一、WBJS8000G異頻介質(zhi)損耗測試儀概述

介損測量(liang)是(shi)絕緣試驗中很基(ji)本(ben)的(de)方(fang)法(fa)，可以有效地發現電器(qi)設備(bei)絕緣的(de)整體受潮劣化變質(zhi)，以及局部缺(que)陷等(deng)。在(zai)電工制造、電氣設備(bei)安裝、交接和預防(fang)性試驗中都廣泛應(ying)用。變壓器(qi)、互(hu)感器(qi)、電抗器(qi)、電容(rong)器(qi)以及套管、避(bi)雷器(qi)等(deng)介損的(de)測量(liang)是(shi)衡量(liang)其絕緣性能(neng)的(de)*基(ji)本(ben)方(fang)法(fa)。LYJS9000F變頻(pin)介質損耗測試(shi)儀突破了傳統的(de)電橋(qiao)測量方(fang)式，采用(yong)(yong)變頻(pin)電源(yuan)技術，利用(yong)(yong)單片機、和(he)現代化電子技術進行自動頻(pin)率變換、模/數轉換和數據運(yun)算；達(da)到抗干擾能力強、測試(shi)速度快、精度高、全(quan)自動數字化、操作簡(jian)便；電源(yuan)采用(yong)大功率開(kai)關(guan)電源(yuan)，輸(shu)出45Hz和55Hz純正弦波，自動加壓，可提供*高10千伏的(de)電壓；自動濾(lv)除(chu)50Hz干(gan)擾，適(shi)(shi)用于變電站等電磁(ci)干(gan)擾大的現場測試。廣(guang)泛適(shi)(shi)用于電力行業中變壓器、互感(gan)器、套管、電容器、避雷器等設(she)備的介(jie)損(sun)測量。

二、WBJS8000G異頻(pin)介質損耗測(ce)試儀**措施

1、使用本儀器(qi)前(qian)一定要認真閱讀本手冊。

2、儀(yi)(yi)器的操作(zuo)者應(ying)具備(bei)(bei)一般電氣設備(bei)(bei)或儀(yi)(yi)器的使(shi)用常(chang)識。

3、本儀器戶內外均(jun)可使(shi)用，但應(ying)避開雨淋、腐蝕氣體、塵埃(ai)過(guo)濃、高溫(wen)、陽光直(zhi)射等場所使(shi)用。

儀表應避(bi)免劇烈(lie)振(zhen)動。

5、對(dui)儀器的維修、護(hu)理(li)和調整應由(you)專業人(ren)員進行。

6、在(zai)任何接(jie)線(xian)之前必須用接(jie)地電(dian)纜把儀(yi)器接(jie)地端子與大地可(ke)靠連接(jie)起(qi)來。

7、由(you)于測(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)設備產生高電壓(ya)(ya)，所以測(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)人(ren)員必須完全嚴格遵守(shou)**操作規程，防止(zhi)他(ta)人(ren)接觸(chu)高壓(ya)(ya)部件和電路(lu)(lu)。直(zhi)接從事測(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)的人(ren)員必須完全了解高壓(ya)(ya)測(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)線路(lu)(lu)，及儀器操作要(yao)點。非從事測(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)人(ren)員必須遠離高壓(ya)(ya)測(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)區(qu)，測(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)區(qu)必須用柵欄或繩索、警視牌等清楚表示(shi)出來(lai)。

8、儀器(qi)的調整(zheng)維修和維護(hu)，必(bi)須在不加(jia)電情況下(xia)進行，如果必(bi)須加(jia)電，則操作者必(bi)須非常熟悉本儀器(qi)高壓危險部件。

9、保險(xian)(xian)管損壞(huai)時，必須確(que)保更換同(tong)樣的保險(xian)(xian)，禁止更換不(bu)同(tong)型號保險(xian)(xian)或將(jiang)保險(xian)(xian)直接短路(lu)使用。

