一、WBJS8000G多(duo)頻道(dao)介質損耗測試儀概述

介損測量(liang)(liang)是絕緣(yuan)試(shi)(shi)驗(yan)中很基本的(de)方(fang)法，可以(yi)(yi)有效地發現(xian)電(dian)器(qi)設(she)備絕緣(yuan)的(de)整(zheng)體受潮(chao)劣(lie)化變質，以(yi)(yi)及(ji)局部缺陷等(deng)。在電(dian)工制造、電(dian)氣設(she)備安裝、交接和預防性試(shi)(shi)驗(yan)中都(dou)廣(guang)泛應用。變壓器(qi)、互感器(qi)、電(dian)抗器(qi)、電(dian)容器(qi)以(yi)(yi)及(ji)套(tao)管、避(bi)雷器(qi)等(deng)介損的(de)測量(liang)(liang)是衡量(liang)(liang)其絕緣(yuan)性能的(de)*基本方(fang)法。LYJS9000F變(bian)頻(pin)介質損耗測(ce)試儀突破了(le)傳統的電橋(qiao)測(ce)量方式，采用變(bian)頻(pin)電源技術，利用單片(pian)機、和現代(dai)化電子技術進行自動頻(pin)率(lv)變(bian)換、模(mo)/數轉換和(he)數據(ju)運算；達到(dao)抗干擾能力(li)強(qiang)、測試速度(du)快、精度(du)高、全自動數字化、操作簡(jian)便(bian)；電(dian)源采(cai)用大功(gong)率開關電(dian)源，輸出45Hz和55Hz純正弦波(bo)，自動(dong)加(jia)壓(ya)，可提(ti)供*高(gao)10千伏的(de)電壓；自動濾除(chu)50Hz干(gan)擾，適用于(yu)(yu)變電(dian)(dian)(dian)站(zhan)等電(dian)(dian)(dian)磁干(gan)擾大的現(xian)場測試。廣(guang)泛適用于(yu)(yu)電(dian)(dian)(dian)力(li)行業中變壓器、互感器、套管、電(dian)(dian)(dian)容器、避雷器等設備的介損測量。

二(er)、WBJS8000G多頻道介質損(sun)耗(hao)測試儀**措施

1、使用本(ben)儀器前一定要認真閱讀本(ben)手(shou)冊。

2、儀(yi)器(qi)(qi)的操作(zuo)者應具備(bei)一般電氣設備(bei)或儀(yi)器(qi)(qi)的使(shi)用常識。

3、本(ben)儀器戶內(nei)外均可使用，但應(ying)避開雨淋、腐蝕氣體、塵(chen)埃過濃、高溫、陽光直(zhi)射等場所使用。

儀表應避(bi)免劇烈振動(dong)。

5、對儀器的維修、護理和調整應由(you)專業(ye)人員進行。

6、在任何接(jie)線之前必須用(yong)接(jie)地(di)電纜把(ba)儀器接(jie)地(di)端(duan)子與大地(di)可靠連(lian)接(jie)起來。

7、由于(yu)測(ce)試(shi)設備產(chan)生高電壓(ya)，所以測(ce)試(shi)人員必(bi)須完全嚴格遵(zun)守**操作(zuo)規程，防止他人接(jie)觸高壓(ya)部(bu)件和電路。直(zhi)接(jie)從事測(ce)試(shi)的人員必(bi)須完全了解高壓(ya)測(ce)試(shi)線路，及儀器操作(zuo)要點(dian)。非從事測(ce)試(shi)人員必(bi)須遠離高壓(ya)測(ce)試(shi)區(qu)，測(ce)試(shi)區(qu)必(bi)須用柵欄(lan)或繩索、警(jing)視(shi)牌等(deng)清楚表示出來。

8、儀(yi)器的調整維修和維護，必(bi)須(xu)在不(bu)加(jia)電情況下進行，如(ru)果必(bi)須(xu)加(jia)電，則操作者必(bi)須(xu)非常熟悉本儀(yi)器高壓危險(xian)部件(jian)。

