1、WBJS6000精密多頻率介質損耗測試儀特點(dian)及性能

介損絕緣試(shi)驗(yan)(yan)可以(yi)有效地發現電器設(she)(she)備絕緣的整體受潮劣化變質以(yi)及局部缺陷等，在電工制造、電氣設(she)(she)備安裝、交(jiao)接(jie)和預防性試(shi)驗(yan)(yan)中都(dou)廣(guang)泛應用(yong)。

介(jie)(jie)質損(sun)耗測(ce)(ce)量(liang)(liang)儀(yi)用于現場介(jie)(jie)損(sun)測(ce)(ce)量(liang)(liang)或試(shi)驗室精密介(jie)(jie)損(sun)測(ce)(ce)量(liang)(liang)。儀(yi)器為(wei)一體化(hua)結(jie)構，內置介(jie)(jie)損(sun)電(dian)橋、變(bian)頻電(dian)源、試(shi)驗變(bian)壓器和標準電(dian)容器等(deng)。儀(yi)器采用變(bian)頻抗干擾(rao)(rao)和傅(fu)立葉變(bian)換(huan)數字(zi)濾波技(ji)術，全自動智(zhi)能化(hua)測(ce)(ce)量(liang)(liang)，強干擾(rao)(rao)下測(ce)(ce)量(liang)(liang)數據非(fei)常穩定。測(ce)(ce)量(liang)(liang)結(jie)果(guo)由大屏幕液晶(jing)顯(xian)示(shi)，儀(yi)器自帶微型打(da)印機(ji)可打(da)印輸出測(ce)(ce)試(shi)結(jie)果(guo)。

1.1主(zhu)要技(ji)術(shu)指標

額(e)定工作條件：環境溫度  -10℃～50℃

相(xiang)對濕度  <85%阿

輸(shu)入(ru)電(dian)源：    180V～270VAC，50Hz/60Hz±1%，市電(dian)或(huo)發電(dian)機供電(dian)

準確度：  &nbsp;   Cx: ±（讀數×1%+1pF）

tgδ: ±（讀數×1%+0.00040）

抗干擾指標：   變頻抗干擾，在200%干擾下仍能達到(dao)上述準確度

電(dian)容量范圍： &nbsp; 內(nei)施高壓：3pF～60000pF/10kV    60pF～1μF/0.5kV

外施高壓：3pF～1.5μF/10kV&nbsp;     60pF～30μF/0.5kV

分辨率：   &nbsp;   *高0.001pF，4位(wei)有(you)效數字

tgδ范圍： &nbsp; ;  不限，分(fen)辨率0.001%，電(dian)(dian)容、電(dian)(dian)感、電(dian)(dian)阻(zu)三種試品自動識別(bie)。

試驗電流范(fan)圍(wei)： 10μA～5A

內(nei)施高壓：    設定電壓范圍：0.5～10kV

*大輸(shu)出電(dian)流：200mA

升降壓方式：連(lian)續平(ping)滑調(diao)節(jie)

電壓精度：±(1.0%×讀(du)數+10V)

電壓分辨率：0.1V

試(shi)驗頻率：45、50、55、60、65Hz 單頻

45/55Hz、55/65Hz、47.5/52.5Hz 自(zi)動雙變(bian)頻

頻率精度：±0.01Hz

外施(shi)高壓：    正、反接線時*大試驗電(dian)流(liu)5A

CVT自激法低壓(ya)(ya)輸出(chu)(chu)：輸出(chu)(chu)電壓(ya)(ya)3～50V，輸出(chu)(chu)電流3～30A

高電(dian)壓介(jie)(jie)損：  支持變(bian)頻和諧振電(dian)源高電(dian)壓介(jie)(jie)損

實時(shi)時(shi)鐘：    實時(shi)顯示(shi)時(shi)間和日期

內(nei)部(bu)(bu)存(cun)儲(chu)：    儀器(qi)內(nei)部(bu)(bu)可存(cun)儲(chu)100組測量數據

U盤(pan)：&nbsp;     &nbsp; 支持U盤(pan)存儲

打印(yin)機(ji)：    &nbsp; 微型熱(re)敏(min)打印(yin)機(ji)

計算(suan)機接(jie)口： &nbsp;標準RS232接(jie)口（選(xuan)配）

尺寸(cun)重量：    K型：外形(xing)尺寸(cun)368mm×288mm×280mm；主機重量22kg。

其(qi)他款型：外形(xing)尺寸430mm×314mm×334mm；主機(ji)重(zhong)量30kg。

注：上述為(wei)E型主要(yao)技(ji)術(shu)(shu)指標，其(qi)它型號技(ji)術(shu)(shu)指標詳見(jian)本章節(jie)“1.3.6各型號測試功能說明”。

1.2 WBJS6000精密多頻率介質損耗測試儀系列型號功能列表

1.3 WBJS6000精密多頻率介質損耗測試儀主要功能特點

1.3.1 變頻(pin)抗干(gan)擾

采用(yong)變(bian)頻抗干(gan)擾(rao)技(ji)術(shu)，在200%干(gan)擾(rao)下仍能準確測(ce)量，測(ce)試數據(ju)穩定，適合在現場(chang)做(zuo)抗干(gan)擾(rao)介損試驗(yan)。

1.3.2高精度測(ce)量

采(cai)用數字波形分析和電(dian)橋自(zi)校準等技術，配合(he)高精(jing)度(du)三端標(biao)準電(dian)容(rong)器，實(shi)現高精(jing)度(du)介損測量(liang)。儀器所有量(liang)程輸入電(dian)阻低(di)于(yu)2Ω，消除了測量(liang)電(dian)纜附加電(dian)容(rong)的影響。

1.3.3**措(cuo)施

高壓保護(hu)：試品短(duan)(duan)路、擊穿或高壓電流波動，能以(yi)短(duan)(duan)路方式高速切斷(duan)輸出(chu)。

供電(dian)(dian)保護：誤(wu)接(jie)380V、電(dian)(dian)源波動或突(tu)然斷電(dian)(dian)，啟動保護，不會引起過電(dian)(dian)壓。

接(jie)(jie)(jie)地保護(hu)：具有接(jie)(jie)(jie)地檢測(ce)功(gong)能(neng)，未接(jie)(jie)(jie)地時(shi)不能(neng)升壓(ya)，若測(ce)量過程(cheng)中儀器接(jie)(jie)(jie)地**則(ze)啟(qi)動接(jie)(jie)(jie)地保護(hu)。

CVT 保護：高(gao)壓(ya)側電(dian)(dian)壓(ya)和電(dian)(dian)流(liu)、低壓(ya)側電(dian)(dian)壓(ya)和電(dian)(dian)流(liu)四個保護限制，不(bu)(bu)會損(sun)壞設備；誤選菜(cai)單不(bu)(bu)會輸(shu)出激磁電(dian)(dian)壓(ya)。CVT測量時(shi)無(wu)10kV高(gao)壓(ya)輸(shu)出。

防誤操作：兩級(ji)電(dian)源(yuan)開關；電(dian)壓、電(dian)流實(shi)時監視；多次(ci)按鍵確(que)認(ren)；接線端子高/低(di)壓分明；慢速升壓，可迅速降壓，聲光報警。

防“容升(sheng)”：測量(liang)大容量(liang)試(shi)品(pin)時會出現電(dian)壓抬高的“容升(sheng)”效(xiao)應，儀器(qi)能自動跟蹤輸出電(dian)壓，保持試(shi)驗電(dian)壓恒定(ding)。

