一、WBJS8000G異頻(pin)介質(zhi)損(sun)耗試驗儀概述

介損(sun)測(ce)量(liang)是絕(jue)緣(yuan)試(shi)驗中很基本(ben)的方(fang)法，可(ke)以(yi)有效地發(fa)現電(dian)(dian)(dian)(dian)器設備絕(jue)緣(yuan)的整體受潮劣(lie)化變(bian)質，以(yi)及(ji)局部缺陷等(deng)。在電(dian)(dian)(dian)(dian)工制造、電(dian)(dian)(dian)(dian)氣設備安裝(zhuang)、交接(jie)和預防(fang)性試(shi)驗中都廣泛(fan)應用(yong)。變(bian)壓器、互感器、電(dian)(dian)(dian)(dian)抗(kang)器、電(dian)(dian)(dian)(dian)容器以(yi)及(ji)套(tao)管、避雷(lei)器等(deng)介損(sun)的測(ce)量(liang)是衡量(liang)其絕(jue)緣(yuan)性能的*基本(ben)方(fang)法。LYJS9000F變頻介質損耗測(ce)試儀(yi)突破了傳統的電(dian)橋測(ce)量(liang)方式，采用變頻電(dian)源技術(shu)(shu)，利用單片(pian)機、和(he)現代化電(dian)子技術(shu)(shu)進行(xing)自動頻率變換(huan)、模/數轉換(huan)和數據運算(suan)；達到抗干擾能力強、測試速(su)度(du)快(kuai)、精度(du)高、全自動數字化、操作簡(jian)便；電源采用大功率(lv)開關電源，輸出45Hz和55Hz純正(zheng)弦(xian)波，自動加壓，可提供*高10千伏的電壓(ya)；自動濾除50Hz干(gan)(gan)擾，適用(yong)于變(bian)(bian)電(dian)站等(deng)電(dian)磁干(gan)(gan)擾大的(de)現場(chang)測(ce)試。廣泛適用(yong)于電(dian)力行業中(zhong)變(bian)(bian)壓器、互感器、套管、電(dian)容器、避雷器等(deng)設(she)備的(de)介損測(ce)量(liang)。

二、WBJS8000G異(yi)頻介質損耗試驗儀**措施

1、使(shi)用本儀器前一定要認真閱讀本手冊。

2、儀(yi)器的(de)操作者應具備(bei)一般電(dian)氣設備(bei)或儀(yi)器的(de)使(shi)用常識。

3、本儀器戶(hu)內外(wai)均(jun)可使用(yong)，但應避開雨淋、腐蝕氣體、塵(chen)埃過濃、高溫、陽光(guang)直射等場所使用(yong)。

儀表應(ying)避(bi)免劇烈振動。

5、對(dui)儀(yi)器的維(wei)修(xiu)、護理和調(diao)整應由專業人(ren)員(yuan)進行。

6、在任何接線之前必須用接地(di)(di)電纜把儀器(qi)接地(di)(di)端子與大地(di)(di)可靠連接起來。

7、由(you)于(yu)測試(shi)設備產生高(gao)(gao)電壓(ya)，所以測試(shi)人(ren)員(yuan)必(bi)須完(wan)(wan)全(quan)嚴格遵守(shou)**操作規程，防止他人(ren)接(jie)觸高(gao)(gao)壓(ya)部件和電路。直接(jie)從事測試(shi)的人(ren)員(yuan)必(bi)須完(wan)(wan)全(quan)了解高(gao)(gao)壓(ya)測試(shi)線(xian)路，及(ji)儀(yi)器(qi)操作要點。非從事測試(shi)人(ren)員(yuan)必(bi)須遠離高(gao)(gao)壓(ya)測試(shi)區，測試(shi)區必(bi)須用柵(zha)欄(lan)或繩索、警視牌等清楚表示出(chu)來。

8、儀器的調(diao)整(zheng)維(wei)修和(he)維(wei)護，必(bi)須在不加(jia)電情況下進行，如果必(bi)須加(jia)電，則操作者必(bi)須非常熟悉本(ben)儀器高(gao)壓危(wei)險(xian)部件。

