1、WBJS6000抗干擾高壓精密便片介質損耗測試儀特點及(ji)性(xing)能

介損(sun)絕(jue)緣(yuan)試(shi)驗可以(yi)(yi)有效地發現(xian)電(dian)器(qi)設備絕(jue)緣(yuan)的(de)整體受潮劣化變(bian)質以(yi)(yi)及局(ju)部(bu)缺(que)陷(xian)等(deng)，在(zai)電(dian)工制造、電(dian)氣(qi)設備安裝(zhuang)、交接和(he)預防性試(shi)驗中(zhong)都廣泛應用。

介質(zhi)損(sun)耗測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)儀(yi)用(yong)于現(xian)場介損(sun)測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)或試驗(yan)室(shi)精密介損(sun)測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)。儀(yi)器為一(yi)體(ti)化(hua)結(jie)構，內置(zhi)介損(sun)電(dian)(dian)(dian)橋、變(bian)頻電(dian)(dian)(dian)源、試驗(yan)變(bian)壓器和(he)標(biao)準(zhun)電(dian)(dian)(dian)容器等。儀(yi)器采用(yong)變(bian)頻抗(kang)干(gan)(gan)擾和(he)傅立葉變(bian)換數字濾波技(ji)術(shu)，全自(zi)動智能化(hua)測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)，強(qiang)干(gan)(gan)擾下測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)數據非常(chang)穩定。測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)結(jie)果由(you)大屏幕液晶顯(xian)示，儀(yi)器自(zi)帶微(wei)型打印(yin)機可(ke)打印(yin)輸(shu)出測(ce)(ce)(ce)試結(jie)果。

1.1主要技術指標(biao)

額定工作(zuo)條件：環境(jing)溫度  -10℃～50℃

相對濕度  <85%阿(a)

輸入(ru)電(dian)(dian)源：    180V～270VAC，50Hz/60Hz±1%，市電(dian)(dian)或發電(dian)(dian)機供電(dian)(dian)

準確度：&nbsp;     Cx: ±（讀數(shu)×1%+1pF）

tgδ: ±（讀數(shu)×1%+0.00040）

抗干擾(rao)指標(biao)：   變頻抗干擾(rao)，在200%干擾(rao)下仍能達到(dao)上述準(zhun)確(que)度(du)

電容量范圍：   內施(shi)高壓(ya)：3pF～60000pF/10kV    60pF～1μF/0.5kV

外施高壓：3pF～1.5μF/10kV      60pF～30μF/0.5kV

分(fen)辨率：       *高0.001pF，4位有效數字

tgδ范圍：   &nbsp; 不限，分辨率0.001%，電容(rong)、電感、電阻三種試品自動(dong)識別。

試驗電流范圍(wei)： 10μA～5A

內施高壓： &nbsp;  設定(ding)電壓范圍：0.5～10kV

*大輸出(chu)電(dian)流：200mA

升降(jiang)壓方(fang)式：連續平滑調節

電壓(ya)精度：±(1.0%×讀數+10V)

電壓分辨率：0.1V

試(shi)驗(yan)頻(pin)率：45、50、55、60、65Hz 單頻(pin)

45/55Hz、55/65Hz、47.5/52.5Hz 自動雙變頻

頻率精(jing)度：±0.01Hz

外施高壓：    正、反接線時*大(da)試(shi)驗電流5A

CVT自激法低壓(ya)輸(shu)(shu)出(chu)：輸(shu)(shu)出(chu)電壓(ya)3～50V，輸(shu)(shu)出(chu)電流(liu)3～30A

高(gao)電壓介損：  支(zhi)持變頻和諧(xie)振(zhen)電源高(gao)電壓介損

實(shi)時時鐘： &nbsp;  實(shi)時顯示時間和日(ri)期

內部存儲：    儀(yi)器內部可存儲100組測量數據

U盤(pan)：      &nbsp; 支持U盤(pan)存儲(chu)

打(da)印機(ji)：   &nbsp;  微(wei)型熱敏打(da)印機(ji)

計(ji)算(suan)機接口(kou)：  標準(zhun)RS232接口(kou)（選配）

尺(chi)寸重(zhong)量：    K型：外形尺(chi)寸368mm×288mm×280mm；主機(ji)重(zhong)量22kg。

其他款型：外形尺(chi)寸(cun)430mm×314mm×334mm；主機重量30kg。

注：上述為E型(xing)主(zhu)要技術指(zhi)標，其(qi)它型(xing)號技術指(zhi)標詳見本章節“1.3.6各型(xing)號測試功能說明”。

1.2 WBJS6000抗干擾高壓精密便片介質損耗測試儀系列型號功能列表

1.3 WBJS6000抗干擾高壓精密便片介質損耗測試儀主要功能特點

1.3.1 變頻抗干擾

采用變頻抗干(gan)(gan)(gan)擾(rao)技術，在(zai)200%干(gan)(gan)(gan)擾(rao)下仍能(neng)準確測量(liang)，測試(shi)數據穩定(ding)，適合在(zai)現場(chang)做抗干(gan)(gan)(gan)擾(rao)介損試(shi)驗。

1.3.2高精度測量(liang)

采用數(shu)字(zi)波(bo)形分析和電(dian)橋(qiao)自校準等技術(shu)，配合高精(jing)度三端標準電(dian)容器(qi)，實現(xian)高精(jing)度介損測量(liang)。儀(yi)器(qi)所有(you)量(liang)程(cheng)輸入電(dian)阻低于(yu)2Ω，消(xiao)除了測量(liang)電(dian)纜附加電(dian)容的影響(xiang)。

1.3.3**措(cuo)施

高(gao)(gao)壓(ya)保護(hu)：試品短路、擊穿或高(gao)(gao)壓(ya)電流波動，能以(yi)短路方式(shi)高(gao)(gao)速切斷輸出。

供電保護(hu)(hu)：誤接380V、電源波動或(huo)突(tu)然斷電，啟(qi)動保護(hu)(hu)，不(bu)會引(yin)起(qi)過電壓(ya)。

接地(di)(di)保(bao)護：具有接地(di)(di)檢(jian)測功能，未(wei)接地(di)(di)時不能升壓(ya)，若測量過程中儀器(qi)接地(di)(di)**則(ze)啟動接地(di)(di)保(bao)護。

CVT 保護：高壓(ya)側電壓(ya)和(he)電流、低(di)壓(ya)側電壓(ya)和(he)電流四個保護限(xian)制，不會損壞設備(bei)；誤選菜單(dan)不會輸出(chu)激磁(ci)電壓(ya)。CVT測量時(shi)無10kV高壓(ya)輸出(chu)。

防誤操作：兩級電源(yuan)開關；電壓、電流實時(shi)監視(shi)；多次按鍵(jian)確認；接線端子高/低壓分明(ming)；慢速升壓，可迅速降壓，聲光報警。

防(fang)“容(rong)升”：測量大容(rong)量試(shi)品時會出(chu)現電壓(ya)抬高的(de)“容(rong)升”效應，儀器能自動跟蹤輸(shu)出(chu)電壓(ya)，保持試(shi)驗(yan)電壓(ya)恒定。

高(gao)(gao)壓電(dian)纜：為耐(nai)高(gao)(gao)壓絕緣導線，可拖(tuo)地(di)使用。

抗震性能：儀器采用獨(du)特抗震設計，可(ke)耐受強(qiang)烈長途運輸(shu)震動、顛簸而不會損(sun)壞(huai)。

1.3.4打(da)印存儲(chu)

儀器自帶微(wei)型打(da)印(yin)機，可以將測量(liang)結果打(da)印(yin)輸出(chu)，并將測量(liang)結果存貯到儀器內（可存儲(chu)100組測量(liang)數據）或U盤，以便日(ri)后(hou)查(cha)閱。

