一、WBFA-1000互感器(qi)綜合試(shi)驗儀主要特點

(一(yi))、**可靠(kao)：單相AC220V輸入(ru)電(dian)源(yuan)(yuan)，并且(qie)工(gong)作電(dian)源(yuan)(yuan)與功率電(dian)源(yuan)(yuan)共用(yong)一(yi)個(ge)輸入(ru)端(duan)口(kou),設計更加科學(xue)合理,使用(yong)更加**可靠(kao)。

(二)、符合國家(jia)檢(jian)(jian)修(xiu)規程：設備電源輸出(chu)全(quan)部為(wei)(wei)真實電壓(ya)和電流值(zhi)，并且波(bo)形為(wei)(wei)標準正(zheng)弦波(bo)，頻率為(wei)(wei)50-60Hz；能(neng)夠(gou)真正(zheng)有(you)效模擬互(hu)感器的真實狀(zhuang)態，符合國家(jia)相(xiang)關檢(jian)(jian)修(xiu)規定。

(三)、輸(shu)(shu)出容量(liang)大：單(dan)機(ji)220V輸(shu)(shu)入時*大電壓輸(shu)(shu)出0-2500V，單(dan)機(ji)*大電流(liu)輸(shu)(shu)出0-1000A，可(ke)直(zhi)接測試500KV/1A等級(ji)以(yi)上的互感器。非常適合(he)現場檢修使用。

(四)、功能齊全：可(ke)以檢測CT/PT的伏(fu)安特性(xing)、變比、極性(xing)、角(jiao)差(cha)比差(cha)、直阻、5%和(he)10%誤差(cha)曲線、CT一次(ci)通流和(he)CT退(tui)磁等(deng)項目，輕松實(shi)現一機多(duo)

(五(wu))、接線方式簡(jian)單：采用單電源輸入端口(kou)；僅有(you)8個測試(shi)端口(kou)就(jiu)可完(wan)成CT/PT測試(shi)項目，接線方式**簡(jian)單，非常(chang)適合現場使用，能夠有(you)效降(jiang)低勞(lao)動強(qiang)度，提高工(gong)作效率；

(六(liu))、測試范圍大：CT變比測量范圍25000A／5A 、5000A／1A。

二、WBFA-1000互感器(qi)綜合試驗(yan)儀產(chan)品選(xuan)型(xing)

三、WBFA-1000互感器綜合試驗儀面板示意(yi)

（1）       顯示屏(ping)。  

（2）       打(da)印(yin)機。

（3）       按鍵區。

“↑”鍵：顯示光標向上移動,“↓”鍵：顯(xian)示光(guang)標向(xiang)下移動(dong)。

“→”鍵：顯示光(guang)標(biao)向左(zuo)移(yi)動,“←”鍵：顯(xian)示光標向右移動。

“打(da)印”鍵：為打印功能選項的(de)快捷鍵。

“保存(cun)”鍵：為保存選項的快捷鍵。

“取消”鍵：為功能(neng)選項等的*后確認(ren)。

“確認”鍵：為功(gong)能(neng)選項(xiang)等的(de)*后確認(ren)。

“復位”鍵：用(yong)于儀器復位。

（4）       顯(xian)示(shi)器對比(bi)度調整口。

（5）       主機電源插座(zuo)。

（6）       設備(bei)接地端(duan)子(zi)。

（7）       主機(ji)電源開關。

（8）       數據擴展口。

（9）       RS232通(tong)訊口、USB通訊口、U盤接口。

（10）   直阻測(ce)試接口。

（11）   變比試驗時(shi)1000A大電流(liu)輸出端口。

（12）   伏安特性試驗時(shi)電壓輸(shu)出端口。

（13）   PT變比試驗時二次(ci)側接入端口。

（14）   過流保護開(kai)關(guan)，即調壓器開(kai)關(guan)。

（15）   CT變比試(shi)驗時二次側接入端(duan)口。

四、WBFA-1000互(hu)感器綜合(he)試驗儀菜(cai)單(dan)操(cao)作

主菜單

測試模(mo)式(shi)菜(cai)單

CT/PT選擇菜單

五、WBFA-1000互感器綜合試驗儀測試方法(fa)

5.1 CT伏安特性測(ce)試

編號：(00～99)、組號：(0～9)；相序：(A/B/C)；上述(shu)設置(zhi)項將在保(bao)存(cun)時為(wei)索引信息方便用戶查詢，其它(ta)測試(shi)的編號也在此(ci)設置(zhi)。