9、保險(xian)管(guan)損(sun)壞時，必須確保更換同樣(yang)的保險(xian)，禁止更換不同型號保險(xian)或(huo)將保險(xian)直接短路使用。

儀器出現(xian)故障時，關閉電(dian)源(yuan)開關，等待一分鐘之(zhi)后再檢(jian)查。

三、WBJS8000G異頻介質損耗試驗儀可測試參(can)數

儀器可(ke)測(ce)量下(xia)列參數(shu)并數(shu)字顯示(shi)：

被測試品的電容量值CX，以pF或nF為單位，1nF=1000pF。

被(bei)測試品(pin)的介質損耗值tgδ，以%顯示。

四、WBJS8000G異頻介質損耗試驗(yan)儀(yi)性能特點(dian)

1、儀器(qi)采用復數(shu)電(dian)流法，測量(liang)電(dian)容、介質損耗及其它參數(shu)。測試結果精度(du)高(gao)，便于(yu)實(shi)現自動化測量(liang)。

2、儀器采用(yong)了變頻技術來消(xiao)除現場(chang)50Hz工頻干(gan)擾(rao)，即使(shi)在強電(dian)磁(ci)干(gan)擾(rao)的環(huan)境下也(ye)能測得(de)可(ke)靠的數據。

3、儀器采用(yong)大屏幕(mu)液晶顯(xian)示器，測(ce)試過(guo)程(cheng)通過(guo)漢字菜(cai)單提(ti)示既直(zhi)觀又便于(yu)操作。

4、儀(yi)器操作簡便，測(ce)量過程由(you)微處理(li)器控制(zhi)，只(zhi)要選(xuan)擇好合適的(de)測(ce)量方式，數據的(de)測(ce)量就可在微處理(li)器控制(zhi)下自(zi)動完(wan)成。

5、一體(ti)化機(ji)型，內附標準電(dian)容和高(gao)壓電(dian)源，便于(yu)現(xian)(xian)場(chang)測試，減少現(xian)(xian)場(chang)接線(xian)。

6、儀器測量(liang)準(zhun)(zhun)確度高，可滿足油介損測量(liang)要求(qiu)，因此只需(xu)配備標準(zhun)(zhun)油杯，和專用測試線即可實現油介損測量(liang)。

7、設CVT測試功能，可實(shi)現(xian)CVT的自激法測試，無需(xu)外置附件，只(zhi)需(xu)一次測量(liang)，C1,C2的電容和介(jie)損全部測(ce)出。

8、反接(jie)線測試采(cai)用ivddv技術,消除了以(yi)往反接線數據不穩定(ding)的(de)現象。

9、具有反接線低壓屏蔽功(gong)能，在(zai)220kV CVT 母(mu)線(xian)接(jie)地情(qing)況下，對C11 可(ke)進行不拆線10kV 反(fan)接(jie)線(xian)介(jie)損測量

10、具有測量高電(dian)壓介(jie)損功能，能夠使用高壓變壓器或串聯諧振進行超過(guo)10kV電壓的(de)介損試驗。

12、接地(di)保(bao)護功能，當(dang)儀(yi)器不(bu)接地(di)線或接地(di)**時(shi)(shi)，儀(yi)器不(bu)進入正(zheng)常程序，不(bu)輸出(chu)高壓。過流(liu)保(bao)護功能，在試品短路或擊穿時(shi)(shi)儀(yi)器不(bu)受損壞。

13、觸(chu)電保(bao)護(hu)功(gong)能(neng)，當儀器操作人員不小(xiao)心觸(chu)電時候，儀器會立(li)即切斷高(gao)壓(ya)，保(bao)障試驗人員的(de)**.

