1、WBJS6000變頻精密介損測試儀特點及(ji)性能

介(jie)損(sun)絕(jue)緣試驗可以有效(xiao)地發現電(dian)器設備絕(jue)緣的整體(ti)受潮劣化(hua)變(bian)質以及局部(bu)缺陷(xian)等，在(zai)電(dian)工制造、電(dian)氣(qi)設備安裝、交接和預防性試驗中(zhong)都廣(guang)泛應用。

介(jie)質損耗測(ce)(ce)量(liang)(liang)儀用于(yu)現場介(jie)損測(ce)(ce)量(liang)(liang)或試(shi)驗(yan)室精(jing)密(mi)介(jie)損測(ce)(ce)量(liang)(liang)。儀器為(wei)一(yi)體(ti)化結構，內置介(jie)損電橋、變(bian)頻電源、試(shi)驗(yan)變(bian)壓器和(he)標準電容器等。儀器采用變(bian)頻抗干(gan)擾和(he)傅立葉變(bian)換數(shu)字濾波技術，全(quan)自(zi)動(dong)智能化測(ce)(ce)量(liang)(liang)，強干(gan)擾下測(ce)(ce)量(liang)(liang)數(shu)據(ju)非常穩定。測(ce)(ce)量(liang)(liang)結果(guo)由大屏幕液晶顯示，儀器自(zi)帶微型打印機可打印輸出(chu)測(ce)(ce)試(shi)結果(guo)。

1.1主要技術指(zhi)標(biao)

額定工作條件：環境溫(wen)度  -10℃～50℃

相對濕度  <85%阿(a)

輸入(ru)電(dian)源：    180V～270VAC，50Hz/60Hz±1%，市電(dian)或發(fa)電(dian)機供電(dian)

準確度：&nbsp;     Cx: ±（讀數×1%+1pF）

tgδ: ±（讀數×1%+0.00040）

抗干擾指標：   變頻抗干擾，在200%干擾下(xia)仍能達到(dao)上述準確度

電容量范圍：   內施高壓：3pF～60000pF/10kV   &nbsp;60pF～1μF/0.5kV

外施高(gao)壓(ya)：3pF～1.5μF/10kV      60pF～30μF/0.5kV

分(fen)辨(bian)率：       *高0.001pF，4位有效數字

tgδ范圍(wei)： &nbsp;   不限，分辨率0.001%，電(dian)容、電(dian)感、電(dian)阻三種試品自動(dong)識別(bie)。

試驗電流范(fan)圍(wei)： 10μA～5A

內施高壓(ya)：   &nbsp;設定電壓(ya)范圍：0.5～10kV

*大輸出(chu)電流(liu)：200mA

升降壓方式：連續平滑調(diao)節(jie)

電壓精度：±(1.0%×讀數(shu)+10V)

電壓分(fen)辨率：0.1V

試(shi)驗頻率：45、50、55、60、65Hz 單頻

45/55Hz、55/65Hz、47.5/52.5Hz 自(zi)動雙(shuang)變頻(pin)

頻率(lv)精度：±0.01Hz

外施高壓：    正、反接線(xian)時*大試驗電流(liu)5A

CVT自(zi)激(ji)法低壓(ya)輸出(chu)：輸出(chu)電(dian)壓(ya)3～50V，輸出(chu)電(dian)流(liu)3～30A

高電壓介(jie)損：  支持變頻和諧(xie)振電源高電壓介(jie)損

實(shi)時(shi)時(shi)鐘(zhong)：    ;實(shi)時(shi)顯(xian)示時(shi)間和日期

內(nei)部(bu)存(cun)儲(chu)：   &nbsp;儀器內(nei)部(bu)可存(cun)儲(chu)100組測量數(shu)據

U盤：        支持U盤存儲

打印機：      微型熱敏打印機

計算機接口(kou)：  標準RS232接口(kou)（選(xuan)配）

尺寸重量(liang)： &nbsp;  K型：外形尺寸368mm×288mm×280mm；主機重量(liang)22kg。

其他款型：外形尺寸430mm×314mm×334mm；主機重量(liang)30kg。

注(zhu)：上述為E型(xing)(xing)主要技術指標(biao)，其它型(xing)(xing)號技術指標(biao)詳見本章節“1.3.6各型(xing)(xing)號測試功能說明”。

1.2 WBJS6000變頻精密介損測試儀系列型號功能列表

1.3 WBJS6000變頻精密介損測試儀主要功能特點

1.3.1 變頻(pin)抗干擾

采用變頻抗干(gan)擾技(ji)術(shu)，在(zai)200%干(gan)擾下仍能準確測量，測試數據穩定，適(shi)合在(zai)現場(chang)做抗干(gan)擾介損試驗。

1.3.2高(gao)精度測量

采用數字波形分析和(he)電(dian)橋(qiao)自校準等技術，配合高精度三端標(biao)準電(dian)容器，實現(xian)高精度介損測量(liang)。儀(yi)器所有量(liang)程輸入電(dian)阻低(di)于2Ω，消(xiao)除了測量(liang)電(dian)纜附加電(dian)容的影響。

1.3.3**措施

高壓保護：試品(pin)短(duan)路(lu)、擊(ji)穿(chuan)或高壓電流波動(dong)，能以(yi)短(duan)路(lu)方式高速切(qie)斷輸(shu)出。

供電(dian)保護(hu)：誤接380V、電(dian)源波動(dong)或突然斷電(dian)，啟(qi)動(dong)保護(hu)，不會引起過電(dian)壓。

接地(di)(di)保護：具有接地(di)(di)檢測功能，未接地(di)(di)時不(bu)能升壓，若(ruo)測量過(guo)程中儀器接地(di)(di)**則啟動接地(di)(di)保護。

CVT 保護：高壓側(ce)電壓和電流(liu)、低壓側(ce)電壓和電流(liu)四(si)個保護限制，不會(hui)損壞設備(bei)；誤選(xuan)菜(cai)單不會(hui)輸(shu)出激磁電壓。CVT測量(liang)時無10kV高壓輸(shu)出。

防(fang)誤(wu)操作：兩級電源開關；電壓(ya)(ya)、電流實時監視；多(duo)次按(an)鍵確認(ren)；接(jie)線端子高/低壓(ya)(ya)分明；慢速(su)(su)升(sheng)壓(ya)(ya)，可迅速(su)(su)降(jiang)壓(ya)(ya)，聲光報警。

防“容(rong)升(sheng)”：測(ce)量大容(rong)量試(shi)品時會出現電(dian)壓(ya)抬高的(de)“容(rong)升(sheng)”效(xiao)應(ying)，儀器(qi)能自動跟蹤輸出電(dian)壓(ya)，保持試(shi)驗電(dian)壓(ya)恒定。

高壓(ya)電纜(lan)：為耐高壓(ya)絕緣導線，可拖地使用。

抗(kang)震性能：儀器采用獨特抗(kang)震設(she)計，可耐受(shou)強烈長途運輸震動、顛簸而不會損壞。

1.3.4打印存儲

儀器(qi)自帶微型打印機，可以將(jiang)測量(liang)結果(guo)打印輸(shu)出，并將(jiang)測量(liang)結果(guo)存貯到儀器(qi)內（可存儲(chu)100組測量(liang)數據）或U盤，以便日后(hou)查閱。

1.3.5實時時鐘

儀(yi)器(qi)內(nei)帶(dai)實(shi)時(shi)(shi)時(shi)(shi)鐘，實(shi)時(shi)(shi)顯示，并能記(ji)錄(lu)測量的日(ri)期和時(shi)(shi)間。