9、保險管損壞時(shi)，必須(xu)確保更換同樣的(de)保險，禁止更換不同型號保險或將保險直接短路使用。

儀器(qi)出(chu)現故障時，關(guan)閉電源開關(guan)，等待一分(fen)鐘之后再檢查。

三、WBJS8000G多頻道介(jie)質損(sun)耗(hao)測(ce)試儀(yi)可(ke)測試參數(shu)

儀(yi)器可測量下列參數并數字(zi)顯示：

被測試品的電(dian)容量值CX，以(yi)pF或(huo)nF為(wei)單位，1nF=1000pF。

被測試(shi)品的(de)介質(zhi)損耗值tgδ，以%顯示。

四、WBJS8000G多頻道介質(zhi)損耗測試儀性能特點

1、儀器采用復(fu)數電流法，測(ce)量(liang)電容、介(jie)質(zhi)損耗(hao)及其它(ta)參數。測(ce)試結果精度(du)高(gao)，便于(yu)實現自動化測(ce)量(liang)。

2、儀器采用了變頻技術來消除現場(chang)50Hz工(gong)頻干(gan)擾(rao)，即使(shi)在強電磁(ci)干(gan)擾(rao)的(de)環(huan)境下也能測(ce)得可靠的(de)數據。

3、儀器采用大屏幕液晶顯示(shi)器，測試過程通過漢字(zi)菜單提示(shi)既直觀又便于操作。

4、儀器(qi)操(cao)作簡(jian)便(bian)，測(ce)量(liang)(liang)過程由(you)微處(chu)理(li)器(qi)控制(zhi)，只要(yao)選擇好合適的測(ce)量(liang)(liang)方式，數據的測(ce)量(liang)(liang)就可在微處(chu)理(li)器(qi)控制(zhi)下(xia)自動完成。

5、一體(ti)化(hua)機型，內附標準電容(rong)和高壓電源，便于現(xian)場測試，減(jian)少現(xian)場接(jie)線。

6、儀器測(ce)量(liang)準確度高，可滿足油介(jie)損測(ce)量(liang)要求，因此只需配備標準油杯(bei)，和專用(yong)測(ce)試線(xian)即可實現(xian)油介(jie)損測(ce)量(liang)。

7、設CVT測(ce)試(shi)功(gong)能(neng)，可(ke)實(shi)現(xian)CVT的自激(ji)法測試(shi)，無需(xu)外置附件，只需(xu)一次測量，C1,C2的電容和介損全部測出。

8、反接線測試采用(yong)ivddv技(ji)術,消除了(le)以往反接線數(shu)據(ju)不(bu)穩定的現象。

9、具(ju)有(you)反接線低壓屏蔽功能，在220kV CVT 母線(xian)接地情況下，對C11 可(ke)進行(xing)不拆線10kV 反接線介損(sun)測量

10、具(ju)有測量高電壓(ya)介損功能，能夠使用高壓(ya)變壓(ya)器或串聯諧振(zhen)進行超過10kV電壓的介損試驗。

12、接地(di)保護(hu)(hu)功能(neng)，當儀(yi)器(qi)不接地(di)線或(huo)接地(di)**時(shi)，儀(yi)器(qi)不進入正常(chang)程序，不輸出高壓。過(guo)流保護(hu)(hu)功能(neng)，在試(shi)品(pin)短路或(huo)擊(ji)穿時(shi)儀(yi)器(qi)不受損(sun)壞。

13、觸(chu)電保護功能，當儀器操作(zuo)人員不(bu)小心觸(chu)電時候，儀器會立即切斷高壓，保障試驗人員的**.

