1、WBJS6000異頻介損儀特點及性能

介損絕緣試(shi)驗(yan)可以(yi)有(you)效地發現電(dian)(dian)器設(she)備絕緣的整體(ti)受潮劣化變質以(yi)及局部缺(que)陷等，在電(dian)(dian)工制造(zao)、電(dian)(dian)氣設(she)備安裝、交接和(he)預防(fang)性試(shi)驗(yan)中(zhong)都廣泛應用。

介(jie)(jie)(jie)質損(sun)耗測(ce)(ce)量(liang)儀用于現場介(jie)(jie)(jie)損(sun)測(ce)(ce)量(liang)或試驗室精密介(jie)(jie)(jie)損(sun)測(ce)(ce)量(liang)。儀器為一(yi)體(ti)化結構，內置(zhi)介(jie)(jie)(jie)損(sun)電橋、變頻(pin)電源、試驗變壓(ya)器和標準電容(rong)器等。儀器采用變頻(pin)抗干擾和傅立(li)葉(xie)變換數字濾波技(ji)術，全自動智能化測(ce)(ce)量(liang)，強干擾下測(ce)(ce)量(liang)數據非常穩定。測(ce)(ce)量(liang)結果(guo)由大屏幕液晶顯示，儀器自帶微(wei)型打(da)印機(ji)可打(da)印輸出測(ce)(ce)試結果(guo)。

1.1主要技術指標

額(e)定(ding)工作條(tiao)件：環境溫度  -10℃～50℃

相對濕度(du)  <85%阿

輸入電(dian)源：    180V～270VAC，50Hz/60Hz±1%，市電(dian)或發電(dian)機供電(dian)

準確度：      Cx: ±（讀數×1%+1pF）

tgδ: ±（讀數×1%+0.00040）

抗(kang)干擾指標：   變頻抗(kang)干擾，在200%干擾下仍能達到上述準(zhun)確度

電容量范圍：   內施高壓：3pF～60000pF/10kV    60pF～1μF/0.5kV

外施高(gao)壓：3pF～1.5μF/10kV ;     60pF～30μF/0.5kV

分辨(bian)率：       *高0.001pF，4位有效數字

tgδ范圍：     不限，分辨率0.001%，電容、電感、電阻三種(zhong)試品自動(dong)識別。

試驗(yan)電流范圍： 10μA～5A

內施高壓(ya)：&nbsp;   設(she)定電壓(ya)范(fan)圍：0.5～10kV

*大輸出電流：200mA

升降壓方式：連續平(ping)滑調節

電壓精度：±(1.0%×讀數+10V)

電壓分辨(bian)率：0.1V

試驗頻率：45、50、55、60、65Hz 單頻

45/55Hz、55/65Hz、47.5/52.5Hz 自動雙變頻

頻率精度：±0.01Hz

外施高壓：    正、反接線(xian)時*大試(shi)驗電流(liu)5A

CVT自(zi)激法低壓輸(shu)出：輸(shu)出電壓3～50V，輸(shu)出電流3～30A

高電壓介損：  支持變頻和諧振電源高電壓介損

實時(shi)時(shi)鐘：    實時(shi)顯示時(shi)間和日期(qi)

內部(bu)存儲：    儀器(qi)內部(bu)可(ke)存儲100組測量數據(ju)

U盤： &nbsp;      支持U盤存(cun)儲(chu)

打印機：      微型熱敏打印機

計算機接(jie)口(kou)：  標準RS232接(jie)口(kou)（選配(pei)）

尺(chi)寸重量(liang)(liang)：    K型(xing)：外形尺(chi)寸368mm×288mm×280mm；主機(ji)重量(liang)(liang)22kg。

其他款型(xing)：外形(xing)尺(chi)寸430mm×314mm×334mm；主(zhu)機重量30kg。

注：上述(shu)為E型主(zhu)要技術指標(biao)，其它型號技術指標(biao)詳見本(ben)章(zhang)節“1.3.6各型號測(ce)試(shi)功能說明”。

1.2 WBJS6000異頻介損儀系列型號功能列表

1.3 WBJS6000異頻介損儀主要功能特點

1.3.1 變頻抗干擾

采用(yong)變頻(pin)抗干(gan)擾(rao)技術，在200%干(gan)擾(rao)下仍能準確測量，測試數據穩定(ding)，適合(he)在現場做(zuo)抗干(gan)擾(rao)介損試驗。

1.3.2高精度測量

采用數字(zi)波形分析和電(dian)橋自校準(zhun)等技術，配合(he)高精(jing)(jing)度三端(duan)標準(zhun)電(dian)容器，實現高精(jing)(jing)度介損測量(liang)。儀器所有(you)量(liang)程(cheng)輸入電(dian)阻低于(yu)2Ω，消除了(le)測量(liang)電(dian)纜附加電(dian)容的影響。

1.3.3**措施

高(gao)壓保護：試(shi)品(pin)短路、擊穿或高(gao)壓電流波(bo)動，能(neng)以短路方式高(gao)速(su)切(qie)斷輸出。

供電(dian)保(bao)護：誤接380V、電(dian)源波動或突然斷電(dian)，啟動保(bao)護，不會引起(qi)過電(dian)壓(ya)。

接地保護：具有(you)接地檢(jian)測功(gong)能，未接地時(shi)不能升壓(ya)，若(ruo)測量過程(cheng)中儀器接地**則(ze)啟動接地保護。

CVT 保護(hu)：高(gao)壓側電(dian)(dian)壓和電(dian)(dian)流、低壓側電(dian)(dian)壓和電(dian)(dian)流四個保護(hu)限制，不(bu)會損壞設備；誤選菜單不(bu)會輸出(chu)激磁電(dian)(dian)壓。CVT測(ce)量時無10kV高(gao)壓輸出(chu)。

防誤操(cao)作：兩級(ji)電源開(kai)關；電壓(ya)、電流實時監視；多次按鍵(jian)確認；接線(xian)端(duan)子高/低壓(ya)分明；慢速升(sheng)壓(ya)，可迅(xun)速降壓(ya)，聲光報(bao)警。

防“容升(sheng)(sheng)”：測(ce)量大容量試品時會出現電壓抬高的(de)“容升(sheng)(sheng)”效應(ying)，儀器能自動跟蹤輸出電壓，保持(chi)試驗電壓恒定。

高壓電纜：為耐高壓絕緣導線，可拖地使用(yong)。

抗震性(xing)能：儀器采用獨特抗震設計，可(ke)耐受強烈長途運(yun)輸震動、顛(dian)簸而不會損壞。

1.3.4打印存儲(chu)

儀器自帶微型打印機，可以(yi)將測量(liang)結果(guo)打印輸(shu)出，并將測量(liang)結果(guo)存(cun)貯到儀器內（可存(cun)儲100組測量(liang)數據）或U盤，以(yi)便日后(hou)查閱。

1.3.5實時時鐘

儀器(qi)內帶實時(shi)時(shi)鐘，實時(shi)顯示，并能記錄測量(liang)的日(ri)期和時(shi)間。

1.3.6各型(xing)號(hao)測試功能說明(ming)

B型(xing)：輕便型(xing)，高壓*大(da)輸出電流為140mA，具有(you)正接線、反(fan)接線功能，可選擇內/外標(biao)準(zhun)電容、內/外高壓多種工作模式，一體(ti)化(hua)結構，可做各種常規(gui)介損試驗。

