1、WBJS6000精密變頻介質損耗測試儀特點(dian)及性能

介(jie)損(sun)絕緣(yuan)(yuan)試驗(yan)可以有效(xiao)地發現電器設備(bei)絕緣(yuan)(yuan)的整體受潮劣化變質(zhi)以及(ji)局部缺陷(xian)等，在電工制造、電氣(qi)設備(bei)安裝、交(jiao)接和預防(fang)性試驗(yan)中都廣泛應用。

介(jie)質(zhi)損(sun)耗測量(liang)(liang)儀(yi)(yi)用于現場(chang)介(jie)損(sun)測量(liang)(liang)或試驗室(shi)精密介(jie)損(sun)測量(liang)(liang)。儀(yi)(yi)器(qi)為一體化結構，內置介(jie)損(sun)電橋、變(bian)頻(pin)電源、試驗變(bian)壓器(qi)和標準(zhun)電容器(qi)等。儀(yi)(yi)器(qi)采(cai)用變(bian)頻(pin)抗干(gan)擾(rao)和傅立葉變(bian)換數(shu)字(zi)濾波技(ji)術，全自動智能化測量(liang)(liang)，強干(gan)擾(rao)下測量(liang)(liang)數(shu)據非常穩(wen)定(ding)。測量(liang)(liang)結果由(you)大(da)屏幕液(ye)晶(jing)顯示(shi)，儀(yi)(yi)器(qi)自帶微(wei)型(xing)打印(yin)(yin)機可打印(yin)(yin)輸出測試結果。

1.1主要技術指標

額(e)定工作條件：環(huan)境溫度  -10℃～50℃

相對(dui)濕度  <85%阿(a)

輸入電源：&nbsp;   180V～270VAC，50Hz/60Hz±1%，市電或發電機(ji)供電

準確度：      Cx: ±（讀數×1%+1pF）

tgδ: ±（讀數×1%+0.00040）

抗干(gan)擾(rao)指標(biao)：   變頻抗干(gan)擾(rao)，在200%干(gan)擾(rao)下(xia)仍(reng)能達到上述準確度(du)

電容量范(fan)圍(wei)：   內施高(gao)壓：3pF～60000pF/10kV   &nbsp;60pF～1μF/0.5kV

外施高(gao)壓(ya)：3pF～1.5μF/10kV      60pF～30μF/0.5kV

分(fen)辨(bian)率：       *高0.001pF，4位(wei)有效數字(zi)

tgδ范圍(wei)：     不限，分辨率0.001%，電容(rong)、電感、電阻三種試品自動(dong)識別。

試驗電流范圍： 10μA～5A

內施高壓：    設定電(dian)壓范圍：0.5～10kV

*大輸(shu)出電流：200mA

升降壓方式：連(lian)續平滑調節

電壓精度：±(1.0%×讀數+10V)

電壓分辨(bian)率(lv)：0.1V

試驗(yan)頻率(lv)：45、50、55、60、65Hz 單頻

45/55Hz、55/65Hz、47.5/52.5Hz 自(zi)動(dong)雙變頻

頻率精(jing)度：±0.01Hz

外施高(gao)壓：    正、反接線時(shi)*大試(shi)驗電流5A

CVT自(zi)激法低壓(ya)輸(shu)出(chu)(chu)：輸(shu)出(chu)(chu)電壓(ya)3～50V，輸(shu)出(chu)(chu)電流3～30A

高電壓介(jie)損：  支持變頻和諧振電源高電壓介(jie)損

實(shi)時(shi)時(shi)鐘： &nbsp;  實(shi)時(shi)顯(xian)示時(shi)間和日(ri)期

內部(bu)存儲(chu)：    儀器(qi)內部(bu)可存儲(chu)100組測(ce)量數據

U盤：        支持U盤存儲

打(da)印(yin)機(ji)：      微型熱(re)敏打(da)印(yin)機(ji)

計算機接口：  標準RS232接口（選(xuan)配(pei)）

尺(chi)寸重量：    K型：外形尺(chi)寸368mm×288mm×280mm；主(zhu)機(ji)重量22kg。

其他款型：外(wai)形尺(chi)寸(cun)430mm×314mm×334mm；主(zhu)機重量30kg。

注：上述(shu)為E型(xing)主要技術(shu)指標，其它型(xing)號技術(shu)指標詳見本章節“1.3.6各型(xing)號測試功能說明”。

1.2 WBJS6000精密變頻介質損耗測試儀系列型號功能列表

1.3 WBJS6000精密變頻介質損耗測試儀主要功能特點

1.3.1 變頻抗干擾

采用變頻抗干擾技術，在200%干擾下仍能準確測量，測試數(shu)據穩定，適合在現場做抗干擾介損(sun)試驗。

1.3.2高(gao)精度測量

采用(yong)數(shu)字波形(xing)分析(xi)和電橋(qiao)自校準(zhun)等技(ji)術，配合高精(jing)度三端(duan)標準(zhun)電容(rong)器(qi)，實現高精(jing)度介損測量(liang)。儀器(qi)所(suo)有量(liang)程輸入電阻低于2Ω，消除了(le)測量(liang)電纜附加電容(rong)的影響。

1.3.3**措施

高(gao)(gao)壓保護：試品短路(lu)、擊穿或(huo)高(gao)(gao)壓電流波(bo)動，能以短路(lu)方式高(gao)(gao)速切斷(duan)輸(shu)出。

供電保護：誤接380V、電源波動或突然斷電，啟動保護，不會引(yin)起過電壓。

接地保護：具有接地檢(jian)測功能，未接地時(shi)不能升壓(ya)，若測量過程中儀器接地**則啟動接地保護。

CVT 保護：高壓側電(dian)壓和電(dian)流、低壓側電(dian)壓和電(dian)流四個保護限制，不(bu)會(hui)損壞(huai)設(she)備；誤選菜單不(bu)會(hui)輸出(chu)激磁電(dian)壓。CVT測量時無10kV高壓輸出(chu)。

防(fang)誤(wu)操作(zuo)：兩級電源開關；電壓(ya)、電流實時(shi)監視；多次按(an)鍵確認；接線(xian)端子高/低壓(ya)分(fen)明；慢速升壓(ya)，可(ke)迅速降(jiang)壓(ya)，聲光報(bao)警(jing)。

防“容升(sheng)”：測量(liang)大(da)容量(liang)試(shi)品時會出現(xian)電壓抬高(gao)的“容升(sheng)”效(xiao)應，儀器能自(zi)動跟蹤輸出電壓，保持試(shi)驗電壓恒定。

高(gao)壓電纜：為(wei)耐(nai)高(gao)壓絕緣導(dao)線，可拖地使用(yong)。

抗震(zhen)性能：儀器采(cai)用獨(du)特抗震(zhen)設計，可耐(nai)受強烈(lie)長途運(yun)輸震(zhen)動、顛簸而不會(hui)損壞。

1.3.4打印存儲

儀(yi)器自帶微型打印(yin)(yin)機，可以(yi)將測量(liang)結果(guo)打印(yin)(yin)輸出，并將測量(liang)結果(guo)存貯(zhu)到儀(yi)器內(nei)（可存儲(chu)100組(zu)測量(liang)數據）或U盤，以(yi)便(bian)日(ri)后查閱。

1.3.5實時時鐘

儀器內帶實時(shi)時(shi)鐘，實時(shi)顯示，并能記錄(lu)測量(liang)的日期和時(shi)間。

1.3.6各型號測(ce)試功能說明

B型：輕(qing)便型，高(gao)壓*大輸(shu)出電(dian)流為140mA，具有正接線、反接線功能(neng)，可(ke)(ke)選擇內(nei)/外標準電(dian)容、內(nei)/外高(gao)壓多種工作模式，一(yi)體化結構，可(ke)(ke)做各(ge)種常規介損試驗(yan)。

