一、WBJS8000GCVT介損(sun)測試儀概(gai)述

介損測量是絕緣試(shi)驗中很基本(ben)的方(fang)法(fa)，可以有效地發(fa)現(xian)電器(qi)(qi)設(she)(she)備絕緣的整(zheng)體(ti)受潮劣化變(bian)質，以及局部缺陷等。在電工制造(zao)、電氣設(she)(she)備安裝、交接和預防性試(shi)驗中都(dou)廣泛應用。變(bian)壓器(qi)(qi)、互感器(qi)(qi)、電抗器(qi)(qi)、電容(rong)器(qi)(qi)以及套管、避雷器(qi)(qi)等介損的測量是衡(heng)量其(qi)絕緣性能的*基本(ben)方(fang)法(fa)。LYJS9000F變頻介質損耗(hao)測試儀突破了傳統的(de)電橋測量方式，采(cai)用變頻電源技術，利(li)用單片(pian)機、和現代化電子技術進(jin)行自動頻率變換、模/數(shu)轉換和(he)數(shu)據(ju)運算；達到抗干擾(rao)能力強(qiang)、測試(shi)速度(du)快、精(jing)度(du)高、全(quan)自動數(shu)字化、操作簡便；電(dian)源采用大功率開關(guan)電(dian)源，輸出45Hz和55Hz純正弦波，自動加壓，可提(ti)供*高10千伏的(de)電壓；自動濾除50Hz干擾(rao)，適用于變電(dian)站等電(dian)磁干擾(rao)大的現場測試。廣泛適用于電(dian)力行業中變壓器、互感器、套管、電(dian)容(rong)器、避雷器等設備(bei)的介損測量。

二、WBJS8000GCVT介損(sun)測試儀**措施(shi)

1、使用本儀器前一(yi)定要認真閱讀本手冊。

2、儀器的(de)操(cao)作者應具(ju)備一(yi)般電氣設備或(huo)儀器的(de)使用常(chang)識。

3、本儀器戶(hu)內外均可使(shi)用(yong)，但應避開雨淋、腐(fu)蝕(shi)氣體、塵埃過濃、高溫、陽光直射(she)等場(chang)所使(shi)用(yong)。

儀表應避免劇烈振動。

5、對儀(yi)器的維修、護理和調整應(ying)由專(zhuan)業人員進(jin)行。

6、在任(ren)何(he)接線之前必須用接地電纜把儀器接地端子與大地可靠連接起(qi)來。

7、由于(yu)測(ce)試設(she)備產生高(gao)電(dian)壓(ya)，所(suo)以測(ce)試人(ren)(ren)(ren)員必須(xu)完全(quan)嚴格遵守(shou)**操作(zuo)規程，防(fang)止他人(ren)(ren)(ren)接觸高(gao)壓(ya)部件和電(dian)路。直接從事測(ce)試的人(ren)(ren)(ren)員必須(xu)完全(quan)了解高(gao)壓(ya)測(ce)試線路，及儀器操作(zuo)要點(dian)。非從事測(ce)試人(ren)(ren)(ren)員必須(xu)遠離高(gao)壓(ya)測(ce)試區，測(ce)試區必須(xu)用柵欄或(huo)繩索、警視牌等(deng)清楚(chu)表示出來(lai)。

8、儀器的調整維(wei)修和(he)維(wei)護，必(bi)須(xu)(xu)在(zai)不(bu)加電(dian)(dian)情況下進行，如果必(bi)須(xu)(xu)加電(dian)(dian)，則操(cao)作者(zhe)必(bi)須(xu)(xu)非常熟悉(xi)本儀器高(gao)壓危險部(bu)件(jian)。

