1、WBJS6000抗干擾精密介質損耗測試儀特點及性能

介(jie)損絕緣試驗可以(yi)有(you)效(xiao)地(di)發現(xian)電(dian)器(qi)設(she)備(bei)絕緣的整體受潮劣化變質以(yi)及局部缺陷(xian)等，在(zai)電(dian)工制造(zao)、電(dian)氣設(she)備(bei)安裝、交接和預防性試驗中(zhong)都廣泛應(ying)用。

介質損耗測(ce)量(liang)儀(yi)(yi)(yi)用于現場介損測(ce)量(liang)或試(shi)(shi)驗室(shi)精密介損測(ce)量(liang)。儀(yi)(yi)(yi)器為一體化(hua)結(jie)(jie)構，內置介損電(dian)橋、變頻(pin)電(dian)源、試(shi)(shi)驗變壓器和標準(zhun)電(dian)容器等。儀(yi)(yi)(yi)器采用變頻(pin)抗干(gan)擾(rao)和傅立(li)葉變換數字濾波技術，全自(zi)動智(zhi)能化(hua)測(ce)量(liang)，強干(gan)擾(rao)下測(ce)量(liang)數據非常穩(wen)定。測(ce)量(liang)結(jie)(jie)果由大屏幕液晶顯示，儀(yi)(yi)(yi)器自(zi)帶微型打印機可打印輸出(chu)測(ce)試(shi)(shi)結(jie)(jie)果。

1.1主要技術(shu)指標

額(e)定工作條(tiao)件：環境(jing)溫度  -10℃～50℃

相對(dui)濕度(du)  <85%阿(a)

輸入電源：   ; 180V～270VAC，50Hz/60Hz±1%，市電或(huo)發電機供電

準(zhun)確度：      Cx: ±（讀(du)數(shu)×1%+1pF）

tgδ: ±（讀數(shu)×1%+0.00040）

抗(kang)干(gan)擾指(zhi)標：   變頻抗(kang)干(gan)擾，在200%干(gan)擾下仍(reng)能(neng)達到上述準確(que)度(du)

電容(rong)量(liang)范圍：   內施高壓：3pF～60000pF/10kV    60pF～1μF/0.5kV

外施(shi)高壓：3pF～1.5μF/10kV      60pF～30μF/0.5kV

分辨率：     &nbsp; *高0.001pF，4位(wei)有效數(shu)字

tgδ范圍：&nbsp;    不限，分辨率0.001%，電(dian)(dian)容、電(dian)(dian)感、電(dian)(dian)阻三種試(shi)品自(zi)動識別。

試(shi)驗電流范(fan)圍： 10μA～5A

內施高(gao)壓：&nbsp;   設定電壓范圍(wei)：0.5～10kV

*大輸出電流(liu)：200mA

升降壓方式：連續平滑(hua)調節

電壓精度：±(1.0%×讀數+10V)

電壓分(fen)辨率(lv)：0.1V

試驗(yan)頻率：45、50、55、60、65Hz 單(dan)頻

45/55Hz、55/65Hz、47.5/52.5Hz 自(zi)動雙變頻

頻率精度：±0.01Hz

外施高(gao)壓(ya)：   &nbsp;正、反(fan)接(jie)線時*大試驗電流5A

CVT自激法低壓(ya)輸出：輸出電壓(ya)3～50V，輸出電流3～30A

高電壓介損：  支持變(bian)頻和諧振(zhen)電源(yuan)高電壓介損

實(shi)時時鐘：   &nbsp;實(shi)時顯示(shi)時間和日(ri)期(qi)

內(nei)(nei)部存儲：    儀(yi)器內(nei)(nei)部可存儲100組測(ce)量數據

U盤：     &nbsp;  支(zhi)持U盤存儲

打(da)印機(ji)： &nbsp;    微型熱敏打(da)印機(ji)

計算機(ji)接(jie)口：  標準RS232接(jie)口（選配）

尺寸(cun)(cun)重(zhong)量(liang)：    K型：外形尺寸(cun)(cun)368mm×288mm×280mm；主機重(zhong)量(liang)22kg。

其他款(kuan)型：外形(xing)尺(chi)寸(cun)430mm×314mm×334mm；主機重量30kg。

注：上述為E型主要(yao)技術(shu)(shu)指標，其它型號技術(shu)(shu)指標詳見本(ben)章節“1.3.6各型號測試(shi)功能說明”。

1.2 WBJS6000抗干擾精密介質損耗測試儀系列型號功能列表

1.3 WBJS6000抗干擾精密介質損耗測試儀主要功能特點

1.3.1 變(bian)頻抗干擾

采(cai)用變頻(pin)抗干擾(rao)(rao)技(ji)術，在(zai)(zai)200%干擾(rao)(rao)下仍能準確(que)測量，測試數(shu)據穩定，適合在(zai)(zai)現場(chang)做抗干擾(rao)(rao)介損試驗。

1.3.2高精(jing)度測量

采用數字波形分析和電(dian)橋自(zi)校準(zhun)等(deng)技術，配合(he)高精(jing)度三(san)端標準(zhun)電(dian)容(rong)器(qi)，實現高精(jing)度介損測量。儀器(qi)所有量程(cheng)輸入(ru)電(dian)阻低于(yu)2Ω，消(xiao)除了測量電(dian)纜附加電(dian)容(rong)的影響(xiang)。

1.3.3**措施

高(gao)壓保護：試品(pin)短路、擊穿或(huo)高(gao)壓電流波動，能以短路方式高(gao)速切斷輸出。

供電(dian)保護：誤接380V、電(dian)源(yuan)波動或(huo)突然斷電(dian)，啟動保護，不(bu)會引(yin)起過電(dian)壓。

接(jie)地(di)(di)保(bao)護：具(ju)有接(jie)地(di)(di)檢測功能，未(wei)接(jie)地(di)(di)時不能升壓(ya)，若測量(liang)過(guo)程中儀器接(jie)地(di)(di)**則啟動接(jie)地(di)(di)保(bao)護。

CVT&nbsp;保護：高壓(ya)側電壓(ya)和電流、低壓(ya)側電壓(ya)和電流四個保護限制，不會(hui)損壞設備；誤選菜單(dan)不會(hui)輸(shu)出激磁(ci)電壓(ya)。CVT測量時無10kV高壓(ya)輸(shu)出。

防誤操作：兩級電源開關；電壓、電流實時(shi)監視；多次按鍵(jian)確認(ren)；接線端子高/低壓分明；慢速升壓，可迅速降(jiang)壓，聲光報警。

防“容升(sheng)(sheng)”：測量大容量試(shi)品時會出(chu)現電壓抬(tai)高的“容升(sheng)(sheng)”效應，儀(yi)器能自動(dong)跟蹤輸出(chu)電壓，保持試(shi)驗電壓恒定。

高壓電纜：為耐高壓絕緣(yuan)導線，可拖地使用。

抗(kang)震性能：儀器采用獨特抗(kang)震設計，可耐受強(qiang)烈長途運輸震動、顛簸而(er)不(bu)會損壞。

1.3.4打印(yin)存儲

儀器(qi)自帶微型打印(yin)機，可(ke)(ke)以將測(ce)量結果打印(yin)輸出(chu)，并(bing)將測(ce)量結果存貯到儀器(qi)內（可(ke)(ke)存儲100組測(ce)量數(shu)據(ju)）或U盤，以便日后查(cha)閱。

