一、WBJS8000G超(chao)強(qiang)干(gan)擾介(jie)質損耗測試儀概述

介損(sun)測(ce)量(liang)是絕(jue)(jue)緣(yuan)試驗中(zhong)很基本的(de)方(fang)法(fa)，可以(yi)有效地發(fa)現電(dian)(dian)器設(she)(she)備絕(jue)(jue)緣(yuan)的(de)整體受潮劣(lie)化(hua)變質(zhi)，以(yi)及局部缺陷等。在電(dian)(dian)工制造、電(dian)(dian)氣設(she)(she)備安裝、交接和預防性試驗中(zhong)都(dou)廣泛應用。變壓器、互感器、電(dian)(dian)抗器、電(dian)(dian)容器以(yi)及套管、避(bi)雷器等介損(sun)的(de)測(ce)量(liang)是衡(heng)量(liang)其絕(jue)(jue)緣(yuan)性能的(de)*基本方(fang)法(fa)。LYJS9000F變(bian)頻介質損耗測試(shi)儀突破了(le)傳統的(de)電橋測量方式(shi)，采(cai)用(yong)變(bian)頻電源技(ji)術(shu)，利用(yong)單片機(ji)、和現代化電子技(ji)術(shu)進行自動頻率變(bian)換、模/數(shu)轉換和數(shu)據運算(suan)；達到抗干擾(rao)能力強、測試(shi)速度(du)快、精度(du)高、全自動(dong)數(shu)字化、操作簡(jian)便；電源采用大功率開關電源，輸(shu)出45Hz和55Hz純正弦波，自動加(jia)壓，可提供(gong)*高10千伏的電壓；自動濾除50Hz干(gan)擾(rao)，適用于變電(dian)(dian)站(zhan)等電(dian)(dian)磁干(gan)擾(rao)大的現場(chang)測試。廣泛適用于電(dian)(dian)力行業(ye)中變壓器、互(hu)感器、套管、電(dian)(dian)容器、避雷器等設備(bei)的介損測量。

二、WBJS8000G超(chao)強干擾介(jie)質損耗測(ce)試儀(yi)**措(cuo)施

1、使用(yong)本(ben)儀器前一定要認真閱讀本(ben)手冊。

2、儀(yi)器的操作(zuo)者應具(ju)備一般電氣設備或儀(yi)器的使用(yong)常識。

3、本儀(yi)器(qi)戶內外(wai)均(jun)可使用(yong)(yong)，但(dan)應避開(kai)雨淋、腐蝕(shi)氣體、塵埃過(guo)濃、高溫、陽光直射等場(chang)所使用(yong)(yong)。

儀(yi)表應(ying)避免劇烈振動。

5、對儀器的維修、護理和(he)調(diao)整應由專業人員(yuan)進(jin)行。

6、在任(ren)何接線之前必須用(yong)接地(di)電纜把儀器接地(di)端(duan)子與大地(di)可靠連接起(qi)來。

7、由于測(ce)(ce)試設備產生(sheng)高(gao)(gao)電壓(ya)(ya)，所(suo)以測(ce)(ce)試人(ren)員必(bi)須(xu)完(wan)全(quan)嚴(yan)格遵守**操作(zuo)規程(cheng)，防止(zhi)他人(ren)接觸高(gao)(gao)壓(ya)(ya)部件和電路。直(zhi)接從事測(ce)(ce)試的(de)人(ren)員必(bi)須(xu)完(wan)全(quan)了解高(gao)(gao)壓(ya)(ya)測(ce)(ce)試線路，及(ji)儀器操作(zuo)要點。非從事測(ce)(ce)試人(ren)員必(bi)須(xu)遠離(li)高(gao)(gao)壓(ya)(ya)測(ce)(ce)試區，測(ce)(ce)試區必(bi)須(xu)用柵欄或繩索(suo)、警視牌等清(qing)楚(chu)表示出來。

8、儀器(qi)的調整維(wei)修和維(wei)護，必(bi)須(xu)在不(bu)加電情況下進行，如果必(bi)須(xu)加電，則操(cao)作者必(bi)須(xu)非常(chang)熟悉本儀器(qi)高壓危險部(bu)件。