9、保險管損壞時，必須確保更換同樣(yang)的保險，禁止更換不同型號(hao)保險或將保險直(zhi)接短(duan)路使(shi)用。

儀器出現故障時(shi)，關(guan)閉電源(yuan)開關(guan)，等(deng)待(dai)一(yi)分鐘之后再檢查。

三(san)、WBJS8000GCVT介損測試儀可測試(shi)參數

儀器可測量下列參數并數字顯示：

被測試品的電(dian)容量值CX，以pF或nF為單位，1nF=1000pF。

被測(ce)試品的介質損耗值tgδ，以%顯示。

四、WBJS8000GCVT介損測(ce)試(shi)儀性能(neng)特(te)點

1、儀器采用復數(shu)電流法，測量(liang)電容、介質(zhi)損耗及其它參數(shu)。測試結果精度高，便于(yu)實現自動化(hua)測量(liang)。

2、儀器采用了變(bian)頻(pin)技術來消除現場50Hz工(gong)頻干(gan)擾，即使在強電磁干(gan)擾的(de)環境下也能測得可靠的(de)數據。

3、儀器(qi)采用大(da)屏幕(mu)液晶(jing)顯示器(qi)，測(ce)試過程通過漢字菜單提示既直觀又便于操作。

4、儀器操作簡便，測量(liang)過程(cheng)由微處理(li)器控制，只要選(xuan)擇好合適的測量(liang)方式，數據的測量(liang)就可在(zai)微處理(li)器控制下自(zi)動完成。

5、一體化(hua)機型(xing)，內(nei)附標(biao)準(zhun)電容(rong)和高(gao)壓電源，便于現(xian)場測試，減少現(xian)場接線。

6、儀器測量準確(que)度高，可滿足油介損測量要求，因(yin)此只需配備標準油杯(bei)，和專用測試線即可實現(xian)油介損測量。

7、設CVT測(ce)試(shi)功(gong)能(neng)，可實現(xian)CVT的自激法測試，無需(xu)外(wai)置附件，只需(xu)一次測量，C1,C2的電(dian)容和介損全部測出。

8、反(fan)接線測試采用(yong)ivddv技術,消除了(le)以往反(fan)接線數(shu)據不穩定的(de)現(xian)象。

9、具有反接線低壓(ya)屏蔽功能，在220kV CVT 母線接地情況下，對C11 可進行不拆線10kV 反接線介損測量

10、具有測(ce)量高電(dian)壓(ya)介損功能，能夠使用高壓(ya)變(bian)壓(ya)器或串聯諧(xie)振進行(xing)超過10kV電壓的介損(sun)試驗。

12、接(jie)(jie)地保護功(gong)能，當儀器不接(jie)(jie)地線(xian)或接(jie)(jie)地**時(shi)，儀器不進(jin)入(ru)正常程序，不輸(shu)出高壓。過流保護功(gong)能，在試品短(duan)路或擊穿(chuan)時(shi)儀器不受損壞(huai)。

13、觸電保護功(gong)能，當儀器操(cao)作人員(yuan)不小心(xin)觸電時(shi)候(hou)，儀器會立即切斷高壓，保障試驗人員(yuan)的(de)**.

五(wu)、WBJS8000GCVT介(jie)損測試儀技術指(zhi)標

準確度：

Cx: ±（讀數×1%+1pF）

tgδ:  ±（讀數(shu)×1%+0.00040）

抗干擾(rao)指標：  變(bian)頻抗干擾，在200%干擾下仍(reng)能達到上述(shu)準確度

電容量范圍：  內(nei)施高壓：    3pF～60000pF/10kV    60pF～1μF/0.5kV

外施高壓：    3pF～1.5μF/10kV         60pF～30μF/0.5kV

分辨率：      *高0.001pF，4位有效數(shu)字

tgδ范圍：     不(bu)限，分辨率0.001%，電(dian)容(rong)、電(dian)感、電(dian)阻三種試品(pin)自動識別。

試驗(yan)電流范(fan)圍(wei)：10μA～1A

內施高壓(ya)：    設定電壓范圍：0.5～10kV

*大輸出電流：200mA

升(sheng)降壓方式(shi)：連續平(ping)滑調節(jie)