1.3.5實(shi)時時鐘

儀器內帶實時(shi)時(shi)鐘，實時(shi)顯(xian)示，并能記錄測量(liang)的日(ri)期和時(shi)間。

1.3.6各(ge)型(xing)號測試功(gong)能說明

B型：輕(qing)便型，高壓(ya)*大輸(shu)出電(dian)流為140mA，具有正接(jie)線、反接(jie)線功能，可選擇內(nei)(nei)/外標準電(dian)容(rong)、內(nei)(nei)/外高壓(ya)多種(zhong)工作模式，一體化(hua)結構，可做各種(zhong)常規介損(sun)試驗。

D型(xing)：實用型(xing)，高壓(ya)*大(da)輸出電流為200mA，具有正接(jie)(jie)(jie)線(xian)(xian)、反接(jie)(jie)(jie)線(xian)(xian)、反接(jie)(jie)(jie)線(xian)(xian)低壓(ya)屏蔽(bi)、CVT自激(ji)法，反接(jie)(jie)(jie)線(xian)(xian)低壓(ya)屏蔽(bi)功(gong)能(neng)能(neng)在220kV CVT母(mu)線(xian)(xian)接(jie)(jie)(jie)地情況(kuang)下，對C11進行不拆線(xian)(xian)10kV反接(jie)(jie)(jie)線(xian)(xian)介損(sun)測量，并可一(yi)次(ci)接(jie)(jie)(jie)線(xian)(xian)同時(shi)測出兩(liang)個(ge)電容(rong)的(de)電容(rong)量和介損(sun)值(zhi)。CVT自激(ji)法測量時(shi)，C1/C2可一(yi)次(ci)接(jie)(jie)(jie)線(xian)(xian)同時(shi)測出，無須換(huan)線(xian)(xian)和外接(jie)(jie)(jie)任何配件，但高壓(ya)測量線(xian)(xian)需懸空吊起。

E型：標準(zhun)型，在D型基(ji)礎上增加了(le)CVT變比測(ce)(ce)試(shi)功能，同(tong)時升級了(le)CVT自激法測(ce)(ce)試(shi)，現場CVT自激法測(ce)(ce)試(shi)時高壓測(ce)(ce)量線可拖(tuo)地使用，無需(xu)吊起。

F型：增強(qiang)型，功能同(tong)E型，輸出*高電壓從10kV增加至(zhi)12kV。

K型(xing)：標準型(xing)，在E型(xing)基礎(chu)上減(jian)小體(ti)積(ji)重量(liang)，設備更精巧。

S型(xing)：四(si)通道(dao)型(xing)，功能(neng)同E型(xing)，增加了(le)3個(ge)正接(jie)通道(dao)。

J型(xing)：高精(jing)度型(xing)，功(gong)能同(tong)E型(xing)，測量準確度為0.5%。

所有型號儀(yi)器(qi)均具備(bei)下述特點：

（1）支持變頻和諧(xie)振電源高電壓介(jie)損。

（2）內置串聯(lian)和并聯(lian)兩種(zhong)介損測量模型，方便儀器檢定。

（3）配置熱敏打印機，使打印更加快捷、無噪音和清晰。

（4）320×240點陣大屏(ping)液晶顯(xian)示(shi)，菜單(dan)操作，測試數據豐富(fu)，自(zi)動分辨電(dian)容、電(dian)感、電(dian)阻型試品。

（5）具有(you)外接標準電(dian)容器接口，可外接油(you)(you)杯做精密絕緣油(you)(you)介損(sun)試(shi)(shi)驗，可外接固體(ti)材料測量電(dian)極(ji)做精密絕緣材料介損(sun)試(shi)(shi)驗，也可外接高(gao)(gao)壓標準電(dian)容器做高(gao)(gao)電(dian)壓介損(sun)試(shi)(shi)驗。

（6）帶日歷時(shi)鐘(zhong)，可存儲100組(zu)測量數據。

（7）計算機接口（選配(pei)）。

2、WBJS6000抗干擾精密介質損耗測試儀面板說明

高(gao)壓(ya)輸出(chu)測(ce)量(liang)接地(di)(di)：若出(chu)廠(chang)配置的高(gao)壓(ya)測(ce)試線(xian)有接地(di)(di)屏(ping)(ping)蔽層，則(ze)(ze)需將高(gao)壓(ya)測(ce)量(liang)線(xian)的接地(di)(di)屏(ping)(ping)蔽層連(lian)(lian)接至(zhi)此(ci)處(chu)，沒有則(ze)(ze)留空。CVT自激法測(ce)量(liang)的高(gao)壓(ya)連(lian)(lian)線(xian)接地(di)(di)屏(ping)(ping)蔽層在拖地(di)(di)模(mo)式下必須接地(di)(di)，非拖地(di)(di)模(mo)式下接地(di)(di)屏(ping)(ping)蔽層應懸(xuan)空不(bu)能接地(di)(di)且(qie)高(gao)壓(ya)測(ce)量(liang)線(xian)也應懸(xuan)空吊(diao)起不(bu)能拖地(di)(di)。

高(gao)壓輸出(chu)插座（0.5～10kV，*大200mA）

安裝位置(zhi)：如圖2-1所示(shi)，安裝在(zai)箱體前側(ce)面。

功   &nbsp;能：內(nei)高(gao)壓輸出(chu)；檢測反接線試品電流；內(nei)部(bu)標準電容器的高(gao)壓端(duan)。

接(jie)(jie)線(xian)(xian)方法：插座1腳接(jie)(jie)高(gao)壓(ya)(ya)線(xian)(xian)芯(xin)線(xian)(xian)（紅夾子(zi)(zi)），2、3腳接(jie)(jie)高(gao)壓(ya)(ya)線(xian)(xian)屏(ping)(ping)蔽(bi)(bi)（黑(hei)夾子(zi)(zi)）。正接(jie)(jie)線(xian)(xian)時，高(gao)壓(ya)(ya)線(xian)(xian)芯(xin)線(xian)(xian)（紅夾子(zi)(zi)）和屏(ping)(ping)蔽(bi)(bi)（黑(hei)夾子(zi)(zi)）都(dou)可以(yi)用(yong)作加壓(ya)(ya)線(xian)(xian)；反接(jie)(jie)線(xian)(xian)時只能用(yong)芯(xin)線(xian)(xian)對(dui)試(shi)品(pin)高(gao)壓(ya)(ya)端(duan)加壓(ya)(ya)。如果試(shi)品(pin)高(gao)壓(ya)(ya)端(duan)有(you)(you)屏(ping)(ping)蔽(bi)(bi)極（如高(gao)壓(ya)(ya)端(duan)的屏(ping)(ping)蔽(bi)(bi)環(huan)）可接(jie)(jie)高(gao)壓(ya)(ya)屏(ping)(ping)蔽(bi)(bi)，無屏(ping)(ping)蔽(bi)(bi)時高(gao)壓(ya)(ya)屏(ping)(ping)蔽(bi)(bi)懸空(kong)。若(ruo)配置的高(gao)壓(ya)(ya)測(ce)試(shi)線(xian)(xian)有(you)(you)接(jie)(jie)地屏(ping)(ping)蔽(bi)(bi)層(ceng)，則需將高(gao)壓(ya)(ya)測(ce)量線(xian)(xian)的接(jie)(jie)地屏(ping)(ping)蔽(bi)(bi)層(ceng)連接(jie)(jie)至(zhi)圖2-1中的“1”處。