輸出電(dian)壓：為儀器輸出的*高(gao)設置(zhi)電(dian)壓(ya)（0V--2500V），如果測試中電(dian)壓達到設(she)定值，將會自動停止升壓，以(yi)免(mian)損壞設(she)備。

輸出電(dian)流(liu)：為儀器輸出(chu)的*高設(she)置電(dian)流(liu)(liu)（1A—5A），如果測試(shi)(shi)中電(dian)流(liu)(liu)達到設(she)定值(zhi)(zhi)，將會自動停(ting)止升(sheng)流(liu)(liu)，以(yi)免損壞設(she)備。通常電(dian)流(liu)(liu)設(she)置值(zhi)(zhi)大(da)于(yu)等于(yu)1A，就(jiu)可以(yi)測試(shi)(shi)到拐點(dian)值(zhi)(zhi)。如測試(shi)(shi)儀功率為5KW，所(suo)以(yi)輸出(chu)電(dian)流(liu)(liu)設(she)定值(zhi)(zhi)受(shou)電(dian)壓設(she)置的影響。如下表

通(tong)常(chang)(chang)電(dian)(dian)壓(ya)(ya)(ya)(ya)設(she)置(zhi)值(zhi)稍大(da)于(yu)拐(guai)(guai)點電(dian)(dian)壓(ya)(ya)(ya)(ya)，這樣可(ke)以使(shi)曲(qu)線(xian)顯示(shi)的(de)比例更加協調(diao)。如(ru)果(guo)互感(gan)器(qi)拐(guai)(guai)點電(dian)(dian)壓(ya)(ya)(ya)(ya)未知，可(ke)根據經驗設(she)定(ding)(ding)一個(ge)電(dian)(dian)壓(ya)(ya)(ya)(ya)（通(tong)常(chang)(chang)互感(gan)器(qi)變比越(yue)大(da)則(ze)(ze)拐(guai)(guai)點電(dian)(dian)壓(ya)(ya)(ya)(ya)越(yue)高(gao)）。比如(ru)設(she)定(ding)(ding)100V進行測(ce)試(shi)，如(ru)果(guo)曲(qu)線(xian)非(fei)常(chang)(chang)貼(tie)近X軸，如(ru)圖，則(ze)(ze)可(ke)根據拐(guai)(guai)點位(wei)置(zhi)降低設(she)置(zhi)電(dian)(dian)壓(ya)(ya)(ya)(ya)為100V；如(ru)果(guo)曲(qu)線(xian)沒有到達拐(guai)(guai)點，即電(dian)(dian)壓(ya)(ya)(ya)(ya)到達或(huo)接近設(she)定(ding)(ding)值(zhi)100V時電(dian)(dian)流(liu)還(huan)只有幾個(ge)或(huo)幾十個(ge)毫安，如(ru)圖，則(ze)(ze)說(shuo)明電(dian)(dian)壓(ya)(ya)(ya)(ya)設(she)置(zhi)過低，相(xiang)應的(de)升高(gao)設(she)置(zhi)電(dian)(dian)壓(ya)(ya)(ya)(ya)即可(ke)做出伏安特(te)性(xing)曲(qu)線(xian)。

接線(xian)如圖：

伏安特性曲(qu)線圖：

測試數(shu)據表：

誤差(cha)曲線(xian)圖

按↑、↓鍵移(yi)動光標到“返回”位(wei)置(zhi)，再按“確(que)認”鍵退出，返回到伏安曲線顯示界(jie)面。

注：每做一(yi)次伏安特性測試(shi)，測試(shi)儀自動(dong)完(wan)成(cheng)一(yi)次互感器的退磁。

5.2 CT變(bian)比極(ji)性(xing)試驗

一次側測試電(dian)流：通常電流(liu)設置大于實測CT一(yi)次額定電流的20%就可以準確(que)的測(ce)試出變比值和極(ji)性(xing)。

二次(ci)側測試(shi)電流：根據被(bei)測CT的(de)二次(ci)額定電流進行設置，通常為1A或5A。

按↑、↓鍵移動光(guang)標。光(guang)標移到相應位置上(shang)按(an)“確認”鍵(jian)進入，再按鍵(jian)↑、↓鍵修改數(shu)值大小，按“確認”鍵保存設(she)置值退出，或按“取消”鍵取消當前修改值(zhi)退出(chu)。設置好測試參數(shu)后(hou)按(an)↑、↓鍵移動光標到“開始”再按“確認”鍵開始測(ce)試。按“打印”鍵打印(yin)測試結(jie)果。按↑、↓鍵(jian)移(yi)動(dong)光標到(dao)“返回(hui)”再按“確認”鍵(jian)退出返(fan)回到(dao)測試(shi)模式選擇(ze)菜單。

