1、WBJS6000變頻介損儀特(te)點及性能

介損絕(jue)緣試驗(yan)可以有效地(di)發現電器設備(bei)絕(jue)緣的整體受(shou)潮劣化變質以及局部缺(que)陷等，在電工制造、電氣設備(bei)安裝、交接和預(yu)防(fang)性試驗(yan)中都廣泛應用。

介(jie)質損耗測(ce)量儀用于(yu)現場介(jie)損測(ce)量或試(shi)驗(yan)室精(jing)密介(jie)損測(ce)量。儀器為一體(ti)化(hua)結構，內置介(jie)損電橋、變(bian)頻電源、試(shi)驗(yan)變(bian)壓(ya)器和標準(zhun)電容器等。儀器采(cai)用變(bian)頻抗干擾(rao)和傅立葉變(bian)換數字濾(lv)波技(ji)術，全自動智(zhi)能化(hua)測(ce)量，強干擾(rao)下測(ce)量數據非常穩(wen)定。測(ce)量結果(guo)由大屏幕液(ye)晶顯示(shi)，儀器自帶微型(xing)打印機可打印輸出測(ce)試(shi)結果(guo)。

1.1主(zhu)要技(ji)術(shu)指標

額定工作條件：環境溫度  -10℃～50℃

相對濕度  <85%阿

輸入電(dian)(dian)源：    180V～270VAC，50Hz/60Hz±1%，市電(dian)(dian)或發電(dian)(dian)機供(gong)電(dian)(dian)

準確度：      Cx: ±（讀數×1%+1pF）

tgδ: ±（讀數×1%+0.00040）

抗干擾指標(biao)：   變頻抗干擾，在200%干擾下(xia)仍能達到上述(shu)準確度(du)

電容量范圍：   內施高(gao)壓(ya)：3pF～60000pF/10kV    60pF～1μF/0.5kV

外施高壓(ya)：3pF～1.5μF/10kV      60pF～30μF/0.5kV

分(fen)辨率：       *高0.001pF，4位有效數字

tgδ范圍： &nbsp;   不限，分辨率0.001%，電容、電感、電阻三種試品自動識別。

試驗電(dian)流范圍： 10μA～5A

內施(shi)高壓： &nbsp;  設(she)定電壓范圍：0.5～10kV

*大輸出電流：200mA

升降壓方式(shi)：連續(xu)平滑(hua)調節

電壓精度：±(1.0%×讀數+10V)

電壓分辨率(lv)：0.1V

試(shi)驗頻率：45、50、55、60、65Hz 單頻

45/55Hz、55/65Hz、47.5/52.5Hz 自動雙變頻

頻率(lv)精度：±0.01Hz

外施高壓：    正、反接線時(shi)*大試(shi)驗(yan)電流5A

CVT自激(ji)法低壓輸(shu)(shu)出(chu)：輸(shu)(shu)出(chu)電(dian)壓3～50V，輸(shu)(shu)出(chu)電(dian)流(liu)3～30A

高電(dian)壓介損(sun)：  支持變頻和諧振(zhen)電(dian)源高電(dian)壓介損(sun)

實時(shi)(shi)(shi)時(shi)(shi)(shi)鐘：    實時(shi)(shi)(shi)顯示時(shi)(shi)(shi)間(jian)和日期

內部(bu)存(cun)儲：    儀(yi)器內部(bu)可(ke)存(cun)儲100組測量(liang)數(shu)據

U盤(pan)：  &nbsp;     支(zhi)持U盤(pan)存儲

打印機：      微型熱敏打印機

計(ji)算機接口：  標準RS232接口（選配）

尺寸重(zhong)量(liang)：    K型：外形尺寸368mm×288mm×280mm；主機(ji)重(zhong)量(liang)22kg。

其他款型(xing)：外形尺寸430mm×314mm×334mm；主(zhu)機重量(liang)30kg。

注：上述為E型主要(yao)技術指(zhi)標，其(qi)它型號技術指(zhi)標詳見本章節“1.3.6各型號測試功(gong)能(neng)說明”。

1.2 WBJS6000變頻介損儀系列型號功能列表

1.3 WBJS6000變頻介損儀主要功能特點

1.3.1 變頻抗(kang)干擾(rao)

采(cai)用(yong)變頻抗(kang)干擾(rao)技術，在200%干擾(rao)下仍能準確測(ce)量，測(ce)試(shi)數據(ju)穩定，適合(he)在現(xian)場(chang)做抗(kang)干擾(rao)介損試(shi)驗。

1.3.2高精度測量

采用數字(zi)波(bo)形分析和電(dian)(dian)橋自校準(zhun)等(deng)技術，配合高(gao)精(jing)度三端(duan)標準(zhun)電(dian)(dian)容器，實(shi)現高(gao)精(jing)度介(jie)損測(ce)量(liang)。儀(yi)器所有(you)量(liang)程(cheng)輸入電(dian)(dian)阻低于2Ω，消(xiao)除了測(ce)量(liang)電(dian)(dian)纜附加(jia)電(dian)(dian)容的影(ying)響。

1.3.3**措施

高(gao)壓(ya)保護：試(shi)品短(duan)(duan)路、擊(ji)穿(chuan)或高(gao)壓(ya)電(dian)流波(bo)動，能以短(duan)(duan)路方式(shi)高(gao)速切斷輸出。

供電(dian)保護：誤接380V、電(dian)源波動(dong)或突然(ran)斷(duan)電(dian)，啟動(dong)保護，不會引(yin)起過電(dian)壓。

接地保護：具(ju)有接地檢測功(gong)能，未接地時不(bu)能升(sheng)壓，若測量過程(cheng)中儀器接地**則啟動接地保護。

CVT 保護(hu)：高壓側(ce)(ce)電(dian)(dian)壓和(he)電(dian)(dian)流、低壓側(ce)(ce)電(dian)(dian)壓和(he)電(dian)(dian)流四個保護(hu)限制，不(bu)會(hui)損壞設(she)備；誤(wu)選菜單(dan)不(bu)會(hui)輸出激磁(ci)電(dian)(dian)壓。CVT測量時無(wu)10kV高壓輸出。

防誤(wu)操作：兩級電(dian)源開關；電(dian)壓(ya)、電(dian)流實時監(jian)視；多次按(an)鍵確認(ren)；接線端子高/低(di)壓(ya)分明；慢速(su)升壓(ya)，可迅速(su)降壓(ya)，聲(sheng)光報警。

防“容(rong)升(sheng)(sheng)”：測量大容(rong)量試品時會出(chu)現電壓抬高(gao)的“容(rong)升(sheng)(sheng)”效應，儀器能自動跟蹤輸出(chu)電壓，保(bao)持試驗(yan)電壓恒(heng)定(ding)。

高壓電(dian)纜：為(wei)耐高壓絕(jue)緣導線，可(ke)拖地使用(yong)。

抗震性能：儀(yi)器采用獨特抗震設計(ji)，可(ke)耐受(shou)強烈長途運(yun)輸震動、顛簸(bo)而不會損壞。

1.3.4打印存儲(chu)

儀(yi)器自帶(dai)微型打印(yin)機，可以將測(ce)量結(jie)果打印(yin)輸出，并將測(ce)量結(jie)果存貯到儀(yi)器內（可存儲100組測(ce)量數據）或U盤，以便日后查閱。