9、保(bao)(bao)險(xian)管損壞(huai)時，必須確保(bao)(bao)更(geng)換同樣的保(bao)(bao)險(xian)，禁止(zhi)更(geng)換不同型號(hao)保(bao)(bao)險(xian)或將保(bao)(bao)險(xian)直接(jie)短路使用。

儀器(qi)出(chu)現故障時，關閉電源開(kai)關，等待(dai)一(yi)分鐘之后再(zai)檢查。

三、WBJS8000G超強干擾(rao)介質損耗測試儀可測試參數

儀器可測量下列參數并數字(zi)顯示：

被測試品的電容量(liang)值CX，以pF或nF為單位，1nF=1000pF。

被測試品的介質損耗值tgδ，以(yi)%顯示(shi)。

四(si)、WBJS8000G超強干擾介質損耗測(ce)試儀性能特點

1、儀器采用復數(shu)電流法，測(ce)量電容、介(jie)質損耗及(ji)其它參數(shu)。測(ce)試(shi)結果精(jing)度高(gao)，便(bian)于實現自動(dong)化測(ce)量。

2、儀器采用了變頻(pin)技術來消除現場50Hz工頻干擾(rao)，即(ji)使在(zai)強電磁干擾(rao)的環境下也(ye)能測得(de)可靠的數(shu)據。

3、儀器采用大屏幕液(ye)晶(jing)顯示器，測試過程通(tong)過漢(han)字菜單提示既直觀又便于操作。

4、儀器操作簡便，測量(liang)過(guo)程由微處(chu)理(li)器控(kong)制，只要選擇(ze)好合適的測量(liang)方式，數據的測量(liang)就可(ke)在微處(chu)理(li)器控(kong)制下自(zi)動完成。

5、一體化機型，內附標準電(dian)容和高壓(ya)電(dian)源(yuan)，便(bian)于現場(chang)(chang)測試，減少現場(chang)(chang)接線(xian)。

6、儀器(qi)測量準(zhun)確度高，可滿足油介損測量要(yao)求，因此只需配備標準(zhun)油杯(bei)，和專用測試線即可實現(xian)油介損測量。

7、設CVT測試功能，可實現CVT的(de)自激(ji)法測試(shi)，無需外置附件，只需一次測量，C1,C2的電容和介損全部測出。

8、反接線測(ce)試(shi)采用ivddv技術,消除了以往反(fan)接線數(shu)據不穩定的(de)現象。

9、具有反接線低壓(ya)屏蔽功(gong)能，在220kV CVT 母線接地情(qing)況下，對C11 可進行不拆線(xian)10kV 反接(jie)線介損(sun)測量(liang)

10、具有測(ce)量高(gao)電壓介損功能(neng)，能(neng)夠使用高(gao)壓變壓器或(huo)串聯諧振進行超過10kV電(dian)壓的介(jie)損試驗。

12、接(jie)地(di)(di)(di)保護功能，當儀(yi)器不接(jie)地(di)(di)(di)線或(huo)(huo)接(jie)地(di)(di)(di)**時，儀(yi)器不進(jin)入正常程(cheng)序，不輸出高壓(ya)。過流保護功能，在試品短路或(huo)(huo)擊(ji)穿(chuan)時儀(yi)器不受損壞。

13、觸(chu)電(dian)(dian)保護(hu)功能，當(dang)儀器操作人(ren)員(yuan)不小心(xin)觸(chu)電(dian)(dian)時候，儀器會立即(ji)切斷(duan)高壓，保障(zhang)試驗(yan)人(ren)員(yuan)的**.