儀器出現故障(zhang)時，關閉電源開(kai)關，等待一分鐘之后再檢查。

三、WBJS8000G異頻介質損耗測(ce)試儀可(ke)測試參數

儀器可測量下列參數(shu)并數(shu)字顯(xian)示：

被測試(shi)品的電容量值(zhi)CX，以pF或(huo)nF為(wei)單位，1nF=1000pF。

被測試品(pin)的介質損耗值tgδ，以%顯(xian)示。

四、WBJS8000G異(yi)頻(pin)介質損耗測(ce)試儀性能特點

1、儀器采(cai)用(yong)復數電流(liu)法，測(ce)(ce)量(liang)電容、介(jie)質損耗及其(qi)它(ta)參數。測(ce)(ce)試結果精度高，便于實(shi)現自動化測(ce)(ce)量(liang)。

2、儀器采用了變頻(pin)技術來(lai)消除(chu)現(xian)場50Hz工頻干擾，即使在強電(dian)磁干擾的(de)環境下也能測得可(ke)靠的(de)數據。

3、儀器采用(yong)大屏幕液晶顯(xian)示(shi)器，測試過程通過漢(han)字菜單提示(shi)既(ji)直觀(guan)又便于操作。

4、儀器操作簡便，測(ce)量(liang)過程由微處理(li)器控制，只(zhi)要選擇好合適的測(ce)量(liang)方式，數據的測(ce)量(liang)就可(ke)在微處理(li)器控制下自動(dong)完成。

5、一體化機型，內附標準電容和高(gao)壓(ya)電源(yuan)，便于現場測(ce)試，減少現場接線(xian)。

6、儀器測量(liang)準確度(du)高(gao)，可滿足油介損(sun)(sun)測量(liang)要求，因此(ci)只需配備標準油杯(bei)，和專用測試線即可實現油介損(sun)(sun)測量(liang)。

7、設CVT測(ce)試(shi)功(gong)能(neng)，可實(shi)現CVT的自(zi)激(ji)法測(ce)試，無(wu)需(xu)外置附件(jian)，只(zhi)需(xu)一次測(ce)量(liang)，C1,C2的電容和介損全部測出(chu)。

8、反(fan)接線測試采用ivddv技術,消除了以往(wang)反接線數據不穩定(ding)的現象。

9、具有反接(jie)線低(di)壓屏(ping)蔽功(gong)能(neng)，在(zai)220kV CVT 母(mu)線接地情(qing)況下，對C11 可進行不拆線10kV 反接線介(jie)損測量

10、具有測量(liang)高電壓介(jie)損功(gong)能，能夠(gou)使用高壓變壓器(qi)或串聯諧振進行超(chao)過10kV電壓的(de)介(jie)損試驗。

12、接(jie)地(di)保(bao)護(hu)(hu)功能，當儀(yi)器不(bu)接(jie)地(di)線或接(jie)地(di)**時(shi)(shi)，儀(yi)器不(bu)進入正常程(cheng)序，不(bu)輸出高壓。過流保(bao)護(hu)(hu)功能，在試品(pin)短路或擊穿時(shi)(shi)儀(yi)器不(bu)受(shou)損壞。

13、觸電保(bao)護功能，當(dang)儀器操(cao)作(zuo)人(ren)員不(bu)小心(xin)觸電時(shi)候，儀器會(hui)立即切斷高壓，保(bao)障試驗人(ren)員的**.

五、WBJS8000G異(yi)頻介質(zhi)損耗測試儀技(ji)術指標(biao)

