一(yi)、WBJS8000G便攜式(shi)變頻介質損耗測試儀概述

介(jie)(jie)損測量是絕緣(yuan)試驗(yan)中很基本(ben)(ben)的(de)(de)方法，可以(yi)有效地發現(xian)電(dian)器(qi)(qi)設備(bei)(bei)絕緣(yuan)的(de)(de)整體受潮(chao)劣(lie)化(hua)變(bian)質，以(yi)及(ji)局部缺陷(xian)等(deng)。在電(dian)工制造、電(dian)氣(qi)設備(bei)(bei)安裝、交接和預防(fang)性(xing)試驗(yan)中都廣泛(fan)應用。變(bian)壓器(qi)(qi)、互感器(qi)(qi)、電(dian)抗器(qi)(qi)、電(dian)容器(qi)(qi)以(yi)及(ji)套管、避雷(lei)器(qi)(qi)等(deng)介(jie)(jie)損的(de)(de)測量是衡量其絕緣(yuan)性(xing)能(neng)的(de)(de)*基本(ben)(ben)方法。LYJS9000F變頻介質損耗測試儀(yi)突(tu)破(po)了傳(chuan)統的電橋測量方(fang)式，采用變頻電源技(ji)術(shu)，利用單(dan)片機(ji)、和現代化電子(zi)技(ji)術(shu)進行自(zi)動頻率變換、模(mo)/數轉換和數據(ju)運算；達(da)到抗干擾能力強(qiang)、測(ce)試速度(du)快、精度(du)高、全自(zi)動數字化、操作簡便(bian)；電(dian)源(yuan)采用大功率開關電(dian)源(yuan)，輸出(chu)45Hz和55Hz純正弦波，自(zi)動加壓，可提供*高10千(qian)伏的(de)電(dian)壓；自動濾除50Hz干擾，適用于變電(dian)站等電(dian)磁干擾大的(de)現場(chang)測試。廣泛(fan)適用于電(dian)力行業(ye)中(zhong)變壓器、互感器、套(tao)管、電(dian)容(rong)器、避雷器等設備的(de)介損測量(liang)。

二、WBJS8000G便攜式變頻介質損耗測試(shi)儀**措施

1、使(shi)用本儀器前一定要認真(zhen)閱讀本手冊(ce)。

2、儀(yi)器(qi)的(de)操作者(zhe)應具備(bei)一般電氣設備(bei)或儀(yi)器(qi)的(de)使用常識(shi)。

3、本儀器戶內外均可(ke)使(shi)用，但(dan)應(ying)避開雨淋(lin)、腐蝕氣體、塵埃過濃(nong)、高溫、陽光直(zhi)射(she)等場所使(shi)用。

儀表應(ying)避(bi)免劇(ju)烈振動。

5、對儀(yi)器的維修、護理和調整應由專業人員進行(xing)。

6、在任(ren)何接(jie)(jie)線(xian)之前(qian)必須用接(jie)(jie)地電纜把儀(yi)器接(jie)(jie)地端子與大地可(ke)靠連(lian)接(jie)(jie)起來。

7、由于測(ce)試設備產生(sheng)高電壓，所(suo)以測(ce)試人員(yuan)必(bi)須(xu)(xu)完(wan)全嚴格遵守**操作規(gui)程，防止他人接觸高壓部件(jian)和電路(lu)。直接從事測(ce)試的(de)人員(yuan)必(bi)須(xu)(xu)完(wan)全了(le)解(jie)高壓測(ce)試線(xian)路(lu)，及儀(yi)器操作要點(dian)。非從事測(ce)試人員(yuan)必(bi)須(xu)(xu)遠離高壓測(ce)試區，測(ce)試區必(bi)須(xu)(xu)用柵(zha)欄或繩索、警視牌等清楚表示(shi)出來。

8、儀器的調整維修和維護，必須(xu)在不加電情況下(xia)進行(xing)，如果(guo)必須(xu)加電，則操(cao)作者必須(xu)非(fei)常(chang)熟悉本儀器高壓(ya)危險部件(jian)。

9、保(bao)險管損壞(huai)時，必(bi)須確保(bao)更(geng)換同樣的保(bao)險，禁止(zhi)更(geng)換不同型號保(bao)險或將(jiang)保(bao)險直接短路使用。