注意事項：

（1）若儀(yi)器CVT自(zi)(zi)激法高(gao)(gao)壓(ya)連線具備“高(gao)(gao)壓(ya)拖(tuo)地”功(gong)能(neng)，使(shi)用(yong)拖(tuo)地模式測量時務必使(shi)用(yong)原(yuan)廠配置的專用(yong)高(gao)(gao)壓(ya)電(dian)纜(lan)（原(yuan)廠電(dian)纜(lan)在(zai)出(chu)廠時已進行校準），不可使(shi)用(yong)其(qi)它高(gao)(gao)壓(ya)電(dian)纜(lan)代替，否(fou)則會引起較大的測量誤差。CVT自(zi)(zi)激法不使(shi)用(yong)拖(tuo)地模式時，高(gao)(gao)壓(ya)電(dian)纜(lan)必須懸空，接(jie)地屏蔽層也(ye)不能(neng)接(jie)地！

（2）高(gao)壓插(cha)座和高(gao)壓線(xian)有危險(xian)電(dian)壓，**禁止碰(peng)觸(chu)高(gao)壓插(cha)座、電(dian)纜、夾子(zi)和試品帶電(dian)部位！確認斷電(dian)后接線(xian)，測量時務(wu)必(bi)遠離！

（3）用(yong)標(biao)準介損器(qi)（或標(biao)準電容器(qi)）檢定(ding)反(fan)接(jie)線精度時，應使用(yong)全屏(ping)蔽插頭連(lian)接(jie)試品，否(fou)則暴露的芯線會(hui)引起測量(liang)誤差。

（4）應保證(zheng)高壓線與(yu)試品高壓端零電(dian)阻(zu)連接，否則(ze)可能引(yin)起誤差或數據波動，也可能引(yin)起儀器(qi)保護。

（5）強干擾下拆除接(jie)線時，應在保持(chi)電纜接(jie)地狀態下斷開連(lian)接(jie)，以防感應電擊。

CVT自激法(fa)低壓輸(shu)出插座（3～50V，3～30A）

功    能：由該插(cha)座(zuo)和圖(tu)2-1中的接(jie)(jie)地(di)接(jie)(jie)線柱(zhu)“4”輸出CVT測量的低(di)壓變頻(pin)激(ji)勵電源。

注(zhu)意事項：

（1）因低壓(ya)輸出電流大(da)，應采用儀器專用低阻線連接CVT二次繞組，接觸**會(hui)影響測量。

（2）視CVT容量(liang)從菜單(dan)選擇(ze)合(he)適的電壓電流保護限。

（3）選擇正/反接線時，此輸(shu)出封閉。

測量(liang)(liang)接地(di)：它同外殼和電源(yuan)插座地(di)線連到一起(qi)，與(yu)圖2-1的(de)(de)“3”一起(qi)輸出CVT測量(liang)(liang)的(de)(de)低壓變頻激勵電源(yuan)。盡管(guan)儀器(qi)有接地(di)保護，但無論(lun)何種測量(liang)(liang)，儀器(qi)都應可(ke)靠獨立接地(di)以保障使用者的(de)(de)**及測量(liang)(liang)結果(guo)的(de)(de)準確(que)。

打印(yin)機：微型(xing)熱敏打印(yin)機，用于打印(yin)測試(shi)數據。

USB：USB通(tong)信用(yong)。

RS232：與計(ji)算機(ji)聯機(ji)使用。

U盤：用(yong)于外接(jie)U盤保存數據。

試品輸入Cx插(cha)座(zuo)（10μA～5A）

功   &nbsp;能：正(zheng)接線時輸入(ru)試品(pin)電流(liu)。

接(jie)線(xian)方(fang)法：插座1腳接(jie)測(ce)量(liang)線(xian)芯線(xian)（紅夾子），2、3腳接(jie)測(ce)量(liang)線(xian)屏(ping)(ping)(ping)蔽（黑夾子）。正接(jie)線(xian)時芯線(xian)（紅夾子）接(jie)試(shi)(shi)品低(di)壓信號端(duan)，如果試(shi)(shi)品低(di)壓端(duan)有屏(ping)(ping)(ping)蔽極（如低(di)壓端(duan)的屏(ping)(ping)(ping)蔽環）可接(jie)屏(ping)(ping)(ping)蔽，試(shi)(shi)品無屏(ping)(ping)(ping)蔽時屏(ping)(ping)(ping)蔽懸空。

注意事(shi)項：

（1）測量中嚴禁拔下插頭(tou)，防(fang)止試品電流經人體入地！

（2）用(yong)標準介損器(qi)（或標準電容器(qi)）檢測儀器(qi)正(zheng)接線精度時，應使用(yong)全屏蔽插頭連接試(shi)品，否則暴(bao)露的芯(xin)線會引起測量誤差。

（3）應(ying)保(bao)證引線(xian)與試(shi)品低壓端0電阻連接，否則(ze)可能引起誤差或數據波動，也可能引起儀器保(bao)護。

（4）強干擾下(xia)拆除接線時，應在保持電(dian)纜接地狀態(tai)下(xia)斷開(kai)連接，以防感應電(dian)擊。

標準電容輸入Cn插座（10μA～5A）

功    能：輸入外接標準電容器電流。

接線方(fang)法：與(yu)Cx插座類似，其(qi)區別(bie)在于：

（1）使(shi)用外部標準(zhun)(zhun)電(dian)(dian)容器時，應使(shi)用全屏(ping)蔽(bi)插頭連(lian)接。此方式常用于(yu)外接高(gao)電(dian)(dian)壓等(deng)級(ji)標準(zhun)(zhun)電(dian)(dian)容器，實(shi)現高(gao)電(dian)(dian)壓介損測量。

（2）菜(cai)單(dan)選擇“外標(biao)準電容(rong)”方式(shi)。

（3）將外(wai)接標(biao)準電(dian)容器(qi)的C和tgδ置入儀器(qi)，實現Cx電(dian)容介損(sun)的**值測量。

從理論上講，任(ren)何容(rong)量和(he)介損的電(dian)容(rong)器(qi)，將參數置入(ru)儀器(qi)都(dou)可做標準電(dian)容(rong)器(qi)。不同的是標準電(dian)容(rong)器(qi)能提供(gong)更好的長期穩定性(xing)和(he)精度。

（4）不管正(zheng)接(jie)(jie)線還是(shi)反接(jie)(jie)線測量，標準電容(rong)器接(jie)(jie)線方式始終為(wei)正(zheng)接(jie)(jie)線。

總電源開關：開關機用，可在發現異常時隨時關閉。

供電電源插座：接220V市電，插座內(nei)置保(bao)險(xian)(xian)絲(si)(si)(si)座，保(bao)險(xian)(xian)絲(si)(si)(si)規格(ge)為10A / 250V，若損壞應使用(yong)相(xiang)同規格(ge)的保(bao)險(xian)(xian)絲(si)(si)(si)替(ti)換。若換用(yong)備(bei)用(yong)保(bao)險(xian)(xian)絲(si)(si)(si)后仍燒斷(duan)，可能儀器(qi)有(you)故障，可通知(zhi)廠(chang)家(jia)處理。

高(gao)壓(ya)允許開關(guan)：內置高(gao)壓(ya)系統或CVT自(zi)激法(fa)低壓(ya)輸出系統的總(zong)電源開關(guan)。此開關(guan)受總(zong)電源開關(guan)控制。

按鍵(jian)：按下(xia)“↑”、“↓”、“←”、“→”鍵(jian)可(ke)移動光標(biao)和修(xiu)改光標(biao)處內容，“確認(ren)”鍵(jian)用于確認(ren)或(huo)結(jie)束參數修(xiu)改，在測(ce)(ce)試界面長(chang)按該鍵(jian)可(ke)開始測(ce)(ce)量，測(ce)(ce)量過程中，按“確認(ren)”鍵(jian)可(ke)終止測(ce)(ce)量。