1.3.5實(shi)時時鐘

儀器內帶實(shi)時(shi)時(shi)鐘，實(shi)時(shi)顯示(shi)，并(bing)能記錄(lu)測(ce)量的日期和(he)時(shi)間。

1.3.6各型號測試功(gong)能說明

B型(xing)：輕便型(xing)，高壓*大輸出電流為140mA，具有正接線、反接線功(gong)能(neng)，可(ke)選(xuan)擇內/外標準電容、內/外高壓多種工作模式(shi)，一體化結(jie)構，可(ke)做各(ge)種常(chang)規(gui)介損試驗。

D型(xing)：實用型(xing)，高壓*大輸出電(dian)流(liu)為200mA，具(ju)有正接(jie)(jie)(jie)線(xian)(xian)(xian)、反(fan)接(jie)(jie)(jie)線(xian)(xian)(xian)、反(fan)接(jie)(jie)(jie)線(xian)(xian)(xian)低壓屏蔽、CVT自激法，反(fan)接(jie)(jie)(jie)線(xian)(xian)(xian)低壓屏蔽功能(neng)能(neng)在220kV CVT母線(xian)(xian)(xian)接(jie)(jie)(jie)地情況下，對C11進行不拆(chai)線(xian)(xian)(xian)10kV反(fan)接(jie)(jie)(jie)線(xian)(xian)(xian)介損測(ce)量，并可一次(ci)接(jie)(jie)(jie)線(xian)(xian)(xian)同(tong)時(shi)測(ce)出兩個電(dian)容的電(dian)容量和(he)介損值。CVT自激法測(ce)量時(shi)，C1/C2可一次(ci)接(jie)(jie)(jie)線(xian)(xian)(xian)同(tong)時(shi)測(ce)出，無須換線(xian)(xian)(xian)和(he)外接(jie)(jie)(jie)任何配件(jian)，但高壓測(ce)量線(xian)(xian)(xian)需懸空吊起。

E型(xing)：標(biao)準型(xing)，在(zai)D型(xing)基礎上增加了CVT變比測(ce)試功(gong)能，同(tong)時(shi)升級了CVT自激(ji)(ji)法測(ce)試，現場CVT自激(ji)(ji)法測(ce)試時(shi)高壓測(ce)量線可拖地使用，無(wu)需吊(diao)起。

F型：增(zeng)強型，功能同E型，輸(shu)出*高電(dian)壓從10kV增(zeng)加至12kV。

K型(xing)：標準(zhun)型(xing)，在E型(xing)基礎上(shang)減小體積(ji)重(zhong)量，設(she)備更(geng)精(jing)巧。

S型(xing)(xing)：四通道型(xing)(xing)，功能同E型(xing)(xing)，增(zeng)加了3個正接通道。

J型(xing)：高精度型(xing)，功(gong)能同E型(xing)，測量(liang)準確(que)度為0.5%。

所有型號(hao)儀器均具備下述特點：

（1）支持變頻和諧振(zhen)電(dian)源高(gao)電(dian)壓介(jie)損。

（2）內置串聯和并聯兩種介損測量模(mo)型，方便儀器(qi)檢定。

（3）配置熱(re)敏打印(yin)機(ji)，使打印(yin)更加快捷(jie)、無噪音和(he)清晰。

（4）320×240點(dian)陣大屏液晶顯示(shi)，菜單操作(zuo)，測(ce)試(shi)數據豐富，自動分辨(bian)電(dian)容、電(dian)感、電(dian)阻型(xing)試(shi)品(pin)。

（5）具有外接標(biao)準(zhun)電容器(qi)接口，可外接油(you)(you)杯(bei)做精(jing)密絕緣油(you)(you)介(jie)損試(shi)(shi)驗，可外接固體材(cai)料(liao)測量電極做精(jing)密絕緣材(cai)料(liao)介(jie)損試(shi)(shi)驗，也可外接高(gao)(gao)壓標(biao)準(zhun)電容器(qi)做高(gao)(gao)電壓介(jie)損試(shi)(shi)驗。

（6）帶日歷時鐘，可存(cun)儲(chu)100組測量數據。

（7）計算機接口（選配）。

2、WBJS6000變頻介損儀面板說明(ming)

高(gao)壓(ya)(ya)(ya)輸出測(ce)量(liang)接(jie)(jie)(jie)地(di)(di)：若出廠配置的高(gao)壓(ya)(ya)(ya)測(ce)試(shi)線有(you)接(jie)(jie)(jie)地(di)(di)屏蔽層(ceng)，則(ze)需將高(gao)壓(ya)(ya)(ya)測(ce)量(liang)線的接(jie)(jie)(jie)地(di)(di)屏蔽層(ceng)連(lian)接(jie)(jie)(jie)至此(ci)處，沒有(you)則(ze)留空。CVT自激法測(ce)量(liang)的高(gao)壓(ya)(ya)(ya)連(lian)線接(jie)(jie)(jie)地(di)(di)屏蔽層(ceng)在(zai)拖地(di)(di)模(mo)式(shi)下(xia)必須(xu)接(jie)(jie)(jie)地(di)(di)，非拖地(di)(di)模(mo)式(shi)下(xia)接(jie)(jie)(jie)地(di)(di)屏蔽層(ceng)應懸空不能(neng)接(jie)(jie)(jie)地(di)(di)且高(gao)壓(ya)(ya)(ya)測(ce)量(liang)線也應懸空吊(diao)起不能(neng)拖地(di)(di)。

高壓輸出插(cha)座（0.5～10kV，*大200mA）

安裝(zhuang)位置：如圖2-1所示，安裝(zhuang)在(zai)箱體前側面。

功    能：內(nei)高(gao)壓(ya)輸出(chu)；檢測反接線試品電流(liu)；內(nei)部標準電容器的高(gao)壓(ya)端。

接(jie)(jie)線(xian)方法：插座1腳接(jie)(jie)高壓線(xian)芯(xin)(xin)(xin)線(xian)（紅夾(jia)子(zi)），2、3腳接(jie)(jie)高壓線(xian)屏(ping)(ping)蔽(bi)(bi)（黑(hei)夾(jia)子(zi)）。正接(jie)(jie)線(xian)時，高壓線(xian)芯(xin)(xin)(xin)線(xian)（紅夾(jia)子(zi)）和屏(ping)(ping)蔽(bi)(bi)（黑(hei)夾(jia)子(zi)）都可以(yi)用(yong)作(zuo)加(jia)壓線(xian)；反接(jie)(jie)線(xian)時只能用(yong)芯(xin)(xin)(xin)線(xian)對試(shi)品高壓端加(jia)壓。如果試(shi)品高壓端有屏(ping)(ping)蔽(bi)(bi)極（如高壓端的(de)屏(ping)(ping)蔽(bi)(bi)環）可接(jie)(jie)高壓屏(ping)(ping)蔽(bi)(bi)，無(wu)屏(ping)(ping)蔽(bi)(bi)時高壓屏(ping)(ping)蔽(bi)(bi)懸(xuan)空。若配(pei)置的(de)高壓測試(shi)線(xian)有接(jie)(jie)地屏(ping)(ping)蔽(bi)(bi)層，則需(xu)將高壓測量線(xian)的(de)接(jie)(jie)地屏(ping)(ping)蔽(bi)(bi)層連接(jie)(jie)至圖2-1中(zhong)的(de)“1”處。

