1、WBJS6000高精密抗干擾介質損耗測試儀特(te)點及性能

介損絕緣(yuan)試驗(yan)可以有效地發現電器設備絕緣(yuan)的整體受(shou)潮劣化(hua)變質以及局部(bu)缺(que)陷等，在(zai)電工制造、電氣設備安裝、交接和預(yu)防性(xing)試驗(yan)中都廣泛(fan)應用。

介(jie)質(zhi)損(sun)(sun)耗測(ce)量(liang)(liang)(liang)儀(yi)用于現場介(jie)損(sun)(sun)測(ce)量(liang)(liang)(liang)或試驗室精密介(jie)損(sun)(sun)測(ce)量(liang)(liang)(liang)。儀(yi)器(qi)為一體(ti)化結構，內置(zhi)介(jie)損(sun)(sun)電橋、變(bian)頻電源、試驗變(bian)壓器(qi)和(he)(he)標準電容器(qi)等。儀(yi)器(qi)采用變(bian)頻抗干(gan)擾和(he)(he)傅立葉(xie)變(bian)換數字濾波技術(shu)，全自(zi)動智(zhi)能化測(ce)量(liang)(liang)(liang)，強干(gan)擾下測(ce)量(liang)(liang)(liang)數據非(fei)常穩定。測(ce)量(liang)(liang)(liang)結果由大屏幕液晶顯示(shi)，儀(yi)器(qi)自(zi)帶微型打印機可打印輸出測(ce)試結果。

1.1主要技(ji)術指標

額定工作條件：環(huan)境溫度(du)  -10℃～50℃

相(xiang)對濕度  <85%阿

輸(shu)入電(dian)源：    180V～270VAC，50Hz/60Hz±1%，市電(dian)或發電(dian)機供電(dian)

準確(que)度： &nbsp;    Cx: ±（讀(du)數×1%+1pF）

tgδ: ±（讀數×1%+0.00040）

抗(kang)干擾(rao)(rao)指標：   變頻(pin)抗(kang)干擾(rao)(rao)，在200%干擾(rao)(rao)下仍能達到(dao)上述準(zhun)確度

電(dian)容量范圍：  ; 內施高(gao)壓：3pF～60000pF/10kV    60pF～1μF/0.5kV

外施高(gao)壓：3pF～1.5μF/10kV   &nbsp;  60pF～30μF/0.5kV

分辨(bian)率：       *高0.001pF，4位(wei)有效數字

tgδ范圍：     不限(xian)，分辨率(lv)0.001%，電(dian)容、電(dian)感、電(dian)阻(zu)三(san)種(zhong)試品自(zi)動(dong)識別。

試驗電流范圍： 10μA～5A

內施高壓：    設(she)定(ding)電壓范(fan)圍：0.5～10kV

*大輸出電流：200mA

升降壓(ya)方式：連續(xu)平滑調節

電壓精(jing)度：±(1.0%×讀數+10V)

電壓分辨率：0.1V

試驗頻(pin)率：45、50、55、60、65Hz 單頻(pin)

45/55Hz、55/65Hz、47.5/52.5Hz 自(zi)動雙變頻

頻率(lv)精(jing)度：±0.01Hz

外施高壓：    正、反接線時*大(da)試驗電流5A

CVT自激法低壓(ya)輸(shu)出：輸(shu)出電(dian)壓(ya)3～50V，輸(shu)出電(dian)流3～30A

高電壓介(jie)損：  支(zhi)持變頻(pin)和諧振電源高電壓介(jie)損

實時(shi)(shi)(shi)(shi)時(shi)(shi)(shi)(shi)鐘：   ; 實時(shi)(shi)(shi)(shi)顯示時(shi)(shi)(shi)(shi)間和日期

內部存儲(chu)：    儀(yi)器內部可存儲(chu)100組測量數據(ju)

U盤：&nbsp;       支(zhi)持U盤存儲

打(da)印機：   &nbsp;  微型熱敏打(da)印機

計(ji)算機接口：  標準RS232接口（選配）

尺寸重量：    K型：外形尺寸368mm×288mm×280mm；主機(ji)重量22kg。

其他款(kuan)型(xing)：外形尺(chi)寸(cun)430mm×314mm×334mm；主機重量30kg。

注：上述為E型(xing)主要技術(shu)指(zhi)標(biao)，其它型(xing)號技術(shu)指(zhi)標(biao)詳(xiang)見本章節(jie)“1.3.6各(ge)型(xing)號測試功(gong)能(neng)說(shuo)明(ming)”。

1.2 WBJS6000高精密抗干擾介質損耗測試儀系列型號功能列表

1.3 WBJS6000高精密抗干擾介質損耗測試儀主要功能特點

1.3.1 變頻抗干擾

采用變(bian)頻抗干(gan)擾技術，在200%干(gan)擾下(xia)仍能準確測量，測試數(shu)據穩定(ding)，適合在現場做抗干(gan)擾介損試驗。

1.3.2高(gao)精度測量

采用數字波(bo)形(xing)分(fen)析和電(dian)橋自(zi)校(xiao)準等技(ji)術，配合(he)高精(jing)度三端標準電(dian)容(rong)器，實現高精(jing)度介(jie)損(sun)測量。儀器所(suo)有量程輸入電(dian)阻低于2Ω，消除了測量電(dian)纜(lan)附加電(dian)容(rong)的影響。

1.3.3**措(cuo)施

高(gao)壓(ya)保護：試品短(duan)路、擊穿或(huo)高(gao)壓(ya)電流(liu)波動，能(neng)以短(duan)路方式高(gao)速切斷輸出。

供電(dian)保(bao)護(hu)：誤接380V、電(dian)源波(bo)動或(huo)突然斷(duan)電(dian)，啟(qi)動保(bao)護(hu)，不會引起過(guo)電(dian)壓。

接(jie)地保護：具(ju)有接(jie)地檢測(ce)功能，未接(jie)地時(shi)不能升(sheng)壓，若測(ce)量(liang)過(guo)程中(zhong)儀器(qi)接(jie)地**則啟動接(jie)地保護。

CVT 保護(hu)：高壓(ya)(ya)(ya)側電(dian)(dian)壓(ya)(ya)(ya)和電(dian)(dian)流、低壓(ya)(ya)(ya)側電(dian)(dian)壓(ya)(ya)(ya)和電(dian)(dian)流四個保護(hu)限制(zhi)，不會損壞(huai)設備；誤選菜單不會輸(shu)出激(ji)磁電(dian)(dian)壓(ya)(ya)(ya)。CVT測量時無10kV高壓(ya)(ya)(ya)輸(shu)出。

防誤操(cao)作(zuo)：兩(liang)級電源開關；電壓、電流實(shi)時監視(shi)；多(duo)次按鍵確認；接線端子高/低(di)壓分明(ming)；慢(man)速升壓，可迅速降壓，聲(sheng)光報(bao)警。

防“容升”：測量大容量試(shi)品(pin)時(shi)會出(chu)(chu)現電(dian)壓(ya)抬(tai)高的“容升”效應，儀器能自動跟(gen)蹤輸出(chu)(chu)電(dian)壓(ya)，保(bao)持試(shi)驗電(dian)壓(ya)恒定(ding)。

高壓(ya)電(dian)纜：為(wei)耐高壓(ya)絕緣導線(xian)，可拖地使用。

抗震(zhen)性(xing)能：儀器(qi)采(cai)用獨特抗震(zhen)設計，可耐(nai)受強(qiang)烈長途運輸震(zhen)動(dong)、顛簸(bo)而不會損壞。