液(ye)晶(jing)顯(xian)示(shi)屏：320×240點(dian)陣灰白背光液(ye)晶(jing)顯(xian)示(shi)屏，顯(xian)示(shi)菜單、測(ce)量結果或出錯信息。應避免(mian)長時間陽光爆曬(shai)，避免(mian)重壓(ya)。

背光調(diao)節：液晶顯(xian)示(shi)屏顯(xian)示(shi)較暗或不清(qing)晰時可(ke)調(diao)節該(gai)電位器(qi)至合適(shi)位置(zhi)使顯(xian)示(shi)明亮(liang)清(qing)晰。

指示燈(deng)：配合(he)儀器(qi)內部蜂鳴器(qi)進(jin)行測試、報警(jing)等聲光警(jing)示。

3、WBJS6000抗干擾精密介質損耗測試儀使(shi)用說明(ming)

3.1初始菜單(dan)界(jie)面

打開(kai)總電源開(kai)關后(hou)，系統(tong)進入(ru)初始(shi)菜(cai)單界面。

測(ce)(ce)試(shi)模(mo)式：選擇(ze)測(ce)(ce)試(shi)模(mo)式和設置各項測(ce)(ce)試(shi)參數，

歷史記(ji)錄：查看保存(cun)的(de)歷史數(shu)據(ju)

系統設(she)(she)置：出廠參數設(she)(she)置及系統時間校(xiao)準

幫    助：可查閱軟件版本(ben)等信息

取消或使用(yong)CVT自(zi)激法“高壓連線拖地(di)”功能(neng)：

開機右下角顯示“”表示該儀器在CVT自激法測試時高壓連線具備拖地功能。

光標停留在“測試模式”處長按“→”鍵（聽到蜂鳴器聲音松手）可取消或使用拖地模式（右下角顯示“”表示當前為拖地模式），在拖地模式下必須將高壓連線的接地屏蔽層插頭接至圖2-1中的“1”（高壓測量接地）處，否則會引起測量誤差；取消拖地模式后高壓連線必須懸空吊起，同時高壓連線的接地屏蔽層插頭也應懸空，否則會引起測量誤差。

使用或取(qu)消發(fa)“發(fa)電機供(gong)電”模(mo)式：

光標停留在“測試模式”處長按“←”鍵（聽到蜂鳴器聲音松手）可使用或取消發電機供電模式（左下角顯示“”表示當前為發電機供電模式），儀器開機默認為市電供電模式，發電機模式適合使用發電機或移動電源供電環境，發電機模式下儀器將不進行接地檢測。

3.2測試模式(shi)

3.2.1 開始測試菜單界面

在初始(shi)菜(cai)單(dan)界面(mian)將(jiang)光標(biao)移(yi)動到“測試模式”按(an)確定(ding)按(an)鈕進入(ru)開始(shi)測試菜(cai)單(dan)界面(mian)，如圖3-2所(suo)示(shi)。

界面左側(ce)為(wei)(wei)參數(shu)(shu)設(she)置選項，移(yi)動光(guang)標(biao)到相關參數(shu)(shu)選項按(an)確定(ding)鍵可設(she)置相關試(shi)驗參數(shu)(shu)，右側(ce)顯示(shi)內容為(wei)(wei)已設(she)置好試(shi)驗參數(shu)(shu)，光(guang)標(biao)停留在“開(kai)始(shi)測試(shi)”欄長按(an)“確認” 鍵可開(kai)始(shi)測試(shi)。

界面右側(ce)“測試地(di)點(dian)”下(xia)一行為(wei)信(xin)息提示行，若內外(wai)高(gao)壓(ya)選擇(ze)有(you)誤則(ze)提示“當前為(wei)內高(gao)壓(ya)模式，請(qing)開(kai)啟(qi)(qi)內高(gao)壓(ya)”或“當前為(wei)外(wai)高(gao)壓(ya)模式，請(qing)關閉內高(gao)壓(ya)”；若儀器(qi)沒有(you)接地(di)則(ze)會提示“請(qing)檢查接地(di)”，當有(you)錯誤提示時儀器(qi)無法正常(chang)啟(qi)(qi)動(dong)，只有(you)提示“確(que)認無誤后(hou)長按(an)確(que)認鍵開(kai)始測試”時儀器(qi)方可啟(qi)(qi)動(dong)測試。

3.2.2 試品模型選擇菜單界面

將(jiang)光(guang)標(biao)(biao)移(yi)(yi)動到“試(shi)品(pin)模(mo)型(xing)(xing)”功能選項，界面如圖3-3所示，按(an)“確(que)認”按(an)鈕后移(yi)(yi)動光(guang)標(biao)(biao)可(ke)選擇合適的試(shi)品(pin)模(mo)型(xing)(xing)（光(guang)標(biao)(biao)移(yi)(yi)動到相應功能后按(an)確(que)認鍵(jian)）。實驗室一(yi)般使(shi)用(yong)串聯型(xing)(xing)介損因數標(biao)(biao)準器檢定，校驗時(shi)應使(shi)用(yong)RC串聯模(mo)型(xing)(xing)。

RC串(chuan)聯(電流比(bi)較(jiao)儀型電橋(qiao))：采(cai)用電流比(bi)較(jiao)儀型電橋(qiao)（如QS30電橋(qiao)）校準(zhun)的串(chuan)聯型試品(或(huo)介(jie)質損(sun)耗因數標(biao)準(zhun)器(qi))，該項在開始測試界面顯(xian)示"RC串(chuan)聯"。

RC串聯(西林型電橋)： 采用西林型電橋（如2801、QS1和QS37等電橋）校準的串聯型試品(或介質損耗因數標準器) ，該項在開始測試界面顯示 "RC串聯"。

RC并聯(lian)(現(xian)(xian)場使用(yong))：一般實際(ji)的(de)電容試品可(ke)等效為RC并聯(lian)模型，建議現(xian)(xian)場試驗時使用(yong)。

采用電流比較儀型電橋和西林型電橋校準的串聯型試品(或介質損耗因數標準器)的區別只是電容量不同：為西林型電橋標定值，C為電流比較儀型電橋標定值。

3.2.3 接線方式(shi)選擇菜(cai)單界面

將(jiang)光(guang)(guang)標移(yi)動到“接(jie)線方式(shi)”功能選項，界(jie)面如圖3-4所示，按“確認”按鈕后移(yi)動光(guang)(guang)標可(ke)選擇(ze)合(he)適的接(jie)線方式(shi)。

接線(xian)方式：共5種接線(xian)方式（功能因(yin)型號有差別，具體(ti)詳見型號功能說明部分），分別為：正接線(xian)、反接線(xian)、反接線(xian)低壓屏蔽、CVT自激法(fa)和(he)變(bian)比(bi)。選(xuan)擇(ze)CVT自激法(fa)測量時需同(tong)時將(jiang)相關參數一(yi)并(bing)設置好。

CVT自激法(fa)測量(liang)必須打開內高(gao)壓(ya)允(yun)許(xu)開關，由機內提供激勵電壓(ya)，由“低壓(ya)輸(shu)出”和“測量(liang)接地”輸(shu)出。為**起見，CVT自激法(fa)還需要設置(zhi)以下幾個保護限：