儀器出現(xian)故障時，關(guan)閉電源開關(guan)，等待一分(fen)鐘之后(hou)再檢查。

三、WBJS8000G便攜(xie)式變頻介質損耗測(ce)試儀可(ke)測試參(can)數

儀器可測量下列參數并數字顯示：

被測試品(pin)的電(dian)容量值CX，以(yi)pF或nF為單位，1nF=1000pF。

被測試品(pin)的介質損耗值tgδ，以%顯示。

四、WBJS8000G便攜式變頻(pin)介質損耗測試儀性能特點

1、儀(yi)器(qi)采用復數(shu)電(dian)流法，測(ce)(ce)(ce)量(liang)電(dian)容、介質損耗及其它參(can)數(shu)。測(ce)(ce)(ce)試結(jie)果精度高，便于實現自(zi)動化測(ce)(ce)(ce)量(liang)。

2、儀器采用了變(bian)頻技術(shu)來(lai)消除現場50Hz工(gong)頻(pin)干(gan)擾，即(ji)使在強電磁(ci)干(gan)擾的(de)環境下也(ye)能測(ce)得可靠的(de)數(shu)據。

3、儀器采用大(da)屏(ping)幕液晶顯示器，測(ce)試過(guo)程通過(guo)漢(han)字菜單提(ti)示既(ji)直(zhi)觀(guan)又便于操作(zuo)。

4、儀器(qi)操作簡便(bian)，測量(liang)過程由微處(chu)(chu)理(li)器(qi)控制，只要選擇好(hao)合適的測量(liang)方(fang)式，數據的測量(liang)就(jiu)可在微處(chu)(chu)理(li)器(qi)控制下自動完(wan)成。

5、一體(ti)化機型(xing)，內附標準電(dian)容和(he)高(gao)壓電(dian)源，便于(yu)現(xian)場測(ce)試，減少現(xian)場接(jie)線。

6、儀器測量準確(que)度高，可滿足油介損測量要求，因此只需配備(bei)標準油杯，和專用測試線即(ji)可實現油介損測量。

7、設CVT測試功能，可實(shi)現CVT的自激法測試(shi)，無需外(wai)置(zhi)附件，只(zhi)需一(yi)次測量，C1,C2的電(dian)容和介損全部測出。

8、反(fan)接(jie)線(xian)測試(shi)采用ivddv技術,消除了以往反(fan)接線(xian)數據不穩定的(de)現象。

9、具有(you)反接線低壓屏蔽功能，在(zai)220kV CVT 母線接地(di)情況(kuang)下，對C11 可進行不拆線10kV 反接線介損測量

10、具有(you)測量(liang)高(gao)電壓(ya)介(jie)損功能(neng)，能(neng)夠使(shi)用高(gao)壓(ya)變壓(ya)器或串聯諧振進行(xing)超過(guo)10kV電壓的介損試驗。

12、接地(di)保護(hu)功能，當(dang)儀器(qi)不(bu)(bu)接地(di)線或(huo)接地(di)**時，儀器(qi)不(bu)(bu)進入正常程序，不(bu)(bu)輸出(chu)高壓。過流保護(hu)功能，在試(shi)品短路(lu)或(huo)擊穿時儀器(qi)不(bu)(bu)受損壞。

13、觸電保護功能，當儀器操(cao)作人(ren)員(yuan)不小心觸電時候，儀器會立即(ji)切斷高(gao)壓，保障試驗人(ren)員(yuan)的**.

五、WBJS8000G便攜(xie)式變頻(pin)介質損(sun)耗測試(shi)儀技術(shu)指(zhi)標

準(zhun)確(que)度：

Cx: ±（讀(du)數×1%+1pF）

tgδ:  ±（讀數×1%+0.00040）

抗(kang)干擾指標：  變頻抗(kang)干擾(rao)，在(zai)200%干擾(rao)下(xia)仍能達到(dao)上述準確度

電容量范圍：  內(nei)施(shi)高壓：    3pF～60000pF/10kV    60pF～1μF/0.5kV

外(wai)施高壓：    3pF～1.5μF/10kV    ;     60pF～30μF/0.5kV

分辨(bian)率(lv)：      *高(gao)0.001pF，4位有效(xiao)數字(zi)

tgδ范圍：     不(bu)限(xian)，分(fen)辨(bian)率0.001%，電容(rong)、電感(gan)、電阻(zu)三(san)種試品(pin)自動(dong)識(shi)別。

