一、WBJS8000G多變頻(pin)介質損耗測試儀概述
介損測(ce)量(liang)(liang)是(shi)絕(jue)緣(yuan)試驗中很基(ji)本的方法,可以有效地發現(xian)電(dian)器(qi)設(she)備絕(jue)緣(yuan)的整體受潮劣(lie)化(hua)變(bian)(bian)質(zhi),以及(ji)(ji)局部缺陷等(deng)。在(zai)電(dian)工制造(zao)、電(dian)氣設(she)備安(an)裝(zhuang)、交接和(he)預防性試驗中都廣(guang)泛應用。變(bian)(bian)壓器(qi)、互感器(qi)、電(dian)抗器(qi)、電(dian)容器(qi)以及(ji)(ji)套管(guan)、避雷器(qi)等(deng)介損的測(ce)量(liang)(liang)是(shi)衡量(liang)(liang)其絕(jue)緣(yuan)性能的*基(ji)本方法。LYJS9000F變(bian)頻(pin)介質損耗測(ce)試儀突(tu)破了傳(chuan)統的電(dian)(dian)橋測(ce)量方式,采用變(bian)頻(pin)電(dian)(dian)源技術,利用單(dan)片機(ji)、和現代(dai)化電(dian)(dian)子技術進行自動頻(pin)率變(bian)換、模/數(shu)轉換和(he)數(shu)據運算;達到抗干擾能力強、測試速度快、精度高、全自(zi)動(dong)數(shu)字化、操作(zuo)簡(jian)便;電源(yuan)采用(yong)大功(gong)率開關電源(yuan),輸出(chu)45Hz和(he)55Hz純正(zheng)弦波,自(zi)動(dong)加(jia)壓,可提(ti)供*高10千伏的(de)電壓;自動濾除50Hz干擾,適用于變(bian)電(dian)站等電(dian)磁(ci)干擾大的現場(chang)測試。廣泛(fan)適用于電(dian)力行業中變(bian)壓(ya)器(qi)、互感器(qi)、套管、電(dian)容(rong)器(qi)、避(bi)雷器(qi)等設備的介損測量。
二、WBJS8000G多(duo)變頻介質(zhi)損耗(hao)測(ce)試(shi)儀**措施
1、使用本儀器前一定(ding)要認真閱讀本手冊。
2、儀器(qi)的(de)操作者應具備一般(ban)電氣設備或儀器(qi)的(de)使用常(chang)識。
3、本儀器戶內外均(jun)可(ke)使(shi)用(yong)(yong),但應避開雨淋、腐蝕氣體、塵(chen)埃過(guo)濃、高溫、陽(yang)光直射(she)等場所(suo)使(shi)用(yong)(yong)。
儀表應避(bi)免劇(ju)烈振動。
5、對儀器的維(wei)修(xiu)、護理和調整應(ying)由專業人員進行。
6、在(zai)任何(he)接線之前必須用接地(di)電纜把儀(yi)器(qi)接地(di)端子與(yu)大地(di)可靠連接起來。
7、由于測(ce)(ce)(ce)試(shi)設備產(chan)生高電壓,所以測(ce)(ce)(ce)試(shi)人(ren)員必(bi)(bi)(bi)須(xu)完全嚴格遵守(shou)**操作規程,防止他人(ren)接觸高壓部件(jian)和電路。直接從(cong)事測(ce)(ce)(ce)試(shi)的(de)人(ren)員必(bi)(bi)(bi)須(xu)完全了解高壓測(ce)(ce)(ce)試(shi)線路,及儀器操作要點。非從(cong)事測(ce)(ce)(ce)試(shi)人(ren)員必(bi)(bi)(bi)須(xu)遠離高壓測(ce)(ce)(ce)試(shi)區(qu),測(ce)(ce)(ce)試(shi)區(qu)必(bi)(bi)(bi)須(xu)用(yong)柵欄或繩索、警視牌等清楚表示出來。
8、儀器(qi)的調整維(wei)修和維(wei)護,必(bi)須(xu)在不(bu)加(jia)電情況下進行(xing),如果必(bi)須(xu)加(jia)電,則操作者必(bi)須(xu)非常熟悉(xi)本(ben)儀器(qi)高壓(ya)危險部(bu)件。
