1、WBJS6000變頻精密介損儀特點(dian)及(ji)性能

介損絕(jue)緣試(shi)驗(yan)可(ke)以(yi)有效地發現電器設備(bei)絕(jue)緣的整體(ti)受(shou)潮劣化變質以(yi)及(ji)局部(bu)缺陷等，在(zai)電工制造(zao)、電氣(qi)設備(bei)安裝、交接和預防性(xing)試(shi)驗(yan)中(zhong)都廣泛應(ying)用。

介(jie)質(zhi)損耗測量(liang)(liang)儀用于現(xian)場介(jie)損測量(liang)(liang)或試驗室精密介(jie)損測量(liang)(liang)。儀器為一體(ti)化結(jie)構，內置介(jie)損電(dian)橋、變頻電(dian)源、試驗變壓(ya)器和標(biao)準電(dian)容(rong)器等。儀器采用變頻抗干擾和傅立葉(xie)變換(huan)數(shu)(shu)字(zi)濾波技(ji)術，全自動智(zhi)能化測量(liang)(liang)，強干擾下測量(liang)(liang)數(shu)(shu)據非常穩(wen)定(ding)。測量(liang)(liang)結(jie)果(guo)(guo)由(you)大屏(ping)幕液晶顯(xian)示(shi)，儀器自帶微型打印(yin)機可打印(yin)輸出測試結(jie)果(guo)(guo)。

1.1主要技術指標

額定工(gong)作條件：環(huan)境溫度  -10℃～50℃

相對濕度  <85%阿

輸入電(dian)源：    180V～270VAC，50Hz/60Hz±1%，市(shi)電(dian)或發電(dian)機供電(dian)

準確度：      Cx: ±（讀數×1%+1pF）

tgδ: ±（讀數×1%+0.00040）

抗干擾(rao)(rao)指標(biao)：   變(bian)頻抗干擾(rao)(rao)，在200%干擾(rao)(rao)下(xia)仍能達到上述準確度

電容量(liang)范(fan)圍：   內施高壓：3pF～60000pF/10kV    60pF～1μF/0.5kV

外施高壓：3pF～1.5μF/10kV      60pF～30μF/0.5kV

分(fen)辨率(lv)：       *高0.001pF，4位有效數字

tgδ范圍：     不限，分辨(bian)率0.001%，電(dian)(dian)容、電(dian)(dian)感、電(dian)(dian)阻三種試(shi)品自動(dong)識別。

試驗(yan)電(dian)流范圍： 10μA～5A

內施高壓：    設定電(dian)壓范圍：0.5～10kV

*大(da)輸出電流：200mA

升(sheng)降壓方式(shi)：連續(xu)平滑調節

電壓精度：±(1.0%×讀數(shu)+10V)

電(dian)壓(ya)分辨率：0.1V

試驗頻率(lv)：45、50、55、60、65Hz 單頻

45/55Hz、55/65Hz、47.5/52.5Hz 自動雙(shuang)變頻

頻(pin)率精度：±0.01Hz

外(wai)施高(gao)壓(ya)： &nbsp;  正、反接線時*大(da)試驗電流5A

CVT自激法低(di)壓(ya)輸出(chu)：輸出(chu)電(dian)(dian)壓(ya)3～50V，輸出(chu)電(dian)(dian)流3～30A

高電(dian)壓介(jie)損： &nbsp;支持變(bian)頻和諧振電(dian)源(yuan)高電(dian)壓介(jie)損

實(shi)時時鐘(zhong)：&nbsp;   實(shi)時顯(xian)示時間和日(ri)期

內(nei)部(bu)存(cun)儲：    儀器內(nei)部(bu)可存(cun)儲100組測量數據

U盤： &nbsp;      支(zhi)持U盤存儲

打印(yin)機：      微型熱敏(min)打印(yin)機

計算機接(jie)口(kou)：&nbsp; 標準(zhun)RS232接(jie)口(kou)（選(xuan)配）

尺寸重(zhong)量(liang)：    K型(xing)：外(wai)形(xing)尺寸368mm×288mm×280mm；主機重(zhong)量(liang)22kg。

其他款型：外形尺寸430mm×314mm×334mm；主(zhu)機重量30kg。

注：上(shang)述為E型(xing)主(zhu)要技術指(zhi)標，其它型(xing)號技術指(zhi)標詳見(jian)本章節(jie)“1.3.6各(ge)型(xing)號測試功(gong)能說(shuo)明”。

1.2 WBJS6000變頻精密介損儀系列型號功能列表

1.3 WBJS6000變頻精密介損儀主要功能特點

1.3.1 變(bian)頻抗(kang)干擾

采用(yong)變頻抗干(gan)擾(rao)技術，在200%干(gan)擾(rao)下仍能準確(que)測(ce)量(liang)，測(ce)試數據(ju)穩定，適合在現(xian)場做抗干(gan)擾(rao)介損試驗(yan)。

1.3.2高精度測(ce)量

采用數字波(bo)形(xing)分析和電橋自校準等技術，配合(he)高精(jing)度(du)三端(duan)標準電容器，實現高精(jing)度(du)介損測量(liang)。儀器所有量(liang)程(cheng)輸入電阻低于2Ω，消(xiao)除了測量(liang)電纜附加電容的影響。

1.3.3**措施

高壓保護：試品短(duan)路(lu)、擊穿(chuan)或高壓電流波動(dong)，能以短(duan)路(lu)方(fang)式高速切斷輸(shu)出。

供電(dian)保(bao)(bao)護：誤接(jie)380V、電(dian)源波動(dong)或突然(ran)斷電(dian)，啟(qi)動(dong)保(bao)(bao)護，不(bu)會引起過電(dian)壓。

接地(di)保護(hu)：具有接地(di)檢測功能，未接地(di)時不能升壓(ya)，若測量過程中儀器(qi)接地(di)**則(ze)啟動接地(di)保護(hu)。

CVT 保護(hu)：高壓(ya)側電(dian)壓(ya)和電(dian)流、低壓(ya)側電(dian)壓(ya)和電(dian)流四個(ge)保護(hu)限制，不會損壞(huai)設備；誤選菜單不會輸(shu)(shu)出激(ji)磁電(dian)壓(ya)。CVT測量時無(wu)10kV高壓(ya)輸(shu)(shu)出。

防誤(wu)操作(zuo)：兩級(ji)電源(yuan)開(kai)關；電壓(ya)、電流(liu)實時監視；多(duo)次(ci)按鍵確認；接(jie)線端子高/低壓(ya)分(fen)明(ming)；慢(man)速升壓(ya)，可迅速降壓(ya)，聲光報警。

防“容(rong)升”：測量(liang)大容(rong)量(liang)試(shi)品時會出(chu)現(xian)電(dian)壓抬高的“容(rong)升”效應(ying)，儀器能自動跟蹤輸出(chu)電(dian)壓，保持試(shi)驗電(dian)壓恒定(ding)。

高壓電纜：為耐高壓絕緣導線，可拖地使用。

抗震性(xing)能(neng)：儀(yi)器采用獨特抗震設計，可耐受(shou)強(qiang)烈長途運輸震動、顛(dian)簸而不會損(sun)壞。

1.3.4打印存儲

儀器自帶微型打印機，可以將測量結果打印輸出，并將測量結果存(cun)貯到儀器內（可存(cun)儲100組測量數據）或U盤，以便(bian)日(ri)后(hou)查閱。