1.3.5實時時鐘

儀器內帶實(shi)(shi)時(shi)時(shi)鐘，實(shi)(shi)時(shi)顯示，并能記錄(lu)測(ce)量的日期和(he)時(shi)間。

1.3.6各型號測試功能(neng)說(shuo)明(ming)

B型(xing)(xing)：輕便型(xing)(xing)，高(gao)壓*大輸出(chu)電流(liu)為140mA，具有正(zheng)接線、反接線功能，可選擇內(nei)/外(wai)標準電容、內(nei)/外(wai)高(gao)壓多(duo)種(zhong)工作模式(shi)，一(yi)體化結構，可做(zuo)各種(zhong)常規介損試驗。

D型：實用型，高(gao)壓*大(da)輸(shu)出電(dian)流為(wei)200mA，具有正接(jie)線(xian)(xian)(xian)(xian)、反(fan)接(jie)線(xian)(xian)(xian)(xian)、反(fan)接(jie)線(xian)(xian)(xian)(xian)低壓屏蔽(bi)、CVT自(zi)激法，反(fan)接(jie)線(xian)(xian)(xian)(xian)低壓屏蔽(bi)功(gong)能能在(zai)220kV CVT母線(xian)(xian)(xian)(xian)接(jie)地情況下，對C11進(jin)行不拆線(xian)(xian)(xian)(xian)10kV反(fan)接(jie)線(xian)(xian)(xian)(xian)介(jie)損測(ce)量(liang)，并(bing)可(ke)一次接(jie)線(xian)(xian)(xian)(xian)同時(shi)測(ce)出兩個(ge)電(dian)容(rong)的電(dian)容(rong)量(liang)和介(jie)損值(zhi)。CVT自(zi)激法測(ce)量(liang)時(shi)，C1/C2可(ke)一次接(jie)線(xian)(xian)(xian)(xian)同時(shi)測(ce)出，無須(xu)換線(xian)(xian)(xian)(xian)和外接(jie)任何配件，但(dan)高(gao)壓測(ce)量(liang)線(xian)(xian)(xian)(xian)需懸空吊起。

E型(xing)：標準(zhun)型(xing)，在D型(xing)基礎上增加了CVT變比測(ce)(ce)試功能，同時(shi)升級了CVT自激(ji)法(fa)測(ce)(ce)試，現場CVT自激(ji)法(fa)測(ce)(ce)試時(shi)高(gao)壓(ya)測(ce)(ce)量線可(ke)拖地(di)使用，無(wu)需(xu)吊起。

F型：增(zeng)強型，功能(neng)同E型，輸出*高(gao)電(dian)壓從10kV增(zeng)加至12kV。

K型(xing)：標準型(xing)，在E型(xing)基礎上減(jian)小體積重量，設備(bei)更(geng)精巧。

S型(xing)：四通道型(xing)，功能同E型(xing)，增(zeng)加了3個正接通道。

J型(xing)：高(gao)精度(du)型(xing)，功能同(tong)E型(xing)，測量準確度(du)為0.5%。

所有型號儀(yi)器均具備下述(shu)特點(dian)：

（1）支持變頻和諧(xie)振電源高電壓介損。

（2）內置串聯和(he)并(bing)聯兩種介損測量模型，方便儀(yi)器檢定。

（3）配置熱(re)敏打(da)印機，使打(da)印更加(jia)快捷(jie)、無(wu)噪(zao)音和清晰。

（4）320×240點陣(zhen)大屏(ping)液晶顯示，菜單操作(zuo)，測試數(shu)據豐富(fu)，自動分辨電容、電感、電阻型試品。

（5）具有外(wai)接標準電容器(qi)接口，可外(wai)接油(you)杯(bei)做精(jing)(jing)密絕緣油(you)介(jie)損試驗(yan)(yan)，可外(wai)接固體(ti)材料測量(liang)電極做精(jing)(jing)密絕緣材料介(jie)損試驗(yan)(yan)，也可外(wai)接高壓(ya)標準電容器(qi)做高電壓(ya)介(jie)損試驗(yan)(yan)。

（6）帶(dai)日歷時鐘(zhong)，可(ke)存儲100組(zu)測(ce)量數據。

（7）計算(suan)機(ji)接口（選(xuan)配）。

2、WBJS6000抗干擾高壓精密便片介質損耗測試儀面板說明

高(gao)壓(ya)(ya)輸出測量接(jie)地(di)(di)：若(ruo)出廠配(pei)置的(de)(de)高(gao)壓(ya)(ya)測試(shi)線(xian)(xian)有接(jie)地(di)(di)屏蔽(bi)層，則需將高(gao)壓(ya)(ya)測量線(xian)(xian)的(de)(de)接(jie)地(di)(di)屏蔽(bi)層連(lian)接(jie)至此處(chu)，沒有則留空。CVT自激法測量的(de)(de)高(gao)壓(ya)(ya)連(lian)線(xian)(xian)接(jie)地(di)(di)屏蔽(bi)層在拖(tuo)(tuo)地(di)(di)模式下(xia)必須(xu)接(jie)地(di)(di)，非拖(tuo)(tuo)地(di)(di)模式下(xia)接(jie)地(di)(di)屏蔽(bi)層應懸空不能接(jie)地(di)(di)且高(gao)壓(ya)(ya)測量線(xian)(xian)也應懸空吊起不能拖(tuo)(tuo)地(di)(di)。

高壓輸出插(cha)座(zuo)（0.5～10kV，*大(da)200mA）

安(an)裝位置：如圖2-1所示，安(an)裝在(zai)箱(xiang)體前側面(mian)。

功    能：內高(gao)壓輸出(chu)；檢測反(fan)接線試品電流；內部標(biao)準電容器(qi)的高(gao)壓端。

接(jie)線(xian)方法：插(cha)座1腳接(jie)高(gao)(gao)壓(ya)(ya)線(xian)芯線(xian)（紅夾(jia)子），2、3腳接(jie)高(gao)(gao)壓(ya)(ya)線(xian)屏(ping)(ping)(ping)蔽(bi)（黑夾(jia)子）。正接(jie)線(xian)時，高(gao)(gao)壓(ya)(ya)線(xian)芯線(xian)（紅夾(jia)子）和屏(ping)(ping)(ping)蔽(bi)（黑夾(jia)子）都(dou)可(ke)以(yi)用作加壓(ya)(ya)線(xian)；反接(jie)線(xian)時只能用芯線(xian)對試品(pin)(pin)高(gao)(gao)壓(ya)(ya)端(duan)加壓(ya)(ya)。如果(guo)試品(pin)(pin)高(gao)(gao)壓(ya)(ya)端(duan)有屏(ping)(ping)(ping)蔽(bi)極（如高(gao)(gao)壓(ya)(ya)端(duan)的(de)屏(ping)(ping)(ping)蔽(bi)環）可(ke)接(jie)高(gao)(gao)壓(ya)(ya)屏(ping)(ping)(ping)蔽(bi)，無屏(ping)(ping)(ping)蔽(bi)時高(gao)(gao)壓(ya)(ya)屏(ping)(ping)(ping)蔽(bi)懸空。若配(pei)置的(de)高(gao)(gao)壓(ya)(ya)測試線(xian)有接(jie)地(di)屏(ping)(ping)(ping)蔽(bi)層(ceng)，則需將高(gao)(gao)壓(ya)(ya)測量線(xian)的(de)接(jie)地(di)屏(ping)(ping)(ping)蔽(bi)層(ceng)連(lian)接(jie)至圖2-1中的(de)“1”處。