1.3.4打印存儲

儀器自(zi)帶微型打(da)印(yin)機，可以將測(ce)量結果(guo)打(da)印(yin)輸出，并將測(ce)量結果(guo)存貯到儀器內（可存儲100組測(ce)量數(shu)據）或U盤，以便(bian)日后查(cha)閱。

1.3.5實時(shi)時(shi)鐘

儀器內帶實(shi)時(shi)時(shi)鐘，實(shi)時(shi)顯示，并能(neng)記錄測量的日期和時(shi)間(jian)。

1.3.6各型號測(ce)試功能(neng)說明

B型：輕便型，高(gao)壓*大輸出電流(liu)為140mA，具(ju)有正接(jie)線、反接(jie)線功能，可選擇(ze)內/外(wai)(wai)標(biao)準電容、內/外(wai)(wai)高(gao)壓多種(zhong)工作模式，一體化結構，可做各種(zhong)常規介損試驗。

D型(xing)：實用(yong)型(xing)，高壓(ya)*大輸出電(dian)流為200mA，具有正(zheng)接線(xian)(xian)(xian)(xian)、反(fan)(fan)接線(xian)(xian)(xian)(xian)、反(fan)(fan)接線(xian)(xian)(xian)(xian)低(di)壓(ya)屏蔽、CVT自激法(fa)，反(fan)(fan)接線(xian)(xian)(xian)(xian)低(di)壓(ya)屏蔽功能能在(zai)220kV CVT母線(xian)(xian)(xian)(xian)接地情況下，對C11進行不拆線(xian)(xian)(xian)(xian)10kV反(fan)(fan)接線(xian)(xian)(xian)(xian)介損測量(liang)(liang)，并可一(yi)次接線(xian)(xian)(xian)(xian)同(tong)時測出兩個電(dian)容的電(dian)容量(liang)(liang)和(he)介損值。CVT自激法(fa)測量(liang)(liang)時，C1/C2可一(yi)次接線(xian)(xian)(xian)(xian)同(tong)時測出，無須換線(xian)(xian)(xian)(xian)和(he)外接任何配(pei)件，但高壓(ya)測量(liang)(liang)線(xian)(xian)(xian)(xian)需懸空吊(diao)起。

E型：標準型，在D型基(ji)礎上(shang)增加了CVT變比(bi)測(ce)試(shi)功能，同時(shi)升級了CVT自(zi)激法測(ce)試(shi)，現場CVT自(zi)激法測(ce)試(shi)時(shi)高壓測(ce)量(liang)線可(ke)拖(tuo)地使(shi)用，無需吊起(qi)。

F型(xing)：增強型(xing)，功(gong)能同(tong)E型(xing)，輸出*高電壓從10kV增加至(zhi)12kV。

K型：標準型，在E型基(ji)礎上(shang)減小體積重量，設備更精巧(qiao)。

S型：四通(tong)道型，功能同E型，增加(jia)了3個(ge)正接通(tong)道。

J型(xing)：高精度型(xing)，功能(neng)同E型(xing)，測(ce)量準(zhun)確度為0.5%。

所有(you)型號(hao)儀(yi)器(qi)均具備下述特(te)點：

（1）支持變頻和諧振電源高(gao)電壓介損。

（2）內置串聯和并(bing)聯兩種介(jie)損測(ce)量模型，方便儀器檢定。

（3）配(pei)置熱敏打印機，使打印更加快捷(jie)、無噪音和清晰。

（4）320×240點陣大屏液晶顯示，菜單操作，測試(shi)數據豐富，自動分辨電容(rong)、電感(gan)、電阻型試(shi)品。

（5）具有外接標(biao)準(zhun)電容器接口，可(ke)外接油杯(bei)做精(jing)密(mi)(mi)絕緣(yuan)油介(jie)損試(shi)驗(yan)，可(ke)外接固體材料測量電極(ji)做精(jing)密(mi)(mi)絕緣(yuan)材料介(jie)損試(shi)驗(yan)，也(ye)可(ke)外接高(gao)壓標(biao)準(zhun)電容器做高(gao)電壓介(jie)損試(shi)驗(yan)。

（6）帶日歷時鐘，可存(cun)儲(chu)100組測量(liang)數據。

（7）計算機接口(kou)（選配(pei)）。

2、WBJS6000高精密抗干擾介質損耗測試儀面板說明

高(gao)壓(ya)輸出測量(liang)(liang)接(jie)(jie)地(di)(di)：若出廠配置的高(gao)壓(ya)測試線有接(jie)(jie)地(di)(di)屏(ping)蔽層，則需將高(gao)壓(ya)測量(liang)(liang)線的接(jie)(jie)地(di)(di)屏(ping)蔽層連接(jie)(jie)至此處，沒有則留空。CVT自激法測量(liang)(liang)的高(gao)壓(ya)連線接(jie)(jie)地(di)(di)屏(ping)蔽層在拖(tuo)(tuo)(tuo)地(di)(di)模(mo)式(shi)下必(bi)須接(jie)(jie)地(di)(di)，非(fei)拖(tuo)(tuo)(tuo)地(di)(di)模(mo)式(shi)下接(jie)(jie)地(di)(di)屏(ping)蔽層應(ying)(ying)懸空不能(neng)接(jie)(jie)地(di)(di)且高(gao)壓(ya)測量(liang)(liang)線也應(ying)(ying)懸空吊(diao)起不能(neng)拖(tuo)(tuo)(tuo)地(di)(di)。

高壓輸(shu)出插(cha)座（0.5～10kV，*大200mA）

安(an)裝位(wei)置：如圖2-1所示，安(an)裝在箱體前(qian)側面。

功    能(neng)：內(nei)高壓(ya)輸(shu)出；檢測反接(jie)線試(shi)品(pin)電(dian)流；內(nei)部標準電(dian)容器的高壓(ya)端。

接(jie)線(xian)(xian)方法：插(cha)座1腳接(jie)高壓(ya)(ya)(ya)線(xian)(xian)芯(xin)線(xian)(xian)（紅夾(jia)子(zi)），2、3腳接(jie)高壓(ya)(ya)(ya)線(xian)(xian)屏(ping)(ping)(ping)蔽(bi)(bi)(bi)（黑夾(jia)子(zi)）。正(zheng)接(jie)線(xian)(xian)時(shi)，高壓(ya)(ya)(ya)線(xian)(xian)芯(xin)線(xian)(xian)（紅夾(jia)子(zi)）和屏(ping)(ping)(ping)蔽(bi)(bi)(bi)（黑夾(jia)子(zi)）都可以用作(zuo)加壓(ya)(ya)(ya)線(xian)(xian)；反接(jie)線(xian)(xian)時(shi)只能(neng)用芯(xin)線(xian)(xian)對試品(pin)高壓(ya)(ya)(ya)端(duan)加壓(ya)(ya)(ya)。如(ru)果試品(pin)高壓(ya)(ya)(ya)端(duan)有屏(ping)(ping)(ping)蔽(bi)(bi)(bi)極（如(ru)高壓(ya)(ya)(ya)端(duan)的屏(ping)(ping)(ping)蔽(bi)(bi)(bi)環）可接(jie)高壓(ya)(ya)(ya)屏(ping)(ping)(ping)蔽(bi)(bi)(bi)，無屏(ping)(ping)(ping)蔽(bi)(bi)(bi)時(shi)高壓(ya)(ya)(ya)屏(ping)(ping)(ping)蔽(bi)(bi)(bi)懸(xuan)空(kong)。若配(pei)置的高壓(ya)(ya)(ya)測(ce)試線(xian)(xian)有接(jie)地屏(ping)(ping)(ping)蔽(bi)(bi)(bi)層(ceng)(ceng)，則(ze)需將(jiang)高壓(ya)(ya)(ya)測(ce)量線(xian)(xian)的接(jie)地屏(ping)(ping)(ping)蔽(bi)(bi)(bi)層(ceng)(ceng)連接(jie)至圖2-1中的“1”處。

