1、WBJS6000變頻介質損耗測試儀特(te)點及性能

介損(sun)絕緣試(shi)驗(yan)(yan)可以(yi)有效地發現(xian)電器設備絕緣的(de)整體(ti)受(shou)潮(chao)劣化變(bian)質以(yi)及局部缺陷等，在電工制造(zao)、電氣設備安裝、交接和預防性(xing)試(shi)驗(yan)(yan)中(zhong)都廣泛(fan)應用(yong)。

介(jie)質損(sun)耗測(ce)(ce)量儀(yi)用于現場(chang)介(jie)損(sun)測(ce)(ce)量或試(shi)驗(yan)(yan)室精密介(jie)損(sun)測(ce)(ce)量。儀(yi)器為(wei)一體化結構，內置介(jie)損(sun)電(dian)橋(qiao)、變(bian)(bian)頻(pin)電(dian)源(yuan)、試(shi)驗(yan)(yan)變(bian)(bian)壓器和(he)標(biao)準電(dian)容(rong)器等。儀(yi)器采(cai)用變(bian)(bian)頻(pin)抗干(gan)擾(rao)和(he)傅立葉變(bian)(bian)換數字濾波技術，全自動智能化測(ce)(ce)量，強干(gan)擾(rao)下(xia)測(ce)(ce)量數據非常穩定。測(ce)(ce)量結果由大屏幕液晶顯示，儀(yi)器自帶微(wei)型打(da)印(yin)機可打(da)印(yin)輸出測(ce)(ce)試(shi)結果。

1.1主要技術指標

額定(ding)工作(zuo)條件：環境溫度  -10℃～50℃

相對濕度  <85%阿

輸入電(dian)源(yuan)：    180V～270VAC，50Hz/60Hz±1%，市電(dian)或發電(dian)機供電(dian)

準確度：   &nbsp;  Cx: ±（讀數(shu)×1%+1pF）

tgδ: ±（讀數(shu)×1%+0.00040）

抗(kang)干(gan)擾指(zhi)標：   變頻抗(kang)干(gan)擾，在(zai)200%干(gan)擾下(xia)仍能達到上述準確(que)度(du)

電容量(liang)范圍：   內(nei)施高壓(ya)：3pF～60000pF/10kV    60pF～1μF/0.5kV

外(wai)施高壓：3pF～1.5μF/10kV      60pF～30μF/0.5kV

分辨率： &nbsp;     *高0.001pF，4位(wei)有(you)效數字

tgδ范圍：     不(bu)限，分(fen)辨(bian)率0.001%，電容(rong)、電感、電阻三種試品(pin)自動識別。

試(shi)驗(yan)電流范圍： 10μA～5A

內(nei)施高壓：    設定(ding)電壓范圍：0.5～10kV

*大(da)輸(shu)出電流：200mA

升降壓(ya)方式：連(lian)續平滑調節(jie)

電壓精度(du)：±(1.0%×讀數(shu)+10V)

電壓分(fen)辨率：0.1V

試驗頻率：45、50、55、60、65Hz 單頻

45/55Hz、55/65Hz、47.5/52.5Hz 自動雙(shuang)變頻(pin)

頻(pin)率精度(du)：±0.01Hz

外施高壓：    正、反(fan)接線時*大試(shi)驗電流5A

CVT自激法低壓(ya)輸出(chu)(chu)：輸出(chu)(chu)電(dian)壓(ya)3～50V，輸出(chu)(chu)電(dian)流3～30A

高(gao)電壓介損：  支持(chi)變頻和(he)諧振電源(yuan)高(gao)電壓介損

實時(shi)時(shi)鐘：    實時(shi)顯(xian)示時(shi)間(jian)和日期

內部存儲：    儀器內部可存儲100組測量數據

U盤(pan)：    &nbsp;  &nbsp;支持U盤(pan)存儲

打印(yin)機：      ;微型熱敏打印(yin)機

計算機接口(kou)：  標準(zhun)RS232接口(kou)（選配）

尺(chi)寸(cun)重量：    K型：外形尺(chi)寸(cun)368mm×288mm×280mm；主機重量22kg。

其他款型：外(wai)形尺寸(cun)430mm×314mm×334mm；主機重量30kg。

注：上述為E型(xing)主要(yao)技(ji)術指標(biao)，其它型(xing)號技(ji)術指標(biao)詳(xiang)見(jian)本(ben)章節(jie)“1.3.6各型(xing)號測試(shi)功能說明”。

1.2 WBJS6000變頻介質損耗測試儀系列型號功能列表

1.3 WBJS6000變頻介質損耗測試儀主要功能特點

1.3.1 變頻抗干擾(rao)

采用(yong)變頻抗干擾(rao)技術，在200%干擾(rao)下仍能準確測(ce)量，測(ce)試數據穩定，適合在現(xian)場做抗干擾(rao)介損試驗。

1.3.2高精度測量

采用數字波形分析和(he)電橋自(zi)校準等(deng)技術，配合高精度三(san)端標準電容(rong)器，實現高精度介損測量。儀器所(suo)有量程(cheng)輸入(ru)電阻低于(yu)2Ω，消除了(le)測量電纜(lan)附加(jia)電容(rong)的影響。

1.3.3**措(cuo)施

高壓保護：試品短(duan)路、擊穿或高壓電流波動，能以短(duan)路方(fang)式(shi)高速切斷輸出。

供電保護(hu)：誤(wu)接380V、電源波動或突然斷(duan)電，啟(qi)動保護(hu)，不會引起過(guo)電壓。

接地保護(hu)：具有(you)接地檢測(ce)功能(neng)，未接地時不(bu)能(neng)升壓(ya)，若測(ce)量過程中儀器(qi)接地**則啟動接地保護(hu)。

CVT 保護：高(gao)壓(ya)側(ce)電(dian)壓(ya)和(he)電(dian)流、低(di)壓(ya)側(ce)電(dian)壓(ya)和(he)電(dian)流四個(ge)保護限制，不(bu)會(hui)損壞(huai)設備；誤選菜(cai)單不(bu)會(hui)輸(shu)出激磁電(dian)壓(ya)。CVT測(ce)量時無(wu)10kV高(gao)壓(ya)輸(shu)出。

防誤操作：兩級(ji)電源開關；電壓(ya)(ya)、電流實時監視(shi)；多(duo)次按鍵確認；接線端子高/低壓(ya)(ya)分(fen)明(ming)；慢速(su)升壓(ya)(ya)，可迅速(su)降壓(ya)(ya)，聲光報警。

防“容(rong)(rong)升(sheng)(sheng)”：測(ce)量大容(rong)(rong)量試(shi)品時會出現電壓(ya)抬高(gao)的“容(rong)(rong)升(sheng)(sheng)”效應，儀(yi)器能自(zi)動跟蹤輸(shu)出電壓(ya)，保持試(shi)驗電壓(ya)恒定。

高壓電纜：為耐高壓絕緣導(dao)線，可拖(tuo)地使用(yong)。

抗震(zhen)性能：儀器采(cai)用獨特(te)抗震(zhen)設計，可耐受(shou)強烈(lie)長(chang)途運輸震(zhen)動、顛(dian)簸而不會損壞。

1.3.4打印(yin)存儲

儀器自帶微型打印機，可以將測量結果打印輸出，并(bing)將測量結果存貯(zhu)到儀器內（可存儲(chu)100組測量數據）或U盤(pan)，以便(bian)日后查閱。

1.3.5實時時鐘(zhong)