試驗(yan)電(dian)流范圍：10μA～1A

內施(shi)高(gao)壓：    設(she)定(ding)電壓范圍(wei)：0.5～10kV

*大(da)輸(shu)出(chu)電流：200mA

升降壓(ya)方式：連續(xu)平滑調節

試驗頻(pin)率： 45、50、55、60、65Hz單頻(pin)

45/55Hz、55/65Hz、47.5/52.5Hz自(zi)動雙變頻(pin)

頻(pin)率精度：±0.01Hz

外施高壓：正接線時*大試驗電流1A，工頻(pin)或變頻(pin)40-70Hz

反接(jie)線時*大試驗(yan)電(dian)流10kV/1A，工頻或變頻40-70Hz

CVT自激法(fa)低壓輸(shu)出(chu)：輸(shu)出(chu)電壓3～50V，輸出(chu)電流(liu)3～30A

CVT變比測量：

變(bian)比測量精(jing)度(du)：±讀數×1%     變比測量范圍：10～99999

相位測量精度：±0.1°           相位測量范圍：0～359.9°

測量時間：    約(yue)40s，與測量方式(shi)有關

輸入電源：    180V～270VAC，50Hz±1%，市電或發(fa)電機(ji)供電

計算機接口：  標準RS232接(jie)口

打印機：         煒煌(huang)A7熱(re)敏微(wei)型打印機

環境溫度：    -10℃～50℃

相對濕度(du)：    <90%

外形(xing)尺(chi)寸：460×360×350mm

儀器重量(liang)：28kg

六、測量方式及原理

按被測(ce)試(shi)品是否(fou)接(jie)地分兩(liang)種(zhong)測(ce)量方(fang)(fang)(fang)式，即正(zheng)接(jie)線測(ce)量方(fang)(fang)(fang)式和(he)反接(jie)線測(ce)量方(fang)(fang)(fang)式。兩(liang)種(zhong)測(ce)量方(fang)(fang)(fang)式的原(yuan)理如圖一所示：

在高壓電(dian)源(yuan)的10kV側(ce)，高壓分(fen)兩路，一路給機(ji)內標準電(dian)容(rong)CN，此(ci)電(dian)容(rong)介損(sun)非(fei)常小(xiao)，可(ke)以認為介損(sun)為零，即為純容(rong)性電(dian)流(liu)，此(ci)電(dian)流(liu)ICN 可(ke)做為容(rong)性電(dian)流(liu)基準。在Cx試(shi)品一側(ce)，試(shi)品電(dian)流(liu)Icx通過(guo)采樣(yang)電(dian)阻R采入機(ji)內，此(ci)Icx可(ke)分(fen)解成水平分(fen)量和垂直(zhi)分(fen)量見圖二所示，通過(guo)計算水平分(fen)量與垂直(zhi)分(fen)量的比值(zhi)即可(ke)得到tgδ值(zhi)。

在圖一(yi)（a）中Cx為非接(jie)(jie)(jie)地(di)試(shi)(shi)品，試(shi)(shi)品電(dian)流(liu)(liu)Icx從試(shi)(shi)品末端進入采(cai)樣(yang)(yang)電(dian)阻(zu)R，得(de)到(dao)全(quan)電(dian)流(liu)(liu)值，在圖一(yi)（b）中Cx為接(jie)(jie)(jie)地(di)試(shi)(shi)品，機內Cx端直接(jie)(jie)(jie)接(jie)(jie)(jie)地(di)，電(dian)流(liu)(liu)Icx從試(shi)(shi)品高壓端到(dao)機內采(cai)樣(yang)(yang)電(dian)阻(zu)取(qu)得(de)全(quan)電(dian)流(liu)(liu)值。

七(qi)、常見設備的接線方法(fa)

