一、WBJS8000G變頻法介質損耗測試(shi)儀概述

介損測量是絕(jue)緣試驗中(zhong)很基本的(de)方(fang)法，可以有效地發(fa)現電器設(she)備絕(jue)緣的(de)整體(ti)受潮(chao)劣化變(bian)質，以及局部缺陷等(deng)。在電工制造、電氣設(she)備安裝、交接(jie)和預防性試驗中(zhong)都(dou)廣(guang)泛應(ying)用。變(bian)壓器、互感(gan)器、電抗器、電容器以及套管(guan)、避(bi)雷器等(deng)介損的(de)測量是衡量其絕(jue)緣性能的(de)*基本方(fang)法。LYJS9000F變頻(pin)(pin)介質損耗測試儀(yi)突破了傳統(tong)的電橋測量方(fang)式，采用(yong)變頻(pin)(pin)電源(yuan)技術，利(li)用(yong)單片(pian)機、和現代化(hua)電子技術進行自動頻(pin)(pin)率變換、模(mo)/數轉(zhuan)換和(he)數據運算；達到抗干擾能力強(qiang)、測(ce)試(shi)速度快、精(jing)度高、全自動數字(zi)化(hua)、操作簡便(bian)；電源采用(yong)大(da)功率開關電源，輸出45Hz和55Hz純正弦波，自(zi)動加壓，可提供*高10千伏(fu)的電壓；自動(dong)濾除50Hz干擾，適用于(yu)變(bian)電站等(deng)電磁干擾大的現場測(ce)試。廣泛適用于(yu)電力行業中變(bian)壓器(qi)、互感器(qi)、套管、電容(rong)器(qi)、避雷(lei)器(qi)等(deng)設備的介損(sun)測(ce)量。

二、WBJS8000G變頻法(fa)介質損耗(hao)測試(shi)儀**措(cuo)施

1、使用(yong)本儀器前一(yi)定(ding)要(yao)認真閱(yue)讀本手冊。

2、儀器(qi)的操作者(zhe)應(ying)具備一般電氣設備或儀器(qi)的使用常(chang)識。

3、本儀器戶內外均可使用，但(dan)應避開(kai)雨淋(lin)、腐(fu)蝕(shi)氣體、塵埃過(guo)濃、高溫、陽(yang)光直射等場所使用。

儀表應避(bi)免劇(ju)烈振動。

5、對儀器的維(wei)修、護理和調(diao)整應由專業人員進行。

6、在(zai)任何接(jie)線之前(qian)必須用(yong)接(jie)地(di)電纜(lan)把儀器接(jie)地(di)端(duan)子(zi)與大(da)地(di)可靠連(lian)接(jie)起(qi)來。

7、由(you)于測(ce)(ce)試設備產生高(gao)(gao)電壓(ya)(ya)，所以測(ce)(ce)試人員(yuan)必(bi)須(xu)(xu)完全嚴格(ge)遵(zun)守**操作(zuo)規(gui)程，防止(zhi)他人接觸(chu)高(gao)(gao)壓(ya)(ya)部件和電路。直接從(cong)事測(ce)(ce)試的人員(yuan)必(bi)須(xu)(xu)完全了解高(gao)(gao)壓(ya)(ya)測(ce)(ce)試線路，及儀(yi)器(qi)操作(zuo)要(yao)點。非從(cong)事測(ce)(ce)試人員(yuan)必(bi)須(xu)(xu)遠離高(gao)(gao)壓(ya)(ya)測(ce)(ce)試區(qu)，測(ce)(ce)試區(qu)必(bi)須(xu)(xu)用柵欄(lan)或(huo)繩(sheng)索、警(jing)視牌等清楚表示(shi)出來。

8、儀器的(de)調(diao)整(zheng)維修和維護，必(bi)須(xu)(xu)在(zai)不加(jia)(jia)電(dian)情況(kuang)下進行(xing)，如果必(bi)須(xu)(xu)加(jia)(jia)電(dian)，則操作(zuo)者必(bi)須(xu)(xu)非常熟(shu)悉(xi)本儀器高壓危險部(bu)件。