五(wu)、WBJS8000G超強干(gan)擾(rao)介質損耗(hao)測試(shi)儀技(ji)術指(zhi)標

準(zhun)確度：

Cx: ±（讀(du)數×1%+1pF）

tgδ:  ±（讀數(shu)×1%+0.00040）

抗干擾指標：  變頻抗干擾，在200%干擾(rao)下仍能(neng)達到上(shang)述(shu)準確度

電容(rong)量范圍：  內施(shi)高(gao)壓：    3pF～60000pF/10kV    60pF～1μF/0.5kV

外施(shi)高壓(ya)：    3pF～1.5μF/10kV         60pF～30μF/0.5kV

分辨率：      *高(gao)0.001pF，4位有效數字(zi)

tgδ范圍(wei)：     不限，分辨率(lv)0.001%，電(dian)容、電(dian)感、電(dian)阻三種試品(pin)自動識別(bie)。

試(shi)驗電流范圍：10μA～1A

內施高壓：    設定電壓范圍(wei)：0.5～10kV

*大輸出電流：200mA

升降壓(ya)方式：連續平滑調節

試(shi)驗頻率： 45、50、55、60、65Hz單頻

45/55Hz、55/65Hz、47.5/52.5Hz自動雙變(bian)頻

頻率(lv)精度(du)：±0.01Hz

外施高壓：正接線時*大試(shi)驗電流1A，工頻(pin)(pin)或變頻(pin)(pin)40-70Hz

反接線(xian)時(shi)*大試驗電流10kV/1A，工頻或變(bian)頻40-70Hz

CVT自激法低壓(ya)輸出：輸出電壓(ya)3～50V，輸出電流3～30A

CVT變比測(ce)量：

變(bian)比測(ce)量精度(du)：±讀數×1%     變比(bi)測(ce)量范圍(wei)：10～99999

相位測(ce)量精度：±0.1°           相位測量范(fan)圍：0～359.9°

測量時間：    約40s，與(yu)測量(liang)方式有(you)關

輸入電(dian)源：    180V～270VAC，50Hz±1%，市電(dian)或發電(dian)機供電(dian)

計算機接口：  標準RS232接口(kou)

打印機：         煒煌A7熱敏微型打印機

環境溫度(du)：    -10℃～50℃

相對濕度：    <90%

外形尺寸：460×360×350mm

儀(yi)器重量：28kg

六、測量方式及原理(li)

按被測(ce)試品是(shi)否接地分(fen)兩種測(ce)量方(fang)(fang)(fang)式(shi)，即(ji)正接線測(ce)量方(fang)(fang)(fang)式(shi)和(he)反接線測(ce)量方(fang)(fang)(fang)式(shi)。兩種測(ce)量方(fang)(fang)(fang)式(shi)的原理(li)如圖(tu)一所(suo)示：

在高壓電(dian)源的10kV側(ce)，高壓分(fen)(fen)兩路，一路給(gei)機內標準(zhun)電(dian)容CN，此(ci)電(dian)容介(jie)(jie)損(sun)非常小，可以(yi)認為(wei)介(jie)(jie)損(sun)為(wei)零，即為(wei)純容性電(dian)流，此(ci)電(dian)流ICN 可做為(wei)容性電(dian)流基(ji)準(zhun)。在Cx試品(pin)一側(ce)，試品(pin)電(dian)流Icx通過采樣(yang)電(dian)阻R采入機內，此(ci)Icx可分(fen)(fen)解成(cheng)水平分(fen)(fen)量和垂直分(fen)(fen)量見圖二所示，通過計算水平分(fen)(fen)量與垂直分(fen)(fen)量的比值(zhi)(zhi)即可得到tgδ值(zhi)(zhi)。

在圖一（a）中Cx為(wei)(wei)非接地(di)試(shi)(shi)品，試(shi)(shi)品電流(liu)Icx從(cong)試(shi)(shi)品末(mo)端(duan)進入采樣電阻R，得到全電流(liu)值，在圖一（b）中Cx為(wei)(wei)接地(di)試(shi)(shi)品，機(ji)內(nei)Cx端(duan)直接接地(di)，電流(liu)Icx從(cong)試(shi)(shi)品高壓端(duan)到機(ji)內(nei)采樣電阻取得全電流(liu)值。

七、常見設備的接線方法

1．儀(yi)器引(yin)出端子說明：

HV ——  儀器的測量(liang)引線高壓端（帶危險電壓） 。

CX ——  正接線時試品電(dian)流輸(shu)入端。

——  儀器的接地端(duan)，使用時與大(da)地可靠相接

2.參考接線(xian)