將光(guang)標移(yi)動到xxkV / xxmA / xxV / xxA，按(an)↑↓選擇合適值，選擇好后按(an)確認(ren)鍵退出。

xxkV：可選0.5/0.6/0.8/1/1.5/2/2.5/3/3.5/4kV，為高壓(ya)上限(xian)，只能使(shi)用4kV以下電壓(ya)。

xxmA：可選(xuan)10/15/20/25/30/35/40/45/50/60/70/80/100/120/140/200mA，表示待(dai)測試品的高壓(ya)電(dian)流上(shang)限。

xxV：可選3/4/5/6/7/8/9/10/12/15/20/25/30/35/40/50V，表示低(di)壓激勵(li)電壓上(shang)限(xian)。

xxA：可選(xuan)3/4/5/6/7/8/9/10/11/12/13/14/15/16/20/30A，表示低(di)壓(ya)激勵電流上(shang)限。

注(zhu)意(yi)：

（1）測量時(shi)4個保護限同(tong)時(shi)起作(zuo)用(yong)，因此試驗高(gao)壓(ya)可能達(da)不到設定值。如(ru)果高(gao)壓(ya)達(da)不到保護限，可適(shi)當(dang)調整受到限制(zhi)的(de)保護限。

（2）通常測量(liang)C1時低壓(ya)激勵電(dian)壓(ya)可(ke)達20V，測量(liang)C2時低壓(ya)激勵電(dian)流可(ke)達15A。一般可(ke)設(she)高壓(ya)電(dian)壓(ya)2～3kV，較(jiao)少采用高壓(ya)電(dian)流限(xian)制，可(ke)設(she)為*大(da)200mA。

變比測量時(shi)應選(xuan)擇合(he)適的(de)高壓輸出(chu)使二(er)次側(ce)電(dian)壓小于120V，當二(er)次側(ce)電(dian)壓≥120V時(shi)儀器會(hui)發出(chu)聲(sheng)光報警(jing)并提示“接線(xian)錯誤”。

3.2.4 標準(zhun)電容選擇菜單界面

將光標(biao)移動(dong)到“標(biao)準(zhun)電(dian)容(rong)”功(gong)能選項(xiang)，界面如(ru)圖3-5所示，按“確認”按鈕后移動(dong)光標(biao)可選擇合適的標(biao)準(zhun)電(dian)容(rong)。選擇外標(biao)準(zhun)電(dian)容(rong)時需同時將外標(biao)準(zhun)的電(dian)容(rong)量(liang)和介損(sun)一并設置好。

選擇(ze)外標(biao)準電容(rong)時(shi)將光標(biao)移(yi)動到Cn=xxxxx e x pF 和(he)tgδ=xx.xxx%按(an)↑↓選擇(ze)合適值，選擇(ze)好后按(an)確認鍵退出。

Cn采用科學(xue)計數法(fa)，如5.000e1=5.000×101=50.00，1.000e2=1.000×102=100.0等(deng)，范圍0.000e0～9.999e5 (即0～999900pF)。tgδ設置(zhi)范圍0～±9.999%。

內標(biao)準電容通常可用于正(zheng)、反(fan)接線(xian)測量(liang)和CVT自(zi)激法測量(liang)，高電壓介損選用外(wai)標(biao)準方式，需要將外(wai)接電容參數置入儀器。

3.2.5 測試頻(pin)率選(xuan)擇菜單界面

測試(shi)頻(pin)率可選擇(ze)定頻(pin)或異頻(pin)，頻(pin)率選擇(ze)菜(cai)單界(jie)面(mian)如圖3-6所示，頻(pin)率選擇(ze)范圍如下：

定(ding)頻：

“50Hz”：為工頻測量，此設置不能抗干擾，在試驗室內測量或(huo)校驗時選用。

“45/55/60/65Hz”：為單頻(pin)率測量，研(yan)究不同頻(pin)率下(xia)介損的(de)變化時選(xuan)用。

頻率(lv)(lv)自(zi)適應：外(wai)高壓(ya)測量模式(shi)下有效(xiao)（不能更改），系統自(zi)動識(shi)別外(wai)施高壓(ya)頻率(lv)(lv)，測試(shi)頻率(lv)(lv)無需(xu)在(zai)測試(shi)前設置(zhi)。

異頻(pin)：

“45/55Hz”：為(wei)自動變頻(pin)，適合50Hz電網工頻(pin)干擾下測量。

“55/65Hz”：為(wei)自(zi)動(dong)變頻，適合60Hz電網工頻干(gan)擾(rao)下測量。

“47.5/52.5Hz”：為自動變(bian)頻，適合50Hz電網工(gong)頻干擾下測(ce)量。

3.2.6 測試電壓選擇(ze)菜單界面

內高(gao)(gao)壓(ya)可選(xuan)擇“0.5 /0.6 /0.8 /1 /1.5 /2 /2.5 /3 /3.5 /4 /4.5 /5 /5.5 /6 /6.5 /7 /7.5 /8 /8.5 /9 /9.5 /10.0kV”（F型*高(gao)(gao)輸出電(dian)壓(ya)為12kV），應(ying)根據高(gao)(gao)壓(ya)試驗(yan)規程選(xuan)擇合適(shi)的(de)試驗(yan)電(dian)壓(ya)。

注：若(ruo)選(xuan)擇“CVT自激(ji)法”測試功能(neng)，則該選(xuan)項(xiang)無(wu)效。CVT自激(ji)法的相關電壓參(can)數需在該功能(neng)選(xuan)項(xiang)下(xia)進行設置。

3.2.7 測(ce)試(shi)備忘設置菜單界面

設(she)備(bei)編(bian)(bian)號(hao)：可設(she)置(zhi)(zhi)8位字(zi)母或(huo)數字(zi)編(bian)(bian)號(hao)，將光(guang)標移(yi)動(dong)到”設(she)備(bei)編(bian)(bian)號(hao)”處，按確(que)認健進(jin)入設(she)備(bei)編(bian)(bian)號(hao)設(she)置(zhi)(zhi)，通過“←”、“→”健移(yi)動(dong)光(guang)標，通過↑↓選(xuan)擇合適值，設(she)置(zhi)(zhi)好后按確(que)認鍵退出。

測試(shi)人(ren)(ren)員：可設(she)(she)置(zhi)8位字母(mu)或數字編號，將光標移(yi)動到” 測試(shi)人(ren)(ren)員”處，按確認健(jian)進入測試(shi)人(ren)(ren)員設(she)(she)置(zhi)，通過“←”、“→”健(jian)移(yi)動光標，通過↑↓選(xuan)擇合適(shi)值，設(she)(she)置(zhi)好后按確認鍵(jian)退出。

測試(shi)地點：可設(she)(she)置8位(wei)字(zi)母或(huo)數(shu)字(zi)編號，將光標(biao)移動到” 測試(shi)地點”處，按確認健進入測試(shi)地點設(she)(she)置，通過(guo)“←”、“→”健移動光標(biao)，通過(guo)↑↓選擇合適值，設(she)(she)置好后按確認鍵退出(chu)。

3.2.8 測試結果界面(mian)

3.2.8.1反接法(fa)測試結果界面

測試完成(cheng)顯示結(jie)果(guo)后，可(ke)移動光標選(xuan)擇保存或打印(yin)數據。

儀(yi)器自(zi)動分辨(bian)電(dian)(dian)容、電(dian)(dian)感、電(dian)(dian)阻型試(shi)(shi)(shi)品(pin)：電(dian)(dian)容型試(shi)(shi)(shi)品(pin)顯示(shi)(shi)Cx和tgδ；電(dian)(dian)感型試(shi)(shi)(shi)品(pin)顯示(shi)(shi)Lx和Q；電(dian)(dian)阻型試(shi)(shi)(shi)品(pin)顯示(shi)(shi)Rx和附加Cx或Lx。自(zi)動選取顯示(shi)(shi)單位。

試品(pin)為電(dian)(dian)容時：顯示數據為Cx、tgδ、Ux、Ix、Φ、f1、f2, |δ|>1則(ze)顯示電(dian)(dian)容和串/并聯電(dian)(dian)阻(zu)