9、保(bao)險(xian)(xian)管損壞時，必須確保(bao)更換同樣的(de)保(bao)險(xian)(xian)，禁止更換不同型號保(bao)險(xian)(xian)或(huo)將保(bao)險(xian)(xian)直接短路使(shi)用。

儀(yi)器(qi)出現故障時，關閉電源開(kai)關，等待一分鐘之后再檢(jian)查。

三、WBJS8000G變頻法介(jie)質(zhi)損耗測試(shi)儀可測(ce)試參數

儀器可(ke)測量(liang)下(xia)列參數并數字(zi)顯示：

被(bei)測試(shi)品(pin)的電容量值(zhi)CX，以(yi)pF或nF為單(dan)位，1nF=1000pF。

被測試品(pin)的介(jie)質(zhi)損(sun)耗值tgδ，以%顯示。

四、WBJS8000G變頻(pin)法介(jie)質(zhi)損耗測試(shi)儀性能特點(dian)

1、儀器采用復數電(dian)流法，測(ce)量電(dian)容、介質損耗及其它參數。測(ce)試(shi)結果精度高，便于(yu)實現自動化測(ce)量。

2、儀器(qi)采(cai)用(yong)了(le)變頻技術來消除現(xian)場50Hz工頻(pin)干(gan)擾，即使在強電(dian)磁(ci)干(gan)擾的(de)環境下(xia)也(ye)能(neng)測(ce)得可靠的(de)數據。

3、儀器(qi)采用大屏幕液晶顯示器(qi)，測試過程通過漢字菜單提示既直觀又便(bian)于操(cao)作。

4、儀器操作(zuo)簡便，測量(liang)過程由微處理器控制，只要選擇好合適的測量(liang)方式(shi)，數據(ju)的測量(liang)就可在微處理器控制下(xia)自(zi)動完成。

5、一體化機型，內附(fu)標準電(dian)容(rong)和高壓電(dian)源，便于現(xian)場(chang)測試，減少現(xian)場(chang)接線。

6、儀(yi)器(qi)測量準確度高，可滿足油介(jie)(jie)損測量要求，因此只需配備標準油杯，和專用測試線即可實現油介(jie)(jie)損測量。

7、設CVT測試功能，可實現CVT的自激(ji)法測試，無需外置附件(jian)，只(zhi)需一(yi)次測量，C1,C2的電容和介損全部(bu)測出。

8、反接線(xian)測試采用ivddv技術(shu),消除了以(yi)往(wang)反接線數據(ju)不穩定的現象。

9、具(ju)有反(fan)接線(xian)低壓屏蔽(bi)功能，在220kV CVT 母線(xian)接(jie)地情況下，對(dui)C11 可進行不拆(chai)線(xian)10kV 反接線介損測量

10、具有測(ce)量高(gao)電壓介(jie)損功(gong)能，能夠使用高(gao)壓變壓器或串聯諧振進(jin)行超過10kV電壓(ya)的介損試驗。

12、接(jie)地保護功(gong)(gong)能(neng)，當儀器不(bu)接(jie)地線(xian)或接(jie)地**時，儀器不(bu)進(jin)入正常程序，不(bu)輸(shu)出高壓(ya)。過流保護功(gong)(gong)能(neng)，在試品短路或擊穿時儀器不(bu)受損(sun)壞。

13、觸電保護功能，當儀器(qi)操作人員(yuan)不小心(xin)觸電時候(hou)，儀器(qi)會立即切斷高(gao)壓，保障試驗人員(yuan)的**.