D型(xing)(xing)：實用(yong)型(xing)(xing)，高壓*大輸出電(dian)流為200mA，具有正接線(xian)(xian)、反接線(xian)(xian)、反接線(xian)(xian)低壓屏蔽、CVT自激(ji)法，反接線(xian)(xian)低壓屏蔽功能能在(zai)220kV CVT母(mu)線(xian)(xian)接地情況(kuang)下，對(dui)C11進行不拆(chai)線(xian)(xian)10kV反接線(xian)(xian)介(jie)(jie)損(sun)測(ce)(ce)(ce)量(liang)，并(bing)可一次接線(xian)(xian)同時測(ce)(ce)(ce)出兩(liang)個電(dian)容(rong)的電(dian)容(rong)量(liang)和介(jie)(jie)損(sun)值。CVT自激(ji)法測(ce)(ce)(ce)量(liang)時，C1/C2可一次接線(xian)(xian)同時測(ce)(ce)(ce)出，無須(xu)換線(xian)(xian)和外接任何配件，但(dan)高壓測(ce)(ce)(ce)量(liang)線(xian)(xian)需懸空吊起。

E型(xing)：標準(zhun)型(xing)，在D型(xing)基(ji)礎上(shang)增加(jia)了(le)CVT變比測試功能，同時(shi)升(sheng)級了(le)CVT自(zi)激法測試，現場CVT自(zi)激法測試時(shi)高壓測量線(xian)可(ke)拖地使(shi)用，無需(xu)吊(diao)起。

F型：增強型，功能同E型，輸出*高電壓從10kV增加(jia)至(zhi)12kV。

K型(xing)(xing)(xing)：標準型(xing)(xing)(xing)，在E型(xing)(xing)(xing)基礎上減(jian)小體(ti)積重量，設(she)備更精(jing)巧(qiao)。

S型(xing)：四(si)通(tong)道型(xing)，功能同E型(xing)，增加了(le)3個正接通(tong)道。

J型：高(gao)精(jing)度型，功(gong)能同E型，測量準確度為0.5%。

所有型(xing)號儀器(qi)均具(ju)備(bei)下述特點：

（1）支持變(bian)頻和諧振電源高電壓介損。

（2）內置串聯和并聯兩種介損測量模(mo)型，方(fang)便儀器檢定。

（3）配(pei)置熱敏打印(yin)機，使(shi)打印(yin)更加快捷(jie)、無噪音和清(qing)晰(xi)。

（4）320×240點陣大屏(ping)液晶顯示，菜單(dan)操作，測試(shi)數據豐富，自(zi)動分辨電容、電感、電阻型試(shi)品(pin)。

（5）具有外(wai)接(jie)標(biao)準(zhun)(zhun)電(dian)容器接(jie)口，可外(wai)接(jie)油(you)杯做(zuo)精密絕緣油(you)介損(sun)試驗，可外(wai)接(jie)固體(ti)材(cai)料(liao)測量電(dian)極做(zuo)精密絕緣材(cai)料(liao)介損(sun)試驗，也可外(wai)接(jie)高壓標(biao)準(zhun)(zhun)電(dian)容器做(zuo)高電(dian)壓介損(sun)試驗。

（6）帶日歷時鐘，可存(cun)儲100組(zu)測(ce)量數據。

（7）計算機(ji)接口（選配）。

2、WBJS6000精密變頻介質損耗測試儀面板說明

高(gao)(gao)壓(ya)(ya)輸(shu)出(chu)(chu)測(ce)量(liang)(liang)接(jie)地：若(ruo)出(chu)(chu)廠配置的高(gao)(gao)壓(ya)(ya)測(ce)試線有(you)接(jie)地屏(ping)(ping)蔽(bi)層，則需將高(gao)(gao)壓(ya)(ya)測(ce)量(liang)(liang)線的接(jie)地屏(ping)(ping)蔽(bi)層連接(jie)至此(ci)處，沒有(you)則留(liu)空。CVT自激法測(ce)量(liang)(liang)的高(gao)(gao)壓(ya)(ya)連線接(jie)地屏(ping)(ping)蔽(bi)層在拖(tuo)地模式下(xia)必須(xu)接(jie)地，非(fei)拖(tuo)地模式下(xia)接(jie)地屏(ping)(ping)蔽(bi)層應懸空不能(neng)接(jie)地且高(gao)(gao)壓(ya)(ya)測(ce)量(liang)(liang)線也應懸空吊起不能(neng)拖(tuo)地。

高壓輸出插座（0.5～10kV，*大200mA）

安(an)裝位置：如圖2-1所示，安(an)裝在箱體前側面(mian)。

功    能：內(nei)(nei)高(gao)壓(ya)輸(shu)出(chu)；檢測反接線試(shi)品電(dian)(dian)流；內(nei)(nei)部標準(zhun)電(dian)(dian)容器(qi)的高(gao)壓(ya)端。

接線(xian)(xian)(xian)方法：插座1腳接高(gao)(gao)(gao)壓(ya)(ya)線(xian)(xian)(xian)芯(xin)(xin)(xin)線(xian)(xian)(xian)（紅夾(jia)子），2、3腳接高(gao)(gao)(gao)壓(ya)(ya)線(xian)(xian)(xian)屏蔽(bi)(bi)(bi)（黑夾(jia)子）。正接線(xian)(xian)(xian)時(shi)，高(gao)(gao)(gao)壓(ya)(ya)線(xian)(xian)(xian)芯(xin)(xin)(xin)線(xian)(xian)(xian)（紅夾(jia)子）和屏蔽(bi)(bi)(bi)（黑夾(jia)子）都可(ke)以用作(zuo)加壓(ya)(ya)線(xian)(xian)(xian)；反(fan)接線(xian)(xian)(xian)時(shi)只能用芯(xin)(xin)(xin)線(xian)(xian)(xian)對試品高(gao)(gao)(gao)壓(ya)(ya)端加壓(ya)(ya)。如(ru)果試品高(gao)(gao)(gao)壓(ya)(ya)端有(you)屏蔽(bi)(bi)(bi)極（如(ru)高(gao)(gao)(gao)壓(ya)(ya)端的(de)屏蔽(bi)(bi)(bi)環(huan)）可(ke)接高(gao)(gao)(gao)壓(ya)(ya)屏蔽(bi)(bi)(bi)，無屏蔽(bi)(bi)(bi)時(shi)高(gao)(gao)(gao)壓(ya)(ya)屏蔽(bi)(bi)(bi)懸(xuan)空。若(ruo)配置的(de)高(gao)(gao)(gao)壓(ya)(ya)測試線(xian)(xian)(xian)有(you)接地屏蔽(bi)(bi)(bi)層(ceng)，則(ze)需將(jiang)高(gao)(gao)(gao)壓(ya)(ya)測量線(xian)(xian)(xian)的(de)接地屏蔽(bi)(bi)(bi)層(ceng)連接至圖2-1中的(de)“1”處。

注意事項：

（1）若儀(yi)器CVT自激法高(gao)(gao)壓(ya)(ya)連線(xian)具備“高(gao)(gao)壓(ya)(ya)拖(tuo)地(di)”功能，使(shi)用(yong)(yong)拖(tuo)地(di)模式(shi)(shi)測(ce)(ce)量時(shi)務必使(shi)用(yong)(yong)原(yuan)廠(chang)(chang)配置(zhi)的專用(yong)(yong)高(gao)(gao)壓(ya)(ya)電(dian)(dian)(dian)纜（原(yuan)廠(chang)(chang)電(dian)(dian)(dian)纜在出廠(chang)(chang)時(shi)已(yi)進行校準），不(bu)(bu)可使(shi)用(yong)(yong)其它高(gao)(gao)壓(ya)(ya)電(dian)(dian)(dian)纜代替(ti)，否(fou)則會引起較(jiao)大的測(ce)(ce)量誤差。CVT自激法不(bu)(bu)使(shi)用(yong)(yong)拖(tuo)地(di)模式(shi)(shi)時(shi)，高(gao)(gao)壓(ya)(ya)電(dian)(dian)(dian)纜必須懸空，接地(di)屏蔽層(ceng)也不(bu)(bu)能接地(di)！

