1、WBJS6000高壓精密變頻法介質損耗測試儀特點(dian)及性(xing)能

介損絕緣試驗可以有效地發現電(dian)器設(she)備絕緣的整體受(shou)潮(chao)劣(lie)化變質以及(ji)局部缺陷等，在(zai)電(dian)工(gong)制(zhi)造、電(dian)氣設(she)備安裝、交接和預(yu)防性試驗中都廣泛(fan)應用。

介(jie)質損(sun)耗(hao)測量(liang)儀(yi)用(yong)于現場介(jie)損(sun)測量(liang)或試驗(yan)室精密(mi)介(jie)損(sun)測量(liang)。儀(yi)器(qi)為一體化(hua)結構，內置介(jie)損(sun)電(dian)橋、變(bian)(bian)頻電(dian)源、試驗(yan)變(bian)(bian)壓器(qi)和標準電(dian)容(rong)器(qi)等(deng)。儀(yi)器(qi)采用(yong)變(bian)(bian)頻抗(kang)干擾(rao)和傅立葉(xie)變(bian)(bian)換數字(zi)濾波技術，全自動智能化(hua)測量(liang)，強干擾(rao)下測量(liang)數據非常穩定。測量(liang)結果由大屏幕液晶顯示，儀(yi)器(qi)自帶微型打印(yin)機可(ke)打印(yin)輸出(chu)測試結果。

1.1主要技(ji)術指標

額定工(gong)作條件：環境溫度  -10℃～50℃

相對(dui)濕度(du)  <85%阿

輸入電(dian)源：    180V～270VAC，50Hz/60Hz±1%，市(shi)電(dian)或發電(dian)機供電(dian)

準確度：  ;&nbsp;   Cx: ±（讀數×1%+1pF）

tgδ: ±（讀數×1%+0.00040）

抗干(gan)(gan)擾(rao)指(zhi)標(biao)：   變(bian)頻抗干(gan)(gan)擾(rao)，在200%干(gan)(gan)擾(rao)下仍能達到上述準確度

電容量范(fan)圍(wei)：  &nbsp;內施高壓：3pF～60000pF/10kV    60pF～1μF/0.5kV

外施高壓(ya)：3pF～1.5μF/10kV   ;   60pF～30μF/0.5kV

分(fen)辨率：   &nbsp;   *高0.001pF，4位有(you)效數字

tgδ范(fan)圍(wei)：     不限，分辨(bian)率(lv)0.001%，電容、電感、電阻三種試品自動識別。

試驗電流范(fan)圍(wei)： 10μA～5A

內施(shi)高壓：    設定電壓范圍：0.5～10kV

*大輸(shu)出電流：200mA

升降壓方式：連續(xu)平滑(hua)調節

電(dian)壓(ya)精度(du)：±(1.0%×讀(du)數+10V)

電(dian)壓分辨率：0.1V

試驗頻(pin)率：45、50、55、60、65Hz 單頻(pin)

45/55Hz、55/65Hz、47.5/52.5Hz 自動雙變(bian)頻

頻(pin)率精(jing)度：±0.01Hz

外施(shi)高(gao)壓：&nbsp;  &nbsp;正、反接(jie)線時*大試驗電流5A

CVT自激法(fa)低壓輸(shu)出：輸(shu)出電壓3～50V，輸(shu)出電流3～30A

高電壓介損(sun)：  支持變頻和諧振(zhen)電源高電壓介損(sun)

實時(shi)時(shi)鐘：    實時(shi)顯示時(shi)間和日期

內(nei)(nei)部存儲(chu)：    儀器內(nei)(nei)部可存儲(chu)100組測量數據

U盤(pan)：&nbsp;      &nbsp;支(zhi)持U盤(pan)存(cun)儲

打印(yin)機：      微型(xing)熱敏打印(yin)機

計算(suan)機(ji)接(jie)口(kou)： &nbsp;標準RS232接(jie)口(kou)（選配）

尺寸重量(liang)：    K型：外形尺寸368mm×288mm×280mm；主(zhu)機(ji)重量(liang)22kg。

其他款(kuan)型：外形尺(chi)寸(cun)430mm×314mm×334mm；主機重(zhong)量30kg。

注：上述為(wei)E型(xing)主(zhu)要技術指標，其它型(xing)號技術指標詳見本章節“1.3.6各型(xing)號測試功能(neng)說明(ming)”。

1.2 WBJS6000高壓精密變頻法介質損耗測試儀系列型號功能列表

1.3 WBJS6000高壓精密變頻法介質損耗測試儀主要功能特點

1.3.1 變(bian)頻抗(kang)干擾

采(cai)用變頻抗(kang)(kang)干擾(rao)技術，在(zai)200%干擾(rao)下仍(reng)能準確測(ce)量，測(ce)試(shi)數據穩定，適合在(zai)現場做抗(kang)(kang)干擾(rao)介損試(shi)驗。

1.3.2高(gao)精度測量

采用(yong)數(shu)字波形分析和電橋自校準等(deng)技術，配合高精度(du)三端標準電容(rong)器(qi)，實現(xian)高精度(du)介損測(ce)量。儀(yi)器(qi)所有(you)量程輸入電阻低于2Ω，消除了(le)測(ce)量電纜附加電容(rong)的影響。

1.3.3**措施(shi)

高壓保(bao)護(hu)：試品短路(lu)(lu)、擊穿或高壓電流波動，能(neng)以短路(lu)(lu)方(fang)式高速切(qie)斷輸出。

供電(dian)(dian)保護：誤接380V、電(dian)(dian)源波動(dong)或(huo)突然斷電(dian)(dian)，啟(qi)動(dong)保護，不會引起過(guo)電(dian)(dian)壓。

接(jie)地(di)保護(hu)(hu)：具有接(jie)地(di)檢測功能(neng)，未接(jie)地(di)時(shi)不能(neng)升(sheng)壓，若測量(liang)過程(cheng)中儀(yi)器接(jie)地(di)**則(ze)啟(qi)動接(jie)地(di)保護(hu)(hu)。

CVT 保護：高壓(ya)(ya)側電(dian)(dian)(dian)壓(ya)(ya)和電(dian)(dian)(dian)流、低壓(ya)(ya)側電(dian)(dian)(dian)壓(ya)(ya)和電(dian)(dian)(dian)流四個保護限制，不會(hui)損(sun)壞(huai)設備；誤選菜單不會(hui)輸出激(ji)磁電(dian)(dian)(dian)壓(ya)(ya)。CVT測量時(shi)無10kV高壓(ya)(ya)輸出。

防誤操作：兩級電源開(kai)關(guan)；電壓、電流實時(shi)監視(shi)；多次按鍵確(que)認(ren)；接(jie)線端子高/低壓分(fen)明；慢速(su)升壓，可迅速(su)降壓，聲光報(bao)警(jing)。

防“容(rong)(rong)升(sheng)”：測量(liang)大容(rong)(rong)量(liang)試品時會出現電(dian)壓(ya)抬高的(de)“容(rong)(rong)升(sheng)”效(xiao)應，儀器能自動跟(gen)蹤輸(shu)出電(dian)壓(ya)，保持試驗電(dian)壓(ya)恒(heng)定(ding)。

高(gao)壓電纜(lan)：為耐高(gao)壓絕緣導線，可(ke)拖地使用。

抗(kang)震(zhen)性能：儀(yi)器采用獨特抗(kang)震(zhen)設計，可耐受強烈(lie)長途運輸震(zhen)動、顛簸而不會損(sun)壞。

1.3.4打(da)印存儲

儀器自(zi)帶微型打印(yin)機，可(ke)以將測量結果(guo)打印(yin)輸出，并將測量結果(guo)存貯(zhu)到(dao)儀器內（可(ke)存儲(chu)100組測量數據）或U盤(pan)，以便(bian)日后查閱。