五、WBJS8000G變頻法介(jie)質(zhi)損耗測試儀(yi)技術指標

準確度：

Cx: ±（讀數×1%+1pF）

tgδ:  ±（讀數×1%+0.00040）

抗干擾指標：  變頻抗干擾，在200%干擾下仍能達到(dao)上述準確(que)度

電容量(liang)范(fan)圍：  內施高(gao)壓：    3pF～60000pF/10kV    60pF～1μF/0.5kV

外施高壓：    3pF～1.5μF/10kV         60pF～30μF/0.5kV

分辨率：      *高0.001pF，4位(wei)有效(xiao)數(shu)字

tgδ范(fan)圍：     不限，分辨率0.001%，電(dian)容、電(dian)感、電(dian)阻三種試(shi)品自動識別。

試驗電(dian)流(liu)范圍(wei)：10μA～1A

內施高(gao)壓：    設定(ding)電壓范(fan)圍：0.5～10kV

*大輸出電(dian)流：200mA

升(sheng)降壓方式：連續平(ping)滑調節(jie)

試驗頻率： 45、50、55、60、65Hz單(dan)頻(pin)

45/55Hz、55/65Hz、47.5/52.5Hz自動雙變(bian)頻

頻率精度：±0.01Hz

外(wai)施高(gao)壓：正接線時*大試驗電流1A，工頻或變頻40-70Hz

反接(jie)線(xian)時*大試驗電(dian)流10kV/1A，工頻或變頻40-70Hz

CVT自激法低壓(ya)輸出：輸出電壓(ya)3～50V，輸出電流(liu)3～30A

CVT變比測量：

變比測量精度：±讀數(shu)×1%     變(bian)比(bi)測量范圍：10～99999

相位測量精(jing)度：±0.1°           相(xiang)位測量(liang)范圍：0～359.9°

測量(liang)時間：    約40s，與(yu)測量方式有(you)關

輸入(ru)電源：    180V～270VAC，50Hz±1%，市電或(huo)發(fa)電機供電

計算機接(jie)口：  標準RS232接口

打印機：         煒煌A7熱敏微型打印(yin)機(ji)

環境(jing)溫(wen)度：    -10℃～50℃

相對濕度：    <90%

外形尺寸(cun)：460×360×350mm

儀器重量(liang)：28kg

六(liu)、測量方式及原(yuan)理(li)

按被測(ce)試品是否接(jie)地分(fen)兩種測(ce)量(liang)(liang)方(fang)式，即正接(jie)線(xian)測(ce)量(liang)(liang)方(fang)式和反接(jie)線(xian)測(ce)量(liang)(liang)方(fang)式。兩種測(ce)量(liang)(liang)方(fang)式的原(yuan)理如圖(tu)一所示(shi)：

在高(gao)壓(ya)電(dian)源的10kV側(ce)，高(gao)壓(ya)分兩路(lu)，一路(lu)給機內標準電(dian)容CN，此(ci)(ci)電(dian)容介損(sun)非常小，可(ke)(ke)以認(ren)為介損(sun)為零，即為純容性電(dian)流(liu)，此(ci)(ci)電(dian)流(liu)ICN 可(ke)(ke)做為容性電(dian)流(liu)基準。在Cx試(shi)品一側(ce)，試(shi)品電(dian)流(liu)Icx通(tong)過采樣電(dian)阻(zu)R采入機內，此(ci)(ci)Icx可(ke)(ke)分解成水平分量和垂(chui)直分量見圖二所示，通(tong)過計算(suan)水平分量與垂(chui)直分量的比值即可(ke)(ke)得到(dao)tgδ值。

在圖(tu)一(yi)（a）中Cx為非接(jie)地試(shi)品，試(shi)品電(dian)(dian)流Icx從(cong)試(shi)品末端(duan)進入采(cai)樣(yang)電(dian)(dian)阻R，得到全電(dian)(dian)流值，在圖(tu)一(yi)（b）中Cx為接(jie)地試(shi)品，機內(nei)Cx端(duan)直(zhi)接(jie)接(jie)地，電(dian)(dian)流Icx從(cong)試(shi)品高壓端(duan)到機內(nei)采(cai)樣(yang)電(dian)(dian)阻取得全電(dian)(dian)流值。