高壓電纜：為耐高壓絕緣導線，可拖(tuo)地使用(yong)。

抗(kang)震性能：儀器(qi)采用獨特抗(kang)震設(she)計，可耐受強烈(lie)長途運輸震動、顛簸而不會損壞。

1.3.4打印存儲

儀器自帶(dai)微型打(da)印(yin)機，可以(yi)將測(ce)量結(jie)果(guo)打(da)印(yin)輸出，并將測(ce)量結(jie)果(guo)存貯到儀器內（可存儲100組測(ce)量數據）或U盤，以(yi)便日后查閱。

1.3.5實(shi)時時鐘

儀器內帶實時(shi)時(shi)鐘，實時(shi)顯示(shi)，并能記錄測量的日期和時(shi)間(jian)。

1.3.6各(ge)型號測試功能說明

B型：輕(qing)便型，高壓*大輸出電流為140mA，具有正接(jie)線、反接(jie)線功能，可選(xuan)擇內/外標準電容、內/外高壓多種(zhong)工作模(mo)式(shi)，一體化結構，可做各種(zhong)常規(gui)介損試驗。

D型(xing)：實用(yong)型(xing)，高(gao)壓(ya)*大輸出(chu)電流(liu)為200mA，具有正接(jie)線(xian)、反(fan)(fan)接(jie)線(xian)、反(fan)(fan)接(jie)線(xian)低(di)壓(ya)屏(ping)蔽、CVT自激(ji)法，反(fan)(fan)接(jie)線(xian)低(di)壓(ya)屏(ping)蔽功能能在220kV CVT母(mu)線(xian)接(jie)地情況下(xia)，對C11進行不拆線(xian)10kV反(fan)(fan)接(jie)線(xian)介損測(ce)量(liang)，并可(ke)一次(ci)接(jie)線(xian)同時(shi)測(ce)出(chu)兩個電容(rong)的電容(rong)量(liang)和介損值。CVT自激(ji)法測(ce)量(liang)時(shi)，C1/C2可(ke)一次(ci)接(jie)線(xian)同時(shi)測(ce)出(chu)，無須換線(xian)和外接(jie)任何配(pei)件，但高(gao)壓(ya)測(ce)量(liang)線(xian)需(xu)懸空吊起。

E型(xing)：標準型(xing)，在D型(xing)基礎上(shang)增(zeng)加了CVT變比測(ce)試(shi)功(gong)能，同(tong)時(shi)升級(ji)了CVT自(zi)激(ji)法(fa)測(ce)試(shi)，現場(chang)CVT自(zi)激(ji)法(fa)測(ce)試(shi)時(shi)高壓(ya)測(ce)量線可拖(tuo)地(di)使用(yong)，無需(xu)吊起。

F型(xing)(xing)：增(zeng)(zeng)強型(xing)(xing)，功能同E型(xing)(xing)，輸(shu)出*高電壓(ya)從10kV增(zeng)(zeng)加至12kV。

K型：標準型，在E型基(ji)礎上減(jian)小體積重量，設備更精巧。

S型(xing)：四通道(dao)型(xing)，功能(neng)同E型(xing)，增加了3個(ge)正(zheng)接通道(dao)。

J型：高精度型，功能(neng)同E型，測(ce)量準確(que)度為0.5%。

所有型號儀器均具備(bei)下述特點：

（1）支持變(bian)頻(pin)和諧振電源高電壓(ya)介損。

（2）內置串聯(lian)和并聯(lian)兩種介損測量(liang)模型，方便儀器檢定。

（3）配置熱敏打(da)印機，使打(da)印更加快捷(jie)、無(wu)噪音和清晰。

（4）320×240點(dian)陣大屏液晶(jing)顯示，菜單操作，測試(shi)數(shu)據(ju)豐富，自動分辨電(dian)容、電(dian)感、電(dian)阻型(xing)試(shi)品。

（5）具(ju)有外接(jie)(jie)標準(zhun)(zhun)電(dian)(dian)容器接(jie)(jie)口，可(ke)(ke)外接(jie)(jie)油杯做精密絕緣油介(jie)損試(shi)驗，可(ke)(ke)外接(jie)(jie)固體(ti)材料(liao)測(ce)量(liang)電(dian)(dian)極做精密絕緣材料(liao)介(jie)損試(shi)驗，也可(ke)(ke)外接(jie)(jie)高(gao)壓標準(zhun)(zhun)電(dian)(dian)容器做高(gao)電(dian)(dian)壓介(jie)損試(shi)驗。

（6）帶(dai)日歷時鐘，可存儲100組測量數據。

（7）計算機接口（選配）。

2、WBJS6000精密多頻率介質損耗測試儀面板(ban)說明

高(gao)壓(ya)輸出測(ce)量(liang)(liang)(liang)接(jie)地(di)(di)(di)(di)：若出廠配(pei)置的高(gao)壓(ya)測(ce)試線有(you)接(jie)地(di)(di)(di)(di)屏(ping)蔽層(ceng)，則需將高(gao)壓(ya)測(ce)量(liang)(liang)(liang)線的接(jie)地(di)(di)(di)(di)屏(ping)蔽層(ceng)連(lian)接(jie)至此處，沒(mei)有(you)則留空。CVT自激法測(ce)量(liang)(liang)(liang)的高(gao)壓(ya)連(lian)線接(jie)地(di)(di)(di)(di)屏(ping)蔽層(ceng)在拖地(di)(di)(di)(di)模式下必須接(jie)地(di)(di)(di)(di)，非拖地(di)(di)(di)(di)模式下接(jie)地(di)(di)(di)(di)屏(ping)蔽層(ceng)應懸空不能接(jie)地(di)(di)(di)(di)且高(gao)壓(ya)測(ce)量(liang)(liang)(liang)線也應懸空吊起不能拖地(di)(di)(di)(di)。

高(gao)壓(ya)輸(shu)出(chu)插座（0.5～10kV，*大200mA）

安裝位(wei)置：如圖2-1所示(shi)，安裝在箱體(ti)(ti)前側面。

功    能(neng)：內高壓輸出；檢測反接線試品電流；內部標(biao)準電容器的(de)高壓端。

接(jie)(jie)線方法：插座(zuo)1腳接(jie)(jie)高(gao)(gao)壓(ya)(ya)(ya)(ya)線芯(xin)線（紅夾(jia)子(zi)(zi)），2、3腳接(jie)(jie)高(gao)(gao)壓(ya)(ya)(ya)(ya)線屏(ping)(ping)蔽(bi)（黑夾(jia)子(zi)(zi)）。正接(jie)(jie)線時，高(gao)(gao)壓(ya)(ya)(ya)(ya)線芯(xin)線（紅夾(jia)子(zi)(zi)）和屏(ping)(ping)蔽(bi)（黑夾(jia)子(zi)(zi)）都可以用作加(jia)(jia)壓(ya)(ya)(ya)(ya)線；反接(jie)(jie)線時只能用芯(xin)線對試(shi)品(pin)高(gao)(gao)壓(ya)(ya)(ya)(ya)端(duan)加(jia)(jia)壓(ya)(ya)(ya)(ya)。如果試(shi)品(pin)高(gao)(gao)壓(ya)(ya)(ya)(ya)端(duan)有屏(ping)(ping)蔽(bi)極（如高(gao)(gao)壓(ya)(ya)(ya)(ya)端(duan)的(de)屏(ping)(ping)蔽(bi)環(huan)）可接(jie)(jie)高(gao)(gao)壓(ya)(ya)(ya)(ya)屏(ping)(ping)蔽(bi)，無屏(ping)(ping)蔽(bi)時高(gao)(gao)壓(ya)(ya)(ya)(ya)屏(ping)(ping)蔽(bi)懸空。若配置的(de)高(gao)(gao)壓(ya)(ya)(ya)(ya)測試(shi)線有接(jie)(jie)地(di)屏(ping)(ping)蔽(bi)層，則需將高(gao)(gao)壓(ya)(ya)(ya)(ya)測量線的(de)接(jie)(jie)地(di)屏(ping)(ping)蔽(bi)層連(lian)接(jie)(jie)至圖2-1中(zhong)的(de)“1”處。