注意事項：

（1）若儀(yi)器CVT自激法高(gao)(gao)(gao)壓連線具備“高(gao)(gao)(gao)壓拖(tuo)地”功能，使用拖(tuo)地模式(shi)測量時務(wu)必使用原廠(chang)配置的(de)專用高(gao)(gao)(gao)壓電(dian)(dian)纜（原廠(chang)電(dian)(dian)纜在出廠(chang)時已進行校準），不可(ke)使用其它高(gao)(gao)(gao)壓電(dian)(dian)纜代(dai)替，否則會引起(qi)較大(da)的(de)測量誤差。CVT自激法不使用拖(tuo)地模式(shi)時，高(gao)(gao)(gao)壓電(dian)(dian)纜必須懸空，接地屏蔽層也不能接地！

（2）高壓(ya)插座(zuo)和高壓(ya)線有危(wei)險電壓(ya)，**禁(jin)止碰(peng)觸高壓(ya)插座(zuo)、電纜、夾子和試品帶電部位(wei)！確認斷(duan)電后接線，測(ce)量時務必遠離！

（3）用(yong)標準(zhun)介損器(qi)(qi)（或標準(zhun)電(dian)容器(qi)(qi)）檢定反接(jie)線(xian)精度時，應(ying)使用(yong)全屏蔽插頭連接(jie)試品，否則暴露(lu)的芯線(xian)會引起測量誤差(cha)。

（4）應保證(zheng)高(gao)壓線與試品高(gao)壓端零電阻(zu)連接(jie)，否則(ze)可能引(yin)起誤差或數據波動，也可能引(yin)起儀器保護。

（5）強(qiang)干擾下拆除接(jie)線時，應在保持電(dian)纜接(jie)地狀態下斷開連接(jie)，以防感應電(dian)擊。

CVT自激法(fa)低(di)壓輸出插座（3～50V，3～30A）

功    能：由(you)該插座和圖2-1中的(de)接地接線柱“4”輸出CVT測(ce)量的(de)低壓變(bian)頻(pin)激勵電源。

注意(yi)事項：

（1）因低壓輸出電流大，應采用儀器專(zhuan)用低阻(zu)線連(lian)接CVT二次繞(rao)組(zu)，接觸**會(hui)影響測(ce)量。

（2）視CVT容量從(cong)菜單選擇(ze)合適的電壓(ya)電流保護限(xian)。

（3）選(xuan)擇(ze)正/反接線時，此輸(shu)出封閉。

測(ce)(ce)量(liang)接地(di)(di)(di)：它同外殼和電源(yuan)插(cha)座地(di)(di)(di)線連到一起，與圖2-1的“3”一起輸(shu)出CVT測(ce)(ce)量(liang)的低壓變頻激勵(li)電源(yuan)。盡管儀器有接地(di)(di)(di)保(bao)護，但無論何種測(ce)(ce)量(liang)，儀器都應可靠獨(du)立接地(di)(di)(di)以保(bao)障使用者的**及(ji)測(ce)(ce)量(liang)結果的準確。

打(da)(da)印機：微型熱敏打(da)(da)印機，用于打(da)(da)印測(ce)試數據。

USB：USB通信用。

RS232：與計算機(ji)(ji)聯(lian)機(ji)(ji)使用。

U盤(pan)：用于外接U盤(pan)保存數據。

試(shi)品(pin)輸入Cx插座（10μA～5A）

功    能：正接線時輸(shu)入試(shi)品電流。

接(jie)線(xian)方法：插座1腳接(jie)測量線(xian)芯線(xian)（紅(hong)夾子），2、3腳接(jie)測量線(xian)屏(ping)(ping)蔽(bi)(bi)（黑夾子）。正接(jie)線(xian)時(shi)芯線(xian)（紅(hong)夾子）接(jie)試(shi)品低壓信號(hao)端(duan)，如果試(shi)品低壓端(duan)有(you)屏(ping)(ping)蔽(bi)(bi)極（如低壓端(duan)的屏(ping)(ping)蔽(bi)(bi)環(huan)）可接(jie)屏(ping)(ping)蔽(bi)(bi)，試(shi)品無屏(ping)(ping)蔽(bi)(bi)時(shi)屏(ping)(ping)蔽(bi)(bi)懸空。

注意事(shi)項：

（1）測量中嚴禁拔下插頭，防(fang)止試品電流經人體入地！

（2）用標準(zhun)介損器（或標準(zhun)電容器）檢測儀器正(zheng)接(jie)線精度時(shi)，應使用全屏蔽(bi)插頭連接(jie)試(shi)品(pin)，否則暴露的芯線會引起測量誤差(cha)。

（3）應(ying)保證引線與試(shi)品(pin)低壓端0電阻連接，否則可(ke)能引起誤差或數(shu)據(ju)波動，也可(ke)能引起儀(yi)器保護。

（4）強干擾下拆除接(jie)(jie)線時，應在保持電纜接(jie)(jie)地狀態下斷開連接(jie)(jie)，以防感應電擊(ji)。

標準(zhun)電容輸入Cn插座（10μA～5A）

功    能：輸(shu)入外接(jie)標準電(dian)容器(qi)電(dian)流(liu)。

接線方法：與Cx插座類似，其區別(bie)在于(yu)：

（1）使用(yong)外部標準(zhun)電容器時，應使用(yong)全屏(ping)蔽插(cha)頭(tou)連接。此方式常用(yong)于(yu)外接高電壓等級(ji)標準(zhun)電容器，實(shi)現高電壓介(jie)損測量。

（2）菜單選擇“外(wai)標準電容”方式。

（3）將外接(jie)標準電容(rong)器的C和tgδ置入儀器，實(shi)現Cx電容(rong)介損(sun)的**值測量。

從理(li)論上(shang)講，任(ren)何容(rong)量和介損的(de)電(dian)容(rong)器(qi)，將參數置入儀器(qi)都可做(zuo)標(biao)準電(dian)容(rong)器(qi)。不同(tong)的(de)是標(biao)準電(dian)容(rong)器(qi)能提供更(geng)好的(de)長期穩(wen)定性和精度。

（4）不管正接(jie)(jie)線(xian)還是(shi)反接(jie)(jie)線(xian)測量，標準電容器接(jie)(jie)線(xian)方(fang)式始終(zhong)為正接(jie)(jie)線(xian)。

總(zong)電源開(kai)關：開(kai)關機用，可在發現異(yi)常時隨時關閉。

供電(dian)(dian)電(dian)(dian)源插座(zuo)：接220V市電(dian)(dian)，插座(zuo)內置(zhi)保(bao)險(xian)(xian)絲(si)座(zuo)，保(bao)險(xian)(xian)絲(si)規(gui)格為10A / 250V，若損壞應使(shi)用(yong)相(xiang)同規(gui)格的保(bao)險(xian)(xian)絲(si)替換。若換用(yong)備用(yong)保(bao)險(xian)(xian)絲(si)后仍燒斷，可能(neng)儀器有故(gu)障，可通(tong)知(zhi)廠家處理(li)。

高(gao)壓(ya)允許開關(guan)：內置高(gao)壓(ya)系(xi)統或CVT自激(ji)法(fa)低壓(ya)輸出系(xi)統的總(zong)電(dian)源開關(guan)。此開關(guan)受(shou)總(zong)電(dian)源開關(guan)控制。