接線：CT一(yi)次側(ce)接L1、L2，CT二次側(ce)1S1、1S2接儀器面板的(de)(de)1S1—4S1的(de)(de)6芯(xin)測試線的(de)(de)黃(huang)、黑測(ce)試夾，2S1、2S2接儀器面板(ban)的S1—S4的6芯測(ce)試線(xian)的綠、黑(hei)測試夾(jia)，3S1、3S2接(jie)儀器面板的(de)S1—S4的(de)6芯測試線(xian)的(de)紅(hong)、黑測試(shi)夾，4S1、4S2接儀器面板的S1—S4的6芯測試(shi)線的黃(huang)、黑測(ce)試夾，5S1、5S2接儀器面板的(de)5S1—8S1的(de)6芯測(ce)試線的(de)綠、黑測試夾，6S1、6S2接儀器面板(ban)的5S1—8S1的6芯(xin)測試線的紅(hong)、黑測試(shi)夾(jia)，設(she)置(zhi)好一次(ci)側測試(shi)電流和二次(ci)側額定電流后，設(she)置(zhi)完畢合上(shang)調壓(ya)開關，按↑、↓鍵移(yi)動光(guang)標到 “開(kai)始(shi)”后(hou)，再按下“確定(ding)”鍵測試即開始。在接線時注意接線圖端子(zi)的標號。

隨著儀器電流持續(xu)的增加，該(gai)一次(ci)側(ce)電流和二次(ci)側(ce)回路測得(de)的電流數值在屏(ping)幕(mu)上實時顯示。當一次(ci)側(ce)輸出(chu)電流或二次(ci)側(ce)輸入(ru)電流達(da)到所設定的電流值時，裝置會自動停止測試，輸出(chu)電流回零，并以實際測出(chu)的電流計算(suan)得(de)出(chu)變比(bi)值。儀器本身的同色端子為(wei)同相端，即(ji)1S1與 P1為同相端。

5.3 CT一(yi)次側通流檢查

一次側測試電流(liu)： 0 –1000A，即(ji)測(ce)試儀L1、L2端子輸(shu)出的(de)*大電流；

二次側額(e)定電流： 根(gen)據被測(ce)CT的二次額定電(dian)流進(jin)行設置，通常為(wei)1A或5A。
接線(xian)：將不檢測的(de)二(er)次(ci)繞(rao)組短(duan)接(jie)，CT一次(ci)側(ce)接(jie)L1、L2，CT二(er)次(ci)側(ce)可以短(duan)接(jie)或接(jie)CT所接(jie)的二(er)次(ci)回(hui)路，

按↑、↓鍵(jian)移動光標。光標移到相應(ying)位置上按(an)“確認”鍵進入，再按↑、↓鍵(jian)修改(gai)數值大(da)小，按“確認”鍵保存設置值(zhi)退出(chu)，或按“取消”鍵取消當前修改(gai)設置(zhi)值退(tui)出。

設置完參數后按↑、↓鍵移(yi)動光標到“開始(shi)”再按“確認”鍵(jian)開(kai)始測試。

按↑、↓鍵移(yi)動光標到“返回”再按“確(que)認”鍵退出，返回(hui)測(ce)試模式選擇菜單。

設置好(hao)一(yi)次側二次側測(ce)試電(dian)流(liu)后，合上調(diao)壓開關，按(an)↑、↓鍵移動光標到按“開始”后，再按下(xia)“確(que)定”鍵測試(shi)即開(kai)始。

儀器將(jiang)輸出電(dian)流(liu)逐步增加至(zhi)設定(ding)值，然后(hou)將(jiang)該電(dian)流(liu)保(bao)持輸出一(yi)段時間，用于(yu)(yu)檢查(cha)CT二次側回路的完整性。該時間的長度與電(dian)流(liu)值有關，電(dian)流(liu)小(xiao)于(yu)(yu)200A時，保(bao)持時間為5分鐘(zhong)，大(da)于(yu)(yu)200小(xiao)于(yu)(yu)300A時1分鐘(zhong)，大(da)于(yu)(yu)300A小(xiao)于(yu)(yu)500A時30秒，大(da)于(yu)(yu)500A小(xiao)于(yu)(yu)800A時10秒，大(da)于(yu)(yu)800A時保(bao)持時間僅為3秒鐘(zhong)。

