1、WBJS6000高壓變頻精密介質損耗測試儀特點及性能(neng)

介損(sun)絕(jue)緣試驗可以(yi)有效地發現電器設備絕(jue)緣的整(zheng)體(ti)受(shou)潮(chao)劣化(hua)變質以(yi)及局部缺陷等，在電工制造、電氣設備安裝、交(jiao)接和預防(fang)性試驗中(zhong)都廣泛(fan)應用。

介(jie)質(zhi)損耗(hao)測(ce)(ce)(ce)量(liang)儀(yi)用(yong)于現場介(jie)損測(ce)(ce)(ce)量(liang)或(huo)試驗(yan)室精密(mi)介(jie)損測(ce)(ce)(ce)量(liang)。儀(yi)器為一體(ti)化(hua)結(jie)構，內置介(jie)損電橋、變(bian)(bian)(bian)頻電源、試驗(yan)變(bian)(bian)(bian)壓器和標(biao)準電容器等。儀(yi)器采(cai)用(yong)變(bian)(bian)(bian)頻抗干擾(rao)和傅立葉變(bian)(bian)(bian)換(huan)數字濾波技術(shu)，全(quan)自動智能化(hua)測(ce)(ce)(ce)量(liang)，強干擾(rao)下測(ce)(ce)(ce)量(liang)數據非(fei)常穩定(ding)。測(ce)(ce)(ce)量(liang)結(jie)果由大屏幕液晶(jing)顯(xian)示，儀(yi)器自帶微型打印機可打印輸出(chu)測(ce)(ce)(ce)試結(jie)果。

1.1主要(yao)技(ji)術指標

額定工作條件：環境(jing)溫度(du)  -10℃～50℃

相對濕度  <85%阿

輸入電(dian)(dian)源：    180V～270VAC，50Hz/60Hz±1%，市電(dian)(dian)或發電(dian)(dian)機供電(dian)(dian)

準確(que)度： &nbsp;    Cx: ±（讀數×1%+1pF）

tgδ: ±（讀(du)數×1%+0.00040）

抗干擾(rao)指標：   變頻(pin)抗干擾(rao)，在200%干擾(rao)下仍(reng)能達到上(shang)述準確度

電容量范圍：   內施高(gao)壓：3pF～60000pF/10kV    60pF～1μF/0.5kV

外施高壓：3pF～1.5μF/10kV      60pF～30μF/0.5kV

分(fen)辨率：       *高0.001pF，4位有效數字

tgδ范圍(wei)：     不(bu)限，分辨率0.001%，電容(rong)、電感、電阻(zu)三(san)種試(shi)品自動識別。

試驗電流范圍： 10μA～5A

內(nei)施高(gao)壓： &nbsp;  設定電(dian)壓范(fan)圍：0.5～10kV

*大輸出電流：200mA

升降壓方式：連續平滑調節

電壓精度：±(1.0%×讀數+10V)

電壓分辨率：0.1V

試驗頻率：45、50、55、60、65Hz 單(dan)頻

45/55Hz、55/65Hz、47.5/52.5Hz 自動(dong)雙變頻(pin)

頻率精度：±0.01Hz

外施高壓：    正、反接線時*大試驗電(dian)流(liu)5A

CVT自激法(fa)低壓輸出：輸出電壓3～50V，輸出電流3～30A

高電壓(ya)介(jie)損(sun)：  支持(chi)變頻和諧振電源高電壓(ya)介(jie)損(sun)

實時時鐘：    實時顯(xian)示時間和日期(qi)

內(nei)部存(cun)儲：    儀器內(nei)部可存(cun)儲100組(zu)測量數據

U盤： &nbsp;      支持U盤存儲(chu)

打印(yin)機：   &nbsp;  微型(xing)熱敏打印(yin)機

計算機接口(kou)：  標準RS232接口(kou)（選(xuan)配）

尺(chi)寸重(zhong)量：    K型：外(wai)形尺(chi)寸368mm×288mm×280mm；主(zhu)機重(zhong)量22kg。

其他款型(xing)：外形(xing)尺(chi)寸430mm×314mm×334mm；主機(ji)重量(liang)30kg。

注：上(shang)述為E型(xing)主要(yao)技(ji)術指標，其它(ta)型(xing)號技(ji)術指標詳見本章節“1.3.6各型(xing)號測試(shi)功能說明”。

1.2 WBJS6000高壓變頻精密介質損耗測試儀系列型號功能列表

1.3 WBJS6000高壓變頻精密介質損耗測試儀主要功能特點

1.3.1 變頻(pin)抗干擾

采用變(bian)頻抗干(gan)擾技術，在200%干(gan)擾下仍能準(zhun)確測量，測試(shi)數據穩定(ding)，適(shi)合(he)在現場做抗干(gan)擾介(jie)損試(shi)驗。

1.3.2高精度測(ce)量(liang)

采用(yong)數字波形分析(xi)和電(dian)橋(qiao)自校準(zhun)等(deng)技術，配合高精度三端(duan)標準(zhun)電(dian)容器，實(shi)現(xian)高精度介損測量(liang)。儀器所有量(liang)程輸入電(dian)阻低于2Ω，消除了測量(liang)電(dian)纜附(fu)加電(dian)容的影響。

1.3.3**措施

高壓(ya)保護：試(shi)品(pin)短(duan)路(lu)、擊穿或(huo)高壓(ya)電流(liu)波動，能(neng)以短(duan)路(lu)方式(shi)高速切斷輸出。

供(gong)電(dian)保護(hu)：誤接380V、電(dian)源波動或突然斷電(dian)，啟(qi)動保護(hu)，不會(hui)引起過電(dian)壓(ya)。

接地保(bao)護：具有接地檢測功能，未接地時不能升壓(ya)，若測量過(guo)程中儀(yi)器接地**則啟動(dong)接地保(bao)護。

CVT&nbsp;保護：高(gao)壓(ya)側電(dian)(dian)壓(ya)和電(dian)(dian)流(liu)、低壓(ya)側電(dian)(dian)壓(ya)和電(dian)(dian)流(liu)四個保護限(xian)制(zhi)，不會(hui)損壞設備；誤選菜(cai)單不會(hui)輸(shu)出激磁電(dian)(dian)壓(ya)。CVT測量(liang)時無10kV高(gao)壓(ya)輸(shu)出。

防誤操作：兩級電(dian)源(yuan)開(kai)關；電(dian)壓、電(dian)流實(shi)時監視(shi)；多次按鍵(jian)確認(ren)；接線(xian)端(duan)子高/低壓分(fen)明(ming)；慢速升壓，可迅速降壓，聲光報(bao)警。

防“容升”：測量大容量試(shi)品時會出現電(dian)壓抬高的“容升”效應，儀器能自(zi)動跟蹤輸出電(dian)壓，保持試(shi)驗電(dian)壓恒定。

高壓電纜：為耐高壓絕緣(yuan)導(dao)線，可拖地使(shi)用。

抗(kang)震性能：儀器采用(yong)獨特抗(kang)震設(she)計，可耐受強烈長途運輸(shu)震動、顛簸而不會(hui)損壞。

1.3.4打印存儲

儀器(qi)(qi)自(zi)帶微型打印機，可以將測(ce)量結果打印輸出，并將測(ce)量結果存貯到(dao)儀器(qi)(qi)內（可存儲100組測(ce)量數據(ju)）或U盤，以便日后查閱。

