1、WBJS6000高精密精密介質損耗測試儀特(te)點及性(xing)能

介損(sun)絕緣試驗可(ke)以(yi)有(you)效地發現(xian)電器(qi)設(she)備絕緣的(de)整(zheng)體受潮劣化(hua)變質以(yi)及局部缺陷等，在電工制(zhi)造、電氣設(she)備安(an)裝(zhuang)、交接和預防性試驗中都(dou)廣(guang)泛應用。

介(jie)質損(sun)耗(hao)測(ce)量(liang)儀(yi)用于現場介(jie)損(sun)測(ce)量(liang)或試(shi)驗室精密介(jie)損(sun)測(ce)量(liang)。儀(yi)器(qi)(qi)為一體(ti)化結構(gou)，內置介(jie)損(sun)電(dian)橋(qiao)、變(bian)頻電(dian)源(yuan)、試(shi)驗變(bian)壓器(qi)(qi)和(he)標準電(dian)容器(qi)(qi)等(deng)。儀(yi)器(qi)(qi)采用變(bian)頻抗干擾和(he)傅立葉變(bian)換數字濾波技術，全(quan)自動智能化測(ce)量(liang)，強干擾下測(ce)量(liang)數據非常穩定。測(ce)量(liang)結果由大屏幕液晶顯示，儀(yi)器(qi)(qi)自帶微型(xing)打(da)(da)印(yin)機(ji)可打(da)(da)印(yin)輸出測(ce)試(shi)結果。

1.1主要技術指標

額定工(gong)作條件：環境溫度  -10℃～50℃

相(xiang)對濕度  <85%阿

輸入電(dian)源：    180V～270VAC，50Hz/60Hz±1%，市電(dian)或發電(dian)機供(gong)電(dian)

準確度：    &nbsp; Cx: ±（讀數×1%+1pF）

tgδ: ±（讀數×1%+0.00040）

抗(kang)干擾(rao)(rao)指標：   變頻抗(kang)干擾(rao)(rao)，在(zai)200%干擾(rao)(rao)下(xia)仍能達到上述(shu)準(zhun)確(que)度

電容量范圍：   內(nei)施高(gao)壓：3pF～60000pF/10kV  ;  60pF～1μF/0.5kV

外(wai)施高壓：3pF～1.5μF/10kV      60pF～30μF/0.5kV

分辨(bian)率：  ; &nbsp;   *高0.001pF，4位有效數(shu)字

tgδ范圍：  &nbsp;  不限，分辨率0.001%，電容、電感、電阻三(san)種試品自動識(shi)別(bie)。

試(shi)驗電(dian)流(liu)范(fan)圍： 10μA～5A

內施(shi)高(gao)壓(ya)(ya)：    設定電壓(ya)(ya)范(fan)圍：0.5～10kV

*大(da)輸出(chu)電流：200mA

升降(jiang)壓(ya)方式：連續平滑(hua)調(diao)節

電壓精度：±(1.0%×讀數+10V)

電壓(ya)分辨(bian)率：0.1V

試驗(yan)頻率：45、50、55、60、65Hz 單頻

45/55Hz、55/65Hz、47.5/52.5Hz 自動雙變頻

頻率(lv)精(jing)度(du)：±0.01Hz

外施高壓：    正、反接線時(shi)*大試驗(yan)電流5A

CVT自(zi)激法(fa)低壓(ya)輸出：輸出電壓(ya)3～50V，輸出電流(liu)3～30A

高電(dian)壓介損：  支持變頻和諧振(zhen)電(dian)源高電(dian)壓介損

實時(shi)時(shi)鐘(zhong)：    實時(shi)顯示時(shi)間和(he)日期

內(nei)部(bu)存儲：    儀器(qi)內(nei)部(bu)可存儲100組測(ce)量數據

U盤： &nbsp;      支持U盤存儲

打(da)印(yin)機：      微(wei)型熱(re)敏打(da)印(yin)機

計算機接(jie)口(kou)：  標準RS232接(jie)口(kou)（選配）

尺寸(cun)重(zhong)量(liang)：    K型(xing)：外形尺寸(cun)368mm×288mm×280mm；主機重(zhong)量(liang)22kg。

其(qi)他(ta)款型(xing)：外形尺寸430mm×314mm×334mm；主機(ji)重量30kg。

注(zhu)：上述為E型(xing)主要技(ji)(ji)術(shu)(shu)指(zhi)標(biao)，其(qi)它型(xing)號技(ji)(ji)術(shu)(shu)指(zhi)標(biao)詳見本章節“1.3.6各型(xing)號測(ce)試功能說明(ming)”。

1.2 WBJS6000高精密精密介質損耗測試儀系列型號功能列表

1.3 WBJS6000高精密精密介質損耗測試儀主要功能特點

1.3.1 變頻(pin)抗干擾

采(cai)用變(bian)頻抗干擾技術，在200%干擾下(xia)仍能準確測(ce)量，測(ce)試(shi)數(shu)據穩定，適合(he)在現(xian)場做抗干擾介損試(shi)驗。

1.3.2高(gao)精度(du)測量

采用數字波(bo)形分析和電(dian)橋自(zi)校準等(deng)技術，配(pei)合(he)高精度(du)三端(duan)標準電(dian)容器，實(shi)現高精度(du)介損測量。儀(yi)器所有量程(cheng)輸入電(dian)阻(zu)低于2Ω，消除了(le)測量電(dian)纜附加電(dian)容的(de)影響。

1.3.3**措施(shi)

高壓保護(hu)：試品短路、擊(ji)穿或(huo)高壓電(dian)流波動，能以(yi)短路方式高速切斷輸出(chu)。

供電保護(hu)：誤接380V、電源波動或突然斷電，啟動保護(hu)，不會引起(qi)過電壓。

接(jie)(jie)地(di)(di)保護：具有接(jie)(jie)地(di)(di)檢測功能，未接(jie)(jie)地(di)(di)時不能升壓，若(ruo)測量過程中儀器接(jie)(jie)地(di)(di)**則啟動接(jie)(jie)地(di)(di)保護。

CVT 保護：高壓側(ce)電(dian)壓和電(dian)流、低壓側(ce)電(dian)壓和電(dian)流四個保護限(xian)制，不會損壞設(she)備；誤選菜單(dan)不會輸(shu)出激(ji)磁電(dian)壓。CVT測(ce)量時無10kV高壓輸(shu)出。

防誤操(cao)作：兩級電(dian)源(yuan)開(kai)關；電(dian)壓、電(dian)流實時監視；多(duo)次(ci)按鍵確認；接線端子(zi)高(gao)/低壓分明；慢速升壓，可(ke)迅(xun)速降壓，聲(sheng)光(guang)報(bao)警。

防“容升(sheng)”：測量(liang)大容量(liang)試品時會出(chu)現(xian)電壓(ya)抬(tai)高的(de)“容升(sheng)”效應，儀器能自(zi)動(dong)跟蹤輸出(chu)電壓(ya)，保(bao)持試驗電壓(ya)恒(heng)定。

高壓(ya)電纜(lan)：為耐(nai)高壓(ya)絕緣導線(xian)，可拖地(di)使用。

抗震性能：儀器采用獨(du)特抗震設計，可(ke)耐(nai)受(shou)強烈長途運輸震動、顛簸(bo)而不會損壞。

1.3.4打印(yin)存儲

儀器自帶微型打印(yin)機，可(ke)以將(jiang)測量(liang)結果打印(yin)輸出，并將(jiang)測量(liang)結果存貯(zhu)到(dao)儀器內(nei)（可(ke)存儲100組測量(liang)數據）或U盤，以便日后(hou)查閱。

