1、WBJS6000高精密介質損耗試驗儀特點及性能(neng)

介(jie)損(sun)絕緣試驗可以有(you)效(xiao)地發現電器設備絕緣的整體(ti)受(shou)潮劣化(hua)變質以及局部缺陷等，在電工制造、電氣設備安裝、交接(jie)和預防性試驗中都廣(guang)泛應用。

介(jie)(jie)質(zhi)損(sun)耗測量儀用于現場介(jie)(jie)損(sun)測量或試驗(yan)(yan)室精密(mi)介(jie)(jie)損(sun)測量。儀器為一(yi)體化結構，內置介(jie)(jie)損(sun)電(dian)橋、變(bian)頻電(dian)源、試驗(yan)(yan)變(bian)壓器和(he)標準電(dian)容器等。儀器采(cai)用變(bian)頻抗干擾(rao)和(he)傅(fu)立葉變(bian)換數(shu)字濾波技(ji)術，全(quan)自(zi)(zi)動智能化測量，強干擾(rao)下(xia)測量數(shu)據非常穩定(ding)。測量結果由(you)大屏幕(mu)液(ye)晶顯示(shi)，儀器自(zi)(zi)帶(dai)微型打印機可打印輸出測試結果。

1.1主要(yao)技術(shu)指標

額(e)定工作條件(jian)：環境(jing)溫度  -10℃～50℃

相對濕度  <85%阿(a)

輸(shu)入電源：    180V～270VAC，50Hz/60Hz±1%，市(shi)電或發電機供電

準確度：    ;  Cx: ±（讀數×1%+1pF）

tgδ: ±（讀數(shu)×1%+0.00040）

抗干擾(rao)(rao)指標：   變頻抗干擾(rao)(rao)，在(zai)200%干擾(rao)(rao)下仍能達到上述(shu)準確度

電容(rong)量范圍(wei)：   內施高壓(ya)：3pF～60000pF/10kV&nbsp;   60pF～1μF/0.5kV

外(wai)施高(gao)壓：3pF～1.5μF/10kV      60pF～30μF/0.5kV

分辨率：       *高0.001pF，4位有效數字

tgδ范圍： &nbsp; &nbsp; 不(bu)限，分(fen)辨率0.001%，電(dian)容(rong)、電(dian)感(gan)、電(dian)阻三(san)種試品自動(dong)識別。

試驗電流范(fan)圍： 10μA～5A

內施高(gao)壓(ya)：    設定電壓(ya)范圍：0.5～10kV

*大輸出電流：200mA

升降(jiang)壓方(fang)式(shi)：連續平滑調節

電壓精(jing)度(du)：±(1.0%×讀數+10V)

電壓分辨率：0.1V

試驗頻(pin)率：45、50、55、60、65Hz 單頻(pin)

45/55Hz、55/65Hz、47.5/52.5Hz 自(zi)動雙(shuang)變頻

頻率精度(du)：±0.01Hz

外施高壓：    正(zheng)、反接線時*大(da)試驗電流5A

CVT自激法(fa)低(di)壓輸(shu)出：輸(shu)出電壓3～50V，輸(shu)出電流3～30A

高電(dian)壓介損：  支(zhi)持變頻和諧振電(dian)源高電(dian)壓介損

實時(shi)時(shi)鐘：    實時(shi)顯示時(shi)間和日期

內(nei)部(bu)存儲(chu)：   &nbsp;儀器內(nei)部(bu)可(ke)存儲(chu)100組(zu)測量數(shu)據

U盤：   ;     支持U盤存儲

打印機：      微型(xing)熱敏打印機

計(ji)算機接(jie)口(kou)(kou)：  標準(zhun)RS232接(jie)口(kou)(kou)（選配(pei)）

尺(chi)寸重量(liang)：    K型：外(wai)形尺(chi)寸368mm×288mm×280mm；主機重量(liang)22kg。

其他(ta)款型：外形尺寸430mm×314mm×334mm；主機重量30kg。

注：上(shang)述(shu)為E型主要技術指(zhi)標，其它型號(hao)技術指(zhi)標詳見本(ben)章節“1.3.6各型號(hao)測(ce)試功能(neng)說明(ming)”。

1.2 WBJS6000高精密介質損耗試驗儀系列型號功能列表

1.3 WBJS6000高精密介質損耗試驗儀主要功能特點

1.3.1 變(bian)頻(pin)抗干擾(rao)

采用變頻抗干(gan)擾技術，在200%干(gan)擾下(xia)仍能(neng)準確測量(liang)，測試(shi)數據穩定(ding)，適合在現(xian)場(chang)做抗干(gan)擾介損(sun)試(shi)驗。

1.3.2高精度測量(liang)

采用(yong)數字波形分(fen)析和電橋自校準等(deng)技(ji)術(shu)，配合高精度(du)三端(duan)標準電容器，實現高精度(du)介(jie)損測量(liang)。儀器所(suo)有量(liang)程(cheng)輸入電阻低于2Ω，消(xiao)除了(le)測量(liang)電纜附加電容的影響。

1.3.3**措施(shi)

高壓保護：試品(pin)短路、擊(ji)穿或(huo)高壓電流波動，能以短路方式(shi)高速切斷輸出。

供電(dian)保護：誤接(jie)380V、電(dian)源波動或突然斷電(dian)，啟動保護，不會引起過電(dian)壓。

接地(di)保護：具有接地(di)檢測功能(neng)，未接地(di)時不能(neng)升壓(ya)，若測量過(guo)程中儀器接地(di)**則啟動接地(di)保護。

CVT 保(bao)護：高壓側電壓和電流、低壓側電壓和電流四個(ge)保(bao)護限制，不會損(sun)壞設備；誤選菜(cai)單不會輸(shu)出(chu)激磁電壓。CVT測量時無10kV高壓輸(shu)出(chu)。

防誤(wu)操作(zuo)：兩級電(dian)源(yuan)開關；電(dian)壓(ya)、電(dian)流實時監視(shi)；多次按鍵確認；接線端子高(gao)/低壓(ya)分明；慢速升壓(ya)，可迅速降壓(ya)，聲光報警。

防“容(rong)升”：測(ce)量大容(rong)量試品時(shi)會出(chu)(chu)現電(dian)壓(ya)抬(tai)高的“容(rong)升”效應，儀器能(neng)自動跟蹤輸出(chu)(chu)電(dian)壓(ya)，保(bao)持試驗電(dian)壓(ya)恒定。

高壓電纜(lan)：為(wei)耐(nai)高壓絕緣導(dao)線，可拖地使用。

抗(kang)震(zhen)性能：儀器采(cai)用獨特(te)抗(kang)震(zhen)設計，可耐(nai)受強烈長途(tu)運輸震(zhen)動、顛(dian)簸(bo)而不會損壞。

1.3.4打(da)印(yin)存(cun)儲

儀(yi)器自帶微型打印機，可以將測量結果打印輸出，并將測量結果存貯到儀(yi)器內（可存儲100組測量數據）或U盤(pan)，以便日后(hou)查(cha)閱。

1.3.5實時時鐘(zhong)

儀器(qi)內帶實時(shi)時(shi)鐘，實時(shi)顯示，并能記錄測量的日期和時(shi)間。

1.3.6各型號測(ce)試功能說明

B型：輕便型，高壓*大(da)輸出電流為140mA，具有正接(jie)線(xian)、反(fan)接(jie)線(xian)功能，可選擇內/外(wai)標準電容、內/外(wai)高壓多種工作模(mo)式，一體(ti)化結構，可做各種常規(gui)介損試驗(yan)。