5.4 PT伏安特性測(ce)試

按(an)鍵(jian)操作請參照(zhao)CT伏安特(te)性測試

輸出電(dian)壓：通常電壓設置值稍大于拐點電壓，這樣可以使曲線(xian)顯示的(de)比例更加協調(diao)。PT的二次繞組拐點電壓通常比較低，電壓可設置為200V，如曲線不能正常顯示，參考CT伏安特性(xing)電壓(ya)設置說明進行重新設置。

輸出(chu)電流：為儀器輸出(chu)的(de)*高(gao)設置電流(liu)（1A—5A），如果實驗中電流達到設(she)定值，將會(hui)自動停止(zhi)升(sheng)流，以免損壞設(she)備。通常電流設(she)置(zhi)值大于等于1A，就可(ke)以測(ce)試(shi)到拐點值。

接線：電壓互(hu)感器的(de)一次繞組的(de)零位端接地，被測繞(rao)組a，x接測試儀的A、X端子(zi)。

按↑、↓鍵移動光標。光標移到相應(ying)位置上按“確認”鍵(jian)進入(ru)，再按鍵(jian)↑、↓鍵修改數值(zhi)大小，按“確認”鍵保存設置值退出，或按“取消”鍵取消(xiao)當前修(xiu)改設(she)置值(zhi)退出。

按(an)↑、↓鍵移動光標到(dao)“開始”再按“確認”鍵開始測(ce)試。

按↑、↓鍵(jian)移動光(guang)標(biao)到(dao)“返回(hui)”再按“確認”鍵退出，返回測試模式(shi)選擇菜單(dan)。

下述4條(tiao)設置項(xiang)將在保存時(shi)保存為索引(yin)信息(xi)方便(bian)用(yong)戶查(cha)詢。

編號：(00～99)、組(zu)號：(0～9)、相序：(A/B/C)。

測試結果操作說(shuo)明(ming)：請參照CT伏安特性測試結(jie)果操作說明。

5.5 PT變比極性測試

接線方式見(jian)下(xia)圖

一次輸出電壓(ya)：0-2000V，通常設置1000-1500V就可以準確(que)的(de)測試出變(bian)比值。

二次額定電(dian)壓：根(gen)據PT二次(ci)額定值(zhi)為100V、100/√3V。如(ru)果被測PT的一次(ci)為10KV/√3，二次(ci)為100/√3。將二次(ci)電壓(ya)設置為100V，因為被測PT的一次(ci)√3與二次(ci)的√3可約掉。

按(an)↑、↓鍵移動(dong)光(guang)標，移到相應(ying)位置上按“確認”鍵進入，再按↑、↓鍵(jian)修改數值大(da)小(xiao)，按“確認”鍵保存設置值(zhi)退(tui)出，或按“取(qu)消”鍵取(qu)消當前修改設置(zhi)值退出(chu)。設置(zhi)完參數后按↑、↓鍵移動光標到“開始(shi)”，再(zai)按“確認”鍵(jian)開始測(ce)試。

接線：PT一(yi)次(ci)側接測(ce)試(shi)儀的A、X端子，PT二(er)次側接測試儀的a、x端，PT的其它端子(zi)甩開什(shen)么都不接，設置好一(yi)次側和二次側電壓后，合上調壓開關，按↑、↓鍵移動光標到按(an)“開始”，再按 “確(que)定”鍵即開(kai)始測試。

隨著儀(yi)器的(de)輸(shu)(shu)(shu)出(chu)(chu)(chu)電(dian)(dian)壓(ya)持(chi)續增加，該一次側電(dian)(dian)壓(ya)和二(er)次側電(dian)(dian)壓(ya)的(de)數值在(zai)屏(ping)幕上實時顯示。當一次側輸(shu)(shu)(shu)出(chu)(chu)(chu)電(dian)(dian)壓(ya)或(huo)二(er)次側輸(shu)(shu)(shu)入電(dian)(dian)壓(ya)達(da)到所設(she)定的(de)電(dian)(dian)壓(ya)值時，裝置會自(zi)動停止測試，輸(shu)(shu)(shu)出(chu)(chu)(chu)電(dian)(dian)壓(ya)回(hui)零并以(yi)實際測出(chu)(chu)(chu)的(de)電(dian)(dian)壓(ya)計(ji)算得出(chu)(chu)(chu)變比值。儀(yi)器本(ben)身的(de)同色端(duan)子為同相端(duan),即A與(yu)a為同相端(duan)。