儀(yi)器內帶實(shi)時時鐘(zhong)，實(shi)時顯示，并能記(ji)錄測量的日(ri)期和時間。

1.3.6各型(xing)號測試功能說明

B型(xing)：輕(qing)便型(xing)，高壓*大輸出電流為(wei)140mA，具(ju)有正接(jie)線(xian)(xian)、反接(jie)線(xian)(xian)功能，可選擇內/外標(biao)準電容、內/外高壓多(duo)種工作模式(shi)，一體(ti)化(hua)結構，可做各種常規(gui)介損(sun)試驗(yan)。

D型(xing)：實(shi)用型(xing)，高(gao)壓(ya)*大輸出(chu)電(dian)流為200mA，具有正接(jie)(jie)(jie)(jie)線(xian)、反(fan)接(jie)(jie)(jie)(jie)線(xian)、反(fan)接(jie)(jie)(jie)(jie)線(xian)低(di)壓(ya)屏蔽、CVT自激法，反(fan)接(jie)(jie)(jie)(jie)線(xian)低(di)壓(ya)屏蔽功能能在220kV CVT母線(xian)接(jie)(jie)(jie)(jie)地情況下，對C11進(jin)行不拆線(xian)10kV反(fan)接(jie)(jie)(jie)(jie)線(xian)介(jie)損測(ce)量，并可一次接(jie)(jie)(jie)(jie)線(xian)同時測(ce)出(chu)兩個電(dian)容的電(dian)容量和介(jie)損值。CVT自激法測(ce)量時，C1/C2可一次接(jie)(jie)(jie)(jie)線(xian)同時測(ce)出(chu)，無(wu)須換線(xian)和外(wai)接(jie)(jie)(jie)(jie)任何(he)配件，但高(gao)壓(ya)測(ce)量線(xian)需懸空(kong)吊起。

E型：標準型，在D型基礎上增加了(le)CVT變比測試功能，同時(shi)升級了(le)CVT自激法測試，現(xian)場CVT自激法測試時(shi)高壓(ya)測量線可拖地使用，無需吊起。

F型(xing)：增(zeng)強型(xing)，功能同E型(xing)，輸出(chu)*高(gao)電(dian)壓從10kV增(zeng)加至(zhi)12kV。

K型(xing)：標準型(xing)，在E型(xing)基礎上減小體(ti)積重量，設備更(geng)精巧(qiao)。

S型：四通道(dao)型，功(gong)能同E型，增加了3個(ge)正(zheng)接通道(dao)。

J型(xing)(xing)：高精度(du)(du)型(xing)(xing)，功能同(tong)E型(xing)(xing)，測量準確度(du)(du)為0.5%。

所(suo)有型(xing)號(hao)儀(yi)器均(jun)具備下述(shu)特點：

（1）支持(chi)變(bian)頻(pin)和諧振(zhen)電源高電壓(ya)介損。

（2）內(nei)置串聯(lian)和(he)并(bing)聯(lian)兩種介損測量模型，方便儀器檢定。

（3）配置熱(re)敏打(da)印機，使打(da)印更加快捷、無(wu)噪音(yin)和清(qing)晰。

（4）320×240點陣(zhen)大(da)屏(ping)液(ye)晶顯示，菜單(dan)操(cao)作，測試(shi)數(shu)據豐富，自(zi)動分(fen)辨電容、電感、電阻(zu)型試(shi)品(pin)。

（5）具有外(wai)接標(biao)準(zhun)電(dian)容(rong)器接口，可外(wai)接油(you)杯做精密絕緣油(you)介損(sun)(sun)試(shi)驗(yan)，可外(wai)接固體(ti)(ti)材料測量電(dian)極做精密絕緣材料介損(sun)(sun)試(shi)驗(yan)，也可外(wai)接高壓標(biao)準(zhun)電(dian)容(rong)器做高電(dian)壓介損(sun)(sun)試(shi)驗(yan)。

（6）帶(dai)日歷時(shi)鐘，可存儲(chu)100組測量數據。

（7）計算機(ji)接(jie)口（選(xuan)配(pei)）。

2、WBJS6000變頻介質損耗測試儀面(mian)板(ban)說(shuo)明

高(gao)壓(ya)輸出測(ce)量(liang)接(jie)(jie)地(di)(di)(di)：若出廠(chang)配置的高(gao)壓(ya)測(ce)試(shi)線(xian)有接(jie)(jie)地(di)(di)(di)屏(ping)蔽層(ceng)(ceng)，則(ze)需(xu)將高(gao)壓(ya)測(ce)量(liang)線(xian)的接(jie)(jie)地(di)(di)(di)屏(ping)蔽層(ceng)(ceng)連接(jie)(jie)至此處(chu)，沒有則(ze)留空(kong)。CVT自激法測(ce)量(liang)的高(gao)壓(ya)連線(xian)接(jie)(jie)地(di)(di)(di)屏(ping)蔽層(ceng)(ceng)在(zai)拖地(di)(di)(di)模(mo)式下必須接(jie)(jie)地(di)(di)(di)，非(fei)拖地(di)(di)(di)模(mo)式下接(jie)(jie)地(di)(di)(di)屏(ping)蔽層(ceng)(ceng)應(ying)懸空(kong)不能接(jie)(jie)地(di)(di)(di)且高(gao)壓(ya)測(ce)量(liang)線(xian)也(ye)應(ying)懸空(kong)吊起不能拖地(di)(di)(di)。

高壓輸出(chu)插座(zuo)（0.5～10kV，*大200mA）

安裝位置：如(ru)圖(tu)2-1所示，安裝在箱體(ti)前側面。

功   &nbsp;能：內高(gao)壓(ya)輸出；檢測反接(jie)線試品電流；內部標準電容器的高(gao)壓(ya)端。

接(jie)(jie)線(xian)(xian)方法：插座1腳接(jie)(jie)高(gao)(gao)(gao)壓(ya)(ya)線(xian)(xian)芯(xin)線(xian)(xian)（紅夾(jia)(jia)子），2、3腳接(jie)(jie)高(gao)(gao)(gao)壓(ya)(ya)線(xian)(xian)屏(ping)(ping)(ping)蔽(bi)（黑(hei)夾(jia)(jia)子）。正接(jie)(jie)線(xian)(xian)時(shi)，高(gao)(gao)(gao)壓(ya)(ya)線(xian)(xian)芯(xin)線(xian)(xian)（紅夾(jia)(jia)子）和(he)屏(ping)(ping)(ping)蔽(bi)（黑(hei)夾(jia)(jia)子）都可以用(yong)作加壓(ya)(ya)線(xian)(xian)；反接(jie)(jie)線(xian)(xian)時(shi)只能用(yong)芯(xin)線(xian)(xian)對(dui)試品高(gao)(gao)(gao)壓(ya)(ya)端(duan)加壓(ya)(ya)。如果試品高(gao)(gao)(gao)壓(ya)(ya)端(duan)有屏(ping)(ping)(ping)蔽(bi)極（如高(gao)(gao)(gao)壓(ya)(ya)端(duan)的屏(ping)(ping)(ping)蔽(bi)環(huan)）可接(jie)(jie)高(gao)(gao)(gao)壓(ya)(ya)屏(ping)(ping)(ping)蔽(bi)，無屏(ping)(ping)(ping)蔽(bi)時(shi)高(gao)(gao)(gao)壓(ya)(ya)屏(ping)(ping)(ping)蔽(bi)懸空。若(ruo)配置的高(gao)(gao)(gao)壓(ya)(ya)測(ce)(ce)試線(xian)(xian)有接(jie)(jie)地屏(ping)(ping)(ping)蔽(bi)層(ceng)，則需(xu)將高(gao)(gao)(gao)壓(ya)(ya)測(ce)(ce)量(liang)線(xian)(xian)的接(jie)(jie)地屏(ping)(ping)(ping)蔽(bi)層(ceng)連接(jie)(jie)至圖2-1中的“1”處。

