1、WBJS6000抗干擾精密介質損耗測量儀特點及性(xing)能

介損絕緣試驗(yan)可以有效地發現電器(qi)設備絕緣的整體(ti)受(shou)潮劣化變質以及局部缺(que)陷等，在(zai)電工制(zhi)造、電氣(qi)設備安裝、交接和(he)預防性(xing)試驗(yan)中都廣(guang)泛應用。

介(jie)(jie)質損(sun)耗測(ce)量(liang)(liang)儀用于現(xian)場(chang)介(jie)(jie)損(sun)測(ce)量(liang)(liang)或試(shi)驗室精密介(jie)(jie)損(sun)測(ce)量(liang)(liang)。儀器為(wei)一體化(hua)結(jie)構，內置介(jie)(jie)損(sun)電橋、變頻(pin)電源、試(shi)驗變壓(ya)器和(he)標準電容器等(deng)。儀器采用變頻(pin)抗(kang)干擾(rao)和(he)傅立葉變換數字(zi)濾波技術，全自動智(zhi)能化(hua)測(ce)量(liang)(liang)，強干擾(rao)下(xia)測(ce)量(liang)(liang)數據非(fei)常穩定。測(ce)量(liang)(liang)結(jie)果由大屏幕液晶顯示(shi)，儀器自帶微型打(da)印(yin)機可(ke)打(da)印(yin)輸(shu)出(chu)測(ce)試(shi)結(jie)果。

1.1主(zhu)要技術指標

額定(ding)工(gong)作條件：環境溫(wen)度  -10℃～50℃

相(xiang)對濕度  <85%阿

輸入電源： &nbsp;  180V～270VAC，50Hz/60Hz±1%，市(shi)電或(huo)發電機(ji)供電

準(zhun)確度：      Cx: ±（讀數(shu)×1%+1pF）

tgδ: ±（讀數×1%+0.00040）

抗干(gan)擾(rao)指標：   變(bian)頻抗干(gan)擾(rao)，在200%干(gan)擾(rao)下(xia)仍能達到上述準(zhun)確度

電容量范(fan)圍： &nbsp; 內施高壓：3pF～60000pF/10kV    60pF～1μF/0.5kV

外施高壓(ya)：3pF～1.5μF/10kV      60pF～30μF/0.5kV

分(fen)辨率：       *高(gao)0.001pF，4位有效數(shu)字

tgδ范(fan)圍(wei)：     不限，分辨(bian)率0.001%，電容、電感、電阻(zu)三種試(shi)品(pin)自動識別。

試(shi)驗(yan)電(dian)流(liu)范圍： 10μA～5A

內施高壓(ya)：    設定電壓(ya)范(fan)圍(wei)：0.5～10kV

*大輸出(chu)電流：200mA

升降壓方式：連續(xu)平滑調節

電壓精度：±(1.0%×讀數+10V)

電(dian)壓分(fen)辨率：0.1V

試驗頻率：45、50、55、60、65Hz 單頻

45/55Hz、55/65Hz、47.5/52.5Hz 自動雙變頻

頻率精度：±0.01Hz

外施高(gao)壓：    正、反(fan)接線時*大試驗電流5A

CVT自激法(fa)低壓(ya)輸(shu)出(chu)：輸(shu)出(chu)電壓(ya)3～50V，輸(shu)出(chu)電流3～30A

高(gao)電(dian)壓(ya)介損：  支持變頻和諧(xie)振電(dian)源高(gao)電(dian)壓(ya)介損

實(shi)時(shi)時(shi)鐘(zhong)：    實(shi)時(shi)顯(xian)示時(shi)間和日(ri)期

內部存儲：    儀器內部可存儲100組(zu)測量數據

U盤：       ; 支(zhi)持U盤存儲

打印機(ji)(ji)：      微型熱敏打印機(ji)(ji)

計算機接口：  標準RS232接口（選配(pei)）

尺(chi)寸重量：    K型：外形尺(chi)寸368mm×288mm×280mm；主機重量22kg。

其他款型：外形尺(chi)寸430mm×314mm×334mm；主機重量(liang)30kg。

注：上述(shu)為E型(xing)主要技術指標，其它型(xing)號技術指標詳見本章節“1.3.6各型(xing)號測試功能說明”。

1.2 WBJS6000抗干擾精密介質損耗測量儀系列型號功能列表

1.3 WBJS6000抗干擾精密介質損耗測量儀主要功能特點

1.3.1 變頻抗干(gan)擾

采用變頻(pin)抗干擾技(ji)術，在(zai)200%干擾下仍能準確測(ce)量，測(ce)試(shi)數據穩定(ding)，適合在(zai)現場做抗干擾介損(sun)試(shi)驗(yan)。

1.3.2高(gao)精度測量

采用數字波形分析(xi)和電(dian)橋自校準(zhun)(zhun)等技術，配合高精(jing)(jing)度三端標準(zhun)(zhun)電(dian)容器(qi)，實(shi)現高精(jing)(jing)度介損測(ce)量(liang)(liang)。儀器(qi)所有量(liang)(liang)程輸入電(dian)阻低于(yu)2Ω，消(xiao)除了測(ce)量(liang)(liang)電(dian)纜附加電(dian)容的影(ying)響(xiang)。

1.3.3**措施

高(gao)(gao)壓(ya)保護：試品短路(lu)、擊(ji)穿或高(gao)(gao)壓(ya)電流波動(dong)，能以短路(lu)方式高(gao)(gao)速切斷輸出(chu)。

供電(dian)保護：誤(wu)接380V、電(dian)源波動(dong)或突然斷電(dian)，啟動(dong)保護，不會引起過電(dian)壓。

接(jie)地(di)(di)保護：具有接(jie)地(di)(di)檢測(ce)功能(neng)，未接(jie)地(di)(di)時(shi)不能(neng)升壓，若測(ce)量過程中儀器接(jie)地(di)(di)**則啟動接(jie)地(di)(di)保護。

CVT 保護：高壓(ya)側(ce)電(dian)(dian)壓(ya)和(he)電(dian)(dian)流(liu)、低壓(ya)側(ce)電(dian)(dian)壓(ya)和(he)電(dian)(dian)流(liu)四個保護限(xian)制，不會(hui)損壞設備；誤選菜(cai)單(dan)不會(hui)輸出(chu)激磁電(dian)(dian)壓(ya)。CVT測量時無10kV高壓(ya)輸出(chu)。

防誤操作：兩級電源開關(guan)；電壓(ya)、電流(liu)實時監視；多次按鍵確認；接線端子高(gao)/低壓(ya)分明；慢(man)速升壓(ya)，可迅速降壓(ya)，聲光(guang)報(bao)警。

防“容升”：測量大容量試品(pin)時會出現電(dian)(dian)壓抬高(gao)的“容升”效應(ying)，儀器能自動(dong)跟蹤輸出電(dian)(dian)壓，保持試驗電(dian)(dian)壓恒(heng)定。

高壓電纜(lan)：為耐高壓絕緣導(dao)線，可拖地使用(yong)。

抗震性能：儀器采(cai)用獨特(te)抗震設計，可耐(nai)受強烈長途運輸(shu)震動、顛(dian)簸而不會損(sun)壞(huai)。

1.3.4打(da)印存(cun)儲

儀器自帶微型打(da)(da)印機，可(ke)(ke)以將(jiang)測量結果(guo)打(da)(da)印輸出，并(bing)將(jiang)測量結果(guo)存貯(zhu)到儀器內（可(ke)(ke)存儲(chu)100組(zu)測量數(shu)據）或U盤，以便日后查(cha)閱。