五、WBJS8000G多頻道介質(zhi)損耗(hao)測試儀技術(shu)指(zhi)標

準確度：

Cx: ±（讀數×1%+1pF）

tgδ:  ±（讀數(shu)×1%+0.00040）

抗干擾指標(biao)：  變(bian)頻抗(kang)干擾，在200%干擾下仍能達(da)到上述準確度(du)

電容量范圍：  內施(shi)高(gao)壓：    3pF～60000pF/10kV    60pF～1μF/0.5kV

外施高壓：    3pF～1.5μF/10kV         60pF～30μF/0.5kV

分辨率：      *高(gao)0.001pF，4位有效數字(zi)

tgδ范圍：     不限(xian)，分(fen)辨率0.001%，電(dian)容、電(dian)感、電(dian)阻(zu)三種試品自動識別。

試驗電流范圍：10μA～1A

內(nei)施高壓(ya)：    設(she)定電壓范圍：0.5～10kV

*大輸出(chu)電流：200mA

升降(jiang)壓方式：連續平(ping)滑調節

試驗頻率： 45、50、55、60、65Hz單(dan)頻

45/55Hz、55/65Hz、47.5/52.5Hz自(zi)動(dong)雙變頻(pin)

頻率精度：±0.01Hz

外施高壓：正接線(xian)時*大試驗電流1A，工頻或變(bian)頻40-70Hz

反接(jie)線時(shi)*大(da)試驗電流(liu)10kV/1A，工頻(pin)或變頻(pin)40-70Hz

CVT自激(ji)法(fa)低壓(ya)輸出(chu)：輸出(chu)電壓(ya)3～50V，輸出電流3～30A

CVT變比測量：

變比(bi)測(ce)量精(jing)度：±讀(du)數(shu)×1%     變(bian)比(bi)測量范(fan)圍：10～99999

相位測量精度：±0.1° ;          相位測量范(fan)圍：0～359.9°

測量時間(jian)：    約40s，與測量方式有關

輸入電源：    180V～270VAC，50Hz±1%，市電(dian)或(huo)發電(dian)機供電(dian)

計(ji)算機接口：  標準RS232接口(kou)

打印(yin)機(ji)：         煒煌A7熱(re)敏微型打印機

環境溫度：    -10℃～50℃

相(xiang)對濕度：    <90%

外形尺(chi)寸：460×360×350mm

儀器重量：28kg

六、測量方式及原理

按被測(ce)(ce)試品是否接(jie)地(di)分(fen)兩(liang)種(zhong)測(ce)(ce)量(liang)方(fang)(fang)式(shi)，即(ji)正接(jie)線測(ce)(ce)量(liang)方(fang)(fang)式(shi)和反接(jie)線測(ce)(ce)量(liang)方(fang)(fang)式(shi)。兩(liang)種(zhong)測(ce)(ce)量(liang)方(fang)(fang)式(shi)的原(yuan)理如圖一所示：

在高(gao)壓電(dian)源的10kV側(ce)，高(gao)壓分(fen)(fen)兩路，一路給機內標準(zhun)電(dian)容(rong)CN，此(ci)電(dian)容(rong)介(jie)損非常小，可(ke)以(yi)認為(wei)(wei)介(jie)損為(wei)(wei)零，即為(wei)(wei)純(chun)容(rong)性電(dian)流，此(ci)電(dian)流ICN 可(ke)做(zuo)為(wei)(wei)容(rong)性電(dian)流基準(zhun)。在Cx試品一側(ce)，試品電(dian)流Icx通過采樣電(dian)阻R采入機內，此(ci)Icx可(ke)分(fen)(fen)解成水(shui)平(ping)分(fen)(fen)量(liang)和垂直(zhi)分(fen)(fen)量(liang)見圖二所示，通過計算水(shui)平(ping)分(fen)(fen)量(liang)與垂直(zhi)分(fen)(fen)量(liang)的比值(zhi)即可(ke)得到(dao)tgδ值(zhi)。

在圖一（a）中Cx為非接地(di)試(shi)品(pin)，試(shi)品(pin)電流(liu)Icx從(cong)(cong)試(shi)品(pin)末(mo)端進入(ru)采(cai)樣(yang)電阻R，得到(dao)全電流(liu)值，在圖一（b）中Cx為接地(di)試(shi)品(pin)，機內Cx端直接接地(di)，電流(liu)Icx從(cong)(cong)試(shi)品(pin)高壓端到(dao)機內采(cai)樣(yang)電阻取得全電流(liu)值。