注意事項：

（1）若儀器CVT自(zi)激(ji)法高(gao)壓(ya)(ya)連線具備“高(gao)壓(ya)(ya)拖(tuo)地”功能，使用拖(tuo)地模式測量時務(wu)必(bi)使用原廠配置的(de)專用高(gao)壓(ya)(ya)電(dian)纜（原廠電(dian)纜在出廠時已(yi)進行校(xiao)準），不可使用其它高(gao)壓(ya)(ya)電(dian)纜代(dai)替，否則會引起較(jiao)大的(de)測量誤差。CVT自(zi)激(ji)法不使用拖(tuo)地模式時，高(gao)壓(ya)(ya)電(dian)纜必(bi)須懸空，接(jie)地屏蔽層也(ye)不能接(jie)地！

（2）高(gao)壓(ya)(ya)插座和高(gao)壓(ya)(ya)線有(you)危險電壓(ya)(ya)，**禁止碰觸高(gao)壓(ya)(ya)插座、電纜、夾子和試(shi)品帶電部位！確認斷電后接線，測量(liang)時(shi)務必遠離(li)！

（3）用標(biao)準介損器（或(huo)標(biao)準電容(rong)器）檢(jian)定反接線精度(du)時，應使用全屏(ping)蔽插頭連(lian)接試品(pin)，否則暴露的芯線會引起測量(liang)誤差。

（4）應保(bao)證高壓(ya)線與試(shi)品高壓(ya)端(duan)零(ling)電阻連接(jie)，否則可能引(yin)起(qi)誤(wu)差或數據波(bo)動，也可能引(yin)起(qi)儀器保(bao)護。

（5）強干擾(rao)下拆除接(jie)(jie)線(xian)時，應在保持電纜接(jie)(jie)地狀態(tai)下斷開連接(jie)(jie)，以防感應電擊。

CVT自激(ji)法低壓輸出插座(zuo)（3～50V，3～30A）

功    能：由該(gai)插座(zuo)和圖2-1中的(de)接(jie)(jie)地接(jie)(jie)線柱(zhu)“4”輸出CVT測量的(de)低壓變頻激勵電源。

注意(yi)事項(xiang)：

（1）因低壓輸出電流大，應采用儀器專(zhuan)用低阻(zu)線連接(jie)(jie)CVT二(er)次繞組，接(jie)(jie)觸**會影響測量。

（2）視CVT容量從菜單選(xuan)擇(ze)合適的電壓(ya)電流保護限(xian)。

（3）選(xuan)擇正/反接線時，此(ci)輸出封(feng)閉。

測(ce)(ce)量接(jie)地(di)：它(ta)同外殼(ke)和電源插座地(di)線連到一(yi)(yi)起，與圖2-1的“3”一(yi)(yi)起輸(shu)出CVT測(ce)(ce)量的低壓變頻激勵電源。盡管儀器有(you)接(jie)地(di)保護，但無論何種(zhong)測(ce)(ce)量，儀器都應可靠獨立接(jie)地(di)以(yi)保障使用者的**及測(ce)(ce)量結果的準確。

打印(yin)機：微(wei)型熱敏打印(yin)機，用于(yu)打印(yin)測(ce)試數據。

USB：USB通信(xin)用。

RS232：與(yu)計算機(ji)聯機(ji)使用。

U盤：用(yong)于外接U盤保存數據。

試品輸(shu)入Cx插座（10μA～5A）

功    能：正(zheng)接線時輸入試品電(dian)流。

接(jie)線方法：插(cha)座1腳接(jie)測量線芯線（紅夾(jia)子(zi)），2、3腳接(jie)測量線屏(ping)(ping)蔽(bi)（黑夾(jia)子(zi)）。正(zheng)接(jie)線時芯線（紅夾(jia)子(zi)）接(jie)試品低(di)壓(ya)(ya)信(xin)號端(duan)(duan)，如果試品低(di)壓(ya)(ya)端(duan)(duan)有屏(ping)(ping)蔽(bi)極(ji)（如低(di)壓(ya)(ya)端(duan)(duan)的屏(ping)(ping)蔽(bi)環）可接(jie)屏(ping)(ping)蔽(bi)，試品無屏(ping)(ping)蔽(bi)時屏(ping)(ping)蔽(bi)懸空。

注意事項：

（1）測量中嚴禁(jin)拔下插頭，防止(zhi)試品電流(liu)經人體入(ru)地！

（2）用(yong)(yong)標(biao)準介損器(qi)(qi)（或標(biao)準電容器(qi)(qi)）檢測(ce)儀器(qi)(qi)正接(jie)線精度時(shi)，應使用(yong)(yong)全屏蔽插頭連接(jie)試品，否(fou)則暴露的芯線會引起測(ce)量誤(wu)差。

（3）應保證引(yin)(yin)線與(yu)試品低壓端0電阻連接，否則(ze)可(ke)能引(yin)(yin)起誤差或數據波動，也可(ke)能引(yin)(yin)起儀器保護。

（4）強干擾下拆除接線(xian)時，應(ying)在保持電(dian)纜接地狀態下斷開(kai)連接，以防感應(ying)電(dian)擊。

標(biao)準(zhun)電(dian)容輸(shu)入Cn插座(zuo)（10μA～5A）

功    能：輸入(ru)外(wai)接(jie)標準電容(rong)器(qi)電流。

接線方法：與Cx插座類似，其(qi)區別在于：

（1）使用(yong)外部標(biao)準電容器時(shi)，應使用(yong)全屏蔽(bi)插頭(tou)連接。此方式常用(yong)于(yu)外接高(gao)電壓等級標(biao)準電容器，實現高(gao)電壓介損測量。

（2）菜單選擇“外標準電容”方式(shi)。

（3）將外接(jie)標準電容器的C和(he)tgδ置(zhi)入儀器，實現Cx電容介損的**值測量(liang)。

從理(li)論上講，任(ren)何容(rong)(rong)量和介損的電(dian)(dian)(dian)容(rong)(rong)器(qi)，將參數置入儀器(qi)都(dou)可做標準(zhun)電(dian)(dian)(dian)容(rong)(rong)器(qi)。不同的是標準(zhun)電(dian)(dian)(dian)容(rong)(rong)器(qi)能提(ti)供更(geng)好的長(chang)期穩定性(xing)和精度(du)。

（4）不管正接(jie)線(xian)(xian)還是反接(jie)線(xian)(xian)測量，標準電容器接(jie)線(xian)(xian)方式始終為正接(jie)線(xian)(xian)。

總電源開關：開關機用(yong)，可(ke)在發現(xian)異常(chang)時(shi)隨時(shi)關閉。

供電電源插座：接220V市電，插座內置(zhi)保(bao)險(xian)(xian)絲(si)座，保(bao)險(xian)(xian)絲(si)規格為10A / 250V，若損(sun)壞應(ying)使(shi)用相同規格的(de)保(bao)險(xian)(xian)絲(si)替(ti)換(huan)(huan)。若換(huan)(huan)用備用保(bao)險(xian)(xian)絲(si)后仍燒斷(duan)，可能儀器(qi)有故障，可通知廠家(jia)處理。

高(gao)(gao)壓(ya)允許開(kai)(kai)關(guan)：內置高(gao)(gao)壓(ya)系(xi)統或CVT自激法(fa)低壓(ya)輸(shu)出(chu)系(xi)統的總電源(yuan)開(kai)(kai)關(guan)。此(ci)開(kai)(kai)關(guan)受總電源(yuan)開(kai)(kai)關(guan)控制。