1.3.5實時(shi)時(shi)鐘

儀器內(nei)帶實(shi)時(shi)(shi)時(shi)(shi)鐘，實(shi)時(shi)(shi)顯示，并能記(ji)錄測量的(de)日期(qi)和時(shi)(shi)間(jian)。

1.3.6各型號測試(shi)功(gong)能說明

B型：輕便型，高(gao)壓*大輸出電流為(wei)140mA，具有正接線(xian)、反接線(xian)功能，可選(xuan)擇內(nei)/外標準電容、內(nei)/外高(gao)壓多(duo)種(zhong)工作(zuo)模式，一(yi)體化結(jie)構，可做各種(zhong)常(chang)規介損試驗。

D型(xing)：實用型(xing)，高壓*大輸出(chu)電(dian)流(liu)為(wei)200mA，具有正(zheng)接(jie)線(xian)、反(fan)接(jie)線(xian)、反(fan)接(jie)線(xian)低壓屏蔽、CVT自(zi)激(ji)法(fa)(fa)，反(fan)接(jie)線(xian)低壓屏蔽功能能在(zai)220kV CVT母線(xian)接(jie)地情況(kuang)下，對C11進(jin)行不拆線(xian)10kV反(fan)接(jie)線(xian)介損測量(liang)，并可一次接(jie)線(xian)同時測出(chu)兩(liang)個電(dian)容的(de)電(dian)容量(liang)和介損值。CVT自(zi)激(ji)法(fa)(fa)測量(liang)時，C1/C2可一次接(jie)線(xian)同時測出(chu)，無須換線(xian)和外接(jie)任何(he)配件(jian)，但(dan)高壓測量(liang)線(xian)需懸空吊起。

E型(xing)：標準型(xing)，在D型(xing)基礎(chu)上增(zeng)加了CVT變比(bi)測(ce)(ce)試(shi)功能，同時升級了CVT自激法(fa)測(ce)(ce)試(shi)，現場CVT自激法(fa)測(ce)(ce)試(shi)時高壓測(ce)(ce)量(liang)線可拖(tuo)地(di)使用，無需吊起。

F型：增強型，功能同E型，輸出*高電壓從10kV增加(jia)至12kV。

K型：標準型，在(zai)E型基礎上減小(xiao)體積(ji)重量(liang)，設備(bei)更精(jing)巧。

S型(xing)(xing)：四通(tong)道型(xing)(xing)，功能(neng)同(tong)E型(xing)(xing)，增加了3個(ge)正接(jie)通(tong)道。

J型(xing)：高(gao)精度型(xing)，功能(neng)同E型(xing)，測量準確度為0.5%。

所(suo)有(you)型號儀器均具備下述特點(dian)：

（1）支持變頻和諧振電(dian)源高電(dian)壓(ya)介(jie)損(sun)。

（2）內置串聯和(he)并聯兩種介損測量(liang)模(mo)型，方便儀器(qi)檢定。

（3）配置(zhi)熱敏打印機，使打印更加快(kuai)捷(jie)、無(wu)噪音和(he)清晰。

（4）320×240點陣大屏液晶顯示(shi)，菜單操作，測(ce)試數據豐富(fu)，自動分(fen)辨(bian)電(dian)容、電(dian)感、電(dian)阻型試品。

（5）具(ju)有外(wai)接(jie)(jie)標準(zhun)電(dian)容器接(jie)(jie)口，可(ke)(ke)外(wai)接(jie)(jie)油杯做(zuo)精密(mi)絕緣(yuan)油介損試(shi)(shi)驗(yan)，可(ke)(ke)外(wai)接(jie)(jie)固(gu)體材(cai)料測量電(dian)極做(zuo)精密(mi)絕緣(yuan)材(cai)料介損試(shi)(shi)驗(yan)，也可(ke)(ke)外(wai)接(jie)(jie)高壓標準(zhun)電(dian)容器做(zuo)高電(dian)壓介損試(shi)(shi)驗(yan)。

（6）帶(dai)日歷時鐘，可(ke)存儲100組測量數據。

（7）計算機接口(kou)（選配）。

2、WBJS6000高精密精密介質損耗測試儀面板說明(ming)

高(gao)壓(ya)輸出測(ce)(ce)(ce)量接(jie)(jie)地(di)(di)(di)：若出廠配(pei)置(zhi)的高(gao)壓(ya)測(ce)(ce)(ce)試線(xian)有接(jie)(jie)地(di)(di)(di)屏蔽(bi)層(ceng)，則需將高(gao)壓(ya)測(ce)(ce)(ce)量線(xian)的接(jie)(jie)地(di)(di)(di)屏蔽(bi)層(ceng)連接(jie)(jie)至此處，沒有則留空(kong)。CVT自激法測(ce)(ce)(ce)量的高(gao)壓(ya)連線(xian)接(jie)(jie)地(di)(di)(di)屏蔽(bi)層(ceng)在(zai)拖地(di)(di)(di)模式(shi)下必須接(jie)(jie)地(di)(di)(di)，非拖地(di)(di)(di)模式(shi)下接(jie)(jie)地(di)(di)(di)屏蔽(bi)層(ceng)應(ying)懸空(kong)不能(neng)接(jie)(jie)地(di)(di)(di)且高(gao)壓(ya)測(ce)(ce)(ce)量線(xian)也應(ying)懸空(kong)吊起不能(neng)拖地(di)(di)(di)。

高(gao)壓輸出插座（0.5～10kV，*大200mA）

安(an)裝(zhuang)位(wei)置(zhi)：如圖(tu)2-1所示，安(an)裝(zhuang)在箱(xiang)體前側面。

功   &nbsp;能：內(nei)高壓輸出(chu)；檢測反接線試品電(dian)流；內(nei)部標準電(dian)容器的高壓端。

接(jie)(jie)(jie)線(xian)方法：插座1腳(jiao)接(jie)(jie)(jie)高(gao)壓(ya)(ya)線(xian)芯(xin)線(xian)（紅夾子(zi)），2、3腳(jiao)接(jie)(jie)(jie)高(gao)壓(ya)(ya)線(xian)屏蔽(bi)(bi)（黑夾子(zi)）。正接(jie)(jie)(jie)線(xian)時，高(gao)壓(ya)(ya)線(xian)芯(xin)線(xian)（紅夾子(zi)）和(he)屏蔽(bi)(bi)（黑夾子(zi)）都(dou)可(ke)以用(yong)作加壓(ya)(ya)線(xian)；反接(jie)(jie)(jie)線(xian)時只能用(yong)芯(xin)線(xian)對試(shi)品高(gao)壓(ya)(ya)端(duan)加壓(ya)(ya)。如(ru)果試(shi)品高(gao)壓(ya)(ya)端(duan)有屏蔽(bi)(bi)極（如(ru)高(gao)壓(ya)(ya)端(duan)的(de)屏蔽(bi)(bi)環）可(ke)接(jie)(jie)(jie)高(gao)壓(ya)(ya)屏蔽(bi)(bi)，無屏蔽(bi)(bi)時高(gao)壓(ya)(ya)屏蔽(bi)(bi)懸空(kong)。若配置的(de)高(gao)壓(ya)(ya)測(ce)試(shi)線(xian)有接(jie)(jie)(jie)地屏蔽(bi)(bi)層，則需(xu)將高(gao)壓(ya)(ya)測(ce)量(liang)線(xian)的(de)接(jie)(jie)(jie)地屏蔽(bi)(bi)層連接(jie)(jie)(jie)至圖2-1中的(de)“1”處。

