1、WBJS6000變頻精密介質損耗測試儀特點(dian)及(ji)性能

介損絕(jue)緣試驗(yan)可以(yi)有效地發現電器設備絕(jue)緣的(de)整體受(shou)潮劣化(hua)變質以(yi)及(ji)局部(bu)缺陷等(deng)，在電工制造、電氣(qi)設備安裝、交(jiao)接和(he)預防性試驗(yan)中都廣泛應用。

介質損(sun)耗測(ce)量(liang)(liang)儀用于現(xian)場(chang)介損(sun)測(ce)量(liang)(liang)或試(shi)驗室精(jing)密介損(sun)測(ce)量(liang)(liang)。儀器(qi)為一(yi)體(ti)化結(jie)構，內置(zhi)介損(sun)電橋、變頻電源、試(shi)驗變壓器(qi)和標準電容器(qi)等。儀器(qi)采用變頻抗干擾和傅(fu)立葉(xie)變換數(shu)字濾波技(ji)術，全(quan)自動智(zhi)能化測(ce)量(liang)(liang)，強干擾下測(ce)量(liang)(liang)數(shu)據非常(chang)穩定(ding)。測(ce)量(liang)(liang)結(jie)果由大屏幕液晶顯示(shi)，儀器(qi)自帶微(wei)型打印機可(ke)打印輸出(chu)測(ce)試(shi)結(jie)果。

1.1主(zhu)要(yao)技術指標(biao)

額(e)定工作條件：環(huan)境溫度  -10℃～50℃

相對濕度  <85%阿

輸(shu)入電(dian)源：    180V～270VAC，50Hz/60Hz±1%，市電(dian)或發電(dian)機供(gong)電(dian)

準(zhun)確度：      Cx: ±（讀數(shu)×1%+1pF）

tgδ: ±（讀數×1%+0.00040）

抗干(gan)擾(rao)指標： &nbsp; 變頻抗干(gan)擾(rao)，在200%干(gan)擾(rao)下仍能達到上述準確度

電容量(liang)范圍：   內施高(gao)壓：3pF～60000pF/10kV    60pF～1μF/0.5kV

外施高(gao)壓：3pF～1.5μF/10kV  &nbsp;   60pF～30μF/0.5kV

分辨率(lv)：       *高(gao)0.001pF，4位有效數(shu)字

tgδ范圍：     不限(xian)，分辨率0.001%，電容、電感、電阻三種試品(pin)自動識(shi)別。

試驗(yan)電(dian)流范圍： 10μA～5A

內施高(gao)壓：    設定電壓范圍：0.5～10kV

*大輸出電流(liu)：200mA

升(sheng)降壓方(fang)式：連(lian)續平(ping)滑調節(jie)

電壓精度(du)：±(1.0%×讀數+10V)

電壓分辨率(lv)：0.1V

試驗頻率(lv)：45、50、55、60、65Hz 單頻

45/55Hz、55/65Hz、47.5/52.5Hz 自動雙變頻

頻(pin)率精度(du)：±0.01Hz

外施高壓：    正(zheng)、反接線時*大(da)試(shi)驗(yan)電流5A

CVT自(zi)激(ji)法低壓(ya)輸出(chu)：輸出(chu)電(dian)壓(ya)3～50V，輸出(chu)電(dian)流3～30A

高(gao)電壓(ya)介損(sun)：  支持變頻和諧振(zhen)電源高(gao)電壓(ya)介損(sun)

實時時鐘：    實時顯示時間(jian)和日期

內(nei)部存儲：&nbsp;   儀器內(nei)部可(ke)存儲100組測量數據

U盤： &nbsp;     &nbsp;支持U盤存儲

打(da)印機：   &nbsp; &nbsp;微型熱(re)敏打(da)印機

計算機接口(kou)：  標(biao)準RS232接口(kou)（選配）

尺寸重量(liang)：    K型：外(wai)形尺寸368mm×288mm×280mm；主(zhu)機重量(liang)22kg。

其他款型：外形尺寸430mm×314mm×334mm；主機(ji)重量30kg。

注：上述為(wei)E型主要技(ji)術指標，其它型號技(ji)術指標詳見本章(zhang)節(jie)“1.3.6各型號測試功能說明”。

1.2 WBJS6000變頻精密介質損耗測試儀系列型號功能列表

1.3 WBJS6000變頻精密介質損耗測試儀主要功能特點

1.3.1 變頻抗(kang)干擾

采用變頻抗干擾(rao)(rao)技術(shu)，在200%干擾(rao)(rao)下(xia)仍能準確測量，測試數據(ju)穩(wen)定，適合在現場(chang)做抗干擾(rao)(rao)介損試驗(yan)。

1.3.2高精(jing)度測量

采用數(shu)字(zi)波(bo)形(xing)分析(xi)和電(dian)橋(qiao)自校準等技術，配合高(gao)精(jing)度三端標(biao)準電(dian)容(rong)(rong)器，實現高(gao)精(jing)度介損(sun)測量。儀器所有量程輸入電(dian)阻低(di)于2Ω，消除(chu)了測量電(dian)纜附加電(dian)容(rong)(rong)的影響。

1.3.3**措(cuo)施

高(gao)(gao)壓(ya)保護：試(shi)品短(duan)路、擊穿或高(gao)(gao)壓(ya)電(dian)流波動(dong)，能以短(duan)路方(fang)式高(gao)(gao)速切斷輸(shu)出(chu)。

供電(dian)(dian)保(bao)護(hu)：誤(wu)接380V、電(dian)(dian)源波動或突然(ran)斷(duan)電(dian)(dian)，啟動保(bao)護(hu)，不(bu)會引起過電(dian)(dian)壓。

接(jie)(jie)地(di)保(bao)護：具有接(jie)(jie)地(di)檢(jian)測功能，未接(jie)(jie)地(di)時不(bu)能升壓，若測量(liang)過程中(zhong)儀器接(jie)(jie)地(di)**則啟動接(jie)(jie)地(di)保(bao)護。

CVT 保(bao)護(hu)：高壓(ya)(ya)側電(dian)壓(ya)(ya)和(he)電(dian)流(liu)、低壓(ya)(ya)側電(dian)壓(ya)(ya)和(he)電(dian)流(liu)四個保(bao)護(hu)限制(zhi)，不(bu)會損壞設備；誤選菜(cai)單不(bu)會輸出激磁電(dian)壓(ya)(ya)。CVT測(ce)量(liang)時無10kV高壓(ya)(ya)輸出。

防誤操作(zuo)：兩級電源(yuan)開關；電壓(ya)(ya)、電流實時監視；多次(ci)按鍵(jian)確(que)認；接線端子高/低壓(ya)(ya)分明；慢速升壓(ya)(ya)，可迅(xun)速降壓(ya)(ya)，聲光報警。

防“容升(sheng)”：測量大容量試(shi)品時會出現電壓(ya)(ya)抬高的“容升(sheng)”效應(ying)，儀(yi)器能自(zi)動跟蹤輸出電壓(ya)(ya)，保持(chi)試(shi)驗電壓(ya)(ya)恒定。

高(gao)壓電(dian)纜(lan)：為(wei)耐高(gao)壓絕(jue)緣導線(xian)，可拖地使(shi)用。

抗震性能：儀器(qi)采用(yong)獨特(te)抗震設計，可耐受強烈長途運輸震動(dong)、顛簸(bo)而不會損壞。

1.3.4打印存儲

儀器自(zi)帶微型打印機，可(ke)以將測量(liang)結(jie)果打印輸出，并將測量(liang)結(jie)果存(cun)貯到儀器內（可(ke)存(cun)儲100組測量(liang)數據）或(huo)U盤(pan)，以便日后查(cha)閱。