1.3.5實時時鐘

儀器內帶實時時鐘(zhong)，實時顯(xian)示，并能(neng)記錄測量(liang)的日(ri)期和時間。

1.3.6各型號(hao)測試功能說明

B型：輕便型，高(gao)壓(ya)*大輸(shu)出電流(liu)為140mA，具有正接線、反(fan)接線功能，可選擇內/外標準電容、內/外高(gao)壓(ya)多種工作模式，一(yi)體(ti)化(hua)結構，可做各種常規介損試驗。

D型(xing)：實用型(xing)，高壓*大輸出(chu)電(dian)流為200mA，具(ju)有正接(jie)(jie)(jie)線(xian)(xian)(xian)、反(fan)(fan)接(jie)(jie)(jie)線(xian)(xian)(xian)、反(fan)(fan)接(jie)(jie)(jie)線(xian)(xian)(xian)低壓屏(ping)蔽、CVT自激(ji)法(fa)，反(fan)(fan)接(jie)(jie)(jie)線(xian)(xian)(xian)低壓屏(ping)蔽功能能在220kV CVT母線(xian)(xian)(xian)接(jie)(jie)(jie)地情況下，對C11進行不拆線(xian)(xian)(xian)10kV反(fan)(fan)接(jie)(jie)(jie)線(xian)(xian)(xian)介損(sun)測(ce)量，并可(ke)一次(ci)接(jie)(jie)(jie)線(xian)(xian)(xian)同(tong)(tong)時(shi)測(ce)出(chu)兩個(ge)電(dian)容(rong)的電(dian)容(rong)量和介損(sun)值。CVT自激(ji)法(fa)測(ce)量時(shi)，C1/C2可(ke)一次(ci)接(jie)(jie)(jie)線(xian)(xian)(xian)同(tong)(tong)時(shi)測(ce)出(chu)，無須換線(xian)(xian)(xian)和外(wai)接(jie)(jie)(jie)任何配件，但(dan)高壓測(ce)量線(xian)(xian)(xian)需懸(xuan)空吊起。

E型：標準型，在D型基礎上增加了CVT變(bian)比測(ce)試功(gong)能，同時(shi)(shi)升級了CVT自激(ji)(ji)法測(ce)試，現場(chang)CVT自激(ji)(ji)法測(ce)試時(shi)(shi)高壓測(ce)量線(xian)可拖地使用(yong)，無需吊起。

F型：增強(qiang)型，功能同(tong)E型，輸出*高電壓從10kV增加至12kV。

K型(xing)：標準型(xing)，在E型(xing)基礎上減(jian)小體積(ji)重量，設備更精(jing)巧。

S型：四通道(dao)型，功(gong)能同E型，增(zeng)加了(le)3個正接通道(dao)。

J型：高精度型，功能同E型，測量(liang)準確度為0.5%。

所(suo)有型號儀(yi)器均具備下述特點：

（1）支持(chi)變頻和諧(xie)振電源高電壓介損。

（2）內置串(chuan)聯(lian)和并聯(lian)兩種介損測量模型，方便儀器檢定。

（3）配置熱敏打(da)(da)印機(ji)，使打(da)(da)印更(geng)加快捷(jie)、無噪音(yin)和清晰。

（4）320×240點陣(zhen)大屏液晶顯(xian)示，菜單操(cao)作(zuo)，測試(shi)數據豐富，自(zi)動分辨(bian)電(dian)容、電(dian)感、電(dian)阻型試(shi)品。

（5）具有外(wai)接標準電(dian)容器接口，可(ke)外(wai)接油杯(bei)做精密絕(jue)緣油介(jie)損(sun)試驗(yan)(yan)，可(ke)外(wai)接固(gu)體材料測(ce)量電(dian)極做精密絕(jue)緣材料介(jie)損(sun)試驗(yan)(yan)，也可(ke)外(wai)接高壓標準電(dian)容器做高電(dian)壓介(jie)損(sun)試驗(yan)(yan)。

（6）帶日(ri)歷時鐘，可存(cun)儲(chu)100組(zu)測量(liang)數據。

（7）計算機接口(kou)（選(xuan)配(pei)）。

2、WBJS6000抗干擾精密介質損耗測量儀面(mian)板說明

高(gao)壓輸出測(ce)量(liang)接(jie)(jie)(jie)(jie)地(di)(di)：若出廠(chang)配置(zhi)的(de)高(gao)壓測(ce)試線(xian)有(you)接(jie)(jie)(jie)(jie)地(di)(di)屏(ping)(ping)蔽(bi)層，則需將高(gao)壓測(ce)量(liang)線(xian)的(de)接(jie)(jie)(jie)(jie)地(di)(di)屏(ping)(ping)蔽(bi)層連接(jie)(jie)(jie)(jie)至此(ci)處(chu)，沒有(you)則留空(kong)。CVT自激法測(ce)量(liang)的(de)高(gao)壓連線(xian)接(jie)(jie)(jie)(jie)地(di)(di)屏(ping)(ping)蔽(bi)層在拖(tuo)地(di)(di)模式(shi)下必須接(jie)(jie)(jie)(jie)地(di)(di)，非(fei)拖(tuo)地(di)(di)模式(shi)下接(jie)(jie)(jie)(jie)地(di)(di)屏(ping)(ping)蔽(bi)層應懸空(kong)不能接(jie)(jie)(jie)(jie)地(di)(di)且高(gao)壓測(ce)量(liang)線(xian)也(ye)應懸空(kong)吊起不能拖(tuo)地(di)(di)。

高壓輸(shu)出(chu)插(cha)座（0.5～10kV，*大200mA）

安(an)裝位(wei)置(zhi)：如圖2-1所示，安(an)裝在箱體前(qian)側(ce)面。

功    能(neng)：內高壓輸出；檢測反接線試品(pin)電流；內部標準電容器的(de)高壓端(duan)。

接(jie)(jie)線(xian)方法：插(cha)座1腳接(jie)(jie)高(gao)(gao)壓(ya)(ya)線(xian)芯線(xian)（紅(hong)夾(jia)子(zi)），2、3腳接(jie)(jie)高(gao)(gao)壓(ya)(ya)線(xian)屏(ping)(ping)蔽(bi)(bi)（黑(hei)(hei)夾(jia)子(zi)）。正接(jie)(jie)線(xian)時(shi)(shi)，高(gao)(gao)壓(ya)(ya)線(xian)芯線(xian)（紅(hong)夾(jia)子(zi)）和屏(ping)(ping)蔽(bi)(bi)（黑(hei)(hei)夾(jia)子(zi)）都可以用作加壓(ya)(ya)線(xian)；反(fan)接(jie)(jie)線(xian)時(shi)(shi)只(zhi)能(neng)用芯線(xian)對試品高(gao)(gao)壓(ya)(ya)端加壓(ya)(ya)。如(ru)果試品高(gao)(gao)壓(ya)(ya)端有屏(ping)(ping)蔽(bi)(bi)極（如(ru)高(gao)(gao)壓(ya)(ya)端的屏(ping)(ping)蔽(bi)(bi)環）可接(jie)(jie)高(gao)(gao)壓(ya)(ya)屏(ping)(ping)蔽(bi)(bi)，無(wu)屏(ping)(ping)蔽(bi)(bi)時(shi)(shi)高(gao)(gao)壓(ya)(ya)屏(ping)(ping)蔽(bi)(bi)懸空(kong)。若(ruo)配置的高(gao)(gao)壓(ya)(ya)測試線(xian)有接(jie)(jie)地屏(ping)(ping)蔽(bi)(bi)層(ceng)，則需將高(gao)(gao)壓(ya)(ya)測量線(xian)的接(jie)(jie)地屏(ping)(ping)蔽(bi)(bi)層(ceng)連接(jie)(jie)至圖2-1中(zhong)的“1”處。