1.3.5實時時鐘

儀器(qi)內帶實時(shi)時(shi)鐘，實時(shi)顯示，并能記(ji)錄測量的日期和時(shi)間。

1.3.6各型(xing)號測試功能說明

B型：輕便型，高壓(ya)(ya)*大(da)輸出電流為(wei)140mA，具有正接(jie)線、反接(jie)線功能(neng)，可選擇(ze)內/外(wai)標準(zhun)電容、內/外(wai)高壓(ya)(ya)多種工(gong)作模(mo)式(shi)，一體化(hua)結構，可做各種常規介損試驗。

D型：實(shi)用型，高壓*大(da)輸出(chu)電流為200mA，具有正接線(xian)(xian)(xian)、反接線(xian)(xian)(xian)、反接線(xian)(xian)(xian)低壓屏蔽(bi)、CVT自激法，反接線(xian)(xian)(xian)低壓屏蔽(bi)功(gong)能(neng)能(neng)在220kV CVT母線(xian)(xian)(xian)接地情況下(xia)，對C11進行不拆線(xian)(xian)(xian)10kV反接線(xian)(xian)(xian)介損測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)，并可一(yi)(yi)次接線(xian)(xian)(xian)同時(shi)測(ce)(ce)(ce)出(chu)兩(liang)個電容(rong)的電容(rong)量(liang)(liang)和介損值。CVT自激法測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)時(shi)，C1/C2可一(yi)(yi)次接線(xian)(xian)(xian)同時(shi)測(ce)(ce)(ce)出(chu)，無須換線(xian)(xian)(xian)和外接任何配件，但(dan)高壓測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)線(xian)(xian)(xian)需懸空吊起。

E型(xing)：標準型(xing)，在D型(xing)基礎上(shang)增加(jia)了(le)CVT變比(bi)測(ce)試(shi)功能，同(tong)時升級了(le)CVT自(zi)激法測(ce)試(shi)，現場CVT自(zi)激法測(ce)試(shi)時高壓測(ce)量線可(ke)拖地使用，無需(xu)吊(diao)起。

F型：增強(qiang)型，功能同(tong)E型，輸出(chu)*高電壓從10kV增加(jia)至12kV。

K型(xing)：標準(zhun)型(xing)，在E型(xing)基礎(chu)上減小(xiao)體積重量，設備更精巧。

S型：四(si)通(tong)道型，功能同E型，增加了(le)3個正(zheng)接通(tong)道。

J型(xing)：高(gao)精度(du)型(xing)，功能同E型(xing)，測量準確(que)度(du)為(wei)0.5%。

所有(you)型(xing)號儀器均具(ju)備(bei)下述特點：

（1）支持(chi)變頻和諧(xie)振(zhen)電源(yuan)高電壓(ya)介損。

（2）內(nei)置串聯和并聯兩種介(jie)損測量模型，方便(bian)儀器檢定。

（3）配置熱(re)敏打印機，使打印更(geng)加快捷、無噪音和清晰。

（4）320×240點(dian)陣大屏(ping)液晶顯示，菜(cai)單操(cao)作(zuo)，測試數據豐富，自動分辨電(dian)(dian)容、電(dian)(dian)感、電(dian)(dian)阻型試品。

（5）具有外(wai)(wai)接(jie)標(biao)準(zhun)電容器接(jie)口，可外(wai)(wai)接(jie)油杯做精密絕(jue)緣(yuan)油介(jie)損(sun)試驗(yan)，可外(wai)(wai)接(jie)固體材料測量(liang)電極做精密絕(jue)緣(yuan)材料介(jie)損(sun)試驗(yan)，也可外(wai)(wai)接(jie)高壓(ya)(ya)標(biao)準(zhun)電容器做高電壓(ya)(ya)介(jie)損(sun)試驗(yan)。

（6）帶(dai)日歷時(shi)鐘，可(ke)存儲100組測量(liang)數據。

（7）計算(suan)機接(jie)口（選配）。

2、WBJS6000高壓精密變頻法介質損耗測試儀面板說明

高(gao)壓(ya)(ya)輸出(chu)測量(liang)接(jie)地(di)(di)(di)(di)：若出(chu)廠配置的(de)高(gao)壓(ya)(ya)測試線有接(jie)地(di)(di)(di)(di)屏(ping)蔽(bi)層，則(ze)需(xu)將高(gao)壓(ya)(ya)測量(liang)線的(de)接(jie)地(di)(di)(di)(di)屏(ping)蔽(bi)層連接(jie)至(zhi)此處，沒有則(ze)留空(kong)(kong)。CVT自(zi)激法(fa)測量(liang)的(de)高(gao)壓(ya)(ya)連線接(jie)地(di)(di)(di)(di)屏(ping)蔽(bi)層在拖地(di)(di)(di)(di)模式(shi)下必須接(jie)地(di)(di)(di)(di)，非拖地(di)(di)(di)(di)模式(shi)下接(jie)地(di)(di)(di)(di)屏(ping)蔽(bi)層應懸空(kong)(kong)不(bu)(bu)能(neng)接(jie)地(di)(di)(di)(di)且高(gao)壓(ya)(ya)測量(liang)線也應懸空(kong)(kong)吊起(qi)不(bu)(bu)能(neng)拖地(di)(di)(di)(di)。

高壓輸出插座（0.5～10kV，*大200mA）

安裝(zhuang)位置：如圖2-1所示，安裝(zhuang)在箱體(ti)前側面。

功    能：內高壓輸出(chu)；檢測反(fan)接(jie)線試品電流(liu)；內部標準電容器(qi)的(de)高壓端。

接(jie)(jie)(jie)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)方法：插(cha)座1腳(jiao)接(jie)(jie)(jie)高(gao)(gao)(gao)壓(ya)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)芯(xin)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)（紅夾子），2、3腳(jiao)接(jie)(jie)(jie)高(gao)(gao)(gao)壓(ya)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)屏(ping)(ping)蔽(bi)(bi)（黑夾子）。正接(jie)(jie)(jie)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)時，高(gao)(gao)(gao)壓(ya)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)芯(xin)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)（紅夾子）和屏(ping)(ping)蔽(bi)(bi)（黑夾子）都可(ke)以用作加(jia)壓(ya)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)；反接(jie)(jie)(jie)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)時只(zhi)能用芯(xin)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)對(dui)試(shi)品高(gao)(gao)(gao)壓(ya)端(duan)(duan)加(jia)壓(ya)。如果(guo)試(shi)品高(gao)(gao)(gao)壓(ya)端(duan)(duan)有屏(ping)(ping)蔽(bi)(bi)極(ji)（如高(gao)(gao)(gao)壓(ya)端(duan)(duan)的(de)(de)屏(ping)(ping)蔽(bi)(bi)環）可(ke)接(jie)(jie)(jie)高(gao)(gao)(gao)壓(ya)屏(ping)(ping)蔽(bi)(bi)，無屏(ping)(ping)蔽(bi)(bi)時高(gao)(gao)(gao)壓(ya)屏(ping)(ping)蔽(bi)(bi)懸空。若配置的(de)(de)高(gao)(gao)(gao)壓(ya)測(ce)試(shi)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)有接(jie)(jie)(jie)地屏(ping)(ping)蔽(bi)(bi)層，則(ze)需將(jiang)高(gao)(gao)(gao)壓(ya)測(ce)量線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)的(de)(de)接(jie)(jie)(jie)地屏(ping)(ping)蔽(bi)(bi)層連接(jie)(jie)(jie)至圖2-1中的(de)(de)“1”處。