注意事項：

（1）若儀器(qi)CVT自(zi)(zi)激(ji)法高壓連線(xian)具備“高壓拖地(di)”功能(neng)，使(shi)用(yong)拖地(di)模(mo)式(shi)測量(liang)時(shi)務必使(shi)用(yong)原(yuan)廠(chang)配置的專(zhuan)用(yong)高壓電(dian)(dian)纜(lan)（原(yuan)廠(chang)電(dian)(dian)纜(lan)在出廠(chang)時(shi)已進行校準），不(bu)(bu)可使(shi)用(yong)其它高壓電(dian)(dian)纜(lan)代替，否則會(hui)引起較大的測量(liang)誤差。CVT自(zi)(zi)激(ji)法不(bu)(bu)使(shi)用(yong)拖地(di)模(mo)式(shi)時(shi)，高壓電(dian)(dian)纜(lan)必須懸空，接地(di)屏蔽層也(ye)不(bu)(bu)能(neng)接地(di)！

（2）高壓插座和(he)高壓線有(you)危險(xian)電(dian)(dian)壓，**禁止碰觸高壓插座、電(dian)(dian)纜、夾子和(he)試品帶電(dian)(dian)部位！確認斷電(dian)(dian)后接線，測量時務必遠(yuan)離！

（3）用標準介損器（或(huo)標準電容器）檢定反接線精度(du)時，應使用全(quan)屏蔽插頭連接試品，否則暴露的芯線會引起測量(liang)誤差。

（4）應保證(zheng)高壓線與(yu)試品(pin)高壓端(duan)零(ling)電阻連接，否則可(ke)能(neng)引起誤差或數(shu)據波動，也可(ke)能(neng)引起儀(yi)器保護。

（5）強(qiang)干擾下拆除(chu)接線(xian)時，應在保持電(dian)纜接地狀態(tai)下斷開連接，以防(fang)感應電(dian)擊。

CVT自激法低壓輸出插座(zuo)（3～50V，3～30A）

功    能：由該插座和圖2-1中的(de)(de)接地接線柱“4”輸(shu)出CVT測(ce)量的(de)(de)低壓變頻激(ji)勵電源。

注意事(shi)項(xiang)：

（1）因低壓輸出電流大，應采用儀器專用低阻線連(lian)接CVT二(er)次(ci)繞(rao)組，接觸**會影(ying)響測量(liang)。

（2）視CVT容(rong)量從菜單選擇合(he)適(shi)的電壓電流保護限。

（3）選擇正/反接線時，此輸(shu)出封(feng)閉。

測量(liang)(liang)接地(di)：它同(tong)外(wai)殼和電(dian)源插座地(di)線連到一(yi)起(qi)，與圖2-1的(de)“3”一(yi)起(qi)輸出CVT測量(liang)(liang)的(de)低壓(ya)變頻激勵(li)電(dian)源。盡管(guan)儀器有接地(di)保護，但無論何種測量(liang)(liang)，儀器都(dou)應可靠獨立接地(di)以保障使用者的(de)**及測量(liang)(liang)結果的(de)準確。

打印機：微型(xing)熱敏打印機，用于打印測試數據(ju)。

USB：USB通信用(yong)。

RS232：與計算機聯機使用。

U盤(pan)：用于外接U盤(pan)保(bao)存數(shu)據。

試(shi)品輸入Cx插座（10μA～5A）

功    ;能：正(zheng)接線(xian)時輸入試品電流。

接(jie)線(xian)(xian)(xian)(xian)方法：插座(zuo)1腳(jiao)接(jie)測量(liang)線(xian)(xian)(xian)(xian)芯(xin)線(xian)(xian)(xian)(xian)（紅(hong)夾子），2、3腳(jiao)接(jie)測量(liang)線(xian)(xian)(xian)(xian)屏(ping)蔽(bi)（黑(hei)夾子）。正接(jie)線(xian)(xian)(xian)(xian)時(shi)芯(xin)線(xian)(xian)(xian)(xian)（紅(hong)夾子）接(jie)試品(pin)(pin)低(di)壓(ya)信號端(duan)，如果(guo)試品(pin)(pin)低(di)壓(ya)端(duan)有屏(ping)蔽(bi)極（如低(di)壓(ya)端(duan)的(de)屏(ping)蔽(bi)環）可(ke)接(jie)屏(ping)蔽(bi)，試品(pin)(pin)無屏(ping)蔽(bi)時(shi)屏(ping)蔽(bi)懸空。

注意事(shi)項：

（1）測量中嚴禁拔下插頭，防止試品(pin)電流經人(ren)體入地！

（2）用(yong)標準介損(sun)器（或(huo)標準電容器）檢測儀(yi)器正(zheng)接線精度時(shi)，應使用(yong)全(quan)屏(ping)蔽插頭連接試(shi)品(pin)，否則暴露(lu)的芯線會引(yin)起測量(liang)誤(wu)差。

（3）應(ying)保(bao)證引線與(yu)試品低(di)壓端(duan)0電(dian)阻連(lian)接，否(fou)則可能引起誤差(cha)或(huo)數據波動，也可能引起儀(yi)器保(bao)護。

（4）強干擾(rao)下(xia)拆(chai)除接線(xian)時，應(ying)在保(bao)持電(dian)纜(lan)接地狀態下(xia)斷開連(lian)接，以防感(gan)應(ying)電(dian)擊。

標準電(dian)容輸入Cn插(cha)座（10μA～5A）

功    能：輸(shu)入外接標準電容器電流。

接(jie)線方法：與Cx插座類似，其區別在(zai)于：

（1）使用(yong)外部(bu)標準(zhun)電(dian)容器時，應使用(yong)全屏蔽插頭(tou)連接。此(ci)方式常用(yong)于(yu)外接高(gao)電(dian)壓(ya)等級標準(zhun)電(dian)容器，實(shi)現高(gao)電(dian)壓(ya)介損測量。

（2）菜單選擇“外標準電容”方式(shi)。

（3）將外接標準電容(rong)器的C和tgδ置入儀(yi)器，實現Cx電容(rong)介損的**值測量。

從理論上講(jiang)，任何容(rong)量(liang)和介(jie)損(sun)的(de)電(dian)容(rong)器(qi)(qi)，將參(can)數置入儀器(qi)(qi)都可做標(biao)準電(dian)容(rong)器(qi)(qi)。不同的(de)是標(biao)準電(dian)容(rong)器(qi)(qi)能提供更好的(de)長期穩定性(xing)和精(jing)度。

（4）不(bu)管正(zheng)接線還是反接線測量(liang)，標(biao)準電(dian)容器接線方式始終(zhong)為(wei)正(zheng)接線。

總電源開關：開關機用(yong)，可在發現異(yi)常時(shi)隨(sui)時(shi)關閉。

供電電源插座：接220V市電，插座內置(zhi)保(bao)(bao)險(xian)絲座，保(bao)(bao)險(xian)絲規格為10A / 250V，若(ruo)損壞應(ying)使用相同規格的(de)保(bao)(bao)險(xian)絲替換(huan)。若(ruo)換(huan)用備(bei)用保(bao)(bao)險(xian)絲后(hou)仍燒斷，可能(neng)儀器有故障，可通知(zhi)廠家(jia)處理。