按鍵(jian)：按下“↑”、“↓”、“←”、“→”鍵(jian)可移(yi)動光標和修(xiu)改光標處內(nei)容(rong)，“確(que)認”鍵(jian)用于確(que)認或結束(shu)參數修(xiu)改，在測(ce)試界面(mian)長按該鍵(jian)可開(kai)始測(ce)量(liang)，測(ce)量(liang)過程中(zhong)，按“確(que)認”鍵(jian)可終(zhong)止測(ce)量(liang)。

液晶顯示屏：320×240點陣灰白背(bei)光(guang)液晶顯示屏，顯示菜單、測量結果或出錯信(xin)息。應避免(mian)長時間陽光(guang)爆曬(shai)，避免(mian)重壓。

背(bei)光(guang)調節：液(ye)晶顯(xian)示屏顯(xian)示較暗或不清晰(xi)時(shi)可調節該電位器至合適位置(zhi)使(shi)顯(xian)示明亮清晰(xi)。

指示燈：配合(he)儀(yi)器(qi)內部蜂鳴器(qi)進行測試、報警等聲(sheng)光(guang)警示。

3、WBJS6000抗干擾高壓精密便片介質損耗測試儀使用說明

3.1初始菜(cai)單界面

打(da)開(kai)總(zong)電源開(kai)關后，系(xi)統進(jin)入初始菜(cai)單(dan)界面。

測試(shi)模式：選(xuan)擇(ze)測試(shi)模式和(he)設置各項測試(shi)參數，

歷(li)史(shi)(shi)記(ji)錄：查看保存的歷(li)史(shi)(shi)數據

系(xi)統設置(zhi)：出廠參(can)數設置(zhi)及系(xi)統時間(jian)校準

幫    助：可查閱軟件版本等(deng)信息(xi)

取消(xiao)或使用CVT自激(ji)法“高(gao)壓(ya)連線(xian)拖地”功能(neng)：

開機右下角顯示“”表示該儀器在CVT自激法測試時高壓連線具備拖地功能。

光標停留在“測試模式”處長按“→”鍵（聽到蜂鳴器聲音松手）可取消或使用拖地模式（右下角顯示“”表示當前為拖地模式），在拖地模式下必須將高壓連線的接地屏蔽層插頭接至圖2-1中的“1”（高壓測量接地）處，否則會引起測量誤差；取消拖地模式后高壓連線必須懸空吊起，同時高壓連線的接地屏蔽層插頭也應懸空，否則會引起測量誤差。

使用或取(qu)消發“發電(dian)機供電(dian)”模式：

光標停留在“測試模式”處長按“←”鍵（聽到蜂鳴器聲音松手）可使用或取消發電機供電模式（左下角顯示“”表示當前為發電機供電模式），儀器開機默認為市電供電模式，發電機模式適合使用發電機或移動電源供電環境，發電機模式下儀器將不進行接地檢測。

3.2測試模式

3.2.1 開始測(ce)試菜單(dan)界(jie)面(mian)

在初始菜(cai)(cai)單(dan)界(jie)面將(jiang)光標移動到“測試模式(shi)”按確定(ding)按鈕(niu)進入開(kai)始測試菜(cai)(cai)單(dan)界(jie)面，如圖(tu)3-2所示。

界面左側(ce)為參(can)數(shu)設(she)置選項(xiang)，移(yi)動光標到(dao)相關(guan)參(can)數(shu)選項(xiang)按確(que)定鍵(jian)可(ke)(ke)設(she)置相關(guan)試(shi)驗(yan)參(can)數(shu)，右側(ce)顯示內容(rong)為已設(she)置好試(shi)驗(yan)參(can)數(shu)，光標停留在(zai)“開始測試(shi)”欄長(chang)按“確(que)認” 鍵(jian)可(ke)(ke)開始測試(shi)。

界面右側“測(ce)試地(di)點”下(xia)一行為信息(xi)提示(shi)行，若內(nei)外高壓(ya)(ya)選擇有誤則提示(shi)“當前(qian)(qian)為內(nei)高壓(ya)(ya)模式，請(qing)(qing)開啟(qi)(qi)內(nei)高壓(ya)(ya)”或(huo)“當前(qian)(qian)為外高壓(ya)(ya)模式，請(qing)(qing)關閉內(nei)高壓(ya)(ya)”；若儀器沒有接(jie)地(di)則會提示(shi)“請(qing)(qing)檢查(cha)接(jie)地(di)”，當有錯誤提示(shi)時儀器無(wu)法(fa)正常啟(qi)(qi)動(dong)，只(zhi)有提示(shi)“確(que)認(ren)無(wu)誤后長(chang)按確(que)認(ren)鍵開始測(ce)試”時儀器方(fang)可啟(qi)(qi)動(dong)測(ce)試。

3.2.2 試品模(mo)型選擇菜單界面(mian)

將光(guang)標移(yi)(yi)動到“試(shi)品模(mo)型”功能選(xuan)項，界面如(ru)圖3-3所示，按(an)(an)“確認”按(an)(an)鈕后(hou)移(yi)(yi)動光(guang)標可選(xuan)擇(ze)合適的試(shi)品模(mo)型（光(guang)標移(yi)(yi)動到相(xiang)應功能后(hou)按(an)(an)確認鍵）。實驗(yan)(yan)室一(yi)般使用串(chuan)聯型介損因數標準(zhun)器(qi)檢定，校驗(yan)(yan)時應使用RC串(chuan)聯模(mo)型。

RC串聯(電(dian)流(liu)比較(jiao)儀型電(dian)橋(qiao))：采(cai)用電(dian)流(liu)比較(jiao)儀型電(dian)橋(qiao)（如QS30電(dian)橋(qiao)）校準的串聯型試品(或(huo)介(jie)質損耗因數(shu)標準器(qi))，該項在開始測試界面顯示"RC串聯"。

RC串聯(西林型電橋)： 采用西林型電橋（如2801、QS1和QS37等電橋）校準的串聯型試品(或介質損耗因數標準器) ，該項在開始測試界面顯示 "RC串聯"。

RC并(bing)(bing)聯(現場(chang)使(shi)用)：一般實際(ji)的電容(rong)試品可等效(xiao)為RC并(bing)(bing)聯模型，建議(yi)現場(chang)試驗時使(shi)用。

采用電流比較儀型電橋和西林型電橋校準的串聯型試品(或介質損耗因數標準器)的區別只是電容量不同：為西林型電橋標定值，C為電流比較儀型電橋標定值。

3.2.3 接線方式選擇菜(cai)單界面

將光(guang)(guang)標移動到“接線(xian)方式(shi)”功能選項，界面(mian)如(ru)圖3-4所示，按(an)“確認(ren)”按(an)鈕(niu)后移動光(guang)(guang)標可選擇合(he)適的接線(xian)方式(shi)。

接(jie)線(xian)方式(shi)：共5種接(jie)線(xian)方式(shi)（功能因型(xing)號(hao)有差別，具(ju)體詳見型(xing)號(hao)功能說明部分），分別為：正(zheng)接(jie)線(xian)、反(fan)接(jie)線(xian)、反(fan)接(jie)線(xian)低壓屏蔽、CVT自(zi)激(ji)法(fa)和變比。選擇(ze)CVT自(zi)激(ji)法(fa)測量時需同時將相關參數一并設置好(hao)。

CVT自(zi)激(ji)法測量必須打開內高壓允許開關，由機(ji)內提供激(ji)勵(li)電壓，由“低壓輸出”和(he)“測量接地”輸出。為**起見，CVT自(zi)激(ji)法還需要(yao)設置以(yi)下幾(ji)個保護限(xian)：