1.3.6各型號(hao)測(ce)試功(gong)能說(shuo)明

B型：輕便(bian)型，高(gao)壓(ya)*大(da)輸出電流為(wei)140mA，具(ju)有(you)正接(jie)線、反接(jie)線功能(neng)，可選擇內(nei)/外標準(zhun)電容、內(nei)/外高(gao)壓(ya)多種(zhong)工作模式，一體化結構，可做(zuo)各(ge)種(zhong)常規介損試驗。

D型(xing)：實(shi)用型(xing)，高壓*大輸出(chu)電(dian)流為200mA，具有正(zheng)接(jie)(jie)線(xian)、反(fan)接(jie)(jie)線(xian)、反(fan)接(jie)(jie)線(xian)低壓屏(ping)蔽、CVT自激(ji)法(fa)(fa)，反(fan)接(jie)(jie)線(xian)低壓屏(ping)蔽功能能在220kV CVT母(mu)線(xian)接(jie)(jie)地情況下，對(dui)C11進行不拆線(xian)10kV反(fan)接(jie)(jie)線(xian)介損測(ce)(ce)量(liang)，并可一(yi)次接(jie)(jie)線(xian)同時測(ce)(ce)出(chu)兩(liang)個電(dian)容的電(dian)容量(liang)和介損值。CVT自激(ji)法(fa)(fa)測(ce)(ce)量(liang)時，C1/C2可一(yi)次接(jie)(jie)線(xian)同時測(ce)(ce)出(chu)，無須換線(xian)和外接(jie)(jie)任(ren)何配件，但高壓測(ce)(ce)量(liang)線(xian)需懸空吊起(qi)。

E型(xing)：標準型(xing)，在D型(xing)基礎上增(zeng)加了(le)CVT變比(bi)測試功能，同時升級了(le)CVT自激法測試，現場CVT自激法測試時高壓測量(liang)線可拖(tuo)地使(shi)用，無需吊起。

F型：增強型，功能同E型，輸出*高電(dian)壓從(cong)10kV增加至12kV。

K型：標準型，在E型基(ji)礎上減小(xiao)體積重(zhong)量，設備更精巧。

S型(xing)：四通道型(xing)，功能同E型(xing)，增加了3個正(zheng)接通道。

J型：高(gao)精(jing)度型，功能(neng)同(tong)E型，測(ce)量準確度為0.5%。

所(suo)有型號(hao)儀器均具備下(xia)述特點(dian)：

（1）支持變(bian)頻和諧振(zhen)電(dian)(dian)源(yuan)高電(dian)(dian)壓介(jie)損。

（2）內置串聯(lian)和并(bing)聯(lian)兩(liang)種介損測量模型，方便儀器檢定。

（3）配置熱敏打(da)(da)印機，使(shi)打(da)(da)印更加快捷、無噪音和清晰。

（4）320×240點陣大屏液晶顯(xian)示，菜單操(cao)作，測(ce)試數(shu)據豐富，自動(dong)分辨電容、電感(gan)、電阻(zu)型試品。

（5）具有外(wai)接(jie)(jie)標(biao)準電(dian)容器接(jie)(jie)口，可(ke)外(wai)接(jie)(jie)油(you)(you)杯做精密(mi)絕(jue)(jue)緣油(you)(you)介損試驗，可(ke)外(wai)接(jie)(jie)固體材料(liao)測量電(dian)極做精密(mi)絕(jue)(jue)緣材料(liao)介損試驗，也(ye)可(ke)外(wai)接(jie)(jie)高壓標(biao)準電(dian)容器做高電(dian)壓介損試驗。

（6）帶日歷時鐘，可存儲100組測(ce)量數據(ju)。

（7）計算(suan)機接(jie)口（選配(pei)）。

2、WBJS6000變頻精密介損測試儀面板說明

高(gao)(gao)壓(ya)輸出(chu)測(ce)(ce)量接(jie)(jie)地(di)：若出(chu)廠配(pei)置的高(gao)(gao)壓(ya)測(ce)(ce)試線(xian)有(you)接(jie)(jie)地(di)屏蔽(bi)(bi)層(ceng)(ceng)，則需將高(gao)(gao)壓(ya)測(ce)(ce)量線(xian)的接(jie)(jie)地(di)屏蔽(bi)(bi)層(ceng)(ceng)連接(jie)(jie)至此(ci)處，沒有(you)則留空。CVT自激法測(ce)(ce)量的高(gao)(gao)壓(ya)連線(xian)接(jie)(jie)地(di)屏蔽(bi)(bi)層(ceng)(ceng)在拖(tuo)地(di)模式下必須(xu)接(jie)(jie)地(di)，非(fei)拖(tuo)地(di)模式下接(jie)(jie)地(di)屏蔽(bi)(bi)層(ceng)(ceng)應懸空不能接(jie)(jie)地(di)且(qie)高(gao)(gao)壓(ya)測(ce)(ce)量線(xian)也應懸空吊起不能拖(tuo)地(di)。

高壓輸出(chu)插座(zuo)（0.5～10kV，*大200mA）

安裝位置：如(ru)圖2-1所(suo)示(shi)，安裝在箱體(ti)前側面。

功    能：內高壓輸出；檢測反(fan)接線試品電流(liu)；內部標準電容器的(de)高壓端。

接(jie)(jie)(jie)(jie)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)方法：插(cha)座1腳接(jie)(jie)(jie)(jie)高(gao)(gao)(gao)壓線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)芯線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)（紅夾(jia)子(zi)(zi)(zi)），2、3腳接(jie)(jie)(jie)(jie)高(gao)(gao)(gao)壓線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)屏(ping)(ping)蔽(bi)（黑(hei)(hei)夾(jia)子(zi)(zi)(zi)）。正接(jie)(jie)(jie)(jie)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)時，高(gao)(gao)(gao)壓線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)芯線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)（紅夾(jia)子(zi)(zi)(zi)）和(he)屏(ping)(ping)蔽(bi)（黑(hei)(hei)夾(jia)子(zi)(zi)(zi)）都可以用作加(jia)壓線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)；反接(jie)(jie)(jie)(jie)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)時只能(neng)用芯線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)對試(shi)品高(gao)(gao)(gao)壓端(duan)加(jia)壓。如果試(shi)品高(gao)(gao)(gao)壓端(duan)有(you)屏(ping)(ping)蔽(bi)極（如高(gao)(gao)(gao)壓端(duan)的(de)屏(ping)(ping)蔽(bi)環）可接(jie)(jie)(jie)(jie)高(gao)(gao)(gao)壓屏(ping)(ping)蔽(bi)，無屏(ping)(ping)蔽(bi)時高(gao)(gao)(gao)壓屏(ping)(ping)蔽(bi)懸空(kong)。若配(pei)置的(de)高(gao)(gao)(gao)壓測試(shi)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)有(you)接(jie)(jie)(jie)(jie)地(di)屏(ping)(ping)蔽(bi)層，則需將高(gao)(gao)(gao)壓測量線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)的(de)接(jie)(jie)(jie)(jie)地(di)屏(ping)(ping)蔽(bi)層連(lian)接(jie)(jie)(jie)(jie)至圖(tu)2-1中的(de)“1”處。