準確度：

Cx: ±（讀數(shu)×1%+1pF）

tgδ:  ±（讀數(shu)×1%+0.00040）

抗干擾指標：  變頻抗干擾，在200%干擾下仍能達到上述準確(que)度

電(dian)容量范(fan)圍：  內施高壓：    3pF～60000pF/10kV    60pF～1μF/0.5kV

外施高壓：    3pF～1.5μF/10kV     ;    60pF～30μF/0.5kV

分辨率：      *高0.001pF，4位有效數字

tgδ范(fan)圍：     不限，分(fen)辨率0.001%，電容(rong)、電感(gan)、電阻三(san)種試品自動識別。

試(shi)驗電流范圍：10μA～1A

內(nei)施(shi)高壓：    設定電壓范圍：0.5～10kV

*大輸出電流：200mA

升降壓(ya)方(fang)式(shi)：連續(xu)平滑調節

試驗頻率： 45、50、55、60、65Hz單頻

45/55Hz、55/65Hz、47.5/52.5Hz自(zi)動(dong)雙變頻

頻率精度：±0.01Hz

外施高壓：正接線時*大試驗電流1A，工(gong)頻或(huo)變頻40-70Hz

反接線時(shi)*大試驗(yan)電流10kV/1A，工頻或變頻40-70Hz

CVT自激法低壓(ya)輸(shu)出(chu)：輸(shu)出(chu)電壓(ya)3～50V，輸(shu)出電(dian)流3～30A

CVT變比測量：

變比測量精度：±讀數×1%     變(bian)比測量(liang)范圍：10～99999

相位測量精度：±0.1°           相(xiang)位測(ce)量范圍(wei)：0～359.9°

測量(liang)時間(jian)：    約40s，與測量方式(shi)有(you)關

輸入電源(yuan)：    180V～270VAC，50Hz±1%，市電或發電機供電

計(ji)算機接口：  標(biao)準RS232接口

打印機：         煒煌(huang)A7熱(re)敏微型打印機

環境溫度：    -10℃～50℃

相對濕(shi)度：    <90%

外形尺寸(cun)：460×360×350mm

儀器(qi)重量：28kg

六、測量方式及原理

按被測試品是否(fou)接(jie)地分(fen)兩種測量(liang)方式，即(ji)正接(jie)線測量(liang)方式和反接(jie)線測量(liang)方式。兩種測量(liang)方式的原理如(ru)圖一所示：

在高壓電(dian)源(yuan)的10kV側(ce)，高壓分(fen)兩路，一(yi)路給機內標(biao)準電(dian)容(rong)(rong)CN，此(ci)電(dian)容(rong)(rong)介損非(fei)常小(xiao)，可(ke)以認為介損為零，即為純容(rong)(rong)性電(dian)流(liu)，此(ci)電(dian)流(liu)ICN 可(ke)做為容(rong)(rong)性電(dian)流(liu)基準。在Cx試品一(yi)側(ce)，試品電(dian)流(liu)Icx通過采(cai)樣電(dian)阻R采(cai)入(ru)機內，此(ci)Icx可(ke)分(fen)解成(cheng)水平(ping)分(fen)量和垂直(zhi)分(fen)量見圖(tu)二所示(shi)，通過計(ji)算水平(ping)分(fen)量與垂直(zhi)分(fen)量的比值(zhi)即可(ke)得到tgδ值(zhi)。

在圖一（a）中(zhong)(zhong)Cx為非接(jie)地(di)試(shi)品(pin)(pin)，試(shi)品(pin)(pin)電(dian)(dian)流(liu)Icx從試(shi)品(pin)(pin)末端進(jin)入采(cai)樣電(dian)(dian)阻R，得(de)到(dao)全電(dian)(dian)流(liu)值，在圖一（b）中(zhong)(zhong)Cx為接(jie)地(di)試(shi)品(pin)(pin)，機內Cx端直(zhi)接(jie)接(jie)地(di)，電(dian)(dian)流(liu)Icx從試(shi)品(pin)(pin)高(gao)壓端到(dao)機內采(cai)樣電(dian)(dian)阻取得(de)全電(dian)(dian)流(liu)值。

七、常見設(she)備的接線方(fang)法(fa)

1．儀(yi)器引出端子說明：

HV ——  儀器(qi)的測量(liang)引線(xian)高(gao)壓端(duan)（帶危險電(dian)壓） 。

CX ——  正接線時試品(pin)電流輸(shu)入端。

——  儀器的接(jie)地端(duan)，使用(yong)時與大(da)地可靠相接(jie)