按(an)(an)鍵：按(an)(an)下(xia)“↑”、“↓”、“←”、“→”鍵可(ke)移動光標(biao)和修改光標(biao)處內容，“確(que)認”鍵用于(yu)確(que)認或(huo)結束參數修改，在測(ce)試界(jie)面長按(an)(an)該鍵可(ke)開始測(ce)量(liang)(liang)，測(ce)量(liang)(liang)過(guo)程中，按(an)(an)“確(que)認”鍵可(ke)終止測(ce)量(liang)(liang)。

液晶顯示屏：320×240點陣灰白背光液晶顯示屏，顯示菜單、測(ce)量(liang)結果或出錯信息。應避(bi)(bi)免長(chang)時間陽(yang)光爆(bao)曬，避(bi)(bi)免重壓(ya)。

背(bei)光(guang)調節：液晶顯(xian)示屏顯(xian)示較(jiao)暗或(huo)不清(qing)晰(xi)(xi)時可調節該電(dian)位器至合適位置(zhi)使顯(xian)示明亮(liang)清(qing)晰(xi)(xi)。

指示(shi)燈：配合儀(yi)器內部蜂鳴器進行測試、報警(jing)等聲光警(jing)示(shi)。

3、WBJS6000變頻介損儀使用說明

3.1初始(shi)菜單界面

打開(kai)總(zong)電源開(kai)關后，系統進入初始菜單(dan)界面。

測(ce)試模(mo)式：選擇(ze)測(ce)試模(mo)式和設(she)置各項(xiang)測(ce)試參(can)數，

歷史(shi)記(ji)錄：查看(kan)保(bao)存的歷史(shi)數據

系(xi)統設置：出廠參數(shu)設置及系(xi)統時間校準(zhun)

幫    助：可查閱(yue)軟件版(ban)本等信息

取消或使用CVT自激法“高壓連線(xian)拖地”功能：

開機右下角顯示“”表示該儀器在CVT自激法測試時高壓連線具備拖地功能。

光標停留在“測試模式”處長按“→”鍵（聽到蜂鳴器聲音松手）可取消或使用拖地模式（右下角顯示“”表示當前為拖地模式），在拖地模式下必須將高壓連線的接地屏蔽層插頭接至圖2-1中的“1”（高壓測量接地）處，否則會引起測量誤差；取消拖地模式后高壓連線必須懸空吊起，同時高壓連線的接地屏蔽層插頭也應懸空，否則會引起測量誤差。

使用或取消發“發電機供電”模式：

光標停留在“測試模式”處長按“←”鍵（聽到蜂鳴器聲音松手）可使用或取消發電機供電模式（左下角顯示“”表示當前為發電機供電模式），儀器開機默認為市電供電模式，發電機模式適合使用發電機或移動電源供電環境，發電機模式下儀器將不進行接地檢測。

3.2測(ce)試(shi)模(mo)式

3.2.1 開始測試菜(cai)單界(jie)面

在(zai)初始菜(cai)單(dan)界面將光標移動(dong)到“測試模式”按(an)確定按(an)鈕(niu)進入(ru)開始測試菜(cai)單(dan)界面，如圖3-2所示。

界面左側為參(can)數(shu)設(she)置(zhi)(zhi)選(xuan)項，移動光(guang)標(biao)到相關參(can)數(shu)選(xuan)項按確定鍵(jian)可(ke)設(she)置(zhi)(zhi)相關試(shi)驗參(can)數(shu)，右側顯示(shi)內容(rong)為已設(she)置(zhi)(zhi)好試(shi)驗參(can)數(shu)，光(guang)標(biao)停留在“開(kai)始測試(shi)”欄長按“確認(ren)” 鍵(jian)可(ke)開(kai)始測試(shi)。

界面右側“測(ce)試(shi)地點(dian)”下一行(xing)為信(xin)息(xi)提示行(xing)，若內外高壓選擇(ze)有(you)(you)誤(wu)則(ze)提示“當(dang)前為內高壓模式，請開啟(qi)內高壓”或“當(dang)前為外高壓模式，請關閉內高壓”；若儀(yi)(yi)器沒(mei)有(you)(you)接地則(ze)會提示“請檢查接地”，當(dang)有(you)(you)錯誤(wu)提示時儀(yi)(yi)器無(wu)法正常啟(qi)動，只(zhi)有(you)(you)提示“確(que)認無(wu)誤(wu)后長(chang)按(an)確(que)認鍵開始(shi)測(ce)試(shi)”時儀(yi)(yi)器方可啟(qi)動測(ce)試(shi)。

3.2.2 試品(pin)模型(xing)選擇菜(cai)單界(jie)面

將光標移(yi)動到(dao)“試品(pin)模型(xing)”功(gong)能(neng)選項，界(jie)面(mian)如圖3-3所示(shi)，按(an)(an)“確認(ren)”按(an)(an)鈕(niu)后移(yi)動光標可選擇合(he)適的試品(pin)模型(xing)（光標移(yi)動到(dao)相應功(gong)能(neng)后按(an)(an)確認(ren)鍵）。實驗室一般使(shi)用串聯型(xing)介損因數(shu)標準器檢定，校驗時應使(shi)用RC串聯模型(xing)。

RC串聯(電(dian)流比(bi)較(jiao)儀型電(dian)橋)：采用電(dian)流比(bi)較(jiao)儀型電(dian)橋（如QS30電(dian)橋）校準的串聯型試(shi)品(或介質(zhi)損耗因數標準器)，該(gai)項在(zai)開始測試(shi)界面顯示"RC串聯"。

RC串聯(西林型電橋)： 采用西林型電橋（如2801、QS1和QS37等電橋）校準的串聯型試品(或介質損耗因數標準器) ，該項在開始測試界面顯示 "RC串聯"。

RC并聯(lian)(現場(chang)使(shi)用)：一般實際的電容(rong)試品可(ke)等效(xiao)為RC并聯(lian)模型，建議現場(chang)試驗時使(shi)用。

采用電流比較儀型電橋和西林型電橋校準的串聯型試品(或介質損耗因數標準器)的區別只是電容量不同：為西林型電橋標定值，C為電流比較儀型電橋標定值。

3.2.3 接線方(fang)式選(xuan)擇菜單界(jie)面

將光(guang)標移動到“接線(xian)方式”功能(neng)選項，界面如圖3-4所示，按“確認”按鈕(niu)后移動光(guang)標可選擇合(he)適的接線(xian)方式。

接(jie)(jie)線(xian)方式：共5種接(jie)(jie)線(xian)方式（功(gong)能因型號(hao)有差別，具(ju)體詳見型號(hao)功(gong)能說明部分），分別為：正接(jie)(jie)線(xian)、反接(jie)(jie)線(xian)、反接(jie)(jie)線(xian)低壓(ya)屏(ping)蔽、CVT自(zi)激(ji)(ji)法和變比。選擇CVT自(zi)激(ji)(ji)法測量時需(xu)同時將相關參數一并設置好(hao)。

CVT自激(ji)法測(ce)量(liang)必須打開內(nei)高壓允(yun)許開關，由機內(nei)提供激(ji)勵電壓，由“低壓輸(shu)出”和“測(ce)量(liang)接地(di)”輸(shu)出。為**起見(jian)，CVT自激(ji)法還需要設置以下幾個(ge)保護限：