七、常見(jian)設備的接線(xian)方法

1．儀器(qi)引出端子說(shuo)明：

HV ——  儀器的測(ce)量引線高(gao)壓端（帶(dai)危險電(dian)壓） 。

CX ——  正接線時(shi)試品電流輸(shu)入(ru)端。

——  儀器的接地端，使用時與大地可靠相接

2.參考接線

2.1正(zheng)接線、內標準電容、內高壓（常規正(zheng)接線）：

2.2反接線(xian)、內標(biao)準電容(rong)、內高(gao)壓（常規反接線(xian)）

2.3正接線、外標(biao)準電(dian)容、內高壓：

2.4反接線、外標準電容、內高壓：

2.5正接線(xian)、內標準電容、外高壓：

2.6反接線、內標準電容、外高壓：

2.7正接線、外標準(zhun)電容、外高壓（高電壓介損）：

2.8反接線、外(wai)標(biao)準電容、外(wai)高壓：

2.9  CVT自激法測量：

CVT自激法可(ke)按下圖(tu)接(jie)(jie)線(xian)。如(ru)果C1是(shi)單節(jie)電容(rong)，母線(xian)不能接(jie)(jie)地；如(ru)果C1是(shi)多節(jie)電容(rong)，母線(xian)可(ke)接(jie)(jie)地，C11和C12可(ke)用常規正反接(jie)(jie)線(xian)測量，C13和C2用自激法測量。

CVT自(zi)激(ji)法測(ce)量(liang)(liang)中，儀器先測(ce)量(liang)(liang)C1，然后自(zi)動倒線(xian)測(ce)量(liang)(liang)C2，并自(zi)動校準分壓影(ying)響。

應(ying)注意，高(gao)壓(ya)(ya)線應(ying)懸空不能接觸(chu)地(di)面，否則(ze)其對(dui)地(di)附(fu)加介損會引起誤差(cha)，可用細電纜(lan)連接高(gao)壓(ya)(ya)插座(zuo)與CVT試(shi)品并吊起。強烈建議使用(yong)高壓(ya)插座(zuo)使用(yong)的高壓(ya)線用(yong)黑色Cx線。

2.10 CVT變(bian)比(bi)測(ce)試

儀器高壓線的芯(xin)線紅夾子接CVT的上端，母線拆(chai)地(di)。CVT下端接地(di)，低壓線紅黑夾子接二次(ci)繞(rao)組，注意:如果測試角度(du)接(jie)近180度，應(ying)將紅(hong)黑夾子顛倒。

3.附加功能

3.1光標(biao)在 電壓：10kV上面時(shi)候，按“確(que)認”鍵在儀器(qi)屏幕(mu)的左(zuo)下角會出現圖標，代(dai)(dai)表測試結束(shu)自動打印。如果再按(an)確認鍵，圖標消失，代(dai)(dai)表測試結束(shu)必(bi)須手動才(cai)能打印。

3.2光標在(zai) 反接(jie) 上(shang)面時候(hou)，在(zai)反接(jie)線，內(nei)Cn，內Un，情況下，按(an)確認鍵在儀器(qi)屏幕右下角(jiao)會(hui)出現圖標，代表反接(jie)線低壓屏蔽測試。如果再按確認鍵，圖標消(xiao)失，代表取(qu)消(xiao)反接(jie)線低壓屏蔽。

反接線低壓屏蔽功(gong)能，一次接線可同(tong)時(shi)測出C1和(he)C2的電容量和(he)介(jie)損(sun)

在反接線、內標準(zhun)和內高壓方式，光標移(yi)到“反接(jie)”處(chu)，按“確認(ren)”右(you)下角顯示“M”。

打(da)開(kai)反接(jie)(jie)線(xian)低壓屏蔽，可在上(shang)端(duan)電(dian)容C1不(bu)拆(chai)(chai)母線(xian)的(de)情(qing)況下(xia)，對其進行不(bu)拆(chai)(chai)線(xian)10kV反接(jie)(jie)線(xian)介損測(ce)量。如(ru)下(xia)圖所示：母線(xian)掛地線(xian)，C1上(shang)端(duan)不(bu)拆(chai)(chai)線(xian)，C1下(xia)端(duan)接(jie)(jie)高壓線(xian)芯線(xian)，C2末端(duan)接(jie)(jie)Cx芯線(xian)。儀器(qi)采用反接(jie)(jie)線(xian)/10kV/M測(ce)量方(fang)式，可同時測(ce)出C11和下(xia)端(duan)屏蔽部分的(de)電(dian)容量和介損值。