注意事項：

（1）若(ruo)儀(yi)器CVT自激法高(gao)壓(ya)連(lian)線(xian)具備“高(gao)壓(ya)拖(tuo)地(di)”功能，使用(yong)拖(tuo)地(di)模(mo)式測量時務必(bi)使用(yong)原廠配置的專(zhuan)用(yong)高(gao)壓(ya)電纜（原廠電纜在出廠時已(yi)進行校(xiao)準），不(bu)(bu)可使用(yong)其它高(gao)壓(ya)電纜代替，否則會引起較大的測量誤(wu)差。CVT自激法不(bu)(bu)使用(yong)拖(tuo)地(di)模(mo)式時，高(gao)壓(ya)電纜必(bi)須懸(xuan)空，接地(di)屏蔽(bi)層也不(bu)(bu)能接地(di)！

（2）高(gao)壓插座和高(gao)壓線有危險電(dian)壓，**禁(jin)止碰觸(chu)高(gao)壓插座、電(dian)纜、夾子和試(shi)品帶(dai)電(dian)部(bu)位(wei)！確認(ren)斷電(dian)后接線，測量時務必遠離！

（3）用(yong)標(biao)(biao)準介損器(qi)（或標(biao)(biao)準電容器(qi)）檢定反接(jie)線精度時，應(ying)使用(yong)全(quan)屏蔽插頭連接(jie)試品，否則(ze)暴露(lu)的(de)芯(xin)線會(hui)引起測量誤差。

（4）應保證高壓線與試品高壓端零電(dian)阻連接，否則可(ke)能(neng)引(yin)起(qi)誤差或數據波動，也可(ke)能(neng)引(yin)起(qi)儀器(qi)保護。

（5）強干擾下拆除接(jie)線時(shi)，應(ying)在保持(chi)電(dian)纜接(jie)地狀態下斷開連(lian)接(jie)，以防感應(ying)電(dian)擊。

CVT自(zi)激法低壓輸(shu)出插座（3～50V，3～30A）

功    能：由該插座和圖2-1中的(de)接(jie)地接(jie)線柱“4”輸出CVT測(ce)量的(de)低壓變頻激勵電源。

注意事項：

（1）因低(di)壓輸出電流大，應采用(yong)儀器專用(yong)低(di)阻線(xian)連(lian)接(jie)CVT二次繞組，接(jie)觸**會影響測量。

（2）視CVT容(rong)量從菜(cai)單選擇合適(shi)的電壓(ya)電流保護限(xian)。

（3）選擇正/反接線時，此輸出封(feng)閉(bi)。

測(ce)量接(jie)地(di)(di)：它同外殼和電源插座地(di)(di)線連到(dao)一(yi)起(qi)，與圖2-1的“3”一(yi)起(qi)輸(shu)出CVT測(ce)量的低壓變頻激勵電源。盡管儀(yi)器有接(jie)地(di)(di)保護，但無論何(he)種測(ce)量，儀(yi)器都應可靠獨立接(jie)地(di)(di)以(yi)保障使用者的**及(ji)測(ce)量結果的準確。

打印(yin)(yin)機(ji)：微型熱(re)敏打印(yin)(yin)機(ji)，用于打印(yin)(yin)測試(shi)數據。

USB：USB通(tong)信用(yong)。

RS232：與計算機聯(lian)機使用。

U盤：用于外(wai)接U盤保(bao)存數據。

試(shi)品輸入Cx插座(zuo)（10μA～5A）

功    能(neng)：正接線時輸(shu)入試品(pin)電流(liu)。

接(jie)線(xian)(xian)(xian)方(fang)法：插座1腳接(jie)測(ce)量(liang)線(xian)(xian)(xian)芯線(xian)(xian)(xian)（紅夾子(zi)），2、3腳接(jie)測(ce)量(liang)線(xian)(xian)(xian)屏(ping)(ping)(ping)蔽(bi)(bi)(bi)(bi)（黑(hei)夾子(zi)）。正接(jie)線(xian)(xian)(xian)時芯線(xian)(xian)(xian)（紅夾子(zi)）接(jie)試品低(di)(di)壓(ya)信號端，如(ru)果(guo)試品低(di)(di)壓(ya)端有屏(ping)(ping)(ping)蔽(bi)(bi)(bi)(bi)極(ji)（如(ru)低(di)(di)壓(ya)端的(de)屏(ping)(ping)(ping)蔽(bi)(bi)(bi)(bi)環）可接(jie)屏(ping)(ping)(ping)蔽(bi)(bi)(bi)(bi)，試品無(wu)屏(ping)(ping)(ping)蔽(bi)(bi)(bi)(bi)時屏(ping)(ping)(ping)蔽(bi)(bi)(bi)(bi)懸空。

注意事項：

（1）測(ce)量中(zhong)嚴禁拔下插(cha)頭(tou)，防止試(shi)品電流經人體入(ru)地！

（2）用標準(zhun)介損(sun)器（或標準(zhun)電容器）檢測儀器正接線精(jing)度時，應(ying)使用全屏蔽插頭(tou)連接試品，否(fou)則暴(bao)露(lu)的(de)芯線會引起測量誤(wu)差。

（3）應(ying)保證引(yin)線與試品低壓端0電阻連接(jie)，否則可能(neng)引(yin)起誤差或數據波動，也可能(neng)引(yin)起儀器保護。

（4）強干擾下拆除(chu)接線時，應在保持電(dian)纜接地狀態下斷(duan)開連接，以防感(gan)應電(dian)擊。

標準電(dian)容輸入Cn插座(zuo)（10μA～5A）

功    能：輸(shu)入外接標準電容器電流(liu)。

接線方法(fa)：與Cx插座(zuo)類似，其區別在于：

（1）使用外部標(biao)準(zhun)電容(rong)器時，應使用全屏蔽插頭連接。此(ci)方(fang)式常用于外接高電壓等(deng)級標(biao)準(zhun)電容(rong)器，實(shi)現高電壓介(jie)損測量。

（2）菜單選(xuan)擇“外標準電容”方(fang)式。

（3）將(jiang)外接(jie)標準電容(rong)(rong)器的(de)C和tgδ置入儀器，實(shi)現Cx電容(rong)(rong)介損的(de)**值測量。

從理論上(shang)講，任何(he)容(rong)量和介損的電(dian)(dian)容(rong)器(qi)，將(jiang)參(can)數(shu)置入儀器(qi)都可做(zuo)標準電(dian)(dian)容(rong)器(qi)。不同的是標準電(dian)(dian)容(rong)器(qi)能提供更好(hao)的長期穩定(ding)性和精度。

（4）不管正接線還(huan)是反接線測量，標準電容器接線方式(shi)始終為正接線。

總電源(yuan)開關：開關機用(yong)，可在發現(xian)異常(chang)時隨時關閉。

供電(dian)電(dian)源插座：接220V市電(dian)，插座內置(zhi)保險(xian)(xian)絲(si)(si)座，保險(xian)(xian)絲(si)(si)規格為10A / 250V，若(ruo)損壞應使(shi)用(yong)相(xiang)同規格的保險(xian)(xian)絲(si)(si)替換(huan)。若(ruo)換(huan)用(yong)備用(yong)保險(xian)(xian)絲(si)(si)后(hou)仍燒斷，可能儀器有故障，可通知廠家處理。

高壓允許開(kai)關(guan)：內置高壓系(xi)統(tong)或CVT自激法低壓輸出系(xi)統(tong)的總(zong)電(dian)源開(kai)關(guan)。此開(kai)關(guan)受總(zong)電(dian)源開(kai)關(guan)控制。