1.3.5實時時鐘

儀器內(nei)帶(dai)實時(shi)時(shi)鐘，實時(shi)顯(xian)示，并(bing)能記錄測量的日期(qi)和(he)時(shi)間。

1.3.6各型(xing)號測試(shi)功能說(shuo)明(ming)

B型：輕便型，高(gao)壓*大輸出電流為140mA，具(ju)有正接(jie)線、反接(jie)線功能，可選擇內(nei)/外標準電容、內(nei)/外高(gao)壓多(duo)種工作模式，一(yi)體化結構，可做各種常規介損試(shi)驗(yan)。

D型：實用(yong)型，高壓*大輸(shu)出(chu)電(dian)流為(wei)200mA，具有正接(jie)(jie)線、反接(jie)(jie)線、反接(jie)(jie)線低壓屏(ping)蔽(bi)、CVT自激法(fa)，反接(jie)(jie)線低壓屏(ping)蔽(bi)功能能在220kV CVT母線接(jie)(jie)地(di)情(qing)況下，對C11進行(xing)不拆線10kV反接(jie)(jie)線介損測(ce)量(liang)，并可一次接(jie)(jie)線同時測(ce)出(chu)兩個電(dian)容(rong)的電(dian)容(rong)量(liang)和(he)介損值。CVT自激法(fa)測(ce)量(liang)時，C1/C2可一次接(jie)(jie)線同時測(ce)出(chu)，無須換線和(he)外接(jie)(jie)任何配件，但高壓測(ce)量(liang)線需懸空吊(diao)起。

E型：標(biao)準型，在D型基礎上(shang)增加了(le)CVT變(bian)比測試(shi)(shi)功(gong)能，同時升(sheng)級(ji)了(le)CVT自激(ji)法測試(shi)(shi)，現場CVT自激(ji)法測試(shi)(shi)時高(gao)壓測量(liang)線(xian)可拖(tuo)地(di)使用，無需吊起。

F型：增強型，功能同E型，輸(shu)出(chu)*高電(dian)壓從10kV增加至(zhi)12kV。

K型(xing)(xing)：標(biao)準型(xing)(xing)，在E型(xing)(xing)基(ji)礎上減小(xiao)體積重(zhong)量，設(she)備(bei)更精巧(qiao)。

S型：四通道型，功能同E型，增加了3個(ge)正接通道。

J型(xing)：高(gao)精度型(xing)，功能同E型(xing)，測量(liang)準確(que)度為0.5%。

所有型號儀器均(jun)具備下述特點：

（1）支持變(bian)頻和諧振電(dian)源高(gao)電(dian)壓介損。

（2）內置串聯(lian)(lian)和并聯(lian)(lian)兩種(zhong)介(jie)損測量模型，方便(bian)儀器檢定。

（3）配置熱敏打印機，使打印更加(jia)快捷(jie)、無噪(zao)音和清晰。

（4）320×240點陣大屏液晶顯示，菜(cai)單操作，測試數據豐富，自動(dong)分辨電容、電感(gan)、電阻型試品(pin)。

（5）具(ju)有外(wai)接標(biao)準電(dian)容器接口(kou)，可(ke)外(wai)接油杯(bei)做(zuo)(zuo)(zuo)精(jing)(jing)密絕緣(yuan)油介(jie)損(sun)(sun)試驗(yan)，可(ke)外(wai)接固體材(cai)料測量電(dian)極做(zuo)(zuo)(zuo)精(jing)(jing)密絕緣(yuan)材(cai)料介(jie)損(sun)(sun)試驗(yan)，也可(ke)外(wai)接高壓(ya)標(biao)準電(dian)容器做(zuo)(zuo)(zuo)高電(dian)壓(ya)介(jie)損(sun)(sun)試驗(yan)。

（6）帶日歷時鐘(zhong)，可存儲100組(zu)測量(liang)數據。

（7）計算機接口(kou)（選配）。

2、WBJS6000高壓變頻精密介質損耗測試儀面板(ban)說明

高壓輸出測(ce)量接(jie)(jie)(jie)地(di)(di)：若出廠(chang)配置的高壓測(ce)試線有接(jie)(jie)(jie)地(di)(di)屏(ping)蔽(bi)層，則(ze)需將高壓測(ce)量線的接(jie)(jie)(jie)地(di)(di)屏(ping)蔽(bi)層連接(jie)(jie)(jie)至(zhi)此處，沒有則(ze)留空。CVT自(zi)激法測(ce)量的高壓連線接(jie)(jie)(jie)地(di)(di)屏(ping)蔽(bi)層在拖地(di)(di)模式下必(bi)須接(jie)(jie)(jie)地(di)(di)，非拖地(di)(di)模式下接(jie)(jie)(jie)地(di)(di)屏(ping)蔽(bi)層應(ying)懸(xuan)空不能(neng)接(jie)(jie)(jie)地(di)(di)且高壓測(ce)量線也應(ying)懸(xuan)空吊起不能(neng)拖地(di)(di)。

高壓輸(shu)出插(cha)座（0.5～10kV，*大200mA）

安裝位置：如圖2-1所(suo)示(shi)，安裝在箱體(ti)(ti)前(qian)側面(mian)。

功&nbsp;   能：內高(gao)壓輸(shu)出；檢(jian)測反(fan)接線試品(pin)電流；內部標(biao)準電容(rong)器(qi)的高(gao)壓端(duan)。

接(jie)(jie)線(xian)(xian)(xian)方法：插座1腳接(jie)(jie)高(gao)壓(ya)(ya)線(xian)(xian)(xian)芯線(xian)(xian)(xian)（紅夾(jia)子(zi)），2、3腳接(jie)(jie)高(gao)壓(ya)(ya)線(xian)(xian)(xian)屏(ping)(ping)(ping)蔽(bi)(bi)（黑(hei)夾(jia)子(zi)）。正接(jie)(jie)線(xian)(xian)(xian)時(shi)，高(gao)壓(ya)(ya)線(xian)(xian)(xian)芯線(xian)(xian)(xian)（紅夾(jia)子(zi)）和屏(ping)(ping)(ping)蔽(bi)(bi)（黑(hei)夾(jia)子(zi)）都(dou)可以用(yong)作加(jia)壓(ya)(ya)線(xian)(xian)(xian)；反接(jie)(jie)線(xian)(xian)(xian)時(shi)只能用(yong)芯線(xian)(xian)(xian)對試品高(gao)壓(ya)(ya)端加(jia)壓(ya)(ya)。如果試品高(gao)壓(ya)(ya)端有屏(ping)(ping)(ping)蔽(bi)(bi)極（如高(gao)壓(ya)(ya)端的(de)屏(ping)(ping)(ping)蔽(bi)(bi)環）可接(jie)(jie)高(gao)壓(ya)(ya)屏(ping)(ping)(ping)蔽(bi)(bi)，無屏(ping)(ping)(ping)蔽(bi)(bi)時(shi)高(gao)壓(ya)(ya)屏(ping)(ping)(ping)蔽(bi)(bi)懸空。若(ruo)配置(zhi)的(de)高(gao)壓(ya)(ya)測(ce)試線(xian)(xian)(xian)有接(jie)(jie)地(di)屏(ping)(ping)(ping)蔽(bi)(bi)層，則需將高(gao)壓(ya)(ya)測(ce)量線(xian)(xian)(xian)的(de)接(jie)(jie)地(di)屏(ping)(ping)(ping)蔽(bi)(bi)層連(lian)接(jie)(jie)至圖(tu)2-1中的(de)“1”處。