注意事項：

（1）若儀器CVT自激法(fa)高(gao)(gao)壓(ya)連線具備(bei)“高(gao)(gao)壓(ya)拖地(di)(di)”功能，使(shi)用拖地(di)(di)模(mo)式測(ce)(ce)量時(shi)務必使(shi)用原廠(chang)(chang)配置的專用高(gao)(gao)壓(ya)電(dian)纜(lan)（原廠(chang)(chang)電(dian)纜(lan)在出廠(chang)(chang)時(shi)已進行校準），不(bu)可使(shi)用其它高(gao)(gao)壓(ya)電(dian)纜(lan)代(dai)替，否則會(hui)引起較大的測(ce)(ce)量誤差。CVT自激法(fa)不(bu)使(shi)用拖地(di)(di)模(mo)式時(shi)，高(gao)(gao)壓(ya)電(dian)纜(lan)必須懸(xuan)空，接(jie)地(di)(di)屏蔽層也不(bu)能接(jie)地(di)(di)！

（2）高(gao)(gao)壓(ya)(ya)插座(zuo)(zuo)和高(gao)(gao)壓(ya)(ya)線(xian)有危(wei)險(xian)電壓(ya)(ya)，**禁止碰觸高(gao)(gao)壓(ya)(ya)插座(zuo)(zuo)、電纜、夾子和試品帶(dai)電部位！確認斷(duan)電后(hou)接線(xian)，測量時務必遠(yuan)離！

（3）用標準介損器（或(huo)標準電容器）檢定(ding)反接線(xian)精度(du)時，應使用全屏蔽(bi)插頭(tou)連(lian)接試品，否則暴(bao)露的芯線(xian)會引起測量(liang)誤差(cha)。

（4）應保證高壓線(xian)與試品高壓端零電阻連(lian)接，否則可能引起誤差(cha)或數(shu)據波動，也可能引起儀器保護。

（5）強干擾(rao)下拆除接線時(shi)，應在保持電纜接地(di)狀態(tai)下斷(duan)開(kai)連接，以防感應電擊。

CVT自激法低壓輸(shu)出(chu)插(cha)座（3～50V，3～30A）

功(gong)  &nbsp; 能：由該插座(zuo)和圖2-1中的(de)接地接線柱“4”輸出CVT測量(liang)的(de)低壓(ya)變(bian)頻激勵電源。

注意事項(xiang)：

（1）因低(di)(di)壓輸出(chu)電流大，應采用(yong)儀器專(zhuan)用(yong)低(di)(di)阻線(xian)連(lian)接CVT二次繞組，接觸**會影響測量。

（2）視CVT容量從菜單選擇合適的電(dian)壓(ya)電(dian)流保護限。

（3）選擇正/反接線時，此輸出(chu)封閉。

測量(liang)接地(di)：它同外殼和電(dian)源(yuan)(yuan)插座地(di)線(xian)連到一起(qi)，與圖2-1的“3”一起(qi)輸出CVT測量(liang)的低(di)壓變頻激勵電(dian)源(yuan)(yuan)。盡管儀器(qi)有接地(di)保(bao)護，但無論何種測量(liang)，儀器(qi)都(dou)應(ying)可靠獨立接地(di)以保(bao)障使用者的**及(ji)測量(liang)結果的準確。

打(da)印機：微(wei)型熱(re)敏打(da)印機，用于打(da)印測試數據(ju)。

USB：USB通信用。

RS232：與計算機聯機使用。

U盤(pan)：用于外(wai)接U盤(pan)保存(cun)數據。

試(shi)品輸(shu)入Cx插座（10μA～5A）

功    能：正(zheng)接(jie)線(xian)時輸(shu)入(ru)試品電流。

接(jie)線方法：插座(zuo)1腳(jiao)接(jie)測量線芯線（紅(hong)夾子），2、3腳(jiao)接(jie)測量線屏(ping)蔽(bi)（黑夾子）。正接(jie)線時芯線（紅(hong)夾子）接(jie)試品低壓(ya)信(xin)號(hao)端(duan)(duan)，如(ru)果試品低壓(ya)端(duan)(duan)有屏(ping)蔽(bi)極（如(ru)低壓(ya)端(duan)(duan)的(de)屏(ping)蔽(bi)環）可(ke)接(jie)屏(ping)蔽(bi)，試品無屏(ping)蔽(bi)時屏(ping)蔽(bi)懸空。

注(zhu)意事項：

（1）測量(liang)中嚴禁拔下插頭(tou)，防止試品電流經人體入地(di)！

（2）用(yong)標準(zhun)介損器（或(huo)標準(zhun)電容(rong)器）檢測儀器正(zheng)接(jie)線(xian)精度時，應使用(yong)全(quan)屏(ping)蔽(bi)插頭連接(jie)試品，否則暴露的芯線(xian)會引起測量誤差。

（3）應保證引(yin)線與(yu)試品低壓(ya)端0電阻連接，否則(ze)可能引(yin)起(qi)(qi)誤差或數據波動，也可能引(yin)起(qi)(qi)儀器保護。

（4）強干擾下拆除接線時，應(ying)在保持電纜接地(di)狀(zhuang)態(tai)下斷開(kai)連接，以防感應(ying)電擊。

標準電容輸入Cn插座（10μA～5A）

功    能：輸入外接標準電(dian)容器電(dian)流。

接線方法：與Cx插座類似，其區別在于：

（1）使用(yong)外部標準電(dian)(dian)容器時(shi)，應(ying)使用(yong)全屏(ping)蔽(bi)插頭(tou)連接。此(ci)方式(shi)常用(yong)于外接高(gao)(gao)電(dian)(dian)壓(ya)等級標準電(dian)(dian)容器，實(shi)現高(gao)(gao)電(dian)(dian)壓(ya)介損測量。

（2）菜單選擇“外標準(zhun)電容”方(fang)式。

（3）將外接標準(zhun)電容(rong)器的(de)C和tgδ置(zhi)入(ru)儀器，實現Cx電容(rong)介損的(de)**值測(ce)量。

從理論上講(jiang)，任何容(rong)量和介損的(de)電容(rong)器(qi)，將參數置入儀器(qi)都可(ke)做標準電容(rong)器(qi)。不(bu)同(tong)的(de)是標準電容(rong)器(qi)能提供更好的(de)長期穩(wen)定性和精(jing)度。

（4）不(bu)管正接(jie)(jie)線(xian)(xian)(xian)還是反接(jie)(jie)線(xian)(xian)(xian)測量，標(biao)準(zhun)電(dian)容器接(jie)(jie)線(xian)(xian)(xian)方式始終為正接(jie)(jie)線(xian)(xian)(xian)。

總電源開關：開關機用，可在發現異(yi)常時隨(sui)時關閉。

供電(dian)電(dian)源(yuan)插座：接220V市電(dian)，插座內置保(bao)險絲(si)座，保(bao)險絲(si)規格為10A / 250V，若損壞應使用(yong)相同規格的保(bao)險絲(si)替換。若換用(yong)備用(yong)保(bao)險絲(si)后仍燒斷，可能儀器有故障，可通知廠(chang)家處理。

高壓允(yun)許(xu)開關：內置高壓系(xi)(xi)統或CVT自激法低壓輸出系(xi)(xi)統的總電(dian)源開關。此(ci)開關受總電(dian)源開關控(kong)制。