試品(pin)為(wei)電(dian)(dian)感時：顯(xian)(xian)示數據為(wei)Lx、Q、Ux、Ix、Φ、f1、f2, |Q|<1則顯(xian)(xian)示電(dian)(dian)感和串聯電(dian)(dian)阻(zu)

試品為電(dian)阻時：顯(xian)示(shi)數據為Cx(Lx)、Rx、Ux、Ix、Φ、f1、f2

Cx   試(shi)品電容(rong)量[1μF=1000nF納法(fa) / 1nF=1000pF]，如顯示10.00nF即10000pF

tgδ 介損因數[1%=0.01]

Lx   試品電感量(liang)[1MH兆(zhao)亨(heng)=1000kH / 1kH=1000H]

Q    品質因數[無單位(wei)]

Rx   試(shi)品電阻值[1MΩ=1000kΩ / 1kΩ=1000Ω]

Ux   試(shi)驗電壓(ya)[1kV=1000V / 1V=1000mV]

Ix   試(shi)品電流[1A=1000mA / 1mA=1000μA]

Φ   試品電流(liu)超(chao)前(qian)試驗(yan)電壓(ya)的(de)角度(du)[°度(du)]或測變比時一次電壓(ya)超(chao)前(qian)二(er)次電壓(ya)的(de)角度(du)

K    測CVT變(bian)比(bi)(bi)時，一次電(dian)(dian)壓比(bi)(bi)二次電(dian)(dian)壓

f1   頻率[Hz]，顯示**次測試頻率

f2   頻率[Hz]，顯示**次測試(shi)頻率

顯示over表示測量數據超量程。

3.2.8.2反接線(xian)低(di)壓屏蔽測試結(jie)果界(jie)面

反接線低壓屏蔽測(ce)試一次接線可(ke)同時(shi)測(ce)出C11和(he)C下(xia)節(jie)(下(xia)端屏蔽部分)的電容量(liang)和(he)介損值。

3.2.8.3 CVT自激法(fa)測試(shi)結(jie)果界面(mian)

CVT自激法按測(ce)(ce)量接(jie)線，與試(shi)品輸入Cx插座(zuo)連(lian)接(jie)的定義為(wei)(wei)C1，與高壓線連(lian)接(jie)的為(wei)(wei)C2。U1為(wei)(wei)測(ce)(ce)量C1時的高壓，U2為(wei)(wei)測(ce)(ce)量C2時的高壓。

3.3歷史數據

進入歷史數據菜單界(jie)面如圖3-12所示。

移動光標到(dao)“U盤”選(xuan)項(xiang)按(an)(an)“確定(ding)”鍵可將數(shu)(shu)據(ju)(ju)導出(chu)到(dao)U盤，上移到(dao)“清空”選(xuan)項(xiang)按(an)(an)“確定(ding)”鍵可清空保(bao)存的全(quan)部數(shu)(shu)據(ju)(ju)。將光標移動到(dao)“>>>>”選(xuan)項(xiang)按(an)(an)下“確定(ding)”鍵進(jin)入(ru)(ru)數(shu)(shu)據(ju)(ju)選(xuan)擇界面(mian)(mian)，光標位置默認停留在*近保(bao)存的單條數(shu)(shu)據(ju)(ju)上，若(ruo)要查看(kan)其他數(shu)(shu)據(ju)(ju)可上下移動光標進(jin)行選(xuan)擇，選(xuan)擇好(hao)要查看(kan)的數(shu)(shu)據(ju)(ju)后按(an)(an)“確定(ding)”按(an)(an)鈕進(jin)入(ru)(ru)單條歷史(shi)(shi)數(shu)(shu)據(ju)(ju)顯示界面(mian)(mian)。歷史(shi)(shi)數(shu)(shu)據(ju)(ju)選(xuan)擇界面(mian)(mian)和單條歷史(shi)(shi)數(shu)(shu)據(ju)(ju)顯示界面(mian)(mian)如圖3-13和圖3-14所示。

進入單(dan)(dan)條(tiao)歷(li)史數據顯示界面后，在左(zuo)側功能選項(xiang)區(qu)上下移動光標可選擇(ze)打印、刪除(chu)本條(tiao)數據和退(tui)出(chu)單(dan)(dan)條(tiao)歷(li)史數據顯示界面。

3.4系統設置

進(jin)入系統設(she)(she)置菜(cai)單可進(jin)行系統時(shi)間校(xiao)準，“出(chu)廠(chang)設(she)(she)置”參(can)數禁止用(yong)戶修(xiu)改，只(zhi)允許生產(chan)廠(chang)家進(jin)行出(chu)廠(chang)參(can)數設(she)(she)置。

3.5幫(bang)助

可查看儀器的(de)相關操作指導。

3.6啟動測量

進入測(ce)試(shi)界面設置好(hao)各項試(shi)驗參數(shu)后，將光標移動到“開始(shi)測(ce)試(shi)”功能選項上(shang)(shang)，按住(zhu)“確(que)認(ren)”鍵3s以上(shang)(shang)啟(qi)動測(ce)量。

啟(qi)動測(ce)量后發出聲光(guang)報警；在測(ce)試(shi)過程(cheng)中(zhong)會實(shi)時顯示測(ce)試(shi)相(xiang)關參數（電(dian)壓、電(dian)流、頻率、電(dian)容量等參數）和測(ce)量進程(cheng)(0%～99%)。

測量中按“確認”鍵可取消測量，遇緊急情況立(li)即關(guan)閉總電源。

測量(liang)過程結(jie)束，儀器(qi)自動降(jiang)壓后再顯示結(jie)果。

3.7對比(bi)度調節

液晶(jing)顯示(shi)屏的(de)對比度已在出廠時校(xiao)好，如果(guo)您感覺(jue)不夠(gou)清晰，調整面板上的(de)電位(wei)器(qi)使液晶(jing)顯示(shi)屏顯示(shi)內(nei)容清晰為(wei)止。

4、參考(kao)接線

4.1常(chang)規正接(jie)(jie)線（正接(jie)(jie)線、內(nei)標(biao)準電容、內(nei)高壓）

4.2常(chang)規反接(jie)線（反接(jie)線、內標準電容、內高壓）

4.3正(zheng)接(jie)線(xian)、外(wai)標準電容(rong)、內高壓

4.4反接(jie)線、外標(biao)準(zhun)電(dian)容、內(nei)高壓

4.5正接(jie)線、內標準電容、外高壓

4.6反接線、內標準電容、外高壓(ya)

4.7正(zheng)接線、外(wai)標準電容、外(wai)高(gao)壓（高(gao)電壓介損）

4.8反接(jie)線、外標(biao)準電容(rong)、外高壓

4.9反接線低壓屏蔽

可(ke)在220kV CVT母線接地情況下，對(dui)C11進(jin)行不(bu)拆線10kV反接線介(jie)損(sun)測(ce)量。如下圖所示(shi)：母線掛地線，C11上端不(bu)拆線，C11下端接高壓(ya)(ya)線芯(xin)線，C2末端δ和(he)X接Cx芯(xin)線。這(zhe)樣C12和(he)C2被低(di)壓(ya)(ya)屏(ping)(ping)蔽(bi)，儀器(qi)采用反接線低(di)壓(ya)(ya)屏(ping)(ping)蔽(bi)測(ce)量方式，可(ke)同時測(ce)出C11和(he)下端被屏(ping)(ping)蔽(bi)部分(fen)的(de)電(dian)容量和(he)介(jie)損(sun)值。

4.10 CVT自激法

高壓線芯(xin)線接C2下端，Cx芯(xin)線接C12上端。在(zai)CVT 自激法(fa)測(ce)(ce)量(liang)(liang)中，儀器(qi)先測(ce)(ce)量(liang)(liang)C12，然(ran)后自動(dong)倒線測(ce)(ce)量(liang)(liang)C2，并自動(dong)校準分壓影響。

