1、WBJS6000精密變頻抗干擾介質損耗測試儀特(te)點(dian)及性能

介(jie)損(sun)絕緣試(shi)驗可以(yi)有(you)效地發現電(dian)器設備(bei)絕緣的整體受潮劣化變質以(yi)及局部缺陷等(deng)，在(zai)電(dian)工制造、電(dian)氣設備(bei)安裝、交接和(he)預防性試(shi)驗中(zhong)都廣泛應(ying)用。

介質損耗測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)儀用(yong)于現場介損測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)或試(shi)(shi)驗室精密介損測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)。儀器為(wei)一體(ti)化結(jie)構，內置介損電(dian)(dian)橋、變(bian)頻(pin)(pin)電(dian)(dian)源、試(shi)(shi)驗變(bian)壓器和標準電(dian)(dian)容器等。儀器采用(yong)變(bian)頻(pin)(pin)抗干(gan)擾(rao)和傅(fu)立葉(xie)變(bian)換(huan)數字濾波技術，全自動智能化測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)，強干(gan)擾(rao)下測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)數據非常(chang)穩定。測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)結(jie)果由(you)大屏幕液晶顯示，儀器自帶微型(xing)打印機可打印輸出測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)結(jie)果。

1.1主要技術(shu)指(zhi)標

額定工作條件(jian)：環境溫度  -10℃～50℃

相(xiang)對濕度  <85%阿(a)

輸入電(dian)源：    180V～270VAC，50Hz/60Hz±1%，市電(dian)或發(fa)電(dian)機供電(dian)

準確度(du)：      Cx: ±（讀數×1%+1pF）

tgδ: ±（讀數×1%+0.00040）

抗干擾(rao)(rao)指標(biao)：   變頻抗干擾(rao)(rao)，在200%干擾(rao)(rao)下仍(reng)能達到上述準確度

電容(rong)量范(fan)圍：   內(nei)施高壓：3pF～60000pF/10kV    60pF～1μF/0.5kV

外施(shi)高壓：3pF～1.5μF/10kV      60pF～30μF/0.5kV

分(fen)辨(bian)率：   &nbsp;   *高(gao)0.001pF，4位有(you)效數(shu)字

tgδ范圍：  &nbsp;  不限，分辨率0.001%，電容(rong)、電感、電阻(zu)三種試品自動識別。

試驗(yan)電流范圍： 10μA～5A

內施高(gao)壓：    設定電壓范圍：0.5～10kV

*大輸出電流：200mA

升降壓方(fang)式：連續平滑(hua)調(diao)節(jie)

電(dian)壓精度：±(1.0%×讀數+10V)

電壓分辨率：0.1V

試驗頻率(lv)：45、50、55、60、65Hz 單頻

45/55Hz、55/65Hz、47.5/52.5Hz 自動雙(shuang)變頻

頻率(lv)精(jing)度：±0.01Hz

外施高壓(ya)：    正、反接線時*大試驗電流(liu)5A

CVT自激法低壓輸(shu)出(chu)：輸(shu)出(chu)電壓3～50V，輸(shu)出(chu)電流3～30A

高電(dian)(dian)壓介損：  支持變頻和諧振(zhen)電(dian)(dian)源高電(dian)(dian)壓介損

實時時鐘：    實時顯示(shi)時間(jian)和日期

內部存(cun)儲：    儀器內部可存(cun)儲100組測(ce)量數據

U盤(pan)：      &nbsp; 支持U盤(pan)存儲

打(da)印機：      微(wei)型熱敏(min)打(da)印機

計算(suan)機接(jie)口(kou)：  標準RS232接(jie)口(kou)（選(xuan)配）

尺寸重量(liang)： &nbsp;  K型：外形尺寸368mm×288mm×280mm；主機重量(liang)22kg。

其他款(kuan)型：外形尺寸430mm×314mm×334mm；主機重量30kg。

注：上述為E型主要技術指標，其它(ta)型號(hao)技術指標詳見本章節“1.3.6各型號(hao)測(ce)試功能說明(ming)”。

1.2 WBJS6000精密變頻抗干擾介質損耗測試儀系列型號功能列表

1.3 WBJS6000精密變頻抗干擾介質損耗測試儀主要功能特點

1.3.1 變(bian)頻抗(kang)干擾

采用變(bian)頻抗干(gan)(gan)(gan)擾(rao)技(ji)術，在200%干(gan)(gan)(gan)擾(rao)下仍能準確測量，測試(shi)數據穩定，適合在現場做(zuo)抗干(gan)(gan)(gan)擾(rao)介損試(shi)驗。

1.3.2高精度測量

采用數字波形分析和電(dian)橋(qiao)自(zi)校準等技術，配合高(gao)精度三端標準電(dian)容(rong)器，實(shi)現高(gao)精度介損測量(liang)。儀(yi)器所(suo)有量(liang)程輸入電(dian)阻低于2Ω，消除了(le)測量(liang)電(dian)纜附加電(dian)容(rong)的影響。

1.3.3**措(cuo)施(shi)

高(gao)(gao)壓(ya)保護：試品短(duan)路、擊穿或高(gao)(gao)壓(ya)電流波動，能以(yi)短(duan)路方(fang)式高(gao)(gao)速切斷輸出。

供(gong)電(dian)保(bao)護(hu)：誤接380V、電(dian)源(yuan)波動(dong)或突然斷電(dian)，啟動(dong)保(bao)護(hu)，不會(hui)引起過(guo)電(dian)壓。

接(jie)地保護：具有接(jie)地檢(jian)測功能，未接(jie)地時不能升壓，若測量過程中(zhong)儀器接(jie)地**則啟動接(jie)地保護。

CVT 保護(hu)(hu)：高壓(ya)側(ce)電(dian)(dian)(dian)壓(ya)和電(dian)(dian)(dian)流、低壓(ya)側(ce)電(dian)(dian)(dian)壓(ya)和電(dian)(dian)(dian)流四個保護(hu)(hu)限制，不(bu)會損(sun)壞設備(bei)；誤選菜(cai)單不(bu)會輸(shu)出(chu)激磁電(dian)(dian)(dian)壓(ya)。CVT測量時無10kV高壓(ya)輸(shu)出(chu)。

防(fang)誤操作(zuo)：兩級電(dian)源(yuan)開關；電(dian)壓(ya)(ya)、電(dian)流實時(shi)監視；多次按(an)鍵(jian)確認；接線端子高/低壓(ya)(ya)分明(ming)；慢速升壓(ya)(ya)，可迅速降壓(ya)(ya)，聲光(guang)報警(jing)。

防“容(rong)升”：測量(liang)大容(rong)量(liang)試品時會出現電(dian)壓抬高的“容(rong)升”效應，儀器能自動跟蹤輸出電(dian)壓，保持試驗電(dian)壓恒定。

高壓(ya)電纜：為耐高壓(ya)絕緣導(dao)線，可拖地使用(yong)。

抗震(zhen)性能：儀器采用獨特抗震(zhen)設計，可耐受(shou)強(qiang)烈長途運輸震(zhen)動、顛簸(bo)而不會損(sun)壞。

1.3.4打印存儲

儀器自帶微型打印機(ji)，可(ke)以(yi)(yi)將測量結果打印輸(shu)出，并將測量結果存貯到儀器內（可(ke)存儲(chu)100組(zu)測量數據）或U盤，以(yi)(yi)便日后(hou)查閱。