按鍵(jian)：按下“↑”、“↓”、“←”、“→”鍵(jian)可移動光標(biao)和修改光標(biao)處內容，“確(que)認”鍵(jian)用(yong)于確(que)認或結束參數修改，在測(ce)試界面(mian)長按該鍵(jian)可開始測(ce)量，測(ce)量過程中(zhong)，按“確(que)認”鍵(jian)可終(zhong)止(zhi)測(ce)量。

液晶顯(xian)示屏(ping)(ping)：320×240點陣灰(hui)白(bai)背光(guang)液晶顯(xian)示屏(ping)(ping)，顯(xian)示菜(cai)單、測量(liang)結果或(huo)出(chu)錯信息(xi)。應避免長(chang)時間陽光(guang)爆曬(shai)，避免重(zhong)壓。

背光調節：液(ye)晶(jing)顯(xian)示(shi)屏顯(xian)示(shi)較(jiao)暗或(huo)不清晰時可調節該電位器至合適位置使(shi)顯(xian)示(shi)明亮清晰。

指示(shi)(shi)燈：配(pei)合儀器內部蜂鳴器進行測試、報警等聲光警示(shi)(shi)。

3、WBJS6000抗干擾精密介質損耗測量儀使用說明

3.1初始菜單界(jie)面

打開總電源開關后，系統進(jin)入初(chu)始菜單界面。

測試模(mo)式：選擇(ze)測試模(mo)式和設置(zhi)各(ge)項測試參數，

歷史記錄：查看保(bao)存的(de)歷史數據

系(xi)統設置：出廠參數(shu)設置及系(xi)統時間校準

幫    助：可查閱軟件版本(ben)等(deng)信息

取(qu)消或(huo)使用CVT自激法“高壓連線拖地”功能(neng)：

開機右下角顯示“”表示該儀器在CVT自激法測試時高壓連線具備拖地功能。

光標停留在“測試模式”處長按“→”鍵（聽到蜂鳴器聲音松手）可取消或使用拖地模式（右下角顯示“”表示當前為拖地模式），在拖地模式下必須將高壓連線的接地屏蔽層插頭接至圖2-1中的“1”（高壓測量接地）處，否則會引起測量誤差；取消拖地模式后高壓連線必須懸空吊起，同時高壓連線的接地屏蔽層插頭也應懸空，否則會引起測量誤差。

使用或取消發“發電機供電”模式：

光標停留在“測試模式”處長按“←”鍵（聽到蜂鳴器聲音松手）可使用或取消發電機供電模式（左下角顯示“”表示當前為發電機供電模式），儀器開機默認為市電供電模式，發電機模式適合使用發電機或移動電源供電環境，發電機模式下儀器將不進行接地檢測。

3.2測試模(mo)式

3.2.1 開始測試菜(cai)單(dan)界面

在初始菜單界面(mian)將光標移動到“測試模式”按(an)確定按(an)鈕進入開始測試菜單界面(mian)，如圖3-2所(suo)示。

界(jie)面左側為參(can)數(shu)設置(zhi)選項(xiang)(xiang)，移(yi)動(dong)光標到相關參(can)數(shu)選項(xiang)(xiang)按確定鍵(jian)(jian)可設置(zhi)相關試(shi)驗參(can)數(shu)，右(you)側顯示內容為已設置(zhi)好(hao)試(shi)驗參(can)數(shu)，光標停留在“開始測(ce)試(shi)”欄長按“確認” 鍵(jian)(jian)可開始測(ce)試(shi)。

界面右側“測試(shi)地(di)點”下(xia)一行(xing)為信息(xi)提示(shi)行(xing)，若(ruo)內(nei)外高壓(ya)(ya)選擇有誤則(ze)提示(shi)“當(dang)前為內(nei)高壓(ya)(ya)模式(shi)，請(qing)開(kai)啟(qi)內(nei)高壓(ya)(ya)”或“當(dang)前為外高壓(ya)(ya)模式(shi)，請(qing)關閉內(nei)高壓(ya)(ya)”；若(ruo)儀(yi)(yi)器沒有接(jie)地(di)則(ze)會提示(shi)“請(qing)檢查接(jie)地(di)”，當(dang)有錯(cuo)誤提示(shi)時儀(yi)(yi)器無法正常啟(qi)動，只(zhi)有提示(shi)“確(que)認無誤后長按確(que)認鍵開(kai)始測試(shi)”時儀(yi)(yi)器方(fang)可啟(qi)動測試(shi)。

3.2.2 試品模型選擇菜單(dan)界面

將光標(biao)移動到“試(shi)品模型(xing)(xing)”功能選項，界面如圖3-3所示，按“確認(ren)”按鈕后(hou)移動光標(biao)可選擇(ze)合適的(de)試(shi)品模型(xing)(xing)（光標(biao)移動到相應(ying)功能后(hou)按確認(ren)鍵）。實驗(yan)室(shi)一般使用(yong)串(chuan)聯(lian)型(xing)(xing)介損(sun)因數(shu)標(biao)準器檢定，校驗(yan)時應(ying)使用(yong)RC串(chuan)聯(lian)模型(xing)(xing)。

RC串聯(電流比較(jiao)儀(yi)型電橋)：采用電流比較(jiao)儀(yi)型電橋（如QS30電橋）校準(zhun)的串聯型試品(pin)(或介質損(sun)耗(hao)因數標準(zhun)器)，該項在開(kai)始測試界面(mian)顯示(shi)"RC串聯"。

RC串聯(西林型電橋)： 采用西林型電橋（如2801、QS1和QS37等電橋）校準的串聯型試品(或介質損耗因數標準器) ，該項在開始測試界面顯示 "RC串聯"。

RC并聯(現場(chang)使用)：一般實際的電容(rong)試(shi)品可(ke)等效(xiao)為RC并聯模型(xing)，建(jian)議現場(chang)試(shi)驗時(shi)使用。

采用電流比較儀型電橋和西林型電橋校準的串聯型試品(或介質損耗因數標準器)的區別只是電容量不同：為西林型電橋標定值，C為電流比較儀型電橋標定值。

3.2.3 接(jie)線方(fang)式選擇菜(cai)單界面(mian)

將光標移(yi)動到“接線方(fang)式”功能選項，界面(mian)如圖3-4所示(shi)，按“確認”按鈕后移(yi)動光標可選擇合(he)適的接線方(fang)式。

接(jie)線(xian)方式(shi)：共(gong)5種接(jie)線(xian)方式(shi)（功能因型號有差別，具體(ti)詳(xiang)見型號功能說明(ming)部(bu)分(fen)），分(fen)別為(wei)：正接(jie)線(xian)、反接(jie)線(xian)、反接(jie)線(xian)低壓(ya)屏蔽、CVT自激法(fa)和變比(bi)。選擇CVT自激法(fa)測量時(shi)需同時(shi)將相(xiang)關(guan)參數一并設置好。

CVT自激(ji)(ji)(ji)法測量(liang)必須(xu)打開內高(gao)壓允許開關，由機(ji)內提(ti)供激(ji)(ji)(ji)勵電壓，由“低壓輸出”和(he)“測量(liang)接地”輸出。為(wei)**起見，CVT自激(ji)(ji)(ji)法還需要設置以下(xia)幾個(ge)保護限：