五、WBJS8000G異頻(pin)介質損耗試(shi)驗儀技(ji)術指標(biao)

準(zhun)確度：

Cx: ±（讀(du)數×1%+1pF）

tgδ:  ±（讀數×1%+0.00040）

抗干(gan)擾指標：  變頻抗干(gan)擾，在200%干擾下仍能達(da)到上述(shu)準確度(du)

電容(rong)量范圍(wei)：  內(nei)施高(gao)壓：    3pF～60000pF/10kV    60pF～1μF/0.5kV

外施高壓(ya)：    3pF～1.5μF/10kV         60pF～30μF/0.5kV

分(fen)辨(bian)率：      *高(gao)0.001pF，4位有效(xiao)數(shu)字

tgδ范(fan)圍：     不(bu)限(xian)，分辨(bian)率(lv)0.001%，電(dian)容、電(dian)感、電(dian)阻三(san)種(zhong)試(shi)品(pin)自動(dong)識別。

試驗電流(liu)范(fan)圍(wei)：10μA～1A

內施高壓：    設定電壓范圍：0.5～10kV

*大輸(shu)出(chu)電流：200mA

升降壓方式：連續平滑調節(jie)

試驗頻率： 45、50、55、60、65Hz單頻

45/55Hz、55/65Hz、47.5/52.5Hz自動雙變頻

頻率精(jing)度(du)：±0.01Hz

外施高壓：正接線時*大試(shi)驗電流1A，工頻(pin)或變頻(pin)40-70Hz

反(fan)接線時*大(da)試驗電流(liu)10kV/1A，工頻或變頻40-70Hz

CVT自激法低壓輸出(chu)：輸出(chu)電壓3～50V，輸出電流3～30A

CVT變比測量：

變比測(ce)量精度：±讀數×1%     變比測(ce)量范圍：10～99999

相位測(ce)量精度：±0.1°           相位測(ce)量(liang)范圍：0～359.9°

測量(liang)時間：    約40s，與測量方式有關

輸入電源：    180V～270VAC，50Hz±1%，市電(dian)或發電(dian)機(ji)供電(dian)

計算機(ji)接口：  標準RS232接口

打印機：         煒煌A7熱敏(min)微(wei)型打印機

環境溫度：    -10℃～50℃

相對濕度：    <90%

外形尺寸：460×360×350mm

儀器重量：28kg

六、測(ce)量方式及(ji)原理(li)

按被測(ce)(ce)試品是否(fou)接(jie)地分兩(liang)種(zhong)測(ce)(ce)量(liang)方式(shi)，即(ji)正接(jie)線測(ce)(ce)量(liang)方式(shi)和(he)反接(jie)線測(ce)(ce)量(liang)方式(shi)。兩(liang)種(zhong)測(ce)(ce)量(liang)方式(shi)的(de)原理(li)如圖一所(suo)示：

在高壓電(dian)(dian)(dian)(dian)源的(de)10kV側(ce)，高壓分兩路，一路給機內標(biao)準電(dian)(dian)(dian)(dian)容(rong)CN，此(ci)電(dian)(dian)(dian)(dian)容(rong)介損(sun)非(fei)常小(xiao)，可(ke)(ke)以(yi)認(ren)為(wei)介損(sun)為(wei)零，即為(wei)純(chun)容(rong)性電(dian)(dian)(dian)(dian)流，此(ci)電(dian)(dian)(dian)(dian)流ICN 可(ke)(ke)做為(wei)容(rong)性電(dian)(dian)(dian)(dian)流基準。在Cx試品(pin)一側(ce)，試品(pin)電(dian)(dian)(dian)(dian)流Icx通過采樣電(dian)(dian)(dian)(dian)阻R采入機內，此(ci)Icx可(ke)(ke)分解(jie)成水(shui)平(ping)分量(liang)和垂(chui)直分量(liang)見圖二(er)所示，通過計算水(shui)平(ping)分量(liang)與(yu)垂(chui)直分量(liang)的(de)比值即可(ke)(ke)得到tgδ值。

在圖一（a）中Cx為非接(jie)(jie)地試(shi)品(pin)，試(shi)品(pin)電流Icx從試(shi)品(pin)末端進入(ru)采樣電阻R，得(de)(de)到全(quan)電流值(zhi)，在圖一（b）中Cx為接(jie)(jie)地試(shi)品(pin)，機內(nei)Cx端直接(jie)(jie)接(jie)(jie)地，電流Icx從試(shi)品(pin)高壓端到機內(nei)采樣電阻取(qu)得(de)(de)全(quan)電流值(zhi)。