9、保險(xian)管損壞(huai)時,必須確(que)保更換同(tong)(tong)樣的保險(xian),禁止(zhi)更換不同(tong)(tong)型號保險(xian)或將保險(xian)直接(jie)短路使用。
儀器出現(xian)故障時,關閉電源開關,等待一(yi)分(fen)鐘(zhong)之后再檢(jian)查。
三、WBJS8000G多變頻(pin)介質損耗(hao)測試儀可(ke)測試參數
儀器可測量(liang)下列參數并數字顯示:
被測(ce)試(shi)品的(de)電容量值CX,以pF或(huo)nF為(wei)單(dan)位,1nF=1000pF。
被測試(shi)品(pin)的介(jie)質(zhi)損耗值(zhi)tgδ,以%顯示(shi)。
四、WBJS8000G多變(bian)頻介質損耗測試儀性能特點(dian)
1、儀器采用復數(shu)電(dian)流法,測(ce)(ce)量(liang)電(dian)容、介質損耗及其(qi)它參(can)數(shu)。測(ce)(ce)試結果精度(du)高,便(bian)于(yu)實現自(zi)動化測(ce)(ce)量(liang)。
2、儀器采用了變頻技術來消除現場50Hz工頻(pin)干擾(rao),即使在強電磁干擾(rao)的(de)環境下也能(neng)測得(de)可靠(kao)的(de)數(shu)據。
3、儀器采用大屏(ping)幕液晶顯示(shi)器,測試過(guo)程通(tong)過(guo)漢字菜單提示(shi)既(ji)直觀(guan)又便于操作。
4、儀器(qi)(qi)操作簡便,測量(liang)過程由微(wei)(wei)處(chu)理器(qi)(qi)控制,只要選擇好(hao)合適的測量(liang)方(fang)式,數(shu)據(ju)的測量(liang)就可在(zai)微(wei)(wei)處(chu)理器(qi)(qi)控制下自動完成(cheng)。
5、一體化機型,內(nei)附標準電(dian)容和高壓電(dian)源,便于(yu)現(xian)場測試,減少現(xian)場接線。
6、儀(yi)器測(ce)量準(zhun)確度高,可(ke)滿足油(you)介損測(ce)量要求,因此只(zhi)需(xu)配備標準(zhun)油(you)杯,和專用測(ce)試線即(ji)可(ke)實(shi)現油(you)介損測(ce)量。
7、設(she)CVT測(ce)試(shi)功能,可實現CVT的自激法測(ce)試,無需(xu)外置附件(jian),只(zhi)需(xu)一次測(ce)量,C1,C2的電容(rong)和介(jie)損全部測出。
8、反(fan)接線測試采(cai)用(yong)ivddv技(ji)術,消除了以往(wang)反接(jie)線數(shu)據不穩定(ding)的(de)現象。
9、具有(you)反(fan)接線低壓屏蔽功能,在220kV CVT 母線(xian)接地(di)情況下(xia),對C11 可進(jin)行不拆(chai)線10kV 反接線介(jie)損測量
10、具(ju)有測量高電壓介損功能,能夠使用高壓變壓器(qi)或串聯諧振進行(xing)超過10kV電(dian)壓的(de)介損試(shi)驗。
12、接(jie)地保(bao)護(hu)(hu)功(gong)能(neng),當儀(yi)器(qi)(qi)不(bu)接(jie)地線或接(jie)地**時(shi),儀(yi)器(qi)(qi)不(bu)進入正常(chang)程(cheng)序,不(bu)輸出高壓。過流(liu)保(bao)護(hu)(hu)功(gong)能(neng),在試品短(duan)路或擊穿(chuan)時(shi)儀(yi)器(qi)(qi)不(bu)受損(sun)壞。
13、觸電(dian)保(bao)護(hu)功能,當儀器操作人(ren)員(yuan)不小心觸電(dian)時候,儀器會立(li)即切斷高壓,保(bao)障試驗人(ren)員(yuan)的**.