D型(xing)：實用型(xing)，高壓(ya)(ya)*大輸出電(dian)流為200mA，具有正接(jie)(jie)線(xian)(xian)、反(fan)接(jie)(jie)線(xian)(xian)、反(fan)接(jie)(jie)線(xian)(xian)低(di)壓(ya)(ya)屏蔽(bi)、CVT自激法，反(fan)接(jie)(jie)線(xian)(xian)低(di)壓(ya)(ya)屏蔽(bi)功能能在220kV CVT母線(xian)(xian)接(jie)(jie)地情況下，對C11進行不拆(chai)線(xian)(xian)10kV反(fan)接(jie)(jie)線(xian)(xian)介(jie)損(sun)測量(liang)，并可一次接(jie)(jie)線(xian)(xian)同(tong)時(shi)測出兩個電(dian)容的電(dian)容量(liang)和介(jie)損(sun)值。CVT自激法測量(liang)時(shi)，C1/C2可一次接(jie)(jie)線(xian)(xian)同(tong)時(shi)測出，無須換線(xian)(xian)和外接(jie)(jie)任何配(pei)件，但(dan)高壓(ya)(ya)測量(liang)線(xian)(xian)需懸空吊(diao)起。

E型：標準(zhun)型，在D型基礎上增加了CVT變(bian)比(bi)測試(shi)功能(neng)，同時(shi)升級了CVT自激(ji)法測試(shi)，現場CVT自激(ji)法測試(shi)時(shi)高壓測量線可拖地使用，無需吊起。

F型：增(zeng)強型，功能同E型，輸出*高電壓從10kV增(zeng)加至12kV。

K型：標準型，在E型基礎上減小體積(ji)重量，設備(bei)更精巧。

S型(xing)(xing)：四通道(dao)型(xing)(xing)，功能同E型(xing)(xing)，增(zeng)加了3個(ge)正接(jie)通道(dao)。

J型(xing)(xing)：高精(jing)度型(xing)(xing)，功能同E型(xing)(xing)，測量準確(que)度為(wei)0.5%。

所(suo)有型號儀器均(jun)具備(bei)下述特點：

（1）支持變頻和諧振電源(yuan)高(gao)電壓介損。

（2）內置串聯(lian)和并聯(lian)兩種(zhong)介損測(ce)量模型，方便儀器(qi)檢定。

（3）配置熱敏打印機，使打印更加快捷、無噪音和清晰。

（4）320×240點陣(zhen)大屏液(ye)晶顯示，菜單操作(zuo)，測試數據豐(feng)富，自動分(fen)辨電容、電感、電阻型(xing)試品。

（5）具有(you)外接標準(zhun)電(dian)容器接口，可外接油(you)杯做(zuo)(zuo)(zuo)精密絕緣油(you)介損試(shi)驗，可外接固體材料測(ce)量電(dian)極做(zuo)(zuo)(zuo)精密絕緣材料介損試(shi)驗，也可外接高壓標準(zhun)電(dian)容器做(zuo)(zuo)(zuo)高電(dian)壓介損試(shi)驗。

（6）帶日歷時鐘，可存儲100組測量數據。

（7）計(ji)算機接口（選(xuan)配）。

2、WBJS6000異頻介損儀面板(ban)說明

高壓(ya)(ya)輸出(chu)測(ce)量接(jie)(jie)(jie)(jie)地(di)(di)(di)：若出(chu)廠配置的(de)高壓(ya)(ya)測(ce)試線有接(jie)(jie)(jie)(jie)地(di)(di)(di)屏蔽層(ceng)，則需將高壓(ya)(ya)測(ce)量線的(de)接(jie)(jie)(jie)(jie)地(di)(di)(di)屏蔽層(ceng)連接(jie)(jie)(jie)(jie)至此處，沒有則留(liu)空(kong)(kong)。CVT自激法測(ce)量的(de)高壓(ya)(ya)連線接(jie)(jie)(jie)(jie)地(di)(di)(di)屏蔽層(ceng)在拖地(di)(di)(di)模(mo)式(shi)下必須接(jie)(jie)(jie)(jie)地(di)(di)(di)，非拖地(di)(di)(di)模(mo)式(shi)下接(jie)(jie)(jie)(jie)地(di)(di)(di)屏蔽層(ceng)應懸空(kong)(kong)不(bu)能(neng)接(jie)(jie)(jie)(jie)地(di)(di)(di)且高壓(ya)(ya)測(ce)量線也(ye)應懸空(kong)(kong)吊起不(bu)能(neng)拖地(di)(di)(di)。

高(gao)壓輸(shu)出插座（0.5～10kV，*大200mA）

安裝位置(zhi)：如圖2-1所示，安裝在(zai)箱體(ti)前側面。

功&nbsp;   能(neng)：內高(gao)壓輸出；檢測反(fan)接線試品電流；內部標準電容器的(de)高(gao)壓端。

接(jie)(jie)線(xian)(xian)方法：插座1腳接(jie)(jie)高(gao)壓(ya)(ya)線(xian)(xian)芯線(xian)(xian)（紅夾子(zi)），2、3腳接(jie)(jie)高(gao)壓(ya)(ya)線(xian)(xian)屏(ping)(ping)蔽(bi)（黑夾子(zi)）。正接(jie)(jie)線(xian)(xian)時(shi)，高(gao)壓(ya)(ya)線(xian)(xian)芯線(xian)(xian)（紅夾子(zi)）和屏(ping)(ping)蔽(bi)（黑夾子(zi)）都可以用作(zuo)加壓(ya)(ya)線(xian)(xian)；反接(jie)(jie)線(xian)(xian)時(shi)只能用芯線(xian)(xian)對試(shi)品(pin)高(gao)壓(ya)(ya)端加壓(ya)(ya)。如果試(shi)品(pin)高(gao)壓(ya)(ya)端有(you)(you)屏(ping)(ping)蔽(bi)極（如高(gao)壓(ya)(ya)端的屏(ping)(ping)蔽(bi)環）可接(jie)(jie)高(gao)壓(ya)(ya)屏(ping)(ping)蔽(bi)，無屏(ping)(ping)蔽(bi)時(shi)高(gao)壓(ya)(ya)屏(ping)(ping)蔽(bi)懸空。若配(pei)置的高(gao)壓(ya)(ya)測試(shi)線(xian)(xian)有(you)(you)接(jie)(jie)地屏(ping)(ping)蔽(bi)層，則需(xu)將高(gao)壓(ya)(ya)測量線(xian)(xian)的接(jie)(jie)地屏(ping)(ping)蔽(bi)層連接(jie)(jie)至(zhi)圖2-1中的“1”處。

注意事項：

（1）若儀(yi)器(qi)CVT自(zi)(zi)激法高(gao)壓連線(xian)具(ju)備“高(gao)壓拖(tuo)地”功能，使(shi)用(yong)(yong)拖(tuo)地模式測量(liang)時(shi)務必使(shi)用(yong)(yong)原廠(chang)(chang)配置的專用(yong)(yong)高(gao)壓電(dian)(dian)纜(lan)（原廠(chang)(chang)電(dian)(dian)纜(lan)在出廠(chang)(chang)時(shi)已進行校準），不可使(shi)用(yong)(yong)其它高(gao)壓電(dian)(dian)纜(lan)代替(ti)，否則會引起較大(da)的測量(liang)誤差。CVT自(zi)(zi)激法不使(shi)用(yong)(yong)拖(tuo)地模式時(shi)，高(gao)壓電(dian)(dian)纜(lan)必須懸空，接(jie)地屏蔽層也(ye)不能接(jie)地！