1.3.5實時時鐘

儀器內(nei)帶實時時鐘，實時顯示，并能記錄測(ce)量(liang)的(de)日期和時間。

1.3.6各型號(hao)測試功能說明

B型：輕便(bian)型，高(gao)(gao)壓*大(da)輸出電流為140mA，具有正接線、反接線功能，可選擇內(nei)/外(wai)標準電容(rong)、內(nei)/外(wai)高(gao)(gao)壓多種工作模式，一(yi)體化結構，可做各(ge)種常規介損試驗。

D型：實(shi)用(yong)型，高壓(ya)*大輸(shu)出(chu)電(dian)流為(wei)200mA，具有正(zheng)接(jie)線(xian)(xian)(xian)、反(fan)接(jie)線(xian)(xian)(xian)、反(fan)接(jie)線(xian)(xian)(xian)低壓(ya)屏蔽(bi)、CVT自(zi)激(ji)法，反(fan)接(jie)線(xian)(xian)(xian)低壓(ya)屏蔽(bi)功能能在220kV CVT母線(xian)(xian)(xian)接(jie)地情(qing)況下，對C11進(jin)行不拆(chai)線(xian)(xian)(xian)10kV反(fan)接(jie)線(xian)(xian)(xian)介損(sun)測(ce)(ce)(ce)量(liang)，并可一(yi)次接(jie)線(xian)(xian)(xian)同時測(ce)(ce)(ce)出(chu)兩個電(dian)容(rong)(rong)的(de)電(dian)容(rong)(rong)量(liang)和(he)(he)介損(sun)值。CVT自(zi)激(ji)法測(ce)(ce)(ce)量(liang)時，C1/C2可一(yi)次接(jie)線(xian)(xian)(xian)同時測(ce)(ce)(ce)出(chu)，無須(xu)換線(xian)(xian)(xian)和(he)(he)外(wai)接(jie)任何配件(jian)，但高壓(ya)測(ce)(ce)(ce)量(liang)線(xian)(xian)(xian)需懸空吊起。

E型：標準型，在D型基礎上增加了(le)CVT變比(bi)測(ce)(ce)試(shi)功(gong)能(neng)，同時升(sheng)級了(le)CVT自(zi)激法測(ce)(ce)試(shi)，現場CVT自(zi)激法測(ce)(ce)試(shi)時高(gao)壓(ya)測(ce)(ce)量線可(ke)拖地使用，無需吊起。

F型(xing)(xing)：增強(qiang)型(xing)(xing)，功能同E型(xing)(xing)，輸出(chu)*高(gao)電壓從10kV增加至12kV。

K型(xing)：標(biao)準型(xing)，在(zai)E型(xing)基礎上減小體積重量，設備更精巧(qiao)。

S型(xing)：四通道型(xing)，功能同E型(xing)，增加了3個正接通道。

J型(xing)(xing)：高(gao)精度(du)型(xing)(xing)，功能同E型(xing)(xing)，測(ce)量準確度(du)為0.5%。

所(suo)有型號儀器均具備下述特(te)點：

（1）支(zhi)持變(bian)頻(pin)和諧振電源高電壓(ya)介損。

（2）內置串(chuan)聯(lian)和并聯(lian)兩種介損測量模型，方便儀器檢定。

（3）配置熱敏打(da)印(yin)機，使打(da)印(yin)更加快捷(jie)、無噪(zao)音和清晰(xi)。

（4）320×240點陣(zhen)大屏液晶顯示(shi)，菜單操作，測(ce)試數據(ju)豐富，自動(dong)分辨電容、電感、電阻型試品。

（5）具有(you)外(wai)(wai)接(jie)標準電(dian)容器(qi)接(jie)口，可外(wai)(wai)接(jie)油(you)杯(bei)做精密(mi)絕(jue)緣(yuan)油(you)介損試(shi)驗，可外(wai)(wai)接(jie)固體材料測(ce)量電(dian)極做精密(mi)絕(jue)緣(yuan)材料介損試(shi)驗，也可外(wai)(wai)接(jie)高(gao)壓(ya)標準電(dian)容器(qi)做高(gao)電(dian)壓(ya)介損試(shi)驗。

（6）帶日歷時鐘，可存儲(chu)100組(zu)測量數據。

（7）計算機接口（選(xuan)配）。

2、WBJS6000精密變頻抗干擾介質損耗測試儀面板(ban)說(shuo)明

高壓(ya)輸出測量(liang)接(jie)(jie)地(di)(di)：若出廠配置的高壓(ya)測試線有(you)接(jie)(jie)地(di)(di)屏蔽(bi)(bi)層(ceng)，則需將高壓(ya)測量(liang)線的接(jie)(jie)地(di)(di)屏蔽(bi)(bi)層(ceng)連接(jie)(jie)至此處，沒有(you)則留(liu)空。CVT自激法測量(liang)的高壓(ya)連線接(jie)(jie)地(di)(di)屏蔽(bi)(bi)層(ceng)在拖(tuo)(tuo)地(di)(di)模(mo)式(shi)下(xia)必(bi)須接(jie)(jie)地(di)(di)，非拖(tuo)(tuo)地(di)(di)模(mo)式(shi)下(xia)接(jie)(jie)地(di)(di)屏蔽(bi)(bi)層(ceng)應(ying)懸空不(bu)能接(jie)(jie)地(di)(di)且高壓(ya)測量(liang)線也應(ying)懸空吊起不(bu)能拖(tuo)(tuo)地(di)(di)。

高壓輸出插座(zuo)（0.5～10kV，*大200mA）

安裝(zhuang)位置(zhi)：如圖2-1所(suo)示，安裝(zhuang)在箱體(ti)前(qian)側面。

功  &nbsp; 能：內高(gao)壓(ya)輸出；檢測反接線試品電流；內部標準(zhun)電容器的高(gao)壓(ya)端。

接(jie)(jie)線方法：插座1腳接(jie)(jie)高(gao)壓(ya)(ya)線芯線（紅夾(jia)(jia)子），2、3腳接(jie)(jie)高(gao)壓(ya)(ya)線屏(ping)(ping)(ping)蔽(bi)(bi)（黑夾(jia)(jia)子）。正(zheng)接(jie)(jie)線時，高(gao)壓(ya)(ya)線芯線（紅夾(jia)(jia)子）和(he)屏(ping)(ping)(ping)蔽(bi)(bi)（黑夾(jia)(jia)子）都(dou)可以用(yong)作(zuo)加壓(ya)(ya)線；反接(jie)(jie)線時只能用(yong)芯線對試品高(gao)壓(ya)(ya)端(duan)加壓(ya)(ya)。如(ru)果試品高(gao)壓(ya)(ya)端(duan)有屏(ping)(ping)(ping)蔽(bi)(bi)極（如(ru)高(gao)壓(ya)(ya)端(duan)的(de)(de)(de)屏(ping)(ping)(ping)蔽(bi)(bi)環）可接(jie)(jie)高(gao)壓(ya)(ya)屏(ping)(ping)(ping)蔽(bi)(bi)，無屏(ping)(ping)(ping)蔽(bi)(bi)時高(gao)壓(ya)(ya)屏(ping)(ping)(ping)蔽(bi)(bi)懸(xuan)空。若配置的(de)(de)(de)高(gao)壓(ya)(ya)測(ce)試線有接(jie)(jie)地屏(ping)(ping)(ping)蔽(bi)(bi)層，則需將高(gao)壓(ya)(ya)測(ce)量線的(de)(de)(de)接(jie)(jie)地屏(ping)(ping)(ping)蔽(bi)(bi)層連接(jie)(jie)至圖2-1中(zhong)的(de)(de)(de)“1”處。