七(qi)、常見設備(bei)的接線方法

1．儀(yi)器引(yin)出端子說明：

HV ——  儀器的測(ce)量引線高壓(ya)端（帶危險電壓(ya)） 。

CX ——  正接線(xian)時試品電(dian)流輸入(ru)端(duan)。

——  儀器的接地端，使用時與大(da)地可靠(kao)相接

2.參考(kao)接線(xian)

2.1正(zheng)接線(xian)、內(nei)標準電(dian)容(rong)、內(nei)高壓（常規正(zheng)接線(xian)）：

2.2反(fan)接線、內標準電容(rong)、內高壓（常規反(fan)接線）

2.3正接(jie)線、外標準電(dian)容(rong)、內高(gao)壓：

2.4反接線、外標(biao)準電(dian)容、內(nei)高(gao)壓(ya)：

2.5正接線、內標準電容、外高壓：

2.6反接線、內標(biao)準電容、外高壓：

2.7正接線(xian)、外標準電容、外高(gao)壓（高(gao)電壓介損）：

2.8反接線、外(wai)(wai)標準(zhun)電(dian)容(rong)、外(wai)(wai)高壓：

2.9  CVT自激法(fa)測量(liang)：

CVT自(zi)激法可按下圖接(jie)線。如果C1是單(dan)節電(dian)容，母線不(bu)能接(jie)地；如果C1是多節電(dian)容，母線可接(jie)地，C11和(he)C12可用(yong)常規正反接(jie)線測(ce)量，C13和(he)C2用(yong)自(zi)激法測(ce)量。

CVT自(zi)激法測(ce)(ce)量中，儀器先測(ce)(ce)量C1，然(ran)后(hou)自(zi)動(dong)倒線測(ce)(ce)量C2，并自(zi)動(dong)校準分壓影(ying)響。

應(ying)注意，高壓線應(ying)懸(xuan)空(kong)不能接觸地面，否則(ze)其對(dui)地附加介(jie)損(sun)會(hui)引(yin)起(qi)誤差，可用(yong)細(xi)電纜(lan)連接高壓插(cha)座與CVT試品并吊起。強烈建議使用(yong)高(gao)壓(ya)(ya)插(cha)座(zuo)使用(yong)的高(gao)壓(ya)(ya)線用(yong)黑色Cx線。

2.10 CVT變比(bi)測試

儀(yi)器高壓線的芯線紅夾(jia)子(zi)接CVT的上端，母線拆(chai)地。CVT下(xia)端接地，低壓(ya)線紅黑夾(jia)子接二次(ci)繞組，注意(yi):如果(guo)測試(shi)角度接(jie)近180度，應(ying)將(jiang)紅黑夾子顛(dian)倒。

3.附加(jia)功能

3.1光標在 電壓：10kV上面時(shi)候，按“確認”鍵在儀器屏幕(mu)的左(zuo)下角會出現圖標，代(dai)表(biao)測(ce)試結(jie)(jie)束自動(dong)打印(yin)(yin)。如(ru)果再按確認鍵(jian)，圖標消失，代(dai)表(biao)測(ce)試結(jie)(jie)束必須手動(dong)才能打印(yin)(yin)。

3.2光(guang)標在(zai) 反(fan)接(jie) 上(shang)面時候，在(zai)反(fan)接(jie)線(xian)，內(nei)Cn，內Un，情(qing)況(kuang)下，按確認鍵在儀(yi)器屏幕右(you)下角會出現圖標，代(dai)表(biao)反接線低壓屏(ping)蔽測試。如(ru)果再按確認鍵，圖標消(xiao)失(shi)，代(dai)表(biao)取(qu)消(xiao)反接線低壓屏(ping)蔽。

反(fan)接線低壓(ya)屏蔽功能(neng)，一(yi)次接線可同時測出C1和C2的電容(rong)量和(he)介(jie)損

在(zai)反接(jie)線、內(nei)標準和內(nei)高壓方(fang)式，光標移到(dao)“反接”處，按“確(que)認”右下角(jiao)顯(xian)示“M”。