（2）高壓插(cha)座(zuo)和高壓線有危險電壓，**禁(jin)止碰觸高壓插(cha)座(zuo)、電纜、夾子和試品帶電部(bu)位！確認斷電后接線，測量時務必遠離！

（3）用(yong)標(biao)準介損(sun)器（或標(biao)準電容器）檢定反接線精度時，應使用(yong)全屏蔽(bi)插頭(tou)連接試品，否(fou)則暴露的芯線會引起測量誤(wu)差。

（4）應保證高壓線(xian)與(yu)試品高壓端(duan)零電(dian)阻連接(jie)，否(fou)則可能引起誤差或數據波(bo)動，也可能引起儀器保護。

（5）強干(gan)擾下(xia)拆除接線(xian)時，應在(zai)保持電(dian)纜接地狀態下(xia)斷(duan)開連接，以防感應電(dian)擊。

CVT自(zi)激法低壓輸(shu)出插座（3～50V，3～30A）

功    能：由(you)該插座和圖2-1中的接地接線柱“4”輸出CVT測量的低壓(ya)變頻激勵(li)電源。

注意事(shi)項：

（1）因低壓輸(shu)出電流大，應采用(yong)儀器專用(yong)低阻線(xian)連接CVT二次繞組，接觸**會(hui)影(ying)響測量(liang)。

（2）視CVT容(rong)量從菜單選擇合適的電(dian)壓電(dian)流保護限。

（3）選(xuan)擇正(zheng)/反接(jie)線時，此輸出(chu)封閉(bi)。

測量接(jie)地：它同外(wai)殼和電(dian)源插座地線連到一起，與圖(tu)2-1的“3”一起輸出(chu)CVT測量的低壓變頻激勵電(dian)源。盡管儀(yi)器(qi)有接(jie)地保護，但無論何(he)種(zhong)測量，儀(yi)器(qi)都應(ying)可靠(kao)獨立接(jie)地以(yi)保障使(shi)用者(zhe)的**及(ji)測量結果的準確(que)。

打(da)印(yin)機：微(wei)型熱敏(min)打(da)印(yin)機，用于打(da)印(yin)測試數據。

USB：USB通信用。

RS232：與計算機聯(lian)機使用。

U盤(pan)：用于外接U盤(pan)保存數據。

試品(pin)輸入(ru)Cx插座（10μA～5A）

功    能：正接線時輸(shu)入試品電(dian)流。

接線(xian)方法：插座1腳接測量線(xian)芯線(xian)（紅夾(jia)子），2、3腳接測量線(xian)屏(ping)(ping)蔽(bi)(bi)（黑夾(jia)子）。正接線(xian)時芯線(xian)（紅夾(jia)子）接試品低壓信號端，如(ru)果試品低壓端有屏(ping)(ping)蔽(bi)(bi)極（如(ru)低壓端的屏(ping)(ping)蔽(bi)(bi)環）可接屏(ping)(ping)蔽(bi)(bi)，試品無屏(ping)(ping)蔽(bi)(bi)時屏(ping)(ping)蔽(bi)(bi)懸空。

注意事項(xiang)：

（1）測量中嚴(yan)禁拔下(xia)插頭(tou)，防止試品電(dian)流經人體入(ru)地！

（2）用(yong)標(biao)準介損器（或(huo)標(biao)準電容器）檢測儀器正接線(xian)(xian)精度時，應使用(yong)全屏蔽插頭(tou)連(lian)接試品，否則暴露的芯線(xian)(xian)會引起測量誤差。

（3）應保證引(yin)線與試(shi)品低(di)壓端0電阻連接，否則(ze)可能(neng)(neng)引(yin)起誤差(cha)或數據波動，也可能(neng)(neng)引(yin)起儀(yi)器保護。

（4）強干(gan)擾下拆除接(jie)線時(shi)，應(ying)在保(bao)持電(dian)(dian)纜接(jie)地狀態下斷開(kai)連(lian)接(jie)，以防感應(ying)電(dian)(dian)擊。

標(biao)準電容輸入(ru)Cn插座(zuo)（10μA～5A）

功(gong)    能：輸入外接標準電容器電流。

接線方法：與Cx插座類似，其區別在于：

（1）使用外部標準電容器時(shi)，應使用全屏蔽插頭連接。此方式常用于外接高(gao)電壓等級標準電容器，實(shi)現高(gao)電壓介(jie)損測量。

（2）菜單(dan)選(xuan)擇“外標(biao)準電容”方式。

（3）將外接標準(zhun)電容(rong)器(qi)(qi)的C和(he)tgδ置入儀器(qi)(qi)，實現Cx電容(rong)介損(sun)的**值(zhi)測量。

從(cong)理論(lun)上(shang)講，任何(he)容(rong)量和(he)介損的(de)電(dian)容(rong)器，將參數置(zhi)入儀器都可做(zuo)標準(zhun)電(dian)容(rong)器。不同的(de)是標準(zhun)電(dian)容(rong)器能提供更好的(de)長期穩(wen)定性和(he)精度。

（4）不管正接(jie)線(xian)還是反接(jie)線(xian)測量，標準電(dian)容器接(jie)線(xian)方式始終為正接(jie)線(xian)。

總電源開關：開關機用，可在發現(xian)異(yi)常(chang)時隨時關閉。

供電(dian)電(dian)源(yuan)插座(zuo)：接220V市電(dian)，插座(zuo)內置保險(xian)絲(si)(si)(si)座(zuo)，保險(xian)絲(si)(si)(si)規(gui)(gui)格為10A / 250V，若損壞應使(shi)用相(xiang)同(tong)規(gui)(gui)格的(de)保險(xian)絲(si)(si)(si)替(ti)換。若換用備用保險(xian)絲(si)(si)(si)后(hou)仍燒斷，可(ke)能(neng)儀器(qi)有(you)故障，可(ke)通知(zhi)廠家處理。

高壓允許開關：內置高壓系(xi)(xi)統或CVT自激法低壓輸出系(xi)(xi)統的(de)總(zong)電源開關。此開關受總(zong)電源開關控(kong)制。

按鍵(jian)：按下“↑”、“↓”、“←”、“→”鍵(jian)可移(yi)動光標和修改(gai)光標處內容，“確(que)認(ren)”鍵(jian)用于確(que)認(ren)或結(jie)束參(can)數修改(gai)，在測(ce)試(shi)界面(mian)長(chang)按該(gai)鍵(jian)可開始測(ce)量(liang)，測(ce)量(liang)過程中，按“確(que)認(ren)”鍵(jian)可終止測(ce)量(liang)。

液(ye)晶(jing)顯(xian)示(shi)屏(ping)：320×240點(dian)陣灰白背光(guang)(guang)液(ye)晶(jing)顯(xian)示(shi)屏(ping)，顯(xian)示(shi)菜單、測(ce)量(liang)結果或(huo)出(chu)錯信息。應避免(mian)長時(shi)間陽光(guang)(guang)爆曬，避免(mian)重(zhong)壓。