3.3光標(biao)在 正接 上面時候，按(an)確認鍵則測試打印機，換紙(zhi)。

3.4光標(biao)在 啟動(dong) 上面時(shi)候，按(an)減(jian)小鍵則代表(biao)取出存儲的數據。

3.5測(ce)試(shi)(shi)完(wan)畢，如(ru)果按減小(xiao)鍵，則代(dai)表存(cun)儲測(ce)試(shi)(shi)的數據

八、功能簡介(jie)

儀器面板見圖九所示：

打印機——打印測量(liang)數據。

顯(xian)示器——128×64點陣(zhen)液晶顯示(shi)(shi)器，顯示(shi)(shi)菜(cai)單和各(ge)種(zhong)提示(shi)(shi)信息(xi)及(ji)測量結果。

  鍵——選擇(ze)菜(cai)單項(xiang)，被選中(zhong)項(xiang)反白(bai)字體顯示(shi)。

▲  鍵——修(xiu)改菜單內容，采用(yong)循環滾動(dong)方(fang)式。

▼ 鍵——修(xiu)改菜單(dan)內容，采用(yong)循環(huan)滾動方(fang)式。

確認鍵(jian)——在“測試”選項上按此鍵(jian)進(jin)入測試狀態。

電(dian)源開關(guan)——整機電(dian)源的開啟和關(guan)閉。

電(dian)源座——交流220V±10%，50±1Hz電源輸入(ru)口，帶(dai)保(bao)險(xian)倉。

9．自激法電(dian)流輸出端——測量CVT的專(zhuan)用(yong)端子。

10．地——為(wei)接地線(xian)接線(xian)端子。

11．CX插座(zuo)——是(shi)試品信號的測量輸入端，正接線時由專(zhuan)用低(di)壓電(dian)纜(lan)連接，此電(dian)纜(lan)單層屏(ping)蔽帶特制鱷魚夾，長8m，接(jie)試品低(di)端(duan)。反接(jie)線時此(ci)端(duan)空置(zhi)。

12．CN插(cha)座——是外標(biao)準電(dian)容信(xin)號(hao)的測量輸入端，使用(yong)內(nei)標(biao)準時(shi)此端空置。

13．HV插座——高(gao)壓(ya)(ya)(ya)引出(chu)端子，由高(gao)壓(ya)(ya)(ya)電纜連(lian)接(jie)，接(jie)試品高(gao)壓(ya)(ya)(ya)端。輸(shu)出(chu)10kv高壓。

14．RS-232接(jie)口，用來連接(jie)電腦，上傳數據。

九、儀(yi)器操作步驟

1．測量前準備：

1）用接(jie)(jie)地(di)(di)(di)線一端(duan)接(jie)(jie)儀(yi)器的接(jie)(jie)地(di)(di)(di)柱，另(ling)一端(duan)接(jie)(jie)可靠的大地(di)(di)(di)，保證儀(yi)器外殼處在地(di)(di)(di)電位上(shang)。

2）正接線時：將高(gao)壓(ya)電纜插頭插入后門(men)HV插(cha)座中，將另(ling)一端的紅色(se)大鉗(qian)子夾到被測試品(pin)的**引線(xian)上，黑(hei)色(se)小鉗(qian)子懸(xuan)空(kong)或夾在紅色(se)大鉗(qian)子上。將CX低壓(ya)電纜(lan)插入(ru)CX插座(zuo)中(zhong)，另一端的紅色夾(jia)子夾(jia)試品(pin)的低(di)端，黑色夾(jia)子懸(xuan)空(kong)或接(jie)屏蔽裝(zhuang)置。

3）反(fan)接線時：將高壓電纜插頭插入后門HV插座(zuo)中，將另一端的紅色大鉗(qian)子(zi)夾到被測試品的**引(yin)線上，紅色小鉗(qian)子(zi)懸空或(huo)接屏蔽裝置。Cx插座(zuo)不用(yong)。