2.參考(kao)接線

2.1正接線、內(nei)標準電(dian)容(rong)、內(nei)高(gao)壓（常規正接線）：

2.2反接線(xian)、內標準電(dian)容、內高(gao)壓（常規反接線(xian)）

2.3正接線、外標準電(dian)容、內高壓：

2.4反(fan)接線、外標準電容、內高壓：

2.5正接線、內(nei)標準電(dian)容、外高(gao)壓：

2.6反(fan)接線、內標準電(dian)容(rong)、外高壓：

2.7正接線、外標(biao)準(zhun)電容、外高壓（高電壓介損）：

2.8反接(jie)線、外標準電容(rong)、外高壓：

2.9  CVT自激法(fa)測量：

CVT自激法可按(an)下圖(tu)接線(xian)(xian)。如果(guo)C1是(shi)單節(jie)電容(rong)，母線(xian)(xian)不能(neng)接地；如果(guo)C1是(shi)多節(jie)電容(rong)，母線(xian)(xian)可接地，C11和(he)C12可用(yong)常規(gui)正(zheng)反接線(xian)(xian)測(ce)量(liang)，C13和(he)C2用(yong)自激法測(ce)量(liang)。

CVT自(zi)(zi)激法(fa)測量(liang)(liang)中(zhong)，儀器(qi)先(xian)測量(liang)(liang)C1，然后自(zi)(zi)動倒線測量(liang)(liang)C2，并(bing)自(zi)(zi)動校準分壓影響(xiang)。

應(ying)(ying)注(zhu)意，高(gao)壓線應(ying)(ying)懸(xuan)空不能接觸地(di)面(mian)，否則其對地(di)附加介(jie)損會引起(qi)誤差，可用(yong)細電纜連接高(gao)壓插(cha)座與(yu)CVT試品并吊起。強烈建議使用高(gao)(gao)壓插座使用的高(gao)(gao)壓線用黑色Cx線。

2.10 CVT變比測試

儀(yi)器高(gao)壓線的(de)芯線紅(hong)夾子接CVT的上端(duan)，母線(xian)拆(chai)地。CVT下(xia)端(duan)接(jie)(jie)地，低(di)壓(ya)線紅黑夾子接(jie)(jie)二次(ci)繞組，注(zhu)意(yi):如果測試角度(du)接近180度，應將紅黑夾子顛(dian)倒。

3.附(fu)加(jia)功(gong)能

3.1光標在 電(dian)壓：10kV上面時候，按“確認(ren)”鍵在儀器屏(ping)幕的左下角會出(chu)現圖標，代表測(ce)試結束自動打印(yin)。如果再(zai)按確認鍵，圖標消失，代表測(ce)試結束必(bi)須手動才能打印(yin)。

3.2光標在 反接 上面(mian)時(shi)候，在反接線(xian)，內Cn，內(nei)Un，情況下(xia)，按(an)確認(ren)鍵在(zai)儀器屏幕右下(xia)角會(hui)出現圖(tu)標，代表(biao)反接(jie)線低壓(ya)屏(ping)蔽測(ce)試。如果再按確認鍵，圖(tu)標消(xiao)失，代表(biao)取(qu)消(xiao)反接(jie)線低壓(ya)屏(ping)蔽。

反接(jie)線(xian)低壓(ya)屏(ping)蔽(bi)功能，一次接(jie)線(xian)可同時(shi)測出(chu)C1和C2的電容量和(he)介損