高壓(ya)允許開(kai)關：內置高壓(ya)系統(tong)或(huo)CVT自激法低壓(ya)輸出系統(tong)的總電源(yuan)開(kai)關。此開(kai)關受總電源(yuan)開(kai)關控制(zhi)。

按(an)鍵(jian)(jian)(jian)：按(an)下“↑”、“↓”、“←”、“→”鍵(jian)(jian)(jian)可移動(dong)光(guang)標和修(xiu)改光(guang)標處內容，“確認(ren)”鍵(jian)(jian)(jian)用于確認(ren)或結束參數修(xiu)改，在測(ce)試界面(mian)長按(an)該鍵(jian)(jian)(jian)可開始測(ce)量，測(ce)量過(guo)程中，按(an)“確認(ren)”鍵(jian)(jian)(jian)可終止測(ce)量。

液晶(jing)顯示屏：320×240點(dian)陣灰白背光(guang)液晶(jing)顯示屏，顯示菜單(dan)、測(ce)量結果或出錯(cuo)信息。應避免長時間陽光(guang)爆曬，避免重壓。

背(bei)光(guang)調節：液晶顯示(shi)(shi)屏顯示(shi)(shi)較暗或不清(qing)晰時可調節該電位器至合適位置使顯示(shi)(shi)明亮清(qing)晰。

指示燈：配合儀器內(nei)部蜂鳴(ming)器進行測試、報(bao)警等聲光警示。

3、WBJS6000高精密精密介質損耗測試儀使用說明

3.1初始菜單界(jie)面

打開總電(dian)源開關后，系(xi)統(tong)進入初始菜單界面。

測試(shi)模式(shi)：選擇(ze)測試(shi)模式(shi)和設置各項測試(shi)參數，

歷史記錄(lu)：查看保存的歷史數據(ju)

系統設置：出廠參數設置及(ji)系統時間校準

幫(bang)    助：可查閱軟(ruan)件版本等信息(xi)

取消或使用(yong)CVT自(zi)激法“高壓連線(xian)拖地”功能：

開機右下角顯示“”表示該儀器在CVT自激法測試時高壓連線具備拖地功能。

光標停留在“測試模式”處長按“→”鍵（聽到蜂鳴器聲音松手）可取消或使用拖地模式（右下角顯示“”表示當前為拖地模式），在拖地模式下必須將高壓連線的接地屏蔽層插頭接至圖2-1中的“1”（高壓測量接地）處，否則會引起測量誤差；取消拖地模式后高壓連線必須懸空吊起，同時高壓連線的接地屏蔽層插頭也應懸空，否則會引起測量誤差。

使用或取消發“發電機(ji)供電”模式：

光標停留在“測試模式”處長按“←”鍵（聽到蜂鳴器聲音松手）可使用或取消發電機供電模式（左下角顯示“”表示當前為發電機供電模式），儀器開機默認為市電供電模式，發電機模式適合使用發電機或移動電源供電環境，發電機模式下儀器將不進行接地檢測。

3.2測試模式

3.2.1 開始測(ce)試菜單界面

在初始(shi)菜(cai)單(dan)界(jie)面(mian)將(jiang)光標移(yi)動到(dao)“測試模式”按確(que)定按鈕進(jin)入開始(shi)測試菜(cai)單(dan)界(jie)面(mian)，如圖3-2所示。

界面左側為參(can)數(shu)(shu)設(she)置(zhi)選項(xiang)，移(yi)動光標到(dao)相關參(can)數(shu)(shu)選項(xiang)按(an)確定(ding)鍵可(ke)設(she)置(zhi)相關試驗參(can)數(shu)(shu)，右側顯示內(nei)容為已設(she)置(zhi)好試驗參(can)數(shu)(shu)，光標停(ting)留在“開始(shi)測試”欄長(chang)按(an)“確認” 鍵可(ke)開始(shi)測試。

界(jie)面右側“測試(shi)地(di)(di)點”下一行(xing)為信息提(ti)示行(xing)，若內(nei)外高壓選擇有(you)誤則(ze)提(ti)示“當(dang)前為內(nei)高壓模(mo)式，請開啟內(nei)高壓”或“當(dang)前為外高壓模(mo)式，請關閉內(nei)高壓”；若儀器(qi)沒(mei)有(you)接(jie)(jie)地(di)(di)則(ze)會(hui)提(ti)示“請檢查接(jie)(jie)地(di)(di)”，當(dang)有(you)錯誤提(ti)示時儀器(qi)無法(fa)正常啟動(dong)，只有(you)提(ti)示“確認無誤后(hou)長按(an)確認鍵開始(shi)測試(shi)”時儀器(qi)方(fang)可啟動(dong)測試(shi)。

3.2.2 試品(pin)模型(xing)選(xuan)擇菜單界面

將光(guang)標移(yi)動到“試(shi)品(pin)模(mo)型(xing)(xing)”功能選(xuan)項，界(jie)面如(ru)圖3-3所示，按(an)“確認”按(an)鈕后移(yi)動光(guang)標可選(xuan)擇合適的試(shi)品(pin)模(mo)型(xing)(xing)（光(guang)標移(yi)動到相(xiang)應功能后按(an)確認鍵）。實驗(yan)室一般(ban)使用(yong)串聯(lian)型(xing)(xing)介損因數標準器檢(jian)定(ding)，校驗(yan)時應使用(yong)RC串聯(lian)模(mo)型(xing)(xing)。

RC串(chuan)聯(lian)(電(dian)流(liu)(liu)比(bi)較(jiao)儀型(xing)電(dian)橋)：采(cai)用(yong)電(dian)流(liu)(liu)比(bi)較(jiao)儀型(xing)電(dian)橋（如QS30電(dian)橋）校準的串(chuan)聯(lian)型(xing)試(shi)品(或介質(zhi)損耗因數標(biao)準器)，該(gai)項在開始測試(shi)界面顯示"RC串(chuan)聯(lian)"。

RC串聯(西林型電橋)： 采用西林型電橋（如2801、QS1和QS37等電橋）校準的串聯型試品(或介質損耗因數標準器) ，該項在開始測試界面顯示 "RC串聯"。

RC并(bing)聯(現場使用)：一(yi)般(ban)實際的電容(rong)試(shi)品可(ke)等(deng)效為RC并(bing)聯模型，建議現場試(shi)驗時使用。

采用電流比較儀型電橋和西林型電橋校準的串聯型試品(或介質損耗因數標準器)的區別只是電容量不同：為西林型電橋標定值，C為電流比較儀型電橋標定值。

3.2.3 接線方式(shi)選擇菜(cai)單界面

將光標移動(dong)到“接線方式(shi)”功能選項，界(jie)面如(ru)圖(tu)3-4所(suo)示(shi)，按“確認(ren)”按鈕后移動(dong)光標可選擇合適的接線方式(shi)。

接線方式：共5種接線方式（功能(neng)因型(xing)號(hao)有(you)差(cha)別(bie)，具體詳見型(xing)號(hao)功能(neng)說明(ming)部分），分別(bie)為：正(zheng)接線、反(fan)接線、反(fan)接線低壓屏蔽、CVT自(zi)(zi)激(ji)法(fa)和變比(bi)。選擇CVT自(zi)(zi)激(ji)法(fa)測量時需(xu)同時將相關參數一并設置好。

CVT自(zi)激法測(ce)量必須打開內高(gao)壓(ya)允(yun)許開關，由機(ji)內提(ti)供(gong)激勵電壓(ya)，由“低壓(ya)輸(shu)出”和“測(ce)量接地”輸(shu)出。為**起見，CVT自(zi)激法還需要設(she)置以下幾個保護限：