1.3.5實時時鐘

儀器內帶實時(shi)(shi)時(shi)(shi)鐘(zhong)，實時(shi)(shi)顯示，并(bing)能(neng)記錄(lu)測量的日(ri)期(qi)和時(shi)(shi)間。

1.3.6各型號測試功(gong)能說(shuo)明

B型：輕便型，高壓*大輸(shu)出(chu)電(dian)流為140mA，具有(you)正(zheng)接線(xian)、反接線(xian)功能，可選(xuan)擇內(nei)/外(wai)標準電(dian)容、內(nei)/外(wai)高壓多種(zhong)(zhong)工(gong)作模式，一(yi)體化結構，可做各(ge)種(zhong)(zhong)常規介(jie)損試(shi)驗。

D型：實(shi)用型，高壓*大(da)輸出電(dian)流為(wei)200mA，具有(you)正接(jie)(jie)(jie)線(xian)(xian)、反(fan)接(jie)(jie)(jie)線(xian)(xian)、反(fan)接(jie)(jie)(jie)線(xian)(xian)低(di)(di)壓屏(ping)蔽(bi)、CVT自激(ji)法，反(fan)接(jie)(jie)(jie)線(xian)(xian)低(di)(di)壓屏(ping)蔽(bi)功能(neng)(neng)能(neng)(neng)在220kV CVT母線(xian)(xian)接(jie)(jie)(jie)地情(qing)況下，對(dui)C11進行不(bu)拆線(xian)(xian)10kV反(fan)接(jie)(jie)(jie)線(xian)(xian)介損(sun)測(ce)(ce)量，并可一次(ci)接(jie)(jie)(jie)線(xian)(xian)同(tong)時測(ce)(ce)出兩個電(dian)容的電(dian)容量和(he)(he)介損(sun)值。CVT自激(ji)法測(ce)(ce)量時，C1/C2可一次(ci)接(jie)(jie)(jie)線(xian)(xian)同(tong)時測(ce)(ce)出，無須換線(xian)(xian)和(he)(he)外(wai)接(jie)(jie)(jie)任何配件，但(dan)高壓測(ce)(ce)量線(xian)(xian)需懸空(kong)吊起。

E型：標準型，在(zai)D型基礎(chu)上(shang)增加了(le)CVT變(bian)比測(ce)試功能，同(tong)時(shi)(shi)升級了(le)CVT自(zi)激(ji)法(fa)(fa)測(ce)試，現場CVT自(zi)激(ji)法(fa)(fa)測(ce)試時(shi)(shi)高(gao)壓測(ce)量線(xian)可拖地使用，無需(xu)吊起。

F型(xing)：增強型(xing)，功(gong)能同E型(xing)，輸出(chu)*高電壓從10kV增加至12kV。

K型：標準型，在E型基(ji)礎上減小(xiao)體積重量，設備更(geng)精巧(qiao)。

S型：四通(tong)道(dao)型，功(gong)能同E型，增加了3個(ge)正接(jie)通(tong)道(dao)。

J型(xing)：高(gao)精(jing)度型(xing)，功能同E型(xing)，測(ce)量準確度為0.5%。

所(suo)有型號儀器均具備下述特點：

（1）支持變(bian)頻和諧振(zhen)電源(yuan)高電壓介(jie)損。

（2）內置串(chuan)聯和并聯兩種(zhong)介損測量(liang)模型，方便(bian)儀器檢(jian)定。

（3）配置(zhi)熱敏打印機，使打印更加(jia)快(kuai)捷(jie)、無噪音和(he)清晰(xi)。

（4）320×240點陣大(da)屏液(ye)晶顯示，菜單操作(zuo)，測試(shi)數據豐富，自動分辨電容、電感(gan)、電阻型試(shi)品。

（5）具有外接(jie)標(biao)(biao)準(zhun)電(dian)容器接(jie)口(kou)，可外接(jie)油杯(bei)做(zuo)精密絕(jue)緣(yuan)油介(jie)損(sun)試(shi)驗，可外接(jie)固體材料測量電(dian)極做(zuo)精密絕(jue)緣(yuan)材料介(jie)損(sun)試(shi)驗，也可外接(jie)高(gao)壓標(biao)(biao)準(zhun)電(dian)容器做(zuo)高(gao)電(dian)壓介(jie)損(sun)試(shi)驗。

（6）帶日歷時鐘(zhong)，可存儲100組測量(liang)數(shu)據(ju)。

（7）計(ji)算機接口（選配）。

2、WBJS6000變頻精密介質損耗測試儀面板說明

高(gao)壓(ya)輸出測(ce)量(liang)接(jie)(jie)(jie)地(di)(di)(di)：若出廠配置的高(gao)壓(ya)測(ce)試線有(you)接(jie)(jie)(jie)地(di)(di)(di)屏蔽層，則(ze)需(xu)將高(gao)壓(ya)測(ce)量(liang)線的接(jie)(jie)(jie)地(di)(di)(di)屏蔽層連接(jie)(jie)(jie)至此(ci)處，沒有(you)則(ze)留空(kong)(kong)。CVT自(zi)激法測(ce)量(liang)的高(gao)壓(ya)連線接(jie)(jie)(jie)地(di)(di)(di)屏蔽層在拖地(di)(di)(di)模式(shi)下必(bi)須接(jie)(jie)(jie)地(di)(di)(di)，非拖地(di)(di)(di)模式(shi)下接(jie)(jie)(jie)地(di)(di)(di)屏蔽層應(ying)懸空(kong)(kong)不能(neng)接(jie)(jie)(jie)地(di)(di)(di)且高(gao)壓(ya)測(ce)量(liang)線也應(ying)懸空(kong)(kong)吊起不能(neng)拖地(di)(di)(di)。

高壓輸出插座（0.5～10kV，*大200mA）

安裝位置：如圖2-1所示，安裝在(zai)箱體前側面。

功(gong)    能：內高壓(ya)輸出；檢測反接線試(shi)品電(dian)流；內部標準電(dian)容器的高壓(ya)端。

接(jie)線(xian)(xian)方法：插座1腳(jiao)(jiao)接(jie)高(gao)(gao)(gao)壓線(xian)(xian)芯線(xian)(xian)（紅(hong)夾子），2、3腳(jiao)(jiao)接(jie)高(gao)(gao)(gao)壓線(xian)(xian)屏(ping)蔽(bi)（黑夾子）。正(zheng)接(jie)線(xian)(xian)時(shi)，高(gao)(gao)(gao)壓線(xian)(xian)芯線(xian)(xian)（紅(hong)夾子）和(he)屏(ping)蔽(bi)（黑夾子）都(dou)可以用作加(jia)壓線(xian)(xian)；反接(jie)線(xian)(xian)時(shi)只能用芯線(xian)(xian)對試品高(gao)(gao)(gao)壓端加(jia)壓。如(ru)果試品高(gao)(gao)(gao)壓端有屏(ping)蔽(bi)極（如(ru)高(gao)(gao)(gao)壓端的屏(ping)蔽(bi)環）可接(jie)高(gao)(gao)(gao)壓屏(ping)蔽(bi)，無屏(ping)蔽(bi)時(shi)高(gao)(gao)(gao)壓屏(ping)蔽(bi)懸空。若配置的高(gao)(gao)(gao)壓測(ce)試線(xian)(xian)有接(jie)地(di)屏(ping)蔽(bi)層，則需將高(gao)(gao)(gao)壓測(ce)量線(xian)(xian)的接(jie)地(di)屏(ping)蔽(bi)層連接(jie)至圖2-1中的“1”處。