（2）高(gao)壓插座(zuo)和(he)高(gao)壓線(xian)有(you)危(wei)險電(dian)壓，**禁止碰觸高(gao)壓插座(zuo)、電(dian)纜、夾子和(he)試品帶電(dian)部位(wei)！確認斷電(dian)后接線(xian)，測量時務必遠離(li)！

（3）用(yong)標準介損器（或標準電(dian)容器）檢定反接線精度時，應使用(yong)全屏蔽(bi)插頭連(lian)接試品，否則暴(bao)露的芯線會(hui)引(yin)起測量誤差。

（4）應保(bao)證高(gao)壓線與試品高(gao)壓端零電阻連接，否(fou)則可(ke)能引起誤差(cha)或數據波(bo)動，也可(ke)能引起儀器(qi)保(bao)護。

（5）強干擾下拆除接線時，應在保(bao)持電(dian)纜接地(di)狀態下斷開(kai)連接，以防感應電(dian)擊。

CVT自激法(fa)低壓輸出插座（3～50V，3～30A）

功    ;能：由該插座和圖2-1中的接地接線柱“4”輸出CVT測(ce)量的低壓變頻激勵電源。

注意事項：

（1）因低壓輸(shu)出電流(liu)大(da)，應(ying)采用儀器(qi)專用低阻(zu)線連接CVT二次(ci)繞組，接觸(chu)**會(hui)影響測量(liang)。

（2）視CVT容量從菜單選擇合適的電壓電流保護限。

（3）選擇(ze)正/反接線時，此輸出封(feng)閉。

測量接(jie)地(di)：它同外殼和電源插(cha)座地(di)線連到一起，與圖(tu)2-1的(de)(de)“3”一起輸出CVT測量的(de)(de)低壓變頻激勵電源。盡管儀器(qi)有接(jie)地(di)保護(hu)，但無論何種測量，儀器(qi)都應(ying)可(ke)靠獨立接(jie)地(di)以保障使用者的(de)(de)**及(ji)測量結果的(de)(de)準確。

打印機：微型熱敏打印機，用于打印測試數據。

USB：USB通信用。

RS232：與計算機聯機使(shi)用。

U盤：用于外接U盤保(bao)存數據。

試品輸(shu)入Cx插(cha)座（10μA～5A）

功    能(neng)：正接線時輸入試品(pin)電流。

接(jie)線(xian)(xian)方法：插座1腳接(jie)測(ce)量線(xian)(xian)芯線(xian)(xian)（紅夾(jia)子(zi)），2、3腳接(jie)測(ce)量線(xian)(xian)屏蔽(bi)（黑夾(jia)子(zi)）。正接(jie)線(xian)(xian)時芯線(xian)(xian)（紅夾(jia)子(zi)）接(jie)試品低壓信(xin)號端，如(ru)果試品低壓端有屏蔽(bi)極(ji)（如(ru)低壓端的(de)屏蔽(bi)環）可(ke)接(jie)屏蔽(bi)，試品無(wu)屏蔽(bi)時屏蔽(bi)懸空。

注意(yi)事項：

（1）測量中嚴禁拔下插(cha)頭，防止試品(pin)電流(liu)經人(ren)體入地(di)！

（2）用標準(zhun)介損器（或標準(zhun)電容(rong)器）檢測(ce)儀器正接(jie)線精(jing)度時(shi)，應使用全屏蔽插頭連接(jie)試品，否則暴露(lu)的芯線會引起測(ce)量(liang)誤差。

（3）應保(bao)證引(yin)線(xian)與試(shi)品低壓(ya)端0電阻連接，否則可能(neng)引(yin)起誤差或數據波動，也可能(neng)引(yin)起儀器保(bao)護。

（4）強(qiang)干擾下拆除接線時，應在(zai)保持電纜接地狀(zhuang)態下斷開連(lian)接，以防感應電擊。

標準(zhun)電(dian)容(rong)輸入Cn插(cha)座（10μA～5A）

功    能：輸入外接標準電容(rong)器(qi)電流(liu)。

接線方法：與Cx插座類似，其(qi)區別(bie)在于(yu)：

（1）使(shi)用(yong)外部標準(zhun)電(dian)容器(qi)時，應使(shi)用(yong)全屏蔽插頭連接。此方式常用(yong)于(yu)外接高電(dian)壓等級標準(zhun)電(dian)容器(qi)，實現高電(dian)壓介(jie)損(sun)測量。

（2）菜單選擇“外標準(zhun)電(dian)容”方式。

（3）將(jiang)外接(jie)標準電(dian)容器(qi)的C和tgδ置(zhi)入(ru)儀器(qi)，實現Cx電(dian)容介損的**值測量(liang)。

從理論(lun)上講，任何容量和介損的(de)電容器(qi)(qi)(qi)，將參數置(zhi)入(ru)儀(yi)器(qi)(qi)(qi)都可做標準電容器(qi)(qi)(qi)。不同(tong)的(de)是標準電容器(qi)(qi)(qi)能提供(gong)更好的(de)長期穩(wen)定(ding)性和精度。

（4）不(bu)管正接線還是反接線測量，標準電(dian)容器接線方式始終(zhong)為(wei)正接線。

總電源開關：開關機用(yong)，可在(zai)發現異(yi)常時(shi)隨(sui)時(shi)關閉。

供電(dian)電(dian)源插(cha)座(zuo)(zuo)：接220V市電(dian)，插(cha)座(zuo)(zuo)內置(zhi)保(bao)險絲(si)座(zuo)(zuo)，保(bao)險絲(si)規格為10A / 250V，若(ruo)損壞應使用相同規格的保(bao)險絲(si)替(ti)換(huan)。若(ruo)換(huan)用備(bei)用保(bao)險絲(si)后仍燒斷，可(ke)能儀器有故障，可(ke)通知廠家處理。

高(gao)壓(ya)允許開(kai)(kai)關：內(nei)置高(gao)壓(ya)系統(tong)(tong)或(huo)CVT自激法(fa)低(di)壓(ya)輸出系統(tong)(tong)的(de)總電源開(kai)(kai)關。此開(kai)(kai)關受總電源開(kai)(kai)關控制。

按(an)鍵(jian)(jian)(jian)：按(an)下(xia)“↑”、“↓”、“←”、“→”鍵(jian)(jian)(jian)可(ke)移(yi)動(dong)光標(biao)和修(xiu)改光標(biao)處內(nei)容，“確(que)(que)認(ren)”鍵(jian)(jian)(jian)用于確(que)(que)認(ren)或結束參數修(xiu)改，在(zai)測(ce)試界面(mian)長(chang)按(an)該鍵(jian)(jian)(jian)可(ke)開始測(ce)量(liang)，測(ce)量(liang)過程中，按(an)“確(que)(que)認(ren)”鍵(jian)(jian)(jian)可(ke)終止測(ce)量(liang)。

液晶(jing)顯示屏：320×240點陣灰白背光液晶(jing)顯示屏，顯示菜(cai)單、測量結果或出錯信息。應避(bi)免長時間陽(yang)光爆曬，避(bi)免重壓。

背光調(diao)節：液晶顯示屏顯示較暗或不清(qing)(qing)晰時可調(diao)節該(gai)電位器至合適位置使顯示明亮清(qing)(qing)晰。

指示燈：配(pei)合儀(yi)器內部蜂鳴器進行測試(shi)、報警(jing)等聲光(guang)警(jing)示。

3、WBJS6000異頻介損儀使用說(shuo)明

3.1初始菜(cai)單界面

打開(kai)總(zong)電源開(kai)關后，系統(tong)進入(ru)初始菜單界面。

測(ce)試(shi)(shi)模(mo)式(shi)：選擇測(ce)試(shi)(shi)模(mo)式(shi)和設(she)置各項測(ce)試(shi)(shi)參(can)數，