D型：實用(yong)型，高壓(ya)*大輸(shu)出電(dian)流為200mA，具(ju)有正接(jie)(jie)線(xian)、反(fan)接(jie)(jie)線(xian)、反(fan)接(jie)(jie)線(xian)低壓(ya)屏蔽、CVT自激法，反(fan)接(jie)(jie)線(xian)低壓(ya)屏蔽功能能在220kV CVT母線(xian)接(jie)(jie)地情況下，對C11進(jin)行(xing)不拆線(xian)10kV反(fan)接(jie)(jie)線(xian)介損(sun)測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)，并可一次接(jie)(jie)線(xian)同時(shi)(shi)測(ce)(ce)(ce)出兩個(ge)電(dian)容的電(dian)容量(liang)(liang)和(he)介損(sun)值。CVT自激法測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)時(shi)(shi)，C1/C2可一次接(jie)(jie)線(xian)同時(shi)(shi)測(ce)(ce)(ce)出，無須換(huan)線(xian)和(he)外接(jie)(jie)任何配件，但高壓(ya)測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)線(xian)需懸空吊起。

E型：標(biao)準型，在D型基(ji)礎上(shang)增(zeng)加了CVT變比測試功能，同時升級了CVT自激(ji)法測試，現場CVT自激(ji)法測試時高壓測量線可拖地使用，無需吊起。

F型：增強型，功能同(tong)E型，輸出(chu)*高電壓從(cong)10kV增加(jia)至12kV。

K型：標準型，在E型基(ji)礎上減(jian)小體積重(zhong)量，設備更精(jing)巧。

S型(xing)：四通(tong)道型(xing)，功能同E型(xing)，增(zeng)加了3個正接(jie)通(tong)道。

J型：高精度型，功(gong)能(neng)同E型，測量準(zhun)確度為0.5%。

所有型號儀器均(jun)具備下述特點：

（1）支(zhi)持(chi)變頻(pin)和諧(xie)振電(dian)源高(gao)電(dian)壓介損。

（2）內置串聯和并聯兩(liang)種介損測量模型(xing)，方便儀(yi)器檢(jian)定。

（3）配置熱敏打印機(ji)，使打印更加(jia)快捷(jie)、無噪音和清晰(xi)。

（4）320×240點(dian)陣大屏液晶顯示，菜(cai)單操作，測試數據豐富，自(zi)動(dong)分辨電容、電感、電阻型試品。

（5）具有外(wai)(wai)接(jie)標準電容器接(jie)口，可外(wai)(wai)接(jie)油杯做精密絕(jue)緣油介損(sun)試(shi)驗，可外(wai)(wai)接(jie)固(gu)體(ti)材料(liao)測量電極做精密絕(jue)緣材料(liao)介損(sun)試(shi)驗，也可外(wai)(wai)接(jie)高壓(ya)(ya)標準電容器做高電壓(ya)(ya)介損(sun)試(shi)驗。

（6）帶(dai)日(ri)歷時鐘(zhong)，可存儲100組測量數據。

（7）計算機(ji)接口（選配）。

2、WBJS6000高精密介質損耗試驗儀面板(ban)說明

高(gao)壓(ya)(ya)(ya)輸(shu)出(chu)測量(liang)(liang)接(jie)(jie)地(di)(di)：若出(chu)廠配置的高(gao)壓(ya)(ya)(ya)測試線(xian)有接(jie)(jie)地(di)(di)屏(ping)(ping)(ping)蔽(bi)層(ceng)，則需將高(gao)壓(ya)(ya)(ya)測量(liang)(liang)線(xian)的接(jie)(jie)地(di)(di)屏(ping)(ping)(ping)蔽(bi)層(ceng)連接(jie)(jie)至此處，沒(mei)有則留(liu)空(kong)(kong)。CVT自激(ji)法測量(liang)(liang)的高(gao)壓(ya)(ya)(ya)連線(xian)接(jie)(jie)地(di)(di)屏(ping)(ping)(ping)蔽(bi)層(ceng)在拖地(di)(di)模式下(xia)必須接(jie)(jie)地(di)(di)，非拖地(di)(di)模式下(xia)接(jie)(jie)地(di)(di)屏(ping)(ping)(ping)蔽(bi)層(ceng)應懸(xuan)空(kong)(kong)不能接(jie)(jie)地(di)(di)且高(gao)壓(ya)(ya)(ya)測量(liang)(liang)線(xian)也(ye)應懸(xuan)空(kong)(kong)吊起不能拖地(di)(di)。

高壓(ya)輸出插座(zuo)（0.5～10kV，*大200mA）

安裝位置：如(ru)圖2-1所示(shi)，安裝在箱體前側面。

功    能(neng)：內高(gao)壓輸出；檢測(ce)反(fan)接線試品(pin)電流；內部標準電容器的高(gao)壓端(duan)。

接(jie)(jie)線(xian)(xian)(xian)(xian)方法：插座1腳接(jie)(jie)高壓線(xian)(xian)(xian)(xian)芯(xin)線(xian)(xian)(xian)(xian)（紅夾(jia)子(zi)），2、3腳接(jie)(jie)高壓線(xian)(xian)(xian)(xian)屏(ping)蔽(bi)（黑夾(jia)子(zi)）。正接(jie)(jie)線(xian)(xian)(xian)(xian)時(shi)，高壓線(xian)(xian)(xian)(xian)芯(xin)線(xian)(xian)(xian)(xian)（紅夾(jia)子(zi)）和屏(ping)蔽(bi)（黑夾(jia)子(zi)）都可(ke)以用(yong)作加(jia)壓線(xian)(xian)(xian)(xian)；反接(jie)(jie)線(xian)(xian)(xian)(xian)時(shi)只能(neng)用(yong)芯(xin)線(xian)(xian)(xian)(xian)對試(shi)(shi)品高壓端加(jia)壓。如果(guo)試(shi)(shi)品高壓端有屏(ping)蔽(bi)極（如高壓端的(de)屏(ping)蔽(bi)環）可(ke)接(jie)(jie)高壓屏(ping)蔽(bi)，無屏(ping)蔽(bi)時(shi)高壓屏(ping)蔽(bi)懸空。若(ruo)配置(zhi)的(de)高壓測(ce)試(shi)(shi)線(xian)(xian)(xian)(xian)有接(jie)(jie)地屏(ping)蔽(bi)層(ceng)，則需將高壓測(ce)量線(xian)(xian)(xian)(xian)的(de)接(jie)(jie)地屏(ping)蔽(bi)層(ceng)連接(jie)(jie)至圖2-1中的(de)“1”處(chu)。

注意(yi)事項(xiang)：

（1）若儀器CVT自(zi)(zi)激法(fa)高壓連線具備(bei)“高壓拖(tuo)地”功(gong)能(neng)，使(shi)用(yong)拖(tuo)地模式測量(liang)(liang)時(shi)務必使(shi)用(yong)原(yuan)廠(chang)配置的專用(yong)高壓電纜(lan)（原(yuan)廠(chang)電纜(lan)在出廠(chang)時(shi)已進行(xing)校準(zhun)），不(bu)可使(shi)用(yong)其它高壓電纜(lan)代替(ti)，否則會引(yin)起較大(da)的測量(liang)(liang)誤差(cha)。CVT自(zi)(zi)激法(fa)不(bu)使(shi)用(yong)拖(tuo)地模式時(shi)，高壓電纜(lan)必須懸(xuan)空，接地屏蔽層也(ye)不(bu)能(neng)接地！