1.3.5實時時鐘

儀器(qi)內帶(dai)實(shi)時時鐘(zhong)，實(shi)時顯示，并能記錄測量的日期(qi)和時間。

1.3.6各型號測試功(gong)能說明

B型：輕便型，高(gao)壓*大輸出電(dian)流為140mA，具(ju)有(you)正(zheng)接線(xian)、反接線(xian)功能，可(ke)(ke)選擇內(nei)/外標準電(dian)容、內(nei)/外高(gao)壓多種工作模式，一體化結構(gou)，可(ke)(ke)做各(ge)種常(chang)規介損試驗。

D型：實(shi)用(yong)型，高(gao)壓*大輸出電(dian)流為200mA，具有(you)正接(jie)線(xian)(xian)(xian)、反(fan)接(jie)線(xian)(xian)(xian)、反(fan)接(jie)線(xian)(xian)(xian)低壓屏蔽、CVT自(zi)激法，反(fan)接(jie)線(xian)(xian)(xian)低壓屏蔽功能(neng)能(neng)在220kV CVT母線(xian)(xian)(xian)接(jie)地(di)情況下，對C11進行不拆線(xian)(xian)(xian)10kV反(fan)接(jie)線(xian)(xian)(xian)介損(sun)測量，并可一次(ci)接(jie)線(xian)(xian)(xian)同(tong)時測出兩個電(dian)容的電(dian)容量和(he)(he)介損(sun)值(zhi)。CVT自(zi)激法測量時，C1/C2可一次(ci)接(jie)線(xian)(xian)(xian)同(tong)時測出，無須(xu)換線(xian)(xian)(xian)和(he)(he)外接(jie)任何配件，但高(gao)壓測量線(xian)(xian)(xian)需(xu)懸(xuan)空吊起。

E型(xing)：標(biao)準型(xing)，在D型(xing)基礎(chu)上增加了CVT變(bian)比測試(shi)功能，同時(shi)升級了CVT自激法測試(shi)，現場CVT自激法測試(shi)時(shi)高壓測量線可拖地使用，無需吊起。

F型(xing)：增(zeng)強型(xing)，功能(neng)同E型(xing)，輸出(chu)*高(gao)電壓從10kV增(zeng)加至12kV。

K型(xing)：標準型(xing)，在(zai)E型(xing)基(ji)礎上減小(xiao)體積(ji)重(zhong)量，設備更精(jing)巧。

S型(xing)(xing)：四通道(dao)型(xing)(xing)，功能同E型(xing)(xing)，增加了3個(ge)正接通道(dao)。

J型(xing)(xing)：高精度型(xing)(xing)，功能同E型(xing)(xing)，測量準確度為(wei)0.5%。

所有型號儀(yi)器均具備下述特點(dian)：

（1）支持變頻和諧振電(dian)源高電(dian)壓介損。

（2）內置串聯和并聯兩種介(jie)損測量(liang)模型，方便(bian)儀器檢定。

（3）配(pei)置(zhi)熱敏打印機，使打印更加快捷、無噪音和清(qing)晰。

（4）320×240點陣大屏(ping)液(ye)晶顯示，菜單(dan)操作，測試(shi)數(shu)據豐富，自動分(fen)辨(bian)電(dian)容、電(dian)感、電(dian)阻(zu)型試(shi)品。

（5）具(ju)有外接(jie)標準(zhun)(zhun)電容(rong)器接(jie)口，可外接(jie)油杯做精密絕(jue)緣(yuan)油介(jie)損(sun)試驗，可外接(jie)固體材(cai)(cai)料測量電極做精密絕(jue)緣(yuan)材(cai)(cai)料介(jie)損(sun)試驗，也可外接(jie)高壓標準(zhun)(zhun)電容(rong)器做高電壓介(jie)損(sun)試驗。

（6）帶日(ri)歷時鐘，可(ke)存儲(chu)100組(zu)測(ce)量數(shu)據。

（7）計算機接口(kou)（選(xuan)配）。

2、WBJS6000變頻精密介損儀面(mian)板說明

高(gao)(gao)壓(ya)輸出測量接(jie)地(di)：若出廠配置的高(gao)(gao)壓(ya)測試線有接(jie)地(di)屏(ping)蔽層(ceng)，則需將高(gao)(gao)壓(ya)測量線的接(jie)地(di)屏(ping)蔽層(ceng)連接(jie)至此處，沒有則留空(kong)。CVT自(zi)激法測量的高(gao)(gao)壓(ya)連線接(jie)地(di)屏(ping)蔽層(ceng)在(zai)拖(tuo)地(di)模式下(xia)必須接(jie)地(di)，非拖(tuo)地(di)模式下(xia)接(jie)地(di)屏(ping)蔽層(ceng)應(ying)懸空(kong)不能接(jie)地(di)且高(gao)(gao)壓(ya)測量線也應(ying)懸空(kong)吊起不能拖(tuo)地(di)。

高壓輸出插(cha)座（0.5～10kV，*大200mA）

安裝位(wei)置(zhi)：如圖2-1所示，安裝在箱體前側面。

功    能：內(nei)高壓輸(shu)出；檢(jian)測反接線(xian)試品電流(liu)；內(nei)部標準電容(rong)器的高壓端。

接線(xian)方法(fa)：插座1腳(jiao)接高(gao)(gao)壓(ya)線(xian)芯線(xian)（紅(hong)夾(jia)(jia)子(zi)），2、3腳(jiao)接高(gao)(gao)壓(ya)線(xian)屏(ping)(ping)蔽(bi)（黑夾(jia)(jia)子(zi)）。正(zheng)接線(xian)時，高(gao)(gao)壓(ya)線(xian)芯線(xian)（紅(hong)夾(jia)(jia)子(zi)）和屏(ping)(ping)蔽(bi)（黑夾(jia)(jia)子(zi)）都可(ke)以用(yong)作加壓(ya)線(xian)；反接線(xian)時只能用(yong)芯線(xian)對試品高(gao)(gao)壓(ya)端加壓(ya)。如(ru)果(guo)試品高(gao)(gao)壓(ya)端有(you)屏(ping)(ping)蔽(bi)極（如(ru)高(gao)(gao)壓(ya)端的屏(ping)(ping)蔽(bi)環）可(ke)接高(gao)(gao)壓(ya)屏(ping)(ping)蔽(bi)，無屏(ping)(ping)蔽(bi)時高(gao)(gao)壓(ya)屏(ping)(ping)蔽(bi)懸空。若配置的高(gao)(gao)壓(ya)測試線(xian)有(you)接地屏(ping)(ping)蔽(bi)層，則需將高(gao)(gao)壓(ya)測量(liang)線(xian)的接地屏(ping)(ping)蔽(bi)層連接至(zhi)圖(tu)2-1中的“1”處。

注意事(shi)項：

（1）若儀(yi)器CVT自激(ji)法高壓連(lian)線具備“高壓拖(tuo)地(di)(di)”功能(neng)，使用拖(tuo)地(di)(di)模式測量(liang)時(shi)務必(bi)使用原(yuan)(yuan)廠配置(zhi)的專(zhuan)用高壓電(dian)(dian)纜(lan)(lan)（原(yuan)(yuan)廠電(dian)(dian)纜(lan)(lan)在出廠時(shi)已進(jin)行校準），不可使用其它高壓電(dian)(dian)纜(lan)(lan)代(dai)替，否則會引(yin)起較大(da)的測量(liang)誤差(cha)。CVT自激(ji)法不使用拖(tuo)地(di)(di)模式時(shi)，高壓電(dian)(dian)纜(lan)(lan)必(bi)須懸空(kong)，接地(di)(di)屏蔽層也不能(neng)接地(di)(di)！