注意(yi)事(shi)項：

（1）若儀器CVT自激法(fa)高(gao)壓(ya)(ya)連(lian)線具備“高(gao)壓(ya)(ya)拖(tuo)地(di)(di)(di)”功(gong)能，使用(yong)拖(tuo)地(di)(di)(di)模式(shi)測量時(shi)務必(bi)使用(yong)原廠(chang)(chang)配置的專用(yong)高(gao)壓(ya)(ya)電(dian)(dian)纜(lan)（原廠(chang)(chang)電(dian)(dian)纜(lan)在出廠(chang)(chang)時(shi)已進行(xing)校準），不(bu)可(ke)使用(yong)其它高(gao)壓(ya)(ya)電(dian)(dian)纜(lan)代替，否則會引起較大的測量誤差。CVT自激法(fa)不(bu)使用(yong)拖(tuo)地(di)(di)(di)模式(shi)時(shi)，高(gao)壓(ya)(ya)電(dian)(dian)纜(lan)必(bi)須懸(xuan)空，接(jie)地(di)(di)(di)屏蔽層(ceng)也不(bu)能接(jie)地(di)(di)(di)！

（2）高壓(ya)插座和高壓(ya)線有危險電壓(ya)，**禁止(zhi)碰觸高壓(ya)插座、電纜、夾(jia)子和試品(pin)帶電部位！確認斷電后接線，測量時務必遠離(li)！

（3）用標準(zhun)介損器（或標準(zhun)電容器）檢定(ding)反接(jie)線(xian)精度時，應(ying)使用全屏蔽(bi)插(cha)頭連接(jie)試品，否則暴露(lu)的芯線(xian)會引起(qi)測量誤差。

（4）應保(bao)證高(gao)壓線與試品高(gao)壓端零電阻連接，否則可(ke)能引起誤差或數據波動，也可(ke)能引起儀器(qi)保(bao)護(hu)。

（5）強干擾下拆除接線時，應(ying)(ying)在保持(chi)電纜(lan)接地狀態下斷開連接，以防感應(ying)(ying)電擊。

CVT自激(ji)法(fa)低壓輸出插座（3～50V，3～30A）

功    能：由該插(cha)座(zuo)和(he)圖2-1中的接(jie)地(di)接(jie)線柱(zhu)“4”輸出CVT測量的低壓變頻激勵電源。

注意事項：

（1）因低壓輸出電流大，應采用儀器專用低阻線連接CVT二(er)次繞(rao)組，接觸**會影(ying)響測量。

（2）視(shi)CVT容量從菜單選(xuan)擇(ze)合(he)適的電壓電流保(bao)護限。

（3）選擇正/反接(jie)線時，此輸(shu)出(chu)封閉。

測量(liang)(liang)接地(di)(di)：它同外殼和電源插座地(di)(di)線連(lian)到一起，與圖2-1的“3”一起輸出CVT測量(liang)(liang)的低壓(ya)變頻激勵電源。盡(jin)管儀器(qi)有(you)接地(di)(di)保護，但無(wu)論何種測量(liang)(liang)，儀器(qi)都應可靠獨(du)立(li)接地(di)(di)以保障(zhang)使用者的**及測量(liang)(liang)結果的準確(que)。

打(da)印機：微型(xing)熱敏打(da)印機，用于打(da)印測試數據(ju)。

USB：USB通信用。

RS232：與計算機聯機使(shi)用。

U盤：用于(yu)外接(jie)U盤保存數據。

試品輸(shu)入Cx插座（10μA～5A）

功(gong)    能：正接線時輸入試品電流。

接(jie)(jie)線(xian)方法(fa)：插座(zuo)1腳(jiao)接(jie)(jie)測量線(xian)芯線(xian)（紅夾子），2、3腳(jiao)接(jie)(jie)測量線(xian)屏(ping)蔽（黑夾子）。正接(jie)(jie)線(xian)時芯線(xian)（紅夾子）接(jie)(jie)試品(pin)低(di)壓(ya)信號端(duan)，如果(guo)試品(pin)低(di)壓(ya)端(duan)有屏(ping)蔽極(ji)（如低(di)壓(ya)端(duan)的屏(ping)蔽環）可接(jie)(jie)屏(ping)蔽，試品(pin)無屏(ping)蔽時屏(ping)蔽懸空。

注(zhu)意事項：

（1）測量中嚴禁(jin)拔下(xia)插頭，防止試品電流經(jing)人體(ti)入地！

（2）用(yong)標(biao)準(zhun)介(jie)損(sun)器(qi)（或標(biao)準(zhun)電容(rong)器(qi)）檢測儀器(qi)正接(jie)線(xian)精度時，應使用(yong)全屏蔽插頭連接(jie)試品(pin)，否則暴露的芯線(xian)會引起測量誤差。

（3）應保(bao)證(zheng)引線與試品低(di)壓端0電阻連接，否則(ze)可能(neng)引起誤差或數據(ju)波動，也可能(neng)引起儀(yi)器保(bao)護。

（4）強干(gan)擾下拆(chai)除接線時，應(ying)在保持電纜接地狀態下斷開連(lian)接，以防感應(ying)電擊(ji)。

標準電容(rong)輸入Cn插座(zuo)（10μA～5A）

功(gong)    能(neng)：輸(shu)入(ru)外接標準電容器電流。

接(jie)線方(fang)法：與Cx插(cha)座(zuo)類似(si)，其區別(bie)在于(yu)：

（1）使用(yong)外部標(biao)準電容(rong)(rong)器時，應使用(yong)全(quan)屏(ping)蔽插頭連接。此(ci)方式(shi)常用(yong)于(yu)外接高電壓(ya)等級標(biao)準電容(rong)(rong)器，實(shi)現高電壓(ya)介損測量。

（2）菜單選擇“外標準電容(rong)”方式。

（3）將外接標(biao)準電(dian)容(rong)器的(de)C和tgδ置入儀器，實現Cx電(dian)容(rong)介損的(de)**值測量。

從理論上講(jiang)，任(ren)何容量(liang)和(he)介損(sun)的電容器(qi)(qi)，將參數置入儀器(qi)(qi)都可做(zuo)標(biao)準(zhun)電容器(qi)(qi)。不同的是標(biao)準(zhun)電容器(qi)(qi)能提(ti)供更好的長期穩定性(xing)和(he)精度(du)。

（4）不管正接(jie)線(xian)還是(shi)反(fan)接(jie)線(xian)測(ce)量，標準電容器(qi)接(jie)線(xian)方式始終為(wei)正接(jie)線(xian)。

總(zong)電(dian)源開(kai)(kai)關：開(kai)(kai)關機用，可在發現異常時隨時關閉。

供電(dian)電(dian)源插座：接(jie)220V市電(dian)，插座內置保險(xian)絲座，保險(xian)絲規格為10A / 250V，若(ruo)損壞應使用(yong)相同規格的保險(xian)絲替換。若(ruo)換用(yong)備(bei)用(yong)保險(xian)絲后仍燒(shao)斷(duan)，可能儀器有故障，可通知廠(chang)家(jia)處理。

高(gao)(gao)壓允許(xu)開(kai)關：內置高(gao)(gao)壓系統(tong)或CVT自激法(fa)低壓輸出系統(tong)的總(zong)(zong)電源開(kai)關。此開(kai)關受總(zong)(zong)電源開(kai)關控制。

按(an)(an)鍵：按(an)(an)下“↑”、“↓”、“←”、“→”鍵可(ke)移動光標和修改光標處內容，“確(que)認(ren)”鍵用于確(que)認(ren)或結束參數修改，在測(ce)試界面長按(an)(an)該鍵可(ke)開始測(ce)量，測(ce)量過程中，按(an)(an)“確(que)認(ren)”鍵可(ke)終(zhong)止測(ce)量。