（2）高(gao)壓插座和高(gao)壓線有危險(xian)電壓，**禁止碰觸高(gao)壓插座、電纜、夾子和試品帶電部位！確認斷電后(hou)接線，測量時務必遠離！

（3）用(yong)標(biao)準介(jie)損(sun)器（或(huo)標(biao)準電容器）檢定反接線精(jing)度(du)時，應(ying)使用(yong)全屏蔽(bi)插頭(tou)連接試品，否則暴露的芯線會引起(qi)測(ce)量誤差(cha)。

（4）應保證高(gao)壓線與試品高(gao)壓端零電阻連接，否則可能引起(qi)(qi)誤差或數(shu)據波動，也(ye)可能引起(qi)(qi)儀器保護。

（5）強干擾下拆除接線(xian)時，應(ying)在保持電纜接地狀態下斷(duan)開連接，以防感應(ying)電擊。

CVT自激法(fa)低壓(ya)輸出插座（3～50V，3～30A）

功(gong)    能：由該插座和圖(tu)2-1中的(de)接地接線柱“4”輸(shu)出CVT測量的(de)低壓變頻(pin)激勵電源。

注意事項：

（1）因低(di)壓輸出電流大，應采用儀器專用低(di)阻線連接(jie)CVT二次繞組，接(jie)觸**會影響測量。

（2）視CVT容量從菜單選擇合適的電壓(ya)電流保護限。

（3）選擇正/反(fan)接線時，此輸出(chu)封閉(bi)。

測(ce)量(liang)(liang)接(jie)地：它(ta)同外殼和電源(yuan)插座地線連到一起(qi)，與圖2-1的“3”一起(qi)輸出CVT測(ce)量(liang)(liang)的低(di)壓變(bian)頻(pin)激勵電源(yuan)。盡管儀器有接(jie)地保(bao)護，但無論(lun)何種測(ce)量(liang)(liang)，儀器都應可靠獨立接(jie)地以保(bao)障使用(yong)者的**及測(ce)量(liang)(liang)結果的準確。

打印機(ji)：微型熱敏打印機(ji)，用于打印測(ce)試數據。

USB：USB通(tong)信用。

RS232：與計算機(ji)聯機(ji)使用。

U盤(pan)：用(yong)于外(wai)接U盤(pan)保存(cun)數據。

試品輸入Cx插座（10μA～5A）

功    能：正接線時輸入試品電(dian)流。

接線方(fang)法(fa)：插座(zuo)1腳接測量(liang)線芯線（紅(hong)夾(jia)子），2、3腳接測量(liang)線屏(ping)(ping)(ping)蔽（黑(hei)夾(jia)子）。正接線時芯線（紅(hong)夾(jia)子）接試(shi)品(pin)低壓信號端，如(ru)果試(shi)品(pin)低壓端有屏(ping)(ping)(ping)蔽極(ji)（如(ru)低壓端的屏(ping)(ping)(ping)蔽環）可接屏(ping)(ping)(ping)蔽，試(shi)品(pin)無屏(ping)(ping)(ping)蔽時屏(ping)(ping)(ping)蔽懸空。

注意(yi)事項(xiang)：

（1）測量中嚴禁拔下(xia)插(cha)頭，防止試品電流經(jing)人體(ti)入地(di)！

（2）用(yong)標準介損(sun)器（或標準電容器）檢測儀器正接線(xian)(xian)精度時，應使用(yong)全(quan)屏蔽插(cha)頭連接試品(pin)，否則暴露的(de)芯線(xian)(xian)會(hui)引起測量誤差。

（3）應保證(zheng)引(yin)線(xian)與(yu)試品低壓端0電阻連接，否則(ze)可能(neng)引(yin)起(qi)誤差(cha)或數據(ju)波動，也可能(neng)引(yin)起(qi)儀器保護。

（4）強干擾下(xia)拆除(chu)接(jie)線時，應在(zai)保持電纜接(jie)地(di)狀態下(xia)斷開連接(jie)，以防感應電擊。

標準電容輸入(ru)Cn插座（10μA～5A）

功(gong)    能：輸(shu)入(ru)外接標準電容器電流。

接線(xian)方(fang)法：與Cx插(cha)座類似，其區別在于：

（1）使(shi)用(yong)外部標準電(dian)容(rong)器(qi)時，應(ying)使(shi)用(yong)全屏蔽插(cha)頭連接。此方式常用(yong)于外接高電(dian)壓(ya)等級標準電(dian)容(rong)器(qi)，實現(xian)高電(dian)壓(ya)介損測(ce)量。

（2）菜單選擇“外標準電容”方式。

（3）將外接標準電容器的C和tgδ置入儀器，實(shi)現(xian)Cx電容介(jie)損(sun)的**值測量。

從(cong)理論(lun)上(shang)講，任何(he)容(rong)量和介損的(de)電(dian)容(rong)器，將參數(shu)置入儀器都可做標(biao)準(zhun)電(dian)容(rong)器。不(bu)同的(de)是標(biao)準(zhun)電(dian)容(rong)器能提供更(geng)好的(de)長(chang)期(qi)穩(wen)定性和精度(du)。

（4）不管正接線(xian)還(huan)是反接線(xian)測(ce)量，標準電容器接線(xian)方式始終為正接線(xian)。

總電源開關：開關機(ji)用，可在發現異常時隨時關閉。

供電電源插座：接(jie)220V市(shi)電，插座內置(zhi)保險(xian)絲(si)(si)座，保險(xian)絲(si)(si)規(gui)格為(wei)10A / 250V，若損壞應使用(yong)相同規(gui)格的(de)保險(xian)絲(si)(si)替換(huan)。若換(huan)用(yong)備用(yong)保險(xian)絲(si)(si)后仍燒斷，可(ke)能儀器(qi)有故障，可(ke)通知廠(chang)家(jia)處理。

高壓允許(xu)開關(guan)：內置高壓系統或(huo)CVT自激法低壓輸出系統的總電源(yuan)開關(guan)。此開關(guan)受(shou)總電源(yuan)開關(guan)控制(zhi)。

按(an)鍵(jian)：按(an)下“↑”、“↓”、“←”、“→”鍵(jian)可移動光(guang)標(biao)和(he)修(xiu)(xiu)改(gai)光(guang)標(biao)處內(nei)容，“確認(ren)”鍵(jian)用于確認(ren)或結束參數修(xiu)(xiu)改(gai)，在測(ce)試界面(mian)長(chang)按(an)該鍵(jian)可開始(shi)測(ce)量(liang)，測(ce)量(liang)過程中，按(an)“確認(ren)”鍵(jian)可終(zhong)止測(ce)量(liang)。

液(ye)晶(jing)顯(xian)示(shi)屏：320×240點陣灰白背光液(ye)晶(jing)顯(xian)示(shi)屏，顯(xian)示(shi)菜單、測量(liang)結果或出錯信息。應避(bi)免長時(shi)間(jian)陽光爆曬，避(bi)免重壓。

背光(guang)調節(jie)(jie)：液(ye)晶顯(xian)示(shi)(shi)屏顯(xian)示(shi)(shi)較暗或不清(qing)晰(xi)時(shi)可調節(jie)(jie)該電(dian)位器至合(he)適(shi)位置使顯(xian)示(shi)(shi)明亮清(qing)晰(xi)。