將光(guang)標移動(dong)到(dao)xxkV / xxmA / xxV / xxA，按↑↓選(xuan)擇合(he)適值，選(xuan)擇好后(hou)按確(que)認鍵(jian)退出。

xxkV：可選(xuan)0.5/0.6/0.8/1/1.5/2/2.5/3/3.5/4kV，為高壓上限，只能(neng)使用4kV以(yi)下電壓。

xxmA：可選10/15/20/25/30/35/40/45/50/60/70/80/100/120/140/200mA，表示(shi)待測試(shi)品的高壓電流(liu)上限。

xxV：可選(xuan)3/4/5/6/7/8/9/10/12/15/20/25/30/35/40/50V，表(biao)示低壓(ya)激勵(li)電壓(ya)上限。

xxA：可選3/4/5/6/7/8/9/10/11/12/13/14/15/16/20/30A，表示低壓(ya)激(ji)勵電流(liu)上限。

注意(yi)：

（1）測(ce)量(liang)時(shi)4個(ge)保護限(xian)同時(shi)起(qi)作用，因(yin)此試驗高壓可(ke)能達(da)不(bu)到(dao)設定(ding)值。如果高壓達(da)不(bu)到(dao)保護限(xian)，可(ke)適當調整受(shou)到(dao)限(xian)制(zhi)的(de)保護限(xian)。

（2）通常測量C1時(shi)低(di)壓(ya)激(ji)勵電壓(ya)可達20V，測量C2時(shi)低(di)壓(ya)激(ji)勵電流可達15A。一般可設高(gao)壓(ya)電壓(ya)2～3kV，較(jiao)少(shao)采(cai)用高(gao)壓(ya)電流限制，可設為*大200mA。

變(bian)比測量時(shi)應選擇合適的高壓輸出使二(er)次側(ce)電壓小于120V，當(dang)二(er)次側(ce)電壓≥120V時(shi)儀器會發出聲光報(bao)警并提示“接線(xian)錯誤”。

3.2.4 標準電容選擇菜單(dan)界面

將(jiang)光標(biao)移(yi)動到(dao)“標(biao)準電(dian)容(rong)”功能選(xuan)項，界面(mian)如(ru)圖3-5所(suo)示，按“確認”按鈕后(hou)移(yi)動光標(biao)可選(xuan)擇合適(shi)的標(biao)準電(dian)容(rong)。選(xuan)擇外標(biao)準電(dian)容(rong)時需同時將(jiang)外標(biao)準的電(dian)容(rong)量和介損一并設置好。

選(xuan)擇外標準電容(rong)時將光(guang)標移動到(dao)Cn=xxxxx e x pF 和tgδ=xx.xxx%按(an)↑↓選(xuan)擇合適值(zhi)，選(xuan)擇好后按(an)確認(ren)鍵退出。

Cn采用科學計數法，如5.000e1=5.000×101=50.00，1.000e2=1.000×102=100.0等，范圍(wei)0.000e0～9.999e5 (即0～999900pF)。tgδ設置范圍(wei)0～±9.999%。

內標準(zhun)電容(rong)(rong)通常可用于正(zheng)、反(fan)接(jie)線測(ce)量(liang)和CVT自(zi)激法測(ce)量(liang)，高電壓介損選用外(wai)標準(zhun)方(fang)式，需要將外(wai)接(jie)電容(rong)(rong)參數置入(ru)儀器。

3.2.5 測試頻率選擇菜單界面

測試頻(pin)率可選(xuan)擇定頻(pin)或異頻(pin)，頻(pin)率選(xuan)擇菜(cai)單界(jie)面(mian)如(ru)圖3-6所示，頻(pin)率選(xuan)擇范圍(wei)如(ru)下：

定頻(pin)：

“50Hz”：為(wei)工頻測量(liang)，此設置不能抗干(gan)擾，在試驗(yan)室內測量(liang)或校驗(yan)時選用。

“45/55/60/65Hz”：為單(dan)頻率(lv)測量(liang)，研究不(bu)同頻率(lv)下(xia)介損的變(bian)化時選(xuan)用。

頻率(lv)(lv)(lv)自適應：外高壓(ya)測量模式(shi)下(xia)有效（不能更改(gai)），系統自動識(shi)別外施高壓(ya)頻率(lv)(lv)(lv)，測試(shi)頻率(lv)(lv)(lv)無需在測試(shi)前設(she)置。

異頻：

“45/55Hz”：為自動(dong)變(bian)頻，適合50Hz電網(wang)工(gong)頻干擾(rao)下測量(liang)。

“55/65Hz”：為(wei)自動變頻，適合60Hz電網工頻干擾下測(ce)量。

“47.5/52.5Hz”：為(wei)自動變頻，適合50Hz電(dian)網工(gong)頻干(gan)擾下(xia)測量(liang)。

3.2.6 測試電(dian)壓選擇(ze)菜單界面(mian)

內高壓(ya)可選擇“0.5 /0.6 /0.8 /1 /1.5 /2 /2.5 /3 /3.5 /4 /4.5 /5 /5.5 /6 /6.5 /7 /7.5 /8 /8.5 /9 /9.5 /10.0kV”（F型(xing)*高輸出(chu)電壓(ya)為12kV），應(ying)根據(ju)高壓(ya)試驗規程選擇合適(shi)的試驗電壓(ya)。

注：若選(xuan)(xuan)擇“CVT自(zi)激法(fa)”測試(shi)功能，則(ze)該(gai)選(xuan)(xuan)項無(wu)效(xiao)。CVT自(zi)激法(fa)的相(xiang)關電壓參(can)數需在該(gai)功能選(xuan)(xuan)項下進行設置。

3.2.7 測試備忘設置菜單(dan)界面

設(she)(she)備編(bian)(bian)號：可設(she)(she)置8位字母或數字編(bian)(bian)號，將光標(biao)移動到(dao)”設(she)(she)備編(bian)(bian)號”處，按確認健(jian)進入設(she)(she)備編(bian)(bian)號設(she)(she)置，通過“←”、“→”健(jian)移動光標(biao)，通過↑↓選擇合適(shi)值(zhi)，設(she)(she)置好(hao)后按確認鍵退出(chu)。

測試人(ren)(ren)員(yuan)：可設置8位字母或數字編號，將光標移動到” 測試人(ren)(ren)員(yuan)”處(chu)，按確(que)認(ren)健進入測試人(ren)(ren)員(yuan)設置，通過“←”、“→”健移動光標，通過↑↓選擇合(he)適(shi)值，設置好(hao)后(hou)按確(que)認(ren)鍵退出。

測試地(di)(di)點(dian)：可設置(zhi)8位字(zi)母或數字(zi)編號，將光標移動到(dao)” 測試地(di)(di)點(dian)”處，按(an)確(que)(que)認健進(jin)入測試地(di)(di)點(dian)設置(zhi)，通過(guo)“←”、“→”健移動光標，通過(guo)↑↓選擇合適值，設置(zhi)好后按(an)確(que)(que)認鍵退出(chu)。

3.2.8 測試結果界面

3.2.8.1反(fan)接法測試(shi)結(jie)果界(jie)面

測試完成顯示結(jie)果(guo)后(hou)，可移動光標選擇保存或打(da)印數(shu)據。

儀(yi)器自(zi)(zi)動分辨(bian)電容、電感、電阻(zu)型試(shi)品：電容型試(shi)品顯示(shi)Cx和tgδ；電感型試(shi)品顯示(shi)Lx和Q；電阻(zu)型試(shi)品顯示(shi)Rx和附加Cx或Lx。自(zi)(zi)動選取顯示(shi)單位。