將光(guang)標(biao)移動到xxkV / xxmA / xxV / xxA，按↑↓選(xuan)擇合(he)適值，選(xuan)擇好(hao)后按確(que)認鍵退出。

xxkV：可(ke)選0.5/0.6/0.8/1/1.5/2/2.5/3/3.5/4kV，為高壓上限，只(zhi)能使用4kV以下(xia)電壓。

xxmA：可選10/15/20/25/30/35/40/45/50/60/70/80/100/120/140/200mA，表示待(dai)測試品的(de)高壓電流上限。

xxV：可選(xuan)3/4/5/6/7/8/9/10/12/15/20/25/30/35/40/50V，表示(shi)低壓(ya)激勵電壓(ya)上限(xian)。

xxA：可選3/4/5/6/7/8/9/10/11/12/13/14/15/16/20/30A，表(biao)示低壓激勵電流上限(xian)。

注意：

（1）測量時4個保護限(xian)同時起作用，因此試驗(yan)高壓可能(neng)達不到(dao)(dao)設定值(zhi)。如(ru)果高壓達不到(dao)(dao)保護限(xian)，可適當調整受到(dao)(dao)限(xian)制的(de)保護限(xian)。

（2）通常測量C1時(shi)低(di)壓(ya)(ya)激勵(li)(li)電(dian)(dian)壓(ya)(ya)可(ke)(ke)(ke)達(da)20V，測量C2時(shi)低(di)壓(ya)(ya)激勵(li)(li)電(dian)(dian)流可(ke)(ke)(ke)達(da)15A。一般可(ke)(ke)(ke)設(she)高(gao)壓(ya)(ya)電(dian)(dian)壓(ya)(ya)2～3kV，較少采用高(gao)壓(ya)(ya)電(dian)(dian)流限(xian)制，可(ke)(ke)(ke)設(she)為*大(da)200mA。

變比(bi)測(ce)量時應選擇合適(shi)的高壓(ya)(ya)輸出使二次(ci)側電壓(ya)(ya)小(xiao)于120V，當二次(ci)側電壓(ya)(ya)≥120V時儀器會發出聲光報警并(bing)提示“接(jie)線錯(cuo)誤”。

3.2.4 標(biao)準電容選擇(ze)菜單界面

將(jiang)光標(biao)移動到“標(biao)準(zhun)電(dian)容(rong)”功能選(xuan)項，界面如圖3-5所示，按“確認”按鈕后移動光標(biao)可選(xuan)擇合(he)適的(de)標(biao)準(zhun)電(dian)容(rong)。選(xuan)擇外標(biao)準(zhun)電(dian)容(rong)時需同時將(jiang)外標(biao)準(zhun)的(de)電(dian)容(rong)量(liang)和介損一并(bing)設(she)置(zhi)好。

選(xuan)(xuan)擇(ze)外(wai)標準電容(rong)時將光(guang)標移動到Cn=xxxxx e x pF 和tgδ=xx.xxx%按↑↓選(xuan)(xuan)擇(ze)合適值(zhi)，選(xuan)(xuan)擇(ze)好(hao)后按確認鍵退出。

Cn采用(yong)科學計數(shu)法，如5.000e1=5.000×101=50.00，1.000e2=1.000×102=100.0等，范圍(wei)0.000e0～9.999e5 (即0～999900pF)。tgδ設置范圍(wei)0～±9.999%。

內(nei)標準(zhun)電容通常可用于(yu)正、反接線測量和CVT自激法測量，高電壓介損選用外標準(zhun)方式，需要將外接電容參數(shu)置入(ru)儀器(qi)。

3.2.5 測試頻率選(xuan)擇菜(cai)單界面

測試頻(pin)率(lv)(lv)可(ke)選擇定頻(pin)或異頻(pin)，頻(pin)率(lv)(lv)選擇菜單界面如(ru)圖3-6所(suo)示，頻(pin)率(lv)(lv)選擇范(fan)圍如(ru)下：

定(ding)頻：

“50Hz”：為工(gong)頻測(ce)量(liang)(liang)，此設(she)置不能抗干擾(rao)，在試驗(yan)室內測(ce)量(liang)(liang)或校驗(yan)時(shi)選用。

“45/55/60/65Hz”：為單頻(pin)率(lv)測量，研究不同(tong)頻(pin)率(lv)下介損的變化時選(xuan)用。

頻率(lv)自適(shi)應(ying)：外(wai)高(gao)壓測(ce)量模(mo)式下有效(xiao)（不能更改），系統自動識(shi)別外(wai)施高(gao)壓頻率(lv)，測(ce)試(shi)頻率(lv)無需在測(ce)試(shi)前(qian)設置。

異頻(pin)：

“45/55Hz”：為自(zi)動(dong)變頻(pin)，適合50Hz電網工頻(pin)干擾下測量。

“55/65Hz”：為自動變(bian)頻，適合(he)60Hz電網工頻干擾下測量。

“47.5/52.5Hz”：為自(zi)動變頻，適合50Hz電網工(gong)頻干擾下(xia)測量。

3.2.6 測(ce)試電(dian)壓(ya)選擇菜單界面

內(nei)高壓可(ke)選擇“0.5 /0.6 /0.8 /1 /1.5 /2 /2.5 /3 /3.5 /4 /4.5 /5 /5.5 /6 /6.5 /7 /7.5 /8 /8.5 /9 /9.5 /10.0kV”（F型*高輸出電(dian)(dian)壓為(wei)12kV），應根據高壓試驗規(gui)程選擇合適的試驗電(dian)(dian)壓。

注：若選(xuan)擇(ze)“CVT自激法(fa)”測試(shi)功(gong)能，則該(gai)選(xuan)項無效。CVT自激法(fa)的相關電壓參數需(xu)在該(gai)功(gong)能選(xuan)項下進行設置。

3.2.7 測試備忘設置(zhi)菜單界面

設備(bei)編號：可設置(zhi)8位字母或數(shu)字編號，將光標移動(dong)到”設備(bei)編號”處，按確認健進入設備(bei)編號設置(zhi)，通(tong)過(guo)“←”、“→”健移動(dong)光標，通(tong)過(guo)↑↓選擇合(he)適值(zhi)，設置(zhi)好(hao)后按確認鍵(jian)退出(chu)。

測試人(ren)員(yuan)(yuan)：可設(she)置(zhi)(zhi)8位字(zi)母或(huo)數字(zi)編(bian)號，將光標(biao)移動到” 測試人(ren)員(yuan)(yuan)”處(chu)，按(an)確認(ren)健(jian)進(jin)入測試人(ren)員(yuan)(yuan)設(she)置(zhi)(zhi)，通過“←”、“→”健(jian)移動光標(biao)，通過↑↓選(xuan)擇合適值，設(she)置(zhi)(zhi)好后(hou)按(an)確認(ren)鍵退出。

測試地(di)點：可設(she)置8位(wei)字母或數字編(bian)號(hao)，將光標移動到” 測試地(di)點”處，按確認健(jian)進入測試地(di)點設(she)置，通過“←”、“→”健(jian)移動光標，通過↑↓選擇合適(shi)值，設(she)置好后按確認鍵(jian)退出。

3.2.8 測試結果界面

3.2.8.1反接法(fa)測(ce)試結(jie)果界面(mian)

測試完成顯示結果(guo)后，可(ke)移(yi)動光標選擇保存(cun)或打印數據。

儀器自動(dong)分(fen)辨電(dian)(dian)容(rong)(rong)、電(dian)(dian)感(gan)(gan)、電(dian)(dian)阻型試(shi)(shi)(shi)品：電(dian)(dian)容(rong)(rong)型試(shi)(shi)(shi)品顯(xian)示(shi)Cx和tgδ；電(dian)(dian)感(gan)(gan)型試(shi)(shi)(shi)品顯(xian)示(shi)Lx和Q；電(dian)(dian)阻型試(shi)(shi)(shi)品顯(xian)示(shi)Rx和附加Cx或Lx。自動(dong)選取顯(xian)示(shi)單位(wei)。