歷(li)史記(ji)錄：查看保存(cun)的歷(li)史數(shu)據

系統(tong)(tong)設置：出(chu)廠參數設置及系統(tong)(tong)時間校準

幫    助：可查閱(yue)軟件版本等信息

取消或(huo)使用CVT自激法“高壓連線(xian)拖地”功(gong)能：

開機右下角顯示“”表示該儀器在CVT自激法測試時高壓連線具備拖地功能。

光標停留在“測試模式”處長按“→”鍵（聽到蜂鳴器聲音松手）可取消或使用拖地模式（右下角顯示“”表示當前為拖地模式），在拖地模式下必須將高壓連線的接地屏蔽層插頭接至圖2-1中的“1”（高壓測量接地）處，否則會引起測量誤差；取消拖地模式后高壓連線必須懸空吊起，同時高壓連線的接地屏蔽層插頭也應懸空，否則會引起測量誤差。

使用或取消發“發電機供(gong)電”模式：

光標停留在“測試模式”處長按“←”鍵（聽到蜂鳴器聲音松手）可使用或取消發電機供電模式（左下角顯示“”表示當前為發電機供電模式），儀器開機默認為市電供電模式，發電機模式適合使用發電機或移動電源供電環境，發電機模式下儀器將不進行接地檢測。

3.2測試模式

3.2.1 開始測試菜(cai)單界面(mian)

在初始菜(cai)單界面將光標移動到“測試模式”按確(que)定按鈕(niu)進入開始測試菜(cai)單界面，如(ru)圖(tu)3-2所示。

界(jie)面左側為(wei)參數(shu)設置(zhi)選(xuan)項，移(yi)動光(guang)(guang)標到相關(guan)參數(shu)選(xuan)項按確定鍵(jian)可(ke)設置(zhi)相關(guan)試驗參數(shu)，右側顯示內容為(wei)已設置(zhi)好試驗參數(shu)，光(guang)(guang)標停留在“開始測試”欄長按“確認” 鍵(jian)可(ke)開始測試。

界面(mian)右側“測(ce)試地(di)點(dian)”下一(yi)行為信息提(ti)示(shi)(shi)(shi)行，若內(nei)外高(gao)壓(ya)(ya)(ya)選擇有(you)誤(wu)則(ze)提(ti)示(shi)(shi)(shi)“當(dang)前(qian)為內(nei)高(gao)壓(ya)(ya)(ya)模(mo)式，請開啟內(nei)高(gao)壓(ya)(ya)(ya)”或“當(dang)前(qian)為外高(gao)壓(ya)(ya)(ya)模(mo)式，請關閉內(nei)高(gao)壓(ya)(ya)(ya)”；若儀(yi)器(qi)沒有(you)接(jie)地(di)則(ze)會(hui)提(ti)示(shi)(shi)(shi)“請檢查接(jie)地(di)”，當(dang)有(you)錯誤(wu)提(ti)示(shi)(shi)(shi)時(shi)儀(yi)器(qi)無法正常啟動，只(zhi)有(you)提(ti)示(shi)(shi)(shi)“確(que)認無誤(wu)后長(chang)按確(que)認鍵開始測(ce)試”時(shi)儀(yi)器(qi)方可啟動測(ce)試。

3.2.2 試品模型選擇菜單界(jie)面

將光(guang)標(biao)(biao)移動(dong)(dong)(dong)到“試品模型(xing)(xing)”功能選(xuan)項，界面如圖3-3所(suo)示，按“確(que)認(ren)”按鈕后(hou)移動(dong)(dong)(dong)光(guang)標(biao)(biao)可選(xuan)擇(ze)合適的(de)試品模型(xing)(xing)（光(guang)標(biao)(biao)移動(dong)(dong)(dong)到相應功能后(hou)按確(que)認(ren)鍵）。實驗室(shi)一般使用串聯型(xing)(xing)介損因數(shu)標(biao)(biao)準器檢定，校驗時應使用RC串聯模型(xing)(xing)。

RC串聯(lian)(電(dian)(dian)(dian)流比較(jiao)儀型(xing)電(dian)(dian)(dian)橋(qiao))：采用電(dian)(dian)(dian)流比較(jiao)儀型(xing)電(dian)(dian)(dian)橋(qiao)（如QS30電(dian)(dian)(dian)橋(qiao)）校準(zhun)的串聯(lian)型(xing)試(shi)品(或介(jie)質損耗因(yin)數(shu)標準(zhun)器)，該項在開始測試(shi)界面顯(xian)示"RC串聯(lian)"。

RC串聯(西林型電橋)： 采用西林型電橋（如2801、QS1和QS37等電橋）校準的串聯型試品(或介質損耗因數標準器) ，該項在開始測試界面顯示 "RC串聯"。

RC并(bing)聯(現場使用)：一般實際的電容(rong)試品可等效為(wei)RC并(bing)聯模(mo)型(xing)，建議現場試驗(yan)時使用。

采用電流比較儀型電橋和西林型電橋校準的串聯型試品(或介質損耗因數標準器)的區別只是電容量不同：為西林型電橋標定值，C為電流比較儀型電橋標定值。

3.2.3 接線方式選擇(ze)菜單界(jie)面

將光標移(yi)動(dong)到“接線方式(shi)”功能選(xuan)項(xiang)，界面如圖3-4所示(shi)，按“確(que)認”按鈕后移(yi)動(dong)光標可選(xuan)擇合適的接線方式(shi)。

接(jie)線(xian)方(fang)式(shi)：共5種接(jie)線(xian)方(fang)式(shi)（功能(neng)因型號有差別，具體(ti)詳見型號功能(neng)說明部分），分別為：正(zheng)接(jie)線(xian)、反接(jie)線(xian)、反接(jie)線(xian)低壓屏(ping)蔽、CVT自激法和(he)變(bian)比。選擇(ze)CVT自激法測量時(shi)需同時(shi)將相關參數(shu)一(yi)并設置好。

CVT自(zi)激(ji)法測量必(bi)須打開內高壓(ya)允(yun)許開關，由機(ji)內提(ti)供激(ji)勵電壓(ya)，由“低壓(ya)輸出(chu)”和“測量接(jie)地”輸出(chu)。為**起見(jian)，CVT自(zi)激(ji)法還需要設置以下幾個保護限：

將光標移動到xxkV / xxmA / xxV / xxA，按↑↓選(xuan)(xuan)擇(ze)合適值，選(xuan)(xuan)擇(ze)好后按確認鍵退出。

xxkV：可選0.5/0.6/0.8/1/1.5/2/2.5/3/3.5/4kV，為高壓(ya)上(shang)限(xian)，只(zhi)能(neng)使用4kV以下電(dian)壓(ya)。

xxmA：可(ke)選10/15/20/25/30/35/40/45/50/60/70/80/100/120/140/200mA，表(biao)示(shi)待測試(shi)品的(de)高壓電流上(shang)限。

xxV：可選3/4/5/6/7/8/9/10/12/15/20/25/30/35/40/50V，表(biao)示低壓(ya)激勵電壓(ya)上限。

xxA：可(ke)選(xuan)3/4/5/6/7/8/9/10/11/12/13/14/15/16/20/30A，表示低壓激勵電(dian)流(liu)上限。

注意：

（1）測量時(shi)4個保護限(xian)(xian)同時(shi)起作用，因此(ci)試(shi)驗高壓可(ke)(ke)能達不(bu)到(dao)(dao)設(she)定(ding)值。如果高壓達不(bu)到(dao)(dao)保護限(xian)(xian)，可(ke)(ke)適(shi)當調整受(shou)到(dao)(dao)限(xian)(xian)制的(de)保護限(xian)(xian)。