在反接線、內標準和(he)內高壓方式，光(guang)標移到(dao)“反接”處，按(an)“確認”右下(xia)角顯(xian)示“M”。

打開反接(jie)(jie)線(xian)低壓(ya)屏(ping)蔽，可(ke)在上端(duan)電(dian)容C1不拆(chai)母線(xian)的(de)情況下(xia)(xia)，對其進行不拆(chai)線(xian)10kV反接(jie)(jie)線(xian)介損測(ce)量(liang)。如下(xia)(xia)圖(tu)所示：母線(xian)掛地(di)線(xian)，C1上端(duan)不拆(chai)線(xian)，C1下(xia)(xia)端(duan)接(jie)(jie)高壓(ya)線(xian)芯(xin)線(xian)，C2末端(duan)接(jie)(jie)Cx芯(xin)線(xian)。儀器采用反接(jie)(jie)線(xian)/10kV/M測(ce)量(liang)方式，可(ke)同時測(ce)出(chu)C11和(he)(he)下(xia)(xia)端(duan)屏(ping)蔽部分(fen)的(de)電(dian)容量(liang)和(he)(he)介損值。

3.3光標在 正接 上(shang)面時候，按確(que)認鍵則測試打印機，換(huan)紙。

3.4光標在 啟(qi)動(dong) 上面時候，按減小鍵則代表(biao)取出存儲的數據。

3.5測試完畢，如果按減小鍵(jian)，則代(dai)表存儲測試的(de)數(shu)據

八、功能簡(jian)介

儀器面板見圖九所(suo)示：

打(da)(da)印機(ji)——打(da)(da)印測量(liang)數據。

顯示(shi)器——128×64點(dian)陣(zhen)液晶顯示器，顯示菜單和各(ge)種(zhong)提示信息及(ji)測量結(jie)果。

  鍵——選擇菜(cai)單項，被選中項反白字體顯(xian)示。

▲  鍵——修改菜單內容，采用循環滾動方式。

▼ 鍵——修改菜單(dan)內容，采用循環滾動(dong)方式。

確認鍵——在“測試”選項(xiang)上按此鍵進入測試狀態(tai)。

電源(yuan)開關——整(zheng)機電源(yuan)的開啟和關閉。

電(dian)源(yuan)座——交流(liu)220V±10%，50±1Hz電源輸入口(kou)，帶保險倉。

9．自激法電流輸出端——測量CVT的專用端子。

10．地——為接地線接線端子。

11．CX插座(zuo)——是(shi)試品信(xin)號的(de)測量輸(shu)入(ru)端，正(zheng)接(jie)線時由專用低壓(ya)電(dian)纜連接(jie)，此電(dian)纜單層屏蔽(bi)帶特制鱷魚夾，長8m，接試(shi)品低端。反接線時此(ci)端空置。

12．CN插座——是外標準電(dian)容信(xin)號(hao)的(de)測量輸入(ru)端(duan)，使用內標準時此端(duan)空置。

13．HV插座——高(gao)(gao)壓(ya)引出(chu)端(duan)子(zi)，由(you)高(gao)(gao)壓(ya)電纜連(lian)接(jie)，接(jie)試品高(gao)(gao)壓(ya)端(duan)。輸出(chu)10kv高壓。

14．RS-232接(jie)口，用(yong)來(lai)連接(jie)電腦，上傳(chuan)數據。

九、儀器操作步驟

1．測量前準備：

1）用接地(di)線一端接儀(yi)器的(de)接地(di)柱，另(ling)一端接可靠的(de)大地(di)，保(bao)證儀(yi)器外殼處在地(di)電位上。

2）正接線時：將高壓電纜插(cha)(cha)頭插(cha)(cha)入后門HV插座中，將(jiang)(jiang)另一端的紅(hong)色大(da)鉗(qian)子夾到被(bei)測試品(pin)的**引(yin)線上，黑色小(xiao)鉗(qian)子懸空或(huo)夾在(zai)紅(hong)色大(da)鉗(qian)子上。將(jiang)(jiang)CX低(di)壓電纜插入CX插座中(zhong)，另(ling)一端的(de)紅色夾(jia)子夾(jia)試品的(de)低(di)端，黑色夾(jia)子懸空或接(jie)屏(ping)蔽(bi)裝(zhuang)置。

3）反接線時：將(jiang)高壓電(dian)纜插頭(tou)插入后(hou)門HV插座中，將另一(yi)端的(de)紅色大(da)鉗子夾(jia)到被測試品的(de)**引線(xian)上，紅色小鉗子懸空或(huo)接屏蔽裝置。Cx插座(zuo)不用。