注(zhu)意事(shi)項：

（1）若儀(yi)器CVT自(zi)激法高(gao)(gao)壓(ya)連(lian)線具(ju)備“高(gao)(gao)壓(ya)拖地”功能(neng)，使(shi)用拖地模式測量時(shi)務(wu)必使(shi)用原廠配置(zhi)的專用高(gao)(gao)壓(ya)電(dian)纜（原廠電(dian)纜在出廠時(shi)已進行校準），不(bu)(bu)可使(shi)用其它高(gao)(gao)壓(ya)電(dian)纜代替，否則(ze)會引(yin)起較大的測量誤差。CVT自(zi)激法不(bu)(bu)使(shi)用拖地模式時(shi)，高(gao)(gao)壓(ya)電(dian)纜必須懸空，接地屏(ping)蔽層也不(bu)(bu)能(neng)接地！

（2）高壓(ya)(ya)插(cha)座(zuo)和高壓(ya)(ya)線有危(wei)險(xian)電壓(ya)(ya)，**禁止(zhi)碰觸高壓(ya)(ya)插(cha)座(zuo)、電纜、夾子和試(shi)品帶(dai)電部位！確認斷(duan)電后(hou)接線，測量時(shi)務必遠離！

（3）用標準介(jie)損(sun)器（或標準電容(rong)器）檢定反接線(xian)精度時，應(ying)使(shi)用全(quan)屏蔽插頭連接試品，否則暴露(lu)的(de)芯線(xian)會(hui)引起(qi)測(ce)量誤(wu)差。

（4）應保(bao)(bao)證高壓線與試品高壓端零電阻連接(jie)，否則(ze)可(ke)能引起誤差或數據波(bo)動，也(ye)可(ke)能引起儀(yi)器保(bao)(bao)護。

（5）強干(gan)擾(rao)下拆除(chu)接線時(shi)，應在保持電(dian)(dian)纜接地狀態下斷開連(lian)接，以(yi)防感應電(dian)(dian)擊(ji)。

CVT自激法低壓輸出插座（3～50V，3～30A）

功    能：由該插座和圖2-1中(zhong)的接(jie)地接(jie)線柱“4”輸出CVT測量的低(di)壓變頻激勵電源。

注意(yi)事項：

（1）因低(di)壓輸出電流大(da)，應采用儀器專用低(di)阻線(xian)連接CVT二次(ci)繞(rao)組，接觸**會(hui)影響(xiang)測(ce)量。

（2）視CVT容量從菜單選擇(ze)合適(shi)的電(dian)(dian)壓(ya)電(dian)(dian)流保護(hu)限。

（3）選(xuan)擇正/反(fan)接線時，此輸出封閉。

測(ce)(ce)量接(jie)地：它同外殼(ke)和電(dian)(dian)源插座(zuo)地線連(lian)到一起，與(yu)圖2-1的(de)(de)(de)(de)“3”一起輸出(chu)CVT測(ce)(ce)量的(de)(de)(de)(de)低壓(ya)變頻激(ji)勵電(dian)(dian)源。盡管儀器有接(jie)地保護，但無論何種測(ce)(ce)量，儀器都應可靠獨立接(jie)地以保障使用者的(de)(de)(de)(de)**及測(ce)(ce)量結果的(de)(de)(de)(de)準確。

打(da)印機(ji)(ji)：微(wei)型熱敏打(da)印機(ji)(ji)，用(yong)于打(da)印測試數據。

USB：USB通信用。

RS232：與計算機(ji)聯(lian)機(ji)使用。

U盤(pan)：用于外(wai)接(jie)U盤(pan)保存(cun)數(shu)據。

試(shi)品輸入Cx插(cha)座(zuo)（10μA～5A）

功    能：正接線時輸入試品電流。

接(jie)(jie)線(xian)方法(fa)：插座(zuo)1腳接(jie)(jie)測(ce)量(liang)線(xian)芯線(xian)（紅(hong)夾(jia)子(zi)），2、3腳接(jie)(jie)測(ce)量(liang)線(xian)屏(ping)蔽（黑夾(jia)子(zi)）。正接(jie)(jie)線(xian)時(shi)芯線(xian)（紅(hong)夾(jia)子(zi)）接(jie)(jie)試品低(di)壓信號端(duan)，如果試品低(di)壓端(duan)有屏(ping)蔽極（如低(di)壓端(duan)的屏(ping)蔽環(huan)）可接(jie)(jie)屏(ping)蔽，試品無(wu)屏(ping)蔽時(shi)屏(ping)蔽懸(xuan)空。

注意事項：

（1）測(ce)量(liang)中嚴禁拔下插頭，防止(zhi)試品電(dian)流(liu)經人體入地！

（2）用(yong)標準(zhun)介(jie)損器(qi)（或(huo)標準(zhun)電容器(qi)）檢測儀器(qi)正接線精度時，應使(shi)用(yong)全(quan)屏蔽插頭連接試品(pin)，否則暴露的芯(xin)線會(hui)引起(qi)測量誤差。

（3）應保證(zheng)引線與試品低壓端(duan)0電(dian)阻連接，否則可能引起誤差或數據波(bo)動，也可能引起儀器保護。

（4）強(qiang)干擾下拆除接(jie)線時，應在保持電纜接(jie)地(di)狀(zhuang)態下斷(duan)開連接(jie)，以防感(gan)應電擊(ji)。

標(biao)準電容輸入Cn插座（10μA～5A）

功    能：輸入外接標(biao)準電容器電流(liu)。

接線方法：與(yu)Cx插座類似，其區(qu)別(bie)在于：

（1）使用(yong)外部標準電(dian)容器(qi)時，應使用(yong)全屏蔽插(cha)頭連(lian)接。此方式常用(yong)于(yu)外接高(gao)電(dian)壓(ya)等級標準電(dian)容器(qi)，實現(xian)高(gao)電(dian)壓(ya)介損測(ce)量。

（2）菜(cai)單選擇“外(wai)標準(zhun)電容”方(fang)式。

（3）將外接(jie)標準電容器的C和tgδ置入儀器，實現Cx電容介損的**值測量。

從理論上講，任何容(rong)量和介損的(de)電容(rong)器，將參數(shu)置入儀器都可做標準(zhun)電容(rong)器。不同(tong)的(de)是標準(zhun)電容(rong)器能(neng)提(ti)供更好的(de)長期穩定性(xing)和精(jing)度。

（4）不管正接(jie)線(xian)(xian)(xian)還是反(fan)接(jie)線(xian)(xian)(xian)測量(liang)，標準電容器(qi)接(jie)線(xian)(xian)(xian)方式始終為(wei)正接(jie)線(xian)(xian)(xian)。

總電源開(kai)關(guan)：開(kai)關(guan)機用，可在(zai)發現異(yi)常(chang)時(shi)隨時(shi)關(guan)閉(bi)。

供電(dian)電(dian)源(yuan)插座：接220V市電(dian)，插座內置(zhi)保(bao)險(xian)絲(si)(si)座，保(bao)險(xian)絲(si)(si)規(gui)格為(wei)10A / 250V，若損壞應(ying)使(shi)用(yong)相同規(gui)格的(de)保(bao)險(xian)絲(si)(si)替換(huan)。若換(huan)用(yong)備用(yong)保(bao)險(xian)絲(si)(si)后仍燒斷，可(ke)能儀器有故(gu)障，可(ke)通(tong)知廠家(jia)處理。