按鍵(jian)(jian)(jian)：按下“↑”、“↓”、“←”、“→”鍵(jian)(jian)(jian)可(ke)移動光標和修改(gai)光標處內容，“確認(ren)”鍵(jian)(jian)(jian)用(yong)于確認(ren)或結束參數(shu)修改(gai)，在測(ce)試(shi)界面長按該鍵(jian)(jian)(jian)可(ke)開始(shi)測(ce)量，測(ce)量過程中，按“確認(ren)”鍵(jian)(jian)(jian)可(ke)終止測(ce)量。

液(ye)晶(jing)顯示(shi)屏(ping)：320×240點陣灰白背光液(ye)晶(jing)顯示(shi)屏(ping)，顯示(shi)菜(cai)單、測量結果或出(chu)錯信息(xi)。應避免長時(shi)間陽光爆曬，避免重壓。

背光調節：液晶顯示屏顯示較暗或不清晰時可調節該電位器(qi)至合適位置使顯示明(ming)亮清晰。

指示燈：配(pei)合儀(yi)器(qi)內部蜂鳴(ming)器(qi)進行測試、報警等(deng)聲光(guang)警示。

3、WBJS6000精密多頻率介質損耗測試儀使用說明

3.1初始(shi)菜(cai)單界面(mian)

打開總電源開關后(hou)，系統(tong)進入初始菜單界面。

測試(shi)模式(shi)(shi)：選擇測試(shi)模式(shi)(shi)和設置各(ge)項測試(shi)參(can)數，

歷(li)史記錄：查看保(bao)存的(de)歷(li)史數據

系統(tong)設置：出廠參數設置及(ji)系統(tong)時間校(xiao)準

幫(bang)    助：可查閱軟(ruan)件版本等信息

取消或使用(yong)CVT自(zi)激法“高(gao)壓連(lian)線拖地”功(gong)能(neng)：

開機右下角顯示“”表示該儀器在CVT自激法測試時高壓連線具備拖地功能。

光標停留在“測試模式”處長按“→”鍵（聽到蜂鳴器聲音松手）可取消或使用拖地模式（右下角顯示“”表示當前為拖地模式），在拖地模式下必須將高壓連線的接地屏蔽層插頭接至圖2-1中的“1”（高壓測量接地）處，否則會引起測量誤差；取消拖地模式后高壓連線必須懸空吊起，同時高壓連線的接地屏蔽層插頭也應懸空，否則會引起測量誤差。

使(shi)用或取消發“發電機供電”模式：

光標停留在“測試模式”處長按“←”鍵（聽到蜂鳴器聲音松手）可使用或取消發電機供電模式（左下角顯示“”表示當前為發電機供電模式），儀器開機默認為市電供電模式，發電機模式適合使用發電機或移動電源供電環境，發電機模式下儀器將不進行接地檢測。

3.2測(ce)試模式(shi)

3.2.1 開始測試(shi)菜單界面

在初始菜單界(jie)面將(jiang)光(guang)標(biao)移動到(dao)“測(ce)試模式”按確定按鈕(niu)進(jin)入開始測(ce)試菜單界(jie)面，如圖(tu)3-2所示。

界面(mian)左側為參(can)數設置(zhi)選項(xiang)，移動光標到(dao)相(xiang)關(guan)參(can)數選項(xiang)按(an)確定鍵可設置(zhi)相(xiang)關(guan)試驗參(can)數，右側顯示內容為已設置(zhi)好(hao)試驗參(can)數，光標停(ting)留在“開始(shi)測(ce)試”欄長按(an)“確認(ren)” 鍵可開始(shi)測(ce)試。

界面(mian)右側“測(ce)試(shi)地(di)點”下一行(xing)(xing)為(wei)信息提(ti)示(shi)行(xing)(xing)，若內(nei)(nei)外(wai)高(gao)(gao)壓選擇有誤則(ze)提(ti)示(shi)“當前為(wei)內(nei)(nei)高(gao)(gao)壓模式，請開(kai)啟內(nei)(nei)高(gao)(gao)壓”或(huo)“當前為(wei)外(wai)高(gao)(gao)壓模式，請關閉內(nei)(nei)高(gao)(gao)壓”；若儀(yi)器沒有接(jie)地(di)則(ze)會提(ti)示(shi)“請檢查接(jie)地(di)”，當有錯誤提(ti)示(shi)時儀(yi)器無(wu)法正(zheng)常啟動，只有提(ti)示(shi)“確認無(wu)誤后長按確認鍵開(kai)始測(ce)試(shi)”時儀(yi)器方可啟動測(ce)試(shi)。

3.2.2 試品模型選擇菜(cai)單界(jie)面

將光(guang)標移動(dong)(dong)到“試(shi)品模(mo)(mo)型”功能選(xuan)項，界面如圖3-3所(suo)示，按“確(que)認”按鈕后移動(dong)(dong)光(guang)標可(ke)選(xuan)擇(ze)合適的試(shi)品模(mo)(mo)型（光(guang)標移動(dong)(dong)到相應(ying)功能后按確(que)認鍵）。實驗(yan)室一般使用(yong)串聯(lian)型介損(sun)因數標準器(qi)檢定，校驗(yan)時應(ying)使用(yong)RC串聯(lian)模(mo)(mo)型。

RC串(chuan)聯(lian)(電(dian)流比較儀型電(dian)橋(qiao))：采用(yong)電(dian)流比較儀型電(dian)橋(qiao)（如QS30電(dian)橋(qiao)）校準的串(chuan)聯(lian)型試(shi)品(或介質損耗因數標準器)，該項在開始測試(shi)界面(mian)顯示"RC串(chuan)聯(lian)"。

RC串聯(西林型電橋)： 采用西林型電橋（如2801、QS1和QS37等電橋）校準的串聯型試品(或介質損耗因數標準器) ，該項在開始測試界面顯示 "RC串聯"。

RC并聯(現場使用)：一般實(shi)際的(de)電(dian)容試(shi)(shi)品可等效為RC并聯模型，建議現場試(shi)(shi)驗時使用。

采用電流比較儀型電橋和西林型電橋校準的串聯型試品(或介質損耗因數標準器)的區別只是電容量不同：為西林型電橋標定值，C為電流比較儀型電橋標定值。

3.2.3 接線(xian)方式(shi)選擇菜(cai)單(dan)界面

將光(guang)標移動到“接線方(fang)式(shi)”功(gong)能(neng)選項，界(jie)面如圖3-4所示(shi)，按“確認(ren)”按鈕后(hou)移動光(guang)標可選擇合適的接線方(fang)式(shi)。

接(jie)(jie)線(xian)方式：共5種(zhong)接(jie)(jie)線(xian)方式（功能因型號(hao)有差別，具體詳見型號(hao)功能說明部(bu)分(fen)），分(fen)別為：正接(jie)(jie)線(xian)、反(fan)接(jie)(jie)線(xian)、反(fan)接(jie)(jie)線(xian)低壓屏蔽、CVT自激法(fa)和變比(bi)。選擇CVT自激法(fa)測(ce)量(liang)時需同時將相關參數一并設置好。

CVT自(zi)激法(fa)測量必(bi)須打開(kai)內高(gao)壓允許開(kai)關，由機內提供激勵電壓，由“低壓輸出”和“測量接地(di)”輸出。為**起見(jian)，CVT自(zi)激法(fa)還需要設置以下幾(ji)個保護(hu)限(xian)：