（2）高(gao)壓(ya)插座和(he)高(gao)壓(ya)線(xian)有危(wei)險(xian)電(dian)壓(ya)，**禁止碰(peng)觸(chu)高(gao)壓(ya)插座、電(dian)纜(lan)、夾子和(he)試品帶電(dian)部(bu)位(wei)！確認斷(duan)電(dian)后(hou)接(jie)線(xian)，測量時(shi)務(wu)必遠離！

（3）用標準(zhun)介損器（或標準(zhun)電容器）檢(jian)定反接線精度時，應使用全(quan)屏蔽(bi)插頭連接試品(pin)，否(fou)則暴露的芯線會引起測(ce)量(liang)誤差。

（4）應保證高壓(ya)線與試品高壓(ya)端(duan)零電(dian)阻連(lian)接，否(fou)則可(ke)能引(yin)起誤(wu)差或數據波動，也可(ke)能引(yin)起儀器保護。

（5）強干擾下拆(chai)除接(jie)線(xian)時，應在保持電(dian)纜接(jie)地狀態下斷(duan)開連接(jie)，以防感應電(dian)擊。

CVT自激法低壓輸出插(cha)座(zuo)（3～50V，3～30A）

功(gong)    能：由(you)該(gai)插(cha)座(zuo)和圖(tu)2-1中的接地接線柱“4”輸出(chu)CVT測量的低壓變頻激勵電源。

注(zhu)意事(shi)項：

（1）因低壓輸(shu)出電流大，應采(cai)用儀器(qi)專用低阻線連接CVT二次繞組(zu)，接觸**會影響(xiang)測量。

（2）視CVT容量從(cong)菜單選擇(ze)合適的電壓(ya)電流保護限。

（3）選擇正(zheng)/反接線時，此輸出封閉。

測(ce)量(liang)接(jie)地：它(ta)同外殼和電源插座地線連到(dao)一起(qi)，與圖2-1的(de)(de)“3”一起(qi)輸出CVT測(ce)量(liang)的(de)(de)低壓變頻激勵電源。盡(jin)管(guan)儀(yi)(yi)器有接(jie)地保護，但無論何種測(ce)量(liang)，儀(yi)(yi)器都應可靠獨立(li)接(jie)地以保障使(shi)用者的(de)(de)**及測(ce)量(liang)結(jie)果的(de)(de)準確。

打印機(ji)：微型熱敏打印機(ji)，用于(yu)打印測試數據。

USB：USB通信(xin)用。

RS232：與(yu)計算機(ji)聯機(ji)使用。

U盤：用于(yu)外(wai)接U盤保存數據。

試品輸入(ru)Cx插座（10μA～5A）

功    能：正接線時輸入試(shi)品(pin)電流。

接(jie)(jie)線(xian)方法：插座1腳(jiao)接(jie)(jie)測量(liang)線(xian)芯線(xian)（紅夾(jia)(jia)子(zi)），2、3腳(jiao)接(jie)(jie)測量(liang)線(xian)屏(ping)蔽（黑夾(jia)(jia)子(zi)）。正接(jie)(jie)線(xian)時(shi)芯線(xian)（紅夾(jia)(jia)子(zi)）接(jie)(jie)試(shi)品低壓(ya)信號端，如果試(shi)品低壓(ya)端有屏(ping)蔽極（如低壓(ya)端的屏(ping)蔽環）可接(jie)(jie)屏(ping)蔽，試(shi)品無屏(ping)蔽時(shi)屏(ping)蔽懸空。

注意事項：

（1）測量中嚴禁拔下(xia)插頭，防止試(shi)品電流經人體入地！

（2）用(yong)標準介損(sun)器(qi)（或標準電容器(qi)）檢測儀器(qi)正接線精度時(shi)，應使用(yong)全屏(ping)蔽插頭連接試品，否則(ze)暴露的芯(xin)線會引起測量(liang)誤差(cha)。

（3）應保證引(yin)(yin)線與試品低壓端0電(dian)阻連接，否則可(ke)能(neng)引(yin)(yin)起(qi)(qi)誤(wu)差或數(shu)據(ju)波動(dong)，也可(ke)能(neng)引(yin)(yin)起(qi)(qi)儀器保護(hu)。

（4）強(qiang)干擾下拆(chai)除接線時，應(ying)(ying)在保持電纜接地狀態下斷開連接，以防感應(ying)(ying)電擊。

標(biao)準電容輸入(ru)Cn插座(zuo)（10μA～5A）

功&nbsp;   能(neng)：輸(shu)入外接標(biao)準電容器電流。

接線(xian)方法(fa)：與Cx插(cha)座類似，其區別在于：

（1）使用外部標準電(dian)容器時(shi)，應使用全屏(ping)蔽插(cha)頭連接。此方式(shi)常用于外接高電(dian)壓等(deng)級(ji)標準電(dian)容器，實現高電(dian)壓介損測量。

（2）菜單(dan)選擇“外(wai)標準電容(rong)”方式。

（3）將外接(jie)標準電容(rong)器的C和tgδ置(zhi)入(ru)儀器，實現Cx電容(rong)介損的**值測(ce)量(liang)。

從理(li)論上講(jiang)，任何容量和(he)介損的電容器，將參數置入儀(yi)器都可做標準電容器。不(bu)同的是標準電容器能提供更好的長期穩定性(xing)和(he)精度。

（4）不管正(zheng)接線還是反接線測量，標(biao)準電容器(qi)接線方式始(shi)終為正(zheng)接線。

總(zong)電源(yuan)開關：開關機用，可在(zai)發現異(yi)常(chang)時隨時關閉。

供電(dian)(dian)電(dian)(dian)源插(cha)(cha)座(zuo)(zuo)：接220V市(shi)電(dian)(dian)，插(cha)(cha)座(zuo)(zuo)內置保(bao)險絲座(zuo)(zuo)，保(bao)險絲規(gui)格為(wei)10A / 250V，若損壞應(ying)使用(yong)相同規(gui)格的保(bao)險絲替換(huan)。若換(huan)用(yong)備(bei)用(yong)保(bao)險絲后仍燒斷，可(ke)能儀器有故(gu)障(zhang)，可(ke)通(tong)知廠家處理。

高壓允許開(kai)關：內置高壓系統(tong)(tong)或(huo)CVT自(zi)激法低壓輸出系統(tong)(tong)的總(zong)電(dian)源(yuan)開(kai)關。此開(kai)關受總(zong)電(dian)源(yuan)開(kai)關控(kong)制。

按(an)(an)鍵(jian)(jian)(jian)：按(an)(an)下“↑”、“↓”、“←”、“→”鍵(jian)(jian)(jian)可移動光標(biao)(biao)和修改光標(biao)(biao)處內(nei)容，“確認(ren)”鍵(jian)(jian)(jian)用于確認(ren)或(huo)結束參數修改，在測試界面(mian)長(chang)按(an)(an)該鍵(jian)(jian)(jian)可開(kai)始測量(liang)，測量(liang)過(guo)程中，按(an)(an)“確認(ren)”鍵(jian)(jian)(jian)可終(zhong)止測量(liang)。

液(ye)晶(jing)顯(xian)(xian)示(shi)屏：320×240點陣灰白背光(guang)液(ye)晶(jing)顯(xian)(xian)示(shi)屏，顯(xian)(xian)示(shi)菜單、測量結(jie)果或出錯信息。應避(bi)免(mian)長時間(jian)陽光(guang)爆曬，避(bi)免(mian)重壓。