高壓(ya)允許開關(guan)(guan)：內置(zhi)高壓(ya)系統或CVT自(zi)激法(fa)低壓(ya)輸出系統的總電源開關(guan)(guan)。此(ci)開關(guan)(guan)受總電源開關(guan)(guan)控制。

按(an)(an)鍵：按(an)(an)下“↑”、“↓”、“←”、“→”鍵可(ke)移動光(guang)標和修(xiu)改(gai)光(guang)標處內容(rong)，“確認”鍵用于(yu)確認或結束參數(shu)修(xiu)改(gai)，在測(ce)試界面長按(an)(an)該鍵可(ke)開始測(ce)量(liang)，測(ce)量(liang)過程中，按(an)(an)“確認”鍵可(ke)終止測(ce)量(liang)。

液(ye)晶顯示(shi)屏：320×240點(dian)陣灰白背(bei)光(guang)液(ye)晶顯示(shi)屏，顯示(shi)菜單(dan)、測量結果或出錯信息(xi)。應避免長時(shi)間(jian)陽光(guang)爆(bao)曬，避免重(zhong)壓。

背光調節：液晶(jing)顯示(shi)屏顯示(shi)較(jiao)暗(an)或不清(qing)晰(xi)時可調節該電位(wei)器至合(he)適(shi)位(wei)置使顯示(shi)明亮清(qing)晰(xi)。

指示燈(deng)：配合儀器內部蜂鳴(ming)器進行測試、報(bao)警等聲光警示。

3、WBJS6000高壓變頻精密介質損耗測試儀使(shi)用(yong)說明

3.1初始菜單界面(mian)

打開總電源開關后，系統進(jin)入初始(shi)菜單界面。

測試模(mo)式(shi)：選擇測試模(mo)式(shi)和設置各項測試參數，

歷(li)(li)史記錄：查看保(bao)存的歷(li)(li)史數據(ju)

系(xi)統設置：出廠參數設置及(ji)系(xi)統時間校準

幫(bang)    助：可查閱軟件版本等信(xin)息

取消或(huo)使用(yong)CVT自激法“高(gao)壓(ya)連線拖(tuo)地”功能：

開機右下角顯示“”表示該儀器在CVT自激法測試時高壓連線具備拖地功能。

光標停留在“測試模式”處長按“→”鍵（聽到蜂鳴器聲音松手）可取消或使用拖地模式（右下角顯示“”表示當前為拖地模式），在拖地模式下必須將高壓連線的接地屏蔽層插頭接至圖2-1中的“1”（高壓測量接地）處，否則會引起測量誤差；取消拖地模式后高壓連線必須懸空吊起，同時高壓連線的接地屏蔽層插頭也應懸空，否則會引起測量誤差。

使用或取消發“發電機供電”模式：

光標停留在“測試模式”處長按“←”鍵（聽到蜂鳴器聲音松手）可使用或取消發電機供電模式（左下角顯示“”表示當前為發電機供電模式），儀器開機默認為市電供電模式，發電機模式適合使用發電機或移動電源供電環境，發電機模式下儀器將不進行接地檢測。

3.2測試模式

3.2.1 開始測試菜單界面(mian)

在初始菜單界(jie)面(mian)(mian)將光標(biao)移(yi)動到(dao)“測試(shi)模式”按確(que)定按鈕進入開始測試(shi)菜單界(jie)面(mian)(mian)，如圖(tu)3-2所示。

界面左(zuo)側為參數設(she)置選(xuan)項(xiang)，移動光標(biao)到相(xiang)關參數選(xuan)項(xiang)按確定鍵可(ke)設(she)置相(xiang)關試(shi)驗參數，右側顯示內(nei)容為已設(she)置好試(shi)驗參數，光標(biao)停留在“開始(shi)測試(shi)”欄(lan)長按“確認” 鍵可(ke)開始(shi)測試(shi)。

界面右側“測(ce)試(shi)地(di)點”下一行為信息(xi)提(ti)示行，若(ruo)內(nei)外高壓(ya)(ya)選擇有(you)誤則提(ti)示“當(dang)前(qian)為內(nei)高壓(ya)(ya)模式，請開啟內(nei)高壓(ya)(ya)”或“當(dang)前(qian)為外高壓(ya)(ya)模式，請關閉內(nei)高壓(ya)(ya)”；若(ruo)儀器沒有(you)接地(di)則會提(ti)示“請檢查(cha)接地(di)”，當(dang)有(you)錯(cuo)誤提(ti)示時儀器無法(fa)正常啟動(dong)，只有(you)提(ti)示“確認(ren)無誤后長按確認(ren)鍵開始測(ce)試(shi)”時儀器方可啟動(dong)測(ce)試(shi)。

3.2.2 試(shi)品(pin)模型選擇菜單界面

將光(guang)標(biao)移動(dong)到“試品模型(xing)”功能選項，界面如圖3-3所(suo)示，按“確認(ren)”按鈕后移動(dong)光(guang)標(biao)可選擇合適的試品模型(xing)（光(guang)標(biao)移動(dong)到相應功能后按確認(ren)鍵(jian)）。實驗室一般使用串(chuan)聯型(xing)介損因數標(biao)準器檢定，校驗時應使用RC串(chuan)聯模型(xing)。

RC串(chuan)聯(電(dian)(dian)流(liu)(liu)比較(jiao)儀型(xing)電(dian)(dian)橋(qiao))：采用電(dian)(dian)流(liu)(liu)比較(jiao)儀型(xing)電(dian)(dian)橋(qiao)（如QS30電(dian)(dian)橋(qiao)）校準(zhun)的串(chuan)聯型(xing)試(shi)品(或介質損耗因數標準(zhun)器)，該(gai)項在開始測試(shi)界(jie)面顯示"RC串(chuan)聯"。

RC串聯(西林型電橋)： 采用西林型電橋（如2801、QS1和QS37等電橋）校準的串聯型試品(或介質損耗因數標準器) ，該項在開始測試界面顯示 "RC串聯"。

RC并聯(現場使(shi)(shi)用)：一(yi)般實際的電容試(shi)品可(ke)等效(xiao)為(wei)RC并聯模型，建(jian)議(yi)現場試(shi)驗時使(shi)(shi)用。

采用電流比較儀型電橋和西林型電橋校準的串聯型試品(或介質損耗因數標準器)的區別只是電容量不同：為西林型電橋標定值，C為電流比較儀型電橋標定值。

3.2.3 接(jie)線方式選擇菜單界面

將光標移(yi)動到“接線(xian)方式”功(gong)能選(xuan)項，界面如圖3-4所(suo)示，按“確認”按鈕(niu)后移(yi)動光標可選(xuan)擇(ze)合適的接線(xian)方式。

接線(xian)(xian)方(fang)式：共5種接線(xian)(xian)方(fang)式（功能因型號有差(cha)別，具體詳(xiang)見型號功能說(shuo)明部分(fen)），分(fen)別為：正接線(xian)(xian)、反接線(xian)(xian)、反接線(xian)(xian)低壓屏蔽、CVT自(zi)(zi)激法和變比(bi)。選擇(ze)CVT自(zi)(zi)激法測量(liang)時需同時將相關參數一并設(she)置好(hao)。

CVT自(zi)激法測(ce)量必須打開內高壓(ya)允許開關(guan)，由機內提供激勵電壓(ya)，由“低壓(ya)輸(shu)出”和(he)“測(ce)量接地”輸(shu)出。為(wei)**起見(jian)，CVT自(zi)激法還需要設(she)置以下幾個保護限：