2．打開電源開關，儀器(qi)進行自檢，若自檢良(liang)好，液晶屏顯示中文主菜單如(ru)

圖十所示。

3．菜(cai)單選擇：

按(an)鍵可(ke)移動光標至各菜單項，并循環指示。被(bei)選(xuan)中(zhong)項反白字體顯示。選(xuan)擇(ze)鍵的流程(cheng)見圖(tu)十一所示。

在(zai)光(guang)標(biao)當(dang)前所(suo)示(shi)項(xiang)目，按▼ ▲鍵(jian)鍵(jian)可進行該(gai)項(xiang)菜單(dan)的變更(geng)，并循(xun)環指示(shi)，流程見圖十二所(suo)示(shi)。

將菜單變更至與測(ce)試要求相對應(ying)后即可按選(xuan)(xuan)擇(ze)鍵進(jin)行下個項目的選(xuan)(xuan)擇(ze)。

4、 頻率：光(guang)標在頻率上(shang)，按↑↓鍵(jian)選擇(ze)定頻和變頻：

光標(biao)在定頻上：按住“啟(qi)停”鍵(jian)1s以上切換到全頻率選擇，按(an)↑↓鍵循(xun)環顯示45Hz / 47.5Hz / 50Hz / 52.5Hz / 55Hz / 60Hz / 65Hz

工頻50Hz測量，此設(she)置不能抗干擾，在試驗(yan)室內測量或校驗(yan)時選用50Hz，“45/47.5/55/52.5/60/65Hz”：為單頻率(lv)測量(liang)，研究不同頻率(lv)下介損的變(bian)化時選用(yong)。

光標(biao)在變頻(pin)上(shang)：按住“啟(qi)停(ting)”鍵1s以上切換(huan)到(dao)全頻率選(xuan)擇，按↑↓鍵循(xun)環顯示5-Hz / 6-Hz / 4-Hz”：

“5-Hz”：為45/55Hz自動變(bian)頻，適合50Hz電網工頻干擾下測量(liang)。

“6-Hz”：為55/65Hz自動變頻，適合(he)60Hz電網工頻(pin)干擾(rao)下測(ce)量(liang)。

“4-Hz”：為47.5/52.5Hz自動變頻，適合50Hz電網工(gong)頻(pin)干擾下測(ce)量(liang)。

5、測試(shi)：當光標(biao)在 測試(shi) 項目上(shang)時，按確認鍵(jian)大約3秒鐘(zhong)開始(shi)測(ce)(ce)試(shi)。測(ce)(ce)試(shi)過程中顯示的畫面如圖(tu)十三（正接線(xian)，變頻）所示，當下面的進程到100%時候測(ce)試完畢，然后顯示測(ce)量結(jie)果見圖(tu)十四所(suo)示，此時光標指(zhi)示打(da)印機圖(tu)標，按確認鍵打(da)印報告。測(ce)量結(jie)果的(de)意(yi)義如下：

tgδ： 試品(pin)的損耗因(yin)數tgδ值

CX： 測量的電容(rong)值

V：施加電壓值

I：試品(pin)流過的電(dian)流

F1,F2 : 試驗頻率

打印結束后，關(guan)閉電源(yuan)開(kai)關(guan)，測試(shi)完畢(bi)。

十、現場試驗(yan)注(zhu)意事(shi)項(xiang)

如果使用中出現測(ce)試數據明顯不合理(li)，請從以(yi)下方面查找原因：

1、搭鉤接觸**

現場測量使用搭鉤連接試品時，搭鉤務必與試品接觸良(liang)好，否則接觸點放(fang)電(dian)會引起數據(ju)嚴重波動(dong)！尤其是引流線氧化層太厚，或(huo)風吹線擺動(dong)，易造成接觸**。

2、接地接觸**

接(jie)地**會引起儀器保護(hu)或數(shu)據嚴重波動(dong)。應刮(gua)凈接(jie)地點上的(de)油漆和銹(xiu)蝕，務(wu)必保證0電(dian)阻接地！