2．打開(kai)電源開(kai)關，儀器進行自(zi)檢，若自(zi)檢良(liang)好，液晶(jing)屏(ping)顯示中文主菜單(dan)如

圖(tu)十所示。

3．菜(cai)單選擇：

按鍵可(ke)移動(dong)光標至各菜單項，并循環指示(shi)。被(bei)選中項反白字體(ti)顯示(shi)。選擇鍵的(de)流(liu)程見(jian)圖十一(yi)所(suo)示(shi)。

在光標當前所(suo)示項目，按▼ ▲鍵(jian)鍵(jian)可進行該(gai)項菜單的變更(geng)，并循環(huan)指示，流(liu)程見圖十二所(suo)示。

將菜單變更至與測試要(yao)求相對應(ying)后即可按選擇(ze)鍵進(jin)行下個項目的(de)選擇(ze)。

4、 頻率：光標在頻率上，按↑↓鍵(jian)選擇定頻和變頻：

光標在定頻上：按住“啟停”鍵1s以上(shang)切(qie)換到(dao)全(quan)頻率(lv)選擇，按↑↓鍵循環顯示(shi)45Hz / 47.5Hz / 50Hz / 52.5Hz / 55Hz / 60Hz / 65Hz

工頻50Hz測(ce)(ce)量(liang)，此設置(zhi)不能(neng)抗(kang)干擾，在試驗室內測(ce)(ce)量(liang)或(huo)校驗時選用50Hz，“45/47.5/55/52.5/60/65Hz”：為(wei)單頻率(lv)測量，研究不同頻率(lv)下介(jie)損的變(bian)化時選用(yong)。

光標在(zai)變(bian)頻(pin)上(shang)：按住“啟(qi)停”鍵1s以上(shang)切換到全頻率(lv)選(xuan)擇，按↑↓鍵循環顯示5-Hz / 6-Hz / 4-Hz”：

“5-Hz”：為45/55Hz自動變頻，適合50Hz電網工頻干擾下測(ce)量。

“6-Hz”：為(wei)55/65Hz自(zi)動變頻，適合60Hz電網工(gong)頻干(gan)擾(rao)下測(ce)量(liang)。

“4-Hz”：為47.5/52.5Hz自動變頻，適合50Hz電網工頻(pin)干擾下測量。

5、測試(shi)：當(dang)光標在 測試(shi) 項目上時，按(an)確認鍵大(da)約3秒鐘開始測試(shi)。測試(shi)過(guo)程(cheng)中顯(xian)示(shi)的畫面如圖十三（正接線，變頻）所示(shi)，當下面的進程(cheng)到100%時(shi)候測(ce)試完畢(bi)，然后顯示(shi)(shi)測(ce)量結果見圖十(shi)四所示(shi)(shi)，此時(shi)光標指示(shi)(shi)打(da)印(yin)(yin)機圖標，按確認鍵打(da)印(yin)(yin)報告。測(ce)量結果的(de)意義如(ru)下(xia)：

tgδ： 試品的損耗(hao)因數tgδ值

CX： 測量的電容(rong)值

V：施加電壓值

I：試(shi)品流過(guo)的電流

F1,F2 : 試(shi)驗頻(pin)率

打印結(jie)束后(hou)，關閉電源開關，測試完(wan)畢。

十、現場試(shi)驗注意事項

如果使用(yong)中(zhong)出現測試(shi)數(shu)據(ju)明顯不合理(li)，請從以下方面查找原因：

1、搭鉤接觸**

現(xian)場測量使用搭鉤連(lian)接(jie)試(shi)(shi)品時，搭鉤務必與試(shi)(shi)品接(jie)觸(chu)(chu)良好(hao)，否則接(jie)觸(chu)(chu)點放電會引(yin)起(qi)數據嚴重波(bo)動！尤(you)其是引(yin)流線氧化層太厚，或風(feng)吹線擺動，易造成接(jie)觸(chu)(chu)**。