背光調(diao)節：液(ye)晶(jing)顯示(shi)屏顯示(shi)較暗或不(bu)清(qing)晰時可調(diao)節該電位器至合適位置使顯示(shi)明(ming)亮清(qing)晰。

指示(shi)燈：配合儀器(qi)內部蜂鳴(ming)器(qi)進行測試、報警等聲光警示(shi)。

3、WBJS6000變頻精密介損儀使(shi)用說明

3.1初始菜單界(jie)面(mian)

打開總電(dian)源開關后，系(xi)統進入初始菜單(dan)界面(mian)。

測試(shi)模式(shi)：選擇測試(shi)模式(shi)和設置各(ge)項測試(shi)參數，

歷史記錄(lu)：查看保存的歷史數據

系(xi)統(tong)設置：出(chu)廠參數設置及系(xi)統(tong)時(shi)間校準

幫    ;助：可查閱軟(ruan)件版本等(deng)信息(xi)

取消或使用CVT自(zi)激法“高壓連線拖地”功能：

開機右下角顯示“”表示該儀器在CVT自激法測試時高壓連線具備拖地功能。

光標停留在“測試模式”處長按“→”鍵（聽到蜂鳴器聲音松手）可取消或使用拖地模式（右下角顯示“”表示當前為拖地模式），在拖地模式下必須將高壓連線的接地屏蔽層插頭接至圖2-1中的“1”（高壓測量接地）處，否則會引起測量誤差；取消拖地模式后高壓連線必須懸空吊起，同時高壓連線的接地屏蔽層插頭也應懸空，否則會引起測量誤差。

使(shi)用(yong)或(huo)取消發“發電(dian)機供電(dian)”模式：

光標停留在“測試模式”處長按“←”鍵（聽到蜂鳴器聲音松手）可使用或取消發電機供電模式（左下角顯示“”表示當前為發電機供電模式），儀器開機默認為市電供電模式，發電機模式適合使用發電機或移動電源供電環境，發電機模式下儀器將不進行接地檢測。

3.2測(ce)試模式

3.2.1 開始(shi)測試菜單界面

在初始(shi)菜單(dan)(dan)界面將光標移(yi)動到(dao)“測試(shi)模式”按(an)確定按(an)鈕進(jin)入開始(shi)測試(shi)菜單(dan)(dan)界面，如圖3-2所示。

界(jie)面左側為(wei)參(can)數(shu)設(she)置(zhi)選項，移動光標到(dao)相關參(can)數(shu)選項按(an)確(que)(que)定鍵可設(she)置(zhi)相關試驗(yan)參(can)數(shu)，右(you)側顯示(shi)內容(rong)為(wei)已設(she)置(zhi)好試驗(yan)參(can)數(shu)，光標停(ting)留(liu)在“開始測試”欄(lan)長按(an)“確(que)(que)認” 鍵可開始測試。

界面右(you)側“測(ce)(ce)試地(di)點”下一行為(wei)信息提(ti)示(shi)(shi)行，若內外高(gao)(gao)壓(ya)選擇有誤則提(ti)示(shi)(shi)“當前(qian)(qian)為(wei)內高(gao)(gao)壓(ya)模式，請開啟內高(gao)(gao)壓(ya)”或“當前(qian)(qian)為(wei)外高(gao)(gao)壓(ya)模式，請關閉內高(gao)(gao)壓(ya)”；若儀(yi)器(qi)沒有接地(di)則會(hui)提(ti)示(shi)(shi)“請檢查接地(di)”，當有錯誤提(ti)示(shi)(shi)時儀(yi)器(qi)無(wu)法正(zheng)常(chang)啟動，只有提(ti)示(shi)(shi)“確(que)認無(wu)誤后長按(an)確(que)認鍵開始測(ce)(ce)試”時儀(yi)器(qi)方可啟動測(ce)(ce)試。

3.2.2 試品模型選(xuan)擇菜單界面

將光(guang)標移(yi)動到(dao)“試(shi)品模型”功(gong)能(neng)選(xuan)項，界面(mian)如圖3-3所示(shi)，按(an)“確(que)認”按(an)鈕(niu)后(hou)移(yi)動光(guang)標可選(xuan)擇合適的試(shi)品模型（光(guang)標移(yi)動到(dao)相(xiang)應功(gong)能(neng)后(hou)按(an)確(que)認鍵(jian)）。實驗室一般(ban)使用串(chuan)聯型介損因數標準器檢定(ding)，校驗時(shi)應使用RC串(chuan)聯模型。

RC串聯(lian)(電(dian)流比(bi)較(jiao)儀型電(dian)橋(qiao))：采(cai)用電(dian)流比(bi)較(jiao)儀型電(dian)橋(qiao)（如QS30電(dian)橋(qiao)）校準(zhun)的串聯(lian)型試(shi)(shi)品(或介質損耗因(yin)數標準(zhun)器)，該項在開始測試(shi)(shi)界(jie)面顯(xian)示"RC串聯(lian)"。

RC串聯(西林型電橋)： 采用西林型電橋（如2801、QS1和QS37等電橋）校準的串聯型試品(或介質損耗因數標準器) ，該項在開始測試界面顯示 "RC串聯"。

RC并聯(現(xian)場使(shi)用)：一般實際的電容試品(pin)可等效為RC并聯模(mo)型，建議現(xian)場試驗(yan)時(shi)使(shi)用。

采用電流比較儀型電橋和西林型電橋校準的串聯型試品(或介質損耗因數標準器)的區別只是電容量不同：為西林型電橋標定值，C為電流比較儀型電橋標定值。

3.2.3 接線方式(shi)選擇(ze)菜單界面

將光標移(yi)(yi)動到(dao)“接線(xian)方式”功能選(xuan)項，界面如圖3-4所示，按“確認”按鈕后移(yi)(yi)動光標可選(xuan)擇合適(shi)的(de)接線(xian)方式。

接(jie)(jie)線(xian)(xian)方(fang)式(shi)：共(gong)5種接(jie)(jie)線(xian)(xian)方(fang)式(shi)（功能因型(xing)號有差別，具體(ti)詳見型(xing)號功能說明(ming)部分(fen)），分(fen)別為(wei)：正接(jie)(jie)線(xian)(xian)、反(fan)接(jie)(jie)線(xian)(xian)、反(fan)接(jie)(jie)線(xian)(xian)低壓屏蔽、CVT自激法和變比。選擇CVT自激法測量時需同(tong)時將相關參數一并設(she)置(zhi)好(hao)。

CVT自激法測(ce)量必須(xu)打(da)開(kai)內高(gao)壓(ya)允許(xu)開(kai)關，由(you)機內提供激勵(li)電壓(ya)，由(you)“低壓(ya)輸(shu)出”和“測(ce)量接(jie)地(di)”輸(shu)出。為**起(qi)見，CVT自激法還需要設置以下幾個保護限(xian)：