打開反接線(xian)低壓屏蔽，可在(zai)上端(duan)(duan)(duan)電容C1不(bu)(bu)拆(chai)母線(xian)的(de)(de)情況下(xia)，對其進行(xing)不(bu)(bu)拆(chai)線(xian)10kV反接線(xian)介損測(ce)量(liang)。如下(xia)圖(tu)所示：母線(xian)掛(gua)地線(xian)，C1上端(duan)(duan)(duan)不(bu)(bu)拆(chai)線(xian)，C1下(xia)端(duan)(duan)(duan)接高壓線(xian)芯線(xian)，C2末端(duan)(duan)(duan)接Cx芯線(xian)。儀(yi)器采用反接線(xian)/10kV/M測(ce)量(liang)方式，可同(tong)時測(ce)出C11和下(xia)端(duan)(duan)(duan)屏蔽部分的(de)(de)電容量(liang)和介損值。

3.3光標在 正(zheng)接 上面時候，按確(que)認鍵則測(ce)試打印機(ji)，換紙。

3.4光標在 啟動 上面(mian)時候，按減小(xiao)鍵則代(dai)表取出存儲的數據。

3.5測試(shi)(shi)完畢，如果按(an)減小鍵，則代表存儲測試(shi)(shi)的數據(ju)

八(ba)、功能簡介

儀器面板見圖九所示：

打印(yin)機——打印(yin)測量數據。

顯示(shi)器——128×64點陣液晶(jing)顯示器，顯示菜單和各種提示信(xin)息及測量結果。

  鍵——選擇菜(cai)單項(xiang)(xiang)，被選中項(xiang)(xiang)反(fan)白(bai)字體顯示。

▲  鍵——修改菜單內容，采用(yong)循(xun)環滾動(dong)方(fang)式。

▼ 鍵(jian)——修改菜(cai)單內容，采用循環滾(gun)動方式。

確認鍵——在“測試(shi)”選項上按此鍵進入測試(shi)狀(zhuang)態(tai)。

電源開關——整機電源的開啟(qi)和關閉。

電源座——交流220V±10%，50±1Hz電(dian)源輸入口，帶保(bao)險(xian)倉。

9．自激(ji)法電(dian)流輸出端(duan)——測量(liang)CVT的專(zhuan)用(yong)端子。

10．地——為接(jie)地線接(jie)線端子(zi)。

11．CX插座——是試品信號的測量(liang)輸入端，正接線(xian)時由專用(yong)低壓電纜連接，此電纜單(dan)層屏(ping)蔽帶特制鱷魚夾(jia)，長8m，接試品低(di)端。反接線(xian)時此端空置。

12．CN插座——是外標準電(dian)容(rong)信號的測量輸入端，使用(yong)內標準時此(ci)端空置(zhi)。

13．HV插(cha)座——高(gao)壓(ya)引出端(duan)子，由高(gao)壓(ya)電纜連(lian)接(jie)，接(jie)試品(pin)高(gao)壓(ya)端(duan)。輸出10kv高壓。

14．RS-232接口(kou)，用來(lai)連接電(dian)腦，上傳(chuan)數據(ju)。

九(jiu)、儀器操(cao)作(zuo)步驟

1．測(ce)量前(qian)準(zhun)備：

1）用接(jie)地線一端(duan)接(jie)儀器的(de)接(jie)地柱(zhu)，另一端(duan)接(jie)可(ke)靠的(de)大地，保(bao)證儀器外殼處在地電位(wei)上。

2）正接線時：將高壓電纜插(cha)頭插(cha)入(ru)后門(men)HV插座中(zhong)，將另一端(duan)的紅(hong)色大鉗(qian)子夾(jia)到(dao)被測試品(pin)的**引(yin)線上，黑(hei)色小鉗(qian)子懸空(kong)或夾(jia)在(zai)紅(hong)色大鉗(qian)子上。將CX低壓(ya)電(dian)纜插入CX插(cha)座中，另一端的紅色(se)夾(jia)子夾(jia)試品(pin)的低端，黑色(se)夾(jia)子懸空或接屏蔽裝置。