2、接地接觸(chu)**

接地**會引(yin)起儀器保(bao)護或數據嚴重波動。應(ying)刮凈接地點上的油漆和(he)銹蝕，務(wu)必保(bao)證0電阻接地！

3、直接測量CVT或末端屏蔽法測量電(dian)磁式PT

直接測量CVT的下節耦合電容會出現負介損，應改用自激(ji)法。

用(yong)末端屏(ping)蔽法測(ce)量電磁式PT時，由于受潮(chao)引起“T形(xing)網(wang)絡干(gan)擾”出現負介損，吹干下面三裙瓷(ci)套和接線端子(zi)盤即可(ke)。也(ye)可(ke)改用常規(gui)法或末(mo)端加壓法測量。

4、空(kong)氣(qi)濕度過(guo)大(da)

空氣(qi)濕度大使介損測量值異(yi)常增大（或減小甚至為(wei)(wei)負）且不穩(wen)定，必要時(shi)可加屏蔽環。因人為(wei)(wei)加屏蔽環改變了試(shi)品電場分(fen)布(bu)，此法有爭(zheng)議，可參照有關規程。

5、發電(dian)機供電(dian)

發(fa)電機(ji)供電時(shi)輸(shu)入頻(pin)率不穩定，可采用定頻(pin)50Hz模(mo)式工作。

6、測試線(xian)

由于(yu)長期使用，易造成測(ce)試(shi)線(xian)隱性斷路，或(huo)芯線(xian)和屏蔽短路，或(huo)插頭接觸**，用戶應經常維護測(ce)試(shi)線(xian)；

測(ce)試(shi)標(biao)準電(dian)容試(shi)品(pin)時，應使用(yong)全屏蔽插頭連(lian)接(jie)，以消(xiao)除附(fu)加雜散(san)電(dian)容影響(xiang)，否則不能反映出儀器精度；

自激法測量CVT時，非(fei)專用(yong)的(de)高壓(ya)線應吊起(qi)懸空，否則對地(di)附加雜散電容和介損會引起(qi)測(ce)量誤差。

7、工作模式選擇

接好線后(hou)請選擇正(zheng)確的測(ce)量(liang)工(gong)作模式(shi)（正(zheng)、反(fan)和CVT），不可選錯。特別是干擾(rao)環(huan)境下應(ying)選用變(bian)頻抗(kang)干擾(rao)模(mo)式(shi)。

8、試驗方法影響

由于介損測量受試驗方(fang)法(fa)影響較大，應區(qu)分是試驗方(fang)法(fa)誤差還是儀器(qi)誤差。出(chu)現(xian)問題(ti)時可(ke)首(shou)先檢查接線，然后(hou)檢查是否為儀器(qi)故障。

9、儀器故障

用萬(wan)用表(biao)測(ce)量一下測(ce)試線(xian)是否(fou)(fou)斷路，或芯線(xian)和屏(ping)蔽是否(fou)(fou)短(duan)路；輸入電源220V過高(gao)或(huo)過低；接地是否良好。

用正、反(fan)接線測一下(xia)標準(zhun)電容(rong)器或已(yi)知容(rong)量和介損的電容(rong)試品，如果結果正確(que)，即可判斷儀器沒(mei)有(you)問(wen)題；

拔下所有(you)測試導線，進行空(kong)試升壓，若不能(neng)正常工(gong)作，儀器可能(neng)有(you)故障(zhang)。

啟(qi)動CVT測(ce)量后測(ce)量低(di)壓輸出，應出現2～5V電壓，否則儀器(qi)有故障。

十(shi)一、 儀(yi)器檢(jian)定

1、用(yong)標準損耗器檢定

用(yong)帶插頭(tou)的(de)屏蔽電(dian)纜連(lian)接標(biao)準損耗(hao)器(qi)。如果不能(neng)保證標(biao)準損耗(hao)器(qi)的(de)精度(du)，應使用(yong)比對法檢定(ding)，建議用(yong)2801電橋或其它精密電橋作比對標(biao)準。儀器應(ying)選用(yong)“內標準”和(he)“RC串聯試品(pin)”，可選擇工頻 50Hz或(huo)定(ding)頻50Hz頻率模式(shi)。