試品為(wei)電容(rong)時：顯示(shi)數據為(wei)Cx、tgδ、Ux、Ix、Φ、f1、f2, |δ|>1則顯示(shi)電容(rong)和串(chuan)/并聯電阻

試品為(wei)電感(gan)(gan)時：顯(xian)示數(shu)據為(wei)Lx、Q、Ux、Ix、Φ、f1、f2, |Q|<1則顯(xian)示電感(gan)(gan)和串聯(lian)電阻

試品為(wei)電阻(zu)時：顯示(shi)數(shu)據為(wei)Cx(Lx)、Rx、Ux、Ix、Φ、f1、f2

Cx   試品電容量[1μF=1000nF納法 / 1nF=1000pF]，如顯示10.00nF即(ji)10000pF

tgδ 介損(sun)因(yin)數(shu)[1%=0.01]

Lx   試(shi)品電(dian)感量[1MH兆亨=1000kH / 1kH=1000H]

Q    品質(zhi)因數[無單(dan)位]

Rx   試品電阻值[1MΩ=1000kΩ / 1kΩ=1000Ω]

Ux   試(shi)驗電壓[1kV=1000V / 1V=1000mV]

Ix   試(shi)品電流[1A=1000mA / 1mA=1000μA]

Φ   試品電(dian)流超前(qian)試驗(yan)電(dian)壓(ya)的角(jiao)(jiao)度[°度]或測變(bian)比時(shi)一次電(dian)壓(ya)超前(qian)二次電(dian)壓(ya)的角(jiao)(jiao)度

K    測CVT變(bian)比(bi)時，一次(ci)電(dian)壓比(bi)二(er)次(ci)電(dian)壓

f1   頻率[Hz]，顯示**次測試(shi)頻率

f2   頻率(lv)[Hz]，顯示**次測試頻率(lv)

顯示(shi)over表示(shi)測量數據超(chao)量程。

3.2.8.2反接線低(di)壓屏蔽(bi)測試結果界面

反(fan)接(jie)線低壓(ya)屏(ping)蔽(bi)測試一次接(jie)線可同時測出C11和C下節(下端屏(ping)蔽(bi)部(bu)分)的電容量(liang)和介(jie)損值(zhi)。

3.2.8.3 CVT自激法測試結果(guo)界面

CVT自激法(fa)按測量接(jie)線(xian)，與試(shi)品輸入Cx插座連(lian)接(jie)的定(ding)義為C1，與高壓(ya)(ya)線(xian)連(lian)接(jie)的為C2。U1為測量C1時的高壓(ya)(ya)，U2為測量C2時的高壓(ya)(ya)。

3.3歷史數據

進(jin)入歷(li)史(shi)數據(ju)菜單界面如圖(tu)3-12所(suo)示(shi)。

移動光(guang)標到(dao)“U盤(pan)(pan)”選(xuan)(xuan)(xuan)項(xiang)按(an)“確(que)定(ding)(ding)(ding)”鍵(jian)可將數(shu)(shu)(shu)據導出到(dao)U盤(pan)(pan)，上(shang)移到(dao)“清空(kong)”選(xuan)(xuan)(xuan)項(xiang)按(an)“確(que)定(ding)(ding)(ding)”鍵(jian)可清空(kong)保存(cun)的全部(bu)數(shu)(shu)(shu)據。將光(guang)標移動到(dao)“>>>>”選(xuan)(xuan)(xuan)項(xiang)按(an)下(xia)(xia)“確(que)定(ding)(ding)(ding)”鍵(jian)進入數(shu)(shu)(shu)據選(xuan)(xuan)(xuan)擇(ze)界面(mian)，光(guang)標位置默認(ren)停留在*近保存(cun)的單(dan)條(tiao)數(shu)(shu)(shu)據上(shang)，若(ruo)要查看其他數(shu)(shu)(shu)據可上(shang)下(xia)(xia)移動光(guang)標進行選(xuan)(xuan)(xuan)擇(ze)，選(xuan)(xuan)(xuan)擇(ze)好要查看的數(shu)(shu)(shu)據后按(an)“確(que)定(ding)(ding)(ding)”按(an)鈕進入單(dan)條(tiao)歷史(shi)數(shu)(shu)(shu)據顯(xian)示(shi)界面(mian)。歷史(shi)數(shu)(shu)(shu)據選(xuan)(xuan)(xuan)擇(ze)界面(mian)和單(dan)條(tiao)歷史(shi)數(shu)(shu)(shu)據顯(xian)示(shi)界面(mian)如圖3-13和圖3-14所示(shi)。

進(jin)入單條(tiao)歷史(shi)數據(ju)顯示(shi)界(jie)面(mian)后，在左側(ce)功能選項區上(shang)下(xia)移動光標可選擇打印、刪除本條(tiao)數據(ju)和退出單條(tiao)歷史(shi)數據(ju)顯示(shi)界(jie)面(mian)。

3.4系統設置

進入(ru)系(xi)統設置菜單(dan)可(ke)進行(xing)(xing)系(xi)統時(shi)間校準(zhun)，“出廠設置”參數禁(jin)止用戶修改，只允許生(sheng)產廠家進行(xing)(xing)出廠參數設置。

3.5幫助

可查看儀(yi)器(qi)的相關操作指導。

3.6啟動(dong)測量

進入測試(shi)界面(mian)設(she)置(zhi)好各項試(shi)驗參數后，將光標移(yi)動到“開始(shi)測試(shi)”功能選項上，按住“確認”鍵3s以上啟動測量(liang)。

啟(qi)動測(ce)量(liang)(liang)后發出聲光報警(jing)；在測(ce)試過程中會實時(shi)顯示(shi)測(ce)試相關參數(shu)（電(dian)壓、電(dian)流、頻率、電(dian)容(rong)量(liang)(liang)等參數(shu)）和測(ce)量(liang)(liang)進程(0%～99%)。

測量(liang)中按(an)“確認”鍵(jian)可取消測量(liang)，遇緊急情況立即關閉總(zong)電(dian)源(yuan)。

測量過(guo)程結束，儀器自動(dong)降壓后再顯示(shi)結果。

3.7對(dui)比度(du)調節

液(ye)晶(jing)顯(xian)示屏(ping)的(de)對比(bi)度已在出廠時(shi)校好(hao)，如(ru)果(guo)您感(gan)覺不夠清晰(xi)，調整(zheng)面板上的(de)電位(wei)器(qi)使液(ye)晶(jing)顯(xian)示屏(ping)顯(xian)示內容(rong)清晰(xi)為止。

4、參考接線(xian)

4.1常(chang)規(gui)正(zheng)接線(xian)（正(zheng)接線(xian)、內標準電(dian)容、內高壓）

4.2常(chang)規反(fan)接(jie)線（反(fan)接(jie)線、內標(biao)準電容(rong)、內高(gao)壓）

4.3正接線、外標(biao)準電容、內高(gao)壓

4.4反接線、外標準電容(rong)、內高壓

4.5正接線、內標準電容、外(wai)高壓

4.6反(fan)接線、內標(biao)準電(dian)容、外高壓

4.7正(zheng)接線(xian)、外(wai)標準電容、外(wai)高壓（高電壓介損(sun)）

4.8反(fan)接線、外標準電容、外高壓

4.9反接線低壓(ya)屏蔽

可在(zai)220kV CVT母線(xian)(xian)(xian)接地情(qing)況下(xia)，對C11進行(xing)不拆線(xian)(xian)(xian)10kV反(fan)接線(xian)(xian)(xian)介(jie)損測量(liang)。如下(xia)圖所(suo)示：母線(xian)(xian)(xian)掛地線(xian)(xian)(xian)，C11上端不拆線(xian)(xian)(xian)，C11下(xia)端接高壓(ya)線(xian)(xian)(xian)芯(xin)線(xian)(xian)(xian)，C2末端δ和(he)(he)X接Cx芯(xin)線(xian)(xian)(xian)。這樣C12和(he)(he)C2被低壓(ya)屏蔽(bi)，儀器采用反(fan)接線(xian)(xian)(xian)低壓(ya)屏蔽(bi)測量(liang)方式，可同時測出C11和(he)(he)下(xia)端被屏蔽(bi)部分(fen)的(de)電容(rong)量(liang)和(he)(he)介(jie)損值。