注意事(shi)項：

（1）若儀器CVT自激法(fa)高壓(ya)(ya)(ya)連(lian)線具備“高壓(ya)(ya)(ya)拖(tuo)地(di)”功(gong)能，使用(yong)(yong)拖(tuo)地(di)模(mo)式測(ce)量時務必(bi)使用(yong)(yong)原廠配(pei)置的專用(yong)(yong)高壓(ya)(ya)(ya)電纜(lan)(lan)（原廠電纜(lan)(lan)在(zai)出(chu)廠時已進(jin)行校準），不(bu)可(ke)使用(yong)(yong)其它高壓(ya)(ya)(ya)電纜(lan)(lan)代替，否則(ze)會引(yin)起較大的測(ce)量誤差(cha)。CVT自激法(fa)不(bu)使用(yong)(yong)拖(tuo)地(di)模(mo)式時，高壓(ya)(ya)(ya)電纜(lan)(lan)必(bi)須懸空，接地(di)屏蔽(bi)層也不(bu)能接地(di)！

（2）高壓(ya)(ya)插(cha)座和高壓(ya)(ya)線(xian)有危(wei)險電(dian)壓(ya)(ya)，**禁止碰觸高壓(ya)(ya)插(cha)座、電(dian)纜、夾子和試品帶電(dian)部位！確(que)認斷電(dian)后接線(xian)，測量時務必遠(yuan)離(li)！

（3）用標準(zhun)介損器（或標準(zhun)電容器）檢(jian)定反(fan)接線精(jing)度時，應使(shi)用全屏蔽(bi)插(cha)頭連(lian)接試品，否則暴露的(de)芯線會引起測量誤(wu)差(cha)。

（4）應保(bao)證(zheng)高(gao)壓(ya)線與試品高(gao)壓(ya)端零電阻連接(jie)，否則可(ke)(ke)能(neng)(neng)引(yin)(yin)起誤(wu)差或數據波(bo)動，也可(ke)(ke)能(neng)(neng)引(yin)(yin)起儀器(qi)保(bao)護。

（5）強干擾下拆除(chu)接(jie)線時，應在保持電纜接(jie)地狀(zhuang)態(tai)下斷開(kai)連接(jie)，以防感應電擊。

CVT自激(ji)法低壓輸出插座（3～50V，3～30A）

功    能：由該插(cha)座和(he)圖2-1中的(de)接地接線柱“4”輸出CVT測量的(de)低壓變頻激勵電源。

注意事項：

（1）因低壓輸出電流大，應采用儀器專用低阻線連接CVT二次繞(rao)組，接觸**會影響測量。

（2）視CVT容量從菜單選擇合適的電壓電流保護限。

（3）選(xuan)擇(ze)正(zheng)/反接線時，此輸出封閉(bi)。

測量接(jie)(jie)地：它同(tong)外殼和電(dian)源插座地線連(lian)到一起(qi)，與(yu)圖2-1的(de)“3”一起(qi)輸出(chu)CVT測量的(de)低壓變頻(pin)激勵電(dian)源。盡管儀(yi)器(qi)有接(jie)(jie)地保護，但無論何種(zhong)測量，儀(yi)器(qi)都(dou)應可靠獨立接(jie)(jie)地以保障使用者的(de)**及測量結果的(de)準確(que)。

打印(yin)機(ji)：微型熱敏打印(yin)機(ji)，用于打印(yin)測試數據。

USB：USB通信用。

RS232：與計算機(ji)聯機(ji)使用。

U盤(pan)：用于外接U盤(pan)保(bao)存數據。

試品輸入Cx插座（10μA～5A）

功 &nbsp;  能(neng)：正接(jie)線(xian)時(shi)輸入試(shi)品電流。

接(jie)(jie)線(xian)(xian)方法：插座1腳接(jie)(jie)測(ce)量(liang)線(xian)(xian)芯(xin)線(xian)(xian)（紅夾(jia)子(zi)），2、3腳接(jie)(jie)測(ce)量(liang)線(xian)(xian)屏蔽(bi)（黑夾(jia)子(zi)）。正(zheng)接(jie)(jie)線(xian)(xian)時芯(xin)線(xian)(xian)（紅夾(jia)子(zi)）接(jie)(jie)試(shi)品低壓信號端，如果試(shi)品低壓端有(you)屏蔽(bi)極（如低壓端的屏蔽(bi)環）可接(jie)(jie)屏蔽(bi)，試(shi)品無(wu)屏蔽(bi)時屏蔽(bi)懸空(kong)。

注意事項：

（1）測量中嚴禁拔下插頭，防(fang)止試品電流經人(ren)體(ti)入(ru)地！

（2）用(yong)標準介損器（或標準電容器）檢測儀器正接(jie)線(xian)精度時，應使用(yong)全屏蔽(bi)插頭(tou)連接(jie)試品(pin)，否則暴(bao)露的芯線(xian)會引起測量誤差。

（3）應保(bao)證引(yin)(yin)線與試品低(di)壓端0電阻連接，否則可(ke)能引(yin)(yin)起(qi)誤差或數據(ju)波動，也可(ke)能引(yin)(yin)起(qi)儀器(qi)保(bao)護。

（4）強(qiang)干擾下拆除接線(xian)時，應(ying)在(zai)保持電纜(lan)接地狀態下斷開連接，以防感應(ying)電擊。

標準電容輸入(ru)Cn插座（10μA～5A）

功    能：輸入外接標準電容器(qi)電流。

接線方法：與Cx插座類似，其區別在于：

（1）使(shi)用(yong)外部標準電容器時(shi)，應使(shi)用(yong)全屏(ping)蔽插頭連接(jie)。此方式(shi)常(chang)用(yong)于(yu)外接(jie)高電壓等級標準電容器，實現高電壓介損測(ce)量。

（2）菜(cai)單選擇(ze)“外標(biao)準電容”方(fang)式。

（3）將外接標準電容(rong)器的(de)C和(he)tgδ置入(ru)儀器，實現Cx電容(rong)介損(sun)的(de)**值測(ce)量。

從理論(lun)上講，任何容(rong)量(liang)和(he)介損的(de)(de)電容(rong)器(qi)(qi)，將參數置(zhi)入儀器(qi)(qi)都可做標準電容(rong)器(qi)(qi)。不同(tong)的(de)(de)是標準電容(rong)器(qi)(qi)能提供更好的(de)(de)長期穩(wen)定性(xing)和(he)精(jing)度。

（4）不(bu)管正接線還是反(fan)接線測量(liang)，標準(zhun)電容器接線方式始終(zhong)為正接線。

總(zong)電源開關(guan)(guan)(guan)：開關(guan)(guan)(guan)機(ji)用，可(ke)在發現異(yi)常時隨時關(guan)(guan)(guan)閉。

供電電源插(cha)座(zuo)：接(jie)220V市電，插(cha)座(zuo)內(nei)置保(bao)險(xian)絲(si)(si)座(zuo)，保(bao)險(xian)絲(si)(si)規格為10A / 250V，若損壞應(ying)使用(yong)相同規格的保(bao)險(xian)絲(si)(si)替換。若換用(yong)備用(yong)保(bao)險(xian)絲(si)(si)后仍燒斷，可(ke)能儀器(qi)有故障，可(ke)通(tong)知廠家處理。

高(gao)壓允許(xu)開(kai)關：內(nei)置高(gao)壓系(xi)統或CVT自激法低壓輸出系(xi)統的(de)總電(dian)源開(kai)關。此(ci)開(kai)關受總電(dian)源開(kai)關控制。