將光標移動到xxkV / xxmA / xxV / xxA，按(an)↑↓選(xuan)擇合(he)適值，選(xuan)擇好后按(an)確認鍵退(tui)出。

xxkV：可選0.5/0.6/0.8/1/1.5/2/2.5/3/3.5/4kV，為高壓上限，只(zhi)能使(shi)用4kV以下電壓。

xxmA：可選10/15/20/25/30/35/40/45/50/60/70/80/100/120/140/200mA，表示待測試品的(de)高壓電流上(shang)限(xian)。

xxV：可選3/4/5/6/7/8/9/10/12/15/20/25/30/35/40/50V，表示低壓激勵電(dian)壓上限。

xxA：可(ke)選3/4/5/6/7/8/9/10/11/12/13/14/15/16/20/30A，表(biao)示低壓(ya)激勵電流上限。

注意：

（1）測量(liang)時(shi)4個保(bao)護限同時(shi)起作用，因此試驗高壓(ya)可能(neng)達不到設(she)定值。如果高壓(ya)達不到保(bao)護限，可適當調整受到限制(zhi)的(de)保(bao)護限。

（2）通常(chang)測(ce)量C1時低壓(ya)(ya)(ya)激勵(li)電(dian)壓(ya)(ya)(ya)可達(da)20V，測(ce)量C2時低壓(ya)(ya)(ya)激勵(li)電(dian)流可達(da)15A。一般(ban)可設高壓(ya)(ya)(ya)電(dian)壓(ya)(ya)(ya)2～3kV，較少采用高壓(ya)(ya)(ya)電(dian)流限制，可設為(wei)*大200mA。

變比測量時應(ying)選擇合適的(de)高壓(ya)(ya)輸出使二次側電(dian)壓(ya)(ya)小于120V，當二次側電(dian)壓(ya)(ya)≥120V時儀器會發出聲光(guang)報警并提示“接線錯誤”。

3.2.4 標(biao)準電容選擇菜單界面(mian)

將光標(biao)(biao)(biao)移動到“標(biao)(biao)(biao)準(zhun)電容”功能選項，界面如圖(tu)3-5所(suo)示，按(an)“確認”按(an)鈕后(hou)移動光標(biao)(biao)(biao)可(ke)選擇合(he)適的標(biao)(biao)(biao)準(zhun)電容。選擇外(wai)標(biao)(biao)(biao)準(zhun)電容時(shi)需同時(shi)將外(wai)標(biao)(biao)(biao)準(zhun)的電容量(liang)和介損(sun)一并設置好。

選擇(ze)外標(biao)(biao)準電(dian)容時將光標(biao)(biao)移動(dong)到(dao)Cn=xxxxx e x pF 和tgδ=xx.xxx%按(an)↑↓選擇(ze)合(he)適值，選擇(ze)好(hao)后(hou)按(an)確認鍵退(tui)出。

Cn采用科學(xue)計(ji)數(shu)法，如5.000e1=5.000×101=50.00，1.000e2=1.000×102=100.0等(deng)，范(fan)圍0.000e0～9.999e5 (即0～999900pF)。tgδ設置(zhi)范(fan)圍0～±9.999%。

內(nei)標(biao)準(zhun)電(dian)容(rong)通常可(ke)用于正(zheng)、反接(jie)線(xian)測(ce)量和CVT自激法測(ce)量，高電(dian)壓介損選(xuan)用外標(biao)準(zhun)方(fang)式，需要將(jiang)外接(jie)電(dian)容(rong)參數(shu)置入儀器。

3.2.5 測試(shi)頻率選擇菜單界面

測(ce)試頻(pin)率(lv)可選擇(ze)定頻(pin)或(huo)異頻(pin)，頻(pin)率(lv)選擇(ze)菜(cai)單界面(mian)如(ru)圖3-6所示，頻(pin)率(lv)選擇(ze)范圍如(ru)下(xia)：

定頻：

“50Hz”：為(wei)工頻測量，此設置不能(neng)抗(kang)干擾，在(zai)試(shi)驗(yan)室內測量或校驗(yan)時選用。

“45/55/60/65Hz”：為單頻率測量(liang)，研(yan)究不同頻率下(xia)介損的(de)變化時選(xuan)用。

頻率(lv)自適應：外高壓測量模式下(xia)有效（不能更改），系(xi)統自動識別(bie)外施(shi)高壓頻率(lv)，測試頻率(lv)無需(xu)在測試前設置。

異頻：

“45/55Hz”：為(wei)自(zi)動變(bian)頻，適合(he)50Hz電(dian)網工頻干擾下測量。

“55/65Hz”：為自動變頻(pin)，適合60Hz電網工頻(pin)干擾下測量。

“47.5/52.5Hz”：為自動變頻，適合50Hz電網工頻干擾下(xia)測(ce)量。

3.2.6 測試電壓選擇菜(cai)單界面(mian)

內(nei)高(gao)壓可選(xuan)擇(ze)“0.5 /0.6 /0.8 /1 /1.5 /2 /2.5 /3 /3.5 /4 /4.5 /5 /5.5 /6 /6.5 /7 /7.5 /8 /8.5 /9 /9.5 /10.0kV”（F型*高(gao)輸出電(dian)壓為12kV），應根據高(gao)壓試驗規程選(xuan)擇(ze)合適(shi)的試驗電(dian)壓。

注(zhu)：若選擇“CVT自激法(fa)”測試功能，則該(gai)選項無效。CVT自激法(fa)的相關電壓(ya)參數需在該(gai)功能選項下(xia)進行設置。

3.2.7 測試備忘設置菜單界面

設(she)(she)備(bei)編(bian)號(hao)(hao)：可設(she)(she)置(zhi)8位字母(mu)或數字編(bian)號(hao)(hao)，將光標移動(dong)到”設(she)(she)備(bei)編(bian)號(hao)(hao)”處，按確認健(jian)進入設(she)(she)備(bei)編(bian)號(hao)(hao)設(she)(she)置(zhi)，通過“←”、“→”健(jian)移動(dong)光標，通過↑↓選擇合(he)適值，設(she)(she)置(zhi)好后按確認鍵(jian)退(tui)出。

測(ce)試人(ren)員(yuan)：可設置8位字(zi)母或數字(zi)編號(hao)，將光標移(yi)動(dong)到” 測(ce)試人(ren)員(yuan)”處，按確(que)認(ren)健進入測(ce)試人(ren)員(yuan)設置，通過(guo)“←”、“→”健移(yi)動(dong)光標，通過(guo)↑↓選擇合適值(zhi)，設置好后按確(que)認(ren)鍵(jian)退出。

測試(shi)(shi)地點：可設置(zhi)8位字母或數字編號，將光標移動到” 測試(shi)(shi)地點”處，按(an)確(que)認(ren)健(jian)進(jin)入測試(shi)(shi)地點設置(zhi)，通(tong)過“←”、“→”健(jian)移動光標，通(tong)過↑↓選(xuan)擇(ze)合(he)適值，設置(zhi)好后按(an)確(que)認(ren)鍵退出。

3.2.8 測(ce)試結果界(jie)面

3.2.8.1反接法測試結果界(jie)面

測試完(wan)成(cheng)顯示結果(guo)后，可(ke)移(yi)動光標選擇保存或(huo)打印(yin)數(shu)據(ju)。

儀器自動分(fen)辨(bian)電(dian)(dian)容(rong)、電(dian)(dian)感、電(dian)(dian)阻型試(shi)(shi)品(pin)：電(dian)(dian)容(rong)型試(shi)(shi)品(pin)顯示(shi)Cx和(he)tgδ；電(dian)(dian)感型試(shi)(shi)品(pin)顯示(shi)Lx和(he)Q；電(dian)(dian)阻型試(shi)(shi)品(pin)顯示(shi)Rx和(he)附(fu)加Cx或Lx。自動選取顯示(shi)單位。

試品(pin)為(wei)電(dian)容時：顯示(shi)數據為(wei)Cx、tgδ、Ux、Ix、Φ、f1、f2, |δ|>1則顯示(shi)電(dian)容和串/并聯電(dian)阻(zu)