將光標移動到xxkV / xxmA / xxV / xxA，按↑↓選擇合適(shi)值(zhi)，選擇好后按確認(ren)鍵退出(chu)。

xxkV：可選(xuan)0.5/0.6/0.8/1/1.5/2/2.5/3/3.5/4kV，為(wei)高壓上限，只(zhi)能使(shi)用4kV以下電(dian)壓。

xxmA：可選(xuan)10/15/20/25/30/35/40/45/50/60/70/80/100/120/140/200mA，表示(shi)待(dai)測試品的高壓電流上限。

xxV：可選3/4/5/6/7/8/9/10/12/15/20/25/30/35/40/50V，表示低壓(ya)激勵電壓(ya)上限。

xxA：可選3/4/5/6/7/8/9/10/11/12/13/14/15/16/20/30A，表示低壓激勵電流上限(xian)。

注意(yi)：

（1）測(ce)量時4個保護限(xian)同時起作用(yong)，因此試驗高壓可(ke)能達不(bu)到(dao)設定值。如果高壓達不(bu)到(dao)保護限(xian)，可(ke)適當調整受到(dao)限(xian)制的(de)保護限(xian)。

（2）通常(chang)測量C1時(shi)低壓激勵電壓可(ke)(ke)達20V，測量C2時(shi)低壓激勵電流可(ke)(ke)達15A。一般可(ke)(ke)設(she)高(gao)壓電壓2～3kV，較少采用高(gao)壓電流限制，可(ke)(ke)設(she)為*大200mA。

變比測量時應選(xuan)擇合適的高(gao)壓(ya)(ya)輸出使二(er)(er)次(ci)側電(dian)壓(ya)(ya)小于(yu)120V，當二(er)(er)次(ci)側電(dian)壓(ya)(ya)≥120V時儀器會發出聲光(guang)報警并提(ti)示“接線錯(cuo)誤”。

3.2.4 標準(zhun)電容選擇菜單界面

將(jiang)光標(biao)移(yi)動到“標(biao)準(zhun)(zhun)電(dian)容(rong)(rong)”功能選(xuan)項，界面如圖3-5所示，按“確(que)認”按鈕后移(yi)動光標(biao)可選(xuan)擇(ze)合(he)適(shi)的標(biao)準(zhun)(zhun)電(dian)容(rong)(rong)。選(xuan)擇(ze)外標(biao)準(zhun)(zhun)電(dian)容(rong)(rong)時需同時將(jiang)外標(biao)準(zhun)(zhun)的電(dian)容(rong)(rong)量和(he)介損一并設置好。

選(xuan)(xuan)擇(ze)外標(biao)準電(dian)容時將光標(biao)移(yi)動到(dao)Cn=xxxxx e x pF 和tgδ=xx.xxx%按↑↓選(xuan)(xuan)擇(ze)合適值(zhi)，選(xuan)(xuan)擇(ze)好后按確認鍵退(tui)出(chu)。

Cn采用科(ke)學計數(shu)法，如5.000e1=5.000×101=50.00，1.000e2=1.000×102=100.0等，范圍0.000e0～9.999e5 (即(ji)0～999900pF)。tgδ設置范圍0～±9.999%。

內標準電容通常可(ke)用(yong)于正、反接(jie)線(xian)測量和CVT自激法測量，高電壓介(jie)損選用(yong)外標準方式，需要將(jiang)外接(jie)電容參(can)數置入儀器。

3.2.5 測試頻率選擇菜(cai)單界面

測試頻(pin)率可(ke)選(xuan)擇(ze)(ze)定頻(pin)或異頻(pin)，頻(pin)率選(xuan)擇(ze)(ze)菜單界面如圖(tu)3-6所示，頻(pin)率選(xuan)擇(ze)(ze)范圍如下：

定頻：

“50Hz”：為工頻測量，此設(she)置不能抗干(gan)擾，在試(shi)驗室內測量或(huo)校(xiao)驗時選用。

“45/55/60/65Hz”：為單頻率(lv)測量，研(yan)究不同頻率(lv)下介損的變化時選用(yong)。

頻率自適應：外(wai)高壓(ya)測(ce)(ce)量模式(shi)下有效（不能更改），系統自動(dong)識別(bie)外(wai)施高壓(ya)頻率，測(ce)(ce)試(shi)頻率無需在測(ce)(ce)試(shi)前設(she)置。

異頻(pin)：

“45/55Hz”：為自動變頻，適合50Hz電網工頻干(gan)擾(rao)下測量。

“55/65Hz”：為自(zi)動變頻，適合60Hz電網工頻干擾下測量。

“47.5/52.5Hz”：為自動變頻，適(shi)合(he)50Hz電(dian)網工頻干擾下(xia)測(ce)量。

3.2.6 測(ce)試電壓選擇菜單(dan)界面(mian)

內高壓(ya)可選擇(ze)“0.5 /0.6 /0.8 /1 /1.5 /2 /2.5 /3 /3.5 /4 /4.5 /5 /5.5 /6 /6.5 /7 /7.5 /8 /8.5 /9 /9.5 /10.0kV”（F型*高輸出電壓(ya)為12kV），應根據(ju)高壓(ya)試(shi)驗規(gui)程選擇(ze)合適的(de)試(shi)驗電壓(ya)。

注(zhu)：若選擇“CVT自(zi)激(ji)法(fa)”測試功能(neng)，則(ze)該選項無(wu)效(xiao)。CVT自(zi)激(ji)法(fa)的相關電壓(ya)參數需在該功能(neng)選項下進行(xing)設置(zhi)。

3.2.7 測試備忘(wang)設置(zhi)菜單(dan)界(jie)面

設備編(bian)號(hao)(hao)：可設置(zhi)(zhi)8位字(zi)母或數字(zi)編(bian)號(hao)(hao)，將光標移(yi)動到(dao)”設備編(bian)號(hao)(hao)”處，按確認(ren)健進入(ru)設備編(bian)號(hao)(hao)設置(zhi)(zhi)，通過“←”、“→”健移(yi)動光標，通過↑↓選擇合適(shi)值(zhi)，設置(zhi)(zhi)好后按確認(ren)鍵退(tui)出(chu)。

測(ce)試人員(yuan)(yuan)：可設(she)置8位字母或數(shu)字編號，將光標移(yi)動(dong)到” 測(ce)試人員(yuan)(yuan)”處(chu)，按確認健(jian)進入(ru)測(ce)試人員(yuan)(yuan)設(she)置，通(tong)過“←”、“→”健(jian)移(yi)動(dong)光標，通(tong)過↑↓選擇合適值，設(she)置好后按確認鍵退出。

測(ce)試地(di)點(dian)：可設(she)置8位字(zi)母或數字(zi)編號，將光標(biao)移動到(dao)” 測(ce)試地(di)點(dian)”處，按(an)確認(ren)健進(jin)入測(ce)試地(di)點(dian)設(she)置，通過“←”、“→”健移動光標(biao)，通過↑↓選擇(ze)合適值，設(she)置好后(hou)按(an)確認(ren)鍵退出。

3.2.8 測試結果界面(mian)

3.2.8.1反接法測(ce)試結果界(jie)面(mian)

測試完成(cheng)顯示(shi)結果后，可移動光標選(xuan)擇保存或打印數(shu)據。

儀器自動分(fen)辨電(dian)容(rong)、電(dian)感(gan)、電(dian)阻型(xing)試(shi)品(pin)：電(dian)容(rong)型(xing)試(shi)品(pin)顯示Cx和tgδ；電(dian)感(gan)型(xing)試(shi)品(pin)顯示Lx和Q；電(dian)阻型(xing)試(shi)品(pin)顯示Rx和附加Cx或Lx。自動選(xuan)取顯示單位。

試品(pin)為(wei)電(dian)容時：顯(xian)(xian)示數據為(wei)Cx、tgδ、Ux、Ix、Φ、f1、f2, |δ|>1則顯(xian)(xian)示電(dian)容和串/并聯電(dian)阻