試驗頻率(lv)： 45、50、55、60、65Hz單(dan)頻

45/55Hz、55/65Hz、47.5/52.5Hz自動雙變頻(pin)

頻(pin)率精度：±0.01Hz

外施高壓：正接線時*大試驗電流1A，工頻或變頻40-70Hz

反接線(xian)時*大試驗電流10kV/1A，工(gong)頻或變(bian)頻40-70Hz

CVT自激法(fa)低壓輸(shu)(shu)出(chu)：輸(shu)(shu)出(chu)電壓3～50V，輸出電流3～30A

CVT變比測量：

變比測量(liang)精度：±讀數×1%     變(bian)比測量范圍：10～99999

相位測量(liang)精度：±0.1°           相位測量范圍(wei)：0～359.9°

測量時(shi)間：    約40s，與(yu)測(ce)量方式有關

輸入電源：    180V～270VAC，50Hz±1%，市(shi)電(dian)(dian)(dian)或發電(dian)(dian)(dian)機(ji)供電(dian)(dian)(dian)

計(ji)算機接口：  標(biao)準RS232接口

打印機(ji)：         煒煌A7熱敏微(wei)型(xing)打印機

環(huan)境溫度(du)：    -10℃～50℃

相(xiang)對濕度：    <90%

外形(xing)尺寸：460×360×350mm

儀器重量(liang)：28kg

六、測量方式及原理(li)

按被測試品是(shi)否接(jie)(jie)地分兩(liang)種測量(liang)方式(shi)，即正(zheng)接(jie)(jie)線測量(liang)方式(shi)和反接(jie)(jie)線測量(liang)方式(shi)。兩(liang)種測量(liang)方式(shi)的原理如(ru)圖一所示：

在高壓電(dian)(dian)源(yuan)的(de)(de)10kV側，高壓分兩(liang)路，一路給機內(nei)標準電(dian)(dian)容CN，此(ci)電(dian)(dian)容介損非常小(xiao)，可(ke)以認為(wei)介損為(wei)零，即為(wei)純容性(xing)電(dian)(dian)流(liu)，此(ci)電(dian)(dian)流(liu)ICN 可(ke)做為(wei)容性(xing)電(dian)(dian)流(liu)基(ji)準。在Cx試品一側，試品電(dian)(dian)流(liu)Icx通(tong)過采樣(yang)電(dian)(dian)阻(zu)R采入機內(nei)，此(ci)Icx可(ke)分解(jie)成水平分量(liang)和垂(chui)直分量(liang)見圖(tu)二所示，通(tong)過計算水平分量(liang)與垂(chui)直分量(liang)的(de)(de)比值(zhi)即可(ke)得到tgδ值(zhi)。

在圖一（a）中(zhong)Cx為非接(jie)地(di)試(shi)品(pin)(pin)，試(shi)品(pin)(pin)電(dian)流Icx從(cong)試(shi)品(pin)(pin)末(mo)端進(jin)入(ru)采樣電(dian)阻R，得(de)到(dao)全電(dian)流值(zhi)，在圖一（b）中(zhong)Cx為接(jie)地(di)試(shi)品(pin)(pin)，機內Cx端直接(jie)接(jie)地(di)，電(dian)流Icx從(cong)試(shi)品(pin)(pin)高壓(ya)端到(dao)機內采樣電(dian)阻取得(de)全電(dian)流值(zhi)。

七(qi)、常見設備的接(jie)線方法(fa)