將光標移(yi)動到xxkV / xxmA / xxV / xxA，按↑↓選(xuan)擇合(he)適(shi)值，選(xuan)擇好(hao)后(hou)按確認鍵退(tui)出。

xxkV：可選0.5/0.6/0.8/1/1.5/2/2.5/3/3.5/4kV，為高壓(ya)上限(xian)，只能使用4kV以下電壓(ya)。

xxmA：可選10/15/20/25/30/35/40/45/50/60/70/80/100/120/140/200mA，表示待(dai)測試品的(de)高壓電流上限(xian)。

xxV：可選3/4/5/6/7/8/9/10/12/15/20/25/30/35/40/50V，表(biao)示低壓激勵電壓上限。

xxA：可選3/4/5/6/7/8/9/10/11/12/13/14/15/16/20/30A，表示低壓激勵電(dian)流上限。

注意：

（1）測量時4個保護限(xian)同(tong)時起(qi)作用，因(yin)此試驗高(gao)壓可能達(da)不(bu)到設定值(zhi)。如果高(gao)壓達(da)不(bu)到保護限(xian)，可適當(dang)調(diao)整受(shou)到限(xian)制(zhi)的(de)保護限(xian)。

（2）通常測量C1時低壓激勵電壓可(ke)達20V，測量C2時低壓激勵電流可(ke)達15A。一般可(ke)設(she)高壓電壓2～3kV，較(jiao)少采用高壓電流限制，可(ke)設(she)為*大200mA。

變比測量時應選擇合適的高壓(ya)輸出(chu)使二(er)次(ci)側電(dian)壓(ya)小于120V，當二(er)次(ci)側電(dian)壓(ya)≥120V時儀器會發出(chu)聲光報警并(bing)提示(shi)“接(jie)線錯誤”。

3.2.4 標準電容選擇菜(cai)單(dan)界(jie)面

將光標(biao)移動到“標(biao)準(zhun)電容(rong)”功能選項，界面(mian)如圖3-5所(suo)示，按(an)(an)“確認”按(an)(an)鈕后移動光標(biao)可選擇合適的標(biao)準(zhun)電容(rong)。選擇外(wai)標(biao)準(zhun)電容(rong)時(shi)需同時(shi)將外(wai)標(biao)準(zhun)的電容(rong)量和介損(sun)一并設置(zhi)好。

選擇外(wai)標準電容時將光標移動到Cn=xxxxx e x pF 和tgδ=xx.xxx%按(an)↑↓選擇合適值，選擇好后按(an)確(que)認鍵(jian)退出(chu)。

Cn采用科(ke)學計數法，如5.000e1=5.000×101=50.00，1.000e2=1.000×102=100.0等，范(fan)圍(wei)0.000e0～9.999e5 (即0～999900pF)。tgδ設置范(fan)圍(wei)0～±9.999%。

內標準電容(rong)通常(chang)可(ke)用于正、反接線測量(liang)和(he)CVT自激法(fa)測量(liang)，高電壓(ya)介損選用外標準方(fang)式，需要將外接電容(rong)參數置入儀器。

3.2.5 測試頻率選擇(ze)菜(cai)單界面(mian)

測試頻(pin)率(lv)可選擇(ze)定頻(pin)或異頻(pin)，頻(pin)率(lv)選擇(ze)菜單界面(mian)如(ru)圖3-6所示(shi)，頻(pin)率(lv)選擇(ze)范圍如(ru)下：

定頻：

“50Hz”：為工頻測(ce)量(liang)，此設置不能抗干擾，在試驗(yan)室內測(ce)量(liang)或(huo)校驗(yan)時選(xuan)用(yong)。

“45/55/60/65Hz”：為(wei)單(dan)頻率(lv)測量，研(yan)究不(bu)同頻率(lv)下(xia)介損的變化時選用。

頻率自適應：外(wai)高(gao)壓測(ce)量模(mo)式下(xia)有效(xiao)（不能更改），系(xi)統自動(dong)識別(bie)外(wai)施高(gao)壓頻率，測(ce)試頻率無需在測(ce)試前設置。

異頻：

“45/55Hz”：為自動變頻，適合50Hz電網工頻干擾下測量。

“55/65Hz”：為自動變頻，適(shi)合(he)60Hz電網工頻干擾下測量。

“47.5/52.5Hz”：為自動變頻(pin)，適合50Hz電(dian)網工頻(pin)干擾下測量。

3.2.6 測(ce)試電壓選擇(ze)菜單(dan)界(jie)面(mian)

內高(gao)壓(ya)(ya)可選(xuan)擇(ze)“0.5 /0.6 /0.8 /1 /1.5 /2 /2.5 /3 /3.5 /4 /4.5 /5 /5.5 /6 /6.5 /7 /7.5 /8 /8.5 /9 /9.5 /10.0kV”（F型(xing)*高(gao)輸出電(dian)壓(ya)(ya)為12kV），應根據(ju)高(gao)壓(ya)(ya)試驗規程選(xuan)擇(ze)合適的試驗電(dian)壓(ya)(ya)。

注：若選(xuan)擇“CVT自(zi)激(ji)(ji)法(fa)”測試功能(neng)，則該選(xuan)項無效。CVT自(zi)激(ji)(ji)法(fa)的相(xiang)關電壓參數需在該功能(neng)選(xuan)項下進(jin)行設置(zhi)。

3.2.7 測試備忘設置(zhi)菜單界(jie)面

設備編(bian)號(hao)：可設置(zhi)8位字母或數(shu)字編(bian)號(hao)，將光標(biao)移動到(dao)”設備編(bian)號(hao)”處，按確認(ren)健進入設備編(bian)號(hao)設置(zhi)，通(tong)過(guo)“←”、“→”健移動光標(biao)，通(tong)過(guo)↑↓選擇合適值，設置(zhi)好后按確認(ren)鍵退出。

測試人員(yuan)：可設置8位字母或數字編號，將光標移動(dong)到(dao)” 測試人員(yuan)”處，按確認(ren)健(jian)進入測試人員(yuan)設置，通過“←”、“→”健(jian)移動(dong)光標，通過↑↓選擇(ze)合適值，設置好后按確認(ren)鍵(jian)退出。

測(ce)試地(di)點(dian)：可設(she)置8位(wei)字(zi)母或數字(zi)編號(hao)，將光標移動(dong)(dong)到” 測(ce)試地(di)點(dian)”處(chu)，按確認健進入(ru)測(ce)試地(di)點(dian)設(she)置，通過(guo)“←”、“→”健移動(dong)(dong)光標，通過(guo)↑↓選(xuan)擇合(he)適(shi)值(zhi)，設(she)置好后按確認鍵退出。

3.2.8 測試(shi)結(jie)果界面

3.2.8.1反接(jie)法(fa)測試結果界面

測(ce)試完成顯示結果(guo)后(hou)，可移動(dong)光標選擇保(bao)存或打印數據。

儀器(qi)自動分辨電容(rong)、電感(gan)、電阻型試品(pin)(pin)：電容(rong)型試品(pin)(pin)顯(xian)示(shi)(shi)Cx和(he)tgδ；電感(gan)型試品(pin)(pin)顯(xian)示(shi)(shi)Lx和(he)Q；電阻型試品(pin)(pin)顯(xian)示(shi)(shi)Rx和(he)附加Cx或Lx。自動選(xuan)取顯(xian)示(shi)(shi)單位。