注意事項：

（1）若(ruo)儀器CVT自激法(fa)高壓連線具備“高壓拖地”功能，使用(yong)拖地模(mo)式測量時(shi)務必(bi)使用(yong)原廠配置的專用(yong)高壓電纜（原廠電纜在出廠時(shi)已(yi)進(jin)行校準(zhun)），不(bu)可(ke)使用(yong)其它高壓電纜代替，否(fou)則會引起(qi)較大(da)的測量誤差。CVT自激法(fa)不(bu)使用(yong)拖地模(mo)式時(shi)，高壓電纜必(bi)須懸(xuan)空，接地屏蔽層也不(bu)能接地！

（2）高壓(ya)(ya)插座(zuo)和高壓(ya)(ya)線有危險(xian)電(dian)壓(ya)(ya)，**禁止碰觸高壓(ya)(ya)插座(zuo)、電(dian)纜、夾子和試品帶電(dian)部位(wei)！確認斷電(dian)后接(jie)線，測量(liang)時務必遠離！

（3）用(yong)標準介損器(qi)（或標準電容器(qi)）檢定(ding)反接(jie)(jie)線精(jing)度時，應使用(yong)全屏蔽插頭連接(jie)(jie)試(shi)品，否則(ze)暴露(lu)的芯線會引(yin)起測量誤差。

（4）應(ying)保(bao)證(zheng)高壓線與試品高壓端零電阻連接(jie)，否則(ze)可能引起誤差或數據波動，也可能引起儀(yi)器保(bao)護。

（5）強干擾下拆除接(jie)(jie)(jie)線(xian)時(shi)，應在保持(chi)電纜接(jie)(jie)(jie)地狀(zhuang)態下斷開連接(jie)(jie)(jie)，以防感(gan)應電擊。

CVT自激(ji)法低壓輸出插座(zuo)（3～50V，3～30A）

功    能：由該插座和圖2-1中的(de)接地(di)接線(xian)柱(zhu)“4”輸出(chu)CVT測量的(de)低壓變頻激勵電源。

注意事項：

（1）因低(di)壓輸出(chu)電流大，應采(cai)用儀器(qi)專用低(di)阻(zu)線連接(jie)CVT二次(ci)繞(rao)組，接(jie)觸**會影(ying)響測量(liang)。

（2）視(shi)CVT容量從菜單(dan)選擇合適的電壓電流保護(hu)限。

（3）選擇正/反接線時，此輸出封閉。

測(ce)(ce)量(liang)接(jie)(jie)地：它同外殼和電(dian)(dian)源插座地線連到一(yi)起，與圖2-1的“3”一(yi)起輸(shu)出CVT測(ce)(ce)量(liang)的低壓(ya)變頻激勵電(dian)(dian)源。盡管儀器有接(jie)(jie)地保護(hu)，但無論何(he)種測(ce)(ce)量(liang)，儀器都應可靠獨(du)立接(jie)(jie)地以保障使用者的**及測(ce)(ce)量(liang)結果的準確。

打(da)印(yin)(yin)(yin)機：微型熱敏(min)打(da)印(yin)(yin)(yin)機，用于打(da)印(yin)(yin)(yin)測試數據。

USB：USB通信用。

RS232：與(yu)計算機聯機使用。

U盤(pan)：用于(yu)外接U盤(pan)保存數據。

試品輸入Cx插座（10μA～5A）

功    能：正(zheng)接(jie)線時(shi)輸入試品電流。

接線方法：插座1腳(jiao)接測量線芯線（紅(hong)夾(jia)(jia)子），2、3腳(jiao)接測量線屏(ping)(ping)蔽（黑夾(jia)(jia)子）。正接線時芯線（紅(hong)夾(jia)(jia)子）接試(shi)品(pin)低(di)壓(ya)信號端，如果試(shi)品(pin)低(di)壓(ya)端有屏(ping)(ping)蔽極(ji)（如低(di)壓(ya)端的(de)屏(ping)(ping)蔽環）可(ke)接屏(ping)(ping)蔽，試(shi)品(pin)無(wu)屏(ping)(ping)蔽時屏(ping)(ping)蔽懸空。

注意事項(xiang)：

（1）測量(liang)中嚴禁拔下插頭，防止試(shi)品電流經人體入(ru)地！

（2）用標(biao)準(zhun)介損器（或標(biao)準(zhun)電容器）檢測儀器正接線精度時，應使(shi)用全屏(ping)蔽插頭連接試(shi)品(pin)，否則暴露的芯線會引起測量誤(wu)差。

（3）應(ying)保證(zheng)引線與試品低壓端(duan)0電阻連接，否則可能(neng)引起(qi)誤差(cha)或數據波動，也(ye)可能(neng)引起(qi)儀器保護。

（4）強干擾(rao)下拆除接(jie)(jie)線時(shi)，應在保(bao)持電(dian)纜接(jie)(jie)地(di)狀態下斷開(kai)連接(jie)(jie)，以防感應電(dian)擊。

標準電容(rong)輸入Cn插座(zuo)（10μA～5A）

功&nbsp;   能：輸入外接標準電(dian)容器(qi)電(dian)流。

接線方(fang)法(fa)：與(yu)Cx插座類似，其區別在于(yu)：

（1）使用外部標準電(dian)容器時，應(ying)使用全屏蔽插頭連接。此方式(shi)常用于(yu)外接高電(dian)壓(ya)(ya)等(deng)級標準電(dian)容器，實(shi)現(xian)高電(dian)壓(ya)(ya)介(jie)損測(ce)量。

（2）菜單選擇“外(wai)標準電容”方(fang)式(shi)。

（3）將(jiang)外接(jie)標準(zhun)電容(rong)器的C和tgδ置(zhi)入儀器，實現Cx電容(rong)介損的**值(zhi)測(ce)量(liang)。

從理論上講，任何(he)容(rong)量和介損的電容(rong)器(qi)，將(jiang)參數置(zhi)入儀器(qi)都(dou)可(ke)做(zuo)標(biao)準電容(rong)器(qi)。不同的是標(biao)準電容(rong)器(qi)能提供更好的長期穩定性和精度。

（4）不管正接(jie)線還是反接(jie)線測量(liang)，標準電容器(qi)接(jie)線方式始(shi)終為(wei)正接(jie)線。

總電源開關(guan)：開關(guan)機用，可(ke)在發現異常時(shi)隨時(shi)關(guan)閉。

供(gong)電(dian)電(dian)源插(cha)座：接220V市電(dian)，插(cha)座內(nei)置保險絲(si)座，保險絲(si)規格(ge)為10A / 250V，若(ruo)損壞應使(shi)用相同規格(ge)的保險絲(si)替(ti)換。若(ruo)換用備用保險絲(si)后仍燒斷，可(ke)能儀(yi)器(qi)有(you)故障，可(ke)通知廠家處理。

高壓(ya)允許開(kai)關：內置高壓(ya)系統或CVT自激法(fa)低壓(ya)輸出系統的總(zong)電(dian)源開(kai)關。此開(kai)關受(shou)總(zong)電(dian)源開(kai)關控制。

按(an)鍵(jian)：按(an)下“↑”、“↓”、“←”、“→”鍵(jian)可移動光標(biao)和修(xiu)改光標(biao)處內(nei)容(rong)，“確(que)認(ren)”鍵(jian)用于確(que)認(ren)或(huo)結(jie)束參數修(xiu)改，在測(ce)試界面長按(an)該(gai)鍵(jian)可開(kai)始測(ce)量(liang)，測(ce)量(liang)過程中，按(an)“確(que)認(ren)”鍵(jian)可終止測(ce)量(liang)。