注(zhu)意(yi)事項：

（1）若儀器CVT自激法高(gao)壓(ya)連線具備(bei)“高(gao)壓(ya)拖(tuo)地(di)”功能(neng)，使用(yong)拖(tuo)地(di)模式測量時(shi)務必使用(yong)原(yuan)廠配(pei)置的專用(yong)高(gao)壓(ya)電(dian)(dian)(dian)纜（原(yuan)廠電(dian)(dian)(dian)纜在出(chu)廠時(shi)已進行校準），不可使用(yong)其它高(gao)壓(ya)電(dian)(dian)(dian)纜代(dai)替，否則會(hui)引起較大的測量誤差。CVT自激法不使用(yong)拖(tuo)地(di)模式時(shi)，高(gao)壓(ya)電(dian)(dian)(dian)纜必須懸空(kong)，接(jie)地(di)屏蔽層(ceng)也不能(neng)接(jie)地(di)！

（2）高壓插座和高壓線有(you)危險電(dian)壓，**禁止碰觸高壓插座、電(dian)纜、夾子(zi)和試(shi)品(pin)帶電(dian)部(bu)位！確認斷電(dian)后接線，測量時(shi)務必遠離！

（3）用(yong)標準(zhun)介損器(qi)（或標準(zhun)電容器(qi)）檢定反接線精度時，應使用(yong)全屏蔽(bi)插頭連接試品(pin)，否則暴露的(de)芯(xin)線會引(yin)起測(ce)量誤差。

（4）應(ying)保證(zheng)高壓線與試品高壓端零(ling)電阻連(lian)接，否則可能引起誤(wu)差或數據波動，也(ye)可能引起儀器保護。

（5）強干(gan)擾下(xia)拆除接(jie)線時，應(ying)在保持(chi)電(dian)纜接(jie)地狀(zhuang)態下(xia)斷開連接(jie)，以防感應(ying)電(dian)擊。

CVT自激法低壓輸出(chu)插座（3～50V，3～30A）

功(gong)    能：由該插座和圖(tu)2-1中的接地接線柱“4”輸(shu)出CVT測量的低壓變頻(pin)激勵電源。

注意事項：

（1）因低壓輸(shu)出電流(liu)大，應采(cai)用儀器(qi)專(zhuan)用低阻線連接CVT二次繞(rao)組，接觸**會影響測量。

（2）視CVT容(rong)量從菜單選擇合(he)適的電壓電流保(bao)護(hu)限。

（3）選擇正/反(fan)接線時，此輸出封閉。

測量(liang)接地(di)(di)(di)：它同(tong)外(wai)殼和電源插座(zuo)地(di)(di)(di)線(xian)連到一起，與圖2-1的“3”一起輸出CVT測量(liang)的低壓變頻激勵電源。盡管儀器(qi)有接地(di)(di)(di)保(bao)護(hu)，但(dan)無論何(he)種測量(liang)，儀器(qi)都(dou)應(ying)可靠獨立接地(di)(di)(di)以保(bao)障使用者的**及測量(liang)結果的準確。

打(da)印(yin)機：微(wei)型熱敏打(da)印(yin)機，用于(yu)打(da)印(yin)測試數(shu)據。

USB：USB通信(xin)用。

RS232：與計算(suan)機聯機使用(yong)。

U盤：用于(yu)外接U盤保存數據。

試品(pin)輸入(ru)Cx插座（10μA～5A）

功    能：正接線時輸入試品(pin)電流。

接(jie)(jie)線(xian)(xian)方法：插座1腳(jiao)接(jie)(jie)測量線(xian)(xian)芯線(xian)(xian)（紅夾(jia)子(zi)），2、3腳(jiao)接(jie)(jie)測量線(xian)(xian)屏(ping)蔽(bi)（黑夾(jia)子(zi)）。正接(jie)(jie)線(xian)(xian)時芯線(xian)(xian)（紅夾(jia)子(zi)）接(jie)(jie)試(shi)品(pin)(pin)低(di)壓信(xin)號端，如(ru)果(guo)試(shi)品(pin)(pin)低(di)壓端有屏(ping)蔽(bi)極（如(ru)低(di)壓端的屏(ping)蔽(bi)環(huan)）可接(jie)(jie)屏(ping)蔽(bi)，試(shi)品(pin)(pin)無屏(ping)蔽(bi)時屏(ping)蔽(bi)懸空。

注意事(shi)項：

（1）測量(liang)中嚴禁(jin)拔(ba)下插(cha)頭，防止(zhi)試品電流經人體入地(di)！

（2）用標準介損器（或標準電容(rong)器）檢測儀器正接線精度時，應使用全屏蔽插頭連接試品(pin)，否則暴露的芯(xin)線會(hui)引(yin)起測量誤(wu)差(cha)。

（3）應保(bao)證(zheng)引線與試品低壓端(duan)0電(dian)阻連接，否(fou)則可(ke)能引起誤差或(huo)數(shu)據波動，也可(ke)能引起儀器保(bao)護(hu)。

（4）強(qiang)干擾下(xia)拆除(chu)接線(xian)時，應在(zai)保持電(dian)纜(lan)接地(di)狀態下(xia)斷開連接，以防(fang)感應電(dian)擊。

標準電(dian)容輸(shu)入Cn插座（10μA～5A）

功(gong)  &nbsp; 能：輸入外接標準電(dian)容器電(dian)流。

接線方法：與Cx插座類(lei)似，其區別在(zai)于：

（1）使(shi)用(yong)外(wai)部標準電容(rong)器時(shi)，應使(shi)用(yong)全(quan)屏蔽插頭(tou)連接。此方式常用(yong)于(yu)外(wai)接高電壓等級標準電容(rong)器，實(shi)現(xian)高電壓介損測量。

（2）菜(cai)單選(xuan)擇“外標準電容”方(fang)式。

（3）將(jiang)外接標準電(dian)(dian)容器的C和tgδ置入儀器，實現Cx電(dian)(dian)容介損的**值測(ce)量。

從理(li)論上講，任(ren)何容(rong)(rong)量和(he)介(jie)損(sun)的電容(rong)(rong)器，將參數置入儀器都可做標準電容(rong)(rong)器。不同的是標準電容(rong)(rong)器能提供更好的長期穩定性和(he)精度。

（4）不管(guan)正接線還是(shi)反接線測量，標準電容(rong)器接線方式(shi)始終(zhong)為正接線。

總電源開(kai)關(guan)(guan)：開(kai)關(guan)(guan)機用，可在發現異常時隨時關(guan)(guan)閉。

供(gong)電電源插座：接220V市電，插座內置保(bao)(bao)險(xian)絲(si)座，保(bao)(bao)險(xian)絲(si)規格(ge)為10A / 250V，若(ruo)損壞應使用相同規格(ge)的(de)保(bao)(bao)險(xian)絲(si)替換。若(ruo)換用備用保(bao)(bao)險(xian)絲(si)后(hou)仍燒(shao)斷，可能儀器(qi)有故(gu)障，可通知(zhi)廠家(jia)處理。

高壓(ya)允許(xu)開關(guan)(guan)：內置(zhi)高壓(ya)系統或CVT自激法低壓(ya)輸出系統的(de)總(zong)電源開關(guan)(guan)。此開關(guan)(guan)受總(zong)電源開關(guan)(guan)控制(zhi)。