五、WBJS8000G多變頻(pin)介質損耗測試(shi)儀(yi)技術指標
準確度(du):
Cx: ±(讀數×1%+1pF)
tgδ: ±(讀數×1%+0.00040)
抗干擾指(zhi)標: 變頻抗干擾,在200%干擾(rao)下仍能(neng)達到上述(shu)準確(que)度(du)
電容(rong)量范圍(wei): 內施高(gao)壓: 3pF~60000pF/10kV 60pF~1μF/0.5kV
外施高壓(ya): 3pF~1.5μF/10kV 60pF~30μF/0.5kV
分辨率(lv): *高0.001pF,4位有效數字
tgδ范圍: 不限(xian),分辨率0.001%,電容、電感、電阻三種試(shi)品自動識(shi)別。
試驗電流范圍:10μA~1A
內施(shi)高壓: 設定(ding)電(dian)壓范圍:0.5~10kV
*大輸出電流:200mA
升降(jiang)壓方式:連續(xu)平滑調(diao)節(jie)
試(shi)驗頻率: 45、50、55、60、65Hz單頻(pin)
45/55Hz、55/65Hz、47.5/52.5Hz自(zi)動雙變頻
頻率精度:±0.01Hz
外施高(gao)壓:正(zheng)接線時*大試驗電(dian)流1A,工(gong)頻或變頻40-70Hz
反接線時*大試驗電流10kV/1A,工頻或變頻40-70Hz
CVT自激(ji)法低壓輸出:輸出電壓3~50V,輸出電流3~30A
CVT變(bian)比測量(liang):
變(bian)比測量(liang)精度:±讀數×1% 變比(bi)測量范圍(wei):10~99999
相位測量精(jing)度(du):±0.1° 相位測量(liang)范圍:0~359.9°
測量時(shi)間: 約40s,與測(ce)量方式有關
輸入電(dian)源(yuan): 180V~270VAC,50Hz±1%,市電(dian)或發電(dian)機(ji)供(gong)電(dian)
計算(suan)機接口: 標準RS232接口(kou)
打印機(ji): 煒煌A7熱敏微(wei)型打印機
環境溫度: -10℃~50℃
相對濕度: <90%
外形(xing)尺寸:460×360×350mm
儀器重量:28kg
六、測量方式及原理
按被測(ce)(ce)試(shi)品(pin)是否接地分(fen)兩(liang)種(zhong)測(ce)(ce)量(liang)方(fang)式(shi),即(ji)正(zheng)接線測(ce)(ce)量(liang)方(fang)式(shi)和反接線測(ce)(ce)量(liang)方(fang)式(shi)。兩(liang)種(zhong)測(ce)(ce)量(liang)方(fang)式(shi)的原理(li)如圖一所(suo)示(shi):
在高(gao)壓(ya)電(dian)(dian)(dian)(dian)源的10kV側(ce)(ce),高(gao)壓(ya)分(fen)(fen)(fen)(fen)兩路,一路給機(ji)(ji)內(nei)標準電(dian)(dian)(dian)(dian)容CN,此電(dian)(dian)(dian)(dian)容介損非(fei)常小,可(ke)以認為(wei)介損為(wei)零,即為(wei)純(chun)容性(xing)電(dian)(dian)(dian)(dian)流(liu),此電(dian)(dian)(dian)(dian)流(liu)ICN 可(ke)做為(wei)容性(xing)電(dian)(dian)(dian)(dian)流(liu)基準。在Cx試品一側(ce)(ce),試品電(dian)(dian)(dian)(dian)流(liu)Icx通(tong)過(guo)采(cai)樣電(dian)(dian)(dian)(dian)阻R采(cai)入機(ji)(ji)內(nei),此Icx可(ke)分(fen)(fen)(fen)(fen)解(jie)成水平分(fen)(fen)(fen)(fen)量和(he)垂直(zhi)分(fen)(fen)(fen)(fen)量見圖二所示,通(tong)過(guo)計算(suan)水平分(fen)(fen)(fen)(fen)量與垂直(zhi)分(fen)(fen)(fen)(fen)量的比值即可(ke)得到(dao)tgδ值。