試(shi)品為電(dian)感(gan)時：顯(xian)(xian)示數據為Lx、Q、Ux、Ix、Φ、f1、f2, |Q|<1則顯(xian)(xian)示電(dian)感(gan)和串聯電(dian)阻

試品為(wei)電(dian)阻時：顯(xian)示數(shu)據為(wei)Cx(Lx)、Rx、Ux、Ix、Φ、f1、f2

Cx   試(shi)品電容量[1μF=1000nF納(na)法 / 1nF=1000pF]，如顯示10.00nF即10000pF

tgδ 介損因數[1%=0.01]

Lx &nbsp; 試品(pin)電感量[1MH兆亨=1000kH / 1kH=1000H]

Q    品(pin)質因(yin)數(shu)[無單位(wei)]

Rx  &nbsp;試品(pin)電(dian)阻值[1MΩ=1000kΩ / 1kΩ=1000Ω]

Ux   試驗電壓[1kV=1000V / 1V=1000mV]

Ix   試(shi)品電流(liu)[1A=1000mA / 1mA=1000μA]

Φ   試品電(dian)流超前試驗(yan)電(dian)壓的角度(du)[°度(du)]或(huo)測變比時一次(ci)電(dian)壓超前二次(ci)電(dian)壓的角度(du)

K    測CVT變比(bi)時，一次(ci)電(dian)壓比(bi)二次(ci)電(dian)壓

f1   頻率[Hz]，顯示(shi)**次測(ce)試頻率

f2   頻率[Hz]，顯示**次測試(shi)頻率

顯示(shi)over表(biao)示(shi)測(ce)量(liang)數據超量(liang)程(cheng)。

3.2.8.2反接線低壓屏(ping)蔽測試結果界面

反接(jie)線(xian)低(di)壓(ya)屏(ping)蔽測試一次(ci)接(jie)線(xian)可同時測出(chu)C11和(he)C下節(下端屏(ping)蔽部分)的電容(rong)量(liang)和(he)介損值。

3.2.8.3 CVT自激法(fa)測試結果(guo)界面

CVT自激(ji)法按測量(liang)接(jie)(jie)線，與試品輸入Cx插座連(lian)接(jie)(jie)的(de)定(ding)義為C1，與高(gao)(gao)壓線連(lian)接(jie)(jie)的(de)為C2。U1為測量(liang)C1時的(de)高(gao)(gao)壓，U2為測量(liang)C2時的(de)高(gao)(gao)壓。

3.3歷史數據

進入歷史(shi)數據菜(cai)單界面如圖3-12所示。

移動(dong)光標(biao)(biao)到(dao)“U盤(pan)”選(xuan)(xuan)項(xiang)按(an)“確定(ding)(ding)”鍵可將(jiang)數(shu)據(ju)導出到(dao)U盤(pan)，上移到(dao)“清空”選(xuan)(xuan)項(xiang)按(an)“確定(ding)(ding)”鍵可清空保(bao)存的(de)全部數(shu)據(ju)。將(jiang)光標(biao)(biao)移動(dong)到(dao)“>>>>”選(xuan)(xuan)項(xiang)按(an)下“確定(ding)(ding)”鍵進(jin)入數(shu)據(ju)選(xuan)(xuan)擇界面(mian)，光標(biao)(biao)位置(zhi)默(mo)認停留在(zai)*近保(bao)存的(de)單(dan)條數(shu)據(ju)上，若(ruo)要(yao)(yao)查(cha)看其他(ta)數(shu)據(ju)可上下移動(dong)光標(biao)(biao)進(jin)行(xing)選(xuan)(xuan)擇，選(xuan)(xuan)擇好(hao)要(yao)(yao)查(cha)看的(de)數(shu)據(ju)后按(an)“確定(ding)(ding)”按(an)鈕進(jin)入單(dan)條歷(li)(li)史數(shu)據(ju)顯示界面(mian)。歷(li)(li)史數(shu)據(ju)選(xuan)(xuan)擇界面(mian)和(he)單(dan)條歷(li)(li)史數(shu)據(ju)顯示界面(mian)如圖3-13和(he)圖3-14所示。

進(jin)入(ru)單條歷史數據顯示界面后，在(zai)左側功能選(xuan)項區上下(xia)移動光標可(ke)選(xuan)擇打印(yin)、刪除本(ben)條數據和(he)退(tui)出(chu)單條歷史數據顯示界面。

3.4系(xi)統設置(zhi)

進入系統(tong)設置菜(cai)單可(ke)進行(xing)系統(tong)時間(jian)校準，“出(chu)廠設置”參(can)數(shu)禁止(zhi)用戶修改，只允許生(sheng)產廠家(jia)進行(xing)出(chu)廠參(can)數(shu)設置。

3.5幫助

可查看儀器的(de)相(xiang)關操(cao)作指導(dao)。

3.6啟動測量(liang)

進(jin)入測(ce)試界(jie)面(mian)設置好各項(xiang)試驗參數后，將光標移動到“開始測(ce)試”功能(neng)選項(xiang)上，按住“確認”鍵3s以上啟動測(ce)量(liang)。

啟動測量(liang)后發出(chu)聲光報警；在測試(shi)過程(cheng)中(zhong)會實時顯示測試(shi)相(xiang)關參數（電(dian)壓(ya)、電(dian)流、頻率、電(dian)容量(liang)等參數）和(he)測量(liang)進程(cheng)(0%～99%)。

測量(liang)中按“確認”鍵(jian)可取消測量(liang)，遇緊急情況(kuang)立即關閉(bi)總電源。

測量過程結(jie)束，儀器(qi)自動(dong)降(jiang)壓后再(zai)顯示結(jie)果。

3.7對比度調節

液晶(jing)顯示屏的對(dui)比度已在(zai)出廠時校好，如果您感(gan)覺不夠清晰(xi)(xi)，調整面(mian)板上的電位器使液晶(jing)顯示屏顯示內容清晰(xi)(xi)為止(zhi)。

4、參考接線

4.1常規(gui)正接(jie)線（正接(jie)線、內(nei)標準(zhun)電容、內(nei)高壓(ya)）

4.2常規(gui)反接(jie)線（反接(jie)線、內(nei)(nei)標準電容、內(nei)(nei)高(gao)壓）

4.3正接線(xian)、外標(biao)準電(dian)容、內(nei)高壓(ya)

4.4反接線、外標準電容、內高壓

4.5正接(jie)線、內標準(zhun)電容、外高壓

4.6反接線、內(nei)標準電容、外高壓

4.7正接線、外(wai)標準電容(rong)、外(wai)高壓(ya)（高電壓(ya)介損）

4.8反接線、外(wai)標準電容、外(wai)高壓

4.9反接線低壓屏蔽(bi)

可(ke)在220kV CVT母線(xian)(xian)接(jie)(jie)地情況下，對C11進(jin)行不拆線(xian)(xian)10kV反(fan)接(jie)(jie)線(xian)(xian)介損測量。如下圖所(suo)示：母線(xian)(xian)掛地線(xian)(xian)，C11上(shang)端不拆線(xian)(xian)，C11下端接(jie)(jie)高(gao)壓線(xian)(xian)芯(xin)線(xian)(xian)，C2末(mo)端δ和X接(jie)(jie)Cx芯(xin)線(xian)(xian)。這樣C12和C2被(bei)(bei)低壓屏蔽(bi)，儀(yi)器采用(yong)反(fan)接(jie)(jie)線(xian)(xian)低壓屏蔽(bi)測量方(fang)式，可(ke)同時測出C11和下端被(bei)(bei)屏蔽(bi)部分的電(dian)容(rong)量和介損值。