1．儀(yi)器引出端(duan)子說(shuo)明：

HV ——  儀器的(de)測(ce)量引線(xian)高(gao)壓端（帶危險電壓） 。

CX ——  正接(jie)線時(shi)試品電流輸入(ru)端。

——  儀(yi)器的接地端，使用時與大地可(ke)靠(kao)相接

2.參考接(jie)線

2.1正接(jie)線、內標準電容、內高壓（常規正接(jie)線）：

2.2反接(jie)線(xian)、內標準電容、內高(gao)壓（常規反接(jie)線(xian)）

2.3正接線、外(wai)標準電容、內高(gao)壓：

2.4反(fan)接線(xian)、外標準電(dian)容(rong)、內高壓：

2.5正接線、內標準電(dian)容、外(wai)高壓：

2.6反接線、內標準電容、外高壓：

2.7正接(jie)線、外標準電容(rong)、外高壓（高電壓介損）：

2.8反接線、外標準電容、外高壓：

2.9  CVT自激法測量(liang)：

CVT自(zi)激法可(ke)按下圖接線。如果(guo)C1是單節電容(rong)(rong)，母(mu)線不能(neng)接地(di)；如果(guo)C1是多節電容(rong)(rong)，母(mu)線可(ke)接地(di)，C11和C12可(ke)用常規正(zheng)反接線測量，C13和C2用自(zi)激法測量。

CVT自激法測(ce)量中，儀器先測(ce)量C1，然(ran)后(hou)自動倒線(xian)測(ce)量C2，并自動校(xiao)準(zhun)分(fen)壓影響。

應注(zhu)意(yi)，高(gao)壓線應懸空不能接(jie)(jie)觸地面，否則其對地附加介損會引(yin)起誤差，可用(yong)細電纜(lan)連接(jie)(jie)高(gao)壓插(cha)座與CVT試品并吊起。強烈建議使用(yong)(yong)高壓(ya)插(cha)座(zuo)使用(yong)(yong)的高壓(ya)線(xian)用(yong)(yong)黑色Cx線。

2.10 CVT變比測試

儀器高壓線的芯(xin)線紅夾子(zi)接(jie)CVT的上(shang)端，母線拆地。CVT下端接地(di)，低壓線(xian)紅黑夾子接二次繞組，注意(yi):如果測試角度接近(jin)180度，應將紅黑(hei)夾子(zi)顛倒。

3.附(fu)加功能

3.1光標(biao)在 電壓：10kV上面時候，按“確認(ren)”鍵在儀器屏幕(mu)的(de)左下角會出(chu)現(xian)圖標(biao)，代(dai)(dai)表(biao)測(ce)試(shi)結(jie)束(shu)自動(dong)打(da)印(yin)(yin)。如(ru)果(guo)再按(an)確認鍵(jian)，圖標(biao)消失，代(dai)(dai)表(biao)測(ce)試(shi)結(jie)束(shu)必須(xu)手動(dong)才(cai)能打(da)印(yin)(yin)。

3.2光標在 反接(jie)(jie) 上面時(shi)候(hou)，在反接(jie)(jie)線(xian)，內Cn，內Un，情況下(xia)，按(an)確認鍵在儀器屏幕右下(xia)角會出現圖標(biao)，代(dai)表反(fan)接線低(di)壓屏蔽(bi)測試。如果再按確認鍵(jian)，圖標(biao)消失，代(dai)表取消反(fan)接線低(di)壓屏蔽(bi)。

反接線低(di)壓屏蔽功能，一次接線可同時測出(chu)C1和C2的電容量和介損

在反(fan)接線、內標(biao)準和內高(gao)壓方式，光標(biao)移到“反接”處，按(an)“確認”右(you)下(xia)角(jiao)顯示“M”。

打開反(fan)接線(xian)(xian)低壓屏蔽，可(ke)(ke)在上端電(dian)容(rong)C1不拆母線(xian)(xian)的情(qing)況下(xia)，對(dui)其進行(xing)不拆線(xian)(xian)10kV反(fan)接線(xian)(xian)介損測量。如(ru)下(xia)圖(tu)所示(shi)：母線(xian)(xian)掛(gua)地(di)線(xian)(xian)，C1上端不拆線(xian)(xian)，C1下(xia)端接高壓線(xian)(xian)芯(xin)線(xian)(xian)，C2末端接Cx芯(xin)線(xian)(xian)。儀器采用反(fan)接線(xian)(xian)/10kV/M測量方式，可(ke)(ke)同時(shi)測出C11和(he)下(xia)端屏蔽部(bu)分的電(dian)容(rong)量和(he)介損值。