2.1正(zheng)(zheng)接(jie)線(xian)、內標準電容、內高壓（常規正(zheng)(zheng)接(jie)線(xian)）：

2.2反接線(xian)、內標準電容、內高壓（常(chang)規反接線(xian)）

2.3正接線、外標(biao)準電容、內高壓：

2.4反接(jie)線、外標(biao)準(zhun)電容、內高壓：

2.5正接(jie)線、內標準電容、外高壓(ya)：

2.6反接線、內標準電容、外高壓：

2.7正接線、外(wai)標(biao)準電容(rong)、外(wai)高(gao)壓(ya)（高(gao)電壓(ya)介損(sun)）：

2.8反接線、外標準電容、外高壓(ya)：

2.9  CVT自(zi)激法測量：

CVT自(zi)激法可(ke)(ke)按下圖接線。如果(guo)C1是(shi)單節(jie)電容，母線不能接地；如果(guo)C1是(shi)多(duo)節(jie)電容，母線可(ke)(ke)接地，C11和C12可(ke)(ke)用常規正反(fan)接線測量，C13和C2用自(zi)激法測量。

CVT自(zi)激(ji)法測(ce)(ce)量中，儀器(qi)先測(ce)(ce)量C1，然(ran)后自(zi)動倒線測(ce)(ce)量C2，并自(zi)動校準(zhun)分壓影響。

應(ying)(ying)注意(yi)，高壓線應(ying)(ying)懸空不能(neng)接(jie)觸地面，否則其對地附加介損會引起誤差，可用細(xi)電纜連接(jie)高壓插座(zuo)與CVT試(shi)品并(bing)吊起。強烈(lie)建議使用高壓插座使用的高壓線(xian)用黑色(se)Cx線。

2.10 CVT變(bian)比測試(shi)

儀器(qi)高壓線的芯線紅夾子接CVT的上端，母線拆地。CVT下端接地(di)，低壓線(xian)紅黑(hei)夾(jia)子(zi)接二次繞組，注意:如(ru)果測試角度接近180度，應將紅黑夾子顛倒。

3.附加功能(neng)

3.1光(guang)標(biao)在 電壓：10kV上面時候(hou)，按(an)“確認”鍵在儀器屏幕的左(zuo)下角會出現圖標，代表測試結束自動(dong)打(da)印(yin)。如(ru)果再按確認(ren)鍵，圖標消失，代表測試結束必(bi)須手(shou)動(dong)才能打(da)印(yin)。

3.2光(guang)標(biao)在 反接(jie)(jie) 上(shang)面時候，在反接(jie)(jie)線，內Cn，內Un，情況下，按確認鍵在儀器屏幕右(you)下角會出現圖(tu)標，代表反接線低壓(ya)屏(ping)蔽測試(shi)。如果再按確認(ren)鍵，圖(tu)標消失，代表取消反接線低壓(ya)屏(ping)蔽。

反(fan)接線(xian)低壓屏(ping)蔽功能，一次接線(xian)可(ke)同時(shi)測(ce)出(chu)C1和C2的電容(rong)量和介損

在反接(jie)線、內(nei)標(biao)準(zhun)和內(nei)高壓方式，光標(biao)移到“反接”處，按“確認”右下角顯示“M”。

打(da)開反接線(xian)(xian)(xian)(xian)低壓屏(ping)蔽(bi)，可在上端(duan)電(dian)容C1不(bu)拆(chai)母線(xian)(xian)(xian)(xian)的(de)情(qing)況(kuang)下，對其(qi)進行不(bu)拆(chai)線(xian)(xian)(xian)(xian)10kV反接線(xian)(xian)(xian)(xian)介損測(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)。如下圖所(suo)示：母線(xian)(xian)(xian)(xian)掛(gua)地(di)線(xian)(xian)(xian)(xian)，C1上端(duan)不(bu)拆(chai)線(xian)(xian)(xian)(xian)，C1下端(duan)接高壓線(xian)(xian)(xian)(xian)芯(xin)線(xian)(xian)(xian)(xian)，C2末端(duan)接Cx芯(xin)線(xian)(xian)(xian)(xian)。儀器采用反接線(xian)(xian)(xian)(xian)/10kV/M測(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)方式，可同時測(ce)(ce)出(chu)C11和(he)下端(duan)屏(ping)蔽(bi)部分的(de)電(dian)容量(liang)(liang)(liang)和(he)介損值(zhi)。