4.10 CVT自激法

高壓線芯線接(jie)C2下端，Cx芯線接(jie)C12上端。在(zai)CVT 自激法測量中，儀(yi)器先測量C12，然后自動倒線測量C2，并自動校準分壓影響。

1）D型高(gao)(gao)壓(ya)連線(xian)不可拖地(di)，高(gao)(gao)壓(ya)線(xian)應懸空不能接(jie)觸(chu)地(di)面(mian)（高(gao)(gao)壓(ya)線(xian)的接(jie)地(di)屏蔽層插頭(tou)必須懸空），否則(ze)其對地(di)附加介損會引起誤差，可用細電(dian)纜(lan)連接(jie)高(gao)(gao)壓(ya)插座與(yu)CVT試品并吊起。

2）E、F、S、J型高壓連線可拖地使用，在開機初始界面（圖3-1界面），光標停留在“測試模式”處長按“→”鍵（聽到蜂鳴器聲音松手）可取消或使用拖地模式（右下角顯示“”表示當前為拖地模式），在拖地模式下必須將高壓連線的接地屏蔽層插頭接至圖2-1中的“1”（高壓測量接地）處，否則會引起測量誤差；取消拖地模式后高壓連線必須懸空吊起，高壓連線的接地屏蔽層插頭也應懸空，否則會引起測量誤差。拖地模式下的高壓連線必須使用原廠配置的電纜（已校準），否則會引起測量誤差！

4.11 CVT變比測試(shi)

儀器(qi)高(gao)壓(ya)線(xian)的芯線(xian)紅夾子(zi)接(jie)CVT的上端(duan)，母線(xian)拆地，CVT下端(duan)接(jie)地，低壓(ya)線(xian)紅黑(hei)夾子(zi)接(jie)二(er)次繞組(zu)。

5、常見CVT的(de)參(can)考(kao)測量方法

目(mu)前(qian)常見的(de)(de)電(dian)容式(shi)電(dian)壓(ya)互(hu)感(gan)器可分為(wei)110kV、220kV、500kV等不同電(dian)壓(ya)等級，一般(ban)110kV的(de)(de)CVT其(qi)C1就一節(jie)，220kV的(de)(de)CVT其(qi)C1有兩節(jie)，而500kV的(de)(de)CVT其(qi)C1有三節(jie)。

5.1  500kV CVT的測量方法

1）C11的測量(liang)方法(fa)

按圖5-1標明的方式接(jie)線，測量C11時應注意：

◇ 拆開δ端，X端一定要接地(di)

◇ a點接紅色(se)高壓測試(shi)線的芯線（紅夾子(zi)(zi)），b點接紅色(se)高壓測試(shi)線的高壓屏蔽層（黑(hei)夾子(zi)(zi)）

2）C12的測量方法

按圖5-2標明的方式接線，測(ce)量C12時注意：

◇ 拆開δ端，X端一定要接地

◇ a點接(jie)紅色高壓測試線芯線（紅夾子），b點接(jie)黑色低壓測試線芯線（紅夾子）

3）C13和C2的(de)測量方法

儀器設(she)有專門的(de)CVT自激法(fa)(fa)，不(bu)需(xu)外加(jia)任何其它設(she)備(bei)，就可以完成測試(shi)。按(an)圖5-3標明的(de)方式(shi)接線，儀器選用CVT自激法(fa)(fa)測量方式(shi)，試(shi)驗電(dian)壓可設(she)置為2kV，CVT自激法(fa)(fa)能一次測量C13和C2兩個電(dian)容(rong)的(de)介損和電(dian)容(rong)量。

5.2  220kV CVT的測(ce)量方(fang)法(fa)

1）C11的測量方法

按圖5-4標(biao)明的方式接線，測量C11時注意：

◇ δ和X相(xiang)連，與接地分開。

◇ a點(dian)接紅色高壓測試線的芯(xin)線（紅夾(jia)子），C2末(mo)端δ和X 接Cx端芯(xin)線，這樣C12與(yu)C2就被低壓屏蔽了(le)。

2）C12和C2的測量方法

儀器設(she)(she)有專門的(de)CVT自(zi)激法(fa)，不需外加(jia)任何其(qi)它設(she)(she)備，就可(ke)以完成測(ce)(ce)試。按圖5-5標明的(de)方式(shi)接線，儀器選用CVT自(zi)激法(fa)測(ce)(ce)量方式(shi)，試驗電壓可(ke)設(she)(she)置為2kV，CVT自(zi)激法(fa)能(neng)一次測(ce)(ce)量C12和C2兩個電容的(de)介損和電容量。

5.3  110kV CVT的測量方法

儀器設有專門的CVT自(zi)激(ji)法(fa)(fa)，不(bu)需外加任何其它設備(bei)，就可以完成測試。按圖(tu)5-6標明的方(fang)式接線，儀器選用CVT自(zi)激(ji)法(fa)(fa)測量方(fang)式，試驗電(dian)(dian)壓可設置(zhi)為2kV，CVT自(zi)激(ji)法(fa)(fa)能(neng)一次測量C13和(he)(he)C2兩(liang)個電(dian)(dian)容的介損和(he)(he)電(dian)(dian)容量。

6、現場試(shi)驗注意事項

如果(guo)使用中出現(xian)測試(shi)數據(ju)明顯不合(he)理，請從以下(xia)方(fang)面(mian)查找原(yuan)因(yin)：

6.1搭鉤接觸(chu)**

現(xian)場測量使用搭鉤連接試品(pin)時，搭鉤務必與(yu)試品(pin)接觸良好，否則(ze)接觸點放電(dian)會引起數據嚴重波動！尤其是引流(liu)線氧化層太厚，或風吹線擺動，易造(zao)成接觸**。

6.2接地接觸(chu)**

接(jie)地(di)**會引(yin)起儀器(qi)保護或數據嚴重波動。應刮凈接(jie)地(di)點(dian)上的油漆和銹蝕(shi)，務必保證0電阻(zu)接(jie)地(di)！

6.3直接測量(liang)(liang)CVT或末端屏蔽(bi)法測量(liang)(liang)電(dian)磁式PT

直(zhi)接測(ce)(ce)量CVT的下(xia)節耦(ou)合(he)電容會出現負介(jie)損，消除(chu)負介(jie)損可采取(qu)下(xia)述措施或改用CVT自(zi)激(ji)法測(ce)(ce)量：

1）測試(shi)時測量儀器(qi)的(de)(de)接(jie)(jie)地端直接(jie)(jie)接(jie)(jie)在被試(shi)品的(de)(de)金屬底座(zuo)上，并保證(zheng)接(jie)(jie)觸良好。

2）條件(jian)允(yun)許時盡可(ke)能將非(fei)被試繞組(zu)短接，以減(jian)小電感(gan)和(he)鐵心損耗的(de)影(ying)響。

3）被試品(pin)周圍(wei)不應有鐵架(jia)、腳(jiao)手架(jia)、木(mu)梯等(deng)物體，盡可(ke)能減小(xiao)分布阻抗的影響。

4）試(shi)驗引線與被(bei)試(shi)品(pin)的(de)夾(jia)角應盡(jin)可能接近90°，以減小線與試(shi)品(pin)間的(de)分布電(dian)容。