按(an)鍵：按(an)下“↑”、“↓”、“←”、“→”鍵可(ke)移動光標和修改(gai)光標處(chu)內容，“確(que)認(ren)(ren)”鍵用于確(que)認(ren)(ren)或結束參數修改(gai)，在測(ce)(ce)試界面長按(an)該鍵可(ke)開始測(ce)(ce)量(liang)，測(ce)(ce)量(liang)過程(cheng)中，按(an)“確(que)認(ren)(ren)”鍵可(ke)終止(zhi)測(ce)(ce)量(liang)。

液晶顯(xian)(xian)示屏：320×240點陣灰白背光液晶顯(xian)(xian)示屏，顯(xian)(xian)示菜單、測(ce)量結果或(huo)出錯信(xin)息。應(ying)避免(mian)長時間陽光爆(bao)曬(shai)，避免(mian)重壓。

背光調節：液晶(jing)顯(xian)示(shi)(shi)屏顯(xian)示(shi)(shi)較暗或(huo)不清晰時可調節該電位(wei)器至合(he)適(shi)位(wei)置使顯(xian)示(shi)(shi)明(ming)亮清晰。

指示燈：配合儀器內部蜂鳴器進行測試、報警(jing)等聲光警(jing)示。

3、WBJS6000高壓精密變頻法介質損耗測試儀使用說明

3.1初(chu)始菜單界面(mian)

打開(kai)總電(dian)源(yuan)開(kai)關后，系統進入初始菜單界面(mian)。

測(ce)(ce)試模式(shi)：選(xuan)擇(ze)測(ce)(ce)試模式(shi)和設置各項測(ce)(ce)試參數，

歷史(shi)記錄：查看保(bao)存(cun)的歷史(shi)數(shu)據

系統設置(zhi)：出廠(chang)參(can)數(shu)設置(zhi)及系統時間校準(zhun)

幫    助：可查閱軟(ruan)件版本等信(xin)息

取(qu)消(xiao)或使用CVT自激法(fa)“高壓連線拖地”功能(neng)：

開機右下角顯示“”表示該儀器在CVT自激法測試時高壓連線具備拖地功能。

光標停留在“測試模式”處長按“→”鍵（聽到蜂鳴器聲音松手）可取消或使用拖地模式（右下角顯示“”表示當前為拖地模式），在拖地模式下必須將高壓連線的接地屏蔽層插頭接至圖2-1中的“1”（高壓測量接地）處，否則會引起測量誤差；取消拖地模式后高壓連線必須懸空吊起，同時高壓連線的接地屏蔽層插頭也應懸空，否則會引起測量誤差。

使用或取消發(fa)“發(fa)電(dian)機供(gong)電(dian)”模式：

光標停留在“測試模式”處長按“←”鍵（聽到蜂鳴器聲音松手）可使用或取消發電機供電模式（左下角顯示“”表示當前為發電機供電模式），儀器開機默認為市電供電模式，發電機模式適合使用發電機或移動電源供電環境，發電機模式下儀器將不進行接地檢測。

3.2測試模式

3.2.1 開始(shi)測試菜單(dan)界(jie)面

在初(chu)始菜單界(jie)面將(jiang)光標(biao)移動到“測試模式”按(an)確定按(an)鈕進入開始測試菜單界(jie)面，如圖(tu)3-2所示(shi)。

界面左側為(wei)參(can)(can)數設(she)置選項(xiang)，移動光(guang)標到相關(guan)參(can)(can)數選項(xiang)按確(que)定鍵(jian)可(ke)設(she)置相關(guan)試驗(yan)(yan)參(can)(can)數，右側顯示內容(rong)為(wei)已設(she)置好(hao)試驗(yan)(yan)參(can)(can)數，光(guang)標停(ting)留在“開始(shi)測(ce)(ce)試”欄長(chang)按“確(que)認” 鍵(jian)可(ke)開始(shi)測(ce)(ce)試。

界面右側“測試地(di)(di)點(dian)”下一行(xing)為(wei)信息提(ti)(ti)示行(xing)，若內外(wai)(wai)高(gao)壓選擇有(you)誤則提(ti)(ti)示“當前為(wei)內高(gao)壓模(mo)式，請(qing)開啟內高(gao)壓”或(huo)“當前為(wei)外(wai)(wai)高(gao)壓模(mo)式，請(qing)關(guan)閉(bi)內高(gao)壓”；若儀器沒有(you)接地(di)(di)則會提(ti)(ti)示“請(qing)檢查接地(di)(di)”，當有(you)錯誤提(ti)(ti)示時(shi)(shi)儀器無(wu)法正常(chang)啟動(dong)，只有(you)提(ti)(ti)示“確認無(wu)誤后長按確認鍵開始(shi)測試”時(shi)(shi)儀器方可啟動(dong)測試。

3.2.2 試品模(mo)型選擇(ze)菜(cai)單界面

將光(guang)標(biao)(biao)移(yi)動(dong)(dong)到(dao)“試品模(mo)型”功能選項，界面如圖3-3所(suo)示，按“確(que)認”按鈕后(hou)移(yi)動(dong)(dong)光(guang)標(biao)(biao)可(ke)選擇合適的試品模(mo)型（光(guang)標(biao)(biao)移(yi)動(dong)(dong)到(dao)相應功能后(hou)按確(que)認鍵）。實驗(yan)室(shi)一般使用(yong)串聯型介損因數標(biao)(biao)準器檢定，校驗(yan)時應使用(yong)RC串聯模(mo)型。

RC串(chuan)聯(lian)(電(dian)(dian)流比(bi)較儀型電(dian)(dian)橋(qiao)(qiao))：采用電(dian)(dian)流比(bi)較儀型電(dian)(dian)橋(qiao)(qiao)（如(ru)QS30電(dian)(dian)橋(qiao)(qiao)）校準的串(chuan)聯(lian)型試品(或介質損耗因數(shu)標準器)，該項在(zai)開始測試界面顯示(shi)"RC串(chuan)聯(lian)"。

RC串聯(西林型電橋)： 采用西林型電橋（如2801、QS1和QS37等電橋）校準的串聯型試品(或介質損耗因數標準器) ，該項在開始測試界面顯示 "RC串聯"。

RC并聯(現(xian)場使(shi)用)：一般實際的電容試品可(ke)等效為RC并聯模(mo)型，建議現(xian)場試驗時(shi)使(shi)用。

采用電流比較儀型電橋和西林型電橋校準的串聯型試品(或介質損耗因數標準器)的區別只是電容量不同：為西林型電橋標定值，C為電流比較儀型電橋標定值。

3.2.3 接線方式選擇菜單界面

將光標移動(dong)到“接線方式(shi)”功能選(xuan)(xuan)項，界面如(ru)圖3-4所示，按(an)“確認”按(an)鈕(niu)后移動(dong)光標可選(xuan)(xuan)擇合適的接線方式(shi)。

接線方(fang)式：共(gong)5種(zhong)接線方(fang)式（功能(neng)因(yin)型(xing)號(hao)有差別(bie)，具體詳見型(xing)號(hao)功能(neng)說明部分(fen)），分(fen)別(bie)為：正(zheng)接線、反(fan)(fan)接線、反(fan)(fan)接線低壓屏蔽、CVT自(zi)激法和變比。選擇CVT自(zi)激法測量時(shi)需同時(shi)將(jiang)相(xiang)關參(can)數一并設(she)置好。

CVT自(zi)(zi)激法測量必須打(da)開內高壓(ya)允許(xu)開關，由機內提供激勵電壓(ya)，由“低壓(ya)輸出(chu)”和“測量接地”輸出(chu)。為**起見，CVT自(zi)(zi)激法還需要設置以(yi)下幾個保護限：