注意事項：

（1）若(ruo)儀器(qi)CVT自(zi)激(ji)法高壓連(lian)線具備“高壓拖(tuo)地”功能，使(shi)(shi)用拖(tuo)地模式測量(liang)時務(wu)必(bi)(bi)使(shi)(shi)用原廠(chang)配(pei)置的專(zhuan)用高壓電(dian)纜(lan)（原廠(chang)電(dian)纜(lan)在(zai)出廠(chang)時已進行校準），不可使(shi)(shi)用其(qi)它(ta)高壓電(dian)纜(lan)代替，否則會(hui)引起較大的測量(liang)誤差(cha)。CVT自(zi)激(ji)法不使(shi)(shi)用拖(tuo)地模式時，高壓電(dian)纜(lan)必(bi)(bi)須懸空，接(jie)地屏蔽層也不能接(jie)地！

（2）高壓(ya)插座和高壓(ya)線有(you)危(wei)險電壓(ya)，**禁止碰(peng)觸高壓(ya)插座、電纜、夾子(zi)和試品帶電部位！確認斷(duan)電后接線，測量時務必遠離！

（3）用(yong)標準(zhun)介(jie)損器（或標準(zhun)電容器）檢定反接(jie)線精度時(shi)，應(ying)使用(yong)全屏蔽(bi)插頭連接(jie)試品(pin)，否則暴露的芯(xin)線會引起測量(liang)誤差。

（4）應保證(zheng)高壓(ya)線與試品高壓(ya)端零電(dian)阻連接(jie)，否(fou)則可能(neng)引起誤差(cha)或數據(ju)波動，也可能(neng)引起儀器保護(hu)。

（5）強干擾下(xia)拆(chai)除接線時，應在保持電纜接地狀態下(xia)斷開連接，以防感應電擊。

CVT自激法低壓輸出插座（3～50V，3～30A）

功    能：由該插座和圖2-1中的接(jie)地接(jie)線(xian)柱“4”輸出CVT測量的低壓變頻激勵電(dian)源。

注意事項：

（1）因低(di)壓輸出電流大，應采用(yong)儀器專用(yong)低(di)阻線連接CVT二(er)次繞組(zu)，接觸**會影(ying)響(xiang)測量。

（2）視CVT容量從菜單選擇合適的(de)電壓電流保護限。

（3）選擇正/反接線時，此輸出封閉。

測量(liang)接地(di)：它同外殼和電(dian)源插座地(di)線(xian)連到一(yi)起(qi)，與圖2-1的(de)“3”一(yi)起(qi)輸出CVT測量(liang)的(de)低(di)壓變頻激勵電(dian)源。盡管儀器(qi)有(you)接地(di)保護，但無論(lun)何種測量(liang)，儀器(qi)都(dou)應可靠獨立接地(di)以保障使(shi)用者(zhe)的(de)**及測量(liang)結果的(de)準(zhun)確。

打印(yin)機：微型熱敏打印(yin)機，用于打印(yin)測試數據(ju)。

USB：USB通信用(yong)。

RS232：與計算(suan)機(ji)聯(lian)機(ji)使用。

U盤：用于外接U盤保存數據。

試品輸入Cx插座（10μA～5A）

功(gong)    能：正接(jie)線(xian)時(shi)輸(shu)入試品(pin)電流(liu)。

接(jie)線(xian)方法：插座(zuo)1腳(jiao)接(jie)測量線(xian)芯線(xian)（紅夾(jia)子(zi)），2、3腳(jiao)接(jie)測量線(xian)屏(ping)(ping)蔽(bi)（黑夾(jia)子(zi)）。正接(jie)線(xian)時(shi)芯線(xian)（紅夾(jia)子(zi)）接(jie)試品(pin)低(di)(di)壓(ya)信號端，如(ru)果試品(pin)低(di)(di)壓(ya)端有屏(ping)(ping)蔽(bi)極（如(ru)低(di)(di)壓(ya)端的(de)屏(ping)(ping)蔽(bi)環）可接(jie)屏(ping)(ping)蔽(bi)，試品(pin)無屏(ping)(ping)蔽(bi)時(shi)屏(ping)(ping)蔽(bi)懸空。

注意事項：

（1）測量(liang)中嚴禁拔下插頭，防止試(shi)品電(dian)流經人體入(ru)地！

（2）用(yong)標(biao)準介損器（或(huo)標(biao)準電容(rong)器）檢測(ce)儀器正接線(xian)精度時，應使用(yong)全(quan)屏蔽插(cha)頭連接試品，否則暴露的芯線(xian)會引起測(ce)量誤差。

（3）應(ying)保證(zheng)引線與試品(pin)低(di)壓端0電(dian)阻連(lian)接，否則(ze)可能(neng)引起誤差或數(shu)據波(bo)動，也(ye)可能(neng)引起儀器保護。

（4）強(qiang)干(gan)擾下拆除(chu)接線時(shi)，應(ying)在保(bao)持電(dian)纜接地(di)狀態下斷開連接，以(yi)防感應(ying)電(dian)擊。

標準電容輸入Cn插座（10μA～5A）

功&nbsp;   能：輸(shu)入外(wai)接標準電(dian)(dian)容器電(dian)(dian)流。

接線方法：與Cx插座類似，其區別在于：

（1）使(shi)用外(wai)部(bu)標準電(dian)容器(qi)時，應使(shi)用全屏蔽(bi)插頭連接。此方式常用于外(wai)接高電(dian)壓(ya)等級標準電(dian)容器(qi)，實現高電(dian)壓(ya)介(jie)損測(ce)量。

（2）菜(cai)單(dan)選(xuan)擇(ze)“外標準(zhun)電容”方(fang)式。

（3）將外(wai)接標準(zhun)電容器(qi)的(de)C和tgδ置入儀器(qi)，實現Cx電容介損的(de)**值測(ce)量。

從理論(lun)上講，任何(he)容量和介(jie)損的(de)電(dian)容器(qi)(qi)，將參(can)數置入儀器(qi)(qi)都可做標準電(dian)容器(qi)(qi)。不同的(de)是標準電(dian)容器(qi)(qi)能提供更好的(de)長期(qi)穩(wen)定(ding)性和精度。

（4）不管正(zheng)接線(xian)還是反接線(xian)測(ce)量，標準電(dian)容器(qi)接線(xian)方式始終為正(zheng)接線(xian)。

總電源開關：開關機(ji)用，可(ke)在發現(xian)異常時隨時關閉。

供電(dian)電(dian)源插座：接220V市電(dian)，插座內置(zhi)保險(xian)絲(si)座，保險(xian)絲(si)規格為(wei)10A / 250V，若(ruo)損(sun)壞應(ying)使用相同規格的保險(xian)絲(si)替換。若(ruo)換用備(bei)用保險(xian)絲(si)后仍燒斷，可能儀(yi)器有故障，可通知(zhi)廠(chang)家處理。

高壓允許開(kai)關：內置高壓系(xi)統或CVT自激法低壓輸(shu)出系(xi)統的總電(dian)源開(kai)關。此開(kai)關受總電(dian)源開(kai)關控制(zhi)。