指示燈(deng)：配合儀(yi)器內部蜂鳴器進行測(ce)試、報(bao)警(jing)等聲光警(jing)示。

3、WBJS6000高精密介質損耗試驗儀使用說明(ming)

3.1初始菜單界(jie)面(mian)

打開(kai)總(zong)電源開(kai)關后(hou)，系統進入初始(shi)菜單界面。

測(ce)試模(mo)式(shi)：選擇測(ce)試模(mo)式(shi)和設置(zhi)各項測(ce)試參數(shu)，

歷史(shi)記錄：查看保存的歷史(shi)數據

系(xi)統設置：出(chu)廠參數設置及系(xi)統時(shi)間校準

幫(bang)    助(zhu)：可查閱軟件版本(ben)等信息

取消或使用CVT自激法“高壓連線(xian)拖地(di)”功能：

開機右下角顯示“”表示該儀器在CVT自激法測試時高壓連線具備拖地功能。

光標停留在“測試模式”處長按“→”鍵（聽到蜂鳴器聲音松手）可取消或使用拖地模式（右下角顯示“”表示當前為拖地模式），在拖地模式下必須將高壓連線的接地屏蔽層插頭接至圖2-1中的“1”（高壓測量接地）處，否則會引起測量誤差；取消拖地模式后高壓連線必須懸空吊起，同時高壓連線的接地屏蔽層插頭也應懸空，否則會引起測量誤差。

使用或取(qu)消發(fa)“發(fa)電機供電”模式：

光標停留在“測試模式”處長按“←”鍵（聽到蜂鳴器聲音松手）可使用或取消發電機供電模式（左下角顯示“”表示當前為發電機供電模式），儀器開機默認為市電供電模式，發電機模式適合使用發電機或移動電源供電環境，發電機模式下儀器將不進行接地檢測。

3.2測試模式

3.2.1 開始測試菜(cai)單界面

在(zai)初始(shi)菜單界(jie)面將光(guang)標移動到“測試(shi)模式”按確(que)定按鈕進入開始(shi)測試(shi)菜單界(jie)面，如(ru)圖3-2所示。

界面(mian)左側為參(can)數(shu)設(she)(she)置(zhi)選(xuan)項(xiang)，移動光標(biao)(biao)到相關參(can)數(shu)選(xuan)項(xiang)按(an)確(que)定鍵(jian)可設(she)(she)置(zhi)相關試驗(yan)參(can)數(shu)，右側顯(xian)示(shi)內容為已(yi)設(she)(she)置(zhi)好試驗(yan)參(can)數(shu)，光標(biao)(biao)停(ting)留在“開始測(ce)試”欄長按(an)“確(que)認” 鍵(jian)可開始測(ce)試。

界面(mian)右側“測(ce)(ce)試地點”下一行為(wei)信息提(ti)(ti)示(shi)(shi)行，若內外高(gao)(gao)壓選擇有(you)(you)(you)誤則提(ti)(ti)示(shi)(shi)“當前為(wei)內高(gao)(gao)壓模(mo)式(shi)，請(qing)開啟(qi)內高(gao)(gao)壓”或“當前為(wei)外高(gao)(gao)壓模(mo)式(shi)，請(qing)關閉(bi)內高(gao)(gao)壓”；若儀器沒有(you)(you)(you)接地則會(hui)提(ti)(ti)示(shi)(shi)“請(qing)檢查接地”，當有(you)(you)(you)錯誤提(ti)(ti)示(shi)(shi)時儀器無(wu)(wu)法正常啟(qi)動，只有(you)(you)(you)提(ti)(ti)示(shi)(shi)“確認無(wu)(wu)誤后長(chang)按確認鍵開始測(ce)(ce)試”時儀器方可啟(qi)動測(ce)(ce)試。

3.2.2 試(shi)品模(mo)型選擇(ze)菜單界面(mian)

將光標(biao)移(yi)動到(dao)“試(shi)品模型(xing)”功能選(xuan)項，界面如圖3-3所示(shi)，按“確認”按鈕后(hou)移(yi)動光標(biao)可(ke)選(xuan)擇合適的試(shi)品模型(xing)（光標(biao)移(yi)動到(dao)相應功能后(hou)按確認鍵）。實(shi)驗(yan)室(shi)一般使(shi)用(yong)串聯(lian)型(xing)介損因數標(biao)準(zhun)器(qi)檢定(ding)，校驗(yan)時應使(shi)用(yong)RC串聯(lian)模型(xing)。

RC串聯(lian)(電(dian)(dian)流比較儀型電(dian)(dian)橋(qiao))：采用(yong)電(dian)(dian)流比較儀型電(dian)(dian)橋(qiao)（如QS30電(dian)(dian)橋(qiao)）校準的串聯(lian)型試(shi)品(或介質損耗因(yin)數標準器)，該項在開始測試(shi)界面顯示"RC串聯(lian)"。

RC串聯(西林型電橋)： 采用西林型電橋（如2801、QS1和QS37等電橋）校準的串聯型試品(或介質損耗因數標準器) ，該項在開始測試界面顯示 "RC串聯"。

RC并(bing)聯(現場使用(yong))：一般實際的電容試(shi)品可等效為RC并(bing)聯模型，建(jian)議現場試(shi)驗時(shi)使用(yong)。

采用電流比較儀型電橋和西林型電橋校準的串聯型試品(或介質損耗因數標準器)的區別只是電容量不同：為西林型電橋標定值，C為電流比較儀型電橋標定值。

3.2.3 接線(xian)方式選(xuan)擇菜單界面

將光(guang)標移動到(dao)“接線方(fang)(fang)式”功能(neng)選項(xiang)，界面如(ru)圖3-4所示，按“確認(ren)”按鈕(niu)后移動光(guang)標可選擇合適的接線方(fang)(fang)式。

接線(xian)方式：共5種接線(xian)方式（功(gong)能因(yin)型(xing)號(hao)(hao)有差別，具體詳(xiang)見(jian)型(xing)號(hao)(hao)功(gong)能說明部分(fen)），分(fen)別為：正接線(xian)、反接線(xian)、反接線(xian)低壓屏(ping)蔽、CVT自(zi)激法和變比。選擇CVT自(zi)激法測(ce)量時(shi)需(xu)同時(shi)將(jiang)相(xiang)關參數一并(bing)設置(zhi)好。

CVT自激(ji)法測(ce)量(liang)必須打開(kai)內高壓(ya)允許開(kai)關，由(you)機(ji)內提供(gong)激(ji)勵電壓(ya)，由(you)“低壓(ya)輸出”和“測(ce)量(liang)接地”輸出。為(wei)**起(qi)見，CVT自激(ji)法還(huan)需要設置(zhi)以(yi)下幾個保(bao)護限(xian)：

將(jiang)光標(biao)移動到xxkV / xxmA / xxV / xxA，按↑↓選擇合適值，選擇好(hao)后按確認鍵退出。

xxkV：可選0.5/0.6/0.8/1/1.5/2/2.5/3/3.5/4kV，為高壓(ya)(ya)上限，只能使(shi)用(yong)4kV以下(xia)電(dian)壓(ya)(ya)。

xxmA：可選(xuan)10/15/20/25/30/35/40/45/50/60/70/80/100/120/140/200mA，表示待測試(shi)品的(de)高(gao)壓電流上限。

xxV：可選3/4/5/6/7/8/9/10/12/15/20/25/30/35/40/50V，表(biao)示低壓激勵電壓上限。

xxA：可選3/4/5/6/7/8/9/10/11/12/13/14/15/16/20/30A，表(biao)示低壓激勵電流上(shang)限(xian)。

注(zhu)意：

（1）測(ce)量時4個保(bao)護限(xian)同時起作(zuo)用，因(yin)此試驗高壓(ya)(ya)可能(neng)達(da)不(bu)到設定值。如果高壓(ya)(ya)達(da)不(bu)到保(bao)護限(xian)，可適當(dang)調整受到限(xian)制的保(bao)護限(xian)。