（2）通常測量C1時低(di)壓(ya)激勵(li)電(dian)(dian)壓(ya)可(ke)達(da)20V，測量C2時低(di)壓(ya)激勵(li)電(dian)(dian)流(liu)可(ke)達(da)15A。一(yi)般(ban)可(ke)設(she)(she)高(gao)壓(ya)電(dian)(dian)壓(ya)2～3kV，較少采用(yong)高(gao)壓(ya)電(dian)(dian)流(liu)限制(zhi)，可(ke)設(she)(she)為*大200mA。

變比測量時(shi)應選擇合適的高壓(ya)輸出(chu)使二次側電壓(ya)小(xiao)于(yu)120V，當二次側電壓(ya)≥120V時(shi)儀器會發(fa)出(chu)聲光報警并提示“接線錯誤”。

3.2.4 標準電容選擇菜(cai)單(dan)界面(mian)

將光標(biao)(biao)移(yi)動(dong)到“標(biao)(biao)準(zhun)電(dian)容(rong)”功(gong)能選(xuan)項，界面如圖3-5所示，按(an)“確認”按(an)鈕(niu)后移(yi)動(dong)光標(biao)(biao)可(ke)選(xuan)擇(ze)合適的(de)標(biao)(biao)準(zhun)電(dian)容(rong)。選(xuan)擇(ze)外(wai)標(biao)(biao)準(zhun)電(dian)容(rong)時需同時將外(wai)標(biao)(biao)準(zhun)的(de)電(dian)容(rong)量和介損一并設置(zhi)好。

選擇外(wai)標準(zhun)電容時(shi)將光標移動(dong)到Cn=xxxxx e x pF 和tgδ=xx.xxx%按(an)↑↓選擇合適值，選擇好后按(an)確(que)認鍵(jian)退出。

Cn采用(yong)科學計數法，如5.000e1=5.000×101=50.00，1.000e2=1.000×102=100.0等，范圍(wei)0.000e0～9.999e5 (即(ji)0～999900pF)。tgδ設置范圍(wei)0～±9.999%。

內標(biao)(biao)準電容通常可用(yong)于正、反接線測量(liang)和CVT自激法測量(liang)，高電壓介損選用(yong)外標(biao)(biao)準方式，需要(yao)將外接電容參數(shu)置入儀器(qi)。

3.2.5 測試頻率選擇菜單界面

測試頻(pin)(pin)率(lv)可選(xuan)擇(ze)定頻(pin)(pin)或(huo)異頻(pin)(pin)，頻(pin)(pin)率(lv)選(xuan)擇(ze)菜單(dan)界面如圖3-6所示，頻(pin)(pin)率(lv)選(xuan)擇(ze)范圍(wei)如下(xia)：

定頻：

“50Hz”：為工頻測量，此設置不能抗干(gan)擾(rao)，在試驗室內測量或(huo)校驗時選用。

“45/55/60/65Hz”：為單頻率(lv)測量(liang)，研究不(bu)同頻率(lv)下介損的(de)變化時選用(yong)。

頻(pin)(pin)率(lv)自適(shi)應：外高壓測(ce)量模式下有效（不能更改），系統自動識別外施高壓頻(pin)(pin)率(lv)，測(ce)試(shi)頻(pin)(pin)率(lv)無需在測(ce)試(shi)前設置。

異(yi)頻：

“45/55Hz”：為自動變頻(pin)，適(shi)合50Hz電(dian)網工頻(pin)干(gan)擾下測量。

“55/65Hz”：為自動變(bian)頻，適(shi)合60Hz電網工頻干擾下測量。

“47.5/52.5Hz”：為(wei)自動變頻，適(shi)合50Hz電網工頻干擾下(xia)測量。

3.2.6 測試(shi)電壓選擇菜單界面(mian)

內高壓(ya)(ya)可(ke)選擇“0.5 /0.6 /0.8 /1 /1.5 /2 /2.5 /3 /3.5 /4 /4.5 /5 /5.5 /6 /6.5 /7 /7.5 /8 /8.5 /9 /9.5 /10.0kV”（F型*高輸出電壓(ya)(ya)為12kV），應根據高壓(ya)(ya)試(shi)驗(yan)規程選擇合適的試(shi)驗(yan)電壓(ya)(ya)。

注：若選(xuan)擇“CVT自(zi)(zi)激(ji)法”測試(shi)功(gong)能，則該選(xuan)項無效。CVT自(zi)(zi)激(ji)法的相關電(dian)壓參數(shu)需在該功(gong)能選(xuan)項下進行設置。

3.2.7 測試備忘設置(zhi)菜單界面

設(she)(she)備(bei)編(bian)號：可設(she)(she)置(zhi)8位字母(mu)或(huo)數字編(bian)號，將(jiang)光標(biao)移(yi)動(dong)(dong)到”設(she)(she)備(bei)編(bian)號”處，按確認健進入(ru)設(she)(she)備(bei)編(bian)號設(she)(she)置(zhi)，通過(guo)(guo)“←”、“→”健移(yi)動(dong)(dong)光標(biao)，通過(guo)(guo)↑↓選擇合適(shi)值，設(she)(she)置(zhi)好后按確認鍵(jian)退出。

測(ce)試人(ren)員：可設置(zhi)8位字母或數字編號(hao)，將(jiang)光(guang)標移動到” 測(ce)試人(ren)員”處(chu)，按(an)確認健(jian)進入測(ce)試人(ren)員設置(zhi)，通(tong)過(guo)“←”、“→”健(jian)移動光(guang)標，通(tong)過(guo)↑↓選擇合適(shi)值，設置(zhi)好后按(an)確認鍵退出(chu)。

測試地點(dian)：可設置(zhi)8位(wei)字母或數字編號(hao)，將光標移動(dong)到” 測試地點(dian)”處(chu)，按(an)確(que)認(ren)健進入測試地點(dian)設置(zhi)，通過“←”、“→”健移動(dong)光標，通過↑↓選擇合(he)適值(zhi)，設置(zhi)好后按(an)確(que)認(ren)鍵(jian)退(tui)出。

3.2.8 測試(shi)結(jie)果界面

3.2.8.1反接法測試結果界(jie)面

測試完成顯示結果后，可移動光標選擇(ze)保存或(huo)打(da)印(yin)數據。

儀(yi)器(qi)自動(dong)分辨(bian)電(dian)(dian)(dian)容、電(dian)(dian)(dian)感(gan)、電(dian)(dian)(dian)阻型(xing)試品(pin)(pin)：電(dian)(dian)(dian)容型(xing)試品(pin)(pin)顯示(shi)Cx和tgδ；電(dian)(dian)(dian)感(gan)型(xing)試品(pin)(pin)顯示(shi)Lx和Q；電(dian)(dian)(dian)阻型(xing)試品(pin)(pin)顯示(shi)Rx和附加Cx或Lx。自動(dong)選取顯示(shi)單位。

試品為(wei)電(dian)容時：顯(xian)示數據(ju)為(wei)Cx、tgδ、Ux、Ix、Φ、f1、f2, |δ|>1則顯(xian)示電(dian)容和串/并聯電(dian)阻(zu)

試品為電(dian)感時(shi)：顯示數據為Lx、Q、Ux、Ix、Φ、f1、f2, |Q|<1則(ze)顯示電(dian)感和串聯電(dian)阻(zu)