試品為電容時：顯示數據為Cx、tgδ、Ux、Ix、Φ、f1、f2, |δ|>1則顯示電容和串/并聯電阻

試品為(wei)(wei)電(dian)感時：顯示數據為(wei)(wei)Lx、Q、Ux、Ix、Φ、f1、f2, |Q|<1則顯示電(dian)感和串聯電(dian)阻

試品為電(dian)阻時：顯示數據(ju)為Cx(Lx)、Rx、Ux、Ix、Φ、f1、f2

Cx   試品電容量[1μF=1000nF納法 / 1nF=1000pF]，如顯示10.00nF即10000pF

tgδ 介損因數[1%=0.01]

Lx   試(shi)品電(dian)感量(liang)[1MH兆(zhao)亨=1000kH / 1kH=1000H]

Q    品(pin)質因數(shu)[無單位]

Rx   試品電阻(zu)值[1MΩ=1000kΩ / 1kΩ=1000Ω]

Ux &nbsp;&nbsp;試驗(yan)電壓(ya)[1kV=1000V / 1V=1000mV]

Ix   試品電流(liu)[1A=1000mA / 1mA=1000μA]

Φ  ; 試品(pin)電(dian)(dian)流超(chao)前試驗(yan)電(dian)(dian)壓的角度[°度]或(huo)測變(bian)比時一次電(dian)(dian)壓超(chao)前二次電(dian)(dian)壓的角度

K    測CVT變比時，一次電壓(ya)比二次電壓(ya)

f1   頻率[Hz]，顯示**次測試頻率

f2   頻率[Hz]，顯示(shi)**次測(ce)試頻率

顯(xian)示(shi)over表示(shi)測量數據超(chao)量程(cheng)。

3.2.8.2反接(jie)線低壓屏蔽測試結果界面

反接線(xian)(xian)低(di)壓屏蔽測試一次(ci)接線(xian)(xian)可同時測出C11和(he)C下節(下端(duan)屏蔽部(bu)分)的電容量(liang)和(he)介損值。

3.2.8.3 CVT自激法(fa)測試結果界面

CVT自激法按測量(liang)接(jie)線(xian)，與(yu)試品輸(shu)入Cx插座連(lian)(lian)接(jie)的(de)定義(yi)為C1，與(yu)高(gao)(gao)壓線(xian)連(lian)(lian)接(jie)的(de)為C2。U1為測量(liang)C1時的(de)高(gao)(gao)壓，U2為測量(liang)C2時的(de)高(gao)(gao)壓。

3.3歷史(shi)數據

進入歷史數據菜(cai)單界面如圖(tu)3-12所(suo)示。

移動(dong)光(guang)標到“U盤(pan)”選(xuan)項(xiang)按(an)“確(que)定(ding)”鍵可(ke)將數(shu)據(ju)導出到U盤(pan)，上(shang)移到“清空(kong)”選(xuan)項(xiang)按(an)“確(que)定(ding)”鍵可(ke)清空(kong)保存(cun)的(de)全部(bu)數(shu)據(ju)。將光(guang)標移動(dong)到“>>>>”選(xuan)項(xiang)按(an)下“確(que)定(ding)”鍵進入(ru)數(shu)據(ju)選(xuan)擇(ze)界(jie)面，光(guang)標位置默(mo)認(ren)停留在*近保存(cun)的(de)單(dan)條(tiao)數(shu)據(ju)上(shang)，若要查看(kan)其他數(shu)據(ju)可(ke)上(shang)下移動(dong)光(guang)標進行選(xuan)擇(ze)，選(xuan)擇(ze)好(hao)要查看(kan)的(de)數(shu)據(ju)后(hou)按(an)“確(que)定(ding)”按(an)鈕進入(ru)單(dan)條(tiao)歷史數(shu)據(ju)顯示(shi)界(jie)面。歷史數(shu)據(ju)選(xuan)擇(ze)界(jie)面和單(dan)條(tiao)歷史數(shu)據(ju)顯示(shi)界(jie)面如圖3-13和圖3-14所示(shi)。

進入單條(tiao)歷史數(shu)據顯示界面后，在左側功能(neng)選項區(qu)上下移動(dong)光標可選擇打印、刪除本(ben)條(tiao)數(shu)據和退(tui)出單條(tiao)歷史數(shu)據顯示界面。

3.4系統設置

進(jin)入系統(tong)設置菜單可進(jin)行(xing)(xing)系統(tong)時間校準(zhun)，“出廠設置”參數(shu)禁止用戶修改，只(zhi)允許生(sheng)產廠家進(jin)行(xing)(xing)出廠參數(shu)設置。

3.5幫助

可查看(kan)儀(yi)器(qi)的相關操作指(zhi)導。

3.6啟(qi)動測量

進入測試(shi)界面設置好各項試(shi)驗參數后，將光標移動(dong)到(dao)“開始測試(shi)”功能選項上，按住“確認”鍵3s以上啟動(dong)測量。

啟動測(ce)(ce)量(liang)后(hou)發出聲光報警；在(zai)測(ce)(ce)試過程中會實時顯示(shi)測(ce)(ce)試相關參數（電(dian)壓、電(dian)流(liu)、頻率、電(dian)容量(liang)等參數）和測(ce)(ce)量(liang)進程(0%～99%)。

測(ce)量中按“確認”鍵可取消(xiao)測(ce)量，遇緊急情況(kuang)立即(ji)關閉總電源。

測量過程結束，儀器(qi)自動(dong)降壓后再顯(xian)示結果。

3.7對比(bi)度調節

液(ye)晶(jing)顯(xian)(xian)示(shi)(shi)屏的對(dui)比度已在出廠時校好，如果您感覺(jue)不夠清晰，調整面板上的電位(wei)器使液(ye)晶(jing)顯(xian)(xian)示(shi)(shi)屏顯(xian)(xian)示(shi)(shi)內容(rong)清晰為止。

4、參考(kao)接(jie)線

4.1常規(gui)正(zheng)接(jie)線（正(zheng)接(jie)線、內(nei)(nei)標準電(dian)容、內(nei)(nei)高壓）

4.2常規(gui)反接線(xian)（反接線(xian)、內(nei)標準電容、內(nei)高壓）

4.3正(zheng)接線、外標準電容、內(nei)高壓

4.4反(fan)接(jie)線、外(wai)標準電(dian)容(rong)、內(nei)高壓

4.5正接線、內標準電(dian)容、外高(gao)壓

4.6反接線、內(nei)標準(zhun)電容、外高壓

4.7正(zheng)接線、外(wai)標準(zhun)電容、外(wai)高(gao)壓（高(gao)電壓介損）

4.8反接線、外標準電容、外高壓

4.9反接(jie)線低壓屏蔽

可(ke)(ke)在(zai)220kV CVT母(mu)線(xian)接地情況下，對C11進行不(bu)拆(chai)線(xian)10kV反(fan)接線(xian)介(jie)損測量。如下圖所示(shi)：母(mu)線(xian)掛地線(xian)，C11上端(duan)不(bu)拆(chai)線(xian)，C11下端(duan)接高壓(ya)線(xian)芯線(xian)，C2末端(duan)δ和(he)X接Cx芯線(xian)。這樣C12和(he)C2被(bei)低壓(ya)屏蔽，儀器采用反(fan)接線(xian)低壓(ya)屏蔽測量方式，可(ke)(ke)同時測出C11和(he)下端(duan)被(bei)屏蔽部分的電容量和(he)介(jie)損值。