液晶顯示(shi)屏：320×240點陣灰白背光液晶顯示(shi)屏，顯示(shi)菜單、測量結果或出(chu)錯信息。應避免(mian)長時間陽光爆曬，避免(mian)重壓(ya)。

背光(guang)調節(jie)：液晶顯(xian)示屏顯(xian)示較暗或不清晰時可(ke)調節(jie)該電位器至合(he)適位置使顯(xian)示明亮清晰。

指示燈：配合儀器(qi)內部蜂鳴器(qi)進行測試、報警(jing)等聲光(guang)警(jing)示。

3、WBJS6000變頻精密介損測試儀使用說明

3.1初始菜單界(jie)面

打開(kai)總(zong)電源開(kai)關后，系統進入初(chu)始(shi)菜(cai)單界面。

測(ce)試(shi)模式：選擇(ze)測(ce)試(shi)模式和(he)設置各項測(ce)試(shi)參數，

歷(li)史(shi)記(ji)錄：查(cha)看保存的歷(li)史(shi)數據

系統設置：出廠參數設置及系統時間校準

幫    助：可查閱軟件(jian)版本等(deng)信息

取(qu)消或使用(yong)CVT自(zi)激法“高(gao)壓(ya)連線(xian)拖地”功能：

開機右下角顯示“”表示該儀器在CVT自激法測試時高壓連線具備拖地功能。

光標停留在“測試模式”處長按“→”鍵（聽到蜂鳴器聲音松手）可取消或使用拖地模式（右下角顯示“”表示當前為拖地模式），在拖地模式下必須將高壓連線的接地屏蔽層插頭接至圖2-1中的“1”（高壓測量接地）處，否則會引起測量誤差；取消拖地模式后高壓連線必須懸空吊起，同時高壓連線的接地屏蔽層插頭也應懸空，否則會引起測量誤差。

使用或取消(xiao)發“發電機供電”模式：

光標停留在“測試模式”處長按“←”鍵（聽到蜂鳴器聲音松手）可使用或取消發電機供電模式（左下角顯示“”表示當前為發電機供電模式），儀器開機默認為市電供電模式，發電機模式適合使用發電機或移動電源供電環境，發電機模式下儀器將不進行接地檢測。

3.2測試模式

3.2.1 開始測試菜(cai)單界面(mian)

在初(chu)始菜單(dan)界面將光標移動到“測(ce)(ce)試(shi)模式”按確定按鈕進(jin)入(ru)開始測(ce)(ce)試(shi)菜單(dan)界面，如圖3-2所示。

界面左側為(wei)參數(shu)設置選項(xiang)，移動(dong)光標到相關參數(shu)選項(xiang)按確定鍵(jian)可設置相關試(shi)驗參數(shu)，右(you)側顯示內(nei)容為(wei)已(yi)設置好試(shi)驗參數(shu)，光標停(ting)留在“開(kai)始測試(shi)”欄長按“確認” 鍵(jian)可開(kai)始測試(shi)。

界面(mian)右側“測(ce)試(shi)地點”下一(yi)行為信息提(ti)示(shi)(shi)行，若內(nei)外(wai)高(gao)壓選擇有(you)(you)誤(wu)則(ze)提(ti)示(shi)(shi)“當前(qian)為內(nei)高(gao)壓模(mo)式，請(qing)(qing)開啟內(nei)高(gao)壓”或“當前(qian)為外(wai)高(gao)壓模(mo)式，請(qing)(qing)關閉內(nei)高(gao)壓”；若儀器沒有(you)(you)接地則(ze)會(hui)提(ti)示(shi)(shi)“請(qing)(qing)檢(jian)查接地”，當有(you)(you)錯誤(wu)提(ti)示(shi)(shi)時(shi)儀器無(wu)法正常啟動，只有(you)(you)提(ti)示(shi)(shi)“確(que)認(ren)(ren)無(wu)誤(wu)后長按確(que)認(ren)(ren)鍵開始測(ce)試(shi)”時(shi)儀器方可啟動測(ce)試(shi)。

3.2.2 試品模型選擇菜(cai)單界面

將光標(biao)移(yi)(yi)動到(dao)(dao)“試品(pin)(pin)模(mo)(mo)型(xing)”功能選(xuan)項，界面如圖3-3所示(shi)，按“確(que)認(ren)”按鈕(niu)后移(yi)(yi)動光標(biao)可選(xuan)擇合適的試品(pin)(pin)模(mo)(mo)型(xing)（光標(biao)移(yi)(yi)動到(dao)(dao)相應功能后按確(que)認(ren)鍵）。實驗(yan)室一般使用(yong)串(chuan)聯(lian)型(xing)介損因數(shu)標(biao)準(zhun)器檢定，校驗(yan)時(shi)應使用(yong)RC串(chuan)聯(lian)模(mo)(mo)型(xing)。

RC串聯(lian)(lian)(電(dian)(dian)流比較(jiao)儀(yi)型(xing)電(dian)(dian)橋)：采用電(dian)(dian)流比較(jiao)儀(yi)型(xing)電(dian)(dian)橋（如QS30電(dian)(dian)橋）校準的(de)串聯(lian)(lian)型(xing)試品(或介(jie)質損(sun)耗(hao)因數標(biao)準器)，該項在開始(shi)測試界(jie)面顯示(shi)"RC串聯(lian)(lian)"。

RC串聯(西林型電橋)： 采用西林型電橋（如2801、QS1和QS37等電橋）校準的串聯型試品(或介質損耗因數標準器) ，該項在開始測試界面顯示 "RC串聯"。

RC并聯(現場(chang)使(shi)用)：一般(ban)實際的電(dian)容試品可(ke)等效為RC并聯模型，建議現場(chang)試驗時使(shi)用。

采用電流比較儀型電橋和西林型電橋校準的串聯型試品(或介質損耗因數標準器)的區別只是電容量不同：為西林型電橋標定值，C為電流比較儀型電橋標定值。

3.2.3 接線(xian)方式(shi)選擇菜單(dan)界(jie)面

將光(guang)標移動到“接線(xian)方(fang)式”功能選(xuan)項，界(jie)面如(ru)圖3-4所示，按“確(que)認”按鈕后移動光(guang)標可選(xuan)擇合(he)適(shi)的接線(xian)方(fang)式。

接(jie)(jie)線方(fang)式：共5種接(jie)(jie)線方(fang)式（功能因型號(hao)有(you)差(cha)別，具(ju)體詳見型號(hao)功能說明(ming)部分(fen)），分(fen)別為：正接(jie)(jie)線、反接(jie)(jie)線、反接(jie)(jie)線低壓屏(ping)蔽、CVT自(zi)激(ji)法和變比。選(xuan)擇(ze)CVT自(zi)激(ji)法測量時需同時將相關參數(shu)一并設置好。

CVT自(zi)激(ji)法測量必須打開(kai)內高壓允許開(kai)關(guan)，由機內提供激(ji)勵電壓，由“低壓輸(shu)出(chu)”和“測量接地”輸(shu)出(chu)。為(wei)**起見，CVT自(zi)激(ji)法還需要(yao)設置以下幾個保護限：