七(qi)、常見設備的(de)接線方(fang)法

1．儀器引出端子說明(ming)：

HV ——  儀(yi)器的測量(liang)引線高壓(ya)端（帶危險電壓(ya)） 。

CX ——  正接(jie)線(xian)時試品電流輸入端。

——  儀器(qi)的(de)接(jie)地(di)端(duan)，使用時與(yu)大地(di)可靠(kao)相接(jie)

2.參考接線(xian)

2.1正(zheng)接線、內(nei)標(biao)準(zhun)電容(rong)、內(nei)高壓（常規正(zheng)接線）：

2.2反接(jie)線、內標準(zhun)電容、內高壓（常規反接(jie)線）

2.3正接(jie)線、外標準電容(rong)、內高壓：

2.4反接(jie)線、外標準電容、內高壓：

2.5正接線、內標準電容、外(wai)高壓：

2.6反接(jie)線、內標準電容(rong)、外(wai)高壓(ya)：

2.7正接線、外標準(zhun)電容、外高壓（高電壓介損）：

2.8反(fan)接線、外(wai)標準電(dian)容、外(wai)高壓：

2.9  CVT自(zi)激法測(ce)量(liang)：

CVT自激法(fa)可(ke)按下圖接(jie)線(xian)。如(ru)(ru)果C1是單節電容，母線(xian)不能接(jie)地(di)；如(ru)(ru)果C1是多節電容，母線(xian)可(ke)接(jie)地(di)，C11和C12可(ke)用(yong)常規正反接(jie)線(xian)測(ce)量(liang)，C13和C2用(yong)自激法(fa)測(ce)量(liang)。

CVT自(zi)(zi)激(ji)法測(ce)(ce)量(liang)(liang)中(zhong)，儀器(qi)先測(ce)(ce)量(liang)(liang)C1，然后自(zi)(zi)動(dong)倒(dao)線測(ce)(ce)量(liang)(liang)C2，并(bing)自(zi)(zi)動(dong)校準分壓(ya)影響(xiang)。

應(ying)注意，高壓線(xian)應(ying)懸空不能接(jie)觸地面，否(fou)則其對地附加(jia)介損會引起誤差，可用細電纜(lan)連(lian)接(jie)高壓插座與CVT試品并吊起。強烈建議使(shi)用(yong)高壓(ya)插座使(shi)用(yong)的高壓(ya)線用(yong)黑(hei)色(se)Cx線。

2.10 CVT變比(bi)測試

儀器高壓線的芯(xin)線紅夾子(zi)接(jie)CVT的上(shang)端，母線拆地(di)。CVT下端(duan)接地，低(di)壓線(xian)紅(hong)黑夾子(zi)接二次(ci)繞組(zu)，注意:如果測試角度接近180度，應將紅黑夾子顛倒(dao)。

3.附加功能

3.1光標在 電(dian)壓(ya)：10kV上面時候，按“確認”鍵(jian)在儀器屏幕(mu)的左下角會出(chu)現圖(tu)標，代(dai)表測(ce)試(shi)結束(shu)(shu)自動打(da)印。如果再按確認鍵，圖(tu)標消失，代(dai)表測(ce)試(shi)結束(shu)(shu)必須手動才能打(da)印。

3.2光標在 反(fan)接(jie) 上面(mian)時候(hou)，在反(fan)接(jie)線(xian)，內Cn，內Un，情況(kuang)下，按(an)確認(ren)鍵(jian)在(zai)儀器屏幕右下角會(hui)出現圖標，代(dai)表(biao)反接線(xian)低(di)壓屏蔽測試。如果再按確認(ren)鍵，圖標消失(shi)，代(dai)表(biao)取(qu)消反接線(xian)低(di)壓屏蔽。