背光調節(jie)(jie)：液晶(jing)顯(xian)(xian)示(shi)屏顯(xian)(xian)示(shi)較暗或不清(qing)(qing)晰(xi)時(shi)可調節(jie)(jie)該電(dian)位器(qi)至合適位置使顯(xian)(xian)示(shi)明亮清(qing)(qing)晰(xi)。

指示燈：配合(he)儀器(qi)內部蜂鳴器(qi)進行測試、報警(jing)等(deng)聲光警(jing)示。

3、WBJS6000精密變頻介質損耗測試儀使用說明

3.1初始菜單界面

打開總電源開關后(hou)，系統(tong)進入初始菜單界(jie)面。

測試模(mo)式：選擇測試模(mo)式和設置各項測試參數，

歷史記錄：查看(kan)保存的歷史數據

系統設置：出廠參(can)數設置及系統時間校(xiao)準

幫    助：可查閱軟件版本等信息

取消或使(shi)用(yong)CVT自激法“高壓連線(xian)拖地”功能：

開機右下角顯示“”表示該儀器在CVT自激法測試時高壓連線具備拖地功能。

光標停留在“測試模式”處長按“→”鍵（聽到蜂鳴器聲音松手）可取消或使用拖地模式（右下角顯示“”表示當前為拖地模式），在拖地模式下必須將高壓連線的接地屏蔽層插頭接至圖2-1中的“1”（高壓測量接地）處，否則會引起測量誤差；取消拖地模式后高壓連線必須懸空吊起，同時高壓連線的接地屏蔽層插頭也應懸空，否則會引起測量誤差。

使(shi)用或取(qu)消發“發電(dian)(dian)機供電(dian)(dian)”模式：

光標停留在“測試模式”處長按“←”鍵（聽到蜂鳴器聲音松手）可使用或取消發電機供電模式（左下角顯示“”表示當前為發電機供電模式），儀器開機默認為市電供電模式，發電機模式適合使用發電機或移動電源供電環境，發電機模式下儀器將不進行接地檢測。

3.2測試模式(shi)

3.2.1 開始(shi)測試菜單界(jie)面

在初(chu)始菜單(dan)界面將光標移動到“測(ce)(ce)試(shi)模式(shi)”按(an)確(que)定(ding)按(an)鈕進入開(kai)始測(ce)(ce)試(shi)菜單(dan)界面，如(ru)圖3-2所示。

界面(mian)左(zuo)側為參數設置選項，移(yi)動光(guang)(guang)標(biao)到相關參數選項按(an)確定鍵(jian)可設置相關試驗(yan)參數，右側顯示內容為已設置好試驗(yan)參數，光(guang)(guang)標(biao)停留在“開始(shi)測試”欄長按(an)“確認(ren)” 鍵(jian)可開始(shi)測試。

界(jie)面右側“測試地(di)點”下一(yi)行為(wei)信息提(ti)示(shi)(shi)行，若內(nei)(nei)外高(gao)壓(ya)(ya)選擇有(you)(you)誤則(ze)提(ti)示(shi)(shi)“當前(qian)為(wei)內(nei)(nei)高(gao)壓(ya)(ya)模(mo)式，請(qing)開(kai)啟(qi)內(nei)(nei)高(gao)壓(ya)(ya)”或“當前(qian)為(wei)外高(gao)壓(ya)(ya)模(mo)式，請(qing)關(guan)閉(bi)內(nei)(nei)高(gao)壓(ya)(ya)”；若儀(yi)器(qi)沒有(you)(you)接地(di)則(ze)會提(ti)示(shi)(shi)“請(qing)檢(jian)查接地(di)”，當有(you)(you)錯誤提(ti)示(shi)(shi)時儀(yi)器(qi)無法正常啟(qi)動，只有(you)(you)提(ti)示(shi)(shi)“確認無誤后長按(an)確認鍵開(kai)始測試”時儀(yi)器(qi)方可啟(qi)動測試。

3.2.2 試品模型選擇菜單界面

將(jiang)光標(biao)移動(dong)(dong)到“試(shi)品模型”功(gong)能選項，界面如(ru)圖(tu)3-3所示，按(an)“確認”按(an)鈕后(hou)(hou)移動(dong)(dong)光標(biao)可選擇合適的(de)試(shi)品模型（光標(biao)移動(dong)(dong)到相應功(gong)能后(hou)(hou)按(an)確認鍵(jian)）。實(shi)驗(yan)室一般使(shi)用(yong)串聯型介(jie)損因(yin)數標(biao)準(zhun)器檢定，校驗(yan)時應使(shi)用(yong)RC串聯模型。

RC串(chuan)聯(lian)(電(dian)流比較儀(yi)型(xing)電(dian)橋)：采用電(dian)流比較儀(yi)型(xing)電(dian)橋（如QS30電(dian)橋）校準的串(chuan)聯(lian)型(xing)試品(或介質(zhi)損耗(hao)因數(shu)標準器)，該項在(zai)開始(shi)測試界面顯示"RC串(chuan)聯(lian)"。

RC串聯(西林型電橋)： 采用西林型電橋（如2801、QS1和QS37等電橋）校準的串聯型試品(或介質損耗因數標準器) ，該項在開始測試界面顯示 "RC串聯"。

RC并聯(現場使(shi)(shi)用(yong))：一(yi)般實(shi)際的電容試(shi)品可等效為RC并聯模(mo)型，建議現場試(shi)驗時使(shi)(shi)用(yong)。

采用電流比較儀型電橋和西林型電橋校準的串聯型試品(或介質損耗因數標準器)的區別只是電容量不同：為西林型電橋標定值，C為電流比較儀型電橋標定值。

3.2.3 接(jie)線方式選擇菜單界(jie)面(mian)

將光標移動(dong)(dong)到“接線方式”功能(neng)選項(xiang)，界(jie)面(mian)如圖3-4所示，按(an)“確認”按(an)鈕后移動(dong)(dong)光標可選擇合適的接線方式。

接(jie)(jie)線(xian)(xian)(xian)方式：共5種接(jie)(jie)線(xian)(xian)(xian)方式（功能因型號有差別，具體詳見(jian)型號功能說明部分），分別為：正接(jie)(jie)線(xian)(xian)(xian)、反接(jie)(jie)線(xian)(xian)(xian)、反接(jie)(jie)線(xian)(xian)(xian)低壓屏蔽、CVT自激法和變比。選擇CVT自激法測量時需(xu)同時將相關參(can)數一并(bing)設置(zhi)好。

CVT自(zi)激(ji)法測量(liang)必(bi)須打開內高壓允許(xu)開關，由(you)機內提供激(ji)勵電壓，由(you)“低(di)壓輸(shu)出(chu)”和“測量(liang)接(jie)地(di)”輸(shu)出(chu)。為(wei)**起見，CVT自(zi)激(ji)法還需要設置以(yi)下幾個保護限：

將光(guang)標移(yi)動(dong)到(dao)xxkV / xxmA / xxV / xxA，按(an)↑↓選擇(ze)合適值，選擇(ze)好后(hou)按(an)確認(ren)鍵退出。

xxkV：可選0.5/0.6/0.8/1/1.5/2/2.5/3/3.5/4kV，為高壓(ya)上限，只能使(shi)用4kV以(yi)下電壓(ya)。

xxmA：可(ke)選(xuan)10/15/20/25/30/35/40/45/50/60/70/80/100/120/140/200mA，表示待測(ce)試品的高(gao)壓電流上限。

xxV：可選3/4/5/6/7/8/9/10/12/15/20/25/30/35/40/50V，表示低(di)壓(ya)激勵電壓(ya)上限(xian)。

xxA：可選3/4/5/6/7/8/9/10/11/12/13/14/15/16/20/30A，表示低(di)壓激勵(li)電流上限。

注意：

（1）測(ce)量(liang)時4個(ge)保護(hu)限同時起(qi)作用(yong)，因此試驗高(gao)壓(ya)可(ke)能達不(bu)到設定值。如果高(gao)壓(ya)達不(bu)到保護(hu)限，可(ke)適當調整受到限制的保護(hu)限。