3.3光標在 正接 上面(mian)時候，按確(que)認鍵則(ze)測(ce)試打印(yin)機(ji)，換紙。

3.4光標(biao)在 啟動 上(shang)面(mian)時候(hou)，按減小鍵(jian)則代表取出(chu)存儲(chu)的數據。

3.5測試(shi)完(wan)畢(bi)，如果按減小鍵(jian)，則代表存儲測試(shi)的數據

八、功能簡介

儀器面板見圖九(jiu)所示：

打印機——打印測(ce)量數據。

顯(xian)示器——128×64點(dian)陣液晶顯示器，顯示菜單和(he)各種(zhong)提示信息及測(ce)量結果。

  鍵(jian)——選擇菜單項(xiang)，被選中項(xiang)反白(bai)字體顯示(shi)。

▲  鍵——修(xiu)改菜單(dan)內容(rong)，采用循(xun)環滾動方(fang)式。

▼ 鍵——修改菜(cai)單內容，采用循環滾動方式。

確認鍵——在(zai)“測(ce)試”選項上按此鍵進入測(ce)試狀態。

電(dian)源開關(guan)(guan)——整(zheng)機電(dian)源的開啟和(he)關(guan)(guan)閉。

電源座——交流220V±10%，50±1Hz電(dian)源輸入口，帶保險倉(cang)。

9．自激(ji)法(fa)電流輸(shu)出端——測量(liang)CVT的專用(yong)端子。

10．地(di)——為接地(di)線接線端子(zi)。

11．CX插(cha)座(zuo)——是試品信(xin)號的測(ce)量輸入(ru)端，正(zheng)接線時由專用低壓電(dian)纜連接，此電(dian)纜單層屏蔽(bi)帶(dai)特制(zhi)鱷(e)魚夾(jia)，長8m，接試品低端。反(fan)接線時此(ci)端空置(zhi)。

12．CN插座(zuo)——是外(wai)標準(zhun)電容(rong)信號的測(ce)量輸入端，使用內標準(zhun)時此端空置。

13．HV插座(zuo)——高壓(ya)(ya)引出端(duan)(duan)子，由高壓(ya)(ya)電纜(lan)連接(jie)(jie)，接(jie)(jie)試品高壓(ya)(ya)端(duan)(duan)。輸出10kv高壓(ya)。

14．RS-232接(jie)(jie)口，用來連接(jie)(jie)電腦，上(shang)傳數(shu)據(ju)。

九、儀器操作步驟

1．測(ce)量前(qian)準備：

1）用接地(di)線(xian)一端接儀(yi)器的接地(di)柱，另一端接可靠的大地(di)，保證儀(yi)器外殼處在地(di)電位上(shang)。

2）正(zheng)接(jie)線時：將(jiang)高壓(ya)電纜插(cha)頭插(cha)入后門HV插座中，將(jiang)另一端的(de)紅色大鉗(qian)(qian)子(zi)夾(jia)到被測試品的(de)**引線上，黑(hei)色小鉗(qian)(qian)子(zi)懸(xuan)空或夾(jia)在(zai)紅色大鉗(qian)(qian)子(zi)上。將(jiang)CX低(di)壓電纜插(cha)入CX插座(zuo)中，另一端(duan)的紅(hong)色夾子夾試品的低端(duan)，黑色夾子懸(xuan)空或接屏蔽裝置。

3）反接線時(shi)：將(jiang)高壓(ya)電(dian)纜插(cha)頭插(cha)入后門HV插座中(zhong)，將另一端(duan)的紅色(se)大(da)鉗子夾到被(bei)測試(shi)品的**引線上，紅色(se)小鉗子懸(xuan)空或(huo)接屏蔽(bi)裝置。Cx插座(zuo)不用(yong)。