3.3光標在 正接 上(shang)面(mian)時候(hou)，按確認鍵則(ze)測試(shi)打印機，換紙。

3.4光標(biao)在 啟(qi)動 上面時(shi)候(hou)，按減小鍵則代表取出(chu)存儲(chu)的數據。

3.5測試完畢，如果按減小鍵，則代表存(cun)儲(chu)測試的數據

八(ba)、功(gong)能(neng)簡介(jie)

儀器面板見圖九所示(shi)：

打印(yin)機——打印(yin)測量數據。

顯示器——128×64點陣液(ye)晶顯示器，顯示菜單和(he)各種提(ti)示信息(xi)及測量結果(guo)。

  鍵——選(xuan)擇菜單項，被選(xuan)中項反(fan)白(bai)字體顯示。

▲  鍵——修改菜單內容，采(cai)用循(xun)環滾動方式。

▼ 鍵——修改菜(cai)單內容，采用循環滾動(dong)方(fang)式。

確認(ren)鍵(jian)——在“測試”選(xuan)項上按此鍵(jian)進入測試狀(zhuang)態。

電源開關——整機電源的開啟和關閉(bi)。

電源座(zuo)——交流(liu)220V±10%，50±1Hz電源輸(shu)入(ru)口(kou)，帶保險倉。

9．自激法(fa)電流輸出(chu)端——測量(liang)CVT的專用端子。

10．地(di)——為接地(di)線接線端子。

11．CX插座——是試品信號的(de)測(ce)量輸入(ru)端，正接(jie)線時由專用(yong)低(di)壓電纜連接(jie)，此電纜單層屏蔽(bi)帶特制鱷魚夾，長8m，接試品低端。反接線時此(ci)端空置。

12．CN插座(zuo)——是外標準電(dian)容信號的測(ce)量輸入端(duan)(duan)，使用(yong)內標準時此端(duan)(duan)空置。

13．HV插座——高(gao)壓引(yin)出端(duan)子，由高(gao)壓電纜(lan)連接，接試(shi)品高(gao)壓端(duan)。輸出10kv高(gao)壓。

14．RS-232接口，用來連接電(dian)腦，上(shang)傳數據。

九、儀器操作(zuo)步驟

1．測(ce)量(liang)前準(zhun)備：

1）用接(jie)地線(xian)一端(duan)接(jie)儀器(qi)(qi)的接(jie)地柱，另(ling)一端(duan)接(jie)可靠的大地，保證儀器(qi)(qi)外(wai)殼處在地電(dian)位上。

2）正(zheng)接線時(shi)：將高壓(ya)電纜插頭插入后門HV插(cha)座中(zhong)，將另一端的(de)紅色(se)大鉗子(zi)夾到被測試(shi)品的(de)**引線上，黑色(se)小(xiao)鉗子(zi)懸空或夾在紅色(se)大鉗子(zi)上。將CX低壓電纜插入(ru)CX插座中，另(ling)一端的紅(hong)色夾子夾試品(pin)的低端，黑色夾子懸空或接屏(ping)蔽裝置。

3）反接(jie)線時：將(jiang)高壓電纜插頭插入(ru)后門HV插座中，將另一端的(de)紅色(se)大鉗子(zi)夾到被(bei)測試品的(de)**引線上，紅色(se)小(xiao)鉗子(zi)懸空或接(jie)屏蔽裝置。Cx插(cha)座不用。

2．打(da)開(kai)電源開(kai)關(guan)，儀器進行(xing)自檢(jian)，若自檢(jian)良好，液晶屏顯示(shi)中文(wen)主菜單如