將(jiang)光標(biao)移動到xxkV / xxmA / xxV / xxA，按↑↓選擇(ze)合適值，選擇(ze)好后按確認(ren)鍵退出(chu)。

xxkV：可選0.5/0.6/0.8/1/1.5/2/2.5/3/3.5/4kV，為高壓(ya)上限(xian)，只(zhi)能(neng)使(shi)用4kV以下電(dian)壓(ya)。

xxmA：可選10/15/20/25/30/35/40/45/50/60/70/80/100/120/140/200mA，表示待測試品的高壓電流上(shang)限。

xxV：可選3/4/5/6/7/8/9/10/12/15/20/25/30/35/40/50V，表(biao)示低壓(ya)激勵電(dian)壓(ya)上限。

xxA：可選3/4/5/6/7/8/9/10/11/12/13/14/15/16/20/30A，表示低壓激勵(li)電流上限。

注意：

（1）測量(liang)時(shi)4個保(bao)護限(xian)(xian)同時(shi)起作(zuo)用，因此試驗高壓可(ke)能達(da)不(bu)到設(she)定值。如果高壓達(da)不(bu)到保(bao)護限(xian)(xian)，可(ke)適當調(diao)整受到限(xian)(xian)制的保(bao)護限(xian)(xian)。

（2）通常(chang)測量C1時(shi)低壓(ya)激勵電(dian)壓(ya)可(ke)達20V，測量C2時(shi)低壓(ya)激勵電(dian)流可(ke)達15A。一般可(ke)設(she)高壓(ya)電(dian)壓(ya)2～3kV，較(jiao)少采用高壓(ya)電(dian)流限制(zhi)，可(ke)設(she)為*大200mA。

變比測量(liang)時應選擇(ze)合(he)適的高(gao)壓輸出使二次(ci)側電(dian)(dian)壓小(xiao)于(yu)120V，當二次(ci)側電(dian)(dian)壓≥120V時儀器會(hui)發出聲光(guang)報警并提示“接線錯誤”。

3.2.4 標準電容選擇(ze)菜單(dan)界面(mian)

將(jiang)光標移(yi)動到“標準電(dian)容”功能(neng)選(xuan)項，界面如圖(tu)3-5所示，按(an)“確(que)認(ren)”按(an)鈕后移(yi)動光標可選(xuan)擇(ze)合適的(de)標準電(dian)容。選(xuan)擇(ze)外(wai)標準電(dian)容時(shi)(shi)需同時(shi)(shi)將(jiang)外(wai)標準的(de)電(dian)容量和(he)介(jie)損一并設置好。

選(xuan)擇外標準電容時(shi)將光(guang)標移(yi)動到Cn=xxxxx e x pF 和tgδ=xx.xxx%按(an)↑↓選(xuan)擇合適值，選(xuan)擇好(hao)后按(an)確認鍵退出。

Cn采用科學(xue)計數法，如5.000e1=5.000×101=50.00，1.000e2=1.000×102=100.0等，范圍0.000e0～9.999e5 (即0～999900pF)。tgδ設置范圍0～±9.999%。

內標準(zhun)電容通常可用(yong)于正、反接線(xian)測量和(he)CVT自激法測量，高(gao)電壓介損(sun)選用(yong)外標準(zhun)方(fang)式，需(xu)要將外接電容參數置入(ru)儀器。

3.2.5 測試頻率選擇菜單界(jie)面

測試(shi)頻(pin)率(lv)(lv)(lv)可選擇(ze)定頻(pin)或異頻(pin)，頻(pin)率(lv)(lv)(lv)選擇(ze)菜單界面如(ru)圖(tu)3-6所示，頻(pin)率(lv)(lv)(lv)選擇(ze)范圍如(ru)下：

定頻：

“50Hz”：為工頻測量(liang)，此設置不能(neng)抗干(gan)擾(rao)，在試驗室內(nei)測量(liang)或校驗時選用。

“45/55/60/65Hz”：為(wei)單頻率測量，研究(jiu)不同頻率下介損的(de)變化(hua)時選用。

頻率自(zi)適應：外高(gao)壓(ya)測量模式下有效（不能更改），系統(tong)自(zi)動識別(bie)外施(shi)高(gao)壓(ya)頻率，測試頻率無需在測試前設(she)置。

異頻：

“45/55Hz”：為自動變頻，適合50Hz電網工頻干(gan)擾(rao)下測量。

“55/65Hz”：為自動變頻(pin)，適合60Hz電(dian)網工(gong)頻(pin)干擾下測量(liang)。

“47.5/52.5Hz”：為自動變頻，適(shi)合(he)50Hz電網工頻干擾下(xia)測量。

3.2.6 測試電壓選擇(ze)菜單界(jie)面

內高(gao)壓(ya)可(ke)選擇“0.5 /0.6 /0.8 /1 /1.5 /2 /2.5 /3 /3.5 /4 /4.5 /5 /5.5 /6 /6.5 /7 /7.5 /8 /8.5 /9 /9.5 /10.0kV”（F型*高(gao)輸(shu)出電壓(ya)為12kV），應根據(ju)高(gao)壓(ya)試(shi)驗規程(cheng)選擇合(he)適的試(shi)驗電壓(ya)。

注：若(ruo)選(xuan)擇“CVT自(zi)激法(fa)”測試功能，則該選(xuan)項無效。CVT自(zi)激法(fa)的相關電壓參數需(xu)在該功能選(xuan)項下(xia)進行(xing)設置。

3.2.7 測(ce)試備忘設置菜單界面

設(she)(she)備編號：可(ke)設(she)(she)置(zhi)8位字母(mu)或(huo)數字編號，將(jiang)光標移(yi)動(dong)到”設(she)(she)備編號”處，按(an)確認健(jian)進(jin)入設(she)(she)備編號設(she)(she)置(zhi)，通(tong)(tong)過“←”、“→”健(jian)移(yi)動(dong)光標，通(tong)(tong)過↑↓選擇合(he)適值(zhi)，設(she)(she)置(zhi)好(hao)后按(an)確認鍵退(tui)出。

測試(shi)(shi)人員：可設(she)置(zhi)(zhi)8位字母或數字編號(hao)，將光標移動到” 測試(shi)(shi)人員”處(chu)，按確認健(jian)進(jin)入測試(shi)(shi)人員設(she)置(zhi)(zhi)，通過(guo)“←”、“→”健(jian)移動光標，通過(guo)↑↓選(xuan)擇合適值(zhi)，設(she)置(zhi)(zhi)好后按確認鍵退出。

測(ce)試(shi)地點(dian)：可(ke)設置(zhi)8位字母(mu)或數字編號，將光(guang)標移動(dong)到” 測(ce)試(shi)地點(dian)”處，按(an)確認健進入(ru)測(ce)試(shi)地點(dian)設置(zhi)，通過(guo)“←”、“→”健移動(dong)光(guang)標，通過(guo)↑↓選擇合適值，設置(zhi)好后按(an)確認鍵退出。

3.2.8 測試(shi)結(jie)果界面(mian)

3.2.8.1反接法(fa)測試(shi)結(jie)果界面

測試完成顯示結果后，可移動光(guang)標選擇保存或打印數據。

儀器自動分辨電容、電感、電阻型試(shi)品(pin)：電容型試(shi)品(pin)顯示(shi)Cx和(he)tgδ；電感型試(shi)品(pin)顯示(shi)Lx和(he)Q；電阻型試(shi)品(pin)顯示(shi)Rx和(he)附加Cx或(huo)Lx。自動選(xuan)取顯示(shi)單位。

試品為(wei)電(dian)(dian)容(rong)時：顯示(shi)數據為(wei)Cx、tgδ、Ux、Ix、Φ、f1、f2, |δ|>1則顯示(shi)電(dian)(dian)容(rong)和串/并聯電(dian)(dian)阻

試品(pin)為電(dian)感時(shi)：顯示數據為Lx、Q、Ux、Ix、Φ、f1、f2, |Q|<1則(ze)顯示電(dian)感和串(chuan)聯電(dian)阻