2．打開電(dian)源開關(guan)，儀器進行自檢，若自檢良好，液晶屏顯示中文主菜單如

圖十所示。

3．菜單(dan)選擇：

按鍵(jian)可移動光標至各菜單項(xiang)(xiang)，并循環(huan)指示(shi)。被選中(zhong)項(xiang)(xiang)反白字(zi)體顯示(shi)。選擇鍵(jian)的流程見圖十一所示(shi)。

在光標當前(qian)所(suo)示(shi)項目(mu)，按▼ ▲鍵(jian)鍵(jian)可進行該(gai)項菜單的變更，并(bing)循環指(zhi)示(shi)，流程見圖十二所(suo)示(shi)。

將菜(cai)單(dan)變(bian)更至與測(ce)試要求(qiu)相對應(ying)后即可按選擇鍵進行下個項目的選擇。

4、 頻(pin)(pin)率：光標在頻(pin)(pin)率上，按(an)↑↓鍵選(xuan)擇定頻(pin)(pin)和變頻(pin)(pin)：

光標在定頻上：按住“啟停”鍵1s以上切換到(dao)全頻(pin)率選(xuan)擇，按↑↓鍵循環顯示45Hz / 47.5Hz / 50Hz / 52.5Hz / 55Hz / 60Hz / 65Hz

工頻50Hz測(ce)量，此設置不能抗干擾，在試驗(yan)室內測(ce)量或校驗(yan)時選用50Hz，“45/47.5/55/52.5/60/65Hz”：為單頻率(lv)測量，研究不同頻率(lv)下介(jie)損的變化時選用。

光標在變頻上(shang)：按住“啟停”鍵1s以上切換到全(quan)頻(pin)率選擇，按(an)↑↓鍵(jian)循環顯(xian)示5-Hz / 6-Hz / 4-Hz”：

“5-Hz”：為45/55Hz自動(dong)變頻，適(shi)合50Hz電(dian)網工頻(pin)干擾下測(ce)量。

“6-Hz”：為55/65Hz自動(dong)變(bian)頻，適合60Hz電網(wang)工頻干擾下測量。

“4-Hz”：為47.5/52.5Hz自動變頻(pin)，適合50Hz電網(wang)工(gong)頻干擾下測量。

5、測試：當光標在 測試 項(xiang)目上(shang)時，按確認鍵大約3秒鐘開始(shi)測試。測試過(guo)程中顯示的畫面如圖十三（正接線，變頻(pin)）所示，當(dang)下面的進程到100%時(shi)候測試完畢(bi)，然后顯示測量結果(guo)見圖十四所示，此時(shi)光標指示打(da)印(yin)機圖標，按確認鍵(jian)打(da)印(yin)報告。測量結果(guo)的意義如(ru)下：

tgδ： 試品(pin)的損耗因數tgδ值

CX： 測量的電容(rong)值(zhi)

V：施加電壓值

I：試品流(liu)過的電流(liu)

F1,F2 : 試(shi)驗頻率

打印(yin)結束后，關(guan)閉電源(yuan)開關(guan)，測試完畢。

十、現(xian)場試驗注意事項

如果使用中出(chu)現測(ce)試(shi)數據明顯不合理，請從(cong)以(yi)下方面查找(zhao)原因：

1、搭鉤接觸**

現(xian)場測量使(shi)用(yong)搭(da)鉤連接(jie)試(shi)品(pin)時，搭(da)鉤務必與試(shi)品(pin)接(jie)觸(chu)良好(hao)，否則接(jie)觸(chu)點(dian)放(fang)電會引起數(shu)據嚴重波動(dong)！尤其是引流(liu)線氧化(hua)層太厚，或風(feng)吹線擺動(dong)，易(yi)造成接(jie)觸(chu)**。

2、接地(di)接觸**

接(jie)地(di)**會引起儀器保(bao)護(hu)或數據嚴(yan)重波動。應刮(gua)凈接(jie)地(di)點上的(de)油漆和銹蝕(shi)，務必保(bao)證0電阻接地(di)！