按(an)(an)(an)鍵(jian)：按(an)(an)(an)下“↑”、“↓”、“←”、“→”鍵(jian)可(ke)移動光標和修(xiu)改光標處內(nei)容，“確(que)認(ren)”鍵(jian)用(yong)于(yu)確(que)認(ren)或結束(shu)參數修(xiu)改，在(zai)測(ce)試界面長(chang)按(an)(an)(an)該鍵(jian)可(ke)開始測(ce)量，測(ce)量過程中，按(an)(an)(an)“確(que)認(ren)”鍵(jian)可(ke)終止(zhi)測(ce)量。

液晶顯(xian)示屏(ping)：320×240點陣灰白背光液晶顯(xian)示屏(ping)，顯(xian)示菜單、測量結果或出錯(cuo)信息。應避(bi)免(mian)長時間陽(yang)光爆曬，避(bi)免(mian)重壓。

背光調(diao)節(jie)：液晶顯(xian)示(shi)屏顯(xian)示(shi)較暗或不清(qing)晰(xi)時可(ke)調(diao)節(jie)該(gai)電位(wei)器至(zhi)合(he)適位(wei)置使顯(xian)示(shi)明(ming)亮清(qing)晰(xi)。

指示(shi)燈：配合(he)儀器內部蜂鳴器進(jin)行測試(shi)、報警(jing)等(deng)聲光警(jing)示(shi)。

3、WBJS6000高精密抗干擾介質損耗測試儀使用(yong)說明

3.1初始菜單界(jie)面

打開總電源開關后(hou)，系統進入(ru)初始菜單界面。

測(ce)試(shi)模式(shi)：選擇測(ce)試(shi)模式(shi)和設置各項測(ce)試(shi)參(can)數，

歷(li)史記(ji)錄：查看(kan)保存的歷(li)史數據

系統設置：出(chu)廠參數設置及系統時間校準

幫&nbsp;   助(zhu)：可(ke)查閱軟件版本(ben)等信息

取消或使用CVT自激(ji)法“高壓連線拖(tuo)地(di)”功能：

開機右下角顯示“”表示該儀器在CVT自激法測試時高壓連線具備拖地功能。

光標停留在“測試模式”處長按“→”鍵（聽到蜂鳴器聲音松手）可取消或使用拖地模式（右下角顯示“”表示當前為拖地模式），在拖地模式下必須將高壓連線的接地屏蔽層插頭接至圖2-1中的“1”（高壓測量接地）處，否則會引起測量誤差；取消拖地模式后高壓連線必須懸空吊起，同時高壓連線的接地屏蔽層插頭也應懸空，否則會引起測量誤差。

使用或(huo)取消發“發電機供電”模(mo)式：

光標停留在“測試模式”處長按“←”鍵（聽到蜂鳴器聲音松手）可使用或取消發電機供電模式（左下角顯示“”表示當前為發電機供電模式），儀器開機默認為市電供電模式，發電機模式適合使用發電機或移動電源供電環境，發電機模式下儀器將不進行接地檢測。

3.2測試(shi)模(mo)式

3.2.1 開始測試菜(cai)單界面

在初(chu)始(shi)菜單界(jie)面將光標移動到(dao)“測(ce)(ce)試模(mo)式”按(an)確定按(an)鈕(niu)進入開始(shi)測(ce)(ce)試菜單界(jie)面，如圖3-2所示。

界面左側為參(can)數(shu)(shu)(shu)設(she)置選項(xiang)，移動光(guang)標到(dao)相關(guan)參(can)數(shu)(shu)(shu)選項(xiang)按確(que)定鍵(jian)可設(she)置相關(guan)試(shi)驗(yan)參(can)數(shu)(shu)(shu)，右側顯示內容為已設(she)置好試(shi)驗(yan)參(can)數(shu)(shu)(shu)，光(guang)標停留在(zai)“開始(shi)測(ce)試(shi)”欄長(chang)按“確(que)認” 鍵(jian)可開始(shi)測(ce)試(shi)。

界面右側“測(ce)試(shi)地點”下一行(xing)為信息提示行(xing)，若內外高壓(ya)選擇有(you)誤(wu)(wu)則提示“當(dang)前(qian)為內高壓(ya)模(mo)式(shi)(shi)，請開啟內高壓(ya)”或“當(dang)前(qian)為外高壓(ya)模(mo)式(shi)(shi)，請關閉內高壓(ya)”；若儀器(qi)沒有(you)接(jie)地則會提示“請檢查接(jie)地”，當(dang)有(you)錯誤(wu)(wu)提示時儀器(qi)無(wu)法正常(chang)啟動(dong)，只有(you)提示“確認無(wu)誤(wu)(wu)后長按確認鍵開始測(ce)試(shi)”時儀器(qi)方可啟動(dong)測(ce)試(shi)。

3.2.2 試品(pin)模型選擇菜單界(jie)面(mian)

將光標(biao)移動到“試品(pin)模型(xing)”功能選項(xiang)，界面如圖3-3所示，按(an)“確認”按(an)鈕后移動光標(biao)可選擇(ze)合適的試品(pin)模型(xing)（光標(biao)移動到相(xiang)應(ying)功能后按(an)確認鍵）。實驗室一般使用串(chuan)聯型(xing)介損因數標(biao)準(zhun)器檢定，校驗時應(ying)使用RC串(chuan)聯模型(xing)。

RC串聯(lian)(電(dian)流比(bi)較(jiao)儀型電(dian)橋(qiao)(qiao))：采用電(dian)流比(bi)較(jiao)儀型電(dian)橋(qiao)(qiao)（如QS30電(dian)橋(qiao)(qiao)）校準的串聯(lian)型試(shi)品(或介質損(sun)耗因(yin)數標準器)，該(gai)項在(zai)開(kai)始測試(shi)界面顯(xian)示(shi)"RC串聯(lian)"。

RC串聯(西林型電橋)： 采用西林型電橋（如2801、QS1和QS37等電橋）校準的串聯型試品(或介質損耗因數標準器) ，該項在開始測試界面顯示 "RC串聯"。

RC并聯(現場使(shi)用)：一(yi)般(ban)實際的電容試品可等效為RC并聯模型，建議現場試驗時使(shi)用。

采用電流比較儀型電橋和西林型電橋校準的串聯型試品(或介質損耗因數標準器)的區別只是電容量不同：為西林型電橋標定值，C為電流比較儀型電橋標定值。

3.2.3 接(jie)線方式(shi)選擇菜單界(jie)面

將光(guang)標移動到“接(jie)線方(fang)式(shi)”功能選項(xiang)，界(jie)面如圖(tu)3-4所示，按(an)“確認”按(an)鈕后移動光(guang)標可選擇合適的(de)接(jie)線方(fang)式(shi)。

接(jie)線(xian)方(fang)式：共5種接(jie)線(xian)方(fang)式（功(gong)能(neng)(neng)因型號有差別(bie)，具體詳(xiang)見型號功(gong)能(neng)(neng)說明部分），分別(bie)為：正接(jie)線(xian)、反(fan)接(jie)線(xian)、反(fan)接(jie)線(xian)低壓屏蔽(bi)、CVT自激法(fa)(fa)和變(bian)比。選擇CVT自激法(fa)(fa)測量時(shi)需同時(shi)將(jiang)相關參數(shu)一(yi)并設置好。

CVT自激法測量(liang)(liang)必須打開(kai)內(nei)高壓允(yun)許(xu)開(kai)關，由(you)機內(nei)提(ti)供激勵電壓，由(you)“低壓輸出”和(he)“測量(liang)(liang)接地”輸出。為**起(qi)見，CVT自激法還(huan)需要設(she)置以(yi)下(xia)幾個保(bao)護限(xian)：