在圖一(yi)(a)中Cx為(wei)非接(jie)(jie)地試(shi)品(pin),試(shi)品(pin)電流(liu)(liu)Icx從試(shi)品(pin)末端進入采(cai)樣電阻(zu)R,得到全電流(liu)(liu)值,在圖一(yi)(b)中Cx為(wei)接(jie)(jie)地試(shi)品(pin),機(ji)內Cx端直接(jie)(jie)接(jie)(jie)地,電流(liu)(liu)Icx從試(shi)品(pin)高壓端到機(ji)內采(cai)樣電阻(zu)取(qu)得全電流(liu)(liu)值。
七、常(chang)見設備的接(jie)線方法
1.儀器引出端子(zi)說明:
HV —— 儀(yi)器的測量(liang)引線高壓(ya)端(帶危險電壓(ya)) 。
CX —— 正接線時(shi)試品電流輸入端。
—— 儀器的接地(di)端,使用時與大地(di)可靠相接
2.參(can)考接線
2.1正接線(xian)、內(nei)標(biao)準電容、內(nei)高壓(常規正接線(xian)):
2.2反接線(xian)、內標準電(dian)容、內高壓(常規(gui)反接線(xian))
2.3正接(jie)線、外標準電容、內高壓:
2.4反接線、外標(biao)準電容、內高(gao)壓:
2.5正(zheng)接線、內標準電容、外(wai)高壓:
2.6反接線、內標準電容、外高(gao)壓:
2.7正接(jie)線(xian)、外標(biao)準電(dian)容、外高壓(高電(dian)壓介損(sun)):
2.8反接(jie)線、外標準電(dian)容、外高(gao)壓:
2.9 CVT自激法測量:
CVT自激(ji)法可按下(xia)圖(tu)接(jie)線(xian)(xian)。如果C1是單節(jie)電(dian)容,母線(xian)(xian)不能(neng)接(jie)地;如果C1是多(duo)節(jie)電(dian)容,母線(xian)(xian)可接(jie)地,C11和C12可用(yong)常規正(zheng)反接(jie)線(xian)(xian)測量,C13和C2用(yong)自激(ji)法測量。
CVT自(zi)激(ji)法測(ce)量中(zhong),儀器先測(ce)量C1,然后自(zi)動倒線測(ce)量C2,并自(zi)動校準分壓影響。
應注意,高(gao)壓線應懸(xuan)空不(bu)能接(jie)觸地面(mian),否則其對地附加介損會引起誤(wu)差,可用(yong)細電纜連(lian)接(jie)高(gao)壓插座與CVT試品并吊(diao)起。強烈建議使用(yong)高(gao)壓(ya)插(cha)座(zuo)使用(yong)的高(gao)壓(ya)線用(yong)黑色Cx線。
2.10 CVT變比測試
儀器高壓線的芯(xin)線紅(hong)夾(jia)子接CVT的(de)上端(duan),母線拆地。CVT下端接地(di),低壓線紅黑夾(jia)子接二次繞組(zu),注(zhu)意:如(ru)果(guo)測(ce)試角度接近180度,應將紅黑(hei)夾子顛倒(dao)。
3.附加功(gong)能
3.1光標在 電壓:10kV上(shang)面時(shi)候,按(an)“確認(ren)”鍵在儀器屏幕的左下角會出現圖(tu)標(biao),代表測試結束自動打印。如果再按(an)確認(ren)鍵,圖(tu)標(biao)消失,代表測試結束必須手動才(cai)能打印。
3.2光標在(zai) 反接 上面(mian)時候(hou),在(zai)反接線,內(nei)Cn,內Un,情況下,按確認(ren)鍵在儀器屏幕右(you)下角會出現圖(tu)標,代表反(fan)接(jie)線低(di)壓(ya)屏(ping)(ping)蔽測試。如果再(zai)按確(que)認鍵,圖(tu)標消失,代表取消反(fan)接(jie)線低(di)壓(ya)屏(ping)(ping)蔽。
反接(jie)線低壓屏蔽功能,一次接(jie)線可同時測出C1和C2的電容量和(he)介(jie)損