將光標(biao)移動(dong)到xxkV / xxmA / xxV / xxA，按↑↓選擇合(he)適值，選擇好后按確認(ren)鍵退出(chu)。

xxkV：可選0.5/0.6/0.8/1/1.5/2/2.5/3/3.5/4kV，為高(gao)壓上限，只能使用4kV以下(xia)電壓。

xxmA：可選10/15/20/25/30/35/40/45/50/60/70/80/100/120/140/200mA，表示待測(ce)試品的高壓電(dian)流上限。

xxV：可選3/4/5/6/7/8/9/10/12/15/20/25/30/35/40/50V，表示低(di)壓激(ji)勵電壓上限。

xxA：可選3/4/5/6/7/8/9/10/11/12/13/14/15/16/20/30A，表示低(di)壓激勵電流上(shang)限。

注(zhu)意：

（1）測(ce)量時4個保(bao)護限(xian)同時起作(zuo)用，因此試(shi)驗(yan)高(gao)壓(ya)可能達不到設定(ding)值。如果(guo)高(gao)壓(ya)達不到保(bao)護限(xian)，可適(shi)當調整受到限(xian)制的(de)保(bao)護限(xian)。

（2）通常測量(liang)C1時(shi)低壓(ya)(ya)激勵電壓(ya)(ya)可(ke)達20V，測量(liang)C2時(shi)低壓(ya)(ya)激勵電流可(ke)達15A。一般可(ke)設高壓(ya)(ya)電壓(ya)(ya)2～3kV，較少采(cai)用(yong)高壓(ya)(ya)電流限制，可(ke)設為*大200mA。

變(bian)比測量(liang)時應選(xuan)擇合適的高壓輸出使二次(ci)側(ce)電(dian)壓小于120V，當二次(ci)側(ce)電(dian)壓≥120V時儀(yi)器會(hui)發出聲光(guang)報警并提(ti)示“接線(xian)錯(cuo)誤”。

3.2.4 標準電容選擇菜單界面

將(jiang)(jiang)光(guang)標移(yi)動到“標準(zhun)電(dian)容”功(gong)能選項(xiang)，界(jie)面如圖3-5所示，按“確認”按鈕后移(yi)動光(guang)標可選擇(ze)合適的標準(zhun)電(dian)容。選擇(ze)外(wai)標準(zhun)電(dian)容時需同時將(jiang)(jiang)外(wai)標準(zhun)的電(dian)容量和介損一并設置好。

選(xuan)擇(ze)(ze)(ze)外(wai)標(biao)準(zhun)電容時將光標(biao)移動到Cn=xxxxx e x pF 和(he)tgδ=xx.xxx%按(an)↑↓選(xuan)擇(ze)(ze)(ze)合(he)適值，選(xuan)擇(ze)(ze)(ze)好后按(an)確認(ren)鍵(jian)退出。

Cn采用科學計數法，如5.000e1=5.000×101=50.00，1.000e2=1.000×102=100.0等，范圍0.000e0～9.999e5 (即0～999900pF)。tgδ設置范圍0～±9.999%。

內標(biao)準電(dian)(dian)容通常可用(yong)于正、反接線測量和CVT自(zi)激法測量，高電(dian)(dian)壓介(jie)損選用(yong)外標(biao)準方式，需要將外接電(dian)(dian)容參數置(zhi)入儀器。

3.2.5 測試頻率選擇菜單界面

測試頻率可選擇定(ding)頻或異(yi)頻，頻率選擇菜單界面(mian)如圖3-6所(suo)示，頻率選擇范圍如下：

定頻：

“50Hz”：為(wei)工(gong)頻測(ce)量(liang)，此設置不能抗干擾(rao)，在試驗室內測(ce)量(liang)或校(xiao)驗時選用。

“45/55/60/65Hz”：為(wei)單頻率測(ce)量，研(yan)究不同頻率下介(jie)損的變(bian)化時選用(yong)。

頻率(lv)(lv)自(zi)適應：外(wai)高(gao)壓測量(liang)模式下有效（不能更改），系統自(zi)動識別外(wai)施高(gao)壓頻率(lv)(lv)，測試頻率(lv)(lv)無需在測試前(qian)設(she)置。

異頻：

“45/55Hz”：為自動變(bian)頻，適合50Hz電網(wang)工頻干擾下測量(liang)。

“55/65Hz”：為(wei)自動變(bian)頻(pin)，適合60Hz電網(wang)工(gong)頻(pin)干擾下測量。

“47.5/52.5Hz”：為(wei)自(zi)動(dong)變頻(pin)，適合50Hz電網工頻(pin)干擾(rao)下測量。

3.2.6 測試電壓(ya)選(xuan)擇菜單(dan)界面

內高(gao)壓可選(xuan)擇“0.5 /0.6 /0.8 /1 /1.5 /2 /2.5 /3 /3.5 /4 /4.5 /5 /5.5 /6 /6.5 /7 /7.5 /8 /8.5 /9 /9.5 /10.0kV”（F型*高(gao)輸出電(dian)壓為12kV），應(ying)根(gen)據高(gao)壓試(shi)驗規(gui)程選(xuan)擇合適(shi)的試(shi)驗電(dian)壓。

注：若選擇“CVT自(zi)激(ji)法(fa)”測試功能(neng)，則該選項無效。CVT自(zi)激(ji)法(fa)的相關電壓參數需在該功能(neng)選項下(xia)進行設置。

3.2.7 測試(shi)備忘設置菜單界面

設備(bei)編(bian)(bian)號(hao)：可設置8位字母或數字編(bian)(bian)號(hao)，將光標移(yi)動(dong)到”設備(bei)編(bian)(bian)號(hao)”處，按確認(ren)健進入設備(bei)編(bian)(bian)號(hao)設置，通過“←”、“→”健移(yi)動(dong)光標，通過↑↓選擇合適(shi)值(zhi)，設置好(hao)后按確認(ren)鍵(jian)退出(chu)。

測試人員：可設(she)置(zhi)8位字母(mu)或(huo)數字編號，將光標移動到” 測試人員”處，按確認健進入測試人員設(she)置(zhi)，通過(guo)“←”、“→”健移動光標，通過(guo)↑↓選擇合(he)適值，設(she)置(zhi)好后按確認鍵退(tui)出(chu)。

測(ce)試地(di)(di)點(dian)：可(ke)設置(zhi)8位字母或數(shu)字編號，將光標(biao)移(yi)動(dong)到”&nbsp;測(ce)試地(di)(di)點(dian)”處，按確(que)認健進入測(ce)試地(di)(di)點(dian)設置(zhi)，通過“←”、“→”健移(yi)動(dong)光標(biao)，通過↑↓選擇合適值，設置(zhi)好后(hou)按確(que)認鍵(jian)退出。

3.2.8 測(ce)試結果界面(mian)

3.2.8.1反接法測(ce)試結果界面(mian)

測試完成顯(xian)示(shi)結果后，可移動光標選(xuan)擇保存或(huo)打印(yin)數(shu)據(ju)。

儀(yi)器自動(dong)分辨電(dian)容、電(dian)感(gan)、電(dian)阻型試(shi)(shi)品：電(dian)容型試(shi)(shi)品顯(xian)(xian)(xian)示Cx和tgδ；電(dian)感(gan)型試(shi)(shi)品顯(xian)(xian)(xian)示Lx和Q；電(dian)阻型試(shi)(shi)品顯(xian)(xian)(xian)示Rx和附加Cx或Lx。自動(dong)選取顯(xian)(xian)(xian)示單位。