試(shi)品為電(dian)(dian)感時：顯示(shi)數(shu)據為Lx、Q、Ux、Ix、Φ、f1、f2, |Q|<1則顯示(shi)電(dian)(dian)感和(he)串聯電(dian)(dian)阻

試品(pin)為(wei)電阻時：顯示數據(ju)為(wei)Cx(Lx)、Rx、Ux、Ix、Φ、f1、f2

Cx   試品電容(rong)量[1μF=1000nF納法 / 1nF=1000pF]，如(ru)顯示10.00nF即10000pF

tgδ 介損因(yin)數[1%=0.01]

Lx   試品電感(gan)量(liang)[1MH兆亨(heng)=1000kH / 1kH=1000H]

Q    品質因(yin)數[無(wu)單位]

Rx   試品電阻值[1MΩ=1000kΩ / 1kΩ=1000Ω]

Ux   試(shi)驗電壓[1kV=1000V / 1V=1000mV]

Ix   試(shi)品電流(liu)[1A=1000mA / 1mA=1000μA]

Φ   試(shi)品電流超前(qian)試(shi)驗(yan)電壓(ya)(ya)(ya)的(de)角(jiao)度[°度]或測變比時一次電壓(ya)(ya)(ya)超前(qian)二(er)次電壓(ya)(ya)(ya)的(de)角(jiao)度

K    測(ce)CVT變比時，一次(ci)電(dian)壓比二次(ci)電(dian)壓

f1   頻率(lv)[Hz]，顯(xian)示**次測試(shi)頻率(lv)

f2   頻率[Hz]，顯(xian)示**次測試(shi)頻率

顯示over表(biao)示測量數據超量程。

3.2.8.2反接線低壓(ya)屏蔽測(ce)試結(jie)果界面

反接線(xian)低壓(ya)屏蔽測試一次(ci)接線(xian)可同時測出C11和(he)C下(xia)節(下(xia)端(duan)屏蔽部分)的電容量和(he)介損值。

3.2.8.3 CVT自激法(fa)測試結(jie)果界面

CVT自激法按測(ce)量接(jie)線，與(yu)試品輸入(ru)Cx插座(zuo)連(lian)接(jie)的定義為C1，與(yu)高(gao)壓線連(lian)接(jie)的為C2。U1為測(ce)量C1時的高(gao)壓，U2為測(ce)量C2時的高(gao)壓。

3.3歷史數據

進入歷史(shi)數據菜單界面如(ru)圖3-12所示。

移(yi)動光標到(dao)“U盤(pan)”選(xuan)(xuan)項(xiang)(xiang)按(an)“確(que)定(ding)”鍵可(ke)將(jiang)數(shu)(shu)據(ju)(ju)(ju)導(dao)出到(dao)U盤(pan)，上(shang)(shang)移(yi)到(dao)“清空”選(xuan)(xuan)項(xiang)(xiang)按(an)“確(que)定(ding)”鍵可(ke)清空保(bao)存的全部(bu)數(shu)(shu)據(ju)(ju)(ju)。將(jiang)光標移(yi)動到(dao)“>>>>”選(xuan)(xuan)項(xiang)(xiang)按(an)下“確(que)定(ding)”鍵進(jin)入(ru)數(shu)(shu)據(ju)(ju)(ju)選(xuan)(xuan)擇(ze)界(jie)面(mian)，光標位置默認(ren)停留在(zai)*近保(bao)存的單(dan)條數(shu)(shu)據(ju)(ju)(ju)上(shang)(shang)，若要查看(kan)其他數(shu)(shu)據(ju)(ju)(ju)可(ke)上(shang)(shang)下移(yi)動光標進(jin)行選(xuan)(xuan)擇(ze)，選(xuan)(xuan)擇(ze)好要查看(kan)的數(shu)(shu)據(ju)(ju)(ju)后按(an)“確(que)定(ding)”按(an)鈕進(jin)入(ru)單(dan)條歷史(shi)數(shu)(shu)據(ju)(ju)(ju)顯示界(jie)面(mian)。歷史(shi)數(shu)(shu)據(ju)(ju)(ju)選(xuan)(xuan)擇(ze)界(jie)面(mian)和單(dan)條歷史(shi)數(shu)(shu)據(ju)(ju)(ju)顯示界(jie)面(mian)如圖3-13和圖3-14所示。

進入(ru)單(dan)條(tiao)歷史數(shu)據顯示(shi)界(jie)面后，在左側功能選項區上(shang)下(xia)移動光標可(ke)選擇打(da)印、刪(shan)除本(ben)條(tiao)數(shu)據和退(tui)出單(dan)條(tiao)歷史數(shu)據顯示(shi)界(jie)面。

3.4系統設置

進入系(xi)(xi)統設(she)置菜(cai)單可進行系(xi)(xi)統時間校(xiao)準，“出(chu)廠(chang)設(she)置”參(can)數禁(jin)止用戶修改，只允(yun)許生(sheng)產廠(chang)家(jia)進行出(chu)廠(chang)參(can)數設(she)置。

3.5幫助

可查看儀器的相關(guan)操(cao)作指導(dao)。

3.6啟動測量

進(jin)入測(ce)試(shi)界面設置好各項試(shi)驗參數后，將(jiang)光標移動到“開始測(ce)試(shi)”功(gong)能選項上，按住“確認”鍵3s以上啟動測(ce)量(liang)。

啟動測量(liang)(liang)后發出聲光(guang)報警；在測試過(guo)程(cheng)中會(hui)實(shi)時顯示測試相關參(can)數（電壓、電流、頻(pin)率、電容(rong)量(liang)(liang)等參(can)數）和測量(liang)(liang)進程(cheng)(0%～99%)。

測量(liang)中按(an)“確認(ren)”鍵可(ke)取消測量(liang)，遇緊急情況立(li)即關(guan)閉總(zong)電源(yuan)。

測量過程(cheng)結束(shu)，儀器自動降壓后再顯示(shi)結果。

3.7對比度調節

液晶顯示屏的對(dui)比度已在出廠時校好，如果您感覺不夠清(qing)晰，調整面板(ban)上(shang)的電位器使液晶顯示屏顯示內容清(qing)晰為止。

4、參(can)考(kao)接線(xian)

4.1常(chang)規(gui)正接(jie)線(xian)（正接(jie)線(xian)、內(nei)標準電容、內(nei)高壓）

4.2常規(gui)反(fan)接(jie)線（反(fan)接(jie)線、內標準電容、內高壓）

4.3正接線、外標(biao)準電容(rong)、內(nei)高(gao)壓(ya)

4.4反接線、外(wai)標準(zhun)電容、內(nei)高壓

4.5正接線、內標準電容、外(wai)高壓

4.6反接線、內標(biao)準電容(rong)、外高(gao)壓

4.7正(zheng)接線、外標準電(dian)容、外高壓（高電(dian)壓介損）

4.8反(fan)接(jie)線、外(wai)標準電(dian)容、外(wai)高(gao)壓

4.9反接線低壓屏蔽

可在220kV CVT母(mu)(mu)線(xian)接(jie)地(di)(di)情況下(xia)(xia)，對C11進(jin)行不拆線(xian)10kV反接(jie)線(xian)介損(sun)測量。如下(xia)(xia)圖所示：母(mu)(mu)線(xian)掛地(di)(di)線(xian)，C11上端不拆線(xian)，C11下(xia)(xia)端接(jie)高(gao)壓(ya)線(xian)芯線(xian)，C2末(mo)端δ和(he)(he)X接(jie)Cx芯線(xian)。這樣C12和(he)(he)C2被低壓(ya)屏蔽，儀器采用反接(jie)線(xian)低壓(ya)屏蔽測量方(fang)式，可同時測出C11和(he)(he)下(xia)(xia)端被屏蔽部分(fen)的電容量和(he)(he)介損(sun)值(zhi)。