將光標移動到xxkV / xxmA / xxV / xxA，按↑↓選擇合適值，選擇好后按確認鍵(jian)退出。

xxkV：可選0.5/0.6/0.8/1/1.5/2/2.5/3/3.5/4kV，為高壓上限，只能使用4kV以下(xia)電壓。

xxmA：可(ke)選10/15/20/25/30/35/40/45/50/60/70/80/100/120/140/200mA，表示(shi)待測試(shi)品的高(gao)壓(ya)電流上限。

xxV：可選3/4/5/6/7/8/9/10/12/15/20/25/30/35/40/50V，表示低(di)壓激勵電壓上限。

xxA：可選3/4/5/6/7/8/9/10/11/12/13/14/15/16/20/30A，表示低壓(ya)激勵(li)電流(liu)上(shang)限。

注意：

（1）測量時4個保護(hu)限(xian)同時起作用(yong)，因(yin)此試驗高壓(ya)可(ke)(ke)能達不(bu)到(dao)設定值。如果高壓(ya)達不(bu)到(dao)保護(hu)限(xian)，可(ke)(ke)適當(dang)調整受到(dao)限(xian)制的(de)保護(hu)限(xian)。

（2）通(tong)常測(ce)(ce)量C1時低壓(ya)激勵(li)電(dian)(dian)壓(ya)可達20V，測(ce)(ce)量C2時低壓(ya)激勵(li)電(dian)(dian)流可達15A。一般可設(she)(she)高壓(ya)電(dian)(dian)壓(ya)2～3kV，較少采用高壓(ya)電(dian)(dian)流限制，可設(she)(she)為*大200mA。

變比(bi)測量時應(ying)選擇合(he)適(shi)的高壓(ya)輸(shu)出使二次側電壓(ya)小于120V，當二次側電壓(ya)≥120V時儀器會發出聲光報警(jing)并提示“接線(xian)錯誤”。

3.2.4 標準電容選擇菜單界面

將光標(biao)(biao)移動到“標(biao)(biao)準(zhun)電(dian)(dian)容(rong)”功(gong)能選項，界面(mian)如圖3-5所示，按“確認”按鈕后移動光標(biao)(biao)可選擇(ze)合(he)適的(de)標(biao)(biao)準(zhun)電(dian)(dian)容(rong)。選擇(ze)外標(biao)(biao)準(zhun)電(dian)(dian)容(rong)時(shi)需同時(shi)將外標(biao)(biao)準(zhun)的(de)電(dian)(dian)容(rong)量和介損一并設置(zhi)好。

選擇外標(biao)準電容(rong)時(shi)將(jiang)光(guang)標(biao)移動到(dao)Cn=xxxxx e x pF 和tgδ=xx.xxx%按↑↓選擇合(he)適(shi)值，選擇好后(hou)按確認鍵(jian)退(tui)出。

Cn采用科學計(ji)數法(fa)，如5.000e1=5.000×101=50.00，1.000e2=1.000×102=100.0等，范圍0.000e0～9.999e5 (即0～999900pF)。tgδ設置范圍0～±9.999%。

內標準(zhun)電容(rong)通常可(ke)用于正、反接線測量和CVT自激法測量，高電壓(ya)介損(sun)選用外標準(zhun)方式，需要將外接電容(rong)參數置入儀(yi)器。

3.2.5 測試(shi)頻率選(xuan)擇菜單界面

測(ce)試(shi)頻(pin)率可選擇定(ding)頻(pin)或異頻(pin)，頻(pin)率選擇菜單界(jie)面如(ru)圖3-6所示，頻(pin)率選擇范圍如(ru)下：

定頻：

“50Hz”：為工頻測量(liang)(liang)，此設置(zhi)不能(neng)抗(kang)干擾，在試驗(yan)(yan)室(shi)內測量(liang)(liang)或校驗(yan)(yan)時選用。

“45/55/60/65Hz”：為單頻率測(ce)量，研(yan)究不同頻率下介損的變化時選用。

頻(pin)率(lv)自(zi)適(shi)應：外高(gao)壓(ya)測(ce)量模式(shi)下有效(xiao)（不能更改），系統自(zi)動識(shi)別(bie)外施高(gao)壓(ya)頻(pin)率(lv)，測(ce)試(shi)頻(pin)率(lv)無需在(zai)測(ce)試(shi)前設(she)置。

異頻：

“45/55Hz”：為自動變頻(pin)，適合(he)50Hz電(dian)網工(gong)頻(pin)干擾下測量。

“55/65Hz”：為自動變頻，適(shi)合(he)60Hz電網(wang)工頻干擾下測量。

“47.5/52.5Hz”：為自(zi)動變頻(pin)，適合50Hz電網工(gong)頻(pin)干擾下測(ce)量。

3.2.6 測試電壓選(xuan)擇菜單界面

內高(gao)壓(ya)可選擇“0.5 /0.6 /0.8 /1 /1.5 /2 /2.5 /3 /3.5 /4 /4.5 /5 /5.5 /6 /6.5 /7 /7.5 /8 /8.5 /9 /9.5 /10.0kV”（F型(xing)*高(gao)輸出電壓(ya)為12kV），應(ying)根(gen)據高(gao)壓(ya)試(shi)驗規程選擇合適的試(shi)驗電壓(ya)。

注：若選擇“CVT自(zi)激(ji)法”測試功能，則該選項無效。CVT自(zi)激(ji)法的(de)相(xiang)關電壓(ya)參數需在該功能選項下進(jin)行設置。

3.2.7 測試備(bei)忘設置菜單界面

設(she)(she)備(bei)編(bian)號(hao)：可(ke)設(she)(she)置8位字母或數字編(bian)號(hao)，將光標(biao)移動(dong)到(dao)”設(she)(she)備(bei)編(bian)號(hao)”處，按(an)確(que)認健(jian)進(jin)入設(she)(she)備(bei)編(bian)號(hao)設(she)(she)置，通(tong)過“←”、“→”健(jian)移動(dong)光標(biao)，通(tong)過↑↓選擇(ze)合(he)適值，設(she)(she)置好后按(an)確(que)認鍵(jian)退出。

測試人(ren)員：可設(she)置8位字母或數字編號(hao)，將光(guang)標移(yi)動到” 測試人(ren)員”處，按(an)確(que)認健進入測試人(ren)員設(she)置，通過“←”、“→”健移(yi)動光(guang)標，通過↑↓選擇合(he)適值，設(she)置好后按(an)確(que)認鍵退(tui)出。

測(ce)(ce)試地點(dian)：可(ke)設置(zhi)8位字(zi)母或數字(zi)編號，將光標移動到” 測(ce)(ce)試地點(dian)”處，按確認健(jian)進入測(ce)(ce)試地點(dian)設置(zhi)，通(tong)(tong)過(guo)“←”、“→”健(jian)移動光標，通(tong)(tong)過(guo)↑↓選擇合適值，設置(zhi)好后按確認鍵(jian)退(tui)出。

3.2.8 測試結果界面(mian)

3.2.8.1反接法測試結果界面(mian)

測試完成顯示結果(guo)后(hou)，可(ke)移動光標選擇保(bao)存或打印數據。

儀器自(zi)動(dong)分辨(bian)電(dian)(dian)容(rong)、電(dian)(dian)感、電(dian)(dian)阻型(xing)試品(pin)(pin)(pin)：電(dian)(dian)容(rong)型(xing)試品(pin)(pin)(pin)顯(xian)(xian)示Cx和tgδ；電(dian)(dian)感型(xing)試品(pin)(pin)(pin)顯(xian)(xian)示Lx和Q；電(dian)(dian)阻型(xing)試品(pin)(pin)(pin)顯(xian)(xian)示Rx和附(fu)加Cx或Lx。自(zi)動(dong)選(xuan)取顯(xian)(xian)示單位。