試品(pin)為電阻(zu)時：顯(xian)示(shi)數據為Cx(Lx)、Rx、Ux、Ix、Φ、f1、f2

Cx   試品(pin)電容量[1μF=1000nF納(na)法&nbsp;/ 1nF=1000pF]，如顯(xian)示(shi)10.00nF即10000pF

tgδ 介損因數[1%=0.01]

Lx   試品電感量(liang)[1MH兆(zhao)亨(heng)=1000kH / 1kH=1000H]

Q    品(pin)質因數[無單(dan)位]

Rx   試品電阻值[1MΩ=1000kΩ / 1kΩ=1000Ω]

Ux   試驗電壓[1kV=1000V / 1V=1000mV]

Ix   試品(pin)電流[1A=1000mA / 1mA=1000μA]

Φ   試品電流(liu)超前試驗電壓(ya)的角度[°度]或測(ce)變(bian)比時一次(ci)電壓(ya)超前二(er)次(ci)電壓(ya)的角度

K    測(ce)CVT變比時，一次電壓比二次電壓

f1   頻率[Hz]，顯(xian)示**次(ci)測試頻率

f2   頻率(lv)[Hz]，顯示**次測(ce)試頻率(lv)

顯示(shi)over表示(shi)測量數據超量程。

3.2.8.2反接線低壓屏蔽測試結(jie)果(guo)界(jie)面

反接(jie)線低壓屏蔽測(ce)試一次接(jie)線可同時測(ce)出(chu)C11和C下(xia)節(jie)(下(xia)端屏蔽部分)的(de)電容量(liang)和介(jie)損值(zhi)。

3.2.8.3 CVT自(zi)激法測試結果界(jie)面

CVT自激法按測(ce)量(liang)接(jie)線，與(yu)試品輸入Cx插座連接(jie)的(de)定(ding)義為(wei)C1，與(yu)高壓線連接(jie)的(de)為(wei)C2。U1為(wei)測(ce)量(liang)C1時的(de)高壓，U2為(wei)測(ce)量(liang)C2時的(de)高壓。

3.3歷史數據

進入(ru)歷史數據菜單界面如圖3-12所示(shi)。

移(yi)動光(guang)標(biao)到(dao)(dao)“U盤(pan)”選(xuan)(xuan)項按(an)“確(que)定(ding)”鍵(jian)可將(jiang)數(shu)據(ju)(ju)導出到(dao)(dao)U盤(pan)，上(shang)移(yi)到(dao)(dao)“清(qing)(qing)空”選(xuan)(xuan)項按(an)“確(que)定(ding)”鍵(jian)可清(qing)(qing)空保存的全部(bu)數(shu)據(ju)(ju)。將(jiang)光(guang)標(biao)移(yi)動到(dao)(dao)“>>>>”選(xuan)(xuan)項按(an)下“確(que)定(ding)”鍵(jian)進(jin)入數(shu)據(ju)(ju)選(xuan)(xuan)擇界(jie)面(mian)，光(guang)標(biao)位置(zhi)默認停留在*近保存的單(dan)條數(shu)據(ju)(ju)上(shang)，若要查(cha)(cha)看其他(ta)數(shu)據(ju)(ju)可上(shang)下移(yi)動光(guang)標(biao)進(jin)行選(xuan)(xuan)擇，選(xuan)(xuan)擇好要查(cha)(cha)看的數(shu)據(ju)(ju)后按(an)“確(que)定(ding)”按(an)鈕進(jin)入單(dan)條歷史(shi)數(shu)據(ju)(ju)顯示(shi)界(jie)面(mian)。歷史(shi)數(shu)據(ju)(ju)選(xuan)(xuan)擇界(jie)面(mian)和單(dan)條歷史(shi)數(shu)據(ju)(ju)顯示(shi)界(jie)面(mian)如圖3-13和圖3-14所示(shi)。

進入單條歷史(shi)數(shu)(shu)據(ju)顯示界面后，在(zai)左(zuo)側功能(neng)選項區(qu)上下(xia)移動光標可選擇打(da)印(yin)、刪除本(ben)條數(shu)(shu)據(ju)和退出(chu)單條歷史(shi)數(shu)(shu)據(ju)顯示界面。

3.4系統設置

進(jin)入系(xi)統設(she)置菜單(dan)可(ke)進(jin)行(xing)系(xi)統時間(jian)校準，“出廠(chang)設(she)置”參(can)(can)數(shu)禁止用戶修改，只允許生產廠(chang)家進(jin)行(xing)出廠(chang)參(can)(can)數(shu)設(she)置。

3.5幫助(zhu)

可查看(kan)儀器的相關操作指導。

3.6啟動測(ce)量

進入測(ce)(ce)試界面設置(zhi)好各(ge)項試驗參數后，將(jiang)光標移動到(dao)“開始測(ce)(ce)試”功能(neng)選(xuan)項上(shang)，按(an)住(zhu)“確認”鍵3s以上(shang)啟動測(ce)(ce)量。

啟動(dong)測量(liang)后發出聲光報警；在測試過(guo)程(cheng)中會(hui)實(shi)時(shi)顯示測試相關參數（電壓(ya)、電流(liu)、頻率、電容量(liang)等(deng)參數）和測量(liang)進程(cheng)(0%～99%)。

測量(liang)中按“確認”鍵(jian)可取消測量(liang)，遇緊急情(qing)況立即關閉總電(dian)源。

測量過程(cheng)結束，儀器自動(dong)降壓(ya)后再顯(xian)示結果。

3.7對比度調(diao)節

液(ye)晶(jing)顯(xian)示屏的對比度已在出廠時校好，如果您感覺不夠清(qing)晰，調整面板上的電位器使液(ye)晶(jing)顯(xian)示屏顯(xian)示內容清(qing)晰為止。

4、參考接線

4.1常規正接(jie)線（正接(jie)線、內標準電容、內高壓）

4.2常規反接線（反接線、內(nei)標準電容(rong)、內(nei)高壓）

4.3正接線、外標準電容、內高壓

4.4反接線(xian)、外(wai)標準(zhun)電容、內(nei)高(gao)壓

4.5正接線(xian)、內標準電容、外高壓

4.6反接線(xian)、內標準電容、外高壓(ya)

4.7正接(jie)線、外標準電容、外高壓（高電壓介損）

4.8反接線、外標準電容、外高壓

4.9反接(jie)線低壓屏(ping)蔽

可在220kV CVT母線(xian)(xian)(xian)(xian)接(jie)(jie)地情況下(xia)，對C11進行不拆線(xian)(xian)(xian)(xian)10kV反接(jie)(jie)線(xian)(xian)(xian)(xian)介損測(ce)量(liang)。如下(xia)圖所示：母線(xian)(xian)(xian)(xian)掛地線(xian)(xian)(xian)(xian)，C11上端(duan)不拆線(xian)(xian)(xian)(xian)，C11下(xia)端(duan)接(jie)(jie)高壓線(xian)(xian)(xian)(xian)芯線(xian)(xian)(xian)(xian)，C2末端(duan)δ和(he)X接(jie)(jie)Cx芯線(xian)(xian)(xian)(xian)。這樣C12和(he)C2被低壓屏(ping)蔽，儀器采用反接(jie)(jie)線(xian)(xian)(xian)(xian)低壓屏(ping)蔽測(ce)量(liang)方式，可同時測(ce)出C11和(he)下(xia)端(duan)被屏(ping)蔽部分的電容量(liang)和(he)介損值(zhi)。