試品(pin)為電阻時：顯示數據為Cx(Lx)、Rx、Ux、Ix、Φ、f1、f2

Cx   試品電容量[1μF=1000nF納法 / 1nF=1000pF]，如顯示10.00nF即(ji)10000pF

tgδ 介損因數[1%=0.01]

Lx &nbsp; 試(shi)品電感量[1MH兆亨=1000kH / 1kH=1000H]

Q    品質因數[無單位(wei)]

Rx   試品電阻值[1MΩ=1000kΩ / 1kΩ=1000Ω]

Ux   試驗電壓[1kV=1000V / 1V=1000mV]

Ix   試(shi)品電流[1A=1000mA / 1mA=1000μA]

Φ   試品(pin)電(dian)流超(chao)前(qian)試驗電(dian)壓的(de)角度[°度]或測變(bian)比時一次(ci)電(dian)壓超(chao)前(qian)二(er)次(ci)電(dian)壓的(de)角度

K    測CVT變比時，一(yi)次電(dian)壓比二次電(dian)壓

f1   頻(pin)率[Hz]，顯示(shi)**次測試頻(pin)率

f2   頻率(lv)[Hz]，顯示**次測試頻率(lv)

顯(xian)示over表示測量數據超量程。

3.2.8.2反接線低壓屏蔽測試結果(guo)界面

反接線低壓屏(ping)蔽測試一次接線可同時測出C11和C下節(下端屏(ping)蔽部分)的電容量和介損值(zhi)。

3.2.8.3 CVT自激法測試(shi)結果界面

CVT自(zi)激法(fa)按測(ce)量(liang)接線，與試品輸(shu)入Cx插(cha)座連接的(de)定義為(wei)(wei)C1，與高(gao)壓線連接的(de)為(wei)(wei)C2。U1為(wei)(wei)測(ce)量(liang)C1時的(de)高(gao)壓，U2為(wei)(wei)測(ce)量(liang)C2時的(de)高(gao)壓。

3.3歷史數(shu)據

進入(ru)歷史數據(ju)菜單界面如圖3-12所示。

移動(dong)光標(biao)(biao)(biao)到“U盤”選(xuan)項按(an)(an)“確(que)(que)定(ding)(ding)”鍵可(ke)將數(shu)據(ju)(ju)(ju)(ju)導出到U盤，上(shang)移到“清(qing)空(kong)”選(xuan)項按(an)(an)“確(que)(que)定(ding)(ding)”鍵可(ke)清(qing)空(kong)保(bao)存(cun)的(de)全部(bu)數(shu)據(ju)(ju)(ju)(ju)。將光標(biao)(biao)(biao)移動(dong)到“>>>>”選(xuan)項按(an)(an)下“確(que)(que)定(ding)(ding)”鍵進(jin)入(ru)數(shu)據(ju)(ju)(ju)(ju)選(xuan)擇(ze)(ze)界面(mian)，光標(biao)(biao)(biao)位置默認(ren)停(ting)留在(zai)*近保(bao)存(cun)的(de)單(dan)條數(shu)據(ju)(ju)(ju)(ju)上(shang)，若要(yao)查(cha)(cha)看其(qi)他數(shu)據(ju)(ju)(ju)(ju)可(ke)上(shang)下移動(dong)光標(biao)(biao)(biao)進(jin)行選(xuan)擇(ze)(ze)，選(xuan)擇(ze)(ze)好要(yao)查(cha)(cha)看的(de)數(shu)據(ju)(ju)(ju)(ju)后按(an)(an)“確(que)(que)定(ding)(ding)”按(an)(an)鈕進(jin)入(ru)單(dan)條歷(li)史數(shu)據(ju)(ju)(ju)(ju)顯示(shi)界面(mian)。歷(li)史數(shu)據(ju)(ju)(ju)(ju)選(xuan)擇(ze)(ze)界面(mian)和單(dan)條歷(li)史數(shu)據(ju)(ju)(ju)(ju)顯示(shi)界面(mian)如(ru)圖3-13和圖3-14所示(shi)。

進入單(dan)條歷史數(shu)據顯(xian)示界(jie)面后，在左側(ce)功(gong)能選項區(qu)上下(xia)移(yi)動光標可(ke)選擇打(da)印、刪除(chu)本條數(shu)據和退出單(dan)條歷史數(shu)據顯(xian)示界(jie)面。

3.4系統(tong)設置

進(jin)(jin)入系統(tong)(tong)設置菜(cai)單可進(jin)(jin)行系統(tong)(tong)時間校準，“出廠設置”參(can)數禁止用戶修改，只允許生(sheng)產(chan)廠家進(jin)(jin)行出廠參(can)數設置。

3.5幫助(zhu)

可查看儀器的(de)相關操作(zuo)指導(dao)。

3.6啟動測量

進(jin)入測(ce)試界面設置好各項試驗參數(shu)后，將(jiang)光(guang)標移動(dong)到“開始測(ce)試”功能選項上(shang)，按住“確認”鍵3s以上(shang)啟動(dong)測(ce)量。

啟動測量(liang)后(hou)發出(chu)聲光報警；在測試(shi)過(guo)程(cheng)中會實時(shi)顯(xian)示測試(shi)相關參數（電壓、電流、頻率(lv)、電容(rong)量(liang)等參數）和測量(liang)進程(cheng)(0%～99%)。

測量(liang)中按(an)“確(que)認(ren)”鍵(jian)可取消測量(liang)，遇緊(jin)急情況立即關閉總電源。

測(ce)量過程結束，儀器自動降壓后再顯示結果。

3.7對比度調節

液(ye)晶顯(xian)示屏(ping)的對比度已(yi)在出廠時校好，如果您感(gan)覺(jue)不夠清晰，調(diao)整面板上的電位器使液(ye)晶顯(xian)示屏(ping)顯(xian)示內(nei)容清晰為止。

4、參考接線(xian)

4.1常規正接線(xian)（正接線(xian)、內標準(zhun)電容、內高(gao)壓）

4.2常(chang)規反接線(xian)（反接線(xian)、內(nei)(nei)標(biao)準(zhun)電容、內(nei)(nei)高壓(ya)）

4.3正接線(xian)、外標準電容、內(nei)高壓

4.4反接線、外標準電(dian)容、內高壓

4.5正接線、內(nei)標準電容、外高壓

4.6反接線、內標準(zhun)電容、外(wai)高壓(ya)

4.7正接(jie)線、外標準電容、外高壓（高電壓介損）

4.8反接線(xian)、外(wai)標準電(dian)容、外(wai)高壓

4.9反接(jie)線低(di)壓(ya)屏(ping)蔽

可(ke)(ke)在220kV CVT母(mu)線(xian)(xian)接(jie)地情況下(xia)，對(dui)C11進行不(bu)拆(chai)(chai)線(xian)(xian)10kV反接(jie)線(xian)(xian)介損測(ce)量。如下(xia)圖所示：母(mu)線(xian)(xian)掛地線(xian)(xian)，C11上端不(bu)拆(chai)(chai)線(xian)(xian)，C11下(xia)端接(jie)高壓線(xian)(xian)芯線(xian)(xian)，C2末端δ和(he)(he)(he)X接(jie)Cx芯線(xian)(xian)。這樣(yang)C12和(he)(he)(he)C2被(bei)低壓屏蔽(bi)，儀器采用反接(jie)線(xian)(xian)低壓屏蔽(bi)測(ce)量方式(shi)，可(ke)(ke)同時(shi)測(ce)出(chu)C11和(he)(he)(he)下(xia)端被(bei)屏蔽(bi)部分的電容量和(he)(he)(he)介損值。