將(jiang)光(guang)標移(yi)動到xxkV / xxmA / xxV / xxA，按(an)↑↓選擇合適(shi)值，選擇好后按(an)確認鍵退出(chu)。

xxkV：可選0.5/0.6/0.8/1/1.5/2/2.5/3/3.5/4kV，為高壓上(shang)限，只能使用4kV以下(xia)電壓。

xxmA：可選(xuan)10/15/20/25/30/35/40/45/50/60/70/80/100/120/140/200mA，表示待測試品的(de)高壓電(dian)流(liu)上(shang)限(xian)。

xxV：可選3/4/5/6/7/8/9/10/12/15/20/25/30/35/40/50V，表示低壓激勵(li)電(dian)壓上限。

xxA：可選3/4/5/6/7/8/9/10/11/12/13/14/15/16/20/30A，表示低壓激勵(li)電流上限。

注意(yi)：

（1）測量時4個保(bao)護限同時起作(zuo)用，因此試驗高壓可能達不(bu)到設定(ding)值。如果高壓達不(bu)到保(bao)護限，可適當(dang)調整受(shou)到限制的保(bao)護限。

（2）通常測量C1時低壓(ya)激(ji)勵電(dian)(dian)壓(ya)可(ke)達20V，測量C2時低壓(ya)激(ji)勵電(dian)(dian)流可(ke)達15A。一(yi)般可(ke)設(she)高壓(ya)電(dian)(dian)壓(ya)2～3kV，較少采用高壓(ya)電(dian)(dian)流限(xian)制(zhi)，可(ke)設(she)為*大200mA。

變比測量時應選(xuan)擇合(he)適的高壓輸出使二次側(ce)電壓小于120V，當(dang)二次側(ce)電壓≥120V時儀器會發出聲光報警并提示“接(jie)線錯誤”。

3.2.4 標準電容選(xuan)擇菜單界面(mian)

將光標移動(dong)到(dao)“標準電(dian)容(rong)”功能選項，界面(mian)如(ru)圖3-5所示，按“確認”按鈕(niu)后(hou)移動(dong)光標可選擇(ze)(ze)合(he)適的(de)標準電(dian)容(rong)。選擇(ze)(ze)外標準電(dian)容(rong)時需同時將外標準的(de)電(dian)容(rong)量和介損一并設(she)置好。

選擇外(wai)標(biao)準(zhun)電(dian)容(rong)時將光標(biao)移動到Cn=xxxxx e x pF 和tgδ=xx.xxx%按↑↓選擇合(he)適值(zhi)，選擇好后按確認鍵退出。

Cn采用科學計數法，如(ru)5.000e1=5.000×101=50.00，1.000e2=1.000×102=100.0等，范圍0.000e0～9.999e5 (即0～999900pF)。tgδ設(she)置范圍0～±9.999%。

內(nei)標準(zhun)電(dian)容(rong)(rong)通常可用(yong)于正、反接線測量(liang)和CVT自激(ji)法測量(liang)，高電(dian)壓介損選用(yong)外標準(zhun)方(fang)式，需要將(jiang)外接電(dian)容(rong)(rong)參數置入儀器(qi)。

3.2.5 測試頻率選(xuan)擇(ze)菜單(dan)界(jie)面

測試(shi)頻率可選擇定頻或異頻，頻率選擇菜(cai)單界面(mian)如圖3-6所示，頻率選擇范圍如下：

定頻(pin)：

“50Hz”：為工(gong)頻測(ce)量，此設置(zhi)不能(neng)抗(kang)干擾，在試驗室(shi)內測(ce)量或校驗時選(xuan)用。

“45/55/60/65Hz”：為單頻(pin)率測量，研究不同頻(pin)率下介損的變化時(shi)選(xuan)用(yong)。

頻率自適應：外高(gao)(gao)壓(ya)測量模式(shi)下有效（不(bu)能更改），系統自動(dong)識別外施高(gao)(gao)壓(ya)頻率，測試(shi)頻率無需在測試(shi)前設置。

異頻：

“45/55Hz”：為自動變(bian)頻，適合50Hz電網工頻干擾(rao)下測量。

“55/65Hz”：為(wei)自動變頻，適合60Hz電網工頻干擾下測(ce)量。

“47.5/52.5Hz”：為自動變頻，適合50Hz電網(wang)工頻干擾下(xia)測量(liang)。

3.2.6 測試電(dian)壓選(xuan)擇菜單界面(mian)

內(nei)高(gao)壓(ya)(ya)可選擇“0.5 /0.6 /0.8 /1 /1.5 /2 /2.5 /3 /3.5 /4 /4.5 /5 /5.5 /6 /6.5 /7 /7.5 /8 /8.5 /9 /9.5 /10.0kV”（F型*高(gao)輸出電(dian)壓(ya)(ya)為12kV），應根據高(gao)壓(ya)(ya)試(shi)驗規(gui)程選擇合適的(de)試(shi)驗電(dian)壓(ya)(ya)。

注：若選擇“CVT自激(ji)法”測(ce)試功能(neng)，則該選項無效。CVT自激(ji)法的相關電(dian)壓參(can)數需在該功能(neng)選項下(xia)進行設置(zhi)。

3.2.7 測試備忘設(she)置菜單界面

設備編(bian)號(hao)：可設置(zhi)8位(wei)字母或數字編(bian)號(hao)，將光標移動(dong)到”設備編(bian)號(hao)”處(chu)，按(an)確認(ren)健進入設備編(bian)號(hao)設置(zhi)，通過“←”、“→”健移動(dong)光標，通過↑↓選擇合適值，設置(zhi)好后按(an)確認(ren)鍵退出。

測(ce)試人(ren)員(yuan)：可(ke)設(she)(she)置8位(wei)字母(mu)或數字編(bian)號，將(jiang)光標(biao)移動(dong)(dong)到” 測(ce)試人(ren)員(yuan)”處，按確認(ren)健(jian)進入測(ce)試人(ren)員(yuan)設(she)(she)置，通過“←”、“→”健(jian)移動(dong)(dong)光標(biao)，通過↑↓選擇合適(shi)值(zhi)，設(she)(she)置好后按確認(ren)鍵退出。

測(ce)試(shi)地點：可設(she)置(zhi)8位字母或數字編號，將光標(biao)移動到” 測(ce)試(shi)地點”處，按確認健(jian)進(jin)入測(ce)試(shi)地點設(she)置(zhi)，通(tong)(tong)過(guo)“←”、“→”健(jian)移動光標(biao)，通(tong)(tong)過(guo)↑↓選擇合適值，設(she)置(zhi)好后按確認鍵退出。

3.2.8 測試結(jie)果界面(mian)

3.2.8.1反接法測試結(jie)果(guo)界面

測試完成顯示結果(guo)后，可移動光標選擇保(bao)存或打(da)印數(shu)據(ju)。

儀器自(zi)動(dong)分辨電(dian)(dian)容(rong)、電(dian)(dian)感(gan)、電(dian)(dian)阻型試(shi)品：電(dian)(dian)容(rong)型試(shi)品顯示(shi)Cx和(he)tgδ；電(dian)(dian)感(gan)型試(shi)品顯示(shi)Lx和(he)Q；電(dian)(dian)阻型試(shi)品顯示(shi)Rx和(he)附(fu)加Cx或(huo)Lx。自(zi)動(dong)選取顯示(shi)單位。