4.10 CVT自激法

高壓(ya)線芯(xin)線接(jie)C2下端(duan)，Cx芯(xin)線接(jie)C12上端(duan)。在CVT 自(zi)激法測量(liang)中，儀器先測量(liang)C12，然(ran)后自(zi)動倒線測量(liang)C2，并自(zi)動校(xiao)準分(fen)壓(ya)影響。

1）D型高(gao)壓連(lian)線(xian)不(bu)(bu)可拖地，高(gao)壓線(xian)應懸空不(bu)(bu)能(neng)接觸地面（高(gao)壓線(xian)的接地屏(ping)蔽(bi)層(ceng)插(cha)頭必須(xu)懸空），否則其對地附加介損(sun)會引起誤差(cha)，可用細電纜連(lian)接高(gao)壓插(cha)座與CVT試品并吊起。

2）E、F、S、J型高壓連線可拖地使用，在開機初始界面（圖3-1界面），光標停留在“測試模式”處長按“→”鍵（聽到蜂鳴器聲音松手）可取消或使用拖地模式（右下角顯示“”表示當前為拖地模式），在拖地模式下必須將高壓連線的接地屏蔽層插頭接至圖2-1中的“1”（高壓測量接地）處，否則會引起測量誤差；取消拖地模式后高壓連線必須懸空吊起，高壓連線的接地屏蔽層插頭也應懸空，否則會引起測量誤差。拖地模式下的高壓連線必須使用原廠配置的電纜（已校準），否則會引起測量誤差！

4.11 CVT變比測試

儀器(qi)高壓(ya)線的(de)芯線紅夾子接(jie)CVT的(de)上(shang)端(duan)，母線拆地，CVT下(xia)端(duan)接(jie)地，低壓(ya)線紅黑(hei)夾子接(jie)二次(ci)繞組(zu)。

5、常(chang)見CVT的參(can)考測量方法

目前常見的(de)(de)電(dian)(dian)容式電(dian)(dian)壓互(hu)感器可分為(wei)110kV、220kV、500kV等不同電(dian)(dian)壓等級，一般110kV的(de)(de)CVT其C1就一節，220kV的(de)(de)CVT其C1有兩節，而500kV的(de)(de)CVT其C1有三節。

5.1  500kV CVT的(de)測量方法

1）C11的測量方法

按圖5-1標明的方(fang)式接(jie)線，測(ce)量(liang)C11時應注意：

◇ 拆開(kai)δ端(duan)，X端(duan)一定(ding)要接(jie)地

◇ a點接紅(hong)色高(gao)(gao)壓(ya)(ya)測試線的(de)芯(xin)線（紅(hong)夾(jia)子(zi)），b點接紅(hong)色高(gao)(gao)壓(ya)(ya)測試線的(de)高(gao)(gao)壓(ya)(ya)屏蔽層（黑(hei)夾(jia)子(zi)）

2）C12的測量方法

按圖5-2標明(ming)的方式接線(xian)，測量C12時注意(yi)：

◇ 拆(chai)開δ端，X端一定要接地

◇ a點(dian)接紅(hong)色高壓測試(shi)線(xian)芯(xin)(xin)線(xian)（紅(hong)夾(jia)子），b點(dian)接黑(hei)色低壓測試(shi)線(xian)芯(xin)(xin)線(xian)（紅(hong)夾(jia)子）

3）C13和C2的測量(liang)方法(fa)

儀器設有專門的(de)CVT自激法，不需外加(jia)任(ren)何其(qi)它設備，就可(ke)以完成(cheng)測(ce)(ce)試(shi)。按圖5-3標明的(de)方式接線，儀器選用CVT自激法測(ce)(ce)量(liang)(liang)方式，試(shi)驗電(dian)壓可(ke)設置為(wei)2kV，CVT自激法能(neng)一次測(ce)(ce)量(liang)(liang)C13和C2兩個(ge)電(dian)容的(de)介損和電(dian)容量(liang)(liang)。

5.2  220kV CVT的測(ce)量方法

1）C11的測量(liang)方(fang)法

按圖5-4標明(ming)的(de)方式(shi)接線(xian)，測量C11時注意：

◇ δ和X相連(lian)，與接地分開。

◇ a點接(jie)紅色高壓(ya)測(ce)試(shi)線(xian)(xian)的(de)芯(xin)線(xian)(xian)（紅夾子），C2末端(duan)δ和X 接(jie)Cx端(duan)芯(xin)線(xian)(xian)，這樣C12與C2就(jiu)被低壓(ya)屏蔽了(le)。

2）C12和C2的(de)測量方法

儀器(qi)設有專(zhuan)門(men)的CVT自激(ji)(ji)法，不需外加任(ren)何其它設備，就(jiu)可以完成(cheng)測(ce)試。按圖5-5標(biao)明的方(fang)式(shi)接線，儀器(qi)選用CVT自激(ji)(ji)法測(ce)量(liang)(liang)方(fang)式(shi)，試驗電壓可設置為2kV，CVT自激(ji)(ji)法能一次測(ce)量(liang)(liang)C12和(he)C2兩個電容的介(jie)損和(he)電容量(liang)(liang)。

5.3  110kV CVT的測量方法

儀(yi)器設有專門(men)的(de)CVT自激法(fa)，不需(xu)外加(jia)任何其它(ta)設備，就(jiu)可以完成測(ce)試(shi)。按圖5-6標明的(de)方(fang)式接線，儀(yi)器選用CVT自激法(fa)測(ce)量(liang)方(fang)式，試(shi)驗電壓可設置為2kV，CVT自激法(fa)能一(yi)次測(ce)量(liang)C13和C2兩(liang)個電容的(de)介(jie)損(sun)和電容量(liang)。

6、現場(chang)試驗注意事項

如果使(shi)用中出現測試數據明(ming)顯(xian)不合理，請(qing)從以下方面(mian)查(cha)找原因：

6.1搭鉤接(jie)觸**

現(xian)場測(ce)量使用搭鉤(gou)連接試品(pin)時，搭鉤(gou)務必(bi)與試品(pin)接觸(chu)良好，否則接觸(chu)點放電(dian)會引起數據嚴重波動！尤其是(shi)引流線氧(yang)化層太厚，或風吹線擺動，易造(zao)成接觸(chu)**。

6.2接(jie)地接(jie)觸**

接地**會引起儀器保(bao)護或數據(ju)嚴重(zhong)波(bo)動。應刮(gua)凈(jing)接地點(dian)上的油漆和銹蝕，務必保(bao)證0電阻接地！

6.3直(zhi)接測量CVT或末端屏蔽法(fa)測量電磁式PT

直接測量CVT的下節耦(ou)合電容會出現負介(jie)損，消除負介(jie)損可(ke)采取下述(shu)措施或改用CVT自激(ji)法測量：

1）測試時測量儀器的接地端直接接在(zai)被試品的金(jin)屬(shu)底(di)座上，并保(bao)證(zheng)接觸良好(hao)。

2）條件(jian)允(yun)許時盡(jin)可能將非(fei)被試繞組短接，以減小電(dian)感(gan)和鐵心損耗(hao)的影(ying)響。

3）被(bei)試品周圍不應有鐵(tie)架、腳(jiao)手架、木梯等物體，盡可能減小(xiao)分布阻抗的影響。

4）試(shi)驗引線(xian)與被試(shi)品的夾角應盡可能(neng)接近90°，以減小線(xian)與試(shi)品間(jian)的分布電容(rong)。