液(ye)晶顯(xian)示屏(ping)(ping)：320×240點(dian)陣(zhen)灰白背光液(ye)晶顯(xian)示屏(ping)(ping)，顯(xian)示菜(cai)單、測量結(jie)果或出(chu)錯信息。應避(bi)免長(chang)時(shi)間陽光爆曬，避(bi)免重壓。

背光(guang)調節：液(ye)晶顯示屏顯示較(jiao)暗或(huo)不清(qing)晰時(shi)可(ke)調節該(gai)電位(wei)(wei)器至合適位(wei)(wei)置(zhi)使顯示明亮清(qing)晰。

指示(shi)燈：配(pei)合儀器內部蜂鳴器進行測(ce)試、報(bao)警等聲光警示(shi)。

3、WBJS6000變頻介質損耗測試儀使用說明

3.1初始(shi)菜單界面(mian)

打開(kai)總電源(yuan)開(kai)關后，系統進入(ru)初始菜單界面。

測試(shi)模式(shi)：選擇測試(shi)模式(shi)和設置各項測試(shi)參數，

歷史記錄：查(cha)看(kan)保(bao)存的歷史數據

系(xi)統設置(zhi)：出(chu)廠參數設置(zhi)及系(xi)統時間校準(zhun)

幫&nbsp;   助：可(ke)查閱(yue)軟件版本等信(xin)息

取(qu)消或使(shi)用CVT自激法“高壓連線拖(tuo)地(di)”功能：

開機右下角顯示“”表示該儀器在CVT自激法測試時高壓連線具備拖地功能。

光標停留在“測試模式”處長按“→”鍵（聽到蜂鳴器聲音松手）可取消或使用拖地模式（右下角顯示“”表示當前為拖地模式），在拖地模式下必須將高壓連線的接地屏蔽層插頭接至圖2-1中的“1”（高壓測量接地）處，否則會引起測量誤差；取消拖地模式后高壓連線必須懸空吊起，同時高壓連線的接地屏蔽層插頭也應懸空，否則會引起測量誤差。

使(shi)用或取消發“發電機供(gong)電”模式：

光標停留在“測試模式”處長按“←”鍵（聽到蜂鳴器聲音松手）可使用或取消發電機供電模式（左下角顯示“”表示當前為發電機供電模式），儀器開機默認為市電供電模式，發電機模式適合使用發電機或移動電源供電環境，發電機模式下儀器將不進行接地檢測。

3.2測試模式

3.2.1 開始測試菜單(dan)界面

在初始(shi)菜單界面將光標移動到“測試模式”按(an)確定按(an)鈕進入開始(shi)測試菜單界面，如圖3-2所示(shi)。

界面左側為(wei)參(can)(can)數(shu)設置選項，移動光標(biao)到相關參(can)(can)數(shu)選項按確定鍵(jian)可設置相關試(shi)驗參(can)(can)數(shu)，右(you)側顯示內(nei)容為(wei)已設置好試(shi)驗參(can)(can)數(shu)，光標(biao)停留在“開(kai)始測(ce)試(shi)”欄長(chang)按“確認(ren)” 鍵(jian)可開(kai)始測(ce)試(shi)。

界面右(you)側“測試地(di)(di)點(dian)”下一行(xing)為信息提示行(xing)，若內外高(gao)壓(ya)選(xuan)擇有(you)誤則(ze)提示“當前為內高(gao)壓(ya)模(mo)式(shi)，請(qing)(qing)開啟(qi)內高(gao)壓(ya)”或“當前為外高(gao)壓(ya)模(mo)式(shi)，請(qing)(qing)關閉內高(gao)壓(ya)”；若儀器沒有(you)接(jie)地(di)(di)則(ze)會(hui)提示“請(qing)(qing)檢查(cha)接(jie)地(di)(di)”，當有(you)錯誤提示時儀器無(wu)法(fa)正常啟(qi)動(dong)，只有(you)提示“確(que)認無(wu)誤后長按確(que)認鍵開始測試”時儀器方可啟(qi)動(dong)測試。

3.2.2 試(shi)品模型選擇菜單界面

將光(guang)標移(yi)動到“試品(pin)模型(xing)”功(gong)能選(xuan)項，界面(mian)如圖(tu)3-3所示(shi)，按(an)(an)“確認”按(an)(an)鈕后(hou)移(yi)動光(guang)標可(ke)選(xuan)擇合適的(de)試品(pin)模型(xing)（光(guang)標移(yi)動到相應功(gong)能后(hou)按(an)(an)確認鍵）。實驗室一般使用(yong)串聯型(xing)介(jie)損因(yin)數(shu)標準器檢定，校驗時(shi)應使用(yong)RC串聯模型(xing)。

RC串聯(電(dian)(dian)流(liu)比較儀型(xing)電(dian)(dian)橋)：采用電(dian)(dian)流(liu)比較儀型(xing)電(dian)(dian)橋（如QS30電(dian)(dian)橋）校(xiao)準的(de)串聯型(xing)試品(或介質損耗因數標(biao)準器)，該項在開始測試界面顯示"RC串聯"。

RC串聯(西林型電橋)： 采用西林型電橋（如2801、QS1和QS37等電橋）校準的串聯型試品(或介質損耗因數標準器) ，該項在開始測試界面顯示 "RC串聯"。

RC并聯(現場使(shi)用)：一般實際的電容試(shi)品可(ke)等效為RC并聯模型，建議現場試(shi)驗(yan)時(shi)使(shi)用。

采用電流比較儀型電橋和西林型電橋校準的串聯型試品(或介質損耗因數標準器)的區別只是電容量不同：為西林型電橋標定值，C為電流比較儀型電橋標定值。

3.2.3 接線方式選擇菜單界面

將光標(biao)移動(dong)到“接線方(fang)式(shi)”功能選項，界(jie)面如圖3-4所示，按“確認(ren)”按鈕后移動(dong)光標(biao)可選擇(ze)合適的接線方(fang)式(shi)。

接(jie)(jie)線(xian)方式(shi)(shi)：共5種(zhong)接(jie)(jie)線(xian)方式(shi)(shi)（功(gong)能因型(xing)號有(you)差(cha)別，具體(ti)詳見型(xing)號功(gong)能說(shuo)明(ming)部分(fen)），分(fen)別為(wei)：正接(jie)(jie)線(xian)、反接(jie)(jie)線(xian)、反接(jie)(jie)線(xian)低壓屏蔽、CVT自激(ji)法和變比。選擇CVT自激(ji)法測量時需同時將相關參數(shu)一并設置好。

CVT自(zi)激(ji)法測量必須打開(kai)內高壓(ya)(ya)允許開(kai)關，由機內提(ti)供激(ji)勵電(dian)壓(ya)(ya)，由“低壓(ya)(ya)輸出(chu)”和(he)“測量接地”輸出(chu)。為**起(qi)見，CVT自(zi)激(ji)法還(huan)需(xu)要設置以下幾個保護(hu)限：