試品(pin)為電容時(shi)：顯示數據為Cx、tgδ、Ux、Ix、Φ、f1、f2, |δ|>1則顯示電容和串/并聯電阻

試品(pin)為電感時：顯示數據為Lx、Q、Ux、Ix、Φ、f1、f2, |Q|<1則顯示電感和串聯(lian)電阻

試品(pin)為電阻時(shi)：顯示數據為Cx(Lx)、Rx、Ux、Ix、Φ、f1、f2

Cx  &nbsp;試(shi)品(pin)電容量[1μF=1000nF納(na)法(fa) / 1nF=1000pF]，如顯示10.00nF即10000pF

tgδ 介損因數[1%=0.01]

Lx &nbsp; 試品電感(gan)量[1MH兆亨=1000kH / 1kH=1000H]

Q    品質因(yin)數[無(wu)單位]

Rx  &nbsp;試品(pin)電阻值[1MΩ=1000kΩ / 1kΩ=1000Ω]

Ux  &nbsp;試驗(yan)電壓[1kV=1000V / 1V=1000mV]

Ix   試品電流[1A=1000mA / 1mA=1000μA]

Φ  ; 試(shi)品電流超(chao)前試(shi)驗電壓的角度[°度]或測變(bian)比時一(yi)次(ci)電壓超(chao)前二(er)次(ci)電壓的角度

K    測CVT變比時(shi)，一次電(dian)壓(ya)比二次電(dian)壓(ya)

f1   頻率[Hz]，顯示**次測試頻率

f2   頻率[Hz]，顯示**次測試頻率

顯示(shi)over表(biao)示(shi)測量數據超量程。

3.2.8.2反接線低壓屏蔽測試結果界(jie)面

反(fan)接線低壓屏蔽測(ce)(ce)試一次接線可同時測(ce)(ce)出C11和(he)C下(xia)節(下(xia)端屏蔽部分)的(de)電容量和(he)介損值。

3.2.8.3 CVT自激法(fa)測試結果界(jie)面

CVT自(zi)激法按(an)測(ce)量(liang)接(jie)線，與試品(pin)輸入Cx插座連接(jie)的定(ding)義為(wei)C1，與高壓(ya)線連接(jie)的為(wei)C2。U1為(wei)測(ce)量(liang)C1時的高壓(ya)，U2為(wei)測(ce)量(liang)C2時的高壓(ya)。

3.3歷史(shi)數(shu)據(ju)

進入歷史數據菜單界面如圖3-12所示。

移(yi)動(dong)光(guang)標到(dao)“U盤(pan)”選(xuan)(xuan)項按(an)“確定(ding)(ding)”鍵(jian)(jian)可將數(shu)據(ju)導(dao)出到(dao)U盤(pan)，上(shang)移(yi)到(dao)“清(qing)空(kong)”選(xuan)(xuan)項按(an)“確定(ding)(ding)”鍵(jian)(jian)可清(qing)空(kong)保(bao)存(cun)的(de)全部(bu)數(shu)據(ju)。將光(guang)標移(yi)動(dong)到(dao)“>>>>”選(xuan)(xuan)項按(an)下“確定(ding)(ding)”鍵(jian)(jian)進入數(shu)據(ju)選(xuan)(xuan)擇(ze)界面(mian)，光(guang)標位置默認停留在*近保(bao)存(cun)的(de)單條(tiao)數(shu)據(ju)上(shang)，若要查(cha)看(kan)其他數(shu)據(ju)可上(shang)下移(yi)動(dong)光(guang)標進行選(xuan)(xuan)擇(ze)，選(xuan)(xuan)擇(ze)好(hao)要查(cha)看(kan)的(de)數(shu)據(ju)后按(an)“確定(ding)(ding)”按(an)鈕(niu)進入單條(tiao)歷(li)史(shi)數(shu)據(ju)顯示(shi)界面(mian)。歷(li)史(shi)數(shu)據(ju)選(xuan)(xuan)擇(ze)界面(mian)和單條(tiao)歷(li)史(shi)數(shu)據(ju)顯示(shi)界面(mian)如圖3-13和圖3-14所(suo)示(shi)。

進入單條歷史(shi)數(shu)據(ju)顯示(shi)界面后(hou)，在左側功(gong)能(neng)選(xuan)項(xiang)區上(shang)下移動光標可(ke)選(xuan)擇打印、刪除本(ben)條數(shu)據(ju)和退出(chu)單條歷史(shi)數(shu)據(ju)顯示(shi)界面。

3.4系統設置(zhi)

進入系統設置(zhi)菜單(dan)可進行系統時間校(xiao)準，“出廠設置(zhi)”參數(shu)禁止用(yong)戶(hu)修改，只允許生產廠家進行出廠參數(shu)設置(zhi)。

3.5幫助

可查看儀器的相關(guan)操作指導。

3.6啟動測(ce)量

進入測試(shi)界面設置好各項試(shi)驗(yan)參數后，將光標移動到(dao)“開始測試(shi)”功能選(xuan)項上，按住“確(que)認”鍵3s以上啟動測量。

啟動測量后(hou)發出聲光報警；在測試(shi)過程中會(hui)實(shi)時(shi)顯示測試(shi)相關參數（電壓、電流、頻率、電容量等參數）和測量進(jin)程(0%～99%)。

測(ce)量(liang)中按“確(que)認(ren)”鍵(jian)可(ke)取消(xiao)測(ce)量(liang)，遇(yu)緊急情況立(li)即關閉(bi)總(zong)電源。

測量過程結(jie)束，儀器自動(dong)降(jiang)壓后再(zai)顯示結(jie)果。

3.7對比度調節

液(ye)晶顯示(shi)屏(ping)(ping)的(de)對比度已在出(chu)廠時校好，如果您感覺不夠清晰(xi)，調整(zheng)面板上的(de)電位器使液(ye)晶顯示(shi)屏(ping)(ping)顯示(shi)內容(rong)清晰(xi)為止(zhi)。

4、參考(kao)接線

4.1常規正接(jie)線（正接(jie)線、內標準電容、內高壓(ya)）

4.2常(chang)規反接(jie)線(xian)(xian)（反接(jie)線(xian)(xian)、內(nei)(nei)標(biao)準電(dian)容、內(nei)(nei)高壓）

4.3正(zheng)接線、外標準電容、內高壓

4.4反接(jie)線、外標準電容、內高壓

4.5正(zheng)接線、內(nei)標準電容、外高壓

4.6反(fan)接線、內標準電(dian)容、外(wai)高壓

4.7正接線、外(wai)標準電(dian)容、外(wai)高壓(ya)(ya)（高電(dian)壓(ya)(ya)介損）

4.8反接線、外(wai)標準(zhun)電容、外(wai)高(gao)壓(ya)

4.9反接線低壓(ya)屏(ping)蔽

可在220kV CVT母(mu)(mu)線(xian)(xian)(xian)接(jie)地情況下(xia)，對C11進行不(bu)拆(chai)線(xian)(xian)(xian)10kV反(fan)接(jie)線(xian)(xian)(xian)介損(sun)測量(liang)。如下(xia)圖所示：母(mu)(mu)線(xian)(xian)(xian)掛地線(xian)(xian)(xian)，C11上端(duan)不(bu)拆(chai)線(xian)(xian)(xian)，C11下(xia)端(duan)接(jie)高(gao)壓線(xian)(xian)(xian)芯線(xian)(xian)(xian)，C2末端(duan)δ和X接(jie)Cx芯線(xian)(xian)(xian)。這樣C12和C2被低壓屏蔽，儀器采用反(fan)接(jie)線(xian)(xian)(xian)低壓屏蔽測量(liang)方式，可同時(shi)測出(chu)C11和下(xia)端(duan)被屏蔽部分的電容量(liang)和介損(sun)值。