試品為電(dian)(dian)容(rong)時：顯(xian)示(shi)數據為Cx、tgδ、Ux、Ix、Φ、f1、f2, |δ|>1則(ze)顯(xian)示(shi)電(dian)(dian)容(rong)和串(chuan)/并(bing)聯電(dian)(dian)阻(zu)

試品(pin)為電(dian)感(gan)時：顯示數(shu)據為Lx、Q、Ux、Ix、Φ、f1、f2, |Q|<1則(ze)顯示電(dian)感(gan)和串聯(lian)電(dian)阻

試品為電阻時：顯示(shi)數據(ju)為Cx(Lx)、Rx、Ux、Ix、Φ、f1、f2

Cx  &nbsp;試品電容量[1μF=1000nF納法(fa) / 1nF=1000pF]，如(ru)顯示10.00nF即10000pF

tgδ 介損(sun)因數[1%=0.01]

Lx   試品電感量[1MH兆亨(heng)=1000kH / 1kH=1000H]

Q    品質因數(shu)[無單位]

Rx &nbsp; 試品電阻值(zhi)[1MΩ=1000kΩ / 1kΩ=1000Ω]

Ux   試驗(yan)電壓(ya)[1kV=1000V / 1V=1000mV]

Ix   試品(pin)電流[1A=1000mA / 1mA=1000μA]

Φ   試品電(dian)流超前試驗(yan)電(dian)壓的角度[°度]或測變比時一次電(dian)壓超前二次電(dian)壓的角度

K &nbsp;  測CVT變比時，一次電(dian)壓(ya)比二次電(dian)壓(ya)

f1   頻率(lv)[Hz]，顯示**次測試頻率(lv)

f2   頻率(lv)[Hz]，顯示(shi)**次(ci)測(ce)試頻率(lv)

顯示(shi)over表示(shi)測量(liang)數據超量(liang)程(cheng)。

3.2.8.2反接線低(di)壓屏(ping)蔽測(ce)試結(jie)果界面(mian)

反接線低壓屏蔽測試一次接線可同時測出C11和C下(xia)節(下(xia)端屏蔽部分)的電容量和介損值。

3.2.8.3 CVT自激法測試(shi)結(jie)果界面

CVT自激法(fa)按測量接線，與試品輸(shu)入Cx插座連(lian)(lian)接的(de)(de)定義為(wei)C1，與高壓線連(lian)(lian)接的(de)(de)為(wei)C2。U1為(wei)測量C1時(shi)的(de)(de)高壓，U2為(wei)測量C2時(shi)的(de)(de)高壓。

3.3歷史數據

進(jin)入歷史(shi)數據菜單界面(mian)如圖3-12所(suo)示(shi)。

移動光(guang)標(biao)到“U盤(pan)”選項按(an)“確(que)(que)定”鍵可(ke)將數(shu)(shu)(shu)據導出到U盤(pan)，上(shang)移到“清空(kong)”選項按(an)“確(que)(que)定”鍵可(ke)清空(kong)保(bao)存的(de)全部數(shu)(shu)(shu)據。將光(guang)標(biao)移動到“>>>>”選項按(an)下“確(que)(que)定”鍵進入(ru)數(shu)(shu)(shu)據選擇(ze)界(jie)面，光(guang)標(biao)位置默(mo)認停留在(zai)*近(jin)保(bao)存的(de)單(dan)條(tiao)數(shu)(shu)(shu)據上(shang)，若要(yao)查看(kan)其(qi)他(ta)數(shu)(shu)(shu)據可(ke)上(shang)下移動光(guang)標(biao)進行選擇(ze)，選擇(ze)好要(yao)查看(kan)的(de)數(shu)(shu)(shu)據后(hou)按(an)“確(que)(que)定”按(an)鈕進入(ru)單(dan)條(tiao)歷(li)史(shi)數(shu)(shu)(shu)據顯示界(jie)面。歷(li)史(shi)數(shu)(shu)(shu)據選擇(ze)界(jie)面和(he)單(dan)條(tiao)歷(li)史(shi)數(shu)(shu)(shu)據顯示界(jie)面如(ru)圖3-13和(he)圖3-14所(suo)示。

進(jin)入(ru)單(dan)條歷史數據(ju)(ju)顯(xian)示(shi)界面后，在左側功能選項區上下移動光(guang)標可選擇打印、刪除(chu)本條數據(ju)(ju)和退(tui)出單(dan)條歷史數據(ju)(ju)顯(xian)示(shi)界面。

3.4系統(tong)設置(zhi)

進入系(xi)統(tong)設置菜單可進行(xing)(xing)系(xi)統(tong)時間(jian)校準(zhun)，“出(chu)廠設置”參數禁止用戶修改，只允許生(sheng)產廠家進行(xing)(xing)出(chu)廠參數設置。

3.5幫(bang)助

可(ke)查看儀器(qi)的相關操作指導(dao)。

3.6啟動測(ce)量

進入測試界面(mian)設置好各項試驗參數(shu)后，將光標移動到“開始測試”功能選項上，按(an)住“確認(ren)”鍵3s以(yi)上啟動測量。

啟動測(ce)量(liang)后發出聲光(guang)報(bao)警；在測(ce)試過程中會(hui)實時顯示測(ce)試相關參數(shu)（電(dian)(dian)壓(ya)、電(dian)(dian)流、頻率、電(dian)(dian)容量(liang)等參數(shu)）和測(ce)量(liang)進程(0%～99%)。

測(ce)量(liang)中按“確認”鍵可取消測(ce)量(liang)，遇緊急情(qing)況立即關閉總電源(yuan)。

測(ce)量(liang)過程結束，儀(yi)器自動降壓后再顯示結果。

3.7對比度調節

液晶顯示屏的對(dui)比度已在出廠(chang)時校好，如(ru)果您感覺不(bu)夠(gou)清晰，調整面(mian)板(ban)上的電(dian)位器使液晶顯示屏顯示內容清晰為止。

4、參考接線(xian)

4.1常(chang)規(gui)正接(jie)線（正接(jie)線、內標(biao)準電容、內高壓(ya)）

4.2常規反接(jie)線（反接(jie)線、內標準電容、內高(gao)壓）

4.3正(zheng)接線、外(wai)標(biao)準電容、內高壓

4.4反接線、外標準電容、內高壓

4.5正接線、內標(biao)準電容、外高壓

4.6反接線、內標準(zhun)電(dian)容、外高壓

4.7正接線、外標準(zhun)電容、外高壓（高電壓介損）

4.8反接(jie)線、外標準電容、外高壓

4.9反接線(xian)低壓(ya)屏(ping)蔽

可在220kV CVT母線(xian)接地情(qing)況(kuang)下，對C11進行(xing)不(bu)拆線(xian)10kV反(fan)接線(xian)介(jie)損測量(liang)。如(ru)下圖(tu)所示：母線(xian)掛地線(xian)，C11上端(duan)(duan)不(bu)拆線(xian)，C11下端(duan)(duan)接高壓(ya)線(xian)芯線(xian)，C2末(mo)端(duan)(duan)δ和(he)X接Cx芯線(xian)。這樣C12和(he)C2被低(di)壓(ya)屏蔽，儀器采用反(fan)接線(xian)低(di)壓(ya)屏蔽測量(liang)方式(shi)，可同時測出C11和(he)下端(duan)(duan)被屏蔽部分的(de)電容量(liang)和(he)介(jie)損值。