4.10 CVT自激(ji)法

高(gao)壓(ya)線(xian)芯(xin)線(xian)接(jie)C2下端，Cx芯(xin)線(xian)接(jie)C12上端。在CVT 自激法(fa)測量(liang)中，儀(yi)器(qi)先測量(liang)C12，然后自動倒線(xian)測量(liang)C2，并自動校準分壓(ya)影響。

1）D型高壓(ya)連線(xian)不可拖(tuo)地(di)(di)，高壓(ya)線(xian)應懸空(kong)不能接(jie)觸地(di)(di)面(mian)（高壓(ya)線(xian)的接(jie)地(di)(di)屏蔽層(ceng)插頭必須懸空(kong)），否則其(qi)對(dui)地(di)(di)附(fu)加介(jie)損會引起(qi)誤(wu)差，可用細電纜連接(jie)高壓(ya)插座與CVT試品并吊起(qi)。

2）E、F、S、J型高壓連線可拖地使用，在開機初始界面（圖3-1界面），光標停留在“測試模式”處長按“→”鍵（聽到蜂鳴器聲音松手）可取消或使用拖地模式（右下角顯示“”表示當前為拖地模式），在拖地模式下必須將高壓連線的接地屏蔽層插頭接至圖2-1中的“1”（高壓測量接地）處，否則會引起測量誤差；取消拖地模式后高壓連線必須懸空吊起，高壓連線的接地屏蔽層插頭也應懸空，否則會引起測量誤差。拖地模式下的高壓連線必須使用原廠配置的電纜（已校準），否則會引起測量誤差！

4.11 CVT變比測試

儀(yi)器高壓線的(de)芯(xin)線紅(hong)夾(jia)子(zi)接(jie)(jie)CVT的(de)上端(duan)(duan)，母線拆地，CVT下(xia)端(duan)(duan)接(jie)(jie)地，低壓線紅(hong)黑夾(jia)子(zi)接(jie)(jie)二次繞組。

5、常見CVT的參考測量方法(fa)

目前常見的(de)電容式電壓(ya)互感器可(ke)分為110kV、220kV、500kV等(deng)不同電壓(ya)等(deng)級(ji)，一般110kV的(de)CVT其(qi)C1就一節(jie)，220kV的(de)CVT其(qi)C1有兩節(jie)，而500kV的(de)CVT其(qi)C1有三節(jie)。

5.1  500kV CVT的(de)測量方法

1）C11的(de)測量方(fang)法

按圖(tu)5-1標明(ming)的方(fang)式(shi)接(jie)線，測量C11時應注(zhu)意：

◇ 拆開δ端，X端一定要接地

◇ a點(dian)(dian)接紅(hong)色高壓測試線的芯(xin)線（紅(hong)夾子(zi)），b點(dian)(dian)接紅(hong)色高壓測試線的高壓屏(ping)蔽層(ceng)（黑夾子(zi)）

2）C12的測(ce)量方法

按(an)圖5-2標明的方式(shi)接線，測量C12時注意：

◇ 拆開δ端，X端一定要(yao)接地

◇ a點接(jie)紅色高壓(ya)測試線(xian)(xian)芯線(xian)(xian)（紅夾子），b點接(jie)黑色低壓(ya)測試線(xian)(xian)芯線(xian)(xian)（紅夾子）

3）C13和(he)C2的(de)測量方法

儀器設有專門的CVT自(zi)激法，不需外加任何其它設備(bei)，就可(ke)以完成測試。按圖5-3標明的方(fang)式(shi)接線，儀器選用(yong)CVT自(zi)激法測量(liang)(liang)方(fang)式(shi)，試驗(yan)電(dian)壓可(ke)設置(zhi)為2kV，CVT自(zi)激法能一次測量(liang)(liang)C13和C2兩(liang)個電(dian)容(rong)的介損和電(dian)容(rong)量(liang)(liang)。

5.2  220kV CVT的測量方法

1）C11的測量(liang)方法(fa)

按(an)圖5-4標明的(de)方式(shi)接(jie)線(xian)，測量C11時注意(yi)：

◇ δ和X相連，與接(jie)地分開。

◇ a點接紅(hong)色高壓(ya)測試線的芯線（紅(hong)夾子），C2末端δ和X 接Cx端芯線，這樣C12與C2就被低(di)壓(ya)屏蔽了。

2）C12和C2的測量方法(fa)

儀器設(she)有專門的(de)CVT自(zi)激法(fa)，不(bu)需(xu)外加(jia)任何(he)其它設(she)備，就(jiu)可(ke)以完成測(ce)試(shi)。按圖5-5標明的(de)方式(shi)接(jie)線，儀器選用(yong)CVT自(zi)激法(fa)測(ce)量方式(shi)，試(shi)驗電壓可(ke)設(she)置為2kV，CVT自(zi)激法(fa)能一次測(ce)量C12和(he)C2兩個電容的(de)介(jie)損和(he)電容量。

5.3  110kV CVT的測量方(fang)法(fa)

儀器設(she)有專門的CVT自激(ji)法，不需外加任何(he)其它設(she)備，就可以完成(cheng)測(ce)(ce)試。按圖5-6標明(ming)的方(fang)式接線，儀器選用CVT自激(ji)法測(ce)(ce)量(liang)方(fang)式，試驗電(dian)壓可設(she)置為2kV，CVT自激(ji)法能一次測(ce)(ce)量(liang)C13和(he)C2兩個電(dian)容的介(jie)損和(he)電(dian)容量(liang)。

6、現(xian)場試驗(yan)注意事(shi)項

如果(guo)使用中出(chu)現測試數據明顯不合(he)理，請從(cong)以(yi)下方面查找原因：

6.1搭鉤(gou)接觸**

現場測(ce)量使(shi)用搭鉤(gou)(gou)連接(jie)試品時，搭鉤(gou)(gou)務必與試品接(jie)觸良好，否則(ze)接(jie)觸點放(fang)電會引(yin)(yin)起數(shu)據嚴重波動(dong)！尤其是引(yin)(yin)流線氧化層太厚，或(huo)風吹(chui)線擺動(dong)，易造成接(jie)觸**。

6.2接(jie)(jie)地接(jie)(jie)觸(chu)**

接地**會引起儀器保(bao)護或數據嚴重波動。應(ying)刮凈接地點上的油漆和銹蝕(shi)，務必保(bao)證0電阻接地！

6.3直接(jie)測量(liang)CVT或末端屏蔽(bi)法測量(liang)電(dian)磁式PT

直接測量(liang)CVT的下(xia)節耦合電容會出現負介損，消除負介損可采取下(xia)述措施或改(gai)用CVT自(zi)激(ji)法測量(liang)：