1）D型高(gao)壓(ya)連線不(bu)可拖地(di)，高(gao)壓(ya)線應(ying)懸(xuan)空不(bu)能接(jie)觸地(di)面(mian)（高(gao)壓(ya)線的接(jie)地(di)屏蔽層插頭必須懸(xuan)空），否則其對地(di)附加介損會(hui)引起(qi)誤差，可用細電(dian)纜連接(jie)高(gao)壓(ya)插座與CVT試品(pin)并吊起(qi)。

2）E、F、S、J型高壓連線可拖地使用，在開機初始界面（圖3-1界面），光標停留在“測試模式”處長按“→”鍵（聽到蜂鳴器聲音松手）可取消或使用拖地模式（右下角顯示“”表示當前為拖地模式），在拖地模式下必須將高壓連線的接地屏蔽層插頭接至圖2-1中的“1”（高壓測量接地）處，否則會引起測量誤差；取消拖地模式后高壓連線必須懸空吊起，高壓連線的接地屏蔽層插頭也應懸空，否則會引起測量誤差。拖地模式下的高壓連線必須使用原廠配置的電纜（已校準），否則會引起測量誤差！

4.11 CVT變比測試

儀器高壓線(xian)(xian)的芯線(xian)(xian)紅夾子接(jie)CVT的上端(duan)，母(mu)線(xian)(xian)拆地，CVT下端(duan)接(jie)地，低壓線(xian)(xian)紅黑夾子接(jie)二次繞組。

5、常見CVT的參考測(ce)量方法

目前常見的(de)電(dian)(dian)容式電(dian)(dian)壓互感(gan)器(qi)可(ke)分為110kV、220kV、500kV等(deng)不同(tong)電(dian)(dian)壓等(deng)級，一般110kV的(de)CVT其C1就一節，220kV的(de)CVT其C1有兩節，而(er)500kV的(de)CVT其C1有三節。

5.1  500kV CVT的測(ce)量方法(fa)

1）C11的(de)測(ce)量方(fang)法(fa)

按圖5-1標明(ming)的(de)方式(shi)接線，測(ce)量C11時應(ying)注(zhu)意：

◇ 拆開δ端，X端一定要接地

◇ a點接紅(hong)色(se)高壓測(ce)試線的芯(xin)線（紅(hong)夾子(zi)），b點接紅(hong)色(se)高壓測(ce)試線的高壓屏(ping)蔽層（黑夾子(zi)）

2）C12的測量(liang)方法

按圖5-2標明的(de)方式(shi)接線，測量C12時(shi)注意：

◇ 拆(chai)開δ端(duan)，X端(duan)一定要(yao)接地

◇ a點(dian)接紅(hong)(hong)色(se)高壓(ya)測試線(xian)芯線(xian)（紅(hong)(hong)夾子(zi)），b點(dian)接黑色(se)低壓(ya)測試線(xian)芯線(xian)（紅(hong)(hong)夾子(zi)）

3）C13和C2的測量方法

儀(yi)(yi)器(qi)設(she)(she)有專門的(de)CVT自(zi)(zi)激(ji)法(fa)，不需(xu)外(wai)加任何其(qi)它設(she)(she)備，就可以完成測試。按圖(tu)5-3標明的(de)方式(shi)(shi)接線，儀(yi)(yi)器(qi)選用CVT自(zi)(zi)激(ji)法(fa)測量方式(shi)(shi)，試驗電壓可設(she)(she)置為2kV，CVT自(zi)(zi)激(ji)法(fa)能一次測量C13和C2兩個電容的(de)介(jie)損和電容量。

5.2  220kV CVT的測量(liang)方法

1）C11的(de)測量方(fang)法

按(an)圖5-4標明的方式(shi)接線，測量(liang)C11時注意：

◇ δ和X相連，與接地(di)分開(kai)。

◇ a點接(jie)紅色高壓測試(shi)線(xian)的芯線(xian)（紅夾子），C2末端δ和X 接(jie)Cx端芯線(xian)，這樣(yang)C12與C2就被低(di)壓屏蔽(bi)了。

2）C12和C2的測(ce)量(liang)方法

儀(yi)器(qi)設有(you)專(zhuan)門的(de)CVT自激法(fa)(fa)，不需外加任(ren)何其它設備，就可(ke)以完成(cheng)測試。按圖5-5標明(ming)的(de)方式接線，儀(yi)器(qi)選用CVT自激法(fa)(fa)測量方式，試驗電(dian)壓(ya)可(ke)設置為2kV，CVT自激法(fa)(fa)能(neng)一次測量C12和(he)C2兩個電(dian)容的(de)介損和(he)電(dian)容量。

5.3  110kV CVT的測量方法

儀器設有專門的(de)(de)CVT自激(ji)法，不需外加(jia)任(ren)何(he)其它(ta)設備，就可以(yi)完成測試。按圖5-6標明的(de)(de)方(fang)式(shi)接線，儀器選用CVT自激(ji)法測量(liang)方(fang)式(shi)，試驗電(dian)壓可設置(zhi)為2kV，CVT自激(ji)法能一次測量(liang)C13和C2兩(liang)個電(dian)容的(de)(de)介損和電(dian)容量(liang)。

6、現(xian)場試驗注意(yi)事項

如果使用中出現測試數(shu)據明顯(xian)不合理，請從以下方面查找(zhao)原(yuan)因：

6.1搭鉤接觸(chu)**

現(xian)場測量(liang)使用搭(da)(da)鉤(gou)連接(jie)試品(pin)時，搭(da)(da)鉤(gou)務必與試品(pin)接(jie)觸良(liang)好，否則(ze)接(jie)觸點放電會引(yin)起數據嚴重波動！尤其是引(yin)流(liu)線氧化層太厚，或風吹(chui)線擺動，易(yi)造(zao)成接(jie)觸**。

6.2接地接觸**

接(jie)地(di)(di)**會引起儀器保(bao)護(hu)或數據嚴(yan)重(zhong)波動。應刮(gua)凈接(jie)地(di)(di)點(dian)上的油漆和銹(xiu)蝕，務必(bi)保(bao)證0電阻接(jie)地(di)(di)！

6.3直接測量CVT或(huo)末端(duan)屏蔽法(fa)測量電磁式PT

直接測量CVT的下節耦合電(dian)容會出現(xian)負介(jie)損(sun)，消除負介(jie)損(sun)可采取下述(shu)措施或改用CVT自激法測量：

1）測試時測量(liang)儀器的接地端直接接在被(bei)試品(pin)的金屬底座上，并保證接觸良(liang)好(hao)。

2）條(tiao)件允(yun)許時盡可能將(jiang)非(fei)被試繞組(zu)短接，以(yi)減小電感(gan)和(he)鐵心損耗的影響。

3）被試品周(zhou)圍不應有鐵架(jia)、腳手架(jia)、木梯等物體，盡可能減小(xiao)分布阻抗的影響。

4）試驗引線與被試品(pin)的夾角應盡可能接(jie)近90°，以減小(xiao)線與試品(pin)間的分布電容。

用末(mo)端(duan)屏(ping)蔽法(fa)(fa)測(ce)量(liang)電磁式PT時，由于受(shou)潮引起“T形(xing)網絡干(gan)(gan)擾(rao)”出現(xian)負介(jie)損，吹干(gan)(gan)下面三裙瓷(ci)套(tao)和接線端(duan)子盤即可。也可改用常規法(fa)(fa)或末(mo)端(duan)加壓法(fa)(fa)測(ce)量(liang)。