4.10 CVT自激(ji)法

高壓線(xian)(xian)芯線(xian)(xian)接C2下(xia)端，Cx芯線(xian)(xian)接C12上(shang)端。在CVT 自激(ji)法測量中，儀器先測量C12，然后自動(dong)倒線(xian)(xian)測量C2，并自動(dong)校準分壓影響。

1）D型高壓連(lian)線(xian)不可拖地(di)，高壓線(xian)應懸空(kong)(kong)不能(neng)接(jie)觸地(di)面（高壓線(xian)的接(jie)地(di)屏蔽層插頭(tou)必須懸空(kong)(kong)），否則其對地(di)附加(jia)介損(sun)會(hui)引(yin)起誤(wu)差，可用細電(dian)纜(lan)連(lian)接(jie)高壓插座與CVT試品并吊起。

2）E、F、S、J型高壓連線可拖地使用，在開機初始界面（圖3-1界面），光標停留在“測試模式”處長按“→”鍵（聽到蜂鳴器聲音松手）可取消或使用拖地模式（右下角顯示“”表示當前為拖地模式），在拖地模式下必須將高壓連線的接地屏蔽層插頭接至圖2-1中的“1”（高壓測量接地）處，否則會引起測量誤差；取消拖地模式后高壓連線必須懸空吊起，高壓連線的接地屏蔽層插頭也應懸空，否則會引起測量誤差。拖地模式下的高壓連線必須使用原廠配置的電纜（已校準），否則會引起測量誤差！

4.11 CVT變比測試

儀器(qi)高壓線(xian)的芯線(xian)紅(hong)夾子接(jie)CVT的上端，母線(xian)拆地(di)，CVT下(xia)端接(jie)地(di)，低壓線(xian)紅(hong)黑夾子接(jie)二次(ci)繞組。

5、常見CVT的(de)參(can)考測量方法

目前(qian)常見的電(dian)容式電(dian)壓互感器可分為110kV、220kV、500kV等不同電(dian)壓等級，一般110kV的CVT其(qi)C1就一節，220kV的CVT其(qi)C1有(you)兩節，而500kV的CVT其(qi)C1有(you)三(san)節。

5.1  500kV CVT的測量(liang)方法(fa)

1）C11的測量方法

按圖5-1標明的方式(shi)接(jie)線，測量C11時應注意(yi)：

◇ 拆開δ端，X端一定要接地

◇ ;a點接紅色高壓(ya)測試線的(de)芯線（紅夾子），b點接紅色高壓(ya)測試線的(de)高壓(ya)屏蔽層（黑夾子）

2）C12的測量方法

按圖5-2標(biao)明(ming)的方式接線，測量(liang)C12時(shi)注(zhu)意：

◇ 拆開δ端，X端一(yi)定要(yao)接地(di)

◇ a點(dian)接紅(hong)色高壓測(ce)試線(xian)芯線(xian)（紅(hong)夾子(zi)），b點(dian)接黑色低(di)壓測(ce)試線(xian)芯線(xian)（紅(hong)夾子(zi)）

3）C13和C2的(de)測量方法(fa)

儀器設(she)有專門(men)的CVT自(zi)(zi)激(ji)法，不需(xu)外加任(ren)何其它設(she)備，就(jiu)可(ke)以完成(cheng)測(ce)(ce)試。按圖5-3標明(ming)的方式接線，儀器選用CVT自(zi)(zi)激(ji)法測(ce)(ce)量(liang)方式，試驗電壓可(ke)設(she)置(zhi)為2kV，CVT自(zi)(zi)激(ji)法能一次測(ce)(ce)量(liang)C13和C2兩個電容(rong)的介損和電容(rong)量(liang)。

5.2  220kV CVT的測(ce)量方法

1）C11的(de)測量方(fang)法

按圖5-4標(biao)明(ming)的方式接線，測量C11時注(zhu)意(yi)：

◇ δ和(he)X相(xiang)連，與接地分開。

◇ a點接(jie)紅色高(gao)壓測試線(xian)的芯線(xian)（紅夾子），C2末端δ和X 接(jie)Cx端芯線(xian)，這樣C12與C2就被(bei)低(di)壓屏蔽了(le)。

2）C12和C2的測(ce)量方法

儀器(qi)設有專門(men)的CVT自(zi)(zi)激法，不(bu)需外加任(ren)何其它(ta)設備(bei)，就(jiu)可以完成(cheng)測試(shi)(shi)。按(an)圖5-5標明的方式接線，儀器(qi)選用CVT自(zi)(zi)激法測量(liang)方式，試(shi)(shi)驗電(dian)壓可設置為2kV，CVT自(zi)(zi)激法能一次測量(liang)C12和(he)C2兩個電(dian)容的介損(sun)和(he)電(dian)容量(liang)。

5.3  110kV CVT的測量方(fang)法

儀(yi)器(qi)設(she)有專門的CVT自(zi)激法，不需(xu)外加任(ren)何(he)其它(ta)設(she)備，就(jiu)可以(yi)完成測(ce)試。按圖(tu)5-6標明的方式接線，儀(yi)器(qi)選用CVT自(zi)激法測(ce)量(liang)方式，試驗電(dian)壓可設(she)置為(wei)2kV，CVT自(zi)激法能(neng)一次測(ce)量(liang)C13和(he)C2兩個(ge)電(dian)容的介(jie)損(sun)和(he)電(dian)容量(liang)。

6、現(xian)場試驗(yan)注意事(shi)項

如果使用中(zhong)出(chu)現(xian)測試數據(ju)明顯不合理，請從以下方面(mian)查找原因(yin)：

6.1搭鉤接觸**

現(xian)場測(ce)量使用搭(da)鉤(gou)連接(jie)試品時，搭(da)鉤(gou)務必與試品接(jie)觸良好，否(fou)則接(jie)觸點放電會引(yin)(yin)起數據嚴重波動(dong)！尤其(qi)是引(yin)(yin)流線氧化層太(tai)厚(hou)，或風吹(chui)線擺(bai)動(dong)，易造(zao)成接(jie)觸**。

6.2接地接觸**

接(jie)地**會引(yin)起儀器(qi)保護(hu)或數(shu)據嚴重(zhong)波動。應刮凈接(jie)地點上的(de)油漆和銹蝕，務必保證0電阻接(jie)地！

6.3直接測(ce)量CVT或末端屏(ping)蔽(bi)法(fa)測(ce)量電磁式PT

直接測(ce)量CVT的下(xia)節耦合電容會出現負(fu)介損，消除負(fu)介損可采(cai)取下(xia)述措施或改(gai)用CVT自激法測(ce)量：

1）測(ce)試時測(ce)量儀器的接(jie)地端(duan)直(zhi)接(jie)接(jie)在被試品的金屬底座上，并(bing)保證接(jie)觸良好。

2）條件(jian)允許時盡(jin)可能將非(fei)被試繞組(zu)短(duan)接，以減小電感(gan)和鐵心(xin)損(sun)耗的影(ying)響。

3）被試品周圍(wei)不應(ying)有鐵架、腳手架、木梯等物體，盡(jin)可能減小分布(bu)阻抗(kang)的影響。

4）試(shi)驗引(yin)線與被試(shi)品(pin)的(de)夾角應盡可能接(jie)近(jin)90°，以減小線與試(shi)品(pin)間的(de)分布電容。

用末端(duan)屏蔽(bi)法測(ce)量(liang)電磁式PT時，由于受(shou)潮引起“T形網絡干(gan)擾(rao)”出現負介損，吹干(gan)下(xia)面三裙瓷套和接線端(duan)子盤即可(ke)。也可(ke)改用常(chang)規法或末端(duan)加壓法測(ce)量(liang)。