4.10 CVT自激法

高壓線芯(xin)線接C2下端(duan)，Cx芯(xin)線接C12上(shang)端(duan)。在CVT 自激(ji)法(fa)測量中，儀器先測量C12，然(ran)后自動(dong)倒(dao)線測量C2，并自動(dong)校準分壓影響。

1）D型高(gao)(gao)(gao)(gao)壓(ya)(ya)連(lian)(lian)線不可拖(tuo)地，高(gao)(gao)(gao)(gao)壓(ya)(ya)線應懸(xuan)空(kong)不能(neng)接(jie)觸(chu)地面（高(gao)(gao)(gao)(gao)壓(ya)(ya)線的接(jie)地屏蔽層(ceng)插頭(tou)必(bi)須懸(xuan)空(kong)），否則(ze)其對地附(fu)加介損會(hui)引起誤差(cha)，可用細(xi)電(dian)纜連(lian)(lian)接(jie)高(gao)(gao)(gao)(gao)壓(ya)(ya)插座(zuo)與CVT試品并(bing)吊起。

2）E、F、S、J型高壓連線可拖地使用，在開機初始界面（圖3-1界面），光標停留在“測試模式”處長按“→”鍵（聽到蜂鳴器聲音松手）可取消或使用拖地模式（右下角顯示“”表示當前為拖地模式），在拖地模式下必須將高壓連線的接地屏蔽層插頭接至圖2-1中的“1”（高壓測量接地）處，否則會引起測量誤差；取消拖地模式后高壓連線必須懸空吊起，高壓連線的接地屏蔽層插頭也應懸空，否則會引起測量誤差。拖地模式下的高壓連線必須使用原廠配置的電纜（已校準），否則會引起測量誤差！

4.11 CVT變比測試

儀器高(gao)壓(ya)線(xian)的芯(xin)線(xian)紅夾子接CVT的上端，母線(xian)拆(chai)地，CVT下端接地，低壓(ya)線(xian)紅黑夾子接二次繞組。

5、常見CVT的參考測量方法

目前常見的電(dian)容式電(dian)壓(ya)互感(gan)器可分為(wei)110kV、220kV、500kV等不同電(dian)壓(ya)等級(ji)，一(yi)般110kV的CVT其C1就一(yi)節，220kV的CVT其C1有(you)兩(liang)節，而(er)500kV的CVT其C1有(you)三節。

5.1  500kV CVT的(de)測量方法

1）C11的(de)測量方法

按圖5-1標明的方式接線，測量C11時應(ying)注意：

◇ 拆開δ端，X端一(yi)定要接地

◇ a點接(jie)紅(hong)色高(gao)壓測試(shi)線的芯線（紅(hong)夾子），b點接(jie)紅(hong)色高(gao)壓測試(shi)線的高(gao)壓屏蔽層（黑夾子）

2）C12的測量方(fang)法

按(an)圖5-2標(biao)明的(de)方式接線(xian)，測量C12時注意：

◇ 拆開δ端，X端一定要接地

◇ a點(dian)(dian)接紅色高壓測試線(xian)(xian)芯線(xian)(xian)（紅夾子(zi)(zi)），b點(dian)(dian)接黑(hei)色低壓測試線(xian)(xian)芯線(xian)(xian)（紅夾子(zi)(zi)）

3）C13和C2的測量方法

儀器(qi)設有(you)專門的CVT自(zi)(zi)激法(fa)，不需外加任何(he)其(qi)它設備，就可以完成(cheng)測(ce)試(shi)。按(an)圖5-3標明的方式接線，儀器(qi)選用CVT自(zi)(zi)激法(fa)測(ce)量方式，試(shi)驗電(dian)壓可設置為(wei)2kV，CVT自(zi)(zi)激法(fa)能一次測(ce)量C13和(he)C2兩(liang)個電(dian)容(rong)的介損和(he)電(dian)容(rong)量。

5.2  220kV CVT的測量方法

1）C11的測量方法

按圖5-4標明的方(fang)式接線(xian)，測量C11時(shi)注意：

◇ δ和X相(xiang)連(lian)，與(yu)接地分開(kai)。

◇ a點接紅色高壓測(ce)試線(xian)(xian)(xian)的芯(xin)線(xian)(xian)(xian)（紅夾(jia)子(zi)），C2末(mo)端(duan)δ和X 接Cx端(duan)芯(xin)線(xian)(xian)(xian)，這樣(yang)C12與C2就被低壓屏蔽了(le)。

2）C12和(he)C2的測(ce)量方法

儀器設有專門(men)的(de)CVT自激法，不需外加(jia)任何(he)其它設備，就可以(yi)完(wan)成測試(shi)。按圖5-5標明的(de)方式接線，儀器選用CVT自激法測量(liang)方式，試(shi)驗電(dian)壓(ya)可設置(zhi)為2kV，CVT自激法能(neng)一(yi)次測量(liang)C12和C2兩(liang)個電(dian)容(rong)的(de)介損和電(dian)容(rong)量(liang)。

5.3  110kV CVT的測量方法(fa)

儀器設有專(zhuan)門(men)的CVT自激(ji)法，不需外加(jia)任何其它設備，就可以完成(cheng)測(ce)試(shi)。按圖5-6標明的方式(shi)接線，儀器選用CVT自激(ji)法測(ce)量(liang)(liang)方式(shi)，試(shi)驗電壓可設置為2kV，CVT自激(ji)法能一次測(ce)量(liang)(liang)C13和C2兩個電容的介(jie)損和電容量(liang)(liang)。

6、現場試驗注意(yi)事項

如果使用中出現測試數據明顯不合理，請從以下方面查(cha)找原(yuan)因：

6.1搭鉤接觸**

現場測量使用搭鉤連(lian)接試(shi)(shi)品時，搭鉤務必與試(shi)(shi)品接觸(chu)(chu)良好，否(fou)則接觸(chu)(chu)點(dian)放電會引起(qi)數據嚴(yan)重波(bo)動！尤其是引流線氧化層太厚，或風吹線擺動，易(yi)造成(cheng)接觸(chu)(chu)**。

6.2接地接觸(chu)**

接地**會引(yin)起(qi)儀器保(bao)護或數據嚴(yan)重波(bo)動。應刮凈接地點上的油(you)漆(qi)和(he)銹(xiu)蝕，務必保(bao)證0電阻接地！

6.3直接(jie)測量(liang)CVT或(huo)末端屏蔽法測量(liang)電(dian)磁式PT

直(zhi)接測(ce)量CVT的下(xia)節(jie)耦合電容會(hui)出(chu)現負介損，消除負介損可采取下(xia)述措施或(huo)改用CVT自激法測(ce)量：

1）測(ce)試時測(ce)量儀器的接地端直接接在被試品的金屬底(di)座上，并保證接觸良(liang)好。

2）條件允(yun)許時盡可(ke)能(neng)將非被試(shi)繞組短接(jie)，以(yi)減小(xiao)電(dian)感和鐵心損耗(hao)的(de)影響。

3）被試品周(zhou)圍不應(ying)有鐵(tie)架(jia)、腳手架(jia)、木梯等物體，盡可能(neng)減(jian)小分布阻抗的影(ying)響。

4）試驗引線(xian)(xian)與被試品(pin)的夾(jia)角應盡可能(neng)接近90°，以減(jian)小(xiao)線(xian)(xian)與試品(pin)間(jian)的分布電容(rong)。