將光標移動到xxkV / xxmA / xxV / xxA，按(an)↑↓選擇合適值，選擇好后按(an)確認(ren)鍵(jian)退出。

xxkV：可選0.5/0.6/0.8/1/1.5/2/2.5/3/3.5/4kV，為高壓(ya)上(shang)限，只能使用4kV以下電(dian)壓(ya)。

xxmA：可選10/15/20/25/30/35/40/45/50/60/70/80/100/120/140/200mA，表示待測試品(pin)的高壓電流上限。

xxV：可(ke)選3/4/5/6/7/8/9/10/12/15/20/25/30/35/40/50V，表示低壓激勵電壓上限。

xxA：可選3/4/5/6/7/8/9/10/11/12/13/14/15/16/20/30A，表示低壓(ya)激勵電流上限。

注意：

（1）測量時(shi)4個保護限(xian)同(tong)時(shi)起(qi)作(zuo)用，因此試驗高壓可能達(da)不(bu)到(dao)設定值。如果(guo)高壓達(da)不(bu)到(dao)保護限(xian)，可適當調整受到(dao)限(xian)制(zhi)的保護限(xian)。

（2）通常測(ce)量C1時低壓(ya)(ya)激勵電(dian)壓(ya)(ya)可達20V，測(ce)量C2時低壓(ya)(ya)激勵電(dian)流(liu)可達15A。一般可設(she)高(gao)(gao)壓(ya)(ya)電(dian)壓(ya)(ya)2～3kV，較少采(cai)用高(gao)(gao)壓(ya)(ya)電(dian)流(liu)限制，可設(she)為*大(da)200mA。

變比測量時應選擇(ze)合(he)適(shi)的高壓(ya)輸出使二(er)次(ci)側電壓(ya)小于120V，當二(er)次(ci)側電壓(ya)≥120V時儀(yi)器(qi)會發出聲光報(bao)警并提示“接(jie)線(xian)錯誤(wu)”。

3.2.4 標(biao)準電容選擇菜(cai)單界面

將(jiang)光標(biao)移(yi)動到“標(biao)準(zhun)(zhun)電(dian)(dian)容(rong)(rong)”功能選項(xiang)，界(jie)面如(ru)圖3-5所示，按“確認”按鈕(niu)后(hou)移(yi)動光標(biao)可選擇合適(shi)的(de)標(biao)準(zhun)(zhun)電(dian)(dian)容(rong)(rong)。選擇外標(biao)準(zhun)(zhun)電(dian)(dian)容(rong)(rong)時需同(tong)時將(jiang)外標(biao)準(zhun)(zhun)的(de)電(dian)(dian)容(rong)(rong)量(liang)和(he)介損一(yi)并(bing)設置好(hao)。

選擇外(wai)標準(zhun)電容時將光標移(yi)動到Cn=xxxxx e x pF 和tgδ=xx.xxx%按(an)↑↓選擇合適(shi)值，選擇好后按(an)確認鍵退出。

Cn采用科(ke)學計數法，如5.000e1=5.000×101=50.00，1.000e2=1.000×102=100.0等(deng)，范(fan)圍0.000e0～9.999e5 (即(ji)0～999900pF)。tgδ設(she)置(zhi)范(fan)圍0～±9.999%。

內標(biao)準(zhun)電容通(tong)常(chang)可用(yong)于正、反接(jie)線測量和CVT自激法測量，高電壓介損選用(yong)外標(biao)準(zhun)方式，需(xu)要將外接(jie)電容參數置入(ru)儀器。

3.2.5 測試頻率選擇(ze)菜單(dan)界面(mian)

測試頻率可選擇定頻或(huo)異頻，頻率選擇菜單界面如圖3-6所示(shi)，頻率選擇范圍如下：

定(ding)頻：

“50Hz”：為工(gong)頻(pin)測量(liang)，此設置不能(neng)抗(kang)干擾，在試(shi)驗(yan)室內測量(liang)或校驗(yan)時(shi)選(xuan)用。

“45/55/60/65Hz”：為單頻(pin)率測量，研究不同頻(pin)率下(xia)介損的變(bian)化(hua)時選用。

頻率自適應：外高壓(ya)測(ce)量模式下有效（不能更改(gai)），系統自動(dong)識(shi)別(bie)外施高壓(ya)頻率，測(ce)試頻率無需在測(ce)試前設(she)置(zhi)。

異頻：

“45/55Hz”：為自動(dong)變(bian)頻，適合50Hz電網工頻干(gan)擾下測量。

“55/65Hz”：為自(zi)動變(bian)頻(pin)，適合60Hz電網工頻(pin)干擾下測量。

“47.5/52.5Hz”：為自動變頻，適合50Hz電(dian)網工(gong)頻干(gan)擾下測量。

3.2.6 測試(shi)電(dian)壓選擇(ze)菜(cai)單界面

內高壓可選擇(ze)“0.5 /0.6 /0.8 /1 /1.5 /2 /2.5 /3 /3.5 /4 /4.5 /5 /5.5 /6 /6.5 /7 /7.5 /8 /8.5 /9 /9.5 /10.0kV”（F型*高輸出電(dian)壓為12kV），應根(gen)據(ju)高壓試驗(yan)規程選擇(ze)合適的試驗(yan)電(dian)壓。

注：若選(xuan)擇“CVT自(zi)激(ji)法(fa)(fa)”測試(shi)功能，則該選(xuan)項(xiang)(xiang)無效。CVT自(zi)激(ji)法(fa)(fa)的相關電壓參數需在該功能選(xuan)項(xiang)(xiang)下進行設置。

3.2.7 測試(shi)備忘(wang)設置菜單界面(mian)

設(she)(she)備編號：可設(she)(she)置8位字母或數字編號，將光標移動到”設(she)(she)備編號”處，按確(que)認健(jian)進入設(she)(she)備編號設(she)(she)置，通過“←”、“→”健(jian)移動光標，通過↑↓選擇合適值，設(she)(she)置好后按確(que)認鍵退出。

測(ce)(ce)試人(ren)員：可(ke)設置8位字(zi)母(mu)或數字(zi)編號，將(jiang)光(guang)標移動到” 測(ce)(ce)試人(ren)員”處，按(an)確(que)(que)認健進入測(ce)(ce)試人(ren)員設置，通(tong)過“←”、“→”健移動光(guang)標，通(tong)過↑↓選(xuan)擇合適值，設置好(hao)后(hou)按(an)確(que)(que)認鍵退出。

測(ce)(ce)試(shi)地(di)點：可設置8位字(zi)(zi)母或數字(zi)(zi)編號，將光(guang)標(biao)移動到” 測(ce)(ce)試(shi)地(di)點”處，按(an)確認健進(jin)入測(ce)(ce)試(shi)地(di)點設置，通過“←”、“→”健移動光(guang)標(biao)，通過↑↓選擇合適(shi)值，設置好后按(an)確認鍵退出。

3.2.8 測試結(jie)果(guo)界(jie)面

3.2.8.1反(fan)接法(fa)測(ce)試結果(guo)界面

測(ce)試完成顯示結果后，可移動光標選擇保存(cun)或(huo)打印數據。

儀器(qi)自動(dong)分辨電容(rong)、電感、電阻型試(shi)品(pin)(pin)：電容(rong)型試(shi)品(pin)(pin)顯(xian)示(shi)Cx和(he)tgδ；電感型試(shi)品(pin)(pin)顯(xian)示(shi)Lx和(he)Q；電阻型試(shi)品(pin)(pin)顯(xian)示(shi)Rx和(he)附(fu)加Cx或Lx。自動(dong)選取(qu)顯(xian)示(shi)單位。

試品為電(dian)(dian)容(rong)時：顯示數(shu)據為Cx、tgδ、Ux、Ix、Φ、f1、f2, |δ|>1則(ze)顯示電(dian)(dian)容(rong)和串/并聯電(dian)(dian)阻