2、用(yong)QSJ3檢定：使(shi)用帶插頭(tou)的屏蔽(bi)電纜連接QSJ3，選擇“正接(jie)/ 外Cn / 外Un式測量，電流比為(wei)Cx∶Cn，Cn可(ke)置入(ru)適當值。

3、抗干擾能力

設置(zhi)一個回路向(xiang)儀器注入定量的(de)干(gan)擾電流。

注意(yi)：

1）應考慮到該回路可能成(cheng)為試品的一(yi)部分。

2）儀器啟動后會使220V供電(dian)電(dian)路帶有(you)測量頻(pin)率分量，如果該頻(pin)率分量又(you)通(tong)過干擾電(dian)流進入儀(yi)器(qi)，則無法檢驗(yan)儀(yi)器(qi)的抗干擾能力。

3）不建議用臨(lin)近高壓導體施(shi)加干擾(rao)，因為這樣(yang)很容易產(chan)生近距離(li)**放(fang)電，這種放(fang)電電阻(zu)是非線性(xing)的，容易產(chan)生同頻干擾(rao)。

十二、變(bian)頻測量討論

1、變頻測量

干(gan)擾(rao)十分嚴(yan)重時，變頻測量能(neng)得到準確可靠的(de)結果。例如用(yong)55Hz測量時，測量系統只(zhi)允(yun)許55Hz信號通過，50Hz干擾(rao)信(xin)號被有效抑(yi)制(zhi)，原因在于測(ce)量系統很容易區別(bie)不同頻(pin)率，由下述簡(jian)單計算可以說(shuo)明選(xuan)頻(pin)測(ce)量的(de)效果：

兩個(ge)頻(pin)率相(xiang)差1倍的正弦波疊加到一起，高頻(pin)的是干擾，幅度為低頻(pin)的10倍(bei)：

這剛好是低頻部分的相(xiang)位和幅度，干擾被(bei)抑制(zhi)。實際波形(xing)(xing)的測量點(dian)多達數萬，計算(suan)量很(hen)大，結果反映了波形(xing)(xing)的整(zheng)體特征。

2、頻率和介損的關系

介損有RC串聯(lian)(lian)和(he)并聯(lian)(lian)兩種(zhong)理想(xiang)模型(xing)：串聯(lian)(lian)模型(xing)tgδ=2πfRC，并聯模型tgδ=1/(2πfRC)，tgδ分別隨頻率f成正比和反比。如圖所示，f對完全正比和完全反比兩種模型影響較大。但實際電容器是多種模型交織的混合模型，此時f的(de)影響(xiang)就小。

3、自(zi)動變頻與50Hz等效

儀器采用自動變頻(pin)在干擾頻(pin)率50Hz兩側（45Hz和(he)55Hz）各(ge)測(ce)一個點，然后推算50Hz頻率(lv)下(xia)數據。除多(duo)個(ge)元件電(dian)路的(de)低頻諧振外，單個(ge)試品(pin)中的(de)介(jie)質不可能在低頻引起能量(liang)吸收峰(feng)，工頻附近介(jie)損總是隨頻率(lv)單調變(bian)化的(de)。因(yin)此這種測量(liang)方法不會帶(dai)來明顯誤差。實(shi)際上，平均(jun)(jun)前的(de)兩個(ge)介(jie)損值已十(shi)分接近，即使不平均(jun)(jun)也(ye)完(wan)全有參考價值。目前，變(bian)頻介(jie)損儀已成為介(jie)損測量(liang)的(de)常規儀器，其優異的(de)抗干(gan)擾能力和準確度已經得到認(ren)可。

十三、儀器的裝(zhuang)箱清單