反接線(xian)低壓屏蔽(bi)功能，一(yi)次接線(xian)可同時測出C1和C2的電容量(liang)和介損

在反(fan)接線、內(nei)標準和內(nei)高壓(ya)方式，光(guang)標移到“反接(jie)”處，按“確(que)認”右下角顯示(shi)“M”。

打開(kai)反(fan)接(jie)線(xian)(xian)低壓屏蔽，可在上端(duan)(duan)電容C1不(bu)拆(chai)母(mu)線(xian)(xian)的情況下，對其進(jin)行不(bu)拆(chai)線(xian)(xian)10kV反(fan)接(jie)線(xian)(xian)介(jie)(jie)損測(ce)量。如下圖所示：母(mu)線(xian)(xian)掛(gua)地線(xian)(xian)，C1上端(duan)(duan)不(bu)拆(chai)線(xian)(xian)，C1下端(duan)(duan)接(jie)高壓線(xian)(xian)芯(xin)線(xian)(xian)，C2末端(duan)(duan)接(jie)Cx芯(xin)線(xian)(xian)。儀器采用反(fan)接(jie)線(xian)(xian)/10kV/M測(ce)量方(fang)式，可同時測(ce)出C11和(he)下端(duan)(duan)屏蔽部分的電容量和(he)介(jie)(jie)損值。

3.3光標在 正接 上面時候(hou)，按(an)確認(ren)鍵則測試打印機，換紙。

3.4光標在 啟動 上面(mian)時候，按(an)減小鍵則代表取出存儲的(de)數據。

3.5測(ce)試完畢，如果按(an)減(jian)小鍵，則代(dai)表(biao)存儲測(ce)試的數據

八(ba)、功(gong)能簡(jian)介

儀器面板(ban)見圖九所示：

打印(yin)機——打印(yin)測(ce)量數(shu)據。

顯示器——128×64點陣液(ye)晶顯(xian)示器，顯(xian)示菜(cai)單和各(ge)種提示信息及(ji)測量結果。

  鍵——選(xuan)(xuan)擇菜單項，被選(xuan)(xuan)中項反白字體顯示。

▲  鍵——修改菜單內容，采用循環滾(gun)動方(fang)式。

▼ 鍵——修改菜單內容，采(cai)用(yong)循環(huan)滾動方式。

確認鍵——在“測試(shi)(shi)”選項(xiang)上(shang)按(an)此鍵進入測試(shi)(shi)狀(zhuang)態。

電源(yuan)開關(guan)——整機電源(yuan)的開啟和關(guan)閉。

電源(yuan)座(zuo)——交流(liu)220V±10%，50±1Hz電源(yuan)輸入口(kou)，帶保險(xian)倉。

9．自激法電流(liu)輸出端(duan)——測量CVT的專用端子。

10．地(di)——為接地(di)線(xian)接線(xian)端子。

11．CX插座——是試品信號的測量輸入端，正接線時由專用低(di)壓電纜(lan)連接，此電纜(lan)單層(ceng)屏蔽帶特制鱷魚(yu)夾，長8m，接(jie)(jie)試品低端。反接(jie)(jie)線時(shi)此端空置。

12．CN插(cha)座——是(shi)外標準電容信號(hao)的(de)測量輸入端(duan)，使用內標準時此(ci)端(duan)空置(zhi)。

13．HV插座——高壓(ya)引出(chu)端子(zi)，由高壓(ya)電纜連接(jie)，接(jie)試品(pin)高壓(ya)端。輸出(chu)10kv高壓。

14．RS-232接(jie)口，用來連接(jie)電腦(nao)，上傳數(shu)據。

九(jiu)、儀器操作步驟(zou)

1．測量前(qian)準備：

1）用接(jie)地線(xian)一端(duan)接(jie)儀器的接(jie)地柱，另一端(duan)接(jie)可靠(kao)的大地，保證儀器外(wai)殼(ke)處(chu)在(zai)地電位上。

2）正接線(xian)時：將高壓電纜插頭插入后(hou)門HV插座中(zhong)，將(jiang)另一端的紅色大鉗(qian)子(zi)(zi)(zi)夾到被測(ce)試品的**引(yin)線上(shang)(shang)，黑色小鉗(qian)子(zi)(zi)(zi)懸空(kong)或夾在紅色大鉗(qian)子(zi)(zi)(zi)上(shang)(shang)。將(jiang)CX低壓電纜插入CX插座中(zhong)，另一(yi)端(duan)的紅色夾子夾試品的低端(duan)，黑色夾子懸空(kong)或接(jie)屏蔽裝置。