4.10 CVT自激法

高(gao)壓(ya)(ya)線(xian)(xian)芯(xin)線(xian)(xian)接C2下端，Cx芯(xin)線(xian)(xian)接C12上端。在CVT 自(zi)激法(fa)測(ce)量(liang)中，儀(yi)器(qi)先測(ce)量(liang)C12，然后自(zi)動倒線(xian)(xian)測(ce)量(liang)C2，并(bing)自(zi)動校準(zhun)分壓(ya)(ya)影(ying)響。

1）D型高壓連(lian)線不可拖地，高壓線應懸(xuan)空(kong)不能接觸地面（高壓線的(de)接地屏蔽層插頭必須(xu)懸(xuan)空(kong)），否則其(qi)對地附加(jia)介損會引起誤(wu)差，可用細電纜(lan)連(lian)接高壓插座與CVT試品并吊起。

2）E、F、S、J型高壓連線可拖地使用，在開機初始界面（圖3-1界面），光標停留在“測試模式”處長按“→”鍵（聽到蜂鳴器聲音松手）可取消或使用拖地模式（右下角顯示“”表示當前為拖地模式），在拖地模式下必須將高壓連線的接地屏蔽層插頭接至圖2-1中的“1”（高壓測量接地）處，否則會引起測量誤差；取消拖地模式后高壓連線必須懸空吊起，高壓連線的接地屏蔽層插頭也應懸空，否則會引起測量誤差。拖地模式下的高壓連線必須使用原廠配置的電纜（已校準），否則會引起測量誤差！

4.11 CVT變比測試

儀器高壓線(xian)的(de)芯(xin)線(xian)紅(hong)夾子(zi)接(jie)CVT的(de)上端，母線(xian)拆地，CVT下端接(jie)地，低壓線(xian)紅(hong)黑夾子(zi)接(jie)二(er)次繞組。

5、常見CVT的參考測量方(fang)法

目(mu)前常見的電容式電壓互感器(qi)可分為110kV、220kV、500kV等不同電壓等級，一(yi)(yi)般110kV的CVT其C1就(jiu)一(yi)(yi)節(jie)，220kV的CVT其C1有(you)兩(liang)節(jie)，而(er)500kV的CVT其C1有(you)三節(jie)。

5.1  500kV CVT的(de)測量方法

1）C11的測量(liang)方法(fa)

按圖5-1標(biao)明的方式(shi)接線(xian)，測量(liang)C11時應注意：

◇ 拆開δ端，X端一定要接(jie)地

◇ a點接(jie)紅(hong)色(se)高(gao)(gao)壓(ya)測試(shi)線(xian)的(de)芯線(xian)（紅(hong)夾子），b點接(jie)紅(hong)色(se)高(gao)(gao)壓(ya)測試(shi)線(xian)的(de)高(gao)(gao)壓(ya)屏蔽層(ceng)（黑夾子）

2）C12的測量方法(fa)

按圖5-2標(biao)明的方式接線，測(ce)量C12時注意：

◇ 拆開δ端，X端一(yi)定(ding)要接地

◇&nbsp;a點(dian)接紅色高壓(ya)測(ce)試(shi)(shi)線(xian)芯線(xian)（紅夾子(zi)），b點(dian)接黑色低壓(ya)測(ce)試(shi)(shi)線(xian)芯線(xian)（紅夾子(zi)）

3）C13和C2的測量方法

儀器設(she)有(you)專(zhuan)門的CVT自(zi)激(ji)(ji)法，不需外(wai)加任何其它設(she)備(bei)，就可以完成(cheng)測(ce)試。按圖5-3標明的方式接線，儀器選用(yong)CVT自(zi)激(ji)(ji)法測(ce)量方式，試驗(yan)電(dian)壓可設(she)置為2kV，CVT自(zi)激(ji)(ji)法能一次測(ce)量C13和C2兩(liang)個電(dian)容的介損和電(dian)容量。

5.2  220kV CVT的測量方法

1）C11的測量方法

按圖5-4標明的方式(shi)接線，測量(liang)C11時注(zhu)意(yi)：

◇ δ和X相連，與接地分開。

◇&nbsp;a點接(jie)紅色高壓測試(shi)線的芯(xin)線（紅夾子），C2末(mo)端δ和X 接(jie)Cx端芯(xin)線，這樣C12與C2就被低壓屏蔽了。

2）C12和C2的(de)測(ce)量(liang)方法

儀(yi)器設有專(zhuan)門(men)的(de)(de)CVT自激(ji)法(fa)，不需外加(jia)任(ren)何其它設備(bei)，就可以完(wan)成(cheng)測試。按(an)圖5-5標(biao)明的(de)(de)方式接線，儀(yi)器選用CVT自激(ji)法(fa)測量(liang)方式，試驗電(dian)壓可設置為2kV，CVT自激(ji)法(fa)能一次測量(liang)C12和(he)C2兩個電(dian)容(rong)的(de)(de)介(jie)損和(he)電(dian)容(rong)量(liang)。

5.3  110kV CVT的測量方法

儀(yi)(yi)器(qi)設有專門的CVT自(zi)激法，不需外加任何其(qi)它設備，就可(ke)以完成測試(shi)。按圖5-6標明的方式接線，儀(yi)(yi)器(qi)選用CVT自(zi)激法測量方式，試(shi)驗電(dian)壓(ya)可(ke)設置為2kV，CVT自(zi)激法能一次測量C13和C2兩(liang)個電(dian)容的介損和電(dian)容量。

6、現場(chang)試驗注意事項

如果使用中出現測(ce)試數(shu)據明顯不(bu)合理，請(qing)從以下(xia)方(fang)面查找原因(yin)：

6.1搭鉤接觸**

現場測量使(shi)用搭鉤連(lian)接試品時，搭鉤務必與(yu)試品接觸良好，否則(ze)接觸點放電(dian)會(hui)引(yin)起數據(ju)嚴重波動！尤其是引(yin)流線氧化層(ceng)太厚，或風吹線擺(bai)動，易造成接觸**。

6.2接(jie)地(di)接(jie)觸**

接地(di)(di)**會引起儀器保護(hu)或數據嚴重波動。應刮凈(jing)接地(di)(di)點上(shang)的油(you)漆和銹蝕，務必保證0電阻接地(di)(di)！

6.3直接測量CVT或末端(duan)屏蔽法測量電磁(ci)式PT

直接測量CVT的下節(jie)耦合電容會出現負(fu)介(jie)(jie)損(sun)，消除負(fu)介(jie)(jie)損(sun)可(ke)采取下述措施或改用CVT自激法測量：

1）測(ce)試時測(ce)量(liang)儀器的(de)接地端(duan)直接接在被試品的(de)金屬底(di)座(zuo)上，并保證(zheng)接觸良好。

2）條件允許時盡可能(neng)將非被(bei)試繞組(zu)短(duan)接，以減小(xiao)電感和鐵心損耗的(de)影響。

3）被試品周(zhou)圍(wei)不應有鐵架、腳手(shou)架、木梯等物體，盡可(ke)能(neng)減小分布(bu)阻抗的影(ying)響(xiang)。

4）試(shi)驗引線與被試(shi)品的夾角應(ying)盡(jin)可能接近90°，以減小線與試(shi)品間的分布電容。

用(yong)末(mo)端屏蔽(bi)法(fa)測量(liang)電磁式PT時，由于受(shou)潮(chao)引(yin)起“T形網絡干擾(rao)”出現負介損(sun)，吹干下面三裙瓷(ci)套和接線端子盤即可(ke)。也(ye)可(ke)改用(yong)常規法(fa)或末(mo)端加壓法(fa)測量(liang)。