將光標(biao)移動到xxkV / xxmA / xxV / xxA，按↑↓選擇(ze)(ze)合適值，選擇(ze)(ze)好后按確(que)認鍵(jian)退出。

xxkV：可(ke)選(xuan)0.5/0.6/0.8/1/1.5/2/2.5/3/3.5/4kV，為高壓上限，只能使用4kV以下電壓。

xxmA：可(ke)選10/15/20/25/30/35/40/45/50/60/70/80/100/120/140/200mA，表示待(dai)測試品的高壓電(dian)流上限。

xxV：可(ke)選(xuan)3/4/5/6/7/8/9/10/12/15/20/25/30/35/40/50V，表示低壓(ya)激(ji)勵電壓(ya)上限。

xxA：可選3/4/5/6/7/8/9/10/11/12/13/14/15/16/20/30A，表示低壓激勵電流上限(xian)。

注意：

（1）測量時4個保護限(xian)(xian)同(tong)時起作用，因(yin)此試驗高(gao)壓可(ke)能達(da)不(bu)(bu)到(dao)設定值。如果高(gao)壓達(da)不(bu)(bu)到(dao)保護限(xian)(xian)，可(ke)適當調整受到(dao)限(xian)(xian)制的保護限(xian)(xian)。

（2）通常測量C1時(shi)低(di)壓(ya)激勵電(dian)壓(ya)可(ke)達(da)20V，測量C2時(shi)低(di)壓(ya)激勵電(dian)流可(ke)達(da)15A。一(yi)般可(ke)設高壓(ya)電(dian)壓(ya)2～3kV，較(jiao)少采用(yong)高壓(ya)電(dian)流限制，可(ke)設為*大200mA。

變比測量(liang)時應選擇(ze)合適的高壓輸出(chu)使二(er)次側電壓小于120V，當(dang)二(er)次側電壓≥120V時儀器會發出(chu)聲光(guang)報警并提示“接線錯誤(wu)”。

3.2.4 標準(zhun)電容選擇菜單界面

將光標移動到“標準(zhun)(zhun)電(dian)(dian)容(rong)(rong)”功能選項，界(jie)面(mian)如(ru)圖3-5所示，按“確認”按鈕后移動光標可選擇合適的(de)標準(zhun)(zhun)電(dian)(dian)容(rong)(rong)。選擇外標準(zhun)(zhun)電(dian)(dian)容(rong)(rong)時需同時將外標準(zhun)(zhun)的(de)電(dian)(dian)容(rong)(rong)量和(he)介損一并設置好。

選(xuan)擇外標準電容時將光標移動到Cn=xxxxx e x pF 和tgδ=xx.xxx%按↑↓選(xuan)擇合適值，選(xuan)擇好后按確認鍵(jian)退(tui)出。

Cn采用科學計數(shu)法，如(ru)5.000e1=5.000×101=50.00，1.000e2=1.000×102=100.0等，范圍0.000e0～9.999e5 (即(ji)0～999900pF)。tgδ設置(zhi)范圍0～±9.999%。

內(nei)標準電容(rong)通常可用于正、反接線測量(liang)和CVT自激(ji)法測量(liang)，高(gao)電壓介損(sun)選用外(wai)標準方式，需要(yao)將外(wai)接電容(rong)參數置(zhi)入儀(yi)器。

3.2.5 測(ce)試頻率選擇菜單界面(mian)

測試(shi)頻(pin)率(lv)可選擇定頻(pin)或異頻(pin)，頻(pin)率(lv)選擇菜單界面(mian)如圖(tu)3-6所(suo)示(shi)，頻(pin)率(lv)選擇范圍(wei)如下(xia)：

定(ding)頻(pin)：

“50Hz”：為工頻測量，此(ci)設置不能抗(kang)干擾，在(zai)試驗室內測量或校驗時選用。

“45/55/60/65Hz”：為單頻(pin)率測量，研究不同頻(pin)率下介(jie)損的變化時選(xuan)用。

頻率自適(shi)應：外(wai)高(gao)壓測量模式下有效（不能更改(gai)），系統(tong)自動識別外(wai)施高(gao)壓頻率，測試頻率無需在測試前設(she)置(zhi)。

異頻：

“45/55Hz”：為自動變(bian)頻，適合50Hz電網(wang)工頻干擾下測量(liang)。

“55/65Hz”：為自動變頻，適合60Hz電網(wang)工(gong)頻干擾下測量(liang)。

“47.5/52.5Hz”：為自動變頻，適合50Hz電(dian)網工頻干擾下測量(liang)。

3.2.6 測試電(dian)壓選擇菜單界(jie)面

內高壓可選擇(ze)“0.5 /0.6 /0.8 /1 /1.5 /2 /2.5 /3 /3.5 /4 /4.5 /5 /5.5 /6 /6.5 /7 /7.5 /8 /8.5 /9 /9.5 /10.0kV”（F型*高輸出電壓為12kV），應根據高壓試(shi)驗規程(cheng)選擇(ze)合適的試(shi)驗電壓。

注：若選擇“CVT自激(ji)法”測試(shi)功(gong)能，則該選項無效(xiao)。CVT自激(ji)法的相關(guan)電壓參數需在該功(gong)能選項下(xia)進行設置(zhi)。

3.2.7 測試備忘(wang)設置菜(cai)單界面

設備編號：可設置8位字(zi)母(mu)或數字(zi)編號，將光(guang)(guang)標(biao)移(yi)動(dong)(dong)到”設備編號”處，按確(que)認健進(jin)入設備編號設置，通過(guo)“←”、“→”健移(yi)動(dong)(dong)光(guang)(guang)標(biao)，通過(guo)↑↓選擇合(he)適(shi)值，設置好后按確(que)認鍵退(tui)出。

測(ce)試人(ren)員：可設置(zhi)8位字(zi)母或數(shu)字(zi)編號(hao)，將光標(biao)移動到(dao)” 測(ce)試人(ren)員”處，按(an)確認健進入測(ce)試人(ren)員設置(zhi)，通過(guo)“←”、“→”健移動光標(biao)，通過(guo)↑↓選(xuan)擇合適值，設置(zhi)好后按(an)確認鍵退(tui)出。

測(ce)試地點(dian)：可設置(zhi)8位字母或數(shu)字編號(hao)，將光(guang)標移(yi)(yi)動到” 測(ce)試地點(dian)”處，按確(que)認健進(jin)入測(ce)試地點(dian)設置(zhi)，通過“←”、“→”健移(yi)(yi)動光(guang)標，通過↑↓選擇合(he)適值，設置(zhi)好(hao)后按確(que)認鍵(jian)退出。

3.2.8 測試結果界面

3.2.8.1反接(jie)法測(ce)試(shi)結果界(jie)面

測(ce)試完成(cheng)顯示結果后，可(ke)移動光標選擇保存或(huo)打(da)印(yin)數(shu)據(ju)。

儀(yi)器自動分辨電容(rong)、電感(gan)、電阻型(xing)試品：電容(rong)型(xing)試品顯示(shi)Cx和tgδ；電感(gan)型(xing)試品顯示(shi)Lx和Q；電阻型(xing)試品顯示(shi)Rx和附加Cx或Lx。自動選取顯示(shi)單位。

試品為(wei)電容(rong)時(shi)：顯示數據為(wei)Cx、tgδ、Ux、Ix、Φ、f1、f2, |δ|>1則顯示電容(rong)和串/并聯(lian)電阻