圖十所(suo)示。

3．菜單選(xuan)擇：

按鍵可(ke)移(yi)動光標至各菜單項(xiang)，并循環指(zhi)示(shi)。被(bei)選中項(xiang)反白字體顯示(shi)。選擇鍵的流程見圖十一所(suo)示(shi)。

在(zai)光標(biao)當前所示項目，按(an)▼ ▲鍵鍵可進行該項菜單(dan)的變更，并循環(huan)指示，流程見圖(tu)十二所示。

將(jiang)菜(cai)單變更(geng)至與(yu)測試(shi)要求相對應(ying)后即可(ke)按選擇鍵進行下個項目(mu)的選擇。

4、 頻(pin)率：光標在頻(pin)率上，按↑↓鍵(jian)選擇定頻(pin)和變頻(pin)：

光標(biao)在定(ding)頻上：按住“啟停”鍵1s以上(shang)切換到(dao)全頻率選擇，按↑↓鍵(jian)循環顯示45Hz / 47.5Hz / 50Hz / 52.5Hz / 55Hz / 60Hz / 65Hz

工頻50Hz測(ce)量(liang)，此設置不能抗(kang)干擾，在試驗室內測(ce)量(liang)或(huo)校驗時選(xuan)用(yong)50Hz，“45/47.5/55/52.5/60/65Hz”：為單頻率測量，研究不同頻率下介(jie)損(sun)的(de)變(bian)化時(shi)選用。

光標在變頻上：按住“啟(qi)停”鍵(jian)1s以上切(qie)換到全頻率選擇，按↑↓鍵循環顯(xian)示5-Hz / 6-Hz / 4-Hz”：

“5-Hz”：為45/55Hz自(zi)動變頻，適合50Hz電網(wang)工頻(pin)干擾下測量。

“6-Hz”：為(wei)55/65Hz自動變頻，適合60Hz電網(wang)工頻干擾(rao)下測量。

“4-Hz”：為47.5/52.5Hz自動變頻，適(shi)合50Hz電網工頻干擾下(xia)測量。

5、測試：當光標在 測試 項(xiang)目上時，按確認(ren)鍵(jian)大(da)約3秒鐘開始(shi)測(ce)試。測(ce)試過程中顯示(shi)(shi)的畫面(mian)如圖十三（正接線，變頻）所(suo)示(shi)(shi)，當下面(mian)的進程到100%時候(hou)測(ce)(ce)試完(wan)畢，然后顯(xian)示(shi)測(ce)(ce)量結果(guo)見(jian)圖十四所示(shi)，此時光標指示(shi)打印機圖標，按(an)確認鍵打印報告(gao)。測(ce)(ce)量結果(guo)的意義(yi)如下：

tgδ： 試(shi)品的損耗因(yin)數(shu)tgδ值(zhi)

CX： 測量的(de)電(dian)容(rong)值

V：施加電壓(ya)值

I：試品流(liu)(liu)過的電流(liu)(liu)

F1,F2 : 試驗(yan)頻率

打(da)印結束(shu)后，關閉電源開關，測試完畢。

十、現場(chang)試驗注意事項

如(ru)果使用中出現測試數(shu)據(ju)明顯不(bu)合理(li)，請從以下方面查找原(yuan)因：

1、搭鉤接觸**

現場測量使用搭鉤(gou)連接試品時，搭鉤(gou)務必與試品接觸(chu)(chu)良好，否(fou)則(ze)接觸(chu)(chu)點放(fang)電(dian)會引(yin)起數(shu)據嚴重波(bo)動！尤(you)其是引(yin)流(liu)線(xian)氧化層太(tai)厚，或風吹線(xian)擺動，易造成接觸(chu)(chu)**。