4.10 CVT自激(ji)法

高壓線(xian)芯(xin)線(xian)接C2下端，Cx芯(xin)線(xian)接C12上端。在CVT 自激法測(ce)量中，儀(yi)器先(xian)測(ce)量C12，然后自動(dong)(dong)倒線(xian)測(ce)量C2，并自動(dong)(dong)校準分壓影響。

1）D型(xing)高壓連(lian)線不(bu)可拖地，高壓線應懸空不(bu)能接觸地面（高壓線的(de)接地屏蔽層插(cha)頭必須懸空），否則其(qi)對地附(fu)加(jia)介損(sun)會引起(qi)(qi)誤差，可用細電纜連(lian)接高壓插(cha)座與CVT試品并吊起(qi)(qi)。

2）E、F、S、J型高壓連線可拖地使用，在開機初始界面（圖3-1界面），光標停留在“測試模式”處長按“→”鍵（聽到蜂鳴器聲音松手）可取消或使用拖地模式（右下角顯示“”表示當前為拖地模式），在拖地模式下必須將高壓連線的接地屏蔽層插頭接至圖2-1中的“1”（高壓測量接地）處，否則會引起測量誤差；取消拖地模式后高壓連線必須懸空吊起，高壓連線的接地屏蔽層插頭也應懸空，否則會引起測量誤差。拖地模式下的高壓連線必須使用原廠配置的電纜（已校準），否則會引起測量誤差！

4.11 CVT變比測試

儀器(qi)高壓線(xian)的芯線(xian)紅夾子接(jie)CVT的上端，母(mu)線(xian)拆(chai)地，CVT下端接(jie)地，低壓線(xian)紅黑夾子接(jie)二次(ci)繞組。

5、常見CVT的參考(kao)測(ce)量方法

目前(qian)常見的(de)(de)電容(rong)式電壓互(hu)感器可(ke)分(fen)為110kV、220kV、500kV等不同電壓等級，一般110kV的(de)(de)CVT其C1就一節，220kV的(de)(de)CVT其C1有(you)兩節，而500kV的(de)(de)CVT其C1有(you)三(san)節。

5.1  500kV CVT的測量(liang)方法

1）C11的測量方法

按圖5-1標明的方(fang)式接線，測量C11時應注意：

◇ 拆開(kai)δ端(duan)，X端(duan)一定要(yao)接地

◇ a點接(jie)(jie)紅色高(gao)壓(ya)(ya)測試(shi)線(xian)的(de)芯線(xian)（紅夾(jia)子），b點接(jie)(jie)紅色高(gao)壓(ya)(ya)測試(shi)線(xian)的(de)高(gao)壓(ya)(ya)屏蔽層（黑夾(jia)子）

2）C12的測量(liang)方(fang)法(fa)

按圖5-2標明的方式接線，測量(liang)C12時注(zhu)意：

◇ 拆開δ端，X端一定要(yao)接地(di)

◇ a點(dian)接(jie)紅色高壓測試(shi)線(xian)(xian)芯線(xian)(xian)（紅夾(jia)子），b點(dian)接(jie)黑色低壓測試(shi)線(xian)(xian)芯線(xian)(xian)（紅夾(jia)子）

3）C13和(he)C2的(de)測量(liang)方法(fa)

儀器設(she)有專門的CVT自激法，不需外加任(ren)何其它設(she)備，就(jiu)可以完成測試。按圖5-3標(biao)明(ming)的方式接線，儀器選用CVT自激法測量(liang)方式，試驗電(dian)(dian)(dian)壓可設(she)置為2kV，CVT自激法能一(yi)次測量(liang)C13和C2兩個(ge)電(dian)(dian)(dian)容(rong)的介損和電(dian)(dian)(dian)容(rong)量(liang)。

5.2  220kV CVT的測量方法

1）C11的(de)測(ce)量方法

按圖5-4標明的方式(shi)接線(xian)，測(ce)量C11時注意：

◇ δ和X相(xiang)連，與接地分開。

◇ a點接紅(hong)色高壓(ya)測試線(xian)的(de)芯線(xian)（紅(hong)夾子），C2末端(duan)δ和X 接Cx端(duan)芯線(xian)，這樣(yang)C12與C2就被低壓(ya)屏蔽(bi)了。

2）C12和C2的測(ce)量方法

儀器(qi)設有專門的CVT自激(ji)法，不需外加任何其它設備(bei)，就可以完(wan)成測(ce)試(shi)。按圖5-5標明的方式(shi)接線，儀器(qi)選用CVT自激(ji)法測(ce)量(liang)方式(shi)，試(shi)驗(yan)電(dian)壓可設置為2kV，CVT自激(ji)法能一次(ci)測(ce)量(liang)C12和(he)C2兩個電(dian)容(rong)的介損和(he)電(dian)容(rong)量(liang)。

5.3  110kV CVT的測量(liang)方法

儀(yi)器設有專門的CVT自(zi)激法，不(bu)需外加(jia)任(ren)何其它設備，就可以完成測試。按圖(tu)5-6標明的方(fang)式接線(xian)，儀(yi)器選用(yong)CVT自(zi)激法測量方(fang)式，試驗電(dian)壓可設置為2kV，CVT自(zi)激法能一(yi)次測量C13和C2兩(liang)個(ge)電(dian)容(rong)的介損和電(dian)容(rong)量。

6、現場試(shi)驗注意事項

如(ru)果使用中出現測試數據(ju)明顯不合理(li)，請從以下方面查找(zhao)原因：

6.1搭鉤(gou)接(jie)觸(chu)**

現場測(ce)量(liang)使用搭鉤(gou)連接試品(pin)時，搭鉤(gou)務必與試品(pin)接觸良(liang)好，否則接觸點放電會引起數據嚴重波動(dong)(dong)！尤(you)其是引流線氧(yang)化(hua)層太厚，或(huo)風吹線擺動(dong)(dong)，易造(zao)成接觸**。

6.2接地接觸(chu)**

接(jie)地**會引起儀器保護或數據嚴重波(bo)動。應刮(gua)凈接(jie)地點上的(de)油漆和銹蝕，務必保證(zheng)0電阻接(jie)地！

6.3直接測量(liang)CVT或(huo)末端(duan)屏蔽法(fa)測量(liang)電磁式PT

直接(jie)測量(liang)CVT的下節耦合(he)電容(rong)會出現負(fu)介損，消除負(fu)介損可采取下述措施或改(gai)用CVT自(zi)激法測量(liang)：

1）測(ce)試(shi)時(shi)測(ce)量(liang)儀(yi)器(qi)的(de)接(jie)地端直接(jie)接(jie)在被試(shi)品(pin)的(de)金屬底(di)座上，并(bing)保證接(jie)觸(chu)良好。

2）條件允(yun)許時盡可(ke)能(neng)將非被試繞組短接，以減小電(dian)感和鐵心(xin)損耗的影響。

3）被試品周圍(wei)不應(ying)有鐵架、腳手架、木(mu)梯等物體，盡可能(neng)減(jian)小分布(bu)阻(zu)抗的影響。

4）試(shi)驗引(yin)線(xian)與被試(shi)品(pin)的夾角(jiao)應盡(jin)可能接(jie)近90°，以減小線(xian)與試(shi)品(pin)間的分布(bu)電容。

用末(mo)端(duan)屏蔽法測(ce)量電磁式PT時(shi)，由于(yu)受潮引起“T形網絡干擾”出現(xian)負介損，吹干下面(mian)三裙瓷(ci)套和接線端(duan)子盤即可。也可改(gai)用常(chang)規(gui)法或末(mo)端(duan)加壓(ya)法測(ce)量。