6.4空氣濕(shi)度過大

空氣濕度(du)大使(shi)介損測量(liang)值異(yi)常增大（或減(jian)小甚至為負）且不穩定，必要(yao)時可加屏(ping)蔽環。因人為加屏(ping)蔽環改(gai)變了試品電場分布，此法(fa)有(you)爭議，可參(can)照有(you)關規程。

6.5發(fa)電機供電

發電機供電時可采用定頻50Hz模式工作。

6.6測試線

1）由于長期使用(yong)，易造成測試線隱性(xing)斷路(lu)，或芯(xin)線和屏蔽短路(lu)，或插頭接觸**，用(yong)戶應(ying)經常維護測試線。

2）測試標準電容(rong)(rong)試品時，應使用(yong)全屏(ping)蔽(bi)插(cha)頭連接，以消除附加(jia)雜散(san)電容(rong)(rong)影響，否則不能反映儀器(qi)精度。

3）自激法測量CVT時，若使(shi)用(yong)(yong)“高(gao)壓(ya)(ya)連(lian)線拖地(di)”功能，請(qing)務必使(shi)用(yong)(yong)原廠(chang)配置的(de)(de)專(zhuan)用(yong)(yong)高(gao)壓(ya)(ya)電(dian)纜（原廠(chang)電(dian)纜在出(chu)廠(chang)時已(yi)進行校準），高(gao)壓(ya)(ya)連(lian)線的(de)(de)接地(di)屏蔽層必須接地(di)，不可使(shi)用(yong)(yong)其它高(gao)壓(ya)(ya)電(dian)纜代(dai)替，否則(ze)會引起較大(da)的(de)(de)測量誤差。若拖地(di)模式下測量誤差較大(da)，則(ze)需將專(zhuan)用(yong)(yong)高(gao)壓(ya)(ya)電(dian)纜返廠(chang)重新進行校準。

4）自激法測(ce)量(liang)CVT時，非專(zhuan)用的(de)高壓線應(ying)(ying)吊起懸空，否則對地(di)附加雜散電(dian)容和(he)介損(sun)會引(yin)起測(ce)量(liang)誤差(cha)。使用專(zhuan)用電(dian)纜在非拖地(di)模式下測(ce)量(liang)CVT，高壓電(dian)纜也應(ying)(ying)懸空且電(dian)纜的(de)接(jie)地(di)屏蔽層不能接(jie)地(di)，否則會引(yin)起較大的(de)測(ce)量(liang)誤差(cha)。

6.7工作模式選擇

接好線后請選(xuan)擇(ze)正確(que)的測(ce)量工作模式(shi)，不(bu)可選(xuan)錯。特別是(shi)干(gan)擾環(huan)境(jing)下應選(xuan)用變頻抗干(gan)擾模式(shi)。

6.8試驗方法影響

由(you)于(yu)介損測量(liang)受(shou)試(shi)驗方(fang)法影響較大，應區(qu)分是(shi)試(shi)驗方(fang)法誤差還是(shi)儀器誤差。出現問題(ti)時可首(shou)先(xian)檢(jian)(jian)查(cha)接線(xian)，然后檢(jian)(jian)查(cha)是(shi)否為儀器故障(zhang)。

6.9儀器故障

1）用萬用表測量一(yi)下測試線是否(fou)斷路(lu)，或芯線和屏蔽是否(fou)短(duan)路(lu)；

2）輸(shu)入電源220V過高或過低(di)；接地是否良好；

3）用正、反接線測一下(xia)標(biao)準電(dian)容(rong)器或已知容(rong)量和介損的(de)電(dian)容(rong)試(shi)品，如(ru)果(guo)結(jie)果(guo)正確(que)，即可判斷儀器沒有(you)問題；

4）拔下所(suo)有(you)測試(shi)導線，進行空試(shi)升壓，若不能正常工作，儀(yi)器可能有(you)故(gu)障。

7、儀器檢定

7.1檢定

用帶插(cha)頭(tou)的(de)屏蔽電(dian)(dian)纜(lan)連(lian)接(jie)標準(zhun)損耗器。如果(guo)不能保證標準(zhun)損耗器的(de)精度，應使用比對法檢定，建議用2801電(dian)(dian)橋或其它精密(mi)電(dian)(dian)橋作比對標準(zhun)。

1）介質損耗因數標準器一般為串(chuan)聯(lian)模型(xing)，因此(ci)儀(yi)器的試(shi)品模型(xing)應選擇“RC串(chuan)聯(lian)(電(dian)流比較儀(yi)型(xing)電(dian)橋)”或“RC串(chuan)聯(lian)(西林型(xing)電(dian)橋)”。

RC串聯(lian)(lian)(電流比較儀(yi)(yi)型(xing)(xing)電橋(qiao))：采用電流比較儀(yi)(yi)型(xing)(xing)電橋(qiao)（如QS30電橋(qiao)）校準的串聯(lian)(lian)型(xing)(xing)試(shi)品(或介(jie)質(zhi)損耗因數標準器)，該項在開始測試(shi)界(jie)面顯(xian)示"RC串聯(lian)(lian)"。

RC串聯(西林型電橋)： 采用西林型電橋（如2801、QS1和QS37等電橋）校準的串聯型試品(或介質損耗因數標準器) ，該項在開始測試界面顯示 "RC串聯"。

采用電(dian)流比較儀型電(dian)橋和(he)西林型電(dian)橋校準的(de)串聯型試品(pin)(或介質(zhi)損(sun)耗因數(shu)標準器)的(de)區別(bie)只是電(dian)容(rong)量不同：

為西林型電橋標定值，C為電流比較儀型電橋標定值。

2）用(yong)(yong)介質損耗因數標準(zhun)(zhun)器（或標準(zhun)(zhun)電(dian)容器）檢定儀(yi)器反(fan)接線(xian)精(jing)度時，高壓電(dian)纜與試品連接必須使用(yong)(yong)全(quan)屏蔽插頭，否則(ze)暴露的(de)芯線(xian)會(hui)引起測量誤差。

3）用介質損(sun)耗因數標準器(qi)(qi)(qi)（或標準電(dian)容(rong)器(qi)(qi)(qi)）檢定儀器(qi)(qi)(qi)正(zheng)接(jie)線(xian)精度時，低壓電(dian)纜與試品(pin)連接(jie)必須(xu)使用全屏(ping)蔽插頭，否則(ze)暴(bao)露的芯線(xian)會(hui)引起測量誤差。

嚴格按照上述要(yao)求(qiu)檢定方能真實反映本儀器的(de)測量精度！

7.2抗干(gan)擾(rao)能力

設置一(yi)個(ge)回路向儀器注入定量的干擾電流。

注意：

1）應考慮到該回路(lu)可能(neng)成為試品的一部(bu)分(fen)。

2）儀器(qi)啟動后會使220V供電電路(lu)帶有測量(liang)(liang)頻率分量(liang)(liang)，如果該(gai)頻率分量(liang)(liang)又通過干(gan)擾電流(liu)進入儀器(qi)，則(ze)無法檢驗儀器(qi)的抗干(gan)擾能力。

3）不建議用臨近高壓(ya)導(dao)體(ti)施加干擾(rao)，因(yin)為這(zhe)(zhe)樣很(hen)容易(yi)產生近距離**放(fang)電(dian)，這(zhe)(zhe)種放(fang)電(dian)電(dian)阻是非線性的，容易(yi)產生同頻干擾(rao)。