用末端屏蔽(bi)法測量電磁式PT時，由于受潮引(yin)起(qi)“T形網絡干擾”出現負介損，吹干下面三裙瓷套和接線端子盤即可(ke)。也可(ke)改用常規法或末端加壓(ya)法測量。

6.4空氣濕(shi)度過大

空氣濕(shi)度大(da)使介損(sun)測(ce)量值異常(chang)增大(da)（或減小甚至為負(fu)）且不穩(wen)定，必要時可(ke)加(jia)屏蔽環(huan)。因人為加(jia)屏蔽環(huan)改(gai)變了試(shi)品(pin)電場分布(bu)，此法有爭(zheng)議，可(ke)參照有關規程。

6.5發電(dian)機供電(dian)

發電(dian)機供電(dian)時(shi)可(ke)采用定(ding)頻50Hz模式工作。

6.6測(ce)試線(xian)

1）由于(yu)長(chang)期使用(yong)，易(yi)造成(cheng)測(ce)試(shi)線(xian)隱性斷路，或(huo)芯(xin)線(xian)和屏蔽短路，或(huo)插(cha)頭(tou)接觸(chu)**，用(yong)戶應經(jing)常(chang)維護測(ce)試(shi)線(xian)。

2）測試標準電(dian)容試品(pin)時，應使用全(quan)屏蔽(bi)插頭(tou)連(lian)接，以消除(chu)附加(jia)雜散電(dian)容影響，否則(ze)不能(neng)反映儀器精度。

3）自(zi)激法測(ce)量(liang)CVT時，若使用“高(gao)壓連線拖地(di)(di)”功能，請務(wu)必使用原廠(chang)(chang)配置的專用高(gao)壓電纜(lan)（原廠(chang)(chang)電纜(lan)在出廠(chang)(chang)時已進行(xing)(xing)校準），高(gao)壓連線的接地(di)(di)屏蔽(bi)層必須接地(di)(di)，不可(ke)使用其它高(gao)壓電纜(lan)代(dai)替，否則會(hui)引起較(jiao)大的測(ce)量(liang)誤差(cha)。若拖地(di)(di)模式下測(ce)量(liang)誤差(cha)較(jiao)大，則需將專用高(gao)壓電纜(lan)返廠(chang)(chang)重(zhong)新進行(xing)(xing)校準。

4）自激法測(ce)量CVT時(shi)，非(fei)(fei)專用(yong)的(de)高壓(ya)線(xian)應吊起(qi)懸空，否則對(dui)地(di)附加(jia)雜散電(dian)容和介損會引起(qi)測(ce)量誤差(cha)。使用(yong)專用(yong)電(dian)纜在非(fei)(fei)拖地(di)模式下測(ce)量CVT，高壓(ya)電(dian)纜也應懸空且電(dian)纜的(de)接(jie)(jie)地(di)屏蔽(bi)層(ceng)不能接(jie)(jie)地(di)，否則會引起(qi)較大的(de)測(ce)量誤差(cha)。

6.7工作模式選擇

接(jie)好線后請選擇正(zheng)確的測量工作模式(shi)，不可(ke)選錯。特別是干(gan)擾(rao)環境下應選用變(bian)頻抗干(gan)擾(rao)模式(shi)。

6.8試驗(yan)方法影響

由于介損測量受試驗方法影響較大，應(ying)區分(fen)是試驗方法誤差還是儀(yi)器誤差。出現問題時(shi)可首先檢查接線，然后檢查是否為儀(yi)器故障。

6.9儀器故障

1）用萬(wan)用表測量一下(xia)測試線是(shi)否斷路，或(huo)芯線和屏蔽是(shi)否短路；

2）輸入電(dian)源(yuan)220V過高或過低；接地是否良好；

3）用正、反接線測一(yi)下標準電容(rong)器(qi)或已(yi)知容(rong)量和介(jie)損的電容(rong)試品，如果結果正確(que)，即可(ke)判(pan)斷(duan)儀器(qi)沒(mei)有問題；

4）拔下所有測試導線，進行(xing)空試升壓(ya)，若不(bu)能(neng)正常工作，儀器可能(neng)有故障(zhang)。

7、儀器(qi)檢定(ding)

7.1檢定

用(yong)帶插頭的屏蔽電(dian)纜連接標(biao)準(zhun)損耗器。如果不能保(bao)證標(biao)準(zhun)損耗器的精度，應(ying)使用(yong)比對(dui)法檢定(ding)，建議用(yong)2801電(dian)橋(qiao)(qiao)或其它精密(mi)電(dian)橋(qiao)(qiao)作比對(dui)標(biao)準(zhun)。

1）介質損耗因數標準器一般為(wei)串(chuan)聯(lian)(lian)模型，因此儀(yi)器的試品模型應(ying)選(xuan)擇“RC串(chuan)聯(lian)(lian)(電(dian)流(liu)比(bi)較儀(yi)型電(dian)橋(qiao))”或“RC串(chuan)聯(lian)(lian)(西林型電(dian)橋(qiao))”。

RC串(chuan)(chuan)聯(電流(liu)比較(jiao)(jiao)儀(yi)型(xing)電橋)：采用電流(liu)比較(jiao)(jiao)儀(yi)型(xing)電橋（如QS30電橋）校準(zhun)的(de)串(chuan)(chuan)聯型(xing)試(shi)品(pin)(或介質損耗因(yin)數標準(zhun)器)，該項(xiang)在開始測試(shi)界面顯示"RC串(chuan)(chuan)聯"。

RC串聯(西林型電橋)： 采用西林型電橋（如2801、QS1和QS37等電橋）校準的串聯型試品(或介質損耗因數標準器) ，該項在開始測試界面顯示 "RC串聯"。

采用電(dian)流比較儀型(xing)電(dian)橋(qiao)和(he)西林型(xing)電(dian)橋(qiao)校準的串聯型(xing)試品(或介質損(sun)耗因數標準器)的區別(bie)只(zhi)是電(dian)容量不同：

為西林型電橋標定值，C為電流比較儀型電橋標定值。

2）用介質損耗因數標準器（或標準電容器）檢定儀器反接(jie)線精(jing)度時(shi)，高(gao)壓電纜(lan)與試品連接(jie)必須使用全(quan)屏(ping)蔽插頭，否則(ze)暴露的芯線會(hui)引起測量(liang)誤(wu)差。

3）用介(jie)質損耗(hao)因數標準器（或標準電容器）檢定儀器正接線(xian)精度時，低壓電纜(lan)與試品連接必須使用全屏(ping)蔽(bi)插頭(tou)，否則暴露的(de)芯線(xian)會(hui)引起測量誤差。

嚴格按(an)照上述要求檢定方能真實反映本儀(yi)器的測量精度！

7.2抗干(gan)擾能力

設置一個回路向儀器注(zhu)入定量(liang)的干擾(rao)電流。

注意：

1）應考慮(lv)到該回路可能成為(wei)試(shi)品的一部分(fen)。

2）儀(yi)器(qi)啟動(dong)后會(hui)使220V供電(dian)電(dian)路帶有測量頻率分(fen)(fen)量，如果該(gai)頻率分(fen)(fen)量又(you)通過干擾電(dian)流進入儀(yi)器(qi)，則無法檢驗(yan)儀(yi)器(qi)的抗干擾能力。

3）不建(jian)議(yi)用臨近(jin)高壓導體(ti)施加干擾，因為(wei)這(zhe)樣很(hen)容易產(chan)生(sheng)近(jin)距離(li)**放電，這(zhe)種放電電阻是(shi)非線性的，容易產(chan)生(sheng)同頻干擾。