注意事項：

（1）若(ruo)儀器CVT自激法高(gao)壓(ya)連線具(ju)備(bei)“高(gao)壓(ya)拖(tuo)地(di)(di)(di)(di)”功能，使(shi)(shi)用(yong)(yong)拖(tuo)地(di)(di)(di)(di)模式(shi)測(ce)量(liang)(liang)時務必使(shi)(shi)用(yong)(yong)原(yuan)廠(chang)配置(zhi)的專用(yong)(yong)高(gao)壓(ya)電(dian)(dian)(dian)纜(lan)（原(yuan)廠(chang)電(dian)(dian)(dian)纜(lan)在出廠(chang)時已進行校(xiao)準(zhun)），不(bu)可使(shi)(shi)用(yong)(yong)其它高(gao)壓(ya)電(dian)(dian)(dian)纜(lan)代替(ti)，否則會引起較(jiao)大的測(ce)量(liang)(liang)誤差。CVT自激法不(bu)使(shi)(shi)用(yong)(yong)拖(tuo)地(di)(di)(di)(di)模式(shi)時，高(gao)壓(ya)電(dian)(dian)(dian)纜(lan)必須懸空(kong)，接地(di)(di)(di)(di)屏蔽層(ceng)也不(bu)能接地(di)(di)(di)(di)！

（2）高(gao)壓(ya)插座和高(gao)壓(ya)線有(you)危險電(dian)壓(ya)，**禁止碰觸高(gao)壓(ya)插座、電(dian)纜、夾子(zi)和試品帶電(dian)部(bu)位！確(que)認斷(duan)電(dian)后(hou)接線，測量(liang)時(shi)務必(bi)遠離！

（3）用(yong)標(biao)準介損器（或標(biao)準電容器）檢定反接(jie)線(xian)精度時(shi)，應使用(yong)全屏(ping)蔽(bi)插頭連接(jie)試品，否(fou)則暴露的芯線(xian)會(hui)引起測量(liang)誤差。

（4）應保證高壓線與試品高壓端(duan)零(ling)電阻連接，否則可能引起(qi)誤差或數據波動，也可能引起(qi)儀器(qi)保護(hu)。

（5）強干擾(rao)下拆除接(jie)線時，應(ying)在保持電(dian)纜接(jie)地狀態(tai)下斷(duan)開連(lian)接(jie)，以(yi)防感應(ying)電(dian)擊(ji)。

CVT自(zi)激法低壓輸(shu)出插座（3～50V，3～30A）

功    能：由該插座和圖2-1中的接(jie)地接(jie)線柱“4”輸(shu)出CVT測(ce)量的低(di)壓變頻激勵電源。

注意事項：

（1）因低壓輸出(chu)電流大，應采用儀器(qi)專用低阻(zu)線連(lian)接(jie)CVT二次繞組，接(jie)觸**會影響測(ce)量。

（2）視CVT容量從菜單選(xuan)擇合適的電壓電流(liu)保護限。

（3）選擇正/反接(jie)線時，此輸出封閉。

測量(liang)接(jie)地：它(ta)同(tong)外殼和電源插座地線連到一(yi)起，與圖(tu)2-1的(de)“3”一(yi)起輸出CVT測量(liang)的(de)低壓變頻(pin)激勵電源。盡管儀(yi)器(qi)有接(jie)地保護，但(dan)無論何種測量(liang)，儀(yi)器(qi)都應可靠獨立接(jie)地以保障使用(yong)者的(de)**及測量(liang)結果(guo)的(de)準(zhun)確(que)。

打(da)印(yin)機(ji)：微(wei)型熱敏(min)打(da)印(yin)機(ji)，用于打(da)印(yin)測試數據。

USB：USB通信(xin)用。

RS232：與計算機聯機使用。

U盤：用于(yu)外接(jie)U盤保存數據。

試品(pin)輸入Cx插座（10μA～5A）

功  &nbsp; 能(neng)：正接線時輸入試(shi)品電(dian)流。

接(jie)線(xian)(xian)方法(fa)：插座1腳接(jie)測(ce)量線(xian)(xian)芯線(xian)(xian)（紅夾子），2、3腳接(jie)測(ce)量線(xian)(xian)屏蔽（黑夾子）。正接(jie)線(xian)(xian)時(shi)芯線(xian)(xian)（紅夾子）接(jie)試(shi)品低(di)(di)壓信號(hao)端，如果(guo)試(shi)品低(di)(di)壓端有屏蔽極(ji)（如低(di)(di)壓端的屏蔽環）可接(jie)屏蔽，試(shi)品無屏蔽時(shi)屏蔽懸空。

注意事項：

（1）測量中嚴禁拔(ba)下插頭，防止試品電(dian)流經人(ren)體(ti)入地！

（2）用標(biao)準(zhun)(zhun)介(jie)損器(qi)（或標(biao)準(zhun)(zhun)電容器(qi)）檢(jian)測儀器(qi)正接線精度時，應(ying)使用全(quan)屏蔽插頭連接試(shi)品，否(fou)則暴露的芯線會引起測量誤差。

（3）應保(bao)證引線與(yu)試(shi)品低壓端(duan)0電阻連(lian)接，否則(ze)可(ke)能引起(qi)誤差(cha)或數(shu)據(ju)波動，也可(ke)能引起(qi)儀器保(bao)護。

（4）強干(gan)擾下拆(chai)除接線(xian)時，應在保持電纜接地狀態下斷開連接，以防感應電擊。

標準電(dian)容(rong)輸(shu)入Cn插座（10μA～5A）

功    能：輸入外接標準電容器電流。

接線方法：與Cx插座類似，其區別(bie)在于：

（1）使(shi)用(yong)外(wai)部(bu)標(biao)準電(dian)容器時，應使(shi)用(yong)全屏蔽插頭(tou)連(lian)接(jie)。此方式常用(yong)于外(wai)接(jie)高電(dian)壓等級標(biao)準電(dian)容器，實現高電(dian)壓介損測量。

（2）菜單選擇(ze)“外(wai)標準電容(rong)”方式。

（3）將外接標準電容(rong)器(qi)的(de)C和tgδ置(zhi)入儀器(qi)，實現Cx電容(rong)介損(sun)的(de)**值測量(liang)。

從理論上講，任(ren)何容(rong)量和(he)介(jie)損的電(dian)容(rong)器(qi)(qi)，將參數置入儀器(qi)(qi)都可(ke)做標(biao)準電(dian)容(rong)器(qi)(qi)。不同的是標(biao)準電(dian)容(rong)器(qi)(qi)能提(ti)供更好(hao)的長期穩(wen)定性和(he)精度。

（4）不管(guan)正接線(xian)還是反接線(xian)測(ce)量(liang)，標準電容器接線(xian)方式始終為正接線(xian)。

總(zong)電源開關(guan)：開關(guan)機用(yong)，可在發(fa)現異常時隨時關(guan)閉。

供電電源插座：接(jie)220V市電，插座內置(zhi)保險(xian)絲(si)座，保險(xian)絲(si)規格(ge)為10A / 250V，若損壞應使用(yong)相(xiang)同(tong)規格(ge)的保險(xian)絲(si)替換。若換用(yong)備用(yong)保險(xian)絲(si)后仍燒斷，可能儀器有故障，可通知廠家處理。

高壓(ya)允許開關(guan)(guan)：內置高壓(ya)系(xi)統或CVT自激(ji)法低壓(ya)輸出系(xi)統的(de)總(zong)電源開關(guan)(guan)。此(ci)開關(guan)(guan)受總(zong)電源開關(guan)(guan)控(kong)制。

按鍵(jian)：按下“↑”、“↓”、“←”、“→”鍵(jian)可(ke)移動光標(biao)和修改光標(biao)處內容，“確認”鍵(jian)用于確認或結束(shu)參數修改，在測試(shi)界(jie)面(mian)長按該鍵(jian)可(ke)開始測量，測量過程中(zhong)，按“確認”鍵(jian)可(ke)終止測量。