試品為(wei)電感(gan)時：顯示數(shu)據為(wei)Lx、Q、Ux、Ix、Φ、f1、f2, |Q|<1則顯示電感(gan)和串聯電阻

試品為(wei)電阻(zu)時(shi)：顯示數據(ju)為(wei)Cx(Lx)、Rx、Ux、Ix、Φ、f1、f2

Cx   試(shi)品電容量[1μF=1000nF納法(fa) / 1nF=1000pF]，如顯示10.00nF即(ji)10000pF

tgδ 介(jie)損因數[1%=0.01]

Lx   試品電(dian)感量[1MH兆亨=1000kH / 1kH=1000H]

Q    品質因數[無單位]

Rx&nbsp;  試品電阻(zu)值[1MΩ=1000kΩ / 1kΩ=1000Ω]

Ux   試驗電壓[1kV=1000V / 1V=1000mV]

Ix   試品電流(liu)[1A=1000mA / 1mA=1000μA]

Φ   試品電(dian)流(liu)超前(qian)試驗電(dian)壓的角度(du)[°度(du)]或測(ce)變(bian)比時一次電(dian)壓超前(qian)二次電(dian)壓的角度(du)

K &nbsp;  測CVT變比時，一次(ci)電壓(ya)比二(er)次(ci)電壓(ya)

f1   頻(pin)率[Hz]，顯示(shi)**次測試頻(pin)率

f2   頻率[Hz]，顯示**次測試頻率

顯示over表示測量數據超量程。

3.2.8.2反接線(xian)低壓(ya)屏蔽(bi)測試結果(guo)界面

反接線(xian)(xian)低壓屏蔽測試一次接線(xian)(xian)可同時測出(chu)C11和C下節(jie)(下端屏蔽部分(fen))的(de)電(dian)容量和介損(sun)值。

3.2.8.3 CVT自激法測試(shi)結果界面

CVT自激法按測量(liang)接(jie)(jie)線，與試(shi)品輸入(ru)Cx插座連接(jie)(jie)的(de)定義為(wei)C1，與高(gao)壓(ya)(ya)線連接(jie)(jie)的(de)為(wei)C2。U1為(wei)測量(liang)C1時(shi)的(de)高(gao)壓(ya)(ya)，U2為(wei)測量(liang)C2時(shi)的(de)高(gao)壓(ya)(ya)。

3.3歷(li)史(shi)數據

進入歷史數據菜單界(jie)面(mian)如(ru)圖(tu)3-12所示。

移動光標(biao)(biao)到(dao)(dao)“U盤”選(xuan)(xuan)(xuan)項按“確(que)定”鍵可(ke)將(jiang)數(shu)(shu)據(ju)(ju)導(dao)出到(dao)(dao)U盤，上移到(dao)(dao)“清(qing)空”選(xuan)(xuan)(xuan)項按“確(que)定”鍵可(ke)清(qing)空保存的全部數(shu)(shu)據(ju)(ju)。將(jiang)光標(biao)(biao)移動到(dao)(dao)“>>>>”選(xuan)(xuan)(xuan)項按下“確(que)定”鍵進(jin)入數(shu)(shu)據(ju)(ju)選(xuan)(xuan)(xuan)擇界面(mian)，光標(biao)(biao)位置默認停留在*近保存的單(dan)條數(shu)(shu)據(ju)(ju)上，若要查看其他數(shu)(shu)據(ju)(ju)可(ke)上下移動光標(biao)(biao)進(jin)行選(xuan)(xuan)(xuan)擇，選(xuan)(xuan)(xuan)擇好(hao)要查看的數(shu)(shu)據(ju)(ju)后(hou)按“確(que)定”按鈕進(jin)入單(dan)條歷(li)史數(shu)(shu)據(ju)(ju)顯(xian)示界面(mian)。歷(li)史數(shu)(shu)據(ju)(ju)選(xuan)(xuan)(xuan)擇界面(mian)和單(dan)條歷(li)史數(shu)(shu)據(ju)(ju)顯(xian)示界面(mian)如(ru)圖3-13和圖3-14所示。

進入單條(tiao)歷(li)史數據(ju)(ju)顯(xian)示界面后(hou)，在左側功能選項區上下移動(dong)光(guang)標可選擇打印、刪除(chu)本條(tiao)數據(ju)(ju)和(he)退出單條(tiao)歷(li)史數據(ju)(ju)顯(xian)示界面。

3.4系統設置(zhi)

進(jin)入系統(tong)(tong)設置(zhi)(zhi)菜(cai)單可進(jin)行(xing)系統(tong)(tong)時間校準(zhun)，“出廠(chang)設置(zhi)(zhi)”參數(shu)禁止用戶(hu)修改，只允許(xu)生產廠(chang)家進(jin)行(xing)出廠(chang)參數(shu)設置(zhi)(zhi)。

3.5幫助

可查(cha)看儀器的相(xiang)關操作指導(dao)。

3.6啟動測(ce)量

進入測試(shi)界面設置好各項試(shi)驗參(can)數(shu)后，將光標移(yi)動(dong)(dong)到“開始測試(shi)”功能選項上，按住“確認”鍵3s以上啟動(dong)(dong)測量。

啟動測(ce)量(liang)后(hou)發出聲(sheng)光報警；在(zai)測(ce)試過程中會實時顯示測(ce)試相關參數(shu)（電壓、電流、頻(pin)率(lv)、電容量(liang)等參數(shu)）和測(ce)量(liang)進程(0%～99%)。

測(ce)量中按“確(que)認(ren)”鍵可(ke)取消測(ce)量，遇緊(jin)急情況立(li)即(ji)關(guan)閉總電源。

測量過程(cheng)結(jie)束，儀(yi)器自動降壓后(hou)再顯示(shi)結(jie)果。

3.7對比度(du)調節

液(ye)晶顯示屏(ping)的(de)對比(bi)度已在出廠時校好，如(ru)果您感(gan)覺不(bu)夠清晰，調整面板上(shang)的(de)電位器使液(ye)晶顯示屏(ping)顯示內(nei)容(rong)清晰為止。

4、參(can)考接線

4.1常規正接線（正接線、內(nei)標準電容(rong)、內(nei)高(gao)壓）

4.2常規反接線(xian)(xian)（反接線(xian)(xian)、內(nei)標準電容(rong)、內(nei)高壓(ya)）

4.3正接(jie)線、外標準(zhun)電容、內高壓

4.4反(fan)接線(xian)、外標準電容、內(nei)高壓

4.5正接線(xian)、內標準(zhun)電(dian)容(rong)、外高壓(ya)

4.6反接線、內標準(zhun)電(dian)容、外高壓

4.7正接線(xian)、外標準電(dian)容、外高(gao)壓（高(gao)電(dian)壓介損）

4.8反接線、外標準(zhun)電容、外高壓

4.9反接線低壓(ya)屏(ping)蔽(bi)

可(ke)在220kV CVT母線(xian)(xian)接(jie)地情況下，對C11進行不(bu)拆線(xian)(xian)10kV反接(jie)線(xian)(xian)介(jie)損測量。如下圖所示：母線(xian)(xian)掛地線(xian)(xian)，C11上端(duan)不(bu)拆線(xian)(xian)，C11下端(duan)接(jie)高壓(ya)線(xian)(xian)芯線(xian)(xian)，C2末端(duan)δ和(he)X接(jie)Cx芯線(xian)(xian)。這樣C12和(he)C2被低壓(ya)屏(ping)蔽，儀器采(cai)用(yong)反接(jie)線(xian)(xian)低壓(ya)屏(ping)蔽測量方(fang)式(shi)，可(ke)同時測出C11和(he)下端(duan)被屏(ping)蔽部分的電容量和(he)介(jie)損值。