2、接地接觸**

接地(di)**會引(yin)起儀器保護或(huo)數據嚴重波動(dong)。應刮凈接地(di)點上的(de)油漆和銹(xiu)蝕，務必保證0電阻接地！

3、直接(jie)測(ce)量CVT或末端屏(ping)蔽法測量電磁(ci)式PT

直接測量CVT的下節耦合電容(rong)會出現負介損，應改用(yong)自(zi)激法(fa)。

用末端(duan)屏蔽法測(ce)量(liang)電磁(ci)式PT時，由于(yu)受潮引起“T形網絡干擾”出現(xian)負介損，吹干下面(mian)三裙(qun)瓷套和接(jie)線端子盤即可。也(ye)可改(gai)用常規法或末(mo)端加壓法測(ce)量。

4、空(kong)氣濕度過大

空氣濕度(du)大(da)使介損測量值異常增大(da)（或減小(xiao)甚(shen)至為(wei)負）且不(bu)穩(wen)定，必要時可(ke)加屏蔽環。因人(ren)為(wei)加屏蔽環改變了試品電場分布，此法(fa)有爭(zheng)議，可(ke)參照有關規(gui)程。

5、發電機(ji)供(gong)電

發電機供(gong)電時輸入頻(pin)(pin)率(lv)不穩定，可采(cai)用定頻(pin)(pin)50Hz模(mo)式工作。

6、測試線

由(you)于長期使用，易(yi)造成(cheng)測(ce)試線隱(yin)性斷路(lu)，或芯線和屏蔽短路(lu)，或插頭接觸**，用戶應經常維護測(ce)試線；

測試標(biao)準(zhun)電(dian)(dian)容試品時(shi)，應使用(yong)全(quan)屏蔽插頭連接，以消除附(fu)加雜散電(dian)(dian)容影響(xiang)，否則(ze)不能反映出儀器精度；

自激法測(ce)量CVT時，非專用的高壓線應吊起(qi)懸空，否則對地(di)附加雜散電容(rong)和介(jie)損會(hui)引起(qi)測量誤差(cha)。

7、工作模(mo)式(shi)選擇

接好線后請選(xuan)擇正確的測量(liang)工(gong)作模(mo)式（正、反和(he)CVT），不(bu)可選錯。特別是干(gan)擾環境下應選用(yong)變(bian)頻抗干(gan)擾模(mo)式。

8、試驗方法(fa)影響

由于介(jie)損測量(liang)受試驗方(fang)法影響較大，應區(qu)分是(shi)試驗方(fang)法誤差還是(shi)儀器(qi)誤差。出現問(wen)題(ti)時(shi)可首先檢(jian)查接(jie)線，然(ran)后檢(jian)查是(shi)否為儀器(qi)故障。

9、儀器故障

用萬用表(biao)測量一下測試(shi)線(xian)(xian)是否斷路，或芯線(xian)(xian)和(he)屏蔽是否短路；輸(shu)入電源220V過高或過低(di)；接地是否良好。

用正、反接線(xian)測一下標準電容器或已知(zhi)容量和介損的(de)電容試品，如果(guo)結果(guo)正確(que)，即可判斷儀器沒有問題；

拔(ba)下所有(you)測試導線，進行空試升壓，若(ruo)不(bu)能正常工作，儀器可能有(you)故障。

啟動(dong)CVT測量后測量低壓輸出，應出現2～5V電壓，否則儀(yi)器有故障。

十(shi)一、 儀器檢定

1、用(yong)標準損耗器檢(jian)定

用帶(dai)插頭的屏蔽(bi)電纜(lan)連接(jie)標準(zhun)損(sun)耗器。如果不能保(bao)證標準(zhun)損(sun)耗器的精度(du)，應(ying)使(shi)用比對法檢(jian)定(ding)，建議用2801電(dian)(dian)橋(qiao)或其(qi)它精密(mi)電(dian)(dian)橋(qiao)作(zuo)比對(dui)標準。儀器應(ying)選用“內標(biao)準”和(he)“RC串聯試品”，可選擇工頻 50Hz或(huo)定頻50Hz頻率模(mo)式。