液晶顯示屏(ping)：320×240點陣灰白背(bei)光液晶顯示屏(ping)，顯示菜單、測量結(jie)果或(huo)出錯信息。應避免長(chang)時(shi)間(jian)陽光爆曬，避免重(zhong)壓。

背光調節：液晶顯示屏顯示較暗或(huo)不清(qing)晰時(shi)可調節該電(dian)位器至合適位置使顯示明亮清(qing)晰。

指示燈：配(pei)合儀器(qi)(qi)內部蜂鳴器(qi)(qi)進行測試、報警等(deng)聲光警示。

3、WBJS6000精密變頻抗干擾介質損耗測試儀使用說(shuo)明

3.1初始菜單界(jie)面

打(da)開總電源開關后，系統進入初(chu)始(shi)菜(cai)單(dan)界面。

測(ce)試(shi)(shi)模式(shi)：選擇測(ce)試(shi)(shi)模式(shi)和設置各(ge)項測(ce)試(shi)(shi)參數(shu)，

歷史記錄：查看(kan)保存的歷史數據

系統設置：出廠參數設置及系統時間(jian)校準

幫    助：可查閱(yue)軟件版(ban)本等信息

取消或使用CVT自激法(fa)“高壓連線(xian)拖地(di)”功(gong)能：

開機右下角顯示“”表示該儀器在CVT自激法測試時高壓連線具備拖地功能。

光標停留在“測試模式”處長按“→”鍵（聽到蜂鳴器聲音松手）可取消或使用拖地模式（右下角顯示“”表示當前為拖地模式），在拖地模式下必須將高壓連線的接地屏蔽層插頭接至圖2-1中的“1”（高壓測量接地）處，否則會引起測量誤差；取消拖地模式后高壓連線必須懸空吊起，同時高壓連線的接地屏蔽層插頭也應懸空，否則會引起測量誤差。

使用或取消發(fa)“發(fa)電機供電”模(mo)式(shi)：

光標停留在“測試模式”處長按“←”鍵（聽到蜂鳴器聲音松手）可使用或取消發電機供電模式（左下角顯示“”表示當前為發電機供電模式），儀器開機默認為市電供電模式，發電機模式適合使用發電機或移動電源供電環境，發電機模式下儀器將不進行接地檢測。

3.2測試(shi)模式

3.2.1 開始測試菜單界(jie)面

在初始(shi)菜(cai)單界(jie)面將光標移動到“測試(shi)模(mo)式”按(an)確定按(an)鈕進入開始(shi)測試(shi)菜(cai)單界(jie)面，如(ru)圖3-2所示。

界面左側為參數(shu)設置(zhi)選項(xiang)(xiang)，移動光標(biao)到相(xiang)關參數(shu)選項(xiang)(xiang)按確(que)定鍵可設置(zhi)相(xiang)關試(shi)(shi)驗(yan)參數(shu)，右側顯示內容為已設置(zhi)好(hao)試(shi)(shi)驗(yan)參數(shu)，光標(biao)停留在“開始測(ce)試(shi)(shi)”欄長按“確(que)認” 鍵可開始測(ce)試(shi)(shi)。

界面右側“測試地點”下一行為(wei)信(xin)息提(ti)示(shi)(shi)(shi)行，若內(nei)(nei)外高壓(ya)選擇有(you)誤(wu)(wu)則提(ti)示(shi)(shi)(shi)“當(dang)前為(wei)內(nei)(nei)高壓(ya)模式，請開啟內(nei)(nei)高壓(ya)”或“當(dang)前為(wei)外高壓(ya)模式，請關閉內(nei)(nei)高壓(ya)”；若儀(yi)器沒有(you)接(jie)(jie)地則會(hui)提(ti)示(shi)(shi)(shi)“請檢查接(jie)(jie)地”，當(dang)有(you)錯誤(wu)(wu)提(ti)示(shi)(shi)(shi)時儀(yi)器無法正常啟動(dong)，只有(you)提(ti)示(shi)(shi)(shi)“確(que)認無誤(wu)(wu)后長按(an)確(que)認鍵開始測試”時儀(yi)器方可啟動(dong)測試。

3.2.2 試品(pin)模型(xing)選擇菜單界面

將(jiang)光標(biao)移(yi)(yi)動到“試品(pin)(pin)模(mo)型(xing)”功能選項，界面如圖(tu)3-3所(suo)示(shi)，按(an)“確認”按(an)鈕后移(yi)(yi)動光標(biao)可(ke)選擇(ze)合適的試品(pin)(pin)模(mo)型(xing)（光標(biao)移(yi)(yi)動到相(xiang)應(ying)功能后按(an)確認鍵）。實驗(yan)室(shi)一般使用(yong)串聯(lian)型(xing)介損因數標(biao)準器檢定，校(xiao)驗(yan)時應(ying)使用(yong)RC串聯(lian)模(mo)型(xing)。

RC串聯(電(dian)(dian)流比較儀(yi)型(xing)電(dian)(dian)橋(qiao))：采用電(dian)(dian)流比較儀(yi)型(xing)電(dian)(dian)橋(qiao)（如QS30電(dian)(dian)橋(qiao)）校準的串聯型(xing)試品(pin)(或介質損(sun)耗因數標準器)，該(gai)項(xiang)在開始測試界面顯示"RC串聯"。

RC串聯(西林型電橋)： 采用西林型電橋（如2801、QS1和QS37等電橋）校準的串聯型試品(或介質損耗因數標準器) ，該項在開始測試界面顯示 "RC串聯"。

RC并(bing)聯(現場使(shi)用)：一般實際的(de)電容(rong)試品可等效為RC并(bing)聯模型，建議現場試驗(yan)時使(shi)用。

采用電流比較儀型電橋和西林型電橋校準的串聯型試品(或介質損耗因數標準器)的區別只是電容量不同：為西林型電橋標定值，C為電流比較儀型電橋標定值。

3.2.3 接線(xian)方式選(xuan)擇菜單界面(mian)

將光標(biao)移動到“接線方(fang)式(shi)”功(gong)能(neng)選(xuan)項，界(jie)面如圖3-4所示，按“確認”按鈕(niu)后移動光標(biao)可選(xuan)擇合(he)適的接線方(fang)式(shi)。

接(jie)(jie)線(xian)方(fang)式(shi)：共5種接(jie)(jie)線(xian)方(fang)式(shi)（功(gong)能(neng)因型號有差別，具體(ti)詳見(jian)型號功(gong)能(neng)說明部(bu)分），分別為：正接(jie)(jie)線(xian)、反接(jie)(jie)線(xian)、反接(jie)(jie)線(xian)低壓屏蔽、CVT自激法(fa)和變(bian)比。選擇(ze)CVT自激法(fa)測(ce)量時需(xu)同時將(jiang)相(xiang)關參數一并設置好。

CVT自激(ji)法測量必(bi)須打開內(nei)高壓允許開關，由機內(nei)提供激(ji)勵電(dian)壓，由“低壓輸(shu)出(chu)”和“測量接地”輸(shu)出(chu)。為**起見(jian)，CVT自激(ji)法還需(xu)要設置(zhi)以(yi)下幾個保護限(xian)：