3）反接(jie)線時(shi)：將高壓電纜插頭插入后門HV插座中(zhong)，將另一端的紅色(se)大鉗子夾到被測試品(pin)的**引線上，紅色(se)小鉗子懸空或接屏蔽裝(zhuang)置。Cx插(cha)座(zuo)不用。

2．打(da)開電源開關(guan)，儀器進行自(zi)檢(jian)，若自(zi)檢(jian)良好，液(ye)晶屏顯示(shi)中(zhong)文主菜單(dan)如

圖十所示。

3．菜單選擇：

按(an)鍵可移動光(guang)標至(zhi)各菜單項，并循(xun)環指示(shi)(shi)(shi)。被選(xuan)中(zhong)項反白字體顯(xian)示(shi)(shi)(shi)。選(xuan)擇鍵的流程見圖十一(yi)所示(shi)(shi)(shi)。

在光標當(dang)前(qian)所示(shi)(shi)項(xiang)目(mu)，按(an)▼ ▲鍵鍵可(ke)進(jin)行該(gai)項(xiang)菜(cai)單的變更(geng)，并循環指示(shi)(shi)，流程(cheng)見(jian)圖十二所示(shi)(shi)。

將菜單變更至與(yu)測試要(yao)求相對應后(hou)即可按選擇鍵進行下個(ge)項目的選擇。

4、 頻率(lv)：光標在頻率(lv)上，按(an)↑↓鍵(jian)選(xuan)擇定頻和變頻：

光標在定頻(pin)上(shang)：按住(zhu)“啟(qi)停”鍵1s以上切換到全頻率選擇，按↑↓鍵循(xun)環顯示45Hz / 47.5Hz / 50Hz / 52.5Hz / 55Hz / 60Hz / 65Hz

工頻50Hz測量(liang)，此設置不能抗干擾(rao)，在試驗室內(nei)測量(liang)或校驗時選(xuan)用50Hz，“45/47.5/55/52.5/60/65Hz”：為單頻(pin)率測量(liang)，研究不(bu)同頻(pin)率下介損的變化時(shi)選用。

光標在變頻上(shang)：按住“啟停”鍵1s以(yi)上切(qie)換到(dao)全頻率選擇(ze)，按↑↓鍵循環顯(xian)示5-Hz / 6-Hz / 4-Hz”：

“5-Hz”：為(wei)45/55Hz自動變頻(pin)，適(shi)合50Hz電網工(gong)頻干擾下測(ce)量。

“6-Hz”：為55/65Hz自動(dong)變頻，適合60Hz電網工(gong)頻干擾下測量。

“4-Hz”：為47.5/52.5Hz自動變頻(pin)，適合50Hz電(dian)網(wang)工頻干擾(rao)下測量(liang)。

5、測(ce)(ce)試：當光標在 測(ce)(ce)試 項目上時(shi)，按(an)確認鍵大(da)約3秒鐘(zhong)開始測試(shi)。測試(shi)過程(cheng)中顯示(shi)的畫面如(ru)圖十三（正接線，變頻）所示(shi)，當下面的進程(cheng)到100%時(shi)候測(ce)試完畢，然后(hou)顯(xian)示(shi)測(ce)量結(jie)果(guo)見圖十(shi)四(si)所示(shi)，此時(shi)光標(biao)指示(shi)打(da)印機圖標(biao)，按確(que)認鍵(jian)打(da)印報告(gao)。測(ce)量結(jie)果(guo)的(de)意義如下：

tgδ： 試(shi)品的損耗因(yin)數tgδ值

CX： 測量(liang)的電容值

V：施加電壓值

I：試品流過(guo)的電流

F1,F2 : 試驗頻率(lv)