2、用QSJ3檢定(ding)：使用帶插頭的(de)屏(ping)蔽電纜連(lian)接QSJ3，選擇“正接/ 外Cn / 外Un式測(ce)量，電流比為Cx∶Cn，Cn可(ke)置入適當值。

3、抗(kang)干擾能力

設置一個回(hui)路(lu)向儀器注入定量(liang)的干擾電(dian)流。

注意(yi)：

1）應考慮(lv)到該回路可能成為試品的一部分。

2）儀器啟動(dong)后會使220V供電電路(lu)帶有測量(liang)(liang)(liang)頻率分量(liang)(liang)(liang)，如果(guo)該頻率分量(liang)(liang)(liang)又通過干(gan)擾電流進(jin)入儀器，則無法檢驗儀器的抗干(gan)擾能力(li)。

3）不建議(yi)用臨近高(gao)壓導體施加干擾(rao)，因為這樣(yang)很(hen)容易(yi)產(chan)生近距離**放(fang)電(dian)，這種放(fang)電(dian)電(dian)阻(zu)是非線性的，容易(yi)產(chan)生同頻干擾(rao)。

十二、變頻測(ce)量討論

1、變頻測(ce)量

干擾十分嚴重時，變頻測量(liang)能得(de)到準確(que)可靠的結(jie)果。例如用55Hz測量(liang)時，測量(liang)系統只(zhi)允許55Hz信號通(tong)過，50Hz干擾信號被(bei)有效抑制，原(yuan)因在于測量(liang)系(xi)統很容易區(qu)別不同頻率(lv)，由下述簡單(dan)計算可(ke)以說明(ming)選頻測量(liang)的效果(guo)：

兩個(ge)頻(pin)率相差1倍的正弦波疊加到一起，高頻的是(shi)干擾(rao)，幅(fu)度為低頻的10倍：

這剛好是低頻部(bu)分(fen)的相位和幅度(du)，干擾被抑制。實際波形的測量(liang)點(dian)多達數萬(wan)，計算量(liang)很大(da)，結果(guo)反映(ying)了波形的整體特征。

2、頻率和(he)介損的關系(xi)

介損(sun)有RC串(chuan)聯和并聯兩種理想模型：串(chuan)聯模型tgδ=2πfRC，并聯(lian)模(mo)型tgδ=1/(2πfRC)，tgδ分別隨頻率(lv)f成正比和反比。如圖所示，f對完全(quan)正比和完全(quan)反比兩種(zhong)模型影響較大。但實際電容器是多種(zhong)模型交織的混合模型，此時(shi)f的影響就小(xiao)。

3、自動變頻與50Hz等效(xiao)

儀器采用自動變頻(pin)在干擾(rao)頻(pin)率50Hz兩側（45Hz和(he)55Hz）各測一個(ge)點，然(ran)后推算50Hz頻(pin)(pin)率(lv)下數(shu)據。除多個(ge)元(yuan)件電路的(de)低(di)頻(pin)(pin)諧振外，單(dan)個(ge)試品中的(de)介質(zhi)不(bu)可能在低(di)頻(pin)(pin)引起能量吸收峰，工頻(pin)(pin)附近介損(sun)(sun)(sun)總是隨(sui)頻(pin)(pin)率(lv)單(dan)調(diao)變(bian)化的(de)。因此(ci)這(zhe)種(zhong)測量方法不(bu)會帶來明顯誤(wu)差。實際上，平均前的(de)兩個(ge)介損(sun)(sun)(sun)值已十分接(jie)近，即使不(bu)平均也(ye)完全有參考價值。目前，變(bian)頻(pin)(pin)介損(sun)(sun)(sun)儀已成為介損(sun)(sun)(sun)測量的(de)常規儀器，其優異的(de)抗干擾能力和準(zhun)確度已經得(de)到認(ren)可。

十三、儀器的裝箱(xiang)清單