4.10 CVT自激法

高壓(ya)線(xian)芯線(xian)接(jie)C2下端，Cx芯線(xian)接(jie)C12上端。在CVT 自(zi)激法(fa)測(ce)量(liang)中，儀器先測(ce)量(liang)C12，然后自(zi)動倒線(xian)測(ce)量(liang)C2，并(bing)自(zi)動校(xiao)準分壓(ya)影響。

1）D型高壓連線不(bu)可拖(tuo)地(di)，高壓線應懸空不(bu)能接觸地(di)面（高壓線的接地(di)屏蔽層插頭必須懸空），否(fou)則其(qi)對地(di)附(fu)加介損會引起(qi)誤差(cha)，可用(yong)細電纜連接高壓插座與CVT試品并吊起(qi)。

2）E、F、S、J型高壓連線可拖地使用，在開機初始界面（圖3-1界面），光標停留在“測試模式”處長按“→”鍵（聽到蜂鳴器聲音松手）可取消或使用拖地模式（右下角顯示“”表示當前為拖地模式），在拖地模式下必須將高壓連線的接地屏蔽層插頭接至圖2-1中的“1”（高壓測量接地）處，否則會引起測量誤差；取消拖地模式后高壓連線必須懸空吊起，高壓連線的接地屏蔽層插頭也應懸空，否則會引起測量誤差。拖地模式下的高壓連線必須使用原廠配置的電纜（已校準），否則會引起測量誤差！

4.11 CVT變比(bi)測試(shi)

儀器高壓線的(de)(de)芯(xin)線紅夾子接CVT的(de)(de)上端，母(mu)線拆地(di)，CVT下端接地(di)，低壓線紅黑夾子接二次繞組。

5、常見CVT的(de)參考測(ce)量方法

目前常(chang)見的電容式電壓(ya)互感器可分為(wei)110kV、220kV、500kV等不同電壓(ya)等級，一(yi)般110kV的CVT其(qi)C1就(jiu)一(yi)節，220kV的CVT其(qi)C1有(you)兩節，而500kV的CVT其(qi)C1有(you)三節。

5.1  500kV CVT的(de)測量方法

1）C11的(de)測量方法

按(an)圖5-1標明的方式(shi)接線，測(ce)量C11時應注意：

◇ 拆開δ端(duan)，X端(duan)一(yi)定要(yao)接地

◇ a點接(jie)紅色高(gao)壓測試線的芯線（紅夾子），b點接(jie)紅色高(gao)壓測試線的高(gao)壓屏(ping)蔽層（黑夾子）

2）C12的(de)測量方法(fa)

按圖(tu)5-2標(biao)明的方式接線(xian)，測量(liang)C12時(shi)注意：

◇ 拆開δ端，X端一定要接地

◇ a點接紅色(se)高(gao)壓測試(shi)線芯線（紅夾子），b點接黑色(se)低壓測試(shi)線芯線（紅夾子）

3）C13和C2的測量方法

儀器設(she)(she)有專門的CVT自(zi)激法，不需(xu)外加(jia)任何(he)其它設(she)(she)備，就可以完成測試。按圖5-3標明的方(fang)式(shi)接線，儀器選用CVT自(zi)激法測量(liang)方(fang)式(shi)，試驗電壓可設(she)(she)置為2kV，CVT自(zi)激法能一次測量(liang)C13和C2兩個電容(rong)的介損和電容(rong)量(liang)。

5.2  220kV CVT的(de)測量方法(fa)

1）C11的測量方法

按(an)圖5-4標明的方(fang)式(shi)接線，測量(liang)C11時注意：

◇ δ和X相連，與接地分開。

◇ a點(dian)接紅(hong)色高(gao)壓測試線(xian)(xian)(xian)的芯線(xian)(xian)(xian)（紅(hong)夾(jia)子），C2末端δ和X 接Cx端芯線(xian)(xian)(xian)，這樣C12與C2就(jiu)被低壓屏蔽了(le)。

2）C12和C2的測(ce)量方法

儀器設有專門(men)的CVT自(zi)激(ji)法，不需外(wai)加(jia)任何其它設備，就可以(yi)完成測(ce)試。按圖5-5標明的方式接線，儀器選用CVT自(zi)激(ji)法測(ce)量方式，試驗電壓(ya)可設置為2kV，CVT自(zi)激(ji)法能一次測(ce)量C12和C2兩個電容(rong)的介損和電容(rong)量。

5.3  110kV CVT的測量方法

儀(yi)器(qi)設有(you)專門(men)的(de)CVT自激(ji)法，不需外加任何其它設備，就(jiu)可(ke)以(yi)完(wan)成(cheng)測試。按圖5-6標明(ming)的(de)方(fang)式接線(xian)，儀(yi)器(qi)選用CVT自激(ji)法測量(liang)(liang)方(fang)式，試驗電壓(ya)可(ke)設置為(wei)2kV，CVT自激(ji)法能一(yi)次測量(liang)(liang)C13和C2兩個電容(rong)的(de)介損和電容(rong)量(liang)(liang)。

6、現(xian)場試(shi)驗注意(yi)事項

如果(guo)使(shi)用中(zhong)出(chu)現測試數據明顯不合(he)理，請從以下(xia)方面查找原因(yin)：

6.1搭鉤接觸**

現場測量使用搭(da)鉤(gou)連接試品(pin)時，搭(da)鉤(gou)務必與試品(pin)接觸(chu)良好(hao)，否則接觸(chu)點放(fang)電會引起數據(ju)嚴(yan)重(zhong)波(bo)動(dong)！尤其是引流(liu)線氧化層太厚，或風吹(chui)線擺(bai)動(dong)，易造成接觸(chu)**。

6.2接地接觸**

接地**會(hui)引起儀器保護或數據嚴重波(bo)動。應刮(gua)凈(jing)接地點上的油漆(qi)和銹(xiu)蝕，務必(bi)保證0電阻(zu)接地！

6.3直(zhi)接測(ce)(ce)量CVT或末端(duan)屏蔽法測(ce)(ce)量電磁式PT

直接測量CVT的下(xia)節(jie)耦合(he)電(dian)容會出現(xian)負(fu)介損，消除負(fu)介損可采取下(xia)述(shu)措施(shi)或改(gai)用CVT自激法(fa)測量：

1）測試(shi)(shi)時測量(liang)儀(yi)器的(de)接地端直接接在被(bei)試(shi)(shi)品的(de)金屬底座上(shang)，并保證接觸(chu)良好。

2）條(tiao)件允(yun)許時盡可能將非被試繞(rao)組短接，以減小電感和鐵心(xin)損耗的影(ying)響。

3）被試品周圍不應有鐵架(jia)、腳手架(jia)、木(mu)梯等物體(ti)(ti)，盡可能減(jian)小分布(bu)阻抗的(de)影響。

4）試(shi)驗引線與(yu)被(bei)試(shi)品的夾角應盡可能(neng)接近(jin)90°，以(yi)減小線與(yu)試(shi)品間的分布電容。

用(yong)末(mo)端(duan)(duan)屏蔽(bi)法測量(liang)電磁式PT時(shi)，由于受潮引起“T形網絡干擾”出現負介損，吹干下面(mian)三裙(qun)瓷套和接線端(duan)(duan)子(zi)盤(pan)即可(ke)。也可(ke)改用(yong)常規(gui)法或末(mo)端(duan)(duan)加壓(ya)法測量(liang)。