用末端屏蔽法測量電(dian)磁式PT時，由于受潮引起(qi)“T形網絡干擾”出(chu)現(xian)負介損，吹(chui)干下面三裙瓷套(tao)和接線端子(zi)盤(pan)即(ji)可。也可改用常規法或(huo)末端加(jia)壓法測量。

6.4空(kong)氣濕度過大(da)

空氣(qi)濕(shi)度大(da)使介損測(ce)量值異常(chang)增大(da)（或(huo)減(jian)小甚至為(wei)負）且不穩定，必(bi)要時可加屏(ping)蔽(bi)環。因人為(wei)加屏(ping)蔽(bi)環改變了試品電場(chang)分布，此(ci)法有爭(zheng)議，可參照有關規程。

6.5發電(dian)機供電(dian)

發電(dian)機供電(dian)時可(ke)采(cai)用定頻50Hz模式工作。

6.6測試線

1）由于長期使(shi)用，易造成測(ce)試線(xian)隱性斷路(lu)，或(huo)芯(xin)線(xian)和屏蔽短路(lu)，或(huo)插頭(tou)接觸**，用戶應經常(chang)維護測(ce)試線(xian)。

2）測試標準電(dian)容試品時，應使用全(quan)屏蔽插頭連接，以(yi)消除附加雜散電(dian)容影響，否則(ze)不能反映儀(yi)器精度(du)。

3）自激法測量(liang)CVT時，若使用(yong)“高壓(ya)(ya)(ya)連線拖(tuo)地”功能，請務(wu)必(bi)使用(yong)原(yuan)廠配置的(de)專用(yong)高壓(ya)(ya)(ya)電(dian)纜（原(yuan)廠電(dian)纜在(zai)出廠時已(yi)進行(xing)校準），高壓(ya)(ya)(ya)連線的(de)接地屏(ping)蔽層(ceng)必(bi)須(xu)接地，不可(ke)使用(yong)其它高壓(ya)(ya)(ya)電(dian)纜代替，否(fou)則(ze)會(hui)引起較大的(de)測量(liang)誤(wu)差(cha)。若拖(tuo)地模式下測量(liang)誤(wu)差(cha)較大，則(ze)需將專用(yong)高壓(ya)(ya)(ya)電(dian)纜返廠重(zhong)新進行(xing)校準。

4）自激(ji)法測(ce)量CVT時，非(fei)專(zhuan)用(yong)(yong)的高(gao)壓(ya)線應吊起懸(xuan)空，否則對(dui)地附加(jia)雜散電(dian)容和介損會引起測(ce)量誤差。使用(yong)(yong)專(zhuan)用(yong)(yong)電(dian)纜在非(fei)拖地模式下測(ce)量CVT，高(gao)壓(ya)電(dian)纜也(ye)應懸(xuan)空且(qie)電(dian)纜的接地屏蔽層不(bu)能接地，否則會引起較大的測(ce)量誤差。

6.7工作模式選擇(ze)

接(jie)好線后請選(xuan)擇正確的測量工(gong)作模(mo)式，不可選(xuan)錯。特別(bie)是干(gan)擾環境下應選(xuan)用(yong)變(bian)頻抗干(gan)擾模(mo)式。

6.8試驗方法影(ying)響

由于介損測量受試驗(yan)方法(fa)影響較(jiao)大，應區(qu)分(fen)是(shi)試驗(yan)方法(fa)誤差還是(shi)儀(yi)器(qi)誤差。出現(xian)問(wen)題(ti)時可首先檢查(cha)接線，然后檢查(cha)是(shi)否為儀(yi)器(qi)故障。

6.9儀(yi)器故障

1）用(yong)萬用(yong)表測(ce)量一下測(ce)試(shi)線(xian)是(shi)否斷路，或芯線(xian)和屏蔽是(shi)否短路；

2）輸入電(dian)源220V過高或過低；接(jie)地是否良好；

3）用正、反接線測一下標準電容(rong)器或已知容(rong)量和介損(sun)的電容(rong)試(shi)品(pin)，如(ru)果結(jie)果正確，即(ji)可判斷儀器沒有問(wen)題；

4）拔下(xia)所有測(ce)試導線，進行空試升(sheng)壓，若不能(neng)(neng)正常工作，儀器(qi)可能(neng)(neng)有故障(zhang)。

7、儀器檢定

7.1檢定

用帶插頭的屏蔽電纜連接標(biao)準損(sun)耗(hao)器(qi)。如果不(bu)能保證(zheng)標(biao)準損(sun)耗(hao)器(qi)的精度，應使用比對(dui)法檢定，建議用2801電橋或其它精密電橋作比對(dui)標(biao)準。

1）介質損(sun)耗(hao)因(yin)數標準器一般(ban)為串(chuan)聯模型，因(yin)此儀(yi)器的試品模型應(ying)選擇(ze)“RC串(chuan)聯(電(dian)流比較儀(yi)型電(dian)橋)”或“RC串(chuan)聯(西林型電(dian)橋)”。

RC串聯(lian)(電(dian)(dian)流比較儀(yi)型電(dian)(dian)橋)：采用(yong)電(dian)(dian)流比較儀(yi)型電(dian)(dian)橋（如QS30電(dian)(dian)橋）校準的(de)串聯(lian)型試品(或介質損耗因數標準器)，該項在開始測試界(jie)面(mian)顯示"RC串聯(lian)"。

RC串聯(西林型電橋)： 采用西林型電橋（如2801、QS1和QS37等電橋）校準的串聯型試品(或介質損耗因數標準器) ，該項在開始測試界面顯示 "RC串聯"。

采(cai)用電流比較儀(yi)型(xing)電橋和西林型(xing)電橋校準的(de)串(chuan)聯型(xing)試品(或介質損耗因數標準器(qi))的(de)區別只是電容量不同：

為西林型電橋標定值，C為電流比較儀型電橋標定值。

2）用介(jie)質損耗因數(shu)標(biao)準器（或標(biao)準電容器）檢定儀(yi)器反接(jie)線(xian)精(jing)度時(shi)，高壓(ya)電纜與試(shi)品連(lian)接(jie)必須使(shi)用全(quan)屏蔽(bi)插頭，否則暴露的芯線(xian)會引起測量誤差。

3）用介質損耗因數標準器(qi)(qi)（或標準電容器(qi)(qi)）檢(jian)定儀器(qi)(qi)正接(jie)線(xian)精度時，低(di)壓電纜與試(shi)品(pin)連接(jie)必須(xu)使用全屏蔽插頭，否則暴露的芯線(xian)會(hui)引起測(ce)量(liang)誤差。

嚴格按照上(shang)述要(yao)求檢定(ding)方(fang)能真實反映本儀器的(de)測量(liang)精度！

7.2抗干擾能力(li)

設(she)置一個回(hui)路向儀器注(zhu)入(ru)定量的干(gan)擾電流。

注意(yi)：

1）應考慮到該回路可能(neng)成為試品的一部分。

2）儀(yi)器(qi)啟動(dong)后會使220V供(gong)電電路帶有測量頻率分量，如果(guo)該頻率分量又通過干擾(rao)電流進入儀(yi)器(qi)，則無法檢驗儀(yi)器(qi)的抗(kang)干擾(rao)能力(li)。

3）不建議用臨近高(gao)壓導體施加干擾(rao)，因(yin)為這樣很容(rong)易(yi)產生近距離**放電(dian)，這種(zhong)放電(dian)電(dian)阻(zu)是非(fei)線性(xing)的，容(rong)易(yi)產生同頻干擾(rao)。