1．儀器引出(chu)端子說明：

HV ——  儀器(qi)的測(ce)量引線高壓端（帶危(wei)險(xian)電壓） 。

CX ——  正(zheng)接線(xian)時試品電(dian)流輸(shu)入(ru)端。

——  儀器的接地端，使(shi)用時與(yu)大地可靠相接

2.參(can)考接(jie)線

2.1正(zheng)接(jie)線(xian)(xian)、內(nei)標準電容、內(nei)高壓（常規(gui)正(zheng)接(jie)線(xian)(xian)）：

2.2反(fan)接線(xian)、內(nei)標準電容、內(nei)高壓（常規反(fan)接線(xian)）

2.3正接線、外標準(zhun)電(dian)容、內高壓：

2.4反接線、外標(biao)準電容、內(nei)高(gao)壓：

2.5正接線、內標準電容、外高壓：

2.6反(fan)接線、內標準電容、外高壓(ya)：

2.7正接線(xian)、外標(biao)準(zhun)電容、外高壓（高電壓介(jie)損(sun)）：

2.8反接(jie)線(xian)、外(wai)標準電容(rong)、外(wai)高壓(ya)：

2.9  CVT自(zi)激(ji)法測量(liang)：

CVT自(zi)(zi)激(ji)法(fa)可(ke)按下圖(tu)接線(xian)。如果C1是單節(jie)電容，母線(xian)不能接地；如果C1是多節(jie)電容，母線(xian)可(ke)接地，C11和C12可(ke)用(yong)常(chang)規正反接線(xian)測量，C13和C2用(yong)自(zi)(zi)激(ji)法(fa)測量。

CVT自(zi)激(ji)法測(ce)(ce)量(liang)中(zhong)，儀(yi)器先測(ce)(ce)量(liang)C1，然后自(zi)動倒線測(ce)(ce)量(liang)C2，并自(zi)動校準分壓(ya)影響。

應注意，高(gao)(gao)壓(ya)線應懸空不能接(jie)觸地面，否則其(qi)對地附加介損會引起誤差，可(ke)用細電纜連接(jie)高(gao)(gao)壓(ya)插座與CVT試品并吊起。強烈(lie)建議使(shi)用(yong)高壓插(cha)座使(shi)用(yong)的高壓線用(yong)黑(hei)色Cx線。

2.10 CVT變比測試

儀(yi)器高壓線的芯線紅夾(jia)子接(jie)CVT的(de)上端，母線拆(chai)地。CVT下(xia)端接地，低壓線紅黑夾子接二次繞組，注意:如果測試角度接(jie)近180度，應將紅黑夾子顛倒。

3.附加功能

3.1光標在 電壓：10kV上(shang)面時候，按(an)“確認”鍵在(zai)儀器(qi)屏幕的(de)左下(xia)角(jiao)會出現圖(tu)(tu)標(biao)(biao)，代表測(ce)試結(jie)束自動(dong)打印。如果(guo)再按確認鍵(jian)，圖(tu)(tu)標(biao)(biao)消失，代表測(ce)試結(jie)束必須手動(dong)才能打印。

3.2光標在(zai) 反接(jie) 上(shang)面時候，在(zai)反接(jie)線(xian)，內Cn，內(nei)Un，情況下，按確認鍵在儀器屏幕右下角會出現圖(tu)標(biao)，代表反接線(xian)低壓(ya)屏蔽測試(shi)。如果(guo)再按確認(ren)鍵，圖(tu)標(biao)消失，代表取消反接線(xian)低壓(ya)屏蔽。

反(fan)接(jie)線(xian)低壓屏蔽功能，一次接(jie)線(xian)可同時測出(chu)C1和(he)C2的電容(rong)量和介損(sun)

在反接(jie)線、內(nei)標(biao)準(zhun)和內(nei)高壓方式，光標(biao)移到“反接”處，按(an)“確(que)認”右下角顯示“M”。