4.10 CVT自激(ji)法(fa)

高壓(ya)線(xian)(xian)芯(xin)(xin)線(xian)(xian)接(jie)C2下端(duan)，Cx芯(xin)(xin)線(xian)(xian)接(jie)C12上端(duan)。在CVT 自(zi)激法測量中，儀器(qi)先測量C12，然后(hou)自(zi)動倒線(xian)(xian)測量C2，并自(zi)動校準分(fen)壓(ya)影(ying)響。

1）D型高(gao)(gao)壓連(lian)線(xian)不可拖(tuo)地(di)，高(gao)(gao)壓線(xian)應懸(xuan)空不能(neng)接觸地(di)面（高(gao)(gao)壓線(xian)的接地(di)屏蔽(bi)層插(cha)頭必須懸(xuan)空），否(fou)則其對地(di)附加(jia)介損會引起(qi)誤差，可用細電纜(lan)連(lian)接高(gao)(gao)壓插(cha)座與(yu)CVT試品(pin)并吊起(qi)。

2）E、F、S、J型高壓連線可拖地使用，在開機初始界面（圖3-1界面），光標停留在“測試模式”處長按“→”鍵（聽到蜂鳴器聲音松手）可取消或使用拖地模式（右下角顯示“”表示當前為拖地模式），在拖地模式下必須將高壓連線的接地屏蔽層插頭接至圖2-1中的“1”（高壓測量接地）處，否則會引起測量誤差；取消拖地模式后高壓連線必須懸空吊起，高壓連線的接地屏蔽層插頭也應懸空，否則會引起測量誤差。拖地模式下的高壓連線必須使用原廠配置的電纜（已校準），否則會引起測量誤差！

4.11 CVT變比(bi)測試

儀器高壓(ya)線(xian)的芯線(xian)紅夾(jia)子接(jie)CVT的上端，母線(xian)拆(chai)地(di)，CVT下端接(jie)地(di)，低壓(ya)線(xian)紅黑夾(jia)子接(jie)二次繞(rao)組。

5、常見CVT的參考測量方法(fa)

目前常見的(de)電容式電壓(ya)互(hu)感器可(ke)分為(wei)110kV、220kV、500kV等不同(tong)電壓(ya)等級，一般110kV的(de)CVT其(qi)C1就一節，220kV的(de)CVT其(qi)C1有(you)兩節，而500kV的(de)CVT其(qi)C1有(you)三節。

5.1  500kV CVT的(de)測量方法(fa)

1）C11的(de)測(ce)量方法(fa)

按圖5-1標明(ming)的方式接線，測量(liang)C11時應注意：

◇ 拆開(kai)δ端(duan)，X端(duan)一定要接地

◇ a點(dian)接紅色高壓測試(shi)線(xian)的芯線(xian)（紅夾子），b點(dian)接紅色高壓測試(shi)線(xian)的高壓屏蔽層（黑(hei)夾子）

2）C12的測量方(fang)法

按圖5-2標(biao)明的方式接線，測量C12時(shi)注意：

◇ 拆開δ端(duan)，X端(duan)一定要接地

◇ a點接紅色高壓(ya)測試線(xian)芯線(xian)（紅夾子(zi)），b點接黑色低壓(ya)測試線(xian)芯線(xian)（紅夾子(zi)）

3）C13和C2的測量方法

儀器(qi)設(she)有專(zhuan)門的CVT自(zi)激法，不需外加任何(he)其它(ta)設(she)備(bei)，就(jiu)可(ke)(ke)以(yi)完(wan)成(cheng)測(ce)試(shi)。按(an)圖5-3標明(ming)的方(fang)式(shi)接線，儀器(qi)選用CVT自(zi)激法測(ce)量方(fang)式(shi)，試(shi)驗電(dian)壓(ya)可(ke)(ke)設(she)置為(wei)2kV，CVT自(zi)激法能一次(ci)測(ce)量C13和(he)C2兩個(ge)電(dian)容(rong)的介(jie)損和(he)電(dian)容(rong)量。

5.2  220kV CVT的(de)測量方法

1）C11的測量方法(fa)

按圖(tu)5-4標明的方式接線，測(ce)量C11時注意：

◇ δ和X相連，與接地分開。

◇ a點接紅色高壓測試線(xian)的芯線(xian)（紅夾子），C2末端(duan)δ和X 接Cx端(duan)芯線(xian)，這(zhe)樣C12與(yu)C2就被低壓屏蔽了(le)。

2）C12和C2的測量方法

儀器(qi)設(she)有專門的(de)CVT自激法，不(bu)需外加任何其它設(she)備(bei)，就(jiu)可以完成(cheng)測(ce)(ce)試(shi)。按(an)圖5-5標明的(de)方(fang)式(shi)接(jie)線，儀器(qi)選用CVT自激法測(ce)(ce)量(liang)(liang)方(fang)式(shi)，試(shi)驗(yan)電壓可設(she)置為2kV，CVT自激法能一次(ci)測(ce)(ce)量(liang)(liang)C12和(he)C2兩個電容的(de)介損和(he)電容量(liang)(liang)。

5.3  110kV CVT的測量方法

儀(yi)器設(she)(she)有(you)專(zhuan)門(men)的CVT自(zi)(zi)激法，不需外加任何其它(ta)設(she)(she)備，就可以完成測試(shi)。按(an)圖5-6標明的方式接線(xian)，儀(yi)器選用CVT自(zi)(zi)激法測量(liang)方式，試(shi)驗電(dian)(dian)壓可設(she)(she)置(zhi)為2kV，CVT自(zi)(zi)激法能一(yi)次(ci)測量(liang)C13和C2兩個(ge)電(dian)(dian)容的介損和電(dian)(dian)容量(liang)。

6、現場試驗(yan)注意(yi)事(shi)項

如(ru)果使(shi)用中出現測試數據明(ming)顯不合(he)理(li)，請從以下方面查(cha)找原因：

6.1搭鉤接觸**

現場測量使用搭(da)鉤連接(jie)(jie)試品時，搭(da)鉤務必與試品接(jie)(jie)觸(chu)良好，否則接(jie)(jie)觸(chu)點放電(dian)會(hui)引(yin)起(qi)數據嚴重(zhong)波動！尤其是(shi)引(yin)流線氧化(hua)層太厚，或風吹線擺動，易造成接(jie)(jie)觸(chu)**。

6.2接地接觸**

接(jie)地**會引起儀器保護或數(shu)據嚴重(zhong)波動(dong)。應刮凈接(jie)地點上的(de)油漆和銹(xiu)蝕，務必保證0電(dian)阻接(jie)地！

6.3直接測量CVT或末端屏蔽(bi)法(fa)測量電(dian)磁式PT

直接測量CVT的下節耦合電容會(hui)出(chu)現負介損，消除負介損可采取下述措(cuo)施或改用CVT自(zi)激法測量：

1）測(ce)試(shi)時測(ce)量儀器的(de)接(jie)地端直接(jie)接(jie)在(zai)被試(shi)品的(de)金屬底座(zuo)上，并保證接(jie)觸良好。

2）條(tiao)件允許時(shi)盡(jin)可能將非被試繞組(zu)短(duan)接，以減小電(dian)感(gan)和鐵心損耗(hao)的影(ying)響。