3）反接線時：將高壓電纜插(cha)(cha)頭插(cha)(cha)入后門HV插座中，將另(ling)一端的(de)紅色(se)大鉗(qian)子夾到(dao)被測試品的(de)**引線上，紅色(se)小鉗(qian)子懸空或(huo)接屏蔽裝置。Cx插座不用。

2．打開(kai)電源開(kai)關，儀(yi)器進行自檢(jian)，若自檢(jian)良好(hao)，液(ye)晶屏顯示中文主菜單如

圖十所示。

3．菜單選(xuan)擇(ze)：

按(an)鍵可移動光標至各菜單項，并循(xun)環指示。被選中項反白(bai)字體顯示。選擇鍵的流(liu)程見圖十一所示。

在光標當前所示(shi)項(xiang)目，按▼ ▲鍵(jian)鍵(jian)可進(jin)行(xing)該項(xiang)菜單的變更，并(bing)循環指(zhi)示(shi)，流程見圖十二所示(shi)。

將(jiang)菜單變更至與測試要求(qiu)相對應(ying)后即(ji)可按選(xuan)擇鍵(jian)進行下個(ge)項(xiang)目的選(xuan)擇。

4、 頻(pin)(pin)率：光標(biao)在頻(pin)(pin)率上，按↑↓鍵(jian)選擇定頻(pin)(pin)和變頻(pin)(pin)：

光(guang)標在定頻上：按住“啟停”鍵1s以(yi)上切(qie)換到全頻(pin)率選擇，按↑↓鍵(jian)循環顯示45Hz / 47.5Hz / 50Hz / 52.5Hz / 55Hz / 60Hz / 65Hz

工(gong)頻50Hz測量，此(ci)設置(zhi)不(bu)能抗干擾，在試驗(yan)室內測量或(huo)校驗(yan)時選用(yong)50Hz，“45/47.5/55/52.5/60/65Hz”：為單頻率(lv)測量，研究不同頻率(lv)下介(jie)損的(de)變(bian)化時選(xuan)用。

光標在變頻上：按(an)住“啟(qi)停”鍵1s以上切換到全頻率選(xuan)擇，按(an)↑↓鍵循環顯示5-Hz / 6-Hz / 4-Hz”：

“5-Hz”：為45/55Hz自動變頻，適合(he)50Hz電網工頻干擾下測量。

“6-Hz”：為(wei)55/65Hz自動(dong)變頻，適合60Hz電網(wang)工(gong)頻干擾下測量。

“4-Hz”：為(wei)47.5/52.5Hz自動變頻，適合50Hz電(dian)網(wang)工(gong)頻干擾(rao)下測量。

5、測試：當光標在 測試 項目(mu)上時(shi)，按確認鍵大約3秒(miao)鐘開(kai)始測試(shi)。測試(shi)過程中顯(xian)示的畫面如圖十三（正接線(xian)，變頻）所示，當下面的進程到100%時候(hou)測試(shi)完畢，然后(hou)顯示測量結果見圖(tu)十四所(suo)示，此時光(guang)標指示打印機圖(tu)標，按確認(ren)鍵打印報告(gao)。測量結果的意義如下：

tgδ： 試品的損耗(hao)因(yin)數tgδ值

CX： 測量的電容值

V：施加電壓值

I：試(shi)品(pin)流過(guo)的電流

F1,F2 : 試驗(yan)頻(pin)率

打(da)印(yin)結(jie)束后，關(guan)閉電(dian)源(yuan)開關(guan)，測試完畢(bi)。

十、現(xian)場(chang)試驗注意事項

如果使(shi)用(yong)中出現(xian)測試(shi)數(shu)據明顯不(bu)合理，請從以(yi)下方(fang)面查(cha)找原因：

1、搭(da)鉤(gou)接觸**

現場測量(liang)使用搭(da)鉤(gou)連接(jie)試品(pin)時，搭(da)鉤(gou)務(wu)必與試品(pin)接(jie)觸良好，否則接(jie)觸點(dian)放電(dian)會引(yin)起(qi)數據嚴重波動(dong)！尤(you)其是(shi)引(yin)流線氧化(hua)層(ceng)太厚，或風吹(chui)線擺(bai)動(dong)，易造成接(jie)觸**。