將光標移動(dong)到xxkV / xxmA / xxV / xxA，按↑↓選(xuan)擇合適值，選(xuan)擇好后(hou)按確(que)認鍵退出。

xxkV：可(ke)選0.5/0.6/0.8/1/1.5/2/2.5/3/3.5/4kV，為(wei)高(gao)壓上限，只(zhi)能使(shi)用4kV以下電(dian)壓。

xxmA：可選(xuan)10/15/20/25/30/35/40/45/50/60/70/80/100/120/140/200mA，表示待測試品的(de)高壓電流上限。

xxV：可選3/4/5/6/7/8/9/10/12/15/20/25/30/35/40/50V，表示低壓激(ji)勵電壓上限。

xxA：可選(xuan)3/4/5/6/7/8/9/10/11/12/13/14/15/16/20/30A，表示低壓激勵電流上(shang)限。

注意：

（1）測量時4個保護(hu)限同時起作用，因此試驗高壓(ya)可能達(da)不到(dao)(dao)設定值。如果(guo)高壓(ya)達(da)不到(dao)(dao)保護(hu)限，可適當調整(zheng)受到(dao)(dao)限制(zhi)的保護(hu)限。

（2）通常測(ce)量C1時(shi)低(di)壓(ya)激勵(li)電壓(ya)可(ke)達(da)20V，測(ce)量C2時(shi)低(di)壓(ya)激勵(li)電流(liu)可(ke)達(da)15A。一般可(ke)設(she)高壓(ya)電壓(ya)2～3kV，較少(shao)采用高壓(ya)電流(liu)限制，可(ke)設(she)為*大200mA。

變比測量時應(ying)選擇合適的高壓(ya)輸(shu)出使二次(ci)側電(dian)(dian)壓(ya)小于120V，當二次(ci)側電(dian)(dian)壓(ya)≥120V時儀器(qi)會發出聲光(guang)報警并提示“接線(xian)錯誤”。

3.2.4 標準(zhun)電容選(xuan)擇(ze)菜單界面

將(jiang)光標(biao)(biao)移(yi)動(dong)到(dao)“標(biao)(biao)準(zhun)(zhun)電(dian)容”功能選(xuan)項，界面如圖3-5所示(shi)，按“確認”按鈕(niu)后移(yi)動(dong)光標(biao)(biao)可選(xuan)擇合適的標(biao)(biao)準(zhun)(zhun)電(dian)容。選(xuan)擇外標(biao)(biao)準(zhun)(zhun)電(dian)容時需同時將(jiang)外標(biao)(biao)準(zhun)(zhun)的電(dian)容量和介損一并設置(zhi)好。

選擇(ze)(ze)外標準電容時將光標移動到Cn=xxxxx e x pF 和tgδ=xx.xxx%按↑↓選擇(ze)(ze)合(he)適(shi)值，選擇(ze)(ze)好后按確認鍵退(tui)出(chu)。

Cn采用科學(xue)計(ji)數法，如5.000e1=5.000×101=50.00，1.000e2=1.000×102=100.0等，范(fan)圍0.000e0～9.999e5 (即0～999900pF)。tgδ設(she)置范(fan)圍0～±9.999%。

內標準電容通常可(ke)用(yong)于(yu)正、反接(jie)線測量和(he)CVT自激法測量，高電壓介損選用(yong)外標準方式，需要將外接(jie)電容參數置(zhi)入儀(yi)器。

3.2.5 測(ce)試頻(pin)率選擇菜單界面

測(ce)試(shi)頻率(lv)可選擇(ze)(ze)定(ding)頻或異頻，頻率(lv)選擇(ze)(ze)菜單界面如(ru)圖3-6所示，頻率(lv)選擇(ze)(ze)范圍(wei)如(ru)下：

定頻：

“50Hz”：為工頻(pin)測(ce)量(liang)，此設置不(bu)能抗(kang)干擾(rao)，在試驗(yan)室內測(ce)量(liang)或校驗(yan)時(shi)選用。

“45/55/60/65Hz”：為單頻率測量，研究不同頻率下介損的(de)變化時選用(yong)。

頻(pin)率自(zi)適應：外高壓(ya)測量模式(shi)下有(you)效（不能(neng)更改），系統(tong)自(zi)動識別外施高壓(ya)頻(pin)率，測試(shi)頻(pin)率無需(xu)在(zai)測試(shi)前設置。

異頻：

“45/55Hz”：為自動變頻(pin)，適(shi)合50Hz電網工頻(pin)干(gan)擾下測量。

“55/65Hz”：為自(zi)動變頻(pin)，適(shi)合60Hz電網工頻(pin)干擾(rao)下測(ce)量。

“47.5/52.5Hz”：為(wei)自動(dong)變頻，適合(he)50Hz電(dian)網工頻干擾(rao)下(xia)測(ce)量。

3.2.6 測(ce)試(shi)電壓選(xuan)擇(ze)菜(cai)單界(jie)面

內(nei)高(gao)壓(ya)(ya)可選擇(ze)“0.5 /0.6 /0.8 /1 /1.5 /2 /2.5 /3 /3.5 /4 /4.5 /5 /5.5 /6 /6.5 /7 /7.5 /8 /8.5 /9 /9.5 /10.0kV”（F型(xing)*高(gao)輸出電壓(ya)(ya)為(wei)12kV），應根據高(gao)壓(ya)(ya)試驗規(gui)程選擇(ze)合適(shi)的試驗電壓(ya)(ya)。

注：若選(xuan)擇“CVT自激法”測試功能，則(ze)該(gai)選(xuan)項(xiang)無效。CVT自激法的(de)相關電(dian)壓參(can)數需在該(gai)功能選(xuan)項(xiang)下進行設(she)置(zhi)。

3.2.7 測試備忘設置(zhi)菜單界(jie)面

設(she)備編(bian)號：可設(she)置(zhi)8位字母或數字編(bian)號，將光標(biao)移動(dong)到”設(she)備編(bian)號”處，按(an)確認健進入(ru)設(she)備編(bian)號設(she)置(zhi)，通過“←”、“→”健移動(dong)光標(biao)，通過↑↓選擇合適(shi)值(zhi)，設(she)置(zhi)好后按(an)確認鍵退出。

測試(shi)人(ren)員(yuan)：可(ke)設(she)置(zhi)8位字(zi)母或數字(zi)編號，將光(guang)標移動到” 測試(shi)人(ren)員(yuan)”處，按確(que)認健進入測試(shi)人(ren)員(yuan)設(she)置(zhi)，通過“←”、“→”健移動光(guang)標，通過↑↓選擇合適值，設(she)置(zhi)好后按確(que)認鍵(jian)退出。

測(ce)試(shi)(shi)地(di)點：可設(she)(she)置8位(wei)字母(mu)或數字編號，將(jiang)光標移(yi)動(dong)到” 測(ce)試(shi)(shi)地(di)點”處，按確(que)認(ren)健(jian)進入測(ce)試(shi)(shi)地(di)點設(she)(she)置，通過“←”、“→”健(jian)移(yi)動(dong)光標，通過↑↓選(xuan)擇合適值，設(she)(she)置好后按確(que)認(ren)鍵(jian)退出。

3.2.8 測試結果界(jie)面

3.2.8.1反接法測試結果界面

測試完成(cheng)顯示結果后，可移動光標(biao)選(xuan)擇保存或打印(yin)數據(ju)。

儀器自(zi)動分辨(bian)電(dian)容、電(dian)感(gan)、電(dian)阻型試(shi)(shi)(shi)品：電(dian)容型試(shi)(shi)(shi)品顯(xian)(xian)示(shi)(shi)(shi)Cx和(he)tgδ；電(dian)感(gan)型試(shi)(shi)(shi)品顯(xian)(xian)示(shi)(shi)(shi)Lx和(he)Q；電(dian)阻型試(shi)(shi)(shi)品顯(xian)(xian)示(shi)(shi)(shi)Rx和(he)附加Cx或(huo)Lx。自(zi)動選取顯(xian)(xian)示(shi)(shi)(shi)單位(wei)。