按(an)鍵(jian)(jian)(jian)：按(an)下“↑”、“↓”、“←”、“→”鍵(jian)(jian)(jian)可(ke)移動(dong)光標(biao)和(he)修改(gai)光標(biao)處內容，“確(que)認(ren)”鍵(jian)(jian)(jian)用(yong)于確(que)認(ren)或結束(shu)參數(shu)修改(gai)，在測試界(jie)面長按(an)該鍵(jian)(jian)(jian)可(ke)開始(shi)測量，測量過程(cheng)中，按(an)“確(que)認(ren)”鍵(jian)(jian)(jian)可(ke)終止測量。

液晶顯示屏：320×240點陣灰白背光(guang)液晶顯示屏，顯示菜單、測量結果或出錯(cuo)信(xin)息(xi)。應(ying)避(bi)免(mian)長(chang)時間陽(yang)光(guang)爆曬，避(bi)免(mian)重壓。

背光調節：液(ye)晶(jing)顯(xian)示屏(ping)顯(xian)示較暗(an)或不清晰(xi)時可調節該電位器(qi)至合適位置使顯(xian)示明亮清晰(xi)。

指示燈：配(pei)合(he)儀器(qi)內部蜂鳴器(qi)進行測(ce)試、報警等聲光警示。

3、WBJS6000變頻精密介質損耗測試儀使用說(shuo)明

3.1初始(shi)菜單界面(mian)

打開總電源開關后，系統進入初始(shi)菜單界面。

測(ce)試(shi)模式：選擇(ze)測(ce)試(shi)模式和設置各項測(ce)試(shi)參數，

歷史(shi)記錄(lu)：查看保存的歷史(shi)數據

系統設置：出廠參數設置及(ji)系統時間校(xiao)準

幫    助：可查閱軟件版本等信息

取消或(huo)使用CVT自激法(fa)“高壓連線拖地(di)”功能：

開機右下角顯示“”表示該儀器在CVT自激法測試時高壓連線具備拖地功能。

光標停留在“測試模式”處長按“→”鍵（聽到蜂鳴器聲音松手）可取消或使用拖地模式（右下角顯示“”表示當前為拖地模式），在拖地模式下必須將高壓連線的接地屏蔽層插頭接至圖2-1中的“1”（高壓測量接地）處，否則會引起測量誤差；取消拖地模式后高壓連線必須懸空吊起，同時高壓連線的接地屏蔽層插頭也應懸空，否則會引起測量誤差。

使用或取消發“發電機供電”模式：

光標停留在“測試模式”處長按“←”鍵（聽到蜂鳴器聲音松手）可使用或取消發電機供電模式（左下角顯示“”表示當前為發電機供電模式），儀器開機默認為市電供電模式，發電機模式適合使用發電機或移動電源供電環境，發電機模式下儀器將不進行接地檢測。

3.2測試模(mo)式(shi)

3.2.1 開始測試菜(cai)單界面

在初(chu)始菜(cai)單界面將(jiang)光(guang)標移動(dong)到“測試模式(shi)”按(an)確(que)定(ding)按(an)鈕進入開始測試菜(cai)單界面，如(ru)圖3-2所示。

界面左側為參(can)數設置(zhi)選(xuan)項，移動光標到相(xiang)關參(can)數選(xuan)項按確(que)(que)定鍵可設置(zhi)相(xiang)關試(shi)驗參(can)數，右側顯示內容為已設置(zhi)好(hao)試(shi)驗參(can)數，光標停留在“開始(shi)測試(shi)”欄長按“確(que)(que)認” 鍵可開始(shi)測試(shi)。

界(jie)面右側(ce)“測試(shi)地(di)點”下一行為信(xin)息提(ti)示(shi)(shi)行，若(ruo)內(nei)(nei)(nei)外高壓(ya)選擇有(you)誤則(ze)(ze)提(ti)示(shi)(shi)“當(dang)(dang)前為內(nei)(nei)(nei)高壓(ya)模式(shi)，請開啟(qi)內(nei)(nei)(nei)高壓(ya)”或(huo)“當(dang)(dang)前為外高壓(ya)模式(shi)，請關閉內(nei)(nei)(nei)高壓(ya)”；若(ruo)儀(yi)器(qi)沒有(you)接地(di)則(ze)(ze)會提(ti)示(shi)(shi)“請檢查(cha)接地(di)”，當(dang)(dang)有(you)錯誤提(ti)示(shi)(shi)時儀(yi)器(qi)無(wu)法正常(chang)啟(qi)動，只有(you)提(ti)示(shi)(shi)“確(que)認無(wu)誤后(hou)長按確(que)認鍵開始測試(shi)”時儀(yi)器(qi)方可(ke)啟(qi)動測試(shi)。

3.2.2 試品模型選擇(ze)菜單界面(mian)

將光標移(yi)(yi)動(dong)到“試品模(mo)型(xing)”功(gong)能選項，界面(mian)如圖(tu)3-3所示，按(an)“確(que)認(ren)”按(an)鈕后移(yi)(yi)動(dong)光標可選擇(ze)合適的試品模(mo)型(xing)（光標移(yi)(yi)動(dong)到相應功(gong)能后按(an)確(que)認(ren)鍵）。實驗室一般使用串聯型(xing)介損因數標準器檢(jian)定，校驗時(shi)應使用RC串聯模(mo)型(xing)。

RC串(chuan)聯(電(dian)(dian)(dian)流比(bi)較儀型電(dian)(dian)(dian)橋(qiao))：采用(yong)電(dian)(dian)(dian)流比(bi)較儀型電(dian)(dian)(dian)橋(qiao)（如QS30電(dian)(dian)(dian)橋(qiao)）校準的串(chuan)聯型試(shi)品(pin)(或(huo)介質損(sun)耗因數(shu)標準器)，該(gai)項在開始測試(shi)界面顯示"RC串(chuan)聯"。

RC串聯(西林型電橋)： 采用西林型電橋（如2801、QS1和QS37等電橋）校準的串聯型試品(或介質損耗因數標準器) ，該項在開始測試界面顯示 "RC串聯"。

RC并(bing)聯(現場使用)：一般實際的(de)電容試品(pin)可等效為RC并(bing)聯模型，建議現場試驗時使用。

采用電流比較儀型電橋和西林型電橋校準的串聯型試品(或介質損耗因數標準器)的區別只是電容量不同：為西林型電橋標定值，C為電流比較儀型電橋標定值。

3.2.3 接線方式選擇菜單界面

將(jiang)光標(biao)移動到“接線方式(shi)”功(gong)能選項，界面如圖3-4所(suo)示，按(an)“確認”按(an)鈕(niu)后移動光標(biao)可選擇合適的(de)接線方式(shi)。

接線(xian)方式(shi)(shi)：共5種接線(xian)方式(shi)(shi)（功能(neng)因型號有差別，具體詳見型號功能(neng)說明部分），分別為：正接線(xian)、反接線(xian)、反接線(xian)低壓屏(ping)蔽、CVT自(zi)激(ji)法和變(bian)比。選擇CVT自(zi)激(ji)法測(ce)量時需同時將(jiang)相關參數一并設置好。

CVT自激法測(ce)量必須(xu)打開內高壓(ya)(ya)允(yun)許開關，由機內提(ti)供激勵電壓(ya)(ya)，由“低壓(ya)(ya)輸(shu)出(chu)”和“測(ce)量接(jie)地”輸(shu)出(chu)。為**起見，CVT自激法還需要(yao)設置以下幾個保護(hu)限：