3、直接測量(liang)CVT或末端屏蔽法測量(liang)電(dian)磁式PT

直接(jie)測量CVT的(de)下(xia)節(jie)耦合電容會出(chu)現(xian)負介損，應改用自激法。

用(yong)末端屏(ping)蔽法(fa)測量電磁式PT時，由于受潮引起“T形網絡干擾”出現負介(jie)損，吹干下面三裙瓷(ci)套(tao)和接(jie)線(xian)端子盤即可。也可改用常規法(fa)或末端加壓法(fa)測量。

4、空氣濕度過大(da)

空氣濕度(du)大使介損測量值異常增(zeng)大（或減小甚至為負(fu)）且不(bu)穩定，必要時可(ke)加(jia)(jia)屏蔽(bi)環。因人為加(jia)(jia)屏蔽(bi)環改變了試品電(dian)場分布，此法有爭議，可(ke)參照有關規程(cheng)。

5、發電機供電

發電機(ji)供電時輸(shu)入頻率不穩定(ding)，可采用定(ding)頻50Hz模(mo)式工(gong)作。

6、測試線

由于長(chang)期使用(yong)，易造成測(ce)試(shi)線(xian)隱性(xing)斷路，或芯線(xian)和(he)屏(ping)蔽短路，或插(cha)頭接觸(chu)**，用(yong)戶應經常(chang)維護測(ce)試(shi)線(xian)；

測試(shi)標準電容試(shi)品時，應(ying)使用全(quan)屏蔽插頭(tou)連接，以消除附加雜(za)散電容影響，否則不能反映出儀器精度；

自(zi)激法測量(liang)CVT時，非專用的高壓線應吊(diao)起懸空(kong)，否則(ze)對地附(fu)加雜散電容和(he)介(jie)損會引起測量誤(wu)差。

7、工作模式(shi)選擇

接好線后請選擇正確的測量工作(zuo)模式（正、反和CVT），不可選(xuan)錯(cuo)。特別是干擾環境(jing)下應選(xuan)用變頻抗干擾模式。

8、試(shi)驗(yan)方(fang)法影響

由于(yu)介損(sun)測量受試(shi)驗方法影響較(jiao)大，應區(qu)分(fen)是(shi)試(shi)驗方法誤(wu)差(cha)還是(shi)儀(yi)器誤(wu)差(cha)。出現(xian)問題(ti)時可首先檢(jian)查接線，然后檢(jian)查是(shi)否為儀(yi)器故障。

9、儀(yi)器故障

用萬(wan)用表測(ce)量一下測(ce)試(shi)線是否(fou)斷路，或芯線和屏蔽是否(fou)短路；輸(shu)入電源220V過高或過低；接地(di)是否良好。

用(yong)正(zheng)、反接線測一下(xia)標準電容器或(huo)已(yi)知(zhi)容量和(he)介損的(de)電容試(shi)品，如果結果正(zheng)確，即(ji)可判斷儀器沒有問題；

拔下所有(you)測試(shi)導(dao)線，進行空試(shi)升壓，若不能正常工作，儀器可(ke)能有(you)故障。

啟動CVT測量(liang)后測量(liang)低(di)壓輸出，應(ying)出現2～5V電壓，否則儀器有(you)故障。

十一、 儀器檢定

1、用標準損(sun)耗器檢(jian)定(ding)

用帶(dai)插(cha)頭的(de)(de)屏蔽電纜連接標(biao)準(zhun)損耗器。如果(guo)不能保證標(biao)準(zhun)損耗器的(de)(de)精度，應(ying)使用比對法檢定(ding)，建議(yi)用2801電橋或其它精密(mi)電橋作比(bi)對標(biao)準(zhun)。儀器應選用“內(nei)標準”和“RC串聯(lian)試品(pin)”，可選擇工頻 50Hz或定(ding)頻(pin)50Hz頻率模(mo)式。