2、接地(di)接觸**

接(jie)地**會引起儀(yi)器保護(hu)或數據(ju)嚴重(zhong)波(bo)動(dong)。應刮凈接(jie)地點上的油漆(qi)和銹(xiu)蝕，務必保證0電阻(zu)接地！

3、直接測(ce)量CVT或末(mo)端屏蔽法測量電磁(ci)式PT

直接測(ce)量CVT的(de)下節耦(ou)合(he)電容會出現負介損，應改用自(zi)激法。

用末端屏蔽法測量(liang)電(dian)磁式PT時，由(you)于(yu)受潮(chao)引(yin)起(qi)“T形網絡干擾”出現負介損，吹(chui)干下面(mian)三(san)裙瓷套和接(jie)線端子(zi)盤即可。也可改用常規法或(huo)末(mo)端加壓法測(ce)量(liang)。

4、空(kong)氣濕度過(guo)大

空氣濕度大使(shi)介損測量(liang)值異常增大（或減小甚(shen)至為負(fu)）且不穩(wen)定，必要(yao)時(shi)可(ke)加屏蔽(bi)環。因人(ren)為加屏蔽(bi)環改變(bian)了試品(pin)電場(chang)分布，此法有爭議，可(ke)參(can)照(zhao)有關規程。

5、發電機供電

發電機供(gong)電時輸入頻率不(bu)穩定，可采用定頻50Hz模式(shi)工作。

6、測試線

由于長(chang)期使(shi)用，易造(zao)成(cheng)測試(shi)線隱性斷路，或芯線和(he)屏蔽短路，或插頭接(jie)觸(chu)**，用戶(hu)應經常維(wei)護測試(shi)線；

測試(shi)標準電容試(shi)品(pin)時，應使(shi)用全屏(ping)蔽插(cha)頭連(lian)接，以消(xiao)除(chu)附加雜散電容影(ying)響，否則不(bu)能反(fan)映出儀(yi)器精(jing)度；

自激法測量CVT時(shi)，非(fei)專用的高(gao)壓線(xian)應吊起(qi)懸空(kong)，否(fou)則對地附加(jia)雜散電容和介(jie)損會(hui)引起(qi)測量(liang)誤差。

7、工作模式選擇

接(jie)好線后請選(xuan)擇正確的測量工作模式（正、反(fan)和CVT），不可選(xuan)錯。特別是(shi)干擾環境(jing)下應(ying)選(xuan)用變頻(pin)抗干擾模式。

8、試驗(yan)方法影響

由于介損(sun)測量(liang)受(shou)試(shi)驗方法影響較大(da)，應區分是(shi)試(shi)驗方法誤差還是(shi)儀(yi)器誤差。出現問題(ti)時(shi)可首先檢查接線，然(ran)后檢查是(shi)否為儀(yi)器故障。

9、儀器故障

用(yong)(yong)萬(wan)用(yong)(yong)表測(ce)量一下(xia)測(ce)試線是否斷路(lu)，或芯線和屏蔽是否短路(lu)；輸入電源220V過(guo)高或過(guo)低；接地是否良好。

用正(zheng)、反接線測一下標準電容器或已知容量和介損的電容試(shi)品，如果(guo)結果(guo)正(zheng)確，即可判斷儀器沒(mei)有問題；

拔(ba)下(xia)所有(you)測(ce)試導線，進行空試升壓，若不能(neng)正常工作，儀器(qi)可能(neng)有(you)故障。

啟動CVT測量(liang)后(hou)測量(liang)低(di)壓輸出(chu)，應出(chu)現2～5V電(dian)壓(ya)，否則儀器有故(gu)障。

十(shi)一、 儀器(qi)檢定(ding)

1、用標準損(sun)耗器(qi)檢定

用帶插頭的屏蔽(bi)電纜連(lian)接(jie)標準(zhun)損(sun)耗器。如果(guo)不能(neng)保證標準(zhun)損(sun)耗器的精度，應使用比對法檢定，建(jian)議用2801電橋或其它(ta)精密(mi)電橋作比對標準。儀器應選(xuan)用“內標準”和“RC串聯試品”，可(ke)選擇(ze)工頻 50Hz或定頻50Hz頻率模式。