將(jiang)光標移動到xxkV / xxmA / xxV / xxA，按(an)↑↓選擇合適值，選擇好后按(an)確認鍵(jian)退出。

xxkV：可選0.5/0.6/0.8/1/1.5/2/2.5/3/3.5/4kV，為高壓(ya)上(shang)限(xian)，只(zhi)能使用4kV以下(xia)電壓(ya)。

xxmA：可選10/15/20/25/30/35/40/45/50/60/70/80/100/120/140/200mA，表(biao)示(shi)待測(ce)試品的高壓電流(liu)上限(xian)。

xxV：可選3/4/5/6/7/8/9/10/12/15/20/25/30/35/40/50V，表示低(di)壓激勵(li)電壓上限。

xxA：可選3/4/5/6/7/8/9/10/11/12/13/14/15/16/20/30A，表示低(di)壓激勵電流上(shang)限。

注(zhu)意：

（1）測量時4個保(bao)護(hu)限(xian)(xian)同時起作(zuo)用，因此試驗高壓(ya)可(ke)能達(da)不到設定值。如果高壓(ya)達(da)不到保(bao)護(hu)限(xian)(xian)，可(ke)適當(dang)調整受(shou)到限(xian)(xian)制的(de)保(bao)護(hu)限(xian)(xian)。

（2）通常測量C1時低(di)壓(ya)激勵(li)電壓(ya)可(ke)達20V，測量C2時低(di)壓(ya)激勵(li)電流可(ke)達15A。一般(ban)可(ke)設高壓(ya)電壓(ya)2～3kV，較(jiao)少(shao)采(cai)用高壓(ya)電流限制，可(ke)設為*大(da)200mA。

變比測量時應(ying)選擇(ze)合適的高壓(ya)輸出使二(er)次側電(dian)壓(ya)小于120V，當(dang)二(er)次側電(dian)壓(ya)≥120V時儀器(qi)會發出聲光報警并提(ti)示“接線錯(cuo)誤(wu)”。

3.2.4 標準電容選擇(ze)菜單(dan)界面

將光標移(yi)動到“標準電(dian)(dian)(dian)容”功能選項(xiang)，界面如(ru)圖3-5所示，按“確(que)認”按鈕后移(yi)動光標可(ke)選擇合(he)適的標準電(dian)(dian)(dian)容。選擇外(wai)(wai)標準電(dian)(dian)(dian)容時(shi)需同(tong)時(shi)將外(wai)(wai)標準的電(dian)(dian)(dian)容量和介損一并設置好。

選(xuan)擇外標準電容時將光標移動到Cn=xxxxx e x pF 和tgδ=xx.xxx%按(an)↑↓選(xuan)擇合適值(zhi)，選(xuan)擇好后按(an)確認鍵退出。

Cn采用科(ke)學計數法(fa)，如5.000e1=5.000×101=50.00，1.000e2=1.000×102=100.0等，范圍0.000e0～9.999e5 (即0～999900pF)。tgδ設置范圍0～±9.999%。

內(nei)標準(zhun)電(dian)容(rong)通(tong)常可(ke)用于正、反接線測量和(he)CVT自激法測量，高電(dian)壓介損選用外標準(zhun)方式，需要將外接電(dian)容(rong)參數置入儀器。

3.2.5 測試頻率選擇菜單界(jie)面(mian)

測試頻率可選(xuan)擇(ze)(ze)定頻或異頻，頻率選(xuan)擇(ze)(ze)菜單(dan)界面如(ru)圖(tu)3-6所示，頻率選(xuan)擇(ze)(ze)范圍如(ru)下(xia)：

定頻：

“50Hz”：為工頻測量，此設(she)置不能抗(kang)干擾，在試驗(yan)室內測量或校驗(yan)時選用。

“45/55/60/65Hz”：為單頻(pin)率測量，研(yan)究不同頻(pin)率下介損的(de)變化時選用。

頻率自(zi)適應：外(wai)高(gao)壓測(ce)量模(mo)式(shi)下有效（不能更改），系統(tong)自(zi)動識別外(wai)施高(gao)壓頻率，測(ce)試頻率無(wu)需在測(ce)試前設置。

異頻(pin)：

“45/55Hz”：為自(zi)動變頻，適合50Hz電網(wang)工頻干擾下測量。

“55/65Hz”：為(wei)自動變頻，適合(he)60Hz電網工頻干(gan)擾下測(ce)量(liang)。

“47.5/52.5Hz”：為自動變頻(pin)，適合50Hz電網工(gong)頻(pin)干(gan)擾下測量。

3.2.6 測試電(dian)壓選擇菜單界面

內(nei)高壓(ya)可選擇(ze)“0.5 /0.6 /0.8 /1 /1.5 /2 /2.5 /3 /3.5 /4 /4.5 /5 /5.5 /6 /6.5 /7 /7.5 /8 /8.5 /9 /9.5 /10.0kV”（F型*高輸出電壓(ya)為12kV），應(ying)根據高壓(ya)試驗規程選擇(ze)合適的試驗電壓(ya)。

注：若選擇“CVT自激(ji)法”測試功(gong)能，則該選項無效。CVT自激(ji)法的(de)相(xiang)關電壓參數(shu)需在該功(gong)能選項下進行設置。

3.2.7 測試備忘設置菜(cai)單界面

設(she)備編號(hao)：可(ke)設(she)置(zhi)8位字母或數字編號(hao)，將光標移動到”設(she)備編號(hao)”處，按(an)(an)確認健(jian)進(jin)入設(she)備編號(hao)設(she)置(zhi)，通過(guo)“←”、“→”健(jian)移動光標，通過(guo)↑↓選擇合(he)適(shi)值，設(she)置(zhi)好后按(an)(an)確認鍵退出。

測(ce)試(shi)人員(yuan)：可設置(zhi)(zhi)8位(wei)字(zi)(zi)母或數(shu)字(zi)(zi)編(bian)號，將光標移動到” 測(ce)試(shi)人員(yuan)”處，按(an)確認(ren)健進入測(ce)試(shi)人員(yuan)設置(zhi)(zhi)，通過“←”、“→”健移動光標，通過↑↓選擇合適值，設置(zhi)(zhi)好后按(an)確認(ren)鍵退出。

測試地(di)點(dian)：可設(she)置8位字母或(huo)數字編號(hao)，將光標移(yi)動(dong)到(dao)” 測試地(di)點(dian)”處(chu)，按(an)(an)確認健進入測試地(di)點(dian)設(she)置，通過“←”、“→”健移(yi)動(dong)光標，通過↑↓選擇(ze)合適值，設(she)置好(hao)后按(an)(an)確認鍵退出。

3.2.8 測試結果界(jie)面

3.2.8.1反接(jie)法測試(shi)結(jie)果(guo)界面(mian)

測試完成顯(xian)示結果后，可移動光標選擇保存(cun)或打印數據。

儀器自動分辨電(dian)容(rong)、電(dian)感(gan)、電(dian)阻型(xing)(xing)試(shi)品(pin)：電(dian)容(rong)型(xing)(xing)試(shi)品(pin)顯(xian)示(shi)(shi)(shi)(shi)Cx和(he)tgδ；電(dian)感(gan)型(xing)(xing)試(shi)品(pin)顯(xian)示(shi)(shi)(shi)(shi)Lx和(he)Q；電(dian)阻型(xing)(xing)試(shi)品(pin)顯(xian)示(shi)(shi)(shi)(shi)Rx和(he)附加(jia)Cx或Lx。自動選取顯(xian)示(shi)(shi)(shi)(shi)單位。

試品(pin)為電(dian)容(rong)時：顯(xian)示(shi)數據為Cx、tgδ、Ux、Ix、Φ、f1、f2, |δ|>1則(ze)顯(xian)示(shi)電(dian)容(rong)和串(chuan)/并聯電(dian)阻