（2）通常測量C1時低(di)(di)壓(ya)激(ji)勵電(dian)壓(ya)可(ke)達20V，測量C2時低(di)(di)壓(ya)激(ji)勵電(dian)流(liu)可(ke)達15A。一般可(ke)設高壓(ya)電(dian)壓(ya)2～3kV，較少采用高壓(ya)電(dian)流(liu)限制，可(ke)設為*大(da)200mA。

變比測量時應選擇合適的高壓輸出使二(er)次(ci)(ci)側(ce)電壓小于120V，當二(er)次(ci)(ci)側(ce)電壓≥120V時儀器(qi)會發(fa)出聲(sheng)光報警并提(ti)示“接線錯誤”。

3.2.4 標準電容(rong)選擇菜單(dan)界面

將(jiang)(jiang)光(guang)(guang)標(biao)(biao)(biao)移動(dong)到“標(biao)(biao)(biao)準(zhun)電(dian)容”功能選(xuan)(xuan)項，界(jie)面如(ru)圖3-5所示，按“確認”按鈕后移動(dong)光(guang)(guang)標(biao)(biao)(biao)可選(xuan)(xuan)擇(ze)合適的(de)標(biao)(biao)(biao)準(zhun)電(dian)容。選(xuan)(xuan)擇(ze)外標(biao)(biao)(biao)準(zhun)電(dian)容時(shi)需(xu)同時(shi)將(jiang)(jiang)外標(biao)(biao)(biao)準(zhun)的(de)電(dian)容量和(he)介損一(yi)并設置(zhi)好。

選擇(ze)(ze)外標準電(dian)容時(shi)將(jiang)光標移(yi)動到Cn=xxxxx e x pF 和tgδ=xx.xxx%按↑↓選擇(ze)(ze)合(he)適值，選擇(ze)(ze)好后按確認鍵退出。

Cn采(cai)用(yong)科學計數(shu)法，如(ru)5.000e1=5.000×101=50.00，1.000e2=1.000×102=100.0等，范圍(wei)0.000e0～9.999e5 (即0～999900pF)。tgδ設(she)置范圍(wei)0～±9.999%。

內(nei)標(biao)準電容(rong)通(tong)常可用于正、反接線測量和CVT自激法測量，高電壓(ya)介損(sun)選用外(wai)標(biao)準方式，需要將(jiang)外(wai)接電容(rong)參數置入儀(yi)器。

3.2.5 測試頻率選擇菜單(dan)界(jie)面

測試頻(pin)率(lv)(lv)可選擇定頻(pin)或(huo)異頻(pin)，頻(pin)率(lv)(lv)選擇菜單界面如(ru)圖3-6所示，頻(pin)率(lv)(lv)選擇范圍如(ru)下：

定頻：

“50Hz”：為(wei)工頻測(ce)量(liang)，此設置(zhi)不能抗干擾，在試驗室內測(ce)量(liang)或校驗時(shi)選用。

“45/55/60/65Hz”：為單頻率測量(liang)，研究不同頻率下介(jie)損(sun)的變化(hua)時(shi)選用。

頻(pin)(pin)率(lv)自適(shi)應：外高壓測(ce)量模(mo)式下(xia)有(you)效（不能更改），系統(tong)自動識別外施高壓頻(pin)(pin)率(lv)，測(ce)試(shi)頻(pin)(pin)率(lv)無(wu)需在測(ce)試(shi)前設置。

異頻：

“45/55Hz”：為自(zi)動(dong)變(bian)頻，適(shi)合50Hz電(dian)網工(gong)頻干擾下測量。

“55/65Hz”：為(wei)自動變頻(pin)，適合60Hz電網工頻(pin)干擾下(xia)測量。

“47.5/52.5Hz”：為(wei)自動變頻，適合50Hz電網工頻干擾下測量。

3.2.6 測試(shi)電壓選擇菜單界面

內(nei)高壓(ya)可選(xuan)擇“0.5 /0.6 /0.8 /1 /1.5 /2 /2.5 /3 /3.5 /4 /4.5 /5 /5.5 /6 /6.5 /7 /7.5 /8 /8.5 /9 /9.5 /10.0kV”（F型*高輸出電壓(ya)為12kV），應根(gen)據高壓(ya)試驗(yan)規程選(xuan)擇合適(shi)的試驗(yan)電壓(ya)。

注：若(ruo)選擇(ze)“CVT自激法(fa)”測試功能，則該選項無效。CVT自激法(fa)的相關電壓參(can)數需在該功能選項下進行設(she)置。

3.2.7 測(ce)試備忘設置菜單(dan)界面(mian)

設備編號(hao)(hao)：可(ke)設置(zhi)(zhi)8位字(zi)母或(huo)數(shu)字(zi)編號(hao)(hao)，將光標移動到”設備編號(hao)(hao)”處，按確(que)認(ren)健進(jin)入設備編號(hao)(hao)設置(zhi)(zhi)，通過“←”、“→”健移動光標，通過↑↓選擇合適值(zhi)，設置(zhi)(zhi)好后按確(que)認(ren)鍵退(tui)出。

測試人員：可設置8位字母(mu)或數字編號(hao)，將光(guang)標移(yi)動到(dao)” 測試人員”處，按確認健(jian)進入測試人員設置，通(tong)過“←”、“→”健(jian)移(yi)動光(guang)標，通(tong)過↑↓選擇合適值，設置好(hao)后按確認鍵退出。

測試(shi)地(di)點(dian)：可設(she)置(zhi)8位字母或數字編號，將光(guang)標移動(dong)到”&nbsp;測試(shi)地(di)點(dian)”處，按(an)確認健進入測試(shi)地(di)點(dian)設(she)置(zhi)，通過“←”、“→”健移動(dong)光(guang)標，通過↑↓選擇合適值(zhi)，設(she)置(zhi)好后按(an)確認鍵退出。

3.2.8 測試結果界面(mian)

3.2.8.1反(fan)接法測試結果界面

測試(shi)完成(cheng)顯示結果后，可移動(dong)光標選(xuan)擇保存或打印數據。

儀器(qi)自動分(fen)辨電(dian)(dian)容、電(dian)(dian)感(gan)、電(dian)(dian)阻型試品(pin)：電(dian)(dian)容型試品(pin)顯(xian)示(shi)Cx和tgδ；電(dian)(dian)感(gan)型試品(pin)顯(xian)示(shi)Lx和Q；電(dian)(dian)阻型試品(pin)顯(xian)示(shi)Rx和附(fu)加Cx或Lx。自動選(xuan)取顯(xian)示(shi)單位。

試品為(wei)(wei)電(dian)容時：顯示(shi)數據為(wei)(wei)Cx、tgδ、Ux、Ix、Φ、f1、f2, |δ|>1則顯示(shi)電(dian)容和串/并聯(lian)電(dian)阻(zu)

試品為(wei)(wei)電(dian)感時(shi)：顯示數據為(wei)(wei)Lx、Q、Ux、Ix、Φ、f1、f2, |Q|<1則(ze)顯示電(dian)感和串聯電(dian)阻(zu)

試品(pin)為電阻時：顯示數據為Cx(Lx)、Rx、Ux、Ix、Φ、f1、f2

Cx   試品電(dian)容量[1μF=1000nF納法 / 1nF=1000pF]，如顯示10.00nF即10000pF

tgδ 介損因數[1%=0.01]

Lx   試品電感量[1MH兆亨=1000kH / 1kH=1000H]