3、直(zhi)接(jie)測(ce)量(liang)CVT或末端屏蔽(bi)法測量電磁式(shi)PT

直接(jie)測量CVT的下節耦(ou)合電容會(hui)出現負介損，應(ying)改用自激法。

用末端屏蔽法測量電磁式(shi)PT時，由于受(shou)潮(chao)引(yin)起“T形網絡干(gan)擾”出(chu)現(xian)負介損(sun)，吹(chui)干下面三(san)裙(qun)瓷套和接線端(duan)子盤即可。也可改用常規法或末端(duan)加壓法測量。

4、空(kong)氣濕度過(guo)大(da)

空(kong)氣濕度大使介(jie)損測量值異常增大（或減小甚至為負）且不(bu)穩(wen)定(ding)，必要(yao)時可加屏(ping)蔽環。因人為加屏(ping)蔽環改變了試品電場(chang)分(fen)布，此法有爭議，可參(can)照有關規程。

5、發電(dian)機供電(dian)

發(fa)電(dian)機(ji)供電(dian)時輸入(ru)頻(pin)率不穩定(ding)，可采用定(ding)頻(pin)50Hz模(mo)式工作。

6、測試線

由(you)于長(chang)期使(shi)用(yong)，易造(zao)成測(ce)(ce)試線(xian)隱性(xing)斷路，或(huo)芯線(xian)和(he)屏蔽短路，或(huo)插頭接(jie)觸**，用(yong)戶應經常維護測(ce)(ce)試線(xian)；

測試標準(zhun)電容試品時，應使(shi)用全屏蔽插頭(tou)連接，以消除附(fu)加雜散電容影響，否則不(bu)能反(fan)映出儀器精(jing)度；

自激(ji)法測(ce)量(liang)CVT時，非專(zhuan)用的高壓線(xian)應吊起懸空，否則對地附(fu)加雜散電容(rong)和介損(sun)會(hui)引(yin)起測量(liang)誤(wu)差。

7、工作模(mo)式選(xuan)擇

接(jie)好(hao)線后請選擇正(zheng)確的測量工作模式（正(zheng)、反(fan)和CVT），不可選(xuan)錯。特別是干(gan)擾(rao)環(huan)境下應選(xuan)用(yong)變(bian)頻抗(kang)干(gan)擾(rao)模式(shi)。

8、試(shi)驗方法(fa)影響

由于介損測量受試驗(yan)方法(fa)影響較大，應區(qu)分(fen)是(shi)試驗(yan)方法(fa)誤差還是(shi)儀器誤差。出現問題時可首先(xian)檢查接(jie)線，然后檢查是(shi)否為儀器故障。

9、儀器故(gu)障

用萬(wan)用表(biao)測(ce)量一(yi)下(xia)測(ce)試線(xian)是(shi)否斷(duan)路，或芯線(xian)和屏蔽是(shi)否短路；輸(shu)入電源220V過高(gao)或過低；接地是否(fou)良好。

用(yong)正、反接線測一(yi)下標準電容器或已知容量和介(jie)損的電容試品，如果(guo)結果(guo)正確(que)，即可判斷(duan)儀器沒有(you)問(wen)題；

拔(ba)下所有(you)測試導線，進行(xing)空試升壓，若不能正常工(gong)作(zuo)，儀器可能有(you)故障(zhang)。

啟動(dong)CVT測量后測量低(di)壓輸出，應出現2～5V電壓(ya)，否則儀器有故障。

十(shi)一、 儀器檢定

1、用標準損(sun)耗(hao)器(qi)檢定

用帶插頭的(de)(de)屏蔽電(dian)纜連(lian)接標準(zhun)(zhun)損(sun)耗器。如果不能保證標準(zhun)(zhun)損(sun)耗器的(de)(de)精度，應使(shi)用比對法(fa)檢定，建議用2801電(dian)橋或其它精密電(dian)橋作比對標準。儀器應(ying)選用“內標準”和“RC串聯試品”，可選擇工(gong)頻 50Hz或定頻50Hz頻率(lv)模式。