試品(pin)為電感時：顯示數(shu)據為Lx、Q、Ux、Ix、Φ、f1、f2, |Q|<1則顯示電感和串聯電阻

試品為(wei)(wei)電(dian)阻(zu)時：顯示數據為(wei)(wei)Cx(Lx)、Rx、Ux、Ix、Φ、f1、f2

Cx   試品電容量[1μF=1000nF納法 / 1nF=1000pF]，如顯示10.00nF即10000pF

tgδ 介損因(yin)數[1%=0.01]

Lx   試品電(dian)感量[1MH兆亨=1000kH / 1kH=1000H]

Q    品質因數[無單位]

Rx   試品電阻值[1MΩ=1000kΩ / 1kΩ=1000Ω]

Ux   試驗電壓[1kV=1000V / 1V=1000mV]

Ix   試(shi)品電流[1A=1000mA / 1mA=1000μA]

Φ   試品電(dian)流超前(qian)試驗電(dian)壓的角度(du)[°度(du)]或測變比時(shi)一次電(dian)壓超前(qian)二次電(dian)壓的角度(du)

K    測CVT變比時，一次電(dian)壓比二次電(dian)壓

f1   頻率(lv)[Hz]，顯示**次測試(shi)頻率(lv)

f2   頻(pin)(pin)率(lv)(lv)[Hz]，顯示**次(ci)測(ce)試頻(pin)(pin)率(lv)(lv)

顯示over表(biao)示測量數據超(chao)量程(cheng)。

3.2.8.2反(fan)接線低壓(ya)屏蔽測試結果界面

反接(jie)線低壓屏蔽測(ce)試一(yi)次接(jie)線可同(tong)時測(ce)出C11和C下節(jie)(下端(duan)屏蔽部分)的電容量和介損值(zhi)。

3.2.8.3 CVT自激法測試結(jie)果界面(mian)

CVT自激(ji)法按測量接線(xian)，與試品(pin)輸(shu)入Cx插座連(lian)接的(de)定義為C1，與高壓(ya)線(xian)連(lian)接的(de)為C2。U1為測量C1時的(de)高壓(ya)，U2為測量C2時的(de)高壓(ya)。

3.3歷史數據

進入(ru)歷史數據(ju)菜(cai)單界面(mian)如圖3-12所示。

移動光標(biao)到“U盤”選項(xiang)按(an)“確(que)(que)定(ding)”鍵(jian)(jian)可(ke)將數(shu)(shu)(shu)(shu)據(ju)(ju)(ju)(ju)(ju)(ju)導出到U盤，上(shang)移到“清空”選項(xiang)按(an)“確(que)(que)定(ding)”鍵(jian)(jian)可(ke)清空保存的全(quan)部(bu)數(shu)(shu)(shu)(shu)據(ju)(ju)(ju)(ju)(ju)(ju)。將光標(biao)移動到“>>>>”選項(xiang)按(an)下(xia)“確(que)(que)定(ding)”鍵(jian)(jian)進(jin)入數(shu)(shu)(shu)(shu)據(ju)(ju)(ju)(ju)(ju)(ju)選擇界(jie)面，光標(biao)位置默(mo)認停留(liu)在*近保存的單條數(shu)(shu)(shu)(shu)據(ju)(ju)(ju)(ju)(ju)(ju)上(shang)，若要(yao)查看(kan)其他(ta)數(shu)(shu)(shu)(shu)據(ju)(ju)(ju)(ju)(ju)(ju)可(ke)上(shang)下(xia)移動光標(biao)進(jin)行選擇，選擇好要(yao)查看(kan)的數(shu)(shu)(shu)(shu)據(ju)(ju)(ju)(ju)(ju)(ju)后按(an)“確(que)(que)定(ding)”按(an)鈕進(jin)入單條歷(li)史(shi)數(shu)(shu)(shu)(shu)據(ju)(ju)(ju)(ju)(ju)(ju)顯示界(jie)面。歷(li)史(shi)數(shu)(shu)(shu)(shu)據(ju)(ju)(ju)(ju)(ju)(ju)選擇界(jie)面和(he)單條歷(li)史(shi)數(shu)(shu)(shu)(shu)據(ju)(ju)(ju)(ju)(ju)(ju)顯示界(jie)面如圖(tu)3-13和(he)圖(tu)3-14所示。

進入單(dan)條歷(li)史(shi)數(shu)據顯(xian)示(shi)(shi)界(jie)面后(hou)，在左側(ce)功能選項區上下移動(dong)光標可選擇打印、刪除本(ben)條數(shu)據和退出(chu)單(dan)條歷(li)史(shi)數(shu)據顯(xian)示(shi)(shi)界(jie)面。

3.4系統(tong)設置

進(jin)入系統設置菜單可進(jin)行(xing)(xing)系統時間校準，“出(chu)廠設置”參(can)數(shu)禁止(zhi)用戶修改，只(zhi)允許生(sheng)產廠家進(jin)行(xing)(xing)出(chu)廠參(can)數(shu)設置。

3.5幫助

可(ke)查看儀器的相關操(cao)作指導。

3.6啟動測量

進入測試界面設置好各項試驗參數后，將光標移動到“開始測試”功能選項上(shang)(shang)，按住(zhu)“確認(ren)”鍵3s以上(shang)(shang)啟動測量。

啟(qi)動(dong)測(ce)量(liang)后發出聲光報警；在測(ce)試過(guo)程(cheng)中會(hui)實時顯示測(ce)試相關參(can)數(shu)（電(dian)壓、電(dian)流、頻率、電(dian)容(rong)量(liang)等參(can)數(shu)）和(he)測(ce)量(liang)進程(cheng)(0%～99%)。

測量(liang)(liang)中按“確認”鍵(jian)可取消測量(liang)(liang)，遇(yu)緊急情(qing)況(kuang)立即關閉(bi)總電源。

測(ce)量過(guo)程結束，儀器自動降壓后再顯示結果(guo)。

3.7對比度調(diao)節

液(ye)晶顯示屏的(de)對比度(du)已在出廠時校好，如果您感(gan)覺不夠(gou)清晰(xi)，調(diao)整面(mian)板上的(de)電位(wei)器使液(ye)晶顯示屏顯示內容清晰(xi)為止。

4、參考(kao)接線

4.1常規正接(jie)線（正接(jie)線、內標準電容、內高壓）

4.2常規反接線(xian)(xian)（反接線(xian)(xian)、內(nei)(nei)標準電容、內(nei)(nei)高壓）

4.3正(zheng)接線、外標準電容(rong)、內高(gao)壓

4.4反接線、外標準電(dian)容、內高(gao)壓(ya)

4.5正接線、內標準電容、外高壓(ya)

4.6反接線、內標(biao)準(zhun)電容、外高壓

4.7正(zheng)接線、外標準電(dian)容、外高壓（高電(dian)壓介(jie)損）

4.8反(fan)接線、外(wai)標準電容(rong)、外(wai)高壓

4.9反接線低(di)壓屏(ping)蔽

可在220kV CVT母線(xian)接(jie)(jie)(jie)(jie)地情況下(xia)，對C11進(jin)行不(bu)拆線(xian)10kV反接(jie)(jie)(jie)(jie)線(xian)介(jie)損(sun)測(ce)量。如下(xia)圖所(suo)示：母線(xian)掛地線(xian)，C11上端(duan)不(bu)拆線(xian)，C11下(xia)端(duan)接(jie)(jie)(jie)(jie)高(gao)壓線(xian)芯(xin)線(xian)，C2末(mo)端(duan)δ和(he)X接(jie)(jie)(jie)(jie)Cx芯(xin)線(xian)。這樣(yang)C12和(he)C2被低壓屏(ping)蔽(bi)，儀(yi)器采用反接(jie)(jie)(jie)(jie)線(xian)低壓屏(ping)蔽(bi)測(ce)量方式，可同(tong)時測(ce)出(chu)C11和(he)下(xia)端(duan)被屏(ping)蔽(bi)部分的(de)電容量和(he)介(jie)損(sun)值。