試品為(wei)電容時：顯示數據為(wei)Cx、tgδ、Ux、Ix、Φ、f1、f2, |δ|>1則顯示電容和串(chuan)/并聯電阻

試品為(wei)電(dian)感(gan)(gan)時(shi)：顯示數據為(wei)Lx、Q、Ux、Ix、Φ、f1、f2, |Q|<1則顯示電(dian)感(gan)(gan)和串聯(lian)電(dian)阻

試(shi)品為電阻時：顯示數據(ju)為Cx(Lx)、Rx、Ux、Ix、Φ、f1、f2

Cx   試品(pin)電容量[1μF=1000nF納(na)法(fa) / 1nF=1000pF]，如顯示10.00nF即10000pF

tgδ 介損因數[1%=0.01]

Lx   試品電感量[1MH兆亨=1000kH / 1kH=1000H]

Q    品質因數[無單位]

Rx   試品電阻(zu)值[1MΩ=1000kΩ / 1kΩ=1000Ω]

Ux   試驗電壓(ya)[1kV=1000V / 1V=1000mV]

Ix   試(shi)品電(dian)流[1A=1000mA / 1mA=1000μA]

Φ   試(shi)品電(dian)(dian)流超(chao)(chao)前試(shi)驗電(dian)(dian)壓(ya)的(de)(de)角度(du)[°度(du)]或測變比時(shi)一(yi)次電(dian)(dian)壓(ya)超(chao)(chao)前二次電(dian)(dian)壓(ya)的(de)(de)角度(du)

K    測CVT變比(bi)時，一次電壓比(bi)二次電壓

f1   頻率[Hz]，顯示**次測(ce)試頻率

f2   頻(pin)率[Hz]，顯示**次測試頻(pin)率

顯示over表(biao)示測量(liang)數據超量(liang)程。

3.2.8.2反接線(xian)低壓屏蔽(bi)測試結果界面

反接線低壓(ya)屏蔽測(ce)(ce)試一次接線可同時(shi)測(ce)(ce)出C11和C下節(jie)(下端屏蔽部分)的電容(rong)量(liang)和介損值。

3.2.8.3 CVT自激法測試結果界面

CVT自激(ji)法(fa)按(an)測(ce)量(liang)接線，與試(shi)品輸入Cx插座連接的(de)定(ding)義為C1，與高壓線連接的(de)為C2。U1為測(ce)量(liang)C1時(shi)的(de)高壓，U2為測(ce)量(liang)C2時(shi)的(de)高壓。

3.3歷史數據(ju)

進入歷史數(shu)據菜單界面如圖(tu)3-12所示。

移(yi)動光(guang)標(biao)到(dao)“U盤”選(xuan)項(xiang)按(an)(an)“確定(ding)”鍵(jian)可將數(shu)(shu)據(ju)(ju)(ju)導(dao)出到(dao)U盤，上(shang)(shang)移(yi)到(dao)“清空(kong)”選(xuan)項(xiang)按(an)(an)“確定(ding)”鍵(jian)可清空(kong)保(bao)存的全部數(shu)(shu)據(ju)(ju)(ju)。將光(guang)標(biao)移(yi)動到(dao)“>>>>”選(xuan)項(xiang)按(an)(an)下“確定(ding)”鍵(jian)進入(ru)數(shu)(shu)據(ju)(ju)(ju)選(xuan)擇(ze)(ze)界面(mian)，光(guang)標(biao)位置默認停留在*近保(bao)存的單(dan)條(tiao)數(shu)(shu)據(ju)(ju)(ju)上(shang)(shang)，若(ruo)要查(cha)看其他數(shu)(shu)據(ju)(ju)(ju)可上(shang)(shang)下移(yi)動光(guang)標(biao)進行選(xuan)擇(ze)(ze)，選(xuan)擇(ze)(ze)好(hao)要查(cha)看的數(shu)(shu)據(ju)(ju)(ju)后按(an)(an)“確定(ding)”按(an)(an)鈕進入(ru)單(dan)條(tiao)歷(li)史(shi)數(shu)(shu)據(ju)(ju)(ju)顯示界面(mian)。歷(li)史(shi)數(shu)(shu)據(ju)(ju)(ju)選(xuan)擇(ze)(ze)界面(mian)和單(dan)條(tiao)歷(li)史(shi)數(shu)(shu)據(ju)(ju)(ju)顯示界面(mian)如圖3-13和圖3-14所示。

進入單條歷(li)史數據顯(xian)示界面后，在左側(ce)功能選(xuan)項區上下移動光標可選(xuan)擇打印、刪除本條數據和退出單條歷(li)史數據顯(xian)示界面。

3.4系統設置

進(jin)入系(xi)統設(she)(she)置菜單可(ke)進(jin)行(xing)系(xi)統時間校準，“出廠(chang)(chang)設(she)(she)置”參(can)(can)數禁止用戶修改，只(zhi)允許生(sheng)產廠(chang)(chang)家進(jin)行(xing)出廠(chang)(chang)參(can)(can)數設(she)(she)置。

3.5幫(bang)助(zhu)

可查看儀器的相關操作指導。

3.6啟動(dong)測(ce)量(liang)

進入(ru)測試界面設置好各項(xiang)試驗參(can)數后，將光標移動到“開始測試”功能選項(xiang)上，按住“確認”鍵(jian)3s以(yi)上啟(qi)動測量。

啟動測量(liang)后(hou)發出聲(sheng)光報警；在測試(shi)過(guo)程中會實(shi)時顯示測試(shi)相關參數（電(dian)壓、電(dian)流(liu)、頻率、電(dian)容量(liang)等參數）和測量(liang)進(jin)程(0%～99%)。

測(ce)量(liang)中按“確認”鍵可取消測(ce)量(liang)，遇緊急情況立即關(guan)閉總電源。

測量(liang)過程結束(shu)，儀器自動降壓后(hou)再顯示結果。

3.7對比度調(diao)節

液晶(jing)顯示(shi)(shi)屏的對(dui)比度已在(zai)出廠時校(xiao)好，如果您感覺不夠(gou)清(qing)晰(xi)，調整(zheng)面板(ban)上的電位器使液晶(jing)顯示(shi)(shi)屏顯示(shi)(shi)內容(rong)清(qing)晰(xi)為止(zhi)。

4、參考(kao)接線

4.1常規正接線（正接線、內標準電(dian)容、內高壓）

4.2常規反接(jie)線(xian)(xian)（反接(jie)線(xian)(xian)、內標準(zhun)電(dian)容、內高壓）

4.3正(zheng)接線、外標準(zhun)電(dian)容、內高壓(ya)

4.4反接線、外標準(zhun)電容、內高壓

4.5正接線、內(nei)標準電容、外高壓

4.6反接線、內(nei)標準電容、外高壓

4.7正(zheng)接(jie)線、外標準電容、外高壓(ya)（高電壓(ya)介損）

4.8反接(jie)線、外標準(zhun)電(dian)容、外高壓(ya)

4.9反接線低壓(ya)屏蔽

可在220kV CVT母線(xian)(xian)接(jie)(jie)地(di)情況(kuang)下，對C11進(jin)行不拆(chai)線(xian)(xian)10kV反(fan)接(jie)(jie)線(xian)(xian)介損測量。如(ru)下圖(tu)所示：母線(xian)(xian)掛地(di)線(xian)(xian)，C11上端(duan)(duan)不拆(chai)線(xian)(xian)，C11下端(duan)(duan)接(jie)(jie)高(gao)壓線(xian)(xian)芯線(xian)(xian)，C2末(mo)端(duan)(duan)δ和(he)X接(jie)(jie)Cx芯線(xian)(xian)。這樣C12和(he)C2被(bei)(bei)低(di)壓屏(ping)(ping)蔽，儀器采用反(fan)接(jie)(jie)線(xian)(xian)低(di)壓屏(ping)(ping)蔽測量方式，可同時測出C11和(he)下端(duan)(duan)被(bei)(bei)屏(ping)(ping)蔽部分的電容量和(he)介損值。