在反接(jie)線、內標準和內高(gao)壓方式,光標移到“反接”處(chu),按“確認”右下角(jiao)顯示“M”。
打開(kai)反(fan)接線(xian)(xian)低壓(ya)屏(ping)蔽,可在(zai)上(shang)端(duan)(duan)(duan)電容C1不拆(chai)母(mu)線(xian)(xian)的情況下(xia),對(dui)其進(jin)行不拆(chai)線(xian)(xian)10kV反(fan)接線(xian)(xian)介損(sun)測(ce)量。如下(xia)圖(tu)所示(shi):母(mu)線(xian)(xian)掛地線(xian)(xian),C1上(shang)端(duan)(duan)(duan)不拆(chai)線(xian)(xian),C1下(xia)端(duan)(duan)(duan)接高(gao)壓(ya)線(xian)(xian)芯(xin)線(xian)(xian),C2末端(duan)(duan)(duan)接Cx芯(xin)線(xian)(xian)。儀器(qi)采用反(fan)接線(xian)(xian)/10kV/M測(ce)量方(fang)式,可同時測(ce)出(chu)C11和(he)下(xia)端(duan)(duan)(duan)屏(ping)蔽部(bu)分的電容量和(he)介損(sun)值。
3.3光(guang)標(biao)在 正接(jie) 上面時候,按確(que)認鍵則測試打印機,換紙。
3.4光(guang)標在 啟(qi)動(dong) 上面時候,按減小鍵則代表(biao)取出存儲(chu)的(de)數據。
3.5測試完(wan)畢,如果按(an)減小鍵,則代表存儲測試的數據
八、功能(neng)簡介
儀器(qi)面板見(jian)圖九所示:
打印(yin)機——打印(yin)測量數據。
顯示器——128×64點陣液晶顯示器,顯示菜單和各種提示信(xin)息及測量(liang)結果。
鍵——選擇(ze)菜單(dan)項,被(bei)選中項反白字體顯示。
▲ 鍵——修改菜單(dan)內容,采用循環滾動方式(shi)。
▼ 鍵——修改(gai)菜單內容,采(cai)用循(xun)環滾動方式。
確認(ren)鍵——在“測(ce)試”選項上(shang)按此鍵進入測(ce)試狀(zhuang)態。
電(dian)源開關——整機(ji)電(dian)源的(de)開啟和(he)關閉。
電源座——交流220V±10%,50±1Hz電源輸入口,帶(dai)保險倉。
9.自(zi)激(ji)法電流輸出端——測量CVT的專用端子。
10.地——為接地線接線端(duan)子。
11.CX插座——是試品信號(hao)的(de)測(ce)量輸(shu)入端,正(zheng)接(jie)線(xian)時由專用低(di)壓電(dian)纜(lan)(lan)連接(jie),此電(dian)纜(lan)(lan)單層屏(ping)蔽帶特制(zhi)鱷魚夾,長8m,接(jie)試品低(di)端。反(fan)接(jie)線時(shi)此端空置(zhi)。
12.CN插座——是外標準電容信(xin)號的測量輸入(ru)端,使(shi)用內(nei)標準時此端空置。
13.HV插(cha)座——高(gao)壓引出端子,由(you)高(gao)壓電(dian)纜連接(jie),接(jie)試品高(gao)壓端。輸出10kv高(gao)壓。
14.RS-232接口,用(yong)來連(lian)接電腦(nao),上傳數據。
九、儀器操作(zuo)步驟
1.測(ce)量前準備(bei):
1)用接(jie)地線(xian)一(yi)端接(jie)儀器的接(jie)地柱,另(ling)一(yi)端接(jie)可(ke)靠的大地,保證(zheng)儀器外殼(ke)處在地電位上。
2)正接線時:將高壓電(dian)纜插頭插入后門HV插(cha)座中,將(jiang)另一(yi)端的紅色(se)大鉗子(zi)夾到被(bei)測試品的**引線上(shang),黑色(se)小鉗子(zi)懸空或(huo)夾在紅色(se)大鉗子(zi)上(shang)。將(jiang)CX低壓電纜插(cha)入CX插(cha)座中,另一端(duan)的紅色(se)夾子(zi)夾試品的低端(duan),黑色(se)夾子(zi)懸空或接屏蔽裝置。