1）測(ce)試時(shi)測(ce)量儀器的接地端直接接在被(bei)試品(pin)的金(jin)屬底座上，并保證接觸良好(hao)。

2）條(tiao)件允許時盡可能將(jiang)非被試繞組短接，以減小電感和鐵心(xin)損耗(hao)的(de)影(ying)響。

3）被試品周圍不應有鐵架、腳手架、木梯等物體，盡(jin)可能(neng)減小分布阻抗(kang)的影(ying)響。

4）試驗引(yin)線與(yu)被試品的(de)(de)夾角應盡可能接近90°，以減小線與(yu)試品間(jian)的(de)(de)分布電容。

用末端屏蔽法測量電磁式(shi)PT時(shi)，由于受潮引起“T形網絡干擾”出(chu)現負介損，吹(chui)干下面三裙瓷套(tao)和接線(xian)端子盤即可。也可改(gai)用常規法或末端加壓法測量。

6.4空氣濕度過大(da)

空(kong)氣濕度大(da)使介損(sun)測量值異常增(zeng)大(da)（或減小(xiao)甚至(zhi)為負）且不穩(wen)定，必要時可加(jia)屏蔽環。因人為加(jia)屏蔽環改(gai)變了試品電場(chang)分布，此法有爭(zheng)議(yi)，可參照(zhao)有關規程。

6.5發電(dian)(dian)機供(gong)電(dian)(dian)

發電(dian)(dian)機供電(dian)(dian)時可采用(yong)定頻50Hz模式工作。

6.6測試線

1）由(you)于長(chang)期使用，易(yi)造成(cheng)測試(shi)線隱性斷路，或(huo)芯線和屏蔽短路，或(huo)插頭接觸**，用戶(hu)應經常維護測試(shi)線。

2）測試標(biao)準電容試品時，應使用全(quan)屏(ping)蔽插頭連接，以(yi)消除附加雜(za)散(san)電容影響，否則(ze)不能反映儀器精度。

3）自激法測(ce)量CVT時，若使用“高壓連(lian)線(xian)拖地(di)”功能，請務(wu)必使用原廠配置(zhi)的專(zhuan)用高壓電(dian)纜(lan)（原廠電(dian)纜(lan)在出(chu)廠時已進(jin)行(xing)校準），高壓連(lian)線(xian)的接(jie)地(di)屏蔽層必須(xu)接(jie)地(di)，不可使用其它高壓電(dian)纜(lan)代替，否則會引(yin)起較大的測(ce)量誤差。若拖地(di)模(mo)式下測(ce)量誤差較大，則需將專(zhuan)用高壓電(dian)纜(lan)返(fan)廠重新(xin)進(jin)行(xing)校準。

4）自激法測(ce)量CVT時，非專用的(de)高壓(ya)(ya)線應吊起懸(xuan)空(kong)，否則對地(di)(di)附加(jia)雜散電(dian)(dian)容和介(jie)損(sun)會(hui)引(yin)起測(ce)量誤(wu)差。使用專用電(dian)(dian)纜(lan)(lan)在非拖地(di)(di)模式下測(ce)量CVT，高壓(ya)(ya)電(dian)(dian)纜(lan)(lan)也(ye)應懸(xuan)空(kong)且(qie)電(dian)(dian)纜(lan)(lan)的(de)接地(di)(di)屏蔽層(ceng)不能接地(di)(di)，否則會(hui)引(yin)起較(jiao)大的(de)測(ce)量誤(wu)差。

6.7工作(zuo)模式選(xuan)擇

接好線后請選擇正確的測量工作模式，不可選錯。特別是干擾環境下(xia)應選用變頻抗(kang)干擾模式。

6.8試驗方(fang)法影響

由于介損測量受試驗(yan)方(fang)法(fa)影響較大，應區分是試驗(yan)方(fang)法(fa)誤差還是儀(yi)器(qi)誤差。出(chu)現問題時可首先檢查(cha)接線，然后檢查(cha)是否為儀(yi)器(qi)故(gu)障。

6.9儀器故障

1）用萬用表測量(liang)一下測試(shi)線是(shi)否斷路，或(huo)芯線和(he)屏蔽是(shi)否短路；

2）輸入電源220V過高或過低(di)；接(jie)地是否良好(hao)；

3）用正、反(fan)接線測一下標準電(dian)容(rong)器(qi)或已知容(rong)量和介損的電(dian)容(rong)試品(pin)，如果結(jie)果正確，即可判斷儀器(qi)沒有問題；

4）拔下所有(you)測試導線，進行空試升壓，若(ruo)不能(neng)正常工作(zuo)，儀(yi)器可能(neng)有(you)故障(zhang)。

7、儀器(qi)檢定(ding)

7.1檢定

用帶插頭的屏蔽(bi)電纜連(lian)接標準(zhun)(zhun)損耗器。如果不(bu)能保證標準(zhun)(zhun)損耗器的精度，應使用比對法檢定，建議用2801電橋或其它精密電橋作比對標準(zhun)(zhun)。

1）介質損(sun)耗因數標準器一般為串聯模型(xing)，因此儀(yi)器的試品模型(xing)應選(xuan)擇“RC串聯(電(dian)(dian)流比較儀(yi)型(xing)電(dian)(dian)橋)”或“RC串聯(西林型(xing)電(dian)(dian)橋)”。

RC串(chuan)聯(電(dian)流比(bi)較儀型電(dian)橋)：采(cai)用電(dian)流比(bi)較儀型電(dian)橋（如(ru)QS30電(dian)橋）校準(zhun)的(de)串(chuan)聯型試(shi)品(或介(jie)質損耗因數標準(zhun)器)，該項(xiang)在開(kai)始測試(shi)界面顯(xian)示"RC串(chuan)聯"。

RC串聯(西林型電橋)： 采用西林型電橋（如2801、QS1和QS37等電橋）校準的串聯型試品(或介質損耗因數標準器) ，該項在開始測試界面顯示 "RC串聯"。

采用電流比較儀型電橋和(he)西林型電橋校準(zhun)的串(chuan)聯(lian)型試品(或介(jie)質損耗(hao)因數標(biao)準(zhun)器)的區別只是電容量不同：

為西林型電橋標定值，C為電流比較儀型電橋標定值。

2）用介質(zhi)損(sun)耗因數(shu)標準器(qi)(qi)（或標準電容器(qi)(qi)）檢(jian)定儀器(qi)(qi)反接(jie)線(xian)精度(du)時，高壓電纜(lan)與試(shi)品連接(jie)必須使用全屏蔽(bi)插頭，否則暴露的芯線(xian)會引起測量誤差。

3）用(yong)介(jie)質損(sun)耗因數標準器(qi)（或標準電(dian)容器(qi)）檢(jian)定儀(yi)器(qi)正接(jie)線精度時，低(di)壓電(dian)纜(lan)與(yu)試(shi)品連(lian)接(jie)必(bi)須使(shi)用(yong)全(quan)屏蔽插頭，否則暴露的芯線會引起測量誤差。

嚴格按照上述要求檢定方能(neng)真實反(fan)映本(ben)儀器的測量(liang)精度！

7.2抗(kang)干(gan)擾能力

設置一個回路向(xiang)儀器注(zhu)入定量的干擾(rao)電流。

注意：

1）應考慮到該回路可(ke)能成為(wei)試品的一部分。

2）儀(yi)器啟動后會使220V供電電路(lu)帶(dai)有測量頻率分量，如果該頻率分量又(you)通過干(gan)(gan)擾電流進入儀(yi)器，則無(wu)法(fa)檢驗儀(yi)器的(de)抗(kang)干(gan)(gan)擾能力。

3）不建議用臨近高壓導(dao)體施加干擾，因為這樣很容易產生(sheng)近距離**放電，這種放電電阻是非(fei)線性的，容易產生(sheng)同(tong)頻干擾。