試(shi)品為電(dian)容時：顯(xian)示數據為Cx、tgδ、Ux、Ix、Φ、f1、f2, |δ|>1則(ze)顯(xian)示電(dian)容和(he)串/并聯電(dian)阻(zu)

試(shi)品為電感(gan)時：顯(xian)示(shi)數據為Lx、Q、Ux、Ix、Φ、f1、f2, |Q|<1則顯(xian)示(shi)電感(gan)和串聯電阻

試(shi)品為(wei)電阻時(shi)：顯(xian)示數據為(wei)Cx(Lx)、Rx、Ux、Ix、Φ、f1、f2

Cx   試品電容量(liang)[1μF=1000nF納法 / 1nF=1000pF]，如顯示10.00nF即10000pF

tgδ 介損因數[1%=0.01]

Lx&nbsp;  試品電感(gan)量[1MH兆亨=1000kH / 1kH=1000H]

Q    品質因(yin)數[無單位]

Rx   試品電阻值(zhi)[1MΩ=1000kΩ / 1kΩ=1000Ω]

Ux &nbsp;&nbsp;試(shi)驗電壓[1kV=1000V / 1V=1000mV]

Ix   試品(pin)電(dian)流[1A=1000mA / 1mA=1000μA]

Φ   試品電流超前(qian)試驗電壓(ya)(ya)的角度(du)[°度(du)]或測變(bian)比時一(yi)次電壓(ya)(ya)超前(qian)二(er)次電壓(ya)(ya)的角度(du)

K    測CVT變比時(shi)，一次電壓比二次電壓

f1   頻(pin)率[Hz]，顯示**次(ci)測試頻(pin)率

f2   頻率[Hz]，顯示**次測試頻率

顯示(shi)over表示(shi)測量數據超量程。

3.2.8.2反接(jie)線低(di)壓(ya)屏蔽測試結果界面

反接(jie)線低壓屏(ping)蔽測試一(yi)次(ci)接(jie)線可同時測出C11和C下節(下端屏(ping)蔽部分)的電容量和介(jie)損值。

3.2.8.3 CVT自激法測試結果界面

CVT自激法按(an)測(ce)(ce)量接線(xian)，與(yu)試品輸入Cx插座(zuo)連(lian)接的定義為C1，與(yu)高壓(ya)(ya)線(xian)連(lian)接的為C2。U1為測(ce)(ce)量C1時(shi)的高壓(ya)(ya)，U2為測(ce)(ce)量C2時(shi)的高壓(ya)(ya)。

3.3歷(li)史數據(ju)

進入歷史數(shu)據菜單界面(mian)如圖3-12所示。

移(yi)(yi)(yi)(yi)動光標到“U盤(pan)”選(xuan)項按(an)“確定”鍵(jian)可(ke)將數(shu)(shu)據導出到U盤(pan)，上移(yi)(yi)(yi)(yi)到“清(qing)空”選(xuan)項按(an)“確定”鍵(jian)可(ke)清(qing)空保(bao)存的(de)全部數(shu)(shu)據。將光標移(yi)(yi)(yi)(yi)動到“>>>>”選(xuan)項按(an)下“確定”鍵(jian)進入(ru)數(shu)(shu)據選(xuan)擇(ze)界面，光標位置默認停留在*近保(bao)存的(de)單(dan)(dan)條(tiao)(tiao)數(shu)(shu)據上，若要查看其他數(shu)(shu)據可(ke)上下移(yi)(yi)(yi)(yi)動光標進行選(xuan)擇(ze)，選(xuan)擇(ze)好要查看的(de)數(shu)(shu)據后按(an)“確定”按(an)鈕進入(ru)單(dan)(dan)條(tiao)(tiao)歷(li)史數(shu)(shu)據顯示界面。歷(li)史數(shu)(shu)據選(xuan)擇(ze)界面和單(dan)(dan)條(tiao)(tiao)歷(li)史數(shu)(shu)據顯示界面如圖3-13和圖3-14所示。

進入單條歷(li)史數據(ju)顯(xian)示界面后(hou)，在左(zuo)側功能選項區上下移動光標(biao)可選擇打印、刪除本條數據(ju)和退(tui)出單條歷(li)史數據(ju)顯(xian)示界面。

3.4系統(tong)設置(zhi)

進(jin)入(ru)系(xi)統設置菜單可進(jin)行系(xi)統時間校(xiao)準，“出廠設置”參數禁止用戶修(xiu)改，只允(yun)許(xu)生產廠家進(jin)行出廠參數設置。

3.5幫助

可查看儀器的(de)相關操作指導。

3.6啟動(dong)測(ce)量(liang)

進入測試界面設(she)置好各項(xiang)試驗(yan)參數后，將光標移動到“開(kai)始測試”功(gong)能(neng)選(xuan)項(xiang)上，按住“確認”鍵3s以上啟動測量。

啟動測(ce)(ce)量(liang)后發出聲光報警；在測(ce)(ce)試過程中(zhong)會實時(shi)顯示測(ce)(ce)試相關(guan)參數（電(dian)壓、電(dian)流、頻率、電(dian)容量(liang)等參數）和測(ce)(ce)量(liang)進程(0%～99%)。

測(ce)量(liang)中按“確認(ren)”鍵可取消測(ce)量(liang)，遇緊急(ji)情(qing)況立即(ji)關閉總電源。

測量過程結束，儀(yi)器自(zi)動(dong)降壓后再顯示結果。

3.7對比度調(diao)節

液晶顯示屏的對比(bi)度已在出廠時校好(hao)，如果您感覺不(bu)夠清晰，調(diao)整面板(ban)上的電位器使液晶顯示屏顯示內(nei)容(rong)清晰為(wei)止。

4、參考接線

4.1常規正(zheng)接線（正(zheng)接線、內(nei)標準電(dian)容、內(nei)高壓）

4.2常規(gui)反接線（反接線、內標準電(dian)容、內高(gao)壓）

4.3正(zheng)接線、外(wai)標準(zhun)電容(rong)、內高(gao)壓

4.4反接線(xian)、外標準電(dian)容、內高壓

4.5正接線、內標(biao)準電容、外高壓

4.6反接線、內(nei)標準電容、外(wai)高(gao)壓(ya)

4.7正(zheng)接線、外(wai)(wai)標準(zhun)電(dian)容、外(wai)(wai)高(gao)壓（高(gao)電(dian)壓介損(sun)）

4.8反接線(xian)、外(wai)標準電容、外(wai)高壓

4.9反接線低壓屏蔽

可在220kV CVT母(mu)線(xian)(xian)接(jie)(jie)地(di)情況下，對C11進行不(bu)拆線(xian)(xian)10kV反(fan)接(jie)(jie)線(xian)(xian)介損(sun)測量。如下圖所示：母(mu)線(xian)(xian)掛地(di)線(xian)(xian)，C11上端(duan)不(bu)拆線(xian)(xian)，C11下端(duan)接(jie)(jie)高壓線(xian)(xian)芯線(xian)(xian)，C2末端(duan)δ和(he)(he)X接(jie)(jie)Cx芯線(xian)(xian)。這樣C12和(he)(he)C2被(bei)低(di)壓屏(ping)蔽，儀(yi)器采用反(fan)接(jie)(jie)線(xian)(xian)低(di)壓屏(ping)蔽測量方式，可同(tong)時測出C11和(he)(he)下端(duan)被(bei)屏(ping)蔽部(bu)分的電容(rong)量和(he)(he)介損(sun)值。