4.10 CVT自激法(fa)

高(gao)壓(ya)線芯(xin)線接(jie)(jie)C2下端(duan)，Cx芯(xin)線接(jie)(jie)C12上端(duan)。在CVT 自激法測(ce)量(liang)(liang)中，儀器先測(ce)量(liang)(liang)C12，然后自動(dong)倒線測(ce)量(liang)(liang)C2，并自動(dong)校準(zhun)分壓(ya)影響。

1）D型高(gao)壓連線(xian)(xian)不可拖地(di)，高(gao)壓線(xian)(xian)應懸(xuan)空(kong)不能接(jie)觸地(di)面（高(gao)壓線(xian)(xian)的接(jie)地(di)屏蔽層插頭必須懸(xuan)空(kong)），否則其對地(di)附加(jia)介(jie)損(sun)會引(yin)起(qi)誤差(cha)，可用細電纜連接(jie)高(gao)壓插座與CVT試品(pin)并吊起(qi)。

2）E、F、S、J型高壓連線可拖地使用，在開機初始界面（圖3-1界面），光標停留在“測試模式”處長按“→”鍵（聽到蜂鳴器聲音松手）可取消或使用拖地模式（右下角顯示“”表示當前為拖地模式），在拖地模式下必須將高壓連線的接地屏蔽層插頭接至圖2-1中的“1”（高壓測量接地）處，否則會引起測量誤差；取消拖地模式后高壓連線必須懸空吊起，高壓連線的接地屏蔽層插頭也應懸空，否則會引起測量誤差。拖地模式下的高壓連線必須使用原廠配置的電纜（已校準），否則會引起測量誤差！

4.11 CVT變比測試

儀器高壓(ya)線(xian)(xian)的芯線(xian)(xian)紅夾子(zi)(zi)接CVT的上端，母線(xian)(xian)拆地(di)，CVT下端接地(di)，低壓(ya)線(xian)(xian)紅黑夾子(zi)(zi)接二次繞組。

5、常見(jian)CVT的參考測量(liang)方(fang)法

目前常見的(de)電(dian)容式電(dian)壓互感器可(ke)分為110kV、220kV、500kV等不同電(dian)壓等級，一般110kV的(de)CVT其C1就一節，220kV的(de)CVT其C1有兩節，而500kV的(de)CVT其C1有三節。

5.1  500kV CVT的測(ce)量方(fang)法

1）C11的測量方(fang)法

按圖5-1標(biao)明的方(fang)式接線，測量(liang)C11時應(ying)注(zhu)意：

◇ 拆開δ端，X端一(yi)定(ding)要接地

◇ a點(dian)接紅(hong)色高(gao)壓(ya)(ya)測試線(xian)的(de)芯(xin)線(xian)（紅(hong)夾子(zi)），b點(dian)接紅(hong)色高(gao)壓(ya)(ya)測試線(xian)的(de)高(gao)壓(ya)(ya)屏蔽層（黑夾子(zi)）

2）C12的測量方法

按圖5-2標明的方式接線，測量C12時注(zhu)意：

◇ 拆開δ端(duan)，X端(duan)一定(ding)要(yao)接地(di)

◇ a點接(jie)紅色高壓測試線(xian)(xian)芯線(xian)(xian)（紅夾子），b點接(jie)黑色低壓測試線(xian)(xian)芯線(xian)(xian)（紅夾子）

3）C13和C2的測量方法

儀(yi)器(qi)設(she)(she)有專門的(de)CVT自(zi)激(ji)(ji)法(fa)，不需外(wai)加任(ren)何(he)其它(ta)設(she)(she)備，就可以(yi)完成測試。按圖5-3標明(ming)的(de)方式(shi)接線，儀(yi)器(qi)選用CVT自(zi)激(ji)(ji)法(fa)測量(liang)(liang)方式(shi)，試驗(yan)電壓可設(she)(she)置為2kV，CVT自(zi)激(ji)(ji)法(fa)能一次測量(liang)(liang)C13和C2兩個(ge)電容的(de)介損和電容量(liang)(liang)。

5.2  220kV CVT的(de)測量方法(fa)

1）C11的測量方法(fa)

按(an)圖5-4標明的方式接(jie)線，測量C11時注(zhu)意：

◇ δ和(he)X相連(lian)，與接地分(fen)開。

◇ ;a點接紅(hong)色高壓測試線的芯線（紅(hong)夾(jia)子），C2末端δ和X 接Cx端芯線，這樣(yang)C12與(yu)C2就被(bei)低(di)壓屏蔽了。

2）C12和C2的測(ce)量方法

儀器設(she)(she)有專門的CVT自(zi)激(ji)法，不需外加任(ren)何(he)其它設(she)(she)備，就(jiu)可以完(wan)成測(ce)試(shi)(shi)。按圖5-5標明的方式(shi)接線，儀器選用(yong)CVT自(zi)激(ji)法測(ce)量(liang)方式(shi)，試(shi)(shi)驗電(dian)壓可設(she)(she)置為2kV，CVT自(zi)激(ji)法能一次測(ce)量(liang)C12和C2兩個(ge)電(dian)容的介損和電(dian)容量(liang)。

5.3  110kV CVT的測量(liang)方(fang)法

儀器設(she)有專(zhuan)門的CVT自(zi)激法(fa)，不需外加任何(he)其它設(she)備，就可以完成測試(shi)。按(an)圖5-6標(biao)明的方式(shi)接線，儀器選用CVT自(zi)激法(fa)測量方式(shi)，試(shi)驗(yan)電(dian)壓可設(she)置為2kV，CVT自(zi)激法(fa)能一次測量C13和C2兩個電(dian)容(rong)的介損(sun)和電(dian)容(rong)量。

6、現場試驗注意事項

如(ru)果使用(yong)中(zhong)出現測試數(shu)據明顯不合(he)理，請(qing)從以下方面查找原因：

6.1搭鉤接觸**

現場測量使用(yong)搭鉤(gou)連接試品(pin)時，搭鉤(gou)務必與試品(pin)接觸良好(hao)，否則(ze)接觸點放電(dian)會引起數(shu)據(ju)嚴重波動(dong)！尤其(qi)是引流線(xian)氧化層太厚，或風吹線(xian)擺動(dong)，易造成接觸**。

6.2接地接觸**

接(jie)地**會引起儀器保護或(huo)數據嚴重波動(dong)。應刮凈接(jie)地點上的油漆和銹蝕，務必保證0電(dian)阻接(jie)地！

6.3直接測量(liang)CVT或末端屏蔽法測量(liang)電磁式(shi)PT

直接測量(liang)CVT的下節(jie)耦合電容(rong)會出現負介(jie)損，消除負介(jie)損可采(cai)取(qu)下述措施或(huo)改用CVT自激法測量(liang)：

1）測(ce)試時(shi)測(ce)量儀(yi)器的接(jie)地端直接(jie)接(jie)在(zai)被試品的金屬底座上，并保證(zheng)接(jie)觸良好。

2）條件(jian)允許(xu)時盡可能將非被試繞組短接，以(yi)減小電感和鐵心損耗的影響。

3）被試品周圍不應有鐵架、腳手(shou)架、木梯(ti)等物體，盡可能(neng)減小分布阻(zu)抗的(de)影響。

4）試驗引(yin)線與(yu)被(bei)試品(pin)的夾角應盡可能接近90°，以減(jian)小線與(yu)試品(pin)間的分布電(dian)容。

用末(mo)(mo)端屏(ping)蔽法測量(liang)(liang)電磁式PT時，由于受潮引起(qi)“T形網絡干擾(rao)”出(chu)現(xian)負介損，吹干下面三(san)裙瓷套和接線端子盤即可。也可改用常規法或末(mo)(mo)端加(jia)壓法測量(liang)(liang)。