6.4空氣濕度過大

空氣濕(shi)度大使介損測(ce)量值(zhi)異常增大（或減小甚至為負）且不穩定，必要時可加屏蔽環。因人為加屏蔽環改變了試品電場(chang)分布，此法有爭(zheng)議，可參照有關規(gui)程(cheng)。

6.5發電(dian)機供電(dian)

發(fa)電機供電時(shi)可采用定頻(pin)50Hz模式工作。

6.6測試線

1）由于長期使用，易造(zao)成測試線(xian)隱(yin)性斷路，或(huo)芯線(xian)和屏(ping)蔽短路，或(huo)插頭接觸**，用戶應經常維護測試線(xian)。

2）測(ce)試標準電容試品時(shi)，應(ying)使用(yong)全屏蔽插頭連(lian)接，以消除(chu)附加雜散電容影響，否(fou)則不能反映儀器精度。

3）自(zi)激法測(ce)量(liang)CVT時(shi)，若使用(yong)(yong)“高(gao)(gao)壓(ya)(ya)連線拖地”功(gong)能(neng)，請務必(bi)使用(yong)(yong)原(yuan)廠(chang)(chang)配置(zhi)的(de)(de)專用(yong)(yong)高(gao)(gao)壓(ya)(ya)電(dian)(dian)纜(lan)（原(yuan)廠(chang)(chang)電(dian)(dian)纜(lan)在出廠(chang)(chang)時(shi)已(yi)進行(xing)校準），高(gao)(gao)壓(ya)(ya)連線的(de)(de)接(jie)地屏(ping)蔽(bi)層(ceng)必(bi)須接(jie)地，不(bu)可使用(yong)(yong)其它高(gao)(gao)壓(ya)(ya)電(dian)(dian)纜(lan)代替，否則會引起(qi)較大(da)的(de)(de)測(ce)量(liang)誤差。若拖地模式(shi)下(xia)測(ce)量(liang)誤差較大(da)，則需將專用(yong)(yong)高(gao)(gao)壓(ya)(ya)電(dian)(dian)纜(lan)返廠(chang)(chang)重新進行(xing)校準。

4）自激法測(ce)量(liang)CVT時，非專(zhuan)用的高壓線應(ying)吊起(qi)(qi)懸(xuan)空，否則對地(di)(di)附加雜散電(dian)容和介損會(hui)(hui)引(yin)起(qi)(qi)測(ce)量(liang)誤差。使用專(zhuan)用電(dian)纜在非拖地(di)(di)模式(shi)下測(ce)量(liang)CVT，高壓電(dian)纜也(ye)應(ying)懸(xuan)空且電(dian)纜的接(jie)地(di)(di)屏蔽(bi)層不能接(jie)地(di)(di)，否則會(hui)(hui)引(yin)起(qi)(qi)較大的測(ce)量(liang)誤差。

6.7工(gong)作模(mo)式(shi)選擇

接好線后請選擇正確的測(ce)量工作模(mo)式，不可選錯。特別是干擾(rao)環(huan)境下應(ying)選用變(bian)頻抗(kang)干擾(rao)模(mo)式。

6.8試驗方法影響

由(you)于介損測(ce)量受試驗(yan)方法(fa)影響較(jiao)大，應區分是(shi)試驗(yan)方法(fa)誤差(cha)還是(shi)儀(yi)器誤差(cha)。出(chu)現(xian)問題時可首(shou)先檢(jian)查接線(xian)，然后檢(jian)查是(shi)否為儀(yi)器故障。

6.9儀器故(gu)障

1）用萬(wan)用表測量(liang)一下(xia)測試線是否斷路，或芯線和(he)屏蔽是否短(duan)路；

2）輸(shu)入電源220V過高或過低(di)；接地是否良好(hao)；

3）用正、反接線測(ce)一下標準(zhun)電容(rong)器(qi)或(huo)已知容(rong)量和介損的電容(rong)試(shi)品，如果結果正確(que)，即(ji)可判斷儀器(qi)沒有問題；

4）拔下所有測試導線(xian)，進行(xing)空試升壓(ya)，若不能(neng)正常工作，儀器可能(neng)有故(gu)障。

7、儀器檢(jian)定

7.1檢定

用帶插頭的(de)屏蔽電(dian)纜連(lian)接標準(zhun)損(sun)耗器(qi)。如果(guo)不能(neng)保證標準(zhun)損(sun)耗器(qi)的(de)精度，應使(shi)用比對(dui)法(fa)檢定(ding)，建議用2801電(dian)橋或其(qi)它精密電(dian)橋作比對(dui)標準(zhun)。

1）介(jie)質損耗因數(shu)標(biao)準(zhun)器一(yi)般為串聯模型(xing)，因此(ci)儀器的試品模型(xing)應選(xuan)擇“RC串聯(電(dian)流比較儀型(xing)電(dian)橋)”或“RC串聯(西(xi)林型(xing)電(dian)橋)”。

RC串(chuan)聯(電(dian)(dian)(dian)流比較儀型(xing)電(dian)(dian)(dian)橋(qiao)(qiao))：采用電(dian)(dian)(dian)流比較儀型(xing)電(dian)(dian)(dian)橋(qiao)(qiao)（如(ru)QS30電(dian)(dian)(dian)橋(qiao)(qiao)）校準的串(chuan)聯型(xing)試品(或(huo)介質損耗因數標準器)，該項在開始測試界(jie)面(mian)顯(xian)示"RC串(chuan)聯"。

RC串聯(西林型電橋)： 采用西林型電橋（如2801、QS1和QS37等電橋）校準的串聯型試品(或介質損耗因數標準器) ，該項在開始測試界面顯示 "RC串聯"。

采用電(dian)流(liu)比較儀型(xing)電(dian)橋(qiao)和西林型(xing)電(dian)橋(qiao)校準(zhun)的串(chuan)聯型(xing)試品(或介(jie)質損耗因數標(biao)準(zhun)器(qi))的區別(bie)只是電(dian)容量不同(tong)：

為西林型電橋標定值，C為電流比較儀型電橋標定值。

2）用介質損耗因數標準器（或標準電(dian)容器）檢定儀器反接(jie)線精度時，高(gao)壓電(dian)纜(lan)與試品連接(jie)必須(xu)使(shi)用全屏蔽插頭(tou)，否則暴露(lu)的芯線會引起測量誤差。

3）用介(jie)質損耗(hao)因數標準器（或標準電容(rong)器）檢(jian)定儀(yi)器正接(jie)(jie)線精度時，低壓(ya)電纜與試品連(lian)接(jie)(jie)必須使用全屏蔽插頭，否則暴露的(de)芯線會引起測量(liang)誤差。

嚴格按照上述要求檢定方能真實反(fan)映本儀器的測量精度！

7.2抗干(gan)擾能力

設(she)置(zhi)一個(ge)回(hui)路向儀器注(zhu)入(ru)定量的干擾電流。

注意：

1）應考慮(lv)到(dao)該(gai)回路(lu)可能(neng)成為試品的一部分。

2）儀(yi)器啟動(dong)后會使(shi)220V供電電路(lu)帶有測量(liang)頻(pin)(pin)率分量(liang)，如(ru)果該(gai)頻(pin)(pin)率分量(liang)又通過干(gan)擾電流進入(ru)儀(yi)器，則無法檢驗儀(yi)器的抗(kang)干(gan)擾能力(li)。

3）不(bu)建議用臨(lin)近高壓導體(ti)施(shi)加(jia)干(gan)擾，因為這樣很(hen)容易(yi)產生(sheng)(sheng)近距離(li)**放電(dian)，這種(zhong)放電(dian)電(dian)阻是非線性的，容易(yi)產生(sheng)(sheng)同頻干(gan)擾。