Q    品質因數[無單位(wei)]

Rx   試品電阻值[1MΩ=1000kΩ / 1kΩ=1000Ω]

Ux   試驗電壓[1kV=1000V / 1V=1000mV]

Ix   試品(pin)電(dian)流(liu)[1A=1000mA / 1mA=1000μA]

Φ   試品電(dian)(dian)流超(chao)前試驗(yan)電(dian)(dian)壓(ya)的角(jiao)度(du)[°度(du)]或測變比時一次電(dian)(dian)壓(ya)超(chao)前二(er)次電(dian)(dian)壓(ya)的角(jiao)度(du)

K    測(ce)CVT變比時，一次電(dian)壓(ya)比二(er)次電(dian)壓(ya)

f1   頻率[Hz]，顯示(shi)**次測試頻率

f2   頻率[Hz]，顯示**次測(ce)試頻率

顯示over表(biao)示測量數(shu)據超量程。

3.2.8.2反接線低壓(ya)屏蔽(bi)測試結果界面

反接(jie)線低壓屏蔽測試一次接(jie)線可同時測出C11和C下節(jie)(下端屏蔽部(bu)分(fen))的電容(rong)量和介損(sun)值。

3.2.8.3 CVT自(zi)激法測試結果界面

CVT自(zi)激(ji)法(fa)按測(ce)量(liang)接(jie)線，與試品(pin)輸(shu)入Cx插座連(lian)接(jie)的定(ding)義為(wei)(wei)C1，與高壓線連(lian)接(jie)的為(wei)(wei)C2。U1為(wei)(wei)測(ce)量(liang)C1時的高壓，U2為(wei)(wei)測(ce)量(liang)C2時的高壓。

3.3歷史數據

進入歷(li)史數據菜單(dan)界面如圖3-12所示。

移動(dong)(dong)光(guang)(guang)(guang)標到(dao)(dao)(dao)“U盤(pan)”選(xuan)(xuan)項(xiang)(xiang)按(an)(an)“確(que)定(ding)”鍵可將數(shu)(shu)(shu)(shu)據(ju)(ju)(ju)導出到(dao)(dao)(dao)U盤(pan)，上(shang)移到(dao)(dao)(dao)“清空”選(xuan)(xuan)項(xiang)(xiang)按(an)(an)“確(que)定(ding)”鍵可清空保存的(de)全部(bu)數(shu)(shu)(shu)(shu)據(ju)(ju)(ju)。將光(guang)(guang)(guang)標移動(dong)(dong)到(dao)(dao)(dao)“>>>>”選(xuan)(xuan)項(xiang)(xiang)按(an)(an)下“確(que)定(ding)”鍵進入數(shu)(shu)(shu)(shu)據(ju)(ju)(ju)選(xuan)(xuan)擇(ze)(ze)界(jie)(jie)面(mian)，光(guang)(guang)(guang)標位置默認停留在*近保存的(de)單條(tiao)數(shu)(shu)(shu)(shu)據(ju)(ju)(ju)上(shang)，若(ruo)要(yao)查看其他數(shu)(shu)(shu)(shu)據(ju)(ju)(ju)可上(shang)下移動(dong)(dong)光(guang)(guang)(guang)標進行選(xuan)(xuan)擇(ze)(ze)，選(xuan)(xuan)擇(ze)(ze)好要(yao)查看的(de)數(shu)(shu)(shu)(shu)據(ju)(ju)(ju)后按(an)(an)“確(que)定(ding)”按(an)(an)鈕進入單條(tiao)歷史(shi)數(shu)(shu)(shu)(shu)據(ju)(ju)(ju)顯(xian)示(shi)界(jie)(jie)面(mian)。歷史(shi)數(shu)(shu)(shu)(shu)據(ju)(ju)(ju)選(xuan)(xuan)擇(ze)(ze)界(jie)(jie)面(mian)和(he)單條(tiao)歷史(shi)數(shu)(shu)(shu)(shu)據(ju)(ju)(ju)顯(xian)示(shi)界(jie)(jie)面(mian)如圖3-13和(he)圖3-14所示(shi)。

進入單條(tiao)歷史數(shu)據(ju)顯示(shi)界面后，在左側(ce)功能(neng)選項(xiang)區上下移動光標可選擇打印、刪除本條(tiao)數(shu)據(ju)和退出單條(tiao)歷史數(shu)據(ju)顯示(shi)界面。

3.4系統設置

進(jin)入系統(tong)設置(zhi)菜單(dan)可進(jin)行系統(tong)時間(jian)校準，“出廠(chang)設置(zhi)”參數(shu)禁止用戶修(xiu)改，只(zhi)允許生產廠(chang)家(jia)進(jin)行出廠(chang)參數(shu)設置(zhi)。

3.5幫助

可查看儀(yi)器的(de)相關操(cao)作(zuo)指導(dao)。

3.6啟動(dong)測(ce)量(liang)

進入測試界面設置(zhi)好(hao)各(ge)項試驗參數后(hou)，將光(guang)標移動到(dao)“開始測試”功能選項上，按住“確認”鍵3s以上啟(qi)動測量。

啟動測(ce)(ce)量(liang)后發出(chu)聲(sheng)光報警；在測(ce)(ce)試過程中會實時顯示測(ce)(ce)試相關(guan)參數(shu)（電壓、電流、頻率、電容量(liang)等參數(shu)）和測(ce)(ce)量(liang)進程(0%～99%)。

測(ce)量(liang)中按“確(que)認”鍵可取消測(ce)量(liang)，遇緊急情(qing)況立即關閉(bi)總電源。

測量(liang)過程結束，儀(yi)器自動降壓后再(zai)顯(xian)示結果。

3.7對比(bi)度(du)調節(jie)

液晶顯(xian)示屏(ping)(ping)的對比度已在出(chu)廠(chang)時校(xiao)好，如果(guo)您感覺不夠(gou)清(qing)晰(xi)，調整面板上的電位(wei)器使(shi)液晶顯(xian)示屏(ping)(ping)顯(xian)示內容清(qing)晰(xi)為止。

4、參考接線

4.1常規正(zheng)(zheng)接線（正(zheng)(zheng)接線、內標準電容、內高壓）

4.2常(chang)規反(fan)接(jie)線（反(fan)接(jie)線、內標準電容、內高壓(ya)）

4.3正接線、外標準電容(rong)、內高壓

4.4反(fan)接(jie)線(xian)、外標(biao)準(zhun)電容(rong)、內高壓

4.5正接線(xian)、內標準電(dian)容、外高壓

4.6反接線、內標準電(dian)容、外高(gao)壓

4.7正接(jie)線(xian)、外(wai)標準電容、外(wai)高壓(ya)（高電壓(ya)介損）

4.8反接線、外(wai)(wai)標準電容、外(wai)(wai)高壓

4.9反接線低壓屏蔽

可在220kV CVT母線(xian)(xian)(xian)(xian)接地(di)情(qing)況下(xia)(xia)，對C11進行不(bu)拆(chai)線(xian)(xian)(xian)(xian)10kV反接線(xian)(xian)(xian)(xian)介損測(ce)(ce)量(liang)。如下(xia)(xia)圖所示：母線(xian)(xian)(xian)(xian)掛地(di)線(xian)(xian)(xian)(xian)，C11上端(duan)不(bu)拆(chai)線(xian)(xian)(xian)(xian)，C11下(xia)(xia)端(duan)接高壓(ya)(ya)線(xian)(xian)(xian)(xian)芯(xin)線(xian)(xian)(xian)(xian)，C2末端(duan)δ和X接Cx芯(xin)線(xian)(xian)(xian)(xian)。這樣C12和C2被低壓(ya)(ya)屏(ping)蔽，儀器采用反接線(xian)(xian)(xian)(xian)低壓(ya)(ya)屏(ping)蔽測(ce)(ce)量(liang)方式(shi)，可同時測(ce)(ce)出C11和下(xia)(xia)端(duan)被屏(ping)蔽部分的(de)電容量(liang)和介損值。