試品(pin)為電(dian)感時：顯示(shi)數據為Lx、Q、Ux、Ix、Φ、f1、f2, |Q|<1則顯示(shi)電(dian)感和串(chuan)聯(lian)電(dian)阻

試(shi)品(pin)為電阻(zu)時：顯示數據為Cx(Lx)、Rx、Ux、Ix、Φ、f1、f2

Cx   試品電容量[1μF=1000nF納法 / 1nF=1000pF]，如(ru)顯示(shi)10.00nF即10000pF

tgδ 介損因數(shu)[1%=0.01]

Lx  &nbsp;試品電感量[1MH兆亨=1000kH / 1kH=1000H]

Q    品質(zhi)因數[無單位(wei)]

Rx   試品電阻值[1MΩ=1000kΩ / 1kΩ=1000Ω]

Ux ;  試驗(yan)電壓[1kV=1000V / 1V=1000mV]

Ix   試品電流[1A=1000mA / 1mA=1000μA]

Φ   試(shi)品(pin)電流(liu)超前試(shi)驗電壓的角度(du)[°度(du)]或測(ce)變比時一次電壓超前二次電壓的角度(du)

K &nbsp;  測CVT變(bian)比時，一次電(dian)壓比二次電(dian)壓

f1   頻率[Hz]，顯示**次(ci)測試(shi)頻率

f2   頻率(lv)[Hz]，顯示**次測試頻率(lv)

顯示over表示測(ce)量數據超(chao)量程。

3.2.8.2反接線低壓屏蔽測試(shi)結(jie)果界面

反接(jie)線(xian)低壓屏蔽(bi)(bi)測(ce)試一次接(jie)線(xian)可同(tong)時(shi)測(ce)出C11和(he)C下(xia)節(下(xia)端屏蔽(bi)(bi)部分)的電(dian)容量和(he)介損值。

3.2.8.3 CVT自(zi)激法測試結果界面(mian)

CVT自激法按測(ce)量(liang)接線，與(yu)試品輸入Cx插(cha)座連接的定義為(wei)(wei)C1，與(yu)高壓(ya)線連接的為(wei)(wei)C2。U1為(wei)(wei)測(ce)量(liang)C1時的高壓(ya)，U2為(wei)(wei)測(ce)量(liang)C2時的高壓(ya)。

3.3歷史數據

進入(ru)歷史數據菜單界面如圖(tu)3-12所(suo)示。

移動光(guang)標(biao)到(dao)“U盤”選(xuan)項按(an)“確(que)定(ding)”鍵(jian)可(ke)將數(shu)(shu)(shu)據(ju)導出到(dao)U盤，上(shang)移到(dao)“清(qing)空”選(xuan)項按(an)“確(que)定(ding)”鍵(jian)可(ke)清(qing)空保存(cun)的(de)全部數(shu)(shu)(shu)據(ju)。將光(guang)標(biao)移動到(dao)“>>>>”選(xuan)項按(an)下(xia)“確(que)定(ding)”鍵(jian)進(jin)入(ru)數(shu)(shu)(shu)據(ju)選(xuan)擇(ze)(ze)界(jie)面(mian)，光(guang)標(biao)位(wei)置(zhi)默(mo)認停(ting)留在*近保存(cun)的(de)單(dan)條數(shu)(shu)(shu)據(ju)上(shang)，若要查(cha)看其(qi)他數(shu)(shu)(shu)據(ju)可(ke)上(shang)下(xia)移動光(guang)標(biao)進(jin)行選(xuan)擇(ze)(ze)，選(xuan)擇(ze)(ze)好(hao)要查(cha)看的(de)數(shu)(shu)(shu)據(ju)后按(an)“確(que)定(ding)”按(an)鈕進(jin)入(ru)單(dan)條歷(li)史數(shu)(shu)(shu)據(ju)顯示界(jie)面(mian)。歷(li)史數(shu)(shu)(shu)據(ju)選(xuan)擇(ze)(ze)界(jie)面(mian)和單(dan)條歷(li)史數(shu)(shu)(shu)據(ju)顯示界(jie)面(mian)如圖3-13和圖3-14所示。

進入(ru)單條歷史數據顯(xian)示(shi)界面(mian)后，在(zai)左側(ce)功(gong)能選項區上下移動(dong)光標可(ke)選擇(ze)打印、刪除本條數據和退(tui)出單條歷史數據顯(xian)示(shi)界面(mian)。

3.4系(xi)統設置

進入系(xi)統設(she)置菜單可進行(xing)系(xi)統時間(jian)校準，“出(chu)廠(chang)設(she)置”參數禁止用戶修改，只(zhi)允許生產廠(chang)家(jia)進行(xing)出(chu)廠(chang)參數設(she)置。

3.5幫(bang)助

可查看(kan)儀器(qi)的相(xiang)關操作指導。

3.6啟(qi)動測(ce)量

進入測(ce)試界(jie)面設置(zhi)好各項試驗參(can)數后，將光標移動到“開始測(ce)試”功能選(xuan)項上，按住“確認”鍵3s以上啟動測(ce)量。

啟動測(ce)量后發出聲光報警；在測(ce)試過(guo)程中會實(shi)時顯示測(ce)試相關參(can)數(shu)（電(dian)(dian)壓、電(dian)(dian)流(liu)、頻率、電(dian)(dian)容量等(deng)參(can)數(shu)）和測(ce)量進程(0%～99%)。

測(ce)量中按“確認”鍵可取(qu)消測(ce)量，遇緊(jin)急(ji)情況立(li)即關閉(bi)總電源(yuan)。

測(ce)量過(guo)程結束，儀器(qi)自動降壓后再顯示結果。

3.7對比度調節

液晶(jing)顯(xian)示(shi)(shi)屏的對比度已在出廠時校好，如(ru)果(guo)您感覺不夠清(qing)晰，調整(zheng)面板上的電(dian)位器(qi)使(shi)液晶(jing)顯(xian)示(shi)(shi)屏顯(xian)示(shi)(shi)內容清(qing)晰為止。

4、參(can)考接線

4.1常規(gui)正接(jie)線(xian)（正接(jie)線(xian)、內(nei)標(biao)準電容、內(nei)高壓）

4.2常規反(fan)接線(xian)（反(fan)接線(xian)、內標準電容(rong)、內高(gao)壓）

4.3正接(jie)線、外標(biao)準電容、內高壓

4.4反(fan)接線、外標準電容、內(nei)高壓

4.5正接(jie)線、內標準電容、外(wai)高壓

4.6反(fan)接線、內標準電容、外高壓

4.7正(zheng)接線、外標準電容、外高壓（高電壓介(jie)損(sun)）

4.8反接線(xian)、外(wai)標準電容(rong)、外(wai)高壓

4.9反接線低壓屏蔽(bi)

可在(zai)220kV CVT母(mu)線(xian)(xian)接地情況下，對C11進(jin)行不(bu)拆(chai)線(xian)(xian)10kV反接線(xian)(xian)介(jie)損(sun)測(ce)量(liang)(liang)。如下圖所示：母(mu)線(xian)(xian)掛地線(xian)(xian)，C11上端(duan)(duan)不(bu)拆(chai)線(xian)(xian)，C11下端(duan)(duan)接高(gao)壓(ya)線(xian)(xian)芯(xin)線(xian)(xian)，C2末端(duan)(duan)δ和(he)X接Cx芯(xin)線(xian)(xian)。這(zhe)樣C12和(he)C2被低壓(ya)屏蔽，儀器(qi)采用反接線(xian)(xian)低壓(ya)屏蔽測(ce)量(liang)(liang)方式，可同時測(ce)出(chu)C11和(he)下端(duan)(duan)被屏蔽部分的電容量(liang)(liang)和(he)介(jie)損(sun)值。