按(an)“打(da)印”鍵打(da)印測試結果。按(an)↑、↓鍵移動光標(biao)到“返回”，再按(an)“確(que)認(ren)”鍵退出返回到測試模式(shi)菜單。

5.6 CT角差比(bi)差測試

接線方式見下圖

按↑、↓鍵移動光(guang)標(biao)。光(guang)標(biao)移到(dao)相應位(wei)置上按(an)“確認”鍵進入，再按↑、↓鍵修改數(shu)值大(da)小，按“確(que)認”鍵保存(cun)設置(zhi)值退(tui)出(chu)，或按“取消”鍵取消當前修改設置值(zhi)退出。按照CT變比測試進(jin)行接(jie)線，二次(ci)未測繞組短接(jie)起來。連接(jie)好測試線,設置好測(ce)試參數后(hou),合上調(diao)壓開關。按↑、↓鍵移動光標到(dao)“開始”再按“確(que)認(ren)”鍵開始測(ce)試。，測(ce)試完畢后(hou)自動計算出一次側與二次側的(de)(de)相位角差(cha)，實際測(ce)的(de)(de)變(bian)比(bi)(bi)值(zhi)與用戶(hu)設定的(de)(de)額定變(bian)比(bi)(bi)的(de)(de)百分比(bi)(bi)差(cha)。按下 “打印” 即可(ke)打印出(chu)測(ce)試結果，“返回” 可返(fan)回測(ce)試模式選(xuan)擇菜單。如(ru)果顯(xian)示99.9或9.99，表示測量結果超出顯示范圍(wei)，可能是因為一次額定電流(liu)、二次額定電流(liu)設置錯誤，或(huo)者測試儀與互(hu)感器的(de)接線(xian)有(you)誤。

5.7 PT角差(cha)比差(cha)測試(shi)

接線方式見下圖

按(an)↑、↓鍵移(yi)動光標(biao)。光標(biao)移(yi)到相應位置(zhi)上按“確認(ren)”鍵進入，再按↑、↓鍵修改數值大小按“確認(ren)”鍵保存設置(zhi)值退出，或按“取消”鍵(jian)取(qu)消當前修改設(she)(she)置值退出。連接好測試(shi)線,設(she)(she)置好測試(shi)參數后,合上調壓開關。按(an)↑、↓鍵移動光標到“開始”再按“確認”鍵開始測(ce)試(shi)(shi)。測(ce)試(shi)(shi)完畢后(hou)自(zi)動計算出一次側(ce)與二次側(ce)的(de)相(xiang)位角差(cha)，實際測(ce)的(de)變(bian)比(bi)值與用戶設定的(de)額定變(bian)比(bi)的(de)百分比(bi)差。按下 “打印”鍵(jian)即可打印(yin)出(chu)測試結果，按↑、↓鍵移(yi)動光標到“返回” 按“確認”鍵可返回測試模式選擇菜單。

5.8 CT實(shi)際負荷測(ce)試

接線方式見下圖

按(an)↑、↓鍵移動光標。光標移到相應位置上按“確認”鍵進入，再按鍵↑、↓鍵修(xiu)改(gai)數值大小(xiao)，按“確認(ren)”鍵保存設置值退出，或(huo)按(an)“取消”鍵取(qu)消當前修改(gai)設置(zhi)值退出。

根據實際負荷(he)所接(jie)CT互感(gan)器(qi)的額定電(dian)流設(she)置(zhi)好(hao)二次額定電(dian)流值(zhi)，1 A或5A。連接好測(ce)試線(xian),設置好(hao)測試參數后,合上調壓(ya)開關。按↑、↓鍵移動(dong)光標到(dao)“開(kai)始”再按“確認”鍵開始測試。測試結束(shu)后結果(guo)會直(zhi)接顯示出(chu)來，按“打印(yin)”鍵可打印測試結(jie)果。按↑、↓鍵移動(dong)光標到(dao)“返回” 按“確認”鍵(jian)可返回測試模(mo)式選擇(ze)

5.9 PT實(shi)際負荷測試(shi)

接線(xian)方式(shi)見(jian)下(xia)圖(tu)

按↑、↓鍵移動光標。光標移到相應(ying)位置上按“確認”鍵(jian)進入，再按鍵(jian)↑、↓鍵(jian)修改數(shu)值大小，按“確(que)認(ren)”鍵保存(cun)設置值退出，或按(an)“取消”鍵取(qu)消當前修改設置值退出。