試品為電容(rong)時：顯示(shi)數(shu)據為Cx、tgδ、Ux、Ix、Φ、f1、f2, |δ|>1則顯示(shi)電容(rong)和串/并聯電阻

試品(pin)為(wei)(wei)電(dian)感(gan)(gan)時：顯(xian)(xian)示(shi)數據(ju)為(wei)(wei)Lx、Q、Ux、Ix、Φ、f1、f2, |Q|&lt;1則顯(xian)(xian)示(shi)電(dian)感(gan)(gan)和串聯(lian)電(dian)阻(zu)

試品為(wei)電(dian)阻時：顯示數據為(wei)Cx(Lx)、Rx、Ux、Ix、Φ、f1、f2

Cx   試品電容量(liang)[1μF=1000nF納法 / 1nF=1000pF]，如顯(xian)示10.00nF即(ji)10000pF

tgδ 介損因數[1%=0.01]

Lx   試(shi)品電(dian)感量[1MH兆亨=1000kH / 1kH=1000H]

Q    品質(zhi)因數(shu)[無(wu)單位]

Rx   試品電阻值[1MΩ=1000kΩ / 1kΩ=1000Ω]

Ux   試驗電壓[1kV=1000V / 1V=1000mV]

Ix   試(shi)品電流[1A=1000mA / 1mA=1000μA]

Φ   試品電流(liu)超前(qian)試驗電壓(ya)(ya)的(de)角度[°度]或測變(bian)比時一次電壓(ya)(ya)超前(qian)二(er)次電壓(ya)(ya)的(de)角度

K    測CVT變比時(shi)，一次電壓比二次電壓

f1   頻率(lv)[Hz]，顯示**次測試頻率(lv)

f2   頻率(lv)[Hz]，顯示**次測試頻率(lv)

顯示(shi)over表(biao)示(shi)測量數據(ju)超量程。

3.2.8.2反接線低壓屏蔽測試結果界面

反接(jie)線低壓屏(ping)蔽(bi)測試一(yi)次接(jie)線可同(tong)時(shi)測出C11和C下節(下端屏(ping)蔽(bi)部(bu)分(fen))的電容量和介損值。

3.2.8.3 CVT自(zi)激法測(ce)試結(jie)果界面

CVT自激法按(an)測量(liang)接(jie)線(xian)，與試品輸入Cx插座連接(jie)的定義為(wei)C1，與高(gao)壓(ya)線(xian)連接(jie)的為(wei)C2。U1為(wei)測量(liang)C1時的高(gao)壓(ya)，U2為(wei)測量(liang)C2時的高(gao)壓(ya)。

3.3歷(li)史數據

進(jin)入歷史數(shu)據菜單(dan)界面(mian)如圖3-12所示。

移(yi)(yi)(yi)動光標到(dao)“U盤”選(xuan)(xuan)(xuan)項按(an)“確定”鍵(jian)可將數(shu)(shu)(shu)(shu)(shu)據(ju)導出到(dao)U盤，上(shang)移(yi)(yi)(yi)到(dao)“清空(kong)”選(xuan)(xuan)(xuan)項按(an)“確定”鍵(jian)可清空(kong)保存的(de)全部數(shu)(shu)(shu)(shu)(shu)據(ju)。將光標移(yi)(yi)(yi)動到(dao)“>>>>”選(xuan)(xuan)(xuan)項按(an)下“確定”鍵(jian)進(jin)入數(shu)(shu)(shu)(shu)(shu)據(ju)選(xuan)(xuan)(xuan)擇界(jie)面(mian)，光標位置默認停留在*近(jin)保存的(de)單條(tiao)數(shu)(shu)(shu)(shu)(shu)據(ju)上(shang)，若要(yao)查(cha)看(kan)其他數(shu)(shu)(shu)(shu)(shu)據(ju)可上(shang)下移(yi)(yi)(yi)動光標進(jin)行選(xuan)(xuan)(xuan)擇，選(xuan)(xuan)(xuan)擇好要(yao)查(cha)看(kan)的(de)數(shu)(shu)(shu)(shu)(shu)據(ju)后按(an)“確定”按(an)鈕進(jin)入單條(tiao)歷史(shi)數(shu)(shu)(shu)(shu)(shu)據(ju)顯(xian)示(shi)界(jie)面(mian)。歷史(shi)數(shu)(shu)(shu)(shu)(shu)據(ju)選(xuan)(xuan)(xuan)擇界(jie)面(mian)和(he)單條(tiao)歷史(shi)數(shu)(shu)(shu)(shu)(shu)據(ju)顯(xian)示(shi)界(jie)面(mian)如圖(tu)(tu)3-13和(he)圖(tu)(tu)3-14所示(shi)。

進(jin)入單(dan)條歷史(shi)數據顯示界面(mian)后，在左側功(gong)能選項區上下移(yi)動光標(biao)可選擇打印、刪除本條數據和退出單(dan)條歷史(shi)數據顯示界面(mian)。

3.4系統設置

進入系(xi)統設置(zhi)菜單可進行系(xi)統時間校準，“出廠設置(zhi)”參(can)數禁(jin)止(zhi)用戶修改，只允(yun)許(xu)生(sheng)產廠家進行出廠參(can)數設置(zhi)。

3.5幫助

可查看(kan)儀(yi)器的相關操作指導。

3.6啟動測量

進入測試界面設置好各項試驗參數后，將光標(biao)移動(dong)到(dao)“開始測試”功能選項上，按住“確認”鍵3s以(yi)上啟(qi)動(dong)測量(liang)。

啟動測量(liang)后發出(chu)聲(sheng)光報警(jing)；在測試(shi)過程(cheng)中(zhong)會實時顯示測試(shi)相關參(can)數（電壓、電流、頻率、電容量(liang)等參(can)數）和測量(liang)進(jin)程(cheng)(0%～99%)。

測量中按“確認(ren)”鍵(jian)可取消測量，遇緊急情況立(li)即關(guan)閉(bi)總電源。

測量過程結束，儀器自動降壓(ya)后再顯示結果。

3.7對比度調(diao)節(jie)

液晶(jing)顯示(shi)屏的對比(bi)度(du)已在出廠時校好，如(ru)果您感(gan)覺(jue)不夠清(qing)晰(xi)，調(diao)整面板上的電(dian)位器使液晶(jing)顯示(shi)屏顯示(shi)內容清(qing)晰(xi)為止。

4、參考接線

4.1常規正(zheng)接線（正(zheng)接線、內(nei)(nei)標準電容、內(nei)(nei)高壓(ya)）

4.2常規反接線（反接線、內(nei)標準電容、內(nei)高壓）

4.3正(zheng)接線、外標準電容、內高壓

4.4反接(jie)線、外標準(zhun)電(dian)容、內高壓

4.5正接線、內標準電容、外高壓

4.6反接線(xian)、內標準電容(rong)、外高壓(ya)

4.7正接線、外標(biao)準電容、外高(gao)壓（高(gao)電壓介損(sun)）

4.8反(fan)接(jie)線、外標準電(dian)容、外高(gao)壓

4.9反接線低壓屏蔽

可在220kV CVT母(mu)線接地(di)情(qing)況(kuang)下(xia)，對C11進行(xing)不拆線10kV反(fan)接線介(jie)損測(ce)(ce)量。如下(xia)圖(tu)所示(shi)：母(mu)線掛地(di)線，C11上端(duan)不拆線，C11下(xia)端(duan)接高壓(ya)線芯(xin)線，C2末端(duan)δ和(he)X接Cx芯(xin)線。這樣C12和(he)C2被低壓(ya)屏(ping)蔽，儀器(qi)采(cai)用反(fan)接線低壓(ya)屏(ping)蔽測(ce)(ce)量方式，可同時測(ce)(ce)出C11和(he)下(xia)端(duan)被屏(ping)蔽部(bu)分的電容量和(he)介(jie)損值。