（2）通常測(ce)量C1時低壓(ya)激(ji)勵電壓(ya)可達(da)20V，測(ce)量C2時低壓(ya)激(ji)勵電流可達(da)15A。一(yi)般(ban)可設高(gao)壓(ya)電壓(ya)2～3kV，較少采用高(gao)壓(ya)電流限制，可設為(wei)*大200mA。

變比測(ce)量時應選(xuan)擇合適的高壓輸出使二次側(ce)(ce)電壓小于(yu)120V，當二次側(ce)(ce)電壓≥120V時儀器會發(fa)出聲光報警(jing)并提(ti)示(shi)“接(jie)線錯誤”。

3.2.4 標(biao)準(zhun)電(dian)容選擇菜單(dan)界面

將光(guang)(guang)標(biao)移(yi)動到“標(biao)準電(dian)容”功能選項(xiang)，界面如圖(tu)3-5所示(shi)，按“確認(ren)”按鈕后移(yi)動光(guang)(guang)標(biao)可(ke)選擇合適(shi)的標(biao)準電(dian)容。選擇外標(biao)準電(dian)容時(shi)需(xu)同(tong)時(shi)將外標(biao)準的電(dian)容量和介損(sun)一并設置(zhi)好(hao)。

選擇(ze)外標(biao)準電容時將光標(biao)移動到Cn=xxxxx e x pF 和tgδ=xx.xxx%按(an)(an)↑↓選擇(ze)合(he)適值(zhi)，選擇(ze)好(hao)后按(an)(an)確認鍵退出。

Cn采用科(ke)學(xue)計數(shu)法(fa)，如(ru)5.000e1=5.000×101=50.00，1.000e2=1.000×102=100.0等，范圍(wei)0.000e0～9.999e5 (即0～999900pF)。tgδ設(she)置(zhi)范圍(wei)0～±9.999%。

內標準(zhun)電(dian)容通(tong)常可用于正、反接(jie)線測(ce)(ce)量和CVT自激法測(ce)(ce)量，高電(dian)壓(ya)介損(sun)選(xuan)用外標準(zhun)方式，需要(yao)將外接(jie)電(dian)容參數置入儀器。

3.2.5 測試頻率選擇菜(cai)單界面

測試頻率可(ke)選(xuan)擇(ze)定(ding)頻或異頻，頻率選(xuan)擇(ze)菜(cai)單界面如(ru)(ru)圖3-6所示，頻率選(xuan)擇(ze)范圍(wei)如(ru)(ru)下：

定頻：

“50Hz”：為工頻測量，此設置(zhi)不能抗干擾，在試驗室內測量或校驗時選用。

“45/55/60/65Hz”：為(wei)單頻(pin)率測量，研(yan)究不同頻(pin)率下介損的變(bian)化時選用(yong)。

頻率(lv)(lv)自(zi)適應：外高(gao)壓(ya)測(ce)量模式下有效(xiao)（不能(neng)更改），系統自(zi)動識別外施高(gao)壓(ya)頻率(lv)(lv)，測(ce)試(shi)(shi)頻率(lv)(lv)無(wu)需(xu)在(zai)測(ce)試(shi)(shi)前設置。

異頻：

“45/55Hz”：為自動變頻，適(shi)合50Hz電網工頻干擾下測量。

“55/65Hz”：為自動(dong)變(bian)頻，適合(he)60Hz電網工頻干擾下測量。

“47.5/52.5Hz”：為自動變頻(pin)，適合(he)50Hz電網工頻(pin)干擾下(xia)測量(liang)。

3.2.6 測(ce)試電壓選擇菜單界面

內高(gao)壓可選(xuan)擇“0.5 /0.6 /0.8 /1 /1.5 /2 /2.5 /3 /3.5 /4 /4.5 /5 /5.5 /6 /6.5 /7 /7.5 /8 /8.5 /9 /9.5 /10.0kV”（F型*高(gao)輸出電壓為12kV），應(ying)根據高(gao)壓試驗規程選(xuan)擇合適的試驗電壓。

注：若選(xuan)(xuan)擇“CVT自(zi)激法(fa)”測試功能(neng)，則該選(xuan)(xuan)項無效。CVT自(zi)激法(fa)的相關電(dian)壓(ya)參數需在該功能(neng)選(xuan)(xuan)項下進(jin)行設置。

3.2.7 測試備忘設置菜單界面

設(she)備(bei)編(bian)(bian)號(hao)(hao)：可設(she)置(zhi)8位字(zi)母或數字(zi)編(bian)(bian)號(hao)(hao)，將光標移(yi)動到”設(she)備(bei)編(bian)(bian)號(hao)(hao)”處，按確(que)認健(jian)進入設(she)備(bei)編(bian)(bian)號(hao)(hao)設(she)置(zhi)，通過(guo)“←”、“→”健(jian)移(yi)動光標，通過(guo)↑↓選擇(ze)合(he)適值，設(she)置(zhi)好(hao)后按確(que)認鍵退出。

測試(shi)人員：可設(she)置8位字母或數字編號，將光(guang)標移動到(dao)” 測試(shi)人員”處，按(an)確認健進入測試(shi)人員設(she)置，通(tong)過“←”、“→”健移動光(guang)標，通(tong)過↑↓選擇合(he)適值，設(she)置好后按(an)確認鍵退出。

測試(shi)地點：可設置(zhi)8位字(zi)母或數字(zi)編號，將(jiang)光標(biao)移動(dong)到” 測試(shi)地點”處，按(an)(an)確(que)認(ren)健(jian)進(jin)入(ru)測試(shi)地點設置(zhi)，通過“←”、“→”健(jian)移動(dong)光標(biao)，通過↑↓選擇合(he)適值，設置(zhi)好后按(an)(an)確(que)認(ren)鍵(jian)退出(chu)。

3.2.8 測(ce)試結果界(jie)面

3.2.8.1反接法測試結果界面

測試完成顯示結果后(hou)，可(ke)移動光標選(xuan)擇保存或打印數(shu)據。

儀器自動分辨電(dian)容、電(dian)感、電(dian)阻型試品：電(dian)容型試品顯(xian)(xian)示Cx和tgδ；電(dian)感型試品顯(xian)(xian)示Lx和Q；電(dian)阻型試品顯(xian)(xian)示Rx和附加Cx或Lx。自動選(xuan)取顯(xian)(xian)示單位。

試(shi)品(pin)為電容時：顯示數據(ju)為Cx、tgδ、Ux、Ix、Φ、f1、f2, |δ|>1則顯示電容和串/并(bing)聯電阻

試(shi)品為(wei)電感時：顯示(shi)(shi)數(shu)據為(wei)Lx、Q、Ux、Ix、Φ、f1、f2, |Q|<1則(ze)顯示(shi)(shi)電感和串聯電阻

試(shi)品(pin)為電阻時：顯示數據為Cx(Lx)、Rx、Ux、Ix、Φ、f1、f2

Cx   試品電容量[1μF=1000nF納法(fa) / 1nF=1000pF]，如顯示10.00nF即10000pF

tgδ 介損因數[1%=0.01]