打印結束后，關閉電源(yuan)開關，測(ce)試完畢(bi)。

十、現場試驗注意事項

如果使用中出現測試數據明(ming)顯不合理(li)，請從(cong)以下方面查找原因(yin)：

1、搭鉤接觸**

現(xian)場(chang)測量使用搭鉤(gou)連接(jie)試(shi)品(pin)時，搭鉤(gou)務必與試(shi)品(pin)接(jie)觸良好，否則接(jie)觸點放(fang)電會引(yin)起(qi)數據嚴重波(bo)動(dong)！尤其是引(yin)流(liu)線(xian)氧化層(ceng)太厚(hou)，或風吹線(xian)擺動(dong)，易造成接(jie)觸**。

2、接地接觸**

接地**會引起儀器保(bao)護或數(shu)據嚴重波動。應刮(gua)凈接地點上的油漆和(he)銹(xiu)蝕，務必保(bao)證0電阻(zu)接地！

3、直接測量CVT或末端屏(ping)蔽法測量電磁式PT

直接測量CVT的下節耦合電容會出現負介(jie)損，應改用自激法。

用末端屏蔽法測量電磁式PT時(shi)，由于受(shou)潮引起“T形網絡干擾”出現負(fu)介損，吹干下面(mian)三(san)裙瓷套和接線端子(zi)盤即可。也可改(gai)用常規法或末端加壓(ya)法測量。

4、空(kong)氣濕度過(guo)大(da)

空(kong)氣(qi)濕度(du)大(da)使介損測(ce)量值異常增大(da)（或減(jian)小甚至(zhi)為(wei)負）且不穩定(ding)，必要時可加屏蔽(bi)環(huan)。因(yin)人為(wei)加屏蔽(bi)環(huan)改(gai)變了試品(pin)電場分布，此法有爭(zheng)議(yi)，可參照有關規程(cheng)。

5、發電(dian)機供電(dian)

發電(dian)機供電(dian)時輸入頻(pin)率不穩定，可采用定頻(pin)50Hz模式(shi)工作。

6、測試線

由于長期使(shi)用，易造成測(ce)試線(xian)隱性斷路，或(huo)芯線(xian)和屏蔽短路，或(huo)插頭接觸**，用戶應經常維護(hu)測(ce)試線(xian)；

測試標準(zhun)電(dian)容試品時，應使用全屏蔽(bi)插頭(tou)連接，以消(xiao)除(chu)附加雜(za)散電(dian)容影響，否則不能反(fan)映出儀(yi)器精度(du)；

自激法測量CVT時，非專用的高壓線應吊起懸空，否則對地(di)附加雜散電(dian)容(rong)和介損會引起測量誤差。

7、工(gong)作模式選擇

接好線后(hou)請選擇正確的測量工(gong)作模(mo)式（正、反(fan)和CVT），不(bu)可選(xuan)錯。特別是干擾環境(jing)下應選(xuan)用變頻抗(kang)干擾模式。

8、試驗(yan)方法(fa)影響

由于(yu)介損測(ce)量受試驗方法影響(xiang)較大，應區分是試驗方法誤(wu)差還是儀(yi)器誤(wu)差。出現問(wen)題(ti)時(shi)可首先檢查(cha)接(jie)線，然后檢查(cha)是否為儀(yi)器故障(zhang)。

9、儀器故障

用萬(wan)用表測量一下測試線是否(fou)斷路，或芯線和屏蔽是否(fou)短路；輸入電源220V過高(gao)或過低；接地是否良好。

用正、反(fan)接線測一下標準電容器(qi)或(huo)已(yi)知容量(liang)和介損的電容試(shi)品，如果結果正確，即可判斷儀器(qi)沒有(you)問(wen)題(ti)；

拔下所(suo)有測(ce)試導線，進(jin)行空試升壓，若不能正常工作，儀(yi)器可(ke)能有故障。

啟動CVT測(ce)(ce)量后測(ce)(ce)量低壓輸出(chu)，應出(chu)現(xian)2～5V電壓(ya)，否則儀器有故障。

十一(yi)、 儀器檢定

1、用標準(zhun)損耗器檢定

用帶插(cha)頭的屏蔽電纜(lan)連接(jie)標準損(sun)耗器(qi)。如(ru)果不能保證標準損(sun)耗器(qi)的精(jing)度，應使用比對法檢(jian)定，建(jian)議用2801電(dian)(dian)橋或其它精密(mi)電(dian)(dian)橋作比對標準(zhun)。儀器(qi)應選(xuan)用“內(nei)標準”和“RC串聯試品”，可選擇工頻(pin) 50Hz或定頻50Hz頻率(lv)模式。