6.4空氣濕度過大

空(kong)氣濕度(du)大使(shi)介損測量值(zhi)異常(chang)增(zeng)大（或(huo)減(jian)小甚至為(wei)(wei)負）且(qie)不穩定，必要時(shi)可(ke)加(jia)屏蔽環(huan)。因人為(wei)(wei)加(jia)屏蔽環(huan)改變了(le)試品電場分布，此法有爭議，可(ke)參照有關規程。

6.5發電機供(gong)電

發電(dian)(dian)機供(gong)電(dian)(dian)時可采用(yong)定頻50Hz模(mo)式工作(zuo)。

6.6測試線

1）由(you)于長期使用，易造成測試線隱性斷路，或芯(xin)線和(he)屏蔽(bi)短路，或插頭(tou)接觸**，用戶(hu)應經常維護測試線。

2）測試標(biao)準電容試品時(shi)，應使用(yong)全屏蔽插(cha)頭連接，以(yi)消除(chu)附加(jia)雜(za)散電容影(ying)響，否(fou)則(ze)不(bu)能反映儀器精度。

3）自激法測(ce)量(liang)CVT時，若使用(yong)(yong)“高(gao)壓(ya)連線(xian)拖地(di)”功能，請務必(bi)使用(yong)(yong)原廠(chang)配(pei)置的專用(yong)(yong)高(gao)壓(ya)電纜(lan)（原廠(chang)電纜(lan)在出廠(chang)時已進行校(xiao)準），高(gao)壓(ya)連線(xian)的接(jie)地(di)屏蔽層必(bi)須接(jie)地(di)，不可(ke)使用(yong)(yong)其它高(gao)壓(ya)電纜(lan)代替，否則(ze)會引(yin)起較大的測(ce)量(liang)誤(wu)差。若拖地(di)模式下測(ce)量(liang)誤(wu)差較大，則(ze)需將(jiang)專用(yong)(yong)高(gao)壓(ya)電纜(lan)返廠(chang)重新進行校(xiao)準。

4）自(zi)激法測(ce)(ce)量(liang)CVT時(shi)，非專(zhuan)用(yong)的(de)高壓(ya)線應吊起懸空，否(fou)則(ze)對地(di)(di)附加雜散電(dian)容和介損會引起測(ce)(ce)量(liang)誤差。使用(yong)專(zhuan)用(yong)電(dian)纜(lan)(lan)在非拖(tuo)地(di)(di)模式下測(ce)(ce)量(liang)CVT，高壓(ya)電(dian)纜(lan)(lan)也應懸空且電(dian)纜(lan)(lan)的(de)接地(di)(di)屏(ping)蔽層不能(neng)接地(di)(di)，否(fou)則(ze)會引起較大的(de)測(ce)(ce)量(liang)誤差。

6.7工作模式(shi)選擇

接好線后請選擇正(zheng)確的測量工作模式，不(bu)可選錯。特別(bie)是干擾環境下應選用變(bian)頻抗干擾模式。

6.8試(shi)驗方法影響(xiang)

由于(yu)介損測量受試驗方(fang)法影響(xiang)較大，應區分是(shi)試驗方(fang)法誤(wu)差還是(shi)儀器誤(wu)差。出現問題時可首(shou)先(xian)檢查(cha)接線，然(ran)后檢查(cha)是(shi)否為儀器故障。

6.9儀器故障

1）用(yong)(yong)萬用(yong)(yong)表測量一下測試線是否斷路，或芯線和屏蔽(bi)是否短路；

2）輸入電源220V過高或過低(di)；接地是否(fou)良好(hao)；

3）用正、反接(jie)線測一下(xia)標準電(dian)容器(qi)(qi)或已(yi)知容量(liang)和介(jie)損的電(dian)容試品，如(ru)果結果正確(que)，即可判(pan)斷儀(yi)器(qi)(qi)沒有問題；

4）拔下所(suo)有(you)測試(shi)導線，進(jin)行(xing)空試(shi)升壓，若不能正常工作，儀(yi)器可能有(you)故障。

7、儀(yi)器檢定

7.1檢定

用帶插頭的屏蔽電纜連接標(biao)準(zhun)損(sun)耗器。如果不能保證標(biao)準(zhun)損(sun)耗器的精度，應使用比對(dui)法檢定，建議用2801電橋或其它精密(mi)電橋作比對(dui)標(biao)準(zhun)。

1）介質(zhi)損耗因數標準器一般為串(chuan)聯模型(xing)，因此儀器的試品模型(xing)應選擇“RC串(chuan)聯(電流比較儀型(xing)電橋)”或“RC串(chuan)聯(西(xi)林型(xing)電橋)”。

RC串(chuan)聯(lian)(電流比較(jiao)(jiao)儀(yi)型(xing)(xing)電橋)：采用電流比較(jiao)(jiao)儀(yi)型(xing)(xing)電橋（如QS30電橋）校(xiao)準的串(chuan)聯(lian)型(xing)(xing)試品(或介質損耗因數標準器)，該(gai)項(xiang)在(zai)開(kai)始測試界面顯(xian)示"RC串(chuan)聯(lian)"。

RC串聯(西林型電橋)： 采用西林型電橋（如2801、QS1和QS37等電橋）校準的串聯型試品(或介質損耗因數標準器) ，該項在開始測試界面顯示 "RC串聯"。

采(cai)用(yong)電流比較儀(yi)型(xing)電橋和(he)西(xi)林型(xing)電橋校準(zhun)的串聯型(xing)試(shi)品(或介質損耗因數標準(zhun)器)的區(qu)別(bie)只是電容量不同：

為西林型電橋標定值，C為電流比較儀型電橋標定值。

2）用(yong)介質損耗因數(shu)標準器（或標準電容器）檢定(ding)儀器反(fan)接線精度時(shi)，高(gao)壓電纜與(yu)試品連接必須(xu)使(shi)用(yong)全屏蔽(bi)插頭(tou)，否則暴(bao)露的芯線會(hui)引起(qi)測量(liang)誤差。

3）用介質損耗因數標(biao)準器(qi)(qi)（或標(biao)準電(dian)容器(qi)(qi)）檢(jian)定儀(yi)器(qi)(qi)正接線(xian)精度(du)時，低(di)壓電(dian)纜(lan)與試(shi)品連接必須(xu)使用全屏蔽插(cha)頭，否則暴露的(de)芯線(xian)會(hui)引(yin)起測(ce)量誤差。

嚴格按照上述要求(qiu)檢定方能真實(shi)反映本(ben)儀器的測量精度！

7.2抗干擾能(neng)力

設置一個回路(lu)向儀器注入定量的干擾電流。

注意：

1）應考慮到該(gai)回路可能成為(wei)試品的一(yi)部(bu)分(fen)。

2）儀(yi)器(qi)(qi)啟動(dong)后會使(shi)220V供電(dian)電(dian)路帶有測量頻率分量，如(ru)果該頻率分量又(you)通過干擾電(dian)流進入儀(yi)器(qi)(qi)，則無法檢驗儀(yi)器(qi)(qi)的抗干擾能力。

3）不建議(yi)用臨(lin)近高壓導體(ti)(ti)施加干擾(rao)，因為這樣很(hen)容(rong)易產生近距離**放電，這種放電電阻是非(fei)線性的，容(rong)易產生同頻干擾(rao)。