Lx   試品(pin)電感量(liang)[1MH兆(zhao)亨(heng)=1000kH / 1kH=1000H]

Q    品質因數(shu)[無(wu)單位]

Rx   試品電(dian)阻值[1MΩ=1000kΩ / 1kΩ=1000Ω]

Ux&nbsp;  試驗電壓(ya)[1kV=1000V / 1V=1000mV]

Ix   試品電流[1A=1000mA / 1mA=1000μA]

Φ   試(shi)品(pin)電流(liu)超前(qian)試(shi)驗電壓(ya)(ya)的角度(du)[°度(du)]或(huo)測變(bian)比時一次(ci)電壓(ya)(ya)超前(qian)二(er)次(ci)電壓(ya)(ya)的角度(du)

K    測CVT變比時(shi)，一(yi)次電(dian)(dian)壓比二次電(dian)(dian)壓

f1   頻(pin)率[Hz]，顯示**次測試頻(pin)率

f2   頻率[Hz]，顯(xian)示(shi)**次測試頻率

顯示(shi)over表示(shi)測量數據超量程。

3.2.8.2反接線低壓屏蔽測試結果界面

反接(jie)線低壓屏蔽測試一次接(jie)線可(ke)同(tong)時(shi)測出C11和C下節(jie)(下端屏蔽部分(fen))的電容量和介損(sun)值(zhi)。

3.2.8.3 CVT自激法測(ce)試結果界面

CVT自激法按測量接(jie)(jie)(jie)線，與(yu)試品輸入Cx插座(zuo)連(lian)接(jie)(jie)(jie)的(de)(de)(de)定義為(wei)C1，與(yu)高(gao)(gao)壓(ya)線連(lian)接(jie)(jie)(jie)的(de)(de)(de)為(wei)C2。U1為(wei)測量C1時(shi)的(de)(de)(de)高(gao)(gao)壓(ya)，U2為(wei)測量C2時(shi)的(de)(de)(de)高(gao)(gao)壓(ya)。

3.3歷史數據

進入歷史數(shu)據菜單界面(mian)如圖3-12所示(shi)。

移(yi)動(dong)光標到(dao)(dao)“U盤”選(xuan)(xuan)項按(an)(an)“確(que)定(ding)”鍵(jian)可將數(shu)據(ju)導出到(dao)(dao)U盤，上移(yi)到(dao)(dao)“清空”選(xuan)(xuan)項按(an)(an)“確(que)定(ding)”鍵(jian)可清空保(bao)存的全(quan)部數(shu)據(ju)。將光標移(yi)動(dong)到(dao)(dao)“>>>>”選(xuan)(xuan)項按(an)(an)下“確(que)定(ding)”鍵(jian)進(jin)入(ru)數(shu)據(ju)選(xuan)(xuan)擇界(jie)(jie)面，光標位置默認(ren)停留在*近(jin)保(bao)存的單條數(shu)據(ju)上，若要(yao)(yao)查(cha)看(kan)其他數(shu)據(ju)可上下移(yi)動(dong)光標進(jin)行選(xuan)(xuan)擇，選(xuan)(xuan)擇好要(yao)(yao)查(cha)看(kan)的數(shu)據(ju)后(hou)按(an)(an)“確(que)定(ding)”按(an)(an)鈕進(jin)入(ru)單條歷史數(shu)據(ju)顯示(shi)界(jie)(jie)面。歷史數(shu)據(ju)選(xuan)(xuan)擇界(jie)(jie)面和(he)單條歷史數(shu)據(ju)顯示(shi)界(jie)(jie)面如圖3-13和(he)圖3-14所示(shi)。

進(jin)入單(dan)條歷史數(shu)據(ju)顯示界面后，在左側(ce)功(gong)能選項區上下移(yi)動光標(biao)可選擇打印(yin)、刪除本條數(shu)據(ju)和退出單(dan)條歷史數(shu)據(ju)顯示界面。

3.4系統(tong)設置

進(jin)入系(xi)統設(she)置(zhi)菜(cai)單可(ke)進(jin)行系(xi)統時間校(xiao)準，“出(chu)廠設(she)置(zhi)”參(can)數禁止用戶修改，只允許生產廠家進(jin)行出(chu)廠參(can)數設(she)置(zhi)。

3.5幫(bang)助

可(ke)查看儀(yi)器的相關(guan)操作指導(dao)。

3.6啟動測量

進入測(ce)試(shi)界面設置好各項(xiang)試(shi)驗參數后，將光(guang)標移(yi)動(dong)到“開始測(ce)試(shi)”功能選項(xiang)上(shang)，按(an)住“確認”鍵3s以上(shang)啟動(dong)測(ce)量。

啟動測量(liang)后發出聲光(guang)報警；在測試(shi)過(guo)程中會實時顯示測試(shi)相關參(can)數(shu)（電壓、電流、頻率(lv)、電容量(liang)等(deng)參(can)數(shu)）和測量(liang)進(jin)程(0%～99%)。

測(ce)量(liang)中按“確認”鍵可取消測(ce)量(liang)，遇緊急情(qing)況立即關閉(bi)總(zong)電源(yuan)。

測量過程結束，儀器自(zi)動(dong)降壓后再顯示(shi)結果。

3.7對比度調節

液(ye)(ye)晶顯示屏的對比度已在出廠(chang)時校好，如果您(nin)感覺(jue)不夠清晰，調整面板(ban)上的電位器使液(ye)(ye)晶顯示屏顯示內(nei)容清晰為止。

4、參考接線

4.1常規(gui)正(zheng)接線(xian)（正(zheng)接線(xian)、內(nei)標準電容、內(nei)高壓）

4.2常規(gui)反接(jie)線（反接(jie)線、內標準電容(rong)、內高壓）

4.3正接線(xian)、外標準電容(rong)、內高壓

4.4反接線、外(wai)標準電容、內(nei)高壓

4.5正接線、內(nei)標準電容、外高壓

4.6反接(jie)線、內(nei)標(biao)準電(dian)容、外高(gao)壓

4.7正接線(xian)、外(wai)標準(zhun)電容、外(wai)高壓(ya)（高電壓(ya)介損）

4.8反接線、外標準電容、外高壓(ya)

4.9反接線(xian)低壓(ya)屏蔽

可(ke)在220kV CVT母線(xian)(xian)(xian)接(jie)地(di)情況下(xia)，對C11進行不(bu)拆線(xian)(xian)(xian)10kV反(fan)接(jie)線(xian)(xian)(xian)介損測(ce)量(liang)。如下(xia)圖所示：母線(xian)(xian)(xian)掛地(di)線(xian)(xian)(xian)，C11上端(duan)不(bu)拆線(xian)(xian)(xian)，C11下(xia)端(duan)接(jie)高壓(ya)線(xian)(xian)(xian)芯線(xian)(xian)(xian)，C2末端(duan)δ和(he)(he)X接(jie)Cx芯線(xian)(xian)(xian)。這樣(yang)C12和(he)(he)C2被低壓(ya)屏(ping)(ping)蔽，儀器采(cai)用反(fan)接(jie)線(xian)(xian)(xian)低壓(ya)屏(ping)(ping)蔽測(ce)量(liang)方(fang)式，可(ke)同時測(ce)出C11和(he)(he)下(xia)端(duan)被屏(ping)(ping)蔽部(bu)分的電容量(liang)和(he)(he)介損值。