4.10 CVT自激法

高壓線芯線接C2下端，Cx芯線接C12上(shang)端。在CVT 自(zi)激法測量中，儀器(qi)先測量C12，然后自(zi)動倒線測量C2，并自(zi)動校準分壓影響(xiang)。

1）D型高(gao)壓連線(xian)不可(ke)拖地(di)(di)，高(gao)壓線(xian)應懸(xuan)空不能接(jie)觸地(di)(di)面（高(gao)壓線(xian)的接(jie)地(di)(di)屏蔽層(ceng)插頭必須懸(xuan)空），否則其對(dui)地(di)(di)附加介損會引(yin)起(qi)誤差，可(ke)用細(xi)電纜(lan)連接(jie)高(gao)壓插座與CVT試品(pin)并吊起(qi)。

2）E、F、S、J型高壓連線可拖地使用，在開機初始界面（圖3-1界面），光標停留在“測試模式”處長按“→”鍵（聽到蜂鳴器聲音松手）可取消或使用拖地模式（右下角顯示“”表示當前為拖地模式），在拖地模式下必須將高壓連線的接地屏蔽層插頭接至圖2-1中的“1”（高壓測量接地）處，否則會引起測量誤差；取消拖地模式后高壓連線必須懸空吊起，高壓連線的接地屏蔽層插頭也應懸空，否則會引起測量誤差。拖地模式下的高壓連線必須使用原廠配置的電纜（已校準），否則會引起測量誤差！

4.11 CVT變比測(ce)試

儀(yi)器高壓線的芯線紅夾子(zi)接CVT的上(shang)端，母線拆地(di)，CVT下端接地(di)，低壓線紅黑夾子(zi)接二次繞組。

5、常見CVT的(de)參考測量(liang)方法(fa)

目前常見的電容式(shi)電壓互感器可(ke)分為110kV、220kV、500kV等不同電壓等級，一般110kV的CVT其C1就一節(jie)，220kV的CVT其C1有兩節(jie)，而500kV的CVT其C1有三(san)節(jie)。

5.1  500kV CVT的測量(liang)方法

1）C11的測(ce)量方(fang)法

按(an)圖5-1標明的(de)方式接線，測(ce)量C11時應注意：

◇ 拆開(kai)δ端(duan)，X端(duan)一定要接(jie)地

◇ a點(dian)接紅色高(gao)壓測試線(xian)的(de)(de)芯線(xian)（紅夾(jia)子(zi)），b點(dian)接紅色高(gao)壓測試線(xian)的(de)(de)高(gao)壓屏蔽層（黑(hei)夾(jia)子(zi)）

2）C12的測(ce)量(liang)方法

按(an)圖(tu)5-2標明的方式接線，測(ce)量C12時注意(yi)：

◇ 拆開δ端，X端一定要接地

◇ a點接紅(hong)(hong)色(se)高(gao)壓(ya)測試(shi)(shi)線芯(xin)線（紅(hong)(hong)夾子(zi)），b點接黑色(se)低壓(ya)測試(shi)(shi)線芯(xin)線（紅(hong)(hong)夾子(zi)）

3）C13和C2的測量方(fang)法

儀(yi)器設(she)有(you)專門(men)的CVT自(zi)(zi)(zi)激法，不需外加(jia)任何其(qi)它設(she)備，就可以完成測(ce)試(shi)。按(an)圖(tu)5-3標明的方(fang)式(shi)接線(xian)，儀(yi)器選用CVT自(zi)(zi)(zi)激法測(ce)量(liang)方(fang)式(shi)，試(shi)驗電(dian)(dian)壓可設(she)置為2kV，CVT自(zi)(zi)(zi)激法能(neng)一(yi)次測(ce)量(liang)C13和(he)C2兩個電(dian)(dian)容的介損和(he)電(dian)(dian)容量(liang)。

5.2  220kV CVT的測量(liang)方法(fa)

1）C11的測量方法

按圖(tu)5-4標明的方式接線，測量(liang)C11時注意：

◇ δ和X相(xiang)連，與接地分(fen)開。

◇ a點接紅色高壓測試線的芯線（紅夾子），C2末端δ和X 接Cx端芯線，這樣C12與(yu)C2就被低壓屏蔽了。

2）C12和C2的測量方法

儀(yi)器(qi)設有(you)專門的CVT自(zi)激法，不(bu)需外加任何其它設備，就可以完成測(ce)試。按圖5-5標明的方式接線，儀(yi)器(qi)選(xuan)用CVT自(zi)激法測(ce)量方式，試驗(yan)電壓可設置為2kV，CVT自(zi)激法能一次測(ce)量C12和C2兩個電容的介損(sun)和電容量。

5.3  110kV CVT的測量方法

儀器設(she)有(you)專門的CVT自激法，不(bu)需外加任何(he)其它設(she)備，就可以完成測(ce)試。按圖5-6標明的方式(shi)接線(xian)，儀器選用CVT自激法測(ce)量方式(shi)，試驗電壓可設(she)置為2kV，CVT自激法能(neng)一次測(ce)量C13和C2兩(liang)個電容(rong)的介損(sun)和電容(rong)量。

6、現場試驗注意事項

如果使用中出現測試(shi)數(shu)據明顯不合理，請從以(yi)下方面查找(zhao)原因：

6.1搭鉤接觸(chu)**

現場(chang)測量使用搭鉤連接(jie)試品(pin)時(shi)，搭鉤務必(bi)與試品(pin)接(jie)觸良好，否則接(jie)觸點放電會引(yin)起數據嚴重波動(dong)！尤其是引(yin)流線氧化層(ceng)太厚，或風吹(chui)線擺動(dong)，易造成接(jie)觸**。

6.2接地(di)接觸**

接地**會(hui)引(yin)起(qi)儀器保護(hu)或數(shu)據嚴(yan)重(zhong)波(bo)動。應(ying)刮凈接地點上的油(you)漆和(he)銹蝕，務必保證0電阻(zu)接地！

6.3直接測量(liang)CVT或末端(duan)屏蔽法測量(liang)電(dian)磁式PT

直(zhi)接測量CVT的下節耦合電容(rong)會出現負介損(sun)，消除(chu)負介損(sun)可采取下述措施或改用(yong)CVT自(zi)激(ji)法(fa)測量：

1）測試時測量儀(yi)器的接地端(duan)直接接在被試品的金(jin)屬底座(zuo)上，并保證接觸良好。

2）條件允許時盡可能將非(fei)被試(shi)繞組短(duan)接，以減小電感和鐵心(xin)損耗(hao)的(de)影響。

3）被試品周圍(wei)不應有鐵(tie)架、腳手架、木梯等物(wu)體，盡可(ke)能減小分布阻抗的影響(xiang)。

4）試(shi)驗引線(xian)與(yu)被試(shi)品的夾角應盡(jin)可能接(jie)近(jin)90°，以減小線(xian)與(yu)試(shi)品間的分布(bu)電(dian)容。

用(yong)末(mo)端(duan)屏蔽(bi)法(fa)測(ce)量(liang)電磁式PT時，由于受(shou)潮(chao)引起“T形網絡干(gan)(gan)擾”出現負介損，吹干(gan)(gan)下面(mian)三裙瓷套和接線(xian)端(duan)子盤即可(ke)。也可(ke)改用(yong)常規法(fa)或末(mo)端(duan)加壓(ya)法(fa)測(ce)量(liang)。

