擇“正接/ 外Cn / 外Un式(shi)測量，電流比(bi)為Cx∶Cn，Cn可置入適當值。

3、抗(kang)干擾能力

設置一個回路向儀器注入(ru)定量的干(gan)擾(rao)電流。

注意(yi)：

1）應考慮到(dao)該回(hui)路(lu)可能(neng)成為試品的一部分。

2）儀器(qi)啟(qi)動后會使220V供電(dian)電(dian)路帶(dai)有測(ce)量頻率(lv)分量，如果該頻率(lv)分量又通過(guo)干(gan)擾電(dian)流進入(ru)儀(yi)器，則無法檢驗儀(yi)器的抗干(gan)擾能(neng)力。

3）不(bu)建議用臨近高壓導體施加干(gan)擾(rao)，因為這樣很容(rong)(rong)易產生(sheng)近距離**放(fang)電(dian)，這種放(fang)電(dian)電(dian)阻是非線(xian)性的(de)，容(rong)(rong)易產生(sheng)同頻干(gan)擾(rao)。

十二(er)、變頻測量(liang)討論

1、變頻測量(liang)

干擾十分(fen)嚴重時(shi)，變頻測量(liang)能得到準確(que)可(ke)靠的結果(guo)。例如用55Hz測量時，測量系統只允(yun)許(xu)55Hz信號通過，50Hz干擾信(xin)號被有效(xiao)抑制(zhi)，原因(yin)在于(yu)測量系(xi)統(tong)很容易區別(bie)不同頻(pin)率，由下(xia)述簡(jian)單計算(suan)可(ke)以說明(ming)選頻(pin)測量的效(xiao)果：

兩個頻率相差1倍的正弦波(bo)疊(die)加到一起，高頻(pin)的是干擾，幅度(du)為低頻(pin)的10倍：

這(zhe)剛(gang)好是低頻部分的相位和幅度，干擾被抑制。實際波形的測(ce)量點(dian)多達數萬，計算量很大，結果反映了波形的整(zheng)體特征(zheng)。

2、頻率和介損的(de)關系

介(jie)損有RC串(chuan)聯(lian)和并聯(lian)兩種理(li)想模(mo)型(xing)：串(chuan)聯(lian)模(mo)型(xing)tgδ=2πfRC，并聯模型tgδ=1/(2πfRC)，tgδ分別隨頻率f成(cheng)正(zheng)比和反比。如圖所示，f對完全正(zheng)比和完全反(fan)比兩種(zhong)模型影(ying)響較(jiao)大。但實際電容器是(shi)多種(zhong)模型交織(zhi)的混合模型，此時(shi)f的影響就小。

3、自動(dong)變頻與(yu)50Hz等效

儀器采(cai)用自動變頻在干擾頻率50Hz兩側（45Hz和55Hz）各測一個點，然后推算50Hz頻(pin)率下數據。除多個元(yuan)件電路的(de)(de)低頻(pin)諧振外，單(dan)個試品中的(de)(de)介(jie)(jie)質(zhi)不(bu)可能在低頻(pin)引起能量(liang)(liang)吸收峰，工頻(pin)附近介(jie)(jie)損(sun)總(zong)是(shi)隨頻(pin)率單(dan)調(diao)變化(hua)的(de)(de)。因此(ci)這(zhe)種測量(liang)(liang)方(fang)法不(bu)會帶來明(ming)顯誤差(cha)。實際上，平均(jun)前的(de)(de)兩(liang)個介(jie)(jie)損(sun)值已(yi)十分接近，即使不(bu)平均(jun)也完全(quan)有參考價(jia)值。目前，變頻(pin)介(jie)(jie)損(sun)儀已(yi)成(cheng)為介(jie)(jie)損(sun)測量(liang)(liang)的(de)(de)常規儀器，其(qi)優異的(de)(de)抗(kang)干擾能力和準確(que)度(du)已(yi)經得到認可。

十(shi)三、儀器(qi)的(de)裝箱清單