4.10 CVT自激法

高壓線芯線接(jie)C2下端(duan)，Cx芯線接(jie)C12上(shang)端(duan)。在CVT 自激(ji)法測(ce)量中，儀(yi)器先測(ce)量C12，然(ran)后自動(dong)倒線測(ce)量C2，并自動(dong)校準分壓影響。

1）D型高(gao)(gao)壓(ya)連線(xian)(xian)不可拖地(di)，高(gao)(gao)壓(ya)線(xian)(xian)應懸(xuan)空不能接(jie)觸地(di)面（高(gao)(gao)壓(ya)線(xian)(xian)的接(jie)地(di)屏蔽層插頭必(bi)須懸(xuan)空），否則其(qi)對地(di)附加介損會引起(qi)誤差，可用(yong)細電纜連接(jie)高(gao)(gao)壓(ya)插座與CVT試品并(bing)吊起(qi)。

2）E、F、S、J型高壓連線可拖地使用，在開機初始界面（圖3-1界面），光標停留在“測試模式”處長按“→”鍵（聽到蜂鳴器聲音松手）可取消或使用拖地模式（右下角顯示“”表示當前為拖地模式），在拖地模式下必須將高壓連線的接地屏蔽層插頭接至圖2-1中的“1”（高壓測量接地）處，否則會引起測量誤差；取消拖地模式后高壓連線必須懸空吊起，高壓連線的接地屏蔽層插頭也應懸空，否則會引起測量誤差。拖地模式下的高壓連線必須使用原廠配置的電纜（已校準），否則會引起測量誤差！

4.11 CVT變(bian)比測(ce)試

儀器高壓線(xian)的芯線(xian)紅(hong)夾子接(jie)CVT的上(shang)端，母線(xian)拆地(di)，CVT下端接(jie)地(di)，低壓線(xian)紅(hong)黑夾子接(jie)二次繞組。

5、常見(jian)CVT的參(can)考測量方法

目前常見(jian)的電容式電壓(ya)互感(gan)器可分(fen)為(wei)110kV、220kV、500kV等(deng)(deng)不同電壓(ya)等(deng)(deng)級，一般110kV的CVT其(qi)C1就一節，220kV的CVT其(qi)C1有兩節，而(er)500kV的CVT其(qi)C1有三節。

5.1  500kV CVT的測(ce)量方法

1）C11的測量方法

按圖5-1標明的方式接線(xian)，測量(liang)C11時應注(zhu)意：

◇ 拆開δ端(duan)，X端(duan)一定要接地

◇ a點接紅(hong)色(se)高(gao)壓測試線(xian)的芯線(xian)（紅(hong)夾(jia)子），b點接紅(hong)色(se)高(gao)壓測試線(xian)的高(gao)壓屏蔽層（黑夾(jia)子）

2）C12的測量方法

按(an)圖5-2標明的方式(shi)接線，測量C12時注意：

◇ 拆開δ端，X端一(yi)定要接地(di)

◇ a點(dian)接紅色(se)高壓測(ce)試(shi)線芯線（紅夾子），b點(dian)接黑(hei)色(se)低壓測(ce)試(shi)線芯線（紅夾子）

3）C13和C2的測(ce)量方法

儀器設(she)有專門的(de)CVT自激(ji)法，不需外加(jia)任何其它設(she)備，就可以(yi)完成測(ce)試。按(an)圖(tu)5-3標明的(de)方(fang)式(shi)接線，儀器選(xuan)用CVT自激(ji)法測(ce)量方(fang)式(shi)，試驗(yan)電(dian)壓(ya)可設(she)置為2kV，CVT自激(ji)法能一次測(ce)量C13和(he)C2兩(liang)個電(dian)容的(de)介損(sun)和(he)電(dian)容量。

5.2  220kV CVT的測量方法

1）C11的測量方(fang)法

按圖5-4標明的方式(shi)接(jie)線，測量(liang)C11時注意(yi)：

◇ δ和X相連，與接地分開。

◇ a點(dian)接紅色(se)高壓測試線(xian)的芯線(xian)（紅夾(jia)子），C2末端δ和X 接Cx端芯線(xian)，這樣C12與C2就被低壓屏蔽了。

2）C12和C2的測量方(fang)法

儀器設(she)有專門(men)的CVT自激(ji)法，不(bu)需外加任(ren)何(he)其它設(she)備(bei)，就可以(yi)完成測(ce)試(shi)。按圖5-5標(biao)明的方式接(jie)線，儀器選用CVT自激(ji)法測(ce)量(liang)方式，試(shi)驗電(dian)壓可設(she)置為2kV，CVT自激(ji)法能一次測(ce)量(liang)C12和C2兩個電(dian)容的介(jie)損和電(dian)容量(liang)。

5.3  110kV CVT的(de)測(ce)量方法

儀器(qi)設(she)有專門(men)的CVT自(zi)(zi)激(ji)法(fa)，不需外加(jia)任何其它設(she)備，就可以(yi)完(wan)成測試。按圖5-6標明的方(fang)式(shi)接線(xian)，儀器(qi)選用CVT自(zi)(zi)激(ji)法(fa)測量方(fang)式(shi)，試驗電(dian)壓可設(she)置為2kV，CVT自(zi)(zi)激(ji)法(fa)能一次測量C13和C2兩(liang)個(ge)電(dian)容(rong)的介(jie)損(sun)和電(dian)容(rong)量。

6、現場(chang)試驗注意事項

如果使用中出現測試數據明顯不合理(li)，請從以下方面查找原因：

6.1搭鉤(gou)接觸**

現(xian)場(chang)測量使用搭(da)鉤連接(jie)試品時，搭(da)鉤務必與試品接(jie)觸(chu)(chu)良好，否則(ze)接(jie)觸(chu)(chu)點放電會(hui)引(yin)起數(shu)據嚴重(zhong)波動！尤其是引(yin)流(liu)線氧化層太厚(hou)，或(huo)風吹線擺動，易(yi)造成接(jie)觸(chu)(chu)**。

6.2接地接觸**

接(jie)地(di)**會引起儀器保護(hu)或數據嚴重波動。應刮凈(jing)接(jie)地(di)點上的油漆和銹蝕，務(wu)必保證(zheng)0電阻接(jie)地(di)！

6.3直接測量CVT或末端屏蔽法測量電磁式PT

直接(jie)測量CVT的(de)下(xia)(xia)節耦合(he)電(dian)容會出現(xian)負介損，消除負介損可采取下(xia)(xia)述措施或改用CVT自(zi)激法測量：

1）測試(shi)時測量儀器的接地端(duan)直接接在被(bei)試(shi)品(pin)的金屬底座上，并保(bao)證接觸(chu)良好。

2）條件允許時盡可(ke)能將(jiang)非被試繞組短接，以減小電感和鐵心損耗的影響。

3）被(bei)試品周圍不應有鐵架、腳手架、木梯等物體，盡可能(neng)減小分布阻抗的(de)影響。

4）試驗引線與(yu)被試品的夾角應盡可能接近(jin)90°，以減(jian)小(xiao)線與(yu)試品間的分布電容。

用(yong)末(mo)端(duan)屏蔽法(fa)測(ce)量(liang)電磁式PT時，由于受潮引起“T形網絡干(gan)(gan)擾(rao)”出現(xian)負介損，吹干(gan)(gan)下面三裙瓷套和接線端(duan)子盤(pan)即可(ke)。也可(ke)改(gai)用(yong)常(chang)規法(fa)或(huo)末(mo)端(duan)加壓法(fa)測(ce)量(liang)。