3)反接線時:將高壓電纜插(cha)頭(tou)插(cha)入后門HV插座中,將另一端(duan)的(de)紅色大鉗子夾(jia)到被測試品(pin)的(de)**引(yin)線上,紅色小鉗子懸(xuan)空(kong)或接(jie)屏蔽裝置。Cx插座不用。
2.打開電源(yuan)開關,儀器進行(xing)自(zi)檢,若(ruo)自(zi)檢良好,液晶(jing)屏顯示中文主菜(cai)單如(ru)
圖十所示(shi)。
3.菜單選(xuan)擇(ze):
按鍵可移動光標至各菜單項(xiang),并循環指示。被(bei)選中項(xiang)反白(bai)字體顯(xian)示。選擇鍵的流程見(jian)圖十(shi)一所示。
在光(guang)標當(dang)前所(suo)示(shi)項目(mu),按▼ ▲鍵鍵可進(jin)行該項菜單的變(bian)更,并(bing)循環指示(shi),流程見圖(tu)十二(er)所(suo)示(shi)。
將菜單變更(geng)至與(yu)測試要求相(xiang)對(dui)應后即可按選擇鍵(jian)進行下個(ge)項目(mu)的選擇。
4、 頻(pin)率(lv):光(guang)標在頻(pin)率(lv)上,按↑↓鍵(jian)選擇定頻(pin)和變頻(pin):
光標在定頻上(shang):按住“啟停”鍵1s以(yi)上切換(huan)到全頻率(lv)選擇,按↑↓鍵循環顯(xian)示45Hz / 47.5Hz / 50Hz / 52.5Hz / 55Hz / 60Hz / 65Hz
工頻50Hz測量,此設(she)置(zhi)不能抗干擾,在試驗室內測量或校驗時選用50Hz,“45/47.5/55/52.5/60/65Hz”:為單頻率測(ce)量(liang),研究不同頻率下介損的變化時(shi)選用。
光標(biao)在(zai)變頻上(shang):按住“啟停”鍵1s以(yi)上(shang)切換(huan)到全頻(pin)率(lv)選擇,按↑↓鍵循(xun)環顯示5-Hz / 6-Hz / 4-Hz”:
“5-Hz”:為(wei)45/55Hz自動變頻,適合50Hz電網工頻(pin)干(gan)擾下測量(liang)。
“6-Hz”:為55/65Hz自動變頻,適合60Hz電網(wang)工頻干擾下測量。
“4-Hz”:為47.5/52.5Hz自動(dong)變頻,適合50Hz電網工(gong)頻干擾下(xia)測量(liang)。
5、測試(shi):當(dang)光標在(zai) 測試(shi) 項目上時,按(an)確認鍵(jian)大約3秒鐘開(kai)始測試。測試過程中顯示的畫面如圖(tu)十(shi)三(正接線,變(bian)頻)所示,當下面的進程到100%時候測試(shi)完(wan)畢,然后顯示測量(liang)結(jie)果見圖十(shi)四所示,此時光標指示打印(yin)機圖標,按(an)確(que)認鍵打印(yin)報告(gao)。測量(liang)結(jie)果的意義(yi)如下:
tgδ: 試品的損(sun)耗因數(shu)tgδ值(zhi)
CX: 測量的電容(rong)值
V:施加電壓值
I:試(shi)品(pin)流(liu)過(guo)的(de)電流(liu)
F1,F2 : 試驗頻率
打印結束后,關(guan)閉電源開關(guan),測試完畢。
十(shi)、現場試驗注意(yi)事項(xiang)
如果使用中出現測(ce)試(shi)數據明顯不合理,請從以下方面查找原因:
1、搭鉤接觸(chu)**
現(xian)場測量使(shi)用搭(da)鉤連接(jie)試品時,搭(da)鉤務必與試品接(jie)觸良好,否則接(jie)觸點放電會引(yin)起數據嚴重(zhong)波動!尤其是(shi)引(yin)流線氧化層(ceng)太厚,或(huo)風吹線擺動,易造成接(jie)觸**。
2、接地接觸**
接地**會引(yin)起儀器保(bao)護(hu)或數(shu)據(ju)嚴重(zhong)波動(dong)。應(ying)刮凈接地點上(shang)的(de)油漆和(he)銹蝕,務必保(bao)證0電阻接地(di)!