4.10 CVT自激法

高壓線(xian)(xian)芯(xin)線(xian)(xian)接C2下端，Cx芯(xin)線(xian)(xian)接C12上端。在(zai)CVT 自(zi)(zi)激法測(ce)量(liang)中，儀器先測(ce)量(liang)C12，然后自(zi)(zi)動(dong)倒線(xian)(xian)測(ce)量(liang)C2，并自(zi)(zi)動(dong)校(xiao)準分壓影響。

1）D型高壓連(lian)線不可拖地(di)，高壓線應懸空不能接觸地(di)面（高壓線的接地(di)屏(ping)蔽層插(cha)頭必須懸空），否則其對地(di)附加介損(sun)會引起誤差(cha)，可用細電纜連(lian)接高壓插(cha)座與CVT試品并吊起。

2）E、F、S、J型高壓連線可拖地使用，在開機初始界面（圖3-1界面），光標停留在“測試模式”處長按“→”鍵（聽到蜂鳴器聲音松手）可取消或使用拖地模式（右下角顯示“”表示當前為拖地模式），在拖地模式下必須將高壓連線的接地屏蔽層插頭接至圖2-1中的“1”（高壓測量接地）處，否則會引起測量誤差；取消拖地模式后高壓連線必須懸空吊起，高壓連線的接地屏蔽層插頭也應懸空，否則會引起測量誤差。拖地模式下的高壓連線必須使用原廠配置的電纜（已校準），否則會引起測量誤差！

4.11 CVT變比測試

儀器(qi)高(gao)壓(ya)線(xian)(xian)的(de)芯線(xian)(xian)紅夾(jia)子(zi)接(jie)CVT的(de)上端，母線(xian)(xian)拆地(di)，CVT下端接(jie)地(di)，低壓(ya)線(xian)(xian)紅黑夾(jia)子(zi)接(jie)二次(ci)繞組。

5、常見CVT的參考(kao)測量方法

目前常見(jian)的電容式電壓(ya)互感器可分為110kV、220kV、500kV等(deng)不同電壓(ya)等(deng)級，一(yi)般110kV的CVT其C1就一(yi)節(jie)，220kV的CVT其C1有(you)兩節(jie)，而500kV的CVT其C1有(you)三節(jie)。

5.1  500kV CVT的測量方(fang)法

1）C11的測量方(fang)法

按圖5-1標明的方式接線，測量(liang)C11時應注(zhu)意：

◇ 拆開δ端，X端一定(ding)要接地

◇&nbsp;a點(dian)(dian)接紅色(se)高(gao)壓測(ce)試(shi)線的芯線（紅夾子），b點(dian)(dian)接紅色(se)高(gao)壓測(ce)試(shi)線的高(gao)壓屏蔽層（黑夾子）

2）C12的測量(liang)方法

按圖5-2標明的方式接(jie)線，測(ce)量C12時注意(yi)：

◇ 拆(chai)開δ端，X端一定(ding)要接(jie)地(di)

◇ ;a點(dian)接(jie)紅色高壓測(ce)試(shi)線芯線（紅夾(jia)子），b點(dian)接(jie)黑色低壓測(ce)試(shi)線芯線（紅夾(jia)子）

3）C13和C2的(de)測量方(fang)法

儀器設有專門的(de)CVT自激法，不需外加任何其它設備，就可以(yi)完成測(ce)(ce)試。按圖5-3標明的(de)方(fang)式接線，儀器選用CVT自激法測(ce)(ce)量方(fang)式，試驗(yan)電(dian)壓可設置為2kV，CVT自激法能一次測(ce)(ce)量C13和(he)C2兩個電(dian)容的(de)介損(sun)和(he)電(dian)容量。

5.2  220kV CVT的測量(liang)方法

1）C11的測量方法

按(an)圖5-4標(biao)明的方式(shi)接線，測量C11時注意：

◇ δ和X相連，與(yu)接(jie)地分開。

◇ a點接紅(hong)色高壓測(ce)試線的芯線（紅(hong)夾子），C2末端δ和X 接Cx端芯線，這樣C12與C2就被低壓屏蔽了。

2）C12和(he)C2的測量(liang)方法

儀(yi)器(qi)設有(you)專(zhuan)門的CVT自激法，不需外加任何其它設備，就(jiu)可(ke)以(yi)完成測試(shi)。按(an)圖5-5標明的方式(shi)接線，儀(yi)器(qi)選用(yong)CVT自激法測量方式(shi)，試(shi)驗(yan)電壓(ya)可(ke)設置為2kV，CVT自激法能一(yi)次(ci)測量C12和(he)C2兩個電容的介(jie)損和(he)電容量。

5.3  110kV CVT的測量(liang)方法

儀(yi)(yi)器設(she)有專門的(de)CVT自(zi)激法，不需外加任何其它設(she)備(bei)，就可以完(wan)成測試。按圖(tu)5-6標明的(de)方式接線，儀(yi)(yi)器選用CVT自(zi)激法測量方式，試驗電壓可設(she)置為2kV，CVT自(zi)激法能一次測量C13和C2兩個電容的(de)介損和電容量。

6、現場試(shi)驗(yan)注意(yi)事項

如果(guo)使(shi)用中出現測試(shi)數據明顯不合(he)理，請從以下(xia)方面查找原(yuan)因：

6.1搭鉤(gou)接觸(chu)**

現(xian)場(chang)測量使用搭鉤連接(jie)試品(pin)時，搭鉤務必與試品(pin)接(jie)觸良好，否則接(jie)觸點放電會引(yin)起數據嚴(yan)重(zhong)波(bo)動(dong)！尤其是引(yin)流(liu)線氧化層太(tai)厚，或風吹線擺動(dong)，易造成接(jie)觸**。

6.2接(jie)地接(jie)觸**

接地(di)**會引起儀(yi)器保護或數據嚴(yan)重波動。應刮凈接地(di)點上(shang)的油漆和銹(xiu)蝕(shi)，務(wu)必保證0電阻接地(di)！

6.3直接測(ce)量CVT或末端屏蔽法(fa)測(ce)量電磁式PT

直(zhi)接測量(liang)CVT的下節耦(ou)合(he)電容會出現負(fu)介損(sun)，消除負(fu)介損(sun)可采取下述措施(shi)或改用CVT自激法測量(liang)：

1）測試(shi)時測量儀器(qi)的接地端直(zhi)接接在被試(shi)品的金屬底(di)座上，并(bing)保證接觸良好。

2）條件允許時盡可能將非被(bei)試繞組短接，以減小電感和鐵心(xin)損耗的影響。

3）被試(shi)品周圍不應(ying)有鐵架、腳手架、木梯等物體，盡可能(neng)減(jian)小分(fen)布阻抗(kang)的影響。

4）試(shi)(shi)驗引線與被試(shi)(shi)品的(de)夾角應盡可能(neng)接(jie)近90°，以減(jian)小線與試(shi)(shi)品間的(de)分布電(dian)容(rong)。