2、用QSJ3檢定(ding)：使用(yong)帶插(cha)頭的屏蔽電纜連接QSJ3，選擇“正接/ 外Cn / 外Un式測量，電流比(bi)為Cx∶Cn，Cn可置入適當值。

3、抗(kang)干擾能(neng)力

設置一個回路向儀(yi)器注入(ru)定量的干擾電流(liu)。

注意：

1）應考慮到該回路(lu)可(ke)能成為試品的一部分。

2）儀(yi)器啟(qi)動(dong)后會(hui)使220V供電(dian)電(dian)路帶有(you)測量(liang)頻率分(fen)量(liang)，如(ru)果該頻率分(fen)量(liang)又通(tong)過干擾(rao)電(dian)流進入儀器，則無法檢驗(yan)儀器的抗干擾(rao)能力。

3）不建議用(yong)臨近(jin)高壓導體施加干擾，因為這(zhe)樣很容(rong)易(yi)產生近(jin)距離**放電(dian)，這(zhe)種放電(dian)電(dian)阻是非線性的，容(rong)易(yi)產生同頻(pin)干擾。

十二、變頻測量討論

1、變頻測量

干擾十(shi)分(fen)嚴重時，變(bian)頻測量能得到(dao)準確(que)可(ke)靠的結果(guo)。例如用55Hz測(ce)量時，測(ce)量系統只(zhi)允許55Hz信號通過，50Hz干擾信號(hao)被有效抑制，原因(yin)在于(yu)測量(liang)系(xi)統很容易區別不同頻(pin)率，由下述簡單計(ji)算可以說明選(xuan)頻(pin)測量(liang)的效果：

兩個(ge)頻率(lv)相差1倍的正弦波疊加(jia)到一起，高(gao)頻(pin)(pin)的是干擾，幅度為(wei)低頻(pin)(pin)的10倍：

這剛好是低頻部分的(de)相位和幅度(du)，干擾被抑(yi)制。實際波形(xing)的(de)測量(liang)(liang)點多達數萬，計算量(liang)(liang)很大，結果反映了波形(xing)的(de)整(zheng)體特(te)征。

2、頻率和介損的(de)關系

介損有RC串(chuan)聯和并聯兩種理想(xiang)模型(xing)：串(chuan)聯模型(xing)tgδ=2πfRC，并(bing)聯模型tgδ=1/(2πfRC)，tgδ分別隨頻率(lv)f成正比和(he)反(fan)比。如圖所示，f對完全正比(bi)和(he)完全反比(bi)兩種(zhong)模(mo)型影響較大(da)。但實際電容(rong)器是多種(zhong)模(mo)型交(jiao)織的混合模(mo)型，此時f的影響就小。

3、自動變(bian)頻與50Hz等效

儀(yi)器采(cai)用(yong)自(zi)動變頻在(zai)干擾頻率50Hz兩側（45Hz和55Hz）各測一個點，然后推算50Hz頻(pin)(pin)率下(xia)數據。除多個元件電路的低頻(pin)(pin)諧振外，單個試品中的介(jie)質不可(ke)能(neng)在低頻(pin)(pin)引起能(neng)量(liang)吸收峰，工(gong)頻(pin)(pin)附(fu)近介(jie)損(sun)(sun)總是隨頻(pin)(pin)率單調變化的。因(yin)此這種測量(liang)方法(fa)不會帶來明顯誤差。實際上，平均前的兩個介(jie)損(sun)(sun)值(zhi)已十(shi)分接近，即使不平均也完全有參考價(jia)值(zhi)。目(mu)前，變頻(pin)(pin)介(jie)損(sun)(sun)儀已成(cheng)為介(jie)損(sun)(sun)測量(liang)的常規(gui)儀器，其優異的抗干擾能(neng)力和準確度(du)已經得(de)到認可(ke)。

十三(san)、儀器(qi)的裝箱清單