2、用QSJ3檢定：使用帶插頭的屏(ping)蔽電纜連接(jie)QSJ3，選擇“正接/ 外Cn / 外Un式測量，電流比為Cx∶Cn，Cn可置(zhi)入適當(dang)值(zhi)。

3、抗(kang)干擾(rao)能力

設置(zhi)一個回路向儀器(qi)注入(ru)定量的干擾電(dian)流(liu)。

注意：

1）應考(kao)慮到該回(hui)路可能成為試(shi)品(pin)的一部分。

2）儀器啟動后(hou)會使220V供電(dian)電(dian)路帶有測量(liang)(liang)頻率(lv)分量(liang)(liang)，如果該頻率(lv)分量(liang)(liang)又通過干擾電(dian)流進入儀器，則無法檢驗儀器的抗干擾能力。

3）不建(jian)議用臨近高壓導體施加干擾(rao)，因為這(zhe)樣很(hen)容易產(chan)生近距離**放電，這(zhe)種放電電阻(zu)是非(fei)線性的，容易產(chan)生同頻干擾(rao)。

十二、變頻測(ce)量討論(lun)

1、變頻測量

干(gan)擾十分嚴重時，變頻測量能(neng)得(de)到準確可靠的結果(guo)。例如用55Hz測量(liang)時，測量(liang)系統只允許55Hz信號通(tong)過，50Hz干(gan)擾信號被(bei)有效(xiao)抑制，原(yuan)因在(zai)于(yu)測量系統很(hen)容易區別不同(tong)頻率，由下述簡單計算(suan)可以說明選頻測量的(de)效(xiao)果：

兩個頻率相差1倍的正弦(xian)波疊加到一起，高頻的是干擾，幅度為低頻的10倍：

這剛好(hao)是(shi)低頻部分的相(xiang)位和(he)幅度，干(gan)擾被抑制(zhi)。實(shi)際波形(xing)的測(ce)量點多達數萬，計算量很(hen)大(da)，結果反映了波形(xing)的整體特征。

2、頻率和介損的關系

介損有RC串聯(lian)(lian)和(he)并聯(lian)(lian)兩種(zhong)理想(xiang)模(mo)型(xing)：串聯(lian)(lian)模(mo)型(xing)tgδ=2πfRC，并聯模型tgδ=1/(2πfRC)，tgδ分別(bie)隨頻(pin)率(lv)f成正比(bi)和反比(bi)。如圖所示，f對完全正比和完全反比兩種(zhong)模(mo)(mo)型(xing)影響(xiang)較大。但實際電容器是(shi)多(duo)種(zhong)模(mo)(mo)型(xing)交織的混合模(mo)(mo)型(xing)，此時(shi)f的影響就小。

3、自動(dong)變頻與(yu)50Hz等效

儀器采(cai)用自動變頻在干擾頻率50Hz兩側（45Hz和55Hz）各測(ce)一個點，然后(hou)推算50Hz頻(pin)率下數據。除多(duo)個(ge)元件電路(lu)的低頻(pin)諧振外，單個(ge)試品中的介(jie)質不(bu)可能(neng)(neng)在低頻(pin)引起能(neng)(neng)量吸收峰，工頻(pin)附近(jin)介(jie)損(sun)總是隨頻(pin)率單調(diao)變(bian)化的。因此這種測(ce)量方法(fa)不(bu)會帶來明顯誤差。實際上(shang)，平均(jun)前(qian)的兩個(ge)介(jie)損(sun)值已十分接(jie)近(jin)，即使(shi)不(bu)平均(jun)也(ye)完全有參考價值。目前(qian)，變(bian)頻(pin)介(jie)損(sun)儀已成為介(jie)損(sun)測(ce)量的常規儀器，其優異的抗干擾能(neng)(neng)力和準(zhun)確度已經得(de)到認可。

十三(san)、儀器的裝箱清單