4.10 CVT自激法

高壓(ya)(ya)線芯線接C2下(xia)端，Cx芯線接C12上端。在CVT 自(zi)激法測量中，儀器先(xian)測量C12，然后自(zi)動倒線測量C2，并自(zi)動校準分壓(ya)(ya)影(ying)響。

1）D型高(gao)壓(ya)連線不(bu)可(ke)拖地，高(gao)壓(ya)線應(ying)懸空不(bu)能接觸地面(mian)（高(gao)壓(ya)線的(de)接地屏蔽層插(cha)頭必須懸空），否則其對地附加介損會引(yin)起誤差，可(ke)用細電(dian)纜(lan)連接高(gao)壓(ya)插(cha)座與CVT試品并吊起。

2）E、F、S、J型高壓連線可拖地使用，在開機初始界面（圖3-1界面），光標停留在“測試模式”處長按“→”鍵（聽到蜂鳴器聲音松手）可取消或使用拖地模式（右下角顯示“”表示當前為拖地模式），在拖地模式下必須將高壓連線的接地屏蔽層插頭接至圖2-1中的“1”（高壓測量接地）處，否則會引起測量誤差；取消拖地模式后高壓連線必須懸空吊起，高壓連線的接地屏蔽層插頭也應懸空，否則會引起測量誤差。拖地模式下的高壓連線必須使用原廠配置的電纜（已校準），否則會引起測量誤差！

4.11 CVT變(bian)比測試

儀器(qi)高壓(ya)線的芯(xin)線紅(hong)(hong)夾子(zi)(zi)接(jie)(jie)(jie)CVT的上端，母線拆地，CVT下端接(jie)(jie)(jie)地，低壓(ya)線紅(hong)(hong)黑夾子(zi)(zi)接(jie)(jie)(jie)二次繞組。

5、常(chang)見CVT的參考測量(liang)方法

目前常見的電(dian)容式(shi)電(dian)壓互感器可(ke)分為110kV、220kV、500kV等不(bu)同電(dian)壓等級，一(yi)般110kV的CVT其C1就一(yi)節(jie)，220kV的CVT其C1有兩節(jie)，而500kV的CVT其C1有三節(jie)。

5.1  500kV CVT的測量方法(fa)

1）C11的測(ce)量方法

按(an)圖5-1標(biao)明的方式接線，測量(liang)C11時應注意：

◇ 拆開δ端(duan)，X端(duan)一(yi)定要接地(di)

◇ a點接(jie)紅(hong)色高(gao)壓(ya)測(ce)試線(xian)(xian)的芯線(xian)(xian)（紅(hong)夾子），b點接(jie)紅(hong)色高(gao)壓(ya)測(ce)試線(xian)(xian)的高(gao)壓(ya)屏(ping)蔽層（黑夾子）

2）C12的(de)測(ce)量方法(fa)

按(an)圖(tu)5-2標明的方(fang)式接線，測量C12時注意：

◇ 拆(chai)開δ端，X端一定要接(jie)地(di)

◇ a點接紅(hong)(hong)色高壓測(ce)試線(xian)芯(xin)線(xian)（紅(hong)(hong)夾子），b點接黑色低(di)壓測(ce)試線(xian)芯(xin)線(xian)（紅(hong)(hong)夾子）

3）C13和(he)C2的測量方法

儀器設有專門的(de)CVT自(zi)(zi)激(ji)法，不需外加任何其(qi)它設備，就(jiu)可以完成測(ce)試。按圖(tu)5-3標明的(de)方式接線，儀器選用CVT自(zi)(zi)激(ji)法測(ce)量方式，試驗電(dian)壓可設置(zhi)為2kV，CVT自(zi)(zi)激(ji)法能一次(ci)測(ce)量C13和C2兩(liang)個電(dian)容的(de)介損和電(dian)容量。

5.2  220kV CVT的測量方法(fa)

1）C11的(de)測量方法

按圖5-4標明的方式接線，測量C11時注(zhu)意：

◇ δ和X相連(lian)，與接地分開。

◇ a點(dian)接紅色高壓測試(shi)線的芯線（紅夾子），C2末端δ和X 接Cx端芯線，這樣C12與C2就被(bei)低壓屏蔽了。

2）C12和C2的測(ce)量(liang)方法

儀器設(she)有專(zhuan)門(men)的CVT自激(ji)法(fa)，不需外(wai)加(jia)任何其它設(she)備，就可以完成測(ce)試。按圖5-5標明的方(fang)(fang)式接線，儀器選用CVT自激(ji)法(fa)測(ce)量方(fang)(fang)式，試驗電(dian)壓可設(she)置(zhi)為2kV，CVT自激(ji)法(fa)能一次測(ce)量C12和(he)C2兩(liang)個電(dian)容的介損和(he)電(dian)容量。

5.3  110kV CVT的測量方法

儀器設有專門(men)的(de)CVT自激(ji)法(fa)，不需外加(jia)任何其(qi)它(ta)設備，就可以完成(cheng)測(ce)試。按(an)圖5-6標明的(de)方式(shi)接線，儀器選用CVT自激(ji)法(fa)測(ce)量(liang)方式(shi)，試驗電(dian)壓可設置為2kV，CVT自激(ji)法(fa)能一(yi)次(ci)測(ce)量(liang)C13和(he)(he)C2兩個電(dian)容的(de)介損和(he)(he)電(dian)容量(liang)。

6、現場試驗(yan)注(zhu)意(yi)事項(xiang)

如果使用(yong)中出現測試數(shu)據明顯不(bu)合理，請(qing)從以下(xia)方面查找原因：

6.1搭鉤(gou)接觸**

現場測量使用搭鉤連接試品時，搭鉤務必與試品接觸良好(hao)，否則接觸點放電會引起數據嚴重(zhong)波動！尤其是引流(liu)線氧化層(ceng)太厚，或風吹線擺動，易造成接觸**。

6.2接地(di)接觸**

接(jie)(jie)地**會引起(qi)儀器保護或數據(ju)嚴重波動。應(ying)刮(gua)凈接(jie)(jie)地點上的油漆和(he)銹蝕，務必保證0電(dian)阻接(jie)(jie)地！

6.3直接(jie)測量CVT或末端屏蔽法測量電磁式PT

直(zhi)接測量CVT的下節耦(ou)合電容會出現負介損，消(xiao)除負介損可采取下述措(cuo)施(shi)或改(gai)用(yong)CVT自激(ji)法測量：

1）測試時測量儀器的接地端直接接在被試品的金屬底座上，并保證接觸良好(hao)。

2）條件(jian)允許時盡可能(neng)將非被(bei)試繞(rao)組短接，以減(jian)小電(dian)感(gan)和鐵心(xin)損耗的影響(xiang)。

3）被試(shi)品周(zhou)圍不應有鐵(tie)架(jia)、腳手架(jia)、木梯等(deng)物體(ti)，盡(jin)可能減小分布(bu)阻抗的影(ying)響(xiang)。

4）試(shi)(shi)驗引(yin)線(xian)與被試(shi)(shi)品的夾(jia)角應(ying)盡(jin)可(ke)能接近(jin)90°，以減小(xiao)線(xian)與試(shi)(shi)品間的分布電容。