4.10 CVT自激法

高壓(ya)線(xian)(xian)(xian)芯線(xian)(xian)(xian)接C2下端，Cx芯線(xian)(xian)(xian)接C12上端。在CVT 自激法測量(liang)中，儀器先測量(liang)C12，然后自動倒線(xian)(xian)(xian)測量(liang)C2，并自動校準分(fen)壓(ya)影響。

1）D型高(gao)壓連(lian)線(xian)不可拖(tuo)地(di)，高(gao)壓線(xian)應懸空不能接(jie)(jie)觸地(di)面（高(gao)壓線(xian)的接(jie)(jie)地(di)屏(ping)蔽層插(cha)頭必須懸空），否則其對地(di)附加介損會(hui)引起(qi)(qi)誤差，可用細電(dian)纜(lan)連(lian)接(jie)(jie)高(gao)壓插(cha)座與(yu)CVT試(shi)品并吊起(qi)(qi)。

2）E、F、S、J型高壓連線可拖地使用，在開機初始界面（圖3-1界面），光標停留在“測試模式”處長按“→”鍵（聽到蜂鳴器聲音松手）可取消或使用拖地模式（右下角顯示“”表示當前為拖地模式），在拖地模式下必須將高壓連線的接地屏蔽層插頭接至圖2-1中的“1”（高壓測量接地）處，否則會引起測量誤差；取消拖地模式后高壓連線必須懸空吊起，高壓連線的接地屏蔽層插頭也應懸空，否則會引起測量誤差。拖地模式下的高壓連線必須使用原廠配置的電纜（已校準），否則會引起測量誤差！

4.11 CVT變比測試

儀(yi)器高壓(ya)線的芯線紅夾(jia)(jia)子接(jie)CVT的上端，母線拆地(di)，CVT下端接(jie)地(di)，低壓(ya)線紅黑夾(jia)(jia)子接(jie)二(er)次(ci)繞組。

5、常見CVT的參(can)考(kao)測量方法

目前常(chang)見的(de)電容式電壓互(hu)感(gan)器可分為110kV、220kV、500kV等不(bu)同電壓等級，一般110kV的(de)CVT其(qi)(qi)C1就一節(jie)，220kV的(de)CVT其(qi)(qi)C1有兩節(jie)，而(er)500kV的(de)CVT其(qi)(qi)C1有三節(jie)。

5.1  500kV CVT的測(ce)量方法

1）C11的(de)測(ce)量方法

按圖5-1標(biao)明的方式接線，測量C11時應(ying)注意：

◇ 拆(chai)開δ端，X端一(yi)定(ding)要(yao)接地

◇ a點(dian)接(jie)紅(hong)(hong)色(se)高壓(ya)測試線(xian)的芯線(xian)（紅(hong)(hong)夾(jia)子），b點(dian)接(jie)紅(hong)(hong)色(se)高壓(ya)測試線(xian)的高壓(ya)屏蔽層（黑夾(jia)子）

2）C12的測(ce)量方法

按(an)圖(tu)5-2標(biao)明(ming)的方式接線，測量(liang)C12時(shi)注(zhu)意(yi)：

◇ 拆開(kai)δ端，X端一定要接地

◇ a點接紅(hong)(hong)色高壓測試(shi)線(xian)芯線(xian)（紅(hong)(hong)夾子(zi)），b點接黑色低壓測試(shi)線(xian)芯線(xian)（紅(hong)(hong)夾子(zi)）

3）C13和C2的測量方法

儀(yi)器(qi)設有專門的(de)(de)(de)CVT自(zi)激(ji)法，不需外加任何其它設備，就可以(yi)完成測(ce)(ce)試。按圖5-3標(biao)明的(de)(de)(de)方(fang)式(shi)接線，儀(yi)器(qi)選(xuan)用CVT自(zi)激(ji)法測(ce)(ce)量(liang)(liang)方(fang)式(shi)，試驗電壓(ya)可設置為2kV，CVT自(zi)激(ji)法能一次測(ce)(ce)量(liang)(liang)C13和(he)(he)C2兩個(ge)電容的(de)(de)(de)介損和(he)(he)電容量(liang)(liang)。

5.2  220kV CVT的測量方法(fa)

1）C11的測(ce)量方(fang)法

按圖5-4標明的方式接線，測量C11時注意：

◇ δ和X相連，與接地分(fen)開。

◇ a點(dian)接紅色高(gao)壓測試線(xian)的(de)芯(xin)線(xian)（紅夾子），C2末端δ和X 接Cx端芯(xin)線(xian)，這樣C12與C2就被低壓屏蔽(bi)了。

2）C12和C2的(de)測量(liang)方法

儀器設有專門的(de)CVT自(zi)(zi)激法(fa)，不需外加任(ren)何其它設備(bei)，就可(ke)以完(wan)成測(ce)試(shi)(shi)。按圖5-5標明的(de)方式(shi)接線，儀器選(xuan)用CVT自(zi)(zi)激法(fa)測(ce)量方式(shi)，試(shi)(shi)驗電壓(ya)可(ke)設置為2kV，CVT自(zi)(zi)激法(fa)能一(yi)次測(ce)量C12和(he)C2兩個電容的(de)介損和(he)電容量。

5.3  110kV CVT的測量方法

儀器設(she)有專門的CVT自(zi)激(ji)(ji)法，不需外加任何其它設(she)備，就(jiu)可(ke)以(yi)完成(cheng)測(ce)試。按圖5-6標明的方式(shi)接線，儀器選用CVT自(zi)激(ji)(ji)法測(ce)量(liang)方式(shi)，試驗(yan)電(dian)壓可(ke)設(she)置為2kV，CVT自(zi)激(ji)(ji)法能(neng)一(yi)次(ci)測(ce)量(liang)C13和C2兩個電(dian)容(rong)(rong)的介損(sun)和電(dian)容(rong)(rong)量(liang)。

6、現(xian)場試(shi)驗注意事項

如果使用中出現(xian)測(ce)試數據明(ming)顯不(bu)合理，請從以下方面查(cha)找(zhao)原因：

6.1搭鉤接觸**

現(xian)場測(ce)量使用搭(da)鉤連接試品(pin)時，搭(da)鉤務必與(yu)試品(pin)接觸(chu)良好，否則接觸(chu)點放電(dian)會引起(qi)數據嚴(yan)重波動！尤其是引流線氧化層太厚(hou)，或風吹線擺動，易(yi)造成接觸(chu)**。

6.2接(jie)地接(jie)觸(chu)**

接地(di)**會(hui)引起(qi)儀器保護或數據嚴重波動(dong)。應刮凈接地(di)點上的(de)油漆和銹蝕，務(wu)必保證0電阻接地(di)！

6.3直接(jie)測(ce)量CVT或末端屏蔽法測(ce)量電磁式PT

直接測量CVT的下節耦合電容會出現負(fu)(fu)介損(sun)，消除負(fu)(fu)介損(sun)可(ke)采取下述措(cuo)施或改用CVT自激法測量：

1）測試時測量(liang)儀(yi)器的接(jie)地端直接(jie)接(jie)在被試品的金(jin)屬底座上，并保證接(jie)觸良好(hao)。

2）條(tiao)件允許(xu)時盡可能將非(fei)被(bei)試(shi)繞組短接，以減小電(dian)感和(he)鐵心損耗的影響。

3）被試品周圍(wei)不應有鐵架(jia)(jia)、腳手架(jia)(jia)、木梯等物體，盡可(ke)能減小(xiao)分布阻(zu)抗的影響(xiang)。