4.10 CVT自(zi)激法(fa)

高壓(ya)線(xian)芯線(xian)接(jie)C2下端(duan)，Cx芯線(xian)接(jie)C12上(shang)端(duan)。在CVT 自激(ji)法測(ce)量中，儀(yi)器先測(ce)量C12，然后自動倒(dao)線(xian)測(ce)量C2，并自動校(xiao)準分壓(ya)影響。

1）D型高(gao)(gao)(gao)壓連線(xian)不可拖地，高(gao)(gao)(gao)壓線(xian)應懸空(kong)不能接(jie)觸地面（高(gao)(gao)(gao)壓線(xian)的接(jie)地屏蔽層插(cha)頭(tou)必須懸空(kong)），否則其對地附加介損會引(yin)起(qi)(qi)誤(wu)差，可用(yong)細(xi)電(dian)纜連接(jie)高(gao)(gao)(gao)壓插(cha)座與CVT試品并吊起(qi)(qi)。

2）E、F、S、J型高壓連線可拖地使用，在開機初始界面（圖3-1界面），光標停留在“測試模式”處長按“→”鍵（聽到蜂鳴器聲音松手）可取消或使用拖地模式（右下角顯示“”表示當前為拖地模式），在拖地模式下必須將高壓連線的接地屏蔽層插頭接至圖2-1中的“1”（高壓測量接地）處，否則會引起測量誤差；取消拖地模式后高壓連線必須懸空吊起，高壓連線的接地屏蔽層插頭也應懸空，否則會引起測量誤差。拖地模式下的高壓連線必須使用原廠配置的電纜（已校準），否則會引起測量誤差！

4.11 CVT變比測試

儀器高壓線(xian)的(de)(de)芯線(xian)紅夾(jia)(jia)子接(jie)(jie)CVT的(de)(de)上端，母線(xian)拆地，CVT下端接(jie)(jie)地，低壓線(xian)紅黑夾(jia)(jia)子接(jie)(jie)二次(ci)繞組。

5、常見CVT的參考測量(liang)方法

目前(qian)常見(jian)的(de)電(dian)容(rong)式電(dian)壓(ya)互感器可分為110kV、220kV、500kV等不同電(dian)壓(ya)等級，一般110kV的(de)CVT其C1就(jiu)一節，220kV的(de)CVT其C1有兩節，而500kV的(de)CVT其C1有三節。

5.1  500kV CVT的測量(liang)方法

1）C11的(de)測量方(fang)法

按圖5-1標明的方(fang)式接線，測量(liang)C11時(shi)應注意(yi)：

◇ 拆開δ端，X端一定要(yao)接(jie)地

◇ a點接紅(hong)色高壓(ya)測試線(xian)的芯(xin)線(xian)（紅(hong)夾子），b點接紅(hong)色高壓(ya)測試線(xian)的高壓(ya)屏蔽層（黑夾子）

2）C12的測量方法

按圖5-2標明的方(fang)式(shi)接(jie)線，測(ce)量C12時(shi)注意：

◇ 拆(chai)開δ端，X端一定要(yao)接(jie)地

◇ a點接(jie)(jie)紅色(se)高壓(ya)測試線芯(xin)線（紅夾子），b點接(jie)(jie)黑色(se)低壓(ya)測試線芯(xin)線（紅夾子）

3）C13和C2的測量方法

儀(yi)器設有專(zhuan)門(men)的CVT自激法(fa)，不需外加任何其它設備，就可(ke)以(yi)完成測(ce)試。按圖5-3標明(ming)的方式接(jie)線(xian)，儀(yi)器選用CVT自激法(fa)測(ce)量(liang)方式，試驗電(dian)壓可(ke)設置(zhi)為(wei)2kV，CVT自激法(fa)能一次(ci)測(ce)量(liang)C13和C2兩個電(dian)容(rong)的介損(sun)和電(dian)容(rong)量(liang)。

5.2  220kV CVT的測(ce)量方法

1）C11的測量(liang)方法

按圖5-4標明(ming)的方(fang)式接(jie)線，測量C11時注意(yi)：

◇ δ和X相(xiang)連，與接地分開。

◇ a點(dian)接紅(hong)色高壓測試線的芯線（紅(hong)夾子），C2末(mo)端δ和X 接Cx端芯線，這樣C12與(yu)C2就被低壓屏蔽了。

2）C12和C2的測量方法

儀(yi)器設(she)有專門的CVT自激(ji)法(fa)(fa)(fa)，不需外加任何(he)其(qi)它設(she)備(bei)，就可以完(wan)成測(ce)試(shi)。按圖(tu)5-5標明的方(fang)式接(jie)線，儀(yi)器選用CVT自激(ji)法(fa)(fa)(fa)測(ce)量方(fang)式，試(shi)驗(yan)電(dian)壓可設(she)置為2kV，CVT自激(ji)法(fa)(fa)(fa)能一次測(ce)量C12和C2兩個電(dian)容的介(jie)損(sun)和電(dian)容量。

5.3  110kV CVT的測量方法

儀器(qi)設(she)有專(zhuan)門的(de)(de)CVT自激(ji)法，不(bu)需外(wai)加任何其它設(she)備，就可以(yi)完(wan)成測試(shi)。按(an)圖5-6標(biao)明(ming)的(de)(de)方式(shi)接線，儀器(qi)選用CVT自激(ji)法測量方式(shi)，試(shi)驗電壓可設(she)置為2kV，CVT自激(ji)法能一次測量C13和C2兩個電容的(de)(de)介損和電容量。

6、現(xian)場試驗注意事項

如果使用中出現測試數據明(ming)顯不合理，請從以下方(fang)面查找原因：

6.1搭鉤(gou)接觸**

現(xian)場測量使用(yong)搭鉤(gou)連接(jie)(jie)試(shi)品時，搭鉤(gou)務必與試(shi)品接(jie)(jie)觸良好，否則接(jie)(jie)觸點放電(dian)會引(yin)起(qi)數(shu)據嚴重波動(dong)(dong)！尤其是引(yin)流線(xian)氧化層太厚，或風(feng)吹線(xian)擺動(dong)(dong)，易造成接(jie)(jie)觸**。

6.2接(jie)地接(jie)觸(chu)**

接地(di)**會(hui)引(yin)起(qi)儀(yi)器(qi)保(bao)護或數(shu)據嚴重波(bo)動(dong)。應刮(gua)凈(jing)接地(di)點(dian)上的油(you)漆(qi)和銹蝕，務必保(bao)證(zheng)0電阻接地(di)！

6.3直接測量(liang)CVT或(huo)末端屏(ping)蔽法測量(liang)電磁式PT

直(zhi)接(jie)測(ce)(ce)量CVT的下節(jie)耦合電(dian)容會出現負介損，消除負介損可(ke)采取下述措施(shi)或改用CVT自激(ji)法(fa)測(ce)(ce)量：

1）測試時測量儀(yi)器的接(jie)地端直(zhi)接(jie)接(jie)在被(bei)試品(pin)的金屬底(di)座上，并保證接(jie)觸良好。

2）條件允(yun)許時盡可(ke)能將(jiang)非被(bei)試繞(rao)組短接，以減小(xiao)電(dian)感和(he)鐵心(xin)損耗(hao)的影響。

3）被試品周圍(wei)不應有鐵架、腳手架、木梯等物體(ti)，盡可能(neng)減小分布阻抗的影響。

4）試(shi)驗引線與(yu)被試(shi)品的(de)夾(jia)角應盡可能(neng)接近90°，以減(jian)小線與(yu)試(shi)品間的(de)分布電(dian)容。