根據(ju)實(shi)際(ji)負荷所接(jie)PT互感(gan)器(qi)的額(e)(e)定電壓設置(zhi)好二次額(e)(e)定電壓值，100V或100/√3V。連(lian)接好(hao)測試(shi)線,設置好測試參數后(hou),合上調壓開關。按(an)↑、↓鍵移動光標到“開始”再按“確(que)認”鍵開始測試。，測試結(jie)束(shu)后結(jie)果會(hui)直(zhi)接顯示出來，按“打(da)印”鍵(jian)可(ke)打(da)印測試結果。按↑、↓鍵(jian)移動光標(biao)到“返(fan)回” 按“確認”鍵可返回測試模(mo)式選擇

5.10 交流耐壓(ya)測試(shi)

注：測試中(zhong)儀器會自動檢(jian)測測試電流(liu)如果電流(liu)超(chao)出系統默認(ren)的10mA儀器會停止升壓，顯示“試(shi)品異(yi)常(chang)”以(yi)免損(sun)壞儀器設備和試品。

5.11直(zhi)流(liu)電阻測試(shi)

5.12系統(tong)設置菜(cai)單

5.13 數據查詢(xun)菜(cai)單

按上(shang)下鍵(jian)↑、↓光標(biao)(biao)。光標(biao)(biao)移到相應位置上(shang)按(an)“確認(ren)”鍵(jian)進入。

光標移(yi)到“CT數據”位置，按(an)“確(que)認”CT歷史數(shu)據索引界面。

光標移到(dao)“刪除”位置，按“確(que)認(ren)”鍵刪除所有(you)CT歷史數據。

光標移到“CT數(shu)據”位置，按(an)“確認”CT歷史數據索(suo)引界面。

光標移到“刪除”位置(zhi)，按“確(que)認”鍵刪除所有(you)CT歷(li)史數據。

光標移到(dao)“返回”位置，按“確認”鍵(jian)出返回(hui)到主菜單界面。

進入歷(li)史數據索引界面后按↑、↓鍵(jian)進行歷(li)史數據索引(yin)瀏(liu)覽。按(an)←、→鍵(jian)進(jin)行移位選擇。

光標移到“刪除”位(wei)置(zhi)上，按“確認”鍵刪除當前(qian)光標指(zhi)向的歷史數據(ju)。

光標移到(dao)“打開”位置上，按(an)“確(que)認”鍵打(da)開(kai)歷史數(shu)據。進入伏(fu)安曲線(xian)顯(xian)示界(jie)面。在此界(jie)面下(xia)，用戶可以打(da)印(yin)，計算誤差曲線(xian)，查詢(xun)拐點、數(shu)據等功能。

光標移到(dao)“返回”的(de)位置上，按“確認”鍵退出(chu)，返(fan)回到數(shu)據查詢界(jie)面。

5.14 U盤存儲菜單

注：U盤轉存文件時，U盤內不應(ying)有(you)與(yu)測試儀內需要轉(zhuan)存(cun)的文(wen)件同名的文(wen)件，否則此(ci)文(wen)件會(hui)轉(zhuan)存(cun)失敗。

六、PC機操作軟件使用說明(ming)

6.1 CT5800PC機軟(ruan)件安裝。

把隨機光(guang)盤的安裝文件復(fu)制到(dao)電腦的硬盤中，點(dian)開CT5800的安裝(zhuang)軟件包，點擊“Setup”文件(jian)按提(ti)示(shi)信息進行安(an)裝。安(an)裝完成后在(zai)電腦的桌面有個“互感器綜合參數(shu)測(ce)試(shi)儀(yi)”圖標。

6.2 CT5800PC機軟件使用(yong)。

雙擊“互感器綜(zong)合參數測試儀”快捷圖標。出現(xian)如下圖所示測試界面。

點擊“連接”提示(shi)連接成(cheng)功對話(hua)框，點(dian)擊(ji)(ji)確定后(hou)便進(jin)入上(shang)位(wei)機程控測試模式。如果不(bu)能連接成(cheng)功請點(dian)擊(ji)(ji)“端(duan)口配置”圖(tu)標檢查串口波(bo)特率是(shi)否正(zheng)確(que)，選擇(ze)串口波(bo)特率為9600，CON口，設(she)置成當前(qian)您電腦使(shi)用的CON口。點擊軟件的上排“測試項目”或軟件(jian)左側“測試項(xiang)目”進行測(ce)試項目切換(huan)。連(lian)接(jie)好(hao)儀器到試品的所(suo)有連(lian)接(jie)線，儀器的接(jie)地端子(zi)必須可靠接(jie)地，設置好(hao)測(ce)試參數點擊“開始”按扭進行測(ce)試(shi)，具體測(ce)試(shi)操作(zuo)和(he)下位(wei)機操作(zuo)過程相(xiang)同(tong)。請(qing)參照(zhao)第(di)五(wu)節“測試方法”介紹。