4）試驗(yan)引線(xian)與被試品的夾(jia)角應盡可能(neng)接近(jin)90°，以減小線(xian)與試品間的分布電容。

用末端屏蔽法測量電磁式PT時，由于受潮引起(qi)“T形網絡干擾(rao)”出現負介(jie)損(sun)，吹干下面三裙瓷套和接(jie)線端子(zi)盤即可(ke)。也可(ke)改用常(chang)規(gui)法或末端加壓(ya)法測量。

6.4空(kong)氣濕度過大

空氣濕度大使介損測量值異常增大（或減小甚至為負(fu)）且不穩定，必要時可(ke)加屏蔽環(huan)。因人為加屏蔽環(huan)改變(bian)了試品電場分(fen)布，此(ci)法有(you)爭議，可(ke)參照(zhao)有(you)關規程。

6.5發電機供電

發電機供電時可采用(yong)定頻(pin)50Hz模式工作(zuo)。

6.6測試線

1）由于長期(qi)使用(yong)，易(yi)造成測試線(xian)隱性斷路，或(huo)芯線(xian)和屏(ping)蔽短路，或(huo)插頭(tou)接觸**，用(yong)戶(hu)應經常維護(hu)測試線(xian)。

2）測試(shi)標準(zhun)電(dian)容試(shi)品時，應使用全屏蔽插頭連接，以消除附加雜(za)散電(dian)容影響，否(fou)則不能反映儀器精度。

3）自激法測(ce)量(liang)CVT時(shi)，若(ruo)使(shi)用“高(gao)壓連(lian)線拖地”功能，請務(wu)必使(shi)用原(yuan)廠配置(zhi)的專用高(gao)壓電纜(lan)（原(yuan)廠電纜(lan)在出廠時(shi)已進(jin)行校準），高(gao)壓連(lian)線的接地屏蔽層(ceng)必須接地，不可使(shi)用其它高(gao)壓電纜(lan)代(dai)替(ti)，否則會引(yin)起(qi)較大的測(ce)量(liang)誤差(cha)。若(ruo)拖地模(mo)式下測(ce)量(liang)誤差(cha)較大，則需將專用高(gao)壓電纜(lan)返(fan)廠重新進(jin)行校準。

4）自激法(fa)測(ce)(ce)量CVT時，非專用(yong)(yong)(yong)的(de)高壓線應吊起懸(xuan)空，否則對地(di)附加雜散電(dian)容和(he)介損會引起測(ce)(ce)量誤(wu)差(cha)。使(shi)用(yong)(yong)(yong)專用(yong)(yong)(yong)電(dian)纜(lan)在非拖地(di)模式下測(ce)(ce)量CVT，高壓電(dian)纜(lan)也應懸(xuan)空且電(dian)纜(lan)的(de)接(jie)地(di)屏蔽層不(bu)能接(jie)地(di)，否則會引起較大的(de)測(ce)(ce)量誤(wu)差(cha)。

6.7工作(zuo)模式選擇(ze)

接(jie)好線后請選擇正確的測(ce)量工作模(mo)式，不可選錯。特別是(shi)干(gan)擾環境下(xia)應(ying)選用變頻(pin)抗干(gan)擾模(mo)式。

6.8試驗方法影響(xiang)

由于介(jie)損(sun)測量受試(shi)驗方(fang)法影(ying)響較大，應(ying)區分(fen)是試(shi)驗方(fang)法誤(wu)差還是儀(yi)器誤(wu)差。出現問題時可首先檢查接線，然后(hou)檢查是否為儀(yi)器故障(zhang)。

6.9儀器故障

1）用(yong)萬用(yong)表測量一下(xia)測試線是(shi)否斷路，或芯線和屏蔽是(shi)否短路；

2）輸入電源220V過(guo)高或過(guo)低；接(jie)地是否(fou)良好；

3）用正(zheng)、反接線(xian)測(ce)一下標準電容器(qi)或已知容量和介損的電容試品(pin)，如果結果正(zheng)確(que)，即可判(pan)斷(duan)儀器(qi)沒有問題；

4）拔(ba)下(xia)所有(you)測(ce)試(shi)導線，進行空試(shi)升壓(ya)，若不(bu)能正常工作，儀器可能有(you)故障。

7、儀器檢定

7.1檢(jian)定

用帶插頭的(de)屏蔽電纜連接標準(zhun)損耗(hao)器。如果(guo)不能(neng)保證標準(zhun)損耗(hao)器的(de)精(jing)度，應使用比對法(fa)檢定，建議用2801電橋(qiao)或其它精(jing)密電橋(qiao)作(zuo)比對標準(zhun)。

1）介質損耗因(yin)數標(biao)準器一(yi)般為串聯(lian)模(mo)型(xing)，因(yin)此儀器的試品模(mo)型(xing)應選擇“RC串聯(lian)(電流比較儀型(xing)電橋)”或“RC串聯(lian)(西林型(xing)電橋)”。

RC串聯(lian)(電流比(bi)較(jiao)儀(yi)型電橋)：采用電流比(bi)較(jiao)儀(yi)型電橋（如QS30電橋）校準(zhun)的串聯(lian)型試品(或(huo)介質損(sun)耗因(yin)數標準(zhun)器)，該項在開始測試界面顯(xian)示"RC串聯(lian)"。

RC串聯(西林型電橋)： 采用西林型電橋（如2801、QS1和QS37等電橋）校準的串聯型試品(或介質損耗因數標準器) ，該項在開始測試界面顯示 "RC串聯"。

采用電流(liu)比較儀型(xing)(xing)電橋和西(xi)林型(xing)(xing)電橋校準的(de)串(chuan)聯(lian)型(xing)(xing)試品(或介(jie)質損耗(hao)因數標準器)的(de)區別(bie)只(zhi)是電容量不同：

為西林型電橋標定值，C為電流比較儀型電橋標定值。

2）用介(jie)質損耗(hao)因(yin)數標(biao)準(zhun)器（或標(biao)準(zhun)電容(rong)器）檢(jian)定儀器反接線精度時，高壓電纜與試品(pin)連接必須使用全(quan)屏蔽(bi)插頭，否則暴露的芯線會引起(qi)測量誤差(cha)。

3）用介(jie)質損耗因數標準器(qi)（或(huo)標準電容器(qi)）檢定(ding)儀(yi)器(qi)正接線精度時，低壓電纜與試品連接必(bi)須使用全屏蔽插頭(tou)，否則暴露的芯線會引起測量誤差。

嚴格按照上(shang)述要(yao)求檢(jian)定方能(neng)真實(shi)反(fan)映本(ben)儀器的測量精度！

7.2抗干擾(rao)能(neng)力

設置一個(ge)回(hui)路向儀器注入定量的干擾(rao)電流(liu)。

注意：

1）應考慮到該(gai)回路可能成為(wei)試品的一部分。

2）儀器(qi)啟動(dong)后(hou)會使(shi)220V供電(dian)電(dian)路帶有測量(liang)頻率(lv)分量(liang)，如果該頻率(lv)分量(liang)又通過干擾電(dian)流(liu)進(jin)入(ru)儀器(qi)，則(ze)無法檢(jian)驗(yan)儀器(qi)的抗干擾能力。

3）不建議(yi)用臨近(jin)高壓導體施加干(gan)擾，因為(wei)這樣(yang)很容易(yi)產(chan)生近(jin)距離**放(fang)電(dian)，這種放(fang)電(dian)電(dian)阻(zu)是非(fei)線性的(de)，容易(yi)產(chan)生同頻干(gan)擾。