用末(mo)端(duan)屏蔽法測量電磁(ci)式PT時，由于受(shou)潮引起“T形網絡干擾”出現(xian)負介損(sun)，吹(chui)干下面三(san)裙瓷套和接線端(duan)子盤(pan)即可。也可改用常規法或(huo)末(mo)端(duan)加壓(ya)法測量。

6.4空(kong)氣濕度過(guo)大

空氣濕(shi)度大(da)使介(jie)損(sun)測量值異常增大(da)（或減小甚至為負）且不穩定，必要時可(ke)(ke)加(jia)屏蔽環。因人為加(jia)屏蔽環改(gai)變了試品電場(chang)分布，此法有爭議，可(ke)(ke)參照有關(guan)規程。

6.5發電(dian)機供電(dian)

發電機供電時可采用(yong)定頻50Hz模式工作。

6.6測(ce)試(shi)線

1）由于長期使用，易造成測試(shi)線(xian)隱性斷(duan)路，或芯(xin)線(xian)和(he)屏(ping)蔽短路，或插頭接觸(chu)**，用戶應經常維(wei)護(hu)測試(shi)線(xian)。

2）測試標準電(dian)容試品時，應使(shi)用全屏(ping)蔽(bi)插(cha)頭連接，以消除附加(jia)雜散電(dian)容影響，否則不能反映儀器精度(du)。

3）自(zi)激(ji)法測(ce)量CVT時(shi)，若使(shi)用(yong)(yong)(yong)“高(gao)(gao)壓連(lian)線(xian)拖地(di)”功能，請(qing)務必使(shi)用(yong)(yong)(yong)原(yuan)廠(chang)配置的專用(yong)(yong)(yong)高(gao)(gao)壓電(dian)(dian)纜（原(yuan)廠(chang)電(dian)(dian)纜在出廠(chang)時(shi)已進行(xing)校準），高(gao)(gao)壓連(lian)線(xian)的接(jie)(jie)地(di)屏蔽(bi)層(ceng)必須接(jie)(jie)地(di)，不可使(shi)用(yong)(yong)(yong)其它高(gao)(gao)壓電(dian)(dian)纜代(dai)替，否則會引(yin)起較大(da)的測(ce)量誤(wu)差。若拖地(di)模式(shi)下(xia)測(ce)量誤(wu)差較大(da)，則需將專用(yong)(yong)(yong)高(gao)(gao)壓電(dian)(dian)纜返廠(chang)重新進行(xing)校準。

4）自激法測(ce)(ce)量CVT時，非專用的高(gao)壓線應吊起懸(xuan)空，否則對地附加雜(za)散(san)電容(rong)和介損會(hui)引(yin)起測(ce)(ce)量誤差。使用專用電纜在(zai)非拖地模式下測(ce)(ce)量CVT，高(gao)壓電纜也(ye)應懸(xuan)空且(qie)電纜的接地屏蔽(bi)層不(bu)能接地，否則會(hui)引(yin)起較大的測(ce)(ce)量誤差。

6.7工作模(mo)式選擇

接(jie)好(hao)線(xian)后請(qing)選(xuan)擇正確的測量工作模(mo)式，不(bu)可選(xuan)錯。特別是(shi)干(gan)擾(rao)(rao)環境下應(ying)選(xuan)用變頻抗干(gan)擾(rao)(rao)模(mo)式。

6.8試驗方(fang)法(fa)影響

由于介損測量受(shou)試驗(yan)方(fang)法(fa)影響較大，應區分是試驗(yan)方(fang)法(fa)誤差還是儀器誤差。出現問題時可首(shou)先檢(jian)(jian)查接線，然后檢(jian)(jian)查是否(fou)為儀器故障。

6.9儀器故(gu)障

1）用萬用表測(ce)量一下測(ce)試(shi)線(xian)是(shi)否(fou)斷(duan)路(lu)，或芯線(xian)和屏蔽是(shi)否(fou)短(duan)路(lu)；

2）輸入電(dian)源220V過高(gao)或(huo)過低；接地是否良(liang)好；

3）用正、反接線測(ce)一(yi)下標準電容(rong)器或已知容(rong)量和介損的電容(rong)試品，如(ru)果結(jie)果正確，即可(ke)判斷儀器沒有問題；

4）拔下所有測試(shi)導線，進行空試(shi)升壓，若不(bu)能正常工作，儀器可能有故障。

7、儀(yi)器檢定(ding)

7.1檢(jian)定

用(yong)帶(dai)插頭的屏蔽電(dian)(dian)纜連接標準(zhun)損耗(hao)器(qi)。如(ru)果不能(neng)保證標準(zhun)損耗(hao)器(qi)的精度，應使用(yong)比對法檢(jian)定(ding)，建議用(yong)2801電(dian)(dian)橋(qiao)或其它(ta)精密電(dian)(dian)橋(qiao)作比對標準(zhun)。

1）介質(zhi)損(sun)耗因(yin)數標準器一般為串(chuan)聯(lian)(lian)模(mo)型(xing)(xing)，因(yin)此儀器的試品模(mo)型(xing)(xing)應選擇“RC串(chuan)聯(lian)(lian)(電(dian)流(liu)比(bi)較儀型(xing)(xing)電(dian)橋)”或(huo)“RC串(chuan)聯(lian)(lian)(西林型(xing)(xing)電(dian)橋)”。

RC串(chuan)聯(電流比較(jiao)(jiao)儀(yi)型電橋)：采用電流比較(jiao)(jiao)儀(yi)型電橋（如QS30電橋）校(xiao)準的(de)串(chuan)聯型試(shi)品(pin)(或介質損耗因數(shu)標(biao)準器(qi))，該(gai)項在開始測試(shi)界面顯示"RC串(chuan)聯"。

RC串聯(西林型電橋)： 采用西林型電橋（如2801、QS1和QS37等電橋）校準的串聯型試品(或介質損耗因數標準器) ，該項在開始測試界面顯示 "RC串聯"。

采用電(dian)流比較儀型電(dian)橋(qiao)和西林型電(dian)橋(qiao)校準的(de)串(chuan)聯型試品(或介質損(sun)耗因數標準器)的(de)區別只是電(dian)容量不同：

為西林型電橋標定值，C為電流比較儀型電橋標定值。

2）用介(jie)質損耗因數標準器(qi)(qi)（或(huo)標準電容器(qi)(qi)）檢(jian)定儀器(qi)(qi)反接線(xian)精度時，高(gao)壓(ya)電纜與(yu)試品連接必須使用全(quan)屏蔽插頭，否則(ze)暴露的芯線(xian)會引起測量誤差。

3）用(yong)介質損耗(hao)因數標準器（或標準電(dian)容(rong)器）檢定儀器正(zheng)接線精度時，低壓(ya)電(dian)纜(lan)與試(shi)品連接必須(xu)使用(yong)全屏(ping)蔽插頭(tou)，否則暴露的芯線會引起測量(liang)誤差。

嚴格按照上(shang)述要求(qiu)檢定方(fang)能(neng)真實反映本(ben)儀器的測量(liang)精度！

7.2抗干擾(rao)能力

設置一(yi)個回路向儀器(qi)注入定量的干擾(rao)電流。

注意：

1）應考慮到該回路可能成為試品的一部分。

2）儀(yi)(yi)器啟動后會使220V供電電路帶有(you)測量頻(pin)率分量，如(ru)果該頻(pin)率分量又通過干擾電流進(jin)入儀(yi)(yi)器，則無法檢驗儀(yi)(yi)器的抗干擾能(neng)力。

3）不建議用臨近高壓導體施(shi)加(jia)干(gan)擾(rao)，因(yin)為這(zhe)樣很容易(yi)產生(sheng)近距離**放電(dian)(dian)，這(zhe)種放電(dian)(dian)電(dian)(dian)阻是非線性的，容易(yi)產生(sheng)同頻干(gan)擾(rao)。