2、用QSJ3檢定：使用帶插頭的(de)屏蔽電纜連接QSJ3，選(xuan)擇“正接/ 外(wai)Cn / 外(wai)Un式測(ce)量，電流比(bi)為Cx∶Cn，Cn可置入(ru)適(shi)當值。

3、抗干擾能力(li)

設置一個回路向儀器(qi)注入(ru)定量的干擾(rao)電(dian)流。

注意：

1）應(ying)考慮到該回路可能成為試品的(de)一(yi)部分。

2）儀器啟動后會(hui)使220V供電電路帶有測量(liang)(liang)頻率分(fen)量(liang)(liang)，如果該頻率分(fen)量(liang)(liang)又通過干擾(rao)電流進(jin)入(ru)儀器，則無法檢(jian)驗儀器的抗干擾(rao)能力(li)。

3）不建(jian)議用臨(lin)近(jin)高壓導(dao)體施加干(gan)擾(rao)，因(yin)為這樣(yang)很(hen)容易產生近(jin)距離**放電，這種放電電阻是非線性的，容易產生同頻干(gan)擾(rao)。

十二、變頻測量討論

1、變頻測量

干擾十分嚴重時，變頻測(ce)量能得到(dao)準(zhun)確可靠的(de)結果。例(li)如用55Hz測量(liang)時，測量(liang)系統只(zhi)允許55Hz信號通(tong)過，50Hz干擾信(xin)號被有效抑(yi)制(zhi)，原因在于測量(liang)系統很容(rong)易區別不同頻(pin)率，由下述(shu)簡單計算可(ke)以說明選頻(pin)測量(liang)的效果：

兩個頻率相(xiang)差1倍(bei)的正弦波疊加到一(yi)起，高(gao)頻的是干擾，幅度(du)為低頻的10倍(bei)：

這剛(gang)好是低(di)頻部分的(de)相位(wei)和幅度，干擾(rao)被抑制。實(shi)際波形的(de)測量點多達數萬(wan)，計算量很大(da)，結果反(fan)映了波形的(de)整體特征。

2、頻(pin)率(lv)和介損(sun)的(de)關系

介損有RC串(chuan)聯(lian)和并聯(lian)兩種理想模(mo)型(xing)：串(chuan)聯(lian)模(mo)型(xing)tgδ=2πfRC，并聯模型tgδ=1/(2πfRC)，tgδ分別隨頻率(lv)f成正比(bi)和反比(bi)。如圖所(suo)示，f對完(wan)全正(zheng)比和完(wan)全反比兩種(zhong)模(mo)(mo)型(xing)影(ying)響(xiang)較大(da)。但(dan)實際電容(rong)器是(shi)多種(zhong)模(mo)(mo)型(xing)交織的(de)混合(he)模(mo)(mo)型(xing)，此(ci)時f的(de)影(ying)響就小。

3、自動(dong)變(bian)頻與50Hz等效

儀器采(cai)用自動變頻(pin)在干擾頻(pin)率50Hz兩側(ce)（45Hz和55Hz）各測一(yi)個點，然后推算50Hz頻(pin)(pin)(pin)率下數據(ju)。除多個元件電路(lu)的低頻(pin)(pin)(pin)諧振(zhen)外(wai)，單(dan)個試品中的介質不(bu)可(ke)能在低頻(pin)(pin)(pin)引(yin)起能量吸收峰(feng)，工頻(pin)(pin)(pin)附近介損(sun)(sun)總(zong)是隨頻(pin)(pin)(pin)率單(dan)調(diao)變化的。因此這(zhe)種測(ce)(ce)量方法不(bu)會帶(dai)來明(ming)顯誤差。實際上，平(ping)(ping)均前的兩個介損(sun)(sun)值已十(shi)分(fen)接近，即(ji)使不(bu)平(ping)(ping)均也完全(quan)有參考價值。目前，變頻(pin)(pin)(pin)介損(sun)(sun)儀(yi)已成為介損(sun)(sun)測(ce)(ce)量的常規儀(yi)器，其(qi)優異(yi)的抗干(gan)擾能力和準確度已經(jing)得(de)到認(ren)可(ke)。

十(shi)三、儀器的裝箱清(qing)單