“保(bao)存”用于保存測(ce)試(shi)數據到PC機。包括已上傳的(de)伏安特性測試結(jie)果到PC機。

“打(da)印(yin)”用(yong)于PC機連(lian)接打(da)印機，需要PC機已安(an)裝好打(da)印設(she)備。

“端口配置(zhi)”用(yong)于設置(zhi)串口波特(te)率和(he)當前使(shi)用(yong)的端口。

“系統(tong)設(she)置”用于設(she)(she)置(zhi)修改時間，設(she)(she)置(zhi)設(she)(she)備編號，測(ce)試(shi)人員，測(ce)試(shi)地(di)點名稱，只限于大寫26個英文字符和0—9的數字，不支持鍵盤上(shang)的其(qi)它“轉(zhuan)義字符(fu)”。

“搜索數據”用于上傳互感(gan)器綜合參數測試(shi)儀(yi)已(yi)經保存的伏安特性測試(shi)結果。

“打開數據”用于打開用U盤導出(chu)保存在PC機上的伏安特性測試結果(guo)。

“退出(chu)”用(yong)于退(tui)出上位機(ji)程控測試模(mo)式(shi)，轉入儀器(qi)測試模(mo)式(shi)。

七、技(ji)術(shu)參數

工作(zuo)電源：AC220V (50～60Hz)

伏安輸出電壓：0～2500V

伏安輸出電流：0-15 A

變比輸出電流(liu)：0~1000 A

直阻(zu)測試：10mΩ～200Ω

二次(ci)負荷測試范圍：0-500VA

角(jiao)差測試精度：4分

比差測試精度：0.1級

伏安測(ce)量精度：< 0.5%

*高變(bian)比測量精度：< 0.5%

工作溫度(du)：－10～50℃

儀器重(zhong)量：25Kg

外箱(xiang)尺寸：382mm*265mm*205mm

八(ba)、附配件

說明書    1本(ben)

主(zhu)機(ji)      1臺

電源線(xian)    1根

測試(shi)線    1套

U盤      1支

打印紙    5卷

保險絲管  5只

九、售(shou)后服務

本產品自出(chu)售之(zhi)日一年內，若出(chu)現質量問題予以免費保修，終身維護。

十、附錄：誤差曲線說明

根據互感器二次側的(de)勵磁(ci)電流(liu)(liu)和電壓計算出的(de)電流(liu)(liu)倍數（M）與(yu)允許二次(ci)負荷（ZII）之間(jian)的5%、10%誤差(cha)曲線(xian)的(de)數據中(zhong)也(ye)可判斷互感器(qi)保護繞組是否(fou)合格：

1. 在接近(jin)理論(lun)電流倍數下所(suo)測量的(de)實際負荷(he)大于互感器銘牌(pai)上理論(lun)負荷(he)值，說(shuo)明該互感器合格(ge)。如上圖

2. 在接近理(li)論負荷(he)下所(suo)測量(liang)的(de)實(shi)際電流倍(bei)數(shu)大于互感器銘牌(pai)上的(de)理(li)論電流倍(bei)數(shu),也(ye)說明該(gai)互感器合格。如(ru)CT伏(fu)安測試數(shu)據圖(tu)