用(yong)末端屏蔽法測量(liang)(liang)電磁式PT時(shi)，由于受潮引起“T形網絡干擾”出現負介損(sun)，吹干下面三裙瓷套和接線端子盤即(ji)可。也可改用(yong)常規法或末端加壓(ya)法測量(liang)(liang)。

6.4空(kong)氣濕(shi)度(du)過大

空氣濕度大使介(jie)損測量值(zhi)異常(chang)增大（或減小甚(shen)至為(wei)負）且不(bu)穩定，必要時可加(jia)(jia)屏(ping)(ping)蔽(bi)環(huan)。因人為(wei)加(jia)(jia)屏(ping)(ping)蔽(bi)環(huan)改變(bian)了試(shi)品電場分布，此法有(you)爭議，可參照有(you)關規程。

6.5發電機供(gong)電

發電機供電時可采用定頻50Hz模(mo)式工作。

6.6測試(shi)線

1）由于長期使用，易造(zao)成測試線(xian)隱(yin)性斷路(lu)，或芯線(xian)和屏(ping)蔽短(duan)路(lu)，或插頭接觸**，用戶應經常維護測試線(xian)。

2）測試標準電容試品時，應使(shi)用全屏(ping)蔽插頭連接，以消除附加(jia)雜散電容影響，否則不能反映儀器精度(du)。

3）自激法測量CVT時，若使用(yong)“高壓連線拖地(di)”功能，請(qing)務必(bi)使用(yong)原(yuan)廠(chang)(chang)配置(zhi)的(de)專(zhuan)用(yong)高壓電(dian)纜（原(yuan)廠(chang)(chang)電(dian)纜在出廠(chang)(chang)時已進行校準），高壓連線的(de)接地(di)屏(ping)蔽層必(bi)須接地(di)，不可(ke)使用(yong)其它高壓電(dian)纜代替，否則會引起較大的(de)測量誤差(cha)。若拖地(di)模式下測量誤差(cha)較大，則需(xu)將專(zhuan)用(yong)高壓電(dian)纜返廠(chang)(chang)重新(xin)進行校準。

4）自激法測量(liang)CVT時，非(fei)專(zhuan)用的高壓線應吊起(qi)懸(xuan)(xuan)空(kong)，否(fou)則對地附加(jia)雜散電(dian)容和(he)介損會(hui)引(yin)起(qi)測量(liang)誤差。使用專(zhuan)用電(dian)纜在非(fei)拖(tuo)地模式(shi)下(xia)測量(liang)CVT，高壓電(dian)纜也(ye)應懸(xuan)(xuan)空(kong)且電(dian)纜的接(jie)地屏(ping)蔽層(ceng)不能接(jie)地，否(fou)則會(hui)引(yin)起(qi)較(jiao)大的測量(liang)誤差。

6.7工作模式(shi)選擇(ze)

接好線(xian)后請選(xuan)擇正確(que)的測量工作模式，不(bu)可選(xuan)錯。特別是干擾環境下(xia)應選(xuan)用(yong)變頻抗干擾模式。

6.8試驗方法影響

由于介損測量受試(shi)(shi)驗方(fang)法影響較大，應區分(fen)是(shi)(shi)試(shi)(shi)驗方(fang)法誤差(cha)還是(shi)(shi)儀器(qi)(qi)誤差(cha)。出現問題時可首先檢(jian)查接線，然后(hou)檢(jian)查是(shi)(shi)否為儀器(qi)(qi)故障。

6.9儀器(qi)故障

1）用(yong)萬用(yong)表(biao)測量一下測試線是否斷路(lu)，或芯線和屏蔽是否短路(lu)；

2）輸入電源220V過高或(huo)過低；接地(di)是否良好；

3）用正、反接線測一(yi)下標準電容器或已知容量和(he)介損(sun)的電容試品(pin)，如果結果正確，即可判斷儀器沒有問題；

4）拔下所(suo)有(you)測試(shi)導線，進行空試(shi)升壓，若不能(neng)正常(chang)工作，儀(yi)器可能(neng)有(you)故障。

7、儀器檢定

7.1檢定(ding)

用(yong)帶插頭的(de)屏蔽電(dian)纜連接標準損(sun)耗(hao)器(qi)(qi)。如(ru)果不能保證標準損(sun)耗(hao)器(qi)(qi)的(de)精度，應使用(yong)比(bi)對法檢定，建議用(yong)2801電(dian)橋或其它精密電(dian)橋作比(bi)對標準。

1）介質損耗因(yin)數標(biao)準器一般為串聯模型(xing)(xing)，因(yin)此儀器的試品模型(xing)(xing)應選(xuan)擇“RC串聯(電流比(bi)較儀型(xing)(xing)電橋(qiao))”或“RC串聯(西林型(xing)(xing)電橋(qiao))”。

RC串聯(lian)(電(dian)流(liu)比較儀型電(dian)橋(qiao))：采用(yong)電(dian)流(liu)比較儀型電(dian)橋(qiao)（如QS30電(dian)橋(qiao)）校準的串聯(lian)型試品(或(huo)介質損耗因數標準器)，該項(xiang)在開始測(ce)試界面顯示"RC串聯(lian)"。

RC串聯(西林型電橋)： 采用西林型電橋（如2801、QS1和QS37等電橋）校準的串聯型試品(或介質損耗因數標準器) ，該項在開始測試界面顯示 "RC串聯"。

采用電流比較(jiao)儀型(xing)電橋和(he)西(xi)林型(xing)電橋校準的(de)串聯(lian)型(xing)試品(或介質損耗(hao)因(yin)數標準器)的(de)區別只(zhi)是電容量不同(tong)：

為西林型電橋標定值，C為電流比較儀型電橋標定值。

2）用(yong)介質損耗因數標準器(qi)（或標準電(dian)容器(qi)）檢(jian)定(ding)儀器(qi)反接(jie)線(xian)精度時(shi)，高壓電(dian)纜(lan)與試品連接(jie)必須使用(yong)全(quan)屏(ping)蔽插頭，否則(ze)暴露的芯線(xian)會引(yin)起測量誤差。

3）用介質損耗因數標準器（或標準電容(rong)器）檢定儀器正接(jie)線(xian)精度時，低(di)壓電纜與試品連接(jie)必須使(shi)用全屏蔽(bi)插頭，否(fou)則暴露(lu)的芯線(xian)會引(yin)起(qi)測量誤(wu)差。

嚴格按(an)照上述要求檢定方(fang)能真(zhen)實反映本儀器的測量精度(du)！

7.2抗(kang)干(gan)擾(rao)能力

設置(zhi)一個回路向(xiang)儀器注入(ru)定量的干擾電流。

注意：

1）應考(kao)慮到該回(hui)路(lu)可(ke)能成為試品的(de)一部分。

2）儀器啟動后會使220V供電電路(lu)帶有測量(liang)頻率分量(liang)，如果該頻率分量(liang)又通(tong)過(guo)干擾電流進入儀器，則無法檢(jian)驗儀器的抗(kang)干擾能(neng)力。

3）不(bu)建議用臨近(jin)高壓(ya)導體施加(jia)干擾，因為這樣很容(rong)易產(chan)生近(jin)距離**放電，這種放電電阻是非線性的，容(rong)易產(chan)生同(tong)頻(pin)干擾。