6.4空氣濕度過大

空氣濕(shi)度大使介損測量值(zhi)異常增大（或減(jian)小甚至為負）且(qie)不穩定，必要時可加屏(ping)蔽(bi)環。因人(ren)為加屏(ping)蔽(bi)環改變了試(shi)品電場分布，此法有(you)爭(zheng)議(yi)，可參照有(you)關規(gui)程(cheng)。

6.5發(fa)電(dian)機供電(dian)

發電(dian)機供電(dian)時可(ke)采(cai)用定頻(pin)50Hz模(mo)式(shi)工(gong)作。

6.6測試線(xian)

1）由(you)于長(chang)期使(shi)用(yong)，易(yi)造成測試線隱性斷路，或芯線和屏蔽短路，或插(cha)頭接觸**，用(yong)戶應經常(chang)維護測試線。

2）測試標(biao)準電(dian)容(rong)試品時(shi)，應使(shi)用全(quan)屏蔽(bi)插頭連(lian)接，以消(xiao)除附(fu)加(jia)雜散電(dian)容(rong)影響，否則(ze)不能反映(ying)儀器精度(du)。

3）自激(ji)法(fa)測量CVT時，若使(shi)用(yong)(yong)(yong)“高壓(ya)(ya)連線拖(tuo)地”功能(neng)，請務(wu)必使(shi)用(yong)(yong)(yong)原廠配置的專用(yong)(yong)(yong)高壓(ya)(ya)電(dian)(dian)纜（原廠電(dian)(dian)纜在(zai)出廠時已(yi)進(jin)行校準），高壓(ya)(ya)連線的接地屏蔽層必須接地，不(bu)可(ke)使(shi)用(yong)(yong)(yong)其它高壓(ya)(ya)電(dian)(dian)纜代替，否(fou)則會引起較(jiao)(jiao)大(da)的測量誤差(cha)。若拖(tuo)地模式(shi)下測量誤差(cha)較(jiao)(jiao)大(da)，則需將(jiang)專用(yong)(yong)(yong)高壓(ya)(ya)電(dian)(dian)纜返廠重新進(jin)行校準。

4）自激法測(ce)量(liang)CVT時(shi)，非專(zhuan)用的(de)高壓線應吊起懸空，否則(ze)對地附(fu)加雜散電容和介(jie)損會(hui)引起測(ce)量(liang)誤差。使用專(zhuan)用電纜(lan)(lan)(lan)在非拖(tuo)地模式(shi)下測(ce)量(liang)CVT，高壓電纜(lan)(lan)(lan)也應懸空且(qie)電纜(lan)(lan)(lan)的(de)接(jie)地屏蔽層(ceng)不能(neng)接(jie)地，否則(ze)會(hui)引起較大的(de)測(ce)量(liang)誤差。

6.7工作模式選(xuan)擇(ze)

接好線后請選擇(ze)正確(que)的測量(liang)工作(zuo)模(mo)式，不(bu)可選錯(cuo)。特(te)別是干(gan)擾環境下應(ying)選用變頻抗干(gan)擾模(mo)式。

6.8試驗方法影響(xiang)

由(you)于介損測量受試驗(yan)方法影響較大，應區分是試驗(yan)方法誤(wu)差還是儀(yi)器誤(wu)差。出現問題(ti)時(shi)可(ke)首先(xian)檢查接(jie)線(xian)，然(ran)后檢查是否為儀(yi)器故障。

6.9儀器故障

1）用萬用表(biao)測量一下測試線是(shi)否斷(duan)路，或芯線和屏蔽是(shi)否短(duan)路；

2）輸入電源(yuan)220V過高或過低；接地是(shi)否良好；

3）用正(zheng)、反接線測一下(xia)標準電容器(qi)或已(yi)知容量(liang)和介損的電容試品(pin)，如果(guo)結果(guo)正(zheng)確，即可(ke)判斷儀器(qi)沒有問題；

4）拔下所有測試(shi)(shi)導線，進行空試(shi)(shi)升(sheng)壓，若不能正常(chang)工作，儀器(qi)可(ke)能有故障。

7、儀(yi)器檢定(ding)

7.1檢定

用帶插(cha)頭的屏蔽電纜連接(jie)標(biao)(biao)準(zhun)損耗(hao)器。如(ru)果(guo)不能(neng)保證標(biao)(biao)準(zhun)損耗(hao)器的精(jing)度，應使用比對法檢定(ding)，建(jian)議用2801電橋(qiao)或其它精(jing)密電橋(qiao)作比對標(biao)(biao)準(zhun)。

1）介質損耗因數(shu)標準(zhun)器(qi)一般為(wei)串聯(lian)模型，因此儀器(qi)的試品模型應選擇“RC串聯(lian)(電(dian)流比較儀型電(dian)橋(qiao))”或“RC串聯(lian)(西林型電(dian)橋(qiao))”。

RC串聯(lian)(lian)(電流(liu)比較儀型電橋)：采用電流(liu)比較儀型電橋（如QS30電橋）校(xiao)準(zhun)(zhun)的串聯(lian)(lian)型試品(pin)(或介質損耗因數標準(zhun)(zhun)器)，該項(xiang)在開始測試界面顯示"RC串聯(lian)(lian)"。

RC串聯(西林型電橋)： 采用西林型電橋（如2801、QS1和QS37等電橋）校準的串聯型試品(或介質損耗因數標準器) ，該項在開始測試界面顯示 "RC串聯"。

采用電(dian)(dian)流比較儀型(xing)電(dian)(dian)橋(qiao)和西林型(xing)電(dian)(dian)橋(qiao)校準的(de)(de)串(chuan)聯型(xing)試品(或介(jie)質(zhi)損耗因數標準器)的(de)(de)區別(bie)只是電(dian)(dian)容量不(bu)同：

為西林型電橋標定值，C為電流比較儀型電橋標定值。

2）用介質損耗因數標準器(qi)（或標準電容器(qi)）檢(jian)定儀器(qi)反接線精度時(shi)，高壓電纜(lan)與試品(pin)連接必(bi)須(xu)使用全屏蔽插頭，否則暴露的芯線會引(yin)起(qi)測量誤(wu)差。

3）用(yong)介質(zhi)損耗(hao)因數(shu)標準器(qi)(qi)（或標準電(dian)容器(qi)(qi)）檢定儀器(qi)(qi)正接(jie)線(xian)精度時，低壓(ya)電(dian)纜與試(shi)品連接(jie)必須使用(yong)全屏蔽插頭，否則暴露的芯線(xian)會引(yin)起(qi)測量(liang)誤差。

嚴(yan)格按照上述(shu)要求檢定方能真實(shi)反映本儀器的測量(liang)精(jing)度！

7.2抗干擾(rao)能(neng)力

設置一(yi)個回(hui)路(lu)向儀器注入定量的干擾電(dian)流。

注意：

1）應考慮到該(gai)回路可能成為試(shi)品的一(yi)部分(fen)。

2）儀(yi)器啟(qi)動后會使(shi)220V供電電路(lu)帶(dai)有測量(liang)頻率分量(liang)，如果該頻率分量(liang)又通過干擾電流進入儀(yi)器，則無法(fa)檢驗儀(yi)器的抗(kang)干擾能力(li)。

3）不建議用(yong)臨近(jin)高壓導(dao)體(ti)(ti)施加干(gan)(gan)擾，因為這(zhe)樣很(hen)容(rong)易(yi)產(chan)生(sheng)近(jin)距離**放電，這(zhe)種放電電阻(zu)是非線性的，容(rong)易(yi)產(chan)生(sheng)同頻干(gan)(gan)擾。