保護用電(dian)(dian)流(liu)互(hu)感(gan)(gan)(gan)器(qi)(qi)(qi)(qi)二(er)次(ci)負(fu)(fu)(fu)荷(he)(he)應(ying)滿足(zu)5%誤(wu)(wu)差(cha)(cha)曲(qu)(qu)線的(de)(de)要(yao)(yao)求，只要(yao)(yao)電(dian)(dian)流(liu)互(hu)感(gan)(gan)(gan)器(qi)(qi)(qi)(qi)二(er)次(ci)實(shi)際負(fu)(fu)(fu)荷(he)(he)小于(yu)5%誤(wu)(wu)差(cha)(cha)曲(qu)(qu)線允許的(de)(de)負(fu)(fu)(fu)荷(he)(he)，在額定(ding)電(dian)(dian)流(liu)倍(bei)(bei)數(shu)(shu)(shu)下(xia)，合(he)(he)格(ge)的(de)(de)電(dian)(dian)流(liu)互(hu)感(gan)(gan)(gan)器(qi)(qi)(qi)(qi)的(de)(de)測(ce)量(liang)誤(wu)(wu)差(cha)(cha)即在5%以(yi)內。二(er)次(ci)負(fu)(fu)(fu)荷(he)(he)越大，電(dian)(dian)流(liu)互(hu)感(gan)(gan)(gan)器(qi)(qi)(qi)(qi)鐵心(xin)就越容易飽和，所允許的(de)(de)電(dian)(dian)流(liu)倍(bei)(bei)數(shu)(shu)(shu)就越小。因(yin)此，5%誤(wu)(wu)差(cha)(cha)曲(qu)(qu)線即n/ZL曲(qu)(qu)線為(wei)(wei)(wei)(wei)CT伏安測(ce)試(shi)誤(wu)(wu)差(cha)(cha)曲(qu)(qu)線圖所示(shi)曲(qu)(qu)線。圖例所示(shi)（所測(ce)保護用CT為(wei)(wei)(wei)(wei)5P10 20VA）：其中(zhong)5為(wei)(wei)(wei)(wei)準確級（誤(wu)(wu)差(cha)(cha)極限為(wei)(wei)(wei)(wei)5％），P為(wei)(wei)(wei)(wei)互(hu)感(gan)(gan)(gan)器(qi)(qi)(qi)(qi)形(xing)式（保護級），10為(wei)(wei)(wei)(wei)準確限值系數(shu)(shu)(shu)（10倍(bei)(bei)的(de)(de)額定(ding)電(dian)(dian)流(liu)），20VA表示(shi)額定(ding)二(er)次(ci)負(fu)(fu)(fu)荷(he)(he)（容量(liang)）。電(dian)(dian)流(liu)倍(bei)(bei)數(shu)(shu)(shu)為(wei)(wei)(wei)(wei)10.27倍(bei)(bei)（接(jie)近10倍(bei)(bei)）時(shi)，所允許的(de)(de)二(er)次(ci)負(fu)(fu)(fu)荷(he)(he)為(wei)(wei)(wei)(wei)27.19Ω,大于(yu)該(gai)(gai)CT的(de)(de)額定(ding)負(fu)(fu)(fu)荷(he)(he)20VA(20VA/1=20Ω),通過該(gai)(gai)數(shu)(shu)(shu)據可判斷該(gai)(gai)互(hu)感(gan)(gan)(gan)器(qi)(qi)(qi)(qi)合(he)(he)格(ge)。另外，在二(er)次(ci)負(fu)(fu)(fu)荷(he)(he)為(wei)(wei)(wei)(wei)19.98Ω(接(jie)近20Ω)時(shi)，所允許的(de)(de)電(dian)(dian)流(liu)倍(bei)(bei)數(shu)(shu)(shu)為(wei)(wei)(wei)(wei)12.89倍(bei)(bei)，大于(yu)該(gai)(gai)CT的(de)(de)額定(ding)電(dian)(dian)流(liu)倍(bei)(bei)數(shu)(shu)(shu)（10倍(bei)(bei)），通過該(gai)(gai)數(shu)(shu)(shu)據也可判斷該(gai)(gai)互(hu)感(gan)(gan)(gan)器(qi)(qi)(qi)(qi)合(he)(he)格(ge)。其實(shi)，只要(yao)(yao)找出這兩個關鍵點中(zhong)的(de)(de)任意一個，即可判斷所測(ce)互(hu)感(gan)(gan)(gan)器(qi)(qi)(qi)(qi)是否合(he)(he)格(ge)。

如果10％誤(wu)差不符合要(yao)求，一(yi)般(ban)的做法有：

1.增大(da)二(er)次(ci)電纜界面積（減(jian)少二(er)次(ci)阻抗）。

2.串接同型同變比電流(liu)互感(gan)器(qi)（減少互感(gan)器(qi)勵磁(ci)電流(liu)）。

3.改(gai)用伏(fu)安特(te)性較(jiao)高的繞(rao)組（勵磁阻(zu)抗(kang)增大）。

4.提高電流互感(gan)器變(bian)比（增大勵磁阻(zu)抗）。