用(yong)末端(duan)屏蔽法測量(liang)(liang)電磁式PT時(shi)，由于(yu)受潮引起“T形(xing)網絡干擾”出現負介損，吹干下面三裙瓷(ci)套和接(jie)線端(duan)子盤即可。也可改(gai)用(yong)常規法或末端(duan)加壓法測量(liang)(liang)。

6.4空氣濕度過(guo)大

空氣濕度大使介損(sun)測量值異常(chang)增大（或減小甚至為負）且(qie)不(bu)穩定，必要(yao)時(shi)可加屏蔽環(huan)。因人為加屏蔽環(huan)改變了試品電(dian)場分(fen)布(bu)，此(ci)法(fa)有爭議(yi)，可參照有關規程。

6.5發電機(ji)供電

發電(dian)機供(gong)電(dian)時可(ke)采用定頻50Hz模(mo)式工(gong)作。

6.6測(ce)試線

1）由于長期(qi)使用，易造成測試線隱性斷(duan)路(lu)(lu)，或芯線和屏蔽短(duan)路(lu)(lu)，或插頭接觸**，用戶應(ying)經常維(wei)護測試線。

2）測試標準(zhun)電容(rong)試品時(shi)，應(ying)使用(yong)全(quan)屏(ping)蔽插頭連接(jie)，以消除附(fu)加雜散電容(rong)影響(xiang)，否則(ze)不能反(fan)映儀(yi)器精度。

3）自(zi)激法測量CVT時，若使(shi)用“高(gao)(gao)(gao)壓連線(xian)拖地(di)”功能，請(qing)務必使(shi)用原(yuan)廠配置的專(zhuan)用高(gao)(gao)(gao)壓電(dian)纜（原(yuan)廠電(dian)纜在出廠時已進(jin)(jin)行校準），高(gao)(gao)(gao)壓連線(xian)的接(jie)地(di)屏蔽層必須接(jie)地(di)，不可(ke)使(shi)用其(qi)它高(gao)(gao)(gao)壓電(dian)纜代替，否(fou)則會(hui)引起較大(da)的測量誤(wu)差。若拖地(di)模式下測量誤(wu)差較大(da)，則需(xu)將專(zhuan)用高(gao)(gao)(gao)壓電(dian)纜返廠重新進(jin)(jin)行校準。

4）自激法(fa)測(ce)量CVT時，非(fei)專用的高(gao)壓(ya)線應吊起(qi)懸空，否(fou)(fou)則對地(di)附加(jia)雜散電(dian)容和介損會引起(qi)測(ce)量誤(wu)(wu)差(cha)。使用專用電(dian)纜在非(fei)拖地(di)模(mo)式下測(ce)量CVT，高(gao)壓(ya)電(dian)纜也應懸空且電(dian)纜的接地(di)屏蔽(bi)層不能接地(di)，否(fou)(fou)則會引起(qi)較大的測(ce)量誤(wu)(wu)差(cha)。

6.7工作模(mo)式選擇

接好線后請選擇正確(que)的(de)測量工作模(mo)式(shi)，不可選錯。特別是干擾(rao)環境下應選用變(bian)頻抗干擾(rao)模(mo)式(shi)。

6.8試驗方法影響

由于介(jie)損(sun)測量受試(shi)驗方法影響較(jiao)大(da)，應區分是(shi)試(shi)驗方法誤差還是(shi)儀器誤差。出現問題(ti)時可首先(xian)檢查(cha)接(jie)線，然后檢查(cha)是(shi)否為儀器故障。

6.9儀(yi)器(qi)故障

1）用萬用表(biao)測量一(yi)下測試線是否(fou)斷路，或芯(xin)線和(he)屏蔽是否(fou)短(duan)路；

2）輸(shu)入電源220V過高(gao)或過低；接地(di)是否(fou)良好；

3）用正、反接線(xian)測(ce)一下標準電容(rong)器(qi)或已(yi)知容(rong)量和介損(sun)的(de)電容(rong)試(shi)品，如(ru)果(guo)結果(guo)正確，即可判斷儀(yi)器(qi)沒(mei)有問題；

4）拔下(xia)所有測試導線(xian)，進行空試升壓，若不能正(zheng)常(chang)工作(zuo)，儀(yi)器(qi)可能有故障。

7、儀器(qi)檢定

7.1檢定

用帶插頭的屏(ping)蔽(bi)電(dian)(dian)纜連接(jie)標準損耗器。如果(guo)不能(neng)保證標準損耗器的精度，應使用比對法檢定，建議用2801電(dian)(dian)橋或其它精密(mi)電(dian)(dian)橋作比對標準。

1）介質損耗因(yin)數(shu)標準器一般為串聯(lian)(lian)模(mo)型(xing)(xing)，因(yin)此儀器的試(shi)品模(mo)型(xing)(xing)應選擇“RC串聯(lian)(lian)(電流比較儀型(xing)(xing)電橋)”或“RC串聯(lian)(lian)(西林型(xing)(xing)電橋)”。

RC串聯(電流比(bi)較儀型電橋)：采用(yong)電流比(bi)較儀型電橋（如QS30電橋）校準(zhun)的(de)串聯型試品(或(huo)介(jie)質損耗因(yin)數(shu)標準(zhun)器)，該項(xiang)在開始測試界面(mian)顯示"RC串聯"。

RC串聯(西林型電橋)： 采用西林型電橋（如2801、QS1和QS37等電橋）校準的串聯型試品(或介質損耗因數標準器) ，該項在開始測試界面顯示 "RC串聯"。

采用(yong)電流比較儀型電橋和西林型電橋校準的串聯型試(shi)品(或介質損(sun)耗(hao)因數標準器)的區別只是(shi)電容(rong)量(liang)不同：

為西林型電橋標定值，C為電流比較儀型電橋標定值。

2）用(yong)介質損耗因數標(biao)準(zhun)器（或標(biao)準(zhun)電容(rong)器）檢定儀器反接線精度時，高(gao)壓電纜與試(shi)品連接必(bi)須使(shi)用(yong)全屏蔽插頭，否則(ze)暴露的芯線會引起測量誤差。

3）用介質損耗因數標準器(qi)(qi)（或標準電容(rong)器(qi)(qi)）檢定(ding)儀器(qi)(qi)正接線(xian)精(jing)度時，低壓(ya)電纜與試品連接必須使用全屏(ping)蔽插頭(tou)，否(fou)則暴(bao)露的芯線(xian)會引起(qi)測量誤(wu)差。

嚴格按照上述要求檢定方能(neng)真實(shi)反(fan)映本儀器(qi)的測量(liang)精(jing)度！

7.2抗干擾能力

設置一個(ge)回路向儀器注入定(ding)量的干擾電流(liu)。

注意：

1）應考慮到該回路可能成為(wei)試品(pin)的一(yi)部分。

2）儀(yi)器啟動后會使(shi)220V供(gong)電(dian)電(dian)路(lu)帶(dai)有(you)測量(liang)頻(pin)率(lv)分量(liang)，如果(guo)該頻(pin)率(lv)分量(liang)又通(tong)過干擾(rao)電(dian)流(liu)進入儀(yi)器，則無法檢(jian)驗儀(yi)器的(de)抗(kang)干擾(rao)能(neng)力。

3）不建議用(yong)臨近高壓導體施加干(gan)擾(rao)，因(yin)為這(zhe)(zhe)樣(yang)很(hen)容(rong)易(yi)產生(sheng)近距(ju)離(li)**放(fang)電(dian)，這(zhe)(zhe)種放(fang)電(dian)電(dian)阻(zu)是非(fei)線性的，容(rong)易(yi)產生(sheng)同頻(pin)干(gan)擾(rao)。