6.4空(kong)氣濕(shi)度過大

空氣濕度(du)大使介損測(ce)量值異(yi)常增大（或(huo)減小甚至為(wei)負）且不穩定，必要(yao)時可加(jia)屏(ping)蔽(bi)環。因人為(wei)加(jia)屏(ping)蔽(bi)環改變了試品電場分布，此法有爭議，可參照有關規程。

6.5發電機供(gong)電

發電機供電時可采用定(ding)頻(pin)50Hz模式工作。

6.6測試線(xian)

1）由(you)于長期(qi)使用(yong)，易造成測(ce)試線隱性斷路(lu)，或芯線和屏蔽短路(lu)，或插(cha)頭(tou)接觸(chu)**，用(yong)戶應經常維護測(ce)試線。

2）測試(shi)標準電容(rong)試(shi)品時，應(ying)使用全(quan)屏蔽插頭連接，以消除附加雜散電容(rong)影響，否則不能反映儀器精度(du)。

3）自(zi)激法測(ce)量(liang)(liang)CVT時，若使用(yong)“高(gao)壓(ya)連線(xian)拖(tuo)地”功能，請務(wu)必(bi)使用(yong)原廠(chang)(chang)配(pei)置(zhi)的(de)專(zhuan)用(yong)高(gao)壓(ya)電纜（原廠(chang)(chang)電纜在出廠(chang)(chang)時已進(jin)行校準），高(gao)壓(ya)連線(xian)的(de)接(jie)地屏(ping)蔽(bi)層必(bi)須(xu)接(jie)地，不(bu)可使用(yong)其它高(gao)壓(ya)電纜代替，否則會引起較大的(de)測(ce)量(liang)(liang)誤差。若拖(tuo)地模(mo)式下測(ce)量(liang)(liang)誤差較大，則需(xu)將專(zhuan)用(yong)高(gao)壓(ya)電纜返廠(chang)(chang)重新進(jin)行校準。

4）自激法測(ce)(ce)量CVT時，非(fei)專(zhuan)用(yong)的高(gao)壓線應吊起(qi)懸(xuan)空(kong)，否則對地(di)附加雜散(san)電容和介(jie)損(sun)會引(yin)起(qi)測(ce)(ce)量誤差。使用(yong)專(zhuan)用(yong)電纜在非(fei)拖地(di)模式下測(ce)(ce)量CVT，高(gao)壓電纜也應懸(xuan)空(kong)且電纜的接地(di)屏(ping)蔽(bi)層不能接地(di)，否則會引(yin)起(qi)較大的測(ce)(ce)量誤差。

6.7工作(zuo)模式(shi)選擇

接好線后請選擇正(zheng)確的測量(liang)工作(zuo)模(mo)式，不(bu)可(ke)選錯(cuo)。特別是干擾(rao)環境下應選用變頻抗干擾(rao)模(mo)式。

6.8試(shi)驗方法影響(xiang)

由于介損測(ce)量受試驗方法影響較大，應區分是試驗方法誤(wu)差還是儀器誤(wu)差。出現問題時可(ke)首先檢查接線，然后(hou)檢查是否為儀器故障。

6.9儀器(qi)故障

1）用萬(wan)用表測(ce)量一(yi)下測(ce)試線是否斷路，或芯線和屏蔽是否短路；

2）輸(shu)入電源(yuan)220V過高或過低(di)；接(jie)地(di)是否(fou)良好(hao)；

3）用正、反(fan)接線測一下(xia)標準電容器或已知容量和介損的電容試品，如(ru)果結果正確(que)，即可判斷(duan)儀(yi)器沒(mei)有問題；

4）拔下所有(you)測(ce)試導(dao)線，進行空試升壓(ya)，若不能正常(chang)工作，儀器(qi)可能有(you)故障。

7、儀器檢(jian)定

7.1檢定

用(yong)帶(dai)插頭的屏蔽電纜連接標(biao)準損耗器(qi)(qi)。如果不(bu)能保證標(biao)準損耗器(qi)(qi)的精度，應使用(yong)比(bi)對法檢定，建議用(yong)2801電橋(qiao)或其它精密電橋(qiao)作比(bi)對標(biao)準。

1）介質(zhi)損(sun)耗因數(shu)標準器一(yi)般為串(chuan)(chuan)聯(lian)(lian)模型(xing)(xing)，因此儀(yi)器的(de)試品模型(xing)(xing)應(ying)選擇“RC串(chuan)(chuan)聯(lian)(lian)(電流比較(jiao)儀(yi)型(xing)(xing)電橋)”或“RC串(chuan)(chuan)聯(lian)(lian)(西林型(xing)(xing)電橋)”。

RC串(chuan)聯(電(dian)流(liu)比較(jiao)儀型(xing)電(dian)橋(qiao))：采用電(dian)流(liu)比較(jiao)儀型(xing)電(dian)橋(qiao)（如(ru)QS30電(dian)橋(qiao)）校準的(de)串(chuan)聯型(xing)試品(或介質損耗因數標準器)，該(gai)項在開始測試界面顯示"RC串(chuan)聯"。

RC串聯(西林型電橋)： 采用西林型電橋（如2801、QS1和QS37等電橋）校準的串聯型試品(或介質損耗因數標準器) ，該項在開始測試界面顯示 "RC串聯"。

采用(yong)電(dian)流比較儀(yi)型電(dian)橋(qiao)和西林型電(dian)橋(qiao)校準的串聯型試品(或介質損耗因數標準器)的區(qu)別只(zhi)是(shi)電(dian)容量不同：

為西林型電橋標定值，C為電流比較儀型電橋標定值。

2）用(yong)(yong)介質損耗因數標(biao)準器(qi)（或標(biao)準電容器(qi)）檢(jian)定(ding)儀器(qi)反接(jie)線(xian)精(jing)度時，高壓電纜與試品(pin)連接(jie)必須使(shi)用(yong)(yong)全屏蔽(bi)插(cha)頭，否則暴露的芯線(xian)會引起(qi)測量誤差。

3）用介質損耗因數標(biao)(biao)準器(qi)（或標(biao)(biao)準電(dian)容器(qi)）檢定(ding)儀器(qi)正接線精(jing)度時，低壓(ya)電(dian)纜與試品連接必須使用全屏蔽插頭，否則暴露的芯線會(hui)引起測(ce)量誤差。

嚴格按照(zhao)上述(shu)要(yao)求檢定方(fang)能真實反映本儀器(qi)的(de)測(ce)量精(jing)度！

7.2抗干擾能(neng)力(li)

設置一(yi)個(ge)回路向儀器注入定量的干擾電(dian)流。

注意(yi)：

1）應(ying)考慮到該(gai)回(hui)路可能成(cheng)為(wei)試(shi)品的一部分(fen)。

2）儀器啟動后會使220V供電(dian)電(dian)路帶有測(ce)量(liang)頻率分量(liang)，如果該頻率分量(liang)又通過干擾電(dian)流進入儀器，則無法檢驗儀器的抗干擾能(neng)力。

3）不建議(yi)用臨近(jin)高(gao)壓導(dao)體施(shi)加干擾，因為這(zhe)(zhe)樣很容易產生近(jin)距(ju)離**放電(dian)(dian)(dian)，這(zhe)(zhe)種放電(dian)(dian)(dian)電(dian)(dian)(dian)阻是非線性的，容易產生同(tong)頻干擾。