6.4空氣(qi)濕度(du)過(guo)大

空氣(qi)濕度大使介損(sun)測量值異常增大（或減小甚至為負）且不穩(wen)定，必要時可加屏蔽(bi)環(huan)。因人為加屏蔽(bi)環(huan)改變(bian)了試(shi)品電場分布(bu)，此法有爭議，可參照有關規(gui)程。

6.5發(fa)電機供電

發電機供(gong)電時可采用定頻(pin)50Hz模式工(gong)作。

6.6測試線(xian)

1）由于長期使(shi)用，易造成測試線(xian)(xian)隱性斷路(lu)，或芯線(xian)(xian)和屏蔽短路(lu)，或插頭接觸**，用戶應經常(chang)維護測試線(xian)(xian)。

2）測試標準(zhun)電容(rong)(rong)試品時(shi)，應使(shi)用全屏蔽插頭連接，以消除附加雜散電容(rong)(rong)影(ying)響，否則不能反映(ying)儀器(qi)精(jing)度。

3）自激(ji)法測(ce)量(liang)CVT時(shi)，若使用(yong)“高(gao)壓(ya)連線拖地”功(gong)能，請務必(bi)使用(yong)原(yuan)廠(chang)(chang)配置的(de)專(zhuan)用(yong)高(gao)壓(ya)電(dian)纜(lan)（原(yuan)廠(chang)(chang)電(dian)纜(lan)在出廠(chang)(chang)時(shi)已進行校準(zhun)(zhun)），高(gao)壓(ya)連線的(de)接地屏蔽層必(bi)須接地，不可使用(yong)其它(ta)高(gao)壓(ya)電(dian)纜(lan)代替，否則會(hui)引起較大(da)的(de)測(ce)量(liang)誤差(cha)。若拖地模式下測(ce)量(liang)誤差(cha)較大(da)，則需(xu)將(jiang)專(zhuan)用(yong)高(gao)壓(ya)電(dian)纜(lan)返廠(chang)(chang)重(zhong)新進行校準(zhun)(zhun)。

4）自激法測(ce)量(liang)CVT時，非(fei)專(zhuan)用(yong)的(de)高(gao)壓線應吊起懸空，否(fou)則對(dui)地附加(jia)雜散電(dian)容(rong)和(he)介(jie)損會(hui)引(yin)起測(ce)量(liang)誤差。使用(yong)專(zhuan)用(yong)電(dian)纜在(zai)非(fei)拖地模式下(xia)測(ce)量(liang)CVT，高(gao)壓電(dian)纜也(ye)應懸空且電(dian)纜的(de)接地屏蔽層不(bu)能接地，否(fou)則會(hui)引(yin)起較大(da)的(de)測(ce)量(liang)誤差。

6.7工作模式選擇(ze)

接好線后請選擇正確的測量(liang)工作(zuo)模(mo)式，不可選錯(cuo)。特別是干擾環境下應選用變頻(pin)抗干擾模(mo)式。

6.8試驗(yan)方(fang)法影響(xiang)

由(you)于介損測量(liang)受試驗(yan)方(fang)法影(ying)響較大，應區分是試驗(yan)方(fang)法誤差還是儀(yi)器誤差。出現問題時可首先檢(jian)查接線(xian)，然后(hou)檢(jian)查是否(fou)為儀(yi)器故障。

6.9儀器故障(zhang)

1）用(yong)萬用(yong)表測(ce)量一下測(ce)試線是否斷路，或芯線和屏蔽是否短路；

2）輸入電源220V過高(gao)或(huo)過低；接(jie)地是否良好；

3）用正(zheng)、反接線(xian)測一下標準電容器或已知容量(liang)和介(jie)損的電容試品，如(ru)果(guo)結(jie)果(guo)正(zheng)確，即可判斷儀(yi)器沒有問題(ti)；

4）拔(ba)下所有測試(shi)導線(xian)，進行空試(shi)升壓(ya)，若不能(neng)正常(chang)工作，儀(yi)器可能(neng)有故障。

7、儀(yi)器檢定

7.1檢定

用(yong)帶插頭(tou)的屏蔽電(dian)(dian)纜連接標(biao)準損耗(hao)器(qi)。如果不(bu)能(neng)保(bao)證標(biao)準損耗(hao)器(qi)的精度，應使用(yong)比對法檢定，建議用(yong)2801電(dian)(dian)橋或其它精密(mi)電(dian)(dian)橋作比對標(biao)準。

1）介質(zhi)損耗因(yin)數(shu)標準器一般(ban)為串聯模(mo)型(xing)，因(yin)此儀(yi)器的試品模(mo)型(xing)應選擇“RC串聯(電(dian)流比較儀(yi)型(xing)電(dian)橋(qiao)(qiao))”或“RC串聯(西林型(xing)電(dian)橋(qiao)(qiao))”。

RC串(chuan)聯(電流比(bi)較(jiao)儀型(xing)電橋)：采用電流比(bi)較(jiao)儀型(xing)電橋（如QS30電橋）校(xiao)準的串(chuan)聯型(xing)試品(或(huo)介質損耗(hao)因(yin)數標準器)，該項在開始測(ce)試界(jie)面顯(xian)示"RC串(chuan)聯"。

RC串聯(西林型電橋)： 采用西林型電橋（如2801、QS1和QS37等電橋）校準的串聯型試品(或介質損耗因數標準器) ，該項在開始測試界面顯示 "RC串聯"。

采用(yong)電流比較(jiao)儀型電橋和西林型電橋校(xiao)準的串聯(lian)型試品(或介質損耗因(yin)數標準器)的區別只是(shi)電容量不同：

為西林型電橋標定值，C為電流比較儀型電橋標定值。

2）用介質損耗因數(shu)標準(zhun)器（或標準(zhun)電(dian)容(rong)器）檢定(ding)儀器反接(jie)線精度時，高壓電(dian)纜與試品連(lian)接(jie)必(bi)須(xu)使用全屏蔽插頭，否(fou)則暴露(lu)的芯線會(hui)引起(qi)測量誤差(cha)。

3）用(yong)(yong)介質(zhi)損(sun)耗因(yin)數標(biao)準(zhun)器(qi)(qi)（或標(biao)準(zhun)電容(rong)器(qi)(qi)）檢(jian)定(ding)儀器(qi)(qi)正接線(xian)精(jing)度時，低(di)壓電纜與(yu)試(shi)品連接必須使用(yong)(yong)全屏蔽插頭(tou)，否則暴露的芯(xin)線(xian)會引(yin)起測量(liang)誤差。

嚴格按照上(shang)述要求檢定方能真實反映本儀器的(de)測量精度！

7.2抗干擾能(neng)力(li)

設置一個(ge)回路向儀(yi)器注入定量的干擾電流。

注意(yi)：

1）應(ying)考(kao)慮到該回(hui)路可能(neng)成為(wei)試品的一(yi)部(bu)分(fen)。

2）儀器(qi)啟動后會使220V供電(dian)(dian)電(dian)(dian)路帶有測(ce)量頻率(lv)分(fen)量，如果該頻率(lv)分(fen)量又通過(guo)干擾電(dian)(dian)流(liu)進入儀器(qi)，則無(wu)法檢驗儀器(qi)的(de)抗干擾能力。

3）不建議用臨近(jin)高壓導體施加干擾，因(yin)為(wei)這(zhe)樣很容(rong)易產生近(jin)距(ju)離**放(fang)電(dian)，這(zhe)種放(fang)電(dian)電(dian)阻(zu)是(shi)非線性的，容(rong)易產生同頻干擾。