打開反接線(xian)(xian)低(di)壓屏(ping)蔽，可(ke)在上(shang)端(duan)(duan)電容C1不(bu)拆(chai)母線(xian)(xian)的(de)情況下(xia)(xia)(xia)，對其進行不(bu)拆(chai)線(xian)(xian)10kV反接線(xian)(xian)介(jie)損測量(liang)(liang)。如(ru)下(xia)(xia)(xia)圖(tu)所示(shi)：母線(xian)(xian)掛(gua)地線(xian)(xian)，C1上(shang)端(duan)(duan)不(bu)拆(chai)線(xian)(xian)，C1下(xia)(xia)(xia)端(duan)(duan)接高(gao)壓線(xian)(xian)芯線(xian)(xian)，C2末端(duan)(duan)接Cx芯線(xian)(xian)。儀器采用反接線(xian)(xian)/10kV/M測量(liang)(liang)方式(shi)，可(ke)同時測出C11和下(xia)(xia)(xia)端(duan)(duan)屏(ping)蔽部分的(de)電容量(liang)(liang)和介(jie)損值。

3.3光標在 正(zheng)接(jie) 上面時候，按確認鍵則(ze)測試打印(yin)機，換(huan)紙。

3.4光標在 啟動 上面時候(hou)，按(an)減(jian)小鍵則代表取出存儲的(de)數據。

3.5測(ce)試完畢(bi)，如(ru)果按減小(xiao)鍵，則代表存儲測(ce)試的數(shu)據

八(ba)、功能簡介

儀(yi)器面板見圖九(jiu)所示：

打印機——打印測量數據。

顯示器(qi)——128×64點陣液晶(jing)顯示器，顯示菜單和各種(zhong)提示信息及測量結果(guo)。

  鍵——選(xuan)擇菜(cai)單項(xiang)，被(bei)選(xuan)中(zhong)項(xiang)反白字體(ti)顯示(shi)。

▲  鍵——修改菜單內容，采用循環滾動(dong)方式(shi)。

▼ 鍵——修(xiu)改菜(cai)單內容，采用循環滾(gun)動(dong)方式。

確認鍵——在“測(ce)試”選(xuan)項上(shang)按此(ci)鍵進(jin)入測(ce)試狀態(tai)。

電(dian)源開(kai)關(guan)——整機電(dian)源的(de)開(kai)啟和(he)關(guan)閉。

電源(yuan)座——交流220V±10%，50±1Hz電源輸入口(kou)，帶保險(xian)倉。

9．自激(ji)法電流輸出(chu)端(duan)——測(ce)量(liang)CVT的(de)專(zhuan)用端子。

10．地(di)——為接地(di)線(xian)(xian)接線(xian)(xian)端子。

11．CX插座——是試品信號的測量輸入端(duan)，正接(jie)線時由專用低壓電(dian)纜連接(jie)，此電(dian)纜單層(ceng)屏蔽帶特制鱷魚夾，長8m，接試(shi)品低端。反(fan)接線(xian)時此端空置。

12．CN插座——是外標準電(dian)容信號的測量輸入端(duan)，使用內標準時此端(duan)空置。

13．HV插座——高(gao)壓引出(chu)端子，由高(gao)壓電纜(lan)連接，接試品高(gao)壓端。輸出(chu)10kv高(gao)壓(ya)。

14．RS-232接口，用來連(lian)接電腦(nao)，上傳數(shu)據。

九(jiu)、儀(yi)器操(cao)作(zuo)步驟(zou)

1．測量前準備：

1）用接(jie)地線一端(duan)接(jie)儀(yi)器(qi)的(de)(de)接(jie)地柱(zhu)，另一端(duan)接(jie)可靠(kao)的(de)(de)大(da)地，保(bao)證儀(yi)器(qi)外(wai)殼處在地電位上。

2）正(zheng)接線(xian)時：將高壓電(dian)纜插頭插入后(hou)門HV插座中，將(jiang)另一端的紅(hong)色大鉗子(zi)夾(jia)到被測試品的**引線上，黑色小鉗子(zi)懸空或夾(jia)在紅(hong)色大鉗子(zi)上。將(jiang)CX低壓電(dian)纜插入(ru)CX插座中，另一端(duan)的(de)紅色夾(jia)子(zi)夾(jia)試品(pin)的(de)低端(duan)，黑色夾(jia)子(zi)懸(xuan)空或(huo)接屏蔽裝置。