2、用QSJ3檢定：使用(yong)帶(dai)插(cha)頭的屏蔽電纜連接(jie)QSJ3，選擇“正接(jie)/ 外Cn / 外Un式測量(liang)，電流比為Cx∶Cn，Cn可置(zhi)入適當值。

3、抗干擾能力

設置(zhi)一個回路向(xiang)儀器注入定量的(de)干擾電流。

注(zhu)意：

1）應考慮到該回路可(ke)能成為試品(pin)的(de)一部(bu)分(fen)。

2）儀器啟動后會使220V供電(dian)(dian)電(dian)(dian)路帶(dai)有測量(liang)頻率分量(liang)，如果該頻率分量(liang)又通過干擾電(dian)(dian)流進入(ru)儀器，則無法(fa)檢驗儀器的抗干擾能(neng)力。

3）不(bu)建(jian)議用臨(lin)近高壓導(dao)體施加干(gan)擾，因為這(zhe)樣(yang)很容(rong)易產(chan)(chan)生近距離**放(fang)(fang)電(dian)(dian)，這(zhe)種放(fang)(fang)電(dian)(dian)電(dian)(dian)阻是非線性的，容(rong)易產(chan)(chan)生同頻干(gan)擾。

十二、變(bian)頻測(ce)量(liang)討論

1、變頻(pin)測量

干擾十(shi)分嚴重時，變頻測量能得到準確可靠的結果。例如用55Hz測量(liang)時，測量(liang)系(xi)統只(zhi)允(yun)許55Hz信(xin)號通(tong)過(guo)，50Hz干擾(rao)信(xin)號(hao)被有效抑制，原因(yin)在于測(ce)量系統很容易區別不同頻(pin)率，由下述簡單計算(suan)可以說(shuo)明選(xuan)頻(pin)測(ce)量的效果(guo)：

兩個(ge)頻率相差(cha)1倍的(de)正弦波疊加到(dao)一起，高頻的(de)是干擾，幅度(du)為低頻的(de)10倍：

這剛好(hao)是低(di)頻(pin)部分的(de)(de)相位和幅(fu)度(du)，干(gan)擾被抑制。實際(ji)波形的(de)(de)測量(liang)點多達(da)數萬，計算量(liang)很大，結果反映了波形的(de)(de)整體特征。

2、頻率和介損的(de)關系(xi)

介損有RC串聯(lian)和(he)并聯(lian)兩(liang)種理想(xiang)模(mo)型(xing)：串聯(lian)模(mo)型(xing)tgδ=2πfRC，并聯模型tgδ=1/(2πfRC)，tgδ分別隨頻率(lv)f成正比和(he)反比。如圖所(suo)示，f對完全(quan)正比和完全(quan)反比兩種模(mo)型影響較大。但實際電容器是多種模(mo)型交織的混合模(mo)型，此(ci)時f的(de)影響就小。

3、自動變頻與50Hz等效

儀器采用自(zi)動變(bian)頻在(zai)干擾頻率50Hz兩側（45Hz和55Hz）各測一個點，然后推算50Hz頻(pin)率下數據(ju)。除(chu)多個(ge)元件電路的(de)(de)低(di)頻(pin)諧(xie)振外，單個(ge)試品(pin)中的(de)(de)介(jie)質不(bu)可能(neng)(neng)在低(di)頻(pin)引起能(neng)(neng)量吸收峰(feng)，工頻(pin)附近(jin)(jin)介(jie)損(sun)總是(shi)隨頻(pin)率單調變化的(de)(de)。因此這種測量方法不(bu)會帶來明顯誤差。實際(ji)上，平(ping)均前的(de)(de)兩個(ge)介(jie)損(sun)值已十分接近(jin)(jin)，即使不(bu)平(ping)均也完全(quan)有(you)參考價值。目(mu)前，變頻(pin)介(jie)損(sun)儀已成(cheng)為介(jie)損(sun)測量的(de)(de)常規(gui)儀器(qi)，其優(you)異的(de)(de)抗(kang)干擾能(neng)(neng)力和準確度已經得到(dao)認(ren)可。

十三、儀(yi)器的裝箱(xiang)清單(dan)