用末端(duan)屏蔽(bi)法(fa)測量電磁式(shi)PT時(shi)，由(you)于(yu)受潮(chao)引起“T形網絡(luo)干擾”出現負介(jie)損(sun)，吹干下面三(san)裙瓷套和接線(xian)端(duan)子盤即可。也可改用常規法(fa)或末端(duan)加壓法(fa)測量。

6.4空氣(qi)濕度(du)過大

空氣(qi)濕度大使介損(sun)測量值異常增大（或(huo)減小甚至(zhi)為(wei)負）且不穩定，必要時(shi)可加屏(ping)蔽環。因人為(wei)加屏(ping)蔽環改變了試(shi)品電場分布(bu)，此法有(you)爭議，可參(can)照有(you)關規(gui)程。

6.5發電機供電

發電機供電時(shi)可采用定頻(pin)50Hz模式(shi)工作。

6.6測試(shi)線

1）由于長期使用，易造(zao)成測試線隱性斷路(lu)，或芯(xin)線和屏蔽短路(lu)，或插(cha)頭接觸**，用戶應(ying)經常維(wei)護測試線。

2）測試標準電容試品時(shi)，應(ying)使用全屏蔽插(cha)頭連接，以消除(chu)附(fu)加(jia)雜散電容影(ying)響(xiang)，否則(ze)不能反映儀(yi)器精度。

3）自(zi)激法測量CVT時(shi)，若使(shi)用(yong)“高(gao)(gao)壓(ya)連線(xian)拖(tuo)地(di)”功能，請務必使(shi)用(yong)原廠(chang)配置的(de)專(zhuan)用(yong)高(gao)(gao)壓(ya)電(dian)(dian)纜(lan)(lan)（原廠(chang)電(dian)(dian)纜(lan)(lan)在出廠(chang)時(shi)已(yi)進(jin)行校(xiao)準(zhun)），高(gao)(gao)壓(ya)連線(xian)的(de)接(jie)地(di)屏(ping)蔽層必須接(jie)地(di)，不(bu)可(ke)使(shi)用(yong)其它(ta)高(gao)(gao)壓(ya)電(dian)(dian)纜(lan)(lan)代替，否則會引起(qi)較大的(de)測量誤差(cha)。若拖(tuo)地(di)模式下測量誤差(cha)較大，則需(xu)將專(zhuan)用(yong)高(gao)(gao)壓(ya)電(dian)(dian)纜(lan)(lan)返廠(chang)重新進(jin)行校(xiao)準(zhun)。

4）自激法(fa)測量CVT時，非(fei)專用(yong)的(de)高(gao)(gao)壓線應吊起懸空，否(fou)則對(dui)地(di)(di)附加(jia)雜散(san)電容和介損會引起測量誤差。使用(yong)專用(yong)電纜(lan)在非(fei)拖地(di)(di)模式下測量CVT，高(gao)(gao)壓電纜(lan)也應懸空且電纜(lan)的(de)接(jie)地(di)(di)屏(ping)蔽層不(bu)能接(jie)地(di)(di)，否(fou)則會引起較大的(de)測量誤差。

6.7工作模式(shi)選(xuan)擇

接好線后請選擇正確的測(ce)量工作模(mo)式(shi)，不可選錯。特別(bie)是(shi)干擾環(huan)境(jing)下應選用變頻抗干擾模(mo)式(shi)。

6.8試驗方法影(ying)響

由(you)于(yu)介損測量受試驗方(fang)法影響(xiang)較大，應(ying)區分是試驗方(fang)法誤差還是儀器誤差。出現問(wen)題時可首先(xian)檢查(cha)接(jie)線，然后檢查(cha)是否為儀器故(gu)障。

6.9儀器故(gu)障

1）用(yong)萬用(yong)表測量一下測試線(xian)是否斷路，或(huo)芯線(xian)和屏蔽是否短路；

2）輸入電源220V過(guo)高或過(guo)低；接地是否良好(hao)；

3）用正(zheng)、反接線(xian)測一下標準電容器(qi)或已知容量和介(jie)損(sun)的電容試(shi)品(pin)，如果(guo)結果(guo)正(zheng)確，即可判斷(duan)儀器(qi)沒有問題(ti)；

4）拔下所有(you)測試導線，進行空試升壓，若不能(neng)正常(chang)工(gong)作，儀器可能(neng)有(you)故障。

7、儀(yi)器檢(jian)定

7.1檢定

用帶插頭的(de)屏蔽電(dian)纜連接標準(zhun)損耗(hao)器。如果不能保證標準(zhun)損耗(hao)器的(de)精度(du)，應使用比對(dui)法檢(jian)定，建議用2801電(dian)橋或(huo)其它精密(mi)電(dian)橋作比對(dui)標準(zhun)。

1）介質損耗因數(shu)標(biao)準(zhun)器一般為串聯(lian)模(mo)型，因此儀器的(de)試品模(mo)型應選擇(ze)“RC串聯(lian)(電流比(bi)較儀型電橋)”或“RC串聯(lian)(西林型電橋)”。

RC串聯(電(dian)流(liu)比較儀型(xing)電(dian)橋)：采用電(dian)流(liu)比較儀型(xing)電(dian)橋（如(ru)QS30電(dian)橋）校準的(de)串聯型(xing)試品(或介質損耗(hao)因數標(biao)準器(qi))，該項在開始測試界(jie)面顯示"RC串聯"。

RC串聯(西林型電橋)： 采用西林型電橋（如2801、QS1和QS37等電橋）校準的串聯型試品(或介質損耗因數標準器) ，該項在開始測試界面顯示 "RC串聯"。

采用(yong)電(dian)流比較儀型電(dian)橋和(he)西林型電(dian)橋校準的串聯型試品(或介(jie)質損(sun)耗因(yin)數(shu)標(biao)準器(qi))的區別只是電(dian)容(rong)量不同：

為西林型電橋標定值，C為電流比較儀型電橋標定值。

2）用介質損耗(hao)因數(shu)標(biao)準(zhun)器(qi)(qi)（或標(biao)準(zhun)電(dian)容器(qi)(qi)）檢定(ding)儀器(qi)(qi)反接(jie)(jie)線(xian)精度時，高壓電(dian)纜與試(shi)品連接(jie)(jie)必(bi)須使用全屏(ping)蔽插頭，否則暴露的芯線(xian)會(hui)引起測量誤差。

3）用(yong)介質損耗因數標準器（或(huo)標準電容器）檢定儀器正接線(xian)精(jing)度時，低壓電纜與試(shi)品連(lian)接必須使(shi)用(yong)全屏蔽插頭，否(fou)則暴(bao)露的芯線(xian)會引起(qi)測量誤差。

嚴格按照上(shang)述要求檢定方能真實反映本(ben)儀器的測量精度！

7.2抗干擾(rao)能力

設置一(yi)個回路向儀器注入定量的干擾電流(liu)。

注意：

1）應考(kao)慮到該回(hui)路可(ke)能成(cheng)為試品(pin)的一部(bu)分。

2）儀(yi)器啟動后會使220V供電電路帶有測量頻率分量，如果該頻率分量又(you)通過干擾電流進入儀(yi)器，則無法檢驗儀(yi)器的(de)抗干擾能力。

3）不建議用臨近高壓導體施加干擾，因(yin)為(wei)這(zhe)樣很容易(yi)產生近距離**放(fang)電，這(zhe)種放(fang)電電阻是非線(xian)性的，容易(yi)產生同(tong)頻(pin)干擾。