3）反接線時：將高(gao)壓電纜插(cha)頭(tou)插(cha)入后門HV插座中，將另一端的(de)紅(hong)色(se)大鉗子夾到被測試(shi)品的(de)**引線(xian)上(shang)，紅(hong)色(se)小鉗子懸空(kong)或(huo)接屏(ping)蔽裝(zhuang)置(zhi)。Cx插座不用。

2．打開電(dian)源開關，儀器進行自(zi)檢，若(ruo)自(zi)檢良好，液晶屏顯(xian)示中文主菜單如

圖十所(suo)示。

3．菜單選(xuan)擇：

按鍵(jian)可移動光標至各(ge)菜(cai)單(dan)項，并(bing)循環指示。被(bei)選(xuan)中項反白字體(ti)顯(xian)示。選(xuan)擇鍵(jian)的流程見圖十一所示。

在光標(biao)當前(qian)所(suo)示項(xiang)目，按▼ ▲鍵鍵可進行該項(xiang)菜單(dan)的變更(geng)，并循環指示，流程見圖十二所(suo)示。

將菜單變更至與測試要(yao)求相對應后即可按選擇鍵進行下個項(xiang)目的選擇。

4、 頻(pin)(pin)率：光標在頻(pin)(pin)率上，按↑↓鍵選擇定頻(pin)(pin)和(he)變頻(pin)(pin)：

光標在定頻上(shang)：按住“啟(qi)停”鍵1s以上(shang)切換到全(quan)頻(pin)率選擇，按(an)↑↓鍵(jian)循環顯示(shi)45Hz / 47.5Hz / 50Hz / 52.5Hz / 55Hz / 60Hz / 65Hz

工頻50Hz測量(liang)，此設置(zhi)不能抗干擾(rao)，在試驗(yan)室(shi)內測量(liang)或校驗(yan)時選用50Hz，“45/47.5/55/52.5/60/65Hz”：為單頻率測量(liang)，研究不同頻率下介損的變化時(shi)選用。

光標(biao)在(zai)變頻(pin)上：按(an)住(zhu)“啟(qi)停”鍵1s以上(shang)切換到全頻率選擇，按↑↓鍵循環顯(xian)示5-Hz / 6-Hz / 4-Hz”：

“5-Hz”：為45/55Hz自動變(bian)頻，適合50Hz電網(wang)工頻干擾下測量(liang)。

“6-Hz”：為(wei)55/65Hz自動變頻，適合(he)60Hz電(dian)網工頻干擾下測量。

“4-Hz”：為47.5/52.5Hz自(zi)動(dong)變(bian)頻，適合(he)50Hz電網工(gong)頻干擾下測量。

5、測(ce)(ce)試(shi)：當光標在 測(ce)(ce)試(shi) 項目(mu)上時，按確認鍵大約3秒鐘開始測試(shi)。測試(shi)過(guo)程(cheng)中(zhong)顯示的畫面如圖十三（正接線，變頻）所(suo)示，當下(xia)面的進(jin)程(cheng)到100%時(shi)候測(ce)試完畢，然后顯示(shi)(shi)測(ce)量結(jie)果見圖十四所示(shi)(shi)，此時(shi)光標指示(shi)(shi)打印機圖標，按確認鍵(jian)打印報告。測(ce)量結(jie)果的意(yi)義如下：

tgδ： 試(shi)品的損耗因數tgδ值(zhi)

CX： 測(ce)量的電容值(zhi)

V：施(shi)加(jia)電壓值

I：試品流過的電流

F1,F2 : 試驗頻(pin)率(lv)

打印結束(shu)后，關閉(bi)電源(yuan)開關，測試完畢。

十、現場試驗注意事(shi)項

如果使用(yong)中出現(xian)測試數(shu)據明顯不(bu)合(he)理，請從以下方面查(cha)找原因：

1、搭(da)鉤(gou)接(jie)觸**

現場測(ce)量使用搭鉤(gou)連接(jie)(jie)試品(pin)時(shi)，搭鉤(gou)務必與(yu)試品(pin)接(jie)(jie)觸(chu)良好，否則(ze)接(jie)(jie)觸(chu)點(dian)放電會引起(qi)數據嚴重波動(dong)(dong)！尤其是引流(liu)線氧化層(ceng)太厚，或風吹線擺動(dong)(dong)，易造成接(jie)(jie)觸(chu)**。