3、直(zhi)接測量CVT或末(mo)端屏蔽法(fa)測量電磁式PT
直接測量CVT的下節耦合電容會出(chu)現負介損,應(ying)改用自(zi)激法。
用末端屏蔽法(fa)測量(liang)電磁(ci)式PT時,由于受(shou)潮引起“T形(xing)網(wang)絡干擾”出現負介損,吹(chui)干下面(mian)三裙瓷套和接線端(duan)子盤即可。也可改用常規法(fa)或(huo)末端(duan)加(jia)壓法(fa)測量。
4、空氣濕度過大(da)
空氣濕度(du)大使介損測量值異常增大(或減(jian)小甚至為負)且不穩定,必(bi)要時(shi)可(ke)加屏蔽環。因人為加屏蔽環改變了試品(pin)電場分布,此法(fa)有(you)爭議,可(ke)參照有(you)關規程。
5、發電機供電
發(fa)電(dian)機供電(dian)時輸入頻率不穩定,可采用定頻50Hz模式工作。
6、測試線
由(you)于(yu)長期使用(yong),易造成測試(shi)線(xian)隱性斷(duan)路(lu),或(huo)芯線(xian)和(he)屏(ping)蔽(bi)短(duan)路(lu),或(huo)插(cha)頭接觸**,用(yong)戶(hu)應經(jing)常維(wei)護測試(shi)線(xian);
測(ce)試標準電容(rong)試品時(shi),應使用全屏蔽插頭連接,以消(xiao)除附(fu)加雜散電容(rong)影響,否(fou)則不能反映出儀器(qi)精度;
自(zi)激法測量CVT時,非專用的高(gao)壓線應(ying)吊起(qi)懸(xuan)空,否則(ze)對地附加雜(za)散電容和介損會(hui)引(yin)起(qi)測(ce)量誤差。
7、工作模式選擇
接好線后請選擇正確的測量(liang)工作模式(正、反(fan)和CVT),不(bu)可(ke)選錯(cuo)。特(te)別是干擾(rao)環境(jing)下應(ying)選用變頻抗干擾(rao)模式(shi)。
8、試驗(yan)方法影響
由于介損測量(liang)受試(shi)驗(yan)方(fang)法影響較大,應區分是(shi)試(shi)驗(yan)方(fang)法誤差還是(shi)儀(yi)器(qi)誤差。出(chu)現問題時可首(shou)先(xian)檢查接線,然(ran)后檢查是(shi)否(fou)為儀(yi)器(qi)故障。
9、儀器故障
用萬用表測(ce)量一下測(ce)試線是(shi)否(fou)斷路(lu),或芯(xin)線和屏蔽是(shi)否(fou)短路(lu);輸入電(dian)源220V過高(gao)或(huo)過低;接地(di)是否良好。
用正、反接線(xian)測一下標準電(dian)容(rong)器(qi)或(huo)已知容(rong)量和介損的電(dian)容(rong)試品,如果(guo)結果(guo)正確(que),即(ji)可判斷儀器(qi)沒有問題;
拔(ba)下所(suo)有測試導(dao)線,進行空試升壓,若不能正(zheng)常工作,儀器可能有故障。
啟動CVT測量(liang)后測量(liang)低壓輸出(chu),應(ying)出(chu)現2~5V電壓,否則儀器有故(gu)障。
十一、 儀器檢定
1、用(yong)標(biao)準損(sun)耗器檢定
用(yong)帶插頭的屏蔽電纜連接標準(zhun)損(sun)(sun)耗(hao)器(qi)。如果不能保證標準(zhun)損(sun)(sun)耗(hao)器(qi)的精度,應使用(yong)比對法檢定,建議用(yong)2801電橋或其(qi)它(ta)精密電橋作比(bi)對標準。儀器應選用(yong)“內標準”和“RC串聯試品”,可選擇工頻(pin) 50Hz或定頻50Hz頻率模式。
2、用(yong)QSJ3檢定:使用帶(dai)插(cha)頭的(de)屏(ping)蔽(bi)電纜連接QSJ3,選擇“正接/ 外Cn / 外(wai)Un式測量,電流比為Cx∶Cn,Cn可(ke)置入適當值。
3、抗干(gan)擾能(neng)力(li)
設置一個(ge)回路向儀器注入定量的干擾電流。
注意:
1)應考慮到該回路可能成為試品(pin)的一部分。
2)儀(yi)器啟動后(hou)會使220V供電(dian)電(dian)路帶有(you)測量頻率(lv)分量,如果該頻率(lv)分量又通過(guo)干(gan)(gan)擾電(dian)流進(jin)入儀器,則無法檢驗儀器的抗干(gan)(gan)擾能(neng)力。
3)不建(jian)議(yi)用臨(lin)近(jin)高壓導體(ti)施加干擾(rao),因為這樣很容(rong)易產(chan)生(sheng)近(jin)距離**放(fang)電,這種放(fang)電電阻是(shi)非線性的,容(rong)易產(chan)生(sheng)同頻干擾(rao)。
十二、變頻(pin)測量討論
1、變頻測(ce)量(liang)
干擾(rao)十分嚴(yan)重時,變頻測量能得到準確可靠的結果(guo)。例如(ru)用55Hz測量(liang)時,測量(liang)系統只允許55Hz信號通過,50Hz干擾信號被有效抑制(zhi),原(yuan)因在(zai)于測量(liang)(liang)系統很容易區別不(bu)同(tong)頻率,由下述簡單(dan)計(ji)算可(ke)以說明(ming)選頻測量(liang)(liang)的(de)效果:
兩個頻率相差1倍的(de)(de)正弦波疊加(jia)到一(yi)起,高頻(pin)的(de)(de)是干擾,幅度為(wei)低(di)頻(pin)的(de)(de)10倍:
這剛好是低頻部分的(de)相位和幅(fu)度,干擾被抑制。實際(ji)波(bo)形的(de)測(ce)量(liang)點多達數萬,計算量(liang)很大,結(jie)果反映了(le)波(bo)形的(de)整體特征。
2、頻率(lv)和介損的關系
介損有RC串聯和并聯兩種理想模型(xing):串聯模型(xing)tgδ=2πfRC,并聯(lian)模(mo)型tgδ=1/(2πfRC),tgδ分別(bie)隨頻(pin)率f成正比和反比。如圖所示,f對完(wan)(wan)全(quan)正比和完(wan)(wan)全(quan)反(fan)比兩種模(mo)型(xing)影響較大(da)。但實際電容(rong)器(qi)是(shi)多種模(mo)型(xing)交織的混合模(mo)型(xing),此時f的影(ying)響就小。
3、自動(dong)變頻與50Hz等效(xiao)
儀器采用自動變頻在干(gan)擾頻率(lv)50Hz兩側(ce)(45Hz和55Hz)各測一(yi)個點,然(ran)后推(tui)算(suan)50Hz頻(pin)率(lv)下數據(ju)。除(chu)多個(ge)元件電(dian)路的低頻(pin)諧振外,單個(ge)試品中(zhong)的介質不(bu)可能在低頻(pin)引起能量吸收峰,工(gong)頻(pin)附近介損(sun)總是隨頻(pin)率(lv)單調變化的。因(yin)此這(zhe)種測量方法不(bu)會帶來明顯誤(wu)差(cha)。實際上,平(ping)均(jun)前(qian)的兩個(ge)介損(sun)值已十分接(jie)近,即使不(bu)平(ping)均(jun)也完全(quan)有參考價值。目前(qian),變頻(pin)介損(sun)儀已成(cheng)為介損(sun)測量的常規儀器(qi),其優異的抗干擾能力和準確度已經得到認可。
十(shi)三、儀器的裝箱(xiang)清單
1.主(zhu)機
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一臺(tai)
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2.高(gao)壓電纜
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一(yi)條
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3.低壓電纜
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兩(liang)條
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4.電源線
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一(yi)條
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5.地線(xian)
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一條
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6.CVT線
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一條
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7.5A保(bao)險(xian)管(內置)
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兩只
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8.打印(yin)紙
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一卷
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9.說(shuo)明書
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一本
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10.出廠試驗報告
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一(yi)份
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11.合格證
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一張
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