6.4空氣(qi)濕度過大(da)

空氣濕度大使介損測量值異常增大（或減小甚至為負）且不穩定，必要(yao)時可加屏蔽環。因人為加屏蔽環改變(bian)了試(shi)品(pin)電場分布(bu)，此法(fa)有爭議，可參(can)照有關規程。

6.5發電機供電

發(fa)電機(ji)供電時(shi)可采(cai)用(yong)定頻50Hz模式工作(zuo)。

6.6測試線

1）由(you)于(yu)長期使用(yong)，易(yi)造成測(ce)試(shi)線(xian)隱(yin)性斷(duan)路(lu)，或(huo)芯線(xian)和屏蔽短路(lu)，或(huo)插頭接觸**，用(yong)戶應經常維(wei)護測(ce)試(shi)線(xian)。

2）測試標(biao)準電(dian)容試品時，應使(shi)用全(quan)屏蔽插頭連(lian)接(jie)，以消(xiao)除附加雜(za)散電(dian)容影響(xiang)，否則不(bu)能(neng)反映儀器精度(du)。

3）自激法測(ce)量CVT時(shi)，若使用(yong)“高(gao)壓(ya)(ya)(ya)連線拖地(di)(di)”功(gong)能，請(qing)務(wu)必使用(yong)原(yuan)廠配置的專用(yong)高(gao)壓(ya)(ya)(ya)電(dian)(dian)纜(lan)(lan)（原(yuan)廠電(dian)(dian)纜(lan)(lan)在出(chu)廠時(shi)已進(jin)行(xing)校準(zhun)），高(gao)壓(ya)(ya)(ya)連線的接地(di)(di)屏(ping)蔽(bi)層必須接地(di)(di)，不可使用(yong)其它(ta)高(gao)壓(ya)(ya)(ya)電(dian)(dian)纜(lan)(lan)代替(ti)，否則會引起較(jiao)大的測(ce)量誤(wu)差。若拖地(di)(di)模式下測(ce)量誤(wu)差較(jiao)大，則需將(jiang)專用(yong)高(gao)壓(ya)(ya)(ya)電(dian)(dian)纜(lan)(lan)返(fan)廠重新進(jin)行(xing)校準(zhun)。

4）自激(ji)法測(ce)量(liang)CVT時，非(fei)專(zhuan)用(yong)的高壓線應(ying)吊起懸(xuan)空(kong)，否則對地(di)附加雜散電容(rong)和介損(sun)會引起測(ce)量(liang)誤(wu)差(cha)。使用(yong)專(zhuan)用(yong)電纜在非(fei)拖地(di)模式(shi)下測(ce)量(liang)CVT，高壓電纜也應(ying)懸(xuan)空(kong)且電纜的接地(di)屏蔽層不(bu)能接地(di)，否則會引起較大的測(ce)量(liang)誤(wu)差(cha)。

6.7工作模式選擇(ze)

接好線后請選擇正確的測量工作(zuo)模(mo)式，不可選錯。特別是干(gan)擾環境(jing)下應選用變頻抗干(gan)擾模(mo)式。

6.8試(shi)驗方(fang)法影響(xiang)

由于(yu)介損測量受試驗方法(fa)影響較大，應區分是試驗方法(fa)誤差(cha)還(huan)是儀器誤差(cha)。出(chu)現問(wen)題時可首(shou)先檢查接(jie)線，然(ran)后檢查是否為(wei)儀器故障(zhang)。

6.9儀器(qi)故障(zhang)

1）用萬用表測量一(yi)下測試線是否斷路，或芯線和(he)屏蔽是否短路；

2）輸入電源(yuan)220V過(guo)高或(huo)過(guo)低；接地是否(fou)良好；

3）用正、反接(jie)線測一(yi)下標準電容器(qi)或(huo)已知容量和(he)介損的電容試品，如果結果正確(que)，即可判斷儀器(qi)沒有問題；

4）拔下(xia)所(suo)有測試導線，進行(xing)空試升壓，若(ruo)不能(neng)正常工作，儀器可能(neng)有故障。

7、儀器檢定

7.1檢定(ding)

用帶插頭的屏蔽電(dian)纜連接標(biao)準(zhun)損耗器(qi)。如果不(bu)能保證(zheng)標(biao)準(zhun)損耗器(qi)的精度，應使(shi)用比對(dui)法檢定，建議用2801電(dian)橋或其(qi)它(ta)精密(mi)電(dian)橋作比對(dui)標(biao)準(zhun)。

1）介質損(sun)耗因(yin)數標準器一般為串(chuan)聯模型(xing)，因(yin)此儀(yi)器的(de)試品模型(xing)應選擇“RC串(chuan)聯(電(dian)流比較儀(yi)型(xing)電(dian)橋(qiao))”或“RC串(chuan)聯(西林(lin)型(xing)電(dian)橋(qiao))”。

RC串(chuan)聯(lian)(電流比較儀型電橋)：采用(yong)電流比較儀型電橋（如QS30電橋）校(xiao)準(zhun)的串(chuan)聯(lian)型試(shi)品(或(huo)介質損(sun)耗(hao)因數(shu)標準(zhun)器)，該項(xiang)在(zai)開始測(ce)試(shi)界面(mian)顯示"RC串(chuan)聯(lian)"。

RC串聯(西林型電橋)： 采用西林型電橋（如2801、QS1和QS37等電橋）校準的串聯型試品(或介質損耗因數標準器) ，該項在開始測試界面顯示 "RC串聯"。

采(cai)用電(dian)流比(bi)較儀型(xing)電(dian)橋和西林型(xing)電(dian)橋校準的串(chuan)聯型(xing)試品(或(huo)介質損耗因數標準器)的區別(bie)只是電(dian)容量不同：

為西林型電橋標定值，C為電流比較儀型電橋標定值。

2）用(yong)介質損(sun)耗因(yin)數標(biao)準(zhun)器（或標(biao)準(zhun)電(dian)容器）檢(jian)定儀器反(fan)接(jie)線精(jing)度(du)時，高壓電(dian)纜與試品連接(jie)必須使用(yong)全屏蔽插頭，否則(ze)暴(bao)露的芯線會引起測量誤差。

3）用介質損耗(hao)因(yin)數標準器（或標準電(dian)容器）檢定儀器正(zheng)接線(xian)(xian)精(jing)度時，低壓電(dian)纜與試品連接必須(xu)使(shi)用全屏蔽插頭(tou)，否則暴(bao)露的芯線(xian)(xian)會引起測量誤差。

嚴格(ge)按照上述要求檢定方能真實反映本(ben)儀(yi)器的測量精度(du)！

7.2抗干擾能力(li)

設置一個回(hui)路向儀器注入(ru)定量的干擾(rao)電流。

注意：

1）應考慮到該回路可能成為試(shi)品的(de)一部分。

2）儀(yi)器(qi)啟動后會使220V供(gong)電(dian)電(dian)路帶有測量頻率分量，如果該頻率分量又通(tong)過(guo)干(gan)擾(rao)電(dian)流進入儀(yi)器(qi)，則無法檢驗儀(yi)器(qi)的抗干(gan)擾(rao)能力。

3）不建議用(yong)臨近(jin)高壓導體施(shi)加(jia)干(gan)擾，因為這樣很容(rong)易產生近(jin)距離**放(fang)電，這種(zhong)放(fang)電電阻是非線性(xing)的，容(rong)易產生同頻干(gan)擾。