2、接地接觸**

接地(di)**會(hui)引起儀器(qi)保護或數據嚴重波動。應刮凈接地(di)點上的油漆和銹蝕(shi)，務必(bi)保證0電阻(zu)接地！

3、直接(jie)測量CVT或末端屏蔽法測量(liang)電磁式(shi)PT

直接測量CVT的(de)下節耦合電容會出現負介損(sun)，應改用自激法(fa)。

用末端屏蔽法(fa)測(ce)量電磁式PT時，由于(yu)受(shou)潮(chao)引起(qi)“T形網絡干擾(rao)”出(chu)現(xian)負介損(sun)，吹干下面三裙瓷套(tao)和接線端子盤即(ji)可。也可改(gai)用常規(gui)法或末端加壓法測(ce)量。

4、空氣(qi)濕度過大(da)

空氣濕度(du)大(da)使介損測量值異常增(zeng)大(da)（或減小甚至為負）且不穩定，必要時(shi)可(ke)加屏蔽(bi)環(huan)。因人為加屏蔽(bi)環(huan)改變了試品電場分布，此(ci)法有(you)爭(zheng)議，可(ke)參照(zhao)有(you)關(guan)規程。

5、發電機供電

發電(dian)機供電(dian)時輸入頻率不穩定，可(ke)采用(yong)定頻50Hz模式工作。

6、測試線(xian)

由于長期使(shi)用(yong)，易造(zao)成測試線隱性斷路(lu)，或(huo)芯線和屏蔽短路(lu)，或(huo)插(cha)頭(tou)接觸**，用(yong)戶應經常維護測試線；

測試標準(zhun)電(dian)容試品時，應使用(yong)全(quan)屏蔽插頭連接，以消除附加(jia)雜散電(dian)容影(ying)響，否(fou)則不能(neng)反映出儀器精度；

自(zi)激(ji)法測量CVT時(shi)，非專(zhuan)用的高(gao)壓線應(ying)吊起懸空，否則對地附加雜散電(dian)容(rong)和介損會引(yin)起測量誤差。

7、工作模式選擇

接好線后請選擇正確的測量工作模式（正、反和CVT），不可選(xuan)錯(cuo)。特(te)別是干(gan)擾環境(jing)下應選(xuan)用變頻(pin)抗干(gan)擾模式。

8、試驗方法影響

由(you)于介損測量受試驗方(fang)法(fa)影響(xiang)較大，應區(qu)分是(shi)(shi)試驗方(fang)法(fa)誤(wu)差還是(shi)(shi)儀(yi)器(qi)誤(wu)差。出現問題(ti)時可首先(xian)檢(jian)查接線(xian)，然后檢(jian)查是(shi)(shi)否為儀(yi)器(qi)故(gu)障。

9、儀器(qi)故障

用(yong)萬(wan)用(yong)表(biao)測量一下測試線(xian)是(shi)否(fou)斷(duan)路，或芯線(xian)和屏蔽是(shi)否(fou)短路；輸入電源220V過高或過低(di)；接(jie)地是否良好。

用正(zheng)、反接線測一(yi)下標準電容器或已知(zhi)容量和介損(sun)的電容試(shi)品(pin)，如(ru)果結(jie)果正(zheng)確，即可判斷儀器沒有問題；

拔(ba)下(xia)所有測試導線，進(jin)行(xing)空(kong)試升壓，若不能正常工(gong)作(zuo)，儀器可能有故障。

啟動(dong)CVT測量后測量低壓(ya)輸出(chu)，應(ying)出(chu)現2～5V電壓(ya)，否則儀器有故障。

十一(yi)、 儀器檢定

1、用(yong)標準損耗器檢(jian)定

用帶插頭的屏(ping)蔽電纜(lan)連接標(biao)(biao)準(zhun)損(sun)耗器。如果不能保證標(biao)(biao)準(zhun)損(sun)耗器的精度，應(ying)使用比對(dui)法檢(jian)定，建(jian)議(yi)用2801電橋或其它精密(mi)電橋作比對標準。儀(yi)器(qi)應選用“內標準”和“RC串聯試品”，可選擇工頻(pin) 50Hz或(huo)定頻50Hz頻率(lv)模式。