3）被試(shi)品周圍不應有鐵(tie)架、腳(jiao)手架、木梯等(deng)物體(ti)，盡可(ke)能減(jian)小分布阻抗(kang)的影響。

4）試(shi)驗引線與被試(shi)品(pin)的(de)夾角應盡(jin)可能接近90°，以減小線與試(shi)品(pin)間的(de)分布電容。

用(yong)末(mo)端(duan)屏(ping)蔽法測量電磁(ci)式PT時(shi)，由(you)于受潮引起“T形(xing)網(wang)絡干擾”出現負(fu)介(jie)損，吹干下(xia)面(mian)三裙(qun)瓷套和(he)接線端(duan)子盤即可。也可改(gai)用(yong)常規法或(huo)末(mo)端(duan)加壓法測量。

6.4空氣(qi)濕度過大

空(kong)氣濕度大使介損測量(liang)值(zhi)異常增大（或減小甚至(zhi)為負）且(qie)不(bu)穩定(ding)，必(bi)要時可(ke)加屏蔽環(huan)。因人為加屏蔽環(huan)改變(bian)了試品電場分布，此法有(you)爭議，可(ke)參(can)照有(you)關規程。

6.5發電機供電

發電機供電時可采(cai)用(yong)定頻50Hz模式工作(zuo)。

6.6測試線

1）由于長期使用(yong)，易(yi)造成測試線(xian)隱(yin)性斷路(lu)，或芯線(xian)和屏蔽短路(lu)，或插頭接(jie)觸**，用(yong)戶應經常維(wei)護測試線(xian)。

2）測(ce)試標(biao)準電(dian)容(rong)試品時(shi)，應使用全屏蔽插頭連接，以消除附加雜散電(dian)容(rong)影(ying)響，否(fou)則不(bu)能(neng)反映儀器精度。

3）自激法測(ce)(ce)量(liang)CVT時，若使用(yong)“高(gao)(gao)壓(ya)連線拖(tuo)(tuo)地(di)(di)”功能，請務必使用(yong)原廠(chang)(chang)配置的專用(yong)高(gao)(gao)壓(ya)電纜（原廠(chang)(chang)電纜在出廠(chang)(chang)時已(yi)進行(xing)校準），高(gao)(gao)壓(ya)連線的接(jie)地(di)(di)屏蔽層必須接(jie)地(di)(di)，不可使用(yong)其它高(gao)(gao)壓(ya)電纜代(dai)替(ti)，否(fou)則(ze)會引起較大(da)的測(ce)(ce)量(liang)誤差(cha)。若拖(tuo)(tuo)地(di)(di)模式(shi)下測(ce)(ce)量(liang)誤差(cha)較大(da)，則(ze)需將專用(yong)高(gao)(gao)壓(ya)電纜返廠(chang)(chang)重新進行(xing)校準。

4）自激法(fa)測量(liang)CVT時，非專用的(de)(de)高(gao)壓(ya)線應(ying)吊起懸空，否(fou)則對地附加雜散(san)電容和介損會引起測量(liang)誤(wu)差。使用專用電纜(lan)在(zai)非拖地模(mo)式(shi)下測量(liang)CVT，高(gao)壓(ya)電纜(lan)也應(ying)懸空且(qie)電纜(lan)的(de)(de)接地屏蔽層不能接地，否(fou)則會引起較(jiao)大的(de)(de)測量(liang)誤(wu)差。

6.7工作模式選擇

接好線后請(qing)選擇正確的測(ce)量工作模式，不可選錯。特別是干擾環境下應(ying)選用變頻抗干擾模式。

6.8試(shi)驗方法影響

由于介損測量(liang)受(shou)試(shi)驗方(fang)法(fa)(fa)影響較大，應區分(fen)是(shi)試(shi)驗方(fang)法(fa)(fa)誤(wu)差(cha)還是(shi)儀(yi)(yi)器誤(wu)差(cha)。出現問題時可首先檢(jian)查(cha)接線，然(ran)后檢(jian)查(cha)是(shi)否為儀(yi)(yi)器故障。

6.9儀(yi)器故障

1）用萬用表測量(liang)一下(xia)測試(shi)線是否(fou)斷路(lu)，或芯線和(he)屏蔽是否(fou)短路(lu)；

2）輸(shu)入電源220V過高或(huo)過低；接(jie)地是(shi)否良好；

3）用正(zheng)、反(fan)接線測一下標準電(dian)容器(qi)或已知容量和介損的電(dian)容試品(pin)，如果結果正(zheng)確，即可判(pan)斷儀器(qi)沒有問題；

4）拔下(xia)所有測試導線，進(jin)行(xing)空試升壓，若不能正常工(gong)作，儀(yi)器可能有故障。

7、儀器檢定

7.1檢定(ding)

用帶插頭的屏蔽電纜連接標準損耗器(qi)。如果不能保證標準損耗器(qi)的精度，應(ying)使(shi)用比對(dui)法(fa)檢定，建(jian)議用2801電橋或其它精密電橋作比對(dui)標準。

1）介質損耗因(yin)數(shu)標準器一般為串聯模型，因(yin)此儀器的試(shi)品(pin)模型應選擇(ze)“RC串聯(電流(liu)比(bi)較儀型電橋)”或“RC串聯(西林型電橋)”。

RC串聯(電(dian)流(liu)(liu)比較(jiao)儀(yi)型電(dian)橋)：采用電(dian)流(liu)(liu)比較(jiao)儀(yi)型電(dian)橋（如QS30電(dian)橋）校準的串聯型試品(pin)(或介質損耗因數標準器)，該項在開(kai)始測試界(jie)面顯(xian)示"RC串聯"。

RC串聯(西林型電橋)： 采用西林型電橋（如2801、QS1和QS37等電橋）校準的串聯型試品(或介質損耗因數標準器) ，該項在開始測試界面顯示 "RC串聯"。

采用電流比較(jiao)儀型電橋和西(xi)林型電橋校準(zhun)的串聯型試品(或介(jie)質損耗因數標準(zhun)器)的區別只是電容量不同(tong)：

為西林型電橋標定值，C為電流比較儀型電橋標定值。

2）用介質損耗因數標準器(qi)（或標準電容器(qi)）檢定儀(yi)器(qi)反接(jie)線精度時，高壓電纜與試品連接(jie)必須(xu)使用全屏蔽插頭，否則(ze)暴(bao)露的芯(xin)線會(hui)引起測量(liang)誤差。

3）用介質損耗因數標準(zhun)器（或標準(zhun)電容器）檢(jian)定儀器正接線精度時，低壓電纜與試品(pin)連(lian)接必須使用全屏蔽插頭，否則暴露的芯線會引起測(ce)量誤差。

嚴格按(an)照上述要求檢(jian)定方(fang)能(neng)真實反映(ying)本儀(yi)器的測(ce)量精度(du)！

7.2抗干(gan)擾能力(li)

設置一個回路向儀器注(zhu)入定量的干擾電(dian)流(liu)。

注意：

1）應考慮到該回(hui)路可能成為(wei)試品的一(yi)部分。

2）儀器啟動后會使(shi)220V供電(dian)電(dian)路(lu)帶有測量(liang)頻率分量(liang)，如果(guo)該頻率分量(liang)又通過干擾(rao)電(dian)流進(jin)入儀器，則無法檢驗儀器的抗干擾(rao)能力。

3）不建議用臨(lin)近高(gao)壓導(dao)體施加(jia)干擾，因為這樣很容易(yi)產(chan)生近距離(li)**放(fang)電，這種放(fang)電電阻是非線(xian)性的，容易(yi)產(chan)生同頻干擾。