6.4空氣(qi)濕度(du)過(guo)大

空(kong)氣濕度大使介損測(ce)量值異常增大（或(huo)減小甚至為負）且不(bu)穩定，必(bi)要時可加屏蔽環(huan)。因(yin)人為加屏蔽環(huan)改變了試品(pin)電場分(fen)布，此法有(you)爭議，可參(can)照有(you)關規程(cheng)。

6.5發電(dian)機供(gong)電(dian)

發電機供電時可采(cai)用定(ding)頻50Hz模式工作。

6.6測試(shi)線

1）由于長期使(shi)用，易造(zao)成測試(shi)線(xian)隱性斷路，或芯線(xian)和屏蔽短路，或插頭接觸**，用戶(hu)應經常(chang)維護測試(shi)線(xian)。

2）測試(shi)標(biao)準(zhun)電容試(shi)品時，應使用全屏蔽插頭連接，以消(xiao)除(chu)附加雜散電容影響(xiang)，否則(ze)不(bu)能反映(ying)儀器(qi)精度。

3）自激法測量(liang)CVT時，若使用(yong)“高(gao)(gao)(gao)壓(ya)連(lian)線拖地(di)”功能，請(qing)務必(bi)使用(yong)原廠配置(zhi)的專用(yong)高(gao)(gao)(gao)壓(ya)電纜（原廠電纜在(zai)出廠時已進行(xing)校準(zhun)），高(gao)(gao)(gao)壓(ya)連(lian)線的接地(di)屏蔽層(ceng)必(bi)須接地(di)，不可使用(yong)其它(ta)高(gao)(gao)(gao)壓(ya)電纜代替，否(fou)則會引起(qi)較大的測量(liang)誤(wu)差。若拖地(di)模式(shi)下測量(liang)誤(wu)差較大，則需將專用(yong)高(gao)(gao)(gao)壓(ya)電纜返廠重(zhong)新進行(xing)校準(zhun)。

4）自(zi)激法(fa)測(ce)量(liang)CVT時，非(fei)專用(yong)的高(gao)壓線應吊起懸空(kong)，否則(ze)對地附加雜散電(dian)容和(he)介(jie)損會引起測(ce)量(liang)誤差(cha)。使用(yong)專用(yong)電(dian)纜(lan)在(zai)非(fei)拖(tuo)地模式下測(ce)量(liang)CVT，高(gao)壓電(dian)纜(lan)也應懸空(kong)且(qie)電(dian)纜(lan)的接(jie)(jie)地屏蔽層(ceng)不能接(jie)(jie)地，否則(ze)會引起較大的測(ce)量(liang)誤差(cha)。

6.7工作模式選(xuan)擇(ze)

接(jie)好(hao)線后請選(xuan)擇(ze)正確的測量工作模式，不可選(xuan)錯(cuo)。特(te)別是(shi)干擾環境(jing)下應選(xuan)用變(bian)頻抗干擾模式。

6.8試驗方法(fa)影響

由于介損測量受(shou)試(shi)驗(yan)方法影響較(jiao)大，應區分(fen)是試(shi)驗(yan)方法誤差還是儀器(qi)誤差。出現問(wen)題時可(ke)首(shou)先檢查接線，然后檢查是否為儀器(qi)故障。

6.9儀器故障

1）用萬(wan)用表測量一下測試線是否(fou)斷路，或芯線和屏(ping)蔽是否(fou)短路；

2）輸入電(dian)源(yuan)220V過高或過低(di)；接地是(shi)否良好；

3）用正、反接線測一下標(biao)準電容(rong)器或已知(zhi)容(rong)量和介損(sun)的電容(rong)試品，如果(guo)結果(guo)正確，即(ji)可判(pan)斷儀器沒有問題；

4）拔(ba)下所有(you)測(ce)試導線，進行空試升(sheng)壓，若不能正(zheng)常(chang)工作，儀器可能有(you)故障。

7、儀器(qi)檢(jian)定

7.1檢(jian)定

用帶(dai)插頭的屏蔽電(dian)纜連接標準損(sun)耗器。如果不能保(bao)證標準損(sun)耗器的精度，應使用比(bi)對法檢定，建(jian)議用2801電(dian)橋(qiao)或其它精密電(dian)橋(qiao)作比(bi)對標準。

1）介質損耗因(yin)數標(biao)準器(qi)一般為(wei)串聯(lian)(lian)模型，因(yin)此(ci)儀器(qi)的試(shi)品(pin)模型應選(xuan)擇(ze)“RC串聯(lian)(lian)(電流比較儀型電橋)”或“RC串聯(lian)(lian)(西林型電橋)”。

RC串(chuan)(chuan)聯(lian)(電(dian)(dian)(dian)(dian)流比(bi)較儀型(xing)電(dian)(dian)(dian)(dian)橋)：采用電(dian)(dian)(dian)(dian)流比(bi)較儀型(xing)電(dian)(dian)(dian)(dian)橋（如QS30電(dian)(dian)(dian)(dian)橋）校準的串(chuan)(chuan)聯(lian)型(xing)試品(或介質損耗因數(shu)標(biao)準器)，該項(xiang)在開始測(ce)試界面(mian)顯(xian)示"RC串(chuan)(chuan)聯(lian)"。

RC串聯(西林型電橋)： 采用西林型電橋（如2801、QS1和QS37等電橋）校準的串聯型試品(或介質損耗因數標準器) ，該項在開始測試界面顯示 "RC串聯"。

采用電(dian)流比(bi)較儀(yi)型(xing)電(dian)橋和西林型(xing)電(dian)橋校準的(de)串聯型(xing)試品(或介質損耗因(yin)數標準器(qi))的(de)區別只是電(dian)容量(liang)不同：

為西林型電橋標定值，C為電流比較儀型電橋標定值。

2）用介(jie)質損耗因數標(biao)準(zhun)器（或標(biao)準(zhun)電容器）檢定儀器反接(jie)線(xian)精度時，高壓電纜與(yu)試品連接(jie)必須(xu)使用全(quan)屏蔽插(cha)頭，否(fou)則暴露的芯線(xian)會引起測量誤差。

3）用介質損耗因數標準器（或標準電(dian)容器）檢(jian)定儀器正接線(xian)精度時，低壓(ya)電(dian)纜(lan)與試(shi)品連接必(bi)須使用全屏蔽插頭(tou)，否則暴露的芯線(xian)會(hui)引起測量誤差。

嚴格(ge)按照上述要求檢定方(fang)能真實反映(ying)本(ben)儀器的測量精度！

7.2抗(kang)干擾能力(li)

設(she)置一個(ge)回路向儀器注入定量的(de)干擾電流。

注意(yi)：

1）應考慮到該回路可能(neng)成為試品(pin)的一(yi)部分。

2）儀(yi)(yi)器(qi)啟動后會使220V供電電路帶有測量(liang)(liang)(liang)頻率分量(liang)(liang)(liang)，如果該頻率分量(liang)(liang)(liang)又(you)通過干擾電流進(jin)入(ru)儀(yi)(yi)器(qi)，則無(wu)法檢驗儀(yi)(yi)器(qi)的(de)抗干擾能力。

3）不建議用(yong)臨近(jin)高(gao)壓導體施加干擾，因為這(zhe)(zhe)樣(yang)很容易產生近(jin)距離**放電，這(zhe)(zhe)種(zhong)放電電阻是非線性的，容易產生同頻干擾。