2、用QSJ3檢定：使用帶插頭(tou)的屏蔽電纜連接QSJ3，選擇“正接/ 外Cn / 外Un式測量，電流比為Cx∶Cn，Cn可置(zhi)入適當值。

3、抗干擾能(neng)力

設置一個回路向儀器注入定(ding)量(liang)的干(gan)擾電流。

注意：

1）應考(kao)慮到(dao)該(gai)回路可能(neng)成為(wei)試品的一部分。

2）儀器啟(qi)動(dong)后會使220V供電電路帶(dai)有測量(liang)頻率(lv)分量(liang)，如果該頻率(lv)分量(liang)又(you)通過干擾(rao)電流進入儀器(qi)，則無法檢驗儀器(qi)的抗干擾(rao)能力。

3）不建議用臨近高(gao)壓導體施(shi)加干擾(rao)，因為(wei)這樣很容(rong)易產生(sheng)近距離(li)**放電(dian)，這種放電(dian)電(dian)阻是非線性的，容(rong)易產生(sheng)同頻干擾(rao)。

十二、變頻測量討論(lun)

1、變頻測量

干擾十分嚴(yan)重(zhong)時，變頻測量(liang)能得(de)到準確可靠的(de)結果。例(li)如用(yong)55Hz測量(liang)時(shi)，測量(liang)系統(tong)只允許(xu)55Hz信號通過(guo)，50Hz干擾信號被(bei)有(you)效抑制，原因在于測量系統很容易區(qu)別不同頻率(lv)，由下述簡單計算(suan)可(ke)以(yi)說明選(xuan)頻測量的效果(guo)：

兩個頻率相差(cha)1倍的(de)正弦波(bo)疊(die)加到一起，高(gao)頻(pin)的(de)是干擾，幅度(du)為低頻(pin)的(de)10倍：

這剛好是低頻部分的(de)相(xiang)位(wei)和(he)幅度(du)，干(gan)擾被抑制。實際波形(xing)的(de)測量(liang)(liang)點多(duo)達數(shu)萬，計算量(liang)(liang)很大，結(jie)果反映了波形(xing)的(de)整體(ti)特征。

2、頻率和介損(sun)的關(guan)系

介損(sun)有RC串聯(lian)(lian)和并聯(lian)(lian)兩(liang)種理(li)想模型：串聯(lian)(lian)模型tgδ=2πfRC，并聯模型tgδ=1/(2πfRC)，tgδ分別隨頻(pin)率f成正比(bi)和反比(bi)。如圖所示，f對完全正比和(he)完全反比兩種模型(xing)影響較(jiao)大。但實(shi)際電容器是多種模型(xing)交織的混合(he)模型(xing)，此時f的(de)影(ying)響(xiang)就小。

3、自動變頻與50Hz等效

儀器采用自(zi)動變頻在干擾頻率50Hz兩側（45Hz和55Hz）各(ge)測一個點，然后推算50Hz頻(pin)(pin)率(lv)下數據。除多個(ge)元件電路的(de)低(di)(di)頻(pin)(pin)諧(xie)振外(wai)，單(dan)(dan)個(ge)試品中的(de)介(jie)(jie)質不可能(neng)在低(di)(di)頻(pin)(pin)引起(qi)能(neng)量(liang)吸收峰，工頻(pin)(pin)附近介(jie)(jie)損(sun)(sun)總是(shi)隨(sui)頻(pin)(pin)率(lv)單(dan)(dan)調變化的(de)。因此這種測量(liang)方法不會帶來明顯誤(wu)差(cha)。實際上，平均前的(de)兩個(ge)介(jie)(jie)損(sun)(sun)值(zhi)(zhi)已十(shi)分接近，即使不平均也完(wan)全有參(can)考(kao)價值(zhi)(zhi)。目前，變頻(pin)(pin)介(jie)(jie)損(sun)(sun)儀(yi)已成為介(jie)(jie)損(sun)(sun)測量(liang)的(de)常規儀(yi)器(qi)，其(qi)優(you)異的(de)抗干擾(rao)能(neng)力和準確度(du)已經得到認可。

十三、儀器的裝箱清單(dan)